JP2000338140A - 電気光学プローブ - Google Patents

電気光学プローブ

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JP2000338140A
JP2000338140A JP11275387A JP27538799A JP2000338140A JP 2000338140 A JP2000338140 A JP 2000338140A JP 11275387 A JP11275387 A JP 11275387A JP 27538799 A JP27538799 A JP 27538799A JP 2000338140 A JP2000338140 A JP 2000338140A
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JP
Japan
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electro
probe
light
optic
laser diode
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Application number
JP11275387A
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English (en)
Inventor
Akinari Ito
昭成 伊藤
Katsushi Ota
克志 太田
Toshiyuki Yagi
敏之 八木
Mitsuru Shinagawa
満 品川
Tadao Nagatsuma
忠夫 永妻
Junzo Yamada
順三 山田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ando Electric Co Ltd
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Ando Electric Co Ltd
Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 レーザダイオードからの出射光の偏光面を電
気光学素子の結晶軸に一致させるための回転調整を容易
に行うことができる電気光学プローブを提供する。 【解決手段】 プローブ本体15とプローブヘッド1に
回転可能な嵌合部を設け、レーザダイオードからの出射
光の偏光面を電気光学素子2の結晶軸に対して一致させ
るための回転調整をプローブヘッド1の回転によって行
う。また、コリメートレンズ3設け、入射される平行光
を反射膜2a上の1点に集光することにより、プローブ
本体15とプローブヘッド1の嵌合部において多少の取
り付け誤差が生じても、反射膜2aで反射した光はコリ
メートレンズ3によって再び平行光になり、かつその光
軸は入射された平行光の光軸に平行となるために、光軸
合わせをする必要がない。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、被測定信号によっ
て発生する電界を電気光学結晶に結合させ、この電気光
学結晶に光を入射し、入射光の偏光状態により、被測定
信号の波形を観測する電気光学プローブであって、特
に、光学系を改良した電気光学プローブに関する。
【0002】
【従来の技術】被測定信号によって発生する電界を電気
光学結晶に結合させ、この電気光学結晶にレーザ光を入
射し、レーザ光の偏光状態により被測定信号の波形を観
測することができる。ここでレーザ光をパルス状にし、
被測定信号をサンプリングすると非常に高い時間分解能
で測定することができる。この現象を利用した電気光学
プローブを用いたのが電気光学サンプリングオシロスコ
ープである。
【0003】この電気光学サンプリング(Electro Opt
ic Sampling)オシロスコープ(以下「EOSオシロス
コープ」と略記する)は、電気式プローブを用いた従来
のサンプリングオシロスコープと比較して、 1)信号を測定する際に、グランド線を必要としないた
め、測定が容易 2)電気光学プローブの先端にある金属ピンが回路系か
ら絶縁されているので高入力インピーダンスを実現で
き、その結果被測定点の状態をほとんど乱すことがない 3)光パルスを利用することからGHzオーダーまでの
広帯域測定が可能といった特徴があり注目を集めてい
る。
【0004】EOSオシロスコープによる信号測定を行
う際に用いられる従来の電気光学プローブの構成を図3
を参照して説明する。図3において、符号1は、絶縁体
でできたプローブヘッドであり、この中心に金属ピン1
aが嵌め込まれている。符号2は、電気光学素子であ
り、金属ピン1a側の端面に反射膜2aが設けられ、金
属ピン1aに接している。符号4は、1/2波長板であ
り、符号5は、1/4波長板である。符号6及び8は、
偏光ビームスプリッタである。符号7は、ファラデー素
子である。符号9は、コリメートレンズであり、符号1
0は、EOSオシロスコープ本体(図示せず)から出力
されたパルス信号に応じてレーザ光を発するレーザダイ
オードである。符号11及び13は、集光レンズであ
り、符号12及び14は、フォトダイオードであり、入
力されたレーザ光を電気信号にしてEOSオシロスコー
プ本体へ出力する。符号15は、プローブ本体である。
符号16は1/2波長板4を光軸を中心として回転する
ためのウォームギアである。符号17は、1/4波長
板、2つの偏光ビームスプリッタ6、8、及びファラデ
ィ素子8からなるアイソレータであり、レーザダイオー
ド11が出射した光を通過させ、反射膜2aによって反
射された光を分離するためのものである。
【0005】次に、図3を参照して、レーザダイオード
10から発せられたレーザ光の光路について説明する。
図3において、レーザ光の光路を符号Aで表す。先ず、
レーザダイオード10から出射したレーザ光はコリメー
トレンズ9により平行光に変換され、偏光ビームスプリ
ッタ8、ファラデー素子7及び偏光ビームスプリッタ6
を直進し、さらに、1/4波長板5と1/2波長板4を
通って電気光学素子2に入射する。入射した光は、金属
ピン1a側の電気光学素子2の端面に形成された反射膜
2aにより反射する。
【0006】反射したレーザ光は、再び1/2波長板4
と1/4波長板5を通り、レーザ光の一部は、偏光ビー
ムスプリッタ6により反射され、集光レンズ11によっ
て集光されて、フォトダイオード12へ入射する。偏光
ビームスプリッタ6を透過したレーザ光は、偏光ビーム
スプリッタ8で反射され、集光レンズ13によって集光
されて、フォトダイオード14へ入射する。なお、1/
2波長板4と1/4波長板5はフォトダイオード12と
フォトダイオード14へ入射するレーザ光の強度が同一
になるように調整するためのものである。
【0007】次に、図3に示した電気光学プローブを用
いて、被測定信号を測定する動作について説明する。金
属ピン1aを、測定点に接触させると、金属ピン1aに
加わる電圧によって、電気光学素子2では、その電界が
電気光学素子2へ伝搬し、ポッケルス効果により屈折率
が変化する現象が起きる。これにより、レーザダイオー
ド10から発せられたレーザ光が電気光学素子2へ入射
して、そのレーザ光が電気光学素子2を伝搬するときに
光の偏光状態が変化する。そして、この偏光状態が変化
したレーザ光は、反射膜2aによって反射され、フォト
ダイオード12、14へ集光されて入射し、電気信号に
変換される。
【0008】測定点の電圧の変化にともなって、電気光
学素子2によって偏光状態の変化がフォトダイオード1
2とフォトダイオード14の出力差になり、この出力差
を検出することによって、金属ピン1aに加わる電気信
号を測定することができる。なお、以上説明した電気光
学プローブにおいて、フォトダイオード12、14から
得られた電気信号は、EOSオシロスコープに入力され
て、処理されるが、これに代えて、フォトダイオード1
2、14に専用コントローラを介してリアルタイムオシ
ロスコープ等の従来からある測定器を接続し、信号測定
を行うこともできる。これにより、電気光学プローブを
使用して広帯域測定を簡単に行うことができる。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】ところで、電気光学素
子2は、その結晶軸に対して、入射するレーザ光の偏光
面を合わせる必要がある。そのため、従来技術のプロー
ブでは、入射するレーザ光の偏光面を調整するために1
/2波長板4を用いて、この1/2波長板4を光軸を中
心として回転させることによって偏光面の調整しなけれ
ばならない。
【0010】1/2波長板4は、その性質上、1/2波
長板4自身の回転角度に対して偏光面がこの回転角度の
2倍の角度で回転してしまうという性質を有している。
このため電気光学素子2への偏光面回転調整を行うため
にウォームギア等で回転を減速させる機構が必要として
いた。
【0011】このため、部品点数が増えコストが高くな
ってしまうという問題がある。また、調整箇所が多くな
ることによりユーザビリティが低下し、信頼性も低下す
る。さらには、光学部品が多くなることにより不要な反
射光が増え、測定時のS/Nが悪くなるという問題もあ
る。
【0012】本発明は、このような事情に鑑みてなされ
たもので、部品点数を減らして組立を容易にし、コスト
及び調整箇所を削減し、信頼性を向上させ、不要な反射
光を減らして性能を良くすることができる電気光学プロ
ーブを提供することを目的とする。
【0013】
【課題を解決するための手段】請求項1に記載の発明
は、オシロスコープ本体の制御信号に基づいてレーザ光
を発するレーザダイオードと、前記レーザ光を平行光に
するコリメートレンズと、端面に反射膜を有し、この反
射膜側の端面に設けられた金属ピンを介して電界が伝播
されて光学特性が変化する電気光学素子と、前記コリメ
ートレンズと前記電気光学素子との間に設けられ、前記
レーザダイオードが発したレーザ光を通過させ前記レー
ザ光が前記反射膜によって反射された反射光の分離をす
るアイソレータと、前記アイソレータによって分離され
た反射光を電気信号に変換するフォトダイオードとから
なる電気光学プローブにおいて、前記電気光学素子は、
プローブ本体に対して回転可能なプローブヘッドに一体
に取り付けられたことを特徴とする。
【0014】請求項2に記載の発明は、前記フォトダイ
オード及び前記レーザダイオードは、電気光学サンプリ
ングオシロスコープに接続され、前記レーザダイオード
は、前記レーザ光を前記電気光学サンプリングオシロス
コープからの制御信号に基づいてパルス光として発する
ことを特徴とする。請求項3に記載の発明は、前記レー
ザダイオードは、前記レーザ光として連続光を発するこ
とを特徴とする。請求項4に記載の発明は、前記電気光
学プローブは、前記電気光学素子と前記アイソレータの
間に、該電気光学素子へ入射する平行光を集光するコリ
メートレンズをさらに設けたことを特徴とする。
【0015】
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施形態による
電気光学プローブ(以下プローブと称す)を図面を参照
して説明する。図1は同実施形態の構成を示した図であ
る。図1において、図3に示す従来のプローブと同一の
部分には同一の符号を付し、その説明を省略する。この
図に示すプローブが従来技術と異なる点は、1/2波長
板4及びウォームギア16を省き、1/4波長板5と電
気光学素子2の間にコリメートレンズ3を設けた点と、
プローブヘッド1を回転固定できる構成とした点であ
る。
【0016】図2にプローブの先端部の断面図を示す。
図2に示すように、本発明によるプローブ先端部は、プ
ローブ本体15の先端にコリメートレンズ3を保持する
レンズ保持部3aを設けてある。このプローブ本体15
の先端にプローブヘッド1が差し込まれ、符号15aで
示した面において摺動し、プローブ本体15の軸線を中
心としてプローブヘッド1は回転する。さらにプローブ
本体15の先端部には符号15bで示した溝が設けら
れ、この溝の側面の斜面15cにセットビス15dを圧
接することによって、プローブヘッド1とプローブ本体
15とが固定される。
【0017】このような構成とすることで、プローブヘ
ッド1を回転することによって電気光学素子2へ入射す
る光の偏光面を結晶軸に対して合わせるための角度調整
をすることが可能になる。
【0018】この角度調整は、プローブヘッド1を回転
して、電気光学素子2へ入射する光の偏光面と結晶軸が
一致した時点で、セットビス15aや接着剤等を用いて
プローブヘッド1をプローブ本体15に固定することに
よって行う。
【0019】また、プローブヘッド1を回転することに
よって電気光学素子2を直接回転できるため、1/2波
長板を用いた回転角度の調整に比べて容易に回転角度あ
わせを行うことができる。
【0020】また、コリメートレンズ3を電気光学素子
2と1/4波長板5の間に設けたので、入射される平行
光を反射2a上の1点に集光することができる。したが
って、プローブ本体15とプローブヘッド1の嵌合部分
において多少の取り付け誤差が生じて反射膜2aの面が
入射される平行光の光軸に対して垂直でない場合でも、
反射膜2aで反射した光はコリメートレンズ3によって
再び平行光になり、かつその光軸は入射された平行光の
光軸に平行となるために、光軸合わせをする必要がな
い。
【0021】このように、プローブ本体15とプローブ
ヘッド1に回転可能な嵌合部を設けたため、レーザダイ
オード10からの出射光の偏光面を電気光学素子2の結
晶軸に対して一致させるための回転調整をプローブヘッ
ド1の回転によっておこなうことができる。このため、
回転調整角度の精度は1/2波長板を回転させた場合の
半分で済み、さらに1/2波長板とウォームギア等の減
速機構を省くことができる。なお、上記実施の形態にお
いて、レーザダイオード10から連続光を発するように
すれば、リアルタイムオシロスコープ、サンプリングオ
シロスコープ、スペアナ等の従来からある汎用測定器に
よる信号測定も可能となる。この場合、フォトダイオー
ド12、14に、EOSオシロスコープに代えて、専用
コントローラを介して、リアルタイムオシロスコープ、
サンプリングオシロスコープ、スペアナなどを接続する
ようにすればよい。
【0022】
【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、1/2波長板を省略した光学系の構成としたため、
部品点数を削減することができ、コストを低減できると
いう効果が得られる。また、光学部品が少なくなるため
に、光学系内部の不要な乱反射光を低減することができ
る。
【0023】また、この発明によれば、1/2波長板を
省略して、直接電気光学素子を回転するようにしたの
で、ウォームギア等の回転調整機構を用いなくても回転
調整を行うことができるため組立が容易になり結果的に
信頼性を向上することができるるという効果が得られ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態の光学系の構成を示した構
成図である。
【図2】図1に示した実施形態におけるプローブヘッド
部分の断面図である。
【図3】従来技術による電気光学プローブの光学系の構
成を示した構成図である。
【符号の説明】
1・・・プローブヘッド、1a・・・金属ピン、2・・
・電気光学素子、2a・・・反射膜、3、9・・・コリ
メートレンズ、4・・・1/2波長板、5・・・1/4
波長板、6、8・・・偏光ビームスプリッタ、7・・・
ファラデー素子、10・・・レーザダイオード、11、
13・・・集光レンズ、12、14・・・フォトダイオ
ード、15・・・プローブ本体、16・・・ウォームギ
ア、17・・・アイソレータ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 太田 克志 東京都大田区蒲田4丁目19番7号 安藤電 気株式会社内 (72)発明者 八木 敏之 東京都大田区蒲田4丁目19番7号 安藤電 気株式会社内 (72)発明者 品川 満 東京都千代田区大手町二丁目3番1号 日 本電信電話株式会社内 (72)発明者 永妻 忠夫 東京都千代田区大手町二丁目3番1号 日 本電信電話株式会社内 (72)発明者 山田 順三 東京都千代田区大手町二丁目3番1号 日 本電信電話株式会社内 Fターム(参考) 2G011 AA01 AE03 2G025 AB09 AB12 AB13 2G032 AD03 AD07 AF07

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 オシロスコープ本体の制御信号に基づい
    てレーザ光を発するレーザダイオードと、 前記レーザ光を平行光にするコリメートレンズと、 端面に反射膜を有し、この反射膜側の端面に設けられた
    金属ピンを介して電界が伝播されて光学特性が変化する
    電気光学素子と、 前記コリメートレンズと前記電気光学素子との間に設け
    られ、前記レーザダイオードが発したレーザ光を通過さ
    せ前記レーザ光が前記反射膜によって反射された反射光
    の分離をするアイソレータと、 前記アイソレータによって分離された反射光を電気信号
    に変換するフォトダイオードと、 からなる電気光学プローブにおいて、 前記電気光学素子は、プローブ本体に対して回転可能な
    プローブヘッドに一体に取り付けられたことを特徴とす
    る電気光学プローブ。
  2. 【請求項2】 前記フォトダイオード及び前記レーザダ
    イオードは、電気光学サンプリングオシロスコープに接
    続され、 前記レーザダイオードは、前記レーザ光を前記電気光学
    サンプリングオシロスコープからの制御信号に基づいて
    パルス光として発することを特徴とする請求項1記載の
    電気光学プローブ。
  3. 【請求項3】 前記レーザダイオードは、前記レーザ光
    として連続光を発することを特徴とする請求項1記載の
    電気光学プローブ。
  4. 【請求項4】 前記電気光学プローブは、 前記電気光学素子と前記アイソレータの間に、該電気光
    学素子へ入射する平行光を集光するコリメートレンズを
    さらに設けたことを特徴とする請求項1に記載の電気光
    学プローブ。
JP11275387A 1999-03-25 1999-09-28 電気光学プローブ Pending JP2000338140A (ja)

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JP11-82549 1999-03-25
JP8254999 1999-03-25
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Legal Events

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Effective date: 20040316