JP2000131852A - 被描画体の搬入装置及び描画システム - Google Patents

被描画体の搬入装置及び描画システム

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JP2000131852A
JP2000131852A JP10305623A JP30562398A JP2000131852A JP 2000131852 A JP2000131852 A JP 2000131852A JP 10305623 A JP10305623 A JP 10305623A JP 30562398 A JP30562398 A JP 30562398A JP 2000131852 A JP2000131852 A JP 2000131852A
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drawn
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dimension
dimension data
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JP10305623A
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English (en)
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Shuichi Shimizu
修一 清水
Takashi Okuyama
隆志 奥山
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Pentax Corp
Original Assignee
Asahi Kogaku Kogyo Co Ltd
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70691Handling of masks or workpieces
    • G03F7/70733Handling masks and workpieces, e.g. exchange of workpiece or mask, transport of workpiece or mask
    • G03F7/7075Handling workpieces outside exposure position, e.g. SMIF box

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 描画装置に対する被描画体の搬入前にその被
描画体の寸法データを検出し、誤った寸法の被描画体へ
の描画パターンの描画を未然に防止する。 【解決手段】 搬入装置は感光性の被描画体Pを光ビー
ムで走査させつつ該光ビームを描画データに基づいて変
調させることにより該被描画体に所定のパターンを描画
する描画装置13に対して被描画体を搬入する。搬入装
置は描画装置に搬入すべき被描画体を搭載する搭載手段
80と、その上の被描画体の寸法データを検出する寸法
データ検出手段(134;138A、138B;14
0)と、この寸法データ検出手段によって検出された検
出寸法データを描画装置に送信する検出寸法データ送信
手段と、搭載手段上の被描画体を担持して描画装置に搬
送する搬送手段84とを具備する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は感光性の被描画体を
光ビームで走査させつつ該光ビームを描画データに基づ
いて変調させることにより該被描画体に所定のパターン
を描画する描画装置に対する被描画体の搬入装置に関
し、またそのような描画装置に少なくともかかる搬入装
置を組み合わせた描画システムに関する。
【0002】
【従来の技術】従来、上述したような描画装置は主にフ
ォトリソグラフの手法でプリント回路基板を製造する分
野で使用される。この場合、感光性の被描画体はフォト
レジスト層を持つ基板とされ、描画装置はその基板上の
フォトレジスト層に所定の回路パターンを描画するため
に用いられる。基板上のフォトレジスト層に回路パター
ンが描画された後、その基板は種々の処理を受けた後に
プリント回路基板とされる。
【0003】上述したような描画装置は、元来、多品種
少量生産用として開発されたものであり、このため描画
装置には様々な寸法を持つ基板が被描画体として搬入さ
れ、個々の寸法の基板のそれぞれに対しては、所定のタ
イプの回路パターンが描画される。描画装置への基板の
搬入については描画装置に隣接して設置された搬入装置
によって自動的に行われ、描画装置によって描画すべき
回路パターンのタイプに応じて、基板の寸法による選定
が前もって行われ、それら基板が搬入装置に順次投入さ
れる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところで、基板の寸法
による選定自体は人員によって行われるが、しかしなが
ら例えば描画装置の操作者との情報の行き違いから、誤
った寸法の基板が搬入装置に投入され得る。勿論、その
ような場合には、基板は適正な回路パターンが描画され
ずに不良品とされる。一方、不適正な寸法の基板が描画
装置に搬入された儘で描画作動が行われると、それが描
画作動中にエラーとして認識されることがあり、この場
合には描画装置の運転が停止され、その運転再開には面
倒な作業が伴うことになる。
【0005】また、従来の搬入装置の別の問題点として
は、その搬入装置が被描画体の最大縦寸法に適合するよ
うに構成され、このため最大縦寸法よりも小さな縦寸法
を持つ被描画体を該搬入装置でもって描画装置に搬入し
ようとするとき、搬入装置の一部が描画装置の描画テー
ブル上に被描画体を所定位置にクランプすべく該描画テ
ーブル上に設けられたクランプ部材と干渉して小さな縦
寸法を持つ被描画体の適正な搬入が阻害されるという点
も指摘されている。
【0006】従って、本発明の第1の目的は、上述した
ようなタイプの描画装置に被描画体を搬入する搬入装置
であって、該描画装置に対する被描画体の搬入前にその
被描画体の寸法データを検出し、誤った寸法の被描画体
への描画パターンの描画を未然に防止すべくその検出寸
法データを描画装置に送信するように構成された搬入装
置を実現することである。
【0007】本発明の第2の目的は、上述したようなタ
イプの描画装置と、そこに被描画体を搬入する搬入装置
とから成る描画システムであって、該描画装置に対する
被描画体の搬入前にその被描画体の寸法データを検出
し、その寸法データに基づいて該被描画体の寸法がそこ
へ描画すべき所定の描画パターンの寸法情報に対して適
正か否かを判断し、誤った寸法の被描画体への描画パタ
ーンの描画を未然に防止し得るように構成された描画シ
ステムを実現することである。
【0008】本発明の第3の目的は、上述したようなタ
イプの描画装置と、そこに被描画体を搬入する搬入装置
と、該描画装置から被描画体を搬出する搬出装置とから
成る描画システムであって、該描画装置に対する被描画
体の搬入前にその被描画体の寸法データを検出し、その
寸法データに基づいて該被描画体の寸法がそこへ描画す
べき所定の描画パターンの寸法情報に対して適正か否か
を判断し、誤った寸法の被描画体への描画パターンの描
画を未然に防止し得ると共に誤った寸法の被描画体を回
収し得るように構成された描画システムを実現すること
である。
【0009】本発明の第4の目的は、上述したようなタ
イプの描画装置に被描画体を搬入する搬入装置であっ
て、最大縦寸法から最小縦寸法を持つ被描画体のいずれ
についても該描画装置への適正な搬入を保証し得るよう
に構成された搬入装置を実現することである。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明の第1の目的を達
成するために、本発明の第1の局面によれば、感光性の
被描画体を光ビームで走査させつつ該光ビームを描画デ
ータに基づいて変調させることにより該被描画体に所定
のパターンを描画する描画装置に対して被描画体を搬入
する搬入装置が提供され、この搬入装置は描画装置に搬
入すべき被描画体を搭載する搭載手段と、この搭載手段
上の被描画体の寸法データを検出する寸法データ検出手
段と、この寸法データ検出手段によって検出された検出
寸法データを描画装置に送信する検出寸法データ送信手
段と、該搭載手段上の被描画体を担持して描画装置に搬
送する搬送手段とを具備して成るものである。
【0011】本発明の第1の局面による搬入装置にあっ
ては、寸法データ検出手段は被描画体の二次元寸法デー
タを検出するように構成されてもよく、この場合には、
寸法データ検出手段は被描画体の横幅寸法データを検出
する横幅寸法データ検出器と、被描画体の縦幅寸法デー
タを検出する縦幅寸法データ検出器とを包含する。ま
た、寸法データ検出手段は被描画体の三次元寸法データ
を検出するように構成されてもよく、この場合には寸法
データ検出手段は被描画体の横幅寸法データを検出する
横幅寸法データ検出器と、被描画体の縦幅寸法データを
検出する横幅寸法データ検出器と、該被描画体の厚さデ
ータを検出する厚さデータ検出器とを包含する。
【0012】本発明の第2の目的を達成するために、本
発明の第2の局面によれば、 感光性の被描画体を光ビ
ームで走査させつつ該光ビームを描画データに基づいて
変調させることにより該被描画体に所定のパターンを描
画する描画装置と、この描画装置に被描画体を搬入する
搬入装置とを具備して成る描画システムが提供され、こ
の描画システムにおいては、搬入装置は描画装置に搬入
すべき被描画体を搭載する搭載手段と、この搭載手段上
の被描画体の寸法データを検出する寸法データ検出手段
と、この寸法データ検出手段によって検出された検出寸
法データを描画装置に送信する検出寸法データ送信手段
と、搭載手段上の被描画体を担持して描画装置に搬送す
る搬送手段とを包含し、描画装置は所定のパターンを描
画すべき被描画体の寸法情報データと検出寸法データと
を比較する比較手段と、この比較手段によって寸法情報
データと検出寸法データが一致すると判断された際に描
画作動の実行指令を行う描画作動実行指令手段と、比較
手段によって寸法情報データと検出寸法データが不一致
であると判断された際に描画作動の非実行指令を行う描
画作動非実行指令手段とを包含する。
【0013】本発明の第3の目的を達成するために、本
発明の第3の局面によれば、感光性の被描画体を光ビー
ムで走査させつつ該光ビームを描画データに基づいて変
調させることにより該被描画体に所定のパターンを描画
する描画装置と、この描画装置に被描画体を搬入する搬
入装置と、描画装置に搬入された被描画体を該描画装置
から搬出する搬出装置とを具備して成る描画システムが
提供され、この描画システムにおいては、搬入装置は描
画装置に搬入すべき被描画体を搭載する搭載手段と、こ
の搭載手段上の被描画体の寸法データを検出する寸法デ
ータ検出手段と、この寸法データ検出手段によって検出
された検出寸法データを描画装置に送信する検出寸法デ
ータ送信手段と、搭載手段上の被描画体を担持して描画
装置に搬送する搬送手段とを包含し、描画装置は所定の
パターンを描画すべき被描画体の寸法情報データと検出
寸法データとを比較する比較手段と、この比較手段によ
って寸法情報データと検出寸法データが一致すると判断
された際に描画作動の実行指令を行う描画作動実行指令
手段と、比較手段によって寸法情報データと検出寸法デ
ータが不一致であると判断された際に描画作動の非実行
指令を行う描画作動非実行指令手段とを包含し、搬出装
置は描画装置から被描画体を担持して該描画装置の外部
に搬送する搬送手段と、描画装置の描画作動実行指令手
段による描画作動実行時に搬送手段によって搬送された
描画後の被描画体を受け入れる受入れ手段と、描画装置
の描画作動非実行指令手段による描画作動非実行時に搬
送手段によって搬送された被描画を回収する回収手段と
を包含する。
【0014】本発明の第2及び第3の局面にあっては、
描画装置は更に寸法情報データを搬入装置に送信する寸
法情報データ送信手段を包含してもよく、この場合に
は、搬入装置が被描画体を描画装置まで搬送した後に寸
法情報データに基づいて該被描画体が描画装置に対して
所定位置に位置決めされる。
【0015】本発明の第4の目的を達成するために、本
発明の第4の局面によれば、感光性の被描画体を光ビー
ムで走査させつつ該光ビームを描画データに基づいて変
調させることにより該被描画体に所定のパターンを描画
する描画装置に対して被描画体を搬入する搬入装置が提
供され、この搬入装置は描画装置に搬入すべき被描画体
を搭載する搭載手段と、この搭載手段上の被描画体の縦
寸法データを検出するための縦寸法データ検出手段と、
該搭載手段上の被描画体を担持して描画装置に搬送する
搬送手段とを具備する。搬送手段は搭載手段上に被描画
体の縦方向に沿って配置された複数の吸引パッドを備
え、これら吸引パッドによって搭載手段上の被描画体を
担持する際、その担持については、常に、吸引パッドの
うちの縦方向に沿う一方の最端側に位置する吸引パッド
が該被描画体の縦方向の一方の端縁側に接近して位置す
るように行われ、また吸引パッドのうちの縦方向に沿う
他方の最端側に位置する少なくとも1つの吸引パッドに
ついては退避自在とされる。本発明の第4の局面による
搬入装置は、更に、吸引パッドによって搭載手段上の被
描画体を担持する際に縦寸法データ検出手段によって検
出された縦寸法データに基づいて退避自在の吸引パッド
が必要とされるか否かを判別する判別手段と、この判別
手段によって退避自在の吸引パッドが必要とされないと
判断された際に該退避自在の吸引パッドを退避位置に退
避させる退避手段とを具備する。
【0016】
【発明の実施の形態】次に、添付図面を参照して、本発
明による搬入装置及び描画システムの実施形態について
説明する。
【0017】先ず、図1及び図2を参照すると、本発明
による描画システムの全体が概略的に図示され、図1に
は描画システムが立面図として示され、また図2には描
画システムが平面図として示される。描画システムに
は、3つのステーション、即ち描画ステーション10
と、その右側に位置する搬入ステーション11と、描画
ステーション10に左側に位置する搬出ステーション1
2とが含まれる。これらステーション10、11及び1
2は参照符号Fで全体的に示すフレーム構造内に区画さ
れ、後で詳しく説明するように、搬入ステーション11
から被描画体が描画ステーション10に搬入され、そこ
で被描画体に所定のパターンが描画された後に搬出ステ
ーション12に搬出される。なお、図1では、図示の簡
略化のために、描画ステーション10から描画装置13
が省かれている。
【0018】描画ステーション10には、図2に概略的
に示すような描画装置13が設置され、この描画装置1
3の詳細な構成については図3に示される。本実施形態
においては、描画装置13はレーザ描画装置として構成
され、プリント回路基板を製造するための基板上のフォ
トレジスト層に回路パターンを直接描画するために用い
られるものである。レーザ描画装置13は描画ステーシ
ョン10の床面上に据え付けられた基台14を具備し、
この基台14の上面には一対のレール15が平行に設置
される。一対のレール15上にはXテーブル16が搭載
され、このXテーブル16にはボール螺子17が一対の
レール15に沿って組み込まれる。ボール螺子17は図
3では図示されない適当な駆動モータ例えばサーボモー
タあるいはステッピングモータ等で回転駆動させられ、
これによりXテーブル16は一対のレール15に沿って
移動させられる。
【0019】Xテーブル16上にはθテーブル18を介
して描画テーブル19が設置され、その間には微調整駆
動器20が互いに対向する側辺のそれぞれに2つずつ設
けられ、これにより描画テーブル19の水平面内での回
転位置が微調整されるようになっている。なお、図3で
は、図示の複雑化を避けるために一方の側辺に設けられ
た2つの微調整駆動器20だけが示されている。勿論、
Xテーブル16が一対のレール15に沿って移動させら
れると、描画テーブル19及びθテーブル18もXテー
ブル16と共に一対のレール15に沿って移動させられ
る。
【0020】描画テーブル19上には被描画体即ちフォ
トレジスト層を持つ基板が搬入ステーション11から後
述するような態様で搬入され、その基板は描画テーブル
19上で適当なクランプ手段によって固定され、図3で
は、そのようなクランプ手段の一部を成す一対のクラン
プ部材21及び22が図示されている。なお、一対のク
ランプ部材のうちの一方のクランプ部材22は基板の縦
寸法に応じて描画テーブル19の縦方向(即ち、一対の
レール15の長さ方向)に沿って移動させられる。
【0021】基台14の一方の側にはレーザ光源として
アルゴンレーザ発生器24が設置され、このアルゴンレ
ーザ発生器24から射出されたレーザビーム光LBはビ
ームベンダ26によって上方に偏向される。一方、描画
テーブル19の上方側には、描画装置13の機枠(図示
されない)によって支持された固定テーブル28が配置
され、この固定テーブル28上には種々の光学要素が設
置され、これら光学要素によってレーザビーム光LBは
走査レーザビーム光として描画テーブル19上に導かれ
る。
【0022】固定テーブル28にはビームベンダ30が
設けられ、このビームベンダ30はビームベンダ26か
らのレーザビーム光LBを受け取ってビームスプリッタ
32に向かわせる。レーザビーム光LBはビームスプリ
ッタ32によって2つのレーザビーム光LB1及びLB
2に分割され、一方のレーザビーム光LB1はビームベ
ンダ34及び36を介してビームセパレータ38に向か
わされ、また他方のレーザビーム光LB2はビームベン
ダ40、42及び44を介してビームセパレータ46に
向かわされる。
【0023】ビームセパレータ38はレーザビーム光L
B1を例えば8本の平行レーザビーム光に分割し、同様
にビームセパレータ46はレーザビーム光LB2を8本
の平行レーザビーム光に分割する。ビームセパレータ3
8からの平行レーザビーム光はビームベンダ48及び5
0によって電子シャッタ52に導かれ、またビームセパ
レータ46からの平行レーザビーム光はビームベンダ5
4及び56によって電子シャッタ58に導かれる。
【0024】電子シャッタ52及び58の各々は8つの
音響光学素子及びそれら音響光学素子の駆動回路を含
み、各音響光学素子には8本のレーザビーム光のうちの
該当レーザビーム光がそれぞれ割り当てられる。電子シ
ャッタ52を経た8本のレーザビーム光は光合成器60
に入射させられ、一方電子シャッタ58を経た8本のレ
ーザビーム光もビームベンダ62を介して光合成器60
に入射させられる。光合成器60は例えば偏向ビームス
プリッタとして構成され得るものであり、電子シャッタ
52及び58のそれぞれを経た8本のレーザビーム光は
光合成器即ち偏光ビームスプリッタ60によって16本の
レーザビーム光に纏められる。16本のレーザビーム光は
ビームベンダ64、66及び68を介してポリゴンミラ
ー70に入射させられ、その各回転反射面によって主走
査方向に沿って偏向させられる。
【0025】ポリゴンミラー70の各回転反射面によっ
て主走査方向に沿って偏向させられる16本のレーザビー
ム光は先ずfθレンズ72を通過させられ、次いでター
ニングミラー74によって描画テーブル19側に向かわ
せられた後にコンデンサレンズ76を経て描画テーブル
19上に到達させられる。要するに、描画テーブル19
上に設置された被描画体即ち基板はポリゴンミラー70
の各回転反射面によって主走査方向に偏向させられる16
本のレーザビーム光でもって走査される。
【0026】図3に示すように、描画テーブル19の移
動平面上にはレーザ描画装置13の機枠に対して不動と
なったXY座標系が設定され、このXY座標系のX軸は
副走査方向に延在し、またそのY軸は主走査方向に延在
する。描画作動時、16本の走査レーザビーム光はY軸の
正側の方向、即ち主走査方向に沿って偏向させられ、一
方描画テーブル19はX軸の負側の方向、即ち副走査方
向に沿って移動させられる。なお、言うまでもなく、一
対のレール15はX軸即ち副走査方向に沿って延在す
る。
【0027】かくして、被描画体として、基板が先に述
べたように描画テーブル19上に設置され、その基板上
のフォトレジスト層表面がポリゴンミラー70の各回転
反射面によって偏向される16本の走査レーザビーム光で
もって一度に走査(主走査方向)される。走査レーザビ
ーム光による走査時、各電子シャッタ52、58の8つ
の音響光学素子が回路パターン描画データ(ラスタデー
タ)に基づいて所定の周波数のクロックパルスに従って
作動させられ、これにより16本の走査レーザビーム光が
描画パターンラスタデータに基づいて変調させられる。
【0028】一方、16本の走査レーザビーム光が主走査
方向に沿って偏向されている間、描画テーブル19はX
テーブル16によって副走査方向に沿って順次移動させ
られ、16本の走査レーザビーム光による主走査方向に沿
う偏向が終了したとき、描画テーブル19の移動距離は
かかる16本の走査レーザビーム光の副走査方向の幅に相
当した距離となる。かくして、16本の走査レーザビーム
光による主走査方向に沿う偏向を繰り返すことにより、
基板上のフォトレジスト層表面上には回路パターンが描
画データに基づいて回路パターンが順次記録される。
【0029】なお、図1に示すように、コンデンサレン
ズ76の両端側のそれぞれには小型撮像手段例えばCC
Dカメラ78が設けられ、これらCCDカメラ78はレ
ーザ描画装置13の機枠に対して所定位置に固定支持さ
れ、2台のCCDカメラ78は被描画体がレーザ描画装
置13の描画テーブル19上に設置された際に該描画テ
ーブル19に対する基板の相対位置を正確に検出するた
めに使用される。
【0030】再び図1及び図2を参照すると、搬入ステ
ーション11の床面側には無端ベルトコンベヤ80が設
けられ、この無端ベルトコンベヤ80は基板をその上に
搭載する搭載手段として機能する。無端コンベヤ80の
搬送方向は上述のXY座標系のX軸方向に一致する。ま
た、搬出ステーション12は基板搬出部12A及び基板
回収部12Bに区分され、基板回収部12Bは基板搬出
部12Aと描画ステーション10との間に位置する。基
板搬出部12Aの床面側には搬入ステーション11の無
端ベルトコンベヤ80と同様な無端ベルトコンベヤ81
が設けられ、この無端ベルトコンベヤ81も基板をその
上に搭載する搭載手段として機能する。基板回収部12
Bにも無端ベルトコンベヤ82が設けられるが、その搬
送方向は上述のXY座標系のY軸方向に一致する。
【0031】搬入ステーション11の無端ベルトコンベ
ヤ80上にはフォトレジスト層を塗布した基板が例えば
図示されない無端ベルトコンベヤによって導入されて搭
載される。搬入ステーション11には、図1及び図2に
おいて、参照符号84で全体的に示す搬送手段が設けら
れ、無端ベルトコンベヤ80上の基板は該搬送手段84
で担持されて描画ステーション10に搬送され、次いで
描画装置13の描画テーブル19上に搬入される。
【0032】図4、図6及び図5に図示すように、本実
施形態では、搬送手段84は矩形状枠体86と、この矩
形状枠体86によって支持された9本の吸引パッド組立
体88とから構成される。図5に最もよく図示するよう
に、矩形状枠体86は一対の長尺部材86Aと、この一
対の長尺部材86A間にその長さ方向に沿って等間隔に
配置された3つの支持板部材861 、862 及び863
とから成り、各支持板部材861 、862 、863 によ
って、吸引パッド組立体88が3本ずつ支持される。要
するに、9本の吸引パッド組立88は3×3のマトリッ
クス状に配置される。
【0033】支持板部材861 及び862 は一対の長尺
部材86Aに対して固着されるが、しかし支持板部材8
3 は一対の長尺部材86Aに対して上下方向に移動自
在となっている。詳述すると、図4及び図6から明らか
なように、各長尺部材86Aの一端部上にはブロック片
86Bに固定され、このブロック片86Bの頂部からは
板片要素86Cが片持ち梁の態様で突出させられる。各
板片要素86Cには空圧作動シリンダ86Dがその作動
ロッドを該板片要素86Cを挿通させるような態様で装
着され、支持板部材863 は各空圧作動シリンダ86D
の作動ロッドの先端に固着支持される。
【0034】空圧作動シリンダ86Dが非駆動状態下で
は支持板部材863 によって支持された3本の吸引パッ
ド組立体88はその他の6本の吸引パッド組立体88と
同じレベルに位置させられるが、しかし空圧作動シリン
ダ86Dが作動させられると、その作動ロッドが引っ込
められ、このため支持板部材863 はそこに支持された
3本の吸引パッド組立体88と共に上方に移動させられ
て退避させられる。要するに、支持板部材863 によっ
て支持された3本の吸引パッド組立体88は図4に示す
作動位置とそこから上方に移動させられた退避位置との
間で移動自在となっている。なお、支持板部材863
その3本の吸引パッド組立体88と共に退避自在とする
理由については後で詳述される。
【0035】各吸引パッド組立体88はベローズ形状の
耐圧ホースと、この耐圧ホースの下側先端部に取り付け
られた吸着パッドとから成り、耐圧ホースの上側先端部
は該当支持板部材861 、862 、863 に挿通させら
れて適宜固着される。耐圧ホースは適当な吸引ホース
(図示されない)を介して真空作動源(図示されない)
に接続される。無端ベルトコンベヤ80上に搭載された
基板は吸引パッド組立体88の吸着パッドにより吸着さ
れて担持され、描画ステーション10に向かって搬送さ
れる。
【0036】搬送手段84の吸引パッド組立体88によ
って担持された基板を描画ステーション10に向かって
搬送させるためには、該搬送手段84自体を描画ステー
ション10に向かって移動させることが必要であり、こ
の移動機構について次に説明する。
【0037】先ず、図1及び図2に最もよく図示するよ
うに、フレーム構造F内には上述したXY座標系のY軸
方向に沿って延在する一対のY軸ガイドビーム90及び
92が架け渡される。図1から明らかなように、Y軸ガ
イドビーム90及び92はフレーム構造Fの床面と天井
面とのほぼ中間に位置し、また図2から明らかなよう
に、フレーム構造Fの長手方向側面に沿って配置され
る。なお、図1では、Y軸ガイドビーム90及び92の
双方を図示するために、該Y軸ガイドビーム90及び9
2のそれぞれの一部が切り欠かれて示される。
【0038】一対のY軸ガイドビーム90及び92間に
は上述したXY座標系のX軸方向に沿って延在するX軸
ガイドビーム94が架け渡され、このX軸ガイドビーム
94は一対のY軸ガイドビーム90及び92に沿って摺
動自在とされる。即ち、図6に最もよく示すように、Y
軸ガイドビーム90及び92のそれぞれには鳩尾形横断
面形状を持つガイドレール90A及び92Aが形成さ
れ、X軸ガイドビーム94の両端部にはガイドレール9
OA及び92Aを摺動自在に収容するようになった鳩尾
形横断面形状の溝部が形成される。要するに、X軸ガイ
ドビーム94は一対のY軸ガイドビーム90及び92に
沿って移動自在とされる。
【0039】X軸ガイドビーム94を一対のY軸ガイド
ビーム90及び92に沿って駆動させるために、Y軸ガ
イドビーム92の一方の端部、即ち搬入ステーション1
1側の端部にはY軸モータ96が取付板98を介して取
り付けられ、このY軸モータ96の出力シャフトには歯
付駆動プーリ96Aが固着される。一方、図1に図示す
るように、Y軸ガイドビーム92の中間の箇所、即ち描
画ステーション10のほぼ中央位置に対応する箇所には
取付板100を介して歯付アイドルプーリ100Aが取
り付けられ、歯付駆動プーリ96Aと歯付アイドルプー
リ100Aとの間には歯付ベルト102が架け渡され
る。図4及び図5に最もよく図示するように、X軸ガイ
ドビーム94の一端部、即ちY軸ガイドビーム92側の
端部からはアーム部材104が片持ち梁の態様で突出さ
せられ、このアーム部材104の先端部はクランプ部材
106によって歯付ベルト102の下側走行部に固着さ
れる。かくして、Y軸モータ96の回転駆動を適宜制御
することにより、X軸ガイドビーム94を一対のY軸ガ
イドビーム90及び92に沿って駆動させることができ
る。
【0040】図4及び図6に最もよく図示するように、
X軸ガイドビーム94の一方の長手方向側面には鳩尾形
横断面形状を持つガイドレール94Aが形成され、この
ガイドレール94Aには矩形状キャリッジ108が摺動
自在に係合させられる。即ち、矩形状キャリッジ108
の一方の壁面、即ちX軸ガイドビーム94に隣接した側
の壁面には一対の摺動ブロック片108Aが固着され、
各摺動ブロック片108Aにはガイドレール94Aを摺
動自在に収容するようになった鳩尾形横断面形状の溝部
が形成され(図4)、これにより矩形状キャリッジ10
8はX軸ガイドビーム94に沿って移動自在とされる。
【0041】矩形状キャリッジ108をX軸ガイドビー
ム94に沿って駆動させるために、X軸ガイドビーム9
4の一方の端部、即ちY軸ガイドビーム92側の端部に
はX軸モータ110が取付板112を介して取り付けら
れ(図6)、このX軸モータ110の出力シャフトには
歯付駆動プーリ110Aが固着される。一方、X軸ガイ
ドビーム94の反対側の端部には取付板114を介して
歯付アイドルプーリ114Aが取り付けられ(図6)、
歯付駆動プーリ110Aと歯付アイドルプーリ114A
との間には歯付ベルト116が架け渡される。図5に最
もよく図示するように、矩形状キャリッジ108の頂部
縁辺からはクランプ板片118が片持ち梁の態様で突出
させられ、このクランプ板片118の先端側には歯付ベ
ルト116の下側走行部が適宜固着される。かくして、
X軸モータ110の回転駆動を適宜制御することによ
り、矩形状キャリッジ108をX軸ガイドビーム94に
沿って移動させることができる。なお、図5では、クラ
ンプ板片118に対する歯付ベルト116の下側走行部
への固着状態を図示するために、該歯付ベルト116の
上側走行部の一部が切り欠かれている。
【0042】図5に最もよく図示するように、矩形状キ
ャリッジ108の他方の壁面、即ちX軸ガイドビーム9
4に対して反対側の壁面には、上述したXY座標面に対
して直角なZ軸方向即ち鉛直方向に延在するZ軸ガイド
レール108Bが固着され、このZ軸ガイドレール10
8Bには鳩尾形横断面形状を持つガイド溝部が形成され
る。ガイドレール108Bのガイド溝部にはZ軸支持ビ
ーム120が摺動自在に係合させられる。即ち、Z軸支
持ビーム120には鳩尾形横断面形状の突条120Aが
形成され、この突条120AがZ軸ガイドレール108
Bのガイド溝部に摺動自在に収容される。従って、Z軸
支持ビーム120はZ軸ガイドレール108Bに沿って
移動自在とされる。
【0043】図4及び図6に最もよく図示するように、
矩形状キャリッジ108にはZ軸モータ122が固着支
持され、その出力シャフトには歯付駆動プーリ122A
が固着される。図6から明らかなように、歯付駆動プー
リ122AはZ軸支持ビーム120の一側面に接近させ
られ、しかもその間には矩形状キャリッジ108によっ
て支持された一対のアイドルプーリ124が介在させら
れる。歯付駆動プーリ122Aには所定の長さの歯付ベ
ルト126がほぼ360 度の角度範囲にわたって掛けら
れ、その一端側に向かう歯付ベルト部分は一対のアイド
ルプーリ124間を挿通させられた後にZ軸支持ビーム
120の側面に沿って上方に延在させられてその上端側
でクランプ部材128Aによって固着され、その他端側
に向かう歯付ベルト部分も一対のアイドルプーリ124
間を挿通させられた後にZ軸支持ビーム120の側面に
沿って下方に延在させられてその下端側でクランプ12
8Bによって固着される。かくして、Z軸モータ122
の回転駆動を適宜制御することにより、Z軸支持ビーム
120は矩形状キャリッジ108に対して上下方向に駆
動され得る。
【0044】上述した搬送手段84はZ軸支持ビーム1
20によって支持され、この目的のために搬送手段84
の矩形状枠体86は取付板86Eが固着され、その取付
板86Eに対してZ軸支持ビーム120の下端が適宜固
定される。従って、Z軸モータ122がZ軸支持ビーム
120を上昇させるように回転駆動させられると、搬送
手段84はZ軸支持ビーム120と共に図4ないし図6
に示した最下降位置から上昇させられる。また、X軸モ
ータ110が回転駆動させられると、矩形状キャリッジ
108がX軸方向に沿って移動させられるので、搬送手
段84も矩形状キャリッジ108と共にX軸方向に沿っ
て移動させられる。更に、Y軸モータ96が回転駆動さ
せられると、X軸ガイドビーム94が一対のY軸ガイド
ビーム90及び92に沿って移動させられるので、搬送
手段84もX軸ガイドビーム94と共にY軸方向に沿っ
て移動させられる。かくして、搬送手段84によって担
持された基板は描画ステーション10に向かって搬送さ
れ得ることとなり、しかも描画装置13の描画テーブル
19の任意上の所望の位置に搭載することが可能とな
る。
【0045】以上述べたように、搬入ステーション11
に導入された基板は搬送手段84によって描画ステーシ
ョン10に搬送されるが、しかし本発明によればその搬
送前に搬入ステーション11では基板の寸法測定が行わ
れる。以下、その寸法測定について図7及び図8を参照
して説明する。なお、図8においては、図示の簡略化の
ために、X軸ガイドビーム94及びそれに係わる種々の
構成要素が省かれている。
【0046】図7を参照すると、搬送手段84が所定位
置即ちZ軸原点位置まで上昇させられた状態で示され、
この状態で搬入ステーション11の無端ベルトコンベヤ
80上にフォトレジスト層を塗布した基板(図7及び図
8では、参照符号Pで示す)が導入され、このとき無端
ベルトコンベヤ80は基板Pの先導端縁がフレーム構造
Fの一部を成す位置決めビーム130に当接する位置即
ち寸法測定位置まで駆動させられる。なお、搬送手段8
4をZ軸原点位置に位置決めすることについては、Z軸
支持ビーム120に位置決めセンサ(図示されない)を
適宜組み込んで、その位置決めセンサでZ軸モータ12
2の駆動を制御することにより行うことが可能である。
【0047】位置決めビーム130に対する基板Pの先
導端縁の当接を検出するために、例えば、図7に示すよ
うに、レーザセンサ132が位置決めビーム130の下
方に設けられる。レーザセンサ132からは破線矢印で
示すようにレーザビーム光が位置決めビーム130の位
置決め側面に沿って射出させられる。図7及び図8に示
すように、基板Pの先導端縁が位置決めビーム130に
当接すると、レーザビーム光は基板の先導端縁部で反射
させられ、その反射レーザビーム光を検出することによ
り、位置決めビーム130に対する基板Pの先導端縁の
当接を検出することが可能である。なお、レーザセンサ
132の代わりに、位置決めビーム130にコンタクト
スイッチ等を組み込んで、位置決めビーム130に対す
る基板Pの先導端縁の当接を検出してもよい。
【0048】要するに、基板Pが搬入ステーション11
の無端ベルトコンベヤ80上に導入されると、無端ベル
トコンベヤ80は基板Pを位置決めビーム130に向か
って前進させるように駆動させられ、その先導端縁が位
置決めビーム130に当接したことがレーザセンサ13
2によって検出されると、無端コンベヤ80の駆動が停
止され、このとき基板Pは図7及び図8に示すような位
置即ち寸法測定位置に止められる。
【0049】基板Pが寸法測定位置に止められると、本
実施形態では、基板Pの横幅寸法が先ず測定される。こ
の横幅寸法の測定のために、搬送手段84は横幅測定レ
ーザセンサ134を具備し、この横幅測定レーザセンサ
134は搬送手段84の矩形状枠体86から片持ち梁の
態様で突出したアーム部材136の先端に取り付けられ
る。図7に破線矢印で示すように、横幅測定レーザセン
サ134はそこからレーザビーム光を射出してその反射
レーザビーム光を受光するようになっている。基板Pの
横幅を測定するために、搬送手段84はY軸モータ96
を駆動して図7及び図8に示すような所定位置即ちY軸
原点位置に位置決めされる。なお、搬送手段84をY軸
原点位置に位置決めすることについては、Y軸ガイドビ
ーム90及び92のいずれか一方に位置決めセンサ(図
示されない)を適宜組み込んで、その位置決めセンサで
Y軸モータ96の駆動を制御することにより行うことが
可能である。
【0050】次いで、Y軸モータ96を駆動して搬送手
段84をY軸原点位置から位置決めビーム130に向か
って移動させつつ横幅測定レーザセンサ134によって
基板Pの縁を検出することにより、基板Pの横幅を測定
することができる。
【0051】詳述すると、搬送手段84がY軸原点位置
に位置決めされているとき、無端ベルトコンベヤ80の
搬送面に対する横幅測定レーザセンサ134のレーザビ
ーム光射出位置の投影箇所から位置決めビーム130の
当接面までの距離Mは既知である。一方、横幅測定レー
ザセンサ134が基板Pの後続端縁を検出するまでの搬
送手段84のY軸方向に沿う移動距離mについては、Y
軸モータ96への駆動パルス出力数をカウントすること
により求め得る。かくして、基板Pの横幅寸法PMにつ
いては以下の演算により求められる。PM=M−m
【0052】横幅測定レーザセンサ134による基板P
の後続端縁の検出について説明すると、その検出は無端
ベルトコンベヤ80の搬送面の反射率と基板Pの表面の
反射率との相違に基づいて容易に行うことができる。例
えば、無端ベルトコンベヤ80の搬送面を黒色面とし
て、そこからレーザビーム光が殆ど反射しないようにさ
れた場合には、搬送手段84の移動中に反射レーザビー
ム光の反射強度の変化を適当な時間間隔(例えば20ms)
で逐次モニタすることにより、基板Pの後続端縁を検出
することができる。
【0053】次に、基板Pの縦幅寸法の測定について説
明すると、基板Pの縦幅寸法の測定のために、搬送手段
84は一対の縦幅測定レーザセンサ138A及び138
Bを具備し、この一対の縦幅測定レーザセンサ138A
及び138Bは搬送手段84の矩形状枠体86の長手方
向の一方の側辺(即ち、横幅測定レーザセンサ134側
とは反対側の側辺)の両端側に取り付けられ、このとき
一対の縦幅測定レーザセンサ138A及び138B間の
距離は図8に示すように固定距離Nとなる。なお、縦幅
測定レーザセンサ138A及び138Bの各々は横幅測
定レーザセンサ134と同様なものであって、そこから
レーザビーム光を射出してその反射レーザビーム光を受
光するようになっているものである。
【0054】基板Pの縦幅を測定するために、搬送手段
84はX軸モータ110を駆動して図8に示すような所
定位置即ちX軸原点位置に位置決めされる。なお、搬送
手段84をX軸原点位置に位置決めすることについて
は、X軸ガイドビーム94に位置決めセンサ(図示され
ない)を適宜組み込んで、その位置決めセンサでX軸モ
ータ110の駆動を制御することにより行うことが可能
である。
【0055】次いで、縦幅測定レーザセンサ138A及
び138Bの各々によって基板Pの縦方向で対向する両
端縁のうちの該当端縁を検出するために、X軸モータ1
10がいずれかの回転方向に駆動される。
【0056】詳述すると、例えば、縦幅測定レーザセン
サ138Aによる基板Pの該当端縁について説明する
と、先ず、縦幅測定レーザセンサ138Aが基板P上に
位置するか或いは無端ベルトコンベヤ80の搬送面上に
位置するかが判断され、この判断は縦幅測定レーザセン
サ138Aで受光される反射レーザビーム光の反射強度
を測定することにより容易に行い得る。即ち、もし縦幅
測定レーザセンサ138Aが無端ベルトコンベヤ80の
搬送面(黒色)上に位置している場合には、縦幅測定レ
ーザセンサ138Aで受光される反射レーザビーム光の
反射強度はほぼ零に近いものとなるが、しかし縦幅測定
レーザセンサ138Aが基板P上に位置していれば、反
射レーザビーム光について所定の反射強度が得られる。
【0057】図8に示す例では、縦幅測定レーザセンサ
138Aは基板P上に位置しているので、X軸モータ1
10は搬送手段84がY軸ガイドビーム92側に向かっ
て移動させられるように回転駆動させられ、この移動は
基板Pの該当端縁が縦幅測定レーザセンサ138Aによ
って検出されるまで続けられる。即ち、縦幅測定レーザ
センサ138Aによって基板Pの該当端縁が検出される
と、X軸モータ110の回転駆動が停止され、そのとき
の搬送手段84の移動距離は図8に示すようにn1 とな
る(図8)。勿論、移動距離n1 についてはその移動距
離だけ搬送手段84を移動させるためにX軸モータ11
0に出力した駆動パルス数に基づいて求め得る。
【0058】その後、搬送手段84は図8に示すような
X軸原点位置に再び戻され、次いで縦幅測定レーザセン
サ138Bによる基板Pの該当端縁が縦幅測定レーザセ
ンサ138Aの場合と同様な態様で行われる。即ち、縦
幅測定レーザセンサ138Bが基板P上に位置するか或
いは無端ベルトコンベヤ80の搬送面上に位置するかが
判断される。図8に示す例では、縦幅測定レーザセンサ
138Bは基板P上に位置しているので、X軸モータ1
10は搬送手段84がY軸ガイドビーム90側に向かっ
て移動させられるように回転駆動させられ、この移動は
基板Pの該当端縁が縦幅測定レーザセンサ138Bによ
って検出されるまで続けられる。即ち、縦幅測定レーザ
センサ138Bによって基板Pの該当端縁が検出される
と、X軸モータ110の回転駆動が停止され、そのとき
の搬送手段84の移動距離は図8に示すようにn2 とな
る(図8)。勿論、移動距離n2 についてもその移動距
離だけ搬送手段84を移動させるためにX軸モータ11
0に出力した駆動パルス数に基づいて求め得る。
【0059】かくして、基板Pの縦幅寸法PNについて
は以下の演算により求められる。 PN=N+(n1 +n2
【0060】ところで、図8に示すような例では、搬送
手段84がX軸原点位置に位置決めされたときは、縦幅
測定レーザセンサ138A及び138Bは共に基板P上
に位置しているので、縦幅測定レーザセンサ138A及
び138Bのそれぞれはその該当端縁を検出するために
基板P上から無端ベルトコンベヤ80の搬送面側に向か
って移動させられるとになり、このとき求められた移動
距離n1 及びn2 は共に正の値を持つものとされる。
【0061】しかしながら、基板Pの種類によっては、
例えば、図9に示すように、搬送手段84がX軸原点位
置に位置決めされたとき、一方の縦幅測定レーザセンサ
138Aが基板Pではなく無端ベルトコンベヤ80の搬
送面上に位置していることがあり、この場合には縦幅測
定レーザセンサ138Aによって基板Pの該当端縁を検
出するために該縦幅測定レーザセンサ138Aは無端ベ
ルトコンベヤ80の搬送面上から基板Pの表面側に向か
って移動させられることになり、このとき求められる移
動距離n1 については負の値を持つものとされる。一
方、図9に示す例では、他方の縦幅測定レーザセンサ1
38Bは図8に示す例と同様に基板P上に位置するの
で、移動距離n2 は正の値を持つものとされる。かくし
て、図9の例では、基板Pの縦幅寸法PNは以下の演算
によって求められる。 PN=N+(−n1 +n2
【0062】更に、基板Pの種類によっては、図10に
示すように、搬送手段84がX軸原点位置に位置決めさ
れたとき、双方の縦幅測定レーザセンサ138A及び1
38Bが基板Pではなく無端ベルトコンベヤ80の搬送
面上に位置していることもあり、この場合には縦幅測定
レーザセンサ138A及び138Bのそれぞれによって
基板Pの該当端縁を検出するために各縦幅測定レーザセ
ンサ138A、138Bは無端ベルトコンベヤ80の搬
送面上から基板Pの表面側に向かって移動させられるこ
とになり、このとき求められる移動距離n1 及びn2
ついては共に負の値を持つものとされる。かくして、図
10の例では、基板Pの縦幅寸法PNは以下の演算によ
って求められる。 PN=N+(−n1 −n2
【0063】本実施形態にあっては、搬入ステーション
11で基板Pの厚さも測定され、この厚さ測定のため
に、リニアゲージ140が用いられる。リニアゲージ1
40は厚さ測定器として周知のものであって、空圧作動
方式を採用するものである。図5及び図6に示すよう
に、リニアゲージ140は搬入ステーション11でY軸
ガイドビーム90の下側に配置され、かつフレーム構造
Fの一部を成す支持ビーム142(図6)によって支持
される。
【0064】図11及び図12を参照すると、リニアゲ
ージ140が詳細に示される。図示するように、リニア
ゲージ140は支持ビーム142に固着された取付板1
44と、この取付板144に支持されかつ適当な加圧空
気源(図示されない)に接続された空圧作動シリンダ1
46と、この空圧作動シリンダ146によって上下方向
に駆動される探触子148と、この探触子148の下側
に配置されかつ取付板144に支持されたパッド150
とを具備する。リニアゲージ140は更に取付板144
に支持されかつ探触子148と並置されたワーク保持機
構152を具備し、このワーク保持機構152は探触子
148と同様に空圧によって上下方向に作動させられる
摺動体152Aと、この摺動体152Aの下側に位置し
た受け部152Bとから成る。図6から明らかなよう
に、パッド150の上側支承面は無端ベルトコンベヤ8
0の搬送面と実質的に同一高さレベルとされ、また図1
2に示すようにワーク保持機構152の受け部152B
の支承面はパッド150の上側支承面とほぼ同一高さレ
ベルとされる。
【0065】基板Pの厚さが測定されるとき、基板Pは
搬送手段94の吸引パッド組立体88によって一旦吸着
され、次いで搬送手段94は無端ベルトコンベヤ80の
搬送面から僅かに上昇させられた後にY軸ガイドビーム
90側に向かって移動させられ、このときリニアゲージ
140の探触子148及びワーク保持機構152の摺動
体152Aは共に上昇させられる。基板Pの縁部が探触
子148とパッド150との間に、また摺動体152A
と受け部152Bとの間に入り込んだとき、Y軸ガイド
ビーム90側に向かう搬送手段94の移動は停止され
る。続いて、搬送手段94は上述の僅かな上昇分だけ下
降され、このとき基板Pの縁部はパッド150及び受け
部152B上に置かれることになる。そこで、ワーク保
持機構152の摺動体152Aが下降して基板Pの縁部
が押さえられ、次いでリニアゲージ140の探触子14
8が下降して基板Pの縁部上に当接し、これにより該探
触子148とパッド150との間の距離が基板Pの厚さ
として測定される。なお、パッド150に対する探触子
148の位置情報、即ち基板Pの厚さ情報は電気信号と
してリニアゲージ140から出力される。
【0066】先に述べたように、搬出ステーション12
の基板搬出部12Aの床面側には搬入ステーション11
の無端ベルトコンベヤ80と同様な無端ベルトコンベヤ
81が設けられ、また搬出ステーション12には、図1
及び図2において、参照符号84′で全体的に示す搬送
手段が設けられる。搬送手段84′は搬入ステーション
11に設けられた搬送手段84と同一の構成を持ち、し
かも双方の搬送手段84及び84′は互いに向かい合っ
て配置される。なお、双方の搬送手段84及び84′の
相違点としては、搬入ステーション11の搬送手段84
には横幅測定レーザセンサ134と縦幅測定レーザセン
サ138A及び138Bとが設けられるが、搬送手段8
4′にはそれらの幅測定レーザセンサが設けられない点
が挙げられる。
【0067】搬送手段84′は、通常、描画装置13で
の描画作動の終了後に描画テーブル19から基板を基板
搬出部12Aの無端ベルトコンベヤ81まで搬送するた
めに用いられるものであるが、描画装置13で描画すべ
き基板とは異なった寸法の基板が誤って描画テーブル1
9上に搬入された場合には、その誤った寸法の基板を基
板回収部12Bの無端ベルトコンベヤ82まで搬送する
ために使用される。
【0068】なお、搬送手段84′をY軸方向、X軸方
向及びZ軸方向に移送するための移送機構自体も搬送手
段84の移送機構と実質的に同じであり、図1及び図2
においては、搬送手段84の移送機構と同じ構成要素に
ついては同じ参照符号にダッシュを付して示してある。
【0069】図13を参照すると、描画装置13の制御
ブロック図が示され、同ブロック図において、参照符号
154は描画装置コントローラを示し、この描画装置コ
ントローラ154は例えば中央演算装置(CPU)等の
マイクロプロセッサ及びメモリ(ROM、RAM)等か
らなるマイクロコンピュータとして構成される。
【0070】描画装置コントローラ154はLAN(ロ
ーカル・エリア・ネットワーク)インターフェース回路
156を介してEWS(エンジニアリング・ワークステ
ーション)158に接続され、このEWS158では、
基板上のフォトレジスト層上に書き込むべき回路パター
ンがベクタデータとして作成編集され、EWS158内
のハードディスク等のメモリ手段には種々の回路パター
ン・ベクタ・データが格納される。また、EWS158
からは描画装置13の描画作動を制御すべく種々の指令
信号及び基板寸法情報等がLANインターフェース回路
156を介して描画装置コントローラ154に送信さ
れ、一方描画装置コントローラ154からもLANイン
ターフェース回路156を介してEWS158に種々の
制御指令信号等が送信される。
【0071】図13に示すように、描画装置13には描
画データ処理回路160が設けられ、EWS158から
送信された所定の回路パターン・ベクタ・データはLA
Nインターフェース回路158を介して描画データ処理
回路160に取り込まれる。また、EWS158から所
定の回路パターン・ベクタ・データが送信されるとき、
その回路パターン・ベクタ・データに基づく回路パター
ンが書き込まれるべき基板の寸法情報も同時に送信さ
れ、その寸法情報データは描画装置コントローラ154
のRAMに一時的に格納される。
【0072】描画データ処理回路160に取り込まれた
回路パターン・ベクタ・データはラスタデータに変換さ
れ、そのラスタデータは描画データ処理回路160内の
メモリに一旦格納される。描画作動時、描画データ処理
回路160のメモリからラスタデータが16ビットずつ読
み出され、主走査方向制御回路162に送出され、そこ
で各1ビットのラスタデータに基づいて電子シャッタ5
2及び54(図3)に含まれる該当音響光学素子が作動
させられ、これにより該当レーザビーム光が変調され
る。即ち、1ビットのラスタデータが発色画素(即ち、
デジタル画素データとして“1”)であるとき、レーザ
ビーム光は光合成器60に向かうように回折させられ、
また1ビットのラスタデータが無発色画素(即ち、デジ
タル画素データとして“0”)であるとき、レーザビー
ムは光合成器60から外れるように回折させられる。
【0073】描画装置13には副走査制御回路164も
設けられ、この副走査制御回路164は駆動モータ16
6の駆動を制御するものである。駆動モータ166はボ
ール螺子17(図3)に接続され、描画作動時、駆動モ
ータ166は所定のクロックパルスに従って駆動され、
これによりXテーブル16(描画テーブル19)がX軸
方向即ち副走査方向に移動させられる。
【0074】なお、図13から明らかなように、描画デ
ータ処理回路160、主走査制御回路162及び副走査
制御回路164の動作は描画装置コントローラ154の
制御下で行われる。
【0075】図14を参照すると、搬入ステーション1
1の制御ブロック図が示され、同ブロック図において、
参照符号168は搬入ステーションコントローラを示
し、この搬入ステーションコントローラ168も中央演
算装置(CPU)等のマイクロプロセッサ及びメモリ
(ROM、RAM)等からなるマイクロコンピュータと
して構成される。搬入ステーションコントローラ168
は描画装置13の描画装置コントローラ154と接続さ
れ、その間で種々の情報データが送受信される。
【0076】搬入ステーション11にはY軸モータ駆動
回路170が設けられ、このY軸モータ駆動回路170
は搬入ステーションコントローラ168の制御下でY軸
モータ96に対して駆動パルスを出力し、これによりY
軸モータ96の駆動が制御される。また、搬入ステーシ
ョン11にはX軸モータ駆動回路172及びZ軸モータ
駆動回路174が設けられ、これらX軸モータ駆動回路
172及びZ軸モータ駆動回路174のそれぞれは搬入
ステーションコントローラ168の制御下でX軸モータ
110及びZ軸モータ122に対して駆動パルスを出力
し、これによりY軸モータ110及びZ軸モータ122
の駆動が制御される。
【0077】図14に示すように、搬入ステーション1
1にはレーザセンサ駆動回路176が設けられ、このレ
ーザセンサ駆動回路176は搬入ステーションコントロ
ーラ168の制御下でレーザセンサ132(図7)の作
動を制御し、しかもレーザセンサ132からの信号を受
信して搬入ステーションコントローラ168に送信する
ものである。また、搬入ステーション11にはレーザセ
ンサ駆動回路178が設けられ、このレーザセンサ駆動
回路178は搬入ステーションコントローラ168の制
御下で横幅測定レーザセンサ134(図7)の作動を制
御し、しかも横幅レーザセンサ134からの信号を受信
して搬入ステーションコントローラ168に送信するも
のである。更に、搬入ステーション11にはレーザセン
サ駆動回路180が設けられ、このレーザセンサ駆動回
路180は搬入ステーションコントローラ168の制御
下で一対の縦幅測定レーザセンサ138A及び138B
(図8)の作動を制御し、しかも一対の縦幅測定レーザ
センサ138A及び138Bからの信号を受信して搬入
ステーションコントローラ168に送信するものであ
る。
【0078】図14に示すように、搬入ステーション1
1には更にリニアゲージ駆動回路182が設けられ、こ
のリニアゲージ駆動回路182は搬入ステーションコン
トローラ168の制御下でリニアゲージ140(図11
及び図12)の作動を制御し、しかもリニアゲージ14
0からの信号を受信して搬入ステーションコントローラ
168に送信するものである。また、搬入ステーション
11には吸引パッド駆動制御回路184及び退避シリン
ダ駆動制御回路186が設けられ、吸引パッド駆動制御
回路は吸引パッド組立体88の吸引作動を制御するもの
であり、また退避シリンダ駆動制御回路186は空圧作
動シリンダ86D(図4)の作動を制御するものであ
る。
【0079】図15を参照すると、搬出ステーション1
2の制御ブロック図が示され、同ブロック図において、
参照符号168′は搬出ステーションコントローラを示
し、この搬出ステーションコントローラ168′も中央
演算装置(CPU)等のマイクロプロセッサ及びメモリ
(ROM、RAM)等からなるマイクロコンピュータと
して構成される。搬出ステーションコントローラ16
8′は描画装置13の描画装置コントローラ154と接
続され、その間で種々の情報データが送受信される。
【0080】搬出ステーション12にはY軸モータ駆動
回路170′が設けられ、このY軸モータ駆動回路17
0′は搬出ステーションコントローラ168′の制御下
でY軸モータ96′(図1、図2)に対して駆動パルス
を出力し、これによりY軸モータ96′の駆動が制御さ
れる。また、搬出ステーション12にはX軸モータ駆動
回路172′及びZ軸モータ駆動回路174′が設けら
れ、これらX軸モータ駆動回路172′及びZ軸モータ
駆動回路174′のそれぞれは搬出ステーションコント
ローラ168′の制御下でX軸モータ110′及びZ軸
モータ122′に対して駆動パルスを出力し、これによ
りY軸モータ110′及びZ軸モータ122′の駆動が
制御される。
【0081】また、搬出ステーション12には吸引パッ
ド駆動制御回路184′及び退避シリンダ駆動制御回路
186′が設けられ、吸引パッド駆動制御回路は吸引パ
ッド組立体88′(図1、図2)の吸引作動を制御する
ものであり、また退避シリンダ駆動制御回路186は空
圧作動シリンダ86D′(図1、図4)の作動を制御す
るものである。
【0082】図16及び図17に示すフローチャートを
参照して、描画装置コントローラ154で実行される描
画作動ルーチンについて説明する。
【0083】ステップ1601では、所定の回路パター
ン・ベクタ・データが描画装置13側でEWS158か
ら受信されたか否かが判断される。所定の回路パターン
・ベクタ・データの受信が確認されると、ステップ16
02に進み、そこで所定の回路パターン・ベクタ・デー
タが描画データ処理回路160に取り込まれる。
【0084】ステップ1603では、上述した所定の回
路パターン・ベクタ・データに基づいて回路パターンを
描画すべき基板の寸法情報データがEWS158から受
信されたか否かが判断される。寸法情報データの受信が
確認されると、ステップ1604に進み、そこで寸法情
報データは描画装置コントローラ154のRAMに一旦
格納される。
【0085】ステップ1605では、描画装置コントロ
ーラ154から搬入ステーションコントローラ168に
対して基板搬入指令信号を送信する。次いで、ステップ
1606では、搬入ステーションコントローラ168か
ら基板測定寸法データが受信されたか否かが判断され
る。基板測定寸法データの受信が確認されると、ステッ
プ1607に進み、そこで基板測定寸法データのうちの
縦横幅測定データが搬出ステーションコントローラ16
8′に送信される。
【0086】ステップ1608では、EWS158から
受信した寸法情報データと搬入ステーションコントロー
ラ168から受信した測定寸法データが互いに一致する
か否かが判断される。もし双方のデータが一致していれ
ば、ステップ1609に進み、そこで搬入ステーション
コントローラ168から基板搬入完了信号が受信された
か否かが判断される。基板搬入完了信号の受信が確認さ
れると、ステップ1610に進み、そこで先に述べたよ
うな態様で基板上のフォトレジスト層に対して回路パタ
ーンの描画作動が実行される。
【0087】ステップ1611では、描画作動が完了し
たか否かが判断され、描画作動の完了が確認されると、
ステップ1612に進み、そこで搬出ステーションコン
トローラ168′に基板搬出指令信号が送信される。次
いで、ステップ1613では、EWS158から描画終
了信号を受信しているか否かが判断される。もし描画終
了信号の受信が確認されていない場合には、ステップ1
605に戻る。一方、もし描画終了信号の受信が確認さ
れると、ステップ1614に進み、そこで描画終了信号
が搬入ステーションコントローラ168及び搬出ステー
ションコントローラ168′の双方に送信された後、本
描画作動ルーチンの実行は完了する。
【0088】ステップ1608でEWS158から受信
した寸法情報データと搬入ステーションコントローラ1
68から受信した測定寸法データが互いに一致しないと
判断されたとき、即ち誤った寸法の基板が描画装置13
に搬入されたとき、その場合にはステップ1608から
ステップ1615に進み、そこで搬出ステーションコン
トローラ168′には基板回収指令信号が送信され、次
いでステップ1605に戻る。
【0089】図18及び図19に示すフローチャートを
参照して、搬入ステーションコントローラ168で実行
される基板搬入ルーチンについて説明する。
【0090】ステップ1801では、基板搬入指令信号
を描画装置コントローラ154から受信したか否かが判
断される(図16のステップ1605参照)。基板搬入
指令信号の受信が確認されると、ステップ1802に進
み、そこで搬入ステーション11の無端ベルトコンベヤ
80に基板を導入すべく該無端ベルトコンベヤ80に隣
接して設けられた無端ベルトコンベヤ(図示されない)
のコントローラに対して送信され、これにより基板が搬
入ステーション11の無端ベルトコンベヤ80上に導入
され、その基板は無端ベルトコンベヤ80の駆動により
位置決めビーム130に向かって移動させられる。
【0091】ステップ1803では、レーザセンサ駆動
回路176によってレーザセンサ132(図7)を作動
させ、これにより基板の先導端縁が位置決めビーム13
0に当接したか否かが検出される。即ち、上述したよう
に、基板が寸法測定位置に位置決めされたかが判断され
る。寸法測定位置に対する基板の位置決めが確認される
と、ステップ1804に進み、そこでレーザセンサ駆動
回路178によって横幅測定レーザセンサ134が作動
させられ、これにより基板の横幅寸法の測定が上述した
ような態様で行われる。
【0092】ステップ1805では、基板の横幅寸法の
測定が完了したか否かが判断され、横幅寸法測定の完了
が確認されると、ステップ1806に進み、そこでレー
ザセンサ駆動回路180によって一対の縦幅測定レーザ
センサ138A及び138Bが作動させられ、これによ
り基板の縦横幅寸法の測定が上述したような態様で行わ
れる。
【0093】ステップ1807では、基板の横幅寸法の
測定が完了したか否かが判断され、横幅寸法測定の完了
が確認されると、ステップ1808に進み、そこで基板
の縦幅寸法が所定値よりも大きいか否かが判断される。
もし基板の縦幅寸法が所定値よりも大きいとき、即ち基
板が3つの支持板部材861 、862 及び863 で支持
された9本の吸引パッド組立体88の全てによって吸着
されなければならなような大きな縦幅寸法を持つときに
は、ステップ1808からステップ1810に進む。
【0094】一方、ステップ1808でもし基板の縦幅
寸法が所定値よりも小さいと判断されたとき、即ち基板
が2つの支持板部材861 及び862 で支持された6本
の吸引パッド組立体88よって十分に吸着し得るような
小さな縦幅寸法を持つと判断されたとき、ステップ18
09に進み、そこで片側の残りの3本の吸引パッド組立
体88、即ち支持部材863 で支持された3本の吸引パ
ッド組立体88が退避され、次いでステップ1810に
進む。要するに、ステップ1809では、退避シリンダ
駆動制御回路186によって空圧作動シリンダ86D
(図7)が作動され、これにより支持部材863 の3本
の吸引パッド組立体88が上述したような態様で退避さ
れる。
【0095】なお、支持部材863 によって支持された
3本の吸引パッド組立体88が退避される理由について
述べると、縦幅寸法の小さいな基板に描画を行う場合に
は、描画装置13の描画テーブル19(図3)上のクラ
ンプ部材22はもう一方のクランプ部材21に接近した
位置にあり、このとき該基板をクランプ部材21及び2
2間に搬入しようとするとき、支持部材863 によって
支持された3本の吸引パッド組立体88がクランプ部材
22と干渉して基板の搬入を適正に行い得ない場合があ
るからである。即ち、縦幅寸法の小さいな基板の場合に
は、そのような干渉を確実に防止するために、支持部材
863 によって支持された3本の吸引パッド組立体88
は退避されるわけである。
【0096】ステップ1810では、基板が吸引パッド
組立体88で吸着され、しかも搬送手段84によってリ
ニアゲージ140側向かって移動させられる。一方、リ
ニアゲージ140がリニアゲージ駆動回路182によっ
て作動させられ、基板の厚さ測定が上述したような態様
で行われる。なお、リニアゲージ140での厚さ測定
中、基板は吸引パッド組立体88から開放されている。
次いで、ステップ1811では、基板の厚さ測定が完了
したか否かが判断される。
【0097】ステップ1811で基板の厚さ測定の完了
が確認されると、ステップ1812に進み、そこで測定
寸法データが描画装置コントローラ154に送信される
(図16のステップ1606参照)。次いで、ステップ
1813では、描画装置13の描画テーブル19への基
板の搬入作動が実行され、続いてステップ1814で
は、その基板の搬入作動が完了したか否かが判断され
る。
【0098】なお、基板の搬入作動について説明する
と、基板の厚さ測定が完了すると、基板は再び吸引パッ
ド組立体88によって吸着され、次いでZ軸モータ駆動
回路174を駆動して搬送手段84を僅かに上昇させら
れた後(勿論、このときリニアゲージ140の探触子1
48及び摺動体152A(図11、図12)は引き上げ
られている)、X軸モータ110の駆動をX軸モータ駆
動回路172によって適宜制御することにより、搬送手
段84はX軸方向の適当な位置まで移動させられる。続
いて、Z軸モータ122の駆動をZ軸モータ駆動回路1
74によって適宜制御することにより、搬送手段84は
所定の高さまで上昇させられ、その後Y軸モータ96の
駆動をY軸モータ駆動回路170でもって適宜制御する
ことにより、搬送手段84は搬入ステーション11から
描画ステーション10の描画装置13に向かって搬送さ
せられる。搬送手段84が描画装置13の描画テーブル
19上の所定位置まで搬送させられると、Y軸モータ9
6の駆動は一旦停止させられる。次いで、X軸モータ1
10及びZ軸モータ122のそれぞれの駆動をX軸モー
タ駆動回路172及びZ軸モータ駆動回路174でもっ
て順次制御することにより、基板は描画テーブル19上
の所定位置に搬入される。なお、基板搬入が完了する
と、搬送手段84は速やかに描画ステーション10から
搬入ステーション11に戻される。
【0099】ステップ1814で描画テーブル19への
基板の搬入が確認されると、ステップ1815に進み、
そこで基板搬入完了信号が描画装置コントローラ154
に送信される(図17のステップ1609参照)。次い
で、ステップ1816に進み、そこで支持部材863
よって支持された3本の吸引パッド組立体88が退避位
置から通常の作動位置まで戻される。続いて、ステップ
1817では、描画装置コントローラ154から描画終
了信号が受信されているか否かが判断される(図17の
ステップ1614参照)。もし描画終了信号の受信が確
認されていない場合には、ステップ1803に戻り、も
し描画終了信号の受信が確認されると、本基板搬入ルー
チンは終了する。
【0100】図20に示すフローチャートを参照して、
搬出ステーションコントローラ168′で実行される基
板搬出/回収ルーチンについて説明する。
【0101】ステップ2001では、基板の縦幅寸法測
定データが描画装置コントローラ154から受信された
か否かが判断される(図16のステップ1607参
照)。縦幅寸法測定データの受信が確認されると、ステ
ップ2002に進み、そこで基板の縦幅寸法が所定値よ
りも大きいか否かが判断される。もし基板の縦幅寸法が
所定値よりも大きいとき、即ち基板が3つの支持板部材
861 ′、862 ′及び863 ′(図2)で支持された
9本の吸引パッド組立体88′(図1)の全てによって
吸着されなければならなような大きな縦幅寸法を持つと
きには、ステップ2002からステップ2004に進
む。
【0102】一方、ステップ2002でもし基板の縦幅
寸法が所定値よりも小さいと判断されたとき、即ち基板
が2つの支持板部材861 ′及び862 ′で支持された
6本の吸引パッド組立体88′よって十分に吸着し得る
ような小さな縦幅寸法を持つと判断されたとき、ステッ
プ2003に進み、そこで片側の残りの3本の吸引パッ
ド組立体88′、即ち支持部材863 ′で支持された3
本の吸引パッド組立体88′が退避され、次いでステッ
プ2004に進む。要するに、ステップ2003では、
退避シリンダ駆動制御回路186′によって空圧作動シ
リンダ86D′(図1、図2)が作動され、これにより
支持部材863 ′の3本の吸引パッド組立体88′が退
避される。なお、支持部材863 ′によって支持された
3本の吸引パッド組立体88′が退避される理由につい
ては、搬入ステーション11での搬送手段84の支持部
材863 によって支持された3本の吸引パッド組立体8
8が退避される理由と実質的に同じである。
【0103】ステップ2004では、描画装置コントロ
ーラ154から基板搬出指令信号が受信されたか否かが
判断される(図17のステップ1609参照)。基板搬
出指令信号の受信が確認されていないときには、ステッ
プ2005に進み、そこで描画装置コントローラ154
から基板回収指令信号が受信されたか否かが判断される
(図16のステップ1615参照)。基板回収指令信号
の受信が確認されていないときには、ステップ2004
に戻り、基板搬出指令信号及び基板回収指令信号のいず
れかが受信されるまで、ステップ2004及びステップ
2005が繰り返される。
【0104】ステップ2004で基板搬出指令信号が描
画装置コントローラ154から受信されたとき、ステッ
プ2004からステップ2006に進み、そこで描画装
置13の描画テーブル19からの基板の搬出が実行され
る。即ち、搬送手段84′が搬出ステーション12の基
板搬出部12Aから描画ステーション10に向かって移
動させられ、描画装置13の描画テーブル19上の基板
(描画済み)を吸引パッド組立体88′でもって吸着し
た後に基板搬出部12Aに戻って無端ベルトコンベヤ8
1上に搭載する。その後、無端ベルトコンベヤ81が駆
動されて基板は次の処理ステーション例えば現像ステー
ション(図示されない)に向かって移動させられる。な
お、搬送手段84′の移動については、Z軸モータ12
2′、X軸モータ110′及びY軸モータ96′のそれ
ぞれの駆動をZ軸モータ駆動回路174′、X軸モータ
駆動回路172′及びY軸モータ駆動回路170′でも
って適宜制御して行い得ることは、搬入ステーション1
1の搬送手段84の場合と同様である。
【0105】ステップ2005で基板回収指令信号が描
画装置コントローラ154から受信されたとき、即ち誤
った寸法の基板が描画装置13の描画テーブル19に搬
入されたとき、ステップ2005からステップ2007
に進み、そこで描画装置13の描画テーブル19からの
基板の回収が実行される。即ち、搬送手段84′が搬出
ステーション12の基板搬出部12Aから描画ステーシ
ョン10に向かって移動させられ、描画装置13の描画
テーブル19上の基板(未描画)を吸引パッド組立体8
8′でもって吸着した後に基板回収部12Bまで戻って
無端ベルトコンベヤ82上に搭載する。その後、無端ベ
ルトコンベヤ82が駆動されて誤った寸法の基板は回収
される。基板を回収する際の搬送手段84′の移動につ
いても、Z軸モータ122′、X軸モータ110′及び
Y軸モータ96′のそれぞれの駆動をZ軸モータ駆動回
路174′、X軸モータ駆動回路172′及びY軸モー
タ駆動回路170′でもって適宜制御して行い得ること
は明らかであろう。
【0106】基板搬出及び基板回収のいずれかが実行さ
れると、ステップ2008に進み、そこで支持部材86
3 ′によって支持された3本の吸引パッド組立体88′
が退避位置から通常の作動位置まで戻される。続いて、
ステップ2009では、描画装置コントローラ154か
ら描画終了信号が受信されているか否かが判断される
(図17のステップ1614参照)。もし描画終了信号
の受信が確認されていない場合には、ステップ2001
に戻り、もし描画終了信号の受信が確認されると、本基
板搬出/回収ルーチンは終了する。
【0107】
【発明の効果】以上の記載から明らかなように、本発明
によれば、誤った寸法の被描画体(基板)への描画パタ
ーンの描画を未然に防止することができるので、かかる
被描画体が不良品とされるようなことはない。また。不
適正な寸法の被描画体が描画装置に搬入された儘で描画
作動が行われることが阻止されるので、描画作動中にエ
ラー発生を未然に防ぐことができる。また、本発明によ
れば、被描画体の寸法の大小に拘らず、個々の被描画体
を常に適正に描画装置の描画テーブルに搬入することが
できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による描画システムの全体を示す概略立
面図である。
【図2】図1の概略平面図である。
【図3】図1及び図2に示す描画システムの一部を成す
描画ステーションに設置される描画装置の概略斜視図で
ある。
【図4】図1に示す描画システムの搬入ステーションを
示す拡大立面図である。
【図5】図4の平面図である。
【図6】図5のVI−VI線に沿う断面図である。
【図7】図4に対応する立面図であって、寸法測定位置
への基板の位置決め及び基板の横幅寸法の測定を説明す
る説明図である。
【図8】図5に対応する平面図であって、基板の縦幅寸
法の測定を説明する説明図である。
【図9】図8に示す基板とは異なった寸法を持つ基板の
縦幅寸法の測定を説明する説明図である。
【図10】図8に示す基板とも図9に示す基板とも異な
った寸法を持つ基板の縦幅寸法の測定を説明する説明図
である。
【図11】基板の厚さを測定するリニアゲージの側面図
である。
【図12】図11の正面図である。
【図13】図3に示す描画装置の制御ブロック図であ
る。
【図14】図1及び図2に示す描画システムの一部を成
す搬入ステーションの制御ブロック図である。
【図15】図1及び図2に示す描画システムの一部を成
す搬出ステーションの制御ブロック図である。
【図16】図13の制御ブロック図の描画装置コントロ
ーラで実行される描画作動ルーチンのフローチャートの
一部分である。
【図17】図13の制御ブロック図の描画装置コントロ
ーラで実行される描画作動ルーチンのフローチャートの
残りの部分である。
【図18】図14の制御ブロック図の搬入ステーション
コントローラで実行される基板搬入ルーチンのフローチ
ャートの一部分である。
【図19】図14の制御ブロック図の搬入ステーション
コントローラで実行される基板搬入ルーチンのフローチ
ャートの残りの部分である。
【図20】図15の制御ブロック図の搬出ステーション
コントローラで実行される基板搬出/回収ルーチンのフ
ローチャートである。
【符号の説明】
10 描画ステーション 11 搬入ステーション 12 搬出ステーション 12A 基板搬出部 12B 基板回収部 80・81・82 無端ベルトコンベヤ 84・84′ 搬送手段 86D 空圧作動シリンダ 88・88′ 吸引パッド組立体 90・92 Y軸ガイドビーム 94・94′ X軸ガイドビーム 96・96′ Y軸モータ 110・110′ X軸モータ 122・122′ Z軸モータ 134 横幅測定レーザセンサ 138A・138B 縦幅測定レーザセンサ 140 リニアゲージ 154 描画装置コントローラ 168 搬入ステーションコントローラ 168′ 搬出ステーションコントローラ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2H097 CA17 DB03 DB07 DB14 LA03 5E343 ER18 FF28 5F046 AA06 CA03 CD01 CD06 DB04 DC10

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 感光性の被描画体を光ビームで走査させ
    つつ該光ビームを描画データに基づいて変調させること
    により該被描画体に所定のパターンを描画する描画装置
    に対して被描画体を搬入する搬入装置であって、 前記描画装置に搬入すべき被描画体を搭載する搭載手段
    と、 前記搭載手段上の被描画体の寸法データを検出する寸法
    データ検出手段と、 前記寸法データ検出手段によって検出された検出寸法デ
    ータを前記描画装置に送信する検出寸法データ送信手段
    と、 前記搭載手段上の被描画体を担持して前記描画装置に搬
    送する搬送手段とを具備して成る搬入装置。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の搬入装置において、前
    記寸法データ検出手段が被描画体の二次元寸法データを
    検出することを特徴とする搬入装置。
  3. 【請求項3】 請求項2に記載の搬入装置において、前
    記寸法データ検出手段が被描画体の横幅寸法データを検
    出する横幅寸法データ検出器と、該被描画体の縦幅寸法
    データを検出する縦幅寸法データ検出器とを包含するこ
    とを特徴とする搬入装置。
  4. 【請求項4】 請求項1に記載の搬入装置において、前
    記寸法データ検出手段が被描画体の三次元寸法データを
    検出することを特徴とする搬入装置。
  5. 【請求項5】 請求項4に記載の搬入装置において、前
    記寸法データ検出手段が被描画体の横幅寸法データを検
    出する横幅寸法データ検出器と、該被描画体の縦幅寸法
    データを検出する横幅寸法データ検出器と、該被描画体
    の厚さデータを検出する厚さデータ検出器とを包含する
    ことを特徴とする搬入装置。
  6. 【請求項6】 感光性の被描画体を光ビームで走査させ
    つつ該光ビームを描画データに基づいて変調させること
    により該被描画体に所定のパターンを描画する描画装置
    と、この描画装置に被描画体を搬入する搬入装置とを具
    備して成る描画システムであって、 前記搬入装置が前記描画装置に搬入すべき被描画体を搭
    載する搭載手段と、この搭載手段上の被描画体の寸法デ
    ータを検出する寸法データ検出手段と、この寸法データ
    検出手段によって検出された検出寸法データを前記描画
    装置に送信する検出寸法データ送信手段と、前記搭載手
    段上の被描画体を担持して前記描画装置に搬送する搬送
    手段とを包含し、 前記描画装置が前記所定のパターンを描画すべき被描画
    体の寸法情報データと前記検出寸法データとを比較する
    比較手段と、この比較手段によって前記寸法情報データ
    と前記検出寸法データが一致すると判断された際に描画
    作動の実行指令を行う描画作動実行指令手段と、前記比
    較手段によって前記寸法情報データと前記検出寸法デー
    タが不一致であると判断された際に描画作動の非実行指
    令を行う描画作動非実行指令手段とを包含することを特
    徴とする描画システム。
  7. 【請求項7】 請求項6に記載の描画システムにおい
    て、前記描画装置が更に前記寸法情報データを前記搬入
    装置に送信する寸法情報データ送信手段を包含し、前記
    搬入装置が被描画体を前記描画装置まで搬送した後に前
    記寸法情報データに基づいて該被描画体を前記描画装置
    に対して所定位置に位置決めすることを特徴とする描画
    システム。
  8. 【請求項8】 感光性の被描画体を光ビームで走査させ
    つつ該光ビームを描画データに基づいて変調させること
    により該被描画体に所定のパターンを描画する描画装置
    と、この描画装置に被描画体を搬入する搬入装置と、前
    記描画装置に搬入された被描画体を該描画装置から搬出
    する搬出装置とを具備して成る描画システムであって、 前記搬入装置が前記描画装置に搬入すべき被描画体を搭
    載する搭載手段と、この搭載手段上の被描画体の寸法デ
    ータを検出する寸法データ検出手段と、この寸法データ
    検出手段によって検出された検出寸法データを前記描画
    装置に送信する検出寸法データ送信手段と、前記搭載手
    段上の被描画体を担持して前記描画装置に搬送する搬送
    手段とを包含し、 前記描画装置が前記所定のパターンを描画すべき被描画
    体の寸法情報データと前記検出寸法データとを比較する
    比較手段と、この比較手段によって前記寸法情報データ
    と前記検出寸法データが一致すると判断された際に描画
    作動の実行指令を行う描画作動実行指令手段と、前記比
    較手段によって前記寸法情報データと前記検出寸法デー
    タが不一致であると判断された際に描画作動の非実行指
    令を行う描画作動非実行指令手段とを包含し、 前記搬出装置が前記描画装置から被描画体を担持して該
    描画装置の外部に搬送する搬送手段と、前記描画装置の
    描画作動実行指令手段による描画作動実行時に前記搬送
    手段によって搬送された描画後の被描画体を受け入れる
    受入れ手段と、前記描画装置の描画作動非実行指令手段
    による描画作動非実行時に前記搬送手段によって搬送さ
    れた被描画を回収する回収手段とを包含することを特徴
    とする描画システム。
  9. 【請求項9】 請求項8に記載の描画システムにおい
    て、前記描画装置が更に前記寸法情報データを前記搬入
    装置に送信する寸法情報データ送信手段を包含し、前記
    搬入装置が被描画体を前記描画装置まで搬送した後に前
    記寸法情報データに基づいて該被描画体を前記描画装置
    に対して所定位置に位置決めすることを特徴とする描画
    システム。
  10. 【請求項10】 感光性の被描画体を光ビームで走査さ
    せつつ該光ビームを描画データに基づいて変調させるこ
    とにより該被描画体に所定のパターンを描画する描画装
    置に対して被描画体を搬入する搬入装置であって、 前記描画装置に搬入すべき被描画体を搭載する搭載手段
    と、 前記搭載手段上の被描画体の縦寸法データを検出するた
    めの縦寸法データ検出手段と、 前記搭載手段上の被描画体を担持して前記描画装置に搬
    送する搬送手段とを具備し、前記搬送手段は前記搭載手
    段上に被描画体の縦方向に沿って配置された複数の吸引
    パッドを備え、これら吸引パッドによって前記搭載手段
    上の被描画体を担持する際、その担持については、常
    に、前記吸引パッドのうちの前記縦方向に沿う一方の最
    端側に位置する吸引パッドが該被描画体の縦方向の一方
    の端縁側に接近して位置するように行われ、前記吸引パ
    ッドのうちの前記縦方向に沿う他方の最端側に位置する
    少なくとも1つの吸引パッドが退避自在とされ、 更に、前記吸引パッドによって前記搭載手段上の被描画
    体を担持する際に前記縦寸法データ検出手段によって検
    出された縦寸法データに基づいて前記退避自在の吸引パ
    ッドが必要とされるか否かを判別する判別手段と、 前記判別手段によって前記退避自在の吸引パッドが必要
    とされないと判断された際に該退避自在の吸引パッドを
    退避位置に退避させる退避手段とを具備して成る搬入装
    置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005300807A (ja) * 2004-04-09 2005-10-27 Pentax Corp 描画装置
JP2006195062A (ja) * 2005-01-12 2006-07-27 Fuji Photo Film Co Ltd クランプ装置及び画像形成装置

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JP2005300807A (ja) * 2004-04-09 2005-10-27 Pentax Corp 描画装置
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