JP2000251201A - ハードディスク音響検査方法およびハードディスク音響検査装置およびプログラム記憶媒体 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ハードディスクを開封することなく、ＣＳＳ
エリアについた打痕を発見できるようにする。 【解決手段】 ハードディスク２ヘッドとディスク上の
傷が衝突する際に生じる振動をハードディスクの筐体に
伝わる振動から検出することによって、ハードディスク
のカバーを開封することなしに、ディスクの傷（特に、
ＣＳＳエリアの傷）の有無を検査できるようにする。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、ハードディスクに
おけるディスクの傷（特に、ＣＳＳ（コンタクト・スタ
ート・ストップ）エリアの打痕等）を検査する方法およ
びその装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】ハードディスクの種類として、電源ＯＦ
Ｆ時にヘッドが待機するＣＳＳエリアがディスク上に設
けられているものがある。

【０００３】ＣＳＳエリアを持つハードディスクは、そ
の運搬中の振動等によって、ヘッドがこのＣＳＳエリア
に衝突し、打痕をつけてしまうことがある。

【０００４】図７はハードディスクのＣＳＳエリアにつ
いた打痕とヘッドの高さの関係を示す説明図で、ディス
ク１００を回転させてヘッド１０１が浮上した時の高さ
はディスク面１０２から３０ｎｍ〜８０ｎｍ、これに対
して、打痕１０３の高さは１５ｎｍ〜５０ｎｍ程度であ
る。このような打痕は、通常の読み書き検査では発見で
きない。このような打痕のついたハードディスクは、実
際に使用を開始して１〜２か月たつと、打痕１０３とヘ
ッド１０１が衝突することによって発生する粉塵等によ
り故障を起こしやすくなる。

【０００５】このような打痕は、ハードディスクを開封
すれば発見することはできる。しかしながら、開封した
ハードディスクは、塵等が混入するため、製品としての
価値がなくなってしまう。そのため、ハードディスクを
開封することなく検査できる手法が望まれていた。

【０００６】他方、ハードディスクの製造工程におい
て、ディスクについた傷を検査する方法としては、特開
平４−２８３４２１号や特開平１０―２０６３４０号に
開示される技術がある。

【０００７】これらの技術は、ヘッドが取り付けられて
いるアームに振動を検査する機構を取り付け、アームの
振動を直接検出して、この振動からの傷の有無を判断す
るものである。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の検査方法は、アームに振動を検出する機構が必
要なため、製造するための手間とコストがかかってしま
う。また、すでに世間に普及しているハードディスクに
は適用できない。しかも、上述した従来の検査方法は、
ハードディスクのカバーを取り付けてしまうとアームに
は直接アクセスできないので、製品化した後のハードデ
ィスクの検査は不可能である。

【０００９】本発明は、ハードディスクを開封すること
なく、ハードディスクの傷（特に、ＣＳＳエリアの打
痕）を発見できるようにする。しかも、本発明は、ハー
ドディスクの製造に手間やコストをかけることなく、ま
た、すでに世間に普及しているハードディスクにも適用
できるようにする。

【００１０】

【課題を解決するための手段】上述した課題を解決する
ため、請求項１に係る発明は、ハードディスクの筐体に
伝わる振動からハードディスクのヘッドとディスクの傷
が衝突する際に生じる振動をピックアップすることによ
って、ディスクの傷の有無を検査することを特徴とする
ハードディスク音響検査方法である。

【００１１】請求項２に係る発明は、上述した請求項１
に係る発明において、前記検査は、ディスクの駆動を停
止させ、ディスクが惰性で回転しているときに行うこと
とした。

【００１２】請求項３に係る発明は、ハードディスクの
筐体に伝わる振動からハードディスクのヘッドとディス
クの傷が衝突する際に生じる振動をピックアップする手
段を備えたことを特徴とするハードディスク音響検査装
置である。

【００１３】請求項４に係る発明は、上述した請求項３
に係る発明において、前記ピックアップする手段は、接
触マイクであることを特徴とする。

【００１４】請求項５に係る発明は、上述した請求項３
に係る発明において、前記ピックアップする手段は、光
学ヘッドであることを特徴とする。

【００１５】請求項６に係る発明は、上述した請求項３
に係る発明において、前記ピックアップする手段によっ
てピックアップされた振動を音として増幅して外部に出
力する手段を備えたことを特徴とする。

【００１６】請求項７に係る発明は、上述した請求項３
に係る発明において、前記ピックアップする手段によっ
てピックアップされた振動を波形として表示するディス
プレイを備えたことを特徴とする。

【００１７】請求項８に係る発明は、上述した請求項３
に係る発明において、前記ピックアップする手段によっ
てピックアップされた振動をデジタル値に変換して記憶
する手段を備えたことを特徴とする。

【００１８】請求項９に係る発明は、上述した請求項８
に係る発明において、前記記憶する手段によって記憶さ
れた振動を基にして、ハードディスクのヘッドとディス
クの傷が衝突する音を検出する手段を備えたことを特徴
とする。

【００１９】請求項１０に係る発明は、上述した請求項
９に係る発明において、前記検出する手段は、ハードデ
ィスクの電源を制御する機能と、振動の状態を監視する
機能と、外部に出力する音の増幅率を変化させる機能を
有することを特徴とする。

【００２０】請求項１１に係る発明は、上述した請求項
９に係る発明において、前記検出する手段は、観測者に
検査可能タイミングを通知する機能を有することを特徴
とする。

【００２１】請求項１２に係る発明は、上述した請求項
８に係る発明において、デジタル値に変換された振動を
Ｗａｖｅｌｅｔ変換する手段を備えたことを特徴とす
る。

【００２２】請求項１３に係る発明は、上述した請求項
９に係る発明において、前記検出する手段は、前記記憶
部に記憶された振動を基にして、ディスクの回転停止直
前の領域を切出してディスクのＣＳＳエリアの傷の解析
を行うことを特徴とする。

【００２３】請求項１４に係る発明は、上述した請求項
９に係る発明において、前記検出する手段は、音響デー
タの平均レベルとピークレベルの比を用いてディスクの
傷の有無を解析することを特徴とする。

【００２４】請求項１５に係る発明は、上述した請求項
９に係る発明において、前記検出手段は、音響データ中
のピークレベルの周期性とハードディスクのスピンドル
の減速特性を用いてディスクの傷の有無を解析すること
を特徴とする。

【００２５】請求項１６に係る発明は、上述した請求項
９に係る発明において、前記検出手段は、ハードディス
クの複数の型のパラメータを記憶でき、検査するハード
ディスクの型に応じたパラメータを用いてディスクの傷
の有無を解析することを特徴とする。

【００２６】請求項１７に係る発明は、上述した請求項
３に係る発明において検査時に原音の状態の音響データ
を記憶する手段を備えたこと、を特徴とする。

【００２７】請求項１８に係る発明は、ハードディスク
の筐体に伝わる振動を基にして、音響データの平均レベ
ルとピークレベルの比を用いてディスクの傷の有無を解
析する、または、音響データ中のピークレベルの周期性
とハードディスクのスピンドルの減速特性を用いてディ
スクの傷の有無を解析するプログラムを記憶したことを
特徴とするプログラム媒体である。

【００２８】請求項１９に係る発明は、上述した請求項
１に係る発明において、前記検査は、減圧チェンバー内
で行うことを特徴とする。

【００２９】

【発明の実施の形態】本発明は、ハードディスクのヘッ
ドとディスク上の傷が衝突する際に生じる振動をハード
ディスクの筐体に伝わる振動から検出することによっ
て、ハードディスクのカバーを開封することなしに、デ
ィスクのＣＳＳエリアの傷の有無を検査できるようにし
たものである。

【００３０】なお、当業界において、ハードディスクの
ヘッドとディスクの傷が衝突する際に生じる振動がハー
ドディスクの筐体に伝わることはまったく予想外のこと
であった。それゆえ、例えば、特開平４−２８３４２１
号や特開平１０―２０６３４０号では、振動を検出する
ための特別な機構をアームに設けなければディスクの傷
の有無が検査できなかった。他方、本発明は、そのよう
な特別な機構を設けることなしに、ディスクの傷の有無
が検査できる。

【００３１】以下、本発明の詳細を図面を用いて説明す
る。なお、各図はこの発明を理解できる程度に概略的に
示してあるにすぎない。また、各図において、共通する
要素については、同一の符号を付し、説明を省略する。

【００３２】＜第１の実施例＞以下に、例えば、ディス
クのＣＳＳエリアの傷の有無を検査する場合を例にして
発明の詳細を説明する。

【００３３】図１は本発明のハードディスク音響検査装
置の実施の形態の一例を示す機能ブロック図である。

【００３４】図において、１はハードディスク２の振動
をピックアップする手段としての接触マイクである。接
触マイク１は、ハードディスク２の筐体に接触させるこ
とで、該筐体に伝わる振動を検出して、アナログの電気
信号を発生する。接触マイク１は、振動子が圧電素子に
接続され、振動子の振動が直接圧電素子に伝達される機
構のもの（圧電マイク）を用いるとよい。

【００３５】３は増幅器で、前記接触マイク１が拾った
ハードディスク２の筐体に伝わる振動を増幅する。この
増幅器３は、増幅率が可変となっている。

【００３６】３ａは前記増幅器３で増幅した接触マイク
１の出力をＡ−Ｄ変換するＡ−Ｄ変換器、３ｂは前記増
幅器３で増幅した接触マイク１の出力を前記Ａ−Ｄ変換
器でデジタル化したデータを保存する記憶装置である。

【００３７】４は前記増幅器３で増幅した接触マイク１
の出力を音声として出力するスピーカである。なお、ス
ピーカの代わりにヘッドフォンを用いてもよい。

【００３８】５は制御装置で、検査を開始するためのス
タートＳＷ（スイッチ）５ａ、検査可能な状態となった
ことを観測者に通知する表示ＬＥＤ５ｂ、ハードディス
ク２の電源のＯＮ／ＯＦＦの制御を行う回路５ｃ、該ハ
ードディスク２の状態を監視する回路５ｄ、増幅器３の
増幅率を制御する回路５ｅ、該増幅器３の出力からノイ
ズの有無を判断する回路５ｆ、記憶装置３ａにデータを
保存したり読み出す回路５ｇ、ハードディスク用電源部
５ｈを備える。

【００３９】ハードディスク２と制御装置５の間は、制
御装置５からハードディスク２に電源を供給するため、
該ハードディスク２の電源用コネクタと接続するととも
に、ハードディスク２のＯＮ／ＯＦＦ制御および状態の
監視のため、信号インターフェース用のコネクタと接続
する。

【００４０】前記制御装置５の動作の概略を説明する
と、制御装置５は、スタートＳＷ５ａの押下を検出する
と、ハードディスク２への電源をＯＮにし、該ハードデ
ィスク２からの信号を監視して、ハードディスク２から
のレディー信号を受けて立ち上がったことを検出する
と、そこから所定時間経過後に、ハードディスク２への
電源をＯＦＦにする。これにより、ハードディスク２
は、モータ（図示せず）が停止して、ディスクが惰性で
回転するようになる。

【００４１】そして、制御装置５は、ハードディスク２
への電源をＯＦＦにすると、前記増幅器３に所定の時間
をかけて増幅率を上げるように指示を出す。増幅器３
は、この指示を受けて、増幅率を所定の値まで上げなが
ら、増幅した接触マイク１からの出力を制御装置５とＡ
−Ｄ変換器３ａに出力する。このとき、制御装置５は、
増幅器３から受けた出力に含まれるノイズを回路５ｆで
監視する。また、Ａ−Ｄ変換器３ａは、増幅器３から受
けた出力をデジタルなデータに変換して記憶装置３ｂに
出力する。

【００４２】制御装置５は、増幅器３の増幅率が所定の
値まで上がると、表示ＬＥＤ５ｂを点灯して検査可能タ
イミングであることを観測者に通知するとともに、記憶
装置３ｂにＡ−Ｄ変換器３ａから出力されたデータの保
存を開始させる。

【００４３】この後、ディスクの惰性による回転が停止
する。すると、制御装置５は、ノイズが所定値以下にな
った時点で、前記増幅器３に増幅率を下げるように指示
を出す。増幅器３は、この指示を受けて、増幅率を所定
の値まで下げていく。また、制御装置５は、前記表示Ｌ
ＥＤ５ｂを消灯して検査可能タイミングが外れたことを
観測者に通知するとともに、前記記憶手段３ａへの保存
を停止する。

【００４４】図２はハードディスクの構成の一例を示す
斜視図で、図２（ａ）はカバーを外した状態、図２
（ｂ）はカバーを付けた状態を示す。

【００４５】６は一枚、もしくは複数枚のディスクで、
図示しないモータにより回転する。７はアームで、その
先端にディスク６に対してデータの読み書きを行うヘッ
ド８が取り付けられているとともに、後端側は図示しな
い駆動源によりディスク６の面に沿ってアーム７が振れ
るように支持機構に回転可能に支持されている。

【００４６】９は、前記ディスク６や、ディスク６を回
転させるモータ（図示せず）、アーム７の支持機構や駆
動機構、基板等が取り付けられているベースである。

【００４７】１０はベース９にカバー１１を支持するた
めの複数の取付部、１２は取付部１０に設けられたネジ
穴、１３はカバー１１をベース９に固定するためのネ
ジ、１４はハードディスク２をコンピュータ等に取り付
ける際に使用するネジ穴である。

【００４８】１５は電源を接続するための電源コネク
タ、１６は信号線を接続するためのインターフェースコ
ネクタである。

【００４９】以下に、ハードディスク２の動作の概要を
説明する。なお、ハードディスク２には、電源ＯＦＦ時
にヘッド８がディスク６に接触した状態で待機するＣＳ
Ｓエリア６ｂが、該ディスク６の最も内周に沿って設け
られている。

【００５０】ハードディスク２は、電源がＯＮになる
と、ディスク６が回転を開始する。ディスク６が回転す
ると、気流によりヘッド８が浮上してＣＳＳエリア６ａ
から離陸する。ヘッド８が離陸すると、アーム７を回転
させてヘッド８をＣＳＳエリア６ａから読み書きエリア
６ｂに移動させる。

【００５１】電源をＯＦＦにすると、アーム７を回転さ
せてヘッド８をＣＳＳエリア６ａに戻し、ディスク６を
惰性で回転させながらその回転を停止させる。ディスク
６の回転が落ちていくに従い、ヘッド８は降下してい
き、ディスク６の回転が停止してヘッド８がＣＳＳエリ
ア６ａに着陸して、動作は終了する。

【００５２】図３は本発明のハードディスク音響検査装
置の構成の一例を示す外観斜視図である。

【００５３】２０はハードディスク音響検査装置、２１
は検査対象のハードディスク２を装着する装着部であ
る。

【００５４】５ａは図１で説明したスタートＳＷ、１は
接触マイク、４はスピーカ、５ｂは表示ＬＥＤである。
２２はヘッドフォン端子で、スピーカ４に出力される音
を図示しないヘッドフォンで出力可能とする。

【００５５】２３はハードディスク２の電源コネクタ１
５に接続する電源コネクタ、２４はハードディスク２の
インターフェースコネクタ１６に接続するインターフェ
ースコネクタである。

【００５６】図４は図３で説明した接触マイク１の取り
付け構造の一例を示す概略断面図である。接触マイク１
は、バネ２５に押圧されて底面から突出するように、装
着部２１の底面に取り付けられる。ハードディスク２
は、カバー１１が下になるようにして装着部２２に装着
される。ハードディスク２が装着部２１に装着される
と、接触マイク１は、下からバネ２５に押圧され、かつ
上からハードディスク２が沈み込むことにより、ハード
ディスク２と密着する。なお、接触マイク１は、振動を
検出する機構が尖った形状になっている。このような形
状のピックアップ手段は、ネジ１３やネジ穴１４のいず
れかに装着するとハードディスク２の振動を良好に検出
することができる。

【００５７】図５は本発明のハードディスク音響検査装
置の変形例を示す外観斜視図である。

【００５８】３０はハードディスク音響検査装置、５ａ
は図１で説明したスタートＳＷ、１は接触マイク、４は
スピーカ、５ｂは表示ＬＥＤである。３１は接触マイク
１とハードディスク音響検査装置３０とを接続するケー
ブルである。３２はヘッドフォン端子で、スピーカ４に
出力される音を図示しないヘッドフォンで出力可能とす
る。

【００５９】３３はハードディスク２の電源コネクタ１
５に接続する電源コネクタ、３４は電源コネクタ３３と
ハードディスク音響検査装置３０とを接続するケーブ
ル、３５はハードディスク２のインターフェースコネク
タ１６に接続するインターフェースコネクタ、３６はイ
ンターフェースコネクタ３５とハードディスク音響検査
装置３０とを接続するケーブルである。

【００６０】図５に示す構成のハードディスク音響検査
装置は、観測者が接触マイク１をハードディスク２に押
しつける構成になっている。なお、接触マイク１は、振
動を検出する機構が尖った形状になっているので、ネジ
１３やネジ穴１４のいずれかに装着するとハードディス
ク２の振動を良好に検出することができる。

【００６１】図６は本発明のハードディスク音響検査方
法の詳細を示すタイムチャートであり、以下に動作の詳
細を説明する。なお、図６（ａ）は縦軸にノイズレベ
ル、横軸に時間をとって時間の経過とノイズの変化を表
したグラフ、図６（ｂ）はスタートＳＷ５ａの状態を示
すスタートスイッチシーケンス、図６（ｃ）は電源制御
の状態を示す電源シーケンス、図６（ｄ）はハードディ
スク２の状態を示すインターフェースシーケンス、図６
（ｅ）は増幅器３の状態を示すゲインシーケンス、図６
（ｆ）は表示ＬＥＤ５ｂの状態を示す表示ＬＥＤシーケ
ンスである。

【００６２】まず、検査対象のハードディスク２をハー
ドディスク音響検査装置にセットする。ここで、ハード
ディスク音響検査装置が図３に示すような構造の場合、
ハードディスク２をカバー１１を下にして装着部２１に
装着する。このとき、ハードディスク２の電源コネクタ
１５がハードディスク音響検査装置２０の電源コネクタ
２３に接続され、ハードディスク２のインターフェース
コネクタ１６がインターフェースコネクタ２４に接続さ
れる。

【００６３】そして、接触マイク１がハードディスク２
のネジ１３に接触する。

【００６４】また、ハードディスク音響検査装置が図５
に示すような構造の場合、ハードディスク２の電源コネ
クタ１５にハードディスク音響検査装置３０の電源コネ
クタ３３を接続し、ハードディスク２のインターフェー
スコネクタ１６にインターフェースコネクタ３５を接続
し、接触マイク１をハードディスク２の筐体９の表面に
接触させる。なお、このとき、接触マイク１を筐体９の
側面のネジ１３やネジ穴１４に接触させると、ハードデ
ィスク２の振動を良好にピックアップすることができ
る。

【００６５】以上の操作により、接触マイク１がハード
ディスク２の振動を検出可能となり、制御装置５はハー
ドディスク２の駆動および信号の監視を行えるようにな
る。

【００６６】次に、スタートＳＷ５ａを押す。

【００６７】制御装置５は、スタートＳＷ５ａのＯＮを
検出すると、ハードディスク２への電源をＯＮにし、回
転開始の指示を出す。これにより、ハードディスク２の
ディスク６が回転を開始する。ディスク６が回転を開始
すると、気流によりＣＳＳエリア６ａにおいてヘッド８
が離陸を開始し、ヘッド８が浮上すると、アーム７を回
転させてヘッド８を読み書きエリアに移動させる。ハー
ドディスク２は、上述したようにヘッド８を所定の位置
に移動させると、レディー状態であることを出力する。
制御装置５は、ハードディスク２からの信号を監視し
て、該ハードディスク２からレディー状態の通知を受け
て立ち上がったことを検出すると、そこからタイマによ
り所定時間ｔ１をカウントした後に、ハードディスク２
への電源をＯＦＦにする。ここで、上記所定時間ｔ１
は、ハードディスク２が立ち上がってから、ヘッドの動
作がなくなるまでの時間であり、おおよそ、１秒程度で
ある。

【００６８】ハードディスク２は、電源がＯＦＦになる
と、アーム７が回転してヘッド８がＣＳＳエリア６ａに
戻り、ディスク６は惰性で回転しているので回転は徐々
に遅くなってヘッド８が着陸を開始する。

【００６９】制御装置５は、ハードディスク２への電源
をＯＦＦにした後、そこからタイマにより所定時間ｔ２
をカウントし、この所定時間ｔ２の間に増幅器３の増幅
率を所定の値まで、例えば、０から１００％まで徐々に
上げるように指示を出す。ここで、上記時間ｔ２は、ヘ
ッド８がＣＳＳエリア６ａに戻る時に発生するノイズが
減衰するまでの時間であり、おおよそ２秒程度である。

【００７０】この指示を受けて、増幅器３は増幅率を所
定の値まで上げていき、ハードディスク２の振動をスピ
ーカ４から音として出力する。また、制御装置５は、上
記時間ｔ２が経過して増幅器３の増幅率が所定の値まで
上がると、表示ＬＥＤ５ｂを点灯させ、検査が可能とな
ったことを観測者に通知する。さらに、制御装置５は、
上記時間ｔ２が経過して増幅器３の増幅率が所定の値ま
で上がると、Ａ−Ｄ変換器３ａから出力されるハードデ
ィスク２の振動をデジタルデータに変換したものを記憶
装置３ｂに保存していく。

【００７１】上述したように、ハードディスク２への電
源をＯＮにした後、ハードディスク２への電源をＯＦＦ
にして時間ｔ２が経過するまでは、増幅器３の増幅率が
“０％”であり、スピーカ４からは出力をしない。これ
により、立ち上げ時のノイズ、モータの回転音、ヘッド
８がＣＳＳエリア６ａに戻った時のノイズ等が観測者に
は聞こえず、このような雑音に観測者が惑わされること
がない。そして、ハードディスク２への電源をＯＦＦに
して時間ｔ２が経過した時点で、増幅器３の増幅率を
“１００％”とすることで、スピーカ４から出力がなさ
れるようにする。そして、ハードディスク２への電源を
ＯＦＦにして時間ｔ２が経過した時点では、ヘッド８が
ＣＳＳエリア６ａにある状態でディスク６は惰性で回転
しており、もし、ＣＳＳエリア６ａに打痕があると、降
下を開始しているヘッド８がこの打痕に衝突し、振動と
なってベース９やカバー１１に伝わる。そして、この振
動が音としてスピーカ４から出力されることで、打痕の
有無が判断できるものである。例えば、一箇所に打痕が
ついていると、周期的な音が聞こえるものである。

【００７２】このとき、上述したように、ディスク６は
惰性で回転しているので、他のノイズは少なく、ヘッド
８との打痕との衝突音がノイズに埋もれてしまうことは
ない。

【００７３】よって、観測者は、スピーカ４から出力さ
れる音から、容易に打痕の有無を判断できる。

【００７４】制御装置５は、増幅器3で増幅された接触
マイク１からの出力を受け、ノイズが所定値以下になっ
たと判断すると、前記増幅器３に増幅率を下げるように
指示を出すとともに、表示ＬＥＤ５ｂを消灯させて、検
査終了を通知する。この指示を受けることで増幅器３は
増幅率を下げ、スピーカ４からの出力を無くすことで、
不要なノイズが観測者に聞こえないようにする。

【００７５】さらに、制御装置５は、ノイズが所定値以
下になったと判断すると、記憶装置３ｂへのデータの保
存を停止する。

【００７６】このように、ハードディスク２への電源を
ＯＦＦにして時間ｔ２が経過した時点からノイズが所定
値以下になるまでのハードディスク２の振動をデジタル
化して保存しておくことで、解析に必要なデータのみを
保存しておくことができる。

【００７７】＜第２の実施例＞上記の第１の実施例は、
観測者がヘッド１０１とＣＳＳエリアの打痕１０３の衝
突による振動を耳で聞いて打痕１０３の有無を判断す
る。そのため、第１の実施例では、観測者の個人差や観
測時の周囲の騒音により、誤った判断がなされる場合が
ある。そこで、第２の実施例では、ヘッド１０１とＣＳ
Ｓエリアの打痕１０３の衝突による振動を波形としてデ
ィスプレイに表示することによって、観測者が視覚的に
判断できるようにした。

【００７８】図８は第２の実施例の構成を示す図であ
る。２０１は第２の実施例に係る検査装置である。２０
２は、接触マイク１から出力を受け取り、その出力から
ＰＣＭ形式のデジタルデータを生成してバッファ２０３
に送るサウンドデバイスである。２０３は、サウンドデ
バイス２０２からＰＣＭデータを受け取り、それを蓄積
するバッファである。２０４は、バッファ２０３からＰ
ＣＭデータを読み出して所定のアルゴリズムに基づいて
波形データを生成する波形データ変換部である。２０５
は、波形データ変換部２０４によって生成された波形デ
ータをバッファ２０３を介して受け取り、それを表示す
るディスプレイである。２０６は装置全体を制御する制
御部である。２０７は、観察者の入力を受けて、観察の
開始や終了を指示する信号や、波形データの表示位置や
表示倍率の変更を指示する信号を制御部２０６に送る操
作部である。

【００７９】図９は、ハードディスク２が起動されてか
ら停止するまでの筐体９に伝わる振動の変化を表わすタ
イムチャートである。図示するように、打痕１０３によ
るノイズは、通常の動作状態（すなわち、立上時やアイ
ドル時）ではモータ（図示せず）の回転音やヘッド８の
シーク音等のノイズレベルが高いため、観測することが
できない。しかし、電源をＯＦＦにして、モータの回転
を停止すると、しばらくの間、ディスクが惰性で回転し
ており、このとき、打痕１０３以外のノイズレベルが低
いため、打痕１０３によるノイズを観測できるようにな
る。

【００８０】以下に、図１０および図１１を用いて第２
の実施例の動作を説明する。なお、図１０は第２の実施
例の動作を示すフローチャートである。また、図１１は
ディスプレイに表示された打痕によるノイズ波形を示す
図であり、周期的な強いピークがある場合は、打痕があ
ることを示している。

【００８１】観測者は、ハードディスク２を検査装置２
０１にセットし、操作部２０７を操作して電源をＯＮに
する（ステップ（以下、Ｓと称する）１）。

【００８２】観測者は、ハードディスク２が完全に立ち
上がるのを待ち、ハードディスク２が完全に立ち上がっ
てから操作部２０７を操作して入力開始の指示を行う
（Ｓ２）。サウンドデバイス２０２は、この指示を受け
て、接触マイク１から出力を受け取り、その出力からＰ
ＣＭ形式のデジタルデータを生成し、バッファ２０３に
送信する（Ｓ３）。バッファ２０３は、サウンドデバイ
ス２０２からＰＣＭデータを受け取り、それを蓄積する
（Ｓ４）。

【００８３】観測者は、操作部２０７を操作してハード
ディスク２の電源をＯＦＦにし、図示しないモータの回
転を停止させる（Ｓ５）。

【００８４】モータの回転を停止させてから一定時間が
経過した後に、観測者は操作部２０７を操作して入力終
了の指示を行う（Ｓ６）。これにより、検査装置２０１
はデータの取り込みを終了する。

【００８５】波形データ変換部２０４は、バッファ２０
３からＰＣＭデータを読み出し、そのデータを基にして
波形データを生成する（Ｓ７）。ディスプレイ２０５
は、波形データ変換部２０４によって生成された波形デ
ータをバッファ２０３を介して受け取り、それを表示す
る（Ｓ８）。

【００８６】観測者は、操作部２０７を操作して波形の
表示位置や表示倍率を調整する（Ｓ９）。そして、観測
者は、表示される波形から、図１１に示すような、周期
的な強いピークの有無を確認することで、打痕の有無を
判断する。

【００８７】以下、フローは、他のハードディスクを検
査する場合はＳ１に戻り、検査しない場合は終了する
（Ｓ１０）。

【００８８】以上の通り、第２の実施例は、打痕１０３
の有無を視覚的に判断できる。そのため、第2の実施例
は、観測者の個人差や観測時の環境の影響を受け難くな
り、打痕１０３の有無を聴覚的に判断する場合よりも安
定して打痕の有無を判断することが可能になる。

【００８９】＜第３の実施例＞上記第２の実施例は、打
痕１０３が大きい場合、すなわち打痕１０３によるノイ
ズが強い場合に、図１１のような波形が表われる。しか
しながら、打痕１０３が小さい場合、すなわち打痕１０
３によるノイズが小さい場合は図１４のような波形とな
る。この場合、打痕１０３によるノイズは、他のノイズ
（例えば、モータ（図示せず）やディスク６の盤面等の
ノイズ）に埋もれてしまうので、周期的に強いピークを
表わさない。そのため、打痕１０３が小さい場合、観測
者は、波形を見ただけでは判定ができない。そこで、第
３の実施例では、以下のように構成することにより、打
痕１０３が小さい場合でも、打痕１０３によるノイズが
波形として明確に表われるようにした。なお、図１４は
第２の実施例における打痕が小さい場合の波形図であ
る。

【００９０】すなわち、第３の実施例は、第２の実施例
にＷａｖｅｌｅｔ変換部２０８を追加したものである。
図１２は第３の実施例の構成を示す図である。

【００９１】第３の実施例は、打痕１０３によるノイズ
が周期的に強いピークを表わすことを利用して、データ
をＷａｖｅｌｅｔ変換することにより、時間的な特性を
表わすようにした。なお、Ｗａｖｅｌｅｔ変換は、例え
ば「デジタル信号処理ハンドブック（社団法人 電子情
報通信学会編）」（株式会社オーム社平成５年１月３１
日発行）の４・６項（ウエーブレット変換）に記載され
ているように、公知の技術であるのでここでは詳述しな
いものとする。

【００９２】以下に、図１３を用いて第３の実施例の動
作を説明する。なお、図１３は第３の実施例の動作を示
すフローチャートである。

【００９３】観測者は、ハードディスク２を検査装置２
０１にセットし、操作部２０７を操作して電源をＯＮに
する（Ｓ２１）。

【００９４】観測者は、ハードディスク２が完全に立ち
上がるのを待ち、ハードディスク２が完全に立ち上がっ
てから操作部２０７を操作して入力開始の指示を行う
（Ｓ２２）。サウンドデバイス２０２は、この指示を受
けて、接触マイク１から出力を受け取り、その出力から
ＰＣＭ形式のデジタルデータを生成し、バッファ２０３
に送信する（Ｓ２３）。バッファ２０３は、サウンドデ
バイス２０２からＰＣＭデータを受け取り、それを蓄積
する（Ｓ２４）。

【００９５】観測者は、操作部２０７を操作してハード
ディスク２の電源をＯＦＦにし、図示しないモータの回
転を停止させる（Ｓ２５）。

【００９６】モータの回転を停止させてから一定時間が
経過した後に、観測者は操作部２０７を操作して入力終
了の指示を行う（Ｓ２６）。これにより、検査装置２０
１はデータの取り込みを終了する。

【００９７】Ｗａｖｅｌｅｔ変換部２０８は、バッファ
２０３からＰＣＭデータを読み出して、Ｗａｖｅｌｅｔ
変換を施したＰＣＭデータを生成してバッファ２０３に
送信し、それをバッファ２０３に蓄積させる（Ｓ２
７）。波形データ変換部２０４は、バッファ２０３から
Ｗａｖｅｌｅｔ変換が施されたＰＣＭデータを読み出
し、そのデータに基づいて波形データを生成する（Ｓ２
８）。ディスプレイ２０５は、波形データ変換部２０４
によって生成された波形データをバッファ２０３を介し
て受け取り、それを表示する（Ｓ２９）。

【００９８】観測者は、操作部２０７を操作して波形の
表示位置や表示倍率を調整する（Ｓ３０）。そして、観
測者は、表示される波形から、図１１に示すような、周
期的な強いピークの有無を確認することで、打痕の有無
を判断する。

【００９９】以下、フローは、他のハードディスクを検
査する場合はＳ２１に戻り、検査しない場合は終了する
（Ｓ３１）。

【０１００】ところで、Ｗａｖｅｌｅｔ変換は、例えば
フーリエ変換が周波数のみを分解するのと異なり、周波
数と時間を同時に分解することができる。他方、打痕１
０３によるノイズは、実験の結果、打痕１０３が小さい
場合、４ＫＨｚ〜８ＫＨｚ付近で鋭い周期的なピークが
見られ、かつこの周波数帯域は他のノイズが比較的小さ
いことが判明した。そこで、第３の実施例では、バッフ
ァ２０３からＰＣＭデータを読み出して、Ｗａｖｅｌｅ
ｔ変換により複数の周波数毎のデータに分解する。これ
により、第３の実施例は、図１５に示すように、４ＫＨ
ｚ〜８ＫＨｚ付近で周期的に強いピークを表わす波形を
表わせるようになる。そのため、観測者は、打痕１０３
の有無を判断できるようになる。なお、図１５は第３の
実施例による打痕波形図であり、打痕が小さい場合を示
している。

【０１０１】以上の通り、第３の実施例は、データをＷ
ａｖｅｌｅｔ変換することにより、時間的な特性を表わ
せるようにした。これにより、第３の実施例は、特に、
打痕１０３が小さい場合、すなわち打痕１０３によるノ
イズが小さい場合でも周期的に強いピークを表わす波形
を表わすことができる。そのため、第３の実施例は、第
２の実施例よりも精度の高い判断が可能になる。

【０１０２】＜第４の実施例＞上記の第３の実施例で
は、取り込んだ全てのデータをＷａｖｅｌｅｔ変換して
いる。しかしながら、Ｗａｖｅｌｅｔ変換は、データ長
に比例した量の浮動小数点演算を必要とするため、専用
の浮動小数点演算用のコプロセッサを実装しない場合、
データを処理するために膨大なメモリ容量（整数演算の
約４０〜５０倍）と処理時間が必要となる。そこで、第
４の実施例では、打痕１０３の特徴が強く表われる期間
を切出して、この期間のみをＷａｖｅｌｅｔ変換するよ
うにした。

【０１０３】以下に、図１６を用いて第４の実施例の動
作を説明する。なお、図１６は第４の実施例の動作を示
すフローチャートである。

【０１０４】観測者は、操作部２０７を操作して入力開
始の指示を行う（Ｓ４１）。サウンドデバイス２０２
は、この指示を受けて、接触マイク１から出力を受け取
り、その出力からＰＣＭ形式のデジタルデータを生成
し、バッファ２０３に送信する（Ｓ４２）。このとき、
サウンドデバイス２０２は、ハードディスク２が起動す
るまで無音のデータをバッファ２０３に送信することに
なる。バッファ２０３は、サウンドデバイス２０２から
ＰＣＭデータを受け取り、それを蓄積する（Ｓ４３）。

【０１０５】次に、観測者は、ハードディスク２を検査
装置２０１にセットし、操作部２０７を操作してハード
ディスク２の電源をＯＮにする（Ｓ４４）。これによ
り、ハードディスク２が起動する。観測者は、ハードデ
ィスク２が完全に立ち上がるのを待ち、ハードディスク
２が完全に立ち上がってから操作部２０７を操作してハ
ードディスク２の電源をＯＦＦにし、図示しないモータ
の回転を停止させる（Ｓ４５）。この後、ハードディス
ク２のディスク６は、惰性でしばらくの間回転し続け
る。その間、検査装置２０１はデータを取り込み続け、
取り込んだデータをバッファ２０３に蓄積する。その
後、ディスク６は回転を停止する。これにより、データ
は無音状態になる。検査装置２０１は、この状態になっ
た時点で、データの取り込みを終了する。

【０１０６】その後、検査装置２０１の波形データ変換
部２０４は、バッファ２０３からＰＣＭデータを読み出
して、ハードディスク２の回転停止直前の領域を切出し
（Ｓ４６）、切出された領域のＰＣＭデータをバッファ
２０３に格納する。なお、切出しの詳細については後述
する。

【０１０７】その後、Ｗａｖｅｌｅｔ変換部２０８は、
バッファ２０３から波形データ変換部２０４によって切
出された領域のＰＣＭデータを読み出して、Ｗａｖｅｌ
ｅｔ変換を施してＰＣＭデータを生成する（Ｓ４７）。
Ｗａｖｅｌｅｔ変換部２０８は、Ｗａｖｅｌｅｔ変換を
施したＰＣＭデータをバッファ２０３に送信し、それを
バッファ２０３に蓄積させる。波形データ変換部２０４
は、バッファ２０３からＷａｖｅｌｅｔ変換が施された
ＰＣＭデータを読み出し、そのデータに基づいて波形デ
ータを生成する（Ｓ４８）。

【０１０８】ディスプレイ２０５は、波形データ変換部
２０４によって生成された波形データをバッファ２０３
を介して受け取り、それを表示する（Ｓ４９）。

【０１０９】観測者は、操作部２０７を操作して波形の
表示位置や表示倍率を調整する（Ｓ５０）。そして、観
測者は、表示される波形から、図１１に示すような、周
期的な強いピークの有無を確認することで、打痕の有無
を判断する。

【０１１０】以下、フローは、他のハードディスクを検
査する場合はＳ４４に戻り、検査しない場合は終了する
（Ｓ５１）。

【０１１１】次に、図１７を用いて、切出しの詳細につ
いて説明する。なお、図１７は切出しの工程を示す図で
ある。

【０１１２】検査装置２０１は、観測者による入力開始
の指示によってデータの取り込みを開始する。検査装置
２０１は、取り込んだデータからＰＣＭ形式のデジタル
データを生成してバッファ２０３に蓄積する。それとと
もに、検査装置２０１は、波形データ変換部２０４によ
って、バッファ２０３に蓄積されたＰＣＭデータを先頭
から一定時間（例えば約０．１秒）刻みでノイズのパワ
ーの平均値を計算し、その値に応じてデータの状態を判
断する。

【０１１３】データの状態は、ＡからＢ、ＢからＣ、Ｃ
からＤへと推移する。Ａはノイズが無音の状態で、Ｂは
ノイズが所定のレベルＬ１以上の状態、Ｃはノイズが減
衰中の状態、Ｄはノイズが減衰を完了した状態である。
検査装置２０１は、データの取り込みを開始してからデ
ータが音圧Ｌ１を一定時間越えるまでの期間を、状態が
Ａであると判断する。その後、取り込んだデータが音圧
Ｌ１を一定時間越えると、検査装置２０１は、その時点
からデータが音圧Ｌ１以下に降下するまでの期間を、状
態がＢであると判断する。その後、取り込んだデータが
音圧Ｌ１以下に降下すると、検査装置２０１は、その時
点からデータが無音になるまでの期間を、状態がＣであ
ると判断する。その後、取り込んだデータが無音になる
と、検査装置２０１は、状態がＤであると判断する。そ
して、検査装置２０１は、その状態になった時点（時刻
Ｔ１）から所定時間経過後にデータの取り込みを終了す
る。

【０１１４】その後、検査装置２０１は、波形データ変
換部２０４によってバッファ２０３に蓄積されたデータ
を読み出して、データの状態がＤになった時刻Ｔ１から
所定時間（約１秒）さかのぼった期間を、打痕１０３の
有無を判断すべき期間として切出す。そして、検査装置
２０１は、Ｗａｖｅｌｅｔ変換部２０８によって切出し
た期間のデータをＷａｖｅｌｅｔ変換する。

【０１１５】以上の通り、第４の実施例は、打痕１０３
の特徴が強く表われる期間を切出すので、データを処理
するために必要なメモリの容量を小さくすることができ
るとともに、処理時間を短縮することができる。例え
ば、上記の第４の実施例は、第３の実施例では処理する
データが約１５秒あるのに対し、処理するデータが約１
秒となる。そのため、第４の実施例は、第３の実施例に
対し、メモリの容量を約１／１５に小さくすることがで
きるとともに、処理時間を約１／１５に短縮することが
できる。

【０１１６】＜第５の実施例＞上記の第１から第４の実
施例は、観測者が打痕１０３の有無を判断するように構
成している。しかしながら、このような構成は、観測者
の個体差により判断を誤る場合がある。そこで、第５の
実施例では、検査装置２０１自身が自動的に打痕１０３
の有無を解析するようにした。

【０１１７】以下に、図１８を用いて第５の実施例の動
作を説明する。なお、図１８は第５の実施例の動作を示
すフローチャートである。

【０１１８】観測者は、操作部２０７を操作して入力開
始の指示を行う（Ｓ６１）。サウンドデバイス２０２
は、この指示を受けて、接触マイク１から出力を受け取
り、その出力からＰＣＭ形式のデジタルデータを生成
し、バッファ２０３に送信する（Ｓ６２）。このとき、
サウンドデバイス２０２は、ハードディスク２が起動す
るまで無音のデータをバッファ２０３に送信することに
なる。バッファ２０３は、サウンドデバイス２０２から
ＰＣＭデータを受け取り、それを蓄積する（Ｓ６３）。

【０１１９】次に、観測者は、ハードディスク２を検査
装置２０１にセットし、操作部２０７を操作してハード
ディスク２の電源をＯＮにする（Ｓ６４）。これによ
り、ハードディスク２が起動する。観測者は、ハードデ
ィスク２が完全に立ち上がるのを待ち、ハードディスク
２が完全に立ち上がってから操作部２０７を操作してハ
ードディスク２の電源をＯＦＦにし、図示しないモータ
の回転を停止させる（Ｓ６５）。この後、ハードディス
ク２のディスク６は、惰性でしばらくの間回転し続け
る。その間、検査装置２０１はデータを取り込み続け、
取り込んだデータをバッファ２０３に蓄積する。その
後、ディスク６は回転を停止する。これにより、データ
は無音状態になる。検査装置２０１は、この状態になっ
た時点で、データの取り込みを終了する。

【０１２０】その後、検査装置２０１の波形データ変換
部２０４は、バッファ２０３からＰＣＭデータを読み出
して、ハードディスク２の回転停止直前の領域を切出し
（Ｓ６６）、切出された領域のＰＣＭデータをバッファ
２０３に格納する。

【０１２１】その後、Ｗａｖｅｌｅｔ変換部２０８は、
バッファ２０３から波形データ変換部２０４によって切
出された領域のＰＣＭデータを読み出して、Ｗａｖｅｌ
ｅｔ変換を施してＰＣＭデータを生成する（Ｓ６７）。
Ｗａｖｅｌｅｔ変換部２０８は、Ｗａｖｅｌｅｔ変換を
施したＰＣＭデータをバッファ２０３に送信し、それを
バッファ２０３に蓄積させる。制御部２０６は、バッフ
ァ２０３からＷａｖｅｌｅｔ変換を施したＰＣＭデータ
を読み出して、そのデータを基にして打痕１０３の有無
を解析する（Ｓ６８）。なお、解析の詳細については後
述する。

【０１２２】その後、波形データ変換部２０４は、バッ
ファ２０３からＷａｖｅｌｅｔ変換が施されたＰＣＭデ
ータを読み出し、そのデータに基づいて波形データを生
成する（Ｓ６９）。

【０１２３】ディスプレイ２０５は、制御部２０６によ
って解析された打痕１０３の有無と、波形データ変換部
２０４によって生成された波形データをバッファ２０３
を介して受け取り、それらを表示する（Ｓ７０）。これ
により、観測者は、打痕の有無を確認する。

【０１２４】以下、フローは、他のハードディスクを検
査する場合はＳ６４に戻り、検査しない場合は終了する
（Ｓ７１）。

【０１２５】次に、図１９と図２０と図２１を用いて、
解析の詳細について説明する。なお、図１９は第４の実
施例により切出された領域を示す図で、図２０は解析の
工程を示す図、図２１は処理Ａの工程を示す図である。

【０１２６】制御部２０６は、例えば４ＫＨｚと８ＫＨ
ｚのように２つの周波数を選択し、バッファ２０３から
その周波数のＷａｖｅｌｅｔ変換が施されたＰＣＭデー
タを読み出す（Ｓ８１）。次に、制御部２０６は、図２
１に示すような処理Ａを行う（Ｓ８２）。

【０１２７】すなわち、制御部２０６は、２つの周波数
のＰＣＭデータに対し、それぞれ約０．１秒毎の複数の
ブロックに分割する（Ｓ９１）。その後、制御部２０６
は、各ブロック毎に任意の演算を行う。この任意の演算
は、例えば、（（ピークレベル／平均レベル）−３）を
用いるのが好適である。これは、ブロック内のピークレ
ベルがブロックの平均レベルの３倍を越えるほどの強い
ノイズは打痕１０３によるものである可能性が高いから
である。なお、第５の実施例では、各ブロックにおける
ピークレベルが顕著になるように、各ブロック毎に
（（ピークレベル／平均レベル）−３）の２乗の値を計
算するものとする（Ｓ９２）。次に、制御部２０６は、
各ブロックの合計を計算する（Ｓ９３）。以上により、
処理Ａが終了する。なお、以下、Ｓ９３で算出された合
計値をスコアと称する。

【０１２８】その後、制御部２０６は、２つの周波数に
対するスコアを合計し、その合計値に基づいて打痕１０
３の有無を判断する（Ｓ８３）。すなわち、制御部２０
６は、合計値が所定よりも大きい場合は打痕１０３があ
るものとし、合計値が所定よりも小さい場合は打痕１０
３が無いものと判断する。なお、第５の実施例は、合計
値による判断に加え、合計値と波形の相関に基づいて判
断するようにしてもよい。

【０１２９】以上の通り、第５の実施例は、検査装置２
０１自身が自動的に打痕１０３の有無を解析するように
したので、観測者の個体差による誤った判断を無くすこ
とができる。また、波形を表示する必要がなくなるの
で、ディスプレイ２０５を排除することも可能になる。
この場合、低コストで小型かつ軽量な検査装置２０１を
提供することが可能になる。

【０１３０】＜第６の実施例＞上記の第５の実施例で
は、例えば、切出し領域内で接触マイクが動いてしまう
と、それにより発生するノイズの影響で打痕１０３の有
無が判断できなくなる可能性がある。そこで、第６の実
施例では、第５の実施例とは異なる手法による解析を行
うことにより、このようなときでも正しく判断できるよ
うにした。

【０１３１】以下に、図２２と図２３と図２４を用い
て、第６の実施例を説明する。なお、図２２は第４の実
施例により切出された領域を示す図で、図２３は解析の
工程を示す図、図２４は処理Ｂの工程を示す図である。

【０１３２】制御部２０６は、例えば４ＫＨｚと８ＫＨ
ｚのように２つの周波数を選択し、バッファ２０３から
その周波数のＷａｖｅｌｅｔ変換が施されたＰＣＭデー
タを読み出す（Ｓ１０１）。次に、制御部２０６は、図
２４に示すような処理Ｂを行う（Ｓ１０２）。

【０１３３】すなわち、制御部２０６は、２つの周波数
のＰＣＭデータに対し、図２２に示すような平均レベル
の３倍のラインを算出し、このラインを超えるピークを
抽出する（Ｓ１１１）。その後、制御部２０６は、例え
ば、以下に定義するδＴｘとＣとＤとＥによる関数δＴ
ｘ＝Ｃ（Ｄ−Ｅ）の関係にあるピークの数（以下、スコ
アと称する）を計算する（Ｓ１１２）。なお、上記δＴ
ｘは任意のピーク間の時間であり、Ｃは所定の定数、Ｄ
はＸのマイナス２乗、Ｅは（Ｘ−１）のマイナス２乗で
ある。

【０１３４】これは、打痕１０３によるノイズのピーク
はディスク６の回転に伴って周期的に現れ、且つベアリ
ングや空気抵抗により減速するため、各ピーク間の時間
は上記の関数δＴｘ＝Ｃ（Ｄ−Ｅ）の関係となる。そこ
で、この関数に従ったピークが幾つ連続するかを定量化
することにより、打痕１０３の有無を判断できることに
なるからである。

【０１３５】以上により、処理Ｂが終了する。

【０１３６】その後、制御部２０６は、２つの周波数の
に対するスコアを合計し、その合計値に基づいて打痕１
０３の有無を判断する（Ｓ９３）。すなわち、制御部２
０６は、合計値が所定よりも大きい場合は打痕１０３が
あるものとし、合計値が所定よりも小さい場合は打痕１
０３が無いものと判断する。なお、第６の実施例は、合
計値による判断に加え、合計値と波形の相関に基づいて
判断するようにしてもよい。

【０１３７】以上の通り、第６の実施例は、打痕１０３
によるピークレベルの周期性およびハードディスク２の
スピンドルの減速性を用いて演算することにより、第５
の実施例の手法よりも正確に打痕１０３の有無を判断す
ることができるようになる。

【０１３８】＜第７の実施例＞ハードディスク２は、型
の違いにより、各部分の素材や構造が異なる。そのた
め、型の違いによりハードディスク２は、スピンドルノ
イズの強さや、回転の減衰の仕方、打痕１０３によるノ
イズの音色等が異なる。そこで、第７の実施例では、検
査装置２０１がハードディスクの型に応じて、スピンド
ルノイズの強さや、回転の減衰の仕方、打痕１０３によ
るノイズの音色等のパラメータを保持しており、ハード
ディスクの型に応じたパラメータを用いてデータを解析
するようにした。これにより、第７の実施例は、複数の
型のハードディスクに対し、打痕１０３の有無を判断す
ることが可能になる。

【０１３９】以下に、図２５を用いて、第７の実施例を
説明する。なお、図２５は第７の実施例の制御部の構成
を示す図である。

【０１４０】図に示すように、第７の実施例では、制御
部２０６に、ハードディスクの型に応じて解析に用いる
パラメータを保持するパラメータ保持部２０９を設け
た。なお、パラメータ保持部２０９に保持されるパラメ
ータは、例えば、ハードディスクの型毎のスピンドルノ
イズの強さや、回転の減衰の仕方、打痕１０３によるノ
イズの音色、切出す領域の範囲、位置、演算に用いる計
数、演算結果に対する重み付け、判断に用いる基準値等
がある。

【０１４１】第７の実施例の動作は、図１８に示す実施
例の動作とほぼ同じであるが、Ｓ６１において、観測者
はハードディスク２の型を指定することになる。これに
より、制御部２０６は、パラメータ保持部２０９に保持
されているパラメータを用いて、各部を動作させること
になる。

【０１４２】以上の通り、第７の実施例は、ハードディ
スク２の型に応じた判断が行えるので、解析の精度を向
上させることができる。

【０１４３】＜第８の実施例＞上記の第１から第７の実
施例は、観測者が検査装置２０１の傍にいて検査を行う
ように構成している。このような構成は、例えば工場で
大量のハードディスク２を検査するような場合に、観測
者がハードディスク２を検査する都度、その時の記録を
ノート等に付ける必要がある。しかしながら、このよう
な手法は、観測者に多大な労力を強いることになる。そ
こで、第８の実施例では、検査装置２０１が検査したハ
ードディスク２のデータを記憶し、観測者が任意にデー
タを出力できるように構成する。これにより、第８の実
施例は、観測者に多大な労力を強いることなく、大量の
ハードディスク２を検査することが可能になる。

【０１４４】以下に、図２６と図２７、図２８を用い
て、第８の実施例を説明する。なお、図２６は第８の実
施例の制御部の構成を示す図で、図２７は記憶部に記憶
されるデータの一例を示す図、図２８は第８の実施例の
動作を示すフローチャートである。

【０１４５】図２６に示すように、第８の実施例では、
制御部２０６に、上記のパラメータ保持部２０９に加
え、記憶部２１０を設けた。

【０１４６】以下に、第８の実施例の動作を説明する。

【０１４７】観測者は、操作部２０７を操作して入力開
始の指示を行う（Ｓ１２１）。サウンドデバイス２０２
は、この指示を受けて、接触マイク１から出力を受け取
り、その出力からＰＣＭ形式のデジタルデータを生成
し、バッファ２０３に送信する（Ｓ１２２）。このと
き、サウンドデバイス２０２は、ハードディスク２が起
動するまで無音のデータをバッファ２０３に送信するこ
とになる。バッファ２０３は、サウンドデバイス２０２
からＰＣＭデータを受け取り、それを蓄積する（Ｓ１２
３）。

【０１４８】次に、観測者は、ハードディスク２を検査
装置２０１にセットし、操作部２０７を操作してハード
ディスク２の電源をＯＮにする（Ｓ１２４）。これによ
り、ハードディスク２が起動する。観測者は、ハードデ
ィスク２が完全に立ち上がるのを待ち、ハードディスク
２が完全に立ち上がってから操作部２０７を操作してハ
ードディスク２の電源をＯＦＦにし、図示しないモータ
の回転を停止させる（Ｓ１２５）。この後、ハードディ
スク２のディスク６は、惰性でしばらくの間回転し続け
る。その間、検査装置２０１はデータを取り込み続け、
取り込んだデータをバッファ２０３に蓄積する。その
後、ディスク６は回転を停止する。これにより、データ
は無音状態になる。検査装置２０１は、この状態になっ
た時点で、データの取り込みを終了する。

【０１４９】その後、検査装置２０１の波形データ変換
部２０４は、バッファ２０３からＰＣＭデータを読み出
して、ハードディスク２の回転停止直前の領域を切出し
（Ｓ１２６）、切出された領域のＰＣＭデータをバッフ
ァ２０３に格納する。

【０１５０】その後、Ｗａｖｅｌｅｔ変換部２０８は、
バッファ２０３から波形データ変換部２０４によって切
出された領域のＰＣＭデータを読み出して、Ｗａｖｅｌ
ｅｔ変換を施してＰＣＭデータを生成する（Ｓ１２
７）。Ｗａｖｅｌｅｔ変換部２０８は、Ｗａｖｅｌｅｔ
変換を施したＰＣＭデータをバッファ２０３に送信し、
それをバッファ２０３に蓄積させる。制御部２０６は、
バッファ２０３からＷａｖｅｌｅｔ変換を施したＰＣＭ
データを読み出して、そのデータを基にして打痕１０３
の有無を解析する（Ｓ１２８）。

【０１５１】その後、波形データ変換部２０４は、バッ
ファ２０３からＷａｖｅｌｅｔ変換が施されたＰＣＭデ
ータを読み出し、そのデータに基づいて波形データを生
成する（Ｓ１２９）。

【０１５２】ディスプレイ２０５は、制御部２０６によ
って解析された打痕１０３の有無と、波形データ変換部
２０４によって生成された波形データをバッファ２０３
を介して受け取り、それらを表示する（Ｓ１３０）。観
測者は、この時点で、打痕１０３の有無を確認してもよ
いし、これを無視して後述のＳ１３３で打痕１０３の有
無を確認するようにしてもよい。

【０１５３】制御部２０６は検査したハードディスク２
のデータを記憶部２１０に記憶させる（Ｓ１３１）。記
憶部２１０が記憶するデータは、例えば図２７に示すよ
うに、検査した順番（検査Ｎｏ．）に対応して、ハード
ディスク２の型番や解析結果、スコア等を組み合わせた
ものが好適である。

【０１５４】以下、フローは、他のハードディスクを検
査する場合はＳ１２４に戻る（Ｓ１３２）。検査しない
場合は、観測者は、操作部２０７を操作して、記憶部２
１０に記憶されたデータをディスプレイ２０５に表示さ
せたり、図示しない印刷装置や図示しない他の端末に出
力させる（Ｓ１３３）。これにより、観測者は、打痕１
０３の有無を確認する。なお、検査装置２０１の制御部
２０６は、データを加工する機能を付加することが可能
である。これにより、観測者は、データを任意の形式に
加工することが可能になる。なお、形式としては、検査
した順番に沿ったリストにするのが好適である。

【０１５５】以上により、動作を終了する。

【０１５６】以上の通り、第８の実施例は、検査装置２
０１が検査したハードディスク２のデータを記憶し、観
測者が任意にデータを出力できるように構成したので、
観測者に多大な労力を強いることなく、大量のハードデ
ィスク２を検査することが可能になる。

【０１５７】＜第９の実施例＞第９の実施例は、検査時
の原音の状態の音響データ（すなわち、Ｗａｖｅｌｅｔ
変換前のＰＣＭデータ）を記憶部２１０に記憶させ、観
測者が後から検査時の原音の状態の音響データを確認で
きるようにした。

【０１５８】以下に、図２９と図３０、図３１を用い
て、第９の実施例を説明する。なお、図２９は第９の実
施例の構成を示す図で、図３０は記憶部に記憶されるデ
ータの一例を示す図、図３１は第９の実施例の動作を示
すフローチャートである。

【０１５９】図２９に示すように、第９の実施例では、
再生部２１１を設けた。

【０１６０】以下に、第９の実施例の動作を説明する。

【０１６１】観測者は、操作部２０７を操作して入力開
始の指示を行う（Ｓ１４１）。サウンドデバイス２０２
は、この指示を受けて、接触マイク１から出力を受け取
り、その出力からＰＣＭ形式のデジタルデータを生成
し、バッファ２０３に送信する（Ｓ１４２）。このと
き、サウンドデバイス２０２は、ハードディスク２が起
動するまで無音のデータをバッファ２０３に送信するこ
とになる。バッファ２０３は、サウンドデバイス２０２
からＰＣＭデータを受け取り、それを蓄積する（Ｓ１４
３）。

【０１６２】次に、観測者は、ハードディスク２を検査
装置２０１にセットし、操作部２０７を操作してハード
ディスク２の電源をＯＮにする（Ｓ１４４）。これによ
り、ハードディスク２が起動する。観測者は、ハードデ
ィスク２が完全に立ち上がるのを待ち、ハードディスク
２が完全に立ち上がってから操作部２０７を操作してハ
ードディスク２の電源をＯＦＦにし、図示しないモータ
の回転を停止させる（Ｓ１４５）。この後、ハードディ
スク２のディスク６は、惰性でしばらくの間回転し続け
る。その間、検査装置２０１はデータを取り込み続け、
取り込んだデータをバッファ２０３に蓄積する。その
後、ディスク６は回転を停止する。これにより、データ
は無音状態になる。検査装置２０１は、この状態になっ
た時点で、データの取り込みを終了する。

【０１６３】その後、検査装置２０１の波形データ変換
部２０４は、バッファ２０３からＰＣＭデータを読み出
して、ハードディスク２の回転停止直前の領域を切出し
（Ｓ１４６）、切出された領域のＰＣＭデータをバッフ
ァ２０３に格納する。

【０１６４】その後、Ｗａｖｅｌｅｔ変換部２０８は、
バッファ２０３から波形データ変換部２０４によって切
出された領域のＰＣＭデータを読み出して、Ｗａｖｅｌ
ｅｔ変換を施してＰＣＭデータを生成する（Ｓ１４
７）。Ｗａｖｅｌｅｔ変換部２０８は、Ｗａｖｅｌｅｔ
変換を施したＰＣＭデータをバッファ２０３に送信し、
それをバッファ２０３に蓄積させる。制御部２０６は、
バッファ２０３からＷａｖｅｌｅｔ変換を施したＰＣＭ
データを読み出して、そのデータを基にして打痕１０３
の有無を解析する（Ｓ１４８）。

【０１６５】その後、波形データ変換部２０４は、バッ
ファ２０３からＷａｖｅｌｅｔ変換が施されたＰＣＭデ
ータを読み出し、そのデータに基づいて波形データを生
成する（Ｓ１４９）。

【０１６６】ディスプレイ２０５は、制御部２０６によ
って解析された打痕１０３の有無と、波形データ変換部
２０４によって生成された波形データをバッファ２０３
を介して受け取り、それらを表示する（Ｓ１５０）。観
測者は、この時点で、打痕１０３の有無を確認してもよ
いし、これを無視して後述のＳ１３３で打痕１０３の有
無を確認するようにしてもよい。

【０１６７】制御部２０６は検査したハードディスク２
のデータ（例えば、図３０に示すように、検査Ｎｏ．
や、ハードディスク２の型番、解析結果、スコア等を組
み合わせたもの）と音響（Ｗａｖｅｌｅｔ変換前のＰＣ
Ｍデータ）を記憶部２１０に記憶させる（Ｓ１５１）。

【０１６８】以下、フローは、他のハードディスクを検
査する場合はＳ１４４に戻る（Ｓ１５２）。検査しない
場合は、観測者は、操作部２０７を操作して、記憶部２
１０に記憶されたデータをディスプレイ２０５に表示さ
せたり、図示しない印刷装置や図示しない他の端末に出
力させるとともに、記憶部２１０に記憶された音響（Ｗ
ａｖｅｌｅｔ変換前のＰＣＭデータ）を再生部２１１に
再生させる（Ｓ１５３）。これにより、観測者は、打痕
１０３の有無を確認する。

【０１６９】以上により、動作を終了する。

【０１７０】以上の通り、第９の実施例は、観測者が後
から検査時の原音の状態の音響データを確認することが
できるので、判断の精度を高めることが可能になる。

【０１７１】＜第１０の実施例＞上記の第１から第９の
実施例では打痕１０３による振動の検出に接触マイク１
を用いている。しかしながら、接触マイク１は高価であ
る。しかも、接触マイク１は、ハードディスク２の振動
に追随する場合がある。この場合、正確な音響データを
取得できなくなるので、丁寧な取扱が必要となる。そこ
で、ここでは、低価格でかつ丁寧な取扱が不要な第１０
の実施例を提示する。

【０１７２】第１０の実施例は、ピックアップ手段とし
て、接触マイク１の代わりに、一般に広く普及してお
り、かつ低価格な光学ヘッドを用いた。しかも、第１０
の実施例は、光学ヘッドを、ハードディスク２の音響周
波数帯域の振動（約１０Ｈｚ以下の振動）を吸収する硬
質ゴムを介してハードディスク２に取り付けた。これに
より、第１０の実施例は、硬質ゴムによりハードディス
ク２の振動を吸収しつつ、光学ヘッドがハードディスク
２の振動を捕らえるので、ハードディスク２の振動に追
随することなくハードディスク２の音響データを取得で
きる。そのため、第１０の実施例は、正確な音響データ
を取得することが可能になる。

【０１７３】以下に、図３２と図３３、図３４を用い
て、第１０の実施例を説明する。なお、図３２は第１０
の実施例の構成を示す図で、図３３は光学ヘッドの構造
を示す図、図３４は第１０の光学ヘッドの利得特性を示
すグラフである。

【０１７４】図３２に示すように、第１０の実施例で
は、接触マイク１の代わりに、光学ヘッド１ａをハード
ディスク２に取り付けて打痕１０３による振動を検出す
る。なお、このような光学ヘッド１ａは、一般にＣＤ−
ＲＯＭ読取装置やＭｉｎｉ−ＤＩＳＫ読取装置等に用い
られている。

【０１７５】以下に、図３３に光学ヘッド１ａの構造を
示す。なお、図３３（ａ）は光学ヘッド１ａの下面図で
あり、図３３（ｂ）は図３３（ａ）を矢印の方向から見
たときの側面図である。図中、１ｂは光を照射してその
反射光を検出する光学レーザピックアップ部であり、１
ｃは光学レーザピックアップ部１ｂを上下方向に移動さ
せる上下方向サーボ部、１ｄはレンズ、１ｅは検査する
ハードディスク２の音響周波数帯域の振動（約１０Ｈｚ
以下の振動）を吸収する硬質ゴム、１ｆ音響信号を検査
装置２０１のサウンドデバイス部２０２に出力するため
のケーブルである。なお、光学レーザピックアップ部１
ｂは、レンズ１ｄと筐体９の表面との距離に応じた利得
特性を持つ。すなわち、光学レーザピックアップ部１ｂ
は、図３４に示すように、合焦点時に利得が最大にな
り、焦点から外れるに従って利得が減少する。なお、光
学ヘッド１ａは、機構全体を面で支えるのが望ましいの
で、ハードディスク２のカバー１１の中央部に取り付け
るのが望ましい。

【０１７６】観測者は、検査時において、光学ヘッド１
ａを硬質ゴム１ｅを介してハードディスク２に取り付け
る。そして、光学レーザピックアップ部１ｂの利得が最
大になるように上下方向サーボ１ｃを駆動させてレンズ
１ｄの上下方向の位置を調整する。これにより、光学ヘ
ッド１ａは、ハードディスク２の表面の振動を、利得の
変化として捕らえることが可能になる。このような第１
０の実施例は、硬質ゴム１ｅが圧縮することにより光学
レーザピックアップ部１ｂとハードディスク２との距離
の誤差を補正するので、ハードディスク２の音響周波数
帯域の振動（約１０Ｈｚ以下の振動）に追従しなくな
る。そのため、第１０の実施例は、正確な音響データを
取得することが可能になる。

【０１７７】なお、第１０の実施例の動作は第９の実施
例と同様である。

【０１７８】以上の通り、第１０の実施例は、正確な音
響データを取得することが可能になるとともに、低価格
でかつ丁寧な取扱を不要にすることができる。

【０１７９】＜第１１の実施例＞上記の第５から第１０
の実施例に用いられている、打痕１０３の有無を解析す
るプログラムは、媒体を介して、一般的なコンピュータ
にインストールすることが可能である。第１１の実施例
では、打痕１０３の有無を解析するプログラムをインス
トールしたコンピュータを提示する。

【０１８０】以下に、図３５を用いて、第１１の実施例
を説明する。なお、図３５は第１１の実施例の構成を示
す図である。図中、２１２は打痕１０３の有無を解析す
るプログラムが記憶された媒体（例えばフロッピーディ
スクやＣＤ−ＲＯＭや、ＤＶＤ等）であり、２１３は一
般的なコンピュータである。

【０１８１】観測者は、媒体２１２を介して、打痕１０
３の有無を解析するプログラムをコンピュータ２１３に
インストールする。その後、観測者は、コンピュータ２
１３を記憶装置３ｂまたは記憶部２１０から検査時のハ
ードディスク２の音響データを読み出す。そして、観測
者は、コンピュータ２１３にインストールされたプログ
ラムを起動させて、検査時のハードディスク２の音響デ
ータから打痕１０３の有無を自動的に解析させる。

【０１８２】以上の通り、第１１の実施例は、一般的な
コンピュータで打痕１０３の有無を自動的に解析するこ
とが可能になる。

【０１８３】＜利用形態＞上記第１から第１１の実施例
では、特にＣＳＳエリアの打痕１０３の有無を検査する
場合を例にして説明した。しかしながら、これらの実施
例は、図３６に示すように、公知の減圧チェンバーの中
で検査を行うことにより、ＣＳＳエリア以外についても
傷の有無を検査することができる。これは、減圧チェン
バーによってチェンバー内の空気が薄くなるので、気流
に乗って浮上していたハードディスク２のヘッド１０１
が下降し、ＣＳＳエリア以外のディスク上の傷と衝突す
るようになるからである。

【０１８４】なお、このとき、観測者はハードディスク
２に特別な加工をする必要はない。それは、ハードディ
スク２の筐体９には、作動時の熱により膨張した内部の
空気を外部に排出するための穴（図示せず）が設けられ
ているからである。なお、この穴は一般に呼吸孔（ｂｒ
ｅａｔｈ−ｈｏｌｅ）と称されるものであり、筐体内部
に塵が侵入しないようにフィルターが取り付けられてい
る。

【０１８５】以下に、図３６を用いて動作を説明する。
なお、図３６は、利用形態の一例を示す図であり、第１
０の実施例を適用した例を示している。また、図中、２
１４は減圧チェンバーであり、２１５は真空ポンプ、２
１６は減圧チェンバー２１４と真空ポンプ２１５を繋ぐ
パイプである。

【０１８６】まず、観測者は、検査するハードディスク
２を検査装置２０１に搭載し、操作部２０７により検査
するためのパラメータを設定する。次に、観測者は、検
査装置２０１を減圧チェンバー２１４の中に入れ、真空
ポンプ２１５を作動させる。これにより、真空ポンプ２
１５は、パイプ２１６によって、減圧チェンバー２１４
の中から空気を抜き出し、気圧が所定の値に下がると作
動を止める。次に、観測者は、図示しない遠隔操作部に
より検査装置２０１を作動させる。これにより、検査装
置２０１はハードディスク２のディスク上の傷の有無を
検査する。検査が終了すると、観測者は、真空ポンプ２
１５の図示しない弁を開き、減圧チェンバー２１４に空
気を送り込む。その後、観測者は、減圧チェンバー２１
４から検査装置２０１を取り出し、検査装置２０１を図
示しないコンピュータにセットする。そして、観測者
は、検査装置２０１の記憶部２１０に記憶されたデータ
をコンピュータに出力し、コンピュータにディスク上の
傷の有無を解析させる。このとき、コンピュータは、Ｃ
ＳＳエリアを含む全てのエリア、すなわちＣＳＳエリア
以外についても傷の有無を検査することができる。

【０１８７】以上の通り、上記第１から第１１の実施例
は、公知の減圧チェンバーの中で検査を行うことによ
り、ＣＳＳエリア以外についても傷の有無を検査するこ
とができる。

【０１８８】

【発明の効果】以上説明したように、本発明は、ハード
ディスクの筐体に伝わる振動から、ディスクのＣＳＳエ
リアについた傷（打痕）を検出することとしたので、製
品化された後のハードディスクを開封することなく、Ｃ
ＳＳエリアについた打痕を発見することができる。

【０１８９】このような検査を実施する検査装置は、ハ
ードディスクの筐体に伝わる振動を音として増幅して外
部に増幅する。これにより、観測者は音からＣＳＳエリ
アについた打痕を容易に発見することができる。このよ
うな前記検査装置は、ハードディスクの筐体に接触して
該筐体に伝わる振動を検出する接触マイクと、前記接触
マイクからの信号を処理する制御手段を備えればよいの
で、簡単な構成で実現することができる。特に、前記検
査装置は、接触マイクをハードディスクのベースに設け
られたネジ穴もしくはそのネジ穴に締め付けたネジに接
触させた場合に、振動を確実に検出できるようになる。

【０１９０】また、前記検査装置は、前記接触マイクか
らの信号をデジタル値に変換する手段と、前記デジタル
化した接触マイクからの信号を保存する記憶手段とを備
える構成することができる。これにより、観測者は接触
マイクからの信号を後から解析することができる。

【０１９１】さらに、前記検査装置は、前記接触マイク
からの信号を基にして、ハードディスクのヘッドとディ
スクのＣＳＳエリアについた打痕が衝突する音を抽出す
る抽出手段を備える構成にすることができる。これによ
り、観測者は打痕によるノイズのみを聞くことができる
ので、打痕によらないノイズに惑わされることがなくな
り、もってＣＳＳエリアについた打痕をより容易に発見
することができる。

【０１９２】さらに、前記検査装置は、ハードディスク
の状態を監視する手段と、前記監視したハードディスク
の状態から該ハードディスクの電源のＯＮあるいはＯＦ
Ｆを制御する手段と、ハードディスクの筐体に伝わる振
動からノイズの有無を検出する手段と、ハードディスク
の電源の状態とノイズの状態に基づいて外部に出力する
音の増幅率を変化させる手段とを備える構成にすること
ができる。これにより、検査装置は、簡単で、かつ低価
格な構成で打痕の有無の検査を実現することができる。
また、前記検査装置は、観測者に検査可能タイミングを
通知する表示手段を備える構成にすることができる。こ
れにより、観測者は、検査可能タイミングを知ることが
できる。特に、前記検査装置は、増幅率を上げている間
を検査可能タイミングであると通知する構成にすること
ができる。これにより、前記検査装置は、観測者が検査
すべきタイミングに集中できるので、観測者が検査タイ
ミングを逃すのを防止することができる。

【０１９３】このような前記検査装置は、ハードディス
クの電源をＯＮにし、ハードディスクの状態がレディー
状態となると、所定時間経過後にハードディスクの電源
をＯＦＦにし、ハードディスクの電源をＯＦＦにした
後、所定時間かけて外部に出力する音の増幅率を上げ、
ノイズがなくなると、増幅率を下げるように動作するこ
とができる。そのため、前記検査装置は、観測者に煩わ
しい操作をさせることなく、検査を自動的に行うことが
できるようになる。また、前記検査装置は、ハードディ
スクの状態を監視しながら動作することができるので、
確実にハードディスクを検査可能な状態にすることがで
き、検査にかかる時間を最低限に抑えることもできるよ
うになる。

【０１９４】さらに、前記検査装置は、ハードディスク
の筐体に伝わる振動を波形として表示するディスプレイ
を備える構成にすることができる。これにより、観測者
は、打痕の有無を視覚的に判断できるようになる。その
ため、観測者は、観測者の個人差や観測時の環境の影響
を受け難くなるので、より安定して打痕の有無を判断す
ることが可能になる。

【０１９５】さらに、前記検査装置は、デジタル値に変
換されたハードディスクの筐体に伝わる振動をＷａｖｅ
ｌｅｔ変換する手段を備える構成にすることができる。
これにより、前記検査装置は、時間的な特性を表わせる
Ｗａｖｅｌｅｔ変換を施したＰＣＭデータに基づいて解
析するので、打痕によるノイズが小さい場合でも周期的
な強いピークを有する波形を表わすことができる。その
ため、観測者は、より精度の高い判断が可能になる。

【０１９６】さらに、前記検査装置は、ディスクのスピ
ンドルの停止直前の領域を切出してディスクのＣＳＳエ
リアの傷の解析を行う構成にすることができる。これに
より、前記検査装置は、打痕の特徴が強く表われる期間
を切出して解析するので、データを処理するために必要
なメモリの容量を小さくすることができるとともに、処
理時間を短縮することができる。

【０１９７】さらに、前記検査装置は、音響データの平
均レベルとピークレベルの比を用いてディスクのＣＳＳ
エリアの傷の有無を解析する構成にすることができる。
これにより、前記検査装置は、自身が自動的に打痕の有
無を解析するので、観測者の個体差による誤った判断を
無くすことができる。また、前記検査装置は、波形を表
示する必要がなくなるので、ディスプレイを排除するこ
とも可能になる。この場合は、低コストで小型かつ軽量
な検査装置を提供することが可能になる。また、前記検
査装置は、音響データ中のピークレベルの周期性とハー
ドディスクのスピンドルの減速特性を用いてディスクの
ＣＳＳエリアの傷の有無を解析する構成にすることがで
きる。これにより、前記検査装置は、より正確に打痕の
有無を判断できるようになる。

【０１９８】さらに、前記検査装置は、ハードディスク
の複数の型のパラメータを記憶でき、検査するハードデ
ィスクの型に応じたパラメータを用いてディスクのＣＳ
Ｓエリアの傷の有無を解析する構成にすることができ
る。これにより、前記検査装置は、ハードディスクの型
に応じた判断が行えるので、判断精度を向上させること
ができる。

【０１９９】さらに、前記検査装置は、複数のハードデ
ィスクのデータを記憶し、かつ任意に出力できる構成に
することができる。これにより、前記観測者は、多大な
労力を要せずに、大量のハードディスクを検査すること
が可能になる。

【０２００】さらに、前記検査装置は、検査時の原音の
状態の音響データを再生する手段を備える構成にするこ
とができる。これにより、観測者は、後から検査時の原
音の状態の音響データを確認することができるので、判
断の精度を高めることが可能になる。

【０２０１】さらに、前記検査装置は、ハードディスク
の筐体に伝わる振動を光学的に検出する振動ピックアッ
プ手段を備える構成にすることができる。これにより、
前記検査装置は、より正確な音響データを取得すること
が可能になるとともに、低価格でかつ丁寧な取扱を不要
にすることができる。

【０２０２】また、解析に供するプログラムは、媒体を
介して、一般的なコンピュータにインストールすること
ができる。これにより、観測者は、一般的なコンピュー
タで打痕の有無を自動的に解析することが可能になる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明のハードディスク音響検査装置の実施の
形態の一例を示す機能ブロック図である。

【図２】ハードディスクの構成の一例を示す斜視図であ
る。

【図３】本発明のハードディスク音響検査装置の構成の
一例を示す外観斜視図である。

【図４】接触マイクの取り付け構造の一例を示す概略断
面図である。

【図５】本発明のハードディスク音響検査装置の変形例
を示す外観斜視図である。

【図６】本発明のハードディスク音響検査方法の詳細を
示すタイムチャートである。

【図７】打痕とヘッドの高さの関係を示す説明図であ
る。

【図８】第２の実施例の構成を示す図である。

【図９】振動の変化を表わすタイムチャートである。

【図１０】第２の実施例の動作を示すフローチャートで
ある。

【図１１】打痕によるノイズ波形を示す図である。

【図１２】第３の実施例の構成を示す図である。

【図１３】第３の実施例の動作を示すフローチャートで
ある。

【図１４】打痕が小さい場合の波形を示す図である。

【図１５】第３の実施例による波形図である。

【図１６】第４の実施例の動作を示すフローチャートで
ある。

【図１７】領域切出しの工程を示す図である。

【図１８】第５の実施例の動作を示すフローチャートで
ある。

【図１９】切出された領域を示す図である。

【図２０】解析の工程を示す図である。

【図２１】処理Ａの工程を示す図である。

【図２２】切出された領域を示す図である。

【図２３】解析の工程を示す図である。

【図２４】処理Ｂの工程を示す図である。

【図２５】第７の実施例の制御部の構成を示す図であ
る。

【図２６】第８の実施例の制御部の構成を示す図であ
る。

【図２７】記憶部に記憶されたデータの一例を示す図で
ある。

【図２８】第８の実施例の動作を示すフローチャートで
ある。

【図２９】第９の実施例の構成を示す図である。

【図３０】記憶部に記憶されたデータの一例を示す図で
ある。

【図３１】第９の実施例の動作を示すフローチャートで
ある。

【図３２】第１０の実施例の構成を示す図である。

【図３３】光学ヘッドの構造を示す図である。

【図３４】光学ヘッドの利得特性を示すグラフである。

【図３５】第１１の実施例の構成を示す図である。

【図３６】利用形態の一例を示す図である。

【符号の説明】

１ 接触マイク ２ ハードディスク ３ 増幅器 ３ａ Ａ−Ｄ変換器 ３ｂ 記憶装置 ４ スピーカ ５ 制御装置

フロントページの続き (72)発明者 前原 良実 東京都港区虎ノ門１丁目７番12号 沖電気 工業株式会社内 Ｆターム(参考） 5D091 AA10 FF02 HH20 5D112 AA24 JJ06 JJ09

Claims (19)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 ハードディスクの筐体に伝わる振動から
   ハードディスクのヘッドとディスクの傷が衝突する際に
   生じる振動をピックアップすることによって、ディスク
   の傷の有無を検査することを特徴とするハードディスク
   音響検査方法。
2. 【請求項２】 前記検査は、ディスクの駆動を停止さ
   せ、ディスクが惰性で回転しているときに行うことを特
   徴とする請求項１に記載のハードディスク音響検査方
   法。
3. 【請求項３】 ハードディスクの筐体に伝わる振動から
   ハードディスクのヘッドとディスクの傷が衝突する際に
   生じる振動をピックアップする手段を備えたことを特徴
   とするハードディスク音響検査装置。
4. 【請求項４】 前記ピックアップする手段は、接触マイ
   クであることを特徴とする請求項３に記載のハードディ
   スク音響検査装置。
5. 【請求項５】 前記ピックアップする手段は、光学ヘッ
   ドであることを特徴とする請求項３に記載のハードディ
   スク音響検査装置。
6. 【請求項６】 前記ピックアップする手段によってピッ
   クアップされた振動を音として増幅して外部に出力する
   手段を備えたことを特徴とする請求項３に記載のハード
   ディスク音響検査装置。
7. 【請求項７】 前記ピックアップする手段によってピッ
   クアップされた振動を波形として表示するディスプレイ
   を備えたことを特徴とする請求項３に記載のハードディ
   スク音響検査装置。
8. 【請求項８】 前記ピックアップする手段によってピッ
   クアップされた振動をデジタル値に変換して記憶する手
   段を備えたことを特徴とする請求項３に記載のハードデ
   ィスク音響検査装置。
9. 【請求項９】 前記記憶する手段によって記憶された振
   動を基にして、ハードディスクのヘッドとディスクの傷
   が衝突する音を検出する手段を備えたことを特徴とする
   請求項８に記載のハードディスク音響検査装置。
10. 【請求項１０】 前記検出する手段は、ハードディスク
    の電源を制御する機能と、振動の状態を監視する機能
    と、外部に出力する音の増幅率を変化させる機能を有す
    ることを特徴とする請求項９に記載のハードディスク音
    響検査装置。
11. 【請求項１１】 前記検出する手段は、観測者に検査可
    能タイミングを通知する機能を有することを特徴とする
    請求項９に記載のハードディスク音響検査装置。
12. 【請求項１２】 デジタル値に変換された振動をＷａｖ
    ｅｌｅｔ変換する手段を備えたことを特徴とする請求項
    ８に記載のハードディスク音響検査装置。
13. 【請求項１３】 前記検出する手段は、前記記憶部に記
    憶された振動を基にして、ディスクの回転停止直前の領
    域を切出してディスクのＣＳＳエリアの傷の解析を行う
    ことを特徴とする請求項９に記載のハードディスク音響
    検査装置。
14. 【請求項１４】 前記検出する手段は、音響データの平
    均レベルとピークレベルの比を用いてディスクの傷の有
    無を解析することを特徴とする請求項９に記載のハード
    ディスク音響検査装置。
15. 【請求項１５】 前記検出手段は、音響データ中のピー
    クレベルの周期性とハードディスクのスピンドルの減速
    特性を用いてディスクの傷の有無を解析することを特徴
    とする請求項９に記載のハードディスク音響検査装置。
16. 【請求項１６】 前記検出手段は、ハードディスクの複
    数の型のパラメータを記憶でき、検査するハードディス
    クの型に応じたパラメータを用いてディスクの傷の有無
    を解析することを特徴とする請求項９に記載のハードデ
    ィスク音響検査装置。
17. 【請求項１７】 検査時に原音の状態の音響データを記
    憶する手段を備えたことを特徴とする請求項３に記載の
    ハードディスク音響検査装置。
18. 【請求項１８】 ハードディスクの筐体に伝わる振動を
    基にして、音響データの平均レベルとピークレベルの比
    を用いてディスクの傷の有無を解析する、または、音響
    データ中のピークレベルの周期性とハードディスクのス
    ピンドルの減速特性を用いてディスクの傷の有無を解析
    するプログラムを記憶したことを特徴とするプログラム
    媒体。
19. 【請求項１９】 前記検査は、減圧チェンバー内で行う
    ことを特徴とする請求項１に記載のハードディスク音響
    検査方法。