JP2000269260A - 電界効果トランジスタチップおよびその実装方法 - Google Patents
電界効果トランジスタチップおよびその実装方法Info
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Abstract
果トランジスタチップを提供する。 【解決手段】 2個の電界効果トランジスタを1個の電
界効果トランジスタチップ1に造り込み、各電界効果ト
ランジスタのソースとドレインとを電界効果トランジス
タチップ1の一方の主面1aに臨ませ、一方の主面1a
に、ソースに導通するソースパッド3,5とゲートに導
通するゲートパッド2,4とを、各電界効果トランジス
タ毎に個々に形成し、各電界効果トランジスタのドレイ
ンを電界効果トランジスタチップ1の他方の主面に臨ま
せ、他方の主面に、各電界効果トランジスタのドレイン
を互いに接続する導体膜6を形成した。
Description
ランジスタを構成する電界効果トランジスタチップ、お
よびその実装方法に関する。
保護回路に内蔵されている充放電制御用の電界効果トラ
ンジスタは、図6に示すように、2個1組で用いられ、
ドレインが共通に接続される。すなわち、電界効果トラ
ンジスタ51のソース51sおよびゲート51gと、電
界効果トランジスタ52のソース52sおよびゲート5
2gとは、相互に独立に使用されるが、電界効果トラン
ジスタ51のドレイン51dと電界効果トランジスタ5
2のドレイン52dとは、互いに接続される。
従来は、図7に示すように、基板61の表面に形成され
た金属箔62と電界効果トランジスタチップ63,64
の他方の主面とを導電ペースト65,66により接続
し、電界効果トランジスタチップ63,64の一方の主
面に形成されたゲートパッド67,68と基板61の表
面に形成されたゲートパターン69,70とをそれぞれ
1本の金線71,72を用いてワイヤボンディングによ
り接続し、電界効果トランジスタチップ63,64の一
方の主面に形成されたソースパッド73,74と基板6
1の表面に形成されたソースパターン75,76とをそ
れぞれ3本の金線77,78を用いてワイヤボンディン
グにより接続していた。
ンジスタが形成された2個の電界効果トランジスタチッ
プ63,64を用いており、各電界効果トランジスタチ
ップ63,64の他方の主面にドレインパッド(図面に
は表れていない)が形成されていた。
の電界効果トランジスタを得るために、2個の電界効果
トランジスタチップ63,64を個々にシリコンウェハ
から切り出す必要があるので、シリコンウェハのダイシ
ング工程が多く必要であり、製造コストの増加要因にな
るという課題があった。また、2個の電界効果トランジ
スタチップ63,64を個々に基板61の表面にボンデ
ィングすることから、ボンディング工程が多く必要であ
り、実装コストの増加要因になるという課題があった。
また、2個の電界効果トランジスタチップ63,64の
ドレインパッドを互いに導通させるために、金属箔62
と電界効果トランジスタチップ63,64の他方の主面
とを高価な導電ペースト65,66により接続する必要
があることから、実装コストの増加要因になるという課
題があった。
されたものであって、製造コストや実装コストを低減で
きる電界効果トランジスタチップ、およびその実装方法
を提供することを、その課題とする。
次の技術的手段を講じている。
効果トランジスタを1個のチップに造り込み、各電界効
果トランジスタの一方の入出力端と制御端とをチップの
一方の主面に臨ませ、一方の主面に、一方の入出力端に
導通するパッドと制御端に導通するパッドとを、各電界
効果トランジスタ毎に個々に形成し、各電界効果トラン
ジスタの他方の入出力端をチップの他方の主面に臨ま
せ、他方の主面に、各電界効果トランジスタの他方の入
出力端を互いに接続する導体膜を形成したことを特徴と
する、電界効果トランジスタチップが提供される。
記載の電界効果トランジスタチップを基板表面に実装す
る実装方法であって、基板表面に、各パッドにそれぞれ
対応する導体パターンを形成しておき、基板とチップと
を、基板表面と導体膜とが対向するようにボンディング
し、各パッドとそれに対応する各導体パターンとをワイ
ヤボンディングにより接続することを特徴とする、電界
効果トランジスタチップの実装方法が提供される。
記載の電界効果トランジスタチップを基板表面に実装す
る実装方法であって、基板表面に、各パッドにそれぞれ
対応する導体パターンを形成しておき、基板表面とチッ
プの一方の主面とを対向させ、各パッドとそれに対応す
る各導体パターンとを導体バンプを介して接続すること
を特徴とする、電界効果トランジスタチップの実装方法
が提供される。
を1個のチップに造り込み、各電界効果トランジスタの
一方の入出力端と制御端とをチップの一方の主面に臨ま
せ、一方の主面に、一方の入出力端に導通するパッドと
制御端に導通するパッドとを、各電界効果トランジスタ
毎に個々に形成し、各電界効果トランジスタの他方の入
出力端をチップの他方の主面に臨ませ、他方の主面に、
各電界効果トランジスタの他方の入出力端を互いに接続
する導体膜を形成したので、製造コストや実装コストを
低減できる。
得るために1個の電界効果トランジスタチップをシリコ
ンウェハから切り出せばよいので、シリコンウェハのダ
イシング工程を削減でき、製造コストを低減できる。ま
た、1個の電界効果トランジスタチップを基板の表面に
ボンディングすればよいので、ボンディング工程を半分
にでき、実装コストを低減できる。また、基板とのボン
ディングのために高価な導電ペーストを用いる必要が無
いことから、実装コストを低減できる。
図面を参照して以下に行う詳細な説明によって、より明
らかとなろう。
態を、図面を参照して具体的に説明する。
タチップの平面図、図2は、同正面図であって、電界効
果トランジスタチップ1には、2個の電界効果トランジ
スタが造り込まれている。電界効果トランジスタチップ
1の一方の主面1aには、主面1aの相対向する辺A,
Bのうちの一方の辺Aの近傍に、一方の電界効果トラン
ジスタの制御端であるゲートに導通するゲート電極とし
てのゲートパッド2と、一方の電界効果トランジスタの
入出力端であるソースに導通するソース電極としてのソ
ースパッド3とが形成されており、他方の辺Bの近傍
に、他方の電界効果トランジスタの制御端であるゲート
に導通するゲート電極としてのゲートパッド4と、他方
の電界効果トランジスタの入出力端であるソースに導通
するソース電極としてのソースパッド5とが形成されて
いる。他方の主面1bには、各電界効果トランジスタの
入出力端であるドレインに導通するドレイン電極として
の導体膜6が全面にわたって形成されている。
によって構成される2個の電界効果トランジスタは、導
体膜6によってドレインを互いに接続されており、電気
的には図6に示す回路と同様である。
は、たとえば、1個の電界効果トランジスタを造り込ん
だ通常の電界効果トランジスタチップを所定数得るため
のシリコンウェハを製造し、そのシリコンウェハの一方
の面すなわち電界効果トランジスタのドレイン側に相当
する面に、全面にわたって導体膜6を形成し、さらにシ
リコンウェハの他方の面の所定の位置にゲートパッド
2,4およびソースパッド3,5をそれぞれ形成し、ダ
イシングに際して、従来の電界効果トランジスタチップ
の2個分を1個の電界効果トランジスタチップ1として
切り出すことにより得られる。すなわち、図1における
仮想線に沿うダイシングを行わないことにより実現され
る。
基板に実装した状態の斜視図であって、電界効果トラン
ジスタチップ1の実装に際しては、先ず電界効果トラン
ジスタチップ1を基板11の表面にダイボンディングす
る。このとき、電界効果トランジスタチップ1の導体膜
6と基板11の表面とを対向させ、ペースト状の接着剤
12により両者を接合させる。電界効果トランジスタチ
ップ1に造り込まれた2個の電界効果トランジスタのド
レインは、導体膜6により互いに電気的に接続されてい
るので、接着剤12として導電ペーストを用いる必要は
なく、また基板11の表面に図7の金属箔62に相当す
る導体膜を形成する必要もない。
ートパッド2と基板11表面に形成された導体パターン
13、ソースパッド3と導体パターン14、ゲートパッ
ド4と導体パターン15、ソースパッド5と導体パター
ン16、をそれぞれ金線17を用いてワイヤボンディン
グにより接続する。ソースパッド3,5と導体パターン
14,16との接続に金線17をそれぞれ3本ずつ用い
ているのは、ソースパッド3,5と導体パターン14,
16との間の抵抗値を減少させるためである。もちろ
ん、金線17の数は3本に限るものではない。
を得るために1個の電界効果トランジスタチップ1をシ
リコンウェハから切り出せばよいので、シリコンウェハ
のダイシング工程を削減でき、製造コストを低減でき
る。また、実装に際して1個の電界効果トランジスタチ
ップ1を基板11の表面にボンディングすればよいの
で、ボンディング工程を半分にでき、実装コストを低減
できる。また、電界効果トランジスタチップ1の他方の
主面1bに導体膜6を形成したので、基板11とのボン
ディングのために高価な導電ペーストを用いる必要が無
いことから、実装コストを低減できる。また、2個の電
界効果トランジスタチップを用いる場合と比較して、チ
ップ間の隙間が不要であり、実装面積を縮小できる。
電界効果トランジスタチップ1の実装工程の説明図であ
って、電界効果トランジスタチップ1の実装に際して
は、先ず図4のように、電界効果トランジスタチップ1
のゲートパッド2,4およびソースパッド3,5にそれ
ぞれ導体バンプの一例としての半田バンプ21を設け
る。そして図5のように、基板11表面に形成された導
体パターン22〜25と電界効果トランジスタチップ1
のゲートパッド2,4およびソースパッド3,5とを半
田バンプ21により接合させる。ソースパッド3,5と
導体パターン23,25との接続に半田バンプ21をそ
れぞれ2個ずつ用いているのは、ソースパッド3,5と
導体パターン23,25との間の抵抗値を減少させるた
めである。もちろん、半田バンプ21の数は2個に限る
ものではない。
イスダウン実装すれば、図3のように金線17を用いて
ワイヤボンディングによりソースパッド3,5と導体パ
ターン14,16とを接続する場合と比較して、ソース
パッド3,5と導体パターン23,25との間の抵抗値
を良好に低減できる。また、導体パターン22〜25を
電界効果トランジスタチップ1の配置位置の内側に配置
できるので、図3のようにワイヤボンディングのために
導体パターン13〜16を電界効果トランジスタチップ
1の配置位置の外側に配置する場合と比較して、実装面
積を小さくできる。また、電界効果トランジスタチップ
1のパッド2〜5は比較的大きいので、特別なFCボン
ダなどの必要が無いことから、従来の一般的なチップマ
ウンターを用いてフェイスダウン実装を行える。
トランジスタチップ1の一方の主面1a上で、ゲートパ
ッド2とゲートパッド4とがほぼ対角線上に位置し、ソ
ースパッド3とソースパッド5とがほぼ対角線上に位置
するように配置したが、ゲートパッド2とゲートパッド
4とが辺A,Bと直交する直線上に位置し、ソースパッ
ド3とソースパッド5とが辺A,Bと直交する直線上に
位置するように配置してもよい。
面図である。
面図である。
板に実装した状態の斜視図である。
ップの実装工程の説明図である。
ップの実装工程の説明図である。
れている充放電制御用の電界効果トランジスタの回路図
である。
装した状態の斜視図である。
Claims (3)
- 【請求項1】 2個の電界効果トランジスタを1個のチ
ップに造り込み、 前記各電界効果トランジスタの一方の入出力端と制御端
とを前記チップの一方の主面に臨ませ、 前記一方の主面に、前記一方の入出力端に導通するパッ
ドと前記制御端に導通するパッドとを、前記各電界効果
トランジスタ毎に個々に形成し、 前記各電界効果トランジスタの他方の入出力端を前記チ
ップの他方の主面に臨ませ、 前記他方の主面に、前記各電界効果トランジスタの他方
の入出力端を互いに接続する導体膜を形成したことを特
徴とする、電界効果トランジスタチップ。 - 【請求項2】 請求項1に記載の電界効果トランジスタ
チップを基板表面に実装する実装方法であって、 前記基板表面に、前記各パッドにそれぞれ対応する導体
パターンを形成しておき、 前記基板と前記チップとを、前記基板表面と前記導体膜
とが対向するようにボンディングし、 前記各パッドとそれに対応する前記各導体パターンとを
ワイヤボンディングにより接続することを特徴とする、
電界効果トランジスタチップの実装方法。 - 【請求項3】 請求項1に記載の電界効果トランジスタ
チップを基板表面に実装する実装方法であって、 前記基板表面に、前記各パッドにそれぞれ対応する導体
パターンを形成しておき、 前記基板表面と前記チップの一方の主面とを対向させ、
前記各パッドとそれに対応する前記各導体パターンとを
導体バンプを介して接続することを特徴とする、電界効
果トランジスタチップの実装方法。
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JP11069938A JP2000269260A (ja) | 1999-03-16 | 1999-03-16 | 電界効果トランジスタチップおよびその実装方法 |
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Applications Claiming Priority (1)
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JP11069938A JP2000269260A (ja) | 1999-03-16 | 1999-03-16 | 電界効果トランジスタチップおよびその実装方法 |
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CN (1) | CN1174485C (ja) |
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