JP2000241993A - 露光装置 - Google Patents

露光装置

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JP2000241993A
JP2000241993A JP11042822A JP4282299A JP2000241993A JP 2000241993 A JP2000241993 A JP 2000241993A JP 11042822 A JP11042822 A JP 11042822A JP 4282299 A JP4282299 A JP 4282299A JP 2000241993 A JP2000241993 A JP 2000241993A
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Japan
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exposure
mirror
glass substrate
alignment stage
unit
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JP11042822A
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Junichi Mori
順一 森
Nobuhiro Nirasawa
信広 韮沢
Hiroshi Suzuki
弘 鈴木
Shigehiro Takami
重博 高見
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Hitachi High Tech Corp
Original Assignee
Hitachi Electronics Engineering Co Ltd
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70058Mask illumination systems
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70691Handling of masks or workpieces

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 露光処理を行うアライメントステージユニッ
トを2個以上設けた場合に露光ユニットの光源を省略で
きるようにする。 【解決手段】 光源手段は露光用の光束を出力する。方
向切換反射鏡手段は光源からの光束を反射するものであ
って、その反射方向を切り換えて反射する。第1の凹面
鏡手段は方向切換反射鏡手段からの反射光束をほぼ平行
光となるように反射する。第1の反射鏡手段は第1の凹
面鏡手段からの反射光束を第1の露光面に反射する。第
2の凹面鏡手段は方向切換反射鏡手段からの反射光束を
ほぼ平行光となるように反射する。第2の反射鏡手段は
第2の凹面鏡手段からの反射光束を第2の露光面に反射
する。1つの光源手段から出力される光束を方向切換反
射鏡手段によって時間的に切り換えて、第1の凹面鏡手
段及び第1の反射鏡手段を介して露光したり、第2の凹
面鏡手段及び第2の反射鏡手段を介して露光したりす
る。これによって露光用の光源は1つでよくなり、光源
を省略することができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、液晶ディスプレ
イの製造工程においてガラス基板上にマスクのパターン
を形成する露光装置に係り、特に露光光源の有効利用を
図った露光装置に関する。
【0002】
【従来の技術】液晶ディスプレイ(LCD:Liqui
d Crystal Display)は、CRT(C
athode Ray Tube)に比べて薄型化、軽
量化が可能であるため、CTV(Color Tele
vision)やOA機器等のディスプレイ装置として
採用され、画面サイズも10型以上の大形化が図られ、
より一層の高精細化及びカラー化が押し進められてい
る。液晶ディスプレイは、フォトリソグラフィ技術によ
りガラス基板の表面に微細なパターンを描画して作られ
る。露光装置はこの微細パターンをガラス基板上に描画
するものである。この露光装置としては、マスクパター
ンをレンズ又はミラーを用いてガラス基板上に投影する
プロジェクション方式と、マスクとガラス基板との間に
微小なギャップを設けてマスクパターンを転写するプロ
キシミティ方式とがある。
【0003】プロキシミティ方式の露光装置は、プロジ
ェクション方式に比べてパターン解像性能が劣るもの
の、照射光学系が非常にシンプルであり、スループット
が高く、装置コストから見たコストパフォーマンスも優
れており、生産性の高い量産用装置に適したものであ
る。従来、プロキシミティ露光装置は、インライン対応
ローラコンベア方式のローダ・アンローダユニットを採
用しており、ローラコンベアの流れに沿って、ローダユ
ニット、搬入用基板搬送ユニット、アライメントステー
ジユニット、搬出用基板帆走ユニット、アンローダユニ
ットが順番に配置されて構成されている。
【0004】ローダユニットはガラス基板を順次供給す
るものであり、アンローダユニットは露光処理の終了し
たガラス基板を順次排出するものである。搬入用基板搬
送ユニットはローダユニット上のガラス基板をセンタリ
ング位置決めしてからアライメントステージの露光チャ
ックに搬送する。アライメントステージユニットは、露
光チャック、チルティングZステージ及びガラス基板ア
ライメントステージ、プリアライメント、マスクベース
ユニットなどで構成される。このアライメントステージ
ユニットには、インラインの外側に設けられた露光ユニ
ットからの紫外線をガラス基板上のフォトマスクに照射
するための光学系などが存在する。搬出用基板搬送ユニ
ットは露光チャック上の露光処理後のガラス基板をアン
ローダユニットに搬送する。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】従来のようにインライ
ン対応ローラコンベア方式の露光装置の場合は、ライン
上で露光処理を行っているため、一連の露光処理が終了
するまで、次のガラス基板に対して露光処理を施すこと
ができなかった。すなわち、インライン対応の場合、ロ
ーダユニットからの基板の取り込み−基板センタリング
−露光チャックへの基板搬送−プリアライメント−ギャ
ップ開始位置へ露光チャックを上昇−ギャップ制御−ア
ライメント−露光処理−基板搬送位置へ露光チャックを
下降−基板センタリング−アンローダユニットへ基板搬
出、と言った一連の処理を行っている。これらの各処理
時間を大幅に短縮化した場合でもスループットの向上に
は限界がある。
【0006】そこで、実際に露光する場所、すなわち、
アライメントステージユニットをラインの外側に複数個
設けて、そこで並列的に露光処理を行うようにすること
によって、スループットを大幅に向上させることができ
るようになったが、アライメントステージユニットを複
数個設けることは露光ユニットもそれに合わせて複数個
設けなければならないことを意味し、それに伴って露光
用の光源も複数必要となり、電力消費の点で問題であっ
た。
【0007】本発明は上述の点に鑑みてなされたもので
あり、露光処理を行うアライメントステージユニットを
2個以上設けた場合でも露光ユニットの光源を省略する
ことのできる露光装置を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】請求項1に記載された本
発明に係る露光装置は、露光用の光束を出力する1つの
光源手段と、前記光源からの光束を反射するものであっ
て、その反射方向を切り換えて反射する方向切換反射鏡
手段と、前記方向切換反射鏡手段からの反射光束をほぼ
平行光となるように反射する第1の凹面鏡手段と、前記
第1の凹面鏡手段からの反射光束を第1の露光面に反射
する第1の反射鏡手段と、前記方向切換反射鏡手段から
の反射光束をほぼ平行光となるように反射する第2の凹
面鏡手段と、前記第2の凹面鏡手段からの反射光束を第
2の露光面に反射する第2の反射鏡手段とを備えたもの
である。1つの光源手段から出力される光束を方向切換
反射鏡手段によって時間的に切り換えて、第1の凹面鏡
手段及び第1の反射鏡手段を介して露光したり、第2の
凹面鏡手段及び第2の反射鏡手段を介して露光したりす
る。これによって露光用の光源は1つでよくなり、光源
を省略することができる。
【0009】
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施の形態を添
付図面に従って説明する。図1〜図3は本発明に係る露
光装置の概略構成を示す図であり、図1はガラス基板搬
送用のダブルアームロボットを省略し、露光用光源とそ
の光学系とアライメントステージユニットとの位置関係
を示す図である。図2及び図3はガラス基板搬送用のダ
ブルアームロボットとアライメントステージユニットと
の関係を示す図であり、図2はガラス基板搬送用ロボッ
トのフォークがローラコンベア上にある場合を示し、図
3はアライメントステージユニット上にある場合を示
す。
【0010】他の装置で処理されたガラス基板21〜2
3はローラコンベア1上を順次右側に搬送される。ガラ
ス基板21及び22は露光処理前のものであり、ガラス
基板23及び24は露光処理後のものである。ガラス基
板21の上面には恒温送風ユニット(HEPAユニッ
ト)3が設けられている。恒温送風ユニット3は、設定
温度±0.1°Cに調整されたエアーを0.12μmの
粒子を集塵可能なフィルタを通してガラス基板21にダ
ウンフローし、第1のアライメントステージユニット4
1又は第2のアライメントステージユニット42の露光
チャックに搬送される前のガラス基板21の温度調整す
なわち冷却を行うものである。
【0011】ダブルアームロボット5は、2本のアーム
51及び53と、これらのアーム先端に取り付けられた
フォーク52及び54とを有し、旋回自在の構成になっ
ている。なお、このようなダブルアームロボットの構成
は公知なので、ここではその詳細説明は省略する。アー
ム51及びフォーク52はローラコンベア1上のガラス
基板22を持ち上げて第1のアライメントステージユニ
ット41又は第2のアライメントステージユニット42
の露光チャック上に配置するものであり、アーム53及
びフォーク54は第1のアライメントステージユニット
41又は第2のアライメントステージユニット42の露
光チャック上のガラス基板をローラコンベア1上のガラ
ス基板22の位置に配置するものである。すなわち、ア
ーム51及びフォーク52は露光処理前のガラス基板を
ローラコンベア1上から露光チャック上に搬入するガラ
ス基板搬入用であり、アーム53及びフォーク54は露
光処理済のガラス基板を露光チャック上からローラコン
ベア1上に搬送するガラス基板搬送用である。図2では
アーム51及びフォーク52がローラコンベア1上の露
光前のガラス基板22を持ち上げている状態が示されて
おり、図3ではアーム51及びフォーク52がそのガラ
ス基板を第1のアライメントステージユニット41の露
光チャック上に配置する状態が示されている。なお、ガ
ラス基板22の位置では基板センタリングユニットなど
によって基板のセンタリングが行われてから、各アライ
メントステージユニット41及び42にガラス基板が搬
送される。第1及び第2のアライメントステージユニッ
ト41及び42は、露光チャック、チルティングZステ
ージ、ガラス基板アライメントステージ、プリアライメ
ント、マスクベースユニットなどで構成されている。な
お、アライメントステージユニットの構成は公知なので
その説明は省略する。
【0012】次に第1及び第2のアライメントステージ
ユニット41及び42上のフォトマスクに露光用光源か
らの紫外線を照射する光学系の構成について、図1を用
いて説明する。図1でで、ガラス基板搬送用のダブルア
ームロボットの図示を省略している。アライメントステ
ージユニットが図1のように2つの場合、従来は露光用
光源である超高圧水銀ランプをステージユニット毎に設
け、それぞれの超高圧水銀ランプからの光束をそれぞれ
の光学系を用いて第1及び第2のアライメントステージ
ユニット41及び42に導くような構成になっている。
ところが、この実施の形態では、1つの超高圧水銀ラン
プ60から発射される紫外光線を反射方向切換ミラー6
5A(65B)によってその反射方向を交互に切り換え
て第1及び第2のアライメントステージユニット41及
び42に導くように光学系が構成されている。
【0013】超高圧水銀ランプ60から出射された光束
は、その周囲の楕円鏡によって下方向に集光され、第1
平面鏡61によって反射方向切換ミラー65A(65
B)に反射される。第1平面鏡61で反射した光束は、
照明強度を均一にするための2枚のフライアイレンズ6
3及び64を通過して反射方向切換ミラー65A(65
B)に入射する。フライアイレンズ63と第1平面鏡6
1との間には、紫外光線の照射を遮るシャッタ機構62
が設けられている。フライアイレンズ63及び64によ
って照明強度の均一となった光束は反射方向切換ミラー
65A(65B)によって、第1の凹面鏡66又は第2
の凹面鏡67のいずれか一方に反射される。すなわち、
反射方向切換ミラー65Aはフライアイレンズ64から
の光束を第1の凹面鏡66の方向に反射し、反射方向切
換ミラー65Bはフライアイレンズ64からの光束を第
2の凹面鏡67の方向に反射する。
【0014】第1のアライメントステージユニット41
及び第2のアライメントステージユニット42上で実際
に露光している時間は約5秒間であり、ガラス基板の搬
入やアライメントなどに約15秒の時間が費やされ、基
板の搬出に約10秒の時間が費やされている。ゆえにこ
の5秒間の露光時間がそれぞれ第1のアライメントステ
ージユニット41及び第2のアライメントステージユニ
ット42上で交互になるように処理順序を調整し、それ
に合わせて反射方向切換ミラー65A(65B)の反射
方向を切り換えることによって、1つの露光用光源(超
高圧水銀ランプ60)を兼用することができる。
【0015】第1の凹面鏡66は反射方向切換ミラー6
5Aからの反射光をほぼ平行光線束となるように反射し
て第2反射ミラー68を介して第1のアライメントステ
ージユニット41上の露光面に光束を照射して露光処理
を行う。同様に第2の凹面鏡67は反射方向切換ミラー
65Bからの反射光をほぼ平行光線束となるように反射
して第2反射ミラー69を介して第2のアライメントス
テージユニット42上の露光面に光束を照射して露光処
理を行う。
【0016】この露光装置がどのような手順で露光処理
を行うのか、その概略を説明する。図2においてガラス
基板22は露光処理前のものであり、ガラス基板23は
露光処理後のものであるとする。まず、ダブルアームロ
ボット5は図2及び図3に示すようにガラス基板22を
ローラコンベア1上から第1のアライメントステージユ
ニット41上に配置する。これと同時に反射方向切換ミ
ラーは65Aのように位置決めされる。そして、アライ
メントステージユニット41上でのアライメント処理が
終了した時点で露光処理が行われる。アライメントステ
ージユニット41上での露光処理が行われている最中に
ダブルアームロボット5は図3の状態からアーム51を
収縮してフォーク52をフォーク54と同じ位置に戻
し、時計方向に180度旋回する。アーム53を伸縮し
てフォーク54でガラス基板23を持ち上げ、それを反
時計方向に90度旋回搬送し、ローラコンベア1に配置
する。アーム53を収縮してフォーク54をフォーク5
2と同じ位置に戻す。ローラコンベア1が駆動するの
で、ガラス基板23はガラス基板24の位置に移動し、
ガラス基板21が新たにダブルアームロボット5の取扱
い可能位置に配置されるようになるので、ダブルアーム
ロボット5はアーム51を伸縮してフォーク52でガラ
ス基板21を持ち上げ、それを時計方向に90度旋回搬
送し、アライメントステージユニット42上に配置し、
アーム51を収縮してフォーク52をフォーク54と同
じ位置に戻す。この時点でアライメントステージユニッ
ト41上の露光処理は終了しているので、反射方向切換
ミラーは65Bのように位置決めされる。そして、アラ
イメントステージユニット42上でのアライメント処理
が終了した時点でガラス基板21に対して露光処理が行
われる。このようにして、ダブルアームロボット5は次
々とガラス基板を第1及び第2のアライメントステージ
ユニット41,42上に配置する。このダブルアームロ
ボット5がガラス基板を配置するのに合わせて反射方向
切換ミラーの方向を65A又は65Bのように切り換え
て交互に露光処理を行う。
【0017】なお、上述の実施の形態ではマスクの交換
については述べていないが、マスクストッカーをダブル
アームロボットの取扱い範囲内に配置しておき、そこか
らマスクを取り出してマスクの交換を行うようにしても
よい。
【0018】
【発明の効果】本発明の露光装置によれば、露光処理を
行うアライメントステージユニットを複数設けた場合で
も露光ユニットの光源を省略することができるという効
果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明に係る露光装置の概略構成を示す図で
あり、ガラス基板搬送用のダブルアームロボットを省略
し、露光用光源とその光学系とアライメントステージユ
ニットとの位置関係を示す図である。
【図2】 ガラス基板搬送用のダブルアームロボットと
アライメントステージユニットとの関係を示す図であ
り、ガラス基板搬送用ロボットのフォークがローラコン
ベア上にある場合を示す図である。
【図3】 ガラス基板搬送用のダブルアームロボットと
アライメントステージユニットとの関係を示す図であ
り、ガラス基板搬送用ロボットのフォークがアライメン
トステージユニット上にある場合を示す図である。
【符号の説明】
1…ローラコンベア、21,22,23,24…ガラス
基板、3…恒温送風ユニット(HEPAユニット)、4
1,42…アライメントステージユニット、5…ダブル
アームロボット、51,53…アーム、52,54…フ
ォーク、60…超高圧水銀ランプ、61,68,69…
反射鏡、62…シャッタ機構、63,64…フライアイ
レンズ、65A(65B)…反射方向切換ミラー、6
6,67…凹面鏡
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 鈴木 弘 東京都渋谷区東3丁目16番3号 日立電子 エンジニアリング株式会社内 (72)発明者 高見 重博 東京都渋谷区東3丁目16番3号 日立電子 エンジニアリング株式会社内 Fターム(参考) 2H097 CA03 CA12 DB07 DB11 LA12 5F046 CA01 CB03 CD01 CD04 CD06

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 露光用の光束を出力する1つの光源手段
    と、 前記光源からの光束を反射するものであって、その反射
    方向を切り換えて反射する方向切換反射鏡手段と、 前記方向切換反射鏡手段からの反射光束をほぼ平行光と
    なるように反射する第1の凹面鏡手段と、 前記第1の凹面鏡手段からの反射光束を第1の露光面に
    反射する第1の反射鏡手段と、 前記方向切換反射鏡手段からの反射光束をほぼ平行光と
    なるように反射する第2の凹面鏡手段と、 前記第2の凹面鏡手段からの反射光束を第2の露光面に
    反射する第2の反射鏡手段とを備えたことを特徴とする
    露光装置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100471427B1 (ko) * 2001-12-31 2005-03-08 엘지전자 주식회사 이중램프 노광장치
JP2006267802A (ja) * 2005-03-25 2006-10-05 Dainippon Printing Co Ltd 露光装置および露光方法

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