JP2000294819A - Manufacture of solar battery - Google Patents

Manufacture of solar battery

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JP2000294819A
JP2000294819A JP11097840A JP9784099A JP2000294819A JP 2000294819 A JP2000294819 A JP 2000294819A JP 11097840 A JP11097840 A JP 11097840A JP 9784099 A JP9784099 A JP 9784099A JP 2000294819 A JP2000294819 A JP 2000294819A
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To suppress increase of the area of a surface electrode keeping a series resistance low, by forming a main electrode by electrolytic plating so as to be at the peripheral brim part of a semiconductor substrate. SOLUTION: A silicon substrate 1 is thermally oxidized and a silicon oxide film 2 is formed, and an N-type diffusion layer 3 is formed. Seed metals 5, 6 formed on the silicon substrate 1 are used as cathodes. A flat board anode 8 is arranged in parallel to the seed metal 6, and an anode 9 is arranged in parallel to the seed metal 5. These are immersed in a plating solution 11, and voltage is applied. The seed metals 5, 6 on both sides of the silicon substrate 1 are plated with Ag, simultaneously. Following this, a reflection preventing film is formed on the substrate surface by an oxide film composed of two layers of TiO2 and Al2O3. Heat treatment is performed to increase the degree of adhesion between the surface and backside electrodes with the silicon substrate 1. Finally, the silicon substrate 1 is diced to final solar battery dimensions. Accordingly, it becomes possible to manufacture a solar battery provided with a main electrode having a thicker film thickness and a narrower area, and especially a lower series resistance.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は太陽電池の製造方法
に関し、より詳細には、太陽電池における電極を電解メ
ッキで形成することによって、特に直列抵抗を低減させ
た太陽電池の製造方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for manufacturing a solar cell, and more particularly, to a method for manufacturing a solar cell in which electrodes in the solar cell are formed by electrolytic plating, in particular, the series resistance is reduced.

【0002】[0002]

【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】従来提
案されている太陽電池は、例えば、以下のように製造さ
れる。
2. Description of the Related Art A conventionally proposed solar cell is manufactured, for example, as follows.

【0003】(1)薄型化エッチング工程により、初期
投入されたシリコン基板(P型)1の厚みを最終太陽電
池の厚みにまで化学エッチングする(図4(a))。 (2)第1酸化工程により、シリコン基板1両面に酸化
膜2を形成する(図4(b))。 (3)シリコン基板1の受光面に対する裏面側をレジス
ト・耐酸テープ等のマスキング剤で保護した後、HF溶
液にシリコン基板1を浸し、受光面側の酸化膜2のみを
溶解させる(図4(c))。 (4)シリコン基板1にリンを拡散することにより、受
光面にのみN型拡散層3を形成する(図4(d))。 (5)その後、裏面側の酸化膜2を除去する(図4
(e))
(1) In a thinning etching step, the thickness of the silicon substrate (P-type) 1 initially charged is chemically etched to the thickness of the final solar cell (FIG. 4A). (2) In a first oxidation step, an oxide film 2 is formed on both surfaces of the silicon substrate 1 (FIG. 4B). (3) After protecting the back surface of the silicon substrate 1 with respect to the light receiving surface with a masking agent such as a resist and an acid-resistant tape, the silicon substrate 1 is immersed in an HF solution to dissolve only the oxide film 2 on the light receiving surface (FIG. c)). (4) The N-type diffusion layer 3 is formed only on the light receiving surface by diffusing phosphorus into the silicon substrate 1 (FIG. 4D). (5) Then, the oxide film 2 on the back surface side is removed (FIG. 4).
(E))

【0004】(6)後工程でシリコン基板1のN型拡散
層3と接続する所定形状の電極を電解メッキで形成する
ことを目的とし、シリコン基板1表面に、フォトリソグ
ラフィ技術を用いて、所定形状のレジストパターン4を
形成する(図5(f))。 (7)後工程で電解メッキによりシードメタル上に表面
電極を作製することを目的とし、そのメッキ電極の下地
になるシードメタル5を蒸着法により形成し、レジスト
パターン4をリフトオフ工程で剥離する(図5
(g))。 (8)後工程で電解メッキによりシードメタル上に裏面
電極を作製することを目的とし、そのメッキ電極の下地
となるシードメタル6を蒸着法により形成する(図5
(h))。 (9)電解メッキにより、表面側シードメタル5上と裏
面側シードメタル6上とに電解メッキを施し、表面電極
51及び裏面電極61を完成する(図5(i))。 (10)得られたシリコン基板1表面に、光の反射を低
減する反射防止膜7を蒸着法により形成する(図5
(j))。 (11)表面電極51及び裏面電極61とシリコン基板
1との密着性を高めるために熱処理を行う(シンタリン
グ工程)。 (12)最終的な太陽電池寸法にダイシングする。
(6) The purpose is to form an electrode of a predetermined shape to be connected to the N-type diffusion layer 3 of the silicon substrate 1 by electrolytic plating in a later step, and to form a predetermined electrode on the surface of the silicon substrate 1 by photolithography. A resist pattern 4 having a shape is formed (FIG. 5F). (7) For the purpose of producing a surface electrode on the seed metal by electrolytic plating in a later step, a seed metal 5 to be a base of the plated electrode is formed by an evaporation method, and the resist pattern 4 is peeled off in a lift-off step ( FIG.
(G)). (8) In order to form a back electrode on the seed metal by electrolytic plating in a later step, a seed metal 6 serving as a base of the plated electrode is formed by vapor deposition (FIG. 5).
(H)). (9) Electroplating is performed on the front side seed metal 5 and the rear side seed metal 6 by electrolytic plating to complete the front surface electrode 51 and the back surface electrode 61 (FIG. 5 (i)). (10) An antireflection film 7 for reducing light reflection is formed on the surface of the obtained silicon substrate 1 by a vapor deposition method (FIG. 5).
(J)). (11) Heat treatment is performed to increase the adhesion between the front surface electrode 51 and the back surface electrode 61 and the silicon substrate 1 (sintering step). (12) Dicing to final solar cell dimensions.

【0005】ここで、受光面側に形成される表面電極5
1は、図6に示したように、太陽電池素子で発生した光
電流を収集する複数の副電極53と、複数の副電極53
を電気的に接続することを主たる目的とする主電極52
と、太陽電池素子で発生した電流を太陽電池素子外部に
取り出すことを目的とするコネクターと太陽電池素子と
を電気的に接続するために配設された電極パッド54と
から構成された櫛形の電極である。
Here, the surface electrode 5 formed on the light receiving surface side
1 includes a plurality of sub-electrodes 53 for collecting a photocurrent generated in the solar cell element, and a plurality of sub-electrodes 53, as shown in FIG.
Main electrode 52 whose main purpose is to electrically connect
And a comb-shaped electrode composed of a connector for extracting a current generated in the solar cell element to the outside of the solar cell element, and an electrode pad 54 provided for electrically connecting the solar cell element. It is.

【0006】なお、図6に示す表面電極51は、完成し
た1つの太陽電池素子に対応する形状を示しているが、
通常は、図7に示すように、1枚のシリコン基板1の上
に複数の表面電極51のパターンが形成される。
The surface electrode 51 shown in FIG. 6 has a shape corresponding to one completed solar cell element.
Normally, as shown in FIG. 7, a pattern of a plurality of surface electrodes 51 is formed on one silicon substrate 1.

【0007】また、工程(9)の電解メッキにおいて
は、通常、図8に示したように、メッキする金属イオン
を含むメッキ液11で満たされたメッキ槽12中に、メ
ッキする金属からなる陽極8、9と、被メッキ物となる
シリコン基板1の両面に形成されたシードメタル5、6
からなる陰極とを浸し、両電極に電圧を印加することに
より、シリコン基板1の両面にメッキを行う。この際、
陽極8、9は、陰極であるシードメタル5、6が形成さ
れたシリコン基板1と同程度の面積の金属プレートから
構成され、陰極に対して平行になるように配置される。
しかし、このような陽極8、9を用いてメッキを行った
場合、シリコン基板1の周縁部においては、中央部に比
べメッキ金属が厚く成長する。これは電圧を印加したと
きに周縁部に電荷が集中するためである。そこで、シリ
コン基板1上に、均一な膜厚でメッキを行うために、特
に厚膜になるシリコン基板1の周縁部に対応する陽極の
周縁部を取り除き、陰極に比べて小さな陽極を用いる方
法がある。これにより、シリコン基板1における周縁部
への電荷の集中を防ぐことができる。また、図9に示し
たように、シリコン基板1の周縁部と陽極8、9との間
に、電荷の集中を防ぐような障壁10を設ける方法等が
ある。
In the electrolytic plating of step (9), as shown in FIG. 8, an anode made of a metal to be plated is usually placed in a plating tank 12 filled with a plating solution 11 containing metal ions to be plated. 8, 9 and seed metals 5, 6 formed on both surfaces of the silicon substrate 1 to be plated.
And a voltage is applied to both electrodes to perform plating on both surfaces of the silicon substrate 1. On this occasion,
The anodes 8 and 9 are made of a metal plate having the same area as the silicon substrate 1 on which the seed metals 5 and 6 as the cathodes are formed, and are arranged so as to be parallel to the cathodes.
However, when plating is performed using such anodes 8 and 9, the plating metal grows thicker in the peripheral portion of the silicon substrate 1 than in the central portion. This is because charges concentrate on the periphery when a voltage is applied. Therefore, in order to perform plating on the silicon substrate 1 with a uniform film thickness, a method is used in which the peripheral portion of the anode corresponding to the peripheral portion of the silicon substrate 1 which is particularly thick is removed, and an anode smaller than the cathode is used. is there. Thereby, it is possible to prevent the charge from being concentrated on the peripheral portion of the silicon substrate 1. Further, as shown in FIG. 9, there is a method of providing a barrier 10 between the peripheral portion of the silicon substrate 1 and the anodes 8 and 9 so as to prevent concentration of electric charges.

【0008】ところで、太陽電池の変換効率を改善する
ための最も有効な手法としては、光収集効率を改善する
ことが挙げられる。この光収集効率の改善には種々方法
が考えられるが、比較的安易な方法として、太陽電池素
子表面の電極面積を減少させ、電極で反射することによ
る入射光のロスを最小限にし、より多くの光を太陽電池
素子に入射させることが挙げられる。しかし、電極面積
を減少させることは、太陽電池素子の直列抵抗の増加を
招き、限界がある。太陽電池の直列抵抗のうち、表面電
極による直列抵抗は、電極材料が同一の場合、電極の電
流方向の断面積に反比例し、電極の長さに比例して大き
くなる。よって、直列抵抗を低減させるためには、電極
厚を厚膜化させるか、あるいは電極幅を増大させること
により、電流方向の断面積を増大させることが有効であ
る。しかし、電極幅を増大させると、入射光のロスが大
きくなるため、むしろ電極厚の厚膜化を図ることが望ま
れる。また、この直列抵抗は、特に、電流が多く流れる
主電極で小さくする必要がある。
By the way, the most effective method for improving the conversion efficiency of a solar cell is to improve the light collection efficiency. Various methods can be considered to improve the light collection efficiency.As a relatively simple method, the electrode area on the surface of the solar cell element is reduced, and the loss of incident light due to reflection from the electrode is minimized. Is incident on the solar cell element. However, reducing the electrode area causes an increase in the series resistance of the solar cell element, and has a limit. Among the series resistance of the solar cell, the series resistance due to the surface electrode is inversely proportional to the cross-sectional area of the electrode in the current direction and increases in proportion to the length of the electrode when the electrode material is the same. Therefore, in order to reduce the series resistance, it is effective to increase the electrode thickness or increase the electrode width to increase the sectional area in the current direction. However, when the electrode width is increased, the loss of incident light increases, and it is rather desired to increase the electrode thickness. Further, this series resistance needs to be reduced particularly at the main electrode through which a large amount of current flows.

【0009】一般に、上述したような、電解メッキにお
いては、シードメタルパターンの膜厚方向と幅方向との
両方向にメッキ成長するため、電極幅を増大させない
で、膜厚のみを厚膜化することは困難である。また、主
電極と副電極とを比較した場合、副電極の数の方が多い
ため、幅方向に成長するメッキ電極の総面積は、副電極
の方が主電極に対して数十倍〜数百倍大きくなる。この
結果、上記のような従来の方法では、副電極が厚くメッ
キされないようにするため、主電極も厚くメッキでき
ず、よって、電極面積を大きくして直列抵抗を低減する
必要があり、入射光のロスが多くなるという問題があっ
た。本発明は上記問題点を解決するためになされもの
で、直列抵抗を小さく保ちながら、表面電極の電極面積
の増加を抑えた太陽電池の製造方法を提供することを目
的とする。
In general, in the electrolytic plating as described above, since the seed metal pattern is grown by plating in both the film thickness direction and the width direction, it is necessary to increase the thickness only of the film thickness without increasing the electrode width. It is difficult. Further, when comparing the main electrode and the sub-electrode, the total area of the plating electrode growing in the width direction is several tens to several times larger than the main electrode because the number of the sub-electrodes is larger. One hundred times larger. As a result, in the conventional method as described above, the main electrode cannot be plated thick in order to prevent the sub-electrode from being thickly plated. Therefore, it is necessary to increase the electrode area and reduce the series resistance, and the incident light However, there was a problem that the loss was increased. The present invention has been made to solve the above problems, and has as its object to provide a method for manufacturing a solar cell in which an increase in the electrode area of the surface electrode is suppressed while the series resistance is kept small.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】本発明によれば、半導体
基板と、該半導体基板表面に形成され、太陽電池素子で
発生した電流を収集する副電極及び該副電極に電気的に
接続された主電極からなる表面電極と、裏面電極とを備
える太陽電池を製造するに際して、前記主電極を半導体
基板の周縁部に配置するように電解メッキにより形成す
る太陽電池の製造方法が提供される。
According to the present invention, a semiconductor substrate, a sub-electrode formed on the surface of the semiconductor substrate and collecting current generated by a solar cell element, and electrically connected to the sub-electrode. When manufacturing a solar cell including a front electrode and a back electrode composed of a main electrode, a method for manufacturing a solar cell is provided, in which the main electrode is formed by electrolytic plating so as to be arranged on a peripheral portion of a semiconductor substrate.

【0011】[0011]

【発明の実施の形態】本発明は、主として半導体基板
と、主電極及び副電極からなる表面電極と、裏面電極と
を備える太陽電池を製造するに際して、少なくとも表面
電極を構成する主電極を電解メッキにより形成する太陽
電池の製造方法である。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention relates to a method for manufacturing a solar cell mainly including a semiconductor substrate, a front electrode composed of a main electrode and a sub-electrode, and a back electrode, wherein at least the main electrode constituting the front electrode is electrolytically plated. Is a method for manufacturing a solar cell formed by the method described above.

【0012】本発明において使用することができる太陽
電池製造用半導体基板は、太陽電池素子の1個又は複数
個を同時に形成するための基板を意味し、ウェハ等を含
む。この基板としては、例えば、シリコン、ゲルマニウ
ム等の半導体、GaP、GaAs等の化合物半導体等の
公知のものを使用することができる。なかでも、シリコ
ン基板が好ましい。
The semiconductor substrate for manufacturing a solar cell which can be used in the present invention means a substrate for simultaneously forming one or a plurality of solar cell elements, and includes a wafer and the like. As this substrate, for example, a known substrate such as a semiconductor such as silicon or germanium, or a compound semiconductor such as GaP or GaAs can be used. Among them, a silicon substrate is preferable.

【0013】また、この半導体基板は、リン等のN型又
はホウ素等のP型のいずれの不純物を含有していてもよ
い。また、この半導体基板の表面及び裏面には、所望の
不純物濃度を有する不純物拡散層が形成されていること
が好ましい。このような不純物拡散層は、通常半導体素
子や太陽電池等に使用されている程度の不純物濃度を有
していることが好ましい。例えば、N型及び/又はP型
不純物拡散層の不純物濃度は、1.0×1019〜1.0
×1020cm-3程度が挙げられる。半導体基板の厚さ
は、通常の太陽電池に使用される程度の厚さであれば、
特に限定されるものではなく、例えば、200〜400
μm程度のものが挙げられる。なお、半導体基板の表面
は、入射光の反射を低減させるテクスチャ形状を有して
いてもよい。一方、裏面は、高濃度不純物拡散層が形成
されたBSF(Back Surface Field)構造を有していて
もよい。
The semiconductor substrate may contain any of N-type impurities such as phosphorus and P-type impurities such as boron. Preferably, an impurity diffusion layer having a desired impurity concentration is formed on the front and back surfaces of the semiconductor substrate. It is preferable that such an impurity diffusion layer has an impurity concentration that is generally used for a semiconductor element, a solar cell, or the like. For example, the impurity concentration of the N-type and / or P-type impurity diffusion layers is 1.0 × 10 19 to 1.0
About × 10 20 cm -3 . If the thickness of the semiconductor substrate is about the thickness used for ordinary solar cells,
There is no particular limitation, for example, 200 to 400
One having a size of about μm is exemplified. Note that the surface of the semiconductor substrate may have a texture shape that reduces reflection of incident light. On the other hand, the back surface may have a BSF (Back Surface Field) structure in which a high concentration impurity diffusion layer is formed.

【0014】上記の半導体基板を用いて、表面電極及び
裏面電極を電解メッキにより形成する。この方法によれ
ば、あらかじめ、半導体基板の表裏面に、シードメタル
を形成した後、このシードメタル上に電解メッキを施
し、表面電極及び裏面電極を形成する。
Using the above-mentioned semiconductor substrate, a front electrode and a back electrode are formed by electrolytic plating. According to this method, after a seed metal is formed on the front and back surfaces of the semiconductor substrate in advance, electrolytic plating is performed on the seed metal to form a front surface electrode and a back surface electrode.

【0015】シードメタルは、表面及び裏面のいずれに
おいても、真空蒸着法、BE蒸着法、スパッタリング法
等の公知の製膜方法で形成することができる。また、シ
ードメタルを所望の形状にパターニングする方法として
は、公知の方法、例えば、リフトオフ法、フォトリソグ
ラフィ及びエッチング技術等が挙げられる。シードメタ
ルの材料としては、アルミニウム、金、銀、銅、ニッケ
ル、鉛、チタン、タンタル、パラジウム等の金属の単層
膜、あるいはAl/Ti/Pd、Al/Ti/Pd/A
g、Ti/Pd、Ti/Pd/Ag、Ti/Ag、Au
/Zn/Ag等のこれらの金属の積層膜が挙げられる。
特に、裏面電極のシードメタルとしては高反射率を有す
るAl/Ti/Pd、Al/Ti/Pd/Agの積層膜
であることが好ましい。これらのシードメタルの膜厚
は、特に限定されるものではなく、例えば、1000〜
10000Å程度が挙げられる。なお、シードメタル
は、後工程で、電極を電解メッキによりメッキ成長させ
る起点になるものであるため、表面電極及び裏面電極に
ほぼ対応する形状に形成することが好ましい。例えば、
表面電極形成のためのシードメタルは、最終的に得られ
る太陽電池の入射光量を増すために、櫛形、格子形等の
形状で、受光面に対して1〜10%程度の面積で形成す
ることができる。また、裏面電極形成のためのシードメ
タルは、受光面から入射し、基板に吸収されずに裏面に
到達した入射光を裏面で反射させ、基板内に吸収させる
ことができる裏面電極が形成できるように、素子の周囲
を除くほぼ全面に、裏面に対して約80%以上の面積で
形成することが好ましい。
The seed metal can be formed on both the front surface and the back surface by a known film forming method such as a vacuum evaporation method, a BE evaporation method, and a sputtering method. In addition, as a method of patterning the seed metal into a desired shape, a known method, for example, a lift-off method, photolithography, an etching technique, or the like can be used. As the material of the seed metal, a single layer film of a metal such as aluminum, gold, silver, copper, nickel, lead, titanium, tantalum, palladium, or Al / Ti / Pd, Al / Ti / Pd / A
g, Ti / Pd, Ti / Pd / Ag, Ti / Ag, Au
/ Zn / Ag and the like.
In particular, the seed metal of the back electrode is preferably a laminated film of Al / Ti / Pd or Al / Ti / Pd / Ag having high reflectivity. The thickness of these seed metals is not particularly limited.
About 10,000 °. Since the seed metal is a starting point for growing the electrode by electroplating in a later step, the seed metal is preferably formed in a shape substantially corresponding to the front surface electrode and the back surface electrode. For example,
The seed metal for forming the surface electrode should be formed in a comb shape, a lattice shape, or the like, with an area of about 1 to 10% of the light receiving surface, in order to increase the incident light amount of the finally obtained solar cell. Can be. In addition, the seed metal for forming the back electrode can form a back electrode that can be incident on the light receiving surface and that is incident on the back surface without being absorbed by the substrate and reflected by the back surface and absorbed in the substrate. In addition, it is preferable to form an area of about 80% or more with respect to the back surface on almost the entire surface except the periphery of the element.

【0016】シードメタル上に電解メッキを施し、表面
電極及び裏面電極を形成する方法としては、一般に用い
られている電解メッキを、所望の条件を選択することに
より行うことができ、この電解メッキにより、所望の表
面電極及び裏面電極を形成することができる。電解メッ
キは、例えば、メッキする金属イオンを含むメッキ液中
に、メッキする金属からなる陽極と、被メッキ物である
半導体基板の両面に形成されたシードメタルからなる陰
極とを浸し、両電極に電圧を印加することにより行うこ
とができる。
As a method of forming a front surface electrode and a back surface electrode by performing electroplating on the seed metal, generally used electroplating can be performed by selecting desired conditions. Thus, a desired front surface electrode and back surface electrode can be formed. In the electroplating, for example, in a plating solution containing metal ions to be plated, an anode made of a metal to be plated and a cathode made of a seed metal formed on both surfaces of a semiconductor substrate to be plated are immersed in both electrodes. This can be performed by applying a voltage.

【0017】ここで、シードメタル上へ電解メッキする
金属としては、例えば、金、銀、銅、ニッケル、パラジ
ウム、白金等が挙げられる。
Here, examples of the metal to be electroplated on the seed metal include gold, silver, copper, nickel, palladium, platinum and the like.

【0018】メッキ液としては、上記したように金、
銀、銅、ニッケル、パラジウム又は白金等をシードメタ
ル上にメッキする場合には、これらの金属イオンを含む
シアン系(例えば、シアン系中性タイプ、シアン系弱酸
性タイプ、シアン系酸性タイプ、シアン系弱アルカリタ
イプ、シアン系アルカリタイプ等)、ノンシアン系(例
えば、ノンシアン系中性タイプ、ノンシアン系弱酸性タ
イプ、ノンシアン系酸性タイプ、ノンシアン系弱アルカ
リタイプ、ノンシアン系アルカリタイプ等)のメッキ液
が挙げられる。なお、メッキ液には、所望により、最終
的に得られる表面電極及び裏面電極の平滑化、光沢化、
結晶微細化、密着性、残留応力の低減等を改善するため
に、適宜添加剤等を加えてもよい。
As the plating solution, as described above, gold,
When plating silver, copper, nickel, palladium, platinum or the like on the seed metal, a cyanide containing these metal ions (for example, a cyan neutral type, a cyan weak acid type, a cyan acid type, a cyan acid type) Non-cyan-based (eg, non-cyan-based neutral type, non-cyan-based slightly acidic type, non-cyan-based acidic type, non-cyan-based weak alkali type, non-cyan-based alkali type, etc.) plating solutions. No. In the plating solution, if desired, smoothing and glossing of the finally obtained front and rear electrodes,
In order to improve crystal refinement, adhesion, reduction of residual stress, etc., an additive or the like may be appropriately added.

【0019】陽極としては、上記したように金、銀、
銅、ニッケル、パラジウム又は白金等をシードメタル上
にメッキする場合には、これらの材料と同一の純度の高
い金属板で形成されていることが好ましい。陽極の大き
さは、例えば、その投影面積が、対向する陰極とほぼ同
程度又は大きめの大きさであることが好ましい。また、
陽極の形状は、平板形状であってもよいし、その外周部
に、言い換えれば、電解メッキによって最終的に形成さ
れる表面電極の主電極(後述)に対応する部分に、半導
体基板方向に対する凸部を有していてもよい。陽極が、
凸部を有している場合には、陰極との距離が小さくな
り、電荷集中を促すことにより、主電極をより厚膜に形
成することができるため、好ましい。陽極の膜厚は、平
板形状である場合には特に限定されるものではないが、
例えば、5mm程度以上、凸部がある場合には、凹部の
膜厚は特に限定されるものではないが、例えば、5mm
程度以上、凸部の膜厚は凹部に加えて1〜5cm程度が
挙げられる。
As the anode, as described above, gold, silver,
When copper, nickel, palladium, platinum, or the like is plated on the seed metal, it is preferable that the metal is formed of the same high-purity metal plate as these materials. The size of the anode is preferably, for example, approximately the same as or larger than the projected area of the cathode facing the cathode. Also,
The shape of the anode may be a flat plate shape, or, in the outer peripheral portion, in other words, a portion corresponding to the main electrode (described later) of the surface electrode finally formed by electrolytic plating, may have a convex shape in the semiconductor substrate direction. It may have a part. The anode is
It is preferable to have a convex portion because the distance from the cathode is reduced, and the main electrode can be formed in a thicker film by accelerating charge concentration. The thickness of the anode is not particularly limited in the case of a flat plate shape,
For example, when there is a convex portion of about 5 mm or more, the thickness of the concave portion is not particularly limited.
The thickness of the convex portion is about 1 to 5 cm in addition to the concave portion.

【0020】電解メッキを行う際には、上記陽極と、そ
の表裏面にシードメタルが形成された半導体基板とを、
ほぼ平行になるように配置する。この際のシードメタル
と陽極との距離は、電解メッキの際の電流密度、メッキ
液の種類及び濃度等により適宜調整することができる
が、表面電極の形成のためには、例えば、3〜15cm
程度の距離(陽極の外周部が凸部を有している場合に
は、シードメタルと凸部との距離は3〜15cm程
度)、裏面電極の形成のためには、1〜15cm程度の
距離とすることができる。また、メッキ液を20〜70
℃程度の温度に保持し、陽極−陰極間に0.1〜3.0
A/dm2程度の電流密度となるように電圧を印加する
ことが挙げられる。
When performing electrolytic plating, the anode and a semiconductor substrate having a seed metal formed on the front and back surfaces thereof are separated from each other by:
Arrange them so that they are almost parallel. The distance between the seed metal and the anode at this time can be appropriately adjusted depending on the current density at the time of electrolytic plating, the type and concentration of the plating solution, and the like. For the formation of the surface electrode, for example, 3 to 15 cm
(If the outer peripheral portion of the anode has a convex portion, the distance between the seed metal and the convex portion is approximately 3 to 15 cm), and to form the back surface electrode, the distance is approximately 1 to 15 cm. It can be. Further, the plating solution is adjusted to 20-70.
° C, and 0.1-3.0 between anode and cathode.
Applying a voltage so as to have a current density of about A / dm 2 is mentioned.

【0021】上記のような電解メッキにより、半導体基
板の表裏面に、表面電極及び裏面電極をそれぞれ同時に
形成することができる。なお、本発明においては、表面
電極と裏面電極とを、同一の材料により、同時に形成し
てもよいし、裏面電極を、表面電極を電解メッキにより
形成する前又は後のいずれかに、別個に形成してもよ
い。
By the above-described electrolytic plating, a front electrode and a back electrode can be simultaneously formed on the front and back surfaces of the semiconductor substrate, respectively. In the present invention, the front surface electrode and the back surface electrode may be simultaneously formed of the same material, or the back surface electrode may be separately formed before or after forming the front surface electrode by electrolytic plating. It may be formed.

【0022】電解メッキによって形成される表面電極の
形状は、特に限定されないが、太陽電池素子で発生した
光電流を収集する副電極と、副電極に電気的に接続され
た主電極とから主としてなる。ここで、副電極として
は、櫛の歯形状のように、同一の形状のものがほぼ平行
に複数形成されていてもよいし、格子形状のように、矩
形形状のものが縦横に複数配置して形成されていてもよ
いし、その他、それぞれ異なる任意の形状のものが縦横
斜めに複数配置して形成されていてもよし、さらに、渦
巻き形状や折れ曲がり形状のものが受光面にわたって1
つのみ形成されていてもよい。また、主電極は、副電極
が複数形成されている場合には副電極のすべてと、副電
極が1つのみの場合にはその副電極と電気的に接続され
ていることが必要である。主電極の形状は、副電極と接
続される限り、特に限定されるものではなく、例えば、
最終的に得られる太陽電池素子の周縁部に配置するよう
な形状であることが好ましい。また、主電極は、副電極
により収集された電流を外部に取り出す際にコネクター
と接続するためのパッド部を有していてもよい。最終的
に得られる表面電極の副電極及び主電極の膜厚は、それ
ぞれ5〜15μm程度、6〜17μm程度が挙げられ
る。
The shape of the surface electrode formed by electrolytic plating is not particularly limited, but is mainly composed of a sub-electrode for collecting a photocurrent generated in the solar cell element and a main electrode electrically connected to the sub-electrode. . Here, as the sub-electrode, a plurality of sub-electrodes having the same shape such as a comb tooth shape may be formed substantially in parallel, or a plurality of rectangular shapes such as a lattice shape may be arranged vertically and horizontally. May be formed by arranging a plurality of different shapes each having a different shape in a vertical and horizontal diagonal manner. Further, a spiral shape or a bent shape may be formed over the light receiving surface.
Only one may be formed. Further, the main electrode needs to be electrically connected to all of the sub-electrodes when a plurality of sub-electrodes are formed, and to the sub-electrode when only one sub-electrode is formed. The shape of the main electrode is not particularly limited as long as it is connected to the sub-electrode.
It is preferable that the shape is such that it is arranged on the peripheral portion of the finally obtained solar cell element. Further, the main electrode may have a pad portion for connecting to a connector when extracting the current collected by the sub-electrode to the outside. The thicknesses of the sub-electrode and the main electrode of the surface electrode finally obtained are about 5 to 15 μm and about 6 to 17 μm, respectively.

【0023】なお、表面電極は、例えば、図1に示した
ように、1つの太陽電池素子を構成するパターンを、1
つの半導体基板上に2つ配置してもよいし、1つでもよ
いし、3つ以上配置してもよい。この場合、表面電極を
構成する主電極が、半導体基板の周縁部に配設されるよ
うに形成することが好ましい。また、図3に示したよう
に、表面電極を構成する主電極が配設される半導体基板
の周縁部端を、略直線形状としてもよい。半導体基板の
周縁部端は、シードメタルを形成した後、電解メッキを
行う前に、略直線形状に加工してもよいし、このような
形状の半導体基板を、太陽電池形成用の半導体基板とし
て初期投入してもよい。周縁部端が略直線形状の半導体
基板を用いる場合には、シードメタルの主電極に対応す
る端部を、半導体基板の周縁部端から5mm程度以下と
すると、電解メッキによって、表面電極の主電極のメッ
キ膜厚がさらに増加するため、好ましい。
As shown in FIG. 1, for example, a pattern constituting one solar cell element is a surface electrode.
Two may be arranged on one semiconductor substrate, one may be arranged, or three or more may be arranged. In this case, it is preferable that the main electrode constituting the surface electrode is formed so as to be disposed on the peripheral edge of the semiconductor substrate. Further, as shown in FIG. 3, the edge of the peripheral portion of the semiconductor substrate on which the main electrode constituting the surface electrode is disposed may have a substantially linear shape. After forming the seed metal, the peripheral edge of the semiconductor substrate may be processed into a substantially linear shape before performing the electrolytic plating, or the semiconductor substrate having such a shape may be used as a semiconductor substrate for forming a solar cell. It may be initially charged. When a semiconductor substrate having a substantially linear peripheral edge is used, if the edge corresponding to the main electrode of the seed metal is set to about 5 mm or less from the peripheral edge of the semiconductor substrate, the main electrode of the surface electrode is formed by electrolytic plating. This is preferable because the thickness of the plated film further increases.

【0024】また、電解メッキによって形成される裏面
電極の形状は、上述したように、シードメタルの形状に
対応するように形成される。最終的に得られる裏面電極
の膜厚は、1〜10μm程度が挙げられる。
The shape of the back electrode formed by electrolytic plating is formed so as to correspond to the shape of the seed metal as described above. The thickness of the back electrode finally obtained is about 1 to 10 μm.

【0025】本発明の太陽電池の製造方法は、より具体
的には、以下の一連の太陽電池の製造工程の一部として
用いることにより、最終的に太陽電池を完成することが
できる。 (1)初期投入された太陽電池製造用基板(P型)の厚
みを最終太陽電池の厚みにまで化学エッチングする工
程、 (2)第1酸化工程により、基板両面に酸化膜を形成す
る工程、 (3)基板の受光面に対する裏面側をレジスト・耐酸テ
ープ等のマスキング剤で保護した後、例えば、HFを用
いて、受光面側の酸化膜のみを除去する工程、 (4)基板ヘ、N型不純物、例えば、リンを拡散するこ
とにより、受光面にのみN型拡散層を形成し、その後、
裏面側酸化膜を除去する工程、 (5)基板の受光面に、後工程で所望の形状の表面電極
を形成するためのレジストパターンを、フォトリソグラ
フィ技術により形成する工程、
More specifically, the solar cell manufacturing method of the present invention can be used to complete a solar cell by using it as a part of the following series of solar cell manufacturing steps. (1) a step of chemically etching the thickness of the solar cell manufacturing substrate (P-type) that has been initially charged to the thickness of the final solar cell; (2) a step of forming an oxide film on both surfaces of the substrate by the first oxidation step; (3) a step of protecting only the back surface side of the light receiving surface of the substrate with a masking agent such as a resist or an acid-resistant tape, and then removing only the oxide film on the light receiving surface side using, for example, HF; An N-type diffusion layer is formed only on the light receiving surface by diffusing a type impurity, for example, phosphorus, and then,
(5) a step of forming a resist pattern for forming a surface electrode having a desired shape on a light receiving surface of the substrate by a photolithography technique in a subsequent step;

【0026】(6)後工程で電解メッキによりシードメ
タル上に表面電極を作製することを目的とし、そのメッ
キ電極の下地になるシードメタルを形成し、レジストを
リフトオフ工程で剥離する工程、 (7)後工程で電解メッキによりシードメタル上に裏面
電極を作製することを目的とし、そのメッキ電極の下地
となるシードメタルを形成する工程、 (8)電解メッキにより、基板表裏面のシードメタル上
にメタルをメッキし、表面及び裏面電極を完成する工
程、
(6) A step of forming a seed metal to be a base of the plated electrode with a view to forming a surface electrode on the seed metal by electrolytic plating in a later step, and removing the resist by a lift-off step; A) a step of forming a seed metal serving as a base for the plated electrode with the purpose of producing a back electrode on the seed metal by electrolytic plating in a later step; and (8) forming a seed metal on the front and back surfaces of the substrate by electrolytic plating. The process of plating metal and completing the front and back electrodes

【0027】(9)基板の表面側に光の反射を低減する
反射防止膜を作製する工程、 (10)表面電極及び裏面電極と基板との密着度を高め
るために熱処理を行う工程、 (11)最終的な太陽電池寸法にダイシングする工程。
(9) a step of forming an antireflection film on the front surface side of the substrate to reduce the reflection of light; (10) a step of performing a heat treatment to increase the degree of adhesion between the front electrode and the back electrode and the substrate; ) Dicing to final solar cell dimensions.

【0028】なお、最終的なサイズに切断する前の上記
工程の任意の段階で、後工程で加工しやすい形状・サイ
ズに基板を切断してもよい。また、初期投入された状態
の基板寸法と最終的な太陽電池寸法が同一の場合は上記
(11)のダイシング工程は省いてもよい。
At any stage of the above process before cutting into a final size, the substrate may be cut into a shape and size that can be easily processed in a subsequent process. When the substrate dimensions in the initial state and the final solar cell dimensions are the same, the dicing step (11) may be omitted.

【0029】以下に、本発明の太陽電池の製造方法を、
図面に基づいて説明する。 実施の形態1 まず、通常の薄型エッチング工程により、初期投入され
た200〜400μm程度のP型シリコン基板を、15
0μmの基板厚に、例えばNaOHを用いた化学エッチ
ングによって薄膜化する。次いで、シリコン基板を熱酸
化することにより、基板両面に膜厚3000Å程度のシ
リコン酸化膜を形成する。続いて、基板表面(受光面)
へのN型不純物の拡散を目的として、表面に形成されて
いる酸化膜を、例えばHFを用いた化学処理により溶
解、除去する。次いで、基板を800℃程度の拡散炉で
処理し、基板表面に、拡散雰囲気中にあるリンを熱拡散
してN型拡散層を形成する。基板裏面に形成されている
酸化膜を化学処理、例えばHFにより溶解させて除去す
る。
Hereinafter, a method for manufacturing a solar cell according to the present invention will be described.
This will be described with reference to the drawings. First Embodiment First, a P-type silicon substrate having a thickness of about 200 to 400 μm, which has been initially charged, is
The substrate is thinned to a thickness of 0 μm by, for example, chemical etching using NaOH. Next, a silicon oxide film having a thickness of about 3000 ° is formed on both surfaces of the silicon substrate by thermal oxidation. Next, the substrate surface (light receiving surface)
The oxide film formed on the surface is dissolved and removed by a chemical treatment using, for example, HF for the purpose of diffusing the N-type impurity into the oxide film. Next, the substrate is processed in a diffusion furnace at about 800 ° C., and phosphorus in a diffusion atmosphere is thermally diffused on the substrate surface to form an N-type diffusion layer. The oxide film formed on the back surface of the substrate is removed by chemical treatment, for example, by dissolving with HF.

【0030】基板表面に、後工程で所望形状の表面電極
を形成することを目的として、フォトリソグラフィ技術
によりシリコン基板表面に、図1に示した表面電極51
に対応する開口を有するレジストマスクを形成する。
In order to form a surface electrode having a desired shape on the substrate surface in a later step, the surface electrode 51 shown in FIG.
A resist mask having an opening corresponding to is formed.

【0031】続いて、基板表面に、後工程で行うメッキ
のシードメタルとなる金属を蒸着法で形成する。ここ
で、シードメタルとしては、Ti/Pd/Agを使用
し、膜厚は2000Å/2000Å/5000Åとし
た。次いで、リフトオフ工程によりシリコン基板の表面
に形成されているレジストマスクとその表面に析出して
いる金属を除去する。その後、基板裏面に、後工程で行
うメッキのシードメタルとなる金属を蒸着法で形成す
る。ここで、シードメタルとしては、Al/Ti/Pd
/Agを使用し、膜厚は1500Å/2000Å/20
00Å/5000Åとした。
Subsequently, a metal serving as a seed metal for plating performed in a later step is formed on the surface of the substrate by a vapor deposition method. Here, Ti / Pd / Ag was used as the seed metal, and the film thickness was 2000/2000/5000. Next, the resist mask formed on the surface of the silicon substrate and the metal deposited on the surface are removed by a lift-off process. Thereafter, a metal serving as a seed metal for plating performed in a later step is formed on the back surface of the substrate by an evaporation method. Here, Al / Ti / Pd is used as the seed metal.
/ Ag, and the film thickness is 1500/2000/20
00 ° / 5000 °.

【0032】続いて、図2に示すような電解メッキ装置
を用いて、電解メッキによりシリコン基板1上のシード
メタル5、6上にメッキを行う。ここでは、シリコン基
板1上に形成されたシードメタル5、6を陰極として用
い、シリコン基板1と同程度の面積で、銀からなる平板
陽極8を、シードメタル6と平行に配置するとともに、
凹形状で、凹んだ部分がシリコン基板1より若干小さ
く、銀からなる陽極9を、シードメタル5と平行に配置
してメッキ液11に浸す。この際のメッキ液11の温度
は40〜60℃に設定した。この状態で、1〜2A/d
2の電流密度で電圧を印加し、シリコン基板1表裏面
のシードメタル5、6上に、Agを同時にメッキする。
メッキ膜厚は、シリコン基板1表面の副電極53で5.
0μm程度、シリコン基板1周縁部に配設された主電極
52及び電極パッド54で7μm程度、シリコン基板1
裏面で1.0μm程度とする。
Subsequently, plating is performed on the seed metals 5 and 6 on the silicon substrate 1 by electrolytic plating using an electrolytic plating apparatus as shown in FIG. Here, the seed metals 5 and 6 formed on the silicon substrate 1 are used as cathodes, and a flat plate anode 8 made of silver with the same area as the silicon substrate 1 is arranged in parallel with the seed metal 6.
An anode 9 having a concave shape and a concave portion slightly smaller than the silicon substrate 1 and made of silver is arranged in parallel with the seed metal 5 and immersed in the plating solution 11. At this time, the temperature of the plating solution 11 was set to 40 to 60 ° C. In this state, 1-2 A / d
Ag is simultaneously plated on the seed metals 5 and 6 on the front and back surfaces of the silicon substrate 1 by applying a voltage at a current density of m 2 .
The thickness of the plating film is set to 5.
About 0 μm, about 7 μm by the main electrode 52 and the electrode pad 54 arranged on the periphery of the silicon substrate 1.
It is about 1.0 μm on the back surface.

【0033】次いで、基板表面に、光の反射を低減させ
るTiO2/Al23の2層の酸化膜により反射防止膜
を形成する。続いて、表面電極及び裏面電極とシリコン
基板1との密着度を高めるために、N2雰囲気下、41
5℃程度で30分間程度熱処理を行なう。最後に、図1
に示したダイシングラインAに沿って、シリコン基板1
を最終的な太陽電池寸法にダイシングする。
Next, an anti-reflection film is formed on the surface of the substrate using a two-layer oxide film of TiO 2 / Al 2 O 3 for reducing light reflection. Subsequently, in order to increase the degree of adhesion between the front surface electrode and the back surface electrode and the silicon substrate 1, under an N 2 atmosphere, 41
Heat treatment is performed at about 5 ° C. for about 30 minutes. Finally, FIG.
Along the dicing line A shown in FIG.
To the final solar cell dimensions.

【0034】実施の形態2 リフトオフ工程によりシリコン基板の表面に形成されて
いるレジストマスクとその表面に析出している金属を除
去した後、シリコン基板を、図3に示すような、その周
縁部14が直線状となるようダイシングを行った以外
は、実施の形態1と同様に太陽電池素子を作製した。こ
の実施の形態によれば、シリコン基板の周縁部端からの
表面電極51における主電極52の距離が5mm程度以
内の場合には、主電極52のメッキ厚がさらに増し、8
μm程度とすることができた。
Embodiment 2 After the resist mask formed on the surface of the silicon substrate and the metal deposited on the surface are removed by a lift-off process, the silicon substrate is removed from its peripheral portion 14 as shown in FIG. A solar cell element was produced in the same manner as in Embodiment 1 except that dicing was performed so that According to this embodiment, when the distance of the main electrode 52 in the surface electrode 51 from the peripheral edge of the silicon substrate is within about 5 mm, the plating thickness of the main electrode 52 further increases, and
It could be about μm.

【0035】[0035]

【発明の効果】本発明によれば、半導体基板と、該半導
体基板表面に形成され、太陽電池素子で発生した電流を
収集する副電極及び該副電極に電気的に接続された主電
極からなる表面電極と、裏面電極とを備える太陽電池を
製造するに際して、前記主電極を半導体基板の周縁部に
配置するように電解メッキにより形成するため、半導体
基板の周縁部は中央部に比べメッキ膜厚が厚くなるとい
う従来の電解メッキの方法を利用して、副電極の電解メ
ッキによる膜厚の増大を抑制しつつ、つまり副電極の幅
方向のメッキ成長を抑制しつつ、主電極の電解メッキに
よる膜厚を増大させることができ、ひいては主電極の面
積を減少させ、特に直列抵抗を低減させた太陽電池を製
造することが可能となる。
According to the present invention, there are provided a semiconductor substrate, a sub-electrode formed on the surface of the semiconductor substrate and collecting a current generated in the solar cell element, and a main electrode electrically connected to the sub-electrode. In manufacturing a solar cell including a front electrode and a back electrode, the main electrode is formed by electrolytic plating so as to be arranged on the peripheral portion of the semiconductor substrate. The thickness of the main electrode is reduced by utilizing the conventional method of electrolytic plating, in which the thickness of the sub-electrode is prevented from increasing due to the electrolytic plating. It is possible to manufacture a solar cell in which the film thickness can be increased and the area of the main electrode can be reduced, and in particular, the series resistance can be reduced.

【0036】また、主電極が配設される半導体基板の周
縁部が、略直線状に形成されてなる場合には、主電極
を、より半導体基板の周縁部に近接して形成することが
できることとなり、主電極をより膜厚に形成することが
でき、ひいてはより主電極の面積を減少させることがで
きる。
In the case where the periphery of the semiconductor substrate on which the main electrode is provided is formed in a substantially linear shape, the main electrode can be formed closer to the periphery of the semiconductor substrate. Thus, the thickness of the main electrode can be increased, and the area of the main electrode can be further reduced.

【0037】さらに、1つの半導体基板上に複数の表面
電極が形成され、かつ各表面電極の主電極がそれぞれ前
記半導体基板の周縁部に配設される場合には、主電極の
面積を減少させた表面電極を、一度に形成することがで
き、製造コストの削減を図ることが可能となる。
Further, when a plurality of surface electrodes are formed on one semiconductor substrate, and the main electrodes of the respective surface electrodes are respectively arranged on the periphery of the semiconductor substrate, the area of the main electrodes can be reduced. The formed surface electrode can be formed at a time, and the manufacturing cost can be reduced.

【0038】また、半導体基板上の表面電極に対向し、
かつ該表面電極の主電極に対応する部分において前記半
導体基板方向に凸形状を有している陽極を用いて電解メ
ッキを行う場合には、半導体基板の周縁部における電解
メッキによる膜厚をさらに厚膜化させることができ、よ
り主電極の面積の低減、ひいては直列抵抗をより低減さ
せた太陽電池を製造することが可能となる。
Further, the semiconductor device faces the surface electrode on the semiconductor substrate,
In the case where electrolytic plating is performed using an anode having a convex shape in the direction of the semiconductor substrate in a portion corresponding to the main electrode of the front surface electrode, the thickness of the electrolytic plating on the peripheral portion of the semiconductor substrate is further increased. It is possible to form a film, and it is possible to manufacture a solar cell in which the area of the main electrode is reduced and the series resistance is further reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の太陽電池の製造方法において形成され
る表面電極パターンを示す概略平面図である。
FIG. 1 is a schematic plan view showing a surface electrode pattern formed in a method for manufacturing a solar cell of the present invention.

【図2】本発明の太陽電池の製造方法において行う電解
メッキを実施するための装置の概略概念図である。
FIG. 2 is a schematic conceptual diagram of an apparatus for performing electrolytic plating performed in the method of manufacturing a solar cell according to the present invention.

【図3】本発明の太陽電池の製造方法において形成され
る表面電極パターンの別の配置を示す概略平面図であ
る。
FIG. 3 is a schematic plan view showing another arrangement of surface electrode patterns formed in the method for manufacturing a solar cell of the present invention.

【図4】従来の太陽電池の製造工程を説明するための概
略断面工程図である。
FIG. 4 is a schematic cross-sectional process diagram for explaining a conventional solar cell manufacturing process.

【図5】従来の太陽電池の製造工程を説明するための概
略断面工程図である。
FIG. 5 is a schematic cross-sectional process diagram for explaining a conventional solar cell manufacturing process.

【図6】太陽電池素子の表面電極パターンを示す平面図
である。
FIG. 6 is a plan view showing a surface electrode pattern of the solar cell element.

【図7】従来の太陽電池の製造方法において形成される
表面電極パターンを示す概略平面図である。
FIG. 7 is a schematic plan view showing a surface electrode pattern formed in a conventional solar cell manufacturing method.

【図8】従来の太陽電池の製造方法において行う電解メ
ッキを実施するための装置の概略概念図である。
FIG. 8 is a schematic conceptual diagram of an apparatus for performing electrolytic plating performed in a conventional solar cell manufacturing method.

【図9】従来の太陽電池の製造方法において行う電解メ
ッキを実施するための別の装置の概略概念図である。
FIG. 9 is a schematic conceptual diagram of another apparatus for performing electrolytic plating performed in a conventional method of manufacturing a solar cell.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 シリコン基板(半導体基板) 2 酸化膜 3 N型拡散層 4 レジストパターン 5、6 シードメタル 7 反射防止膜 8、9 陽極 10 隔壁 11 メッキ液 12 メッキ槽 14 周縁部 51 表面電極 52 主電極 53 副電極 54 電極パッド 61 裏面電極 A ダイシングライン DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Silicon substrate (semiconductor substrate) 2 Oxide film 3 N type diffusion layer 4 Resist pattern 5, 6 Seed metal 7 Anti-reflection film 8, 9 Anode 10 Partition wall 11 Plating liquid 12 Plating tank 14 Peripheral part 51 Surface electrode 52 Main electrode 53 Sub Electrode 54 Electrode pad 61 Back electrode A Dicing line

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 半導体基板と、該半導体基板表面に形成
され、太陽電池素子で発生した電流を収集する副電極及
び該副電極に電気的に接続された主電極からなる表面電
極と、裏面電極とを備える太陽電池を製造するに際し
て、前記主電極を半導体基板の周縁部に配置するように
電解メッキにより形成することを特徴とする太陽電池の
製造方法。
1. A front electrode comprising a semiconductor substrate, a sub-electrode formed on the surface of the semiconductor substrate and collecting a current generated by a solar cell element, a main electrode electrically connected to the sub-electrode, and a back electrode. A method of manufacturing a solar cell, comprising: forming a main electrode by electrolytic plating so as to be arranged on a peripheral portion of a semiconductor substrate when manufacturing the solar cell including:
【請求項2】 主電極が配設される半導体基板の周縁部
が、略直線状に形成されてなる請求項1記載の太陽電池
の製造方法。
2. The method for manufacturing a solar cell according to claim 1, wherein a peripheral portion of the semiconductor substrate on which the main electrode is disposed is formed substantially linearly.
【請求項3】 1つの半導体基板上に複数の表面電極が
形成され、かつ各表面電極の主電極がそれぞれ前記半導
体基板の周縁部に配設される請求項1又は2記載の太陽
電池の製造方法。
3. The manufacturing of a solar cell according to claim 1, wherein a plurality of surface electrodes are formed on one semiconductor substrate, and a main electrode of each surface electrode is disposed on a peripheral portion of the semiconductor substrate. Method.
【請求項4】 半導体基板上の表面電極に対向し、かつ
該表面電極の主電極に対応する部分において前記半導体
基板方向に凸形状を有している陽極を用いて電解メッキ
を行う請求項1〜3のいずれか1つに記載の太陽電池の
製造方法。
4. Electroplating is performed using an anode which faces a surface electrode on a semiconductor substrate and has a convex shape in the direction of the semiconductor substrate in a portion corresponding to a main electrode of the surface electrode. 4. The method for manufacturing a solar cell according to any one of Items 3 to 3.
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