JP2000243651A - Multilayer ceramic electronic component and its manufacture - Google Patents

Multilayer ceramic electronic component and its manufacture

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JP2000243651A
JP2000243651A JP4120499A JP4120499A JP2000243651A JP 2000243651 A JP2000243651 A JP 2000243651A JP 4120499 A JP4120499 A JP 4120499A JP 4120499 A JP4120499 A JP 4120499A JP 2000243651 A JP2000243651 A JP 2000243651A
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JP
Japan
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layer
internal electrode
glass
electrode layer
ceramic
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JP4120499A
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Japanese (ja)
Inventor
Atsuo Nagai
淳夫 長井
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a multilayer ceramic electronic component, in which deterioration of insulation resistance in high humidity is small and reliability is superior. SOLUTION: Electrode paste turning to inner electrode layers 2 are formed in desired inner electrode layer patterns on a green sheet which turns into ceramic layers 1, baking is performed after laminating the inner electrode layers, and glass layers 3 are formed on interfaces of the ceramic layers 1 and the inner electrode layers 2. After that, an external electrode 4 is formed on the exposed end surfaces of the inner electrode layers 2. Thereby the deterioration of insulation resistance at a high temperature and a high humidity can be restrained, and a multilayer ceramic electronic component whose reliability is improved can be obtained.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は例えば積層セラミッ
クコンデンサなどのセラミック層と内部電極層とが交互
に積層された積層セラミック電子部品およびその製造方
法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a multilayer ceramic electronic component in which ceramic layers such as a multilayer ceramic capacitor and internal electrode layers are alternately laminated, and a method of manufacturing the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】積層セラミックコンデンサは、誘電体層
と内部電極層とを交互に積層して積層体を形成して焼成
した後、その端面に外部電極を形成したものであり、昨
今、小型高容量化の要望が強く、誘電体層の薄層化によ
りその目的を達成しようとしている。現在では、焼結後
の誘電体層の厚みが5μm以下の積層セラミックコンデ
ンサも達成されつつある。
2. Description of the Related Art A multilayer ceramic capacitor has a structure in which dielectric layers and internal electrode layers are alternately laminated to form a laminate, which is fired, and then external electrodes are formed on the end faces thereof. There is a strong demand for capacitance, and the purpose is to be achieved by making the dielectric layer thinner. At present, multilayer ceramic capacitors having a sintered dielectric layer having a thickness of 5 μm or less are being achieved.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、誘電体
層の厚みが薄くなるほど誘電体層中に内在するボイドな
どの欠陥によって電気的特性に不具合が発生する場合が
ある。特に、高温高湿中での連続負荷試験中において、
水分が内部電極層と誘電体層の界面に沿って浸入し、誘
電体層中のボイドなどの構造欠陥に達した場合には、絶
縁抵抗の劣化が発生するといった問題点を有していた。
この問題点は誘電体層と内部電極層間の結合力が小さく
密着性が悪いために水分が界面に沿って浸入しやすいた
めに発生するものである。
However, as the thickness of the dielectric layer becomes thinner, defects in the electrical characteristics may occur due to defects such as voids existing in the dielectric layer. In particular, during a continuous load test in high temperature and high humidity,
When moisture penetrates along the interface between the internal electrode layer and the dielectric layer and reaches structural defects such as voids in the dielectric layer, there is a problem that the insulation resistance is deteriorated.
This problem arises because moisture easily penetrates along the interface because the bonding force between the dielectric layer and the internal electrode layer is small and adhesion is poor.

【0004】そこで本発明は内部電極層とセラミック層
の密着性を向上させ、セラミック層への水分の浸入を防
止できる積層セラミック電子部品を提供することを目的
とするものである。
Accordingly, an object of the present invention is to provide a multilayer ceramic electronic component capable of improving the adhesion between an internal electrode layer and a ceramic layer and preventing moisture from penetrating into the ceramic layer.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に本発明の積層セラミック電子部品は、セラミック層と
内部電極層とを交互に積層した積層体と、この積層体の
内部電極層の露出した端面に設けた外部電極とを備え、
前記内部電極層は金属成分とガラス成分とを混合してな
る電極ペーストで構成したものである。
In order to achieve this object, a multilayer ceramic electronic component according to the present invention comprises a laminate in which ceramic layers and internal electrode layers are alternately laminated, and a method for exposing the internal electrode layers of the laminate. An external electrode provided on the end face,
The internal electrode layer is formed of an electrode paste obtained by mixing a metal component and a glass component.

【0006】上記構成とすることにより内部電極層を形
成する電極ペーストに添加したガラス成分は、セラミッ
ク層と内部電極層との間に析出してガラス層を形成し、
両者の接着性を向上させ、水分の浸入が抑制され、絶縁
抵抗の劣化を防止することができる。
With the above structure, the glass component added to the electrode paste forming the internal electrode layer precipitates between the ceramic layer and the internal electrode layer to form a glass layer.
It is possible to improve the adhesion between the two, suppress the intrusion of moisture, and prevent the insulation resistance from deteriorating.

【0007】[0007]

【発明の実施の形態】本発明の請求項1に記載の発明
は、セラミック層と内部電極層とを交互に積層した積層
体と、この積層体の内部電極層の露出した端面に設けた
外部電極とを備え、前記内部電極層は金属成分とガラス
成分とを混合してなる電極ペーストで構成したものであ
り、セラミック層と内部電極層の密着性を向上させ、水
分の浸入を防ぎ絶縁抵抗の劣化を防止することができ
る。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The invention according to claim 1 of the present invention is directed to a laminated body in which ceramic layers and internal electrode layers are alternately laminated, and an external layer provided on an exposed end face of the internal electrode layer of the laminated body. The internal electrode layer is formed of an electrode paste obtained by mixing a metal component and a glass component. The internal electrode layer improves the adhesion between the ceramic layer and the internal electrode layer, prevents infiltration of moisture, prevents insulation resistance. Degradation can be prevented.

【0008】請求項2に記載の発明は、電極ペースト中
のガラス成分は焼成によりセラミック層と内部電極層と
の界面に析出するものであり、セラミック層と内部電極
層が強固に結合されることになる。
According to a second aspect of the present invention, the glass component in the electrode paste is deposited on the interface between the ceramic layer and the internal electrode layer by firing, and the ceramic layer and the internal electrode layer are firmly bonded. become.

【0009】請求項3に記載の発明は、電極ペースト中
のガラス成分はセラミック層の形成材料に用いるガラス
成分と同一としたものであり、セラミック層と内部電極
層の結合がより強くなり、かつ特性的な劣化を阻止でき
ることになる。
According to a third aspect of the present invention, the glass component in the electrode paste is the same as the glass component used for the material for forming the ceramic layer, so that the bonding between the ceramic layer and the internal electrode layer becomes stronger, and Characteristic deterioration can be prevented.

【0010】請求項4に記載の発明は、電極ペースト中
のガラス成分は金属成分を100wt%としたとき25
wt%以下としたものであり、十分な静電容量をもった
積層セラミック電子部品とすることができる。
According to a fourth aspect of the present invention, the glass component in the electrode paste is 25% when the metal component is 100% by weight.
wt% or less, and a multilayer ceramic electronic component having a sufficient capacitance can be obtained.

【0011】請求項5に記載の発明は、電極ペースト中
のガラス成分は内部電極層の厚みより小さい平均粒子径
のものを用いたものであり、内部電極層切れのないもの
とすることができる。
According to a fifth aspect of the present invention, the glass component in the electrode paste has an average particle diameter smaller than the thickness of the internal electrode layer, so that the internal electrode layer is not broken. .

【0012】請求項6に記載の発明は、電極ペーストに
用いるガラス成分は金属成分の焼結温度よりも高くセラ
ミック層の焼結温度よりも低い軟化点をもつものとした
ものであり、セラミック層と内部電極層との界面にガラ
ス層を形成しやすいものとなる。
According to a sixth aspect of the present invention, the glass component used for the electrode paste has a softening point higher than the sintering temperature of the metal component and lower than the sintering temperature of the ceramic layer. It is easy to form a glass layer at the interface between the substrate and the internal electrode layer.

【0013】請求項7に記載の発明は、電極ペーストに
用いるガラス成分はセラミック層の形成材料に用いるガ
ラス成分の平均粒子径より大きい平均粒子径のものとし
たものであり、ペースト中のガラス成分がセラミック層
に過度に拡散されるのを抑制できる。
According to a seventh aspect of the present invention, the glass component used in the electrode paste has an average particle size larger than the average particle size of the glass component used in the material for forming the ceramic layer. Is excessively diffused into the ceramic layer.

【0014】請求項8に記載の発明は、セラミック層は
(化2)で表される誘電体磁器組成物で内部電極層の金
属成分はNiを主成分としたものであり、絶縁劣化の少
ない信頼性に富んだものとすることができる。
According to the present invention, the ceramic layer is a dielectric ceramic composition represented by the following chemical formula (2), and the metal component of the internal electrode layer is mainly composed of Ni, so that the insulation deterioration is small. It can be highly reliable.

【0015】[0015]

【化2】 Embedded image

【0016】請求項9に記載の発明は、セラミック層と
内部電極層とを交互に積層した積層体と、この積層体の
内部電極層の露出した端面に設けた外部電極と、前記積
層体内のセラミック層と内部電極層との界面に設けたガ
ラス層とからなり、前記セラミック層はガラス層と同一
成分のガラス成分を用いて構成したものであり、セラミ
ック層と内部電極層との密着性に優れたものとすること
ができる。
According to a ninth aspect of the present invention, there is provided a laminated body in which ceramic layers and internal electrode layers are alternately laminated, an external electrode provided on an exposed end face of the internal electrode layer of the laminated body, The ceramic layer includes a glass layer provided at an interface between the ceramic layer and the internal electrode layer, and the ceramic layer is formed using the same glass component as the glass layer. It can be excellent.

【0017】請求項10に記載の発明は、セラミック層
と内部電極層とが交互に積層される積層体を形成する工
程と、この積層体を焼成する工程と、焼成した積層体の
内部電極層が露出した両端面に外部電極を形成する工程
とからなり、前記内部電極層は金属成分とガラス成分と
からなる電極ペーストを用いて形成する方法であり、高
温高湿中で絶縁劣化の少ないものが提供できることにな
る。
According to a tenth aspect of the present invention, there is provided a process for forming a laminated body in which ceramic layers and internal electrode layers are alternately laminated, a step of firing the laminated body, and a step of firing the laminated internal electrode layer. Forming an external electrode on both end surfaces where the electrodes are exposed, wherein the internal electrode layer is formed using an electrode paste composed of a metal component and a glass component. Can be provided.

【0018】請求項11に記載の発明は、焼成工程と外
部電極を形成する工程との間に積層体の表面を研磨する
ことにより内部電極層を露出させる工程を設けた方法で
あり、内部電極層と外部電極とを確実に接続することが
できる。
An eleventh aspect of the present invention is a method wherein a step of exposing an internal electrode layer by polishing the surface of a laminate is provided between a firing step and a step of forming an external electrode. The layer and the external electrode can be reliably connected.

【0019】以下、本発明の一実施の形態について積層
セラミックコンデンサを例に説明する。
Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described by taking a multilayer ceramic capacitor as an example.

【0020】図1は本実施の形態における積層セラミッ
ク電子部品として積層セラミックコンデンサを例とした
断面図であり、1は誘電体からなるセラミック層、2は
内部電極層、3はガラス層、4は外部電極である。
FIG. 1 is a cross-sectional view showing a multilayer ceramic capacitor as an example of a multilayer ceramic electronic component in the present embodiment, wherein 1 is a ceramic layer made of a dielectric, 2 is an internal electrode layer, 3 is a glass layer, and 4 is a glass layer. External electrodes.

【0021】まず、セラミック層1の出発原料には高純
度のBaCO3,CaCO3,TiO 2,ZrO2,Y
23,Mn34,Dy23,V25,NiO,BaO−
Al23−SiO2の三成分系ガラスを(化2)に示す
ように炭酸塩は酸化物に換算して本発明の範囲内の組成
比になるように秤量した。
First, as a starting material of the ceramic layer 1, high purity
BaCO of degreeThree, CaCOThree, TiO Two, ZrOTwo, Y
TwoOThree, MnThreeOFour, DyTwoOThree, VTwoOFive, NiO, BaO-
AlTwoOThree-SiOTwoIs shown in (Chemical formula 2)
Thus, carbonate is converted into oxide and the composition falls within the scope of the present invention.
Weighed to ratio.

【0022】次にジルコニアボールを備えたボールミル
に純水とともに入れ、湿式混合後、脱水乾燥した。次い
でこの乾燥粉末を高純度のアルミナルツボに入れ、空気
中で1100℃にて2時間仮焼した。その後この仮焼粉
末をジルコニアボールを備えたボールミルに純水ととも
に入れ、湿式粉砕後、脱水乾燥した。この時粉砕粉の平
均粒径が2μm以下になるようにした。
Next, it was put into a ball mill equipped with zirconia balls together with pure water, wet-mixed, and dehydrated and dried. Next, the dried powder was put into a high-purity alumina crucible and calcined in air at 1100 ° C. for 2 hours. Thereafter, the calcined powder was put together with pure water into a ball mill equipped with zirconia balls, wet-pulverized, and then dehydrated and dried. At this time, the average particle size of the pulverized powder was adjusted to 2 μm or less.

【0023】次にこの粉砕粉末に有機バインダとしてポ
リビニルブチラール樹脂、可塑剤としてBBP(ベンジ
ルブチルフタレート)、溶剤としてn−酢酸ブチルを加
えてジルコニアを備えたボールミルにて混合しスラリー
を調整した。次に、このスラリーを真空脱泡した後、ド
クターブレード法によりフィルム状に造膜し、セラミッ
ク層1となるグリーンシートを作製した。この時、乾燥
後のグリーンシートの厚みは、約15μmとなるように
した。
Next, a polyvinyl butyral resin as an organic binder, BBP (benzyl butyl phthalate) as a plasticizer, and n-butyl acetate as a solvent were added to the ground powder and mixed in a ball mill equipped with zirconia to prepare a slurry. Next, the slurry was vacuum-defoamed, and then formed into a film by a doctor blade method, thereby producing a green sheet to be the ceramic layer 1. At this time, the thickness of the green sheet after drying was set to about 15 μm.

【0024】一方、平均粒径が約1μmの市販のNi粉
末からなる電極ペーストに対して、平均粒径が約1μm
のBaO−Al23−SiO2の三成分系ガラスを添加
しないものと、Ni粉末100wt%に対してそれぞれ
0.001wt%、0.01wt%、0.1wt%、1
wt%、2wt%、2.5wt%添加したものをそれぞ
れロール混練し、ガラス成分を均一に分散させて内部電
極層用の電極ペーストとした。
On the other hand, with respect to a commercially available electrode paste made of Ni powder having an average particle size of about 1 μm, the average particle size is about 1 μm.
To those without the addition of ternary glass of BaO-Al 2 O 3 -SiO 2 , Ni powder 100 wt% for each 0.001wt%, 0.01wt%, 0.1wt% , 1
Rolls kneaded with wt%, 2 wt% and 2.5 wt% were added, respectively, to uniformly disperse the glass component to obtain an electrode paste for an internal electrode layer.

【0025】次いでこの内部電極層用の電極ペーストを
グリーンシート上に所望の内部電極層パターンとなるよ
うにスクリーン印刷を行った。乾燥後、内部電極層パタ
ーンがグリーンシートを介して対向するように80枚重
ね合わせ、加熱加圧して一体化した後、縦2.2mm、横
1.3mmの寸法に切断して、未焼結積層体を準備した。
Next, the electrode paste for an internal electrode layer was screen-printed on a green sheet so as to form a desired internal electrode layer pattern. After drying, 80 pieces of the internal electrode layer pattern were overlapped so that they face each other with a green sheet interposed therebetween. After heating and pressurizing, they were integrated, then cut into dimensions of 2.2 mm in length and 1.3 mm in width. A laminate was prepared.

【0026】次にこの未焼結積層体をジルコニア粉末を
敷いたジルコニア質サヤに入れ、350℃まで空気中で
加熱し、有機バインダを燃焼させ、その後N2+H2中、
1300℃で2時間焼成して焼結体を得た。次に得られ
た焼結体の面取り後、端面に外部電極4として市販の9
00℃窒素雰囲気焼成用銅ペーストを塗布し、メッシュ
型の連続ベルト炉によって焼付け、積層セラミックコン
デンサを得た。なお、セラミック層1の厚みは約10μ
m、内部電極層2の厚みは約2〜2.5μmであった。
Next, this unsintered laminate is placed in a zirconia sheath covered with zirconia powder, heated to 350 ° C. in the air to burn the organic binder, and then in N 2 + H 2 ,
The sintered body was obtained by firing at 1300 ° C. for 2 hours. Next, after chamfering the obtained sintered body, a commercially available 9
A copper paste for firing in a nitrogen atmosphere at 00 ° C. was applied and baked in a continuous belt furnace of a mesh type to obtain a multilayer ceramic capacitor. The thickness of the ceramic layer 1 is about 10 μm.
m, and the thickness of the internal electrode layer 2 was about 2 to 2.5 μm.

【0027】次に得られた積層セラミックコンデンサの
静電容量、誘電損失、絶縁抵抗を測定した。静電容量、
誘電損失は20℃の恒温槽中で周波数1kHz、入力信号
レベル1.0Vrmsにて測定し、絶縁抵抗は16Vで
1分間負荷した後測定した。その後、ガラス添加量の異
なる内部電極層用の電極ペーストを用いて形成した積層
セラミックコンデンサをそれぞれ100個ずつ準備し、
85℃、85%の高温高湿中の恒温槽に保持し、16V
の直流電圧を負荷した後絶縁抵抗の変化を定期的に測定
した。(表1)は、それぞれの積層セラミックコンデン
サの初期電気的特性と湿中負荷試験での絶縁抵抗の劣化
数を示したものである。
Next, the capacitance, dielectric loss, and insulation resistance of the obtained multilayer ceramic capacitor were measured. Capacitance,
The dielectric loss was measured at a frequency of 1 kHz and an input signal level of 1.0 Vrms in a thermostat at 20 ° C., and the insulation resistance was measured after loading at 16 V for 1 minute. Thereafter, 100 laminated ceramic capacitors formed using the electrode pastes for the internal electrode layers having different amounts of added glass were prepared, each of which was 100 pieces.
85 ° C, 85% high temperature and high humidity in a constant temperature bath, 16V
After applying a DC voltage, the change in insulation resistance was measured periodically. Table 1 shows the initial electrical characteristics of each multilayer ceramic capacitor and the number of insulation resistance deteriorations in a wet and medium load test.

【0028】[0028]

【表1】 [Table 1]

【0029】(表1)によると初期電気的特性において
は、ガラス添加量が2.5wt%を越えると静電容量が
十分得られず好ましくないことが分かる。また、湿中負
荷試験での絶縁抵抗の劣化は、ガラスを添加しなかった
積層セラミックコンデンサのみに発生している。さらに
内部電極層用の電極ペーストにガラスを添加した積層セ
ラミックコンデンサの内部電極層2とセラミック層1の
界面を走査型電子顕微鏡で観察すると、界面にガラス層
3が存在しており、これが内部電極層2とセラミック層
1の接着性を向上させ、水分の浸入を抑制することとな
る。このことから内部電極層用の電極ペーストにガラス
を添加することは湿中負荷試験での絶縁抵抗の劣化に対
して絶大なる効果があることがわかる。
According to Table 1, in the initial electrical characteristics, it is found that if the glass addition amount exceeds 2.5 wt%, a sufficient capacitance cannot be obtained, which is not preferable. Further, the deterioration of the insulation resistance in the wet and medium load test occurs only in the multilayer ceramic capacitor to which no glass is added. Further, when the interface between the internal electrode layer 2 and the ceramic layer 1 of the multilayer ceramic capacitor in which glass is added to the electrode paste for the internal electrode layer is observed with a scanning electron microscope, a glass layer 3 is present at the interface. This improves the adhesion between the layer 2 and the ceramic layer 1 and suppresses the intrusion of moisture. This indicates that the addition of glass to the electrode paste for the internal electrode layer has a great effect on the deterioration of insulation resistance in a wet and medium load test.

【0030】以下本実施の形態におけるポイントについ
て記載する。
The points in the present embodiment will be described below.

【0031】(1)セラミック層1の出発原料としてB
aCO3,CaCO3,TiO2,ZrO2,Y23,Dy
23,Mn34,V25,NiOを用いたが、所望の組
成比になるようにBaTiO3などの化合物あるいは炭
酸塩、水酸化物など空気中での加熱により、BaO,C
aO,TiO2,ZrO2,Y23およびDy23となる
化合物を使用しても本実施の形態と同程度の特性を得る
ことができる。
(1) B as a starting material of the ceramic layer 1
aCO 3 , CaCO 3 , TiO 2 , ZrO 2 , Y 2 O 3 , Dy
Although 2O 3 , Mn 3 O 4 , V 2 O 5 , and NiO were used, BaO, a compound such as BaTiO 3 , or a carbonate, a hydroxide, or the like was heated in air to obtain a desired composition ratio. C
Even when a compound that becomes aO, TiO 2 , ZrO 2 , Y 2 O 3, and Dy 2 O 3 is used, characteristics similar to those of the present embodiment can be obtained.

【0032】また、主成分となるBaとTiはBaTi
3の化合物で添加することにより、Tanδを向上さ
せることができる。この理由は、セラミック層1の主成
分となるBaTiO3の結晶性が向上するとともにその
粒子径のバラツキも小さくなるからである。従ってBa
TiO3は、シュウ酸塩法で作製されたものが一番好ま
しく、次にゾルゲル法、続いて固相法で形成されたもの
を用いることが好ましい。また、出発原料は全て粉末を
用いたが、副成分となるY23およびDy23,Mn3
4は分散性を向上させるために液体にして添加しても
良い。
Ba and Ti as main components are BaTi
By adding the compound of O 3 , Tan δ can be improved. The reason for this is that the crystallinity of BaTiO 3 , which is the main component of the ceramic layer 1, is improved and the variation in the particle diameter is also reduced. Therefore Ba
TiO 3 is most preferably formed by an oxalate method, and then preferably formed by a sol-gel method and subsequently by a solid phase method. In addition, powders were used for all starting materials, but Y 2 O 3, Dy 2 O 3 , Mn 3
O 4 may be added as a liquid in order to improve dispersibility.

【0033】さらに、チタン酸バリウムを出発原料とし
て用いる場合は、その比表面積がチタン酸バリウムより
もCaCO3,Mn34,Y23,Dy23,V25
NiOの副成分の方が大きくなるようにすることによ
り、主成分チタン酸バリウムと副成分との反応性が向上
し、絶縁抵抗が向上する。具体的にはチタン酸バリウム
の比表面積は3m2/g以上で、CaCO3,Mn34
23,Dy23,V25,NiOの副成分の比表面積
は5m2/g以上のものを用いることが好ましい。
Further, when barium titanate is used as a starting material, its specific surface area is higher than that of barium titanate in CaCO 3 , Mn 3 O 4 , Y 2 O 3 , Dy 2 O 3 , V 2 O 5 ,
By making the subcomponent of NiO larger, the reactivity between the main component barium titanate and the subcomponent is improved, and the insulation resistance is improved. Specifically, the specific surface area of barium titanate is 3 m 2 / g or more, and CaCO 3 , Mn 3 O 4 ,
It is preferable to use Y 2 O 3 , Dy 2 O 3 , V 2 O 5 , and a subcomponent of NiO having a specific surface area of 5 m 2 / g or more.

【0034】(2)内部電極層2としてNiを用いた
が、Ni−CuなどNiを含み、その融点がセラミック
層1の焼成温度よりも高い融点を持つ金属であれば内部
電極層2として用いることができる。具体的には135
0℃以上のものが好ましい。
(2) Although Ni is used for the internal electrode layer 2, any metal containing Ni such as Ni—Cu and having a melting point higher than the firing temperature of the ceramic layer 1 is used as the internal electrode layer 2. be able to. Specifically, 135
Those at 0 ° C. or higher are preferred.

【0035】(3)脱バインダ、焼成条件について固定
して行ったが、脱バインダ工程は使用する有機バインダ
の燃焼温度に応じて熱処理条件を最適に選択すれば良
く、焼成工程はN2+H2中での焼成に限らず、セラミッ
ク層1が還元されず、内部電極層2が過度に酸化されな
い雰囲気、つまり内部電極層2としての機能を果たせる
ように焼成できる雰囲気であればよい。
(3) The binder removal and firing conditions are fixed, but the binder removal step may be performed by optimally selecting the heat treatment condition according to the combustion temperature of the organic binder to be used. The firing step is N 2 + H 2. The atmosphere is not limited to firing in the atmosphere, and any atmosphere may be used as long as the ceramic layer 1 is not reduced and the internal electrode layer 2 is not excessively oxidized, that is, the atmosphere can be fired so as to function as the internal electrode layer 2.

【0036】しかしながら、一度に大量の積層体を焼成
する場合、脱バインダ工程において積層体中のバインダ
を分解しきれないことがある。この分解されなかったバ
インダがセラミック層1の焼結の際に残留していると、
セラミック層1を還元したり、構造欠陥を招いたりする
可能性がある。従って、焼成工程においてバインダの分
解温度以上、セラミック層1の焼結開始温度未満の温度
範囲で昇温を一時停止して、この温度での保持過程を設
け、積層体中の残留有機物を分解することが望ましい。
特に、焼成時の最高温度付近では、Niの平衡酸素分圧
から1/20〜1/10000の低い酸素分圧の時に十
分な比誘電率、絶縁抵抗が得られる。
However, when firing a large number of laminates at once, the binder in the laminates may not be completely decomposed in the binder removal step. If the undecomposed binder remains during the sintering of the ceramic layer 1,
There is a possibility that the ceramic layer 1 is reduced or a structural defect is caused. Therefore, in the firing step, the temperature increase is temporarily stopped in a temperature range equal to or higher than the binder decomposition temperature and lower than the sintering start temperature of the ceramic layer 1, and a holding process at this temperature is provided to decompose the residual organic matter in the laminate. It is desirable.
In particular, near the maximum temperature during firing, a sufficient relative dielectric constant and insulation resistance can be obtained at a low oxygen partial pressure of 1/20 to 1/10000 from the equilibrium oxygen partial pressure of Ni.

【0037】しかしながら、平衡酸素分圧の1/100
00より低い酸素分圧で焼成するとセラミック層1が還
元され、絶縁抵抗が低下する場合がある。この時には、
焼成の降温工程あるいは焼成後にNiの平衡酸素分圧以
上の雰囲気で熱処理することで絶縁抵抗を回復すること
ができる。焼成時の最高温度については、1250℃〜
1350℃の範囲の温度で十分な比誘電率が得られる。
However, 1/100 of the equilibrium oxygen partial pressure
When firing is performed at an oxygen partial pressure lower than 00, the ceramic layer 1 is reduced, and the insulation resistance may decrease. At this time,
The insulation resistance can be recovered by performing a heat treatment in an atmosphere at or above the equilibrium oxygen partial pressure of Ni after the temperature step of firing or after firing. The maximum temperature during firing is 1250 ° C
A sufficient relative dielectric constant is obtained at a temperature in the range of 1350 ° C.

【0038】(4)BaCO3,CaCO3,TiO2
ZrO2,Y23,Mn34,Dy23,NiOの混合
時にBaO−Al23−SiO2の三成分系ガラスを一
緒に混合したが、BaCO3,CaCO3,TiO2,Z
rO2,Y23,Mn34,Dy 23,NiOを仮焼し
た後の粉砕時にBaO−Al23−SiO2の三成分系
ガラスを添加混合しても上記と同様の効果を得ることが
できる。
(4) BaCOThree, CaCOThree, TiOTwo,
ZrOTwo, YTwoOThree, MnThreeOFour, DyTwoOThreeOf Ni and NiO
Sometimes BaO-AlTwoOThree-SiOTwoTernary glass
It was mixed with BaCOThree, CaCOThree, TiOTwo, Z
rOTwo, YTwoOThree, MnThreeOFour, Dy TwoOThree, NiO calcined
BaO-AlTwoOThree-SiOTwoTernary system
Even if glass is added and mixed, the same effect as above can be obtained.
it can.

【0039】(5)誘電率の低下を招くMnの添加量が
Mn34で添加することにより少量で済むためおよび
(化2)で示される誘電体磁器組成物の有する元々の誘
電率が高いため、キュリー点を低温側にシフトさせても
静電容量の経時劣化による減少が少ない。従ってセラミ
ック層1を薄層化して高積層化したとしても、静電容量
の経時劣化の少ない積層セラミックコンデンサとなる。
(5) Since the amount of Mn that causes a decrease in the dielectric constant can be reduced by adding Mn 3 O 4 , the original dielectric constant of the dielectric ceramic composition represented by the chemical formula (2) can be reduced. Since the Curie point is high, even if the Curie point is shifted to a lower temperature side, the capacitance is less reduced due to deterioration with time. Therefore, even if the ceramic layer 1 is made thinner and more highly laminated, a multilayer ceramic capacitor with less deterioration with time of the capacitance is obtained.

【0040】(6)Ni成分については、セラミック層
1の出発原料に副成分としてNiOを添加してもかまわ
ないが、内部電極層2としてNiを用いる場合は、セラ
ミック層1の出発原料にNiOを添加せずに、焼成する
際にNiを酸化してNiOとしてセラミック層1に拡散
させてもかまわない。いずれの場合も、セラミック層1
中のNi成分がNiOに換算して、主成分100重量%
に対して0.2重量%を越えないように、かつセラミッ
ク層1が還元されすぎず、内部電極層2が酸化されすぎ
ないように焼成条件をコントロールすることが大切であ
る。
(6) As for the Ni component, NiO may be added as a subcomponent to the starting material of the ceramic layer 1. However, when Ni is used as the internal electrode layer 2, NiO is used as the starting material of the ceramic layer 1. May be added and Ni may be oxidized at the time of firing and diffused into the ceramic layer 1 as NiO. In each case, the ceramic layer 1
Ni component in the material is converted to NiO, and the main component is 100% by weight.
It is important to control the firing conditions so as not to exceed 0.2% by weight, and not to reduce the ceramic layer 1 too much and not to oxidize the internal electrode layer 2 too much.

【0041】(7)内部電極層2を形成する電極ペース
トに添加するガラス成分は、電極ペースト中の金属成分
100wt%に対して、0.001wt%〜2wt%添
加することが望ましい。内部電極層2とセラミック層1
の接着性は0.001wt%以上で確実に向上するが、
2wt%を越えて添加すると、内部電極層2の連続性を
損ない、静電容量が小さくなるといった不具合が発生す
るからである。
(7) It is desirable that the glass component to be added to the electrode paste forming the internal electrode layer 2 is added in an amount of 0.001 wt% to 2 wt% with respect to 100 wt% of the metal component in the electrode paste. Internal electrode layer 2 and ceramic layer 1
Although the adhesiveness of is surely improved at 0.001 wt% or more,
This is because if added in excess of 2 wt%, the continuity of the internal electrode layer 2 is impaired, and a problem such as a decrease in capacitance occurs.

【0042】また、本発明全体のポイントについて記載
する。
The points of the whole invention will be described.

【0043】(1)上記実施の形態においては、セラミ
ック層1は(化2)で表される誘電体磁器組成物を、内
部電極層2はNiを用いたが、この組成に限るものでは
ない。
(1) In the above embodiment, the ceramic layer 1 is made of the dielectric ceramic composition represented by Chemical Formula 2, and the internal electrode layer 2 is made of Ni. However, the composition is not limited to this. .

【0044】(2)積層体を焼成すると、内部電極層2
とセラミック層1との界面だけでなく、積層体端面に露
出した内部電極層2上にもガラス層3が析出する。従っ
て内部電極層2と外部電極4との電気的接続を確実なも
のとするためには、積層体の表面を研磨などして、積層
体の表面のガラス層を除去し内部電極層2を積層体の端
面に露出させてから外部電極4を形成する。
(2) When the laminate is fired, the internal electrode layer 2
The glass layer 3 is deposited not only on the interface between the metal layer and the ceramic layer 1 but also on the internal electrode layer 2 exposed at the end face of the laminate. Therefore, in order to secure the electrical connection between the internal electrode layer 2 and the external electrode 4, the surface of the laminate is polished to remove the glass layer on the surface of the laminate, and the internal electrode layer 2 is laminated. The external electrode 4 is formed after being exposed to the end face of the body.

【0045】(3)内部電極層2を形成する電極ペース
トに添加するガラス成分は、セラミック層1の形成材料
に用いるガラス成分と同じものを用いることにより、セ
ラミック層1と内部電極層2との接着強度がさらに向上
する。またガラス成分として寄与する無機成分の中に
は、内部電極層2中に添加したとしても焼成中にセラミ
ック層1に多量に拡散し、セラミック層1の電気的特性
を疎外するものもある。従ってセラミック層1に含まれ
るガラス成分と同一のガラス成分を用いることにより、
セラミック層1中に内部電極層2を形成するために用い
たガラス成分が拡散したとしても、著しくセラミック層
1の電気的特性を損なうことはない。しかしながら、セ
ラミック層1の形成材料のガラス成分と同一のガラス成
分を内部電極層を形成する電極ペーストに添加したとし
ても、内部電極層2からのガラス成分を考慮してセラミ
ック層1の形成材料の配合を決定するのは難しいので、
内部電極層2からセラミック層1へのガラス成分の拡散
はできるだけ抑制し、セラミック層1と内部電極層2と
の界面に析出させるようにすることが好ましい。
(3) The same glass component as that used for the material for forming the ceramic layer 1 is used as the glass component to be added to the electrode paste for forming the internal electrode layer 2 so that the ceramic layer 1 and the internal electrode layer 2 The bonding strength is further improved. In addition, some inorganic components that contribute as glass components, even when added to the internal electrode layer 2, diffuse in a large amount into the ceramic layer 1 during firing, thereby alienating the electrical characteristics of the ceramic layer 1. Therefore, by using the same glass component as the glass component contained in the ceramic layer 1,
Even if the glass component used to form the internal electrode layer 2 diffuses into the ceramic layer 1, the electrical characteristics of the ceramic layer 1 are not significantly impaired. However, even if the same glass component as the glass material of the material for forming the ceramic layer 1 is added to the electrode paste forming the internal electrode layer, the glass component from the internal electrode layer 2 is taken into account in consideration of the glass component from the internal electrode layer 2. Since it is difficult to determine the formulation,
It is preferable that diffusion of the glass component from the internal electrode layer 2 to the ceramic layer 1 is suppressed as much as possible, and that the glass component is precipitated at the interface between the ceramic layer 1 and the internal electrode layer 2.

【0046】従って界面に効果的に析出させるためには
以下の方法が考えられる。
Therefore, the following method is conceivable for effectively depositing at the interface.

【0047】内部電極層2を形成する電極ペーストに
用いるガラス成分の軟化点は、内部電極層2を形成する
金属成分の焼結温度よりも高く、セラミック層1の焼結
温度よりも低いものを用いる。なぜならば軟化点が高す
ぎるとガラス成分の流動性が小さく界面に析出しにくく
なり、内部電極層2とセラミック層1の接着性に全く寄
与せず、軟化点が低すぎるとセラミック層1に拡散しや
すくなるからである。上記実施の形態ではガラス成分
は、軟化点がNiの焼結温度より高く、セラミック層1
の焼結温度よりも低い900〜1350℃の範囲のもの
を用いた。
The softening point of the glass component used for the electrode paste forming the internal electrode layer 2 is higher than the sintering temperature of the metal component forming the internal electrode layer 2 and lower than the sintering temperature of the ceramic layer 1. Used. This is because if the softening point is too high, the fluidity of the glass component is so small that it hardly precipitates at the interface, does not contribute to the adhesion between the internal electrode layer 2 and the ceramic layer 1 at all, and if the softening point is too low, it diffuses into the ceramic layer 1. This is because it is easy to do. In the above embodiment, the glass component has a softening point higher than the sintering temperature of Ni and the ceramic layer 1
The temperature range of 900 to 1350 ° C. lower than the sintering temperature was used.

【0048】内部電極層2を形成する電極ペーストに
用いるガラス成分は、セラミック層1の形成材料に用い
るガラス成分の平均粒子径よりも大きいものを用いる。
なぜならばセラミック層1に含有するガラスよりも内部
電極層2に含まれるガラスが小さい場合には、焼結過程
においてセラミック層1中に拡散し、界面に存在しにく
くなる可能性があるからである。
The glass component used for the electrode paste for forming the internal electrode layer 2 is larger than the average particle diameter of the glass component used for the material for forming the ceramic layer 1.
This is because, when the glass contained in the internal electrode layer 2 is smaller than the glass contained in the ceramic layer 1, the glass may diffuse into the ceramic layer 1 during the sintering process and may not be easily present at the interface. .

【0049】(4)内部電極層2を形成する電極ペース
トに用いるガラス成分は、内部電極層2を形成する金属
成分の平均粒子径と同等以上、形成しようとする内部電
極層2の厚みよりも平均粒子径が小さいものを用いる。
なぜならばガラス成分の平均粒子径が著しく小さい場合
には、セラミック層1に拡散しやすく、著しく大きい場
合にはデラミネーションを発生しやすいからである。
(4) The glass component used for the electrode paste forming the internal electrode layer 2 is equal to or more than the average particle diameter of the metal component forming the internal electrode layer 2 and is larger than the thickness of the internal electrode layer 2 to be formed. Use particles having a small average particle size.
This is because, when the average particle diameter of the glass component is extremely small, the glass component is easily diffused into the ceramic layer 1, and when the average particle diameter is extremely large, delamination is easily generated.

【0050】(5)セラミック層1と内部電極層2との
界面のガラス層3は、セラミック層1と接触する内部電
極層2の表面の一部に存在するだけでも絶縁抵抗劣化抑
制に効果があるが、全体に存在することが好ましい。し
かしながら、内部電極層2の表面全体にガラス層3を形
成しようとすると、ガラス層3が厚くなりすぎて所望の
静電容量が得られないなどの不具合が生じる。一方内部
電極層2の表面全体に薄いガラス層3を形成することは
非常に困難である。従ってできるだけ薄いガラス層を、
内部電極層2の表面ができるだけ広く覆われるように形
成できるようにする。
(5) Even if the glass layer 3 at the interface between the ceramic layer 1 and the internal electrode layer 2 exists only on a part of the surface of the internal electrode layer 2 in contact with the ceramic layer 1, the effect of suppressing the deterioration of insulation resistance is obtained. However, it is preferably present throughout. However, when the glass layer 3 is to be formed on the entire surface of the internal electrode layer 2, problems such as the glass layer 3 being too thick to obtain a desired capacitance are caused. On the other hand, it is very difficult to form a thin glass layer 3 on the entire surface of the internal electrode layer 2. Therefore, as thin a glass layer as possible,
The internal electrode layer 2 can be formed so as to cover the surface as widely as possible.

【0051】(6)内部電極層2を形成するための電極
ペーストへのガラスの添加量が多すぎると、内部電極層
2の切れを起こし静電容量が減少する。従って、セラミ
ック層1と内部電極層2の形成材料に応じて、これらの
接着性が向上し、かつ所望の静電容量を初めとする電気
特性が得られる程度の添加量とすることが大切である。
(6) If the amount of glass added to the electrode paste for forming the internal electrode layer 2 is too large, the internal electrode layer 2 is cut and the capacitance is reduced. Therefore, it is important that the addition amount is such that the adhesiveness of the ceramic layer 1 and the internal electrode layer 2 is improved and the electrical characteristics such as the desired capacitance can be obtained in accordance with the material of the formation. is there.

【0052】(7)上記実施の形態では、積層セラミッ
クコンデンサについて説明したが、セラミック層の内部
に水分が浸入すると、問題となるようなセラミック層と
金属層とを交互に積層した積層セラミック電子部品につ
いても同様の効果が得られることは容易に類推できる。
(7) In the above embodiments, the multilayer ceramic capacitor has been described. However, a multilayer ceramic electronic component in which ceramic layers and metal layers are alternately laminated such that a problem may occur when moisture enters the ceramic layers. It can easily be inferred that the same effect can be obtained also for.

【0053】[0053]

【発明の効果】以上本発明によると、高温高湿中での絶
縁抵抗の劣化を抑制することができ、信頼性の向上した
積層セラミック電子部品を得ることができる。特に積層
数が多い大容量積層セラミックコンデンサについては絶
大なる効果を発揮しうるものである。
As described above, according to the present invention, deterioration of insulation resistance in high temperature and high humidity can be suppressed, and a multilayer ceramic electronic component with improved reliability can be obtained. In particular, a large-capacity multilayer ceramic capacitor having a large number of layers can exert a great effect.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の積層セラミック電子部品の一実施の形
態における積層セラミックコンデンサの断面図
FIG. 1 is a cross-sectional view of a multilayer ceramic electronic component according to an embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 セラミック層 2 内部電極層 3 ガラス層 4 外部電極 1 ceramic layer 2 internal electrode layer 3 glass layer 4 external electrode

Claims (11)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 セラミック層と内部電極層とを交互に積
層した積層体と、この積層体の内部電極層の露出した端
面に設けた外部電極とを備え、前記内部電極層は金属成
分とガラス成分とを混合してなる電極ペーストで構成し
た積層セラミック電子部品。
1. A laminate comprising a ceramic layer and an internal electrode layer alternately laminated, and an external electrode provided on an exposed end face of the internal electrode layer of the laminate, wherein the internal electrode layer comprises a metal component and glass. A multilayer ceramic electronic component composed of an electrode paste obtained by mixing components.
【請求項2】 電極ペースト中のガラス成分は焼成によ
りセラミック層と内部電極層との界面に析出するもので
ある請求項1に記載の積層セラミック電子部品。
2. The multilayer ceramic electronic component according to claim 1, wherein the glass component in the electrode paste is deposited on the interface between the ceramic layer and the internal electrode layer by firing.
【請求項3】 電極ペースト中のガラス成分はセラミッ
ク層の形成材料に用いるガラス成分と同一とした請求項
1に記載の積層セラミック電子部品。
3. The multilayer ceramic electronic component according to claim 1, wherein the glass component in the electrode paste is the same as the glass component used for the material for forming the ceramic layer.
【請求項4】 電極ペースト中のガラス成分は金属成分
を100wt%としたとき25wt%以下とした請求項
1に記載の積層セラミック電子部品。
4. The multilayer ceramic electronic component according to claim 1, wherein the glass component in the electrode paste is 25 wt% or less when the metal component is 100 wt%.
【請求項5】 電極ペースト中のガラス成分は内部電極
層の厚みより小さい平均粒子径のものを用いた請求項1
に記載の積層セラミック電子部品。
5. The glass component in the electrode paste has an average particle diameter smaller than the thickness of the internal electrode layer.
3. The multilayer ceramic electronic component according to item 1.
【請求項6】 電極ペーストに用いるガラス成分は金属
成分の焼結温度よりも高くセラミック層の焼結温度より
も低い軟化点をもつものとした請求項1に記載の積層セ
ラミック電子部品。
6. The multilayer ceramic electronic component according to claim 1, wherein the glass component used for the electrode paste has a softening point higher than the sintering temperature of the metal component and lower than the sintering temperature of the ceramic layer.
【請求項7】 電極ペーストに用いるガラス成分はセラ
ミック層の形成材料に用いるガラス成分の平均粒子径よ
り大きい平均粒子径のものとした請求項1に記載の積層
セラミック電子部品。
7. The multilayer ceramic electronic component according to claim 1, wherein the glass component used for the electrode paste has an average particle size larger than the average particle size of the glass component used for the material for forming the ceramic layer.
【請求項8】 セラミック層は(化1)で表される誘電
体磁器組成物で内部電極層の金属成分はNiを主成分と
した請求項1に記載の積層セラミック電子部品。 【化1】
8. The multilayer ceramic electronic component according to claim 1, wherein the ceramic layer is a dielectric ceramic composition represented by Chemical Formula 1, and a metal component of the internal electrode layer is mainly composed of Ni. Embedded image
【請求項9】 セラミック層と内部電極層とを交互に積
層した積層体と、この積層体の内部電極層の露出した端
面に設けた外部電極と、前記積層体内のセラミック層と
内部電極層との界面に設けたガラス層とからなり、前記
セラミック層はガラス層と同一成分のガラス成分を用い
て構成した積層セラミック電子部品。
9. A laminate in which ceramic layers and internal electrode layers are alternately laminated, an external electrode provided on an exposed end face of the internal electrode layer of the laminate, and a ceramic layer and an internal electrode layer in the laminate. And a glass layer provided at an interface of the multilayer ceramic electronic component, wherein the ceramic layer is formed using the same glass component as the glass layer.
【請求項10】 セラミック層と内部電極層とが交互に
積層される積層体を形成する工程と、この積層体を焼成
する工程と、焼成した積層体の内部電極層が露出した両
端面に外部電極を形成する工程とからなり、前記内部電
極層は金属成分とガラス成分とからなる電極ペーストを
用いて形成する積層セラミック電子部品の製造方法。
10. A step of forming a laminated body in which ceramic layers and internal electrode layers are alternately laminated, a step of firing the laminated body, and a step of forming external layers on both end surfaces of the fired laminated body where the internal electrode layers are exposed. Forming an electrode, wherein the internal electrode layer is formed using an electrode paste comprising a metal component and a glass component.
【請求項11】 焼成工程と外部電極を形成する工程と
の間に積層体の表面を研磨することにより内部電極層を
露出させる工程を設けた請求項10に記載の積層セラミ
ック電子部品の製造方法。
11. The method for manufacturing a multilayer ceramic electronic component according to claim 10, wherein a step of exposing the internal electrode layer by polishing the surface of the laminate is provided between the firing step and the step of forming the external electrodes. .
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008078516A (en) * 2006-09-25 2008-04-03 Kyocera Corp Laminated ceramic capacitor, and its manufacturing method

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