JP2000208599A - Semiconductor wafer handling unit - Google Patents

Semiconductor wafer handling unit

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JP2000208599A
JP2000208599A JP4047499A JP4047499A JP2000208599A JP 2000208599 A JP2000208599 A JP 2000208599A JP 4047499 A JP4047499 A JP 4047499A JP 4047499 A JP4047499 A JP 4047499A JP 2000208599 A JP2000208599 A JP 2000208599A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor wafer
holder
chuck
robot hand
abutting part
Prior art date
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Pending
Application number
JP4047499A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Toshio Suzuki
寿男 鈴木
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HM ACTY KK
Original Assignee
HM ACTY KK
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Filing date
Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To hold a wafer without touching the wafer surface directly by arranging a planar chuck having an abutting part provided by turning down the forward end side 90 deg. at one end of a robot hand and arranging a holder having a parallel moving pawl, inclined part and a holder on the side facing the abutting part. SOLUTION: A planar chuck 3 having an abutting part provided by turning down the forward end side 90 deg. is arranged at one end of a robot hand 2 such that it can abut arcuately on one end side of a semiconductor wafer 4 and a holder 5 having a parallel moving pawl, inclined part and a holder is arranged on the bottom of the robot hand 2 on the side facing the abutting part. The abutting part at the forward end of the chuck 3 is abutted on one end side of the semiconductor wafer 4 and the pawl of the holder 5 is hooked to the lower surface on the other end side. When the holder 5 is parallel moved to the abutting part side at the forward end of the chuck 3, the wafer 4 is elevated along the inclined face and held at the holder without abutting the chuck 3 directly.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体ウエハカセ
ット内や気相成長装置等における半導体ウエハのハンド
リングを行う際に半導体ウエハ面を傷つけることなく容
易にハンドリングを行うことができる、半導体ウエハハ
ンドリング装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor wafer handling apparatus capable of easily handling a semiconductor wafer in a semiconductor wafer cassette or in a vapor phase growth apparatus without damaging the semiconductor wafer surface. It is about.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、半導体ウエハを半導体ウエハカセ
ットから他の半導体ウエハカセットに移し替える場合に
おいて、略U字型をしたチャックを半導体ウエハ面に直
接当てて、真空吸着により保持するハンドリング装置で
行っている。
2. Description of the Related Art Conventionally, when a semiconductor wafer is transferred from a semiconductor wafer cassette to another semiconductor wafer cassette, a substantially U-shaped chuck is directly applied to the surface of the semiconductor wafer, and the semiconductor wafer is held by a vacuum chuck. ing.

【0003】また、気相成長装置等に半導体ウエハを投
入したり取出したりする場合においては、前記ハンドリ
ング装置ではチャックにより半導体ウエハの裏面を真空
吸着するため投入も取出しも行うことができず、人間が
ピンセットを使用して1枚ずつ手作業で行っている。
In addition, when a semiconductor wafer is put into or taken out of a vapor phase growth apparatus or the like, the handling apparatus does not perform loading and unloading because the back surface of the semiconductor wafer is vacuum-sucked by a chuck. Are done manually one by one using tweezers.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
チャックを使用したハンドリング装置では、該チャック
が半導体ウエハ面に直接当たるため傷が発生したり塵埃
が付着したりして不良が発生し、歩留りの低下を招いて
いた。
However, in a conventional handling apparatus using a chuck, the chuck directly hits the surface of the semiconductor wafer, causing scratches or dust to adhere to it, resulting in a defect and a decrease in yield. Had led to a decline.

【0005】また、気相成長装置等においては半導体ウ
エハの端部をピンセットで挟み1枚ずつ投入や取出しを
行っているため、上記のような傷の発生や塵埃の付着と
いった問題点以外に非常に時間が掛かってしまい、作業
効率の低下を招いてしまうという問題点もあった。
Further, in a vapor phase growth apparatus or the like, since the edge of a semiconductor wafer is inserted and taken out one by one with tweezers sandwiched therebetween, it is very difficult to avoid the above-mentioned problems such as generation of scratches and adhesion of dust. It takes a long time, resulting in a decrease in work efficiency.

【0006】本発明は、以上のような問題点を解決する
ために成されたものであり、半導体ウエハ面に直接当て
ることなく半導体ウエハを保持することができ、傷の発
生や塵埃の付着を最小限に抑えると共に、気相成長装置
等においても容易に半導体ウエハの投入や取出しが行う
ことができる半導体ウエハハンドリング装置を提供する
ことを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above problems, and can hold a semiconductor wafer without directly touching the surface of the semiconductor wafer. It is an object of the present invention to provide a semiconductor wafer handling apparatus capable of minimizing the size of a semiconductor wafer and easily loading and unloading a semiconductor wafer even in a vapor phase growth apparatus or the like.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明の半導体ウエハハンドリング装置1において
はロボットハンド2の一端に、先端側を90度折返した
当接部9を有する平板状のチャック3を配設し、該当接
部9と対面する側のロボットハンド2の底部にチャック
3に対し平行移動が可能な、爪部6,傾斜部7および保
持部8を有するホルダー5を配設する。
In order to solve the above-mentioned problems, in a semiconductor wafer handling apparatus 1 of the present invention, a flat chuck having a contact portion 9 whose one end is turned 90 degrees at one end of a robot hand 2. 3 and a holder 5 having a claw portion 6, an inclined portion 7 and a holding portion 8 capable of moving in parallel to the chuck 3 is provided on the bottom of the robot hand 2 on the side facing the contact portion 9. .

【0008】[0008]

【発明の実施の形態】本発明の実施の形態を図を用いて
説明する。図1は本発明の半導体ウエハハンドリング装
置の概略外形図で(a)は平面図(b)は側面図であ
り、図5は本発明の半導体ウエハハンドリング装置のチ
ャックの先端にある当接部を示すA−A拡大断面図であ
り、図2は本発明の半導体ウエハハンドリング装置のホ
ルダーの拡大側面図である。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a schematic external view of a semiconductor wafer handling apparatus of the present invention, (a) is a plan view, (b) is a side view, and FIG. 5 shows a contact portion at a tip end of a chuck of the semiconductor wafer handling apparatus of the present invention. FIG. 2 is an enlarged sectional view taken along the line AA shown in FIG. 2, and FIG. 2 is an enlarged side view of a holder of the semiconductor wafer handling apparatus of the present invention.

【0009】図1および図5のように、本発明の半導体
ウエハハンドリング装置1は、ロボットハンド2の一端
に、先端側を90度折返した当接部9を有する平板状の
チャック3を配設する。該チャック3の当接部9は、半
導体ウエハ4の一端側をオリフラに影響されることなく
安定して保持できるよう適度な幅を有し、半導体ウエハ
4の一端側を円弧状に当接することが可能である。
As shown in FIGS. 1 and 5, in a semiconductor wafer handling apparatus 1 of the present invention, a flat plate-shaped chuck 3 having a contact portion 9 whose tip end is turned 90 degrees is provided at one end of a robot hand 2. I do. The contact portion 9 of the chuck 3 has an appropriate width so that one end of the semiconductor wafer 4 can be stably held without being affected by the orientation flat, and the one end of the semiconductor wafer 4 is contacted in an arc shape. Is possible.

【0010】次に図2のように、チャック3の当接部9
と対面する側のロボットハンド2の底部にチャック3に
対し平行移動が可能な、爪部6,傾斜部7および保持部
8を有するホルダー5を配設する。爪部6は、半導体ウ
エハ4の他端側の下面を掛けるため鋭角状を成してい
る。傾斜部7は、前記爪部6で掛けた半導体ウエハ4を
傾斜面に沿って引上げるため適度な傾斜角を有した直線
状の傾斜面を成している。該傾斜部7の傾斜角や傾斜面
の幅等の規定値は特になく、適度な値で構わない。保持
部8は、前記傾斜部7で引上げた半導体ウエハ4を保持
するため傾斜面を折返して溝を成している。また、ホル
ダー5をチャック3に対し平行移動させるための機構
は、1軸のリニア機構であればどのような機構であって
も良く、特に限定するものではない。
[0010] Next, as shown in FIG.
A holder 5 having a claw portion 6, an inclined portion 7, and a holding portion 8 that can move in parallel to the chuck 3 is disposed on the bottom of the robot hand 2 facing the robot hand 2. The claw portion 6 has an acute angle for hanging the lower surface on the other end side of the semiconductor wafer 4. The inclined portion 7 forms a linear inclined surface having an appropriate inclination angle for pulling up the semiconductor wafer 4 hung by the claw portion 6 along the inclined surface. There is no specific value such as the angle of inclination of the inclined portion 7 or the width of the inclined surface, and an appropriate value may be used. The holding section 8 has a groove formed by turning an inclined surface to hold the semiconductor wafer 4 pulled up by the inclined section 7. The mechanism for moving the holder 5 in parallel with the chuck 3 may be any mechanism as long as it is a one-axis linear mechanism, and is not particularly limited.

【0011】[0011]

【実施例】本発明の実施例を図を用いて説明する。図3
は本発明の半導体ウエハハンドリング装置においてホル
ダーの爪部を半導体ウエハの端に掛けている状態を示す
図であり、図4は本発明の半導体ウエハハンドリング装
置においてホルダーの保持部で半導体ウエハを保持して
いる状態を示す図である。
An embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG.
FIG. 4 is a view showing a state in which a claw portion of a holder is hung on an edge of a semiconductor wafer in the semiconductor wafer handling apparatus of the present invention, and FIG. FIG.

【0012】まず半導体ウエハカセット内の半導体ウエ
ハ4や気相成長装置等における半導体ウエハ4の一端側
にチャック3の先端側にある当接部9を当て、さらに、
半導体ウエハ4の他端側の下面にホルダー5の爪部6を
掛ける。図3は該状態を示している。
First, a contact portion 9 at the tip end of the chuck 3 is applied to one end of the semiconductor wafer 4 in a semiconductor wafer cassette or a semiconductor wafer 4 in a vapor phase growth apparatus or the like.
The claw portion 6 of the holder 5 is hung on the lower surface on the other end side of the semiconductor wafer 4. FIG. 3 shows this state.

【0013】次に図2の図中矢印aのように、ホルダー
5をチャック3の先端側の当接部9側に平行に移動させ
る。この時、半導体ウエハ4は図中矢印bのようにホル
ダー5の傾斜部7の傾斜面に沿って上昇する。さらに、
保持部8まで到達するとホルダー5の移動はロボットハ
ンド2内の制御機構により停止し、該保持部8にて半導
体ウエハ4を保持することができる。図4は該状態を示
している。
Next, as shown by an arrow a in FIG. 2, the holder 5 is moved in parallel to the contact portion 9 on the distal end side of the chuck 3. At this time, the semiconductor wafer 4 rises along the inclined surface of the inclined portion 7 of the holder 5 as shown by the arrow b in the figure. further,
When the holder 5 reaches the holding unit 8, the movement of the holder 5 is stopped by the control mechanism in the robot hand 2, and the semiconductor wafer 4 can be held by the holding unit 8. FIG. 4 shows this state.

【0014】[0014]

【発明の効果】以上述べたように、本発明の半導体ウエ
ハハンドリング装置により半導体ウエハカセット内の半
導体ウエハのハンドリングや気相成長装置等における半
導体ウエハのハンドリングを行う場合に、下記のような
効果を奏することができる。半導体ウエハのハンドリ
ングを、チャックの当接部およびホルダーの保持部によ
り行うため、半導体ウエハ面にチャックが直接当ること
がない。したがって、傷の発生や塵埃の付着を最小限に
抑えることができる。チャックの下面に半導体ウエハ
を保持することができ、しかもホルダーにより半導体ウ
エハを引上げる機構のため、気相成長装置等に半導体ウ
エハを投入したり取出したりすることが容易にできる。
As described above, the following effects can be obtained when the semiconductor wafer handling apparatus of the present invention handles semiconductor wafers in a semiconductor wafer cassette or a semiconductor wafer in a vapor phase growth apparatus or the like. Can play. Since the handling of the semiconductor wafer is performed by the contact portion of the chuck and the holding portion of the holder, the chuck does not directly hit the semiconductor wafer surface. Therefore, generation of scratches and adhesion of dust can be minimized. The semiconductor wafer can be held on the lower surface of the chuck, and the semiconductor wafer is pulled up by the holder, so that the semiconductor wafer can be easily loaded or unloaded into a vapor phase growth apparatus or the like.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の半導体ウエハハンドリング装置の概略
外形図で(a)は平面図(b)は側面図である。
FIG. 1 is a schematic external view of a semiconductor wafer handling apparatus according to the present invention, wherein (a) is a plan view and (b) is a side view.

【図2】本発明の半導体ウエハハンドリング装置のホル
ダーの拡大側面図である。
FIG. 2 is an enlarged side view of a holder of the semiconductor wafer handling device of the present invention.

【図3】本発明の半導体ウエハハンドリング装置におい
てホルダーの爪部を半導体ウエハの端に掛けている状態
を示す図である。
FIG. 3 is a diagram showing a state in which a claw portion of a holder is hooked on an edge of a semiconductor wafer in the semiconductor wafer handling apparatus of the present invention.

【図4】本発明の半導体ウエハハンドリング装置におい
てホルダーの保持部で半導体ウエハを保持している状態
を示す図である。
FIG. 4 is a view showing a state in which a semiconductor wafer is held by a holder of a holder in the semiconductor wafer handling apparatus of the present invention.

【図5】本発明の半導体ウエハハンドリング装置のチャ
ックの先端にある当接部を示すA−A拡大断面図であ
る。
FIG. 5 is an AA enlarged sectional view showing a contact portion at a tip of a chuck of the semiconductor wafer handling apparatus of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 半導体ウエハハンドリング装置 2 ロボットハンド 3 チャック 4 半導体ウエハ 5 ホルダー 6 爪部 7 傾斜部 8 保持部 9 当接部 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Semiconductor wafer handling device 2 Robot hand 3 Chuck 4 Semiconductor wafer 5 Holder 6 Claw part 7 Inclined part 8 Holding part 9 Contact part

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 ロボットハンド(2)の一端に、先端側
を90度折返した当接部(9)を有する平板状のチャッ
ク(3)を配設し、該当接部(9)と対面する側のロボ
ットハンド(2)の底部にチャック(3)に対し平行移
動が可能な、爪部(6),傾斜部(7)および保持部
(8)を有するホルダー(5)を配設し、チャック
(3)の当接部(9)に半導体ウエハの一端側を当接さ
せ他端側をホルダー(5)の爪部(6)にて掛け、傾斜
部(7)にて引上げ、保持部(8)にて半導体ウエハを
保持することができることを特徴とした、半導体ウエハ
ハンドリング装置。
1. A flat plate-like chuck (3) having a contact portion (9) whose front end is turned 90 degrees is disposed at one end of a robot hand (2), and faces the contact portion (9). A holder (5) having a claw (6), an inclined portion (7), and a holding portion (8), which can move in parallel with the chuck (3), is provided at the bottom of the robot hand (2) on the side. One end of the semiconductor wafer is brought into contact with the contact portion (9) of the chuck (3), the other end is hooked by the claw (6) of the holder (5), pulled up by the inclined portion (7), and held. (8) A semiconductor wafer handling apparatus characterized in that it can hold a semiconductor wafer.
JP4047499A 1999-01-07 1999-01-07 Semiconductor wafer handling unit Pending JP2000208599A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7547053B2 (en) 2004-03-29 2009-06-16 Kawasaki Jukogyo Kabushiki Kaisha Substrate gripping apparatus, substrate gripping method and substrate releasing method

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7547053B2 (en) 2004-03-29 2009-06-16 Kawasaki Jukogyo Kabushiki Kaisha Substrate gripping apparatus, substrate gripping method and substrate releasing method

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