JP2000338033A - 光計測装置 - Google Patents
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- JP2000338033A JP2000338033A JP11148768A JP14876899A JP2000338033A JP 2000338033 A JP2000338033 A JP 2000338033A JP 11148768 A JP11148768 A JP 11148768A JP 14876899 A JP14876899 A JP 14876899A JP 2000338033 A JP2000338033 A JP 2000338033A
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 試料を計測位置に容易に配置でき、精度の高
い計測が可能な光計測装置を提供する。 【解決手段】 光計測装置10は、光検出部18と導光
部材20と試料ホルダ収容部22とを有する本体12
と、試料ホルダ14と、解析部16とを備えて構成され
る。試料ホルダ14は、試料100を配置する試料面3
2aを有する試料台32と、試料台32の試料面32a
の反対側の面に対面する試料台配置部34aと試料台配
置部34aの周囲に設けられた周囲部34bとを有して
試料台32を支持する支持部材34と、支持部材34を
可動に支持する基台36とを有する。試料ホルダ14
は、試料ホルダ収容部22への装着に伴って、導光部材
20の入射面20aに対して試料台32の試料面32a
を近接させるとともに、支持部材34の周囲部34bを
試料ホルダ収容部22の上部内面に当接させて外乱光を
遮光する。
い計測が可能な光計測装置を提供する。 【解決手段】 光計測装置10は、光検出部18と導光
部材20と試料ホルダ収容部22とを有する本体12
と、試料ホルダ14と、解析部16とを備えて構成され
る。試料ホルダ14は、試料100を配置する試料面3
2aを有する試料台32と、試料台32の試料面32a
の反対側の面に対面する試料台配置部34aと試料台配
置部34aの周囲に設けられた周囲部34bとを有して
試料台32を支持する支持部材34と、支持部材34を
可動に支持する基台36とを有する。試料ホルダ14
は、試料ホルダ収容部22への装着に伴って、導光部材
20の入射面20aに対して試料台32の試料面32a
を近接させるとともに、支持部材34の周囲部34bを
試料ホルダ収容部22の上部内面に当接させて外乱光を
遮光する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光計測装置に関す
るものである。
るものである。
【0002】
【従来の技術】試料から生ずる種々の発光現象を検出
し、当該発光現象に基づいて試料に含まれる物質の濃
度、微生物の数等を計測する光計測装置が知られてい
る。このような光計測装置として、例えば、特開平6−
78748号公報に記載されている光計測装置が知られ
ている。この光計測装置は、微生物を捕捉したフィルタ
(試料)を導光用テーパファイバの上部に配置し、当該
フィルタに一定の試薬を滴下したときに上記微生物から
発する光を上記導光用テーパファイバを介してCCDカ
メラによって撮像する。CCDカメラによって撮像され
た撮像画像を解析することにより、物質の濃度、微生物
の数等を計測することが可能となる。
し、当該発光現象に基づいて試料に含まれる物質の濃
度、微生物の数等を計測する光計測装置が知られてい
る。このような光計測装置として、例えば、特開平6−
78748号公報に記載されている光計測装置が知られ
ている。この光計測装置は、微生物を捕捉したフィルタ
(試料)を導光用テーパファイバの上部に配置し、当該
フィルタに一定の試薬を滴下したときに上記微生物から
発する光を上記導光用テーパファイバを介してCCDカ
メラによって撮像する。CCDカメラによって撮像され
た撮像画像を解析することにより、物質の濃度、微生物
の数等を計測することが可能となる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記従来技術
にかかる光計測装置には、以下に示すような問題点があ
った。すなわち、上記従来技術のかかる光計測装置にお
いては、導光用テーパファイバに対して所定の計測位置
に試料を配置する作業が極めて煩雑となる。また、導光
用テーパファイバへの外乱光の入射に伴ってS/N比が
低下し、計測精度が低下する。そこで本発明は、試料を
所定の計測位置に容易に配置することができるとともに
精度の高い計測が可能な光計測装置を提供することを課
題とする。
にかかる光計測装置には、以下に示すような問題点があ
った。すなわち、上記従来技術のかかる光計測装置にお
いては、導光用テーパファイバに対して所定の計測位置
に試料を配置する作業が極めて煩雑となる。また、導光
用テーパファイバへの外乱光の入射に伴ってS/N比が
低下し、計測精度が低下する。そこで本発明は、試料を
所定の計測位置に容易に配置することができるとともに
精度の高い計測が可能な光計測装置を提供することを課
題とする。
【0004】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明の光計測装置は、光検出部と試料ホルダ収容
部とを有する本体と、上記試料ホルダ収容部に着脱可能
に設けられた試料ホルダと、上記本体に設けられ、上記
試料ホルダに配置された試料から発する光を入射面に入
射させて上記光検出部に導く導光部材とを具備し、上記
試料ホルダは、上記試料を配置する試料面を有する試料
台と、上記試料台の上記試料面の反対側の面に対面する
試料台配置部と上記試料台配置部の周囲に設けられた周
囲部とを有し、上記試料台を支持する支持部材と、上記
支持部材を可動に支持する基台とを備え、上記試料ホル
ダは、上記試料ホルダ収容部への装着に伴って、上記導
光部材の上記入射面に対して上記試料台の上記試料面を
近接させるとともに、上記支持部材の上記周囲部を上記
試料ホルダ収容部の内面に当接させて外乱光を遮光する
ことを特徴としている。
に、本発明の光計測装置は、光検出部と試料ホルダ収容
部とを有する本体と、上記試料ホルダ収容部に着脱可能
に設けられた試料ホルダと、上記本体に設けられ、上記
試料ホルダに配置された試料から発する光を入射面に入
射させて上記光検出部に導く導光部材とを具備し、上記
試料ホルダは、上記試料を配置する試料面を有する試料
台と、上記試料台の上記試料面の反対側の面に対面する
試料台配置部と上記試料台配置部の周囲に設けられた周
囲部とを有し、上記試料台を支持する支持部材と、上記
支持部材を可動に支持する基台とを備え、上記試料ホル
ダは、上記試料ホルダ収容部への装着に伴って、上記導
光部材の上記入射面に対して上記試料台の上記試料面を
近接させるとともに、上記支持部材の上記周囲部を上記
試料ホルダ収容部の内面に当接させて外乱光を遮光する
ことを特徴としている。
【0005】試料ホルダ収容部への試料ホルダの装着に
伴って、導光部材の入射面に対して試料台の試料面を近
接させることで、試料を所定の計測位置、すなわち導光
部材の入射面に近接する位置に容易に配置することがで
きる。また、支持部材を試料台配置部と周囲部とを有し
て構成し、試料ホルダ収容部への試料ホルダの装着に伴
って、かかる周囲部を試料ホルダ収容部の内面に当接さ
せて外乱光を遮光することで、導光部材の入射面への外
乱光の入射が防止され、S/N比が向上する。
伴って、導光部材の入射面に対して試料台の試料面を近
接させることで、試料を所定の計測位置、すなわち導光
部材の入射面に近接する位置に容易に配置することがで
きる。また、支持部材を試料台配置部と周囲部とを有し
て構成し、試料ホルダ収容部への試料ホルダの装着に伴
って、かかる周囲部を試料ホルダ収容部の内面に当接さ
せて外乱光を遮光することで、導光部材の入射面への外
乱光の入射が防止され、S/N比が向上する。
【0006】また、本発明の光計測装置においては、上
記導光部材は、上記入射面を下側にして上記試料ホルダ
収容部の上側に配置され、上記試料ホルダは、上記試料
ホルダ収容部への装着に伴って、上記支持部材を押し上
げることにより、上記導光部材の上記入射面に対して上
記試料台の上記試料面を近接させるとともに、上記支持
部材の上記周囲部を上記試料ホルダ収容部の内面に当接
させて外乱光を遮光することを特徴としてもよい。
記導光部材は、上記入射面を下側にして上記試料ホルダ
収容部の上側に配置され、上記試料ホルダは、上記試料
ホルダ収容部への装着に伴って、上記支持部材を押し上
げることにより、上記導光部材の上記入射面に対して上
記試料台の上記試料面を近接させるとともに、上記支持
部材の上記周囲部を上記試料ホルダ収容部の内面に当接
させて外乱光を遮光することを特徴としてもよい。
【0007】試料が配置された試料台を支持する支持部
材を下側から押し上げることによって試料を所定の計測
位置に配置することで、試料が導光部材等の上に落下す
ることが防止される。
材を下側から押し上げることによって試料を所定の計測
位置に配置することで、試料が導光部材等の上に落下す
ることが防止される。
【0008】また、本発明の光計測装置においては、上
記支持部材の側部には突起部が設けられ、上記基台には
上記支持部材の上記突起部が挿入される案内溝が設けら
れ、上記試料ホルダは、上記試料ホルダ収容部への装着
に伴って、上記支持部材の上記突起部が上記基台の上記
案内溝に沿って動かされることにより、上記支持部材を
押し上げることを特徴としてもよい。
記支持部材の側部には突起部が設けられ、上記基台には
上記支持部材の上記突起部が挿入される案内溝が設けら
れ、上記試料ホルダは、上記試料ホルダ収容部への装着
に伴って、上記支持部材の上記突起部が上記基台の上記
案内溝に沿って動かされることにより、上記支持部材を
押し上げることを特徴としてもよい。
【0009】支持部材の突起部が基台の案内溝に沿って
動かされることにより、支持部材を押し上げることで、
極めて簡易な構成で試料を所定の計測位置に配置し、ま
た、支持部材の周囲部を試料ホルダ収容部の内面に当接
させることが可能となる。
動かされることにより、支持部材を押し上げることで、
極めて簡易な構成で試料を所定の計測位置に配置し、ま
た、支持部材の周囲部を試料ホルダ収容部の内面に当接
させることが可能となる。
【0010】また、本発明の光計測装置においては、上
記試料台は、弾性部材を介して上記支持部材に可動に支
持されていることを特徴としてもよい。
記試料台は、弾性部材を介して上記支持部材に可動に支
持されていることを特徴としてもよい。
【0011】試料台が弾性部材を介して支持部材に可動
に支持されることで、導光部材の入射面に対して試料台
の試料面を近接させ、かつ、支持部材の周囲部を試料ホ
ルダ収容部の内面に当接させる際に、導光部材の入射
面、試料台の試料面、支持部材の周囲部、試料ホルダ収
容部の内面の相対的な位置関係に微妙な誤差(加工誤
差、試料の大きさによる誤差等)が生じたとしても、か
かる誤差を吸収することが可能となる。
に支持されることで、導光部材の入射面に対して試料台
の試料面を近接させ、かつ、支持部材の周囲部を試料ホ
ルダ収容部の内面に当接させる際に、導光部材の入射
面、試料台の試料面、支持部材の周囲部、試料ホルダ収
容部の内面の相対的な位置関係に微妙な誤差(加工誤
差、試料の大きさによる誤差等)が生じたとしても、か
かる誤差を吸収することが可能となる。
【0012】また、本発明の光計測装置においては、上
記導光部材の上記入射面と上記試料台の上記試料面との
うち少なくとも一方に、上記導光部材の上記入射面と上
記試料台の上記試料面との接触を防止する突起部が設け
られていることを特徴としてもよい。
記導光部材の上記入射面と上記試料台の上記試料面との
うち少なくとも一方に、上記導光部材の上記入射面と上
記試料台の上記試料面との接触を防止する突起部が設け
られていることを特徴としてもよい。
【0013】上記突起部を設けることで、導光部材の入
射面と試料台の試料面との接触を防止することができ
る。
射面と試料台の試料面との接触を防止することができ
る。
【0014】また、本発明の光計測装置においては、上
記試料は、フィルタ形状を有するものであり、上記導光
部材の上記入射面に、フィルタ形状を有する上記試料の
縁部を抑える突起部が設けられていることを特徴として
もよい。
記試料は、フィルタ形状を有するものであり、上記導光
部材の上記入射面に、フィルタ形状を有する上記試料の
縁部を抑える突起部が設けられていることを特徴として
もよい。
【0015】フィルタ形状を有する試料の計測を行う場
合、試料に反りが生ずる場合がある。ここで、上記突起
部を設けることで、フィルタ形状を有する試料の縁部を
抑え、試料の反りをなくすことが可能となる。
合、試料に反りが生ずる場合がある。ここで、上記突起
部を設けることで、フィルタ形状を有する試料の縁部を
抑え、試料の反りをなくすことが可能となる。
【0016】
【発明の実施の形態】本発明の実施形態に係る光計測装
置について、図面を参照して説明する。本実施形態にか
かる光計測装置は、微生物を捕捉したしたフィルタ(試
料)に一定の試薬を滴下し、当該微生物から発する光を
計測する光計測装置である。まず、本実施形態に係る光
計測装置の構成について説明する。図1は本実施形態に
係る光計測装置の光計測装置の構成図である。
置について、図面を参照して説明する。本実施形態にか
かる光計測装置は、微生物を捕捉したしたフィルタ(試
料)に一定の試薬を滴下し、当該微生物から発する光を
計測する光計測装置である。まず、本実施形態に係る光
計測装置の構成について説明する。図1は本実施形態に
係る光計測装置の光計測装置の構成図である。
【0017】本実施形態にかかる光計測装置10は、本
体12と試料ホルダ14と解析部16とを備えて構成さ
れる。本体12には、光検出部18と導光部材20と試
料ホルダ収容部22とが設けられている。
体12と試料ホルダ14と解析部16とを備えて構成さ
れる。本体12には、光検出部18と導光部材20と試
料ホルダ収容部22とが設けられている。
【0018】試料ホルダ収容部22は、本体12の下部
に設けられ、試料ホルダ14を水平方向に装着し、ある
いは、取り外すことが可能となっている。
に設けられ、試料ホルダ14を水平方向に装着し、ある
いは、取り外すことが可能となっている。
【0019】導光部材20は、入射面20aを下側にし
て試料ホルダ収容部22の上側に配置され、試料ホルダ
14が試料ホルダ収容部22に装着された際に、試料ホ
ルダ14に配置された試料100から発する光を入射面
20aに入射させて光検出部18に導く。導光部材20
は、具体的には、複数の光ファイバを配列し、入射面に
対して出射面が小さくなるようにテーパ形状に形成した
光学部材であり、入射面に入射した光パターンを縮小し
て出射面から出力できるようになっている。すなわち、
試料100から発して入射面20aに入射した光パター
ンは、縮小されて出射面20bから出力される。また、
導光部材20の入射面20aの縁部には、当該入射面2
0aと試料台の試料面(詳細は後述)との接触を防止す
るとともに、フィルタ形状を有する試料100の縁部を
抑える突起部20cが設けられている。かかる突起部2
0cは、例えば、導光部材20の入射面20aに、アル
ミニウム製のリングを接着することにより設けられる。
て試料ホルダ収容部22の上側に配置され、試料ホルダ
14が試料ホルダ収容部22に装着された際に、試料ホ
ルダ14に配置された試料100から発する光を入射面
20aに入射させて光検出部18に導く。導光部材20
は、具体的には、複数の光ファイバを配列し、入射面に
対して出射面が小さくなるようにテーパ形状に形成した
光学部材であり、入射面に入射した光パターンを縮小し
て出射面から出力できるようになっている。すなわち、
試料100から発して入射面20aに入射した光パター
ンは、縮小されて出射面20bから出力される。また、
導光部材20の入射面20aの縁部には、当該入射面2
0aと試料台の試料面(詳細は後述)との接触を防止す
るとともに、フィルタ形状を有する試料100の縁部を
抑える突起部20cが設けられている。かかる突起部2
0cは、例えば、導光部材20の入射面20aに、アル
ミニウム製のリングを接着することにより設けられる。
【0020】光検出部18は、イメージインテンシファ
イヤ24とリレーレンズ系26とCCDカメラ28とを
備えて構成される。イメージインテンシファイヤ24と
リレーレンズ系26とCCDカメラ28とは、この順
に、導光部材20の上側(出射面20b側)に配置され
ている。従って、導光部材20の出射面20bから出力
された光パターンは、イメージインテンシファイヤ24
によって増幅され、リレーレンズ系26を介してCCD
カメラ28によって撮像される。
イヤ24とリレーレンズ系26とCCDカメラ28とを
備えて構成される。イメージインテンシファイヤ24と
リレーレンズ系26とCCDカメラ28とは、この順
に、導光部材20の上側(出射面20b側)に配置され
ている。従って、導光部材20の出射面20bから出力
された光パターンは、イメージインテンシファイヤ24
によって増幅され、リレーレンズ系26を介してCCD
カメラ28によって撮像される。
【0021】解析部16は、信号線30を介してCCD
カメラ28と接続されており、当該解析部16には、C
CDカメラ28による撮像画像が入力される。解析部1
6は、CCDカメラ28による撮像画像に基づいて、試
料100に含まれる微生物の数等を算出する。
カメラ28と接続されており、当該解析部16には、C
CDカメラ28による撮像画像が入力される。解析部1
6は、CCDカメラ28による撮像画像に基づいて、試
料100に含まれる微生物の数等を算出する。
【0022】試料ホルダ14は、本体12の試料ホルダ
収容部22に着脱可能に設けられている。より具体的に
は、試料ホルダ14は、いずれもアルミニウム製の試料
台32と支持部材34と基台36とを備えて構成され
る。試料台32は、略平板形状を有し、試料100を配
置する試料面32aが形成されている。
収容部22に着脱可能に設けられている。より具体的に
は、試料ホルダ14は、いずれもアルミニウム製の試料
台32と支持部材34と基台36とを備えて構成され
る。試料台32は、略平板形状を有し、試料100を配
置する試料面32aが形成されている。
【0023】支持部材34は、試料台32の試料面32
aの反対側の面に対面する平板状の試料台配置部34a
と試料台配置部34aの周囲を囲むように鉛直方向に突
出して設けられた周囲部34bとを有し、バネ38(弾
性部材)を介して、試料台32を下から可動に支持して
いる。より詳細には、試料台32は支持部材34に対し
て上下方向に可動となっている。また、支持部材34の
両側部には、水平方向に突出する複数の突起部34cが
設けられている。また、支持部材34の周囲部34bの
上面には、位置決め用凹部34dが形成されている。
aの反対側の面に対面する平板状の試料台配置部34a
と試料台配置部34aの周囲を囲むように鉛直方向に突
出して設けられた周囲部34bとを有し、バネ38(弾
性部材)を介して、試料台32を下から可動に支持して
いる。より詳細には、試料台32は支持部材34に対し
て上下方向に可動となっている。また、支持部材34の
両側部には、水平方向に突出する複数の突起部34cが
設けられている。また、支持部材34の周囲部34bの
上面には、位置決め用凹部34dが形成されている。
【0024】基台36は、支持部材34をその両側部か
ら可動に支持する。より具体的には、基台36は、支持
部材34の両側部それぞれの一部を覆う平板状の2つの
起立部36aと2つの起立部36aを連結するベース部
36bとを備えて構成される。起立部36a内であって
上記支持部材34の突起部34cに対応する位置それぞ
れには、当該突起部34cが挿入される案内溝36cが
形成されている。案内溝36cは、試料ホルダ14の装
着される向きに斜め下方に延びる溝となっている。従っ
て、支持部材34の突起部34cが基台36の案内溝3
6cに沿って動かされることにより、支持部材34が基
台36に対して押し上げられるようになっている。
ら可動に支持する。より具体的には、基台36は、支持
部材34の両側部それぞれの一部を覆う平板状の2つの
起立部36aと2つの起立部36aを連結するベース部
36bとを備えて構成される。起立部36a内であって
上記支持部材34の突起部34cに対応する位置それぞ
れには、当該突起部34cが挿入される案内溝36cが
形成されている。案内溝36cは、試料ホルダ14の装
着される向きに斜め下方に延びる溝となっている。従っ
て、支持部材34の突起部34cが基台36の案内溝3
6cに沿って動かされることにより、支持部材34が基
台36に対して押し上げられるようになっている。
【0025】試料ホルダ収容部22の内側は、以下に示
すような形状となっている。すなわち、試料ホルダ収容
部22の奥部には、試料ホルダ14の挿入方向に対する
試料面32aの位置決めを行う位置決め面22aが設け
られている。より具体的には、位置決め面22aは、挿
入方向に垂直な面であって、支持部材34の先端部が当
たる高さに形成されている。また、試料ホルダ収容部2
2の上部内面には、支持部材34の位置決め用凹部34
dに対応する位置に、位置決め用凸部22bが形成され
ているとともに、支持部材34の周囲部34bが当接す
る位置に対応して、密着性を確保すべくゴム製のOリン
グ22cが設けられている。
すような形状となっている。すなわち、試料ホルダ収容
部22の奥部には、試料ホルダ14の挿入方向に対する
試料面32aの位置決めを行う位置決め面22aが設け
られている。より具体的には、位置決め面22aは、挿
入方向に垂直な面であって、支持部材34の先端部が当
たる高さに形成されている。また、試料ホルダ収容部2
2の上部内面には、支持部材34の位置決め用凹部34
dに対応する位置に、位置決め用凸部22bが形成され
ているとともに、支持部材34の周囲部34bが当接す
る位置に対応して、密着性を確保すべくゴム製のOリン
グ22cが設けられている。
【0026】本実施形態にかかる光計測装置10は、上
記構成から、試料ホルダ収容部14への装着に伴って、
導光部材20の入射面20aに対して試料台32の試料
面32aを近接させるとともに、支持部材34の周囲部
34bを試料ホルダ収容部22の上部内面に当接させて
外乱光を遮光するものであるが、以下、かかる動作を詳
細に説明する。
記構成から、試料ホルダ収容部14への装着に伴って、
導光部材20の入射面20aに対して試料台32の試料
面32aを近接させるとともに、支持部材34の周囲部
34bを試料ホルダ収容部22の上部内面に当接させて
外乱光を遮光するものであるが、以下、かかる動作を詳
細に説明する。
【0027】図2〜図6は、本実施形態にかかる光計測
装置10において、試料ホルダ14を試料ホルダ収容部
22に装着する際の、試料ホルダ14の各部分(試料台
32、支持部材34、基台36)の動作を示す図であ
る。試料ホルダ14を試料ホルダ収容部22に装着する
際には、まず、図2に示すように、フィルタ形状を有す
る試料100を、試料台32の試料面32aに載置す
る。
装置10において、試料ホルダ14を試料ホルダ収容部
22に装着する際の、試料ホルダ14の各部分(試料台
32、支持部材34、基台36)の動作を示す図であ
る。試料ホルダ14を試料ホルダ収容部22に装着する
際には、まず、図2に示すように、フィルタ形状を有す
る試料100を、試料台32の試料面32aに載置す
る。
【0028】試料台32の試料面32aに試料100を
載置したら、図3に示すように、試料ホルダ14を試料
ホルダ収容部22に挿入する。かかる挿入は、試料ホル
ダ14を水平面内で一定の方向(以下、挿入方向とい
う)にスライドさせることによって行う。この場合、試
料台32は支持部材34に支持され、支持部材34は基
台36に支持されていることから、試料台32と支持部
材34と基台36とは連動して、挿入方向に移動する。
載置したら、図3に示すように、試料ホルダ14を試料
ホルダ収容部22に挿入する。かかる挿入は、試料ホル
ダ14を水平面内で一定の方向(以下、挿入方向とい
う)にスライドさせることによって行う。この場合、試
料台32は支持部材34に支持され、支持部材34は基
台36に支持されていることから、試料台32と支持部
材34と基台36とは連動して、挿入方向に移動する。
【0029】試料ホルダ14を試料ホルダ収容部22に
挿入していくと、図4に示すように、支持部材34の先
端部が試料ホルダ収容部22の位置決め面22aに当た
り、支持部材34とこれに支持された試料台32とは、
これ以上挿入方向に移動できなくなる。一方、基台36
は、さらに挿入方向に移動することが可能となる。ここ
で、基台36をさらに挿入方向に移動させることで、支
持部材34の突起部34cが基台36の案内溝36cに
沿って上方に動かされ、その結果、支持部材34とこれ
に支持された試料台32とは上方に押し上げられる。ま
た、支持部材34の先端部が試料ホルダ収容部22の位
置決め面22aに当てることで、試料台32の試料面3
2aの上記挿入方向における位置決めがなされる。
挿入していくと、図4に示すように、支持部材34の先
端部が試料ホルダ収容部22の位置決め面22aに当た
り、支持部材34とこれに支持された試料台32とは、
これ以上挿入方向に移動できなくなる。一方、基台36
は、さらに挿入方向に移動することが可能となる。ここ
で、基台36をさらに挿入方向に移動させることで、支
持部材34の突起部34cが基台36の案内溝36cに
沿って上方に動かされ、その結果、支持部材34とこれ
に支持された試料台32とは上方に押し上げられる。ま
た、支持部材34の先端部が試料ホルダ収容部22の位
置決め面22aに当てることで、試料台32の試料面3
2aの上記挿入方向における位置決めがなされる。
【0030】基台36をさらに挿入方向に移動させる
と、図5に示すように、導光部材20の入射面20aに
対して試料台32の試料面32aが一定の距離まで近接
したところで、すなわち、試料面32aに載置された試
料100が導光部材20の入射面20aに設けられた突
起部20cに当たるところで試料台32の上昇が停止す
る。すなわち、上記突起部20cにより、試料台32の
試料面32aの上下方向における位置決めがなされる。
ここで特に、突起部20cが導光部材20の入射面20
aの縁部に設けられていることから、フィルタ形状を有
する試料100の縁部に反り等が生じていたとしても、
当該突起部20cが試料100の縁部を抑え、試料10
0の反りをなくすことができる。この時点では未だ、支
持部材34の周囲部34bは、試料ホルダ収容部22の
上部内面に当接してはいないため、基台36をさらに挿
入方向に挿入することで、支持部材34は上昇を続け
る。この際、試料ホルダ収容部22の位置決め用凸部2
2bが支持部材34の位置決め用凹部34dに挿入され
ることで、水平面内における上記挿入方向と垂直方向に
対して、試料台32の試料面32aの位置が微調整され
る。ここで、試料台32は上昇できずに支持部材34の
みが上昇することにより、試料台32と支持部材34と
の上下方向の位置関係が変化する。しかし、試料台32
は支持部材34に対して、バネ38を介して、上下方向
に可動に支持されていることから、当該位置関係の変化
はバネ38によって吸収される。
と、図5に示すように、導光部材20の入射面20aに
対して試料台32の試料面32aが一定の距離まで近接
したところで、すなわち、試料面32aに載置された試
料100が導光部材20の入射面20aに設けられた突
起部20cに当たるところで試料台32の上昇が停止す
る。すなわち、上記突起部20cにより、試料台32の
試料面32aの上下方向における位置決めがなされる。
ここで特に、突起部20cが導光部材20の入射面20
aの縁部に設けられていることから、フィルタ形状を有
する試料100の縁部に反り等が生じていたとしても、
当該突起部20cが試料100の縁部を抑え、試料10
0の反りをなくすことができる。この時点では未だ、支
持部材34の周囲部34bは、試料ホルダ収容部22の
上部内面に当接してはいないため、基台36をさらに挿
入方向に挿入することで、支持部材34は上昇を続け
る。この際、試料ホルダ収容部22の位置決め用凸部2
2bが支持部材34の位置決め用凹部34dに挿入され
ることで、水平面内における上記挿入方向と垂直方向に
対して、試料台32の試料面32aの位置が微調整され
る。ここで、試料台32は上昇できずに支持部材34の
みが上昇することにより、試料台32と支持部材34と
の上下方向の位置関係が変化する。しかし、試料台32
は支持部材34に対して、バネ38を介して、上下方向
に可動に支持されていることから、当該位置関係の変化
はバネ38によって吸収される。
【0031】基台36をさらに挿入方向に移動させる
と、図6に示すように、支持部材34がさらに上昇し、
支持部材34の周囲部34bが試料ホルダ収容部22の
上部内面に当接する。また、支持部材34の周囲部34
bが、試料ホルダ収容部22の上部内面であってゴム製
のOリング22cが設けられている部分に当接すること
で、支持部材34の周囲部34bと試料ホルダ収容部2
2の上部内面との密着性が増し、導光部材20の入射面
20aへの外乱光の入射が効率よく防止される。
と、図6に示すように、支持部材34がさらに上昇し、
支持部材34の周囲部34bが試料ホルダ収容部22の
上部内面に当接する。また、支持部材34の周囲部34
bが、試料ホルダ収容部22の上部内面であってゴム製
のOリング22cが設けられている部分に当接すること
で、支持部材34の周囲部34bと試料ホルダ収容部2
2の上部内面との密着性が増し、導光部材20の入射面
20aへの外乱光の入射が効率よく防止される。
【0032】続いて、本実施形態にかかる光計測装置の
作用、効果について説明する。本実施形態にかかる光計
測装置10は、試料ホルダ収容部22への試料ホルダ1
4の装着に伴って、導光部材20の入射面20aに対し
て試料台32の試料面32aを近接させることで、試料
100を所定の計測位置、すなわち導光部材20の入射
面20aに近接する位置に容易に配置することができ
る。また、支持部材34を試料台配置部34aと周囲部
34bとを有して構成し、試料ホルダ収容部22への試
料ホルダ14の装着に伴って、かかる周囲部34bを試
料ホルダ収容部22の上部内面に当接させて外乱光を遮
光することで、導光部材20の入射面20aへの外乱光
の入射が防止され、S/N比が向上する。その結果、精
度の高い計測が可能となる。特に、試料100が配置さ
れた試料台32を支持する支持部材34を下側から押し
上げることによって試料100を所定の計測位置に配置
することで、試料100が落下することが防止され、試
料100自体の汚染、あるいは、試料100による他の
部位(例えば導光部材20)の汚染が防止される。ま
た、支持部材34の突起部34cが基台36の案内溝3
6cに沿って動かされることにより、支持部材34を押
し上げることで、極めて簡易な構成で試料100を所定
の計測位置に配置し、また、支持部材34の周囲部34
bを試料ホルダ収容部22の上部内面に当接させること
が可能となる。
作用、効果について説明する。本実施形態にかかる光計
測装置10は、試料ホルダ収容部22への試料ホルダ1
4の装着に伴って、導光部材20の入射面20aに対し
て試料台32の試料面32aを近接させることで、試料
100を所定の計測位置、すなわち導光部材20の入射
面20aに近接する位置に容易に配置することができ
る。また、支持部材34を試料台配置部34aと周囲部
34bとを有して構成し、試料ホルダ収容部22への試
料ホルダ14の装着に伴って、かかる周囲部34bを試
料ホルダ収容部22の上部内面に当接させて外乱光を遮
光することで、導光部材20の入射面20aへの外乱光
の入射が防止され、S/N比が向上する。その結果、精
度の高い計測が可能となる。特に、試料100が配置さ
れた試料台32を支持する支持部材34を下側から押し
上げることによって試料100を所定の計測位置に配置
することで、試料100が落下することが防止され、試
料100自体の汚染、あるいは、試料100による他の
部位(例えば導光部材20)の汚染が防止される。ま
た、支持部材34の突起部34cが基台36の案内溝3
6cに沿って動かされることにより、支持部材34を押
し上げることで、極めて簡易な構成で試料100を所定
の計測位置に配置し、また、支持部材34の周囲部34
bを試料ホルダ収容部22の上部内面に当接させること
が可能となる。
【0033】また、本実施形態にかかる光計測装置10
は、試料台32がバネ38を介して支持部材34に可動
に支持されることで、導光部材20の入射面20aに対
して試料台32の試料面32aを近接させ、かつ、支持
部材34の周囲部34bを試料ホルダ収容部22の上部
内面に当接させる際に、導光部材20の入射面20a、
試料台32の試料面32a、支持部材34の周囲部34
b、試料ホルダ収容部22の上部内面の相対的な位置関
係に微妙な誤差(加工誤差、試料の大きさによる誤差
等)が生じたとしても、かかる誤差を吸収することが可
能となる。
は、試料台32がバネ38を介して支持部材34に可動
に支持されることで、導光部材20の入射面20aに対
して試料台32の試料面32aを近接させ、かつ、支持
部材34の周囲部34bを試料ホルダ収容部22の上部
内面に当接させる際に、導光部材20の入射面20a、
試料台32の試料面32a、支持部材34の周囲部34
b、試料ホルダ収容部22の上部内面の相対的な位置関
係に微妙な誤差(加工誤差、試料の大きさによる誤差
等)が生じたとしても、かかる誤差を吸収することが可
能となる。
【0034】また、本実施形態にかかる光計測装置10
は、導光部材20の入射面20aの縁部に設けられた突
起部20cを有することで、導光部材20の入射面20
aと試料台32の試料面32aとの接触を防止すること
ができるとともに、試料100の縁部を押さえて試料1
00の反りをなくすことができる。その結果、導光部材
20の入射面20aが試料によって汚れることが無くな
り、保守が容易となる。
は、導光部材20の入射面20aの縁部に設けられた突
起部20cを有することで、導光部材20の入射面20
aと試料台32の試料面32aとの接触を防止すること
ができるとともに、試料100の縁部を押さえて試料1
00の反りをなくすことができる。その結果、導光部材
20の入射面20aが試料によって汚れることが無くな
り、保守が容易となる。
【0035】上記実施形態にかかる光計測装置10にお
いては、導光部材20の入射面20aと試料台32の試
料面32aとの接触を防止するための突起部20cが導
光部材20の入射面20aに設けられていたが、かかる
突起部は試料台32の試料面32aに設けられていても
よい。
いては、導光部材20の入射面20aと試料台32の試
料面32aとの接触を防止するための突起部20cが導
光部材20の入射面20aに設けられていたが、かかる
突起部は試料台32の試料面32aに設けられていても
よい。
【0036】また、導光部材20の入射面20aと試料
台32の試料面32aとの接触を防止するための突起部
は、以下のように設けてもよい。すなわち、図7に示す
ように、アルミ製のリング40aに複数の突起部40b
を設けた接触防止用リング40を用意し、図8に示すよ
うに、当該接触防止用リング40を導光部材20の入射
面20aの周囲にはめ込んでもよい。このようにするこ
とによっても、導光部材20の入射面20aと試料台3
2の試料面32aとの接触を防止することができる。
台32の試料面32aとの接触を防止するための突起部
は、以下のように設けてもよい。すなわち、図7に示す
ように、アルミ製のリング40aに複数の突起部40b
を設けた接触防止用リング40を用意し、図8に示すよ
うに、当該接触防止用リング40を導光部材20の入射
面20aの周囲にはめ込んでもよい。このようにするこ
とによっても、導光部材20の入射面20aと試料台3
2の試料面32aとの接触を防止することができる。
【0037】また、上記実施形態にかかる光計測装置1
0においては、試料台32と支持部材34とを連結する
弾性部材としてバネ38を用いていたが、これはゴムな
どであってもよい。
0においては、試料台32と支持部材34とを連結する
弾性部材としてバネ38を用いていたが、これはゴムな
どであってもよい。
【0038】
【発明の効果】本発明の光計測装置は、試料ホルダ収容
部への試料ホルダの装着に伴って、導光部材の入射面に
対して試料台の試料面を近接させることで、試料を所定
の計測位置、すなわち導光部材の入射面に近接する位置
に容易に配置することができる。また、支持部材を試料
台配置部と周囲部とを有して構成し、試料ホルダ収容部
への試料ホルダの装着に伴って、かかる周囲部を試料ホ
ルダ収容部の内面に当接させて外乱光を遮光すること
で、導光部材の入射面への外乱光の入射が防止され、S
/N比が向上する。その結果、精度の高い計測が可能と
なる。
部への試料ホルダの装着に伴って、導光部材の入射面に
対して試料台の試料面を近接させることで、試料を所定
の計測位置、すなわち導光部材の入射面に近接する位置
に容易に配置することができる。また、支持部材を試料
台配置部と周囲部とを有して構成し、試料ホルダ収容部
への試料ホルダの装着に伴って、かかる周囲部を試料ホ
ルダ収容部の内面に当接させて外乱光を遮光すること
で、導光部材の入射面への外乱光の入射が防止され、S
/N比が向上する。その結果、精度の高い計測が可能と
なる。
【0039】また、本発明の光計測装置においては、試
料が配置された試料台を支持する支持部材を下側から押
し上げることによって試料を所定の計測位置に配置する
ことで、試料が落下することが防止される。その結果、
試料自体の汚染あるいは、試料による他の部位の汚染が
防止される。
料が配置された試料台を支持する支持部材を下側から押
し上げることによって試料を所定の計測位置に配置する
ことで、試料が落下することが防止される。その結果、
試料自体の汚染あるいは、試料による他の部位の汚染が
防止される。
【0040】また、本発明の光計測装置においては、支
持部材の突起部が基台の案内溝に沿って動かされること
により、支持部材を押し上げることで、極めて簡易な構
成で試料を所定の計測位置に配置することが可能とな
る。
持部材の突起部が基台の案内溝に沿って動かされること
により、支持部材を押し上げることで、極めて簡易な構
成で試料を所定の計測位置に配置することが可能とな
る。
【0041】また、本発明の光計測装置においては、試
料台が弾性部材を介して支持部材に可動に支持されるこ
とで、導光部材の入射面に対して試料台の試料面を近接
させ、かつ、支持部材の周囲部を試料ホルダ収容部の内
面に当接させる際に、導光部材の入射面、試料台の試料
面、支持部材の周囲部、試料ホルダ収容部の内面の相対
的な位置関係に微妙な誤差(加工誤差、試料の大きさに
よる誤差等)が生じたとしても、かかる誤差を吸収する
ことが可能となる。
料台が弾性部材を介して支持部材に可動に支持されるこ
とで、導光部材の入射面に対して試料台の試料面を近接
させ、かつ、支持部材の周囲部を試料ホルダ収容部の内
面に当接させる際に、導光部材の入射面、試料台の試料
面、支持部材の周囲部、試料ホルダ収容部の内面の相対
的な位置関係に微妙な誤差(加工誤差、試料の大きさに
よる誤差等)が生じたとしても、かかる誤差を吸収する
ことが可能となる。
【0042】また、本発明の光計測装置においては、導
光部材の入射面と試料台の試料面とのうち少なくとも一
方に突起部を設けることで、導光部材の入射面と試料台
の試料面との接触を防止することができる。その結果、
試料によって導光部材の入射面が汚染されることが防止
され、保守が容易となる。
光部材の入射面と試料台の試料面とのうち少なくとも一
方に突起部を設けることで、導光部材の入射面と試料台
の試料面との接触を防止することができる。その結果、
試料によって導光部材の入射面が汚染されることが防止
され、保守が容易となる。
【0043】また、本発明の光計測装置においては、導
光部材の入射面に試料の縁部を抑える突起部を設けるこ
とで、試料の反りを矯正することができる。その結果、
試料によって導光部材の入射面が汚染されることが防止
され、保守が容易となる。
光部材の入射面に試料の縁部を抑える突起部を設けるこ
とで、試料の反りを矯正することができる。その結果、
試料によって導光部材の入射面が汚染されることが防止
され、保守が容易となる。
【図1】光計測装置の構成図である。
【図2】試料ホルダの各部分の動作を示す図である。
【図3】試料ホルダの各部分の動作を示す図である。
【図4】試料ホルダの各部分の動作を示す図である。
【図5】試料ホルダの各部分の動作を示す図である。
【図6】試料ホルダの各部分の動作を示す図である。
【図7】接触防止用リングの斜視図である。
【図8】接触防止用リングを導光部材に装着した様子を
示す図である。
示す図である。
10…光計測装置、12…本体、14…試料ホルダ、1
6…解析部、18…光検出部、20…導光部材、22…
試料ホルダ収容部、24…イメージインテンシファイ
ヤ、26…リレーレンズ系、28…CCDカメラ、30
…信号線、32…試料台、34…支持部材、36…基
台、38…バネ、40…接触防止用リング、100…試
料
6…解析部、18…光検出部、20…導光部材、22…
試料ホルダ収容部、24…イメージインテンシファイ
ヤ、26…リレーレンズ系、28…CCDカメラ、30
…信号線、32…試料台、34…支持部材、36…基
台、38…バネ、40…接触防止用リング、100…試
料
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2G054 AA02 AA06 BB20 CA20 CA21 CD03 CD10 CE02 FA01 FA16 FA39 GB10 2G059 AA01 BB12 CC16 DD03 DD13 EE06 JJ17 KK04 LL04
Claims (6)
- 【請求項1】 光検出部と試料ホルダ収容部とを有する
本体と、 前記試料ホルダ収容部に着脱可能に設けられた試料ホル
ダと、 前記本体に設けられ、前記試料ホルダに配置された試料
から発する光を入射面に入射させて前記光検出部に導く
導光部材とを具備し、 前記試料ホルダは、 前記試料を配置する試料面を有する試料台と、 前記試料台の前記試料面の反対側の面に対面する試料台
配置部と前記試料台配置部の周囲に設けられた周囲部と
を有し、前記試料台を支持する支持部材と、 前記支持部材を可動に支持する基台とを備え、 前記試料ホルダは、 前記試料ホルダ収容部への装着に伴って、前記導光部材
の前記入射面に対して前記試料台の前記試料面を近接さ
せるとともに、前記支持部材の前記周囲部を前記試料ホ
ルダ収容部の内面に当接させて外乱光を遮光することを
特徴とする光計測装置。 - 【請求項2】 前記導光部材は、 前記入射面を下側にして前記試料ホルダ収容部の上側に
配置され、 前記試料ホルダは、 前記試料ホルダ収容部への装着に伴って、前記支持部材
を押し上げることにより、前記導光部材の前記入射面に
対して前記試料台の前記試料面を近接させるとともに、
前記支持部材の前記周囲部を前記試料ホルダ収容部の内
面に当接させて外乱光を遮光することを特徴とする請求
項1に記載の光計測装置。 - 【請求項3】 前記支持部材の側部には突起部が設けら
れ、 前記基台には前記支持部材の前記突起部が挿入される案
内溝が設けられ、 前記試料ホルダは、 前記試料ホルダ収容部への装着に伴って、前記支持部材
の前記突起部が前記基台の前記案内溝に沿って動かされ
ることにより、前記支持部材を押し上げることを特徴と
する請求項2に記載の光計測装置。 - 【請求項4】 前記試料台は、弾性部材を介して前記支
持部材に可動に支持されていることを特徴とする請求項
1〜3のいずれか1項に記載の光計測装置。 - 【請求項5】 前記導光部材の前記入射面と前記試料台
の前記試料面とのうち少なくとも一方に、前記導光部材
の前記入射面と前記試料台の前記試料面との接触を防止
する突起部が設けられていることを特徴とする請求項1
〜4のいずれか1項に記載の光計測装置。 - 【請求項6】 前記試料は、フィルタ形状を有するもの
であり、 前記導光部材の前記入射面に、フィルタ形状を有する前
記試料の縁部を抑える突起部が設けられていることを特
徴とする請求項1〜5のいずれか1項に記載の光計測装
置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11148768A JP2000338033A (ja) | 1999-05-27 | 1999-05-27 | 光計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11148768A JP2000338033A (ja) | 1999-05-27 | 1999-05-27 | 光計測装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000338033A true JP2000338033A (ja) | 2000-12-08 |
Family
ID=15460234
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11148768A Pending JP2000338033A (ja) | 1999-05-27 | 1999-05-27 | 光計測装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2000338033A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2007081001A1 (ja) * | 2006-01-13 | 2007-07-19 | Arkray, Inc. | 遮光手段を備えた分析装置 |
JP2007333650A (ja) * | 2006-06-16 | 2007-12-27 | Hamamatsu Photonics Kk | 光検出装置 |
WO2019235054A1 (ja) * | 2018-06-07 | 2019-12-12 | コニカミノルタ株式会社 | 光学特性測定装置および測定装置置台 |
-
1999
- 1999-05-27 JP JP11148768A patent/JP2000338033A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2007081001A1 (ja) * | 2006-01-13 | 2007-07-19 | Arkray, Inc. | 遮光手段を備えた分析装置 |
JP4861995B2 (ja) * | 2006-01-13 | 2012-01-25 | アークレイ株式会社 | 遮光手段を備えた分析装置 |
JP2007333650A (ja) * | 2006-06-16 | 2007-12-27 | Hamamatsu Photonics Kk | 光検出装置 |
WO2019235054A1 (ja) * | 2018-06-07 | 2019-12-12 | コニカミノルタ株式会社 | 光学特性測定装置および測定装置置台 |
JP7456380B2 (ja) | 2018-06-07 | 2024-03-27 | コニカミノルタ株式会社 | 光学特性測定装置および測定装置置台 |
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A621 | Written request for application examination |
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|
A977 | Report on retrieval |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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