JP2000147001A - インサーキットテスターフィクスチャ試験治具 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】被試験プリント板を試験する前にインサーキッ
トテスターフィクスチャの不具合を瞬時に検出できるイ
ンサーキットテスターフィクスチャ試験治具を提供する
ことにある。 【解決手段】本発明のインサーキットテスターフィクス
チャ不具合検出方法は、被試験プリント板をインサーキ
ットテスターにて試験する前に被試験プリント板の代わ
りにインサーキットテスターフィクスチャ試験治具をセ
ットしフィクスチャの不具合をインサーキットテスター
で検出する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、プリント板の機能
試験に関し特にインサーキットテスターと被試験プリン
ト板間に位置するインサーキットテスターフィクスチャ
の不具合検出方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】一般にプリント板は部品のはんだ付け作
業完了後、インサーキットテスターにてはんだ付け不良
・部品誤実装・配線断線の機能試験を行っている。機能
試験に必要とするインサーキットテスターフィクスチャ
の不具合を検出する専用治具は存在しない。不具合と
は、ピンベットに挿入されているプローブピン先端の摩
耗，塵埃付着曲がり，ピンベットとインタフェイスボー
ド間の配線断線等が上げられる。

【０００３】被試験プリント板をインサーキットテスタ
ーにて試験した後これらの不具合があると被試験プリン
ト板又はインサーキットテスターフィクスチャのどちら
に不具合があるのかわからずトラブルシューティングに
多大の時間を要している。

【０００４】但し、被試験プリント板の試験前にプロー
ブピンの大きな曲がりを目視チェックをすることは行っ
ているが、それ以外の不具合はトラブルシューティング
後でなければフィクスチャに不具合箇所があるのかどう
かわからない。被試験プリント板の試験が合格であれば
インサーキットテスターフィクスチャに不具合はないと
判断している。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかし、被試験プリン
ト板をインサーキットテスターにて試験する前にフィク
スチャに不具合があった場合、試験後のトラブルシュー
ティングに多大の時間を要してしまうため試験前にフィ
クスチャの良否を判断する必要がある。

【０００６】本発明の目的は、被試験プリント板を試験
する前フィクスチャの良否を判断する試験治具を提供す
ることにある。

【０００７】

【課題を解決するための手段】本発明のインサーキット
テスターフィクスチャ試験治具は、被試験プリント板試
験前にフィクスチャ全体の導通試験ができる。導通して
いればプローブピンが接触しており、かつ配線部にも問
題ないと判断でき、非導通であればインサーキットテス
ターにて非導通箇所が瞬時にわかる。

【０００８】

【発明の実施の形態】以下、発明の実施例を図面を用い
て説明する。

【０００９】図１は被試験プリント板１からインサーキ
ットテスター本体７までの全体図を表わしている。

【００１０】インサーキットテスター本体７からフィク
スチャ３を介し試験データを試験プリント板１に伝達し
実装されている電子部品２等のはんだ付け不良，部品誤
実装及び配線の断線試験を行っている。

【００１１】フィクスチャ３はピンベット５に固定され
ているプローブピン４とインターフェイスボードに固定
されているプローブピン１５をフィクスチャ内配線８に
て接続されておりインサーキットテスター本体７からの
試験データを被試験プリント板１に伝達している。

【００１２】図２はフィクスチャ内配線８の断線がある
ため配線無しフィクスチャ９が存在しておりフィクスチ
ャ内配線８の変わりにプローブピン１０にてピンベット
５とインターフェイスボード９が接続されておりインサ
ーキットテスター本体７からの試験データを被試験プリ
ント板１に伝達している。

【００１３】図３はインサーキットテスターフィクスチ
ャ試験治具の構成を説明する。

【００１４】プローブピンＡ１７，プローブピンＢ１
８，プローブピンＣ１９が被試験プリント板に接触する
パッドと同形のパッドインサーキットテスターフィクス
チャ試験治具下面を持つ。上面，下面を銅２０にて接続
する。

【００１５】インサーキットテスターフィクスチャ試験
治具上面は全体を銅板になっており全てのプローブピン
がフィクスチャ下面パッドに接触すると同電位となる。

【００１６】図４は、インサーキットテスターフィクス
チャ試験治具下面テストパッド位置を示す。インサーキ
ットテスターフィクスチャ試験治具下面テストパッド位
置２１はピンベット５の穴位置と対象になっておりプロ
ーブピン先端がテストパッドに接触する位置となる。

【００１７】図５は、本発明の関係する全体図を表わし
ている。

【００１８】フィクスチャは、被試験プリント板１を試
験時に被試験プリント板とフィクスチャ間を真空状態に
するため試験を繰り返す毎に圧がかかり以下の不具合が
発生する。

【００１９】（１).ピンベット固定ブローブピン上先端
部１４の摩耗・塵埃付着・曲がり （２).ピンベット５とインターフェイスボード間の配線
断線 被試験プリント板を試験する前にインサーキットテスタ
ーフィクスチャの良否判断が必要となる。

【００２０】インサーキットテスターフィクスチャの試
験治具を使用したときの電気信号の流れを順に説明す
る。

【００２１】（１).インサーキットテスター本体７に付
随するインサーキット信号入出力部１６からインターフ
ェイス固定プローブピン下先端部１５へ伝達。

【００２２】（２).インターフェイスボード固定プロー
ブピン上先端部とピンベット固定プローブピン下先端部
を配線接続にて伝達。

【００２３】（３).ピンベット固定プローブピン上先端
部１４とインサーキットテスターフィクスチャ試験治具
下面テストパッド１３へ伝達。

【００２４】（４).インサーキットテスターフィクスチ
ャ試験治具下面テストパッド１３から銅２０を介し上面
銅板を経由し以下（１）から（４）の逆の順に電気信号
がインサーキットテスター本体７に伝達する。

【００２５】インサーキットテスターフィクスチャ試験
治具にてフィクスチャの不具合箇所を検出できる。

【００２６】

【発明の効果】本発明の方法により被試験プリント板を
試験する前にインサーキットテスターフィクスチャの不
具合箇所が瞬時に検出できる。被試験プリント板をイン
サーキットテスターにて試験した後に不具合があると被
試験プリント板又はインサーキットテスターフィクスチ
ャのどちらに不具合があるのかわからずトラブルシュー
ティングに多大の時間を省くことが可能であり効率の良
いプリント板の試験ができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】被試験プリント板からインサーキットテスター
本体までの全体図である。

【図２】被試験プリント板からインサーキットテスター
本体までの全体図である（インサーキットテスターフィ
クスチャ配線無し）。

【図３】インサーキットテスターフィクスチャ試験治具
側面図である。

【図４】ピンベット穴位置とインサーキットテスターフ
ィクスチャ試験治具下面テストパッドの位置が対象にな
っていることを示す図である。

【図５】インサーキットテスターフィクスチャ試験治具
からインサーキットテスター本体までの全体図である。

【符号の説明】

１…被試験プリント板、２…電子部品、３…配線有りフ
ィクスチャ、４…ピンベット固定プローブピン、５…ピ
ンベット、６…インターフェイスボード、７…インサー
キットテスター本体、８…フィクスチャ内配線、９…配
線無しフィクスチャ、１０…プローブピン、１１…イン
サーキットテスターフィクスチャ、１２…銅板、１３…
インサーキットテスターフィクスチャ試験治具下面テス
トパッド、１４…ピンベット固定プローブピン上先端
部、１５…インターフェイス固定プローブピン下先端
部、１６…インサーキットテスター信号入出力部、１７
…プローブピンＡ、１８…プローブピンＢ、１９…プロ
ーブピンＣ、２０…銅、２１…インサーキットテスター
フィクスチャ試験治具下面テストパット位置。

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】インサーキットテスターフィクスチャ試験
   治具の上面の全面に銅板を貼り、全てのプローブピンが
   下面テストパッドに接触すれば同電位となる構造を持つ
   ことを特徴とするインサーキットテスターフィクスチャ
   試験治具。
2. 【請求項２】インサーキットテスターフィクスチャ試験
   治具の上面，下面間は銅で接続されており上面，下面間
   の導通をとることを特徴とするインサーキットテスター
   フィクスチャ試験治具。
3. 【請求項３】インサーキットテスターフィクスチャ試験
   治具下面のテストパッド位置はピンベットのプローブピ
   ン位置と対象的な位置にあることを特徴とするインサー
   キットテスターフィクスチャ試験治具。