JP2000147068A - 内部信号観測回路 - Google Patents
内部信号観測回路Info
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- JP2000147068A JP2000147068A JP10327834A JP32783498A JP2000147068A JP 2000147068 A JP2000147068 A JP 2000147068A JP 10327834 A JP10327834 A JP 10327834A JP 32783498 A JP32783498 A JP 32783498A JP 2000147068 A JP2000147068 A JP 2000147068A
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Abstract
中に外部デバイスへの通常アクセスを可能とする。 【解決手段】 外部デバイスアクセス発生状況を監視す
る外部アクセス監視回路と、未発生時のみ外部デバイス
用信号と内部信号出力用信号との兼用ピンから内部信号
を選択出力するセレクタを有し、集積回路と外部デバイ
ス間にラッチ回路を設け、一定期間外部デバイスアクセ
スに必要な信号を保持するためのラッチ信号を出力する
外部アクセス監視回路を有し、外部デバイスへ/からの
信号の出力を制御するため出力制御機能付バッファを設
け、前記バッファ制御信号を出力する外部アクセス監視
回路を有し、外部デバイスのアクセスタイミングに合わ
せ内部信号出力制御を行う外部アクセス監視回路を有
す。よって本発明による内部信号観測回路は、外部デバ
イスへの通常動作通りのアクセスと内部信号観測を同時
に実現する。
Description
検証に関し、特に、内部状態を外部から観測可能な信号
として出力させ、その信号を解析することにより、設計
どおりに動作しているか、不具合発生の原因は何か等を
特定する集積回路設計時の動作検証、不良解析に関する
ものである。
れるような映像、音楽、モデム、ICカードなどを扱う
セットにおいて、これらの機能をほとんど単体で包含す
るようなシステムLSIの開発が盛んになっている。
を制御するため、CPU、MPEGデコーダ、AVデコ
ーダ、周辺デバイス制御回路、等が1つのチップに内蔵
されており、回路規模も莫大となっている。設計の大変
さもさる事ながら、いざチップとして出来上がってから
のチップの動作検証にも、内部構成が複雑であるが故期
間短縮のため効率的な工夫が要求されている。
る信号を通常は別の用途で使用している外部端子に出力
させ、その信号を解析するという方法が考案されてき
た。特に集積回路の検査の意味合いから、セットに組ん
だ場合は外部の周辺チップが接続される端子を内部信号
を出力させる兼用ピンとして使用し、外部端子設定等で
検査モードに設定して兼用ピンから集積回路内部の信号
を出力させるという方法を用いてきた。
内部信号の観測方法では、集積回路の周辺チップ、すな
わち外部デバイスを動作させずに集積回路内部の信号を
観測するだけしかできないため、セットとして動作させ
ている間に発生する不具合の解析等、実動作中の内部状
態の観測が不可能であるという問題点がある。
イスとしてフラッシュメモリ、DRAM、チューナー、
モデムチップ等があるが、放送を受信しては映像信号、
音声信号にデコードしているが頻繁にメモリアクセスが
発生しており、時々他のデバイスへのアクセスが生じ
る。
クセスが皆無であることはありえず動作解析を実動作中
に行えば、より実際の現象に近い情報を得ることができ
るはずである。
に、第1の発明に係わる内部信号観測回路は、外部デバ
イスへのアクセスが生じていないことを判定する外部ア
クセス監視回路と、その場合のみ外部デバイス用の信号
と内部信号出力用の信号との兼用ピンから内部信号を選
択し出力するセレクタを有する。
路は、集積回路と外部デバイスとの間にラッチ回路を設
け、外部デバイスに対しアクセスするために必要な一定
期間、必要な信号を保持し続けるためのラッチ信号を出
力する外部アクセス監視回路を有する。
路は、ラッチ回路以外に外部デバイスへ/からの信号の
出力を制御するために、出力制御機能付バッファを設
け、これら出力制御機能付バッファを制御する信号を出
力する外部アクセス監視回路を有する。
路は、外部デバイスアクセスタイミング記憶部に設定さ
れた外部デバイスのアクセスタイミングに合わせ内部信
号を兼用ピンに出力するよう制御する外部アクセス監視
回路を有する。
の第1の実施形態に係る内部信号観測回路のブロック図
である。1は集積回路であり、セレクタ11と外部アク
セス監視回路12を有する。外部デバイス制御信号S1
3は外部アクセス監視回路および集積回路1外部にある
外部デバイス2に接続される。また、セレクタ11には
外部デバイスアクセス信号線S11と内部信号線S1
2、および外部アクセス監視回路12からの信号S14
が接続され、さらに外部デバイス2とは兼用ピン5を介
して兼用信号線S4で接続される。兼用信号線S4には
コネクタ3が接続されており、このコネクタ3には内部
信号観測装置が接続される。
おける動作について図1を用いて説明する。外部デバイ
ス制御信号S13は例えば外部デバイス2に対する選択
信号すなわちチップセレクト信号である。外部アクセス
監視回路12はこの外部デバイス制御信号S13を監視
し、外部デバイス2へのアクセスが生じているか否かを
判定し、その結果を信号S14としてセレクタ11に出
力する。セレクタ11はこの信号S14を受け取り、外
部デバイス2へのアクセスがある場合、外部デバイスア
クセス信号線S11を、外部デバイス2へのアクセスが
ない場合は内部信号線S12を、兼用ピン5を介して兼
用信号線S4上に出力する。ここで外部デバイスアクセ
ス信号線S11上の信号は、例えば外部デバイス2に対
するアドレスやデータ信号のことである。また、内部信
号線S12上の信号は観測したい内部状態を示す集積回
路の内部信号である。外部デバイス2は外部デバイス制
御信号S13により、自身へのアクセスであることを判
別した場合兼用信号線上の信号を使用するが、そうでな
い場合は無視する。外部デバイス2へのアクセスでない
場合、兼用信号線S4上には内部信号が出力されている
ので、コネクタ3を通じて内部信号観測装置4に信号を
取り込み、解析を行う。
スへのアクセス中は兼用信号線上に内部信号が出力され
ることがないため、外部デバイスへのアクセスが異常に
なることはなく、外部デバイスへのアクセスの合間に内
部信号を観測できるため、セットとしての通常動作をさ
せながら集積回路内部の観測が可能となる。
イスとして書いてあるが、もちろん複数の外部デバイス
が接続されていてもよい。その場合、外部デバイス制御
信号S13も複数となる場合がある。また、特に明記し
ていないが、外部デバイスアクセス信号線S11、内部
信号線S12、兼用信号線S4、および外部デバイス制
御信号の本数は任意である。これら外部デバイスの数、
信号線の本数に関しては以下の実施の形態においても同
様である。
施形態に係る内部信号観測回路のブロック図である。図
2においてラッチ回路6および外部アクセス監視回路1
2については実施の形態1におけるものと同一のもので
あるので、詳細な説明は割愛する。
施形態における動作を説明する。外部デバイス2に対す
るアクセスがない場合については実施の形態1で説明し
た通りであり、兼用信号線S4上には内部信号が出力さ
れる。しかし、外部アクセス監視回路12は外部デバイ
ス制御信号S13により外部デバイス2へのアクセスの
発生を検知した場合、集積回路外部のラッチ回路6に対
し、ラッチ信号S6を出力する。このラッチ信号S6は
図3のように兼用信号線S4上の信号がアクセス開始時
の(1)の間に立ち下がり、アクセス終了時の再び(1)とな
っている間に立ちあがる。ラッチ信号S6がHighの
期間はラッチ回路6は兼用信号線S4上の信号をスルー
で信号線S5上へ出力し、Lowの期間はラッチ回路6
はラッチ信号S6が立ち下がる瞬間の兼用信号線S4上
の信号を保持し、それを信号線S5上に出力し続ける。
従って、信号線S5上の信号は外部デバイス2へのアク
セス中(1)に保持される。以上の動作により、ラッチ期
間中は兼用信号線S4上には(1)を出力し続ける必要は
なくなるため、外部アクセス監視回路からの信号S14
に従ってセレクタ11は内部信号(2)、(3)を兼用信号線
S4に出力することが可能となる。
アクセス中であっても内部信号を観測することが可能と
なり、実施の形態1の発明よりさらに観測の機会を増や
すことができる。
ように示してあるが、内部信号が出力可能な期間に一種
類のみの信号でも、3種類以上の信号を次々に出力させ
てもよい。また、ラッチ信号の極性はラッチ回路に応じ
て逆でもよく、アクセス終了後信号S5上のデータが
(1)のままでよいのであれば、ラッチ回路をフリップフ
ロップで構成することも可能であり、その場合兼用信号
線上の信号について最初の(1)の期間と最後の(1)期間
に、S6をパルス状の信号として与えてもよい。
施形態に係る内部信号観測回路のブロック図である。図
4において兼用ピン5、外部デバイスアクセス信号線S
11、セレクタ11、外部アクセス監視回路12、出力
制御機能付バッファS61およびS62以外は、実施の
形態2で説明したものと同じであるから詳細な説明は割
愛する。
施形態の動作について説明する。兼用ピン5は本発明で
は双方向ピンであり、例えばデータ信号である。兼用信
号線S4上には集積回路1からの外部デバイス2への出
力信号あるいは外部デバイス2から集積回路1への入力
信号が乗る。そこでまず、外部デバイス2に対するデー
タライト時を説明する。
クセス監視回路12は、外部デバイス2へのアクセスが
発生したことと同時に、外部デバイス2へのデータライ
トアクセスが要求されたことを知る。外部アクセス監視
回路12は入力有効信号S62をディセーブルすなわち
Highにし、出力有効信号S61をイネーブルすなわ
ちLowにし、さらにラッチ信号S6を出力した後、信
号S14によりセレクタ11に内部信号を兼用信号線S
4上に出力するよう指示する。アクセスの終了時にはラ
ッチ信号S6出力をやめることにより、外部デバイス2
には図5の(A)のようにアクセス期間中ライトデータ
が一定に供給される。
について説明する。外部アクセス監視回路12は外部デ
バイス制御信号S13により外部デバイス2に対してリ
ードアクセスが発生したことを知る。まず外部デバイス
監視回路12は出力有効信号S61をディセーブルすな
わちHighにし、入力有効信号S62もディセーブル
すなわちHighにする。ラッチ信号S6はHighの
まま出力しない。その後セレクタ11に対し、内部信号
を兼用信号線S4上に出力するよう信号S14により指
示する。アクセス開始からある一定時間後には外部デバ
イス2から有効なデータが出力されることが分かってい
るため、集積回路1がリードデータを取り込むのに適切
な時間になる直前にはセレクタ11に対し、内部信号の
出力を停止させかつ兼用信号線S4上のデータをセレク
タを介し外部デバイスアクセス信号線S11上に出力さ
せるべく入力モードに切り替える指示をS14により行
う。セレクタ11のデータ入力準備が完了した後、外部
アクセス監視回路12は入力有効信号S62をイネーブ
ルすなわちLowにし、信号線S5上のデータを信号S
4上に出力させてセレクタを介し集積回路1内に取り込
む。
て使用できるピンを外部デバイスに対する出力ピンに限
定することなく、双方向ピンでも可能になるため、内部
信号を観測するために必要な兼用ピンの制限を緩和する
ことができる。
リードしたデータをセレクタを介して集積回路内部に取
り込むように記述したが、もちろんセレクタとは別の回
路を介して読み込んでもよい。また、出力制御機能付バ
ッファに応じて出力有効信号S61および入力有効信号
S62の極性は逆であってもよい。
施形態に係る内部信号観測回路のブロック図である。図
6において外部アクセスタイミング記憶部13および外
部アクセス監視回路12以外は実施の形態1と同じ物で
あるから詳細な説明は割愛する。
施形態における動作を説明する。まず外部アクセスタイ
ミング記憶部13に外部デバイス2に関して外部デバイ
スアクセス信号を出力したりあるいは外部デバイス2が
出力する信号を受け取るのに適切なタイミング情報を設
定する。外部デバイスアクセス信号がデータ信号であり
兼用信号線S4は外部デバイス2のデータ信号用端子に
接続されている場合を例にとって説明すると、図7
(A)の外部デバイスへのデータライト時において、兼
用信号線S4上に外部デバイス2に書き込むためのデー
タが集積回路1から出力されるが、そのデータが兼用信
号線S4上に存在していなければならない期間は外部デ
バイス2にとってXWE信号の立ち上がり点Pに対して
セットアップ時間Ts、ホールド時間Thであったとす
る。この場合点PよりTs以前の期間は外部デバイス2
にとってデータが不要な期間であり、その不要な期間に
兼用信号線S4に内部信号を出力してもよい。次に図7
(B)のリード時であるが、この場合は外部デバイスが
点Rよりデータを兼用信号線S4上に出力してくるため
点R以降集積回路1がデータを取り込んだ後XREを立
ち上げてやればよいが、集積回路1からの内部信号の出
力と外部デバイス2からのリードデータ出力とが衝突し
ないよう、点Rより以前の点Qで内部信号の出力は停止
しておかなければならない。これらのタイミング上の制
約をアクセスタイミング記憶部13に設定しておけば、
外部アクセス監視回路12は内部信号を出力する期間な
らびに兼用ピン5の入出力方向を判定し、信号S14に
よりセレクタ11を制御する。
な外部回路を設けることなく外部デバイス2に対して正
常にアクセスしながら、兼用信号線S4上の信号におけ
る外部デバイス2にとって不要な期間を内部信号の出力
に使用することができるためセットとして通常の動作を
させながら内部信号観測が可能となる。
のデータ端子を使用する場合について説明したがもちろ
ん信号が必要な期間が限定される他の端子であってもよ
い。
それぞれの外部デバイスに対応したアクセスタイミング
情報を外部アクセスタイミング記憶部に設定すればよ
い。
部デバイスになんら影響を与えることなく内部信号観測
が可能となる。
アクセス中でもアクセス中の一部の期間に限って内部信
号を観測可能となる。
に対し出力となる信号のみならず、双方向の信号となる
ものであっても内部信号出力ピンとの兼用ピンにするこ
とができる。
特別な回路を設けずとも、内部信号の観測が可能とな
る。
外部デバイスへの通常動作通りのアクセスと、内部信号
の観測を同時に実現することができる。
のブロック図
のブロック図
セス中の信号状態を示すタイミング図
のブロック図
セス中の信号状態を示すタイミング図
のブロック図
セス中の信号状態を示すタイミング図
Claims (5)
- 【請求項1】外部デバイスへの制御信号を監視し、外部
デバイスへのアクセス発生の有無を示す信号を出力する
外部アクセス監視回路と、前記信号により外部デバイス
へのアクセス信号と観測したい内部信号とを切り替え、
兼用ピンから選択された信号を出力するセレクタとを有
する集積回路と、前記兼用ピンには外部デバイスと、内
部信号を観測する内部信号観測装置を接続するためのコ
ネクタが接続されることを特徴とする内部信号観測回
路。 - 【請求項2】外部アクセス監視回路がラッチ信号を出力
し、ラッチ回路が前記ラッチ信号により一定期間外部デ
バイスへ与えるべき信号を保持することを特徴とする請
求項1記載の内部信号観測回路。 - 【請求項3】請求項2のラッチ回路の出力ピンに接続さ
れ、外部デバイスに対する信号の出力を制御する出力制
御機能付出力バッファと、外部デバイスから集積回路に
対する信号を制御する出力制御機能付出力バッファとを
有し、外部アクセス監視回路が前記出力機能付出力バッ
ファの出力を制御する信号を出力することを特徴とする
請求項1記載の内部信号観測回路。 - 【請求項4】外部デバイスのアクセスタイミングを設定
する外部デバイスアクセスタイミング記憶部からの情報
により、外部デバイスにとって信号が無効な期間を判別
し、前記期間のみ内部信号を兼用信号線上に出力する期
間を指示する信号をセレクタに出力する外部アクセス監
視回路を有することを特徴とする請求項1記載の内部信
号観測回路。 - 【請求項5】内部信号が集積回路外部で観測可能な任意
の周波数に同期してシリアルで出力されることを特徴と
する内部信号観測装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP32783498A JP3975587B2 (ja) | 1998-11-18 | 1998-11-18 | 内部信号観測回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP32783498A JP3975587B2 (ja) | 1998-11-18 | 1998-11-18 | 内部信号観測回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000147068A true JP2000147068A (ja) | 2000-05-26 |
JP3975587B2 JP3975587B2 (ja) | 2007-09-12 |
Family
ID=18203512
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP32783498A Expired - Fee Related JP3975587B2 (ja) | 1998-11-18 | 1998-11-18 | 内部信号観測回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3975587B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6833723B2 (en) | 2001-02-13 | 2004-12-21 | Renesas Technology Corp. | Semiconductor device with phase comparator comparing phases between internal signal and external signal |
-
1998
- 1998-11-18 JP JP32783498A patent/JP3975587B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6833723B2 (en) | 2001-02-13 | 2004-12-21 | Renesas Technology Corp. | Semiconductor device with phase comparator comparing phases between internal signal and external signal |
US7023198B2 (en) | 2001-02-13 | 2006-04-04 | Renesas Technology Corp. | Semiconductor device and method of inspecting the same |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3975587B2 (ja) | 2007-09-12 |
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