JP2000147792A - Pattern forming method - Google Patents

Pattern forming method

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JP2000147792A
JP2000147792A JP10323894A JP32389498A JP2000147792A JP 2000147792 A JP2000147792 A JP 2000147792A JP 10323894 A JP10323894 A JP 10323894A JP 32389498 A JP32389498 A JP 32389498A JP 2000147792 A JP2000147792 A JP 2000147792A
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pattern
metal oxide
substrate
hydrophobic
hydrophilic
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JP10323894A
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Japanese (ja)
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Naohiro Terao
直洋 寺尾
Katsunori Yamada
勝則 山田
Nobuo Kamiya
信雄 神谷
Kunihito Kawamoto
邦仁 河本
Akira Seo
暁 瀬尾
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Toyota Central R&D Labs Inc
Original Assignee
Toyota Central R&D Labs Inc
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To form a fine pattern comprising a metal oxide on a substrate by treatment at ordinary temperature or a relatively low temperature. SOLUTION: A coating film having photosensitive hydrophobic groups is formed on a substrate and irradiated with light through a photomask or the like. By this irradiation, the hydrophobic groups in the exposed part are converted into hydrophilic groups and a pattern of a hydrophilic coating film is formed. The resultant coating film is immersed in an aqueous boric acid solution containing a fluorine-containing metal compound and a metal oxide is deposited on the coating film while applying ultrasonic vibration. The metal oxide on the hydrophobic coating film is peeled by the vibration and the metal oxide is deposited only on the hydrophilic pattern. Since the pattern is formed by photolithography and treatment at ordinary temperature is enabled, the objective high density and high precision pattern is formed.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、パターン形成方法
に関し、更に詳しくは、半導体集積回路(IC)やコネ
クタ或いはDRAMのキャパシター等の各種電気・電子
部品の製造への適用に好適な金属酸化物のパターン形成
方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a pattern forming method, and more particularly, to a metal oxide suitable for application to the manufacture of various electric and electronic parts such as a semiconductor integrated circuit (IC), a connector or a capacitor of a DRAM. And a method of forming a pattern.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、例えば、半導体集積回路(IC)
のような電気・電子回路基板或いはDRAMのキャパシ
ターのような電子部品の製造に際しては、基板上の所定
の部分に金属酸化物による電気・電子回路等を形成する
方法として、スクリーン印刷等の印刷法によるほか、蒸
着法、化学気相成長(CVD)法、スパッタリング法等
の気相法、或いはゾルゲル法等を用いた塗布法によって
基板上に金属酸化物の回路パターンを形成した後、不必
要な部分を除去する方法等が知られている。
2. Description of the Related Art Conventionally, for example, a semiconductor integrated circuit (IC)
In the manufacture of electronic parts such as electric / electronic circuit boards or DRAM capacitors, a printing method such as screen printing is used as a method for forming an electric / electronic circuit using a metal oxide on a predetermined portion of the substrate. After forming a metal oxide circuit pattern on a substrate by a vapor phase method such as a vapor deposition method, a chemical vapor deposition (CVD) method, a sputtering method, or a coating method using a sol-gel method, unnecessary A method of removing a portion and the like are known.

【0003】また、例えば、特開平7−305027号
公報には、光官能性を有するアルコキシシラン及び水溶
性金属硝酸塩を主剤とするコーティング剤を基板に塗布
し、乾燥させた後に光を照射し、未照射部分を水により
溶解除去することでパターン形成を行う方法が開示され
ている。
[0003] For example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 7-305027 discloses that a coating agent mainly composed of a photofunctional alkoxysilane and a water-soluble metal nitrate is applied to a substrate, dried, and irradiated with light. A method of forming a pattern by dissolving and removing an unirradiated portion with water is disclosed.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、スクリ
ーン印刷法では、パターニング付与剤であるスラリーの
粘度を高めるため、高分子系の有機バインダーを加える
が、これを除去するため高温で熱処理しなければなら
ず、処理が簡単でないばかりか、基板がガラス等の耐熱
性を有するものに限定され、また、この方法では10μ
m以下の微細形状によるパターニングを行うことは困難
である。
However, in the screen printing method, a high molecular weight organic binder is added in order to increase the viscosity of a slurry which is a patterning agent, but heat treatment must be performed at a high temperature to remove this. Not only is the process not simple, but the substrate is limited to those having heat resistance, such as glass.
It is difficult to perform patterning with a fine shape of m or less.

【0005】また、気相法或いは塗布法による場合は、
基板上に金属酸化物薄膜を形成した後、所定のパターン
をレジストによりマスクして、不必要な部分をエッチン
グ等により除去するものであるが、この方法はフォトレ
ジストの塗布、露光によるパターニング、エッチング、
レジストの除去と工程数が多く複雑である。また更に、
レジストの除去には、酸、アルカリ等を用いるため必要
な部分の金属酸化物被膜も侵食される恐れがあるという
問題がある。
In the case of a gas phase method or a coating method,
After a metal oxide thin film is formed on a substrate, a predetermined pattern is masked with a resist, and unnecessary portions are removed by etching or the like. This method involves applying a photoresist, patterning by exposure, and etching. ,
The removal of the resist and the number of steps are large and complicated. Moreover,
Since the removal of the resist uses an acid, an alkali, or the like, there is a problem that a metal oxide film in a necessary portion may be eroded.

【0006】また、気相法の場合には真空系とするため
に装置・設備が大掛かりとなり、コストが掛かるばかり
でなく、生産性も良くない。また、ゾル・ゲル法等の塗
布法を用いる場合には、塗膜が水酸化物により形成され
るため、その水酸化物を酸化物に転換するための高温で
の熱処理が必要となり、コスト高となるばかりでなく、
この加熱時に基板上の金属種がマイグレーションを起こ
し、パターン外の部分に移動して、そのパターン輪郭の
シャープさを損ない、パターンの精度を著しく低下させ
る場合が生じる。更に、高温での熱処理を伴うため耐熱
性に優れた基材(基板)にしかパターン形成を適用でき
ないという問題点もある。
Further, in the case of the gas phase method, since a vacuum system is used, the equipment and facilities become large-sized, which not only increases the cost but also lowers the productivity. In addition, when a coating method such as a sol-gel method is used, since the coating film is formed of a hydroxide, a heat treatment at a high temperature to convert the hydroxide to an oxide is required, which increases cost. Not only
At the time of this heating, the metal species on the substrate migrates, moves to a portion outside the pattern, impairs the sharpness of the pattern outline, and significantly lowers the precision of the pattern. Furthermore, there is also a problem that pattern formation can be applied only to a base material (substrate) having excellent heat resistance due to heat treatment at a high temperature.

【0007】一方、特開平7−305027号公報に開
示された方法においても、塗膜を形成する物質は水酸化
物の塗膜であり、これを酸化物に転換するため高温での
加熱処理が必要とされることから、やはり、基板上の金
属種がマイグレーションを起こし、パターン外の部分に
移動して、パターン形成の精度を著しく低下させる恐れ
がある。
On the other hand, also in the method disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 7-305027, the substance forming the coating film is a hydroxide coating film, and heat treatment at a high temperature is required to convert this to an oxide. Since it is required, the metal species on the substrate may cause migration and move to a portion outside the pattern, which may significantly reduce the precision of pattern formation.

【0008】また、この方法によれば、基板上に形成さ
れるパターン中に、必ずSiOが含有されるため、パ
ターンとして形成される金属酸化物の導電性が低下して
所望の導電特性を十分に発揮することができない場合も
生じる。更に、高温熱処理を行うことによりコスト高と
なり、耐熱性の基板以外には適用できないという問題点
もある。
In addition, according to this method, since the pattern formed on the substrate always contains SiO 2 , the conductivity of the metal oxide formed as the pattern is reduced, and the desired conductivity is reduced. In some cases, it cannot be fully demonstrated. Furthermore, there is also a problem that the cost is increased by performing the high-temperature heat treatment, and the heat treatment cannot be applied to substrates other than heat-resistant substrates.

【0009】本発明の解決しようとする課題は、常温処
理或いは比較的低温での処理により基板上に直接金属酸
化物による微細形状のパターニングを行うことを可能と
したパターン形成方法を提供することにある。また、こ
の手法を用いて、高密度・高集積回路の各種電子部品等
を安価に市場に提供しようとするものである。
An object of the present invention is to provide a pattern forming method capable of patterning a fine shape with a metal oxide directly on a substrate by a normal temperature process or a process at a relatively low temperature. is there. Further, by using this method, various kinds of electronic components of a high-density and high-integrated circuit are to be provided to the market at low cost.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】この課題を解決するため
に、本発明のパターン形成方法は、基板上に感光性の疎
水基を有する被膜を形成する疎水性被膜形成工程と、該
疎水性被膜形成工程により基板上に形成された疎水性被
膜に光を照射して親水性のパターンを形成する親水性パ
ターン形成工程と、該親水性パターン形成工程により前
記被膜に形成された親水性パターン上に含フッ素金属化
合物を含む酸液を介して金属酸化物を析出させる金属酸
化物析出工程とからなることを要旨とするものである。
In order to solve this problem, a pattern forming method according to the present invention comprises: a step of forming a film having a photosensitive hydrophobic group on a substrate; A hydrophilic pattern forming step of irradiating the hydrophobic film formed on the substrate by the forming step with a light to form a hydrophilic pattern, and the hydrophilic pattern formed on the film by the hydrophilic pattern forming step; And a metal oxide deposition step of depositing a metal oxide via an acid solution containing a fluorine-containing metal compound.

【0011】この場合の「基板」としては、酸化シリコ
ン(SiO)による半導体基板のほか、金属、セラミ
ックス、ガラス、カーボン、或いは高温に弱いプラスチ
ック材料等種々のものを適宜選択することができ、特に
限定されるものではない。本発明では、常温処理或いは
比較的低温での処理が行われるものであることから、こ
のような幅広い範囲での材料選択が可能となるものであ
る。
As the "substrate" in this case, besides a semiconductor substrate made of silicon oxide (SiO 2 ), various ones such as metal, ceramics, glass, carbon, and plastic materials which are susceptible to high temperature can be appropriately selected. There is no particular limitation. In the present invention, since the processing is performed at room temperature or at a relatively low temperature, material selection in such a wide range becomes possible.

【0012】また、「親水性パターン形成工程」で用い
る光源としては、種々のものを適用することができ、例
えば、水銀灯、キセノンランプ、エキシマランプ、パル
ス・レーザー等を用いることができる。その照射時間と
しては、用いる光源の出力に依存して決定されるもので
あるから、光源にあわせて適宜選択するとよい。
As the light source used in the "hydrophilic pattern forming step", various light sources can be applied, and for example, a mercury lamp, a xenon lamp, an excimer lamp, a pulsed laser and the like can be used. Since the irradiation time is determined depending on the output of the light source to be used, it may be appropriately selected according to the light source.

【0013】そして、請求項2に記載のように、「疎水
性被膜形成工程」によって形成される被膜としては、シ
ラン誘導体が好適なものとして用いられる。「シラン誘
導体」はシラン基の反対側の末端に疎水基を有するもの
である。
[0013] As described in the second aspect, a silane derivative is preferably used as a film formed by the "hydrophobic film forming step". The “silane derivative” has a hydrophobic group at the terminal opposite to the silane group.

【0014】「シラン誘導体」のシラン基としては、基
板表面上において加水分解を生じ、自己組織膜を形成す
ることができるものが好ましく、−SiCl、−Si
HCl、−SiHCl、−SiCHCl、−S
i(CHCl等が好適なものとして挙げられる。
そして更に、この「シラン誘導体」のシラン基と末端基
との間の直鎖の長さは、−(CH−におけるnが
4以上であることが好ましい。nが4未満の場合には、
シラン誘導体の分子全体としての疎水性が不十分な場合
がある。「シラン誘導体」には、芳香族系と炭化水素系
とがある。更に好適には、芳香族系のフェニルトリクロ
ロシラン等の場合、膜を形成する際の方向が揃っている
自己組織膜を形成するため有用である。
As the silane group of the “silane derivative”, those capable of forming a self-assembled film by hydrolyzing on the surface of the substrate are preferable, and include —SiCl 3 , —Si
HCl 2, -SiH 2 Cl, -SiCH 3 Cl 2, -S
Preferred is i (CH 3 ) 2 Cl.
Further, the length of the straight chain between the silane group and the terminal group of the “silane derivative” is preferably such that n in — (CH 2 ) n — is 4 or more. If n is less than 4,
In some cases, the hydrophobicity of the whole molecule of the silane derivative is insufficient. The “silane derivative” includes an aromatic compound and a hydrocarbon compound. More preferably, in the case of aromatic phenyltrichlorosilane or the like, it is useful to form a self-assembled film in which the direction of film formation is uniform.

【0015】請求項3に記載のように、「シラン誘導
体」の末端に位置する疎水基としては、光に感応して、
大気中の水等と反応してスルホン酸基や水酸基となり、
親水性を発現するものが好ましく、例えば、チオアセト
キシ基、チオシアノ基、アセトキシ基、フェニル基等が
好適なものとして挙げられる。
According to a third aspect of the present invention, the hydrophobic group located at the terminal of the “silane derivative” is:
Reacts with water in the atmosphere to form sulfonic acid groups and hydroxyl groups,
Those exhibiting hydrophilicity are preferable, and for example, a thioacetoxy group, a thiocyano group, an acetoxy group, a phenyl group and the like are preferable.

【0016】また、請求項4に記載のように、この「金
属酸化物析出工程」を行う際に、外乱場、即ち基板に直
接的或いは間接的にサイクリックな外力を印加した状態
で行うことが効果的である。直接的なものとしては、基
板を機械式に振動させる方法が挙げられ、また、間接的
なものとしては、超音波振動、交流電場等が挙げられ
る。この中でも装置的な簡便さから、超音波振動を用い
ることが特に好ましい。
According to a fourth aspect of the present invention, the "metal oxide deposition step" is performed in a disturbance field, that is, in a state in which a cyclic external force is directly or indirectly applied to the substrate. Is effective. Examples of the direct method include a method of mechanically vibrating the substrate, and examples of the indirect method include an ultrasonic vibration and an AC electric field. Among them, it is particularly preferable to use ultrasonic vibration from the viewpoint of simplicity of the apparatus.

【0017】ここで、外乱場において金属酸化物を析出
させることの効果としては、疎水性部分への金属酸化物
の析出を防ぎ、形成されるパターンの縁部を鮮鋭にする
ことができるというものである。金属酸化物の析出は親
水性部分に優先的に析出されるが、その部分を核として
水平方向に結晶成長して、疎水性部分を被覆してしまう
可能性がある。本来的には金属酸化物は疎水性部分への
付着力が弱いので、サイクリックな外力を印加すること
により、水平方向への結晶成長を遮断することができ、
結果として疎水性部分への金属酸化物の析出を抑制でき
ると考えられる。
Here, the effect of depositing the metal oxide in the disturbance field is that the deposition of the metal oxide on the hydrophobic portion can be prevented and the edge of the formed pattern can be sharpened. It is. The metal oxide is deposited preferentially on the hydrophilic portion, but there is a possibility that the crystal grows horizontally with the portion as a nucleus and covers the hydrophobic portion. By nature, metal oxides have low adhesion to hydrophobic parts, so by applying a cyclic external force, it is possible to block crystal growth in the horizontal direction,
As a result, it is considered that deposition of the metal oxide on the hydrophobic portion can be suppressed.

【0018】また、「含フッ素金属化合物」としては、
金属フッ化物、或いは(NHTiF等の塩が好
適なものとして挙げられるが、水溶性のものであれば特
に限定されるものではない。
The "fluorine-containing metal compound" includes
Suitable examples include metal fluorides and salts such as (NH 4 ) 2 TiF 6 , but are not particularly limited as long as they are water-soluble.

【0019】請求項2に係る本発明のパターン形成方法
は、シラン誘導体(フェニルトリクロロシラン等)が、
基板表面に化学的に吸着した後お互いに重合して単分子
層を形成するという性質と、光化学反応によって表面官
能基が変化するという性質とを有することを利用したも
のである。つまり、シラン誘導体を基板に化学吸着させ
た後に、光の照射によって表面官能基が異なる微細パタ
ーンを基板上に形成し、その上に金属酸化物膜を成膜さ
せれば、その反応性の差異(疎水性と親水性)によって
金属酸化物を選択的に析出させることができるというも
のである。
According to a second aspect of the present invention, there is provided the pattern forming method, wherein the silane derivative (phenyltrichlorosilane or the like) is
It utilizes the property of chemically adsorbing on the substrate surface and then polymerizing with each other to form a monomolecular layer, and the property of changing surface functional groups by a photochemical reaction. In other words, after the silane derivative is chemically adsorbed on the substrate, a fine pattern having a different surface functional group is formed on the substrate by light irradiation, and a metal oxide film is formed thereon. (Hydrophobicity and hydrophilicity) can selectively deposit metal oxides.

【0020】上記工程を経て行われる本発明のパターン
形成方法によれば、室温付近での常温処理或いは比較的
低温での処理にて金属酸化物による微細形状のパターン
形成を可能とし、また、大掛かりな装置を用いる必要が
ないことから廉価で簡便に行うことのできるパターン形
成法を提供することができる。
According to the pattern forming method of the present invention, which is performed through the above steps, it is possible to form a fine pattern with a metal oxide by a normal temperature process near room temperature or a process at a relatively low temperature. Since there is no need to use a simple apparatus, it is possible to provide a pattern forming method which can be performed easily at low cost.

【0021】[0021]

【発明の実施の形態】以下に、本発明の実施例を図面を
参照して詳細に説明する。まず初めに、図1は、本発明
に係るパターン形成方法の概略工程を示したものであ
る。図示したように、基板上に被膜を形成する疎水性被
膜形成工程と、この疎水性被膜形成工程により基板上に
形成された被膜に光を照射して親水性パターンを形成す
る親水性パターン形成工程と、この親水性パターン形成
工程を経た材料表面の親水性パターン上に金属酸化物を
析出させる金属酸化物析出工程とからなる。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings. First, FIG. 1 shows a schematic process of a pattern forming method according to the present invention. As shown, a hydrophobic film forming step of forming a film on a substrate, and a hydrophilic pattern forming step of irradiating light to the film formed on the substrate in the hydrophobic film forming step to form a hydrophilic pattern And a metal oxide deposition step of depositing a metal oxide on the hydrophilic pattern on the material surface after the hydrophilic pattern formation step.

【0022】初めに「疎水性被膜形成工程」(図1
(a)→(b))は、例えばシリコン基板の表面を洗浄
し、これをトルエン等の有機溶媒にシラン誘導体である
トリクロロフェニルシラン(化学式:CSiCl
)を溶解した溶液中に浸漬する。この際、基板の表面
を必要に応じて酸化しておいてもよい。
First, a "hydrophobic film forming step" (FIG. 1)
(A) → (b)) is, for example, to wash the surface of a silicon substrate, and wash it with an organic solvent such as toluene in a trichlorophenylsilane (chemical formula: C 6 H 5 SiCl) as a silane derivative.
3 ) Immerse in the solution in which is dissolved. At this time, the surface of the substrate may be oxidized if necessary.

【0023】図2は、シラン誘導体を「疎水性被膜形成
工程」において用いたときの基板上の状態を拡大して示
したものである。この工程において形成される疎水性被
膜は、シラン誘導体がその末端のシラン基において基板
と共有結合したものであって、好ましくは基板上に数分
子層以下、更に好ましくは単分子層の被膜であることが
望ましい。
FIG. 2 is an enlarged view showing the state on the substrate when the silane derivative is used in the “hydrophobic film forming step”. The hydrophobic coating formed in this step is one in which the silane derivative is covalently bonded to the substrate at the terminal silane group, and is preferably a coating of several molecular layers or less, more preferably a monomolecular layer on the substrate. It is desirable.

【0024】次に、「親水性パターン形成工程」(図1
(c)→(d))は、上述の疎水性の被膜を形成した基
板に、所定のパターンのフォトマスク等を介して光を照
射する。この場合、所定の箇所に光を照射できれば、フ
ォトマスクを基板に密着させてもよいし、ある程度の距
離を保って光を照射してもよい。
Next, a "hydrophilic pattern forming step" (FIG. 1)
In (c) → (d)), the substrate on which the above-mentioned hydrophobic film is formed is irradiated with light via a photomask having a predetermined pattern. In this case, as long as light can be irradiated to a predetermined portion, the photomask may be brought into close contact with the substrate, or light may be irradiated at a certain distance.

【0025】図3に、シラン誘導体を「親水性パターン
形成工程」において用いたときの基板上の状態を拡大し
て示したが、ここで光を照射された部分は親水性に変化
し、光を照射されない部分は疎水性のまま残存し、親水
性と疎水性のものが基板上に形成されることになる。
FIG. 3 shows an enlarged view of the state on the substrate when the silane derivative is used in the “hydrophilic pattern forming step”. Here, the portion irradiated with light changes to hydrophilic, The part which is not irradiated remains hydrophobic, and hydrophilic and hydrophobic parts are formed on the substrate.

【0026】そして次に、「金属酸化物析出工程」(図
1(d)→(e))としては、上述の親水性パターン成
形工程によりパターンを形成した基板を水溶性含フッ素
金属化合物水溶液と酸液との混合液に浸漬することで金
属酸化物を析出させるものである。
Next, in the “metal oxide deposition step” (FIGS. 1 (d) → (e)), the substrate on which the pattern was formed by the above-described hydrophilic pattern forming step was treated with an aqueous solution of a water-soluble fluorine-containing metal compound. The metal oxide is deposited by dipping in a mixed solution with an acid solution.

【0027】図4に、シラン誘導体を「金属酸化物析出
工程」において用いたときの基板上の状態を拡大して示
した。この図4では、金属酸化物としてTiOを析出
させたものを例として示したものであるが、この工程に
おいて親水性部分に金属酸化物が選択的に析出される様
子を示している。
FIG. 4 shows an enlarged view of the state on the substrate when the silane derivative is used in the “metal oxide deposition step”. FIG. 4 shows an example in which TiO 2 is deposited as the metal oxide, but shows how the metal oxide is selectively deposited on the hydrophilic portion in this step.

【0028】ちなみに、この金属酸化物析出工程におい
て、(NHTiFをホウ酸水溶液に溶解させた
混合液を用いた場合の析出反応を化1及び化2に示す。
化1における含フッ素金属化合物の溶解・金属酸化物析
出の反応は本来的には可逆的反応である。そこで、不可
逆反応である化2のホウ酸との反応を用いて、化1の反
応で生成されるH、Fを化2の反応で消費させれ
ば、それを補償するために化1の反応は右に進むので、
結果としてTiOの析出を継続させることができる。
By the way, in this metal oxide precipitation step, a precipitation reaction in the case where a mixed solution in which (NH 4 ) 2 TiF 6 is dissolved in an aqueous boric acid solution is used is shown in Chemical formulas 1 and 2.
The reaction of dissolving the fluorine-containing metal compound and depositing the metal oxide in Chemical formula 1 is a reversible reaction in nature. Therefore, if H + and F generated in the reaction of the chemical formula 1 are consumed by the reaction of the chemical formula 2 using the reaction of the chemical formula 2 with boric acid, which is an irreversible reaction, the chemical formula 1 Reaction goes to the right,
As a result, the deposition of TiO 2 can be continued.

【0029】[0029]

【化1】TiF 2−+2HO → TiO+4H
+6F
Embedded image TiF 6 2- + 2H 2 O → TiO 2 + 4H
+ + 6F -

【0030】[0030]

【化2】BO 3−+6H+4F → BF
3H
Embedded image BO 3 3- + 6H + + 4F → BF 4 +
3H 2 O

【0031】この「含フッ素金属化合物」を溶解させる
酸液には、ホウ酸水溶液が好適なものとして挙げられ
る。これには、金属酸化物の析出反応を促進させるため
のpH調整剤としてHCl等の無機酸を添加してもよ
い。
As the acid solution for dissolving the "fluorine-containing metal compound", a boric acid aqueous solution is preferably mentioned. To this, an inorganic acid such as HCl may be added as a pH adjuster for accelerating the precipitation reaction of the metal oxide.

【0032】「含フッ素金属化合物を含む酸液」のpH
は、pH=1以上とすることが好ましい。pHが1より
小さい場合は、金属酸化物の溶解度が高くなることか
ら、金属酸化物の析出が起こらなくなることがある。ま
た、pHの上限としては、含フッ素金属化合物水溶液と
酸液とを混合した際に示すpHを上限とすることが好ま
しい。このときのpHは、金属種や水溶液の濃度等によ
って決定されるものであるが、一般的にはpH=4付近
を示すことが多い。
PH of "acid solution containing fluorine-containing metal compound"
Is preferably pH = 1 or more. When the pH is lower than 1, the solubility of the metal oxide is increased, so that the metal oxide may not be deposited. The upper limit of the pH is preferably the pH indicated when the aqueous solution of the fluorine-containing metal compound and the acid solution are mixed. The pH at this time is determined by the metal species, the concentration of the aqueous solution, and the like, but generally shows around pH = 4.

【0033】また、「含フッ素金属化合物を含む酸液」
の温度は、室温から100℃の間の温度域にて行うとよ
いが、好ましくは30℃以上70℃以下、更に好ましく
は40℃以上60℃以下で行うとよい。30℃より低い
温度域では、反応が遅くなることから析出に時間を要す
る場合がある。また、70℃より高い温度域では、反応
が速過ぎて金属酸化物の析出が不均一になる場合があ
る。
Further, "acid solution containing fluorine-containing metal compound"
The temperature is preferably in a temperature range between room temperature and 100 ° C., preferably 30 ° C. or more and 70 ° C. or less, more preferably 40 ° C. or more and 60 ° C. or less. In a temperature range lower than 30 ° C., the reaction is slowed down, so that time may be required for precipitation. Further, in a temperature range higher than 70 ° C., the reaction may be too fast and the deposition of the metal oxide may be non-uniform.

【0034】また、基板の浸漬時間は、析出させる金属
酸化物の所望の厚さに応じて決定すればよい。この析出
される金属酸化物の厚さは、金属種、水溶液濃度等に依
存しており、また、析出時間が長いほど厚くなる傾向に
ある。よって、基板の浸漬時間は、これらの諸条件を鑑
みて調節すればよく、好ましくは0.1〜24時間浸漬
させるとよい。
The immersion time of the substrate may be determined according to the desired thickness of the metal oxide to be deposited. The thickness of the deposited metal oxide depends on the type of the metal, the concentration of the aqueous solution, and the like, and the longer the deposition time, the greater the tendency. Therefore, the immersion time of the substrate may be adjusted in consideration of these various conditions, and is preferably immersed for 0.1 to 24 hours.

【0035】[0035]

【実施例】(実施例1)基板としてSi(100)を用
い、最初に、この基板を洗浄した後、基板表面を酸化す
る。そして、グローブボックス内で窒素気流中におい
て、この基板を0.2mlのCSiClを20
mlのトルエン溶媒に混合した有機溶液に5分間浸漬さ
せる。この基板を取り出した後、120℃で5分間乾燥
させ、疎水性の被膜を形成した(疎水性被膜形成工
程)。
(Embodiment 1) Si (100) is used as a substrate. First, the substrate is cleaned and then the substrate surface is oxidized. Then, in a glove box, in a nitrogen stream, 0.2 ml of C 6 H 5 SiCl 3
Soak for 5 minutes in an organic solution mixed with ml of toluene solvent. After taking out this substrate, it was dried at 120 ° C. for 5 minutes to form a hydrophobic film (hydrophobic film forming step).

【0036】次いで、この疎水性の被膜が形成された基
板に、所定のパターンのフォトマスクを設置し、水銀ラ
ンプ光(波長220〜400nm)を2時間照射する。
これによって、疎水性被膜のうち所定のパターンのみが
親水性となるように、基板上に親水性パターンを作製し
た(親水性パターン形成工程)。
Next, a photomask having a predetermined pattern is set on the substrate on which the hydrophobic film is formed, and irradiated with a mercury lamp (wavelength: 220 to 400 nm) for 2 hours.
In this way, a hydrophilic pattern was formed on the substrate so that only a predetermined pattern of the hydrophobic film became hydrophilic (hydrophilic pattern forming step).

【0037】次に、0.005molの(NH
iFと0.015molのホウ酸を、それぞれ50m
lの蒸留水に溶解させ、50℃に加熱した。次いで、こ
の2種類の溶液を混合した後、pH調整のためにHCl
を適量添加した。そして、この混合溶液に基板を浸漬
し、容器の外側に超音波振動子を配置し、混合溶液を5
0℃に維持した状態で基板に超音波(周波数47kH
z、出力70W)を照射させながら2時間程掛けて金属
酸化物を析出させた(金属酸化物析出工程)。その後、
基板を取り出して蒸留水で洗浄した後、自然乾燥し、本
発明品(実施例1)を作製した。
Next, 0.005 mol of (NH 4 ) 2 T
iF 6 and 0.015 mol of boric acid were each added to 50 m
Dissolved in 1 l of distilled water and heated to 50 ° C. Then, after mixing the two solutions, HCl was added to adjust the pH.
Was added in an appropriate amount. Then, the substrate is immersed in the mixed solution, an ultrasonic oscillator is arranged outside the container, and the mixed solution is immersed in the mixed solution for 5 minutes.
While maintaining the temperature at 0 ° C., ultrasonic waves (frequency 47 kHz) are applied to the substrate.
(z, output: 70 W), and the metal oxide was deposited over about 2 hours while irradiating (metal oxide deposition step). afterwards,
The substrate was taken out, washed with distilled water, and naturally dried to produce a product of the present invention (Example 1).

【0038】(実施例2)実施例1の疎水性被膜形成工
程において用いたフェニルトリクロロシラン(組成式:
SiCl)に代えて、チオアセテート・トリ
クロロシリル・ウンデカン(組成式:CHCOS(C
11SiCl)を用いた以外は、実施例1と同
様の条件で各工程を経ることにより、実施例2の供試材
を作製した。したがって、この供試材には超音波照射に
よる金属酸化物の析出処理がなされている。
Example 2 The phenyltrichlorosilane used in the hydrophobic film forming step of Example 1 (composition formula:
Instead of C 6 H 5 SiCl 3 ), thioacetate trichlorosilyl undecane (composition formula: CH 3 COS (C
Except for using H 2 ) 11 SiCl 3 ), the test material of Example 2 was produced by going through each step under the same conditions as in Example 1. Therefore, this test material has been subjected to a metal oxide precipitation treatment by ultrasonic irradiation.

【0039】(実施例3)実施例1の金属酸化物析出工
程において、超音波を照射しなかったこと以外は、実施
例1と同様の条件で各工程を経ることにより、実施例3
の供試材を作製した。したがって、この供試材にはフェ
ニルトリクロロシランによる被膜が形成されている。
(Example 3) In the metal oxide deposition step of Example 1, each step was performed under the same conditions as in Example 1 except that no ultrasonic wave was applied.
Was prepared. Therefore, a film of phenyltrichlorosilane was formed on this test material.

【0040】本発明品(実施例1〜実施例3)を評価す
るために、それぞれの基板をX線回折測定(以下、単に
「XRD」と示す。)によって、基板上に形成される金
属酸化物の結晶構造を調べ、また走査型電子顕微鏡(以
下、単に「SEM」と示す。)によって基板断面を観察
した。
In order to evaluate the products of the present invention (Examples 1 to 3), each substrate was subjected to X-ray diffraction measurement (hereinafter, simply referred to as “XRD”) to measure the metal oxide formed on the substrate. The crystal structure of the product was examined, and the cross section of the substrate was observed with a scanning electron microscope (hereinafter simply referred to as “SEM”).

【0041】XRD測定の結果から、実施例1〜3の供
試材は全て、基板上に形成される金属酸化物はアナター
ゼ型の酸化チタンであることが確認された。
From the results of the XRD measurement, it was confirmed that the metal oxides formed on the substrates of all the test materials of Examples 1 to 3 were anatase-type titanium oxides.

【0042】また、SEMの観察結果から、実施例1及
び実施例2の供試材は共に、1μm幅のパターンが微細
かつ精密に形成できていることが確認された。これに対
して、実施例3の供試材は僅かではあるが疎水性部分に
も金属酸化物が析出してしまい、パターンの縁部を鮮鋭
に形成することができなかった。
From the results of SEM observation, it was confirmed that both the test materials of Example 1 and Example 2 were capable of forming a 1 μm-width pattern finely and precisely. On the other hand, in the test material of Example 3, although slight, metal oxide was deposited on the hydrophobic portion, and the edge of the pattern could not be formed sharply.

【0043】実施例3のパターンが実施例1及び実施例
2のパターンに比べて、その精密さにおいて稍劣る結果
になってしまったことの原因としては、CSiC
として残存している部分の疎水性が弱かったこと
と、外乱場での金属酸化物の析出を行われなかったこと
によって、疎水部分へ金属酸化物が析出してしまったも
のと考えられる。
The reason why the pattern of Example 3 was slightly inferior in the precision as compared with the patterns of Example 1 and Example 2 was that C 6 H 5 SiC
and that the hydrophobic portion remaining as l 3 was weak, by not performing the deposition of the metal oxide in the disturbance field, it is believed that the metal oxides to a hydrophobic moiety had precipitated .

【0044】つまり、実施例1と実施例3の比較から、
疎水性被膜の疎水性があまり強くない場合には、サイク
リックな外力を印加しながら金属酸化物を析出させるこ
とで、微細で精密なパターンを形成できるということが
確認できた。もちろん疎水性が強い場合には、より一層
の高い効果が得られることはいうまでもなく、この外乱
場での金属酸化物の析出は、精密なパターン形成におい
て極めて効果的な手段であるということが分かる。
That is, from the comparison between the first embodiment and the third embodiment,
When the hydrophobicity of the hydrophobic film was not so strong, it was confirmed that a fine and precise pattern could be formed by depositing the metal oxide while applying a cyclic external force. Of course, if the hydrophobicity is strong, it is needless to say that the higher effect can be obtained, and that the deposition of the metal oxide in this disturbance field is an extremely effective means for forming a precise pattern. I understand.

【0045】本発明は、上記した実施例に何等限定され
るものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で種々
の改変が可能である。例えば、パターンを形成する基板
として、上記実施例ではSi基板を用いたが、半導体、
セラミックス等の単結晶、多結晶或いはガラス等種々の
ものにパターニングすることができる。
The present invention is not limited to the above-described embodiment at all, and various modifications can be made without departing from the spirit of the present invention. For example, although a Si substrate is used in the above embodiment as a substrate for forming a pattern, a semiconductor,
It can be patterned into various things such as single crystal such as ceramics, polycrystal or glass.

【0046】シラン誘導体の感光性疎水基としては上記
実施例以外に、チオシアノ基、アセトキシ基等、光化学
反応によって親水基となりうる疎水基であれば適用する
ことができる。また、その感光性疎水基の反対側の末端
には、上記実施例以外に−SiHCl、−SiH
l、−SiCHCl、或いは−Si(CH
l等を適用することもできる。
As the photosensitive hydrophobic group of the silane derivative, in addition to the above examples, any hydrophobic group such as a thiocyano group and an acetoxy group, which can become a hydrophilic group by a photochemical reaction, can be used. In addition, in addition to the above-mentioned examples, -SiHCl 2 , -SiH 2 C
l, -SiCH 3 Cl 2, or -Si (CH 3) 2 C
l and the like can be applied.

【0047】また、外乱場としては、上記実施例以外で
用いた超音波照射以外にも、交流電場や機械的振動等、
基板に直接的或いは間接的にサイクリックな外力を印加
する種々の方法を適用することができる。
As the disturbance field, in addition to the ultrasonic irradiation used in other than the above embodiment, an AC electric field, mechanical vibration, etc.
Various methods for directly or indirectly applying a cyclic external force to the substrate can be applied.

【0048】[0048]

【発明の効果】本発明に係るパターン形成方法は、基板
上に感光性の疎水基を有する被膜を形成した後、その疎
水性被膜上にフォトマスク等を介して光を選択的に照射
することにより、自己組織膜の露光部分に親水性のパタ
ーンを形成し、これを含フッ素金属化合物を含む酸液に
浸漬して、親水性パターンの形成された露光部分に金属
酸化物を析出させるものである。したがって、光照射に
よる微細形状のパターニングが可能であり、高温での熱
処理を施す必要もないことからマイグレーションの問題
も生じず、基板上に微細で精密な高密度のパターンを形
成することができる。
According to the pattern forming method of the present invention, after a film having a photosensitive hydrophobic group is formed on a substrate, light is selectively irradiated on the hydrophobic film via a photomask or the like. Thus, a hydrophilic pattern is formed on the exposed portion of the self-assembled film, and this is immersed in an acid solution containing a fluorine-containing metal compound to precipitate a metal oxide on the exposed portion where the hydrophilic pattern is formed. is there. Therefore, fine patterning by light irradiation is possible, and there is no need to perform a heat treatment at a high temperature, so that there is no migration problem, and a fine and precise high-density pattern can be formed on the substrate.

【0049】また、本発明によれば、このパターン形成
を常温処理により行うことができ、また、特別な真空処
理装置等を用いる必要もないことから、廉価にパターン
形成した製品を市場に提供できるものである。したがっ
て、本発明を高密度のIC回路或いはDRAMのキャパ
シター等の製造に適用することは大いに有益である。ま
た、本発明は高温での熱処理を行うことなく基板上にパ
ターン形成することができるものであるから、基板とし
て耐熱性が要求されるものではなく、安価にプラスチッ
ク基板への適用も可能である。
Further, according to the present invention, the pattern can be formed by normal temperature processing, and since there is no need to use a special vacuum processing device or the like, a product with a pattern formed at low cost can be provided to the market. Things. Therefore, it is very advantageous to apply the present invention to the manufacture of high-density IC circuits or DRAM capacitors. Further, since the present invention can form a pattern on a substrate without performing heat treatment at a high temperature, the substrate does not need to have heat resistance and can be applied to a plastic substrate at low cost. .

【0050】また更に、金属酸化物を析出させる工程に
おいて、超音波振動を付与する等サイクリックな外力を
印加した状態で行うことにより、疎水性被膜上に金属酸
化物を析出させることがなくなることから、形成される
金属酸化物のパターンの縁部をより鮮鋭なものとするこ
とができる。
Further, in the step of depositing the metal oxide, the step is performed in a state where a cyclic external force is applied, such as applying ultrasonic vibration, so that the metal oxide is not deposited on the hydrophobic coating. Therefore, the edge of the formed metal oxide pattern can be made sharper.

【0051】このパターン形成方法は、各種基板に微細
で精密なパターン形成を行うことができ、しかも、この
方法は簡便で廉価に行うことができることから、多様な
電気回路基板や半導体集積基板の構築を初め、金属酸化
物の電気的・磁気的・光学的・化学的物性等の特性を利
用したデバイスの集積化に寄与するものであり、産業上
極めて有用性の高い発明である。
According to this pattern forming method, fine and precise patterns can be formed on various substrates, and the method can be performed easily and at low cost. In addition, the invention contributes to the integration of devices utilizing characteristics such as electrical, magnetic, optical, and chemical properties of metal oxides, and is an industrially extremely useful invention.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係るパターン形成の概略工程を示した
図である。
FIG. 1 is a view showing a schematic process of forming a pattern according to the present invention.

【図2】図1(a)〜(b)に示した疎水性被膜形成工
程における基板上の状態を拡大して示した図である。
FIG. 2 is an enlarged view of a state on a substrate in a hydrophobic film forming step shown in FIGS. 1 (a) and 1 (b).

【図3】図1(c)〜(d)に示した親水性パターン形
成工程における基板上の状態を拡大して示した図であ
る。
FIG. 3 is an enlarged view showing a state on a substrate in a hydrophilic pattern forming step shown in FIGS. 1 (c) to 1 (d).

【図4】図1(d)〜(e)に示した金属酸化物析出工
程における基板上の状態を拡大して示した図である。
FIG. 4 is an enlarged view showing a state on a substrate in a metal oxide deposition step shown in FIGS. 1 (d) to 1 (e).

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 神谷 信雄 愛知県愛知郡長久手町大字長湫字横道41番 地の1 株式会社豊田中央研究所内 (72)発明者 河本 邦仁 愛知県名古屋市北区名城3番地の1 (72)発明者 瀬尾 暁 京都府京都市左京区永観堂西町17番地 Fターム(参考) 2H025 AB16 AC04 AD01 EA04 FA39 2H096 AA25 BA20 CA12 EA03 JA10 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (72) Nobuo Kamiya 41 No. 41, Yokomichi, Nagakute-cho, Aichi-gun, Aichi Prefecture Inside Toyota Toyota Central R & D Laboratories Co., Ltd. Address No. 1 (72) Inventor Akira Seo 17th term, Eikando Nishimachi, Sakyo-ku, Kyoto, Kyoto F-term (reference) 2H025 AB16 AC04 AD01 EA04 FA39 2H096 AA25 BA20 CA12 EA03 JA10

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板上に感光性の疎水基を有する被膜を
形成する疎水性被膜形成工程と、該疎水性被膜形成工程
により基板上に形成された疎水性被膜に光を照射して親
水性のパターンを形成する親水性パターン形成工程と、
該親水性パターン形成工程により前記被膜に形成された
親水性パターン上に含フッ素金属化合物を含む酸液を介
して金属酸化物を析出させる金属酸化物析出工程とから
なることを特徴とするパターン形成方法。
1. A hydrophobic film forming step of forming a film having a photosensitive hydrophobic group on a substrate, and irradiating the hydrophobic film formed on the substrate by the hydrophobic film forming step with light to obtain a hydrophilic film. A hydrophilic pattern forming step of forming a pattern of
A metal oxide deposition step of depositing a metal oxide via an acid solution containing a fluorine-containing metal compound on the hydrophilic pattern formed on the film by the hydrophilic pattern formation step. Method.
【請求項2】 前記疎水性被膜形成工程によって形成さ
れる被膜がシラン誘導体からなることを特徴とする請求
項1に記載のパターン形成方法。
2. The pattern forming method according to claim 1, wherein the film formed in the hydrophobic film forming step is made of a silane derivative.
【請求項3】 前記シラン誘導体の感光性の疎水基が、
有機系のフェニル基、チオアセトキシ基、チオシアノ
基、アセトキシ基より選ばれた1種又は2種以上のもの
であることを特徴とする請求項2に記載のパターン形成
方法。
3. The method according to claim 1, wherein the photosensitive hydrophobic group of the silane derivative is
3. The pattern forming method according to claim 2, wherein one or more of organic phenyl group, thioacetoxy group, thiocyano group and acetoxy group are selected.
【請求項4】 前記金属酸化物析出工程を外乱場で行う
ことを特徴とする請求項1乃至3に記載のパターン形成
方法。
4. The pattern forming method according to claim 1, wherein the step of depositing the metal oxide is performed in a disturbance field.
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