JP2000338033A - 光計測装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 試料を計測位置に容易に配置でき、精度の高
い計測が可能な光計測装置を提供する。 【解決手段】 光計測装置１０は、光検出部１８と導光
部材２０と試料ホルダ収容部２２とを有する本体１２
と、試料ホルダ１４と、解析部１６とを備えて構成され
る。試料ホルダ１４は、試料１００を配置する試料面３
２ａを有する試料台３２と、試料台３２の試料面３２ａ
の反対側の面に対面する試料台配置部３４ａと試料台配
置部３４ａの周囲に設けられた周囲部３４ｂとを有して
試料台３２を支持する支持部材３４と、支持部材３４を
可動に支持する基台３６とを有する。試料ホルダ１４
は、試料ホルダ収容部２２への装着に伴って、導光部材
２０の入射面２０ａに対して試料台３２の試料面３２ａ
を近接させるとともに、支持部材３４の周囲部３４ｂを
試料ホルダ収容部２２の上部内面に当接させて外乱光を
遮光する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、光計測装置に関す
るものである。

【０００２】

【従来の技術】試料から生ずる種々の発光現象を検出
し、当該発光現象に基づいて試料に含まれる物質の濃
度、微生物の数等を計測する光計測装置が知られてい
る。このような光計測装置として、例えば、特開平６−
７８７４８号公報に記載されている光計測装置が知られ
ている。この光計測装置は、微生物を捕捉したフィルタ
（試料）を導光用テーパファイバの上部に配置し、当該
フィルタに一定の試薬を滴下したときに上記微生物から
発する光を上記導光用テーパファイバを介してＣＣＤカ
メラによって撮像する。ＣＣＤカメラによって撮像され
た撮像画像を解析することにより、物質の濃度、微生物
の数等を計測することが可能となる。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかし、上記従来技術
にかかる光計測装置には、以下に示すような問題点があ
った。すなわち、上記従来技術のかかる光計測装置にお
いては、導光用テーパファイバに対して所定の計測位置
に試料を配置する作業が極めて煩雑となる。また、導光
用テーパファイバへの外乱光の入射に伴ってＳ／Ｎ比が
低下し、計測精度が低下する。そこで本発明は、試料を
所定の計測位置に容易に配置することができるとともに
精度の高い計測が可能な光計測装置を提供することを課
題とする。

【０００４】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明の光計測装置は、光検出部と試料ホルダ収容
部とを有する本体と、上記試料ホルダ収容部に着脱可能
に設けられた試料ホルダと、上記本体に設けられ、上記
試料ホルダに配置された試料から発する光を入射面に入
射させて上記光検出部に導く導光部材とを具備し、上記
試料ホルダは、上記試料を配置する試料面を有する試料
台と、上記試料台の上記試料面の反対側の面に対面する
試料台配置部と上記試料台配置部の周囲に設けられた周
囲部とを有し、上記試料台を支持する支持部材と、上記
支持部材を可動に支持する基台とを備え、上記試料ホル
ダは、上記試料ホルダ収容部への装着に伴って、上記導
光部材の上記入射面に対して上記試料台の上記試料面を
近接させるとともに、上記支持部材の上記周囲部を上記
試料ホルダ収容部の内面に当接させて外乱光を遮光する
ことを特徴としている。

【０００５】試料ホルダ収容部への試料ホルダの装着に
伴って、導光部材の入射面に対して試料台の試料面を近
接させることで、試料を所定の計測位置、すなわち導光
部材の入射面に近接する位置に容易に配置することがで
きる。また、支持部材を試料台配置部と周囲部とを有し
て構成し、試料ホルダ収容部への試料ホルダの装着に伴
って、かかる周囲部を試料ホルダ収容部の内面に当接さ
せて外乱光を遮光することで、導光部材の入射面への外
乱光の入射が防止され、Ｓ／Ｎ比が向上する。

【０００６】また、本発明の光計測装置においては、上
記導光部材は、上記入射面を下側にして上記試料ホルダ
収容部の上側に配置され、上記試料ホルダは、上記試料
ホルダ収容部への装着に伴って、上記支持部材を押し上
げることにより、上記導光部材の上記入射面に対して上
記試料台の上記試料面を近接させるとともに、上記支持
部材の上記周囲部を上記試料ホルダ収容部の内面に当接
させて外乱光を遮光することを特徴としてもよい。

【０００７】試料が配置された試料台を支持する支持部
材を下側から押し上げることによって試料を所定の計測
位置に配置することで、試料が導光部材等の上に落下す
ることが防止される。

【０００８】また、本発明の光計測装置においては、上
記支持部材の側部には突起部が設けられ、上記基台には
上記支持部材の上記突起部が挿入される案内溝が設けら
れ、上記試料ホルダは、上記試料ホルダ収容部への装着
に伴って、上記支持部材の上記突起部が上記基台の上記
案内溝に沿って動かされることにより、上記支持部材を
押し上げることを特徴としてもよい。

【０００９】支持部材の突起部が基台の案内溝に沿って
動かされることにより、支持部材を押し上げることで、
極めて簡易な構成で試料を所定の計測位置に配置し、ま
た、支持部材の周囲部を試料ホルダ収容部の内面に当接
させることが可能となる。

【００１０】また、本発明の光計測装置においては、上
記試料台は、弾性部材を介して上記支持部材に可動に支
持されていることを特徴としてもよい。

【００１１】試料台が弾性部材を介して支持部材に可動
に支持されることで、導光部材の入射面に対して試料台
の試料面を近接させ、かつ、支持部材の周囲部を試料ホ
ルダ収容部の内面に当接させる際に、導光部材の入射
面、試料台の試料面、支持部材の周囲部、試料ホルダ収
容部の内面の相対的な位置関係に微妙な誤差（加工誤
差、試料の大きさによる誤差等）が生じたとしても、か
かる誤差を吸収することが可能となる。

【００１２】また、本発明の光計測装置においては、上
記導光部材の上記入射面と上記試料台の上記試料面との
うち少なくとも一方に、上記導光部材の上記入射面と上
記試料台の上記試料面との接触を防止する突起部が設け
られていることを特徴としてもよい。

【００１３】上記突起部を設けることで、導光部材の入
射面と試料台の試料面との接触を防止することができ
る。

【００１４】また、本発明の光計測装置においては、上
記試料は、フィルタ形状を有するものであり、上記導光
部材の上記入射面に、フィルタ形状を有する上記試料の
縁部を抑える突起部が設けられていることを特徴として
もよい。

【００１５】フィルタ形状を有する試料の計測を行う場
合、試料に反りが生ずる場合がある。ここで、上記突起
部を設けることで、フィルタ形状を有する試料の縁部を
抑え、試料の反りをなくすことが可能となる。

【００１６】

【発明の実施の形態】本発明の実施形態に係る光計測装
置について、図面を参照して説明する。本実施形態にか
かる光計測装置は、微生物を捕捉したしたフィルタ（試
料）に一定の試薬を滴下し、当該微生物から発する光を
計測する光計測装置である。まず、本実施形態に係る光
計測装置の構成について説明する。図１は本実施形態に
係る光計測装置の光計測装置の構成図である。

【００１７】本実施形態にかかる光計測装置１０は、本
体１２と試料ホルダ１４と解析部１６とを備えて構成さ
れる。本体１２には、光検出部１８と導光部材２０と試
料ホルダ収容部２２とが設けられている。

【００１８】試料ホルダ収容部２２は、本体１２の下部
に設けられ、試料ホルダ１４を水平方向に装着し、ある
いは、取り外すことが可能となっている。

【００１９】導光部材２０は、入射面２０ａを下側にし
て試料ホルダ収容部２２の上側に配置され、試料ホルダ
１４が試料ホルダ収容部２２に装着された際に、試料ホ
ルダ１４に配置された試料１００から発する光を入射面
２０ａに入射させて光検出部１８に導く。導光部材２０
は、具体的には、複数の光ファイバを配列し、入射面に
対して出射面が小さくなるようにテーパ形状に形成した
光学部材であり、入射面に入射した光パターンを縮小し
て出射面から出力できるようになっている。すなわち、
試料１００から発して入射面２０ａに入射した光パター
ンは、縮小されて出射面２０ｂから出力される。また、
導光部材２０の入射面２０ａの縁部には、当該入射面２
０ａと試料台の試料面（詳細は後述）との接触を防止す
るとともに、フィルタ形状を有する試料１００の縁部を
抑える突起部２０ｃが設けられている。かかる突起部２
０ｃは、例えば、導光部材２０の入射面２０ａに、アル
ミニウム製のリングを接着することにより設けられる。

【００２０】光検出部１８は、イメージインテンシファ
イヤ２４とリレーレンズ系２６とＣＣＤカメラ２８とを
備えて構成される。イメージインテンシファイヤ２４と
リレーレンズ系２６とＣＣＤカメラ２８とは、この順
に、導光部材２０の上側（出射面２０ｂ側）に配置され
ている。従って、導光部材２０の出射面２０ｂから出力
された光パターンは、イメージインテンシファイヤ２４
によって増幅され、リレーレンズ系２６を介してＣＣＤ
カメラ２８によって撮像される。

【００２１】解析部１６は、信号線３０を介してＣＣＤ
カメラ２８と接続されており、当該解析部１６には、Ｃ
ＣＤカメラ２８による撮像画像が入力される。解析部１
６は、ＣＣＤカメラ２８による撮像画像に基づいて、試
料１００に含まれる微生物の数等を算出する。

【００２２】試料ホルダ１４は、本体１２の試料ホルダ
収容部２２に着脱可能に設けられている。より具体的に
は、試料ホルダ１４は、いずれもアルミニウム製の試料
台３２と支持部材３４と基台３６とを備えて構成され
る。試料台３２は、略平板形状を有し、試料１００を配
置する試料面３２ａが形成されている。

【００２３】支持部材３４は、試料台３２の試料面３２
ａの反対側の面に対面する平板状の試料台配置部３４ａ
と試料台配置部３４ａの周囲を囲むように鉛直方向に突
出して設けられた周囲部３４ｂとを有し、バネ３８（弾
性部材）を介して、試料台３２を下から可動に支持して
いる。より詳細には、試料台３２は支持部材３４に対し
て上下方向に可動となっている。また、支持部材３４の
両側部には、水平方向に突出する複数の突起部３４ｃが
設けられている。また、支持部材３４の周囲部３４ｂの
上面には、位置決め用凹部３４ｄが形成されている。

【００２４】基台３６は、支持部材３４をその両側部か
ら可動に支持する。より具体的には、基台３６は、支持
部材３４の両側部それぞれの一部を覆う平板状の２つの
起立部３６ａと２つの起立部３６ａを連結するベース部
３６ｂとを備えて構成される。起立部３６ａ内であって
上記支持部材３４の突起部３４ｃに対応する位置それぞ
れには、当該突起部３４ｃが挿入される案内溝３６ｃが
形成されている。案内溝３６ｃは、試料ホルダ１４の装
着される向きに斜め下方に延びる溝となっている。従っ
て、支持部材３４の突起部３４ｃが基台３６の案内溝３
６ｃに沿って動かされることにより、支持部材３４が基
台３６に対して押し上げられるようになっている。

【００２５】試料ホルダ収容部２２の内側は、以下に示
すような形状となっている。すなわち、試料ホルダ収容
部２２の奥部には、試料ホルダ１４の挿入方向に対する
試料面３２ａの位置決めを行う位置決め面２２ａが設け
られている。より具体的には、位置決め面２２ａは、挿
入方向に垂直な面であって、支持部材３４の先端部が当
たる高さに形成されている。また、試料ホルダ収容部２
２の上部内面には、支持部材３４の位置決め用凹部３４
ｄに対応する位置に、位置決め用凸部２２ｂが形成され
ているとともに、支持部材３４の周囲部３４ｂが当接す
る位置に対応して、密着性を確保すべくゴム製のＯリン
グ２２ｃが設けられている。

【００２６】本実施形態にかかる光計測装置１０は、上
記構成から、試料ホルダ収容部１４への装着に伴って、
導光部材２０の入射面２０ａに対して試料台３２の試料
面３２ａを近接させるとともに、支持部材３４の周囲部
３４ｂを試料ホルダ収容部２２の上部内面に当接させて
外乱光を遮光するものであるが、以下、かかる動作を詳
細に説明する。

【００２７】図２〜図６は、本実施形態にかかる光計測
装置１０において、試料ホルダ１４を試料ホルダ収容部
２２に装着する際の、試料ホルダ１４の各部分（試料台
３２、支持部材３４、基台３６）の動作を示す図であ
る。試料ホルダ１４を試料ホルダ収容部２２に装着する
際には、まず、図２に示すように、フィルタ形状を有す
る試料１００を、試料台３２の試料面３２ａに載置す
る。

【００２８】試料台３２の試料面３２ａに試料１００を
載置したら、図３に示すように、試料ホルダ１４を試料
ホルダ収容部２２に挿入する。かかる挿入は、試料ホル
ダ１４を水平面内で一定の方向（以下、挿入方向とい
う）にスライドさせることによって行う。この場合、試
料台３２は支持部材３４に支持され、支持部材３４は基
台３６に支持されていることから、試料台３２と支持部
材３４と基台３６とは連動して、挿入方向に移動する。

【００２９】試料ホルダ１４を試料ホルダ収容部２２に
挿入していくと、図４に示すように、支持部材３４の先
端部が試料ホルダ収容部２２の位置決め面２２ａに当た
り、支持部材３４とこれに支持された試料台３２とは、
これ以上挿入方向に移動できなくなる。一方、基台３６
は、さらに挿入方向に移動することが可能となる。ここ
で、基台３６をさらに挿入方向に移動させることで、支
持部材３４の突起部３４ｃが基台３６の案内溝３６ｃに
沿って上方に動かされ、その結果、支持部材３４とこれ
に支持された試料台３２とは上方に押し上げられる。ま
た、支持部材３４の先端部が試料ホルダ収容部２２の位
置決め面２２ａに当てることで、試料台３２の試料面３
２ａの上記挿入方向における位置決めがなされる。

【００３０】基台３６をさらに挿入方向に移動させる
と、図５に示すように、導光部材２０の入射面２０ａに
対して試料台３２の試料面３２ａが一定の距離まで近接
したところで、すなわち、試料面３２ａに載置された試
料１００が導光部材２０の入射面２０ａに設けられた突
起部２０ｃに当たるところで試料台３２の上昇が停止す
る。すなわち、上記突起部２０ｃにより、試料台３２の
試料面３２ａの上下方向における位置決めがなされる。
ここで特に、突起部２０ｃが導光部材２０の入射面２０
ａの縁部に設けられていることから、フィルタ形状を有
する試料１００の縁部に反り等が生じていたとしても、
当該突起部２０ｃが試料１００の縁部を抑え、試料１０
０の反りをなくすことができる。この時点では未だ、支
持部材３４の周囲部３４ｂは、試料ホルダ収容部２２の
上部内面に当接してはいないため、基台３６をさらに挿
入方向に挿入することで、支持部材３４は上昇を続け
る。この際、試料ホルダ収容部２２の位置決め用凸部２
２ｂが支持部材３４の位置決め用凹部３４ｄに挿入され
ることで、水平面内における上記挿入方向と垂直方向に
対して、試料台３２の試料面３２ａの位置が微調整され
る。ここで、試料台３２は上昇できずに支持部材３４の
みが上昇することにより、試料台３２と支持部材３４と
の上下方向の位置関係が変化する。しかし、試料台３２
は支持部材３４に対して、バネ３８を介して、上下方向
に可動に支持されていることから、当該位置関係の変化
はバネ３８によって吸収される。

【００３１】基台３６をさらに挿入方向に移動させる
と、図６に示すように、支持部材３４がさらに上昇し、
支持部材３４の周囲部３４ｂが試料ホルダ収容部２２の
上部内面に当接する。また、支持部材３４の周囲部３４
ｂが、試料ホルダ収容部２２の上部内面であってゴム製
のＯリング２２ｃが設けられている部分に当接すること
で、支持部材３４の周囲部３４ｂと試料ホルダ収容部２
２の上部内面との密着性が増し、導光部材２０の入射面
２０ａへの外乱光の入射が効率よく防止される。

【００３２】続いて、本実施形態にかかる光計測装置の
作用、効果について説明する。本実施形態にかかる光計
測装置１０は、試料ホルダ収容部２２への試料ホルダ１
４の装着に伴って、導光部材２０の入射面２０ａに対し
て試料台３２の試料面３２ａを近接させることで、試料
１００を所定の計測位置、すなわち導光部材２０の入射
面２０ａに近接する位置に容易に配置することができ
る。また、支持部材３４を試料台配置部３４ａと周囲部
３４ｂとを有して構成し、試料ホルダ収容部２２への試
料ホルダ１４の装着に伴って、かかる周囲部３４ｂを試
料ホルダ収容部２２の上部内面に当接させて外乱光を遮
光することで、導光部材２０の入射面２０ａへの外乱光
の入射が防止され、Ｓ／Ｎ比が向上する。その結果、精
度の高い計測が可能となる。特に、試料１００が配置さ
れた試料台３２を支持する支持部材３４を下側から押し
上げることによって試料１００を所定の計測位置に配置
することで、試料１００が落下することが防止され、試
料１００自体の汚染、あるいは、試料１００による他の
部位（例えば導光部材２０）の汚染が防止される。ま
た、支持部材３４の突起部３４ｃが基台３６の案内溝３
６ｃに沿って動かされることにより、支持部材３４を押
し上げることで、極めて簡易な構成で試料１００を所定
の計測位置に配置し、また、支持部材３４の周囲部３４
ｂを試料ホルダ収容部２２の上部内面に当接させること
が可能となる。

【００３３】また、本実施形態にかかる光計測装置１０
は、試料台３２がバネ３８を介して支持部材３４に可動
に支持されることで、導光部材２０の入射面２０ａに対
して試料台３２の試料面３２ａを近接させ、かつ、支持
部材３４の周囲部３４ｂを試料ホルダ収容部２２の上部
内面に当接させる際に、導光部材２０の入射面２０ａ、
試料台３２の試料面３２ａ、支持部材３４の周囲部３４
ｂ、試料ホルダ収容部２２の上部内面の相対的な位置関
係に微妙な誤差（加工誤差、試料の大きさによる誤差
等）が生じたとしても、かかる誤差を吸収することが可
能となる。

【００３４】また、本実施形態にかかる光計測装置１０
は、導光部材２０の入射面２０ａの縁部に設けられた突
起部２０ｃを有することで、導光部材２０の入射面２０
ａと試料台３２の試料面３２ａとの接触を防止すること
ができるとともに、試料１００の縁部を押さえて試料１
００の反りをなくすことができる。その結果、導光部材
２０の入射面２０ａが試料によって汚れることが無くな
り、保守が容易となる。

【００３５】上記実施形態にかかる光計測装置１０にお
いては、導光部材２０の入射面２０ａと試料台３２の試
料面３２ａとの接触を防止するための突起部２０ｃが導
光部材２０の入射面２０ａに設けられていたが、かかる
突起部は試料台３２の試料面３２ａに設けられていても
よい。

【００３６】また、導光部材２０の入射面２０ａと試料
台３２の試料面３２ａとの接触を防止するための突起部
は、以下のように設けてもよい。すなわち、図７に示す
ように、アルミ製のリング４０ａに複数の突起部４０ｂ
を設けた接触防止用リング４０を用意し、図８に示すよ
うに、当該接触防止用リング４０を導光部材２０の入射
面２０ａの周囲にはめ込んでもよい。このようにするこ
とによっても、導光部材２０の入射面２０ａと試料台３
２の試料面３２ａとの接触を防止することができる。

【００３７】また、上記実施形態にかかる光計測装置１
０においては、試料台３２と支持部材３４とを連結する
弾性部材としてバネ３８を用いていたが、これはゴムな
どであってもよい。

【００３８】

【発明の効果】本発明の光計測装置は、試料ホルダ収容
部への試料ホルダの装着に伴って、導光部材の入射面に
対して試料台の試料面を近接させることで、試料を所定
の計測位置、すなわち導光部材の入射面に近接する位置
に容易に配置することができる。また、支持部材を試料
台配置部と周囲部とを有して構成し、試料ホルダ収容部
への試料ホルダの装着に伴って、かかる周囲部を試料ホ
ルダ収容部の内面に当接させて外乱光を遮光すること
で、導光部材の入射面への外乱光の入射が防止され、Ｓ
／Ｎ比が向上する。その結果、精度の高い計測が可能と
なる。

【００３９】また、本発明の光計測装置においては、試
料が配置された試料台を支持する支持部材を下側から押
し上げることによって試料を所定の計測位置に配置する
ことで、試料が落下することが防止される。その結果、
試料自体の汚染あるいは、試料による他の部位の汚染が
防止される。

【００４０】また、本発明の光計測装置においては、支
持部材の突起部が基台の案内溝に沿って動かされること
により、支持部材を押し上げることで、極めて簡易な構
成で試料を所定の計測位置に配置することが可能とな
る。

【００４１】また、本発明の光計測装置においては、試
料台が弾性部材を介して支持部材に可動に支持されるこ
とで、導光部材の入射面に対して試料台の試料面を近接
させ、かつ、支持部材の周囲部を試料ホルダ収容部の内
面に当接させる際に、導光部材の入射面、試料台の試料
面、支持部材の周囲部、試料ホルダ収容部の内面の相対
的な位置関係に微妙な誤差（加工誤差、試料の大きさに
よる誤差等）が生じたとしても、かかる誤差を吸収する
ことが可能となる。

【００４２】また、本発明の光計測装置においては、導
光部材の入射面と試料台の試料面とのうち少なくとも一
方に突起部を設けることで、導光部材の入射面と試料台
の試料面との接触を防止することができる。その結果、
試料によって導光部材の入射面が汚染されることが防止
され、保守が容易となる。

【００４３】また、本発明の光計測装置においては、導
光部材の入射面に試料の縁部を抑える突起部を設けるこ
とで、試料の反りを矯正することができる。その結果、
試料によって導光部材の入射面が汚染されることが防止
され、保守が容易となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】光計測装置の構成図である。

【図２】試料ホルダの各部分の動作を示す図である。

【図３】試料ホルダの各部分の動作を示す図である。

【図４】試料ホルダの各部分の動作を示す図である。

【図５】試料ホルダの各部分の動作を示す図である。

【図６】試料ホルダの各部分の動作を示す図である。

【図７】接触防止用リングの斜視図である。

【図８】接触防止用リングを導光部材に装着した様子を
示す図である。

【符号の説明】

１０…光計測装置、１２…本体、１４…試料ホルダ、１
６…解析部、１８…光検出部、２０…導光部材、２２…
試料ホルダ収容部、２４…イメージインテンシファイ
ヤ、２６…リレーレンズ系、２８…ＣＣＤカメラ、３０
…信号線、３２…試料台、３４…支持部材、３６…基
台、３８…バネ、４０…接触防止用リング、１００…試
料

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 2G054 AA02 AA06 BB20 CA20 CA21 CD03 CD10 CE02 FA01 FA16 FA39 GB10 2G059 AA01 BB12 CC16 DD03 DD13 EE06 JJ17 KK04 LL04

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光検出部と試料ホルダ収容部とを有する
   本体と、 前記試料ホルダ収容部に着脱可能に設けられた試料ホル
   ダと、 前記本体に設けられ、前記試料ホルダに配置された試料
   から発する光を入射面に入射させて前記光検出部に導く
   導光部材とを具備し、 前記試料ホルダは、 前記試料を配置する試料面を有する試料台と、 前記試料台の前記試料面の反対側の面に対面する試料台
   配置部と前記試料台配置部の周囲に設けられた周囲部と
   を有し、前記試料台を支持する支持部材と、 前記支持部材を可動に支持する基台とを備え、 前記試料ホルダは、 前記試料ホルダ収容部への装着に伴って、前記導光部材
   の前記入射面に対して前記試料台の前記試料面を近接さ
   せるとともに、前記支持部材の前記周囲部を前記試料ホ
   ルダ収容部の内面に当接させて外乱光を遮光することを
   特徴とする光計測装置。
2. 【請求項２】 前記導光部材は、 前記入射面を下側にして前記試料ホルダ収容部の上側に
   配置され、 前記試料ホルダは、 前記試料ホルダ収容部への装着に伴って、前記支持部材
   を押し上げることにより、前記導光部材の前記入射面に
   対して前記試料台の前記試料面を近接させるとともに、
   前記支持部材の前記周囲部を前記試料ホルダ収容部の内
   面に当接させて外乱光を遮光することを特徴とする請求
   項１に記載の光計測装置。
3. 【請求項３】 前記支持部材の側部には突起部が設けら
   れ、 前記基台には前記支持部材の前記突起部が挿入される案
   内溝が設けられ、 前記試料ホルダは、 前記試料ホルダ収容部への装着に伴って、前記支持部材
   の前記突起部が前記基台の前記案内溝に沿って動かされ
   ることにより、前記支持部材を押し上げることを特徴と
   する請求項２に記載の光計測装置。
4. 【請求項４】 前記試料台は、弾性部材を介して前記支
   持部材に可動に支持されていることを特徴とする請求項
   １〜３のいずれか１項に記載の光計測装置。
5. 【請求項５】 前記導光部材の前記入射面と前記試料台
   の前記試料面とのうち少なくとも一方に、前記導光部材
   の前記入射面と前記試料台の前記試料面との接触を防止
   する突起部が設けられていることを特徴とする請求項１
   〜４のいずれか１項に記載の光計測装置。
6. 【請求項６】 前記試料は、フィルタ形状を有するもの
   であり、 前記導光部材の前記入射面に、フィルタ形状を有する前
   記試料の縁部を抑える突起部が設けられていることを特
   徴とする請求項１〜５のいずれか１項に記載の光計測装
   置。