JP2000292356A - 発光スタンドにおけるダスト回収構造 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 放電室内において生じたダストを、放電や発
光に悪影響を及ぼすことなく、しかも、大気中に飛散さ
せたりすることなく確実に捕集することができる発光ス
タンドにおけるダスト回収構造を提供すること。 【解決手段】 放電室３内において生じたダスト１４
を、放電室３の一端側から導入される不活性ガスＩＧに
よって、放電室３の他端側に形成されたガス排出口１３
を経て排出するように構成された発光スタンドにおける
ダスト回収構造において、前記ガス排出口１３に、フィ
ルタ１７を備えたダストボックス１５を接続している。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、スパーク放電を
利用した固体発光分析装置など発光分光分析装置に用い
られる発光スタンドにおけるダスト回収構造（以下、単
にダスト回収構造という）に関する。

【０００２】

【従来の技術】前記固体発光分析装置においては、発光
スタンド内の放電室に臨むように金属試料を設け、この
金属試料と対電極との間においてスパーク放電を生じさ
せ、その放電に基づく光を分光器に導いて分析を行うよ
うにしているが、この場合、前記放電に伴って励起に関
与しないすす状の蒸発物や励起後の分子化したもの（以
下、これらを総称してダストという）が発生する。この
ダストは、スパーク放電の発生に悪影響を及ぼすところ
から、放電室から速やかに除去する必要がある。そこ
で、従来より、図３に示すようにしてダストを回収する
ようにしていた。

【０００３】すなわち、図３において、４１は例えば直
方体形状の金属製の発光スタンドで、その内部には放電
室４２が形成されている。この放電室４２の上方位置に
は、放電室４２に臨むように金属試料４３が配置され、
放電室４２の下方位置には、放電室４２に臨み、かつ金
属試料４３と対向するするようにして対電極４４が絶縁
部材４５を介して配置されており、金属試料４３、対電
極４４にそれぞれ所定の正電圧、負電圧を印加すること
によって放電を生じさせ、この放電に基づい生じた光
を、放電室４２の一端側（前面側）に形成された通し孔
４６を介して分光器４７側に導くように構成されてい
る。

【０００４】そして、４８はアルゴンガスなどの不活性
ガスＩＧを発光スタンド４１の外部から放電室４２に導
入するためのガス導入路で、このガス導入路４８の下流
側は通し孔４６に連通している。また、４９は発光スタ
ンド４１の他端側に開設されるガス排出口４９で、この
ガス排出口４９にはシリコンゴムなどよりなるチューブ
５０が接続され、さらに、このチューブ５０の他端側
に、水５１を収容したトラップ５２を設けられており、
不活性ガスＩＧによって放電室４２から排出されたダス
トをトラップ５２内に捕集するようにしていた。

【０００５】なお、図３において、５３は放電室４２に
おいて発生した光を収斂させる集光レンズ、５４は放電
室４２において生じたダストが集光レンズ５３側に飛来
し、これに付着するのを防止するためのフッ化マグネシ
ウムよりなる窓である。また、５５，５６はステンレス
鋼製のパイプである。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来のダスト回収構造においては、次のような課題があっ
た。すなわち、発光スタンド４１のガス排出口４９とト
ラップ５２との間を、長さ１ｍ以上のチューブ５０によ
って接続しているため、長期にわたって使用している
と、チューブ５０内にダストが溜まるなどして、ダスト
排出のための気流が変化し、放電室４２内における発光
に悪影響が及ぼされ、結果として測定精度に悪影響が及
ぼされることがあった。また、トラップ５２内に水５１
を収容し、これによってダストを捕集させるようにして
いるが、ダストの濡れ性が悪く、場合によっては、ダス
トを捕集することができず、トラップ５２の排気側のパ
イプ５６から空中に飛散することもあった。また、チュ
ーブ５０を定期的に交換する必要もあった。

【０００７】この発明は、上述の事柄に留意してなされ
たもので、その目的は、放電室内において生じたダスト
を、放電や発光に悪影響を及ぼすことなく、しかも、大
気中に飛散させたりすることなく確実に捕集することが
できるダスト回収構造を提供することである。

【０００８】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、この発明では、放電室内において生じたダストを、
放電室の一端側から導入される不活性ガスによって、放
電室の他端側に形成されたガス排出口を経て排出するよ
うに構成されたダスト回収構造において、前記ガス排出
口に、フィルタを備えたダストボックスを接続している
（請求項１）。

【０００９】上記ダスト回収構造においては、発光スタ
ンド内の放電室において発生したダストは、ガス排出口
から発光スタンド外に排出され、ダストボックス内のフ
ィルタに確実に捕集され、大気中に飛散することがなく
なる。また、チューブなどの配管を用いてないので、詰
まりが生じたりすることがなく、放電室内における放電
に悪影響が及ぼされることがなくなる。

【００１０】そして、前記ダスト回収構造において、ガ
ス排出口とダストボックスとの間にトラップを配置して
もよい（請求項２）。このようにした場合、発光スタン
ド内にの圧力を一定にすることができる。

【００１１】

【発明の実施の形態】この発明の実施の形態を、図面を
参照しながら説明する。図１はこの発明のダスト回収構
造の一例を示すものである。この図において、１は発光
スタンドで、例えば直方体形状で、適宜の金属よりな
る。２は発光スタンド１の長手方向の一端側（図におい
て左側、以下、前面側という）に連設される分光器であ
る。なお、分光器２は、この発明の本筋とは無関係であ
るので、その詳細な図示は省略しているが、従来の発光
分光分析装置の構成と変わるところはなく、その内部
は、適宜の真空状態または窒素ガスパージされた状態に
保持されており、入射スリット、回折格子、出射スリッ
トなどが適宜設けられている。そして、この出射スリッ
トの後段には光電子増倍管などの検出器が設けられてい
る。

【００１２】そして、３は発光スタンド１の内部に形成
される放電室で、その上部の適宜の位置には適宜大きさ
の孔４が形成され、分析対象の金属試料５を載置できる
ように構成されている。また、放電室３の下部には電気
絶縁物６を介して対電極７が設けられている。なお、図
示は省略しているが、金属試料５および対電極６は、そ
れぞれ適宜の端子を介して直流電源装置の陽極側、陰極
側にそれぞれ接続されるように構成されている。

【００１３】また、８は放電室３と分光器２とを連通す
るように設けられる水平な通し孔で、その一端は放電室
３の前面側上方において開口し、他端は分光器２に開口
している。この通し孔８は、放電室３において発生した
光を分光器２方向に導出する機能と、放電室３方向に不
活性ガス（例えばアルゴンガス）ＩＧを導入する機能と
を有するものである。そして、この通し孔８には、放電
室３において発生した光を収斂させる集光レンズ９およ
び放電室３において生ずるダストが集光レンズ９側に飛
来しこれに付着するのを防止するためのフッ化マグネシ
ウムよりなる窓１０が気密に設けられている。

【００１４】１１は通し孔８に対して不活性ガスＩＧを
供給するガス供給路で、一端が通し孔８と連通するとと
もに、他端の接続部１２には不活性ガス供給路（図示し
ていない）が接続される。

【００１５】１３放電室３内において生じたダスト１４
を不活性ガスＩＧとともに排出するガス排出口で、放電
室３の他端側（通し孔８とほぼ対向する位置）に形成さ
れている。

【００１６】ここまでの構成は、従来のこの種のダスト
回収構造における発光スタンドと変わるところはない。
この発明のダスト回収構造においては、次のように構成
した点に特徴がある。すなわち、１５は発光スタンド１
の外部に設けられるダストボックスで、例えばステンレ
ス鋼または鉄よりなる直方体形状の箱体１６の内部にフ
ィルタ１７を着脱自在に設けてなるもので、発光スタン
ド１のガス排出口１３とは、シリコンゴムなどの短いチ
ューブ１８を介して、可及的に近づけた状態で接続され
ている。

【００１７】より詳しくは、前記箱体１６は、一方が開
放されており、これに対向する面に多数の排気孔１９が
形成された箱本体２０と、チューブ１８を挿入接続する
接続部２１が形成され、前記箱本体２０の開口部に着脱
自在に取り付けられる蓋部２２とからなる。また、フィ
ルタ１７は、全体が細かい網目状の袋体からなり、１μ
ｍ程度の細かいダスト１４をも捕捉し、これを収容でき
るように構成されている。なお、２３はチューブ１８を
抜き去ったとき接続部２１の開口を閉じる蓋である

【００１８】上記構成におけるダスト回収構造の動作に
ついて説明する。不活性ガスＩＧをガス供給路１１を経
て通し孔８に導入している状態で、金属試料５に負電圧
を、対電極６に正電圧をそれぞれ印加すると、金属試料
５と対電極６との間に放電が発生し、この放電に伴って
光が生じ、この光は通し孔８を経て分光器２側に導出さ
れ、分光器２の後段に設けた検出器に受光され、そのス
ペクトル強度が測定される。

【００１９】そして、前記放電によって金属試料５から
生じたダストは、発光スタンド１内を矢印２４で示す方
向に流れる不活性ガスＩＧによってガス排出口１３から
排出され、さらに、不活性ガスＩＧとともに可及的に短
いチューブ１８を経てダストボックス１５に至る。そし
て、ダスト１４は、ダストボックス１５内のフィルタ１
７に捕捉されてその内部に捕集され、不活性ガスＩＧ
は、フィルタ１７の目および箱本体２０の排気孔１９を
経て大気中に排出される。

【００２０】上述のように、この発明のダスト回収構造
においては、発光スタンド１内の放電室３において発生
したダストは、ガス排出口１３から発光スタンド１外に
排出され、ダストボックス１５内のフィルタ１７に確実
に捕集され、大気中に飛散することがない。そして、従
来のように長いチューブなどの配管を用いてないので、
詰まりが生じたりすることがなく、放電室３内における
放電に悪影響が及ぼされることがなくなる。

【００２１】そして、フィルタ１７内がダスト１４によ
って満杯になったときは、フィルタ１７をダストボック
ス１５から取り外し、新しいフィルタ１７を装着すれば
よい。この場合、フィルタ１７をワンタッチで着脱でき
るようにしておけば、メンテナンスをより容易に行うこ
とができる。

【００２２】この発明は、上述の実施の形態に限られる
ものではなく、例えば、図２に示すように、ガス排出口
１３とダストボックス１５との間にトラップ２５を配置
してもよい。すなわち、図２において、２６はトラップ
容器で、内部に水２７が適宜深さ収容されている。２８
はトラップ容器２６の上部開口を封止する蓋で、この蓋
２８を挿通するように例えばステンレス鋼よりなる二つ
のパイプ２９，３０が設けられている。そして、一方の
パイプ２９は、その一端がガス排出口１３に接続され、
他端が水２７内に浸漬されている。また、他方のパイプ
３０は、一端がトラップ容器２６内の気相部分において
開口し、他端がダストボックス１５の接続部２１に挿入
接続されている。なお、他の構成については、図１に示
したものと同様であるので、その詳細な説明を省略す
る。また、ガス排出口１３とトラップ容器２６との間が
可及的に短くなるようにするのが好ましい。

【００２３】上記図２に示される実施の形態において
は、トラップ２５によって発光スタンド１内の圧力が一
定になるように調整される。そして、この実施の形態に
おいては、トラップ２５によってダスト１４を捕捉する
ことができるが、仮に、ダスト１４の濡れ性が悪くて、
これがトラップ容器２６から飛び出ることがあっても、
トラップ容器２６の後方に設けられたダストボックス１
５によって捕集される。したがって、この実施の形態に
おいても、放電室３において発生したダストは、確実に
捕集される。

【００２４】

【発明の効果】以上詳述したしたように、この発明のダ
スト回収構造によれば、放電室において発生したダスト
をダストボックス内のフィルタによって確実に捕集する
ことができ、大気中に飛散することがなくなる。また、
チューブなどの配管を用いてないので、詰まりが生じた
りすることがなく、放電室内における放電に悪影響が及
ぼされることがなくなり、安定した測定を行うことがで
きる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明のダスト回収構造の一例を示す縦断面
図である。

【図２】この発明のダスト回収構造の他の例を示す縦断
面図である。図である。

【図３】従来のダスト回収構造を説明するための図であ
る。

【符号の説明】

１…発光スタンド、３…放電室、１３…ガス排出口、１
４…ダスト、１５…ダストボックス、１７…フィルタ、
２５…トラップ、ＩＧ…不活性ガス。

フロントページの続き (72)発明者 南 孝明 京都府京都市南区吉祥院宮の東町２番地 株式会社堀場製作所内 Ｆターム(参考） 2G043 AA01 BA01 CA05 DA08 EA09 GA06 GA07 GB09 MA01 MA11 4D058 JA02 QA05 SA20

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 放電室内において生じたダストを、放電
   室の一端側から導入される不活性ガスによって、放電室
   の他端側に形成されたガス排出口を経て排出するように
   構成された発光スタンドにおけるダスト回収構造におい
   て、前記ガス排出口に、フィルタを備えたダストボック
   スを接続したことを特徴とする発光スタンドにおけるダ
   スト回収構造。
2. 【請求項２】 ガス排出口とダストボックスとの間にト
   ラップを配置してなる請求項１に記載の発光スタンドに
   おけるダスト回収構造。