JP2000163959A - 半導体記憶装置 - Google Patents

半導体記憶装置

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JP2000163959A
JP2000163959A JP10333106A JP33310698A JP2000163959A JP 2000163959 A JP2000163959 A JP 2000163959A JP 10333106 A JP10333106 A JP 10333106A JP 33310698 A JP33310698 A JP 33310698A JP 2000163959 A JP2000163959 A JP 2000163959A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 データストローブ信号の制御で取り込んだ入
力データ信号をクロック信号制御に変換する際のラッチ
マージンを確保する。 【解決手段】 ダブルデータレート同期型DRAMにお
いて、データスローブ信号の立ち上がりと、立ち下がり
エッジから生成した第1のワンショットパルス信号に応
じて入力データを取り込むレジスタ回路122と、第1
のワンショットパルスのタイミングから生成した制御信
号により、データを取り込む並列接続されたラッチ回路
123,124,125,126と、第1のワンショッ
トパルスの2倍の周期をもつ制御信号により、取り込ま
れたデータ2個づつが転送されるデータ保持回路12
7,128とを備え、2個のデータをクロック信号に制
御された回路を並列に転送する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体記憶装置に
関し、特に、ダブルデータレート(DDR)型のシンク
ロナス・ダイナミック・ランダム・アクセス・メモリ
(SDRAM)である、DDR−SDRAMをはじめと
するデータ信号の入出力制御を行う半導体記憶装置に関
する。
【0002】
【従来の技術】中央演算装置(CPU)の高速化に伴っ
て、計算機の主記憶装置には、クロックに同期して動作
するSDRAMが用いられるようになったが、さらに高
速化を図るため、2ビットのデータを同時に読み書きを
する、2ビットプリフェッチ型のSDRAMが提案され
ている。
【0003】次に、2ビットプリフェッチ型SDRAM
からなる半導体記憶装置の従来例を説明する。図1は、
第1の従来例の電気的構成を示すブロック図、図2は、
第1の従来例の動作を説明するタイミングチャートであ
る。この第1の従来例の半導体記憶装置は、クロック信
号201と、データイン回路202とを含んでいる。ク
ロック信号201は、図1(a)に示すように、入力バ
ッファ201と、ライズ遷移パルス発生回路2012
と、遅延回路2013と、分周回路2014と、ライズ
遷移パルス発生回路2015とを有している。データイ
ン回路202は、図1(b)に示すように、入力バッフ
ァ2021と、レジスタ回路2022、2023、20
24、2025と、データバスドライブ回路2026と
を有している。
【0004】次に、図1、図2を参照して、2ビットプ
リフェッチ型SDRAMからなる半導体記憶装置の第1
の従来例の動作を説明する。図1(a)に示すクロック
信号回路201において、ライズ遷移パルス発生回路2
012は、外部入力バッファ2011を経て入力された
クロック信号CLKの立ち上がり(ライズ)エッジを検
出して、ワンショットパルス信号Φclkを発生する。
また、分周回路2014は、遅延回路2013を経て所
定時間遅延された入力信号を2分周する。ライズ遷移パ
ルス発生回路2015は、分周回路2014から出力さ
れた分周クロックの立ち上がりエッジを検出してワンシ
ョットパルス信号Φclkdinを発生する。ワンショ
ットパルス信号のΦclkdinは、クロック信号CL
Kの2倍の周期を有している。
【0005】図1(b)に示すデータイン回路202に
おいて、データ入力信号DINiは、iビットからなる
並列データ入力のうちの1ビット分を示している。レジ
スタ回路2022は、入力バッファ2021を経て入力
されたデータ入力信号DINiを、クロック信号CLK
のライズ遷移によって発生したワンショットパルス信号
Φclkに応じて取り込む。レジスタ回路2023は、
レジスタ回路2022に保持されたデータを、次のワン
ショットパルス信号Φclkに応じて取り込む。次に、
レジスタ回路2024、2025は、クロック信号CL
Kの2サイクルごとに発生するワンショットパルス信号
Φclkdinに応じて、それぞれレジスタ回路202
2、2023のデータを同時に取り込む。この際、ラッ
チミスを防止するために、ワンショットパルス信号Φc
lkdinは、ワンショットパルス信号Φclkより後
に与えるように、遅延回路2013によって遅延されい
る。データバスドライブ回路2026は、レジスタ回路
2024の出力デ―タedと、レジスタ回路2025の
出力データodとを並列に、それぞれ対応する偶数(e
ven)番目のデータバスDBEiと、奇数(odd)
番目のデータバスDBOiとに供給し、これによって、
入力データが図示されていない記憶セルに書き込まれ
る。
【0006】なお、図1(b)における各レジスタ回路
2022、2023,2024、2025はすべて図1
(c)のレジスタ回路203によって示される同じ回路
構成を有している。レジスタ回路203は、インバータ
ーI1と、ゲートG1、G2と、ラッチL1、L2とを
有し、入力データINを、外部クロック信号Φの立ち下
がりに応じてゲートG1を開いてラッチ回路L1にラッ
チし、ラッチ回路L1にラッチされたデータを、外部ク
ロック信号Φの立ち上がりに応じてゲートG2を開いて
ラッチ回路L2にラッチすることによって、1ビットの
データを、外部クロック信号Φの1周期間保持する。
【0007】次に、2ビットプリフェッチ型SDRAM
からなる半導体記憶装置の第2の従来例を説明する。図
3は、第2の従来例の電気的構成を示すブロック図、図
4は、第2の従来例の動作を説明するタイミングチャー
トである。この第2の従来例の半導体記憶装置は、クロ
ック信号回路211と、データイン回路212とから概
略構成されている。クロック信号211は、図3(a)
に示すように、入力バッファ2111と、分周回路21
11と、ライズ遷移パルス発生回路2113と、遅延回
路2114と、1周期遅延回路2115と、分周回路2
116と、ライズ遷移パルス発生回路2117とを有し
ている。データイン回路212は、図3(b)に示すよ
うに、入力バッファ2121と、レジスタ回路212
2,2123,2124,2125と、データバスドラ
イブ回路2126とを有している。
【0008】次に、図3,図4を参照して、2ビットプ
リフェッチ型SDRAMからなる半導体記憶装置の第2
の従来例の動作を説明する。図3(a)に示すクロック
信号回路211において、分周回路2112は、外部か
ら入力バッファ2121を経て入力されたクロック信号
CLKを2分周する。ライズ遷移パルス発生回路211
3は、分周回路2112の出力信号の立ち上がり(ライ
ズ)エッジを検出して、ワンショットパルス信号Φcl
kを発生する。遅延回路2114は、分周回路2112
の出力信号を所定時間遅延させる。ライズ遷移パルス発
生回路2113は、遅延回路2114の出力信号の立ち
上がり(ライズ)エッジを検出して、ワンショットパル
ス信号Φclkdinを発生する。また、1周期遅延回
路2115は、入力バッファ2111の出力信号を、1
周期遅延させ、分周回路2116は、1周期遅延回路2
115の出力信号を2分周する。ライズ遷移パルス発生
回路2117は、分周回路2116から出力された信号
の立ち上がり(ライズ)エッジを検出してワンショット
パルス信号Φclkを発生する。
【0009】図3(b)に示すデータイン回路212に
おいて、レジスタ回路2122は、入力バッファ212
1を経て入力されたデータ入力信号DINiを、2分周
されたクロック信号CLKのライズ遷移によって発生し
たワンショットパルス信号Φ/clkに応じて取り込
む。また、レジスタ回路2123は、入力バッファ21
21の出力信号を、1周期遅延された2分周されたクロ
ック信号CLKのライズ遷移によって発生したワンショ
ットパルス信号Φ/clkに応じて取り込む。次にレジ
スタ回路2124、2125は、クロック信号CLKの
2サイクルごとに発生する遅延されたワンショットパル
ス信号Φclkdinに応じて、それぞれレジスタ回路
2122,2123のデータを同時に取り込む。この
際、ミスラッチを防止するために、ワンショットパルス
信号 Φclkdinは、ワンショットパルス信号Φc
lkより、後に与えられるように遅延されている。デー
タバスドライブ回路2126は、レジスタ回路2124
の出力データedと、レジスタ回路2125の出力デー
タodとを並列に、それぞれ偶数番目のデータバスDB
Eiと奇数番目のデータバスDBOiとに供給し、これ
によって、入力データが図示されていない記憶セルに書
き込まれる。
【0010】なお、図3(b)におけるレジスタ回路2
122,2123,2124,2125はすべて図3
(c)のレジスタ回路213によって示される同じ回路
構成を有している。レジスタ回路213は、従来利図1
(c)に示されたレジスタ回路203と同じ構成、機能
を有している。
【0011】次に図5,図6を用い、2ビットプリフェ
ッチ型SDRAMからなる半導体記憶装置のデータ入力
信号DINiをデータパスDBOiとDBEiの関係を
説明する。図5(a)は、図1の形式にセレクタ回路3
00を追加した形式である。図1(a)に示したクロッ
ク信号回路201において、ライズ遷移パルス発生回路
2012は、外部入力バッファ2011を経て入力され
たクロック信号CLKの立ち上がり(ライズ)エッジを
検出して、ワンショットパルス信号Φclkを発生す
る。また、図1(a)に示した分周回路2014は、図
1(a)に示した遅延回路2013を経て所定時間遅延
された入力信号を2分周する。図1(a)に示したライ
ズ遷移パルス発生回路2015は、分周回路2014か
ら出力された分周クロックの立ち上がりエッジを検出し
てワンショットパルス信号Φclkdinを発生する。
【0012】データバスドライブ回路2126は、レジ
スタ回路2124の出力データと、レジスタ回路212
5の出力データとを並列に、それぞれ偶数番目のデータ
バスDBEiと奇数番目のデータバスDBOiとに供給
し、これによって、入力データが図示されていない記憶
セルに書き込まれる。この時、入力されたデータ入力信
号DINiは、アドレス信号YP0により制御されたセ
レクタ回路3000により、偶数番目のデータバスDB
Eiと奇数番目のデータバスDBOiとのどちらに、供
給されるか振り分けられる。
【0013】図5(a)で示すセレクタ回路は、図5
(b)で示されたセレクタ回路3000と同じ構成、機
能を有している。YP0の出力信号がHigh(または
Low)の時、データバスドライブ回路2126は、レ
ジスタ回路2124の出力デ―タと、レジスタ回路21
25の出力データとを並列に、それぞれ偶数番目のデー
タバスDBEiと奇数番目のデータバスDBOiとに供
給し、YP0の出力信号がLow(またはHigh)の
時、レジスタ回路2124の出力データと、レジスタ回
路2125の出力データとを並列に、それぞれ奇数番目
のデータバスDBOiと偶数番目のデータバスDBEi
に供給される。これにより、アドレス信号YP0のよ
り、入力信号DINiは、所望のデータパスに転送され
る。
【0014】入力信号DINiのアドレス信号YP0に
よる奇数番目のデータバスDBOiと偶数番目のデータ
バスDBEiへの転送を行うセレクタ3000は、第2
の従来例に示した図3にも、同様に実施される。
【0015】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記各
従来例の半導体記憶装置あっては、データ処理速度を上
げるためには、クロック信号CLKを高速化する必要が
あるが、SDRAMを使用した実際のシステムでは、多
数のSDRAMをモジュール基板上に搭載して使うこと
が多いため、クロック信号CLKとデータ入力信号DI
Niとのタイミングスキューの問題が顕著になるので、
クロック信号の高速化は必ずしも容易ではない。このよ
うな問題が生じるのは、クロック信号CLKのみを用い
てデータ入力信号の制御(取り込み)をおこなっている
からであり、これに対して近年において、ダブルデータ
レート型のDDR−SDRAMが提案され、現在、JE
DEC(Joint Device Engineer
ing Council)における標準化が進められて
いる。DDR−SDRAMにおいては、2ビットプリフ
ェッチ方式を使用するが、データ入力信号の取り込み
は、データストロー部信号DSによって行われ、クロッ
ク信号CLKの周期は、データ入力信号周期の2倍にな
っている。データストローブ信号DSは、データ入力信
号DINiと同時に図示されていない中央処理装置(C
PU)で作成されるものであり、データスローブ信号D
Sとデータ入力信号DINiとを等長の配線によってS
DRAMに接続することによって、両者の間のタイミン
グスキューの問題が解消される。従って、クロック信号
の高速化の問題と、クロック信号とデータ信号のタイミ
ングスキューの問題とを同時に解決することができる。
ただし、データ入力信号をデータストローブ信号DSに
よって取り込んだ後、クロック信号CLKによる制御に
変換する必要があり、この際の動作を確実に行うことが
重要になる。このクロック信号とデータ信号のスキュー
に関する問題は、広くデータ信号の入出力を行う半導体
装置において共通の問題であり、データストローブ信号
DSを正確なクロックタイミングを有した、または有し
ない外部クロックとした時、正確なクロックタイミング
を有するクロック信号CLK制御に変換する動作を確実
に行うことが同様に重要になる。また、2ビットプリフ
ェッチ方式において入力信号DINiをアドレス信号Y
P0により所望のデータパスに振り分け、記憶セルに書
き込むことが必要となるが、前述セレクタ3000によ
るデータ信号DINiの振り分けが、データストローブ
信号DSによって取り込んだ後、クロック信号CLKに
よる制御に変換する過程において生じ、その過程でセレ
クタ3000自信の遅延に対するデータ信号DINiの
マージン確保が必要になってくる。さらに、前述セレク
タはデータ入力信号DINiの数にあわせ複数台必要に
なり、昨今はますますデータバンド幅の向上が要求さ
れ、データの多ビット化の傾向に従い、データ入力信号
DINiのビット数が増加する傾向にあり、面積削減の
ためにもセレクタの台数を削減する手段が必要である。
【0016】そこで、本発明は、DDR−SDRAMに
おいて、入力信号をデータストローブ信号の制御によっ
て取り込んだ後、クロック信号の制御に変換する際のラ
ッチマージンを十分確保することが可能な、半導体記憶
装置を提供することを課題としている。また、DDR−
SDRAMのデータストローブ信号DSに限らず、例え
ば正確なクロックタイミングを有した外部クロック、ま
たは正確なタイミングを有しない外部クロック等の制御
信号によって取り込んだデータ入力信号を、クロック信
号の制御に変換する際のラッチマージンを十分確保する
ことが可能な半導体記憶装置を提供することを課題とし
ている。
【0017】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
の本発明の半導体記憶装置においては、入力データの2
個周期で出力されるデータストローブ信号の立ち上がり
(又は立ち下がり)エッジと立ち下がり(又は立ち上が
り)エッジとに応じて入力データを順次取り込む並列接
続された第1及び第2のデータ保持手段を備え、前記第
1及び第2のデータ保持手段に取り込まれたデータを同
時に取り出してクロック信号のタイミングで並列に記憶
セルに書き込むようにしている。
【0018】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して、本発明の
実施の形態について説明する。 [実施形態1]図7、図8は、この発明の第1実施形態
の電気構成を示すブロック図、図9は、第1の実施形態
の動作を説明するタイミングチャート、図10は、デー
タストローブ信号のタイミングがもっとも早い場合のラ
ッチマージンの説明図、図11は、データストローブ信
号のタイミングが最も遅い場合のラッチマージンの説明
図である。この第1実施形態の半導体記憶装置は、図7
に示すように、データストローブ信号回路11と、デー
タイン回路12と、データ保持回路13と、制御回路1
4と、4ビットカウンター回路15とから構成される。
【0019】データストローブ信号回路11は、図7
(a)に示すように、入力バッファ111と、ライズ/
フォール遷移パルス発生回路112と、遅延回路113
を有している。入力バッファ111は、データストロー
ブ信号DSを、ライズ/フォール遷移パルス発生回路1
12と、遅延回路113に供給する。ライズ/フォール
遷移パルス発生回路112は、入力バッファ111の出
力信号の立ち上がり(ライズ)エッジと立ち下がり(フ
ォール)エッジを検出して、ワンショットパルス信号I
DSDを発生する。遅延回路113は、入力信号DSを
遅延した信号DSDを発生する。
【0020】データイン回路12は、図7(b)に示す
ように、入力バッファ121と、レジスタ回路122
と、ラッチ回路123,124,125,126と、デ
ータ保持回路127、128と、データバスドライブ回
路129を有している。入力バッファ121は、データ
入力信号DINiをレジスタ回路122に供給する。レ
ジスタ回路122は、入力バッファ121の出力信号
を、ワンショットパルス信号IDSDに応じて取り込
む。ラッチ回路123,124,125,126はレジ
スタ回路122の出力信号を、第1制御信号10、1
1、12、13に応じて取り込む。また、第2制御信号
20、22に応じて出力信号ed1、od1を発生す
る。データ保持回路127、128は出力信号ed1,
od1を保持する。データバスドライブ回路129は、
データ保持回路127の出力信号ed1と、データ保持
回路128の出力信号od1を並列に、制御信号W0、
W1により、それぞれ偶数番目のデータバスDBEi
と、奇数番目のデータバスDBOiとに供給し、これに
よって、入力データが図示されていない記憶セルに書き
込まれる。
【0021】ここで、レジスタ回路122は、図8
(c)のレジスタ回路16によって示される同じ回路構
成を有している。ラッチ回路123,124,125,
126は、図8(f)によって示されるラッチ回路17
の構成を有している。
【0022】第1制御信号10、11、12、13の1
例を述べる。図8(g)の4ビットのカウンター回路1
5とワンショットパルス信号IDSD‘により発生する
信号である。ワンショットパルス信号IDSD‘はID
SD信号の遅延された信号、またはIDSD信号、また
は図示されてない回路により生成されたIDSD信号を
由来とした信号である。ここで、4ビットカウンター回
路15で使用されるレジスタ回路RS1F/F,RS0
F/Fは、図8(h)に示すリセットつきレジスター回
路18および19の機能を有する回路である。
【0023】第2制御信号20,22は図8(e)によ
り第1制御信号10、11、12、13から発生される
制御信号である。
【0024】IDSD信号、第1制御信号10、11、
12、13によりデータ入力信号DINiを順次取り込
み、DSD信号、第2制御信号20,22によりデータ
を取り出すことで、2ビットからなる信号を出力DBE
i、DBOiに発生する上記各信号は、データ入力信号
の伝搬遅延を十分考慮し、データ入力信号に対して十分
なラッチマージンを確保するタイミング関係を有してい
る。
【0025】次に図7乃至図11を参照して、この例の
半導体記憶装置の動作を説明する。図7(a)に示すデ
ータストローブ信号回路11では、データストローブ信
号DSの立ち上がり(ライズ)エッジと立ち下がり(フ
ォ―ル)エッジを検出して、ワンショットパルス信号I
DSDを発生し、また、データ―ストローブ信号DSを
遅延した、図示しない信号DSDを発生する。
【0026】図8(g)に示す4ビットカウンター回路
15は、コマンド信号等を、由来としてリセット信号R
ESETが解除された後に、ワンショットパルスIDS
Dにより、カウントアップされる信号IN0、1、2、
3を発生する。この例では、このカウントアップされる
信号IN0、1、2、3とワンショットパルス信号ID
SD‘により、第1制御信号10、11、12、13が
発生する。ここで、ワンショットパルス信号IDSD
‘はIDSD信号の遅延された信号、またはIDSD信
号そのものであり、カウンター回路15の出力IN0,
1,2,3の遷移に対して、十分なマージンを持たせた
信号である。入力データの2個周期で出力されるデータ
ストローブ信号DSの立ち上がり(又は立ち下がり)エ
ッジと立ち下がり(又は立ち上がり)エッジとに応じて
入力データは、データイン回路12の入力バッファ12
1からデータ保持手段であるレジスタ回路122に順次
取り込まれ、データ保持手段と、データ保持手段に従属
接続されかつ、入力データの2個周期で出力されるデー
タストローブ信号DSの立ち上がり(又は立ち下り)エ
ッジと立ち下がり(又は立ち上がり)エッジとに応じて
生成された前述したワンショットパルス信号IDSD
‘のタイミングをもつ、第1制御信号10、11、1
2、13、に制御されたラッチ回路1、2、3、4に順
次取り込まれる。データ保持手段であるラッチ回路1,
2,3、4に取り込まれた入力データ信号は、入力デー
タ信号の2個周期で出力されるデータストローブ信号D
Sを遅延したDSD‘信号と第1制御信号10,11,
12,13を入力とする制御回路14により生成された
第2制御信号20,22により、入力データ信号2個を
同時にデータ保持回路13に取り出す。データ保持回路
13に保持された信号は、クロック信号のタイミングで
生成される write enable信号W0,W1
により、並列に記憶セルに書き込むように構成されてい
ることを特徴としている。
【0027】クロック信号CLKとデータストローブ信
号DSとのタイミング差を示す規格tDQSSは、クロ
ック周期をtCKとした時、例えば、0.75tCK
(tDQSS最小)〜1.25tCK(tDQSS最
大)の範囲である。従って、図10に示すように、0.
75tCKと1.25tCKの2つの場合において、ミ
スラッチに対するマージン確保が必要であるが、この例
では、第1制御信号10、11に対して第2制御信号2
が、第1制御信号12,13に対して、第2制御信号2
0が選択されており、図9においては、データストロー
ブ信号のタイミングが最も早い状態でもラッチマージン
が確保されており、図11においては、データストロー
ブ信号のタイミングが最も遅い状態でもラッチマージン
が確保されていることが示されている。
【0028】ここでは主として2ビットプリフェッチ形
式を中心に述べたが、第1の実施形態は、容易に多ビッ
トプリフェッチ形式に拡張することが可能である。
【0029】[実施形態2]以下、図面を参照して、こ
の発明の第2の実施形態について説明する。本実施形態
においては、第1の実施形態において述べたwrite
enable信号を、さらの0.5tCKだけタイミ
ングを早めている。図12、図13は、この発明の第2実
施形態の電気構成を示すブロック図、図14は、第2の
実施形態の動作を説明するタイミングチャート、図15
は、データストローブ信号のタイミングがもっとも早い
場合のラッチマージンの説明図、図16は、データスト
ローブ信号のタイミングが最も遅い場合のラッチマージ
ンの説明図である。この第2実施形態の半導体記憶装置
は、図12に示すように、データストローブ信号回路2
2と、データイン回路23と、データ保持回路25と、
制御回路27と、4ビットカウンター回路28とから構
成される。第1の実施形態との電気的構成の差異はデー
タストローブ信号回路22がインバータ回路224を有
していること、図13(e)の制御回路27である。以
下、詳細の構成を説明する。
【0030】データストローブ信号回路22は、図12
(a)に示すように、入力バッファ221と、ライズ/
フォール遷移パルス発生回路222と、遅延回路22
3、およびインバータ回路224を有している。入力バ
ッファ221は、データストローブ信号DSを、ライズ
/フォール遷移パルス発生回路222と、遅延回路22
3に供給する。ライズ/フォール遷移パルス発生回路2
22は、入力バッファ221の出力信号の立ち上がり
(ライズ)エッジと立ち上がり(フォール)エッジを検
出して、ワンショットパルス信号IDSDを発生する。
遅延回路223およびインバータ回路は、入力信号DS
を遅延し反転した信号DSDを発生する。
【0031】データイン回路23は、図12(b)に示
すように、入力バッファ231と、レジスタ回路232
と、ラッチ回路233,234,235,236と、デ
ータ保持回路237、238と、データバスドライブ回
路239を有している。入力バッファ231は、データ
入力信号DINiをレジスタ回路232に供給する。レ
ジスタ回路232は、入力バッファ231の出力信号
を、ワンショットパルス信号IDSDに応じて取り込
む。ラッチ回路233,234,235,236はレジ
スタ回路232の出力信号を、第1制御信号10、1
1、12、13に応じて取り込む。また、第2制御信号
20、22に応じて出力信号ed1、od1を発生す
る。データ保持回路237、238は出力信号ed1,
od1を保持する。データバスドライブ回路239は、
データ保持回路237の出力信号ed1と、データ保持
回路238の出力信号od1を並列に、制御信号W0、
W1により、それぞれ偶数番目のデータバスDBEi
と、奇数番目のデータバスDBOiとに供給し、これに
よって、入力データが図示されていない記憶セルに書き
込まれる。
【0032】ここで、レジスタ回路232は、図13
(c)のレジスタ回路24によって示される同じ回路構
成を有している。レジスタ回路24は、レジスタ回路2
03と同じ構成・機能を有している。ラッチ回路23
3,234,235,236は、図11(f)によって
示されるラッチ回路26の構成を有している。
【0033】第1制御信号10、11、12、13の1
例を述べる。図13(g)の4ビットのカウンター回路
28とワンショットパルス信号IDSD‘により発生す
る信号である。ワンショットパルス信号IDSD‘はI
DSD信号の遅延された信号、またはIDSD信号その
ものである。また、いうまでもないが図示されてない回
路により生成されたIDSD信号のタイミングを有する
信号でもかまわない。ここで、4ビットカウンター回路
28で使用されるレジスタ回路RS1F/F,RS0F
/Fは、図13(h)に示すリセットつきレジスター回
路29および30の機能を有する回路である。
【0034】第2制御信号20,22は図13(e)に
より第1制御信号10、11、12、13から発生され
る制御信号である。
【0035】IDSD信号、DSD信号、第1制御信号
10、11、12、13、第2制御信号2022はデー
タ入力信号DINiを順次取り込み、出力DBEi、D
BOiを発生するのにデータ入力信号の伝搬遅延を十分
考慮し、データ入力信号に対して十分なラッチマージン
を確保するタイミング関係を有している。
【0036】第1の実施形態との相違は、第2制御信号
20を第1制御信号10、11により、第2制御信号2
を第1制御信号12、13により生成することである。
タイミングは、第1の実施形態におけるDSDの反転信
号と、前記第1制御信号10、11、12、13、また
は、前記第1制御信号10、11、12、13の遅延さ
せた信号により、十分なラッチマージンを確保する関係
を有している。
【0037】次に図12乃至図16を参照して、この例
の半導体記憶装置の動作を説明する。図12(a)に示
すデータストローブ信号回路22では、データストロー
ブ信号DSの立ち上がり(ライズ)エッジと立ち下がり
(フォール)エッジを検出して、ワンショットパルス信
号IDSDを発生し、また、データ―ストローブ信号D
Sを遅延した、図示しない信号DSDを発生する。
【0038】図13(g)に示す4ビットカウンター回
路28は、コマンド信号等を、由来としてリセット信号
RESETが解除された後に、ワンショットパルスID
SDにより、カウントアップされる信号IN0、1、
2、3を発生する。この例では、このカウトアップされ
る信号IN0、1、2、3とワンショットパルス信号I
DSD‘により第1制御信号10、11、12、13が
発生する。ここで、ワンショットパルス信号IDSD
‘はIDSD信号の遅延された信号、またはIDSD信
号である。IDSD‘は図示されてない回路によりID
SD信号から生成された信号でもよい。IDSD‘は、
カウンター回路28の節点IN0,1,2,3の遷移に
対して、十分なマージンを持たせた信号である。入力デ
ータの2個周期で出力されるデータストローブ信号DS
の立ち上がり(又は立ち下がり)エッジと立ち下がり
(又は立ち上がり)エッジとに応じて入力データは、デ
ータイン回路23の入力バッファ231からデータ保持
手段であるレジスタ回路232に順次取り込まれ、デー
タ保持手段と、データ保持手段に従属接続されかつ、入
力データの2個周期で出力されるデータストローブ信号
DSの立ち上がり(又は立ち下り)エッジと立ち下がり
(又は立ち上がり)エッジとに応じて生成された前述し
たワンショットパルス信号IDSD‘のタイミングをも
つ、第1制御信号10、11、12、13、に制御され
たラッチ回路1、2、3、4に順次取り込まれる。デー
タ保持手段であるラッチ回路1,2,3、4に取り込ま
れた入力データ信号は、入力データ信号の2個周期で出
力されるデータストローブ信号DSを遅延した DSD
‘信号と第1制御信号10,11,12,13を入力と
する制御回路27により生成された第2制御信号20,
22により、入力データ信号2個を同時にデータ保持回
路25に取り出す。データ保持回路25に保持された信
号は、クロック信号のタイミングで生成される wri
te enable信号W0,W1により、並列に記憶
セルに書き込むように構成されていることを特徴として
いる。
【0039】クロック信号CLKとデータストローブ信
号DSとのタイミング差を示す規格tDQSSは、クロ
ック周期をtCKとした時、例えば、0.75tCK
(tDQSS最小)〜1.25tCK(tDQSS最
大)の範囲である。従って、図15、図16に示すよう
に、0.75tCKと1.25tCKの2つの場合にお
いて、ミスラッチに対するマージン確保が必要である
が、この例では、第1制御信号10、11に対して第2
制御信号20が、第1制御信号12,13に対して、第
2制御信号22が選択されており、図15においては、
データストローブ信号のタイミングが最も早い状態でも
ラッチマージンが確保されており、図11においては、
データストローブ信号のタイミングが最も遅い状態でも
ラッチマージンが確保されていることが示されている。
さらに、第1の実施形態に対してwrite enab
le信号W0,W1を約0.5tCK早く出力し、かつ
ラッチマージンを十分確保することが可能となっている
ことを特徴としている。このことは、逆にwrite
enable信号W0,W1を第1の実施形態で出力す
る場合、新たに0.5tCKの期間を利用した論理機能
の追加の余地を提供している。
【0040】ここでは主として2ビットプリフェッチ形
式を中心に述べたが、第2の実施形態は、容易に多ビッ
トプリフェッチ形式に拡張することが可能である。
【0041】[実施形態3]以下、図面を参照して、こ
の発明の実施の形態3について説明する。図17、図18
は、この発明の第3実施形態の電気構成を示すブロック
図、図19は、第3の実施形態の動作を説明するタイミ
ングチャート、図20は、データストローブ信号のタイ
ミングがもっとも早い場合のラッチマージンの説明図、
図21は、データストローブ信号のタイミングが最も遅
い場合のラッチマージンの説明図である。この第3実施
形態の半導体記憶装置は、図17に示すように、データ
ストローブ信号回路31と、データイン回路32と、デ
ータ保持回路33と、2bitカウンター回路34と、
4ビットカウンター回路35とから構成される。第1の
実施形態との差異は図8(e)に示した制御回路にかわ
り2bitカウンター回路34を用い、データイン回路
32へのデータ取り込みと、出力を独立に制御する手段
を提供することである。
【0042】データストローブ信号回路31は、図17
(a)に示すように、入力バッファ311と、ライズ/
フォール遷移パルス発生回路312と、遅延回路313
を有している。入力バッファ311は、データストロー
ブ信号DSを、ライズ/フォール遷移パルス発生回路3
12と、遅延回路313に供給する。ライズ/フォール
遷移パルス発生回路312は、入力バッファ311の出
力信号の立ち上がり(ライズ)エッジと立ち下がり(フ
ォール)エッジを検出して、ワンショットパルス信号I
DSDを発生する。遅延回路313は、入力信号DSを
遅延した信号DSDを発生する。
【0043】データイン回路32は、図17(b)に示
すように、入力バッファ321と、レジスタ回路322
と、ラッチ回路323,324,325,326と、デ
ータ保持回路327、328と、データバスドライブ回
路329を有している。入力バッファ321は、データ
入力信号DINiをレジスタ回路322に供給する。レ
ジスタ回路322は、入力バッファ321の出力信号
を、ワンショットパルス信号IDSDに応じて取り込
む。ラッチ回路323,324,325,326はレジ
スタ回路322の出力信号を、第1制御信号10、1
1、12、13に応じて取り込む。また、第2制御信号
20、22に応じて出力信号ed1、od1を発生す
る。データ保持回路327、328は出力信号ed1,
od1を保持する。データバスドライブ回路329は、
データ保持回路327の出力信号ed1と、データ保持
回路328の出力信号od1を並列に、制御信号W0、
W1により、それぞれ偶数番目のデータバスDBEi
と、奇数番目のデータバスDBOiとに供給し、これに
よって、入力データが図示されていない記憶セルに書き
込まれる。
【0044】ここで、レジスタ回路322は、図8
(c)のレジスタ回路36によって示される同じ回路構
成を有している。ラッチ回路323,324,325,
326は、図17(f)によって示されるラッチ回路3
7の構成を有している。
【0045】第1制御信号10、11、12、13生成
の1例を述べる。図18(g)の4ビットのカウンター
回路35とワンショットパルス信号IDSD‘により発
生する信号である。ワンショットパルス信号IDSD
‘は図示されてない回路により生成されたIDSD信号
を由来とする、もしくはIDSD信号の遅延された信
号、またはIDSD信号そのものである。ここで、4ビ
ットカウンター回路35で使用されるレジスタ回路RS
1F/F,RS0F/Fは、例えば、図18(h)に示
すリセットつきレジスター回路38および39の機能を
有する回路である。
【0046】第2制御信号20,22生成の1例を述べ
る。図18(e)の2ビットのカウンター回路34とワ
ンショットパルス信号IDSDおよび入力データの2個
周期で出力されるデータストローブ信号DSにより発生
する信号である。第2制御信号20、22は、データの
2個周期で出力する信号であり、そのタイミングは、デ
ーターの2個周期で出力されるデータストローブ信号に
より、データの2個周期でワンショットパルスを発生す
るよう、IDSD‘信号とDSD’信号の和信号にによ
り生成される。IDSD‘信号、DSD’信号は、それ
ぞれIDSD信号、DSD信号もしくは、図示されてい
ない遅延回路により遅延されたIDSD信号、DSD信
号である。ここで、2ビットカウンター回路34で使用
されるレジスタ回路RS1F/F,RS0F/Fは、例
えば、図15(h)に示すリセットつきレジスター回路
38および39の機能を有する回路である。
【0047】IDSD信号、DSD信号、IDSD‘信
号、DSD’信号、第1制御信号10、1第2制御信号
20,22はデータ入力信号DINiを順次取り込み、
出力DBEi、DBOiを発生するのにデータ入力信号
の伝搬遅延を十分考慮し、データ入力信号に対して十分
なラッチマージンを確保するタイミング関係を有してい
る。
【0048】次に図17乃至図21を参照して、この例
の半導体記憶装置の動作を説明する。図17(a)に示
すデータストローブ信号回路31では、データストロー
ブ信号DSの立ち上がり(ライズ)エッジと立ち下がり
(フォ―ル)エッジを検出して、ワンショットパルス信
号IDSDを発生し、また、データ―ストローブ信号D
Sを遅延した、図示しない信号DSDを発生する。
【0049】図18(g)に示す4ビットカウンター回
路35は、コマンド信号等を、由来としてリセット信号
RESETが解除された後に、ワンショットパルスID
SDにより、カウントアップされる信号IN0、1、
2、3を発生する。この例では、このカウントアップさ
れる信号IN0、1、2、3とワンショットパルス信号
IDSD‘により、第1制御信号10、11、12、1
3が発生する。ここで、ワンショットパルス信号IDS
D‘は図示されてない回路により生成されたIDSD信
号を由来とする、もしくはIDSD信号の遅延された信
号、またはIDSD信号そのものであり、カウンター回
路35の出力IN0,1,2,3の遷移に対して、十分
なマージンを持たせた信号である。入力データの2個周
期で出力されるデータストローブ信号DSの立ち上がり
(又は立ち下がり)エッジと立ち下がり(又は立ち上が
り)エッジとに応じて入力データは、データイン回路3
2の入力バッファ321からデータ保持手段であるレジ
スタ回路322に順次取り込まれ、データ保持手段と、
データ保持手段に従属接続されかつ、入力データの2個
周期で出力されるデータストローブ信号DSの立ち上が
り(又は立ち下り)エッジと立ち下がり(又は立ち上が
り)エッジとに応じて生成された前述したワンショット
パルス信号IDSD‘のタイミングをもつ、第1制御信
号10、11、12、13、に制御されたラッチ回路
1、2、3、4に順次取り込まれる。
【0050】データ保持手段であるラッチ回路1,2,
3、4に取り込まれた入力データ信号は、入力データ信
号の2個周期で出力されるデータストローブ信号DSを
遅延したDSD‘信号のタイミングで図15(e)に示
す2ビットカウンター回路34に制御された第2制御信
号20,22により、入力データ信号2個を同時にデー
タ保持回路33に取り出す。データ保持回路33に保持
された信号は、クロック信号のタイミングで生成される
write enable信号W0,W1により、並
列に記憶セルに書き込むように構成されていることを特
徴としている。また、ラッチ回路1,2,3,4の入力
および出力を独立した制御回路、ここでの1例として2
ビットカウンター回路34を基本とする出力制御回路、
4ビットカウンター回路35を基本とする入力制御回
路、で制御することができることを特徴としている。
【0051】クロック信号CLKとデータストローブ信
号DSとのタイミング差を示す規格tDQSSは、クロ
ック周期をtCKとした時、例えば、0.75tCK
(tDQSS最小)〜1.25tCK(tDQSS最
大)の範囲である。従って、図17、図18に示すよう
に、0.75tCKと1.25tCKの2つの場合にお
いて、ミスラッチに対するマージン確保が必要である
が、この例では、第1制御信号10、11に対して第2
制御信号2が、第1制御信号12,13に対して、第2
制御信号20が選択されており、図16においては、デ
ータストローブ信号のタイミングが最も早い状態でもラ
ッチマージンが確保されており、図18においては、デ
ータストローブ信号のタイミングが最も遅い状態でもラ
ッチマージンが確保されていることが示されている。
【0052】この第3の実施形態の2ビットプリフェッ
チ回路34の第2制御信号20、22は、図8の制御回
路14により、生成している。
【0053】ここでは主として2ビットプリフェッチ方
式を中心に述べたが、第3の実施形態は、容易に多ビッ
トプリフェッチ方式に拡張することが可能である。
【0054】[実施形態4]以下、図面を参照して、本
発明の実施の形態4について説明する。本実施形態は、
第3の実施形態において述べたwrite enabl
e信号が0.5tCK早い場合である。図22,図23
は、この発明の第4実施形態の電気構成を示すブロック
図、図24は、第4の実施形態の動作を説明するタイミ
ングチャート、図225は、データストローブ信号のタ
イミングがもっとも早い場合のラッチマージンの説明
図、図226は、データストローブ信号のタイミングが
最も遅い場合のラッチマージンの説明図である。この第
4実施形態の半導体記憶装置は、図22に示すように、
データストローブ信号回路41と、データイン回路42
と、データ保持回路43と、2bitカウンター回路4
4と、4ビットカウンター回路45とから構成される。
【0055】データストローブ信号回路41は、図22
(a)に示すように、入力バッファ411と、ライズ/
フォール遷移パルス発生回路412と、遅延回路413
およびインバーター回路414を有している。入力バッ
ファ411は、データストローブ信号DSを、ライズ/
フォール遷移パルス発生回路412と、遅延回路413
に供給する。ライズ/フォール遷移パルス発生回路41
2は、入力バッファ411の出力信号の立ち上がり(ラ
イズ)エッジと立ち上がり(フォール)エッジを検出し
て、ワンショットパルス信号IDSDを発生する。遅延
回路413は、入力信号DSを遅延した信号DSDを発
生する。インバータ回路414は、前記DSの反転出力
を生成する。
【0056】データイン回路42は、図22(b)に示
すように、入力バッファ421と、レジスタ回路422
と、ラッチ回路423,424,425,426と、デ
ータ保持回路427、428と、データバスドライブ回
路429を有している。入力バッファ421は、データ
入力信号DINiをレジスタ回路422に供給する。レ
ジスタ回路422は、入力バッファ421の出力信号
を、ワンショットパルス信号IDSDに応じて取り込
む。ラッチ回路423,424,425,426はレジ
スタ回路422の出力信号を、第1制御信号10、1
1、12、13に応じて取り込む。また、第2制御信号
20、22に応じて出力信号ed1、od1を発生す
る。データ保持回路427、428は出力信号ed1,
od1を保持する。データバスドライブ回路429は、
データ保持回路427の出力信号ed1と、データ保持
回路428の出力信号od1を並列に、制御信号W0、
W1により、それぞれ偶数番目のデータバスDBEi
と、奇数番目のデータバスDBOiとに供給し、これに
よって、入力データが図示されていない記憶セルに書き
込まれる。
【0057】ここで、レジスタ回路422は、図23
(c)のレジスタ回路46によって示される同じ回路構
成を有している。ラッチ回路423,424,425,
426は、図23(f)によって示されるラッチ回路4
7の構成を有している。
【0058】第1制御信号10、11、12、13生成
の1例を述べる。図23(g)の4ビットのカウンター
回路45とワンショットパルス信号IDSD‘により発
生する信号である。ワンショットパルス信号IDSD
‘は図示されてない回路により生成されたIDSD信号
を由来とする、もしくはIDSD信号の遅延された信
号、またはIDSD信号そのものである。ここで、4ビ
ットカウンター回路45で使用されるレジスタ回路RS
1F/F,RS0F/Fは、例えば、図19(h)に示
すリセットつきレジスター回路48および49の機能を
有する回路である。
【0059】第2制御信号20,22生成の1例を述べ
る。図23(e)の2ビットのカウンター回路44とワ
ンショットパルス信号IDSDおよび入力データの2個
周期で出力されるデータストローブ信号DSにより発生
する信号である。第2制御信号20、22は、データの
2個周期で出力する信号であり、そのタイミングは、デ
ーターの2個周期で出力されるデータストローブ信号に
より、データの2個周期でワンショットパルスを発生す
るよう、IDSD‘信号とDSD’信号の和信号により
生成される。IDSD‘信号、DSD’信号は、それぞ
れIDSD信号、DSD信号もしくは、図示されていな
い遅延回路により遅延されたIDSD信号、DSD信号
である。ここで、2ビットカウンター回路44で使用さ
れるレジスタ回路RS1F/F,RS0F/Fは、例え
ば、図23(h)に示すリセットつきレジスター回路4
8および49の機能を有する回路である。
【0060】IDSD信号、DSD信号、IDSD‘信
号、DSD’信号、第1制御信号10、1第2制御信号
20,22はデータ入力信号DINiを順次取り込み、
出力DBEi、DBOiを発生するのにデータ入力信号
の伝搬遅延を十分考慮し、データ入力信号に対して十分
なラッチマージンを確保するタイミング関係を有してい
る。
【0061】次に図22乃至図26を参照して、この例
の半導体記憶装置の動作を説明する。図17(a)に示
すデータストローブ信号回路31では、データストロー
ブ信号DSの立ち上がり(ライズ)エッジと立ち下がり
(フォール)エッジを検出して、ワンショットパルス信
号IDSDを発生し、また、データ―ストローブ信号D
Sを遅延した、図示しない信号DSDを発生する。
【0062】第3の実施形態との相違は、第2制御信号
20を発生するタイミングが、第1制御信号10、11
の発生後、十分なラッチマージンを確保したタイミング
であり、同様に第2制御信号22は第1制御信号12、
13に対応することである。これは、データストローブ
回路41のインバータ回路414により、DS信号の反
転信号を生成することにより得られる。
【0063】図23(g)に示す4ビットカウンター回
路45は、コマンド信号等を、由来としてリセット信号
RESETが解除された後に、ワンショットパルスID
SDにより、カウントアップされる信号IN0、1、
2、3を発生する。この例では、このカウントアップさ
れる信号IN0、1、2、3とワンショットパルス信号
IDSD‘により、第1制御信号10、11、12、1
3が発生する。ここで、ワンショットパルス信号IDS
D‘は図示されてない回路により生成されたIDSD信
号を由来とする、もしくはIDSD信号の遅延された信
号、またはIDSD信号そのものであり、カウンター回
路45の出力IN0,1,2,3の遷移に対して、十分
なマージンを持たせた信号である。入力データの2個周
期で出力されるデータストローブ信号DSの立ち上がり
(又は立ち下がり)エッジと立ち下がり(又は立ち上が
り)エッジとに応じて入力データは、データイン回路4
2の入力バッファ421からデータ保持手段であるレジ
スタ回路422に順次取り込まれ、データ保持手段と、
データ保持手段に従属接続されかつ、入力データの2個
周期で出力されるデータストローブ信号DSの立ち上が
り(又は立ち下り)エッジと立ち下がり(又は立ち上が
り)エッジとに応じて生成された前述したワンショット
パルス信号IDSD‘のタイミングをもつ、第1制御信
号10、11、12、13、に制御されたラッチ回路
1、2、3、4に順次取り込まれる。
【0064】データ保持手段であるラッチ回路1,2,
3、4に取り込まれた入力データ信号は、入力データ信
号の2個周期で出力されるデータストローブ信号DSを
遅延したDSD‘信号のタイミングで図19(e)に示
す2ビットカウンター回路44に制御された第2制御信
号20,22により、入力データ信号2個を同時にデー
タ保持回路43に取り出す。データ保持回路43に保持
された信号は、クロック信号のタイミングで生成される
write enable信号W0,W1により、並
列に記憶セルに書き込むように構成されていることを特
徴としている。また、ラッチ回路1,2,3,4の入力
および出力を独立した制御回路、ここでの1例として2
ビットカウンター回路44を基本とする出力制御回路、
4ビットカウンター回路45を基本とする入力制御回
路、で制御することができることを特徴としている。
【0065】クロック信号CLKとデータストローブ信
号DSとのタイミング差を示す規格tDQSSは、クロ
ック周期をtCKとした時、例えば、0.75tCK
(tDQSS最小)〜1.25tCK(tDQSS最
大)の範囲である。従って、図21、図22に示すよう
に、0.75tCKと1.25tCKの2つの場合にお
いて、ミスラッチに対するマージン確保が必要である
が、この例では、第1制御信号10、11に対して第2
制御信号20が、第1制御信号12,13に対して、第
2制御信号2が選択されており、図21においては、デ
ータストローブ信号のタイミングが最も早い状態でもラ
ッチマージンが確保されており、図22においては、デ
ータストローブ信号のタイミングが最も遅い状態でもラ
ッチマージンが確保されていることが示されている。さ
らに、第3の実施形態に対してwrite enabl
e信号W0,W1を約0.5tCK早く出力し、かつラ
ッチマージンを十分確保することが可能となっているこ
とを特徴としている。このことは、逆にwrite e
nable信号W0,W1を第3の実施形態と同じタイ
ミングで発生した場合、新たに0.5tCKの期間を利
用した論理機能の追加の余地を提供している。
【0066】第3の実施形態の場合、この第4の実施形
態の2ビットプリフェッチ回路44の第2制御信号2
0、22を図15の制御回路34により、生成してい
る。
【0067】ここでは主として2ビットプリフェッチ方
式を中心に述べたが、第3の実施形態は、容易に多ビッ
トプリフェッチ方式に拡張することが可能である。
【0068】[実施形態5、6、7、8]本実施形態
は、第1の実施形態において述べたデータイン回路12
においてレジスター回路122が存在しないか、または
複数が従属接続された形態である。動作は実施形態1に
基本的に同様であるため、実施形態の具体的な説明は省
略する。このように、従属接続されるレジスタの数によ
り、データ入力信号の保持される期間が変更されたとし
ても、データストローブ信号により取り込まれたデータ
入力信号を容易にクロック信号CLK制御に変換でき
る。同様のことが、第2の実施形態、第3の実施形態お
よび第4の実施形態についても適用できる。この場合を
発明の実施の形態6、発明の実施の形態7および発明の
実施の形態8とする。
【0069】第5、第6、第7、第8実施形態に述べた
従属接続された複数のレジスターは、第1のワンショッ
トパルスIDSDを制御信号として使用する。または、
第1のワンショットパルスIDSDに対するデータ入力
信号のマージンを向上するため、レジスタ自信の遅延時
間を考慮し、データ信号のスキューと同じだけのスキュ
ウーをもたせた複数の第1のワンショットパルスIDS
Dを生成し、この遅らした信号を制御信号として使用す
ることも有効である。
【0070】[実施形態9]以下、図面を参照して、本
発明の実施の形態9について説明する。本実施形態は、
第1実施形態に関連しており、アドレス信号YP0に従
う、2ビットプリフェッチについて具体的に説明する。
図27、図28は、この発明の第9実施形態の電気構成を
示すブロック図、図29は、2ビットプリフェッチ形式
に関するアドレス信号YP0がLowレベル時におけ
る、第9の実施形態の動作を説明するタイミングチャー
ト、図30は、前記YP0がHighレベル時におけ
る、第9の実施形態の動作を説明するタイミングチャー
ト、図31は、前記YP0が変化したときの第9の実施
形態の動作を説明するタイミングチャートの説明図であ
る。この第9実施形態の半導体記憶装置は、図27に示
すように、データストローブ信号回路91と、データイ
ン回路92と、データ保持回路93と、制御回路94
と、4ビットカウンター回路95とから構成される。こ
の第9の実施形態は第1の実施形態で示した電気構成と
4ビットカウンター95を除く構成で等しく、2ビット
プリフェッチ形式に関するアドレス信号YP0によるデ
ータ入力信号の選択を実現するためのセレクタ回路95
1を有する4ビットカウンター95を備えることを特徴
としている。
【0071】データストローブ信号回路91は、図27
(a)に示すように、入力バッファ911と、ライズ/
フォール遷移パルス発生回路912と、遅延回路913
を有している。入力バッファ911は、データストロー
ブ信号DSを、ライズ/フォール遷移パルス発生回路9
12と、遅延回路913に供給する。ライズ/フォール
遷移パルス発生回路912は、入力バッファ911の出
力信号の立ち上がり(ライズ)エッジと立ち上がり(フ
ォール)エッジを検出して、ワンショットパルス信号I
DSDを発生する。遅延回路913は、入力信号DSを
遅延した信号DSDを発生する。
【0072】データイン回路92は、図7(b)に示す
ように、入力バッファ921と、レジスタ回路922
と、ラッチ回路923,924,925,926と、デ
ータ保持回路927、928と、データバスドライブ回
路929を有している。入力バッファ921は、データ
入力信号DINiをレジスタ回路922に供給する。レ
ジスタ回路922は、入力バッファ921の出力信号
を、ワンショットパルス信号IDSDに応じて取り込
む。ラッチ回路923,924,925,926はレジ
スタ回路922の出力信号を、第1制御信号10、1
1、12、13に応じて取り込む。また、第2制御信号
20、22に応じて出力信号ed1、od1を発生す
る。データ保持回路927、928は出力信号ed1,
od1を保持する。データバスドライブ回路929は、
データ保持回路927の出力信号ed1と、データ保持
回路928の出力信号od1を並列に、制御信号W0、
W1により、それぞれ偶数番目のデータバスDBEi
と、奇数番目のデータバスDBOiとに供給し、これに
よって、入力データが図示されていない記憶セルに書き
込まれる。
【0073】ここで、レジスタ回路922は、図8
(c)のレジスタ回路96によって示される同じ回路構
成を有している。ラッチ回路923,924,925,
926は、図28(f)によって示されるラッチ回路9
7の構成を有している。
【0074】以上の1連の動作は、第1の実施形態1お
よび第9の実施形態ともに等しい。次の2ビットプリフ
ェッチ形式に関するアドレス信号YP0の動作と、本発
明における動作の実現手段について述べる。
【0075】入力データの2個周期で出力されるデータ
ストローブ信号DSの立ち上がり(又は立ち下がり)エ
ッジと立ち下がり(又は立ち上がり)エッジとに応じて
取り込まれる入力データは、コマンド信号が入力された
先頭のデータから、順次交互に偶数番目のデータバスD
BEiと、奇数番目のデータバスDBOiとに供給し、
これによって、入力データが図示されていない記憶セル
に書き込まれる。この時、コマンド信号と同時の取り込
まれた2ビットプリフェッチに関するアドレス信号YP
0がLow信号(またはHigh信号)であれば、先頭
データから、順次交互に偶数番目のデータバスDBEi
と、奇数番目のデータバスDBOiとに供給し、アドレ
ス信号YP0がHigh信号(またはLow信号)であ
れば、先頭データから、順次交互に奇数番目のデータバ
スDBOiと、偶数番目のデータバスDBEiとに供給
し、これによって、入力データが図示されていない記憶
セルに書き込まれる。
【0076】前記2ビットプリフェッチに関するアドレ
ス信号YP0に対応した第1制御信号10、13の1例
を述べる。図23(g)の4ビットのカウンター回路9
52とワンショットパルス信号IDSD‘により発生す
る信号である。ワンショットパルス信号IDSD‘はI
DSD信号の遅延された信号、またはIDSD信号であ
る。または、図示されてない回路によりIDSD信号か
ら生成された信号である。ここで、4ビットカウンター
回路952で使用されるレジスタ回路RS1F/F,R
S0F/Fは、図23(h)に示すリセットつきレジス
ター回路98および99の機能を有する回路である。4
ビットカウンター952の出力信号は、アドレス信号Y
P0に従いセレクタ951により、第1制御信号10と
11が、また第1制御信号12と13が、それぞれ入れ
替わることが可能であるよう選択されることを特徴とし
た構成である。
【0077】第2制御信号20,22は図28(e)に
より第1制御信号10、11、12、13から発生され
る制御信号である。
【0078】IDSD信号、DSD信号、第1制御信号
10、11、12、13、第2制御信号20,22はデ
ータ入力信号DINiを順次取り込み、出力DBEi、
DBOiを発生するのにデータ入力信号の伝搬遅延を十
分考慮し、データ入力信号に対して十分なラッチマージ
ンを確保するタイミング関係を有している。
【0079】次に図27を参照して、この例の半導体記
憶装置の動作を説明する。図27(a)に示すデータス
トローブ信号回路11では、データストローブ信号DS
の立ち上がり(ライズ)エッジと立ち下がり(フォー
ル)エッジを検出して、ワンショットパルス信号IDS
Dを発生し、また、データストローブ信号DSを遅延し
た、図示しない信号DSDを発生する。
【0080】図28(g)に示す4ビットカウンター回
路95は、コマンド信号等を、由来としてリセット信号
RESETが解除された後に、ワンショットパルスID
SDにより、カウントアップされる信号IN0、1、
2、3を発生する。この例では、このカウントアップさ
れる信号IN0、1、2、3とワンショットパルス信号
IDSD‘により、第1制御信号10、11、12、1
3が発生する。アドレス信号YP0に従うセレクタによ
り、信号IN0、1、2、3が選択される。ここで、ワ
ンショットパルス信号IDSD‘は図示されてない回路
により生成されたIDSD信号を由来とする、もしくは
IDSD信号の遅延された信号、またはIDSD信号そ
のものであり、カウンター回路95の出力IN0,1,
2,3の遷移に対して、十分なマージンを持たせた信号
である。入力データの2個周期で出力されるデータスト
ローブ信号DSの立ち上がり(又は立ち下がり)エッジ
と立ち下がり(又は立ち上がり)エッジとに応じて入力
データは、データイン回路92の入力バッファ921か
らデータ保持手段であるレジスタ回路922に順次取り
込まれ、データ保持手段と、データ保持手段に従属接続
されかつ、入力データの2個周期で出力されるデータス
トローブ信号DSの立ち上がり(又は立ち下り)エッジ
と立ち下がり(又は立ち上がり)エッジとに応じて生成
された前述したワンショットパルス信号IDSD‘のタ
イミングをもつ、第1制御信号10、11、12、1
3、に制御されたラッチ回路1、2、3、4に順次取り
込まれる。データ保持手段であるラッチ回路1,2,
3、4に取り込まれた入力データ信号は、入力データ信
号の2個周期で出力されるデータストローブ信号DSを
遅延したDSD‘信号と第1制御信号10,11,1
2,13を入力とする制御回路94により生成された第
2制御信号20,22により、入力データ信号2個を同
時にデータ保持回路13に取り出す。データ保持回路9
3に保持された信号は、クロック信号のタイミングで生
成される write enable信号W0,W1に
より、並列に記憶セルに書き込むように構成されている
ことを特徴としている。
【0081】アドレス信号YP0は、High、または
Low信号である。図30、図31に示すように、2つ
の場合において、データ信号の切り替えとミスラッチに
対するマージン確保が必要であるが、図30において
は、YP0がLowの状態でラッチマージンが確保され
ており、図31においては、Highの状態でラッチマ
ージンが確保されていることが示されている。又、YP
0の状態がコマンドに応じて変化した場合においてもラ
ッチマージンが確保されている。
【0082】ここでは、第1の実施形態の形態を2ビッ
トプリフェッチ形式に関するアドレス信号YP0に対応
させた場合を示したが、同様に第2の実施形態〜第8の
実施形態にも適用でき、ラッチ回路の制御信号を多数備
えることで、データ入力信号の並べ替えが可能であるこ
とが簡単にわかる。従来、ラッチマージン減少につなが
るデータパス上でのデータ入力信号の選択に対し、前記
ラッチ回路の制御信号を用いることで、前記理由による
ラッチマージンの減少を回避し、かつ、データ入力信号
の数だけ必要となったセレクタ回路を第9の実施形態に
おいては4ビットカウンター95に用いるセレクタ95
1の2台に削減している。
【0083】2の倍数である多ビットプリフェッチにお
いても、同様のカウンター回路とセレクター回路の組み
合わせにより、簡単に動作を拡張することができる。ま
た、ハードウェアーの削減には至らないが、カウンター
回路を2台組み合わせることでも、データの入出力を制
御することができる。具体的には、第9の実施形態の図
4において、最初に現れる第1制御信号1から、10、
13、12の順にカウントするカウンターと、その次に
来る第1制御信号10から11,12,13の順にカウ
ントするカウンターとを組み合わせた制御である。
【0084】以上、本発明の実施形態を図面により詳述
してきたが、具体的な構成はこの実施形態に限られたも
のではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲の設計の
変更があってもこの発明に含まれる。例えば、第5の実
施形態と第1の実施形態の違いのように、ラッチ回路1
2の前後に来るデータ保持手段の有無のような場合、デ
ータの2個周期で出力されるデータストローブ信号の立
ち上がり(又は立ち下がり)エッジと立ち下がり(又は
立ち上がり)エッジと生成した第1のワンショットパル
スでデータ信号を取り込み、ラッチ回路12にデータが
保持され、第1のワンショットパルスの2倍の周期を有
するタイミングでデータが転送されることには違いがな
く、この発明の課題1つであるクロック信号とデータ入
力信号のスキューの問題を解決することを目的としたD
DR−SDRAMの機能を果たす手段としては、相違は
ないからである。また、DDR−SDRAMの標準化が
現在進められている中で、2ビットプリフェッチ方式に
おける実施形態を詳述してきたが、2ビットプリフェッ
チ方式に限らず、多ビットのデータ信号を並列処理する
ことにより、クロック信号とデータ入力信号のスキュー
の問題を解決使用とするときに、本発明は適用すること
が可能であり、この発明の要旨を逸脱しない範囲の設計
の変更で前述課題を解決する手段を半導体記憶装置に提
供する。
【発明の効果】
【0085】以上説明した本発明によれば、データスト
ローブ信号DSを用いたDDR−SDRAMにおいて、
データストローブ信号DSから生成したワンショットパ
ルス信号を用いて、入力信号をラッチした後、ラッチさ
れたデータをデータストローブ信号の2倍の周期をもつ
信号により、データ保持回路に転送するため、クロック
信号CLKから生成したwrite enable信号
のタイミングに、それぞれの信号の遅延量の制御により
変換することが可能であり、入力データ信号のラッチマ
ージンを十分確保できるようになる。尚、説明を簡単化
するためにDDR−SDRAMを例に具体的な実施形態
を多数述べたが、前記述べたように、データストローブ
信号DSは、外部制御手段により発生したタイミング信
号であるが、内部で発生した半導体装置でも同様に、デ
ータ信号を扱い、クロック信号CLKの制御に変換する
ことが可能なことはいうまでもない。また、DDR−S
DRAMに限らず、外部制御信号またはクロック信号に
より、取り込まれたデータ入力信号をクロック信号CL
Kに同期した信号にマージンを確保しつつ、効率よく変
換することを必要とする半導体装置に、前述変換手段を
提供するものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】第1の従来例の電気的構成を示すブロック図で
ある。
【図2】第1の従来例の動作を説明するタイミングチャ
ートである。
【図3】第2の従来例の電気的構成を示すブロック図で
ある。
【図4】第2の従来例の動作を説明するタイミングチャ
ートである。
【図5】第3の従来例の電気的構成を示すブロック図で
ある。
【図6】第3の従来例の動作を説明するタイミングチャ
ートである。
【図7】この発明の第1の実施形態の電気的構成を示す
ブロック図である。
【図8】この発明の第1の実施形態の電気的構成を示す
ブロック図(続き)である。
【図9】第1の実施形態の動作を説明するタイミングチ
ャートである。
【図10】第1の実施形態におけるデータストローブ信
号のタイミングが最も早い場合のラッチマージンの説明
図である。
【図11】第1の実施形態におけるデータストローブ信
号のタイミングが最も遅い場合のラッチマージンの説明
図である。
【図12】この発明の第2の実施形態の電気的構成を示
すブロック図である。
【図13】この発明の第2の実施形態の電気的構成を示
すブロック図(続き)である。
【図14】第2の実施形態の動作を説明するタイミング
チャートである。
【図15】第2の実施形態におけるデータストローブ信
号のタイミングが最も早い場合のラッチマージンの説明
図である。
【図16】第2の実施形態におけるデータストローブ信
号のタイミングが最も遅い場合のラッチマージンの説明
図である。
【図17】この発明の第3の実施形態の電気的構成を示
すブロック図である。
【図18】この発明の第3の実施形態の電気的構成を示
すブロック図(続き)である。
【図19】第3の実施形態の動作を説明するタイミング
チャートである。
【図20】第3の実施形態におけるデータストローブ信
号のタイミングが最も早い場合のラッチマージンの説明
図である。
【図21】第3の実施形態におけるデータストローブ信
号のタイミングが最も遅い場合のラッチマージンの説明
図である。
【図22】この発明の第4の実施形態の電気的構成を示
すブロック図である。
【図23】この発明の第4の実施形態の電気的構成を示
すブロック図(続き)である。
【図24】第4の実施形態の動作を説明するタイミング
チャートである。
【図25】第4の実施形態におけるデータストローブ信
号のタイミングが最も早い場合のラッチマージンの説明
図である。
【図26】第4の実施形態におけるデータストローブ信
号のタイミングが最も遅い場合のラッチマージンの説明
図である。
【図27】この発明の第9の実施形態の電気的構成を示
すブロック図である。
【図28】この発明の第9の実施形態の電気的構成を示
すブロック図(続き)である。
【図29】第9の実施形態のアドレス信号YP0がLo
wに関する動作を説明するタイミングチャートである。
【図30】第9の実施形態のアドレス信号YP0がHi
ghに関する動作を説明するタイミングチャートであ
る。
【図31】第9の実施形態のアドレス信号YP0が変化
した時に関する動作を説明するタイミングチャートであ
る。
【符号の説明】
122 レジスタ回路 123,124,125,126 ラッチ回路 127,128 データ保持回路 31 データストローブ信号回路 32 データイン回路 33 データ保持回路 34 2ビットカウンタ 35 4ビットカウンタ 38、39 リセット付きレジスタ 122 レジスタ回路 123,124,125,126 ラッチ回路 127,128 データ保持回路 311 入力バファ 312 ライズ/フォール遷移パルス発生回路 313 遅延回路 321 入力バファ 322 レジスタ回路 323、324、325、326 ラッチ回路 327、328 データ保持回路 329

Claims (26)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 入力データの2個周期で出力されるデー
    タストローブ信号の立ち上がり(又は立ち下がり)エッ
    ジと立ち下がり(又は立ち上がり)エッジとに応じて入
    力データを順次取り込む並列接続された第1及び第2の
    データ保持手段を備え、前記第1及び第2のデータ保持
    手段に取り込まれたデータを同時に取り出してクロック
    信号のタイミングで並列に記憶セルに書き込むことを特
    徴とする半導体記憶装置。
  2. 【請求項2】 入力データの2個周期で出力されるデー
    タストローブ信号の立ち上がり(又は立ち下がり)エッ
    ジと立ち下がり(又は立ち上がり)エッジから生成され
    た第1のワンショットパルス信号に応じてデータを順次
    取り込む初段のデータ保持手段と、第1のワンショット
    パルス信号のタイミングを持った第2の制御信号で制御
    され、初段のデータ保持手段から入力データを順次取り
    込む並列接続された第1の組の2個のデータ保持手段
    と、前記第1の組の2個のデータ保持手段に取り込まれ
    た2個のデータを前記第1のワンショットパルス信号の
    2倍の周期を有する第2のワンショットパルス信号に応
    じて同時に取り込む第1の制御信号により制御された第
    2の組の2個のデータ保持手段と、前記第2の制御信号
    で制御され、入力データを順次取り込む並列接続された
    第3の組の2個のデータ保持手段を備え、前記入力デー
    タが初段データ保持手段から、前記第3の組の2個のデ
    ータ保持手段に順次取り込まれると同時に、前記第1組
    の2個のデータが前記第2の組に転送され、次に、前記
    第1の組の2個のデータ保持手段にデータが順次取り込
    まれると同時に、前記第3の組の2個のデータが前記第
    2の組に転送されることを特徴とする半導体記憶装置。
  3. 【請求項3】 前記第1のワンショットパルス信号の2
    倍の周期を有するタイミングで第1のデータ保持手段ま
    たは第3のデータ保持手段を選択し第2のデータ保持手
    段に2個のデータを取り込む第1の制御信号と、前記第
    1のワンショットパルス信号に応じて順次取り込まれた
    入力データを前記第1のワンショットパルス信号のタイ
    ミングにより第1のデータ保持手段または第3のデータ
    保持手段を選択し、かつ、選択された第1または第3の
    2個のデータ保持手段の1つを選択し、1個のデータを
    取り込む第2制御信号により、前記第1の組のデータ保
    持手段と第3の組のデータ保持手段がデータを順次取り
    込み、1方、データの2個周期で発生する前記第1制御
    信号により、第2のデータ保持手段に2個からなるデー
    タを転送するように構成されていることを特徴とする請
    求項2記載の半導体記憶装置。
  4. 【請求項4】 前記第2制御信号のタイミングが前記第
    1のワンショットパルス信号と同時または後に発生する
    ように構成され、前記第1制御信号のタイミングが、前
    記第1のワンショットパルス信号の2倍の周期を有し、
    前記第2制御信号と同時、または、後に発生することを
    特徴とする請求項2、3のいずれか一つに記載された半
    導体記憶装置。
  5. 【請求項5】 前記第1のワンショットパルス信号に応
    じて入力データを順次取り込む初段のデータ保持手段が
    レジスター回路から、第1の組のデータ保持手段と第3
    の組のデータ保持手段が入力または出力を第1制御信号
    または第2制御信号により制御されるラッチ回路から構
    成されることを特徴とする請求項2、3、4いずれか一
    つに記載された半導体記憶装置。
  6. 【請求項6】 前記第1のワンショットパルス信号のタ
    イミングをもつ第2制御信号に応じて入力データを順次
    取り込む並列接続された第1及び第3のデータ保持手段
    を備え、前記第1及び第3のデータ保持手段に取り込ま
    れたデータを同時に取り出してクロック信号のタイミン
    グで並列に記憶セルに書き込むように構成されているこ
    とを特徴とする半導体記憶装置。
  7. 【請求項7】 前記第1のワンショットパルス信号のタ
    イミングをもつ第2制御信号に応じて入力データを順次
    取り込む並列接続された第1の組の2個のデータ保持手
    段と、前記第1の組のデータ保持手段に取り込まれた2
    個のデータを前記第1のワンショットパルス信号の2倍
    の周期を有するタイミングに応じて同時に取り込む第2
    の組のデータ保持手段と、前記第2組のデータ保持手段
    にデータが取り込まれる1方で、前記第2制御信号に応
    じて入力データを順次取り込む並列接続された第3の組
    のデータ保持手段を備え、第1組の2個のデータが取り
    込まれた後に、第3組のデータが取り込まれる期間に第
    1の組のデータが第2の組に取り込まれる、または,第
    3の組の2個のデータが取り込まれた後に第1の組のデ
    ータが取り込まれる期間に第3の組のデータが第2の組
    に取り込まれる、または、第1組の2個のデータが取り
    込まれた後に、ラッチマージンを十分確保したタイミン
    グで第1の組のデータが第2の組に取り込まれる、また
    は第3の組の2個のデータが取り込まれた後に、ラッチ
    マージンを十分確保したタイミングで第3の組のデータ
    が第2の組に取り込まれることを特徴とする半導体記憶
    装置。
  8. 【請求項8】前記請求項2の入力初段データ保持手段が
    複数従属され、第1のワンショットパルスに制御され、
    入力されたデータが前記第2制御信号に制御された第1
    の組みのデータ保持手段または、第3の組みのデータ保
    持手段に転送されることを特徴とする半導体記憶装置。
  9. 【請求項9】 前記の入力データの2個周期で出力され
    るデータストローブ信号の立ち上がり(又は立ち下が
    り)エッジと立ち下がり(又は立ち上がり)エッジとに
    応じて入力データを順次取り込む、第1の組のデータ保
    持手段と第3の組のデータ保持手段が、データの入力ま
    たは出力を第1制御信号または第2制御信号により制御
    されるラッチ回路から構成されることを特徴とする請求
    項7、8のいずれか一つに記載された半導体記憶装置。
  10. 【請求項10】 第1の組のデータ保持手段と第3の組
    のデータ保持手段に並列接続された同様のデータ保持手
    段を複数もち第1の組のデータ保持手段と第3の組のデ
    ータ保持手段と前記複数のデータ保持手段を選択する第
    2制御信号を備えることを特徴とする半導体記憶装置。
  11. 【請求項11】 第2制御信号は第1制御信号から生成
    すること、前記第1制御信号および2はデータ保持手段
    を選択するにたるビット情報をもつことを特徴とする半
    導体記憶装置。
  12. 【請求項12】 第1制御信号と第2制御信号は独立に
    生成すること、前記第1制御信号および2はデータ保持
    手段を選択するにたるビット情報をもつことを特徴とす
    る半導体記憶装置。
  13. 【請求項13】 請求項10の第1組のデータ保持手段
    および第3組のデータ保持手段ならびに複数のデータ保
    持手段を制御する複数のビット情報をもつ第1制御信号
    および第2制御信号ならびに複数の制御信号を任意に所
    望する制御手段にて制御されることを特徴とする半導体
    記憶装置。
  14. 【請求項14】 第2制御信号を4ビットのレジスター
    から構成されるカウンター回路と、前記第1のワンショ
    ットパルス、または、前記第1のワンショットパルスを
    遅延した信号により発生できることを特徴とする半導体
    記憶装置。
  15. 【請求項15】 第1制御信号を2ビットのレジスター
    から構成されるカウンター回路、前記第1のワンショッ
    トパルス、または、前記ワンショットパルスを遅延した
    信号により発生することを特徴とする半導体記憶装置。
  16. 【請求項16】 第1組のデータ保持手段と第3組のデ
    ータ保持手段と複数のデ―タ保持手段に対する制御信号
    を前記のデータ保持手段と同数のビットのレジスタから
    構成されるカウンター回路により発生されることを特徴
    とする半導体記憶装置。
  17. 【請求項17】 第1組のデータ保持手段と第3組のデ
    ータ保持手段と複数のデ―タ保持手段に対する第1制御
    信号を前記のデータ保持手段の同数または半数または任
    意の数のビットのレジスタから構成されるカウンター回
    路により発生されることを特徴とする半導体記憶装置。
  18. 【請求項18】 前記カウンターはクロックまたはクロ
    ックの遅延またはデータデータストローブ信号の立ち上
    がり(又は立ち下がり)エッジと立ち下がり(又は立ち
    上がり)エッジとに応じてカウントすることおよびリセ
    ット信号によりリセットされることを特徴とする請求項
    16、18のいずれか一つに記載された半導体記憶装
    置。
  19. 【請求項19】 前記カウンターはクロックの倍の周期
    またはクロックの倍の周期の遅延またはデータデータス
    トローブ信号の立ち上がり(又は立ち下がり)エッジと
    立ち下がり(又は立ち上がり)エッジのどちらかに応じ
    てカウントすることおよびリセット信号によりリセット
    されることを特徴とする請求項15、17のいずれか一
    つに記載された半導体記憶装置。
  20. 【請求項20】 前記カウンター回路は同期または独立
    に動作することを特徴とする請求項18、19のいずれ
    か一つに記載された半導体記憶装置。
  21. 【請求項21】 前記第1及び第2の制御信号はカウン
    ター回路で生成される他に必要な信号で生成されること
    を特徴とする請求項2記載の半導体記憶装置。
  22. 【請求項22】 前記第1の組のデータ保持手段、また
    は第3の組のデータ保持手段のデータは第2の組のデー
    タ保持手段に取り込まれるとき、アドレス信号YP0に
    よりoddとevenを入れ替える(データを奇数番目
    のデータバスにのせるか、偶数番目のデータにのせるか
    を切り替える)ことをを特徴とする請求項2記載の半導
    体記憶装置。
  23. 【請求項23】 前記第1の組および第2の組の2個の
    データ保持手段をn個のデータ保持手段にすることで、
    nビットプリフェッチ形式(nは2以上)におけるCL
    K制御への変換を容易に可能とするデータラッチ形式を
    有することを特徴とする請求項2記載の半導体記憶装
    置。
  24. 【請求項24】 前記データ入力信号のデータストロー
    ブDSからクロック信号CLK制御へのタイミング変換
    を行うことを特徴とする請求項1記載の半導体記憶装
    置。
  25. 【請求項25】 前記データ入力信号に対するスキュー
    をもった外部クロック信号からクロック信号CLKへの
    変換を行うことを特徴とする請求項1記載の半導体記憶
    装置。
  26. 【請求項26】 前記変換を、カウンター回路とセレク
    タ回路とにより行うことを特徴とする請求項24、25
    のいずれか一つに記載された半導体記憶装置。
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