JP2000096237A - Production of electromagnetic wave shielding glass - Google Patents

Production of electromagnetic wave shielding glass

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JP2000096237A
JP2000096237A JP28588798A JP28588798A JP2000096237A JP 2000096237 A JP2000096237 A JP 2000096237A JP 28588798 A JP28588798 A JP 28588798A JP 28588798 A JP28588798 A JP 28588798A JP 2000096237 A JP2000096237 A JP 2000096237A
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metal
compound
electromagnetic wave
shielding glass
metal oxide
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Hidetoshi Saito
秀俊 斉藤
Hideo Kinoshita
秀雄 木下
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Asahi Chemical Industry Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To enhance practical performance such as adhesion and long-term durability at a low cost by blowing a volatile or sublimable metal compound and, optionally, a metal compound for doping on a glass substrate and bringing them into reaction to form a thin electrically conductive metal oxide film. SOLUTION: One or more volatile or sublimable metal compounds that react with oxygen or moisture in the air or with a compound allowed to exist in the air to form metal oxides and, optionally, a compound of a metal to be doped into the metal oxides are blown in a gaseous state at a prescribed temperature together with a carrier gas such as N2 on a glass substrate kept at a prescribed temperature and they are brought into chemical reaction. The metals of the metal oxides are preferably selected from the groups IIB, IIIA, IIIB, IV A and IVB metals. A thin electrically conductive metal oxide film having <=103 Ω/sq. surface resistance, >=50% entire light transmittance and high adhesion is formed at a high rate and the objective electromagnetic wave shielding glass excellent in practical performance is obtd.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、電磁波シールドガ
ラスの製造方法に関するものである。
[0001] The present invention relates to a method for producing an electromagnetic shielding glass.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年電磁波障害が問題に成りつつある。
例えば、高度情報化社会の発達、マルチメディア社会の
到来により、電子機器がオフィス、一般家庭に入りつつ
あるが、外部から進入してくる電磁波により、これら電
子機器の誤作動を引き起こすケースが増えつつある。
又、電子機器の企業、個人の情報は、その電子機器の電
波を受信することにより情報・機密事項を盗聴すること
も可能と成っている。更に、高圧送電線付近ではそこか
ら発生する電磁波により、そこの住民の健康障害を引き
起こすことも懸念されており、又、医療現場では、携帯
電話、レーザーメスより発生する電磁波が、心臓のペー
スメーカーを停止させる等の誤作動を引き起こすことも
懸念されている。これらの電磁波障害を防止する為に、
オフィス、一般家庭に於いて電磁波シールドする要望が
高まりつつある。ビル、一般住宅を電磁波シールドする
場合、ビルあるいは家屋の全面をシールドしなければ成
らない。その理由は、少しの漏れは、そこから電磁波の
出入りが有って機能を果たさない為である。全面電磁波
シールドする場合、屋根材、床材、壁材等は、比較的容
易である。何故なら、これら材料中に、例えば金網等の
導電物質を埋め込むことで対応することが可能である。
しかしながら、住宅空間、オフィス空間には、採光部分
としての窓材が必要である。透明な窓ガラスを透明性を
維持しつつ電磁波シールドするのには困難を伴う。現
状、ガラスの電磁波シールドする方法として、例えば、
スパッタリング法等により導電薄膜である銀薄膜を形成
させる等のPVD(物理的堆積)法が採用されている。
しかしながら、この一般的な方法は、薄膜形成の為に、
真空装置等の付帯設備が必要となり、大型投資が必要と
なるのみならず、薄膜形成速度が遅く生産性が悪い。従
ってコスト高となる等の問題点をかかえている。これら
を回避する為に、安価に導電薄膜を形成させることによ
り安価に提供できる電磁波シールドガラスの製造方法が
要望されている。
2. Description of the Related Art In recent years, electromagnetic interference has become a problem.
For example, electronic devices are entering offices and ordinary homes due to the development of a highly information-oriented society and the advent of a multimedia society. However, the number of cases where malfunctions of these electronic devices are caused by electromagnetic waves entering from outside is increasing. is there.
In addition, it is also possible to eavesdrop on information and confidential matters of information of companies and individuals of electronic devices by receiving radio waves of the electronic devices. Furthermore, there is a concern that electromagnetic waves generated from high-voltage power transmission lines may cause health problems for the residents there.At medical sites, electromagnetic waves generated by mobile phones and laser scalpels may cause cardiac pacemakers. There is also a concern that it may cause a malfunction such as stopping. To prevent these electromagnetic interference,
The demand for shielding electromagnetic waves in offices and homes is increasing. When shielding a building or general house from electromagnetic waves, the entire building or house must be shielded. The reason is that a small leak does not function because there is an ingress and egress of electromagnetic waves from there. When the entire surface is shielded from electromagnetic waves, roofing materials, flooring materials, wall materials, and the like are relatively easy. This is possible by embedding a conductive material such as a wire mesh in these materials.
However, residential and office spaces require a window material as a lighting part. It is difficult to shield a transparent window glass from electromagnetic waves while maintaining transparency. At present, as a method of shielding electromagnetic waves of glass, for example,
A PVD (physical deposition) method such as forming a silver thin film which is a conductive thin film by a sputtering method or the like is employed.
However, this general method is used for forming a thin film.
Ancillary equipment such as a vacuum device is required, and not only large investment is required, but also the productivity of the thin film is low due to a low film formation speed. Therefore, there are problems such as an increase in cost. In order to avoid these problems, there is a demand for a method of manufacturing an electromagnetic shielding glass that can be provided at low cost by forming a conductive thin film at low cost.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、前記
の如き状況に鑑み、低コストで製造でき、且つ、基材で
あるガラスと密着性、長期耐久性等の実用性能に優れた
電磁波シールドガラスの製造方法を提供することにあ
る。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide an electromagnetic wave which can be manufactured at low cost and has excellent practical properties such as adhesion and long-term durability with glass as a base material in view of the above situation. An object of the present invention is to provide a method for manufacturing a shield glass.

【0004】[0004]

【課題を解決するための手段】発明者は、大型設備投資
が必要でなく、従って、経済性が高く、生産性が高く、
且つ、実用性能に優れた電磁波シールドガラスの製造方
法について鋭意検討を重ねた結果、揮発若しくは昇華性
を有し、且つ、化学反応により導電性の金属酸化物を形
成する金属化合物及び必要に応じて該金属酸化物にドー
ピングする金属の金属化合物を、ガラス基材上に放出
し、導電性金属酸化物薄膜層を形成させることにより製
造できることを見出し本発明を完成するに至った。化学
反応が、大気中の化合物、例えば水、酸素との化学反応
であり、金属化合物を放出する雰囲気が大気圧雰囲気、
即ち常圧で有れば、銀等の導電性無機薄膜を形成させる
スパッタリング法等のPVD法と比較して真空にする必
要がない。従って大型設備を必要とすることもない。
又、真空で実施する場合に比較して基材上に吹き付けら
れる無機物質の濃度が高くなることにより無機薄膜形成
速度が極めて速い。従って高速で無機薄膜を形成させる
ことが出来、低コストで電磁波シールドガラスを製造す
ることができる。
SUMMARY OF THE INVENTION The inventor of the present invention does not need large-scale capital investment, and therefore has high economic efficiency, high productivity,
In addition, as a result of intensive studies on a method for producing an electromagnetic wave shielding glass having excellent practical performance, a metal compound which has volatilization or sublimation, and forms a conductive metal oxide by a chemical reaction, and if necessary The present inventors have found that the metal oxide can be produced by discharging a metal compound of a metal to be doped into the metal oxide onto a glass substrate and forming a conductive metal oxide thin film layer, thereby completing the present invention. The chemical reaction is a chemical reaction with a compound in the atmosphere, for example, water, oxygen, and the atmosphere for releasing the metal compound is an atmospheric pressure atmosphere,
That is, if the pressure is normal, there is no need to apply a vacuum as compared with a PVD method such as a sputtering method for forming a conductive inorganic thin film such as silver. Therefore, there is no need for large equipment.
In addition, the rate of forming the inorganic thin film is extremely high because the concentration of the inorganic substance sprayed on the base material is higher than in the case where the vacuum is applied. Therefore, the inorganic thin film can be formed at high speed, and the electromagnetic wave shielding glass can be manufactured at low cost.

【0005】即ち、本発明は、揮発若しくは昇華性を有
し、且つ、化学反応、好ましくは大気中の化合物との反
応により金属酸化物を形成する一種あるいは複数の金属
化合物及び必要に応じて該金属酸化物にドーピングする
金属の金属化合物を、好ましくは窒素ガス等の気体状媒
体と同伴させて、好ましくは大気圧雰囲気下でガラス基
材上に放出し、ガラス基材上に少なくとも一層の導電性
金属酸化物薄膜層を形成させることを特徴とする電磁波
シールドガラスの製造方法に関するものである。
That is, the present invention relates to one or more metal compounds which have a volatilization or sublimation property and form a metal oxide by a chemical reaction, preferably a reaction with a compound in the atmosphere, and if necessary, a metal compound. The metal compound of the metal to be doped into the metal oxide is preferably released together with a gaseous medium such as nitrogen gas onto a glass substrate, preferably under an atmospheric pressure atmosphere, and at least one layer of conductive material is formed on the glass substrate. The present invention relates to a method for producing an electromagnetic wave shielding glass, comprising forming a conductive metal oxide thin film layer.

【0006】以下本発明を詳しく説明する。まず、本発
明で使用する原材料について説明する。基材であるガラ
スは、一般にガラスと称されるもので有れば特に限定さ
れないが、その例としては、ソーダ石灰ガラス、カリガ
ラス、鉛ガラス、硼珪酸ガラスあるいは珪酸ガラス等を
挙げることができる。ガラス基材の形状は、板状、繊維
状、ビーズ状等いずれの形状でも使用することが出来る
が、この中でも特に電磁波シールドのニーズが高い板
状、即ち板ガラスが好ましい。板ガラスの場合、その厚
みは特に限定されないが、通常市販されている厚みのも
の、即ち1mm以上の厚みのものを使用することができ
る。
Hereinafter, the present invention will be described in detail. First, the raw materials used in the present invention will be described. The glass as the base material is not particularly limited as long as it is generally called glass, and examples thereof include soda-lime glass, potash glass, lead glass, borosilicate glass, and silicate glass. As the shape of the glass substrate, any shape such as a plate shape, a fiber shape, a bead shape and the like can be used. Among them, a plate shape in which the need for an electromagnetic wave shield is particularly high, that is, a plate glass is preferable. In the case of sheet glass, the thickness is not particularly limited, but a commercially available thickness, that is, a thickness of 1 mm or more can be used.

【0007】本発明の原材料である金属化合物は、化学
反応により酸化物を形成するものを使用する。具体的
に、この金属化合物は、例えば、揮発若しくは昇華し、
放出した時、雰囲気に存在する酸素、水分あるいは意図
して存在させた化学物質と反応して部分的であっても良
いが、主として金属酸化物を形成するものを使用する。
通常は、触媒なしが好ましいが、触媒存在下、金属酸化
物を形成するものであっても良い。その原理を分かりや
すく説明する為に一例を示すと、例えば、金属化合物と
してテトラアルコキシ錫を使用し、それを150℃に加
熱揮発させ、窒素ガスを気体状媒体として、基材を50
0℃に加熱して、無触媒で大気中に放出すると、基材表
面上で大気中の水分と反応して酸化錫を主体とする金属
酸化物を形成する。
As the metal compound which is a raw material of the present invention, a metal compound which forms an oxide by a chemical reaction is used. Specifically, this metal compound is, for example, volatilized or sublimated,
When it is released, it may be partially reacted with oxygen or moisture present in the atmosphere or a chemical substance intentionally used, but one that mainly forms a metal oxide is used.
Usually, no catalyst is preferable, but a metal oxide may be formed in the presence of a catalyst. An example is given to explain the principle in an easy-to-understand manner. For example, tetraalkoxy tin is used as a metal compound, which is heated and volatilized at 150 ° C.
When heated to 0 ° C. and released into the atmosphere without a catalyst, it reacts with moisture in the atmosphere on the surface of the substrate to form a metal oxide mainly composed of tin oxide.

【0008】この反応の大部分は、おそらく次の様な化
学反応に基づいていると推定される。 Sn(OR)4 +2H2 O→SnO2 +4ROH 金属化合物中の主たる金属は、その酸化物が導電性を示
すものであれば特に限定されない。電磁波シールド性を
示す為に、製造される電磁波シールドガラスの表面抵抗
は103 Ω/□以下であることが好ましい。更に102
Ω/□以下であることがより好ましい。又、本発明で製
造される電磁波シールドガラスをビル等の窓ガラスとし
て使用する場合、外の景色等が見えることが必要であ
る。本発明で製造される電磁波シールドガラスは、必ず
しも透明である必要は無いが、透明性に優れるものがよ
り好ましい。従って、本発明の電磁波シールドガラスの
全光線透過率は、50%以上であることが好ましい。更
に60%以上であることがより好ましい。金属化合物中
の主たる金属の例としては、周期表でIIB、III
A、IIIB、IVA、IVBの中から選ばれる単独あ
るいは2種以上の組み合わせ等を挙げることができる。
この中でも特にZn、Cd、In、Sn及びTiの中か
ら選ばれる単独あるいは2種以上の組み合わせが、透明
性が良く、更に導電性もよく好ましい。
It is presumed that most of this reaction is probably based on the following chemical reaction. Sn (OR) 4 + 2H 2 O → SnO 2 + 4ROH The main metal in the metal compound is not particularly limited as long as its oxide shows conductivity. In order to exhibit electromagnetic wave shielding properties, the surface resistance of the manufactured electromagnetic wave shielding glass is preferably 10 3 Ω / □ or less. Further 10 2
It is more preferably Ω / □ or less. Further, when the electromagnetic wave shielding glass manufactured in the present invention is used as a window glass of a building or the like, it is necessary to see the outside scenery and the like. Although the electromagnetic wave shielding glass produced in the present invention is not necessarily required to be transparent, those having excellent transparency are more preferable. Therefore, the total light transmittance of the electromagnetic wave shielding glass of the present invention is preferably 50% or more. More preferably, it is at least 60%. Examples of the main metal in the metal compound include IIB and III in the periodic table.
A, IIIB, IVA, and IVB can be used alone or in combination of two or more.
Among them, a single material selected from Zn, Cd, In, Sn and Ti or a combination of two or more thereof is preferable because of good transparency and good conductivity.

【0009】金属酸化物には必要に応じて金属をドーピ
ングして導電性をアップすることができる。例えば、酸
化亜鉛にアルミニウムをドーピングすることによってそ
の導電性は、10-4Ω/□レベルまでにアップすること
も可能となる。その原理も分かりやすく説明する為に一
例を示すと、例えば、金属化合物として亜鉛アセチルア
セトナート及びアルミニウムアセチルアセトナートを使
用し、その混合物を150℃に加熱揮発させ、窒素ガス
を気体状媒体として、ガラス基材を500℃に加熱し
て、無触媒で大気中に放出すると、基材表面上で、大気
中の水分と反応して下記に基づくと推定される反応によ
り酸化亜鉛を主体とする金属酸化物を形成する。この
際、アルミニウムは、酸化亜鉛の結晶構造の中に取り込
まれていると推定される。
The metal oxide can be doped with a metal as required to increase the conductivity. For example, by doping zinc oxide with aluminum, its conductivity can be increased to a level of 10 −4 Ω / □. To illustrate the principle in an easy-to-understand manner, for example, for example, using zinc acetylacetonate and aluminum acetylacetonate as metal compounds, heating and volatilizing the mixture at 150 ° C., and using nitrogen gas as a gaseous medium, When the glass substrate is heated to 500 ° C. and released into the atmosphere without a catalyst, on the surface of the substrate, a metal mainly composed of zinc oxide reacts with the moisture in the atmosphere and is presumed to be based on the following. Form an oxide. At this time, it is presumed that aluminum is taken in the crystal structure of zinc oxide.

【0010】Zn(acac)2 +H2 O→ZnO+2
acac(アセチルアセトン) 上記の様にドーピングする金属の例としては、周期表で
IIB、IIIA、IIIB、IVA、IVB、VA、
VB、VIAの単独あるいは2種以上の組み合わせ等を
挙げることができる。この中でも特にY、B、Al、G
a、In、Ti、Zr、Sn、Sb、Mo、WZn、C
d、In、Sn及びTiの中から選ばれる単独あるいは
2種以上の組み合わせが、上記金属酸化物の導電性をア
ップする効果が高く好ましい。
[0010] Zn (acac) 2 + H 2 O → ZnO + 2
acac (acetylacetone) Examples of metals to be doped as described above include IIB, IIIA, IIIB, IVA, IVB, VA,
VB and VIA can be used alone or in combination of two or more. Among them, especially Y, B, Al, G
a, In, Ti, Zr, Sn, Sb, Mo, WZn, C
A single or a combination of two or more selected from d, In, Sn, and Ti is preferred because it has a high effect of increasing the conductivity of the metal oxide.

【0011】金属酸化物を形成する金属化合物として
は、それを揮発あるいは昇華させノズルから放出した際
に、酸素あるいは水分その他等と反応して金属酸化物を
形成する化合物であれば特に限定されないが、その例と
しては、上述金属のアルキル化合物、アルケニル化合
物、フェニルあるいはアルキルフェニル化合物、アルコ
キシド化合物、ハロゲン化合物、アセチルアセトネート
化合物及びEDTA化合物等が挙げられる。これらの金
属化合物は、単独で使用することもできるし、又、同一
の金属であっても複数の化合物を組み合わせて使用する
こともできる。必要に応じて金属酸化物にドーピングす
る金属の金属化合物の例としては、これに限定されない
が、上述金属のアルキル化合物、アルケニル化合物、フ
ェニルあるいはアルキルフェニル化合物、アルコキシド
化合物、ハロゲン化合物、アセチルアセトネート化合物
及びEDTA化合物等が挙げられる。
The metal compound forming the metal oxide is not particularly limited as long as it is a compound which reacts with oxygen, moisture or the like to form a metal oxide when it is volatilized or sublimated and discharged from the nozzle. Examples thereof include the above-mentioned metal alkyl compounds, alkenyl compounds, phenyl or alkylphenyl compounds, alkoxide compounds, halogen compounds, acetylacetonate compounds and EDTA compounds. These metal compounds can be used alone, or a plurality of compounds can be used in combination even for the same metal. Examples of the metal compound of the metal that is doped into the metal oxide as necessary include, but are not limited to, the above-mentioned metal alkyl compounds, alkenyl compounds, phenyl or alkylphenyl compounds, alkoxide compounds, halogen compounds, and acetylacetonate compounds. And EDTA compounds.

【0012】金属化合物を揮発あるいは昇華させてノズ
ルから放出する方法としては、必ずしもこれに限定され
る訳ではないが、気体状媒体と同伴して放出させること
が好ましい。理由は、気体状媒体で同伴して放出させる
方法は、金属化合物の放出量を一定量にコントロールで
きることによる。気体状媒体は、使用する金属化合物と
反応するものでなければ、特に限定はされないが、その
例として、窒素ガス、アルゴンガス等の不活性ガス、炭
酸ガス、有機フッ素系ガス、あるいはヘキサン、ヘプタ
ン等の有機物等が挙げられる。しかしながら、安全性、
経済性の上から不活性ガスが好ましい。この中でも窒素
ガスが経済性の面より最も好ましい。
The method of discharging the metal compound from the nozzle by volatilization or sublimation is not necessarily limited to this, but it is preferable to discharge the metal compound together with the gaseous medium. The reason for this is that the method of releasing together with a gaseous medium is capable of controlling the release amount of the metal compound to a constant amount. The gaseous medium is not particularly limited as long as it does not react with the metal compound used. Examples thereof include an inert gas such as a nitrogen gas and an argon gas, a carbon dioxide gas, an organic fluorine-based gas, and hexane and heptane. And the like. However, safety,
An inert gas is preferable from the viewpoint of economy. Among them, nitrogen gas is most preferable from the viewpoint of economy.

【0013】次に、本発明の電磁波シールドガラスの製
造方法について具体的に説明する。本発明は、揮発若し
くは昇華性を有し、且つ、化学反応により、好ましくは
大気中の化合物との化学反応により金属酸化物を形成す
る一種あるいは複数の金属化合物及び必要に応じて該金
属酸化物にドーピングする金属の金属化合物を、例え
ば、図1に示す様に、加熱槽で揮発あるいは昇華させ、
好ましくは気体状媒体をキャリアガスとして、スリット
より放出し、次いでガラス基材上に吹き付けることによ
ってガラス基材表面に金属酸化物よりなる導電膜を形成
させて製造する。
Next, the method for producing the electromagnetic wave shielding glass of the present invention will be specifically described. The present invention relates to one or more metal compounds which have a volatilization or sublimation property and form a metal oxide by a chemical reaction, preferably by a chemical reaction with a compound in the atmosphere, and if necessary, the metal oxide. For example, as shown in FIG. 1, a metal compound of a metal to be doped is volatilized or sublimated in a heating tank,
Preferably, a gaseous medium is emitted as a carrier gas from a slit and then sprayed onto a glass substrate to form a conductive film made of a metal oxide on the surface of the glass substrate.

【0014】本発明を大気中の水分あるいは酸素等の化
合物との化学反応で金属酸化物を形成させる方法で製造
する場合は、金属化合物を酸素及び水分が存在しないか
あるいは極めて少ない状態で揮発あるいは昇華する温度
あるいはそれ以上に加熱し、更に酸素及び水分が存在し
ないかあるいは極めて少ない気体状媒体に同伴して放出
する。金属化合物中あるいは気体状媒体中の酸素及び水
分が存在しないかあるいは極めて少なくするのは、放出
する前に、装置内で金属酸化物へ反応し、詰まり等によ
るトラブルを防止する為である。しかしながら、使用す
る金属化合物の種類によっては、スリット等の吹き出し
口から大気に放出したのみでは、金属化合物の酸化物へ
の反応速度が極めて遅い場合もある。この際は、気体状
媒体中あるいは加熱槽内に、装置内で詰まりを生じない
程度に酸素、水分あるいは反応速度アップの為の触媒
(例えば、揮発性の酸、アルカリ等)等を共存させるこ
ともある。放出する金属化合物は、一種であっても良い
し、混合物であっても良い。混合して揮発させることも
できるが、揮発させたものを混合した後、基材に吹き付
けることもできる。
When the present invention is produced by a method in which a metal oxide is formed by a chemical reaction with a compound such as moisture or oxygen in the atmosphere, the metal compound is volatilized or dissolved in a state where oxygen and moisture are absent or extremely small. It is heated to sublimation temperatures or higher and is released with entrained gaseous media in the absence or very little oxygen and moisture. The reason why oxygen and water in the metal compound or the gaseous medium are not present or are extremely small is to prevent a reaction due to a metal oxide in the apparatus before the release and a trouble such as clogging. However, depending on the type of the metal compound used, the reaction rate of the metal compound to the oxide may be extremely low only by discharging the metal compound to the atmosphere from an outlet such as a slit. In this case, oxygen, moisture, or a catalyst for increasing the reaction speed (eg, volatile acid, alkali, etc.) should coexist in the gaseous medium or in the heating tank so as not to cause clogging in the apparatus. There is also. The metal compound to be released may be one kind or a mixture. It is possible to mix and volatilize, but after mixing the volatilized material, it is also possible to spray the mixture onto the base material.

【0015】放出する金属化合物の温度は、一般に金属
化合物が揮発する温度以上であれば特に限定されない
が、一般には、100〜500℃で実施することが多
い。基材温度は、放出された金属化合物が、ガラス基材
表面上で大気中の化合物と反応して金属酸化物を形成す
る温度であれば特に限定されないが、一般には、200
〜800℃で実施することが多い。この温度設定はガラ
ス基材との密着性を決定する重要な因子である。温度条
件の設定は、大きく2つの方法がある。1つは、放出温
度をガラス基材温度より高くする方法。もう1つは、放
出温度をガラス基材温度より低くする方法である。前者
は、金属化合物が、スリットより放出された場合、放出
直後に化学反応により金属酸化物の微粒子が形成され、
この高温の金属酸化物の微粒子がガラス基材上に積み重
なる方式で透明導電膜が形成される。後者は、ガラス基
材表面で化学反応により金属酸化物が形成されその上に
金属酸化物が生長して導電膜が形成される。一般に前者
の方法は、粒子の集合体となる為、ガラス基材との密着
性は必ずしも好ましくない。後者の方式をとる方が密着
性に優れる。
The temperature of the metal compound to be released is not particularly limited as long as it is generally equal to or higher than the temperature at which the metal compound volatilizes, but the temperature is generally 100 to 500 ° C. The substrate temperature is not particularly limited as long as the released metal compound reacts with a compound in the air on the surface of the glass substrate to form a metal oxide.
Often performed at ~ 800 ° C. This temperature setting is an important factor that determines the adhesion to the glass substrate. There are two main methods for setting temperature conditions. One is to make the release temperature higher than the glass substrate temperature. Another method is to lower the release temperature below the glass substrate temperature. In the former, when the metal compound is released from the slit, metal oxide fine particles are formed by a chemical reaction immediately after the release,
The transparent conductive film is formed in such a manner that the high-temperature metal oxide particles are stacked on the glass substrate. In the latter, a metal oxide is formed by a chemical reaction on the surface of the glass substrate, and the metal oxide grows on the metal oxide to form a conductive film. In general, the former method is not necessarily preferable in terms of adhesion to a glass substrate because the former method results in an aggregate of particles. The latter method has better adhesion.

【0016】金属化合物の吹き出し口とガラス基材表面
の距離は、通常50cm以下で実施する。金属化合物の
吹き出し口の形状によっても異なるが、50cm以上で
は、金属化合物が有効に金属酸化物へ変換されず効率が
悪い傾向がある。金属化合物を放出する雰囲気は、減圧
下であっても良いし、常圧下あるいは加圧下であっても
良い。しかしながら、高度な減圧下、例えば超真空下で
実施すると、金属酸化物の生成速度が遅く、生産性に欠
け好ましくない。加圧下で実施する金属酸化物の生長速
度には問題ないが、加圧する為の設備が必要となり好ま
しい方向ではない。これに限定される分けではないが、
通常0.1〜10atmで実施することが好ましい。し
かしながら、一般的には、大気圧雰囲気下、即ち、常圧
で実施することが最も好ましい。この方法は、工業的生
産をする場合に大型の設備が必要でなく、且つ、金属酸
化物の生長速度も実用化可能の範囲にある。本発明は、
形成する導電性金属酸化物薄膜層は、一層であっても良
いし、又、逐次的に順次積層し、同種又は異種の多層の
導電性金属酸化物薄膜層を形成させる事もできる。この
際、導電性金属酸化物薄膜層の上あるいは導電性金属酸
化物薄膜層とガラス基材の間に導電性機能以外の機能を
有する無機層あるいは有機層を設けることもある。
The distance between the outlet of the metal compound and the surface of the glass substrate is usually 50 cm or less. Although it depends on the shape of the outlet of the metal compound, when the diameter is 50 cm or more, the metal compound is not effectively converted to the metal oxide, and the efficiency tends to be poor. The atmosphere for releasing the metal compound may be under reduced pressure, under normal pressure or under pressure. However, when the process is performed under a high degree of reduced pressure, for example, under an ultra-vacuum, the production rate of the metal oxide is low, and the productivity is lacking. Although there is no problem with the growth rate of the metal oxide carried out under pressure, it is not a preferable direction because equipment for pressurization is required. Although not limited to this,
Usually, it is preferable to carry out at 0.1 to 10 atm. However, in general, it is most preferable to carry out the reaction under an atmospheric pressure atmosphere, that is, at normal pressure. This method does not require large-scale equipment for industrial production, and the growth rate of the metal oxide is in a range that can be put to practical use. The present invention
The conductive metal oxide thin film layer to be formed may be a single layer or may be sequentially and sequentially laminated to form a multilayer of the same type or different types of conductive metal oxide thin film layers. At this time, an inorganic layer or an organic layer having a function other than the conductive function may be provided on the conductive metal oxide thin film layer or between the conductive metal oxide thin film layer and the glass substrate.

【0017】この様にして製造される電磁波シールドガ
ラスの導電性金属酸化物薄膜層の厚みは、通常、20μ
m以下、好ましくは10μm以下、更に好ましくは2μ
m以下である。単層であっても、多層であってもこの範
囲にあることが好ましい。一般に厚くなると導電性金属
酸化物薄膜層にクラック等の欠陥を生じ易い傾向が有り
好ましくない。一般には20μm以下が好ましい。又、
下限は、導電性機能が発揮される範囲であれば特に限定
されない。通常、0.01μm以上であることが好まし
い。
The thickness of the conductive metal oxide thin film layer of the electromagnetic wave shielding glass thus manufactured is usually 20 μm.
m, preferably 10 μm or less, more preferably 2 μm
m or less. A single layer or a multilayer is preferably within this range. In general, when the thickness is too large, defects such as cracks tend to easily occur in the conductive metal oxide thin film layer, which is not preferable. Generally, it is preferably 20 μm or less. or,
The lower limit is not particularly limited as long as the conductive function is exhibited. Usually, it is preferable that it is 0.01 μm or more.

【0018】本発明で製造される電磁波シールドガラス
は、良好な電磁波シールド性を示す。又、無機薄膜が金
属酸化物であること及びガラスの主成分も酸化物である
ことにより相互の密着性にも優れ、又、無機薄膜そのも
のが最終的に安定な金属酸化物である故に長期安定性に
も優れる。この電磁波シールドガラスは、ビル、マンシ
ョン、一般家屋の窓ガラス、テレビやプラズマディスプ
レーのブラウン管あるいは前面板等に使用することがで
きる。又、繊維状のガラスは、これを不織布にする等に
よって断熱材兼シールド材等としても使用することも可
能である。
The electromagnetic wave shielding glass produced by the present invention exhibits good electromagnetic wave shielding properties. In addition, since the inorganic thin film is a metal oxide and the main component of glass is also an oxide, it has excellent mutual adhesion, and since the inorganic thin film itself is a finally stable metal oxide, it is stable for a long time. Also excellent in nature. This electromagnetic wave shielding glass can be used for windows of buildings, condominiums, general houses, cathode ray tubes or front panels of televisions and plasma displays, and the like. Further, the fibrous glass can be used as a heat insulating material and a shielding material by making it into a nonwoven fabric.

【0019】[0019]

【実施例】次に実施例をあげて本発明を更に具体的に説
明するが、本発明はこれらに限定されるものではない。
なお、電磁波シールド性の測定方法は、アンリツ(株)
スペクトラムアナライザーMS623A測定器、及びト
ラッキングジェネレータMH628A及び電波暗箱を用
いて測定した。100×100mm角のサンプルを周波
数100〜1000MHzの範囲で測定した。
Next, the present invention will be described more specifically with reference to examples, but the present invention is not limited to these examples.
In addition, the measuring method of the electromagnetic wave shielding property is described by Anritsu Corporation.
The measurement was performed using a spectrum analyzer MS623A measuring device, a tracking generator MH628A, and an anechoic chamber. A 100 × 100 mm square sample was measured in a frequency range of 100 to 1000 MHz.

【0020】(実施例1)図1の乾燥窒素導入ライン、
金属化合物加熱槽、スリット状吹き出し口よりなる設備
を使用し、加熱槽に、インジュームトリメチルアセチル
アセテートとテトラエトキシ錫との混合物(モル比9
1.5/8.5)を仕込んだ。加熱槽を150℃に加
熱、更に加熱配管及びスリツトもヒーターにより同じ1
50℃に加熱し、吹き出し温度を150℃に設定した。
吹き出しスリットの下、5cmの位置に、厚み5mmの
ガラス板(ソーダ石灰ガラス板)をセット、500℃に
加熱した。加熱槽に、乾燥窒素ガスを導入し、インジュ
ームトリメチルアセチルアセテートとテトラエトキシ錫
との混合物を揮発させ、大気圧雰囲気に放出し、ガラス
板表面に吹き付けた。ガラス板表面上で大気中の水と反
応し、ガラス板表面に錫がドープされた酸化インジュー
ムからなる透明導電膜が生成した。この透明導電膜の厚
みは、乾燥窒素ガス導入量及びガラス板の移動速度によ
ってコントロールし、約0.5μmとした。この錫ドー
プ酸化インジューム(ITO)透明導電膜の導電性を測
定した結果、表面抵抗は、0.01Ω/□であった。
又、このITO導電膜とガラス基材との密着性は、表面
をカッターナイフで傷をつけても界面剥離することなく
良好であった。又、このガラスの電磁波シールドの評価
の結果は、800MHzの減衰値で約50dBであっ
た。
(Example 1) The dry nitrogen introduction line of FIG.
Using equipment comprising a metal compound heating tank and a slit-shaped outlet, a mixture of indium trimethylacetyl acetate and tetraethoxytin (molar ratio 9) was added to the heating tank.
1.5 / 8.5). The heating tank is heated to 150 ° C, and the heating piping and slits are also heated by the heater.
It was heated to 50 ° C and the blowing temperature was set at 150 ° C.
A 5 mm-thick glass plate (soda-lime glass plate) was set at a position 5 cm below the blowing slit, and heated to 500 ° C. Dry nitrogen gas was introduced into the heating tank, and a mixture of indium trimethylacetyl acetate and tetraethoxytin was volatilized, released into an atmospheric pressure atmosphere, and sprayed on the surface of the glass plate. It reacted with water in the air on the surface of the glass plate, and a transparent conductive film made of tin-doped indium oxide was formed on the surface of the glass plate. The thickness of this transparent conductive film was controlled by the amount of dry nitrogen gas introduced and the moving speed of the glass plate, and was about 0.5 μm. As a result of measuring the conductivity of this tin-doped indium oxide (ITO) transparent conductive film, the surface resistance was 0.01 Ω / □.
The adhesion between the ITO conductive film and the glass substrate was good without peeling off at the interface even when the surface was scratched with a cutter knife. The evaluation result of the electromagnetic wave shield of this glass was about 50 dB at an attenuation value of 800 MHz.

【0021】(実施例2)図1の乾燥窒素導入ライン、
金属化合物加熱槽、スリット状吹き出し口よりなる設備
を使用し、加熱槽に、亜鉛アセチルアセトナートとアル
ミニウムアセチルアセトナートとの混合物(モル比95
/5となる量比)を仕込んだ。加熱槽を150℃に加
熱、更に加熱配管及びスリツトもヒーターにより同じ1
50℃に加熱し、吹き出し温度を150℃に設定した。
吹き出しスリットの下、5cmの位置に、厚み5mmの
ガラス板(ソーダ石灰ガラス板)をセット、500℃に
加熱した。加熱槽に、乾燥窒素ガスを導入し、亜鉛アセ
チルアセトナートとアルミニウムアセチルアセトナート
との混合物を揮発させ、大気圧雰囲気に放出し、ガラス
板表面に吹き付けた。ガラス板表面上で大気中の水と反
応し、ガラス板表面にアルミニウムがドープされた酸化
亜鉛からなる導電膜が生成した。この透明導電膜の厚み
は、乾燥窒素ガス導入量及びガラス板の移動速度によっ
てコントロールし、約1.0μmとした。このアルミニ
ウムドープ酸化亜鉛導電膜の導電性を測定した結果、表
面抵抗は、0.001Ω/□であった。又、この導電膜
とガラス基材との密着性は、表面をカッターナイフで傷
をつけても界面剥離することなく良好であった。又、こ
のガラスの電磁波シールドの評価の結果は、800MH
zの減衰値で約55dBであった。
(Embodiment 2) The dry nitrogen introduction line of FIG.
Using a facility comprising a metal compound heating tank and a slit-shaped outlet, a mixture of zinc acetylacetonate and aluminum acetylacetonate (molar ratio 95
/ 5). The heating tank is heated to 150 ° C, and the heating piping and slits are also heated by the heater.
It was heated to 50 ° C and the blowing temperature was set at 150 ° C.
A 5 mm-thick glass plate (soda-lime glass plate) was set at a position 5 cm below the blowing slit, and heated to 500 ° C. Dry nitrogen gas was introduced into the heating tank, and a mixture of zinc acetylacetonate and aluminum acetylacetonate was volatilized, released to the atmosphere of atmospheric pressure, and sprayed on the surface of the glass plate. Reacted with water in the air on the surface of the glass plate, and a conductive film composed of zinc oxide doped with aluminum was formed on the surface of the glass plate. The thickness of this transparent conductive film was controlled by the amount of dry nitrogen gas introduced and the moving speed of the glass plate, and was about 1.0 μm. As a result of measuring the conductivity of this aluminum-doped zinc oxide conductive film, the surface resistance was 0.001 Ω / □. Also, the adhesion between the conductive film and the glass substrate was good without peeling off at the interface even if the surface was scratched with a cutter knife. The evaluation result of the electromagnetic wave shield of this glass was 800 MHz.
The attenuation value of z was about 55 dB.

【0022】[0022]

【発明の効果】揮発若しくは昇華性を有し、且つ、化学
反応、好ましくは大気中の化合物との化学反応により金
属酸化物を形成する一種あるいは複数の金属化合物及び
必要に応じて該金属酸化物にドーピングする金属の金属
化合物を、好ましくは気体状媒体でもって大気圧雰囲気
下でガラス基材上に放出し、ガラス基板上に導電性金属
酸化物薄膜を形成させる本発明の製造方法は、経済性が
高く、生産性が高く、実用性能に優れた電磁波シールド
ガラスを提供することができる。
EFFECTS OF THE INVENTION One or more metal compounds which have volatilization or sublimability and form a metal oxide by a chemical reaction, preferably a chemical reaction with a compound in the atmosphere, and if necessary, the metal oxide The method of the present invention for releasing a metal compound of a metal to be doped into a glass substrate, preferably in a gaseous medium, under an atmospheric pressure atmosphere to form a conductive metal oxide thin film on a glass substrate is economical. It is possible to provide an electromagnetic shielding glass having high performance, high productivity, and excellent practical performance.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】基板上に無機薄膜を形成する工程を説明する図
である。
FIG. 1 is a diagram illustrating a process of forming an inorganic thin film on a substrate.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 4D075 CA50 DA06 DB13 DC01 EB01 EC02 EC10 4F100 AA17B AA18B AA19B AA21B AA25B AA27B AA28B AA29B AG00A BA02 BA07 EH66 GB41 JD08 JG04B JL02 YY00B 4K030 AA02 AA11 AA20 BA01 BA02 BA08 BA11 BA12 BA16 BA18 BA20 BA21 BA22 BA26 BA42 BA53 BA54 BA55 CA06 FA10 JA06 KA25 LA01 LA02 LA11 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing on the front page F term (reference) 4D075 CA50 DA06 DB13 DC01 EB01 EC02 EC10 4F100 AA17B AA18B AA19B AA21B AA25B AA27B AA28B AA29B AG00A BA02 BA07 EH66 GB41 JD08 JG04B JL02 Y20 BA11 BA18 ABA BAA BAA BA21 BA22 BA26 BA42 BA53 BA54 BA55 CA06 FA10 JA06 KA25 LA01 LA02 LA11

Claims (11)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 揮発若しくは昇華性を有し、且つ、化学
反応により金属酸化物を形成する一種あるいは複数の金
属化合物及び必要に応じて該金属酸化物にドーピングす
る金属の金属化合物をガラス基材上に放出し、基材上に
少なくとも一層の導電性金属酸化物薄膜を形成させるこ
とを特徴とする電磁波シールドガラスの製造方法。
1. A glass substrate comprising one or more metal compounds having volatility or sublimability and forming a metal oxide by a chemical reaction, and a metal compound of a metal doped into the metal oxide as required. A method for producing an electromagnetic wave shielding glass, comprising: forming a conductive metal oxide thin film on a substrate;
【請求項2】 導電性金属酸化物薄膜の表面抵抗が、1
3 Ω/□以下であることを特徴とする請求項1に記載
の電磁波シールドガラスの製造方法。
2. The conductive metal oxide thin film has a surface resistance of 1
The method for producing an electromagnetic wave shielding glass according to claim 1, wherein the resistance is not more than 0 3 Ω / □.
【請求項3】 全光線透過率が、50%以上であること
を特徴とする請求項1又は請求項2に記載の電磁波シー
ルドガラスの製造方法。
3. The method for producing an electromagnetic wave shielding glass according to claim 1, wherein the total light transmittance is 50% or more.
【請求項4】 金属化合物を気体状媒体に同伴させて放
出することを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に
記載の電磁波シールドガラスの製造方法。
4. The method for producing an electromagnetic shielding glass according to claim 1, wherein the metal compound is released together with the gaseous medium.
【請求項5】 化学反応が、大気中の化合物との化学反
応によるものであることを特徴とする請求項1〜4のい
ずれか1項に記載の電磁波シールドガラスの製造方法。
5. The method according to claim 1, wherein the chemical reaction is caused by a chemical reaction with a compound in the atmosphere.
【請求項6】 金属化合物を放出する雰囲気が、大気圧
雰囲気であることを特徴とする請求項1〜5のいずれか
1項に記載の電磁波シールドガラスの製造方法。
6. The method for producing an electromagnetic wave shielding glass according to claim 1, wherein the atmosphere in which the metal compound is released is an atmospheric pressure atmosphere.
【請求項7】 酸化物を形成する金属化合物中の主たる
金属が、周期表でIIB、IIIA、IIIB、IV
A、IVBの中から一種以上選ばれることを特徴とする
請求項1〜6のいずれか1項に記載の電磁波シールドガ
ラスの製造方法。
7. The main metal in the metal compound forming an oxide is represented by IIB, IIIA, IIIB, IV in the periodic table.
The method for producing an electromagnetic shielding glass according to any one of claims 1 to 6, wherein one or more types are selected from A and IVB.
【請求項8】 酸化物を形成する金属化合物中の主たる
金属が、Zn、Cd、In、Sn及びTiの中から一種
以上選ばれることを特徴とする請求項7に記載の電磁波
シールドガラスの製造方法。
8. The production of the electromagnetic shielding glass according to claim 7, wherein the main metal in the metal compound forming the oxide is at least one selected from Zn, Cd, In, Sn and Ti. Method.
【請求項9】 必要に応じてドーピングする金属が、周
期表でIIB、IIIA、IIIB、IVA、IVB、
VA、VB、VIAの中から一種以上選ばれることを特
徴とする請求項1〜8のいずれか1項に記載の電磁波シ
ールドガラスの製造方法。
9. The method of claim 1, wherein the optionally doping metal comprises IIB, IIIA, IIIB, IVA, IVB,
The method for producing an electromagnetic wave shielding glass according to any one of claims 1 to 8, wherein at least one kind is selected from VA, VB, and VIA.
【請求項10】 必要に応じてドーピングする金属が、
Y、B、Al、Ga、In、Ti、Zr、Sn、Sb、
Mo、Wの中から一種以上選ばれることを特徴とする請
求項9に記載の電磁波シールドガラスの製造方法。
10. The metal which is optionally doped is
Y, B, Al, Ga, In, Ti, Zr, Sn, Sb,
The method for producing an electromagnetic wave shielding glass according to claim 9, wherein one or more types are selected from Mo and W.
【請求項11】 金属酸化物を形成する金属化合物及び
必要に応じて該金属酸化物にドーピングする金属の金属
化合物が、アルキル化合物、アルケニル化合物、フェニ
ルあるいはアルキルフェニル化合物、アルコキシド化合
物、ハロゲン化合物、アセチルアセトネート化合物及び
EDTA化合物の中から選ばれることを特徴とする請求
項1〜10のいずれか1項に記載の電磁波シールドガラ
スの製造方法。
11. A metal compound forming a metal oxide and, if necessary, a metal compound of a metal doped into the metal oxide, are alkyl compounds, alkenyl compounds, phenyl or alkylphenyl compounds, alkoxide compounds, halogen compounds, acetyl compounds. The method for producing an electromagnetic wave shielding glass according to any one of claims 1 to 10, wherein the method is selected from an acetonate compound and an EDTA compound.
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