JP2000285730A - Circuit board - Google Patents

Circuit board

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JP2000285730A
JP2000285730A JP11091614A JP9161499A JP2000285730A JP 2000285730 A JP2000285730 A JP 2000285730A JP 11091614 A JP11091614 A JP 11091614A JP 9161499 A JP9161499 A JP 9161499A JP 2000285730 A JP2000285730 A JP 2000285730A
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悟 大田
Itsuo Watanabe
伊津夫 渡辺
Akira Nagai
朗 永井
Kenzo Takemura
賢三 竹村
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a circuit board which uses an adhesive having a low hygroscopic property and high heat resistance. SOLUTION: A first circuit member having a first connecting terminal and a second circuit member having a second connecting terminal are arranged with first and second connecting terminals facing each other, and an adhesive is provided between the first and second connecting terminals arranged face to face and is heated and pressed to electrically connect the oppositely arranged first and second connecting terminals together in this circuit board. The adhesive contains at least a three-dimensional cross-linking resin and a thermoplastic resin having the water absorption coefficient of 0.05-O.25 wt.% and the glass transition temperature of 110-160 deg.C. The thermoplastic resin is a special polysulfone resin and preferably dissolved in an aromatic hydrocarbon solvent.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、例えばフリップチ
ップ実装方式により半導体チップを基板と接着剤で接着
固定すると共に両者の電極同士を電気的に接続する回路
板に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a circuit board for fixing a semiconductor chip to a substrate by an adhesive, for example, by a flip chip mounting method, and for electrically connecting both electrodes.

【0002】[0002]

【従来の技術】現在、半導体分野ではエポキシ樹脂など
の有機材料が多く使われている。封止材の分野では、封
止システムの90%以上が樹脂封止システムに置き換わ
っている。封止材はエポキシ樹脂、硬化剤、各種添加
剤、無機充填剤などによって構成される複合材料であ
り、エポキシ樹脂としてはクレゾールノボラック型エポ
キシ樹脂が多く使用されている。しかし、クレゾールノ
ボラック型エポキシ樹脂は低吸水率、低弾性率といった
特性において満足する要求特性を有していないため、表
面実装方式への対応が困難である。そのため、これに代
わる新規高性能エポキシ樹脂が多く提案され実用化に至
っている。また、ダイボンディング用導電性接着剤とし
て、エポキシ樹脂に銀粉を混練した、銀ペーストが多く
使用されている。しかし、半導体素子の配線基板への装
着方法が表面実装法に移行するに従い、銀ペーストに対
する耐はんだリフロー性向上の要求が強まっている。こ
の問題を解決するために、硬化後のダイボンディング用
接着剤層のボイド、ピール強度、吸水率、弾性率等の改
善がなされている。半導体実装分野では、低コスト化・
高精細化に対応した新しい実装形態としてICチップを
直接プリント基板やフレキシブル配線板に搭載するフリ
ップチップ実装が注目されている。フリップチップ実装
方式としては、チップの端子にはんだバンプを設け、は
んだ接続を行う方式や導電性接着剤を介して電気的接続
を行う方式が知られている。これらの方式では、接続す
るチップと基板の熱膨張係数差に基づくストレスが、各
種環境に曝した場合、接続界面で発生し接続信頼性が低
下するという問題がある。このため、接続界面のストレ
スを緩和する目的で一般にエポキシ樹脂系のアンダフィ
ル材をチップ/基板の間隙に注入する方式が検討されて
いる。しかし、このアンダフィル注入工程は、プロセス
を煩雑化し、生産性、コストの面で不利になるという問
題がある。このような問題を解決すべく最近では、異方
導電性と封止機能を有する異方導電性接着剤を用いたフ
リップチップ実装が、プロセス簡易性という観点から注
目されている。
2. Description of the Related Art At present, organic materials such as epoxy resins are widely used in the semiconductor field. In the field of encapsulants, over 90% of encapsulation systems have been replaced by resin encapsulation systems. The sealing material is a composite material composed of an epoxy resin, a curing agent, various additives, an inorganic filler, and the like. As the epoxy resin, a cresol novolac epoxy resin is often used. However, the cresol novolak type epoxy resin does not have the required characteristics such as low water absorption and low elasticity, so that it is difficult to cope with the surface mounting method. For this reason, many new high-performance epoxy resins have been proposed and commercialized. In addition, a silver paste obtained by kneading silver powder with an epoxy resin is often used as a conductive adhesive for die bonding. However, as the mounting method of the semiconductor element on the wiring board shifts to the surface mounting method, there is an increasing demand for improving the solder reflow resistance of the silver paste. In order to solve this problem, improvements have been made to the void, peel strength, water absorption, elastic modulus, etc. of the cured die bonding adhesive layer. In the semiconductor packaging field, cost reduction
Flip-chip mounting, in which an IC chip is directly mounted on a printed circuit board or a flexible wiring board, has attracted attention as a new mounting mode corresponding to high definition. As a flip-chip mounting method, a method of providing a solder bump on a terminal of a chip and performing solder connection or a method of performing electrical connection via a conductive adhesive is known. In these systems, there is a problem that stress based on a difference in thermal expansion coefficient between a chip and a substrate to be connected is generated at a connection interface when exposed to various environments, and connection reliability is reduced. For this reason, a method of injecting an epoxy resin-based underfill material into a gap between a chip and a substrate is generally studied for the purpose of reducing stress at a connection interface. However, the underfill injection step has a problem that the process is complicated and disadvantageous in productivity and cost. In order to solve such a problem, flip-chip mounting using an anisotropic conductive adhesive having anisotropic conductivity and a sealing function has recently attracted attention from the viewpoint of process simplicity.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】チップを異方導電性接
着剤を介して基板に搭載する場合、吸湿条件下では接着
剤とチップまたは接着剤と基板界面の接着力が低下し、
さらに、温度サイクル条件下ではチップと基板の熱膨張
係数差に基づくストレスが接続部において生じることに
よって、熱衝撃試験、PCT試験、高温高湿試験等の信
頼性試験を行うと接続抵抗の増大や接着剤の剥離が生じ
るという問題がある。また、半導体パッケージでは高温
高湿試験で吸湿させた後に耐はんだリフロー温度試験を
行うため、接着剤中に吸湿された水分が急激に膨張する
ことによって接続抵抗の増大や接着剤の剥離が生じると
いう問題がある。一般に、エポキシ樹脂の内部応力を緩
和し強靱化を図る目的で、液状ゴムや架橋ゴム及びコア
シェル型のゴム粒子を分散させる技術が知られている。
しかしながら、エポキシ樹脂中にゴムを分散させた硬化
物はエポキシ樹脂単体の硬化物に対して軟化点温度(又
はガラス転移温度、以下Tgと記す)が低下することが
知られており、高耐熱性が要求される分野では信頼性を
低下させる原因となる。一方、ゴム分散系でTgを向上
させるべくエポキシ樹脂の架橋密度を増加させること
は、ゴム分散の効果を低下させ、硬化物の脆さを増加さ
せると共に、吸水率を増加させ、信頼性を低下させる原
因となる。また、Tgを低下させずにエポキシ樹脂を強
靱化させる方法として、エンジニアリングプラスチック
として知られる高耐熱性の熱可塑性樹脂との配合が知ら
れているが、一般に、これらのエンジニアリングプラス
チックは溶剤に対する溶解性に乏しい為、エポキシ樹脂
との配合は粉体の練り込みによるものであり、エンジニ
アリングプラスチックの微細な粉体を形成することが困
難であること、また、その均一分散が困難であり場所に
より物性が異なり均一性に乏しくなるなどの接着剤用途
への展開は不適当である。本発明は、低吸湿性で高耐熱
性の接着剤を用いた回路板を提供するものであり、用い
る熱可塑性樹脂が低吸水性で、炭化水素系溶剤に溶解し
ワニスの状態からフィルム状の接着剤とすることがで
き、Tgが高くて三次元架橋性樹脂に均一に混合ないし
分散できる接着剤を適用することにより接続部での接続
抵抗の増大や接着剤の剥離がなく、接続信頼性が大幅に
向上する回路板を提供することを課題とした。
When a chip is mounted on a substrate via an anisotropic conductive adhesive, the adhesive force between the adhesive and the chip or between the adhesive and the substrate decreases under moisture absorbing conditions.
Furthermore, under the temperature cycle condition, stress based on the difference in thermal expansion coefficient between the chip and the substrate is generated in the connection portion. Therefore, when a reliability test such as a thermal shock test, a PCT test, and a high temperature and high humidity test is performed, an increase in connection resistance may occur. There is a problem that peeling of the adhesive occurs. In addition, since the semiconductor package is subjected to a solder reflow temperature test after absorbing moisture in a high-temperature and high-humidity test, the moisture absorbed in the adhesive rapidly expands, thereby causing an increase in connection resistance and peeling of the adhesive. There's a problem. In general, a technique of dispersing a liquid rubber, a crosslinked rubber, and core-shell type rubber particles for the purpose of relaxing the internal stress of the epoxy resin and increasing the toughness is known.
However, it is known that a cured product obtained by dispersing a rubber in an epoxy resin has a lower softening point temperature (or glass transition temperature, hereinafter referred to as Tg) than a cured product of an epoxy resin alone, and has a high heat resistance. In fields where is required, reliability may be reduced. On the other hand, increasing the crosslink density of the epoxy resin to improve Tg in the rubber dispersion system reduces the effect of rubber dispersion, increases the brittleness of the cured product, increases the water absorption rate, and decreases the reliability. This can cause As a method for toughening an epoxy resin without lowering Tg, blending with a highly heat-resistant thermoplastic resin known as an engineering plastic is known. However, in general, these engineering plastics are soluble in a solvent. Because it is poor, the compounding with the epoxy resin is based on the kneading of the powder, it is difficult to form a fine powder of engineering plastic, and it is difficult to disperse it uniformly, and the physical properties are difficult depending on the location It is unsuitable for application to adhesives, such as poor uniformity. The present invention provides a circuit board using an adhesive having low moisture absorption and high heat resistance.The thermoplastic resin used has low water absorption, and is dissolved in a hydrocarbon solvent to form a film from a varnish state. By applying an adhesive that can be used as an adhesive and has a high Tg and can be uniformly mixed or dispersed in the three-dimensional crosslinkable resin, there is no increase in connection resistance at the connection portion and no peeling of the adhesive, and the connection reliability is high. It is an object of the present invention to provide a circuit board having a significantly improved performance.

【0004】[0004]

【課題を解決するための手段】本発明の回路板は、第一
の接続端子を有する第一の回路部材と、第二の接続端子
を有する第二の回路部材とを、第一の接続端子と第二の
接続端子を対向して配置し、前記対向配置した第一の接
続端子と第二の接続端子の間に接着剤を介在させ、加熱
加圧して前記対向配置した第一の接続端子と第二の接続
端子を電気的に接続させた回路板であって、前記接着剤
が、少なくとも三次元架橋性樹脂及び吸水率0.05〜
0.25重量%かつガラス転移温度110℃〜160℃
の熱可塑性樹脂を含む接着剤であることを特徴とする。
また、本発明は、吸水率0.05〜0.25重量%かつ
ガラス転移温度110℃〜160℃の熱可塑性樹脂が下
記一般式(I)で示されるポリスルホン樹脂であると好
ましい回路板である。
A circuit board according to the present invention comprises a first circuit member having a first connection terminal and a second circuit member having a second connection terminal. And a second connection terminal are disposed facing each other, an adhesive is interposed between the first connection terminal and the second connection terminal disposed opposite to each other, and the first connection terminal disposed oppositely by applying heat and pressure. And a second connection terminal electrically connected to the circuit board, wherein the adhesive is at least a three-dimensional crosslinkable resin and a water absorption of 0.05 to
0.25% by weight and glass transition temperature 110 ° C to 160 ° C
Characterized in that it is an adhesive containing a thermoplastic resin.
Further, the present invention is a circuit board in which the thermoplastic resin having a water absorption of 0.05 to 0.25% by weight and a glass transition temperature of 110 ° C to 160 ° C is a polysulfone resin represented by the following general formula (I). .

【0005】[0005]

【化2】 (ここでR1は水素原子または炭素数1〜2のアルキル基
であり、R2は炭素数4〜13の直鎖状または分岐したア
ルキル基であり、nは5〜750の整数である。)
Embedded image (Here, R 1 is a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 2 carbon atoms, R 2 is a linear or branched alkyl group having 4 to 13 carbon atoms, and n is an integer of 5 to 750. )

【0006】さらに、本発明は、前記熱可塑性樹脂が芳
香族炭化水素系溶剤に溶解するものであると好ましい回
路板である。また、前記三次元架橋性樹脂が少なくとも
エポキシ系樹脂であり、潜在性硬化剤を含有しているも
のが好ましい回路板である。さらに、本発明は、接着剤
が少なくとも芳香族炭化水素系溶剤に溶解するポリスル
ホン樹脂を含み、エポキシ系樹脂、潜在性硬化剤、ラジ
カル重合物質、光照射または加熱により遊離ラジカルを
発生する硬化剤の組合せを含むと好ましい回路板であ
る。この組合せとして、エポキシ系樹脂と潜在性硬化剤
の組合せ、エポキシ系樹脂と光照射または加熱により遊
離ラジカルを発生する硬化剤の組合せ、ラジカル重合物
質と潜在性硬化剤の組合せ、ラジカル重合物質と光照射
または加熱により遊離ラジカルを発生する硬化剤の組合
せ、エポキシ系樹脂とラジカル重合物質と潜在性硬化剤
の組合せ、エポキシ系樹脂とラジカル重合物質と光照射
または加熱により遊離ラジカルを発生する硬化剤の組合
せ、エポキシ系樹脂と潜在性硬化剤とラジカル重合物質
と光照射または加熱により遊離ラジカルを発生する硬化
剤の組合せ等が挙げられる。また、本発明は、接着剤が
フィルム状であると好ましい回路板である。そして、接
着剤に0.1〜20体積%の導電粒子が分散されている
と好ましい回路板である。
Further, the present invention is a circuit board in which the thermoplastic resin is preferably soluble in an aromatic hydrocarbon solvent. The circuit board is preferably a resin in which the three-dimensional crosslinkable resin is at least an epoxy resin and contains a latent curing agent. Furthermore, the present invention includes a polysulfone resin in which the adhesive is dissolved in at least an aromatic hydrocarbon solvent, an epoxy resin, a latent curing agent, a radical polymerizable substance, a curing agent that generates free radicals by light irradiation or heating. It is a preferred circuit board to include a combination. Examples of the combination include a combination of an epoxy resin and a latent curing agent, a combination of an epoxy resin and a curing agent that generates free radicals by light irradiation or heating, a combination of a radical polymerizable substance and a latent curing agent, and a combination of a radical polymerizable substance and a light A combination of a curing agent that generates free radicals by irradiation or heating, a combination of an epoxy resin, a radical polymerizable substance, and a latent curing agent, a combination of an epoxy resin, a radical polymerized substance, and a curing agent that generates free radicals by light irradiation or heating Examples of the combination include a combination of an epoxy resin, a latent curing agent, a radical polymerizable substance, and a curing agent that generates free radicals by light irradiation or heating. Further, the present invention is a circuit board in which the adhesive is preferably in the form of a film. It is a preferable circuit board that the conductive particles are dispersed in the adhesive in an amount of 0.1 to 20% by volume.

【0007】[0007]

【発明の実施の形態】本発明に用いられる回路部材とし
て半導体チップ、プリント基板、ポリイミドやポリエス
テルを基材としたフレキシブル配線板が挙げられる。半
導体チップや基板の電極パッド上には、めっきで形成さ
れるバンプや金ワイヤの先端をトーチ等により溶融さ
せ、金ボールを形成し、このボールを電極パッド上に圧
着した後、ワイヤを切断して得られるワイヤバンプなど
の突起電極を設け、接続端子として用いることができ
る。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Circuit members used in the present invention include a semiconductor chip, a printed circuit board, and a flexible wiring board based on polyimide or polyester. On the electrode pads of the semiconductor chip and the substrate, the bumps formed by plating and the tips of the gold wires are melted with a torch or the like to form gold balls, and the balls are pressed on the electrode pads, and then the wires are cut. A protruding electrode such as a wire bump obtained by the above method can be provided and used as a connection terminal.

【0008】本発明に用いられる接着剤中の熱可塑性樹
脂は、吸水率0.05〜0.25重量%かつガラス転移
温度110℃〜160℃のものが用いられ、一般式
(I)で示され、芳香族炭化水素系溶剤に溶解するポリ
スルホン樹脂が使用される。
The thermoplastic resin in the adhesive used in the present invention has a water absorption of 0.05 to 0.25% by weight and a glass transition temperature of 110 to 160 ° C., and is represented by the following general formula (I). A polysulfone resin which is dissolved in an aromatic hydrocarbon solvent is used.

【0009】前記したポリスルフォン樹脂は、例えば、
ビスフェノール化合物とビス(4−ハロゲン化フェニ
ル)スルホンから合成することができる。ビスフェノー
ル化合物としては、1,1−(4,4’−ジヒドロキシ
ジフェニル)−3−メチルブタン(一般式(I)中、R
1は水素原子、R2は炭素数4の分岐したアルキル基)、
2,2−(4,4’−ジヒドロキシジフェニル)−4−
メチルペンタン(R1は炭素数1のアルキル基、R2は炭
素数4の分岐したアルキル基)、1,1−(4,4’−
ジヒドロキシジフェニル)−3−エチルヘキサン(R1
は水素原子、R2は炭素数7の分岐したアルキル基)、
3,3−(4,4’−ジヒドロキシジフェニル)ペンタ
ン(R1は炭素数2のアルキル基、R2は炭素数2のアル
キル基)、2,2−(4,4’−ジヒドロキシジフェニ
ル)ヘプタン(R1は炭素数1のアルキル基、R2は炭素
数5の直鎖状アルキル基)、1,1−(4,4’−ジヒ
ドロキシジフェニル)ヘプタン(R1は水素原子、R2
炭素数6の直鎖状アルキル基)、2,2−(4,4’−
ジヒドロキシジフェニル)オクタン(R1は炭素数1の
アルキル基、R2は炭素数6の直鎖状アルキル基)、
1,1−(4,4’−ジヒドロキシジフェニル)オクタ
ン(R1は炭素数1のアルキル基、R2は炭素数6の直鎖
状アルキル基)、2,2(4,4’−ジヒドロキシジフ
ェニル)ノナン(R1は炭素数1のアルキル基、R2は炭
素数7の直鎖状アルキル基)、1,1−(4,4’−ジ
ヒドロキシジフェニル)ノナン(R1は炭素数1のアル
キル基、R2は炭素数8の直鎖状アルキル基)、2,2
−(4,4’−ジヒドロキシジフェニル)デカン(R1
は炭素数1のアルキル基、R2は炭素数8の直鎖状アル
キル基)、1,1−(4,4’−ジヒドロキシジフェニ
ル)デカン(R1は水素原子、R2は炭素数9の直鎖状ア
ルキル基)、2,2−(4,4’−ジヒドロキシジフェ
ニル)ウンデカン(R1は炭素数1のアルキル基、R2
炭素数9の直鎖状アルキル基)、1,1−(4,4’−
ジヒドロキシジフェニル)ウンデカン(R1は水素原
子、R2は炭素数10の直鎖状アルキル基)、2,2−
(4,4’−ジヒドロキシジフェニル)ドデカン(R1
は炭素数1のアルキル基、R2は炭素数10の直鎖状ア
ルキル基)、1,1−(4,4’−ジヒドロキシジフェ
ニル)ドデカン(R1は水素原子、R2は炭素数11の直
鎖状アルキル基)、2,2−(4,4’−ジヒドロキシ
ジフェニル)トリデカン(R1は炭素数1のアルキル
基、R2は炭素数11の直鎖状アルキル基)、1,1−
(4,4’−ジヒドロキシジフェニル)トリデカン(R
1は水素原子、R2は炭素数12の直鎖状アルキル基)、
2,2−(4,4’−ジヒドロキシジフェニル)テトラ
デカン(R1は炭素数1のアルキル基、R2は炭素数12
の直鎖状アルキル基)、1,1−(4,4’−ジヒドロ
キシジフェニル)テトラデカン(R1は水素原子、R2
炭素数13の直鎖状アルキル基)、及び2,2−(4,
4’−ジヒドロキシジフェニル)ペンタデカン(R1
炭素数1のアルキル基、R2は炭素数13の直鎖状アル
キル基)が挙げられ、これらは2種以上が混合されてい
てもよい。好ましくは、2,2−(4,4’−ジヒドロ
キシジフェニル)オクタン(R1は炭素数1のアルキル
基、R2は炭素数6の直鎖状アルキル基)、1,1−
(4,4’−ジヒドロキシジフェニル)デカン(R1
水素原子、R2は炭素数9の直鎖状アルキル基)が使用
される。また、前記ポリスルホン樹脂を合成するための
ビス(4−ハロゲン化フェニル)スルホンとしては、ビ
ス(4―クロロフェニル)プロパンが挙げられる。さら
に、ビスフェノール化合物のハロゲン化物とビス(4−
ヒドロキシフェニル)スルホンから合成することもでき
る。
The above-mentioned polysulfone resin is, for example,
It can be synthesized from a bisphenol compound and bis (4-halogenated phenyl) sulfone. As the bisphenol compound, 1,1- (4,4′-dihydroxydiphenyl) -3-methylbutane (in the general formula (I),
1 is a hydrogen atom, R 2 is a branched alkyl group having 4 carbon atoms),
2,2- (4,4'-dihydroxydiphenyl) -4-
Methylpentane (R 1 is an alkyl group having 1 carbon atom, R 2 is a branched alkyl group having 4 carbon atoms), 1,1- (4,4′-
Dihydroxydiphenyl) -3-ethylhexane (R 1
Is a hydrogen atom, R 2 is a branched alkyl group having 7 carbon atoms),
3,3- (4,4′-dihydroxydiphenyl) pentane (R 1 is an alkyl group having 2 carbon atoms, R 2 is an alkyl group having 2 carbon atoms), 2,2- (4,4′-dihydroxydiphenyl) heptane (R 1 is an alkyl group having 1 carbon atom, R 2 is a linear alkyl group having 5 carbon atoms), 1,1- (4,4′-dihydroxydiphenyl) heptane (R 1 is a hydrogen atom, R 2 is a carbon atom A linear alkyl group of the formula 6), 2,2- (4,4′-
Dihydroxydiphenyl) octane (R 1 is an alkyl group having 1 carbon atom, R 2 is a linear alkyl group having 6 carbon atoms),
1,1- (4,4′-dihydroxydiphenyl) octane (R 1 is an alkyl group having 1 carbon atom, R 2 is a linear alkyl group having 6 carbon atoms), 2,2 (4,4′-dihydroxydiphenyl) ) Nonane (R 1 is an alkyl group having 1 carbon atom, R 2 is a linear alkyl group having 7 carbon atoms), 1,1- (4,4′-dihydroxydiphenyl) nonane (R 1 is an alkyl group having 1 carbon atom) R 2 is a linear alkyl group having 8 carbon atoms), 2,2
-(4,4'-dihydroxydiphenyl) decane (R 1
Is an alkyl group having 1 carbon atom, R 2 is a linear alkyl group having 8 carbon atoms), 1,1- (4,4′-dihydroxydiphenyl) decane (R 1 is a hydrogen atom, and R 2 is Linear alkyl group), 2,2- (4,4′-dihydroxydiphenyl) undecane (R 1 is an alkyl group having 1 carbon atom, R 2 is a linear alkyl group having 9 carbon atoms), 1,1- (4,4'-
Dihydroxydiphenyl) undecane (R 1 is a hydrogen atom, R 2 is a linear alkyl group having 10 carbon atoms), 2,2-
(4,4′-dihydroxydiphenyl) dodecane (R 1
Is an alkyl group having 1 carbon atom, R 2 is a linear alkyl group having 10 carbon atoms), 1,1- (4,4′-dihydroxydiphenyl) dodecane (R 1 is a hydrogen atom, and R 2 is an alkyl group having 11 carbon atoms). A linear alkyl group), 2,2- (4,4′-dihydroxydiphenyl) tridecane (R 1 is an alkyl group having 1 carbon atom, R 2 is a linear alkyl group having 11 carbon atoms), 1,1-
(4,4'-dihydroxydiphenyl) tridecane (R
1 is a hydrogen atom, R 2 is a linear alkyl group having 12 carbon atoms),
2,2- (4,4′-dihydroxydiphenyl) tetradecane (R 1 is an alkyl group having 1 carbon atom, R 2 is an alkyl group having 12 carbon atoms)
Linear alkyl group), 1,1- (4,4′-dihydroxydiphenyl) tetradecane (R 1 is a hydrogen atom, R 2 is a linear alkyl group having 13 carbon atoms), and 2,2- (4 ,
4′-dihydroxydiphenyl) pentadecane (R 1 is an alkyl group having 1 carbon atom, R 2 is a linear alkyl group having 13 carbon atoms), and two or more of these may be mixed. Preferably, 2,2- (4,4′-dihydroxydiphenyl) octane (R 1 is an alkyl group having 1 carbon atom, R 2 is a linear alkyl group having 6 carbon atoms), 1,1-
(4,4′-dihydroxydiphenyl) decane (R 1 is a hydrogen atom, R 2 is a linear alkyl group having 9 carbon atoms) is used. As the bis (4-halogenated phenyl) sulfone for synthesizing the polysulfone resin, bis (4-chlorophenyl) propane is exemplified. Furthermore, a bisphenol compound halide and bis (4-
It can also be synthesized from (hydroxyphenyl) sulfone.

【0010】前記ポリスルホン樹脂は、溶液重合法等の
通常の方法で合成することができる。例えば、溶液重合
法の場合、生成するポリスルホン樹脂が溶解する溶媒、
例えば、ジメチルアセトアミド等にビスフェノール化合
物及びビス(4−ハロゲン化フェニル)を溶解し、水酸
化ナトリウム、炭酸カリウム等の塩基存在下に130℃
〜180℃で10〜12時間反応させて目的のポリスル
ホン樹脂を合成する。
The polysulfone resin can be synthesized by a usual method such as a solution polymerization method. For example, in the case of the solution polymerization method, a solvent in which the produced polysulfone resin is dissolved,
For example, a bisphenol compound and bis (4-halogenated phenyl) are dissolved in dimethylacetamide or the like, and the solution is dissolved at 130 ° C. in the presence of a base such as sodium hydroxide or potassium carbonate.
The reaction is carried out at -180 ° C for 10-12 hours to synthesize the desired polysulfone resin.

【0011】本発明のポリスルホン樹脂は、接着剤に強
靱性を付与する目的で、テトラヒドロフランを溶媒とし
たゲルパーミテーションクロマトグラフィーで測定した
際の分子量が、ポリスチレン換算で2万以上30万以下
が好ましい。2万以下では硬化物が脆くなくおそれがあ
り、30万以上では樹脂組成物の流動性が低下するた
め、電子部材の接続端子と回路基板の接続端子の接続を
行った際、電子部品と回路基板間の接着剤樹脂による充
填が困難になる。
The polysulfone resin of the present invention preferably has a molecular weight, as measured by gel permeation chromatography using tetrahydrofuran as a solvent, of 20,000 to 300,000 in terms of polystyrene for the purpose of imparting toughness to the adhesive. . If it is less than 20,000, the cured product may not be brittle, and if it is more than 300,000, the fluidity of the resin composition decreases. Therefore, when the connection terminal of the electronic member is connected to the connection terminal of the circuit board, the electronic component and the circuit are connected. Filling with an adhesive resin between the substrates becomes difficult.

【0012】本発明に用いられる三次元架橋性樹脂は、
エポキシ樹脂、シアネートエステル樹脂、イミド系樹
脂、アクリレート・メタクリレート・マレイミド化合物
等が挙げられ、硬化剤とともに用いられる。エポキシ樹
脂の場合、硬化剤として公知のイミダゾール系、ヒドラ
ジド系、三フッ化ホウ素−アミン錯体、スルホニウム
塩、アミンイミド、ポリアミンの塩、ジシアンジアミド
等の硬化剤またはその混合物が用いられ、エポキシ樹脂
としては、ビスフェノールA,F,S,AD等から誘導
されるビスフェノール型エポキシ樹脂、フェノールノボ
ラック、クレゾールノボラックから誘導されるエポキシ
ノボラック型樹脂、ナフタレン骨格を有するナフタレン
系エポキシ樹脂、グリシジルアミン型エポキシ樹脂、グ
リシジルエーテル型エポキシ樹脂、ビフェニル・脂環式
等の1分子内に2個以上のグリシジル基を有する各種の
エポキシ化合物、その他公知のエポキシ樹脂が単独ある
いは混合して用いられ、これらのエポキシ樹脂には不純
物イオンである、アルカリ金属イオン、アルカリ土類金
属イオン、ハロゲンイオン、特に塩素イオンや加水分解
性塩素等を300ppm以下に低減した高純度品を用い
ることがエレクトロマイグレーション防止や配線金属の
腐食防止のために好ましい。
The three-dimensional crosslinkable resin used in the present invention comprises:
Epoxy resins, cyanate ester resins, imide resins, acrylate / methacrylate / maleimide compounds, and the like are used together with a curing agent. In the case of an epoxy resin, a known imidazole-based, hydrazide-based, boron trifluoride-amine complex, sulfonium salt, amine imide, polyamine salt, dicyandiamide, or other curing agent or a mixture thereof is used as a curing agent. Bisphenol type epoxy resin derived from bisphenol A, F, S, AD, etc., phenol novolak, epoxy novolak type resin derived from cresol novolak, naphthalene type epoxy resin having naphthalene skeleton, glycidylamine type epoxy resin, glycidyl ether type Epoxy resins, various epoxy compounds having two or more glycidyl groups in one molecule, such as biphenyl and alicyclic, and other known epoxy resins are used alone or as a mixture. It is preferable to use a high-purity product in which alkali metal ions, alkaline earth metal ions, halogen ions, particularly chlorine ions and hydrolyzable chlorine, etc. are reduced to 300 ppm or less for preventing electromigration and corrosion of wiring metal. .

【0013】シアネートエステル樹脂としては、ビス
(4−シアナトフェニル)エタン、2,2−ビス(4−
シアナトフェニル)プロパン、2,2−ビス(3,5−
ジメチル−4−シアナトフェニル)メタン、2,2−ビ
ス(4−シアナトフェニル)−1,1,1,3,3,3
−ヘキサフルオロプロパン、α,α’−ビス(4−シア
ナトフェニル)−m−ジイソプロピルベンゼン、フェノ
ール付加ジシクロペンタジエン重合体のシアネートエス
テル化物等が挙げられ、そのプレポリマーなどが単独若
しくは混合して用いられる。その中でも、2,2−ビス
(4−シアナトフェニル)プロパン及び2,2−ビス
(3,5−ジメチル−4−シアナトフェニル)等が硬化
物の誘電特性が特に良好であるため好ましい。シアネー
トエステル樹脂の硬化剤として金属系反応触媒類が用い
られ、マンガン、鉄、コバルト、ニッケル、銅、亜鉛等
の金属触媒類が用いられ、具体的には、2−エチルヘキ
サン酸塩やナフテン酸塩等の有機金属塩化合物及びアセ
チルアセトン錯体などの有機金属錯体として用いられ
る。
As the cyanate ester resin, bis (4-cyanatophenyl) ethane, 2,2-bis (4-
Cyanatophenyl) propane, 2,2-bis (3,5-
Dimethyl-4-cyanatophenyl) methane, 2,2-bis (4-cyanatophenyl) -1,1,1,3,3,3
-Hexafluoropropane, α, α'-bis (4-cyanatophenyl) -m-diisopropylbenzene, a cyanate esterified product of a phenol-added dicyclopentadiene polymer, or the like, or a prepolymer thereof alone or as a mixture. Used. Among them, 2,2-bis (4-cyanatophenyl) propane, 2,2-bis (3,5-dimethyl-4-cyanatophenyl) and the like are preferable because the cured product has particularly good dielectric properties. Metal-based reaction catalysts are used as a curing agent for the cyanate ester resin, and metal catalysts such as manganese, iron, cobalt, nickel, copper, and zinc are used. Specifically, 2-ethylhexanoate and naphthenic acid are used. It is used as an organic metal salt compound such as a salt and an organic metal complex such as an acetylacetone complex.

【0014】金属系反応触媒の配合量は、シアネートエ
ステル類化合物に対して1〜3000ppmとすること
が好ましく、1〜1000ppmとすることがより好ま
しく、2〜300ppmとすることがさらに好ましい。
金属系反応触媒の配合量が1ppm未満では反応性及び
硬化性が不十分となる傾向があり、3000ppmを超
えると反応の制御が難しくなったり、硬化が速くなりす
ぎる傾向があるが制限するものではない。
The compounding amount of the metal-based reaction catalyst is preferably from 1 to 3000 ppm, more preferably from 1 to 1000 ppm, still more preferably from 2 to 300 ppm, based on the cyanate ester compound.
If the blending amount of the metal-based reaction catalyst is less than 1 ppm, the reactivity and curability tend to be insufficient, and if it exceeds 3000 ppm, the control of the reaction becomes difficult, or the curing tends to be too fast. Absent.

【0015】本発明で用いる三次元架橋性樹脂のアクリ
レート・メタクリレート・マレイミド化合物等のラジカ
ル重合性物質としては、ラジカルにより重合する官能基
を有する物質である。ラジカル重合性物質はモノマー、
オリゴマーいずれの状態でも用いることが可能であり、
モノマーとオリゴマーを併用することも可能である。ア
クリレート(メタクリレート)の具体例てしては、メチ
ルアクリレート、エチルアクリレート、イソプロピルア
クリレート、イソブチルアクリレート、エチレングリコ
ールジアクリレート、ジエチレングリコールジアクリレ
ート、トリメチロールプロパントリアクリレート、テト
ラメチロールメタンテトラアクリレート、2−ヒドロキ
シ−1,3−ジアクリロキシプロパン、2,2−ビス
〔4−(アクリロキシメトキシ)フェニル〕プロパン、
2,2−ビス〔4−(アクリロキシポリエトキシ)フェ
ニル〕プロパン、ジシクロペンテニルアクリレート、ト
リシクロデカニルアクリレート、トリス(アクリロイロ
キシエチル)イソシアヌレート等が例示される。これら
は単独または併用して用いることができ、必要によって
は、ハイドロキノン、メチルエーテルハイドロキノン類
などの重合禁止剤を適宜用いてもよい。また、ジシクロ
ペンテニル基および/またはトリシクロデカニル基およ
び/またはトリアジン環を有する場合は、耐熱性が向上
するので好ましい。
The radical polymerizable substance such as an acrylate / methacrylate / maleimide compound of the three-dimensional crosslinkable resin used in the present invention is a substance having a functional group which is polymerized by a radical. Radical polymerizable substances are monomers,
It is possible to use any state of the oligomer,
It is also possible to use monomers and oligomers in combination. Specific examples of acrylates (methacrylates) include methyl acrylate, ethyl acrylate, isopropyl acrylate, isobutyl acrylate, ethylene glycol diacrylate, diethylene glycol diacrylate, trimethylolpropane triacrylate, tetramethylol methane tetraacrylate, and 2-hydroxy-1. , 3-Diacryloxypropane, 2,2-bis [4- (acryloxymethoxy) phenyl] propane,
Examples thereof include 2,2-bis [4- (acryloxypolyethoxy) phenyl] propane, dicyclopentenyl acrylate, tricyclodecanyl acrylate, and tris (acryloyloxyethyl) isocyanurate. These can be used alone or in combination. If necessary, a polymerization inhibitor such as hydroquinone or methyl ether hydroquinone may be appropriately used. In addition, it is preferable to have a dicyclopentenyl group and / or a tricyclodecanyl group and / or a triazine ring, since heat resistance is improved.

【0016】マレイミド化合物としては、分子中にマレ
イミド基を少なくとも2個以上含有するもので、例え
ば、1−メチル−2,4−ビスマレイミドベンゼン、
N,N’−m−フェニレンビスマレイミド、N,N’−
p−フェニレンビスマレイミド、N,N’−m−トルイ
レンビスマレイミド、N,N’−4,4−ビフェニレン
ビスマレイミド、N,N’−4,4−(3,3’−ジメ
チルビフェニレン)ビスマレイミド、N,N’−4,4
−(3,3’−ジメチルジフェニルメタン)ビスマレイ
ミド、N,N’−4,4−(3,3’−ジエチルジフェ
ニルメタン)ビスマレイミド、N,N’−4,4−ジフ
ェニルメタンビスマレイミド、N,N’−4,4−ジフ
ェニルプロパンビスマレイミド、N,N’−4,4−ジ
フェニルエーテルビスマレイミド、N,N’−3,3’
−ジフェニルスルホンビスマレイミド、2,2−ビス
(4−(4−マレイミドフェノキシ)フェニル)プロパ
ン、2,2−ビス(3−s−ブチル−4,8−(4−マ
レイミドフェノキシ)フェニル)プロパン、1,1−ビ
ス(4−(4−マレイミドフェノキシ)フェニル)デカ
ン、4,4’−シクロヘキシリデン−ビス(1−(4−
マレイミドフェノキシ)−2−シクロヘキシルベンゼ
ン、2,2−ビス(4−(4−マレイミドフェノキシ)
フェニル)ヘキサフルオロプロパンなどを挙げることが
できる。これらは単独でもまた組み合わせても使用でき
る。
The maleimide compound is a compound containing at least two maleimide groups in the molecule, for example, 1-methyl-2,4-bismaleimidebenzene,
N, N'-m-phenylenebismaleimide, N, N'-
p-phenylenebismaleimide, N, N'-m-toluylenebismaleimide, N, N'-4,4-biphenylenebismaleimide, N, N'-4,4- (3,3'-dimethylbiphenylene) bis Maleimide, N, N'-4,4
-(3,3'-dimethyldiphenylmethane) bismaleimide, N, N'-4,4- (3,3'-diethyldiphenylmethane) bismaleimide, N, N'-4,4-diphenylmethanebismaleimide, N, N '-4,4-diphenylpropanebismaleimide, N, N'-4,4-diphenyletherbismaleimide, N, N'-3,3'
-Diphenylsulfonebismaleimide, 2,2-bis (4- (4-maleimidophenoxy) phenyl) propane, 2,2-bis (3-s-butyl-4,8- (4-maleimidophenoxy) phenyl) propane, 1,1-bis (4- (4-maleimidophenoxy) phenyl) decane, 4,4′-cyclohexylidene-bis (1- (4-
(Maleimidophenoxy) -2-cyclohexylbenzene, 2,2-bis (4- (4-maleimidophenoxy)
Phenyl) hexafluoropropane and the like. These can be used alone or in combination.

【0017】アクリレート・メタクリレート・マレイミ
ド化合物等のラジカル重合性物質の硬化剤として、熱ま
たは光によって遊離ラジカルを発生する硬化剤の混合物
が使用される。具体的には、パーオキシエステル、ジア
ルキルパーオキサイド、ハイドロパーオキサイド、シリ
ルパーオキサイドから選定され、高反応性が得られるパ
ーオキシエステルから選定されることがより好ましい。
上記硬化剤は、適宜混合して用いることができる。
As a curing agent for a radical polymerizable substance such as an acrylate / methacrylate / maleimide compound, a mixture of a curing agent that generates free radicals by heat or light is used. Specifically, it is selected from peroxyesters, dialkyl peroxides, hydroperoxides, and silyl peroxides, and is more preferably selected from peroxyesters having high reactivity.
The above-mentioned curing agents can be appropriately mixed and used.

【0018】パーオキシエステルとしては、クミルパー
オキシネオデカノエート、1,1,3,3,−テトラメ
チルブチルパーオキシネオデカノエート、1−シクロヘ
キシル−1−メチルエチルパーオキシノエデカノエー
ト、t−ヘキシルパーオキシネオデカノエート、t−ブ
チルパーオキシピバレート、1,1,3,3,−テトラ
メチルブチルパーオキシ−2−エチルヘキサノネート、
2,5−ジメチル−2,5−ジ(2−エチルヘキサノイ
ルパーオキシ)ヘキサン、1−シクロヘキシル−1−メ
チルエチルパーオキシ−2−エチルヘキサノネート、t
−ヘキシルパーオキシ−2−エチルヘキサノネート、t
−ブチルパーオキシ−2−エチルヘキサノネート、t−
ブチルパーオキシイソブチレート、1,1−ビス(t−
ブチルパーオキシ)シクロヘキサン、t−ヘキシルパー
オキシイソプロピルモノカーボネート、t−ブチルパー
オキシ−3,5,5−トリメチルヘキサノネート、t−
ブチルパーオキシラウレート、2,5−ジメチル−2,
5−ジ(m−トルオイルパーオキシ)ヘキサン、t−ブ
チルパーオキシイソプロピルモノカーボネート、t−ブ
チルパーオキシ−2−エチルヘキシルモノカーボネー
ト、t−ヘキシルパーオキシベンゾエート、t−ブチル
パーオキシアセテート等が使用できる。ジアルキルパー
オキサイドとしては、α,α’ビス(t−ブチルパーオ
キシ)ジイソプロピルベンゼン、ジクミルパーオキサイ
ド、2,5−ジメチル−2,5−ジ(t−ブチルパーオ
キシ)ヘキサン、t−ブチルクミルパーオキサイド等が
使用できる。
Examples of the peroxyester include cumyl peroxy neodecanoate, 1,1,3,3-tetramethylbutyl peroxy neodecanoate, 1-cyclohexyl-1-methylethyl peroxynodecanoate. , T-hexyl peroxy neodecanoate, t-butyl peroxypivalate, 1,1,3,3-tetramethylbutyl peroxy-2-ethylhexanate,
2,5-dimethyl-2,5-di (2-ethylhexanoylperoxy) hexane, 1-cyclohexyl-1-methylethylperoxy-2-ethylhexanate, t
-Hexylperoxy-2-ethylhexanonate, t
-Butylperoxy-2-ethylhexanonate, t-
Butyl peroxyisobutyrate, 1,1-bis (t-
Butylperoxy) cyclohexane, t-hexylperoxyisopropyl monocarbonate, t-butylperoxy-3,5,5-trimethylhexanonate, t-
Butyl peroxylaurate, 2,5-dimethyl-2,
5-Di (m-toluoylperoxy) hexane, t-butylperoxyisopropyl monocarbonate, t-butylperoxy-2-ethylhexyl monocarbonate, t-hexylperoxybenzoate, t-butylperoxyacetate, etc. are used. it can. Examples of the dialkyl peroxide include α, α′bis (t-butylperoxy) diisopropylbenzene, dicumyl peroxide, 2,5-dimethyl-2,5-di (t-butylperoxy) hexane, t-butylcum Luper oxide or the like can be used.

【0019】ハイドロパーオキサイドとしては、ジイソ
プロピルベンゼンハイドロパーオキサイド、クメンハイ
ドロパーオキサイド等が使用できるジアシルパーオキサ
イドとしては、イソブチルパーオキサイド、2,4−ジ
クロロベンゾイルパーオキサイド、3,5,5−トリメ
チルヘキサノイルパーオキサイド、オクタノイルパーオ
キサイド、ラウロイルパーオキサイド、ステアロイルパ
ーオキサイド、スクシニックパーオキサイド、ベンゾイ
ルパーオキシトルエン、ベンゾイルパーオキサイド等が
使用できる。パーオキシジカーボネートとしては、ジー
nープロピルパーオキシジカーボネート、ジイソプロピ
ルパーオキシジカーボネート、ビス(4−t−ブチルシ
クロヘキシル)パーオキシジカーボネト、ジ−2−エト
キシメトキシパーオキシジカーボネート、ジ(2−エチ
ルヘキシルパーオキシ)ジカーボネート、ジメトキシブ
チルパーオキシジカーボネート、ジ(3−メチル−3−
メトキシブチルパーオキシ)ジカーボネート等が使用で
きる。
Examples of the hydroperoxide include diisopropylbenzene hydroperoxide and cumene hydroperoxide. Examples of the diacyl peroxide include isobutyl peroxide, 2,4-dichlorobenzoyl peroxide, and 3,5,5-trimethylhexa. Noyl peroxide, octanoyl peroxide, lauroyl peroxide, stearoyl peroxide, succinic peroxide, benzoylperoxytoluene, benzoyl peroxide and the like can be used. Examples of peroxydicarbonate include di-n-propylperoxydicarbonate, diisopropylperoxydicarbonate, bis (4-t-butylcyclohexyl) peroxydicarbonate, di-2-ethoxymethoxyperoxydicarbonate, di ( 2-ethylhexylperoxy) dicarbonate, dimethoxybutylperoxydicarbonate, di (3-methyl-3-
(Methoxybutylperoxy) dicarbonate and the like can be used.

【0020】パーオキシケタールとしては、1,1−ビ
ス(t−ヘキシルパーオキシ)−3,3,5−トリメチ
ルシクロヘキサン、1,1−ビス(t−ヘキシルパーオ
キシ)シクロヘキサン、1,1−ビス(t−ブチルパー
オキシ)−3,3,5−トリメチルシクロヘキサン、
1、1−(t−ブチルパーオキシ)シクロドデカン、
2,2−ビス(t−ブチルパーオキシ)デカン等が使用
できる。シリルパーオキサイドとしてはt−ブチルトリ
メチルシリルパーオキサイド、ビス(t−ブチル)ジメ
チルシリルパーオキサイド、t−ブチルトリビニルシリ
ルパーオキサイド、ビス(t−ブチル)ジビニルシリル
パーオキサイド、トリス(t−ブチル)ビニルシリルパ
ーオキサイド、t−ブチルトリアリルシリルパーオキサ
イド、ビス(t−ブチル)ジアリルシリルパーオキサイ
ド、トリス(t−ブチル)アリルシリルパーオキサイド
等が使用できる。
Examples of peroxyketals include 1,1-bis (t-hexylperoxy) -3,3,5-trimethylcyclohexane, 1,1-bis (t-hexylperoxy) cyclohexane, 1,1-bis (T-butylperoxy) -3,3,5-trimethylcyclohexane,
1,1- (t-butylperoxy) cyclododecane,
2,2-bis (t-butylperoxy) decane and the like can be used. Examples of the silyl peroxide include t-butyltrimethylsilyl peroxide, bis (t-butyl) dimethylsilyl peroxide, t-butyltrivinylsilyl peroxide, bis (t-butyl) divinylsilyl peroxide, and tris (t-butyl) vinyl. Silyl peroxide, t-butyl triallyl silyl peroxide, bis (t-butyl) diallylsilyl peroxide, tris (t-butyl) allylsilyl peroxide and the like can be used.

【0021】これらの遊離ラジカルを発生する硬化剤は
単独または混合して使用することができ、分解促進剤、
抑制剤等を混合して用いてもよい。また、前記した硬化
剤をポリウレタン系、ポリエステル系の高分子物質等で
被覆してマイクロカプセル化したものは、可使時間が延
長されるために好ましい。
These hardeners generating free radicals can be used alone or as a mixture.
Inhibitors and the like may be mixed and used. A microcapsule obtained by coating the above-mentioned curing agent with a polyurethane-based or polyester-based polymer substance or the like is preferable because the pot life is extended.

【0022】本発明の回路板に用いる接着剤は、前記ポ
リスルホン樹脂と前記三次元架橋性樹脂の配合比が重量
部で1:99〜99:1で使用することができ、好まし
くは10:90〜90:10である。本発明の回路板に
用いる接着剤には硬化物の弾性率を低減する目的でアク
リルゴム等のゴム成分を配合することもできる。また、
本発明の回路板に用いる接着剤にはフィルム形成性をよ
り容易にするために、フェノキシ樹脂等の熱可塑性樹脂
を配合することもできる。特に、フェノキシ樹脂は、エ
ポキシ系樹脂をベース樹脂とした場合、エポキシ樹脂と
構造が類似しているため、エポキシ樹脂との相溶性、接
着性に優れる等の特徴を有するので好ましい。
The adhesive used for the circuit board of the present invention can be used in a mixing ratio of the polysulfone resin and the three-dimensional crosslinkable resin of 1:99 to 99: 1 by weight, preferably 10:90. 9090: 10. The adhesive used for the circuit board of the present invention may contain a rubber component such as acrylic rubber for the purpose of reducing the elastic modulus of the cured product. Also,
The adhesive used for the circuit board of the present invention may be blended with a thermoplastic resin such as a phenoxy resin in order to make the film formability easier. In particular, a phenoxy resin is preferable when an epoxy-based resin is used as a base resin, because the phenoxy resin has features such as excellent compatibility with the epoxy resin and excellent adhesiveness since the structure is similar to the epoxy resin.

【0023】接着剤をフィルム状に形成するには、三次
元架橋性樹脂とその硬化剤、熱可塑性樹脂を含む接着剤
を有機溶剤に溶解あるいは分散させて、ワニス化して、
剥離性基材上に塗布し、硬化剤の活性温度以下で溶剤を
除去することにより行われる。特に、三次元架橋性樹脂
としてエポキシ樹脂と潜在性硬化剤、熱可塑性樹脂とし
て前記一般式(1)で示されるポリスルホン樹脂を含む
接着剤の組成物を有機溶剤に溶解あるいは分散により液
状化して、剥離性基材上に塗布し、硬化剤の活性温度以
下で溶剤を除去することにより行われる。この時用いる
溶剤は、芳香族炭化水素系溶剤と酸素原子含有有機溶剤
の混合溶剤が接着剤組成物の溶解性を向上させるため好
ましい。
In order to form the adhesive in the form of a film, the adhesive containing the three-dimensionally crosslinkable resin, the curing agent thereof, and the thermoplastic resin is dissolved or dispersed in an organic solvent to form a varnish.
It is performed by applying the composition on a peelable substrate and removing the solvent at a temperature lower than the activation temperature of the curing agent. In particular, an adhesive composition containing an epoxy resin and a latent curing agent as a three-dimensional crosslinkable resin and a polysulfone resin represented by the general formula (1) as a thermoplastic resin is liquefied by dissolution or dispersion in an organic solvent, It is performed by applying the composition on a peelable substrate and removing the solvent at a temperature lower than the activation temperature of the curing agent. As the solvent used at this time, a mixed solvent of an aromatic hydrocarbon solvent and an oxygen atom-containing organic solvent is preferable because the solubility of the adhesive composition is improved.

【0024】本発明の回路板に用いる接着剤には、チッ
プのバンプや基板電極等の高さばらつきを吸収するため
に、異方導電性を積極的に付与する目的で導電粒子を分
散することもできる。本発明において導電粒子は、例え
ばAu、Ni、Ag、Cuやはんだ等の金属の粒子また
はこれらの金属表面に金やパラジウムなどの薄膜をめっ
きや蒸着によって形成した金属粒子であり、また、ポリ
スチレン等の高分子の球状の核材にNi、Cu、Au、
はんだ等の導電層を設けた導電粒子を用いることができ
る。粒径は基板の電極の最小の間隔よりも小さいことが
必要で、電極の高さばらつきがある場合、高さばらつき
よりも大きいことが好ましく、かつ無機充填材の平均粒
径より大きいことが好ましく、1〜10μmが好まし
い。また、接着剤に分散される導電粒子の量は、0.1
〜20体積%であり、好ましくは0.2〜15体積%で
ある。
In the adhesive used for the circuit board of the present invention, conductive particles are dispersed for the purpose of positively imparting anisotropic conductivity in order to absorb variations in height of chip bumps and substrate electrodes. Can also. In the present invention, the conductive particles are, for example, metal particles of Au, Ni, Ag, Cu, solder, or the like, or metal particles formed by plating or depositing a thin film of gold, palladium, or the like on the surface of these metals, and polystyrene. Ni, Cu, Au,
Conductive particles provided with a conductive layer such as solder can be used. It is necessary that the particle size is smaller than the minimum distance between the electrodes of the substrate, and if there is a height variation of the electrodes, it is preferably larger than the height variation, and preferably larger than the average particle size of the inorganic filler. 1 to 10 μm is preferred. The amount of the conductive particles dispersed in the adhesive is 0.1
-20% by volume, preferably 0.2-15% by volume.

【0025】本発明の回路板に用いる接着剤は、前記し
たように、各成分を有機溶剤に溶解あるいは分散させ、
任意の方法で撹拌、混合することによって容易に製造す
ることができ、さらに、剥離性基材上に塗布し、硬化剤
の活性温度以下で溶剤を除去することによってフィルム
形成を行うことができる。その際に、上記の配合組成物
以外にも、通常のエポキシ樹脂系組成物の調整で用いら
れる添加剤を加えて差し支えない。 フィルム状の接着
剤の膜厚は、特に制限するものではないが、第一および
第2の回路部材間のギャップに比べ、厚いほうが好まし
く、一般にはギャップに対して5μm以上厚い膜厚が望
ましい。
As described above, the adhesive used for the circuit board of the present invention is obtained by dissolving or dispersing each component in an organic solvent.
It can be easily produced by stirring and mixing by an arbitrary method, and can be further applied to a peelable substrate, and a film can be formed by removing the solvent at a temperature lower than the activation temperature of the curing agent. At this time, in addition to the above-mentioned composition, additives used for preparing ordinary epoxy resin compositions may be added. The thickness of the film-like adhesive is not particularly limited, but is preferably larger than the gap between the first and second circuit members, and is generally preferably 5 μm or more larger than the gap.

【0026】[0026]

【実施例】以下に、本発明を実施例に基づいて具体的に
説明する。 (実施例1)一般式(1)で示されるポリスルホン樹脂
を以下のようにして合成した。1,1−(4,4’−ジヒ
ドロキシジフェニル)ウンデカン29.8gとビス(4
−クロロフェニル)スルホン57.4gと炭酸カリウム
34.5gをジメチルアセトアミド500ml中で窒素
雰囲気下、撹拌しながらオイルバス温度180℃で還流
した。12時間撹拌した後、アセトン3000ml中に
滴下し、生成した沈殿物をろ取した。沈殿物をテトラヒ
ドロフランに溶解し、不溶物をろ別した後、ろ液をメタ
ノール3000mlに滴下した。生成した沈殿物をろ取
してポリスルホン樹脂83gを得た。GPCでの測定の
結果、ポリスチレン換算でMn=46341、Mw=3
00000、Mw/Mn=6.58であった。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be specifically described below based on embodiments. Example 1 A polysulfone resin represented by the general formula (1) was synthesized as follows. 29.8 g of 1,1- (4,4′-dihydroxydiphenyl) undecane and bis (4
-(Chlorophenyl) sulfone (57.4 g) and potassium carbonate (34.5 g) were refluxed in 500 ml of dimethylacetamide at an oil bath temperature of 180 ° C with stirring under a nitrogen atmosphere. After stirring for 12 hours, the mixture was dropped into 3000 ml of acetone, and the formed precipitate was collected by filtration. The precipitate was dissolved in tetrahydrofuran, the insolubles were filtered off, and the filtrate was added dropwise to 3000 ml of methanol. The resulting precipitate was collected by filtration to obtain 83 g of a polysulfone resin. As a result of measurement by GPC, Mn = 46341 and Mw = 3 in terms of polystyrene.
00000, Mw / Mn = 6.58.

【0027】生成したポリスルホン樹脂をトルエンに溶
解させ、シャーレに塗布し、トルエンを揮散させること
によってキャストフィルムを作製した。キャストフィル
ムを2cm角に切断し、減圧下に100℃で乾燥させた
後、重量を測定し、さらに、純水に24時間浸漬後、重
量を測定して重量増加を算出することによって、ポリス
ルホン樹脂の吸水率を測定した。吸水率測定の結果、生
成したポリスルホン樹脂の吸水率は0.12重量%であ
った。また、キャストフィルムを動的粘弾性測定装置を
用いて弾性率を測定(昇温速度:5℃/分、10Hz)
し、tanδのピーク値によってTgを測定した結果、1
10℃であった。
The resulting polysulfone resin was dissolved in toluene, applied to a petri dish, and the toluene was volatilized to prepare a cast film. The cast film was cut into 2 cm squares, dried at 100 ° C. under reduced pressure, weighed, immersed in pure water for 24 hours, and then weighed to calculate the weight increase. Was measured for water absorption. As a result of measuring the water absorption, the water absorption of the produced polysulfone resin was 0.12% by weight. Further, the elastic modulus of the cast film was measured using a dynamic viscoelasticity measuring device (heating rate: 5 ° C./min, 10 Hz).
Then, as a result of measuring Tg by the peak value of tan δ, 1
It was 10 ° C.

【0028】生成したポリスルホン樹脂10gをトルエ
ン30gに溶解し、25重量%溶液を得た。次いで、市
販のマイクロカプセル型潜在性硬化剤を含有する液状エ
ポキシ樹脂(ビスフェノールF型エポキシ樹脂、イミダ
ゾール系硬化剤をビスフェノールF型エポキシ樹脂でカ
プセル化、エポキシ当量185)18.5gをこの溶液
に加え、撹拌し、さらにポリスチレン系核体(直径:5
μm)の表面に、厚み0.2μmのニッケル層を設け、
このニッケル層の外側に厚み0.04μmのAu層を形
成した導電粒子を3容量%分散してフィルム塗工用ワニ
ス溶液を得た。この溶液を剥離性基材としてセパレータ
(シリコーン処理したポリエチレンテレフタレートフィ
ルム、厚み40μm)にロールコータで塗布し、100
℃、10分乾燥し厚み40μmの接着フィルムを作製し
た。接着フィルムを150℃で3時間硬化させ、硬化フ
ィルムを動的粘弾性測定装置を用いて弾性率を測定(昇
温速度5℃/分、10Hz)し、tanδのピーク値によ
ってTgを測定した結果、Tgは157℃であった。
10 g of the produced polysulfone resin was dissolved in 30 g of toluene to obtain a 25% by weight solution. Next, 18.5 g of a commercially available liquid epoxy resin containing a microcapsule-type latent curing agent (bisphenol F-type epoxy resin, imidazole-based curing agent encapsulated in bisphenol F-type epoxy resin, epoxy equivalent: 185) was added to this solution. , Agitated, and polystyrene core (diameter: 5
μm), a 0.2 μm thick nickel layer is provided on the surface of
Conductive particles having a 0.04 μm thick Au layer formed outside the nickel layer were dispersed at 3% by volume to obtain a varnish solution for film coating. This solution was applied to a separator (silicone-treated polyethylene terephthalate film, thickness 40 μm) with a roll coater as a peelable substrate.
C. for 10 minutes to produce an adhesive film having a thickness of 40 .mu.m. The adhesive film was cured at 150 ° C. for 3 hours, and the elasticity of the cured film was measured using a dynamic viscoelasticity measuring device (heating rate 5 ° C./min, 10 Hz), and Tg was measured by the peak value of tan δ. , Tg was 157 ° C.

【0029】作製した接着フィルムを用いて、金バンプ
(面積:80×80μm、スペース30μm、高さ:1
5μm、バンプ数288)付きチップ(10×10m
m、厚み:0.5mm)とNi/AuめっきCu回路プ
リント基板(電極高さ:20μm、厚み:0.8mm)
の接続を以下に示すように行った。セパレータ付接着フ
ィルムを12mm×12mmに形成し、Ni/Auめっ
きCu回路プリント基板にセパレータ反対面の接着フィ
ルムを重ね、60℃、0.5MPaで仮接続工程を行っ
た。仮接続工程後、セパレータを剥離した。チップのバ
ンプとNi/AuめっきCu回路プリント基板の位置合
わせを行った後、180℃、100g/バンプ、20秒
の条件でチップ上方から加熱、加圧を行い、本接続を行
って回路板を得た。
Using the produced adhesive film, gold bumps (area: 80 × 80 μm, space 30 μm, height: 1)
Chip with 5 μm, 288 bumps (10 × 10 m)
m, thickness: 0.5 mm) and Ni / Au plated Cu circuit printed circuit board (electrode height: 20 μm, thickness: 0.8 mm)
Was connected as shown below. An adhesive film with a separator was formed in a size of 12 mm × 12 mm, the adhesive film on the opposite side of the separator was laminated on a Ni / Au plated Cu circuit printed board, and a temporary connection step was performed at 60 ° C. and 0.5 MPa. After the temporary connection step, the separator was peeled off. After aligning the bumps on the chip with the Ni / Au-plated Cu circuit printed circuit board, heating and pressing are performed from above the chip under the conditions of 180 ° C., 100 g / bump, and 20 seconds, and the circuit board is formed by the main connection. Obtained.

【0030】本接続後の回路板の接続抵抗は、1バンプ
あたり最高で5mΩ、平均で1.5mΩ、絶縁抵抗は1
8Ω以上であった。この回路板を同様にして多数個作
製し、−55〜125℃の熱衝撃試験試験を1000サ
イクル行い処理した。またPCT試験(121℃、2気
圧)を200時間、260℃のはんだバス浸漬を10秒
間行い前記と同様接続抵抗を測定した結果、1バンプあ
たり最高で5mΩ、平均で1.5mΩ、絶縁抵抗は10
8Ω以上の値に変化がなく良好な接続信頼性を示した。
The connection resistance of the circuit board after this connection is 5 mΩ at maximum per bump, 1.5 mΩ on average, and the insulation resistance is 1
Was 0 8 Ω or more. A large number of such circuit boards were prepared in the same manner, and subjected to a thermal shock test test at −55 to 125 ° C. for 1000 cycles. In addition, a PCT test (121 ° C., 2 atm) was performed for 200 hours, and a solder bath immersion at 260 ° C. was performed for 10 seconds, and the connection resistance was measured in the same manner as described above. 10
There was no change in the value of 8 Ω or more, indicating good connection reliability.

【0031】(実施例2)実施例1で得られたセパレー
タ付接着フィルムを室温で1カ月保存した後、実施例1
と同様にしてチップと基板を接続し回路板を得た。接続
後の回路板の接続抵抗は、1バンプあたり最高で7.5
mΩ、平均で1.7mΩ、絶縁抵抗は108Ω以上であ
った。この回路板を同様にして多数個作製し、実施例1
と同様に、−55〜125℃の熱衝撃試験試験を100
0サイクル行い処理した。またPCT試験(121℃、
2気圧)を200時間、260℃のはんだバス浸漬を1
0秒間行い前記と同様接続抵抗を測定した結果、1バン
プあたり最高で8mΩ、平均で1.9mΩ、絶縁抵抗は
108Ω以上の値に変化がなく良好な接続信頼性を示し
た。
(Example 2) The adhesive film with a separator obtained in Example 1 was stored at room temperature for one month.
A chip and a substrate were connected in the same manner as in the above to obtain a circuit board. The connection resistance of the circuit board after connection is up to 7.5 per bump
mΩ, the average was 1.7 mΩ, and the insulation resistance was 10 8 Ω or more. A large number of such circuit boards were produced in the same manner, and
Similarly, the thermal shock test at -55 to 125 ° C was performed for 100 times.
Processing was performed for 0 cycles. PCT test (121 ° C,
2 atm) for 200 hours and 260 ° C solder bath immersion for 1 hour.
The connection resistance was measured in the same manner as above for 0 second, and as a result, the maximum was 8 mΩ / bump, the average was 1.9 mΩ, and the insulation resistance was not changed to a value of 10 8 Ω or more, indicating good connection reliability.

【0032】(比較例1)実施例1と同様にビスフェノ
ールS型エポキシ樹脂(エポキシ当量306)10g、
マイクロカプセル型潜在性硬化剤を含有する液状エポキ
シ樹脂18.5g、トルエン30gを加え、ポリスチレ
ン系核体(平均直径:5μm)の表面にAu層を形成し
た導電粒子を3容量%分散して混合したが、ビスフェノ
ールS型エポキシ樹脂が溶解せずフィルム塗工用ワニス
溶液を得ることができなかった。
Comparative Example 1 As in Example 1, 10 g of bisphenol S type epoxy resin (epoxy equivalent 306) was used.
18.5 g of a liquid epoxy resin containing a microcapsule-type latent curing agent and 30 g of toluene were added, and 3% by volume of conductive particles having an Au layer formed on the surface of a polystyrene core (average diameter: 5 μm) were mixed and dispersed. However, the bisphenol S-type epoxy resin did not dissolve and a varnish solution for film coating could not be obtained.

【0033】(比較例2)比較例1と同様にして、ビス
フェノールS型エポキシ樹脂10g、マイクロカプセル
型潜在性硬化剤を含有する液状エポキシ樹脂18.5
g、メチルエチルケトン30gを加え、ポリスチレン系
核体(平均直径:5μm)の表面にAu層を形成した導
電粒子を3容量%分散して混合しフィルム塗工用ワニス
溶液を得た。この溶液を実施例1と同様に、剥離性基材
としてセパレータ(シリコーン処理したポリエチレンテ
レフタレートフィルム、厚み40μm)にロールコータ
で塗布し、100℃、10分乾燥し厚み40μmの接着
フィルムを作製した。接着フィルムを150℃で3時間
硬化させ、硬化フィルムを動的粘弾性測定装置を用いて
弾性率を測定し、tanδのピーク値によってTgを測定
した結果、Tgは120℃であった。
Comparative Example 2 In the same manner as in Comparative Example 1, a liquid epoxy resin 18.5 containing 10 g of bisphenol S type epoxy resin and a microcapsule type latent curing agent was used.
g and 30 g of methyl ethyl ketone, and 3% by volume of conductive particles having an Au layer formed on the surface of a polystyrene core (average diameter: 5 μm) were dispersed and mixed to obtain a varnish solution for film coating. This solution was applied to a separator (silicone-treated polyethylene terephthalate film, thickness: 40 μm) as a peelable substrate by a roll coater in the same manner as in Example 1, and dried at 100 ° C. for 10 minutes to produce an adhesive film having a thickness of 40 μm. The adhesive film was cured at 150 ° C. for 3 hours, the elastic modulus of the cured film was measured using a dynamic viscoelasticity measuring apparatus, and Tg was measured by the peak value of tan δ. As a result, Tg was 120 ° C.

【0034】作製した接着フィルムを用いて、実施例1
と同様に、金バンプ(面積:80×80μm、スペース
30μm、高さ:15μm、バンプ数288)付きチッ
プ(10×10mm、厚み:0.5mm)とNi/Au
めっきCu回路プリント基板(電極高さ:20μm、厚
み:0.8mm)の接続を以下に示すように行った。セ
パレータ付接着フィルムを12mm×12mmに形成
し、Ni/AuめっきCu回路プリント基板にセパレー
タ反対面の接着フィルムを重ね、60℃、0.5MPa
で仮接続工程を行った。仮接続工程後、セパレータを剥
離した。チップのバンプとNi/AuめっきCu回路プ
リント基板の位置合わせを行った後、180℃、100
g/バンプ、20秒の条件でチップ上方から加熱、加圧
を行い、本接続を行って回路板を得た。
Example 1 was prepared using the prepared adhesive film.
Similarly to the above, a chip (10 × 10 mm, thickness: 0.5 mm) with gold bumps (area: 80 × 80 μm, space: 30 μm, height: 15 μm, number of bumps: 288) and Ni / Au
The connection of a plated Cu circuit printed circuit board (electrode height: 20 μm, thickness: 0.8 mm) was performed as shown below. An adhesive film with a separator is formed in a size of 12 mm × 12 mm, and the adhesive film on the opposite side of the separator is laminated on a Ni / Au plated Cu circuit printed board, and the temperature is 60 ° C. and 0.5 MPa.
A temporary connection step was performed. After the temporary connection step, the separator was peeled off. After aligning the bumps on the chip with the Ni / Au plated Cu circuit printed circuit board,
Heating and pressurizing were performed from above the chip under the conditions of g / bump and 20 seconds, and the main connection was performed to obtain a circuit board.

【0035】接続後の回路板の接続抵抗は、1バンプあ
たり最高で6mΩ、平均で1.6mΩ、絶縁抵抗は10
8Ω以上であった。この回路板を同様にして多数個作製
し、−55〜125℃の熱衝撃試験試験を1000サイ
クル行い処理した。またPCT試験(121℃、2気
圧)を200時間、260℃のはんだバス浸漬を10秒
間行い前記と同様接続抵抗を測定した結果、いずれの場
合でもチップと接着剤(PCT試験)、接着剤とプリン
ト基板間(はんだ耐熱)で剥離が生じ導通不良を生じ
た。
The connection resistance of the circuit board after connection is 6 mΩ at maximum per bump, 1.6 mΩ on average, and the insulation resistance is 10 mΩ.
It was 8 Ω or more. A large number of such circuit boards were prepared in the same manner, and subjected to a thermal shock test test at −55 to 125 ° C. for 1000 cycles. In addition, a PCT test (121 ° C., 2 atm) was performed for 200 hours, and a solder bath immersion at 260 ° C. was performed for 10 seconds, and the connection resistance was measured in the same manner as described above. Peeling occurred between printed boards (solder heat resistance), resulting in poor conduction.

【0036】(比較例3)比較例2で得られたセパレー
タ付接着フィルムを室温で1ヶ月間保存した後、実施例
1と同様にチップと基板を接続し回路板を得ようとした
が、接着剤を保存中に接着フィルムの硬化が進み、流動
性が不足して一部導通不良を生じた。
Comparative Example 3 After storing the adhesive film with separator obtained in Comparative Example 2 at room temperature for one month, a chip and a substrate were connected in the same manner as in Example 1 to obtain a circuit board. During storage of the adhesive, the curing of the adhesive film progressed, and the fluidity was insufficient, resulting in partial conduction failure.

【0037】比較例3は、マイクロカプセル型潜在性硬
化剤のカプセルがエポキシ樹脂の被膜であり、メチルエ
チルケトンに溶解したため保存安定性に劣る結果になっ
たと思われる。一方、実施例1、2で使用した芳香族炭
化水素系溶剤のトルエンはポリスルホン樹脂を溶解しフ
ィルム化が可能で組成が均一となり、また、カプセルを
溶解することが無いので室温で1カ月の保存の後におい
ても実施例1と同様の接続特性を示し、保存安定性に優
れ、熱衝撃試験、はんだ耐熱において示したように耐熱
性に優れ、また、PCT試験において示したように吸湿
性と耐熱性に優れた結果を示した。
In Comparative Example 3, it is considered that the capsule of the microcapsule-type latent curing agent was a coating of an epoxy resin and was dissolved in methyl ethyl ketone, resulting in poor storage stability. On the other hand, toluene, which is an aromatic hydrocarbon solvent used in Examples 1 and 2, dissolves the polysulfone resin and can be formed into a film to make the composition uniform. In addition, since the capsule is not dissolved, it is stored at room temperature for one month. After that, the same connection characteristics as in Example 1 were obtained, the storage stability was excellent, the heat resistance was excellent as shown in the thermal shock test and the solder heat resistance, and the moisture absorption and heat resistance were shown in the PCT test. Excellent results were obtained.

【0038】[0038]

【発明の効果】本発明の回路板は、接着剤として、少な
くとも三次元架橋性樹脂及び吸水率0.05〜0.25
重量%かつガラス転移温度110℃〜160℃の熱可塑
性樹脂を含むことによって、耐湿特性及び耐熱性の良好
な硬化物を得ることができ、結果として、接続信頼性や
保存安定性を大幅に向上させることができる。
The circuit board of the present invention has at least a three-dimensionally crosslinkable resin as an adhesive and a water absorption of 0.05 to 0.25.
By containing a thermoplastic resin having a glass transition temperature of 110 ° C. to 160 ° C. by weight, a cured product having good moisture resistance and heat resistance can be obtained, and as a result, connection reliability and storage stability are greatly improved. Can be done.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) C09J 181/06 C09J 181/06 5G301 201/00 201/00 H01L 23/14 H05K 1/18 J H05K 1/18 3/32 B 3/32 H01L 23/14 R (72)発明者 永井 朗 茨城県つくば市和台48 日立化成工業株式 会社筑波開発研究所内 (72)発明者 竹村 賢三 茨城県つくば市和台48 日立化成工業株式 会社筑波開発研究所内 Fターム(参考) 4J004 AA11 AA13 AA17 AA19 AB05 BA02 EA05 FA05 4J030 BA09 BA42 BA48 BA49 BB46 BB52 BC04 BC08 BD21 BF03 BF13 BF17 BF19 BG03 BG30 4J040 EC061 EC062 EH021 EH022 EH031 EH032 EJ031 EJ032 FA141 FA142 FA151 FA152 FA161 FA162 FA191 FA192 GA22 JA09 JB08 JB10 KA03 KA16 KA32 LA02 LA07 LA08 NA20 PA30 PA33 5E319 AA03 AB05 BB12 BB13 BB16 BB20 GG20 5E336 AA04 CC32 CC55 EE07 EE08 GG30 5G301 DA10 DA29 DA42 DA57 DD03 DD08 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI Theme coat ゛ (Reference) C09J 181/06 C09J 181/06 5G301 201/00 201/00 H01L 23/14 H05K 1/18 J H05K 1 / 18 3/32 B 3/32 H01L 23/14 R (72) Inventor Akira Nagai, Tsudai, Tsukuba, Ibaraki 48 Inside Tsukuba Development Laboratory, Hitachi Chemical Co., Ltd. (72) Inventor Kenzo Takemura 48, Wadai, Tsukuba, Ibaraki F-term in the Tsukuba Development Laboratory, Hitachi Chemical Co., Ltd. FA151 FA152 FA161 FA162 FA191 FA192 GA22 JA09 JB08 JB10 KA03 KA16 KA32 LA02 LA07 LA08 NA20 PA30 PA33 5E319 AA03 AB05 BB12 BB13 BB16 BB20 GG20 5E336 AA04 CC32 CC55 EE07 EE08 GG30 5G301 DA10 DA29 DA42 DA57 DD03 DD08

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 第一の接続端子を有する第一の回路部材
と第二の接続端子を有する第二の回路部材とを、第一の
接続端子と第二の接続端子を対向して配置し、前記対向
配置した第一の接続端子と第二の接続端子の間に接着剤
を介在させ、加熱加圧して前記対向配置した第一の接続
端子と第二の接続端子を電気的に接続させた回路板であ
って、前記接着剤が、少なくとも三次元架橋性樹脂及び
吸水率0.05〜0.25重量%かつガラス転移温度1
10〜160℃の熱可塑性樹脂を含む接着剤であること
を特徴とする回路板。
A first circuit member having a first connection terminal and a second circuit member having a second connection terminal are arranged so that the first connection terminal and the second connection terminal face each other. An adhesive is interposed between the first connection terminal and the second connection terminal disposed opposite to each other, and the first connection terminal and the second connection terminal disposed opposite each other are electrically connected by heating and pressing. Circuit board, wherein the adhesive comprises at least a three-dimensionally crosslinkable resin, a water absorption of 0.05 to 0.25% by weight, and a glass transition temperature of 1%.
A circuit board, which is an adhesive containing a thermoplastic resin at 10 to 160 ° C.
【請求項2】 請求項1に記載の接着剤の熱可塑性樹脂
が下記一般式(I)で示されるポリスルホン樹脂である
ことを特徴とする請求項1に記載の回路板。 【化1】 (ここでR1は水素原子または炭素数1〜2のアルキル基
であり、R2は炭素数4〜13の直鎖状または分岐したア
ルキル基であり、nは5〜750の整数である。)
2. The circuit board according to claim 1, wherein the thermoplastic resin of the adhesive according to claim 1 is a polysulfone resin represented by the following general formula (I). Embedded image (Here, R 1 is a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 2 carbon atoms, R 2 is a linear or branched alkyl group having 4 to 13 carbon atoms, and n is an integer of 5 to 750. )
【請求項3】 熱可塑性樹脂が芳香族炭化水素系溶剤に
溶解するものであることを特徴とする請求項1または請
求項2に記載の回路板。
3. The circuit board according to claim 1, wherein the thermoplastic resin is soluble in an aromatic hydrocarbon solvent.
【請求項4】 三次元架橋性樹脂が少なくともエポキシ
系樹脂であり、潜在性硬化剤を含有するものである請求
項1もしくは請求項3のいずれかに記載の回路板。
4. The circuit board according to claim 1, wherein the three-dimensional crosslinkable resin is at least an epoxy resin and contains a latent curing agent.
【請求項5】 接着剤が少なくとも芳香族炭化水素系溶
剤に溶解するポリスルホン樹脂を含み、エポキシ系樹
脂、潜在性硬化剤、ラジカル重合物質、光照射または加
熱により遊離ラジカルを発生する硬化剤の組合せを含む
ことを特徴とする請求項1ないし請求項4のいずれかに
記載の回路板。
5. A combination of an adhesive containing at least a polysulfone resin soluble in an aromatic hydrocarbon solvent, an epoxy resin, a latent curing agent, a radical polymerizable substance, and a curing agent that generates free radicals by light irradiation or heating. The circuit board according to any one of claims 1 to 4, comprising:
【請求項6】 接着剤がフィルム状であることを特徴と
する請求項1ないし請求項5のいずれかに記載の回路
板。
6. The circuit board according to claim 1, wherein the adhesive is in the form of a film.
【請求項7】 接着剤に0.1〜20体積%の導電粒子
が分散されていることを特徴とする請求項1ないし請求
項6のいずれかに記載の回路板。
7. The circuit board according to claim 1, wherein 0.1% to 20% by volume of conductive particles are dispersed in the adhesive.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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