JP2000285686A - Write-in circuit of non-volatile memory - Google Patents
Write-in circuit of non-volatile memoryInfo
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、不揮発性メモリの
書き込み回路に関する。The present invention relates to a write circuit for a nonvolatile memory.
【0002】[0002]
【従来の技術】図2は不揮発性メモリの書き込み回路を
示す一般ブロック図である。2. Description of the Related Art FIG. 2 is a general block diagram showing a write circuit of a nonvolatile memory.
【0003】図2において、フラッシュメモリ(10
1)はデータの電気消去及びデータの書き込み読み出し
が可能な不揮発性の特性を有し、マイクロコンピュータ
のプログラムメモリ、データメモリ等に使用される。フ
ラッシュメモリ(101)は一定記憶容量の複数ブロッ
ク1〜nに分割され、各ブロック単位でデータ書き換え
動作を実行する構造である。例えば、フラッシュメモリ
(101)の1ブロックは128バイト(=1ページ)
である。ページバッファ(102)はフラッシュメモリ
(101)の1ブロック分の記憶容量を有する。ページ
バッファ(102)は、フラッシュメモリ(101)の
予め定められた1ブロックの内容を書き換える際、12
8バイト分の新規データが格納される。In FIG. 2, a flash memory (10
1) has a non-volatile characteristic capable of electrically erasing data and writing / reading data, and is used for a program memory, a data memory and the like of a microcomputer. The flash memory (101) is divided into a plurality of blocks 1 to n each having a fixed storage capacity, and has a structure in which a data rewriting operation is performed for each block. For example, one block of the flash memory (101) is 128 bytes (= 1 page)
It is. The page buffer (102) has a storage capacity for one block of the flash memory (101). When rewriting the contents of one predetermined block of the flash memory (101), the page buffer (102)
New data of 8 bytes is stored.
【0004】1ブロック単位で全内容を書き換える場
合、パージバッファ(102)の全バイトに対し外部P
ROMライタ等から128バイトの新規データを格納す
る(ステップ1)。フラッシュメモリ(101)のnブ
ロックのうち書き換え対象である所定1ブロックの全内
容を消去する(ステップ2)。フラッシュメモリ(10
1)の所定1ブロックに対しページバッファ(102)
の128バイト分の新規データを書き込む(ステップ
3)。という3個の処理ステップを実行する必要があ
る。When all contents are rewritten in units of one block, external bytes are stored in all bytes of the purge buffer (102).
The new data of 128 bytes is stored from a ROM writer or the like (step 1). The entire contents of one predetermined block to be rewritten out of the n blocks of the flash memory (101) are erased (step 2). Flash memory (10
Page buffer (102) for a given block of 1)
The new data of 128 bytes is written (step 3). It is necessary to execute three processing steps.
【0005】[0005]
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来はページ
バッファ(102)の格納状態を確認する手段がない。
即ち、何らかの要因が作用し、ページバッファ(10
2)に対し128バイトの新規データを全て格納できな
かった場合でも、この状態を検出する術がない。従っ
て、フラッシュメモリ(101)の書き換え対象ブロッ
クに対し使用者の意志と異なるデータを書き込んでしま
う不都合があった。However, conventionally, there is no means for confirming the storage state of the page buffer (102).
That is, some factor acts and the page buffer (10
Even if all 128 bytes of new data cannot be stored in 2), there is no way to detect this state. Therefore, there is a disadvantage that data different from the user's will is written into the rewrite target block of the flash memory (101).
【0006】[0006]
【課題を解決するための手段】本発明は、前記問題点を
解決する為に創作されたものであり、データの電気消去
及びデータの書き込み読み出しが可能な特性を有し、一
定記憶容量の複数ブロックから成る不揮発性メモリと、
前記不揮発性メモリを構成する1ブロック分の格納容量
を有し、所定1ブロックの書き換えデータを格納するバ
ッファ回路と、前記バッファ回路を構成する各アドレス
に1対1に対応するフラグを有し、前記バッファ回路に
おける前記書き換えデータ格納済みアドレスに対応する
フラグを予め定められた論理値に設定するフラグ回路
と、前記フラグ回路の状態を検出するフラグ検出回路
と、前記バッファ回路の全アドレスの書き換えが実行さ
れなかった時の前記フラグ検出回路の検出結果に従い、
前記バッファ回路の全アドレスに対するデータ格納動作
を再実行させる制御回路と、 を備えたことを特徴とす
る。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and has a characteristic capable of electrically erasing data and writing / reading data. A non-volatile memory consisting of blocks,
A buffer circuit having a storage capacity for one block constituting the nonvolatile memory and storing rewrite data of a predetermined block, and a flag corresponding to each address constituting the buffer circuit on a one-to-one basis; A flag circuit for setting a flag corresponding to the rewritten data stored address in the buffer circuit to a predetermined logical value, a flag detection circuit for detecting a state of the flag circuit, and rewriting of all addresses of the buffer circuit. According to the detection result of the flag detection circuit when not executed,
And a control circuit for re-executing a data storage operation for all addresses of the buffer circuit.
【0007】[0007]
【発明の実施の形態】本発明の詳細を図面に従って具体
的に説明する。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The details of the present invention will be specifically described with reference to the drawings.
【0008】図1は本発明の不揮発性メモリの書き込み
回路を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing a write circuit of a nonvolatile memory according to the present invention.
【0009】図1において、フラッシュメモリ(1)
は、データを特定ブロック単位で電気消去でき且つデー
タを繰り返し書き込み及び読み出しできる不揮発性の特
性を有し、各々第1記憶領域(1a:LEFT ARRAY)及
び第2記憶領域(1b:RIGHTARRAY)に均等分割され
る。フラッシュメモリ(1)にはマイクロコンピュータ
を各種論理演算動作させる為のプログラムデータ、テー
ブルデータ等が記憶される。フラッシュメモリ(1)の
第1及び第2記憶領域(1a)(1b)は、例えば全記
憶容量が各々64Kバイト(1ワード=8ビットを表す
単位)で構成され、64バイト単位の偶数ブロックEV
ENと奇数ブロックODDを交互に繰り返すものである
(偶数ブロックEVENは0,2,4…番目、奇数ブロ
ックODDは1,3,5…番目を表す)。In FIG. 1, a flash memory (1)
Has a non-volatile characteristic in which data can be electrically erased in a specific block unit and data can be repeatedly written and read, and is equal to the first storage area (1a: LEFT ARRAY) and the second storage area (1b: RIGHTARRAY). Divided. The flash memory (1) stores program data, table data, and the like for causing the microcomputer to perform various logical operations. The first and second storage areas (1a) and (1b) of the flash memory (1) have a total storage capacity of, for example, 64 Kbytes (a unit representing one word = 8 bits), and an even-numbered block EV in a 64-byte unit.
EN and odd-numbered block ODD are alternately repeated (even-numbered block EVEN represents 0, 2, 4,..., And odd-numbered block ODD represents 1, 3, 5,...).
【0010】ローデコーダ(2)は、フラッシュメモリ
(1)を構成する第1又は第2記憶領域(1a)(1
b)の何れか一方を選択し、選択された側の記憶領域か
ら64バイト単位の偶数ブロック又は奇数ブロックを選
択するものである。第1カラムデコーダ(3)は、第1
記憶領域(1a)内で指定された64バイト単位の偶数
又は奇数の1ブロック中の所定1バイトのみを選択する
ものである。第2カラムデコーダ(4)は、第2記憶領
域(1b)内で指定された64バイト単位の偶数又は奇
数の1ブロック中の所定1バイトのみを選択するもので
ある。The row decoder (2) includes a first or second storage area (1a) (1
b) is selected, and an even block or an odd block of 64 bytes is selected from the storage area on the selected side. The first column decoder (3)
This is to select only one predetermined byte in one even-numbered or odd-numbered block of 64 bytes specified in the storage area (1a). The second column decoder (4) selects only one predetermined byte in one even-numbered or odd-numbered block of 64 bytes specified in the second storage area (1b).
【0011】ページバッファ(5)(6)は、各々64
バイトの格納容量を有し、即ち、第1及び第2記憶領域
(1a)(1b)を構成する偶数及び奇数ブロックと同
一記憶容量を有する。フラグ回路(7)は、ページバッ
ファ(5)(6)の64バイトの格納位置に1対1に対
応する128個のフラグを有する。フラグ回路(7)に
おける128個の全フラグが論理値「0」に設定された
状態から、ページバッファ(5)(6)に対し新規デー
タを格納すると、新規データ格納位置に1対1に対応す
るフラグは論理値「1」に変化する。フラグ検出回路
(8)は、フラグ回路(7)の128個の全フラグが論
理値「1」になった状態、即ち、ページバッファ(5)
(6)に対し128バイトの新規データが格納された状
態を検出し、論理値「1」の検出信号IDALLを出力
するものである。制御部(9)は、フラグ検出回路
(8)から論理値「1」の検出信号IDALLが供給さ
れた時、ページバッファ(5)(6)に対する128バ
イトの新規データ格納動作を再実行させるものである。
センスアンプ(10)は、カラムデコーダ(3)(4)
から選択出力される1バイトデータを電流増幅するもの
である。IOブロック(11)は、データD7〜D0を
入出力するものである。The page buffers (5) and (6) are 64
It has a storage capacity of bytes, that is, it has the same storage capacity as the even and odd blocks constituting the first and second storage areas (1a) and (1b). The flag circuit (7) has 128 flags corresponding one-to-one to 64-byte storage positions in the page buffers (5) and (6). When new data is stored in the page buffers (5) and (6) from a state where all the 128 flags in the flag circuit (7) are set to the logical value "0", the new data storage positions correspond one-to-one. Flag changes to a logical value “1”. The flag detection circuit (8) is in a state where all 128 flags of the flag circuit (7) have become the logical value "1", that is, the page buffer (5)
In response to (6), a state where 128 bytes of new data is stored is detected, and a detection signal IDALL having a logical value of "1" is output. The control unit (9) re-executes a 128-byte new data storage operation for the page buffers (5) and (6) when the detection signal IDALL having the logical value "1" is supplied from the flag detection circuit (8). It is.
The sense amplifier (10) is a column decoder (3) (4)
Is to amplify the current of 1-byte data selectively output from. The IO block (11) inputs and outputs data D7 to D0.
【0012】16ビットのアドレスデータA15〜A0
は、フラッシュメモリ(1)及びページバッファ(5)
(6)をアドレス指定する為のデータである。第1記憶
領域(1a)は、256個の偶数ブロックEVEN及び
256個の奇数ブロックODDを交互に配置した合計5
12ブロックから成る。第2記憶領域(1b)も同様に
512ブロックから成る。即ち、ローデコーダ(2)
は、アドレスデータA15〜A8が供給されることによ
り第1及び第2記憶領域(5)(6)間で相対応する1
対の偶数ブロック及び1対の奇数ブロックの合計4ブロ
ックを選択し、アドレスデータA6が供給されることに
より1対の偶数ブロック又は1対の奇数ブロックの何れ
か一方を選択する。カラムデコーダ(3)(4)は、ア
ドレスデータA5〜A0が供給されることによりローデ
コーダ(2)で選択済みの第1及び第2記憶領域(1
a)(1b)における各1ブロック内の所定1バイトを
選択する。但し、カラムデコーダ(3)(4)は、第1
又は第2記憶領域(3)(4)の何れか一方を選択する
為のアドレスデータA7も供給される為、アドレスデー
タA7が論理値「0」の時は第1記憶領域(1a)の所
定1バイトを選択出力し、アドレスデータA7が論理値
「1」の時は第2記憶領域(1b)の所定1バイトを選
択出力する。16-bit address data A15 to A0
Is a flash memory (1) and a page buffer (5)
This is data for addressing (6). The first storage area (1a) has a total of 5 in which 256 even-numbered blocks EVEN and 256 odd-numbered blocks ODD are alternately arranged.
It consists of 12 blocks. The second storage area (1b) also includes 512 blocks. That is, the row decoder (2)
Is supplied between the first and second storage areas (5) and (6) by supplying the address data A15 to A8.
A total of four blocks including a pair of even blocks and a pair of odd blocks are selected, and one of a pair of even blocks or a pair of odd blocks is selected by supplying address data A6. The column decoders (3) and (4) supply the address data A5 to A0 to supply the first and second storage areas (1) selected by the row decoder (2).
a) A predetermined one byte in each one block in (1b) is selected. However, the column decoders (3) and (4)
Alternatively, since the address data A7 for selecting one of the second storage areas (3) and (4) is also supplied, when the address data A7 has the logical value "0", the predetermined value of the first storage area (1a) is determined. One byte is selectively output, and when the address data A7 has the logical value "1", a predetermined one byte of the second storage area (1b) is selectively output.
【0013】ページバッファ(5)(6)は、第1又は
第2記憶領域(1a)(1b)の何れの内容を書き換え
るかに応じて格納順序が異なる。即ち、第1記憶領域
(1a)の内容を書き換える場合はページバッファ
(5)(6)の順番で新規データを書き込み、第2記憶
領域(1b)の内容を書き換える場合はページバッファ
(6)(5)の順番で新規データを書き込む。従って、
2個のページバッファ(5)(6)は、128バイトの
格納容量を有する1個のページバッファとして見立てる
必要がある為にアドレスデータA6〜A0が供給され、
ページバッファ(5)(6)の格納順序を決定する為に
アドレスデータA7が供給される。The storage order of the page buffers (5) and (6) differs depending on which of the contents of the first and second storage areas (1a) and (1b) is rewritten. That is, when rewriting the contents of the first storage area (1a), new data is written in the order of the page buffers (5) and (6), and when rewriting the contents of the second storage area (1b), the page buffer (6) ( Write new data in the order of 5). Therefore,
Since the two page buffers (5) and (6) need to be regarded as one page buffer having a storage capacity of 128 bytes, address data A6 to A0 are supplied.
Address data A7 is supplied to determine the storage order of the page buffers (5) and (6).
【0014】フラッシュメモリ(1)の所定1ページの
全内容を書き換える場合の動作を説明する。例えば、第
2記憶領域(1b)内の隣接する1対の偶数及び奇数ブ
ロック(斜線)の全内容を書き換える場合とする。先
ず、ページバッファ(6)(5)に対しページバッファ
(6)(5)の順番で128バイトの新規データの格納
動作が実行される。この時、フラグ回路(7)の全フラ
グが論理値「1」に変化していない場合、フラグ検出回
路(8)は、ページバッファ(6)(5)に対し128
バイト分の全新規データが格納されなかったものと判断
し、制御部(9)に対し論理値「0」の検出信号IDA
LLを供給する。制御部(9)は論理値「0」の検出信
号IDALLに従いページバッファ(6)(5)への格
納動作を再実行させる。一方、フラグ回路(7)の全フ
ラグが論理値「1」に変化した場合、フラグ検出回路
(8)は、ページバッファ(6)(5)に対し128バ
イト分の全新規データが格納されたものと判断し、制御
部(9)に対し論理値「1」の検出信号IDALLを供
給する。制御部(9)は論理値「1」の検出信号IDA
LLに従い次の書き換えシーケンスに移行させる。即
ち、第2記憶領域(1b)内における前記1対の偶数及
び奇数ブロックの全内容が消去される。次に、第2記憶
領域(1b)の前記偶数ブロックEVEN(斜線)に対
しページバッファ(6)に格納された64バイト分の新
規データが書き込まれる。次に、ページバッファ(5)
に格納された64バイト分の新規データがIOバス(1
2)、センスアンプ(10)、IOブロック(11)、
IOバス(12)を通ってページバッファ(6)に格納
される。次に、第2記憶領域(1b)の前記奇数ブロッ
クODD(斜線)に対しページバッファ(6)に格納さ
れた別の64バイト分の新規データが書き込まれる。以
上より、第2記憶領域(1b)に対する1ページ分の全
データ書き込み動作が終了する。An operation for rewriting the entire contents of one predetermined page of the flash memory (1) will be described. For example, assume that the entire contents of a pair of adjacent even-numbered and odd-numbered blocks (hatched lines) in the second storage area (1b) are to be rewritten. First, a 128-byte new data storage operation is performed on the page buffers (6) and (5) in the order of the page buffers (6) and (5). At this time, if all the flags of the flag circuit (7) have not changed to the logical value “1”, the flag detection circuit (8) sends the page buffers (6) and (5)
It is determined that all the new data for the byte has not been stored, and the control unit (9) is informed of the detection signal IDA of the logical value "0".
Supply LL. The control section (9) causes the storage operation to the page buffers (6) and (5) to be executed again in accordance with the detection signal IDALL having the logical value "0". On the other hand, when all the flags of the flag circuit (7) change to the logical value "1", the flag detection circuit (8) stores all new data of 128 bytes in the page buffers (6) and (5). And supplies the control unit (9) with the detection signal IDALL having the logical value "1". The control section (9) detects the detection signal IDA of the logical value “1”.
The process proceeds to the next rewrite sequence according to LL. That is, the entire contents of the pair of even and odd blocks in the second storage area (1b) are erased. Next, new data of 64 bytes stored in the page buffer (6) is written into the even-numbered block EVEN (hatched) in the second storage area (1b). Next, the page buffer (5)
64 bytes of new data stored in the IO bus (1
2), sense amplifier (10), IO block (11),
The data is stored in the page buffer (6) through the IO bus (12). Next, another 64-byte new data stored in the page buffer (6) is written to the odd-numbered block ODD (hatched) in the second storage area (1b). As described above, the operation of writing all data for one page to the second storage area (1b) is completed.
【0015】本発明の実施の形態によれば、フラッシュ
メモリ(1)の所定1ブロックに対し新規データを確実
に書き込むことができる。According to the embodiment of the present invention, new data can be reliably written to one predetermined block of the flash memory (1).
【0016】[0016]
【発明の効果】本発明によれば、不揮発性メモリにおけ
る所定1ブロックの内容を書き換える場合、バッファ回
路の各アドレスに1対1に対応するフラグの状態を検出
し、全フラグが予め定められた論理値に変化していない
場合は書き換え動作を再実行させる様にした為、データ
書き換えを確実に実現できる利点が得られる。According to the present invention, when rewriting the contents of a predetermined block in the nonvolatile memory, the state of the flag corresponding to each address of the buffer circuit on a one-to-one basis is detected, and all the flags are determined in advance. Since the rewriting operation is re-executed when the logical value has not changed, the advantage that the data rewriting can be surely realized is obtained.
【図1】本発明の不揮発性メモリの書き込み回路を示す
ブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing a write circuit of a nonvolatile memory according to the present invention.
【図2】従来の不揮発性メモリの書き込み回路を示すブ
ロック図である。FIG. 2 is a block diagram showing a write circuit of a conventional nonvolatile memory.
(1) フラッシュメモリ (5)(6) ページバッファ (7) フラグ回路 (8) フラグ検出回路 (9) 制御部 (1) Flash memory (5) (6) Page buffer (7) Flag circuit (8) Flag detection circuit (9) Control unit
Claims (1)
読み出しが可能な特性を有し、一定記憶容量の複数ブロ
ックから成る不揮発性メモリと、 前記不揮発性メモリを構成する1ブロック分の格納容量
を有し、所定1ブロックの書き換えデータを格納するバ
ッファ回路と、 前記バッファ回路を構成する各アドレスに1対1に対応
するフラグを有し、前記バッファ回路における前記書き
換えデータ格納済みアドレスに対応するフラグを予め定
められた論理値に設定するフラグ回路と、 前記フラグ回路の状態を検出するフラグ検出回路と、 前記バッファ回路の全アドレスの書き換えが実行されな
かった時の前記フラグ検出回路の検出結果に従い、前記
バッファ回路の全アドレスに対するデータ格納動作を再
実行させる制御回路と、 を備えたことを特徴とする不揮発性メモリの書き込み回
路。1. A non-volatile memory having a characteristic capable of electrically erasing data and writing / reading data, comprising a plurality of blocks of a fixed storage capacity, and a storage capacity of one block constituting the non-volatile memory. A buffer circuit for storing a predetermined block of rewritten data; and a flag corresponding to each address constituting the buffer circuit on a one-to-one basis, and a flag corresponding to the rewritten data stored address in the buffer circuit. A flag circuit for setting to a predetermined logical value, a flag detection circuit for detecting a state of the flag circuit, and a detection result of the flag detection circuit when all addresses of the buffer circuit have not been rewritten. A control circuit for re-executing a data storage operation for all addresses of the buffer circuit. The write circuit of the nonvolatile memory, wherein.
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US7349256B2 (en) | 2004-12-21 | 2008-03-25 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Flash memory devices and methods of programming the same by overlapping programming operations for multiple mats |
-
1999
- 1999-03-26 JP JP08378499A patent/JP4141042B2/en not_active Expired - Fee Related
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