CN217443173U - 样本分析仪 - Google Patents

Abstract

本实用新型实施例提供一种样本分析仪。本实用新型实施例提供的样本分析仪，与相关技术相比，在样本分析仪中除了设置测样光路利用来自第一光源的光对待测样本进行光测定，实现样本分析仪的检测、分析功能，还设置有参考光光路对第一光源出射的参考光进行检测，其中，在参考光光路中设置有多个光学器件，通过设置光检测器来检测第一光源的辐射能量，为了减少参考光在参考光光路中的能量密度，在光检测器和第一光源之间还设置有光能量密度衰减组件，可以降低参考光的能量密度，从而对减少第一光源对参考光光路中的光学器件的损伤，提高了光学器件的使用寿命。

Description

样本分析仪

技术领域

本实用新型实施例涉及医疗器械领域，尤其涉及样本分析仪。

背景技术

样本分析仪，是医疗器械领域用于检测、分析生命化学物质的仪器。在样本分析仪中，光源是进行光测量的必不可少的器件。为了确保测量结果的正确，光源的能量辐射必须达到一定的稳定条件才能进行光测量。为了规避光源不稳定导致的风险，通常在样本检测通道外另设计用于监控光源辐射变化的监控通道，以用于监控光源稳定性或用于修正光源辐射的漂移。

相关技术中，监控通道上的光学器件(如光检测器)通常距离光源较近，光源直接辐照在光学器件(如光检测器)上的能量密度相对较大，过大的能量密度容易对监控通道上的光学器件(如光检测器)造成损伤，导致光学器件的寿命变短。

实用新型内容

以下是对本文详细描述的主题的概述。本概述并非是为了限制权利要求的保护范围。

本实用新型实施例提供一种样本分析仪，能够降低光源在参考光光路上的能量密度，减少光源对参考光光路上光学器件的损伤，并提高光学器件的使用寿命。

第一方面，本实用新型实施例提供一种样本分析仪，包括：

第一光源；

参考光光路，所述参考光光路用于对所述第一光源出射的参考光进行监测；

测样光路，所述测样光路用于利用所述第一光源出射的光对待测样本进行光测定；

其中，

所述参考光光路包括：

光检测器，所述光检测器用于对所述第一光源的辐射能量进行监测；

光能量密度衰减组件，所述光能量密度衰减组件设置在所述第一光源与所述光检测器之间，用于降低参考光的能量密度。

在一些可选的实施方式中，所述光能量密度衰减组件包括以下的一种或多种光学元件：磨砂玻璃、分散小孔光阑和光衰减片。

在一些可选的实施方式中，当所述光能量密度衰减组件包括所述磨砂玻璃，所述磨砂玻璃的表面粗糙度为1.6～6.3。

在一些可选的实施方式中，还包括：

窄带滤光片，所述窄带滤光片设置在所述第一光源和所述光检测器之间，用于将所述第一光源出射的光过滤为目标波长范围的光。

在一些可选的实施方式中，所述目标波长范围的光为窄带光，其对应的中心波长与用于进行所述光测定的最小测试波长通道的中心波长一致；所述窄带光为半带宽为5nm至12nm 的光。

在一些可选的实施方式中，所述窄带滤光片包括：

玻璃基底，所述玻璃基底表面设置有用于过滤入射光的光学薄膜；

保护环，所述保护环套设在所述玻璃基底的外周，用于保护所述玻璃基底；

压环，所述压环与所述玻璃基底抵接，用于限制所述玻璃基底的位置，使得所述玻璃基底不露出所述保护环。

在一些可选的实施方式中，还包括：

垫片，所述垫片设置在所述窄带滤光片和所述光检测器之间。

在一些可选的实施方式中，还包括：

光源座，所述光源座中设置有容纳腔，所述光能量密度衰减组件和光检测器设置在所述容纳腔中；

弹簧片，所述弹簧片与所述光能量密度衰减组件、所述光检测器沿参考光光路并排设置在所述容纳腔中，用于压紧所述光能量密度衰减组件。

在一些可选的实施方式中，所述第一光源到所述光检测器之间的距离小于或等于40毫米。

在一些可选的实施方式中，所述第一光源为卤素灯。

在一些可选的实施方式中，所述第一光源在所述参考光光路的轴线上。

第二方面，本实用新型实施例还提供了一种样本分析仪，包括：

第一光源；

参考光光路，所述参考光光路用于对第一光源出射的参考光进行监测；

测样光路，所述测样光路用于利用所述第一光源出射的光对待测样本进行光测定；

其中，所述参考光光路，包括：

光检测器，所述光检测器用于对所述第一光源的辐射能量进行监测；

光源座，所述光源座中形成光监控通道，所述光监控通道设置在所述第一光源与所述光检测器之间，用于使所述光检测器接收所述第一光源的散射光，且所述第一光源不在所述光监控通道的轴线上。

本实用新型实施例第一方面提供的样本分析仪，与相关技术相比，在样本分析仪中除了设置测样光路利用来自第一光源的光对待测样本进行光测定，实现样本分析仪的检测、分析功能，还设置有参考光光路对第一光源出射的参考光进行检测，其中，在参考光光路中设置有多个光学器件(如光检测器)，通过设置光检测器来检测第一光源的辐射能量，为了减少参考光在参考光光路中的能量密度，在光检测器和第一光源之间还设置有光能量密度衰减组件，可以降低参考光的能量密度，从而对减少第一光源对参考光光路中的光学器件(如光检测器)的损伤，提高了光学器件(如光检测器)的使用寿命。

可以理解的是，上述第二方面与相关技术相比存在的有益效果与上述第一方面与相关技术相比存在的有益效果相同，可以参见上述第一方面中的相关描述，在此不再赘述。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案，下面将对实施例或相关技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型实施例的一些实施例，对于本领域普通技术人员来说，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本实用新型一个实施例提供的样本分析仪的电路系统架构的示意图；

图2是本实用新型一个实施例提供的样本分析仪的结构示意图；

图3是本实用新型一个实施例提供的样本分析仪的光测部件的部分结构示意图；

图4是本实用新型另一个实施例提供的样本分析仪的光测部件的部分结构示意图；

图5是本实用新型一个实施例提供的窄带滤光片的部分结构示意图。

附图标记说明：

功能模块10、输入模块20、显示模块30、存储器40、控制器50、报警模块60；

样本部件11、样本分注机构12、试剂部件13、试剂分注机构14、混匀机构15、反应部件16和光测部件17；

第一光源171、光检测器172、窄带滤光片173、玻璃基底1731、保护环1732、压环1733、磨砂玻璃174、光源座175、透镜176、垫片177、弹簧片178。

具体实施方式

以下描述中，为了说明而不是为了限定，提出了诸如特定系统结构、技术之类的具体细节，以便透彻理解本实用新型实施例。然而，本领域的技术人员应当清楚，在没有这些具体细节的其它实施例中也可以实现本实用新型实施例。在其它情况中，省略对众所周知的系统、装置、电路以及方法的详细说明，以免不必要的细节妨碍本实用新型实施例的描述。

需要说明的是，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于流程图中的顺序执行所示出或描述的步骤。说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。

还应当理解，在本实用新型实施例说明书中描述的参考“一个实施例”或“一些实施例”等意味着在本实用新型实施例的一个或多个实施例中包括结合该实施例描述的特定特征、结构或特点。由此，在本说明书中的不同之处出现的语句“在一个实施例中”、“在一些实施例中”、“在其他一些实施例中”、“在另外一些实施例中”等不是必然都参考相同的实施例，而是意味着“一个或多个但不是所有的实施例”，除非是以其他方式另外特别强调。术语“包括”、“包含”、“具有”及它们的变形都意味着“包括但不限于”，除非是以其他方式另外特别强调。

在具体说明本实用新型之前，先对样本分析仪的结构进行一个说明。

请参照图1，一种实施例公开了一种样本分析仪，包括至少一个功能模块10(或者说一个或多个功能模块10)、输入模块20、显示模块30、存储器40、控制器50和报警模块60，下面分别说明。

每个功能模块10用于完成样本分析过程中所需要的至少一种功能，这些功能模块10共同配合来完成样本分析，得到样本分析的结果。请参照图2，为一种实施例的样本分析仪，其中对功能模块10进行了一些举例。例如功能模块10可以包括样本部件11、样本分注机构 12、试剂部件13、试剂分注机构14、混匀机构15、反应部件16和光测部件17等。

样本部件11用于承载样本。一些例子中样本部件11可以包括样本分配模块(SDM，Sample Delivery Module)及前端轨道；另一些例子中，样本部件11也可以是样本盘，样本盘包括多个可以放置诸如样本管(样本容器)的样本位，样本盘通过转动其盘式结构，可以将样本调度到相应位置，例如供样本分注机构12吸取样本的位置。

样本分注机构12用于吸取样本并排放到待加样的反应杯(样本液容器)中。例如样本分注机构12可以包括样本针，样本针通过二维或三维的驱动机构来在空间上进行二维或三维的运动，从而样本针可以移动去吸取样本部件11所承载的样本，以及移动到待加样的反应杯，并向反应杯排放样本。

试剂分注机构14用于吸取试剂并排放到待加试剂的反应杯(样本液容器)中。在一实施例中，试剂分注机构14可以包括试剂针，试剂针通过二维或三维的驱动机构来在空间上进行二维或三维的运动，从而试剂针可以移动去吸取试剂部件13所承载的试剂，以及移动到待加试剂的反应杯，并向反应杯排放试剂。

混匀机构15用于对反应杯中需要混匀的反应液进行混匀。混匀机构15的数量可以为一个或多个。

反应部件16具有至少一个放置位，放置位用于放置反应杯(样本液容器)并孵育反应杯中的反应液。例如，反应部件16可以为反应盘，其呈圆盘状结构设置，具有一个或多个用于放置反应杯的放置位，反应盘能够转动并带动其放置位中的反应杯转动，用于在反应盘内调度反应杯以及孵育反应杯中的反应液。

光测部件17用于对孵育完成的反应液(样本液)进行光测定，得到样本的反应数据。例如光测部件17对待测的反应液的发光强度进行检测，通过定标曲线，计算样本中待测成分的浓度等。在一实施例中，光测部件17分离设置于反应部件16的外面。

在本实用新型的一些实施例中，光测部件17包括第一光源171和光检测器172。其中，第一光源171可以是卤素灯、LED灯或氙灯等；光检测器172用于对第一光源171出射的参考光进行监测。例如，请参照图3，光测部件17包括第一光源171、磨砂玻璃174、窄带滤光片173、光检测器172、光源座175和透镜组件(包括至少一个作为光学元件的透镜176)。其中，第一光源171安装在光源座175中，第一光源171为卤素灯，在图示左右方向都有相对较强的光谱辐射。第一光源171向左方向出射的光束作为测试光，用于对待测样本液进行光测定；第一光源171向右方向出射的光束作为参考光，用于供光检测器172进行监测。透镜组件还可以与另外设置的光检测器组成测样光路，将第一光源171向左方向出射的光束汇聚到待测样本液所在的样本检测通道；同时，光源座175中形成容纳腔，容纳腔中设置有磨砂玻璃174、窄带滤光片173和光检测器172，磨砂玻璃174、窄带滤光片173和光检测器172 组成参考光光路，磨砂玻璃174，磨砂玻璃174设置在光源171和光检测器172之间。在该示例中，窄带滤光片是中心波长为340nm的窄带滤光片，光谱带宽为8nm～10nm。

在本实用新型的另一些实施例中，光测部件17包括光源和光检测器。其中，光源可以是卤素灯、LED灯或氙灯等；光检测器用于对光源出射的参考光进行监测，同时，光检测器还用于对从光源出射并经过待测样本液的光束进行检测，以实现对待测样本液进行光测定。例如，光测部件17包括光源、光源座、透镜组件(包括至少一个作为光学元件的透镜)和光检测器。其中，光源安装在光源座中，光源为卤素灯。在光源开启后或休眠状态回到工作状态后，光源出射的光束作为参考光，参考光经过透镜组件并被光检测器捕获，用于供光检测器进行监测；在对样本液的测试过程中，光源出射的光束作为测试光，测试光经过透镜组件和待测样本液后并被光检测器捕获，用于对待测样本液进行光测定。

以上是对功能模块10的一些举例说明，下面继续对样本分析仪中的其他部件和结构进行说明。

控制器50是样本分析仪的神经中枢和指挥中心。控制器50可以根据指令操作码和时序信号，产生操作控制信号，完成取指令和执行指令的控制。例如，在一些实施例中，控制器 50可以接收来自光检测器的能量数据，并进行相应的处理和判断；或者，控制器50可以接收来自光检测器的检测信号，以对待测样本液进行光测定；或者，控制器50可以在判断光源可以进行光测定时(经过光源孵育时间后)，输出控制信号控制显示模块30或报警模块60进行相应提示。

输入模块20用于接收用户的输入。常见地，输入模块20可以是鼠标和键盘等，在一些情况下，也可以是触控显示屏，触控显示屏带来供用户输入和显示内容的功能，因此这种例子中输入模块20和显示模块30是集成在一起的。当然，在一些例子中，输入模块20甚至可以是带来识别语音的语音输入设备等。

显示模块30可以用于显示信息。在有的实施例中，样本分析仪本身可以集成显示模块，在有的实施例中，样本分析仪也可以连接一个计算机设备(例如电脑)，通过计算机设备的显示单元(例如显示屏)来显示信息，这些都属于本文中显示模块30所限定和保护的范围。

报警模块60可以用于对外输出报警信息。常见地，报警模块60可以包括实现声音报警的器件，如扬声器；也可以是包括灯光报警的器件，如指示灯；也可以是同时实现声音和灯光报警的设备等；当然，在一些例子中，报警模块60甚至可以是和显示模块集成设计，报警信息可直接从显示模块中弹窗显示。

需要说明的是，本实用新型实施例描述的样本分析仪的结构是为了更加清楚的说明本实用新型实施例的技术方案，并不构成对于本实用新型实施例提供的技术方案的限定，本领域技术人员可知，随着设备架构的演变和新应用场景的出现，本实用新型实施例提供的技术方案对于类似的技术问题，同样适用。

本领域技术人员可以理解的是，图1、图2和图3中示出的样本分析仪并不构成对本实用新型实施例的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。

在样本分析仪中，光源是进行样本液光测量必不可少的器件，常用的光源包括卤素灯、 LED、氙灯。

相关技术中，为了规避光源不稳定导致的风险，通常在样本检测通道外的参考光光路上另设置用于监控光源辐射变化的监控通道，监控通道由参考光光路上的若干个光学器件组成，用于监控光源稳定性或用于修正光源辐射的漂移，申请人发现，由于仪器尺寸和紧凑性的要求，监控通道光路不能太长，参考光光路上的光学器件(如光检测器)被安置在靠近光源的位置，光源直接辐照在光学器件(如光检测器)上的能量密度相对较大，过大的能量密度会缓慢损伤光学器件(如光检测器)，导致光学器件(如光检测器)的寿命变短。

为了解决相关技术存在的缺陷或不足，本实用新型实施例通过在样本分析仪中除了设置测样光路利用来自第一光源的光对待测样本进行光测定，实现样本分析仪的检测、分析功能，还设置有参考光光路对第一光源出射的参考光进行检测，其中，在参考光光路中设置有多个光学器件，通过设置光检测器来检测第一光源的辐射能量，为了减少参考光在参考光光路中的能量密度，在光检测器和第一光源之间还设置有光能量密度衰减组件，可以降低参考光的能量密度，从而对减少第一光源对参考光光路中的光学器件的损伤，提高了光学器件的使用寿命，从而解决相关技术中光源直接辐照在光学器件上给光学器件带来的问题，需要说明的是，第一光源即为上述实施例中描述的光源，此后本实用新型实施例不再赘述。

需要说明的是，本实用新型实施例的样本液是指怀疑包含一种或多种目的分析物的生物液体，例如生理性液体，包括血液、唾液、眼睛晶状体液体、脑脊髓液、汗液、尿液、乳液、腹水液、粘液、滑液、腹膜液、羊水等。

在一些实施方式中，本实用新型实施例提供一种样本分析仪，包括：

第一光源；

参考光光路，参考光光路用于对第一光源出射的参考光进行监测；

测样光路，测样光路用于利用第一光源出射的光对待测样本进行光测定；

其中，

参考光光路包括：

光检测器，光检测器用于对第一光源的辐射能量进行监测；

光能量密度衰减组件，光能量密度衰减组件设置在第一光源与光检测器之间，用于降低参考光的能量密度。

可以理解的是，本实用新型实施例在参考光光路上设置多个光学器件，形成监控通道，包括设置有光检测器和光能量密度衰减组件，光检测器通过光电转换，可以对第一光源的辐射能量进行监测，得到第一光源的光强，光能量密度衰减组件设置在第一光源与光检测器之间，用于降低参考光的能量密度，通过设置光能量密度衰减组件，避免第一光源的光直接照射在参考光光路上的光学器件上，例如避免第一光源的光直接照射在光检测器上，可有效降低参考光的光辐射能量密度，降低光辐射对光检测器的损伤，从而延长使用寿命。

在一些可选的实施方式中，光能量密度衰减组件包括以下的一种或多种光学元件：磨砂玻璃、分散小孔光阑和光衰减片，需要说明的是，光能量密度衰减组件能够降低参考光的能量密度，当光能量密度衰减组件包括磨砂玻璃，利用磨砂玻璃对光的散射，降低入射到光检测器的光辐射能量密度，从而有效保护光检测器；当光能量密度衰减组件包括分散小孔光阑，利用分散小孔光阑上设置的多个分散设置的小孔，入射到光检测器的光只能透过上面设置的小孔，一部分会被分散小孔光阑所挡下，并且由于小孔对光的衍射作用，可以有效降低入射到光检测器的光辐射能量密度，从而有效保护光检测器；当光能量密度衰减组件包括光衰减片，通过光衰减片对入射到光检测器的光进行衰减，降低其光辐射能量密度，从而有效保护光检测器。

示例性的，光衰减片可以是能降低光辐射能量密度的光学材料，例如光衰减片可以是在玻璃上设置一层用于光密度衰减的散射材料，使得入射到光检测器的光在经过光衰减片后，参考光在散射材料的作用下，进行散热，从而达到降低光能量密度的作用，又或者，在另一个示例中，光衰减片为一种滤光片，可以过滤参考光，从而达到降低光能量密度的作用，又或者，在另一个示例中，光衰减片为一种半透明镜片，半透明镜片可以透过一部分光，并阻挡一部分光，也可以阻挡特定波长的光，使得参考光穿过半透明镜片后其光辐射能量密度减小，从而有效保护光检测器。

参照图4，在一些可选的实施方式中，样本分析仪还包括：

磨砂玻璃174，磨砂玻璃174设置在光源171和光检测器172之间。

可以理解的是，由于仪器尺寸和紧凑性的要求，参考光光路上的监控通道不能太长，光检测器被安置在靠近第一光源的位置，若第一光源直接辐照在光检测器上，能量密度相对较大，过大的能量密度会缓慢损伤光检测器，因此，本实用新型实施例通过在参考光光路的第一光源和光检测器之间插入磨砂玻璃，利用磨砂玻璃对光的散射，降低入射到光检测器的光辐射能量密度，从而有效保护第光检测器。

在一些可选的实施方式中，当光能量密度衰减组件包括磨砂玻璃，磨砂玻璃的表面粗糙度为1.6～6.3，在该粗糙度下，磨砂玻璃可以较好地实现对参考光的散射和扩束作用，可有效降低光的光辐射能量密度，降低光辐射对光检测器的损伤从而延长光检测器的寿命。

参照图4，在一些可选的实施方式中，样本分析仪还包括：

窄带滤光片173，窄带滤光片173设置在第一光源171和光检测器172之间，用于将第一光源出射的光过滤为目标波长范围的光。

在一些可选的实施方式中，所述目标波长范围的光为窄带光，其对应的中心波长与用于进行所述光测定的最小测试波长通道的中心波长一致；光检测器获得的能量数据为对应窄带光的能量数据。示例性的，窄带光为半带宽为5nm至12nm的光，例如，窄带光可以为半带宽为10nm的光。

可以理解的是，对窄带光进行监测可以使后续计算较为简单和准确，显然的，也可以是根据其它波长通道或复合光进行监测。在本实用新型实施例中，窄带滤光片的中心波长 (Center wavelength，CWL)可以为340nm；在样本分析仪中，340nm是最小测试波长通道的中心波长，该波长对光源的稳定性最敏感，监测效果最好。需要说明的是，中心波长一般就是仪器或设备的工作波长，它是指通带中心位置的波长，一般是指带通或窄带滤光片的峰值透射波长，或者是陷波滤光片的峰值反射波长，精准地说，是在峰值透射率为50％的波长之间的中点，即FWHM的中点。在满足本实用新型实施例要求的前提下，窄带滤光片是中心波长也可以为其他波长的窄带滤光片。

参照图4，在一些可选的实施方式中，样本分析仪还包括：

第一光源171；

光检测器172，光检测器172用于对第一光源171的辐射能量进行监测；

窄带滤光片173，窄带滤光片173设置在第一光源171和光检测器172之间，用于将第一光源出射的光过滤为目标波长范围的光；

磨砂玻璃174，磨砂玻璃174设置在光源171和窄带滤光片173之间。

示例性的，由于仪器尺寸和紧凑性的要求，参考光光路上的监控通道不能太长，窄带滤光片被安置在靠近第一光源的位置，若第一光源直接辐照在窄带滤光片上，能量密度相对较大，过大的能量密度会缓慢损伤窄带滤光片，因此，本实用新型实施例通过在参考光光路的第一光源和窄带滤光片之间插入磨砂玻璃，利用磨砂玻璃对光的散射，降低入射到窄带滤光片的光辐射能量密度，从而有效保护光检测器。

参照图5，在一些可选的实施方式中，样本分析仪中的窄带滤光片包括：

玻璃基底1731，玻璃基底1731表面设置有用于过滤入射光的光学薄膜；

保护环1732，保护环1732套设在玻璃基底1731的外周，用于保护玻璃基底1731；

压环1733，压环1733与玻璃基底1731抵接，用于限制玻璃基底1731的位置，使得玻璃基底1731不露出保护环1732。

需要说明的是，在一些实施例中，光学薄膜可以镀在玻璃基底表面。玻璃基底表面的光学薄膜可以用来对参考光的入射光进行滤光，在特定的波段允许光通过，而偏离这个波段以外的两侧光被玻璃基底阻止，玻璃基底为圆柱形的光学材料，保护环套设在玻璃基底的外周，对玻璃基底起到保护的作用，避免玻璃基底与样本分析仪的其他结构产生摩擦而损坏玻璃基底，为了避免玻璃基底容易发生位移，通过设置压环与玻璃基底抵接，可以对玻璃基底进行限位，从而避免玻璃基底露出保护环，示例性的，保护环在玻璃基底的两侧具有开口，使得参考光可以穿过其一侧的开口到达玻璃基底，经过玻璃基底对参考光的处理后，光经过保护环另一侧的开口，以便达到光检测器中。

参照图4，在一些可选的实施方式中，样本分析仪还包括：

垫片177，垫片177设置在窄带滤光片173和光检测器172之间；

示例性的，本实用新型实施例中的窄带滤光片，其中起滤光作用的是玻璃基底，玻璃基底也可以叫玻璃基组，可以包括多组玻璃，玻璃基底包括镀在其上的光学滤光膜层，玻璃基底被封装在保护环中，在一实施例中，保护环为金属环，压环则起到固定玻璃基底的作用，为了避免外力直接施加在玻璃基底上影响窄带滤光片的寿命。

示例性的，本实用新型实施例在光检测器和窄带滤光片之间设置有垫片，垫片压在窄带滤光片的金属环上，光检测器的窗口则压在垫片上，避免了来自光检测器的压力直接施加在窄带滤光片的玻璃基底上，保护了玻璃基底，从而保护了窄带滤光片。

参照图4，在一些可选的实施方式中，样本分析仪还包括：

光源座175，光源座175中设置有容纳腔，光能量密度衰减组件和光检测器172设置在容纳腔中；

弹簧片178，弹簧片178与光能量密度衰减组件、光检测器172沿参考光光路并排设置在容纳腔中，用于压紧光能量密度衰减组件。

示例性的，本实用新型实施例中的光源座中形成容纳腔，容纳腔中设置有光能量密度衰减组件和光检测器，光能量密度衰减组件和光检测器依次设置，并组成参考光光路，而当样本分析仪中设置有窄带滤光片，光能量密度衰减组件、窄带滤光片和光检测器均设置在容纳腔中，并组成参考光光路。

可以理解的是，当光能量密度衰减组件为磨砂玻璃，本实用新型实施例中的容纳腔中设置有磨砂玻璃、窄带滤光片和光检测器，磨砂玻璃、窄带滤光片和光检测器依次设置，并组成参考光光路。

示例性的，本实用新型实施例中的容纳腔中设置有弹簧片，由于仪器尺寸和紧凑性的要求，参考光光路上的监控通道不能太长，且由于光能量密度衰减组件和光检测器均设置在容纳腔中，为了提高结构的稳定性，所设置在容纳腔中的弹簧片能压紧光能量密度衰减组件，弹簧片与光能量密度衰减组件、光检测器沿参考光光路并排设置在容纳腔中，通过设置弹簧片，成本低，增加了样本分析仪内结构的稳定性。而当样本分析仪中设置有窄带滤光片，弹簧片与光能量密度衰减组件、窄带滤光片、光检测器沿参考光光路并排设置在容纳腔中，弹簧片用于在容纳腔中压紧光能量密度衰减组件、窄带滤光片和光检测器。

可以理解的是，当光能量密度衰减组件为磨砂玻璃，弹簧片与磨砂玻璃、窄带滤光片、光检测器沿参考光光路并排设置在容纳腔中，弹簧片用于在容纳腔中压紧磨砂玻璃、窄带滤光片和光检测器。

需要说明的是，本实用新型实施例中监控通道内的光学器件为透光材料，例如，弹簧片为透光材料，弹簧片上可以设置有开孔，参考光可以穿过该开孔而使得参考光不会被弹簧片所遮挡；又例如，磨砂玻璃为透光材料，经过磨砂玻璃对参考光进行散射后，参考光可以进入后续参考光光路中的光学器件中；又例如，保护环为透光材料，保护环在玻璃基底的两侧位置设置有开口，参考光可以穿过其一侧的开口到达玻璃基底，经过玻璃基底对参考光的处理后，光经过保护环另一侧的开口，从而到达光检测器上。

在一些可选的实施方式中，第一光源到光检测器之间的距离小于或等于40毫米，使得参考光可以在光检测器上具有稳定的光强，能确保光检测器对第一光源测量的准确性。

在一些可选的实施方式中，第一光源在参考光光路的轴线上，光源附件可以没有单独监控通道，而是复用样本分析仪光测通道来进行监测，使得参考光光路正对着第一光源，第一光源出射的参考光可以正对进入参考光光路设置的监控通道中，参考光光路可以最大限度获得参考光并进行测量，能确保光检测器对第一光源测量的准确性。

在一些实施方式中，本实用新型实施例还提供一种样本分析仪，包括：

第一光源；

参考光光路，参考光光路用于对第一光源出射的参考光进行监测；

测样光路，测样光路用于利用第一光源出射的光对待测样本进行光测定；

其中，参考光光路，包括：

光检测器，光检测器用于对第一光源的辐射能量进行监测；

光源座，光源座中形成光监控通道，光监控通道设置在第一光源与光检测器之间，用于使光检测器接收第一光源的散射光，且第一光源不在光监控通道的轴线上。

可以理解的是，本实用新型实施例在参考光光路上设置多个光学器件，形成光监控通道，参考光光路上设置有光检测器和光源座，其中光检测器通过光电转换，可以对第一光源的辐射能量进行监测，得到第一光源的光强，光源座中形成光监控通道，光监控通道设置在第一光源与光检测器之间，可以对来自第一光源的参考光进行散射，使得光检测器接收第一光源的散射光，可以降低参考光的能量密度，避免第一光源的光直接照射在参考光光路上的光学器件上，例如避免第一光源的光直接照射在光检测器上，可有效降低参考光的光辐射能量密度，降低光辐射对光检测器的损伤，从而延长使用寿命。

示例性的，光测部件17包括第一光源和光检测器。其中，第一光源可以是卤素灯、LED 灯或氙灯等；光检测器用于对第一光源出射的参考光进行监测，同时，光检测器还用于对从第一光源出射并经过待测样本液的光束进行检测，以实现对待测样本液进行光测定。例如，光测部件17包括第一光源、光源座、透镜组件(包括至少一个作为光学元件的透镜)和光检测器。其中，第一光源安装在光源座中，第一光源为卤素灯。

本实用新型实施例中的第一光源不在光监控通道的轴线上，即光监控通道不正对第一光源。可以理解的是，当需要避免入射的参考光的光辐射能量密度过大，通过将第一光源与光监控通道的轴线错开，能起来降低光强的作用。

示例性的，光监控通道不正对第一光源，可以避免参考光的光束直接照射到参考光光路上的光学器件(如光检测器或窄带滤光片)，通过将光监控通道侧对第一光源，使得第一光源出射的参考光可以经过光监控通道的侧壁散热后达到后续设置在光监控通道的光学器件中 (如光检测器或窄带滤光片)，从而避免参考光直接照射在光学器件(如光检测器或窄带滤光片)上，降低了光在光学器件上的光辐射能量密度，从而可以降低光辐射对光检测器的损伤，延长光学器件的使用寿命。

以上是对本实用新型实施例的较佳实施进行了具体说明，但本实用新型实施例并不局限于上述实施方式，熟悉本领域的技术人员在不违背本实用新型实施例精神的前提下还可作出种种的等同变形或替换，这些等同的变形或替换均包含在本实用新型实施例权利要求所限定的范围内。

Claims (12)

1.一种样本分析仪，其特征在于，包括：

第一光源；

参考光光路，所述参考光光路用于对所述第一光源出射的参考光进行监测；

测样光路，所述测样光路用于利用所述第一光源出射的光对待测样本进行光测定；

其中，

所述参考光光路包括：

光检测器，所述光检测器用于对所述第一光源的辐射能量进行监测；

光能量密度衰减组件，所述光能量密度衰减组件设置在所述第一光源与所述光检测器之间，用于降低参考光的能量密度。

2.根据权利要求1所述的样本分析仪，其特征在于，所述光能量密度衰减组件包括以下的一种或多种光学元件：磨砂玻璃、分散小孔光阑和光衰减片。

3.根据权利要求2所述的样本分析仪，其特征在于，当所述光能量密度衰减组件包括所述磨砂玻璃，所述磨砂玻璃的表面粗糙度为1.6～6.3。

4.根据权利要求2所述的样本分析仪，其特征在于，还包括：

窄带滤光片，所述窄带滤光片设置在所述第一光源和所述光检测器之间，用于将所述第一光源出射的光过滤为目标波长范围的光。

5.根据权利要求4所述的样本分析仪，其特征在于，所述目标波长范围的光为窄带光，其对应的中心波长与用于进行所述光测定的最小测试波长通道的中心波长一致；所述窄带光为半带宽为5nm至12nm的光。

6.根据权利要求4所述的样本分析仪，其特征在于，所述窄带滤光片包括：

玻璃基底，所述玻璃基底表面设置有用于过滤入射光的光学薄膜；

保护环，所述保护环套设在所述玻璃基底的外周，用于保护所述玻璃基底；

压环，所述压环与所述玻璃基底抵接，用于限制所述玻璃基底的位置，使得所述玻璃基底不露出所述保护环。

7.根据权利要求4至6任一项所述的样本分析仪，其特征在于，还包括：

垫片，所述垫片设置在所述窄带滤光片和所述光检测器之间。

8.根据权利要求6所述的样本分析仪，其特征在于，还包括：

光源座，所述光源座中设置有容纳腔，所述光能量密度衰减组件和光检测器设置在所述容纳腔中；

弹簧片，所述弹簧片与所述光能量密度衰减组件、所述光检测器沿参考光光路并排设置在所述容纳腔中，用于压紧所述光能量密度衰减组件。

9.根据权利要求8所述的样本分析仪，其特征在于，所述第一光源到所述光检测器之间的距离小于或等于40毫米。

10.根据权利要求1至9任一项所述的样本分析仪，其特征在于，所述第一光源为卤素灯。

11.根据权利要求1至9任一项所述的样本分析仪，其特征在于，所述第一光源在所述参考光光路的轴线上。

12.一种样本分析仪，其特征在于，包括：

第一光源；

参考光光路，所述参考光光路用于对第一光源出射的参考光进行监测；

测样光路，所述测样光路用于利用所述第一光源出射的光对待测样本进行光测定；

其中，所述参考光光路，包括：

光检测器，所述光检测器用于对所述第一光源的辐射能量进行监测；

光源座，所述光源座中形成光监控通道，所述光监控通道设置在所述第一光源与所述光检测器之间，用于使所述光检测器接收所述第一光源的散射光，且所述第一光源不在所述光监控通道的轴线上。

Images