JP2000123379A - 光ディスク装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 異なる記録原理で構成されたトラックが、異
なる形状を有している光ディスクに対して、トラックの
形状ごとにゲイン調整を行うことにより調整精度を確保
する。 【解決手段】 光スポットとディスク上の目標位置との
相対的位置関係を常に一定に維持する光スポット位置制
御ループ２６に、ゲイン調整手段１４のテスト信号（Ｔ
Ｓ）を加算手段８から印加して、光スポットが特定の記
録原理で記録された領域に位置していることを識別した
記録原理識別手段１２の出力信号に、ＣＰＵ４３が設定
した時間を遅延したタイミングで、特定記録原理測定手
段１３が光スポット位置制御ループ２６の誤差信号（Ｅ
Ｓ）を測定する。この測定結果に基づいて、光スポット
が異なる形状のトラックのどちらに位置しているかを識
別したトラック形状識別手段１５の出力信号に応じて、
ゲイン調整手段１４がトラックの形状ごとに切り替わる
ゲイン設定手段１０のゲインを調整する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、情報を記録または
再生する光ディスクの制御ループのゲイン交点を所定の
周波数に調整する光ディスク装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】ＣＤ、ＤＶＤなどの光ディスクの記録面
に、レンズで集光したレーザビームの光スポットを照射
して、情報を記録または再生する光ディスク装置は、記
録または再生を安定かつ忠実に行うために、光スポット
の集光を一定状態に維持するフォーカス制御と光スポッ
トがディスク上のトラックを正確に追従するトラッキン
グ制御が設けられている。このフォーカス制御とトラッ
キング制御は、それぞれディスクの面振れ、ディスクの
偏心などを考慮して制御ループのゲインの周波数応答が
設計されている。そのゲイン交点は、ディスクの回転数
や制御ループの速応性などから所定の周波数に決定され
ている。

【０００３】しかし、制御ループの構成要素である駆動
装置（アクチュエータ）の推力には個体差がある。ま
た、ディスクの形状差による反射光の変化から誤差信号
の検出感度に差異が発生する。このような要因により、
ディスクごと、装置ごとにゲイン交点の周波数が異な
る。この個体差を補正して、設計した制御ループを実現
するために、ゲイン交点を所定の周波数に調整するゲイ
ン調整が光ディスク装置に備えられている。

【０００４】このゲイン調整を行う従来の光ディスク装
置について説明する。図１５は従来の光ディスク装置の
概略構成を示すブロック図である。光ディスク１はスピ
ンドルモータ２上に装着されている。光ヘッド６は、半
導体レーザ（図示せず）、光学系（図示せず）、対物レ
ンズ３、光検出器５、対物レンズ３を駆動する駆動装置
４等で構成されている。

【０００５】光スポット位置制御ループ５２は、半導体
レーザ（図示せず）の光を対物レンズ３で集光した光ス
ポットとディスク上の目標位置との相対的位置関係を常
に一定に維持する制御ループであり、誤差信号検出手段
７、加算手段８、光スポット位置制御手段９、ゲイン設
定手段５１、駆動手段１１、および光ヘッド６で構成さ
れている。ゲイン調整手段５０は、光スポット位置制御
ループ５２のゲイン交点を所定の周波数に調整する。

【０００６】以上のように構成された光ディスク装置に
ついて、以下にその動作を説明する。

【０００７】まず、スピンドルモータ２に装着されてい
る光ディスク１は回転している。半導体レーザ（図示せ
ず）から照射された光は、光学系（図示せず）を通過し
て対物レンズ３で集光され、光スポットとして光ディス
ク１上の目標位置に照射される。光ディスク１で散乱、
回折した戻り光は、対物レンズ３と光学系（図示せず）
とを通過して光検出器５に投影される。誤差信号検出手
段７は、この投影像による光検出器５の出力信号から、
目標位置に対する光スポット位置の誤差信号（ＥＳ）を
生成する。

【０００８】加算手段８は、制御ループのゲインを調整
する場合には、ゲイン調整手段５０から出力されるテス
ト信号（ＴＳ）と誤差信号（ＥＳ）とを加算して出力す
る。ゲインを調整しない場合には誤差信号（ＥＳ）を出
力する。この加算手段８の出力信号に光スポット位置制
御手段９の位相補償等を行い、ゲイン設定手段５１のゲ
インで増幅することにより、誤差信号（ＥＳ）が０とな
るように制御信号を生成する。駆動手段１１はこの制御
信号から駆動信号を生成する。この駆動信号に基いて駆
動装置４が対物レンズ３を駆動して、光スポットを目標
位置に追従させる。

【０００９】ゲイン調整手段５０は、所定の周波数の信
号に対して光スポット位置制御ループ５２が応答するゲ
イン（以降、ループゲイン（ＬＰＧ）と称す）を検出
し、平均化を行い、ゲイン交点が所定の周波数となるゲ
インをゲイン設定手段５１に設定する。

【００１０】図１６のブロック図を用いてゲイン調整手
段５０の動作を説明する。まずゲインを調整するときに
は、テスト信号発生手段１９がテスト信号（ＴＳ）を発
生する。このテスト信号（ＴＳ）は、正弦波状で、調整
目標となるゲイン交点の周波数（ｆｔ）の信号である。
このテスト信号を加算手段８が光スポット位置制御ルー
プ５２に印加する。測定信号は、テスト信号（ＴＳ）が
印加される直前の信号である誤差信号（ＥＳ）を用い
る。

【００１１】ループゲイン検出手段５３は、光スポット
位置制御ループ５２に印加した信号に対する応答信号か
ら、すなわちテスト信号（ＴＳ）に対する誤差信号（Ｅ
Ｓ）からループゲイン（ＬＰＧ）を検出する。平均化手
段５４は、検出したループゲイン（ＬＰＧ）の所定回数
の平均化を行う。

【００１２】補正手段５５は、平均化したループゲイン
（ＡＬＧ０）から補正値を求め、ゲイン設定手段５１に
設定する。具体的には次のように設定する。テスト信号
（ＴＳ）の周波数（ｆｔ）におけるループゲイン（ＡＬ
Ｐ０）をα［ｄＢ］とする。また、ループゲイン（ＡＬ
Ｐ０）を検出しているときに設定されていたゲイン設定
手段５１のゲインをＫ［ｄＢ］とする。ここで、ゲイン
設定手段に（Ｋ−α）［ｄＢ］となるゲインを設定する
と、周波数（ｆｔ）がゲイン交点となる。このようにし
て、光スポット位置制御ループ５２のゲイン交点を所定
の周波数（ｆｔ）に調整する。

【００１３】

【発明が解決しようとする課題】記録再生可能な光ディ
スクには、データを記録または再生するデータ領域とそ
のデータ領域を示すアドレス情報を記録したアドレス領
域が、異なる記録原理で記録されている。この異なる記
録原理を、第１の記録原理、第２の記録原理とする。こ
のような光ディスクにおいて、第１の記録原理によって
記録された領域が形成するトラックの中心に対して、第
２の記録原理によって記録された領域が形成するトラッ
クがずれて配置してある場合、このずれたトラック領域
を光スポットが通過する毎に、光スポットの位置に対応
しない誤差信号が発生する。また、ずれたトラック領域
を通過した後の誤差信号には、光スポットの目標位置か
らのずれに応答した過渡的な波形が発生する。この誤差
信号が、制御ループのゲイン調整の測定精度を悪化させ
ている。したがってこの光ディスク装置においては、高
精度な調整を確保するために、このトラックずれによる
誤差信号の影響を取り除いた測定が要求されている。

【００１４】また、形状の異なるトラック、例えばトラ
ックの溝部および溝間部に記録または再生する光ディス
クでは、トラックの形状差による反射回折光の干渉の変
化と対物レンズの収差等の影響を受けて、光スポット位
置の誤差の検出感度に差が発生する。その結果、形状の
異なるトラックでは、制御ループのゲイン交点を所定の
周波数に設定するゲインに差異が生ずる。したがって、
このような光ディスク装置においては、制御精度を確保
するために、形状の異なるトラックに対して別々にゲイ
ンを設定し、そのゲインを調整することが要求されてい
る。

【００１５】また、形状の異なるトラックを有する光デ
ィスクが回転していて、光スポットが目標とするトラッ
クの形状が１回転毎に交互に切り替わる状態で、一方の
形状のトラックをゲイン調整する場合、２回転のうち１
回転は測定しないトラックとなる。つまり、同じの形状
でトラックが構成される光ディスクに比べて、測定に要
する回転数は２倍となり、調整時間が長くなってしま
う。したがって、この光ディスク装置においては、調整
時間を短縮するために次の手段が要求されている。すな
わち、形状の異なるトラックを別々にゲイン調整する場
合には、トラックの形状ごと測定データを振り分けて測
定する手段が必要となり、どちらか一方の形状のトラッ
クをゲイン調整する場合、または形状の異なるトラック
を順にゲイン調整する場合には、１回転毎に同じ形状の
トラックにジャンプして、同じ形状のトラックの測定が
連続で行えるトラックジャンプ手段が必要となる。さら
にトラックジャンプ手段では、ゲイン調整の測定精度を
確保するため、トラックジャンプ中のデータを削除する
ことが要求されている。

【００１６】本発明は、かかる事情を鑑みてなされたも
のであり、異なる記録原理で記録された領域で構成され
た形状の異なるトラックを有する光ディスクにおいて、
形状の異なるトラックごとに光スポットの位置を制御す
るゲインが切り替わり、高精度かつ高速に制御ループの
ゲイン交点を所定の周波数に調整することができる光デ
ィスク装置を提供することを目的とする。

【００１７】

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に本発明は、光ビームの光スポット位置を制御する光ス
ポット位置制御手段と、異なる記録原理の領域で構成さ
れた情報担体から第１の記録原理によって記録された領
域の光スポット位置制御の動作状態をモニタする手段
と、異なる記録原理の切替点を通過するときにモニタの
タイミングを遅延する手段を備えている。

【００１８】これにより、特定の記録原理が測定でき、
異なる記録原理の切替点を通過するときに発生する過渡
応答を取り除くことにより測定精度が確保できる。

【００１９】また本発明は、光ビームの光スポット位置
を制御する光スポット位置制御手段と、前記光スポット
位置制御手段のゲインを形状の異なるトラックに応じて
設定するゲイン設定手段を備えている。これにより、形
状の異なるトラックごとにゲイン交点を所定の周波数に
設定することができる。

【００２０】また本発明は、光ビームの光スポット位置
を制御する光スポット位置制御手段と、前記光スポット
位置制御手段のゲインを形状の異なるトラックに応じて
設定するゲイン設定手段と、形状の異なるトラックで構
成された情報担体からトラックの形状に応じて光スポッ
ト位置制御の動作状態をモニタする手段と、モニタした
値に基づいてトラックの形状ごとに前記ゲイン設定手段
のゲインをゲイン交点が所定の周波数となるゲインに調
整する手段を備えている。これにより、光スポットが目
標とするトラックの形状が１回転毎に交互に切り替わる
状態で、形状の異なるトラックごとに測定結果を振り分
けることができる。つまり、形状の異なるトラックの測
定を同時に行うことができるため、ゲインを調整する時
間が短縮され、形状の異なるトラックごとにゲインを調
整することができる。

【００２１】また本発明は、光ビームの光スポット位置
を制御する光スポット位置制御手段と、前記光スポット
位置制御手段のゲインを形状の異なるトラックに応じて
設定するゲイン設定手段と、形状の異なるトラックで構
成された情報担体からトラックの形状に応じて光スポッ
ト位置制御の動作状態をモニタする手段と、モニタした
値に基づいてトラックの形状ごとに前記ゲイン設定手段
のゲインをゲイン交点が所定の周波数となるゲインに調
整する手段と、一方の形状のトラックから同一の形状ト
ラックへ移動するトラックジャンプ手段と、トラックジ
ャンプ動作中にモニタが動作しない手段を備えている。

【００２２】これにより、形状の異なるトラックが１回
転ごとに交互に接続するように構成された情報担体で、
形状の異なるトラックのゲインを順に調整する場合、ま
たは一方のゲインのみ調整する場合に、トラックジャン
プの影響を取り除いた目的の形状のトラックを連続に測
定が行えるため、調整時間が短縮できるとともに調整精
度が確保できる。

【００２３】

【発明の実施の形態】本発明の請求項１に記載の発明
は、第１の形状のトラックと第２の形状のトラックを有
する情報担体に光ビームを照射して収束させた光スポッ
トの位置を制御する光スポット位置制御手段と、第１の
形状のトラックと第２の形状のトラックのどちらに光ス
ポットが位置しているかを識別するトラック形状識別手
段と、前記トラック形状識別手段の出力信号に応じて前
記光スポット位置制御手段の制御ループのゲインを切り
替えるゲイン設定手段とを有することを特徴としたもの
である。これにより、第１の形状のトラックと第２の形
状のトラックのゲイン交点を別々に設定できる。

【００２４】本発明の請求項２に記載の発明は、光スポ
ット位置制御手段を、情報担体上の光スポットの収束状
態が略略所定の状態となるように制御するフォーカス制
御手段とすることを特徴としたものであり、第１の形状
のトラックと第２の形状のトラックのフォーカス制御手
段のゲイン交点を別々に設定できる。

【００２５】本発明の請求項３に記載の発明は、光スポ
ット位置制御手段を、情報担体上の光スポットがトラッ
クに追従するように制御するトラッキング制御手段とす
ることを特徴としたものであり、第１の形状のトラック
と第２の形状のトラックのトラッキング制御手段のゲイ
ン交点を別々に設定できる。

【００２６】本発明の請求項４に記載の発明は、トラッ
ク形状識別手段の出力信号に応じて、光スポット位置制
御手段の動作状態を第１の形状のトラックと第２の形状
のトラックで切り替えながらモニタする動作モニタ手段
と、トラックの形状ごとに、モニタした値に基づいてゲ
イン設定手段のゲインを所定の値に調整するゲイン調整
手段とを有することを特徴としたものであり、ゲイン交
点の調整が第１の形状のトラックと第２の形状のトラッ
クで別々に行える。

【００２７】本発明の請求項５に記載の発明は、第１の
形状のトラックと第２の形状のトラックが、それぞれ第
１の記録原理によって記録された第１の領域と第２の記
録原理によって記録された第２の領域で構成されてい
て、動作モニタ手段が、光スポットが第１の領域に位置
するときの光スポット位置制御手段の動作状態をモニタ
することを特徴としたものであり、第１の領域の測定結
果を形状の異なるトラックごとに振り分けることができ
る。これにより、形状の異なるトラックが同時に測定で
き、ゲイン調整の時間を短縮できる。さらに測定精度が
確保できる。

【００２８】本発明の請求項６記載の発明は、第１の形
状のトラックと第２の形状のトラックが、それぞれ連続
溝で記録された領域とピットで記録された領域で構成さ
れていて、動作モニタ手段を、光スポットが連続溝で記
録された領域に位置するときの光スポット位置制御手段
の動作状態をモニタすることを特徴としたものであり、
異なる形状のトラックごとに、ピットで記録された領域
を除いた連続溝で記録された領域の測定が行える。これ
により、測定精度が確保できる。

【００２９】本発明の請求項７記載の発明は、光ディス
ク装置が、光スポットが第１の形状のトラックまたは第
２の形状のトラックを常に追従するようにジャンプする
トラックジャンプ手段を有し、動作モニタ手段が、トラ
ックジャンプ実行中にトラック形状識別手段の出力信号
に応じてモニタすることを特徴としたものであり、特定
の形状のトラックを連続的に測定できる。これにより、
測定時間が短縮できる。

【００３０】本発明の請求項８記載の発明は、動作モニ
タ手段を、光スポットがトラックをジャンプしたときと
光スポットが整定するまでの期間を取り除いてモニタす
ることを特徴としたものであり、トラックジャンプによ
る連続的な測定が行える上にトラックジャンプ動作中の
測定信号の乱れを取り除くことができるため、測定時間
が短縮でき、測定精度が確保できる。

【００３１】本発明の請求項９記載の発明は、第１の記
録原理によって記録された領域と第２の記録原理によっ
て記録された領域を有する情報担体に光ビームを照射し
て収束させた光スポットの位置を制御する光スポット位
置制御手段と、前記光スポット位置制御手段の制御ルー
プの光スポットが第１の記録原理によって記録された領
域を通過してるときの光スポット位置制御手段の動作状
態をモニタする動作モニタ手段と、モニタした値に基づ
いて、前記ゲイン設定手段のゲインを所定の値に調整す
るゲイン調整手段とを有することを特徴としたものであ
り、光スポットが通過した第２の記録原理によって記録
された領域を取り除いた測定が行える。これにより、測
定精度が確保できる。

【００３２】本発明の請求項１０に記載の発明は、第１
の形状のトラックと第２の形状のトラックが、それぞれ
連続溝で記録された領域とピットで記録された領域で構
成されていて、動作モニタ手段を、光スポットが連続溝
で記録された領域に位置するときの光スポット位置制御
手段の動作状態をモニタすることを特徴としたものであ
り、ピットで記録された領域を除いた連続溝で記録され
た領域の測定が行える。これにより、測定精度が確保で
きる。

【００３３】本発明の請求項１１に記載の発明は、光ス
ポット位置制御手段を、情報担体上の光スポットの収束
状態が略略所定の状態となるように制御するフォーカス
制御手段とすることを特徴としたものであり、第１の記
録原理で記録された領域または連続溝で記録された領域
の測定に基づいてフォーカス制御手段のゲイン交点が設
定できる。

【００３４】本発明の請求項１２に記載の発明は、光ス
ポット位置制御手段を、情報担体上の光スポットがトラ
ックに追従するように制御するトラッキング制御手段と
することを特徴としたものであり、第１の記録原理で記
録された領域または連続溝で記録された領域の測定に基
づいてトラッキング制御手段のゲイン交点が設定でき
る。

【００３５】本発明の請求項１３に記載の発明は、動作
モニタ手段を、光スポット位置制御手段に外乱を印加し
たときの前記光スポット位置制御手段の応答と印加した
外乱から前記光スポット位置制御手段の制御ループのゲ
インをモニタすることを特徴としたものであり、外乱に
対する制御ループの応答から高精度な調整が行える。

【００３６】本発明の請求項１４に記載の発明は、光ス
ポットが第１の形状のトラックに位置するときと第２の
形状のトラックに位置するときの光スポット位置制御手
段の制御ループのゲイン交点が略略等しくなるようにゲ
インを設定することを特徴としたものであり、異なる形
状のトラックで略略等しい制御ループに調整することが
できる。

【００３７】本発明の請求項１５に記載の発明は、光ス
ポット位置制御手段の制御ループのゲイン交点を所定の
周波数に設定することを特徴としたものであり、光ヘッ
ドの個体差を吸収して、ゲイン交点を目的の周波数に略
略調整することができる。

【００３８】以下、本発明の実施の形態について、図面
を参照しながら説明する。 （実施の形態１）本発明の実施の形態１の光ディスク装
置について説明する。

【００３９】図１は実施の形態１の光ディスク装置を示
す概略構成ブロック図である。図１において、光ディス
ク１はスピンドルモータ２上に装着されている。光ヘッ
ド６は、半導体レーザ、光学系（ともに図示せず）、対
物レンズ３、光検出器５、対物レンズ３を駆動する駆動
装置４等で構成されている。光スポット位置制御ループ
２６は、半導体レーザ（図示せず）の光を対物レンズ３
で集光した光スポットとディスク上の目標位置との相対
的位置関係を常に一定に維持する制御ループで、誤差信
号検出手段７、加算手段８、光スポット位置制御手段
９、ゲイン設定手段１０、駆動手段１１と光ヘッド６で
構成されている。

【００４０】光スポット位置制御ループ２６のゲイン交
点を所定の周波数に調整する本光ディスク装置は、記録
原理識別手段１２が光ディスクの異なる記録原理によっ
て記録された領域を識別した信号に、ＣＰＵ４３が設定
した時間を遅延したタイミングで、特定の記録原理で記
録された領域を測定する特定記録原理測定手段１３を備
えている。また、トラック形状識別手段１５が光ディス
クを構成する形状の異なるトラックを識別した信号に基
づいて、形状の異なるトラックごとに光スポット位置制
御ループ２６のゲインが切り替わるゲイン設定手段１０
とゲインを調整するゲイン調整手段１４で構成されてい
る。

【００４１】以下に、本実施の形態の光ディスク装置を
具体的に説明する。まず、図１の光ディスク１は、第１
の記録原理によって記録された領域（以下第１記録原理
領域と称す）と第２の記録原理によって記録された領域
（以下第２記録原理領域と称す）でトラックを構成し、
そのトラックはさらに第１の形状のトラック（以下第１
形状トラックと称す）と第２の形状のトラック（以下第
２形状トラックと称す）を有する。この光ディスク１に
ついて、図１７を用いて具体的な例を説明する。

【００４２】図１７の（ａ）は異なる記録原理により記
録された領域で構成されたトラックを示す図、（ｂ）は
形状の異なるトラックを示す図、（ｃ）は形状の異なる
トラックが１回転ごとに交互に接続したシングルスパイ
ラルの概略図、（ｄ）は形状の異なるトラックが切り替
わる点付近の拡大図である。

【００４３】図１７（ａ）に示すトラックは、データを
記録または再生するデータ領域とそのデータ領域を示す
アドレス情報を記録したアドレス領域で構成し、異なる
記録原理で記録されている。このトラックは、図１７
（ｂ）に示す溝部および溝間部に形成し、図１７（ｃ）
に示すように１回転毎に交互に接続して内周から外周ま
で連続再生または連続記録を可能としたディスク、すな
わちシングルスパイラルフォーマットディスクを構成し
ている。また図１７（ａ）に示すように、データ領域の
先頭に位置しているアドレス領域のアドレス情報は、デ
ータ領域のトラックの中心からずれて配置している。図
１７（ｄ）に示すトラックに対して光スポットの進行方
向を左から右とすると、第１形状トラックはアドレス情
報をトラックの中心から１／２トラック上下に配置し、
第２形状トラックは下上に配置している。これは、第１
形状トラックと第２形状トラックの切替点でも同じであ
る。図７を用いて以下で説明するように、この配置パタ
ーンが形状の異なるトラックの識別を可能にする。

【００４４】スピンドルモータ２に装着されたこの光デ
ィスク１が回転していて、光スポットが追従しているト
ラックの形状が１回転毎に交互に切り替わっていると
き、図１のように構成された光ディスク装置の動作を以
下に説明する。半導体レーザ（図示せず）から照射され
た光は、光学系（図示せず）を通過して対物レンズ３で
集光され、光スポットとして光ディスク１の目標位置に
照射される。光ディスク１で散乱、回折した戻り光は、
対物レンズ３と光学系（図示せず）とを通過して光検出
器５に投影される。誤差信号検出手段７は、この投影像
による光検出器５の出力信号から、目標位置に対する光
スポット位置の誤差信号（ＥＳ）を生成する。

【００４５】加算手段８は、制御ループのゲインを調整
する場合にゲイン調整手段１４から出力されるテスト信
号（ＴＳ）と誤差信号（ＥＳ）を加算して出力する。ゲ
インを調整しない場合には誤差信号（ＥＳ）を出力す
る。この加算手段８の出力信号に光スポット位置制御手
段９が位相補償等を行った出力信号（ＦＢＳ）をゲイン
設定手段１０のゲインで増幅することにより、誤差信号
（ＥＳ）が０となるように制御信号（ＧＳ）を生成す
る。駆動手段１１はこの制御信号（ＧＳ）から駆動信号
を生成し、この駆動信号に基いて駆動装置４が対物レン
ズ３を駆動して、光スポットを目標位置に追従させる。

【００４６】トラックの形状が異なる光ディスク１で
は、光スポット位置制御ループ２６のゲイン交点を所定
の周波数に設定するゲインがトラックの形状で異なる。
そのため、ゲイン設定手段１０がトラックの形状ごとに
ゲインを設定する。この動作について、図２を用いて具
体的に説明する。

【００４７】選択手段１６は、トラック形状識別手段１
５がトラックの形状を識別して出力するトラック形状識
別信号（ＴＲＩＤ）に応じて動作する。トラック形状識
別信号（ＴＲＩＤ）が”Ｈｉ”の場合、選択手段１６は
増幅手段１７のゲイン（Ｇ１）を選択し、トラック形状
識別信号（ＴＲＩＤ）が”Ｌｏｗ”の場合、選択手段１
６は増幅手段１８のゲイン（Ｇ２）を選択する。このよ
うに別々にゲインを設定することで、形状の異なるトラ
ックに対して光スポット位置制御ループ２６のゲイン交
点を所定の周波数に設定することができる。

【００４８】ここでトラック形状識別手段１５が形状の
異なるトラックを識別する例を、図７のタイミングチャ
ートを用いて具体的に説明する。まず、光検出器５の出
力信号から目標トラックと光スポットの相対的な位置の
ずれは、トラッキング位置誤差信号（ＴＥＳ）として生
成される。図１７（ｄ）に示した光ディスク１上を光ス
ポットが第１形状トラックから第２形状トラックへ図７
（ａ）に示すように移動すると、トラッキング位置誤差
信号（ＴＥＳ）には、第２記録原理領域のアドレス情報
の位置に対応した誤差信号が発生する。この誤差信号
は、図７（ｂ）に示すように、第１形状トラックの第２
記録原理領域では上下、第２形状トラックの第２記録原
理領域では下上に発生する。このトラッキング位置誤差
信号（ＴＥＳ）に対して、ピークエンベロープを検出し
て２値化すると図７（ｃ）のピーク２値化信号を得る。
また、トラッキング位置誤差信号（ＴＥＳ）からボトム
エンベロープを検出して２値化すると、図７（ｄ）に示
すボトム２値化信号が得られる。図７（ｃ）に示す信号
と図７（ｄ）に示す信号とを論理和すると、第１記録原
理領域で”Ｌｏｗ”、第２記録原理領域で”Ｈｉ”とな
る図７（ｅ）の記録原理識別信号（ＭＭＩＤ）を得るこ
とができる。

【００４９】さらに、この記録原理識別信号（ＭＭＩ
Ｄ）の立ち上がり（”Ｌｏｗ”から”Ｈｉ”）のタイミ
ングとボトムエンベロープが示す極性（”Ｈｉ”また
は”Ｌｏｗ”）とからトラックの形状を識別できる。記
録原理識別信号（ＭＭＩＤ）とピークエンベロープでも
同様に実施可能である。具体的なトラックの形状識別の
例を図１８（ａ）または図１８（ｂ）に示す。図１８
（ａ）または図１８（ｂ）の表に示すように、第１形状
トラックで”Ｈｉ”、第２形状トラックで”Ｌｏｗ”と
なるトラック形状識別信号（ＴＲＩＤ）を得ることがで
きる。

【００５０】なお、記録原理識別信号（ＭＭＩＤ）とト
ラック形状識別信号（ＴＲＩＤ）の極性は、本実施例の
説明に示したものであり、なんら限定されない。

【００５１】以上のタイミングチャートの動作を実現す
るトラック形状識別手段１５の構成ブロック図の一例
を、図６に示す。

【００５２】光検出器５の出力信号がトラック形状識別
手段１５に入力されると、この信号から、トラック位置
誤差検出手段３６によってトラック位置誤差信号（ＴＥ
Ｓ）（図７（ｂ）参照）を検出し、ピークエンベロープ
検出手段３７および２値化手段３８によってピーク２値
化信号（図７（ｃ）参照）を得る。また、トラック位置
誤差信号（ＴＥＳ）はボトムエンベロープ検出手段３９
にも与えられ、ボトムエンベロープ検出手段３９および
２値化手段４０でボトム２値化信号（図７（ｄ）参照）
が得られる。得られたピーク２値化信号およびボトム２
値化信号は、論理和手段４１に与えられ、ここでこれら
の信号を論理和した信号が得られる。論理和した信号は
トラック識別手段４２に与えられる。トラック識別手段
４２は、論理和手段４１から与えられた論理和信号の”
Ｌｏｗ”から”Ｈｉ”の立ち上がりと２値化手段４０か
ら与えられたボトム２値化信号とから、図１８（ａ）の
表に基づいてトラック形状識別信号（ＴＲＩＤ）を生成
する。

【００５３】続いて、光スポット位置制御ループ２６の
ゲイン調整を説明する。このゲイン調整は、記録原理識
別手段１２が記録原理を識別する信号（ＭＭＩＤ）に基
いて特定記録原理測定手段１３で測定を行い、この測定
信号からゲイン調整手段１４がトラック形状識別手段１
５に応じてループゲイン（ＬＰＧ）を検出して、トラッ
クの形状ごとにゲイン設定手段１０のゲインを補正す
る。以下にその動作について詳しく説明する。

【００５４】記録原理識別手段１２は、異なる記録原理
で記録された領域を識別する。記録原理識別信号（ＭＭ
ＩＤ）を生成する方法の一例は、既に図７のタイミング
チャートの説明で示してあるので、これを実現するため
の記録原理識別手段１２の構成ブロック図を図５に示
す。光検出器５（図１参照）からの出力信号が記録原理
識別手段１２に入力されると、その信号を用いてトラッ
ク位置誤差検出手段３０によって、図７（ｂ）に示すト
ラック位置誤差信号（ＴＥＳ）を検出する。トラック位
置誤差信号はピークエンベロープ検出手段３１に与えら
れ、ここでピークエンベロープを検出された後、２値化
手段３２によって２値化されて、図７（ｃ）に示すピー
ク２値化信号が得られる。同様にトラック位置誤差信号
はボトムエンベロープ検出手段３３に与えられ、ここで
ボトムエンベロープが検出された後、２値化手段３４で
２値化され、図７（ｄ）に示すボトム２値化信号が得ら
れる。２値化手段３２、３４からの信号を論理和手段３
５で論理和すると、図７（ｅ）に示す記録原理識別信号
（ＭＭＩＤ）が生成される。

【００５５】続いて、特定記録原理測定手段１３の動作
および構成例を説明する。特定記録原理測定手段１３
は、記録原理識別手段１２の出力信号（ＭＭＩＤ）の”
Ｈｉ”から”Ｌｏｗ”への切り替わりタイミングから、
所定の時間を遅延した後、第１記録原理領域を測定す
る。

【００５６】特定記録原理測定手段１３の具体的な構成
例を図３に示す。ＣＰＵ４３（図１参照）は、本光ディ
スク装置と接続しているＣＰＵＳを通して、所定の時間
を遅延時間設定手段２８に予め設定する。測定タイミン
グ遅延手段２７は、第１記録原理領域開始である記録原
理識別信号（ＭＭＩＤ）が”Ｈｉ”から”Ｌｏｗ”に切
り替わるタイミングから、遅延時間設定手段２８に設定
された時間を遅延する信号（ＭＳＳ）を生成する。この
遅延信号（ＭＳＳ）に基づいて、特定領域測定手段２９
は第１記録原理領域の誤差信号（ＥＳ）の測定を開始
し、測定信号（ＭＤＴ）を出力する。このようにして、
第２記録原理領域の誤差信号とトラックの位置がずれた
領域を光スポットが通過した後に発生する過渡応答の影
響を取り除き、第１記録原理領域の測定の精度を高める
ことができる。

【００５７】ゲイン調整手段１４は、上記の測定方法を
用いて、形状の異なるトラックごとにゲイン設定手段１
０のゲインを調整して、光スポット位置制御ループ２６
のゲイン交点を所定の周波数に設定する。

【００５８】ここで、ゲインを調整する方法について図
１５を用いて説明する。ゲイン調整は、所定の周波数の
信号に対する制御ループの応答信号のゲインを検出し
て、このゲインに基づいて制御ループのゲインを補正す
ることより、制御ループのゲイン交点を所定の周波数に
設定することができる。以降、所定の周波数の信号で検
出したゲインをループゲイン（ＬＰＧ）と称す。

【００５９】ゲインを調整するために、次のようにルー
プゲイン（ＬＰＧ）を検出する。まず、正弦波状のテス
ト信号（ＴＳ）を図１５の光スポット位置制御ループ５
２に印加する。印加は加算手段８で行う。制御ループの
応答信号は、テスト信号（ＴＳ）の印加点直前の信号で
ある誤差信号（ＥＳ）を用いる。この誤差信号（ＥＳ）
とテスト信号（ＴＳ）からループゲイン（ＬＰＧ）を検
出する。

【００６０】このループゲイン（ＬＰＧ）の検出方法を
詳しく説明する。印加するテスト信号（ＴＳ）をＵ
（ｓ）、誤差信号（ＥＳ）をＸ（ｓ）、光スポット位置
制御ループ５２の各構成要素を図１９（ａ）に示す伝達
関数で表し、外乱の影響が十分に小さいとすると、制御
ループの伝達関数Ｇ（ｓ）は、次のようになる。

【００６１】

【数１】

【００６２】ここで、Ｘ（ｓ）とＵ（ｓ）のｓをｊωで
置き換えた周波数伝達関数Ｘ（ｊω）とＵ（ｊω）は複
素数で表現できるから、それぞれ実数部をＸｒとＵｒ、
虚数部をＸｉとＵｉとすると、ゲイン｜Ｇ（ｊω）｜
は、以下のように求めることができる。

【００６３】

【数２】

【００６４】ここで、Ｕ（ｊω）は印加信号であるか
ら、ＵｒとＵｉは既知である。したがって、ＸｒとＸｉ
を検出すれば、｜Ｇ（ｊω）｜を求めることができる。

【００６５】このＸｒとＸｉの検出にはホモダイン検波
を用いる。ホモダイン検波は、測定信号に同じ周波数お
よび位相の余弦信号をかけて低周波項の成分を取り出す
方法である。この検波により、振幅が１／２になった測
定信号が検波できる。振幅Ｗ、角周波数ω、時間ｔの測
定信号Ｗｃｏｓ（ωｔ）をｃｏｓ（ωｔ）で検波する
と、次のようになる。

【００６６】

【数３】

【００６７】しかしこの検波では、測定信号と余弦信号
の位相がずれると検波信号にひずみが発生する。そこ
で、印加信号Ｕ（ｊω）に対して位相がずれる測定信号
Ｘ（ｊω）の検波は、このひずみの影響をなくして正確
に信号の振幅を検出するために印加信号の同相成分と直
交成分で行う。振幅Ｘ、角周波数ω、時間ｔ、位相ずれ
Φの測定信号Ｘｃｏｓ（ωｔ＋Φ）に対して、印加信号
の同相成分をｃｏｓ（ωｔ）、直交成分をｓｉｎ（ω
ｔ）でホモダイン検波すると、実数部Ｙｒと虚数部Ｙｉ
は次のようになる。

【００６８】

【数４】

【００６９】に対応する。このＹｒとＹｉを２倍すれ
ば、図２０（ｃ）に示すようにＸｒとＸｉが得られる。

【００７０】このように、Ｘ（ｊω）の同相および直交
のホモダイン検波結果を２倍することによりＸｒとＸｉ
とを検出でき、検出されたＸｒ、Ｘｉを既知であるＵｒ
とＵｉとともに上記｜Ｇ（ｊω）｜を求める式に代入す
れば、ループゲイン（ＬＰＧ）が求まる。なお、ループ
ゲイン（ＬＰＧ）の検出をホモダイン検波による例で説
明したが、その他の方法でも実現可能である。

【００７１】ゲインの補正は、検出したループゲイン
（ＬＰＧ）に基づいて次のように行う。ゲイン設定手段
５１のゲインがＫ［ｄＢ］のとき、ループゲイン（ＬＰ
Ｇ）の検出結果をα［ｄＢ］とする。（Ｋ−α）［ｄ
Ｂ］となるゲインをゲイン設定手段５１（図１５参照）
に設定すると、制御ループのゲイン交点をテスト信号
（ＴＳ）の周波数に調整することができる。さらに、ゲ
イン交点をテスト信号（ＴＳ）の周波数（ｆｔ）とは異
なる周波数（ｆｑ）に設定したときの周波数（ｆｔ）の
ゲインがβ［ｄＢ］であるとき、（Ｋ−α＋β）［ｄ
Ｂ］となるゲインをゲイン設定手段５１に設定すると、
周波数（ｆｑ）にゲイン交点を調整することができる。
このようにゲインを設定すれば、制御ループのゲイン交
点を所定の周波数に調整することができる。

【００７２】本実施の形態における光ディスク装置は、
以上のようなゲイン調整の方法を用いて、形状の異なる
トラックごとにゲイン設定手段１０のゲインを調整す
る。ゲインの調整を行うゲイン調整手段１４について、
図４のブロック構成図を用いて具体的に説明する。

【００７３】まず、テスト信号発生手段１９で正弦波状
のテスト信号（ＴＳ）を発生し、図１に示すように加算
手段８で光スポット位置制御ループ２６に印加する。ま
た、第２記録原理領域の影響を取り除いた測定開始信号
（ＭＳＳ）と、その信号に基づいてテスト信号（ＴＳ）
に応答した誤差信号（ＥＳ）を測定した信号（ＭＤＴ）
は、特定記録原理測定手段１３で生成される。ループゲ
イン検出手段２０は、テスト信号（ＴＳ）と測定信号
（ＭＤＴ）とから、上述したホモダイン検波を用いてル
ープゲイン（ＬＰＧ）を検出する。このループゲイン
（ＬＰＧ）の検出は測定開始信号（ＭＳＳ）からテスト
信号（ＴＳ）の１周期単位で積分を行い、その結果はト
ラック形状識別信号（ＴＲＩＤ）に応じて選択手段２１
が振り分けて平均化する。平均化は、トラック形状識別
信号（ＴＲＩＤ）が”Ｈｉ”の場合は平均化手段２２
で、トラック形状識別信号（ＴＲＩＤ）が”Ｌｏｗ”の
場合は平均化手段２４で、所定の回数までループゲイン
（ＬＰＧ）の平均化を行う。平均化手段２２の平均化が
終了すると、その結果である平均化ループゲイン（ＡＬ
Ｇ１）を基に補正手段２３は第１形状トラックのゲイン
Ｇ１を補正する。平均化手段２４の平均化が終了する
と、補正手段２５は平均化ループゲイン（ＡＬＧ２）を
基に第２形状トラックのゲインＧ２を補正する。このよ
うに、ループゲイン（ＬＰＧ）の平均化とゲインの補正
が、第１形状トラックと第２形状トラックで別々に行う
ことができるため、形状の異なるトラックごとに制御ル
ープのゲイン交点を所定の周波数に調整することができ
る。なおループゲイン（ＬＰＧ）の検出では、テスト信
号（ＴＳ）の１周期単位の積分を用いて、ホモダイン検
波の低周波成分の抽出を説明した。これは、抽出方法を
限定するものではない。例えば帯域通過フィルタ（例と
して低域通過フィルタ）によって、誤差信号（ＥＳ）と
同相の積および直交の積から低周波を抽出することがで
きる。

【００７４】ここで、図８に示すタイミングチャートを
用いて、上記構成の動作を詳しく説明する。図８（ａ）
に示すディスク面の第１形状トラックと第２形状トラッ
クは、第１記録原理領域と第２記録原理領域で構成され
ている。図８（ａ）に示すように光スポットが左から右
に通過すると、記録原理識別信号（ＭＭＩＤ）は、図８
（ｅ）に示すように第２記録原理領域で”Ｈｉ”、第１
記録原理領域で”Ｌｏｗ”となる。図８（ｇ）に示す、
測定タイミング遅延手段２７で生成される測定開始信号
（ＭＳＳ）は、記録原理識別信号（ＭＭＩＤ）の第１記
録原理領域を示すタイミングに、遅延時間設置手段２８
に設定された時間を遅延する。この測定開始信号（ＭＳ
Ｓ）の”Ｈｉ”から”Ｌｏｗ”のタイミングで第１記録
原理領域の測定を開始し、同時に測定信号（ＭＤＴ）と
テスト信号（ＴＳ）とのホモダイン検波を行い、テスト
信号（ＴＳ）図８（ｈ）の１周期単位の積分でループゲ
イン（ＬＰＧ）を検出する。テスト信号（ＴＳ）１周期
の積分が終了する前に光スポットの位置が第２記録原理
領域に変わると、測定開始信号（ＭＳＳ）の極性は変化
する。このようにテスト信号（ＴＳ）１周期の積分終了
前に測定開始信号（ＭＳＳ）の極性が変化した場合、検
出していたループゲイン（ＬＰＧ）の積分値は削除す
る。この動作を検出区間、削除区間で表すと図８（ｉ）
のように分割できる。このようにして、テスト信号（Ｔ
Ｓ）１周期ごとにループゲイン（ＬＰＧ）を検出する。
なお、ループゲイン検出の単位をテスト信号（ＴＳ）の
１周期の例で説明したが、その他の周期でも実施可能で
ある。選択手段２１は、１周期の検出が行えたループゲ
イン（ＬＰＧ）を図８（ｆ）のトラック形状識別信号
（ＴＲＩＤ）に応じて平均化手段２２（ＴＲＩＤ＝”Ｈ
ｉ”）と平均化手段２４（ＴＲＩＤ＝”Ｌｏｗ”）に振
り分ける。このようにして、第１形状トラックと第２形
状トラックが連続に切り替わる状態でゲイン調整を実行
しても、ループゲイン（ＬＰＧ）検出結果をトラックの
形状に応じて別々に振り分けることができ、測定時間の
浪費を減少することができる。

【００７５】以上説明したように、本実施の形態によれ
ば、異なる形状のトラックに対してゲインを別々に設定
でき、トラックの形状に応じて光スポット位置制御ルー
プのゲイン交点を所定の周波数に設定することができ
る。また、第２記録原理領域と第２記録原理領域を通過
した後に発生する過渡応答を取り除くことができ、第１
記録原理領域の測定精度が確保できる。

【００７６】また、第１形状トラックと第２形状トラッ
クとが連続に切り替わる状態で測定を行なっても、トラ
ックの形状に応じて検出したループゲインを振り分ける
ことができ、ループゲインの平均化とゲインの補正が第
１形状トラックと第２形状トラックとで別々に行うこと
ができる。このため、調整時間を短縮することができ、
形状の異なるトラックごとに制御ループのゲイン交点を
所定の周波数に設定することができる。

【００７７】なお、本発明は、上述した実施の形態に限
定されるものではなく、種々の態様が可能である。

【００７８】（実施の形態２）次に、本発明の実施の形
態２の光ディスク装置を説明する。

【００７９】図９は実施の形態２の光ディスク装置の概
略構成を示すブロック図である。図９において、図１と
同じ構成要素のものには同じ番号を付しており、実施の
形態１における図１の構成要素と同じように動作する。
光ディスク１はスピンドルモータ２上に装着されてい
る。光ヘッド６は、半導体レーザ、光学系（ともに不図
示）、対物レンズ３、光検出器５、対物レンズ３を駆動
する駆動装置４等で構成されている。光スポット位置制
御ループ４９は、半導体レーザ（図示せず）の光を対物
レンズ３で集光した光スポットとディスク上の目標位置
との相対的位置関係を常に一定に維持する制御ループで
あり、誤差信号検出手段７、加算手段８、光スポット位
置制御手段９、ゲイン設定手段５８、加算手段４４、駆
動手段１１および光ヘッド６で構成されている。ゲイン
設定手段５８は、トラックの形状を識別した信号に応じ
てゲインを設定する。

【００８０】光スポット位置制御ループ４９のゲイン交
点を所定の周波数に調整する本光ディスク装置は、記録
原理識別手段１２が光ディスクの異なる記録原理によっ
て記録された領域を識別した信号（ＭＭＩＤ）に、ＣＰ
Ｕ４３が設定した時間を遅延したタイミングで、特定の
記録原理で記録された領域を測定する特定記録原理測定
手段１３を備えている。また、本実施の形態における光
ディスク装置は、アドレスを読み取り、トラックジャン
プ実行の判定を行うアドレス読取手段４５と、その判定
に基づいてトラックジャンプを実行するジャンピング実
行手段４６と、トラックジャンプの影響を取り除くため
にトラックジャンプの動作区間にＣＰＵ４３の設定時間
を付加した信号を生成するジャンピング検出手段４７と
をさらに備えている。また、トラック形状識別手段１５
がトラックの形状を識別して、形状信号生成手段５７が
トラックジャンプの目標トラックの形状極性を設定した
信号に基づいて、形状の異なるトラックごとに光スポッ
ト位置制御ループ４９のゲイン設定手段５８のゲインを
調整するゲイン調整手段４８が設けられている。

【００８１】以下、このように構成された本実施の形態
の光ディスク装置をより詳細に説明する。以下の説明で
参照する図面において、上記実施の形態１で説明した構
成要素と同じ動作をする構成要素には同じ番号を付して
あり、詳しい説明は省略する。したがって、以下の説明
では、上記実施の形態１における構成要素とは異なる構
成要素、異なる動作を中心に説明する。

【００８２】光ディスク１は、第１記録原理領域と第２
記録原理領域からなる第１形状トラックと第２形状トラ
ックを有したシングルスパイラルフォーマットディスク
を構成し、スピンドルモータ２に装着されて回転してい
る。図９に示す光ディスク装置は、この光ディスク１に
対して、光スポットが同じ形状のトラックに位置するよ
うにトラックジャンプ（ＴＪＭＰ）の動作を行う。具体
的には、光スポットを第１形状トラックに位置させる場
合、アドレス情報が第２形状トラックを示すときに第１
形状トラックに光スポットを移動させる。または、光ス
ポットを第２形状トラックに位置させる場合、アドレス
情報が第１形状トラックを示すときに第２形状トラック
に光スポットを移動させる。図９の光ディスク装置がこ
のように動作しているとき、各構成要素の動作を以下に
説明する。

【００８３】対物レンズ３で集光された半導体レーザ
（不図示）の光スポットは光ディスク１の目標位置に照
射され、散乱、回折して、対物レンズ３を通過した戻り
光は光検出器５に投影される。誤差信号検出手段７は、
光検出器５の出力信号から、目標位置に対する光スポッ
ト位置の誤差信号（ＥＳ）を生成する。加算手段８は、
制御ループのゲインを調整する場合には、ゲイン調整手
段４８から出力されるテスト信号（ＴＳ）と誤差信号
（ＥＳ）とを加算して出力する。ゲインを調整しない場
合には誤差信号（ＥＳ）を出力する。この加算手段８の
出力信号に光スポット位置制御手段９が位相補償等を行
った出力信号（ＦＢＳ）をゲイン設定手段５８のゲイン
で増幅することにより、誤差信号（ＥＳ）が０となるよ
うに制御信号（ＧＳ）が生成される。加算手段４４は、
トラックジャンプ（ＴＪＭＰ）するときに、この制御信
号とジャンピング実行手段４６が発生する駆動信号（Ｊ
ＰＤ）の加算した信号を出力する。トラックジャンプ
（ＴＪＭＰ）しないときには、制御信号（ＧＳ）を出力
する。駆動手段１１は、加算手段４４の出力信号から駆
動信号を生成し、この駆動信号に基いて駆動装置４が対
物レンズ３を駆動する。ゲイン設定手段５８は、図１０
に示すようにトラックの形状を示す信号（ＴＲＳ）が”
Ｈｉ”の場合はゲイン（Ｇ１）、”Ｌｏｗ”の場合はゲ
イン（Ｇ２）を設定する。

【００８４】ゲイン設定手段５８で用いるトラックの形
状を示す信号（ＴＲＳ）は、形状信号生成手段５７で次
のように生成される。トラックジャンプ（ＴＪＭＰ）し
ないときは、トラック形状識別手段１５が識別する第１
形状トラックで”Ｈｉ”を、第２形状トラックで”Ｌｏ
ｗ”を示すトラック形状識別信号（ＴＲＩＤ）を出力す
る。トラックジャンプ（ＴＪＭＰ）するときは、トラッ
クジャンプ（ＴＪＭＰ）を開始するタイミングで目標と
するトラックの形状を示す信号の極性に応じた”Ｈｉ”
または”Ｌｏｗ”の設定を行い、次に識別されるまで、
その極性を保持する。

【００８５】このようにトラックジャンプ（ＴＪＭＰ）
を行うときに設定する極性は、トラック形状識別信号
（ＴＲＩＤ）の極性に基づいて次のように設定する。こ
こで、隣接するトラックに移動するときのトラックの本
数を１本とする。形状の異なるトラックが１回転ごとに
交互に接続する光ディスク１では、トラックジャンプ
（ＴＪＭＰ）の本数が偶数のとき、目標とするトラック
の形状はトラックジャンプ（ＴＪＭＰ）する前のトラッ
クの形状と同じになる。奇数のときは、トラックジャン
プ（ＴＪＭＰ）する前のトラックの形状とは別の形状と
なる。具体的には、第１形状トラックから、１本トラッ
クジャンプすると第２形状トラックに、２本トラックジ
ャンプすると第１形状トラックに移動することになる。
この原理に基づいて、目的とするトラックの形状を示す
信号の極性をあらかじめ設定することができる。これに
より、第１記録原理領域内でトラックジャンプ（ＴＪＭ
Ｐ）した場合に、信号の極性とトラックの形状を合せる
ことができる。

【００８６】トラックジャンプ（ＴＪＭＰ）の実行判定
は、アドレス読取手段４５が行う。アドレス読取手段４
５は、光検出器５の出力信号からアドレスを読み取り、
目的の形状のトラックに光スポットが位置しているかど
うかを判定する。目的でない形状に光スポットが位置し
ていると判定した場合、ジャンピング命令信号（ＪＰ
Ｃ）を出力する。なお、トラックジャンプ（ＴＪＭＰ）
の実行判定は、アドレスの情報に基づいて行う例を示し
たが、トラックの形状の変化を検知することによって行
うこともできる。

【００８７】このジャンピング命令信号（ＪＰＣ）に基
づいて、形状信号生成手段５７がトラック形状信号（Ｔ
ＲＳ）を生成するとともに、ジャンピング実行手段４６
がトラックジャンプ（ＴＪＭＰ）の駆動信号（ＪＰＤ）
を出力する。このジャンピング駆動信号（ＪＰＤ）を加
算手段４４が光スポット位置制御ループ４９に印加し、
光スポットを目標のトラックに移動させる。またジャン
ピング実行手段４６は、ジャンピング駆動信号（ＪＰ
Ｄ）を出力している区間、すなわちトラックジャンプ
（ＴＪＭＰ）動作中の区間を示すジャンピング検出信号
（ＪＤＳ）を出力する。

【００８８】図１１はジャンピング検出手段４７の構成
ブロックを示す図である。遅延時間設定手段６０には、
ＣＰＵ４３と本光ディスク装置が接続しているＣＰＵＳ
を通して所定の時間が予め設定されている。整定時間遅
延手段５９は、ジャンピング検出信号（ＪＤＳ）のトラ
ックジャンプ（ＴＪＭＰ）が終了するタイミングを遅延
時間設定手段６０の設定時間で遅延した信号（ＪＰＳ）
を、生成する。

【００８９】上記構成によるトラックジャンプ（ＴＪＭ
Ｐ）の動作を、図１３のタイミングチャートに基づいて
説明する。図１３（ａ）は、光スポットがディスク面の
第１形状トラックから第２形状トラックへ通過すると
き、アドレスの情報を読み取り、トラックジャンプ（Ｔ
ＪＭＰ）の実行を判定して、トラックジャンプ（ＴＪＭ
Ｐ）したことを示している。まず、トラックジャンプ
（ＴＪＭＰ）を実行したタイミングを図１３（ｍ）のジ
ャンピング命令信号（ＪＰＣ）のように示すと、このタ
イミングで、図１３（ｋ）のトラックの形状を示す信号
（ＴＲＳ）には目標のトラックの形状の極性が設定され
る。この信号（ＴＲＳ）は、次の形状識別までその極性
を保持する。

【００９０】また、同じタイミングで、ジャンピング実
行手段４６はジャンピング駆動信号（ＪＰＤ）とジャン
ピング検出信号（ＪＤＳ）を出力する。ジャンピング駆
動信号（ＪＰＤ）は、光スポットを目標トラックに移動
させる駆動信号であり、図１３（ｎ）に示すように、加
速”＋”の後、減速”−”となる。このジャンピング駆
動信号（ＪＰＤ）が加速駆動信号になるとき、図１３
（ｊ）に示すジャンピング検出信号（ＪＤＳ）と図１３
（ｏ）に示すジャンピング信号（ＪＰＳ）は”Ｈｉ”と
なる。そして、ジャンピング駆動信号（ＪＰＤ）が減速
駆動信号となり、駆動を終了すると、ジャンピング検出
信号（ＪＰＳ）は”Ｈｉ”から”Ｌｏｗ”となる。ジャ
ンピング信号（ＪＰＳ）は、さらに遅延時間設定手段６
０の設定時間を”Ｈｉ”とした後、”Ｌｏｗ”となる。
このジャンピング信号（ＪＰＳ）により、トラックジャ
ンプ（ＴＪＭＰ）終了後の光スポットの乱れを取り除く
ことができ、光スポットが整定してからループゲインを
検出することができる。なお、ジャンピング駆動信号
（ＪＰＤ）、ジャンピング検出信号（ＪＤＳ）、ジャン
ピング信号（ＪＰＳ）の極性は、本実施の形態の説明の
ために示した例であり、これには限定されない。

【００９１】次に、上記構成の本実施の形態における光
ディスク装置が、このようにトラックジャンプ（ＴＪＭ
Ｐ）しているときに行うゲイン調整を説明する。なお、
以下の説明においても、上記実施の形態１と同様に、所
定の周波数における光スポット位置制御ループ４９のゲ
インをループゲイン（ＬＰＧ）とする。

【００９２】ゲイン調整は、第２記録原理領域の影響と
トラックジャンプ（ＴＪＭＰ）動作の影響とを取り除い
たループゲイン（ＬＰＧ）を検出して、実施の形態１と
同様に、トラックの形状に応じて平均化を行い、トラッ
クの形状ごとにゲイン交点を所定の周波数に設定するゲ
インを求め、ゲインを補正する。以下にその調整動作を
具体的に説明する。

【００９３】まず、光スポット位置制御ループ４９にテ
スト信号（ＴＳ）を印加する。特定記録原理測定手段１
３は、記録原理識別手段１２が光ディスク１の記録原理
を識別した記録原理識別信号（ＭＭＩＤ）に基づいて、
誤差信号（ＥＳ）から第１記録原理領域の測定を行い、
測定信号（ＭＤＴ）を出力する。ゲイン調整手段４８
は、この測定信号（ＭＤＴ）から、第２記録原理領域の
影響とトラックジャンプ（ＴＪＭＰ）動作の影響とを取
り除いたループゲイン（ＬＰＧ）を検出し、トラックの
形状に応じて所定の回数平均化を行い、ゲイン設定手段
５８のゲインを補正する。

【００９４】ゲイン調整手段４８の動作を、図１２の構
成ブロックを用いて以下に説明する。なお、図１２のル
ープゲイン検出手段５６および選択手段６１以外の構成
要素は、上記実施の形態１で説明した図４の構成要素と
同じであり、実施の形態１と同じように動作する。した
がって、図４の構成要素と同じように動作する構成要素
の説明は省略し、図４とは異なる構成要素について説明
する。

【００９５】ループゲイン検出手段５６は、測定信号
（ＭＤＴ）とテスト信号（ＴＳ）のホモダイン検波を行
い、測定開始信号（ＭＳＳ）とジャンピング信号（ＪＰ
Ｓ）に基づいて、テスト信号（ＴＳ）の１周期の積分を
行い、ループゲイン（ＬＰＧ）を検出する。選択手段６
１は、検出したループゲイン（ＬＰＧ）をトラック形状
信号（ＴＲＳ）に応じて平均化手段２２または平均化手
段２３に振り分け、所定の回数平均化を行う。平均化が
終了すると、その結果である平均化ループゲイン（ＡＬ
Ｇ１）を基に補正手段２３は第１形状トラックのゲイン
Ｇ１を補正し、平均化ループゲイン（ＡＬＧ２）を基に
補正手段２４は第２形状トラックのゲインＧ２を補正す
る。これにより、トラックジャンプ（ＴＪＭＰ）の実行
においても、トラックの形状に応じて平均化を行うこと
ができ、別々にゲイン調整を行うことができる。

【００９６】ここで、第２記録原理領域の影響とトラッ
クジャンプ（ＴＪＭＰ）動作の影響とを取り除くループ
ゲイン（ＬＰＧ）の検出を、図１４に示すタイミングチ
ャートを用いて、詳しく説明する。

【００９７】図１４（ａ）は、光スポットの位置がディ
スク面の第１形状トラックから第２形状トラックへ切り
替わり、トラックジャンプ（ＴＪＭＰ）を実行して、第
１形状トラックへ移動したことを示している。記録原理
信号（ＭＭＩＤ）は、図１４（ｅ）に示すように、第２
記録原理領域で”Ｈｉ”、第１記録原理領域で”Ｌｏ
ｗ”を示す。図１４（ｇ）の測定開始信号（ＭＳＳ）
は、第２記録原理領域の区間と第２記録原理領域の終了
タイミングからＣＰＵ４３の設定時間を”Ｈｉ”を示
す。また、図１４（ｊ）のジャンピング信号（ＪＰＳ）
は、トラックジャンプ（ＴＪＭＰ）を実行してから、光
スポットが整定するまでの区間を”Ｈｉ”で示す。

【００９８】このように動作している光ディスク装置の
ループゲイン（ＬＰＧ）の検出は、測定開始信号（ＭＳ
Ｓ）の”Ｈｉ”から”Ｌｏｗ”のタイミングで開始す
る。このタイミングで、第１記録原理領域の測定を開始
すると同時に、測定信号（ＭＤＴ）とテスト信号（Ｔ
Ｓ）のホモダイン検波を行い、図８（ｈ）に示すテスト
信号（ＴＳ）１周期単位の積分でループゲイン（ＬＰ
Ｇ）を検出する。

【００９９】テスト信号（ＴＳ）１周期の積分が終了す
る前に測定開始信号（ＭＳＳ）の極性が”Ｈｉ”に変化
した場合、検出していたループゲイン（ＬＰＧ）の積分
値を削除する。そして、測定開始信号（ＭＳＳ）が”Ｈ
ｉ”から”Ｌｏｗ”に変化したタイミングで、再度ルー
プゲインの検出を開始する。また、テスト信号（ＴＳ）
１周期の積分が終了する前にジャンピング信号（ＪＰ
Ｓ）が”Ｈｉ”に変化した場合も同じように、検出中の
積分値を削除し、ジャンピング信号（ＪＰＳ）が”Ｈ
ｉ”から”Ｌｏｗ”となったタイミングでループゲイン
（ＬＰＧ）の検出を再開する。このように、テスト信号
（ＴＳ）１周期の積分が終了する前に測定開始信号（Ｍ
ＳＳ）またはジャンピング信号（ＪＰＳ）の極性が”Ｈ
ｉ”に変化した場合、検出していたループゲイン（ＬＰ
Ｇ）の積分値を削除する。以上のループゲイン（ＬＰ
Ｇ）検出の動作を、検出区間、削除区間で表すと図１４
（ｉ）に示すように分割できる。

【０１００】検出したループゲイン（ＬＰＧ）は、図１
４（ｋ）のトラック形状信号（ＴＲＳ）に応じて平均化
される。このようにして、第２記録原理領域の影響とト
ラックジャンプ（ＴＪＭＰ）の影響とを除いたループゲ
イン（ＬＰＧ）の検出が可能となる。なお、ループゲイ
ン（ＬＰＧ）検出の単位はテスト信号（ＴＳ）１周期の
例で説明したが、その他の周期でも実施可能である。ま
た、測定開始信号（ＭＳＳ）とジャンピング信号（ＪＰ
Ｓ）に基づくループゲインの検出は、それぞれ独立して
動作するため、タイミングが重なっても、なんら問題は
生じない。

【０１０１】以上説明したように、本実施の形態によれ
ば、異なる形状のトラックに対してゲインを別々に設定
することができ、トラックの形状に応じて光スポット位
置制御ループのゲイン交点を所定の周波数に設定するこ
とができる。また、シングルスパイラルフォーマットデ
ィスクにおいて光スポットを目的の形状のトラックに連
続して位置することができるため、その形状のループゲ
インの検出が連続に行える。これにより、測定時間の浪
費を減少することができ、調整時間が短縮することがで
きる。また、第２記録原理領域の影響とトラックジャン
プ動作の影響とを取り除いたループゲインの検出が行
え、測定精度が確保できる。

【０１０２】さらに、ループゲインの平均化とゲインの
補正が第１形状トラックと第２形状トラックで別々に行
えるため、形状の異なるトラックを順に、または一方の
形状のみ、ゲインの調整が行える。

【０１０３】なお、本発明は、上述した実施の形態に限
定されるものではなく、種々の態様が可能である。

【０１０４】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
異なる形状のトラックに対して、ゲイン設定、ループゲ
インの平均化、ゲインの補正が別々に行えるため、形状
の異なるトラックごとに制御ループのゲイン交点を所定
の周波数に設定、または調整することができる。また、
第２記録原理領域と第２記録原理領域を通過した後に発
生する過渡応答を取り除くことができ、第１記録原理領
域の測定精度が確保できる。また、異なる形状のトラッ
クが連続に切り替わる状態で測定を行なっても、検出し
たループゲインをトラックの形状に応じて振り分けるこ
とができ、ゲインの調整時間を短縮することができる。

【０１０５】また、異なる形状のトラックを有する光デ
ィスクに対して同じ形状のトラックにトラックジャンプ
が行えるため、その形状のトラックでは連続の測定が可
能となり、ゲインの調整時間が短縮できる。さらに、ト
ラックジャンプの直後から、光スポットが位置するトラ
ックの形状と信号極性が示すトラックの形状が一致する
ため、トラックジャンプ動作中にゲイン調整を行うこと
ができる。これにより、形状の異なるトラックを一方ず
つ順に、または一方のみ、ゲインの調整が行える。ま
た、トラックジャンプ動作中とトラックジャンプ後の光
スポットの乱れを取り除くことができ、測定精度が確保
できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】光ディスク装置の概略構成ブロック図

【図２】ゲイン設定手段の構成ブロック図

【図３】特定記録原理測定手段の構成ブロック図

【図４】ゲイン調整手段の構成ブロック図

【図５】記録原理識別手段の構成ブロック図

【図６】トラック形状識別手段の構成ブロック図

【図７】記録原理識別信号とトラック形状識別信号の生
成タイミングチャート

【図８】連続回転のループゲイン検出タイミングチャー
ト

【図９】トラックジャンプ手段を備えた光ディスク装置
の概略構成ブロック図

【図１０】ゲイン設定手段の構成ブロック図

【図１１】ジャンピング検出手段の構成ブロック図

【図１２】ゲイン調整手段の構成ブロック図

【図１３】ジャンピング信号の生成タイミングチャート

【図１４】トラックジャンプを実行したときのループゲ
イン検出タイミングチャート

【図１５】従来の光ディスク装置の概略構成ブロック図

【図１６】従来のゲイン調整手段の構成ブロック図

【図１７】（ａ）異なる記録原理により記録された領域
で構成されたトラックを示す図 （ｂ）形状の異なるトラックを示す図 （ｃ）形状の異なるトラックが１回転ごとに交互に接続
したシングルスパイラルの概略図 （ｄ）形状の異なるトラックが切り替わる点付近の拡大
図

【図１８】（ａ）ボトム２値化信号によるトラック識別
信号を示す図 （ｂ）ピーク２値化信号によるトラック識別信号を示す
図

【図１９】光スポット位置制御ループの概略構成ブロッ
ク図

【図２０】位相がずれたときの測定信号と余弦信号のホ
モダイン検波によるゲイン検出説明図

【符号の説明】

１ 光ディスク ２ スピンドルモータ ３ 対物レンズ ４ 駆動装置 ５ 光検出器 ６ 光ヘッド ７ 誤差信号検出手段 ８ 加算手段 ９ 光スポット位置制御手段 １０ ゲイン設定手段 １１ 駆動手段 １２ 記録原理識別手段 １３ 特定記録原理測定手段 １４ ゲイン調整手段 １５ トラック形状識別手段 １６ 選択手段 １７，１８ 増幅手段 １９ テスト信号発生手段 ２０ ループゲイン検出手段 ２１ 選択手段 ２２，２４，５４ 平均化手段 ２３，２５，５５ 補正手段 ２６ 光スポットの位置制御ループ ２７ 測定タイミング遅延手段 ２８ 遅延時間設定手段 ２９ 特定領域測定手段 ３０ トラック位置誤差検出手段 ３１，３７ ピークエンベロープ検出手段 ３２，３４，３８，４０ ２値化手段 ３３，３９ ボトムエンベロープ検出手段 ３５，４１ 論理和手段 ３６ トラック位置誤差検出手段 ４２ トラック識別手段 ４３ ＣＰＵ ４４ 加算手段 ４５ アドレス読取手段 ４６ ジャンピング実行手段 ４７ ジャンピング検出手段 ４８ ゲイン調整手段 ４９ 光スポット位置制御ループ ５０ ゲイン調整手段 ５１ ゲイン設定手段 ５２ 光スポット位置制御ループ ５３，５６ ループゲイン検出手段 ５７ 形状信号生成手段 ５８ ゲイン設定手段 ５９ 整定時間遅延手段 ６０ 遅延時間設定手段 ６１，６２ 選択手段 ＥＳ 光スポット位置の誤差信号 ＴＥＳ トラッキング位置誤差信号 ＭＭＩＤ 記録原理識別信号 ＴＲＩＤ トラック形状識別信号 ＴＲＳ トラック形状信号 ＴＳ テスト信号 ＦＢＳ 位相補償等を行った信号 ＧＳ 光スポット制御信号 ＭＳＳ 測定開始信号 ＭＤＴ 測定信号 ＴＪＭＰ トラックジャンプ ＪＤＳ ジャンピング検出信号 ＪＰＤ ジャンピング駆動信号 ＪＰＳ ジャンピング信号 ＪＰＣ ジャンピング命令信号 ＬＰＧ ループゲイン ＡＬＧ０，ＡＬＧ１，ＡＬＧ２ 平均化ループゲイン ｆｔ 調整目標のゲイン交点であるテスト信号の周波数 ｆｑ テスト信号とは異なる調整目標のゲイン交点の周
波数 ＣＰＵＳ ＣＰＵと本光ディスク装置の接続信号 Ｇ１，Ｇ２ ゲイン

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ▲たか▼峯 浩一 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 藤畝 健司 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 Ｆターム(参考） 5D118 AA13 BA01 BB01 BB07 BC12 CA02 CA11 CA13

Claims (15)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】第１の形状のトラックと第２の形状のトラ
   ックを有する情報担体に光ビームを照射して収束させた
   光スポットの位置を制御する光スポット位置制御手段
   と、 第１の形状のトラックと第２の形状のトラックのどちら
   に光スポットが位置しているかを識別するトラック形状
   識別手段と、 前記トラック形状識別手段の出力信号に応じて前記光ス
   ポット位置制御手段の制御ループのゲインを切り替える
   ゲイン設定手段とを有することを特徴とする光ディスク
   装置。
2. 【請求項２】光スポット位置制御手段は、情報担体上の
   光スポットの収束状態が略略所定の状態となるように制
   御するフォーカス制御手段であることを特徴とする請求
   項１記載の光ディスク装置。
3. 【請求項３】光スポット位置制御手段は、情報担体上の
   光スポットがトラックに追従するように制御するトラッ
   キング制御手段であることを特徴とする請求項１記載の
   光ディスク装置。
4. 【請求項４】トラック形状識別手段の出力信号に応じ
   て、光スポット位置制御手段の動作状態を第１の形状の
   トラックと第２の形状のトラックで切り替えながらモニ
   タする動作モニタ手段と、 トラックの形状ごとに、モニタした値に基づいてゲイン
   設定手段のゲインを所定の値に調整するゲイン調整手段
   とをさらに有することを特徴とする請求項１から３のい
   ずれか１つに記載の光ディスク装置。
5. 【請求項５】第１の形状のトラックと第２の形状のトラ
   ックは、それぞれ第１の記録原理によって記録された第
   １の領域と第２の記録原理によって記録された第２の領
   域とで構成されており、 動作モニタ手段は、光スポットが第１の領域に位置する
   ときの光スポット位置制御手段の動作状態をモニタする
   ことを特徴とする請求項４記載の光ディスク装置。
6. 【請求項６】第１の形状のトラックと第２の形状のトラ
   ックは、それぞれ連続溝で記録された領域とピットで記
   録された領域で構成されており、 動作モニタ手段は、光スポットが連続溝で記録された領
   域に位置するときの光スポット位置制御手段の動作状態
   をモニタすることを特徴とする請求項５記載の光ディス
   ク装置。
7. 【請求項７】光ディスク装置は、光スポットが第１の形
   状のトラックまたは第２の形状のトラックを常に追従す
   るようにジャンプするトラックジャンプ手段をさらに有
   しており、 動作モニタ手段は、トラックジャンプ実行中にトラック
   形状識別手段の出力信号に応じて、光スポット位置制御
   手段の動作状態をモニタすることを特徴とする請求項４
   から６のいずれか１つに記載の光ディスク装置。
8. 【請求項８】動作モニタ手段は、光スポットがトラック
   をジャンプしたときと光スポットが整定するまでの期間
   を取り除いて、光スポット位置制御手段の動作状態をモ
   ニタすることを特徴とする請求項７記載の光ディスク装
   置。
9. 【請求項９】第１の記録原理によって記録された領域と
   第２の記録原理によって記録された領域とを有する情報
   担体に光ビームを照射して収束させた光スポットの位置
   を制御する光スポット位置制御手段と、 前記光スポット位置制御手段の制御ループのゲインを切
   り替えるゲイン設定手段と、 前記光スポット位置制御手段の制御ループの光スポット
   が第１の記録原理によって記録された領域を通過してい
   るときの光スポット位置制御手段の動作状態をモニタす
   る動作モニタ手段と、 モニタした値に基づいて、前記ゲイン設定手段のゲイン
   を所定の値に調整するゲイン調整手段とを有することを
   特徴とする光ディスク装置。
10. 【請求項１０】第１の形状のトラックと第２の形状のト
    ラックは、それぞれ連続溝で記録された領域とピットで
    記録された領域で構成されており、 動作モニタ手段は、光スポットが連続溝で記録された領
    域に位置するときの光スポット位置制御手段の動作状態
    をモニタすることを特徴とする請求項９記載の光ディス
    ク装置。
11. 【請求項１１】光スポット位置制御手段は、情報担体上
    の光スポットの収束状態が略略所定の状態となるように
    制御するフォーカス制御手段であることを特徴とする請
    求項９または１０記載の光ディスク装置。
12. 【請求項１２】光スポット位置制御手段は、情報担体上
    の光スポットがトラックに追従するように制御するトラ
    ッキング制御手段であることを特徴とする請求項９また
    は１０記載の光ディスク装置。
13. 【請求項１３】動作モニタ手段は、光スポット位置制御
    手段に外乱を印加したときの前記光スポット位置制御手
    段の応答と印加した外乱から前記光スポット位置制御手
    段の制御ループのゲインをモニタすることを特徴とする
    請求項４から１２のいずれか１つに記載の光ディスク装
    置。
14. 【請求項１４】光スポットが第１の形状のトラックに位
    置するときと第２の形状のトラックに位置するときの光
    スポット位置制御手段の制御ループのゲイン交点が略略
    等しくなるようにゲインを設定することを特徴とする請
    求項４から１３のいずれか１つに記載の光ディスク装
    置。
15. 【請求項１５】光スポット位置制御手段の制御ループの
    ゲイン交点を所定の周波数に設定することを特徴とする
    請求項４から１３のいずれか１つに記載の光ディスク装
    置。