JP2000133822A - Optical semiconductor device - Google Patents

Optical semiconductor device

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JP2000133822A
JP2000133822A JP10305818A JP30581898A JP2000133822A JP 2000133822 A JP2000133822 A JP 2000133822A JP 10305818 A JP10305818 A JP 10305818A JP 30581898 A JP30581898 A JP 30581898A JP 2000133822 A JP2000133822 A JP 2000133822A
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JP
Japan
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light
semiconductor device
optical semiconductor
emitting element
light emitting
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JP10305818A
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Japanese (ja)
Inventor
Hideo Kunii
秀雄 国井
Kiyoshi Takada
清 高田
Akira Ochiai
公 落合
Hiroshi Inoguchi
浩 井野口
Tsutomu Ishikawa
勉 石川
Satoshi Sekiguchi
智 関口
Hiroshi Kobori
浩 小堀
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Sanyo Electric Co Ltd
Original Assignee
Sanyo Electric Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To enable miniaturization of a module or a set including a light- emitting element and a light-receiving element by making external forms of the elements as thin as possible. SOLUTION: Semiconductor chips 21, 22 are a light-emitting element and a light-receiving element. A resin sealing body 24 sealing the elements is composed of optically transparent material. On a region where a light is outputted from the element and a region where a light enters the element, a recessed part 25 is formed, on which a reflecting surface 26 is constituted. As a result, exiting and incidence of a light are made possible via a side surface E. A wide sensitivity region can be obtained due to the form of the side surface.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、光半導体装置およ
びこれを実装した光半導体モジュールに関するもので、
特に光半導体装置の構造を薄くし、この薄い側面から光
を射出(または入射)させるものであり、これらを用い
た機器の小型化・薄型化を実現するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical semiconductor device and an optical semiconductor module mounting the same.
In particular, the structure of the optical semiconductor device is made thinner, and light is emitted (or made incident) from the thinner side surface, thereby realizing miniaturization and thinning of a device using the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】最近、サブノートパソコン、携帯情報端
末、電子スチルカメラ等のマルチメディア機器がめざま
しい発展を遂げている。
2. Description of the Related Art Recently, multimedia equipment such as a sub-notebook personal computer, a portable information terminal, and an electronic still camera has been remarkably developed.

【0003】しかも携帯機器は、年間700万台も販売
され、約8割がIrDA(InfraredData Association)規
格の赤外線方式を採用している。つまり外部機器と本体
との赤外線信号を介した送受信が必要で、そこには、赤
外線を発光する発光素子、赤外線を受光する受光素子が
必要となってくる。
[0003] Moreover, 7 million portable devices are sold annually, and about 80% adopt the infrared system of the IrDA (InfraredData Association) standard. That is, transmission / reception between the external device and the main body via an infrared signal is required, and a light emitting element that emits infrared light and a light receiving element that receives infrared light are required.

【0004】またMDやCD等の光学式記録再生装置で
用いられる光学ヘッドは、光学記録媒体へビームを照射
して光学記録媒体からの変調されたビームを検出するこ
とにより、情報の記録や再生を行う。やはりここでも発
光素子、受光素子が必要となってくる。
An optical head used in an optical recording / reproducing apparatus such as an MD or a CD irradiates a beam onto an optical recording medium to detect a modulated beam from the optical recording medium, thereby recording and reproducing information. I do. Also here, a light emitting element and a light receiving element are required.

【0005】しかしこれら発光素子、受光素子は、小型
化が実現されていない。例えば、図9は、特公平7−2
8085号公報の技術を説明するもので、半導体レーザ
1が半導体基板2に直接配置され、断面形状が台形のプ
リズム3が半導体基板2に固定されている。なお4は、
光学記録媒体である。半導体レーザ1と対向しているプ
リズム3の傾斜面5は半透過反射面で、半導体基板2と
対接しているプリズム面6は、光検出器(受光素子)7
以外の部分が、また面6と対向しているプリズム面8
は、共に反射面となっている。
However, these light emitting elements and light receiving elements have not been reduced in size. For example, FIG.
The technique described in Japanese Patent Application Publication No. 8085 is described in which a semiconductor laser 1 is directly disposed on a semiconductor substrate 2 and a prism 3 having a trapezoidal cross section is fixed to the semiconductor substrate 2. 4
An optical recording medium. The inclined surface 5 of the prism 3 facing the semiconductor laser 1 is a transflective surface, and the prism surface 6 facing the semiconductor substrate 2 is a photodetector (light receiving element) 7.
The prism surface 8 whose other parts are opposite to the surface 6
Are both reflective surfaces.

【0006】半導体レーザ1から発光され、傾斜面5か
らプリズム3に入射したビーム9は、反射面6と8で反
射されてから、光検出器7で検出される。
A beam 9 emitted from the semiconductor laser 1 and incident on the prism 3 from the inclined surface 5 is reflected by the reflecting surfaces 6 and 8 and detected by the photodetector 7.

【0007】一方、図10は、赤外線データ通信モジュ
ール11で、赤外線LED、LEDドライバ、PINフ
ォトダイオード、アンプ等が内蔵されている。例えば基
板に前記LED12が実装され、ここから射出される光
は、レンズ13を介して外部へ放出される。また前記基
板に実装されたフォトダイオード14には、レンズ15
を介してモールド11内に入射される。
FIG. 10 shows an infrared data communication module 11, which includes an infrared LED, an LED driver, a PIN photodiode, an amplifier, and the like. For example, the LED 12 is mounted on a substrate, and light emitted from the LED 12 is emitted to the outside via the lens 13. The photodiode 14 mounted on the substrate has a lens 15
And enters the mold 11.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】前述のモジュールに於
いて、図9では半導体基板の上方に光学機器が実装され
るため、非常に高度な技術が必要となり、価格も高価と
なる問題があった。
In the above-mentioned module, in FIG. 9, since an optical device is mounted above the semiconductor substrate, there is a problem that a very advanced technique is required and the price is high. .

【0009】また図10では、モールド体の上で光の出
し入れが必要となり、対向位置にもう一つの光半導体装
置をセットする必要があるため、これらを組み込んだセ
ットは、厚みを有し小型化が実現できない問題があっ
た。
In FIG. 10, light needs to be put in and out of the mold body, and it is necessary to set another optical semiconductor device at the opposing position. There was a problem that could not be realized.

【0010】また図10で光の出し入れを水平方向にし
ようとすれば、図11のように光半導体装置11のリー
ド16を90度に折り曲げなければ成らず、リード11
の曲げ方によってはこの光半導体装置11の位置固定、
安定性に問題があった。
In FIG. 10, if light is to be taken in and out in the horizontal direction, the lead 16 of the optical semiconductor device 11 must be bent at 90 degrees as shown in FIG.
Depending on how the optical semiconductor device 11 is bent,
There was a problem with stability.

【0011】また、従来の光半導体装置は半導体基板に
対して垂直方向のみにしか光の授受ができなかった。
Further, the conventional optical semiconductor device can transmit and receive light only in a direction perpendicular to the semiconductor substrate.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】本発明は前述の課題に鑑
みて成され、受光素子もしくは/及び発光素子を有する
半導体チップを封止する、少なくとも所定波長の光に対
して透明な封止体とを有し、前記封止体は、前記半導体
チップの上方に、反射面が形成された凹部を有する円筒
部を有し、光の光路は、前記円筒部に入射、もしくは前
記円筒部から発射し、前記封止体内を通過し、前記反射
面で反射される光半導体装置である。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-mentioned problems, and has an object to seal a semiconductor chip having a light receiving element and / or a light emitting element, which is transparent to at least light having a predetermined wavelength. The sealing body has a cylindrical portion having a concave portion with a reflection surface formed above the semiconductor chip, and an optical path of light is incident on the cylindrical portion or emitted from the cylindrical portion. And an optical semiconductor device that passes through the sealing body and is reflected by the reflection surface.

【0013】また、円筒部の側面は、鏡面処理が成され
ていることを特徴とする光半導体装置である。
[0013] Further, the optical semiconductor device is characterized in that the side surface of the cylindrical portion is mirror-finished.

【0014】また、封止体の円筒部ではない部分に、受
光素子もしくは/及び発光素子を駆動する駆動回路が封
止され、駆動回路に接続されるリードを有し、このリー
ドは受光素子もしくは/及び発光素子とは、駆動回路を
隔てて形成されていることを特徴とする光半導体装置で
ある。
A drive circuit for driving the light-receiving element and / or the light-emitting element is sealed in a portion other than the cylindrical portion of the sealing body, and has a lead connected to the drive circuit. And / or the light emitting element is an optical semiconductor device characterized by being formed with a drive circuit interposed therebetween.

【0015】また、駆動回路は、受光素子もしくは/及
び発光素子と同心円状に形成され、駆動回路に接続され
るリードを有し、このリードは円筒部より放射状に形成
されていることを特徴とする光半導体装置である。
Further, the drive circuit is formed concentrically with the light receiving element and / or the light emitting element and has a lead connected to the drive circuit, and the lead is formed radially from the cylindrical portion. Optical semiconductor device.

【0016】また、駆動回路は、前記受光素子もしくは
/及び発光素子と同心円状に形成され、駆動回路に接続
される電極を有し、この電極は光半導体装置の下面に形
成されていることを特徴とする光半導体装置である。
Further, the drive circuit has an electrode formed concentrically with the light receiving element and / or the light emitting element and connected to the drive circuit, and this electrode is formed on the lower surface of the optical semiconductor device. It is an optical semiconductor device characterized by the following.

【0017】また、円筒部に、所定の曲率を有する曲面
が形成されていることを特徴とする光半導体装置であ
る。
Further, the optical semiconductor device is characterized in that a curved surface having a predetermined curvature is formed in the cylindrical portion.

【0018】また、凹部には、前記封止体と屈折率の異
なる上面レンズが形成され、上面レンズの上方から入射
する光も前記受光面に入射する、もしくは前記発光素子
より発射された光の一部は前記上面レンズより発射され
ることを特徴とする光半導体装置である。
An upper lens having a refractive index different from that of the sealing body is formed in the concave portion. Light incident from above the upper lens is also incident on the light receiving surface, or light emitted from the light emitting element is emitted from the light receiving element. A part is an optical semiconductor device which is emitted from the upper lens.

【0019】また、凹部は、実質水平面である底面を有
することを特徴とする光半導体装置である。
Further, the optical semiconductor device is characterized in that the recess has a bottom surface which is a substantially horizontal plane.

【0020】[0020]

【発明の実施の形態】以下、本発明の第1の実施形態に
ついて、図1を参照しながら説明する。図1(a)は、
光半導体装置の平面図、図1(b)は、前記平面図のA
−A線に於ける断面図、図1(c)は、前記平面図のB
−B線に於ける断面図である。図1(d)は、本実施形
態の光半導体装置の形状を理解するための斜視図であ
る。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, a first embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 1 (a)
FIG. 1B is a plan view of the optical semiconductor device, and FIG.
FIG. 1 (c) is a cross-sectional view taken along line A of FIG.
It is sectional drawing in the -B line. FIG. 1D is a perspective view for understanding the shape of the optical semiconductor device of the present embodiment.

【0021】21と22は半導体チップである。半導体
チップ21には、フォトダイオードなどの受光素子であ
って、半導体チップ22は半導体チップ21の駆動回路
である。半導体チップ21は、例えば赤外LEDの発光
素子であってもよく、また、受光素子と発光素子が両方
形成されていても良い。以下では、受光素子として説明
を行うが、発光素子であっても全く同様である。さら
に、受光素子21とその駆動回路22は一体で形成され
ていてももちろん良い。
Reference numerals 21 and 22 are semiconductor chips. The semiconductor chip 21 is a light receiving element such as a photodiode, and the semiconductor chip 22 is a drive circuit of the semiconductor chip 21. The semiconductor chip 21 may be, for example, a light emitting element of an infrared LED, or both a light receiving element and a light emitting element may be formed. Hereinafter, the light receiving element will be described, but the same applies to a light emitting element. Further, the light receiving element 21 and its driving circuit 22 may of course be formed integrally.

【0022】23はリードである。リード23は、例え
ばCuよりなり、半導体チップ21もしくは22の所定
領域に設けられた図示しないボンディングパッドと、図
示しない金属細線または半田などによって結線されてい
る。
Reference numeral 23 is a lead. The lead 23 is made of, for example, Cu, and is connected to a bonding pad (not shown) provided in a predetermined region of the semiconductor chip 21 or 22 by a thin metal wire or solder (not shown).

【0023】半導体チップ21、22と、リード23の
一端は、封止体24によって封止されている。ここで封
止材としては、例えば透明なエポキシ樹脂のような、光
に対して透明な物質であればよく、材料は特に選ばな
い。また、LEDでは、一般的に赤外線を用いるので、
この赤外線を透過すればよく、可視光に対して必ずしも
透明である必要はない。つまり、所定の光に対して少な
くとも透明であればよい。そして、この封止体24に
は、反射面26を有する凹部25が形成されている。
The semiconductor chips 21 and 22 and one end of the lead 23 are sealed by a sealing body 24. Here, the sealing material may be any material that is transparent to light, such as a transparent epoxy resin, and the material is not particularly limited. In addition, since LEDs generally use infrared light,
What is necessary is just to transmit this infrared ray, and it is not necessary to be transparent to visible light. That is, it suffices if it is at least transparent to predetermined light. A recess 25 having a reflection surface 26 is formed in the sealing body 24.

【0024】本発明の特徴は、前記反射面26にあり、
この反射面26は封止体24に凹部25を形成すること
で構成され、これにより矢印で示すように封止体24の
側面からの光の入射が可能となる。
A feature of the present invention resides in the reflection surface 26,
The reflection surface 26 is formed by forming a concave portion 25 in the sealing body 24, and thereby light can be incident from the side surface of the sealing body 24 as shown by an arrow.

【0025】一般には、発光部や受光部を構成する半導
体チップは、この上に、プリズムやレンズを構成して半
導体装置となるため、これを使用したモジュールやセッ
トは、セット自身の縦方向の厚みが厚くなり、しかもこ
の上や周辺に光学機器が配置されるため、薄型・小型が
難しかった。しかし封止体の凹部25の一部分である反
射面26により、封止体の側面から光の出し入れが可能
となるため、プリズムは不要である。従って装置自身の
厚みを薄くすることができる。しかも従来の光半導体装
置はレンズの指向している方向のみ(レンズによっては
若干広くはなるが)にしか感度を有しない。
In general, a semiconductor chip constituting a light emitting section and a light receiving section constitutes a semiconductor device by forming a prism and a lens on the semiconductor chip. Therefore, a module or a set using the semiconductor chip is arranged in a vertical direction of the set itself. Since the thickness is increased, and optical devices are arranged on and around this, it is difficult to reduce the thickness and size. However, the reflecting surface 26 which is a part of the concave portion 25 of the sealing body allows light to enter and exit from the side surface of the sealing body, so that a prism is unnecessary. Therefore, the thickness of the device itself can be reduced. Moreover, the conventional optical semiconductor device has sensitivity only in the direction in which the lens is directed (although it is slightly wider depending on the lens).

【0026】これに対し本実施形態の光半導体装置は、
反射面26の形状が、図示するように、凹部25は円錐
をくりぬいた形、すり鉢状になっており、封止体24の
凹部25周辺は、円筒形に高く形成されている円筒部2
7になっている。円筒部27の側面と、反射面26は鏡
面処理がなされ、円筒部27に入射した光は、反射面2
6に反射され、半導体チップ21に入射する。従って、
光半導体装置の水平方向(図1(a)における紙面の方
向)より円筒部27に入射する光は、どの方向から入射
しても半導体チップ21に入射する。
On the other hand, the optical semiconductor device of this embodiment is
As shown in the drawing, the shape of the reflection surface 26 is such that the concave portion 25 is formed by cutting out a cone, and is formed in a mortar shape.
It is 7. The side surface of the cylindrical portion 27 and the reflecting surface 26 are mirror-finished, and light incident on the cylindrical portion 27 is reflected by the reflecting surface 2.
6 and is incident on the semiconductor chip 21. Therefore,
Light incident on the cylindrical portion 27 from the horizontal direction (the direction of the paper surface in FIG. 1A) of the optical semiconductor device is incident on the semiconductor chip 21 from any direction.

【0027】半導体チップ21、22を保持する基板の
厚さは、約125μmで、半導体チップ21、22の厚
みは、例えば250μm〜300μm程度である。また
封止体24は、例えばトランスファーモールドにより成
され、全体の厚みは、約1mm〜1.5mm程度であ
る。当然チップの厚みが薄くなれば、更に薄くできる事
は言うまでもない。ここで凹部25は、半導体チップを
露出することなく、反射面が構成されればよく、例えば
厚みの半分程度、ここでは750μm程度の深さを有
し、少なくとも反射面26を構成する部分は45°に成
っている。円筒部27の高さは、凹部25の深さと同程
度ないしは少し高く形成する。これにより、円筒部27
に水平に入射した光は、反射面26によって反射され、
半導体チップ21に到達する。封止体24の円筒部27
が形成されていない領域は、半導体チップ22が露出し
ない程度に薄く形成する。この場合は、全体の厚みの半
分程度、750μmとした。
The thickness of the substrate holding the semiconductor chips 21 and 22 is about 125 μm, and the thickness of the semiconductor chips 21 and 22 is, for example, about 250 μm to 300 μm. The sealing body 24 is formed by, for example, transfer molding, and has a total thickness of about 1 mm to 1.5 mm. It goes without saying that if the thickness of the chip is reduced, it can be further reduced. Here, the concave portion 25 may have a reflecting surface without exposing the semiconductor chip. For example, the concave portion 25 has a depth of about half of the thickness, here, about 750 μm. °. The height of the cylindrical portion 27 is formed to be approximately the same as or slightly higher than the depth of the concave portion 25. Thereby, the cylindrical portion 27
Is horizontally reflected by the reflecting surface 26,
It reaches the semiconductor chip 21. Cylindrical part 27 of sealing body 24
Is formed so thin that the semiconductor chip 22 is not exposed. In this case, the thickness was about 750 μm, which is about half of the entire thickness.

【0028】反射面26は、界面の両側の空気と透明樹
脂の屈折率の違いにより、反射面となる。しかし全ての
光が反射されるわけではないので、より反射率を高める
ために、反射面に金属被膜を形成しても良い。この被膜
方法としては、半導体技術で使用される蒸着、スパッタ
成膜が考えられ、またその他には、メッキが考えられ
る。ここで注意を要する所は、封止体24に形成された
被膜材料との短絡である。前者の二つの被膜方法では、
リードの周辺や、光が入射する円筒部27側面などに、
マスクを必要とする。また例えば無電解メッキで、溶液
の中に全体をディップする場合は、導出する部分のリー
ド22、その導出部周囲の封止体24の部分に樹脂を塗
り、その後でメッキし、この樹脂を取り除けばよい。ま
たディップ以外では、この溶液を凹部の部分のみに滴下
してメッキさせても良い。金属材料としては、金、A
l、ニッケル等が考えられる。
The reflecting surface 26 becomes a reflecting surface due to the difference in the refractive index between the air on both sides of the interface and the transparent resin. However, not all light is reflected, and a metal film may be formed on the reflection surface to further increase the reflectance. As the coating method, vapor deposition and sputter deposition used in semiconductor technology can be considered, and plating can also be considered. A point to be noted here is a short circuit with the coating material formed on the sealing body 24. In the former two coating methods,
Around the lead, on the side of the cylindrical part 27 where light enters, etc.
Requires a mask. When the whole is dipped in a solution by, for example, electroless plating, a resin is applied to the lead 22 of the lead-out part and the sealing body 24 around the lead-out part, and thereafter, plating is performed to remove the resin. I just need. In addition to the dip method, the solution may be dropped only on the concave portion to perform plating. Gold, A
1, nickel and the like are conceivable.

【0029】また、上述のように、反射面26は、光を
全反射するわけではなく、一部を透過する。このこと
は、逆に言えば、光半導体装置に垂直に入射した光も、
受光素子に入射させることができることを意味する。
As described above, the reflection surface 26 does not totally reflect light but transmits a part of the light. This means that, conversely, light that is vertically incident on the optical semiconductor device,
This means that the light can be incident on the light receiving element.

【0030】リード23は前述のようにCu等の金属で
形成されるため、光を反射する。この反射光による誤動
作を防止するため、リード23は、受光部21や、光が
入射する円筒部27側面からはできるだけ離して設置す
ると良い。例えば、受光部21とは、駆動回路22をは
さみ、その反対側にリード23を設置する。
Since the lead 23 is made of a metal such as Cu as described above, it reflects light. In order to prevent a malfunction due to the reflected light, the lead 23 is preferably installed as far as possible from the light receiving portion 21 and the side surface of the cylindrical portion 27 where light enters. For example, the drive circuit 22 is interposed between the light receiving unit 21 and the lead 23 is provided on the opposite side.

【0031】次に本発明の第2の実施形態について図2
を参照しながら説明する。図2の光半導体装置は、反射
面26の角度が45゜よりも浅く、例えば受光面に対し
て40゜で形成されている点が第1の実施形態と異なっ
ている。反射面26が45゜であった場合、光半導体装
置に水平に入射した光は、反射面26によって、垂直方
向に反射され、反射面26の直下に位置する受光素子が
これを感知する。これに対して、反射面26を浅く形成
することによって、反射面26による反射光は、図中に
矢印で示すように、半導体チップ21の中央部に集光さ
れるので、受光素子をより小さくすることができる。ま
た、一般的に反射面に対して光の入射角が浅くなると、
反射率が上がり、ある一定の角度を境界として全反射と
なる。全反射となっていない時は、入射光の一部は、反
射面26を透過してしまい、受光素子には入射しない。
従って、反射面26の角度を浅く形成することによっ
て、反射面26の反射率をより高くすることができ、光
半導体装置の感度をより高くすることができる。また、
光半導体装置に垂直方向に入射する光に対しては、逆に
反射率が下がるので、より多くの光を透過し、垂直方向
の光に対しても感度を高くすることができる。
Next, a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.
This will be described with reference to FIG. The optical semiconductor device of FIG. 2 differs from the first embodiment in that the angle of the reflecting surface 26 is shallower than 45 °, for example, 40 ° with respect to the light receiving surface. When the reflection surface 26 is at an angle of 45 °, the light horizontally incident on the optical semiconductor device is reflected by the reflection surface 26 in the vertical direction, and the light receiving element located immediately below the reflection surface 26 detects this. On the other hand, by forming the reflecting surface 26 to be shallow, the light reflected by the reflecting surface 26 is condensed at the central portion of the semiconductor chip 21 as shown by the arrow in the drawing, so that the light receiving element is made smaller. can do. In general, when the incident angle of light with respect to the reflecting surface becomes shallow,
The reflectance increases, and total reflection occurs at a certain angle as a boundary. When the light is not totally reflected, part of the incident light passes through the reflection surface 26 and does not enter the light receiving element.
Therefore, by forming the angle of the reflecting surface 26 to be shallow, the reflectance of the reflecting surface 26 can be made higher, and the sensitivity of the optical semiconductor device can be made higher. Also,
Conversely, the reflectance decreases with respect to light that is incident on the optical semiconductor device in the vertical direction, so that more light can be transmitted, and the sensitivity can be increased with respect to light in the vertical direction.

【0032】次に本発明の第3の実施形態について図3
を参照しながら説明する。図3の光半導体装置は、反射
面26を有する凹部25の開口部が方形をしている点が
第1の実施形態と異なっている。凹部25は4つの辺に
沿って反射面26を有している。本実施形態の光半導体
装置は、反射面26の方向、4方向に中心的な感度領域
を持っており、その他の方向には、感度が低い。本実施
形態の光半導体装置は、光半導体装置に入射する光が所
定方向に限定されている場合などに有用である。図は省
略するが、凹部25の形状は、同様に、三角形、台形、
6角形など、感度領域を持たせたい方向によって、様々
に設定できる。これらの光半導体装置は、反射面26の
向いていない方向から入射する不要な光ノイズの受光領
域への入射を防止することができる。また、封止体24
の側面には曲面を設け、レンズとしての機能を追加して
もよく、また、従来の光半導体装置に設置されているよ
うなレンズを設けても良い。
Next, a third embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.
This will be described with reference to FIG. The optical semiconductor device of FIG. 3 differs from the first embodiment in that the opening of the concave portion 25 having the reflection surface 26 is rectangular. The recess 25 has a reflection surface 26 along four sides. The optical semiconductor device of the present embodiment has central sensitivity regions in four directions, that is, in the direction of the reflection surface 26, and has low sensitivity in other directions. The optical semiconductor device of the present embodiment is useful when the light incident on the optical semiconductor device is limited to a predetermined direction. Although illustration is omitted, the shape of the concave portion 25 is similarly triangular, trapezoidal,
Various settings can be made according to the direction in which the sensitivity area is to be provided, such as a hexagon. These optical semiconductor devices can prevent unnecessary optical noise that enters from a direction not facing the reflection surface 26 from entering the light receiving region. In addition, the sealing body 24
A curved surface may be provided on the side surface to add a function as a lens, or a lens provided in a conventional optical semiconductor device may be provided.

【0033】次に本発明の第4の実施形態について図4
を参照しながら説明する。図4の光半導体装置は、受光
部もしくは/及び発光部を有する半導体チップ21の周
囲に同心円状に駆動回路22を形成し、リード23は光
半導体装置の周囲に放射状に配置したものである。もち
ろん半導体チップ21、22は、一体であっても良い。
封止体24は、円筒形であり、光の入射もしくは発射
は、封止体24の側面から放射状に成される。このよう
に形成することにより、光半導体装置がより小型化され
ると共に、全周の光の入射条件がほぼ等しくなるので、
入射方向による光半導体装置の感度のばらつきが少な
い。駆動回路に接続されるリード23は、封止体の外周
から放射状に形成されており、リード23による光の反
射の影響を分散すると共に、光半導体装置の感度のばら
つきを低減している。
Next, a fourth embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.
This will be described with reference to FIG. In the optical semiconductor device of FIG. 4, a drive circuit 22 is formed concentrically around a semiconductor chip 21 having a light receiving portion and / or a light emitting portion, and leads 23 are radially arranged around the optical semiconductor device. Of course, the semiconductor chips 21 and 22 may be integrated.
The sealing body 24 has a cylindrical shape, and light is incident or emitted radially from the side surface of the sealing body 24. By forming in this manner, the size of the optical semiconductor device can be further reduced, and the conditions for incidence of light over the entire circumference are substantially equal.
Variation in sensitivity of the optical semiconductor device depending on the incident direction is small. The leads 23 connected to the drive circuit are formed radially from the outer periphery of the sealing body to disperse the influence of light reflection by the leads 23 and reduce variations in sensitivity of the optical semiconductor device.

【0034】次に本発明の第5の実施形態について図5
を参照しながら説明する。図5の光半導体装置は、CS
P(Chip size package)、例えば、PGA(Pin Grid
Array)や、BGA(Ball Grid Array)、LGA(Land
Grid Array)などの、半導体チップの下面から電極を
取り出すパッケージ方法を用いて形成するものである。
半導体チップ21、22は、第4の実施形態と同様に同
心円状に形成されている。光半導体装置下面には、リー
ド23に代わって電極28が形成され、半導体チップ2
1、22の所定位置に電気的に接続されている。図で
は、BGAを例示して、半球状の電極28を描いたが、
もちろんPGAであれば電極はピン形状であり、LGA
であれば格子状電極となる。図4のように、リード23
を放射状に形成すると、ここにおける光の反射が光半導
体装置の誤動作を引き起こす場合がある。そこで、CS
Pを用いる利点は、リード23を形成するよりも光半導
体装置が小型化できることはもちろんであるが、電極2
8を光半導体装置の下面に形成することによって、光の
反射による誤動作が防止される点にある。図4の光半導
体装置は、光の光路によって、リード23上を通る場合
と、リード23がない所を通る場合とがあり、これによ
って、侵入方向によって、光半導体装置の感度にばらつ
きが生じる恐れがある。これに対しCSPを用いた図5
の光半導体装置は、どのような角度から来た光に対して
も同じ感度を有する。
Next, a fifth embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.
This will be described with reference to FIG. The optical semiconductor device of FIG.
P (Chip size package), for example, PGA (Pin Grid
Array), BGA (Ball Grid Array), LGA (Land
It is formed using a package method such as a grid array that takes out electrodes from the lower surface of the semiconductor chip.
The semiconductor chips 21 and 22 are formed concentrically as in the fourth embodiment. On the lower surface of the optical semiconductor device, an electrode 28 is formed instead of the lead 23, and the semiconductor chip 2
1, 22 are electrically connected to predetermined positions. In the figure, a hemispherical electrode 28 is illustrated by exemplifying a BGA.
Of course, in the case of PGA, the electrodes are pin-shaped, and LGA
Then, it becomes a grid-like electrode. As shown in FIG.
Is radially formed, reflection of light there may cause a malfunction of the optical semiconductor device. So, CS
The advantage of using P is, of course, that the size of the optical semiconductor device can be reduced as compared with the case where the leads 23 are formed.
By forming 8 on the lower surface of the optical semiconductor device, a malfunction due to light reflection is prevented. In the optical semiconductor device of FIG. 4, there are cases where the optical semiconductor device passes over the lead 23 and where the lead 23 does not exist, depending on the optical path of light, whereby the sensitivity of the optical semiconductor device may vary depending on the direction of intrusion. There is. On the other hand, FIG.
Has the same sensitivity to light coming from any angle.

【0035】また、半導体チップ21、22は、図5の
形状に限らず、例えば方形などでももちろん良い。さら
に、図6に示すように、受光部を有する半導体チップ2
1を上にして、駆動回路を有する半導体チップを下に、
立体的に配置してもよい。
The semiconductor chips 21 and 22 are not limited to the shape shown in FIG. 5, but may be, for example, a square. Further, as shown in FIG.
1 with the semiconductor chip with the drive circuit down,
They may be arranged three-dimensionally.

【0036】また、封止体24には、図7に示すよう
に、光路上を曲面に形成し、側部レンズ29とすると、
入射する光が集光され、より受光感度が向上する。側部
レンズ29は、円筒部27の周囲に均等に形成される。
なお、図7は、第5の実施形態に側部レンズ29を形成
した図であるが、側部レンズ29は、もちろん第1乃至
第4の実施形態の光半導体装置の円筒部27の側面にも
形成できる。
As shown in FIG. 7, the sealing body 24 has a curved surface on the optical path and a side lens 29.
The incident light is collected, and the light receiving sensitivity is further improved. The side lenses 29 are uniformly formed around the cylindrical portion 27.
FIG. 7 is a view in which the side lens 29 is formed in the fifth embodiment. The side lens 29 is, of course, provided on the side surface of the cylindrical portion 27 of the optical semiconductor device of the first to fourth embodiments. Can also be formed.

【0037】図8は、さらに上方からの光に対しても感
度を持つ光半導体装置である。前述したように、封止体
24上に設けられた凹部25の反射面26は、封止体内
外の屈折率の違いによって、光を反射するものである。
図8の光半導体装置は、凹部25を封止体24とは異な
る反射率を有する透明物質で充填し、上部レンズ30を
形成している。上部レンズ30は封止体24とは屈折率
が異なるので、側面から入射してきた光は、反射面26
で反射される。反射面26は第2の実施形態で説明した
ように、角度を浅く形成してあるので、側面から入射す
る光は、侵入角度が小さく、反射率が高い。一方、上方
から入射した光は、上面レンズ30によって集光され、
反射面26を透過して半導体チップ21に入射する。上
方から入射した光の一部は、もちろん反射面26によっ
て反射されるが、反射面26は角度を浅くして形成して
あるので、上方から入射した光は、侵入角度が大きく、
反射率は低い。
FIG. 8 shows an optical semiconductor device having sensitivity to light from above. As described above, the reflection surface 26 of the concave portion 25 provided on the sealing body 24 reflects light due to a difference in refractive index inside and outside the sealing body.
In the optical semiconductor device of FIG. 8, the concave portion 25 is filled with a transparent substance having a reflectance different from that of the sealing body 24 to form the upper lens 30. Since the upper lens 30 has a different refractive index from the sealing body 24, the light incident from the side faces
Is reflected by As described in the second embodiment, since the reflection surface 26 is formed to have a small angle, light incident from the side surface has a small penetration angle and a high reflectance. On the other hand, light incident from above is collected by the upper lens 30 and
The light passes through the reflection surface 26 and enters the semiconductor chip 21. Part of the light incident from above is, of course, reflected by the reflection surface 26, but since the reflection surface 26 is formed with a small angle, the light incident from above has a large penetration angle,
The reflectance is low.

【0038】また、反射面26の下端には、凹部の底部
25aが形成されている。凹部25aは実質水平である
ので、上方からの光があまり反射されず、従って、垂直
方向の光に対して、より感度が高い。
At the lower end of the reflection surface 26, a bottom 25a of a concave portion is formed. Since the concave portion 25a is substantially horizontal, light from above is not reflected so much, and therefore, it is more sensitive to light in the vertical direction.

【0039】上部レンズ30及び底部25aは、上記第
1の実施形態乃至第5の実施形態の光半導体装置に形成
してもよく、その場合においても同様の効果を有する。
The upper lens 30 and the bottom 25a may be formed in the optical semiconductor device according to the first to fifth embodiments, and in such a case, the same effect is obtained.

【0040】本発明の光半導体装置の形状は、上記に例
示したものにとらわれず、様々に変形することが可能で
ある。また、それぞれの実施形態に例示した光半導体装
置の特徴を併せ持つ光半導体装置の実施ももちろん可能
である。
The shape of the optical semiconductor device of the present invention is not limited to the above-described examples, but can be variously modified. Further, it is of course possible to implement an optical semiconductor device having the features of the optical semiconductor device exemplified in each embodiment.

【0041】[0041]

【発明の効果】以上に述べたように、本発明は、受光素
子もしくは/及び発光素子を有する半導体チップと、前
記半導体チップを封止する、少なくとも所定波長の光に
対して透明な封止体とを有し、前記封止体は、前記半導
体チップの上方に円筒部を有し、前記封止体の円筒部上
に設けられる凹部と、前記凹部に、前記受光素子の受光
面もしくは前記発光素子の発光面の垂線と所定の角度で
交差する反射面とを有し、前記受光素子に入射する、も
しくは前記発光素子から発射する光の少なくとも一部の
光路は、前記円筒部に入射、もしくは前記円筒部から発
射し、前記封止体内を通過し、前記反射面で反射される
光半導体装置であるので、水平方向より入射する光に対
し、全周にわたって感度を有する、もしくは、光を発射
できる光半導体装置である。
As described above, the present invention provides a semiconductor chip having a light receiving element and / or a light emitting element, and a sealing body for sealing the semiconductor chip, which is transparent to at least light of a predetermined wavelength. The sealing body has a cylindrical portion above the semiconductor chip, a concave portion provided on the cylindrical portion of the sealing body, and the concave portion has a light receiving surface of the light receiving element or the light emitting portion. It has a reflecting surface that intersects a perpendicular line of the light emitting surface of the element at a predetermined angle, and at least a part of the optical path of light incident on the light receiving element or emitted from the light emitting element is incident on the cylindrical portion, or Since the optical semiconductor device is emitted from the cylindrical portion, passes through the sealing body, and is reflected by the reflection surface, the optical semiconductor device has sensitivity over the entire circumference to light incident from the horizontal direction, or emits light. Optical semiconductor equipment It is.

【0042】さらに、請求項2に記載の発明は、円筒部
の側面は、鏡面処理が成されているので、円筒部側面に
おける光の乱反射が少なく、光の損失が少ないので、よ
り高い感度を有する、もしくは、より強い光を発射でき
る。
Furthermore, according to the second aspect of the present invention, since the side surface of the cylindrical portion is mirror-finished, irregular reflection of light on the side surface of the cylindrical portion is small and light loss is small, so that higher sensitivity is achieved. Have or can emit more intense light.

【0043】さらに、請求項3に記載の発明は、封止体
の、円筒部ではない部分に、受光素子もしくは/及び前
記発光素子を駆動する駆動回路が封止され、駆動回路も
しくは、前記受光素子もしくは/及び発光素子に電気的
に接続されるリードは、前記受光素子もしくは/及び発
光素子とは、前記駆動回路を隔てて形成されているの
で、リードにおける光の反射による装置の誤動作もしく
は通信エラーを防止することができる。
Further, according to a third aspect of the present invention, a light receiving element and / or a driving circuit for driving the light emitting element is sealed in a portion other than the cylindrical portion of the sealing body. The lead electrically connected to the element and / or the light emitting element is formed with the drive circuit separated from the light receiving element and / or the light emitting element. Errors can be prevented.

【0044】さらに、請求項4に記載の発明は、受光素
子もしくは/及び発光素子を駆動する駆動回路は、受光
素子もしくは/及び発光素子と同心円状に形成され、駆
動回路もしくは、受光素子もしくは/及び発光素子に電
気的に接続されるリードは、円筒部より放射状に形成さ
れているので、リードにおける光の反射を分散させ、装
置の誤動作もしくは通信エラーを防止することができ
る。
Further, according to a fourth aspect of the present invention, the driving circuit for driving the light receiving element and / or the light emitting element is formed concentrically with the light receiving element and / or the light emitting element. In addition, since the lead electrically connected to the light emitting element is formed radially from the cylindrical portion, reflection of light on the lead can be dispersed, and malfunction or communication error of the device can be prevented.

【0045】さらに、請求項5に記載の発明は、受光素
子もしくは/及び発光素子を駆動する駆動回路は、受光
素子もしくは/及び発光素子と同心円状に形成され、駆
動回路もしくは、前記受光素子もしくは/及び発光素子
に電気的に接続される電極は光半導体装置の下面に形成
されているので、リードにおける光の反射による装置の
誤動作もしくは通信エラーを防止することができる。ま
た、装置の実相面積を縮小することができる。
Further, according to a fifth aspect of the present invention, in the driving circuit for driving the light receiving element and / or the light emitting element, the driving circuit is formed concentrically with the light receiving element and / or the light emitting element. Since the electrode electrically connected to the light emitting element is formed on the lower surface of the optical semiconductor device, malfunction of the device or communication error due to reflection of light on the lead can be prevented. Further, the actual phase area of the device can be reduced.

【0046】さらに、請求項6に記載の発明は、円筒部
の側面で、光路上にある部分に、所定の曲率を有する曲
面が形成されているので、光が集光され、より高い感度
を有する、もしくは、より強い光を発射できる。
Further, in the invention according to claim 6, since a curved surface having a predetermined curvature is formed in a portion on the optical path on the side surface of the cylindrical portion, the light is condensed and higher sensitivity is obtained. Have or can emit more intense light.

【0047】さらに、請求項7に記載の発明は、凹部に
封止体と屈折率の異なる上面レンズが形成され、上面レ
ンズの上方から入射する光も受光面に入射する、もしく
は発光素子より発射された光の一部は上面レンズより発
射されるので、装置上面に対して、より高い感度を有す
る、もしくは、より強い光を発射できる。
Further, according to the present invention, an upper lens having a refractive index different from that of the sealing member is formed in the concave portion, and light incident from above the upper lens also enters the light receiving surface or is emitted from the light emitting element. Since part of the emitted light is emitted from the upper lens, higher sensitivity or stronger light can be emitted to the upper surface of the device.

【0048】さらに、請求項8に記載の発明は、凹部
は、実質水平面である底面を有するので、装置上面に対
して、より高い感度を有する、もしくは、より強い光を
発射できる。
Further, in the invention according to claim 8, since the concave portion has the bottom surface which is a substantially horizontal plane, the concave portion can emit light having higher sensitivity or stronger light to the upper surface of the device.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施の形態である光半導体装置の説明
図である。
FIG. 1 is an explanatory diagram of an optical semiconductor device according to an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の実施の形態である光半導体装置の説明
図である。
FIG. 2 is an explanatory diagram of an optical semiconductor device according to an embodiment of the present invention.

【図3】本発明の実施の形態である光半導体装置の説明
図である。
FIG. 3 is an explanatory diagram of an optical semiconductor device according to an embodiment of the present invention.

【図4】本発明の実施の形態である光半導体装置の説明
図である。
FIG. 4 is an explanatory diagram of an optical semiconductor device according to an embodiment of the present invention.

【図5】本発明の実施の形態である光半導体装置の説明
図である。
FIG. 5 is an explanatory diagram of an optical semiconductor device according to an embodiment of the present invention.

【図6】本発明の実施の形態である光半導体装置の断面
図である。
FIG. 6 is a cross-sectional view of an optical semiconductor device according to an embodiment of the present invention.

【図7】本発明の実施の形態である光半導体装置の説明
図である。
FIG. 7 is an explanatory diagram of an optical semiconductor device according to an embodiment of the present invention.

【図8】本発明の実施の形態である光半導体装置の説明
図である。
FIG. 8 is an explanatory diagram of an optical semiconductor device according to an embodiment of the present invention.

【図9】従来の光半導体装置の説明図である。FIG. 9 is an explanatory diagram of a conventional optical semiconductor device.

【図10】従来の光半導体装置の概略図である。FIG. 10 is a schematic view of a conventional optical semiconductor device.

【図11】従来の光半導体装置をサーキットボードに取
り付けた図である。
FIG. 11 is a diagram in which a conventional optical semiconductor device is mounted on a circuit board.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 落合 公 大阪府守口市京阪本通2丁目5番5号 三 洋電機株式会社内 (72)発明者 井野口 浩 大阪府守口市京阪本通2丁目5番5号 三 洋電機株式会社内 (72)発明者 石川 勉 大阪府守口市京阪本通2丁目5番5号 三 洋電機株式会社内 (72)発明者 関口 智 大阪府守口市京阪本通2丁目5番5号 三 洋電機株式会社内 (72)発明者 小堀 浩 大阪府守口市京阪本通2丁目5番5号 三 洋電機株式会社内 Fターム(参考) 5F041 AA04 AA06 AA14 AA31 AA47 CB32 CB33 DA17 DA44 DA57 DA83 FF14 5F088 AA03 BA01 BA03 BA15 BA20 BB01 CB06 CB07 CB20 EA07 EA09 JA02 JA06 JA20 KA01 KA02 LA01  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing on the front page (72) Koichi Ochiai 2-5-2-5 Keihanhondori, Moriguchi-shi, Osaka Sanyo Electric Co., Ltd. (72) Hiroshi Inoguchi 2-5-2 Keihanhondori, Moriguchi-shi, Osaka No. 5 Sanyo Electric Co., Ltd. (72) Inventor Tsutomu Ishikawa 2-5-5 Keihan Hondori, Moriguchi City, Osaka Prefecture (72) Inventor Satoshi Sekiguchi 2 Keihanhondori, Moriguchi City, Osaka Prefecture 5-5-5 Sanyo Electric Co., Ltd. (72) Inventor Hiroshi Kobori 2-5-5 Keihanhondori, Moriguchi-shi, Osaka F-term in Sanyo Electric Co., Ltd. 5F041 AA04 AA06 AA14 AA31 AA47 CB32 CB33 DA17 DA44 DA57 DA83 FF14 5F088 AA03 BA01 BA03 BA15 BA20 BB01 CB06 CB07 CB20 EA07 EA09 JA02 JA06 JA20 KA01 KA02 LA01

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 受光素子もしくは/及び発光素子を有す
る半導体チップと、前記半導体チップを封止する、少な
くとも所定波長の光に対して透明な封止体とを有し、前
記封止体は、前記半導体チップの上方に円筒部を有し、
前記封止体の円筒部上に設けられる凹部と、前記凹部
に、前記受光素子の受光面もしくは前記発光素子の発光
面の垂線と所定の角度で交差する反射面とを有し、前記
受光素子に入射する、もしくは前記発光素子から発射す
る光の少なくとも一部の光路は、前記円筒部に入射、も
しくは前記円筒部から発射し、前記封止体内を通過し、
前記反射面で反射される光半導体装置。
1. A semiconductor chip having a light-receiving element and / or a light-emitting element, and a sealing body that seals the semiconductor chip and that is transparent to at least light having a predetermined wavelength. Having a cylindrical portion above the semiconductor chip,
A concave portion provided on the cylindrical portion of the sealing body, the concave portion having a reflecting surface intersecting a perpendicular to a light receiving surface of the light receiving element or a light emitting surface of the light emitting element at a predetermined angle; At least, the optical path of at least a part of the light emitted from the light emitting element is incident on the cylindrical portion, or emitted from the cylindrical portion, passes through the sealing body,
An optical semiconductor device reflected by the reflection surface.
【請求項2】 請求項1に記載の光半導体装置であっ
て、前記円筒部の側面は、鏡面処理が成されていること
を特徴とする光半導体装置。
2. The optical semiconductor device according to claim 1, wherein a mirror surface treatment is performed on a side surface of the cylindrical portion.
【請求項3】 請求項1に記載の光半導体装置であっ
て、前記封止体の、前記円筒部ではない部分に、前記受
光素子もしくは/及び前記発光素子を駆動する駆動回路
が封止され、前記駆動回路もしくは、前記受光素子もし
くは/及び発光素子に電気的に接続されるリードを有
し、前記リードは、前記受光素子もしくは/及び発光素
子とは、前記駆動回路を隔てて形成されていることを特
徴とする光半導体装置。
3. The optical semiconductor device according to claim 1, wherein a drive circuit for driving the light receiving element and / or the light emitting element is sealed in a portion of the sealing body other than the cylindrical portion. A lead electrically connected to the driving circuit or the light receiving element and / or the light emitting element, wherein the lead is formed with the driving circuit separated from the light receiving element and / or the light emitting element. An optical semiconductor device, comprising:
【請求項4】 請求項1に記載の光半導体装置であっ
て、前記受光素子もしくは/及び発光素子を駆動する駆
動回路は、前記受光素子もしくは/及び発光素子と同心
円状に形成され、前記駆動回路もしくは、前記受光素子
もしくは/及び発光素子に電気的に接続されるリードを
有し、前記リードは、前記円筒部より放射状に形成され
ていることを特徴とする光半導体装置。
4. The optical semiconductor device according to claim 1, wherein the driving circuit for driving the light receiving element and / or the light emitting element is formed concentrically with the light receiving element and / or the light emitting element. An optical semiconductor device having a circuit or a lead electrically connected to the light receiving element and / or the light emitting element, wherein the lead is formed radially from the cylindrical portion.
【請求項5】 請求項1に記載の光半導体装置であっ
て、前記受光素子もしくは/及び発光素子を駆動する駆
動回路は、前記受光素子もしくは/及び発光素子と同心
円状に形成され、前記駆動回路もしくは、前記受光素子
もしくは/及び発光素子に電気的に接続される電極を有
し、前記電極は光半導体装置の下面に形成されているこ
とを特徴とする光半導体装置。
5. The optical semiconductor device according to claim 1, wherein the driving circuit for driving the light receiving element and / or the light emitting element is formed concentrically with the light receiving element and / or the light emitting element. An optical semiconductor device having an electrode electrically connected to a circuit or the light receiving element and / or the light emitting element, wherein the electrode is formed on a lower surface of the optical semiconductor device.
【請求項6】 請求項1に記載の光半導体装置であっ
て、前記円筒部の側面で、光路上にある部分に、所定の
曲率を有する曲面が形成されていることを特徴とする光
半導体装置。
6. The optical semiconductor device according to claim 1, wherein a curved surface having a predetermined curvature is formed in a portion on an optical path on a side surface of the cylindrical portion. apparatus.
【請求項7】 請求項1に記載の光半導体装置であっ
て、前記凹部には、前記封止体と屈折率の異なる上面レ
ンズが形成され、前記上面レンズの上方から入射する光
も前記受光面に入射する、もしくは前記発光素子より発
射された光の一部は前記上面レンズより発射されること
を特徴とする光半導体装置。
7. The optical semiconductor device according to claim 1, wherein an upper lens having a refractive index different from that of the sealing body is formed in the recess, and the light incident from above the upper lens is also received. An optical semiconductor device, wherein a part of light incident on a surface or emitted from the light emitting element is emitted from the upper lens.
【請求項8】 請求項1に記載の光半導体装置であっ
て、前記凹部は、実質水平面である底面を有することを
特徴とする光半導体装置。
8. The optical semiconductor device according to claim 1, wherein the recess has a bottom surface that is a substantially horizontal plane.
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