JP2000330876A - メモリ装置のプログラム方法 - Google Patents
メモリ装置のプログラム方法Info
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Abstract
にプログラムする際の時間を短縮する。 【解決手段】各フラッシュメモリは複数のブロックに分
割されたメモリセルアレーを有する。各ブロックは有効
なブロックであるか否かを示すブロック状態情報を貯蔵
している。このプログラム方法によると、まず、フラッ
シュメモリの全ての有効ブロックに対して並列プログラ
ムが実行される。次に、無効ブロックを有するフラッシ
ュメモリに対して直列プログラムが実行される。
Description
置をプログラムする方法に係り、例えば、少なくとも一
つの無効ブロック(invalid block)を有
する複数個のフラッシュメモリを同時にプログラムする
方法に関する。
ように、フラッシュメモリは複数のブロック(セクター
ともいう)に分かれたメモリセルアレーを含み、各ブロ
ックは複数個のメモリセルを含む。このようなフラッシ
ュメモリにおいて、消去はブロック単位でなされる。
の無効ブロック(又はバッドブロック(bad blo
ck))を含み得る。ここで、無効ブロックは、少なく
とも1つの無効ビット(又はメモリセル)を含むブロッ
クである。無効ブロックを有するフラッシュメモリは、
全てが有効ブロック(又はグッドブロック(goodb
locks))であるフラッシュメモリと同一の品質及
びAC/DC特性を有する。無効ブロックは有効ブロッ
クの性能に影響を及ぼさない。これは、ビットライン及
び共通ソースライン(common source l
ine:CSL)が選択トレンジスタによって電気的に
絶縁されるからである。
前に(ffh)に初期化される。ただし、無効ブロック
を有するフラッシュメモリは、無効ブロックの一番目の
ページ、二番目のページ、又は全てのページ内に、例え
ば、oohデータ(以下、“ブロック状態情報”(bl
ock status information)とい
う)がプログラムされる。このようなページは無効メモ
リセルを含むことを意味する。即ち、ブロック状態情報
は、無効メモリセルを含むブロック、換言すると、デー
タ情報を貯蔵できないブロックを指標するために使用さ
れる。
タ(writer))の構成及び該システムとフラッシ
ュメモリとの間の信号の流れを示すブロック図である。
PROMライタの一例が、米国特許第4,783,73
7号(「PROM WRITER ADAPTED T
O ACCEPT NEW WRITING ALGO
RITHM」)に開示されている。この米国特許は、シ
ステムプログラムを変更することなく、メモリ内に貯蔵
されたものと違う書き込みアルゴリズム(writin
g algorithm)によってPROMデ―タを書
き込むことができるPROMライタを開示している。
は、PROMライタという)は、コントロールユニット
(例えば、中央処理ユニト)(20)、システムプログ
ラムコードとメモリ制御プログラムコードを貯蔵するR
OMユニット(30)、フラッシュメモリ(60a)〜
(60d)にプログラムされるデータを貯蔵するRAM
ユニット(40)、及びインターフェースユニット(5
0)で構成される。コントロールユニト(20)は、R
OMユニット(30)に貯蔵されたシステムプログラム
コード及びメモリ制御プログラムコードを読み込んでこ
れらに従って、インターフェースユニット(50)を通
じてRAMユニット(40)に貯蔵されたデータをフラ
ッシュメモリ(60a)〜(60d)に書き込む。デー
タ(D0)〜(Di)を伝達するためのデータバスは、
フラッシュメモリ(60a)〜(60d)によって共有
される。同様に、アドレス信号(A0)〜(Ai)を伝
達するためのアドレスバスは、フラッシュメモリ(60
a)〜(60d)によって共有される。
0)から供給される読み出しイネーブル信号(/RE)
と書き込みイネーブル信号(/WE)は、4個のフラッ
シュメモリ(60a)〜(60d)に共通に提供され
る。フラッシュメモリ(60a)〜(60d)は、各々
に対応するチップ選択信号(/CSO)、(/CS
I)、(/CS2)、(/CS3)が活性化される時
に、互いに独立的に選択される。
(10)の制御の下で、複数のフラッシュメモリ(60
a)〜(60d)の各々に同一のデータを書き込む処理
の従来技術の流れを示す図である。図3は、図1に示さ
れた各フラッシュメモリのメモリマップを示している。
図3で、RAMユニット(40)に貯蔵されたデータ
は、各フラッシュメモリ(60a)〜(60d)の一番
目及び二番目ブロック(BLK1)及び(BLK2)を
除外した残りのブロック(BLK3)〜(BLKn)に
書き込まれる。
1〜図3を参照しながら説明する。
‘1’に設定することによって第1フラッシュメモリ
(60a)が選択される。即ち、PROMライタ(1
0)からの第1チップ選択信号(/CSO)がロウにな
る。
‘3’に設定することによって、選択されたフラッシュ
メモリ(60a)の複数ブロック(BLK3)〜(BL
Kn)の中の一つブロック(BLK3)が選択される。
続けて、選択されたフラッシュメモリ(60a)の選択
されたブロック(BLK3)が有効であるか否かを判定
するために、選択されたフラッシュメモリ(60a)の
選択されたブロック(BLK3)からブロック状態情報
が読出される(段階S13)。
Mライタ(10)のコトロールユニット(20)によっ
て有効ブロックであると判定された場合は、選択された
フラッシュメモリ(60a)の選択されたブロック(B
LK3)に対応するブロック状態情報は、PROMライ
タ(10)、より具体的には、PROMライタ(10)
のRAMユニット(40)に貯蔵される(段階S1
4)。次いで、RAMユニット(40)に貯蔵されたデ
ータが、インターフェースユニット(50)を通じて、
選択されたフラッシュメモリ(60a)の選択されたブ
ロック(BLK3)にプログラムされる(段階S1
5)。一方、選択されたブロック(BLK3)がコトロ
ールユニット(20)によって無効ブロックであると判
定された場合は、選択されたブロック(BLK3)のブ
ロック状態情報が貯蔵された後(段階S17)に、選択
されたブロック(BLK3)がプログラムされることな
く、処理は段階(S16)に進む。即ち、無効な選択ブ
ロック(BLK3)に対するプログラム動作は省略され
る。
0)のコトロールユニット(20)は、選択されたブロ
ック(BLK3)がプログラムすべき最後のブロックで
あるか否かを判断する。当該ブロックが最後のブロック
ない場合は、処理は段階(S18)に進み、段階(S1
8)では、BLOCK値が次ブロックを指定するように
BLOCK値に‘1’が加算される。段階(S13)か
ら段階(S18)までの過程は、選択されたブロックが
プログラムすべき最後のブロックであると判断されるま
で反復される。
ると判断された場合は、RAMユニット(30)に一時
的に貯蔵されたブロック状態情報によるファイル割り当
てテーブル(file allocation tab
le:FAT)データが、選択されたフラッシュメモリ
(60a)の一番目又は二番目のブロック(BLK1)
又は(BLK2)にプログラムされる(段階S19)。
は “フラッシュファイルシステム(flash fi
le system)”と言う用語に代替されて使用さ
れ得る。フラッシュファイルシステムの適切な例が、米
国特許第5,404,485号(「FLASH FIL
E SYSTEM」)に開示されている。
過程は、残りのフラッシュメモリ(60b)〜(60
d)に、RAMユニット(30)に貯蔵されたデータが
プログラムされるまで、段階(S20)及び(S21)
の過程を通じて反復される。
ュメモリ(60a)〜(60d)のメモリマップは、例
えば図4に示す状態となる。図4で分かるように、無効
ブロックにプログラムすべきであったデ―タは次の有効
ブロックに貯蔵される。
ックを有する各フラッシュメモリ(60a)〜(60
d)はシリアルプログラム過程によってプログラムされ
る。その結果、従来技術によるプログラム過程は長時間
を要する。
点に鑑みてなされたものであり、本発明の目的は、例え
ば、少なくとも一つの無効ブロックを有する複数のメモ
リ(例えば、フラッシュメモリ)を同時にプログラムす
ることで、プログラム過程に要する時間を短縮する点に
ある。
少なくとも一つの無効ブロックを有する複数のフラッシ
ュメモリをプログラムする方法が提供される。各フラッ
シュメモリは複数のメモリセルのブロックに分割された
メモリセルアレーを含む。複数のブロックの各々は有効
なブロックであるか否かを示すブロック状態情報を貯蔵
している。本発明に係る方法は、フラッシュメモリに対
するプログラムシステムの制御下で実行され、システム
はコントロールユニット、フラッシュメモリに書き込ま
れるデータを貯蔵するためのRAMユニット、システム
プログラムとメモリ制御プログラムを貯蔵するためのR
OMユニット、及びインターフェースユニットを含む。
ゴリズムによると、まず、各メモリ装置からブロック状
態情報が読み出され、RAMユニットに貯蔵される。各
メモリ装置のブロックは貯蔵されたブロック状態情報に
基づいて第1、第2及び第3貯蔵領域に分割される。各
々のメモリ装置の第2貯蔵領域のブロックは、システム
によって任意の位置が指定された後に選択される。選択
されたブロックが有効なブロックであるメモリ装置が選
択され、その選択されたメモリ装置の選択された有効な
ブロックが同時にプログラムされる。選択されたブロッ
クが各々の第2貯蔵領域の最後のブロックではない場合
は、各メモリ装置の次の位置がシステムによって指定さ
れる。以上の過程は、選択されたブロックが各々の第2
貯蔵領域の最後のブロックになるまで反復される。
するフラッシュメモリをプログラムする過程が実行され
る。この過程は、少なくとも一つの無効ブロックを有す
るメモリ装置のうちの一つを選択する段階と、選択され
たメモリ装置の少なくとも一つの無効ブロックの代わり
に第3貯蔵領域の少なくとも一つのブロックをプログラ
ムする段階と、選択されたメモリブロックについての貯
蔵されたブロック状態情報を選択されたメモリブロック
の第1貯蔵領域にプログラムする段階と、選択されたメ
モリ装置が最後のメモリ装置ではない場合に次のメモリ
装置を選択する段階と、選択されたメモリ装置が最後の
メモリ装置になるまで、上記の段階を反復的に実行する
段階を含む。
ズムによると、まず、全てのフラッシュメモリの有効な
ブロックに対して並列プログラムが実行される。次に、
無効ブロックを有するフラッシュメモリに対して直列プ
ログラムが実行される。これによって、少なくとも一つ
の無効ブロックを有するフラッシュメモリをプログラム
するために要する時間が短縮される。
発明の好適な実施の形態を説明する。
に示されたシステム(10)、例えばPROMライタの
制御下で実行される。なお、重複説明を避けるために、
システム(10)の説明は省略するが、システム(1
0)のROMユニット(30)には、従来技術によるメ
モリ制御プログラムコードの代わりに本発明の好適な実
施の形態に係るメモリ制御プログラムコードが貯蔵され
る。
i)を伝送するためのデータバスはフラッシュメモリ
(60a)〜(60d)によって共有され、アドレス信
号(AO)〜(Ai)を伝送するためのアドレスバスも
またフラッシュメモリ(60a)〜(60d)によって
共有される。また、図1のシステム(10)から供給さ
れる読み出しイネーブル信号(/RE)と書き込みイネ
ーブル信号(/WE)はフラッシュメモリ(60a)〜
(60d)に共通に提供される。フラッシュメモリ(6
0a)〜(60d)は、各々対応するチップ選択信号
(/CSO)、(/CSI)、(/CS2)、(/CS
3)が個別的に活性化される時には個別的に選択され、
対応するチップ選択信号(/CSO)、(/CSI)、
(/CS2)、(/CS3)が同時に活性化される時に
は同時に選択される。
ログラム過程を図1、図5及び図6を参照しながら説明
する。
ュメモリ(60a)〜(60d)の全てのブロック(B
LKO)〜(BLKn)からブロック状態情報が読出さ
れ、システム(10)のRAMユニット(40)に貯蔵
される。
リ(60a)〜(60d)のブロック(BLKO)〜
(BLKn)の全てが、RAMユニット(40)に貯蔵
されたブロック状態情報に従って、3個の貯蔵領域に分
割される。具体的には、一番目の貯蔵領域はファイル割
り当てテーブル(FAT)情報を貯蔵するための領域に
指定され、二番目の貯蔵領域は各フラッシュメモリ(6
0a)〜(60d)に書かれるデータ情報、例えば、ア
プリケーションプログラムを貯蔵するための領域に指定
され、三番目の貯蔵領域は余分の領域に指定される。二
番目の貯蔵領域は、各々所定の位置が、ブロックを選択
するためのコントロールユニット(20)によって指定
される(段階S102)。
(60d)の一番目及び二番目ブロック(BLK1)及
び(BLK2)は一番目の貯蔵領域に設定され、各フラ
ッシュメモリ(60a)〜(60d)の三番目ブロック
(BLK3)〜ブロック(BLKm)は二番目の貯蔵領
域に設定され、各フラッシュメモリ(60a)〜(60
d)の残りのブロック(BLK(m+1))〜(BLK
n)(m<n)は三番目の貯蔵領域に設定される。図7
は、各フラッシュメモリの貯蔵領域の分割方法の一例を
示している。図7に示す例では、各フラッシュメモリ
(60a)〜(60d)が同一のメモリ容量を有する条
件下で、各フラッシュメモリ(60a)〜(60d)の
一番目、二番目及び三番目の貯蔵領域が同一の数のブロ
ックを有するように分割されている。しかしながら、互
いに異なるメモリ容量を有するフラッシュメモリを個々
に任意の個数のブロックで構成される貯蔵領域に分割す
ることもできる。
フラッシュメモリ(60a)〜(60d)の二番目の貯
蔵領域のブロックは、システム(10)からのチップ選
択信号(/CS0)、(/CS1)、(/CS2)、
(/CS4)を順次に活性化させることで選択される
(段階(S103))。各フラッシュメモリ(60a)
〜(60d)の選択されたブロック(BLK3)が有効
なブロックであるか否かはRAMユニット(40)に貯
蔵されたブロック状態情報に基づいてシステム(10)
のコントロールユニット(20)によって判定される。
a)の選択されたブロック(BLK3)が有効ブロック
であると、該一番目のフラッシュメモリ(60a)がプ
ログラムされるデバイスに決定される。一方、一番目の
フラッシュメモリ(60a)の選択されたブロック(B
LK3)が無効ブロックであると、該一番目のフラッシ
ュメモリ(60a)はプログラムされないデバイスに決
定される。プログラムされるデバイスを決定する過程
は、残りの全てのフラッシュメモリ(60b)〜(60
d)の選択されたブロック(BLK3)が有効ブロック
であるか否かが判定されるまで続けて行われる。
デバイスに決定されたフラッシュメモリ、即ち、選択さ
れた有効ブロック(BLK3)を有するフラッシュメモ
リを選択した後、選択されたフラッシュメモリの選択さ
れた有効ブロックが同時にプログラムされる。具体的に
は、段階(S104)では、選択された有効ブロック
(BLK3)を有するフラッシュメモリ、例えば、フラ
ッシュメモリ(60b)及び(60c)に対応するチッ
プ選択信号(/CS1)そして(/CS2)が活性化さ
れる。一方、無効ブロック(BLK3)を有するフラッ
シュメモリ、例えば、フラッシュメモリ(60a)及び
(60d)に対応するチップ選択信号(/CS0)及び
(/CS3)は活性化されない。結果的に、RAMユニ
ット(40)に貯蔵されたデータは、システム(10)
の制御下で、二番目及び三番目のフラッシュメモリ(6
0b)及び(60c)の選択されたブロック(BLK
3)に同時にプログラムされる(並列プログラム)。一
方、一番目及び三番目のフラッシュメモリ(60a)及
び(60d)の無効ブロックは、対応するチップ選択信
号(/CS0)及び(/CS3)が活性化されないため
プログラムされない。
(10)は、選択されたブロックが二番目の貯蔵領域の
各々の最後のブロックであるか否かを判断する。選択さ
れたブロックが最後のブロックではない場合は、処理は
段階(S106)に進み、段階(S106)では、次ブ
ロックに対応する位置がコントロールユニット(20)
によって指定される。段階(S103)から段階(S1
06)までの過程は、選択されたブロックが二番目の貯
蔵領域の最後のブロックであると判断されるまで反復さ
れる。図7には、有効ブロックに対するプログラム過程
が終了した時点における各フラッシュメモリ(60a)
〜(60d)のメモリマップが示されている。
フラッシュメモリ(60a)及び(60d)のブロック
(BLK3)が無効ブロックであるため、二番目及び三
番目のフラッシュメモリ(60b)及び(60c)のブ
ロック(BLK3)にはデータ(DATA1)が同時に
プログラムされる一方、一番目及び四番目のフラッシュ
メモリ(60a)及び(60d)のブロック(BLK
3)にはデータがプログラムされない。同様に、二番目
及び三番目フラッシュメモリ(60b)及び(60c)
のブロック(BLK5)が無効ブロックであるため、一
番目及び四番目のフラッシュメモリ(60a)及び(6
0d)のブロック(BLK5)にはデータ(DATA
3)が同時にプログラムされる一方、二番目及び三番目
フラッシュメモリ(60b)及び(60c)のブロック
(BLK5)にはデータがプログラムされない。また、
フラッシュメモリ(60a)〜(60d)のブロック
(BLK4)が有効ブロックであるため、フラッシュメ
モリ(60a)〜(60d)のブロック(BLK4)に
はデータ(DATA2)が同時にプログラムされる。
モリ(60a)―(60d)の無効ブロックにプログラ
ムすべきであったデータを他のブロック(有効ブロッ
ク)にプログラムする過程を説明する。
は、RAMユニット(40)に貯蔵されたブロック状態情
報に基づいて、少なくとも1つの無効ブロックを有する
1つのフラッシュメモリをフラッシュメモリ(60a)
〜(60d)の中から選択する。無効ブロックに書き込
まれる予定であったデータは、選択されたフラッシュメ
モリの三番目の貯蔵領域にプログラムされる(段階S1
08)。例えば、図7に示す例では、選択されたフラッ
シュメモリ(60a)の無効ブロック(BLK3)に書
き込まれる予定であったデータ(DATA1)は選択さ
れたフラッシュメモリ(60a)の(m+1)番目のブ
ロック(BLK(m+1)にプログラムされる。
(40)に貯蔵されたブロック状態情報データが選択さ
れたフラッシュメモリ(一番目のフラッシュメモリ)
(60a)の一番目の貯蔵領域にフアイル割り当てテー
ブル(FAT)データとしてプログラムされる。
は、選択されたフラッシュメモリが最後のフラッシュメ
モリであるか否かを判断する。そして、選択されたフラ
ッシュメモリが最後のフラッシュメモリではない場合
は、処理は段階(S111)に進み、段階(S111)
では次のフラッシュメモリが選択される。段階(S10
8)から段階(S111)までの過程は、少なくとも1
つの無効ブロックを有するフラッシュメモリ(60a)
〜(60d)の全てが選択されるまで続けて行われる。
a)〜(60d)の無効ブロックに書き込まれる予定で
あったデータは、図7に図示されたように、三番目の貯
蔵領域のブロックに直列プログラム過程によってプログ
ラムされる。
ず、全てのフラッシュメモリ(60a)〜(60d)の
有効ブロックに対して並列プログラム過程によってプロ
グラムが実行される。並列プログラム過程の実行に要す
る時間は、一つのフラッシュメモリをプログラムする過
程に要する時間と同一である。その次に、少なくとも1
つの無効ブロックを有する複数のフラッシュメモリが順
次に選択され、選択されたフラッシュメモリの無効ブロ
ックが直列プログラム過程によってプログラムされる。
従って、本発明の好適な実施の形態によれば、無効ブロ
ックを有する複数のフラッシュメモリをプログラムする
ために要する時間が短縮される。
複数のメモリに対するプログラムに要する時間を短縮す
ることができる。
モリとの間の信号流れを示す図である。
ッシュメモリの各々に同一のデータを書き込む処理の従
来技術の流れを示す図である。
マップを示す図である。
ラッシュメモリのメモリマップを示す図である。
ログラム流れを示す図である。
ログラム流れを示す図である。
程が終了した時の各フラッシュメモリのメモリマップを
示す図である。
Claims (8)
- 【請求項1】 各々が有効なブロックであるか否かを示
すブロック状態情報を貯蔵し、メモリセルを有する複数
のブロックに分割されたメモリセルアレーを具備した複
数個の電気的にプログラム可能なメモリ装置をプログラ
ムする方法において、 (a)前記の各メモリ装置から前記ブロック状態情報を
読み出してデータ貯蔵ユニットに貯蔵する段階と、 (b)前記の各メモリ装置の複数のブロックを前記貯蔵
されたブロック状態情報に基づいて第1、第2及び第3
貯蔵領域に分割し、前記の各メモリ装置の第2貯蔵領域
の一番目の位置を指定する段階と、 (c)前記指定された位置にある前記の各メモリ装置の
第2貯蔵領域のブロックを選択する段階と、 (d)前記選択されたブロックが有効なブロックである
メモリ装置を選択し、選択したメモリ装置の有効な選択
されたブロックを同時にプログラムする段階と、 (e)前記選択されたブロックが各々の第2貯蔵領域の
最後のブロックではない場合に前記の各メモリ装置の次
の位置を指定する段階と、 (f)前記選択されたブロックが各々の第2貯蔵領域の
最後のブロックになるまで、前記段階(c)〜(e)を
反復的に実行する段階と、 を含むことを特徴とする方法。 - 【請求項2】 (g)少なくとも一つの無効ブロックを
有する複数のメモリ装置のうちの一つを選択する段階
と、 (h)前記選択されたメモリ装置の前記少なくとも一つ
の無効ブロックの代わりに第3貯蔵領域の少なくとも一
つのブロックをプログラムする段階と、 (i)前記選択されたメモリブロックについての前記貯
蔵されたブロック状態情報を前記選択されたメモリブロ
ックの第1貯蔵領域にプログラムする段階と、 (j)前記選択されたメモリ装置が最後のメモリ装置で
はない場合に次のメモリ装置を選択する段階と、 前記選択されたメモリ装置が最後のメモリ装置になるま
で、前記段階(h)〜(j)を反復的に実行する段階
(k)と、 を更に含むことを特徴とする請求項1に記載の方法。 - 【請求項3】 前記データ貯蔵ユニットは、前記複数の
メモリ装置に対するプログラムを制御するシステムに搭
載されたランダムアクセスメモリを含むことを特徴とす
る請求項1に記載の方法。 - 【請求項4】 コントロールユニット、インターフェー
スユニット、RAMユニット、及びROMユニットを含
むシステムの制御下において、各々が有効なブロックで
あるか否かを示すブロック状態情報を貯蔵し、メモリセ
ルを有する複数のブロックに分割されたメモリセルアレ
ーを具備し、データ及びアドレスバスを共有する複数個
の電気的にプログラム可能なメモリ装置をプログラムす
る方法において、 (a)前記の各メモリ装置から前記ブロック状態情報を
読み出して前記RAMユニットに貯蔵する段階と、 (b)前記の各メモリ装置の複数のブロックを前記貯蔵
されたブロック状態情報に基づいて第1、第2及び第3
貯蔵領域に分割し、前記の各メモリ装置の第2貯蔵領域
の一番目の位置を指定する段階と、 (c)前記指定された位置にある前記各メモリ装置の第
2貯蔵領域のブロックを選択する段階と、 (d)前記選択されたブロックが有効なブロックである
メモリ装置を選択し、選択したメモリ装置の有効な選択
されたブロックを同時にプログラムする段階と、 (e)前記選択されたブロックが各々の第2貯蔵領域の
最後のブロックであるか否かを判断する段階と、 (f)前記選択されたブロックが各々の第2貯蔵領域の
最後のブロックではない場合に前記の各メモリ装置の次
の位置を指定する段階と、 (g)前記選択されたブロックが各々の第2貯蔵領域の
最後のブロックになるまで、前記段階(c)〜(f)を
反復的に実行する段階と、 (h)少なくとも一つの無効ブロックを有するフラッシ
ュメモリを順次にプログラムする段階を含むことを特徴
とする方法。 - 【請求項5】 前記段階(h)は、 (i)少なくとも一つの無効ブロックを有するメモリ装
置のうちの一つを選択する段階と、 (j)前記選択されたメモリ装置の前記少なくとも一つ
の無効ブロックの代わりに第3貯蔵領域の少なくとも一
つのブロックをプログラムする段階と、 (k)前記選択されたメモリブロックの前記貯蔵された
ブロック状態情報を前記選択されたメモリブロックの第
1貯蔵領域にプログラムする段階と、 (l)前記選択されたメモリ装置が最後のメモリ装置で
はない場合に次のメモリ装置を選択する段階と、 (m)前記選択されたメモリ装置が最後のメモリ装置に
なるまで、前記段階(j)〜(k)を反復的に実行する
段階と、 を含むことを特徴とする請求項4に記載の方法。 - 【請求項6】 各々が有効なブロックであるか否かを示
すブロック状態情報を貯蔵し、メモリセルを有する複数
のブロックに分割されたメモリセルアレーを具備した複
数個のフラッシュメモリ装置をプログラムする方法にお
いて、 (a)前記の各フラッシュメモリ装置から前記ブロック
状態情報を読み出してデータ貯蔵ユニトに貯蔵する段階
と、 (b)前記の各フラッシュメモリ装置の複数のブロック
を前記貯蔵されたブロック状態情報に基づいて第1、第
2及び第3貯蔵領域に分割し、前記の各第2貯蔵領域の
一番目の位置を指定する段階と、 (c)前記指定された位置にある前記の各フラッシュメ
モリ装置の第2貯蔵領域のブロックを選択する段階と、 (d)前記選択されたブロックが有効なブロックである
フラッシュメモリ装置を選択し、選択したフラッシュメ
モリ装置の有効な選択されたブロックを同時にプログラ
ムする段階と、 (e)前記選択されたブロックが各々の第2貯蔵領域の
最後のブロックであるか否かを判断する段階と、 (f)前記選択されたブロックが各々の第2貯蔵領域の
最後のブロックではない場合に前記の各フラッシュメモ
リ装置の次の位置を指定する段階と、 (g)前記選択されたブロックの各々の第2貯蔵領域の
最後のブロックになるまで、前記段階(c)〜(f)を
反復的に実行する段階と、 (h)少なくとも一つの無効ブロックを有するフラッシ
ュメモリ装置の一つを選択する段階と、 (i)前記選択されたフラッシュメモリ装置の前記少な
くとも一つの無効ブロックの代わりに第3貯蔵領域の少
なくとも一つのブロックをプログラムする段階(i)
と、 (j)前記選択されたメモリブロックの前記貯蔵された
ブロック状態情報を前記選択されたメモリブロックの第
1貯蔵領域にプログラムする段階と、 (k)前記選択されたフラッシュメモリ装置が最後のフ
ラッシュメモリ装置であるかの否かを判断する段階と、 (l)前記選択されたフラッシュメモリ装置が最後のフ
ラッシュメモリ装置ではない場合に次のフラッシュメモ
リ装置を選択する段階と、 (m)前記選択されたフラッシュメモリ装置が最後のフ
ラッシュメモリ装置になるまで、前記段階(i)〜
(l)を反復的に実行する段階と、 を含むことを特徴とする方法。 - 【請求項7】 前記フラッシュメモリ装置はデータ及び
アドレスバスを共有することを特徴とする請求項6に記
載の方法。 - 【請求項8】 前記フラッシュメモリ装置をプログラム
する方法は、コントロールユニット、RAMユニット、
ROMユニット、及びインターフェースユニットを含む
システムの制御下で実行され、前記ブロック状態情報は
前記システムのRAMユニットに貯蔵されることを特徴
にする請求項7に記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019990015073A KR100330164B1 (ko) | 1999-04-27 | 1999-04-27 | 무효 블록들을 가지는 복수의 플래시 메모리들을 동시에 프로그램하는 방법 |
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Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000124728A Expired - Fee Related JP3842519B2 (ja) | 1999-04-27 | 2000-04-25 | メモリ装置のプログラム方法 |
Country Status (3)
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---|---|
US (1) | US6236593B1 (ja) |
JP (1) | JP3842519B2 (ja) |
KR (1) | KR100330164B1 (ja) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006223598A (ja) * | 2005-02-17 | 2006-08-31 | Daiman:Kk | 遊技機 |
JP2007012221A (ja) * | 2005-07-04 | 2007-01-18 | Advantest Corp | 試験装置、及び製造方法 |
US7191296B2 (en) | 2001-09-28 | 2007-03-13 | Tokyo Electron Device Limited | Data writing apparatus, data writing method, and program |
JP2007520842A (ja) * | 2003-12-30 | 2007-07-26 | サンディスク コーポレイション | マルチブロック単位へのブロックの適応決定論的グループ化 |
JP2007525754A (ja) * | 2004-02-03 | 2007-09-06 | ネクステスト システムズ コーポレイション | メモリデバイスのテストおよびプログラミングの方法並びにそのシステム |
JP2010086106A (ja) * | 2008-09-30 | 2010-04-15 | Tdk Corp | メモリコントローラ、メモリコントローラを備えるフラッシュメモリシステム、並びにフラッシュメモリの制御方法 |
JP2011147815A (ja) * | 2011-05-09 | 2011-08-04 | Daiichi Shokai Co Ltd | 遊技機 |
Families Citing this family (121)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100577380B1 (ko) * | 1999-09-29 | 2006-05-09 | 삼성전자주식회사 | 플래시 메모리와 그 제어 방법 |
US6584553B2 (en) * | 2000-07-31 | 2003-06-24 | Exatron, Inc. | Method and system for sequentially programming memory-containing integrated circuits |
US8149048B1 (en) | 2000-10-26 | 2012-04-03 | Cypress Semiconductor Corporation | Apparatus and method for programmable power management in a programmable analog circuit block |
US8103496B1 (en) | 2000-10-26 | 2012-01-24 | Cypress Semicondutor Corporation | Breakpoint control in an in-circuit emulation system |
US8160864B1 (en) | 2000-10-26 | 2012-04-17 | Cypress Semiconductor Corporation | In-circuit emulator and pod synchronized boot |
US7765095B1 (en) | 2000-10-26 | 2010-07-27 | Cypress Semiconductor Corporation | Conditional branching in an in-circuit emulation system |
US7185162B1 (en) * | 2000-10-26 | 2007-02-27 | Cypress Semiconductor Corporation | Method and apparatus for programming a flash memory |
US6724220B1 (en) | 2000-10-26 | 2004-04-20 | Cyress Semiconductor Corporation | Programmable microcontroller architecture (mixed analog/digital) |
US8176296B2 (en) | 2000-10-26 | 2012-05-08 | Cypress Semiconductor Corporation | Programmable microcontroller architecture |
US6570785B1 (en) * | 2000-10-31 | 2003-05-27 | Sandisk Corporation | Method of reducing disturbs in non-volatile memory |
US6717851B2 (en) | 2000-10-31 | 2004-04-06 | Sandisk Corporation | Method of reducing disturbs in non-volatile memory |
FR2825812B1 (fr) * | 2001-06-12 | 2003-12-05 | St Microelectronics Sa | Procede de programmation/reprogrammation parallele de memoire flash embarquee par bus can |
JP2003036681A (ja) * | 2001-07-23 | 2003-02-07 | Hitachi Ltd | 不揮発性記憶装置 |
US7406674B1 (en) | 2001-10-24 | 2008-07-29 | Cypress Semiconductor Corporation | Method and apparatus for generating microcontroller configuration information |
US8078970B1 (en) | 2001-11-09 | 2011-12-13 | Cypress Semiconductor Corporation | Graphical user interface with user-selectable list-box |
US8042093B1 (en) | 2001-11-15 | 2011-10-18 | Cypress Semiconductor Corporation | System providing automatic source code generation for personalization and parameterization of user modules |
US7770113B1 (en) | 2001-11-19 | 2010-08-03 | Cypress Semiconductor Corporation | System and method for dynamically generating a configuration datasheet |
US7844437B1 (en) | 2001-11-19 | 2010-11-30 | Cypress Semiconductor Corporation | System and method for performing next placements and pruning of disallowed placements for programming an integrated circuit |
US8069405B1 (en) | 2001-11-19 | 2011-11-29 | Cypress Semiconductor Corporation | User interface for efficiently browsing an electronic document using data-driven tabs |
US6971004B1 (en) | 2001-11-19 | 2005-11-29 | Cypress Semiconductor Corp. | System and method of dynamically reconfiguring a programmable integrated circuit |
US7774190B1 (en) | 2001-11-19 | 2010-08-10 | Cypress Semiconductor Corporation | Sleep and stall in an in-circuit emulation system |
US8103497B1 (en) | 2002-03-28 | 2012-01-24 | Cypress Semiconductor Corporation | External interface for event architecture |
US7308608B1 (en) | 2002-05-01 | 2007-12-11 | Cypress Semiconductor Corporation | Reconfigurable testing system and method |
US7761845B1 (en) | 2002-09-09 | 2010-07-20 | Cypress Semiconductor Corporation | Method for parameterizing a user module |
US7526599B2 (en) * | 2002-10-28 | 2009-04-28 | Sandisk Corporation | Method and apparatus for effectively enabling an out of sequence write process within a non-volatile memory system |
KR20030000017A (ko) * | 2002-11-29 | 2003-01-03 | (주) 라모스테크놀러지 | 플래시 메모리 제어 장치 및 플래시 메모리 제어 방법 |
US7353323B2 (en) | 2003-03-18 | 2008-04-01 | American Megatrends, Inc. | Method, system, and computer-readable medium for updating memory devices in a computer system |
JP3924568B2 (ja) * | 2004-02-20 | 2007-06-06 | Necエレクトロニクス株式会社 | フラッシュメモリにおけるデータアクセス制御方法、データアクセス制御プログラム |
US7295049B1 (en) | 2004-03-25 | 2007-11-13 | Cypress Semiconductor Corporation | Method and circuit for rapid alignment of signals |
US8069436B2 (en) | 2004-08-13 | 2011-11-29 | Cypress Semiconductor Corporation | Providing hardware independence to automate code generation of processing device firmware |
US8286125B2 (en) | 2004-08-13 | 2012-10-09 | Cypress Semiconductor Corporation | Model for a hardware device-independent method of defining embedded firmware for programmable systems |
KR100684887B1 (ko) | 2005-02-04 | 2007-02-20 | 삼성전자주식회사 | 플래시 메모리를 포함한 데이터 저장 장치 및 그것의 머지방법 |
US8122193B2 (en) | 2004-12-21 | 2012-02-21 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Storage device and user device including the same |
KR100703727B1 (ko) * | 2005-01-12 | 2007-04-05 | 삼성전자주식회사 | 비휘발성 메모리, 이를 위한 사상 제어 장치 및 방법 |
US7332976B1 (en) | 2005-02-04 | 2008-02-19 | Cypress Semiconductor Corporation | Poly-phase frequency synthesis oscillator |
US7348667B2 (en) * | 2005-03-22 | 2008-03-25 | International Business Machines Corporation | System and method for noise reduction in multi-layer ceramic packages |
TW200636471A (en) * | 2005-04-01 | 2006-10-16 | Mediatek Inc | Method of parallel programmable memory and the system thereof |
US7400183B1 (en) | 2005-05-05 | 2008-07-15 | Cypress Semiconductor Corporation | Voltage controlled oscillator delay cell and method |
US8089461B2 (en) | 2005-06-23 | 2012-01-03 | Cypress Semiconductor Corporation | Touch wake for electronic devices |
US7536521B2 (en) * | 2005-09-28 | 2009-05-19 | Wisconsin Alumni Research Foundation | Computer storage device providing implicit detection of block liveness |
KR100804647B1 (ko) * | 2005-11-15 | 2008-02-20 | 삼성전자주식회사 | 병렬형 플래시 인터페이스를 지원하는 직렬형 플래시메모리 장치를 이용한 시스템 부팅 방법 및 장치 |
US8085067B1 (en) | 2005-12-21 | 2011-12-27 | Cypress Semiconductor Corporation | Differential-to-single ended signal converter circuit and method |
CN100485681C (zh) * | 2006-03-23 | 2009-05-06 | 北京握奇数据系统有限公司 | 智能卡存储系统及该系统中文件创建管理的方法 |
US8067948B2 (en) | 2006-03-27 | 2011-11-29 | Cypress Semiconductor Corporation | Input/output multiplexer bus |
FI120220B (fi) * | 2006-06-08 | 2009-07-31 | Tellabs Oy | Menetelmä ja järjestely transaktioiden käsittelemiseksi flash-tyyppisessä muistivälineessä |
US9262326B2 (en) * | 2006-08-14 | 2016-02-16 | Qualcomm Incorporated | Method and apparatus to enable the cooperative signaling of a shared bus interrupt in a multi-rank memory subsystem |
KR100764747B1 (ko) * | 2006-09-15 | 2007-10-08 | 삼성전자주식회사 | 플래시 메모리 장치 및 그것의 프로그램 방법 |
US7593279B2 (en) * | 2006-10-11 | 2009-09-22 | Qualcomm Incorporated | Concurrent status register read |
US8402201B2 (en) | 2006-12-06 | 2013-03-19 | Fusion-Io, Inc. | Apparatus, system, and method for storage space recovery in solid-state storage |
US8935302B2 (en) | 2006-12-06 | 2015-01-13 | Intelligent Intellectual Property Holdings 2 Llc | Apparatus, system, and method for data block usage information synchronization for a non-volatile storage volume |
US8489817B2 (en) | 2007-12-06 | 2013-07-16 | Fusion-Io, Inc. | Apparatus, system, and method for caching data |
US8719501B2 (en) * | 2009-09-08 | 2014-05-06 | Fusion-Io | Apparatus, system, and method for caching data on a solid-state storage device |
KR100816763B1 (ko) * | 2007-02-13 | 2008-03-25 | 삼성전자주식회사 | 플래시 메모리 모듈을 주기억장치로 사용하는 전자 시스템및 그것의 부팅 방법 |
US8516025B2 (en) | 2007-04-17 | 2013-08-20 | Cypress Semiconductor Corporation | Clock driven dynamic datapath chaining |
US8130025B2 (en) | 2007-04-17 | 2012-03-06 | Cypress Semiconductor Corporation | Numerical band gap |
US8026739B2 (en) | 2007-04-17 | 2011-09-27 | Cypress Semiconductor Corporation | System level interconnect with programmable switching |
US9564902B2 (en) | 2007-04-17 | 2017-02-07 | Cypress Semiconductor Corporation | Dynamically configurable and re-configurable data path |
US7737724B2 (en) | 2007-04-17 | 2010-06-15 | Cypress Semiconductor Corporation | Universal digital block interconnection and channel routing |
US8040266B2 (en) | 2007-04-17 | 2011-10-18 | Cypress Semiconductor Corporation | Programmable sigma-delta analog-to-digital converter |
US8092083B2 (en) | 2007-04-17 | 2012-01-10 | Cypress Semiconductor Corporation | Temperature sensor with digital bandgap |
US9207876B2 (en) | 2007-04-19 | 2015-12-08 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Remove-on-delete technologies for solid state drive optimization |
US8266575B1 (en) | 2007-04-25 | 2012-09-11 | Cypress Semiconductor Corporation | Systems and methods for dynamically reconfiguring a programmable system on a chip |
US9720805B1 (en) | 2007-04-25 | 2017-08-01 | Cypress Semiconductor Corporation | System and method for controlling a target device |
US8065653B1 (en) | 2007-04-25 | 2011-11-22 | Cypress Semiconductor Corporation | Configuration of programmable IC design elements |
KR101336258B1 (ko) * | 2007-05-29 | 2013-12-03 | 삼성전자 주식회사 | 비휘발성 메모리의 데이터 처리 장치 및 방법 |
US8049569B1 (en) | 2007-09-05 | 2011-11-01 | Cypress Semiconductor Corporation | Circuit and method for improving the accuracy of a crystal-less oscillator having dual-frequency modes |
US7836226B2 (en) | 2007-12-06 | 2010-11-16 | Fusion-Io, Inc. | Apparatus, system, and method for coordinating storage requests in a multi-processor/multi-thread environment |
US9519540B2 (en) | 2007-12-06 | 2016-12-13 | Sandisk Technologies Llc | Apparatus, system, and method for destaging cached data |
US8161310B2 (en) * | 2008-04-08 | 2012-04-17 | International Business Machines Corporation | Extending and scavenging super-capacitor capacity |
US8219740B2 (en) * | 2008-06-25 | 2012-07-10 | International Business Machines Corporation | Flash sector seeding to reduce program times |
US8040750B2 (en) * | 2008-06-25 | 2011-10-18 | International Business Machines Corporation | Dual mode memory system for reducing power requirements during memory backup transition |
US8037380B2 (en) | 2008-07-08 | 2011-10-11 | International Business Machines Corporation | Verifying data integrity of a non-volatile memory system during data caching process |
US8093868B2 (en) * | 2008-09-04 | 2012-01-10 | International Business Machines Corporation | In situ verification of capacitive power support |
US9448964B2 (en) | 2009-05-04 | 2016-09-20 | Cypress Semiconductor Corporation | Autonomous control in a programmable system |
WO2011031903A2 (en) * | 2009-09-09 | 2011-03-17 | Fusion-Io, Inc. | Apparatus, system, and method for allocating storage |
US8601222B2 (en) | 2010-05-13 | 2013-12-03 | Fusion-Io, Inc. | Apparatus, system, and method for conditional and atomic storage operations |
US9122579B2 (en) | 2010-01-06 | 2015-09-01 | Intelligent Intellectual Property Holdings 2 Llc | Apparatus, system, and method for a storage layer |
CN102597910B (zh) | 2009-09-09 | 2015-03-25 | 弗森-艾奥公司 | 存储设备中用于功率减小管理的装置、系统及方法 |
US9223514B2 (en) | 2009-09-09 | 2015-12-29 | SanDisk Technologies, Inc. | Erase suspend/resume for memory |
US8725934B2 (en) | 2011-12-22 | 2014-05-13 | Fusion-Io, Inc. | Methods and appratuses for atomic storage operations |
WO2012016089A2 (en) | 2010-07-28 | 2012-02-02 | Fusion-Io, Inc. | Apparatus, system, and method for conditional and atomic storage operations |
US8984216B2 (en) | 2010-09-09 | 2015-03-17 | Fusion-Io, Llc | Apparatus, system, and method for managing lifetime of a storage device |
US9792104B2 (en) | 2010-11-05 | 2017-10-17 | FedEx Supply Chain Logistics & Electronics, Inc. | System and method for flashing a wireless device |
US10387135B2 (en) * | 2010-11-05 | 2019-08-20 | FedEx Supply Chain Logistics & Electronics, Inc. | System and method for remotely flashing a wireless device |
US9208071B2 (en) | 2010-12-13 | 2015-12-08 | SanDisk Technologies, Inc. | Apparatus, system, and method for accessing memory |
US9218278B2 (en) | 2010-12-13 | 2015-12-22 | SanDisk Technologies, Inc. | Auto-commit memory |
US10817421B2 (en) | 2010-12-13 | 2020-10-27 | Sandisk Technologies Llc | Persistent data structures |
WO2012082792A2 (en) | 2010-12-13 | 2012-06-21 | Fusion-Io, Inc. | Apparatus, system, and method for auto-commit memory |
US9047178B2 (en) | 2010-12-13 | 2015-06-02 | SanDisk Technologies, Inc. | Auto-commit memory synchronization |
US10817502B2 (en) | 2010-12-13 | 2020-10-27 | Sandisk Technologies Llc | Persistent memory management |
US20120239860A1 (en) | 2010-12-17 | 2012-09-20 | Fusion-Io, Inc. | Apparatus, system, and method for persistent data management on a non-volatile storage media |
WO2012100087A2 (en) | 2011-01-19 | 2012-07-26 | Fusion-Io, Inc. | Apparatus, system, and method for managing out-of-service conditions |
US8966184B2 (en) | 2011-01-31 | 2015-02-24 | Intelligent Intellectual Property Holdings 2, LLC. | Apparatus, system, and method for managing eviction of data |
US8874823B2 (en) | 2011-02-15 | 2014-10-28 | Intellectual Property Holdings 2 Llc | Systems and methods for managing data input/output operations |
US9201677B2 (en) | 2011-05-23 | 2015-12-01 | Intelligent Intellectual Property Holdings 2 Llc | Managing data input/output operations |
US9003104B2 (en) | 2011-02-15 | 2015-04-07 | Intelligent Intellectual Property Holdings 2 Llc | Systems and methods for a file-level cache |
US9141527B2 (en) | 2011-02-25 | 2015-09-22 | Intelligent Intellectual Property Holdings 2 Llc | Managing cache pools |
WO2012129191A2 (en) | 2011-03-18 | 2012-09-27 | Fusion-Io, Inc. | Logical interfaces for contextual storage |
US9563555B2 (en) | 2011-03-18 | 2017-02-07 | Sandisk Technologies Llc | Systems and methods for storage allocation |
US9274937B2 (en) | 2011-12-22 | 2016-03-01 | Longitude Enterprise Flash S.A.R.L. | Systems, methods, and interfaces for vector input/output operations |
US10133662B2 (en) | 2012-06-29 | 2018-11-20 | Sandisk Technologies Llc | Systems, methods, and interfaces for managing persistent data of atomic storage operations |
US9767032B2 (en) | 2012-01-12 | 2017-09-19 | Sandisk Technologies Llc | Systems and methods for cache endurance |
US9251086B2 (en) | 2012-01-24 | 2016-02-02 | SanDisk Technologies, Inc. | Apparatus, system, and method for managing a cache |
US10359972B2 (en) | 2012-08-31 | 2019-07-23 | Sandisk Technologies Llc | Systems, methods, and interfaces for adaptive persistence |
US9116812B2 (en) | 2012-01-27 | 2015-08-25 | Intelligent Intellectual Property Holdings 2 Llc | Systems and methods for a de-duplication cache |
US9612966B2 (en) | 2012-07-03 | 2017-04-04 | Sandisk Technologies Llc | Systems, methods and apparatus for a virtual machine cache |
US10339056B2 (en) | 2012-07-03 | 2019-07-02 | Sandisk Technologies Llc | Systems, methods and apparatus for cache transfers |
US10318495B2 (en) | 2012-09-24 | 2019-06-11 | Sandisk Technologies Llc | Snapshots for a non-volatile device |
US10509776B2 (en) | 2012-09-24 | 2019-12-17 | Sandisk Technologies Llc | Time sequence data management |
US9842053B2 (en) | 2013-03-15 | 2017-12-12 | Sandisk Technologies Llc | Systems and methods for persistent cache logging |
KR102025240B1 (ko) | 2013-04-01 | 2019-11-04 | 삼성전자주식회사 | 메모리 시스템 및 메모리 시스템의 동작 방법 |
US10558561B2 (en) | 2013-04-16 | 2020-02-11 | Sandisk Technologies Llc | Systems and methods for storage metadata management |
US10102144B2 (en) | 2013-04-16 | 2018-10-16 | Sandisk Technologies Llc | Systems, methods and interfaces for data virtualization |
US9842128B2 (en) | 2013-08-01 | 2017-12-12 | Sandisk Technologies Llc | Systems and methods for atomic storage operations |
US10019320B2 (en) | 2013-10-18 | 2018-07-10 | Sandisk Technologies Llc | Systems and methods for distributed atomic storage operations |
US10019352B2 (en) | 2013-10-18 | 2018-07-10 | Sandisk Technologies Llc | Systems and methods for adaptive reserve storage |
US10073630B2 (en) | 2013-11-08 | 2018-09-11 | Sandisk Technologies Llc | Systems and methods for log coordination |
US10169225B2 (en) * | 2015-01-23 | 2019-01-01 | Silicon Motion, Inc. | Memory system and memory-control method with a programming status |
US9946607B2 (en) | 2015-03-04 | 2018-04-17 | Sandisk Technologies Llc | Systems and methods for storage error management |
US10009438B2 (en) | 2015-05-20 | 2018-06-26 | Sandisk Technologies Llc | Transaction log acceleration |
US10068663B1 (en) * | 2017-05-30 | 2018-09-04 | Seagate Technology Llc | Data storage device with rewriteable in-place memory |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62110797U (ja) | 1985-12-25 | 1987-07-15 | ||
US5404485A (en) | 1993-03-08 | 1995-04-04 | M-Systems Flash Disk Pioneers Ltd. | Flash file system |
US5479638A (en) * | 1993-03-26 | 1995-12-26 | Cirrus Logic, Inc. | Flash memory mass storage architecture incorporation wear leveling technique |
KR100359414B1 (ko) * | 1996-01-25 | 2003-01-24 | 동경 엘렉트론 디바이스 주식회사 | 데이타독출/기록방법및그를이용한메모리제어장치및시스템 |
US6000006A (en) * | 1997-08-25 | 1999-12-07 | Bit Microsystems, Inc. | Unified re-map and cache-index table with dual write-counters for wear-leveling of non-volatile flash RAM mass storage |
-
1999
- 1999-04-27 KR KR1019990015073A patent/KR100330164B1/ko not_active IP Right Cessation
-
2000
- 2000-04-25 JP JP2000124728A patent/JP3842519B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2000-04-26 US US09/558,561 patent/US6236593B1/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7191296B2 (en) | 2001-09-28 | 2007-03-13 | Tokyo Electron Device Limited | Data writing apparatus, data writing method, and program |
JP2007520842A (ja) * | 2003-12-30 | 2007-07-26 | サンディスク コーポレイション | マルチブロック単位へのブロックの適応決定論的グループ化 |
JP2007525754A (ja) * | 2004-02-03 | 2007-09-06 | ネクステスト システムズ コーポレイション | メモリデバイスのテストおよびプログラミングの方法並びにそのシステム |
JP4850720B2 (ja) * | 2004-02-03 | 2012-01-11 | ネクステスト システムズ コーポレイション | メモリデバイスのテストおよびプログラミングの方法並びにそのシステム |
JP2006223598A (ja) * | 2005-02-17 | 2006-08-31 | Daiman:Kk | 遊技機 |
JP2007012221A (ja) * | 2005-07-04 | 2007-01-18 | Advantest Corp | 試験装置、及び製造方法 |
JP2010086106A (ja) * | 2008-09-30 | 2010-04-15 | Tdk Corp | メモリコントローラ、メモリコントローラを備えるフラッシュメモリシステム、並びにフラッシュメモリの制御方法 |
JP4720891B2 (ja) * | 2008-09-30 | 2011-07-13 | Tdk株式会社 | メモリコントローラ、メモリコントローラを備えるフラッシュメモリシステム、並びにフラッシュメモリの制御方法 |
JP2011147815A (ja) * | 2011-05-09 | 2011-08-04 | Daiichi Shokai Co Ltd | 遊技機 |
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