JP2000105781A - Logical simulator and logical simulate system - Google Patents

Logical simulator and logical simulate system

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JP2000105781A
JP2000105781A JP10275682A JP27568298A JP2000105781A JP 2000105781 A JP2000105781 A JP 2000105781A JP 10275682 A JP10275682 A JP 10275682A JP 27568298 A JP27568298 A JP 27568298A JP 2000105781 A JP2000105781 A JP 2000105781A
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JP
Japan
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signal
circuit
pattern
output
simulator
Prior art date
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Pending
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JP10275682A
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Japanese (ja)
Inventor
Toshimi Taniguchi
敏美 谷口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To realize a logical simulator and a logical simulate system capable of largely reducing the work man-hours related to simulation execution, and capable of obtaining a highly reliable verified result with a simple constitution. SOLUTION: This system is provided with a portable measuring part 2 for generating an input pattern and a signal generation model, simulator main body 3 a circuit to be verified built in and for supplying the input pattern generated by the portable measuring part 2 to the circuit to be verified, and for outputting a result obtained by comparing the output with the signal generation model generated by the portable measuring part 2, a display device 5 for displaying the content of simulation information, and a console 4 for outputting an execution instruction for instruction an operation timing to the simulator main body 3. The portable measuring part 2 is constituted so as to be separatable, and this portable measuring part 2 is constituted so that a signal pattern such as the output of a circuit provided at the outside part can be stored as an input pattern and a signal generation model. The console 4 operates control at the time of storing the signal pattern of the portable measuring part.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、論理を検証する論
理シミュレータおよび論理シミュレートシステムに関
し、特に、プログラマブルデバイスに書き込まれる論理
を検証する論理シミュレータおよび論理シミュレートシ
ステムに関する。
The present invention relates to a logic simulator and a logic simulation system for verifying logic, and more particularly, to a logic simulator and a logic simulation system for verifying logic written in a programmable device.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来よりプログラマブルデバイスに書き
込まれる論理をシミュレーションする際には、実動作に
近い被検証回路へのシミュレーション用入力パターンお
よび被検証回路出力と比較するための信号発生モデルが
必要とされており、シミュレーション実行者がこのよう
なシミュレーション用入力パターンを手入力したり、信
号発生モデルを用意するには大変な労力が必要であっ
た。また、このような場合に用意したシミュレーション
用入力パターンや信号発生モデル自身の正当性を確かめ
るためにデバッグ作業が不可避であり、この点からも手
間がかかるものとなっていた。
2. Description of the Related Art Conventionally, when simulating logic written in a programmable device, a simulation input pattern to a circuit to be verified and a signal generation model for comparison with an output of the circuit to be verified are required. Therefore, a great effort was required for a simulation executor to manually input such a simulation input pattern and to prepare a signal generation model. Further, in order to confirm the validity of the input pattern for simulation or the signal generation model prepared in such a case, debugging work is inevitable, and this also requires time and effort.

【0003】図5は特開平8−292967号公報に開
示される実動作パターンを用いるASIC(Applicatio
n Specific Integrated Circuit)エミュレーション方
法および装置の構成を示す機能ブロック図である。
FIG. 5 shows an ASIC (Applicatio) using an actual operation pattern disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. H8-292967.
2 is a functional block diagram illustrating a configuration of an (N Specific Integrated Circuit) emulation method and apparatus.

【0004】本従来例は、ASIC論理が書き込まれた
後のFPGA(Field ProgrammableGrid Array)の実動
作タイミングを保持するFPGA実動作113と、設計
者がASICに期待する動作タイミングを保持するAS
ICに期待する動作タイミング111と、FPGA実動
作113とASICに期待する動作タイミング111か
らデータを読み出して動作タイミングを比較する動作タ
イミング比較112と、この比較結果から不整合箇所を
抽出する不整合箇所抽出114と、抽出された不整合箇
所を修正または補正する不整合箇所補正116と、補正
の際に必要となる情報をライブラリ化して保持する補正
情報117と、設計データおよび補正の内容に従ってF
PGAへの書き込みデータを作成する書き込みデータ作
成115と、不整合箇所についてその情報を出力する不
整合情報出力118から構成されている。
In this conventional example, an FPGA actual operation 113 that holds the actual operation timing of an FPGA (Field Programmable Grid Array) after the ASIC logic is written, and an AS that holds the operation timing that the designer expects from the ASIC.
An operation timing 111 expected from the IC, an operation timing comparison 112 for reading data from the FPGA actual operation 113 and the operation timing 111 expected from the ASIC and comparing operation timings, and a mismatched portion extracting a mismatched portion from the comparison result Extraction 114, mismatched portion correction 116 for correcting or correcting the extracted mismatched portion, correction information 117 for storing information necessary for correction in a library, and F in accordance with the design data and the content of the correction.
It is composed of write data creation 115 for creating write data for PGA, and mismatch information output 118 for outputting information on mismatched portions.

【0005】上記のように構成される従来例によれば、
プログラマブルデバイスの動作タイミングと設計者がA
SICに期待する動作タイミングが比較されるため、タ
イミングの不整合を自動的に検出することができ、設計
意図の反映が容易となり、ASICシミュレーションの
準備工数が削減される旨記述されている。
According to the conventional example configured as described above,
The operation timing of the programmable device and the designer
It is described that since the operation timing expected from the SIC is compared, the mismatch of the timing can be automatically detected, the design intention is easily reflected, and the number of preparation steps for the ASIC simulation is reduced.

【0006】その他の論理検証方法としてFPGAやP
LD(Programmable Logic Device)に被検証回路を構
成して実機条件で検証するエミュレーションも行われて
いる。
[0006] Other logic verification methods such as FPGA and P
Emulation for configuring a circuit to be verified in an LD (Programmable Logic Device) and performing verification under actual machine conditions is also performed.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】上述したように従来よ
り行われている論理シミュレータにおいては、シミュレ
ーション用入力パターンや信号発生モデルの用意および
これらのデバッグ作業に手間がかかるという問題点があ
る。
As described above, the conventional logic simulator has a problem that it takes time to prepare a simulation input pattern and a signal generation model and to debug them.

【0008】特開平8−292967号公報には、開示
される発明がシミュレーションの準備工数が削減される
旨が記述されているが、実動作パターンをシミュレータ
内にどのようにして用意するかについては記述されてお
らず、この点では、それ以前の論理シミュレータと同様
であり、やはり、シミュレーションを行う際に手間がか
かるものとなっている。
Japanese Patent Application Laid-Open No. 8-292927 describes that the disclosed invention reduces the number of man-hours required for a simulation. However, it is not clear how to prepare an actual operation pattern in a simulator. It is not described, and in this respect, it is the same as the previous logic simulator, and again, it takes much time to perform the simulation.

【0009】また、実用化されているシミュレータの処
理速度は実機に比べると非常に遅く、実機とシミュレー
タ本体を連動させることが困難である。動作の速い実機
側をシミュレータの速度に合わせようとする場合には、
各サイクルの同期をとるためにシミュレータ構成が複雑
となるばかりでなく、市販測定器では速度不適合のため
実機の動作状況が確認できないことが多いという問題が
ある。
Further, the processing speed of a simulator that has been put into practical use is very slow as compared with the actual machine, and it is difficult to link the actual machine and the simulator body. When trying to match the fast-acting real machine to the simulator speed,
The synchronization of each cycle not only complicates the configuration of the simulator, but also has a problem that the operation status of the actual machine cannot be often confirmed due to speed incompatibility with commercially available measuring instruments.

【0010】また、例え動作状況を確認できる測定器が
あったとしても、実際の動作速度でのシミュレーション
とならないため、検証結果の信頼性が低下してしまう。
Further, even if there is a measuring instrument capable of confirming the operation status, the simulation is not performed at the actual operation speed, so that the reliability of the verification result is reduced.

【0011】また、FPGAやPLDに被検証回路を構
成して実機条件で検証するエミュレーションでは、被検
証回路を修正するたびにFPGAやPLDに再度変換が
必要であり、非効率である。
Further, in emulation in which a circuit to be verified is configured in an FPGA or PLD and verification is performed under actual machine conditions, conversion to the FPGA or PLD is required every time the circuit to be verified is corrected, which is inefficient.

【0012】本発明は上述したような従来の技術が有す
る問題点に鑑みてなされたものであって、シミュレーシ
ョン実行に関わる作業工数を大幅に削減することがで
き、簡単な構成で信頼性の高い検証結果を得ることので
きる論理シミュレータおよび論理シミュレートシステム
を実現することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-mentioned problems of the prior art, and can greatly reduce the number of work steps involved in executing a simulation, and has a simple configuration and high reliability. An object of the present invention is to realize a logic simulator and a logic simulation system capable of obtaining a verification result.

【0013】[0013]

【課題を解決するための手段】本発明の論理シミュレー
タは、被検証回路に、被検証回路を動作させるための入
力パターンをあたえ、その動作結果を予め定められた信
号発生モデルと比較する論理シミュレータにおいて、前
記入力パターンおよび信号発生モデルを発生する可搬型
計測部と、前記被検証回路を内蔵し、前記可搬型計測部
が発生した前記入力パターンを被検証回路に供給すると
ともにその出力を前記可搬型計測部が発生した信号発生
モデルと比較してその結果をシミュレーション情報とし
て出力するシミュレータ本体と、前記シミュレーション
情報の内容を表示する表示装置と、前記シミュレータ本
体に対して動作タイミングを示す実行命令を出力する操
作卓と、を有し、前記可搬型計測部は分離可能に構成さ
れるとともに、外部に設けられた回路の出力などの信号
パターンを前記入力パターンおよび信号発生モデルとし
て記憶可能に構成されており、前記操作卓は、前記可搬
型計測部の信号パターン記憶時の制御を行う制御命令を
出力することを特徴とする。
A logic simulator according to the present invention provides a circuit under test with an input pattern for operating the circuit under test and compares the operation result with a predetermined signal generation model. A portable measurement unit that generates the input pattern and the signal generation model, and the circuit to be verified are built in, the input pattern generated by the portable measurement unit is supplied to the circuit to be verified, and the output is supplied to the circuit to be verified. A simulator body for outputting the result as simulation information in comparison with the signal generation model generated by the portable measurement unit, a display device for displaying the contents of the simulation information, and an execution instruction indicating operation timing for the simulator body. An output console, and the portable measuring unit is configured to be separable, It is configured to be able to store a signal pattern such as an output of a circuit provided in the input pattern and the signal generation model, the console is a control command for controlling the portable measurement unit when storing the signal pattern. It is characterized by outputting.

【0014】この場合、可搬型計測部は、外部に設けら
れた回路の出力などの信号パターンを入力パターンおよ
び信号発生モデルとしてサンプリングして入力し、第1
のパターン化信号として出力する計測信号サンプラと、
前記第1のパターン化信号を一時記憶し、データフルと
なった場合や、測定が完了して電源断となるなどのデー
タ保存ができなくなった場合に、記憶していたパターン
データを読み出して第2のパターン化信号として出力す
る主メモリと、前記第2のパターン化信号を記憶する保
存メモリと、を有することとしてもよい。
In this case, the portable measuring unit samples and inputs a signal pattern such as an output of an externally provided circuit as an input pattern and a signal generation model, and inputs the signal pattern.
A measurement signal sampler that outputs as a patterned signal of
The first patterning signal is temporarily stored, and when the data becomes full or when the data cannot be saved such as when the measurement is completed and the power is turned off, the stored pattern data is read out and the first patterning signal is read out. And a storage memory for storing the second patterned signal, and a storage memory for storing the second patterned signal.

【0015】また、主メモリは、大容量のRAMチップ
および高速信号を読込むためのシリアル・パラレル信号
変換回路を有することとしてもよい。
The main memory may include a large-capacity RAM chip and a serial / parallel signal conversion circuit for reading a high-speed signal.

【0016】また、保存メモリは、磁気ディスクにより
構成されていることとしてもよい。上記のいずれの場合
においても、シミュレータ本体は、シミュレーション対
象である被検証回路の他に、可搬型計測部が発生した入
力パターンおよび信号発生モデルを入力してこれらを分
配し、入力パターンについては被検証回路に供給する信
号分配部と、前記信号分配部からの入力パターンを入力
した被検証回路の出力と信号分配部にて分配された信号
発生モデルとを入力し、これらを比較してその結果をシ
ミュレーション情報として出力する出力期待値照合部
と、を有することとしてもよい。
The storage memory may be constituted by a magnetic disk. In any of the above cases, the simulator body receives and distributes the input pattern and the signal generation model generated by the portable measurement unit in addition to the circuit to be verified, which is the object of the simulation. A signal distribution unit to be supplied to a verification circuit, an input of an output of a circuit to be verified to which an input pattern from the signal distribution unit is input, and a signal generation model distributed by the signal distribution unit are input, and the results are compared. And an output expectation value matching unit that outputs the simulation result as simulation information.

【0017】本発明の論理シミュレートシステムは、上
記のいずれかに記載の論理シミュレータと、可搬型計測
部と組み合わせ可能に構成された実験装置とからなる論
理シミュレートシステムであって、前記実験装置は、被
検証回路と同等の機能の試作回路と、被検証回路の使用
状況と同等の条件を実現するための前段回路および後段
回路とを有し、可搬型計測部は、実験装置と組み合わさ
れたときの前段回路および試作回路それぞれの出力を入
力パターンおよび信号発生モデルとして記憶することを
特徴とする。
A logic simulation system according to the present invention is a logic simulation system comprising any one of the logic simulators described above and an experiment apparatus configured to be combined with a portable measurement unit. Has a prototype circuit with the same function as the circuit under test, and a pre-stage circuit and a post-stage circuit for realizing the same conditions as the usage status of the circuit under test.The portable measurement unit is combined with an experimental device. The output of each of the pre-stage circuit and the prototype circuit at the time of this is stored as an input pattern and a signal generation model.

【0018】「作用」上記のように構成される本発明に
おいては、可搬型計測部をシミュレータ本体と分離可能
とすることにより、実験装置上に構成された試作回路の
入出力信号を論理シミュレータの入力テストパターンお
よび出力期待値として可搬型計測部で直接記憶すること
ができるものとなっている。記憶した入力テストパター
ンおよび出力期待値はシミュレーション実行時にそのま
まシミュレータ本体に流用することができるので、より
簡易に実動作シミュレーションできる。
[Operation] In the present invention configured as described above, the portable measurement unit can be separated from the simulator main body, so that the input / output signals of the prototype circuit configured on the experimental apparatus can be used by the logic simulator. The portable measurement unit can directly store the input test pattern and the output expected value in the portable measurement unit. The stored input test patterns and expected output values can be used as they are in the simulator itself during the execution of the simulation, so that the actual operation can be simulated more easily.

【0019】[0019]

【発明の実施の形態】次に、本発明の実施例について図
面を参照して説明する。
Next, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

【0020】図1は本発明による論理シミュレータの一
実施例の構成を示すブロック図である。本実施例の論理
シミュレータ1は、本発明の特徴である可搬型計測部2
と、シミュレータ本体3、操作卓4、表示装置5のユニ
ットで構成されている。操作卓4から可搬型計測部2に
は制御命令6が出力され、シミュレータ本体3には実行
命令7が出力されている。
FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of one embodiment of a logic simulator according to the present invention. The logic simulator 1 according to the present embodiment includes a portable measuring unit 2 which is a feature of the present invention.
And a simulator 3, a console 4, and a display unit 5. A control command 6 is output from the console 4 to the portable measuring unit 2, and an execution command 7 is output to the simulator body 3.

【0021】可搬型計測部2からシミュレータ本体3に
は被検証回路シミュレーション用入力パターン/出力期
待値9が出力され、表示装置5には監視情報10が出力
されている。シミュレータ本体3から表示装置5にはシ
ミュレーション情報11が出力される。
An input pattern / output expected value 9 for a circuit to be verified is output from the portable measuring section 2 to the simulator body 3, and monitoring information 10 is output to the display device 5. Simulation information 11 is output from the simulator body 3 to the display device 5.

【0022】上記の各ユニット間に伝達される制御命令
6、実行命令7、読出制御信号8、被検証回路シミュレ
ーション用入力パターン/出力期待値9、監視情報1
0、シミュレーション情報11は有線ないし無線通信手
段により、距離制約を受けずに伝達される。
The control command 6, the execution command 7, the read control signal 8, the input pattern / output expected value 9 for the circuit to be verified, the monitoring information 1
0, the simulation information 11 is transmitted by a wired or wireless communication means without being restricted by a distance.

【0023】操作卓4から出力される制御命令6および
実行命令7は、装置利用者によって直接設定された内
容、または記憶手段等を介して間接的に設定された内容
に基づくものであり、シミュレータ本体3は操作卓4か
ら出力される実行命令7にしたがって動作を行う。シミ
ュレータ本体3は、シミュレーション対象とする被検証
回路を内蔵するもので、被検証回路の動作結果および可
搬型計測部2が出力する被検証回路シミュレーション用
入力パターン/出力期待値9に基づいて被検証回路の動
作結果が期待したものであるかを示すシミュレーション
情報11が生成される。
The control command 6 and the execution command 7 output from the console 4 are based on the contents set directly by the apparatus user or indirectly set via storage means or the like. The main body 3 operates according to an execution command 7 output from the console 4. The simulator body 3 has a built-in circuit to be verified to be simulated, and is to be verified based on the operation result of the circuit to be verified and the input pattern / output expected value 9 for the circuit to be verified which is output from the portable measurement unit 2. Simulation information 11 indicating whether the operation result of the circuit is as expected is generated.

【0024】可搬型計測部2はシミュレータ本体3と分
離可能に構成されている。その使用方法について説明す
ると、図4に示すように、シミュレータ本体3に内蔵さ
れる被検証回路と同等の機能の実験装置34上の試作回
路35に、可搬型計測部2をシミュレータ本体3とは分
離した状態で接続して、まず、実験装置34の測定信号
15から実動作パターンを取得して保存する。この後、
図1に示すように可搬型計測部2をシミュレータ本体3
に接続して保存された実動作パターンを可搬型計測部2
から読み出し、実動作パターンを流用してシミュレーシ
ョンを行う。
The portable measuring section 2 is configured to be separable from the simulator body 3. The method of use will be described. As shown in FIG. 4, a portable measuring unit 2 is connected to a prototype circuit 35 on an experimental device 34 having the same function as the circuit to be verified incorporated in the simulator body 3. First, an actual operation pattern is obtained from the measurement signal 15 of the experimental apparatus 34 and stored. After this,
As shown in FIG. 1, the portable measuring unit 2 is
The actual operation pattern saved by connecting to the portable measurement unit 2
And simulate using the actual operation pattern.

【0025】図2は、図1に示した論理シミュレータ1
の一部となる可搬型計測部2の構成を詳細に示すブロッ
ク図である。
FIG. 2 shows the logic simulator 1 shown in FIG.
FIG. 3 is a block diagram showing in detail a configuration of a portable measurement unit 2 that is a part of the measurement unit.

【0026】可搬型計測部2は、測定信号15をサンプ
リングする計測信号サンプラ12、主メモリ13および
保存メモリ14から構成されている。計測信号サンプラ
12には論理シミュレータ1の外部から測定信号15が
入力される。操作卓4からの制御命令6は上記の可搬計
測部2を構成する各部の様々な制御信号が複合されたも
のであり、可搬型計測部2の内部で計測信号サンプラ1
2におけるサンプリングタイミングを示すサンプリング
制御命令16、主メモリ13におけるパターンの書込お
よび読出を指示する書込/読出制御命令17、保存メモ
リ14における書込を指示する書込制御命令18に分け
られて、各々計測信号サンプラ12、主メモリ13、保
存メモリ14へ入力される。
The portable measuring section 2 comprises a measurement signal sampler 12 for sampling a measurement signal 15, a main memory 13, and a storage memory 14. A measurement signal 15 is input to the measurement signal sampler 12 from outside the logic simulator 1. The control command 6 from the console 4 is a composite of various control signals of each unit constituting the portable measuring unit 2, and the measurement signal sampler 1 is provided inside the portable measuring unit 2.
2, a write / read control instruction 17 for instructing writing and reading of a pattern in the main memory 13, and a write control instruction 18 for instructing writing in the storage memory 14. Are input to the measurement signal sampler 12, the main memory 13, and the storage memory 14, respectively.

【0027】計測信号サンプラ12からは測定信号のサ
ンプリング状態を示すサンプリング状況監視情報19が
出力され、主メモリ13からは書込状態および読出状態
を示す書込/読出状況監視情報20が出力され、保存メ
モリ14は書込状態を示す書込/読出状況監視情報21
が出力されるが、これらは可搬型計測部2の内部で監視
情報10としてまとめられて表示装置5へ送出される。
The measurement signal sampler 12 outputs sampling status monitoring information 19 indicating the sampling status of the measurement signal, and the main memory 13 outputs the writing / reading status monitoring information 20 indicating the writing status and the reading status. The storage memory 14 has write / read status monitoring information 21 indicating a write status.
These are collected as monitoring information 10 inside the portable measuring unit 2 and sent to the display device 5.

【0028】また、計測信号サンプラ12から主メモリ
13へは計測信号15をサンプリングすることにより生
成されたパターン化信号22がその書込内容として送出
され、主メモリ13から保存メモリ14へパターン化信
号23がその書込内容として送出される。さらにシミュ
レータ本体3(図1参照)からの読出状態を制御する読
出制御信号8が保存メモリ14へ入力され、読出制御信
号8に応じて保存メモリ14からその保存された内容が
被検証回路シミュレーション用入力パターン/出力期待
値9としてシミュレータ本体3へ送出される。
A patterning signal 22 generated by sampling the measurement signal 15 is sent from the measurement signal sampler 12 to the main memory 13 as the written content, and the patterning signal 22 is sent from the main memory 13 to the storage memory 14. 23 is sent out as the written content. Further, a read control signal 8 for controlling a read state from the simulator body 3 (see FIG. 1) is input to the storage memory 14, and the stored contents are stored in the storage memory 14 in accordance with the read control signal 8 for the circuit to be verified. The input pattern / output expected value 9 is sent to the simulator body 3.

【0029】図3は、図1の論理シミュレータ1の一部
となるシミュレータ本体3の構成を詳細に示すブロック
図である。
FIG. 3 is a block diagram showing in detail the configuration of the simulator body 3 which is a part of the logic simulator 1 of FIG.

【0030】図3において、シミュレータ本体3は、シ
ミュレーション対象である被検証回路24、実行制御部
25、信号分配部26、出力期待値照合部27により構
成されている。操作卓4からの実行命令7は、実行制御
部25に入力され、実行制御部25では実行命令7の内
容に応じた読出制御信号8および動作タイミング信号2
8を可搬計測部2(図1参照)および被検証回路24へ
それぞれ送出する。
In FIG. 3, the simulator body 3 comprises a circuit under test 24 to be simulated, an execution control unit 25, a signal distribution unit 26, and an expected output value comparison unit 27. The execution command 7 from the console 4 is input to the execution control unit 25, and the execution control unit 25 reads the read control signal 8 and the operation timing signal 2 according to the content of the execution command 7.
8 are sent to the portable measuring unit 2 (see FIG. 1) and the circuit under test 24, respectively.

【0031】可搬計測部2から送られてくる被検証回路
シミュレーション用入力パターン/出力期待値9は信号
分配部26に入力される。信号分配部26では被検証回
路シミュレーション用入力パターン/出力期待値9に示
される入力パターンを入力側パターン信号29として被
検証回路24に送出し、また、被検証回路シミュレーシ
ョン用入力パターン/出力期待値9に示される期待値パ
ターン30(信号発生モデル)を出力期待値照合部27
へ送出する。
The input pattern / output expected value 9 for circuit verification under test sent from the portable measuring unit 2 is input to the signal distribution unit 26. The signal distribution unit 26 sends the input pattern indicated by the input pattern / output expected value 9 for the circuit to be verified as the input-side pattern signal 29 to the circuit 24 to be verified, and the input pattern / output expected value for the circuit to be verified. The expected value pattern 30 (signal generation model) shown in FIG.
Send to

【0032】上述したように被検証回路24には実行制
御部25からの動作タイミング信号28が送出され、信
号分配部26からは入力側パターン信号29が送出され
る。被検証回路24では、入力側パターン信号29に基
づく動作を動作タイミング信号28によるタイミングで
行い、その動作結果を示す出力側パターン信号31を出
力期待値照合部27へ送る。
As described above, the operation timing signal 28 from the execution control unit 25 is sent to the circuit under test 24, and the input-side pattern signal 29 is sent from the signal distribution unit 26. The circuit under test 24 performs an operation based on the input-side pattern signal 29 at the timing of the operation timing signal 28, and sends an output-side pattern signal 31 indicating the operation result to the output expectation value comparison unit 27.

【0033】出力期待値照合部27は出力側パターン信
号31と期待値パターン30とを比較し、その比較結果
を示す期待値照合結果情報32を出力する。一方、被検
証回路24、実行制御部25、出力期待値照合部27か
らは上記の各信号の他にそれぞれの動作状況を示す実行
状況情報33が出力されており、期待値照合結果情報3
2と実行状況情報33とがシミュレーション情報11と
して合わせられて表示装置5へ送出される。
The output expected value matching section 27 compares the output side pattern signal 31 with the expected value pattern 30 and outputs expected value matching result information 32 indicating the comparison result. On the other hand, from the circuit under test 24, the execution control unit 25, and the output expected value matching unit 27, in addition to the above-described signals, execution status information 33 indicating the respective operating status is output.
2 and the execution status information 33 are combined and sent to the display device 5 as the simulation information 11.

【0034】次に、本実施例の使用手順および動作につ
いて説明する。
Next, the use procedure and operation of the present embodiment will be described.

【0035】図1における論理シミュレータ1でシミュ
レーションを実行するには、シミュレータ本体3内に被
検証回路24(図3参照)を用意する他、シミュレーシ
ョン用のテストパターンを用意しなければならない。こ
こで本実施例の論理シミュレータ1の特徴として、可搬
型計測部2を備えており、可搬型計測部2により論理シ
ミュレータ1の外部から測定信号15を取込み、測定信
号15をテストパターンに流用する機能を有している。
In order to execute a simulation using the logic simulator 1 shown in FIG. 1, a circuit to be verified 24 (see FIG. 3) must be prepared in the simulator body 3 and a test pattern for the simulation must be prepared. Here, as a feature of the logic simulator 1 of the present embodiment, the portable measurement unit 2 is provided, the measurement signal 15 is taken in from the outside of the logic simulator 1 by the portable measurement unit 2, and the measurement signal 15 is used for a test pattern. Has a function.

【0036】図4は論理シミュレータ1の外部から測定
信号15を取込む方法の一接続例を示す図であり、論理
シミュレータ1と外部の実験装置とが接続された状態を
示している。
FIG. 4 is a diagram showing a connection example of a method for taking in the measurement signal 15 from outside the logic simulator 1, and shows a state in which the logic simulator 1 is connected to an external experiment apparatus.

【0037】図4において、実験装置34は、シミュレ
ーション対象の被検証回路24と同等の仕様で設計され
た試作回路35と、被検証回路24の使用状況と同等の
条件を実現するための前段回路36および後段回路37
と、後段回路37の出力を検出する測定器38で構成さ
れている。試作回路35への入力信号39とその出力信
号40の他、前段回路36と後段回路37および測定器
38から得られる監視情報41と42とが測定信号15
としてまとめられて可搬型計測部2へ送出される。
In FIG. 4, an experimental apparatus 34 includes a prototype circuit 35 designed with the same specifications as the circuit under test 24 to be simulated, and a pre-stage circuit for realizing the same conditions as the usage conditions of the circuit 24 under test. 36 and post-stage circuit 37
And a measuring device 38 for detecting the output of the post-stage circuit 37. In addition to the input signal 39 to the prototype circuit 35 and its output signal 40, the monitoring information 41 and 42 obtained from the pre-stage circuit 36, the post-stage circuit 37, and the measuring device 38 are used as the measurement signal 15
And sent to the portable measuring unit 2.

【0038】前段回路36が出力する入力信号39は、
図1に示すシミュレーション時に被検証回路24へ出力
される入力側パターン信号29の内容となるものであ
り、また、出力信号40は図1に示すシミュレーション
時に出力期待値照合部30へ出力される期待値パターン
30の内容となるものである。
The input signal 39 output from the pre-stage circuit 36 is
The contents of the input-side pattern signal 29 output to the circuit under test 24 at the time of the simulation shown in FIG. 1 are obtained, and the output signal 40 is output to the output expected value comparison unit 30 at the time of the simulation shown in FIG. This is the content of the value pattern 30.

【0039】論理シミュレータ1の操作卓4から測定を
開始する旨の制御命令6が送られると、可搬型計測部2
は測定信号15に含まれる実験装置34の各部の監視情
報41、42をチェックしながら試作回路35の入力信
号39、出力信号40を読込んでいく。可搬型計測部2
に取り込まれた入力信号39、出力信号40は図2に示
した計測信号サンプラ12によりデジタル信号に変換さ
れてパターン化信号22として主メモリ13へ送られて
いく。
When the control command 6 to start the measurement is sent from the console 4 of the logic simulator 1, the portable measuring unit 2
Reads the input signal 39 and the output signal 40 of the prototype circuit 35 while checking the monitoring information 41 and 42 of each unit of the experimental apparatus 34 included in the measurement signal 15. Portable measuring unit 2
The input signal 39 and the output signal 40 which are taken in are converted into digital signals by the measurement signal sampler 12 shown in FIG.

【0040】ここで、本実施例の論理シミュレータ1
は、可搬型計測部2がシミュレータ本体3とは分離可能
に構成されていて実験装置34の側近に置けるので、上
記の読み込み動作は容易に行うことができる。また、こ
の場合でも通信手段により離れた操作卓4から制御命令
6を受けとり、監視情報10を表示装置5へ送出するこ
とができるので、測定者は実験装置34の近辺に居る必
要はない。
Here, the logic simulator 1 of the present embodiment
Since the portable measuring unit 2 is configured to be separable from the simulator body 3 and can be placed near the experimental apparatus 34, the above-described reading operation can be easily performed. Also in this case, since the control command 6 can be received from the remote console 4 by the communication means and the monitoring information 10 can be sent to the display device 5, the measurer does not need to be near the experimental device 34.

【0041】主メモリ13は、大容量のRAMチップの
他、高速信号も読込めるようにシリアル・パラレル信号
変換回路等が組合されて構成されており、パターン化信
号22を確実に一時記憶する。主メモリ13は、データ
フルとなった場合や、測定が完了して電源断などデータ
保存できなくなった場合に、記憶していたパターンデー
タを読み出してパターン化信号23とし、磁気ディスク
等を用いた保存メモリ14へ送出し、再記憶させる。
The main memory 13 is composed of a large-capacity RAM chip and a combination of a serial / parallel signal conversion circuit and the like so that a high-speed signal can be read. The main memory 13 reads out the stored pattern data and uses it as a patterning signal 23 when the data becomes full or when the measurement is completed and the data cannot be saved due to power-off, for example, using a magnetic disk or the like. The data is sent to the storage memory 14 and stored again.

【0042】以上のようにして外部に設けられた実験装
置34からテストパターン取込が行われる。
As described above, the test pattern is taken in from the experimental device 34 provided outside.

【0043】次に、シミュレータ本体3による被検証回
路24のシミュレーション手順について説明する。
Next, a procedure for simulating the circuit under test 24 by the simulator body 3 will be described.

【0044】シミュレーションを実行する場合、図1に
示した論理シミュレータ1のように、可搬型計測部2を
シミュレータ本体3に接続して両者間に読出制御信号8
と被検証回路シミュレーション用入力パターン/出力期
待値9が伝達できる状態とする。この場合でも可搬型計
測部2と操作卓4、表示装置5の間で制御命令6と監視
情報10は伝達可能である。
When executing a simulation, as in the logic simulator 1 shown in FIG. 1, the portable measuring unit 2 is connected to the simulator body 3 and a read control signal 8 is connected between them.
And the input pattern / output expected value 9 for the circuit under test simulation. Even in this case, the control command 6 and the monitoring information 10 can be transmitted between the portable measuring unit 2, the console 4, and the display device 5.

【0045】シミュレーション開始時に装置利用者は、
まず操作卓4から実行命令7をシミュレータ本体3へ指
示する。ここで、図3に示したように、実行命令7はシ
ミュレータ本体3の内部の実行制御部25に入力され、
実行制御部25はシミュレーションを開始するために読
出制御信号8と動作タイミング信号28を発生する。読
出制御信号8は、図2に示すように可搬型計測部2内の
保存メモリ14へ入力され、保存メモリ14から被検証
回路シミュレーション用入力パターン/出力期待値9が
図3のシミュレータ本体3の内部の信号分配部26に出
力されて、入力側パターン信号29と期待値パターン3
0に分配される。
At the start of the simulation, the device user
First, an execution command 7 is instructed from the console 4 to the simulator body 3. Here, as shown in FIG. 3, the execution instruction 7 is input to the execution control unit 25 inside the simulator body 3,
The execution control unit 25 generates the read control signal 8 and the operation timing signal 28 to start the simulation. The read control signal 8 is input to the storage memory 14 in the portable measuring unit 2 as shown in FIG. 2, and the input pattern / output expected value 9 for the circuit to be verified is output from the storage memory 14 to the simulator main body 3 in FIG. The signal is output to the internal signal distribution unit 26, and the input side pattern signal 29 and the expected value pattern 3 are output.
Distributed to zero.

【0046】以上より被検証回路24に動作タイミング
信号28と入力側パターン信号29が与えられてシミュ
レーションが行われ、被検証回路24から出力側パター
ン信号31が送出される。この出力側パターン信号31
と信号分配部26から送出される期待値パターン30と
から出力期待値照合部27にて期待値照合結果情報32
が得られる。
As described above, the operation timing signal 28 and the input side pattern signal 29 are given to the circuit to be verified 24 to perform a simulation, and the circuit to be verified 24 sends out the output side pattern signal 31. This output side pattern signal 31
And the expected value pattern 30 sent from the signal distribution unit 26, the expected value matching result information 32
Is obtained.

【0047】上記の期待値照合結果情報32の他、被検
証回路24、実行制御部25、出力期待値照合部27よ
り得られる実行状況情報33を合わせたシミュレーショ
ン情報11が表示装置5へ送出され、表示装置5の表示
内容を装置利用者が見ることで、シミュレーション実行
状況、論理検証の結果(被検証回路24の良否)を確認
できる。
In addition to the expected value collation result information 32, the simulation information 11 including the execution status information 33 obtained from the circuit under test 24, the execution control unit 25, and the output expected value collation unit 27 is sent to the display device 5. By viewing the display contents of the display device 5, the user can confirm the simulation execution status and the result of the logic verification (the quality of the circuit under test 24).

【0048】[0048]

【発明の効果】本発明は以上説明したように構成されて
いるので、以下に記載するような効果を奏する。
Since the present invention is configured as described above, it has the following effects.

【0049】可搬型計測部を具備し、これをシミュレー
タ本体から分離し、例えば実験装置上の試作回路に接続
するなどして、正当性の確認された実動作信号をテスト
パターンとして論理シミュレータに直接取り込めるの
で、試作回路をLSI化する場合など同機能の被検証回
路をシミュレーションする場合においても、シミュレー
ション実行者はテストパターンを手入力したり、信号発
生モデルを用意して被検証回路と接続するといった作業
が不要となり、被検証回路シミュレーション用入力パタ
ーン/出力期待値を可搬型計測部から読出す実行命令を
シミュレータ本体の操作卓から指示するだけでよい。
A portable measuring unit is provided, which is separated from the simulator body and connected to a prototype circuit on an experimental device, for example, so that the actual operation signal whose validity is confirmed is directly sent to the logic simulator as a test pattern. Therefore, even in the case of simulating a circuit under test having the same function as in the case where a prototype circuit is made into an LSI, a simulation executor manually inputs a test pattern or prepares a signal generation model and connects the circuit to the circuit under test. The operation is not required, and it is only necessary to instruct, from the console of the simulator body, an execution instruction for reading the input pattern / output expected value for the circuit to be verified from the portable measurement unit.

【0050】また、従来シミュレーション実行者がテス
トパターンを手入力したり、信号発生モデルを用意した
場合に不可避であったテストパターンや信号発生モデル
自身のデバッグも不要となり、シミュレーション実行に
関わる作業工数が大幅に減少できる。
In addition, it becomes unnecessary to manually input a test pattern by a simulation executor or to debug a test pattern or a signal generation model itself, which is inevitable when a signal generation model is prepared. Can be greatly reduced.

【0051】このように、シミュレーション実行に関わ
る作業工数を大幅に削減することができる効果がある。
また、実際の層値構成に極めて近い装置構成となるため
に、簡単な構成で信頼性の高い検証結果を得ることがで
きる効果がある。
As described above, there is an effect that the number of work steps related to the execution of the simulation can be greatly reduced.
Further, since the device configuration is very close to the actual layer value configuration, there is an effect that a highly reliable verification result can be obtained with a simple configuration.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施例の構成を示すブロック図であ
る。
FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of an embodiment of the present invention.

【図2】図1中の可搬型計測部2の構成を詳細に示すブ
ロック図である。
FIG. 2 is a block diagram showing a configuration of a portable measuring unit 2 in FIG. 1 in detail.

【図3】図1中のシミュレータ3の構成を詳細に示すブ
ロック図である。
FIG. 3 is a block diagram showing a configuration of a simulator 3 in FIG. 1 in detail.

【図4】論理シミュレータ1と外部の実験装置との接続
例を示すブロック図である。
FIG. 4 is a block diagram showing a connection example between the logic simulator 1 and an external experimental device.

【図5】従来例の構成を示すブロック図である。FIG. 5 is a block diagram showing a configuration of a conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 論理シミュレータ 2 可搬型計測部 3 シミュレータ本体 4 操作卓 5 表示装置 6 制御命令 7 実行命令 8 読出制御信号 9 被検証回路シミュレーション用入力/出力期待値 10 監視情報 11 シミュレーション情報 12 計測信号サンプラ 13 主メモリ 14 保存メモリ 15 測定信号 16 サンプリング制御命令 17 書込/読出制御命令 18 書込制御命令 19 サンプリング状況監視情報 20,21 書込読出状況監視情報 22,23 パターン化信号 24 被検証回路 25 実行制御部 26 信号分配部 27 出力期待値照合部 28 動作タイミング信号 29 入力側パターン信号 30 期待値パターン 31 出力側パターン信号 32 期待値照合結果情報 33 実行状況情報 34 実験装置 35 試作回路 36 前段回路 37 後段回路 38 測定器 39 入力信号 40 出力信号 41,42 監視情報 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Logic simulator 2 Portable measurement part 3 Simulator main body 4 Operation console 5 Display device 6 Control instruction 7 Execution instruction 8 Read control signal 9 Input / output expected value for circuit to be verified 10 Monitoring information 11 Simulation information 12 Measurement signal sampler 13 Main Memory 14 Storage memory 15 Measurement signal 16 Sampling control command 17 Write / read control command 18 Write control command 19 Sampling status monitor information 20, 21 Write / read status monitor information 22, 23 Patterned signal 24 Circuit to be verified 25 Execution control Unit 26 signal distribution unit 27 output expected value comparison unit 28 operation timing signal 29 input-side pattern signal 30 expected value pattern 31 output-side pattern signal 32 expected value comparison result information 33 execution status information 34 experimental apparatus 35 prototype circuit 36 pre-stage circuit 37 post-stage Circuit 3 8 Measuring instrument 39 Input signal 40 Output signal 41, 42 Monitoring information

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 被検証回路に、被検証回路を動作させる
ための入力パターンをあたえ、その動作結果を予め定め
られた信号発生モデルと比較する論理シミュレータにお
いて、 前記入力パターンおよび信号発生モデルを発生する可搬
型計測部と、 前記被検証回路を内蔵し、前記可搬型計測部が発生した
前記入力パターンを被検証回路に供給するとともにその
出力を前記可搬型計測部が発生した信号発生モデルと比
較してその結果をシミュレーション情報として出力する
シミュレータ本体と、 前記シミュレーション情報の内容を表示する表示装置
と、 前記シミュレータ本体に対して動作タイミングを示す実
行命令を出力する操作卓と、を有し、 前記可搬型計測部は分離可能に構成されるとともに、外
部に設けられた回路の出力などの信号パターンを前記入
力パターンおよび信号発生モデルとして記憶可能に構成
されており、 前記操作卓は、前記可搬型計測部の信号パターン記憶時
の制御を行う制御命令を出力することを特徴とする論理
シミュレータ。
1. A logic simulator for providing an input pattern for operating a circuit under test to a circuit under test, and comparing the operation result with a predetermined signal generation model, wherein the input pattern and the signal generation model are generated. A portable measuring unit that incorporates the circuit to be verified, supplies the input pattern generated by the portable measuring unit to the circuit to be verified, and compares its output with a signal generation model generated by the portable measuring unit. A simulator that outputs the result as simulation information, a display device that displays the contents of the simulation information, and a console that outputs an execution instruction indicating an operation timing to the simulator body. The portable measurement unit is configured to be separable, and the signal pattern such as the output of an external circuit is provided. The is configured to be stored as the input pattern and signal generation model, the operator console, the logic simulator and outputs a control command for controlling the time of signal patterns stored in the portable measuring unit.
【請求項2】 請求項1記載の論理シミュレータにおい
て、 可搬型計測部は、 外部に設けられた回路の出力などの信号パターンを入力
パターンおよび信号発生モデルとしてサンプリングして
入力し、第1のパターン化信号として出力する計測信号
サンプラと、 前記第1のパターン化信号を一時記憶し、データフルと
なった場合や、測定が完了して電源断となるなどのデー
タ保存ができなくなった場合に、記憶していたパターン
データを読み出して第2のパターン化信号として出力す
る主メモリと、 前記第2のパターン化信号を記憶する保存メモリと、を
有することを特徴とす論理シミュレータ。
2. The logic simulator according to claim 1, wherein the portable measurement unit samples and inputs a signal pattern such as an output of a circuit provided outside as an input pattern and a signal generation model, and inputs the first pattern. A measurement signal sampler that outputs as a structured signal, temporarily stores the first patterned signal, and when data becomes full, or when measurement is completed and data cannot be saved such as when power is turned off, A logic simulator, comprising: a main memory that reads stored pattern data and outputs the read data as a second patterned signal; and a storage memory that stores the second patterned signal.
【請求項3】 請求項2記載の論理シミュレータにおい
て、 主メモリは、大容量のRAMチップおよび高速信号を読
込むためのシリアル・パラレル信号変換回路を有するこ
とを特徴とする論理シミュレータ。
3. The logic simulator according to claim 2, wherein the main memory includes a large-capacity RAM chip and a serial / parallel signal conversion circuit for reading a high-speed signal.
【請求項4】 請求項2または請求項3に記載の論理シ
ミュレータにおいて、 保存メモリは、磁気ディスクにより構成されていること
を特徴とする論理シミュレータ。
4. The logic simulator according to claim 2, wherein the storage memory comprises a magnetic disk.
【請求項5】 請求項1乃至請求項4のいずれかに記載
の論理シミュレータにおいて、 シミュレータ本体は、シミュレーション対象である被検
証回路の他に、 可搬型計測部が発生した入力パターンおよび信号発生モ
デルを入力してこれらを分配し、入力パターンについて
は被検証回路に供給する信号分配部と、 前記信号分配部からの入力パターンを入力した被検証回
路の出力と信号分配部にて分配された信号発生モデルと
を入力し、これらを比較してその結果をシミュレーショ
ン情報として出力する出力期待値照合部と、を有するこ
とを特徴とす論理シミュレータ。
5. The logic simulator according to claim 1, wherein the simulator body includes an input pattern and a signal generation model generated by a portable measurement unit, in addition to a circuit to be verified as a simulation target. And a signal distribution unit for supplying these to the circuit to be verified with respect to an input pattern, and an output of the circuit to be verified that has received the input pattern from the signal distribution unit and a signal distributed by the signal distribution unit. A logic simulator, comprising: an output model input unit; an output model comparison unit that inputs an occurrence model, compares the input models, and outputs the result as simulation information.
【請求項6】 請求項1乃至請求項5のいずれかに記載
の論理シミュレータと、可搬型計測部と組み合わせ可能
に構成された実験装置とからなる論理シミュレートシス
テムであって、 前記実験装置は、被検証回路と同等の機能の試作回路
と、被検証回路の使用状況と同等の条件を実現するため
の前段回路および後段回路とを有し、 可搬型計測部は、実験装置と組み合わされたときの前段
回路および試作回路それぞれの出力を入力パターンおよ
び信号発生モデルとして記憶することを特徴とする論理
シミュレートシステム。
6. A logic simulation system comprising the logic simulator according to claim 1 and an experiment device configured to be able to be combined with a portable measurement unit, wherein the experiment device is , A prototype circuit having the same function as the circuit under test, and a pre-stage circuit and a post-stage circuit for realizing the same conditions as the usage conditions of the circuit under test, and the portable measurement unit was combined with the experimental device. A logic simulation system characterized in that the outputs of the pre-stage circuit and the prototype circuit are stored as input patterns and signal generation models.
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