JPH11259357A - Semiconductor integrated device and nonvolatile memory writing system - Google Patents

Semiconductor integrated device and nonvolatile memory writing system

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JPH11259357A
JPH11259357A JP10057208A JP5720898A JPH11259357A JP H11259357 A JPH11259357 A JP H11259357A JP 10057208 A JP10057208 A JP 10057208A JP 5720898 A JP5720898 A JP 5720898A JP H11259357 A JPH11259357 A JP H11259357A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
memory
writing
nonvolatile memory
address
data
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP10057208A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hiroaki Nasu
弘明 那須
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Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP10057208A priority Critical patent/JPH11259357A/en
Publication of JPH11259357A publication Critical patent/JPH11259357A/en
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To remarkably extend the life of a nonvolatile memory by writing back only changed data through the use of information of a storing means for control in the write in the nonvolatile memory. SOLUTION: An address register to control on which address area of a nonvolatile memory (flash memory) 10 a RAM is overlapped is provided and a selection signal of the RAM is controlled. The RAM is divided into a normal RAM area 12 and an emulation RAM 13 where the memory 10 and address areas are overlapped. An emulation area register 14 controls on which address area of the memory 10 the RAM 13 is overlapped. It is possible to overlap a specific area of the memory 10 on the RAM by using an address set to the register 14 and decoding a selection signal of the RAM 13.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体基板上に構
成された不揮発性メモリを内蔵する半導体集積装置及び
その不揮発性メモリの書き込み方式に関する。
[0001] 1. Field of the Invention [0002] The present invention relates to a semiconductor integrated device having a built-in nonvolatile memory formed on a semiconductor substrate and a writing method for the nonvolatile memory.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、フラッシュメモリブロックを内蔵
する半導体集積装置及び不揮発性メモリ書き込み方式に
於いては、高速に読み出し・書き込みを行う場合フラッ
シュメモリでは書き込みが遅いため、特開平8−147
186号公報,特開平8−129509号公報に開示さ
れるようにフラッシュメモリの任意のアドレス領域によ
り高速なSRAMを重ねる様に配置して、前記SRAM
上でデータ処理を行いデータ処理を行う方法を取ってい
た。
2. Description of the Related Art Conventionally, in a semiconductor integrated device having a built-in flash memory block and a nonvolatile memory writing method, when reading / writing at high speed, writing is slow in a flash memory.
No. 186, Japanese Unexamined Patent Publication No. 8-129509, a high-speed SRAM is arranged to overlap an arbitrary address area of a flash memory, and
Above, data processing was performed and data processing was performed.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】従来、上記構成をとっ
ていた為、SRAM上に置かれたデータに変更が無い場
合でも全てのデータをフラッシュメモリに書き戻す為処
理時間が増大するという大きな欠点を有していた。又、
フラッシュメモリは構造上消去・書き込みを繰り返すと
特性が徐々に劣化するという欠点を有しているが、書き
込みの不要な領域まで消去・書き込みを行う為特性の劣
化を早めるという大きな欠点も有していた。
Conventionally, the above configuration has been adopted, so that even if there is no change in the data stored in the SRAM, all data is written back to the flash memory, which is a major drawback in that the processing time increases. Had. or,
Flash memory has the disadvantage that its characteristics gradually deteriorate when repeated erasure and writing are repeated, but it also has the major disadvantage that it accelerates the deterioration of characteristics because erasing and writing are performed in areas where writing is unnecessary. Was.

【0004】[0004]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成すべく、
請求項1に係わる半導体集積装置は、電気的に書き込み
・消去可能な不揮発性メモリを内蔵する半導体集積装置
に於いて、前記不揮発性メモリの一部の領域とアドレス
を重ねて配置する事ができ、重ね合わせる位置を任意に
設定する為の手段を有する書き込み・読み出しが可能な
メモリを有し、前記書き込み・読み出しが可能なメモリ
に対して書き込みが行われた事を判別するための記憶手
段を設け、前記不揮発性メモリに書き込みを行う際に前
記記憶手段の情報を制御に使用する事を特徴とする。
In order to achieve the above object,
In the semiconductor integrated device according to the first aspect, in a semiconductor integrated device having a built-in electrically erasable and erasable nonvolatile memory, an address can be arranged so as to overlap a partial area of the nonvolatile memory. A writable / readable memory having a means for arbitrarily setting the overlapping position, and a storage means for determining that writing has been performed on the writable / readable memory. Wherein the information in the storage means is used for control when writing to the nonvolatile memory.

【0005】請求項2に係わる半導体集積装置は、電気
的に書き込み・消去可能な不揮発性メモリを内蔵する半
導体集積装置に於いて、前記不揮発性メモリの任意のア
ドレスと重ねて配置する事ができる、前記不揮発性メモ
リのデータを予め転送する為の書き込み・読み出しが可
能なメモリーを有し、前記書き込み・読み出しが可能な
メモリに対して書き込みが行われた事を判別するための
記憶手段を設け、前記不揮発性メモリに書き込みを行う
際に前記記憶手段の情報を制御に使用する事を特徴とす
る。
According to a second aspect of the present invention, in a semiconductor integrated device having a nonvolatile memory which can be electrically written and erased, the semiconductor integrated device can be arranged so as to overlap an arbitrary address of the nonvolatile memory. A writable / readable memory for transferring data of the non-volatile memory in advance, and storage means for determining that writing has been performed on the writable / readable memory. When writing to the non-volatile memory, information in the storage means is used for control.

【0006】請求項3に係わる半導体集積装置は、電気
的に書き込み・消去可能な不揮発性メモリを内蔵する半
導体集積装置に於いて、前記不揮発性メモリの任意のア
ドレスと重ねて配置する事ができる、前記不揮発性メモ
リのデータを予め転送する為の書き込み・読み出しが可
能なメモリを有し、前記書き込み・読み出しが可能なメ
モリに書き込みが行われた事を判別するための記憶領域
を設け、前記不揮発性メモリにデータを書き戻す際に、
前記記憶領域の情報を元に必要なデータのみ書き戻す事
を特徴とする。
According to a third aspect of the present invention, in a semiconductor integrated device having a nonvolatile memory which can be electrically written and erased, the semiconductor integrated device can be arranged so as to overlap an arbitrary address of the nonvolatile memory. A writable / readable memory for transferring data of the nonvolatile memory in advance, and a storage area for determining that writing has been performed on the writable / readable memory; When writing data back to nonvolatile memory,
It is characterized in that only necessary data is written back based on the information in the storage area.

【0007】請求項4に係わる不揮発性メモリ書き込み
方式は、電気的に書き込み・消去可能な不揮発性メモリ
に書き込みを行う不揮発性メモリ書き込み方式に於い
て、前記不揮発性メモリの一部の領域とアドレスを重ね
て配置することができ、重ね合わせる位置を任意に設定
する為の手段を有する書き込み・読み出しが可能なメモ
リを使用し、前記書き込み・読み出しが可能なメモリに
対して書き込みが行われた事を判別するための記憶手段
を設け、前記不揮発性メモリに書き込みを行う際に前記
記憶手段の情報を制御に使用する事を特徴とする。
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided a non-volatile memory writing system for writing data into a non-volatile memory which can be electrically written and erased. Using a writable / readable memory having means for arbitrarily setting a position to be superimposed, and writing to the writable / readable memory. Storage means for discriminating the non-volatile memory is provided, and when writing to the nonvolatile memory, information in the storage means is used for control.

【0008】請求項5に係わる不揮発性メモリ書き込み
方式は、電気的に書き込み・消去可能な不揮発性メモリ
に書き込みを行う不揮発性メモリ書き込み方式に於い
て、前記不揮発性メモリの任意のアドレスと重ねて配置
する事ができる、前記不揮発性メモリのデータを予め転
送する為の書き込み・読み出しが可能なメモリーを使用
し、前記書き込み・読み出しが可能なメモリに対して書
き込みが行われた事を判別するための記憶手段を設け、
前記不揮発性メモリに書き込みを行う際に前記記憶手段
の情報を制御に使用する事を特徴とする。
According to a fifth aspect of the present invention, there is provided a nonvolatile memory writing system for writing data in a nonvolatile memory which is electrically writable and erasable. In order to determine that data has been written to the writable / readable memory, a writable / readable memory for transferring data of the non-volatile memory in advance can be used. Storage means of
When writing to the non-volatile memory, information in the storage means is used for control.

【0009】請求項6に係わる不揮発性メモリ書き込み
方式は、電気的に書き込み・消去可能な不揮発性メモリ
に書き込みを行う不揮発性メモリ書き込み方式に於い
て、前記不揮発性メモリの任意のアドレスと重ねて配置
する事ができる書き込み・読み出しが可能なメモリを使
用し、前記書き込み・読み出しが可能なメモリに書き込
みが行われた事を判別するための記憶領域を設け、前記
不揮発性メモリにデータを書き戻す際に、前記記憶領域
の情報を元に必要なデータのみ書き戻す事を特徴とす
る。
According to a sixth aspect of the present invention, there is provided a nonvolatile memory writing system for writing data in a nonvolatile memory which can be electrically written and erased. Using a writable and readable memory that can be arranged, providing a storage area for determining that writing has been performed on the writable and readable memory, and writing data back to the non-volatile memory In this case, only necessary data is written back based on the information in the storage area.

【0010】[0010]

【作用】請求項1に係わる半導体集積装置では書き込む
必要の有るデータを識別して不揮発性メモリに書き込む
事ができる。
In the semiconductor integrated device according to the first aspect, data that needs to be written can be identified and written to the nonvolatile memory.

【0011】請求項2及び請求項3に係わる半導体集積
装置では、予め書き込み・読み出しが可能なメモリに転
送されたデータが書き変わったか識別して不揮発性メモ
リに書き戻す事ができる。
In the semiconductor integrated device according to the second and third aspects, it is possible to identify whether the data transferred to the writable / readable memory in advance has been rewritten or not, and write it back to the nonvolatile memory.

【0012】請求項4に係わる不揮発性メモリ書き込み
方式では書き込む必要の有るデータを識別して不揮発性
メモリに書き込む事ができる。
In the nonvolatile memory writing method according to the fourth aspect, data that needs to be written can be identified and written to the nonvolatile memory.

【0013】請求項5及び請求項6に係わる不揮発性メ
モリ書き込み方式では、予め書き込み・読み出しが可能
なメモリに転送されたデータが書き変わったか識別して
不揮発性メモリに書き戻す事ができる。
In the nonvolatile memory writing method according to the fifth and sixth aspects, it is possible to identify whether data transferred to a writable / readable memory in advance has been rewritten, and write it back to the nonvolatile memory.

【0014】[0014]

【発明の実施の形態】以下本発明における実施例を図を
用いて説明する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0015】図1は本発明による半導体集積装置及び不
揮発性メモリ書き込み方式の一実施例の構成の一部を表
すブロック図である。RAMを不揮発性メモリ(以下フ
ラッシュメモリと称する)10のどのアドレス領域と重
ねるかを制御する為のアドレスレジスタを設け、RAM
の選択信号を制御する。前記RAMは通常のRAM領域
12と前記フラッシュメモリ10とアドレス領域が重ね
合わさったエミュレーションRAM13とに分割されて
いる。本実施例ではRAMを2つに分割しているが、構
成によっては2つ以上に分割される場合もある。前記エ
ミュレーションRAMを前記フラッシュメモリのどのア
ドレス領域と重ねるかをエミュレーション領域レジスタ
14で制御する。前記エミュレーション領域レジスタに
設定したアドレスを使用してエミュレーションRAM1
3の選択信号をデコードする事により、不揮発性メモリ
の特定の領域とRAMを重ね合わせる事が可能となる。
エミュレーションRAM13をアクセスするためのアド
レスはエミュレーション領域レジスタ14にて生成され
る。ユーザープログラムによってエミュレーション領域
レジスタ14へアドレスがセットされるとCPU11は
サブルーチンプログラムに添ってフラッシュメモリ10
のデータをエミュレーションRAMへ転送する。転送さ
れるデータのフラッシュメモリ10上のアドレスはエミ
ュレーション領域レジスタに設定されたアドレスにより
決定される。CPU11によりデータ転送後エミュレー
ションRAM13を使用する場合はフラッシュメモリ制
御回路によりフラッシュメモリ10へのアクセスは禁止
される。ユーザープログラムに添ってCPU11がエミ
ュレーションRAM13のデータを変更した場合アクセ
スページ判別レジスタ17にアクセスしたエミュレーシ
ョンRAM13のアドレス領域が書き込まれる。ユーザ
ープログラムがフラッシュメモリ10の他のアドレス領
域のデータが必要になった場合、エミュレーション領域
レジスタ14に新しいアドレスを書き込む事により、エ
ミュレーションRAM13に書かれたデータのフラッシ
ュメモリ10への再書き込み並びに新しいデータのエミ
ュレーションRAMへの転送が行われる。
FIG. 1 is a block diagram showing a part of the configuration of an embodiment of a semiconductor integrated device and a nonvolatile memory writing system according to the present invention. An address register for controlling which address area of the nonvolatile memory (hereinafter referred to as a flash memory) 10 is overlapped with the RAM;
Control the selection signal. The RAM is divided into a normal RAM area 12 and an emulation RAM 13 in which the flash memory 10 and an address area are overlapped. In the present embodiment, the RAM is divided into two, but depending on the configuration, the RAM may be divided into two or more. The emulation area register 14 controls which address area of the flash memory overlaps the emulation RAM. The emulation RAM 1 uses the address set in the emulation area register.
By decoding the selection signal of No. 3, it is possible to overlap a specific area of the nonvolatile memory with the RAM.
An address for accessing the emulation RAM 13 is generated by the emulation area register 14. When the address is set in the emulation area register 14 by the user program, the CPU 11 sends the flash memory 10 along with the subroutine program.
Is transferred to the emulation RAM. The address of the data to be transferred on the flash memory 10 is determined by the address set in the emulation area register. When the CPU 11 uses the emulation RAM 13 after data transfer, access to the flash memory 10 is prohibited by the flash memory control circuit. When the CPU 11 changes the data in the emulation RAM 13 according to the user program, the address area of the emulation RAM 13 that has accessed the access page determination register 17 is written. When the user program needs data in another address area of the flash memory 10, a new address is written to the emulation area register 14 so that the data written in the emulation RAM 13 is rewritten to the flash memory 10 and a new data is written. Is transferred to the emulation RAM.

【0016】図2はフラッシュメモリ10とエミュレー
ションRAM13のアドレス領域が重なった状態のアド
レスマップのイメージ図である。本実施例ではアドレス
64Byte分を1ページとして扱い、フラッシュメモ
リ10に対する再書き込みの際の消去の最小ブロック単
位となる。フラッシュメモリはその構成上消去の最小ブ
ッロクに含まれるデータを再度書き込む必要が有る。本
実施例ではエミュレーションRAM13は前記64By
te単位のページを8ページ分有し、各ページのデータ
に変更が有ったかどうか判定する為の8bitのアクセ
スページ判別レジスタを有している。本実施例では64
Byteを1ページとして扱い、エミュレーションRA
Mには8ページ=512Byteを使用しているが、ペ
ージの大きさ並びにエミュレーションRAMの容量はシ
ステムの構成により、これより大きくても小さくても良
い。
FIG. 2 is an image diagram of an address map in a state where the address areas of the flash memory 10 and the emulation RAM 13 overlap. In the present embodiment, 64 bytes of the address are treated as one page, which is the minimum block unit of erasure at the time of rewriting to the flash memory 10. In the flash memory, it is necessary to rewrite data included in the minimum block of erasure due to its configuration. In the present embodiment, the emulation RAM 13 stores the 64 By
It has eight pages in te units, and has an 8-bit access page determination register for determining whether or not the data of each page has been changed. In this embodiment, 64
Byte is treated as one page, emulation RA
Although 8 pages = 512 bytes are used for M, the size of the page and the capacity of the emulation RAM may be larger or smaller depending on the system configuration.

【0017】図3は前記アクセスページ判別レジスタ1
7のブロック図である。アドレスコンパレータ20と比
較結果を格納する為の8bitレジスタ21から構成さ
れている。前記エミュレーション領域レジスタ14に設
定されたエミュレーションRAM13のアドレス領域は
前記アドレスコンパレータ20へも入力されCPUがア
クセスしたアドレスが前記エミュレーション領域のどの
ページに該当するかを検出する。該当するページへの書
き込みを検出した場合はレジスタ21の該当するbit
をセットする。前記レジスタはリセット信号により初期
化されている。
FIG. 3 shows the access page discriminating register 1.
FIG. 7 is a block diagram of FIG. It comprises an address comparator 20 and an 8-bit register 21 for storing the comparison result. The address area of the emulation RAM 13 set in the emulation area register 14 is also input to the address comparator 20 to detect which page of the emulation area corresponds to the address accessed by the CPU. If writing to the corresponding page is detected, the corresponding bit
Is set. The register has been initialized by a reset signal.

【0018】上記構成を取ることにより、エミュレーシ
ョンRAM13のどのページのデータに変更が加わった
かを検出でき、変更されたページのみフラッシュメモリ
10へ再度書き込みを行う。
With the above configuration, it is possible to detect which page data of the emulation RAM 13 has been changed, and write only the changed page to the flash memory 10 again.

【0019】図4は本発明による半導体集積装置及び不
揮発性メモリ書き込み方式の他の実施例の構成の一部を
表すブロック図である。RAMをEEPROM110の
どの領域と重ねるかを制御するためのアドレスレジスタ
を設け、RAMの選択信号を制御する。前記RAMは通
常のRAM領域12と前記EEPROM110とドレス
領域が重ね合わさったエミュレーションRAM113と
に分割されている。本実施例ではRAMを2つに分割し
ているが、構成によっては2つ以上に分割される場合も
有る。前記エミュレーションRAMを前記EEPROM
のどのアドレス領域と重ねるかをエミュレーション領域
制御レジスタ114で制御する。前記エミュレーション
領域レジスタに設定したアドレスを使用してエミュレー
ションRAM113の選択信号をデコードする事によ
り、不揮発性メモリの特定の領域とRAMを重ね合わせ
る事が可能となる。エミュレーションRAM113をア
クセスするためのアドレスはエミュレーション領域制御
レジスタ114にて生成される。ユーザープログラムに
よってエミュレーション領域制御レジスタ114へアド
レスがセットされると該当アドレスのデータを最初はE
EPROMより読み出し処理を行う。処理が済んだデー
タはエミュレーションRAM113へ書き込まれアクセ
スページ判定bitがセットされる。以後アクセスペー
ジ判定bitがセットされているアドレスはエミュレー
ションRAM113より読み出されたデータを使用する
ようエミュレーション領域制御レジスタ及びEEPRO
M制御回路116によって制御される。EEPROMの
他の領域のデータが必要になった場合はエミュレーショ
ン領域制御レジスタ114に新しいアドレスを書き込む
事により、CPU11はサブルーチンプログラムに添っ
てアクセスページ判別bitがセットされたデータのみ
をEEPROMへ書き戻す。EEPROMへの書き込み
が終了すると、アクセスページ判定bitは全てクリア
されEEPROMの該当アドレスの読み出しが可能とな
る。
FIG. 4 is a block diagram showing a part of the configuration of another embodiment of a semiconductor integrated device and a nonvolatile memory writing system according to the present invention. An address register for controlling which area of the EEPROM 110 the RAM is overlaid is provided, and a RAM selection signal is controlled. The RAM is divided into a normal RAM area 12, an EEPROM 110, and an emulation RAM 113 in which a dress area is overlapped. In the present embodiment, the RAM is divided into two, but depending on the configuration, the RAM may be divided into two or more. The emulation RAM is replaced with the EEPROM.
The emulation area control register 114 controls which address area is overlapped. By decoding the selection signal of the emulation RAM 113 using the address set in the emulation area register, it is possible to overlap the RAM with a specific area of the nonvolatile memory. An address for accessing the emulation RAM 113 is generated by the emulation area control register 114. When an address is set in the emulation area control register 114 by the user program, the data of the corresponding address is first stored in E.
The reading process is performed from the EPROM. The processed data is written to the emulation RAM 113 and the access page determination bit is set. Thereafter, the address in which the access page determination bit is set is set to the emulation area control register and EEPRO so that the data read from the emulation RAM 113 is used.
It is controlled by the M control circuit 116. When data in another area of the EEPROM becomes necessary, a new address is written in the emulation area control register 114, so that the CPU 11 writes back only the data in which the access page discrimination bit is set to the EEPROM along with the subroutine program. When the writing to the EEPROM is completed, the access page determination bits are all cleared, and the corresponding address of the EEPROM can be read.

【0020】図5はEEPROM110とエミュレーシ
ョンRAM113のアドレス領域が重なった状態のアド
レスマップのイメージ図である。本実施例では1アドレ
ス分の1Byteのデータを1ページとして扱い、EE
PROM110に対する再書き込みの際の最小消去ブロ
ック単位となる。本実施例ではエミュレーションRAM
113は前記1Byte単位のページを256ページ分
有し、各ページのデータが有効か無効かを判別する為の
アクセスページ判別bitを各ページアドレスに1bi
tづつ有している。本実施例では1Byteを1ページ
として扱い、エミュレーションRAMには256ページ
=256Byteを使用しているが、ページの大きさ並
びにエミュレーションRAMの容量はシステムの構成に
より、これより大きくても小さくても良い。例えばデー
タ4bitを単位として取り扱う4bitマイクロコン
ピュータでは4bitが1ページの単位となり、16b
itを単位として取り扱う16bitマイクロコンピュ
ータでは16bitが1ページの単位となる。
FIG. 5 is an image diagram of an address map in a state where the address areas of the EEPROM 110 and the emulation RAM 113 are overlapped. In this embodiment, one byte of data for one address is treated as one page, and EE is used.
This is the minimum erase block unit when rewriting the PROM 110. In this embodiment, the emulation RAM is used.
Reference numeral 113 denotes 256 pages of the page of 1 Byte unit, and an access page determination bit for determining whether data of each page is valid or invalid is stored in each page address by 1 bi.
t at a time. In this embodiment, one byte is treated as one page, and 256 pages = 256 bytes are used for the emulation RAM. However, the size of the page and the capacity of the emulation RAM may be larger or smaller depending on the system configuration. . For example, in a 4-bit microcomputer that handles data of 4 bits as a unit, 4 bits become a unit of one page, and 16 bits
In a 16-bit microcomputer that handles it as a unit, 16 bits are a unit of one page.

【0021】[0021]

【発明の効果】以上のように請求項1に係わる半導体集
積装置によれば、不揮発性メモリのデータを使用した後
に変更が加わったか判定する事ができ、変更されたデー
タのみ書き戻す事により不揮発性メモリの寿命を大幅に
延ばす事が可能となる。
As described above, according to the semiconductor integrated device of the first aspect, it is possible to determine whether or not a change has been made after using the data in the nonvolatile memory. It is possible to greatly extend the life of the non-volatile memory.

【0022】請求項2及び請求項3に係わる半導体集積
装置によれば、読み出し速度と比較して書き込み速度が
10〜30倍遅い不揮発性メモリを、システム全体の処
理速度を大きく損なう事無く使用する事が可能となる。
According to the semiconductor integrated device of the second and third aspects, the non-volatile memory whose writing speed is 10 to 30 times slower than the reading speed is used without significantly impairing the processing speed of the entire system. Things become possible.

【0023】請求項4に係わる不揮発性メモリ書き込み
方式によれば、不揮発性メモリのデータを使用した後に
変更が加わったか判定する事ができ、変更されたデータ
のみ書き戻す事により不揮発性メモリの寿命を大幅に延
ばす事が可能となる。
According to the nonvolatile memory writing method of the present invention, it is possible to determine whether or not a change has been made after using the data in the nonvolatile memory. Can be greatly extended.

【0024】請求項5及び請求項6に係わる不揮発性メ
モリ書き込み方式によれば、読み出し速度と比較して書
き込み速度が10〜30倍遅い不揮発性メモリを、シス
テム全体の処理速度を大きく損なう事無く使用する事が
可能となる。
According to the non-volatile memory writing method according to the fifth and sixth aspects, the non-volatile memory whose writing speed is 10 to 30 times slower than the reading speed can be used without significantly impairing the processing speed of the entire system. It can be used.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明による半導体集積装置及び不揮発性メモ
リ書き込み方式の構成の一部を表すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing a part of a configuration of a semiconductor integrated device and a nonvolatile memory writing system according to the present invention.

【図2】本発明によるフラッシュメモリ及びエミュレー
ションRAMのアドレスマップ図である。
FIG. 2 is an address map of a flash memory and an emulation RAM according to the present invention.

【図3】本発明によるアクセスページ判別レジスタの構
成を表すブロック図である。
FIG. 3 is a block diagram illustrating a configuration of an access page determination register according to the present invention.

【図4】本発明による半導体集積装置及び不揮発性メモ
リ書き込み方式の他の構成の一部を表すブロック図であ
る。
FIG. 4 is a block diagram illustrating a part of another configuration of a semiconductor integrated device and a nonvolatile memory writing method according to the present invention.

【図5】本発明によるEEPROM及びエミュレーショ
ンRAMのアドレスマップ図である。
FIG. 5 is an address map of an EEPROM and an emulation RAM according to the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1a アドレスバス 1b アドレスバス 1c アドレスバス 1d アドレスバス 1e アドレスバス 1f アドレスバス 1g アドレスバス 2a データバス 2b データバス 2c データバス 2d データバス 2e データバス 2f データバス 2g データバス 2h データバス 3 フラッシュメモリ制御バス 4 エミュレーションRAMアドレス・制御バス 5 エミュレーション領域アドレス信号 10 フラッシュメモリ 11 CPU 12 RAM 13 エミュレーションRAM 14 エミュレーション領域レジスタ 15 フラッシュメモリ制御レジスタ 16 フラッシュメモリ制御回路 17 アクセスページ判別レジスタ 20 アドレスコンパレータ 21 レジスタ 103 EEPROM制御バス 104 エミュレーションRAMアドレス・制御バス 110 EEPROM 113 エミュレーションRAM 114 エミュレーション領域制御レジスタ 115 EEPROM制御レジスタ 116 EEPROM制御回路 120 エミュレーションRAM領域 121 アクセスページ判別bit 1a Address bus 1b Address bus 1c Address bus 1d Address bus 1e Address bus 1f Address bus 1g Address bus 2a Data bus 2b Data bus 2c Data bus 2d Data bus 2e Data bus 2f Data bus 2g Data bus 2h Data bus 3 Flash memory control bus 4 Emulation RAM address / control bus 5 Emulation area address signal 10 Flash memory 11 CPU 12 RAM 13 Emulation RAM 14 Emulation area register 15 Flash memory control register 16 Flash memory control circuit 17 Access page discrimination register 20 Address comparator 21 Register 103 EEPROM control bus 104 Emulation RAM address / control bus 11 EEPROM 113 Emulation RAM 114 Emulation area control register 115 EEPROM control register 116 EEPROM control circuit 120 emulation RAM area 121 access page determination bit

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】電気的に書き込み・消去可能な不揮発性メ
モリを内蔵する半導体集積装置に於いて、前記不揮発性
メモリの一部の領域とアドレスを重ねて配置する事がで
き、重ね合わせる位置を任意に設定する為の手段を有す
る書き込み・読み出しが可能なメモリを有し、前記書き
込み・読み出しが可能なメモリに対して書き込みが行わ
れた事を判別するための記憶手段を設け、前記不揮発性
メモリに書き込みを行う際に前記記憶手段の情報を制御
に使用する事を特徴とする半導体集積装置。
In a semiconductor integrated device having an electrically writable and erasable nonvolatile memory, an address can be arranged so as to overlap a partial area of the nonvolatile memory. A memory for writing / reading having means for arbitrarily setting; and a storage means for determining whether writing has been performed on the memory for writing / reading, A semiconductor integrated device, wherein information in the storage means is used for control when writing to a memory.
【請求項2】電気的に書き込み・消去可能な不揮発性メ
モリを内蔵する半導体集積装置に於いて、前記不揮発性
メモリの任意のアドレスと重ねて配置する事ができる、
前記不揮発性メモリのデータを予め転送する為の書き込
み・読み出しが可能なメモリーを有し、前記書き込み・
読み出しが可能なメモリに対して書き込みが行われた事
を判別するための記憶手段を設け、前記不揮発性メモリ
に書き込みを行う際に前記記憶手段の情報を制御に使用
する事を特徴とする半導体集積装置。
2. A semiconductor integrated device having an electrically writable and erasable nonvolatile memory built therein, wherein the semiconductor integrated device can be arranged so as to overlap an arbitrary address of the nonvolatile memory.
A writable and readable memory for transferring data of the nonvolatile memory in advance;
A semiconductor device, comprising: storage means for judging that data has been written to a readable memory, and using information of the storage means for control when writing to the nonvolatile memory. Integrated device.
【請求項3】電気的に書き込み・消去可能な不揮発性メ
モリを内蔵する半導体集積装置に於いて、前記不揮発性
メモリの任意のアドレスと重ねて配置する事ができる、
前記不揮発性メモリのデータを予め転送する為の書き込
み・読み出しが可能なメモリを有し、前記書き込み・読
み出しが可能なメモリに書き込みが行われた事を判別す
るための記憶領域を設け、前記不揮発性メモリにデータ
を書き戻す際に、前記記憶領域の情報を元に必要なデー
タのみ書き戻す事を特徴とする半導体集積装置。
3. In a semiconductor integrated device having a nonvolatile memory which can be electrically written and erased, the nonvolatile memory can be arranged so as to overlap any address of the nonvolatile memory.
A writable / readable memory for transferring data of the nonvolatile memory in advance, and a storage area for determining that writing has been performed on the writable / readable memory; A semiconductor integrated device for writing back only necessary data based on the information in the storage area when writing data back to the volatile memory.
【請求項4】電気的に書き込み・消去可能な不揮発性メ
モリに書き込みを行う不揮発性メモリ書き込み方式に於
いて、前記不揮発性メモリの一部の領域とアドレスを重
ねて配置することができ、重ね合わせる位置を任意に設
定する為の手段を有する書き込み・読み出しが可能なメ
モリを使用し、前記書き込み・読み出しが可能なメモリ
に対して書き込みが行われた事を判別するための記憶手
段を設け、前記不揮発性メモリに書き込みを行う際に前
記記憶手段の情報を制御に使用する事を特徴とする不揮
発性メモリ書き込み方式。
4. A non-volatile memory writing method for writing data in an electrically writable and erasable non-volatile memory, wherein an address can be arranged so as to overlap a partial area of the non-volatile memory. Using a writable / readable memory having a means for arbitrarily setting a position to be aligned, a storage means for determining that writing has been performed on the writable / readable memory is provided, A nonvolatile memory writing method, wherein information in the storage means is used for control when writing to the nonvolatile memory.
【請求項5】電気的に書き込み・消去可能な不揮発性メ
モリに書き込みを行う不揮発性メモリ書き込み方式に於
いて、前記不揮発性メモリの任意のアドレスと重ねて配
置する事ができる、前記不揮発性メモリのデータを予め
転送する為の書き込み・読み出しが可能なメモリーを使
用し、前記書き込み・読み出しが可能なメモリに対して
書き込みが行われた事を判別するための記憶手段を設
け、前記不揮発性メモリに書き込みを行う際に前記記憶
手段の情報を制御に使用する事を特徴とする不揮発性メ
モリ書き込み方式。
5. A nonvolatile memory writing method for writing data in an electrically writable and erasable nonvolatile memory, wherein the nonvolatile memory can be arranged so as to overlap an arbitrary address of the nonvolatile memory. Using a writable / readable memory for transferring data in advance, and providing storage means for determining that writing has been performed on the writable / readable memory; A non-volatile memory writing method, wherein information in the storage means is used for control when writing data to a memory.
【請求項6】電気的に書き込み・消去可能な不揮発性メ
モリに書き込みを行う不揮発性メモリ書き込み方式に於
いて、前記不揮発性メモリの任意のアドレスと重ねて配
置する事ができる書き込み・読み出しが可能なメモリを
使用し、前記書き込み・読み出しが可能なメモリに書き
込みが行われた事を判別するための記憶領域を設け、前
記不揮発性メモリにデータを書き戻す際に、前記記憶領
域の情報を元に必要なデータのみ書き戻す事を特徴とす
る不揮発性メモリ書き込み方式。
6. A non-volatile memory writing method for writing data into an electrically writable and erasable non-volatile memory, wherein writing and reading can be performed so as to be arranged at an arbitrary address of the non-volatile memory. A storage area for determining that writing has been performed on the writable / readable memory using a simple memory, and based on the information in the storage area when writing data back to the nonvolatile memory. A non-volatile memory writing method characterized by writing back only the data necessary for the operation.
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011520188A (en) * 2008-04-30 2011-07-14 アップル インコーポレイテッド Memory system copyback optimization
JP2015511350A (en) * 2012-01-26 2015-04-16 メモリー テクノロジーズ リミティド ライアビリティ カンパニー Apparatus and method for providing cache migration with a non-volatile mass memory system
US10042586B2 (en) 2012-04-20 2018-08-07 Memory Technologies Llc Managing operational state data in memory module
US10540094B2 (en) 2008-02-28 2020-01-21 Memory Technologies Llc Extended utilization area for a memory device
US10983697B2 (en) 2009-06-04 2021-04-20 Memory Technologies Llc Apparatus and method to share host system RAM with mass storage memory RAM

Cited By (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11494080B2 (en) 2008-02-28 2022-11-08 Memory Technologies Llc Extended utilization area for a memory device
US11907538B2 (en) 2008-02-28 2024-02-20 Memory Technologies Llc Extended utilization area for a memory device
US11829601B2 (en) 2008-02-28 2023-11-28 Memory Technologies Llc Extended utilization area for a memory device
US10540094B2 (en) 2008-02-28 2020-01-21 Memory Technologies Llc Extended utilization area for a memory device
US11550476B2 (en) 2008-02-28 2023-01-10 Memory Technologies Llc Extended utilization area for a memory device
US11182079B2 (en) 2008-02-28 2021-11-23 Memory Technologies Llc Extended utilization area for a memory device
US8572335B2 (en) 2008-04-30 2013-10-29 Apple Inc. Copyback optimization for memory system
KR101471262B1 (en) * 2008-04-30 2014-12-10 애플 인크. Copyback optimization for memory system
JP2011520188A (en) * 2008-04-30 2011-07-14 アップル インコーポレイテッド Memory system copyback optimization
US11733869B2 (en) 2009-06-04 2023-08-22 Memory Technologies Llc Apparatus and method to share host system RAM with mass storage memory RAM
US10983697B2 (en) 2009-06-04 2021-04-20 Memory Technologies Llc Apparatus and method to share host system RAM with mass storage memory RAM
US11775173B2 (en) 2009-06-04 2023-10-03 Memory Technologies Llc Apparatus and method to share host system RAM with mass storage memory RAM
US10877665B2 (en) 2012-01-26 2020-12-29 Memory Technologies Llc Apparatus and method to provide cache move with non-volatile mass memory system
US11797180B2 (en) 2012-01-26 2023-10-24 Memory Technologies Llc Apparatus and method to provide cache move with non-volatile mass memory system
JP2015511350A (en) * 2012-01-26 2015-04-16 メモリー テクノロジーズ リミティド ライアビリティ カンパニー Apparatus and method for providing cache migration with a non-volatile mass memory system
US11226771B2 (en) 2012-04-20 2022-01-18 Memory Technologies Llc Managing operational state data in memory module
US11782647B2 (en) 2012-04-20 2023-10-10 Memory Technologies Llc Managing operational state data in memory module
US10042586B2 (en) 2012-04-20 2018-08-07 Memory Technologies Llc Managing operational state data in memory module

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