JP2000082871A - Printed wiring board and its manufacture - Google Patents

Printed wiring board and its manufacture

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JP2000082871A
JP2000082871A JP11139539A JP13953999A JP2000082871A JP 2000082871 A JP2000082871 A JP 2000082871A JP 11139539 A JP11139539 A JP 11139539A JP 13953999 A JP13953999 A JP 13953999A JP 2000082871 A JP2000082871 A JP 2000082871A
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solder
roughened surface
wiring board
printed wiring
conductor circuit
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JP11139539A
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Honchin En
本鎮 袁
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Ibiden Co Ltd
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  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a printed wiring board having a solder bump forming section in which no defective continuity occurs, because the adhesive property between a refined conductor circuit and a solder resist layer is improved to such a degree that the circuit and layer firmly adhere to each other and are not separated from each other even in the solder bump forming section. SOLUTION: A printed wiring board is provided with a conductor circuit 31 for solder pad, and a solder resist layer 38 which is formed on the circuit 31 and has openings 37 and 36 for providing solder bodies. The conductor circuit 31 has a roughened surface 32 treated with an etchant containing a cupric complex and an organic acid and the solder resist layer 38 is provided on the roughened surface 32.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、プリント配線板に
関し、特に、はんだパッド用導体回路とソルダーレジス
ト層及びはんだパッド用導体回路とはんだバンプの密着
性、はんだバンプの強度を向上させ得るプリント配線板
に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a printed wiring board, and more particularly, to a printed wiring board capable of improving the adhesion between a solder pad conductor circuit and a solder resist layer, the solder pad conductor circuit and a solder bump, and the strength of a solder bump. Regarding the board.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、多層配線板の高密度化という要請
から、いわゆるビルドアップ多層配線基板が注目されて
いる。このビルドアップ多層配線基板は、例えば、特公
平4−55555号公報に開示されているような方法に
より製造される。
2. Description of the Related Art In recent years, so-called build-up multilayer wiring boards have been receiving attention due to demands for higher density of multilayer wiring boards. This build-up multilayer wiring board is manufactured, for example, by a method as disclosed in Japanese Patent Publication No. 4-55555.

【0003】感光性の無電解めっき用接着剤からなる絶
縁材をコア基板上に塗布し、これを乾燥させた後、露光
現像することにより、バイアホール用開口を有する層間
絶縁樹脂層を形成する。次に、この層間絶縁樹脂層の表
面を酸化剤等による処理にて粗化した後、その粗化面に
めっきレジストを設け、レジスト非形成部に無電解めっ
きを施し、バイアホールを含む2層の導体回路パターン
を形成する。かかる工程を複数回繰り返すことで、多層
化したビルドアップ配線基板が得られる。
[0003] An insulating material made of a photosensitive electroless plating adhesive is applied on a core substrate, dried, and then exposed and developed to form an interlayer insulating resin layer having a via hole opening. . Next, after the surface of the interlayer insulating resin layer is roughened by treatment with an oxidizing agent or the like, a plating resist is provided on the roughened surface, electroless plating is performed on the resist non-formed portion, and two layers including via holes are formed. Is formed. By repeating such a process a plurality of times, a multilayered build-up wiring board can be obtained.

【0004】かかるプリント配線板は、その表層にはん
だバンプが設けられ、このはんだバンプを介して、IC
チップと接続される。この際、かかるプリント配線板に
は、表層のはんたパッド用導体回路を保護し、はんだバ
ンプが互いに融着しないように、ソルダーレジスト層が
設けられる。
[0004] In such a printed wiring board, solder bumps are provided on a surface layer of the printed wiring board.
Connected to chip. At this time, the printed wiring board is provided with a solder resist layer so as to protect the surface solder circuit of the pad and prevent the solder bumps from fusing together.

【0005】また、かかるプリント配線板は、かかるは
んだパッド用導体回路とソルダーレジスト層との密着を
高めるため、導体回路の表面が粗化処理される。かかる
導体回路の粗化処理には、黒化−還元処理、硫酸−過酸
化水素によるエッチング、銅−ニッケル−リン針状合金
めっき等が用いられている。
In the printed wiring board, the surface of the conductor circuit is roughened in order to enhance the adhesion between the solder pad conductor circuit and the solder resist layer. For the roughening treatment of such a conductor circuit, blackening-reducing treatment, etching with sulfuric acid-hydrogen peroxide, copper-nickel-phosphorus needle-like alloy plating, or the like is used.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】近年、プリント配線板
の回路パターンとして、微細配線を用いる技術が注目さ
れている。かかる微細配線によって、導体回路を高密度
化できるからである。
In recent years, a technique using fine wiring as a circuit pattern of a printed wiring board has attracted attention. This is because such fine wiring can increase the density of the conductor circuit.

【0007】しかしながら、微細化された導体回路で
は、導体回路とソルダーレジスト層との接触面積が著し
く少なくなり、導体回路とソルダーレジスト層との密着
性が低下する。特に、プリント配線板の表層において、
かかる導体回路が疎の状態で設けられる場合には、導体
回路とソルダーレジスト層との密着性がより一層低下す
る。
However, in a miniaturized conductor circuit, the contact area between the conductor circuit and the solder resist layer is significantly reduced, and the adhesion between the conductor circuit and the solder resist layer is reduced. In particular, in the surface layer of the printed wiring board,
When such a conductor circuit is provided in a sparse state, the adhesion between the conductor circuit and the solder resist layer is further reduced.

【0008】また、かかる微細化されたはんだバンプ用
導体回路では、はんだバンプの強度が保持し難く、はん
だバンプが脱落することがある。
Further, in such a miniaturized conductor circuit for a solder bump, it is difficult to maintain the strength of the solder bump, and the solder bump may fall off.

【0009】本発明は、微細化された導体回路とソルダ
ーレジスト層との密着性を高め、はんだバンプ形成部に
おいても、導体回路とソルダーレジスト層とが強固に密
着して剥離せず、はんだバンプ形成部に導通不良を引き
起こさないプリント配線板を得ることを目的とする。
According to the present invention, the adhesion between the miniaturized conductor circuit and the solder resist layer is improved, and the conductor circuit and the solder resist layer are firmly adhered to each other even in the solder bump formation portion, and the solder bump is not separated. An object of the present invention is to obtain a printed wiring board that does not cause poor conduction in a formed portion.

【0010】また、本発明は、はんだバンプ用導体回路
とはんだバンプとの密着部の強度を高い状態で保持する
ことができ、はんだバンプの脱落を防止することができ
るプリント配線板を得ることを目的とする。
Another object of the present invention is to provide a printed wiring board capable of maintaining the strength of the contact portion between the solder bump conductor circuit and the solder bump in a high state and preventing the solder bump from falling off. Aim.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】本発明は、はんだパッド
用導体回路と前記はんだパッド用導体回路上のソルダー
レジスト層とを備えており、はんだ体を設けるための開
口部が前記ソルダーレジスト層に形成されているプリン
ト配線板において、前記はんだパッド用導体回路が、第
二銅錯体と有機酸とを含有するエッチング液によって処
理された粗化面を有しており、前記ソルダーレジスト層
が前記粗化面上に設けられている、プリント配線板に係
るものである。
According to the present invention, there is provided a conductor circuit for a solder pad and a solder resist layer on the conductor circuit for a solder pad, and an opening for providing a solder body is formed in the solder resist layer. In the printed wiring board being formed, the solder pad conductor circuit has a roughened surface that has been treated with an etching solution containing a cupric complex and an organic acid, and the solder resist layer has a rough surface. The present invention relates to a printed wiring board provided on a surface to be printed.

【0012】また、本発明は、導体回路と前記導体回路
上のソルダーレジスト層とを備えており、はんだ体を設
けるための開口部が前記ソルダーレジスト層に形成され
ているプリント配線板において、前記導体回路が粗化面
を有しており、前記粗化面が複数の錨状部と窪み部と稜
線とを有し、前記錨状部と前記窪み部と前記稜線とが分
散形成されてなり、隣り合う前記錨状部が前記稜線によ
って繋がってなるとともに、前記窪み部が、前記錨状部
と前記稜線とによって囲まれてなり、前記ソルダーレジ
スト層が前記粗化面上に設けられている、プリント配線
板に係るものである。
The present invention also provides a printed wiring board comprising a conductor circuit and a solder resist layer on the conductor circuit, wherein an opening for providing a solder body is formed in the solder resist layer. The conductor circuit has a roughened surface, the roughened surface has a plurality of anchors, dents, and ridges, and the anchors, the dents, and the ridges are dispersedly formed. The adjacent anchor-shaped portions are connected by the ridge line, and the recessed portion is surrounded by the anchor-shaped portion and the ridge line, and the solder resist layer is provided on the roughened surface. And a printed wiring board.

【0013】さらに、本発明は、はんだパッド用導体回
路と前記はんだパッド用導体回路上のソルダーレジスト
層とを備えており、はんだ体を設けるための開口部が前
記ソルダーレジスト層に形成されているプリント配線板
において、前記はんだパッド用導体回路が、第二銅錯体
と有機酸とを含有するエッチング液によって処理された
粗化面を有しており、前記粗化面が、チタン、亜鉛、
鉄、インジウム、タリウム、コバルト、ニッケル、ス
ズ、鉛、ビスマス及び貴金属からなる群より選ばれる少
なくとも1種の金属の金属層によって被覆されており、
前記ソルダーレジスト層が前記粗化面上に設けられてい
る、プリント配線板とその製造方法に係るものである。
Further, the present invention comprises a solder pad conductor circuit and a solder resist layer on the solder pad conductor circuit, and an opening for providing a solder body is formed in the solder resist layer. In the printed wiring board, the solder pad conductor circuit has a roughened surface that is treated with an etchant containing a cupric complex and an organic acid, and the roughened surface includes titanium, zinc,
Iron, indium, thallium, cobalt, nickel, tin, lead, bismuth and coated with a metal layer of at least one metal selected from the group consisting of noble metals,
The present invention relates to a printed wiring board in which the solder resist layer is provided on the roughened surface and a method for manufacturing the same.

【0014】また、本発明は、はんだパッド用導体回路
と前記はんだパッド用導体回路上のソルダーレジスト層
とを備えており、はんだ体を設けるための開口部が前記
ソルダーレジスト層に形成されているプリント配線板に
おいて、前記はんだパッド用導体回路が粗化面を有して
おり、前記粗化面が複数の錨状部と窪み部と稜線とを有
し、前記錨状部と前記窪み部と前記稜線とが分散形成さ
れてなり、隣り合う前記錨状部が前記稜線によって繋が
ってなるとともに、前記窪み部が、前記錨状部と前記稜
線とによって囲まれてなり、前記粗化面が、チタン、亜
鉛、鉄、インジウム、タリウム、コバルト、ニッケル、
スズ、鉛、ビスマス及び貴金属からなる群より選ばれる
少なくとも1種の金属の金属層によって被覆されてお
り、前記ソルダーレジスト層が前記粗化面上に設けられ
ている、プリント配線板に係るものである。
Further, the present invention comprises a solder pad conductor circuit and a solder resist layer on the solder pad conductor circuit, and an opening for providing a solder body is formed in the solder resist layer. In the printed wiring board, the solder pad conductive circuit has a roughened surface, the roughened surface has a plurality of anchor-shaped portions, dents, and ridges, and the anchor-shaped portion and the dents The ridgeline is formed in a dispersed manner, and the adjacent anchor-shaped portions are connected by the ridgeline, and the dent portion is surrounded by the anchor-shaped portion and the ridgeline, and the roughened surface is Titanium, zinc, iron, indium, thallium, cobalt, nickel,
According to a printed wiring board, which is covered with a metal layer of at least one metal selected from the group consisting of tin, lead, bismuth and a noble metal, and wherein the solder resist layer is provided on the roughened surface. is there.

【0015】本発明者は、多層プリント配線板の表層と
ソルダーレジスト層との密着を改善するために、導体回
路表面の粗化方法を種々検討した。特に、本発明者は、
50μm以下の微細配線で形成された導体回路とソルダ
ーレジスト層との密着性及びはんだバンプの強度を高め
たいという要望に対して、黒化−還元処理、硫酸−過酸
化水素によるエッチング及び銅−ニッケル−リン針状合
金めっき等の処理方法を検討した。
The present inventors have studied various methods for roughening the surface of a conductive circuit in order to improve the adhesion between the surface layer of a multilayer printed wiring board and a solder resist layer. In particular, the inventor
In response to a demand to increase the adhesion between a conductor circuit formed by fine wiring of 50 μm or less and a solder resist layer and the strength of a solder bump, blackening-reduction treatment, etching with sulfuric acid-hydrogen peroxide, and copper-nickel -A treatment method such as phosphor needle alloy plating was studied.

【0016】ところが、黒化−還元処理等は、微細配線
の粗化処理として不適切なことが判明した。黒化−還元
処理や硫酸−過酸化水素のエッチング処理では、50μ
m以下の微細配線を用い、配線密度を疎にした場合、粗
化面に形成される凸部によって、導体回路とソルダーレ
ジスト層との接地面積が小さくなり、ソルダーレジスト
層の密着力が向上できないことを知見した。特に、ヒー
トサイクル条件下において、配線密度が疎の部分で、剥
がれることがわかった。それに、はんだパッド内の金属
も剥離したり、クラックが起きたりして、はんだバンプ
の脱落を誘発したりした。
However, it has been found that a blackening-reducing treatment or the like is not suitable as a roughening treatment for fine wiring. In the case of blackening-reducing treatment or etching treatment of sulfuric acid-hydrogen peroxide, 50 μm
When the wiring density is reduced by using fine wiring of not more than m, the ground area between the conductor circuit and the solder resist layer is reduced due to the convex portion formed on the roughened surface, and the adhesion of the solder resist layer cannot be improved. I found that. In particular, it was found that the film was peeled off at a portion where the wiring density was low under the heat cycle condition. In addition, the metal in the solder pad was peeled off or cracked, causing the solder bump to fall off.

【0017】また、銅−ニッケル−リン針状合金めっき
による粗化層形成は、導体回路とソルダーレジストとの
密着性に優れており、50μm以下の微細配線、特に、
かかる配線からなる疎の部分でも、十分な密着力を示す
ことがわかった。しかし、かかる粗化層は、めっきで形
成するため、微細配線の密度が高くなると、析出した針
状合金が層間絶縁層上で伸び、導体回路同士を接続して
しまい、ショートを引き起こすことがわかった。
The formation of a roughened layer by copper-nickel-phosphorus needle-like alloy plating is excellent in adhesion between a conductor circuit and a solder resist, and fine wiring of 50 μm or less, particularly,
It has been found that even a sparse portion made of such wiring shows a sufficient adhesion. However, since such a roughened layer is formed by plating, when the density of fine wiring is increased, it is found that the precipitated needle-shaped alloy extends on the interlayer insulating layer and connects the conductor circuits to each other, causing a short circuit. Was.

【0018】銅−ニッケル−リン針状合金による粗化層
形成では、針状合金の伸びによる析出異常を防止するた
めに、めっき液の厳重な管理、制御が必要となる。ま
た、樹脂から形成されたソルダーレジスト層は、はんだ
バンプ形成部において、露光や現像を経て、除去され
る。
In the formation of a roughened layer using a copper-nickel-phosphorus needle-like alloy, it is necessary to strictly control and control the plating solution in order to prevent abnormal precipitation due to elongation of the needle-like alloy. In addition, the solder resist layer formed from the resin is removed through exposure and development in the solder bump forming portion.

【0019】この時、銅−ニッケル−リン針状合金によ
る粗化層では、針状突起同士が密集しているため、突起
と突起の間が狭く、開口部形成の際、現像液や樹脂残り
を除去する酸化剤溶液が流れず、樹脂が突起間に残存し
て、開口部底部にソルダーレジスト樹脂の有機物残さを
残すことがある。この残さは、開口部の導体回路とバン
プ下金属との間に、導通不良を引き起こすことがある。
それに、この残さは、はんだパッド内の貴金属層の未形
成、形成不具合を起こし、はんだパッドと導体回路間の
強度が低下したりすることがあった。
At this time, in the roughened layer made of the copper-nickel-phosphorus needle-like alloy, since the needle-like protrusions are densely formed, the space between the protrusions is narrow. In some cases, the oxidant solution for removing the resin does not flow, and the resin remains between the protrusions, leaving an organic residue of the solder resist resin at the bottom of the opening. This residue may cause poor conduction between the conductor circuit in the opening and the metal under the bump.
In addition, the residue may cause the formation of a noble metal layer in the solder pad to be unformed or defective, and the strength between the solder pad and the conductor circuit may be reduced.

【0020】このような知見の下、本発明者は、他の粗
化処理について鋭意研究した。その結果、第二銅錯体と
有機酸とを含有するエッチング液を用いて、導体回路の
表面を処理することで形成した粗化面が、ソルダーレジ
スト樹脂との密着性や、バンプ下金属との密着性に優れ
ており、はんだバンプを形成するのに極めて適している
ことを突き止め、本発明を完成するに至った。
Under such knowledge, the present inventor has intensively studied other roughening treatments. As a result, the roughened surface formed by treating the surface of the conductor circuit with an etching solution containing a cupric complex and an organic acid may have an adhesive property with a solder resist resin or a metal with an under bump. They have found that they have excellent adhesion and are extremely suitable for forming solder bumps, and have completed the present invention.

【0021】本発明のプリント配線板は、かかるエッチ
ング液によって形成されるような、所定の粗面形状の粗
化面を導体回路上に有しており、かかる粗化面を介し
て、ソルダーレジスト層が設けられている。かかる粗化
面は、50μm以下の微細配線からなる配線密度が高い
導体回路上にも、銅−ニッケル−リン針状合金めっきの
ような導通不良を引き起こすことなく形成することがで
きる。
[0021] The printed wiring board of the present invention has a roughened surface having a predetermined rough surface shape on a conductive circuit, such as formed by the etching solution, and a solder resist is formed through the roughened surface. A layer is provided. Such a roughened surface can be formed even on a conductive circuit formed of fine wiring having a size of 50 μm or less and having a high wiring density without causing conduction failure such as copper-nickel-phosphorus needle-like alloy plating.

【0022】また、かかる粗化面は、ソルダーレジスト
層との密着性に優れ、はんだバンプ形成部でソルダーレ
ジスト層が除去されて、導体回路とソルダーレジスト層
との接触面積が少なくなった場合や、微細配線からなる
配線密度が疎の状態のプリント配線板でも、導体回路と
ソルダーレジスト層との十分な密着性を確保することが
できる。
Further, such a roughened surface has excellent adhesion to the solder resist layer, and when the solder resist layer is removed at the solder bump forming portion, the contact area between the conductor circuit and the solder resist layer is reduced. Even with a printed wiring board made of fine wiring and having a low wiring density, sufficient adhesion between the conductor circuit and the solder resist layer can be ensured.

【0023】さらに、かかる粗化面は、ソルダーレジス
ト層が除去されて、はんだバンプ形成用の開口部が設け
られる際、粗化面上に樹脂残さが少なく、バンプ下金属
との密着性に優れ、はんだバンプ形成部に導通不良を引
き起こさない。
Further, when the solder resist layer is removed to provide an opening for forming a solder bump, the roughened surface has little resin residue on the roughened surface and has excellent adhesion to the metal under the bump. In addition, conduction failure does not occur in the solder bump forming portion.

【0024】一方、本発明者は、はんだバンプの強度を
高めるため、かかるはんだパッド用導体回路の粗化面を
更に詳細に検討した。
On the other hand, the present inventor has studied in more detail the roughened surface of the conductor circuit for a solder pad in order to increase the strength of the solder bump.

【0025】その結果、本発明者は、かかる粗化面が、
酸化や腐食等によって著しく劣化することを見出した。
本発明者の研究によれば、かかる粗化面の劣化が起こる
と、表面の凹凸部の強度が著しく低下し、酸やアルカリ
等の溶剤によって凹凸部が溶解してしまうことが分かっ
た。かかる粗化面の劣化は、ソルダーレジスト層と粗化
面との間や、粗化面とバンプ下金属との間の密着強度を
著しく弱め、剥離させた。
As a result, the present inventor has found that such a roughened surface is
It has been found that it is significantly deteriorated due to oxidation, corrosion and the like.
According to the study of the present inventors, it has been found that when such a roughened surface is deteriorated, the strength of the uneven portion on the surface is significantly reduced, and the uneven portion is dissolved by a solvent such as an acid or an alkali. Such deterioration of the roughened surface markedly weakened the adhesion strength between the solder resist layer and the roughened surface and between the roughened surface and the metal under the bump, and was peeled off.

【0026】かかる知見の下、本発明者は、ソルダーレ
ジスト層と粗化面との間や、粗化面とバンプ下金属との
間の密着強度を高め、剥離を防止するため、かかる粗化
面の処理について鋭意研究した。
Based on this finding, the present inventor attempted to increase the adhesion strength between the solder resist layer and the roughened surface or between the roughened surface and the metal under the bump to prevent peeling, and to prevent the peeling. The research on the surface processing was studied diligently.

【0027】その結果、本発明者は、かかる粗化面に、
チタン、亜鉛、鉄、インジウム、タリウム、コバルト、
ニッケル、スズ、鉛、ビスマス及び貴金属からなる群よ
り選ばれる少なくとも1種の金属の金属層を被覆し、そ
の粗化面上にソルダーレジスト層を設けることによって
製造されるプリント配線板が、はんだバンプの強度を著
しく高めることを突き止め、本発明を完成させるに至っ
た。
As a result, the present inventor has proposed that such a roughened surface
Titanium, zinc, iron, indium, thallium, cobalt,
A printed wiring board manufactured by coating a metal layer of at least one metal selected from the group consisting of nickel, tin, lead, bismuth and a noble metal, and providing a solder resist layer on the roughened surface, The inventors have found that the strength of the present invention is significantly increased, and have completed the present invention.

【0028】本発明では、かかる金属層は、粗化面の酸
化、腐食等を防止し、粗化面の表面劣化を防止する。ま
た、本発明では、かかる金属層は、粗化面の凹凸部を酸
やアルカリ等の溶剤から守り、粗化面をかかる溶剤に浸
漬した際にも、粗化面の凹凸部が溶解されてしまうのを
防ぐ。
In the present invention, such a metal layer prevents oxidation, corrosion, and the like of the roughened surface, and prevents surface deterioration of the roughened surface. Further, in the present invention, such a metal layer protects the uneven portion of the roughened surface from a solvent such as an acid or an alkali, and when the roughened surface is immersed in such a solvent, the uneven portion of the roughened surface is dissolved. Prevent it from getting lost.

【0029】本発明によれば、かかる金属層が粗化面の
強度低下を防止し、かかる金属層によって被覆された粗
化面は、形状や強度が保持されるため、粗化面とソルダ
ーレジスト層の剥離や、はんだパッド内の金属層の未形
成及び形成不良をなくすことができる。
According to the present invention, the metal layer prevents the strength of the roughened surface from decreasing, and the roughened surface covered with the metal layer retains its shape and strength. It is possible to eliminate the delamination of the layer and the unformed and defective formation of the metal layer in the solder pad.

【0030】かかる金属層を被覆した粗化面は、金属層
を被覆していない粗化面上にソルダーレジスト層及びは
んだバンプを施したものより、粗化面の表面劣化がな
く、粗化面の形状が均一になり、酸化や薬品による粗化
面の溶解を防止することができる。
The roughened surface coated with such a metal layer has less surface deterioration of the roughened surface than the roughened surface not coated with the metal layer and having a solder resist layer and a solder bump, and thus has a roughened surface. Can be made uniform, and the dissolution of the roughened surface due to oxidation or chemicals can be prevented.

【0031】かかる粗化面を有するプリント配線板を用
いれば、はんだパッド用導体回路とはんだバンプとの密
着強度が著しく向上する。例えば、はんだバンプは、ボ
ールシェアー強度で少なくとも10%は向上する。ま
た、信頼性試験を行ってもソルダーレジスト層の剥離や
金属層の剥離、クラックがなく、はんだバンプの脱落も
発生しない。
If a printed wiring board having such a roughened surface is used, the adhesion strength between the solder pad conductor circuit and the solder bump is significantly improved. For example, solder bumps improve ball shear strength by at least 10%. Further, even when a reliability test is performed, there is no peeling of the solder resist layer, no peeling of the metal layer, no crack, and no dropping of the solder bump occurs.

【0032】本発明のプリント配線板は、はんだパッド
用導体回路の粗化面が金属層で被覆されることによっ
て、ソルダーレジスト層との密着性やバンプ下金属との
密着性に優れた形状及び強度が保持されているので、は
んだバンプの強度が著しく高まり、はんだバンプの脱落
を防止することができる。
In the printed wiring board of the present invention, the roughened surface of the conductor circuit for a solder pad is covered with a metal layer, so that the printed wiring board has a shape and excellent adhesion to the solder resist layer and to the metal under the bump. Since the strength is maintained, the strength of the solder bump is significantly increased, and the solder bump can be prevented from falling off.

【0033】[0033]

【発明の実施の形態】図面を参照して、本発明を詳細に
説明する。本発明にかかるエッチング液によりはんだパ
ッド用導体回路を処理すると、その表面は、針状合金め
っきとは異なり、図1〜8に示すような錨状部を有する
粗化面となる。図1は、本発明にかかる一例の粗化面の
図面代用写真である。この写真は、電子顕微鏡下におい
て、粗化面を斜めから撮影したものである。図2は、本
発明にかかる他の例の粗化面の図面代用写真である。こ
の写真も、図1の写真と同様に撮影したものであるが、
倍率を高めたものである。図3は、本発明にかかる更に
他の例の粗化面の図面代用写真である。この写真は、図
2と同様の倍率で、粗化面を電子顕微鏡下に真上から撮
影したものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be described in detail with reference to the drawings. When the conductor circuit for a solder pad is treated with the etching solution according to the present invention, the surface thereof becomes a roughened surface having an anchor-shaped portion as shown in FIGS. FIG. 1 is a drawing substitute photograph of a roughened surface according to an example of the present invention. In this photograph, the roughened surface is photographed obliquely under an electron microscope. FIG. 2 is a drawing substitute photograph of a roughened surface of another example according to the present invention. This photograph was taken in the same manner as the photograph of FIG.
The magnification is increased. FIG. 3 is a drawing substitute photograph of a roughened surface of still another example according to the present invention. This photograph was taken at the same magnification as in FIG. 2 and the roughened surface was photographed from directly above under an electron microscope.

【0034】本発明のプリント配線板では、この電子顕
微鏡写真が示すようなはんだパッド用導体回路の粗化面
を介して、かかる導体回路上にソルダーレジスト層が設
けられている。
In the printed wiring board of the present invention, a solder resist layer is provided on the conductor circuit for the solder pad via the roughened surface of the conductor circuit for the solder pad as shown in the electron micrograph.

【0035】図4〜8は、かかる粗化面の摸式図であ
る。図4は、平面図、図5は、図4のA−A線で切断し
た縦断面図、図6は、錨状部と窪み部との間で切断した
縦断面図、図7は、錨状部の間の稜線を示す縦断面図、
図8は、稜線と窪み部との間で切断した縦断面図であ
る。
4 to 8 are schematic diagrams of such a roughened surface. 4 is a plan view, FIG. 5 is a vertical cross-sectional view taken along line AA of FIG. 4, FIG. 6 is a vertical cross-sectional view cut between an anchor-shaped portion and a concave portion, and FIG. Longitudinal sectional view showing a ridge line between the shaped parts,
FIG. 8 is a longitudinal sectional view cut between a ridge line and a depression.

【0036】図4及び5に示すように、本発明にかかる
粗化面は、複数の錨状部1と複数の窪み部2と複数の稜
線3とを有しており、錨状部1と窪み部2と稜線3とが
分散している。錨状部1とその隣りの錨状部1との間に
は、図6に示すような窪み部2が形成されている。ま
た、錨状部1とその隣りの錨状部1とは、図7に示すよ
うに、稜線3によって互いに繋がっている。窪み部2
は、図6と図8に示すように、錨状部1と稜線3とによ
って囲まれている。
As shown in FIGS. 4 and 5, the roughened surface according to the present invention has a plurality of anchors 1, a plurality of depressions 2, and a plurality of ridges 3. The depression 2 and the ridge 3 are dispersed. A recess 2 is formed between the anchor 1 and the adjacent anchor 1 as shown in FIG. In addition, the anchor-shaped portion 1 and the adjacent anchor-shaped portion 1 are connected to each other by a ridge line 3 as shown in FIG. Recess 2
Is surrounded by the anchor 1 and the ridge 3 as shown in FIGS.

【0037】比較のため、図32に、めっきにより形成
された、従来の針状合金からなる粗化層の図面代用写真
を示す。この電子顕微鏡写真に示す粗化層では、針状合
金同士が重なり、針状合金間に空間が形成されている。
かかるCu−Ni−Pからなる針状合金構造は、針状突
起同士が密集しているため、突起と突起の間が狭く、現
像液や樹脂残りを除去する酸化剤溶液が流れず、また、
樹脂が突起間に残存して樹脂残りの原因となる。
For comparison, FIG. 32 is a drawing substitute photograph of a roughened layer made of a conventional needle-shaped alloy formed by plating. In the roughened layer shown in the electron micrograph, the acicular alloys overlap each other, and a space is formed between the acicular alloys.
In such a needle-shaped alloy structure made of Cu-Ni-P, since the needle-shaped protrusions are densely packed, the space between the protrusions is narrow, and the oxidizing agent solution for removing the developer or the resin residue does not flow,
Resin remains between the protrusions, causing resin to remain.

【0038】一方、本発明にかかる粗面形状は、最も高
い部分に錨状部を有し、この錨状部の周囲の最も低い部
分に窪み部が形成されており、錨状部とその隣りの錨状
部とは、これらの錨状部よりも低く、窪み部よりも高い
稜線によって繋がっており、複雑な凹凸形状を呈する。
かかる複雑な凹凸形状の粗化面は、錨状部がソルダーレ
ジスト層に食い込み、導体回路とソルダーレジスト層と
を強固に密着させ、はんだバンプ形成部において、特
に、微細配線からなる配線密度が疎の状態の場合でも、
導体回路とソルダーレジスト層との間に剥がれを起こさ
ない。また、かかる粗化面は、めっき液との親和性に優
れ、めっきが粗化面の窪み部に浸入して、粗化面の錨状
部につきまわるため、錨状部がバンプ下金属に食い込
み、導体回路とはんだバンプとの密着性を低下させな
い。
On the other hand, the rough surface shape according to the present invention has an anchor portion at the highest portion, and a depression portion is formed at the lowest portion around the anchor portion, and the anchor portion and the adjacent portion thereof are formed. Are connected to each other by a ridgeline lower than the anchor-shaped portions and higher than the recessed portions, and have a complicated uneven shape.
In such a roughened surface having a complicated uneven shape, the anchor-shaped portion bites into the solder resist layer, and the conductor circuit and the solder resist layer are firmly adhered to each other. Even in the state of
No peeling occurs between the conductor circuit and the solder resist layer. In addition, such a roughened surface has an excellent affinity with the plating solution, and the plating penetrates into the recessed portion of the roughened surface and wraps around the anchor-shaped portion of the roughened surface. In addition, the adhesiveness between the conductor circuit and the solder bump is not reduced.

【0039】また、かかる粗化面では、各錨状部は密集
していない。また、各錨状部を連結する稜線は、樹脂の
流れを妨げないような形状を有している。このため、か
かる粗化面では、窪み部間や錨状部間を、現像液や樹脂
残りを除去する酸化剤溶液が流れ易く、ソルダーレジス
ト樹脂が溜まり難い。このため、本発明にかかる粗化面
は、現像処理後の樹脂残りがなく、バンプ下金属との密
着性に優れている。
On the roughened surface, the anchor portions are not dense. The ridge connecting the anchor portions has a shape that does not obstruct the flow of the resin. For this reason, on the roughened surface, the developer or the oxidizing agent solution for removing the resin residue easily flows between the recessed portions and the anchor-shaped portions, and the solder resist resin does not easily accumulate. Therefore, the roughened surface according to the present invention has no resin residue after the development processing, and is excellent in adhesion to the metal under the bump.

【0040】このように、本発明にかかる粗化面は、導
体回路とソルダーレジスト層との密着性や、導体回路と
バンプ下金属との密着性を維持しつつ、現像処理後の樹
脂残りを防止するのに最適な形状を有する。
As described above, the roughened surface according to the present invention can maintain the adhesion between the conductor circuit and the solder resist layer and the adhesion between the conductor circuit and the metal under the bump while maintaining the resin residue after the development processing. Has the best shape to prevent.

【0041】本発明にかかる粗化面は、例えば第二銅錯
体と有機酸とを含有するエッチング液によって、導体回
路表面の金属結晶粒子を脱落させることで形成すること
ができる。かかる粗化面では、金属結晶粒子が大きく脱
落した部分で、窪み部(凹部)が形成される。かかる窪
み部は、金属結晶粒子に由来する略多面体形の物質が抉
り取られたような形状で形成することができる。本発明
では、略多面体形とは、三面体、四面体、五面体、六面
体等の多面体やこれらの多面体を二種以上組み合わせた
多面体の形状をいう。かかる窪み部は、現像処理後の樹
脂残りを防止することができる。
The roughened surface according to the present invention can be formed, for example, by dropping metal crystal particles on the surface of a conductor circuit with an etching solution containing a cupric complex and an organic acid. On such a roughened surface, a depression (recess) is formed at a portion where the metal crystal particles have largely dropped. Such a depression can be formed in a shape as if a substantially polyhedral substance derived from the metal crystal particles is cut off. In the present invention, the substantially polyhedral shape refers to a polyhedron such as a trihedron, a tetrahedron, a pentahedron, a hexahedron, or a polyhedron obtained by combining two or more of these polyhedrons. Such depressions can prevent resin residue after the development processing.

【0042】また、かかる粗化面の錨状部は、この錨状
部の周囲の金属結晶粒子を脱落させることで形成するこ
とができる。このようにして形成した錨状部は、角張っ
た凸部から構成され、窪み部に囲まれており、互いに重
なり合うことがない。かかる複雑な凹凸形状を有する粗
化面は、ソルダーレジスト樹脂やバンプ下金属との密着
性を維持しつつ、現像処理後の樹脂残りを防止すること
ができる。
Further, the anchor portion of the roughened surface can be formed by dropping metal crystal particles around the anchor portion. The anchor-shaped portion formed in this manner is constituted by a square convex portion, is surrounded by the concave portion, and does not overlap with each other. The roughened surface having such a complicated uneven shape can prevent the resin residue after the development processing while maintaining the adhesion to the solder resist resin and the metal under the bump.

【0043】更に、かかる粗化面には、隣り合う金属結
晶粒子の脱落によって稜線を形成することができる。こ
の稜線は、錨状部とその隣りの錨状部とを、錨状部の高
さよりも低い位置で連結する。この稜線は、3つ以上の
隣り合う金属結晶粒子を脱落させることで、枝分かれし
た状態で形成される。また、この稜線は、隣り合う金属
結晶粒子が略多面体形状となって脱落することで、尖っ
た状態で形成することができる。かかる稜線は、錨状部
を各々分散させ、錨状部が窪み部と稜線とによって囲ま
れるようにして形成することができる。かかる粗化面
は、より一層複雑な凹凸形状を有し、樹脂やバンプ下金
属との接触面を拡げ、より密着性を向上させることがで
きると同時に、樹脂残りを防止することができる。
Further, a ridge line can be formed on the roughened surface by dropping of adjacent metal crystal particles. This ridge connects the anchor-shaped part and the adjacent anchor-shaped part at a position lower than the height of the anchor-shaped part. The ridge is formed in a branched state by dropping three or more adjacent metal crystal particles. In addition, the ridge line can be formed in a sharp state by the neighboring metal crystal particles falling in a substantially polyhedral shape and falling off. Such ridges can be formed such that the anchors are dispersed and the anchors are surrounded by the depressions and the ridges. Such a roughened surface has a more complicated uneven shape, and can enlarge the contact surface with the resin and the metal under the bump, thereby improving the adhesion and preventing the resin from remaining.

【0044】かかる粗化面は、0.5〜10μmの最大
粗度(Rmax)を有するのが好ましい。0.5μm未
満では、ソルダーレジスト層との密着性やバンプ下金属
との密着性が著しく低下し、10μmを超えると、現像
処理後に樹脂残りが発生し、断線等の問題が発生し易く
なる。
The roughened surface preferably has a maximum roughness (Rmax) of 0.5 to 10 μm. If it is less than 0.5 μm, the adhesion to the solder resist layer and the adhesion to the metal under the bump will be significantly reduced, and if it exceeds 10 μm, resin residue will occur after the development process, and problems such as disconnection will easily occur.

【0045】また、かかる粗化面は、25μm2 当り、
平均2〜100個の錨状部と、平均2〜100個の窪み
部とを有しているのが好ましい。25μm2 当り、平均
2〜100個の錨状部は、粗化面とソルダーレジスト層
との密着性や、粗化面とバンプ下金属との密着性を維持
しつつ、現像処理後の樹脂残りを防止でき、25μm 2
当り、平均2〜100個の窪み部は、錨状部の密集を防
止して、現像処理後の樹脂残りの発生を抑止し、かつ、
粗化面とソルダーレジスト層との密着性や、粗化面とバ
ンプ下金属との密着性を維持できる。
The roughened surface is 25 μmTwoHit
An average of 2 to 100 anchors and an average of 2 to 100 depressions
It is preferable to have a part. 25 μmTwoHit, average
2 to 100 anchors are roughened surface and solder resist layer
Adhesion between the roughened surface and the metal under the bump
While preventing resin residue after the development process. Two
The average of 2 to 100 depressions per contact prevents dense anchor-shaped parts
To suppress the occurrence of resin residue after the development process, and
Adhesion between the roughened surface and the solder resist layer,
Adhesion with the metal under the pump can be maintained.

【0046】本発明にかかる稜線は、25μm2 当り、
平均3〜3000本形成されるのが望ましい。この範囲
の数の稜線は、粗化面の形状を複雑にし、ソルダーレジ
スト層やバンプ下金属との接触面を拡げ、これらソルダ
ーレジスト層等との密着性を向上させることができると
同時に、樹脂残りを除去し易いからである。
[0046] ridge according to the present invention, 25μm 2 per,
It is desirable to form an average of 3 to 3000 lines. The number of ridges in this range complicates the shape of the roughened surface, expands the contact surface with the solder resist layer and the metal under the bump, and can improve the adhesiveness with the solder resist layer, etc. This is because the remainder is easily removed.

【0047】なお、錨状部、窪み部及び稜線の数は、図
2及び3に示すような5000倍の電子顕微鏡写真を用
い、粗化面をその真上及び斜め上方45°から撮影し、
25μm2 の領域を任意に選んで測定し、その平均値を
採用した。
The number of anchors, dents, and ridges was determined using a 5000 × electron microscope photograph as shown in FIGS.
A region of 25 μm 2 was arbitrarily selected and measured, and the average value was adopted.

【0048】本発明では、かかる粗化面上に、金属層を
被覆することができる。図9〜12は、本発明にかかる
他の例の粗化面の断面図である。図9〜12では、図4
〜8に示すような粗化面が、それぞれ、金属層51で被
覆されている。
In the present invention, a metal layer can be coated on such a roughened surface. 9 to 12 are cross-sectional views of another example of a roughened surface according to the present invention. 9 to 12, FIG.
The roughened surfaces as indicated by Nos. To 8 are each covered with a metal layer 51.

【0049】図9〜12に示すような金属層51は、酸
化や腐食し難い金属や、この金属自身が酸化や腐食して
もソルダーレジスト樹脂との密着性やバンプ下金属との
密着性を損なわない金属からなる。
The metal layer 51 as shown in FIGS. 9 to 12 is made of a metal which is hardly oxidized or corroded, or has a good adhesion with a solder resist resin or a metal under a bump even if the metal itself is oxidized or corroded. It is made of metal that does not impair.

【0050】また、かかる金属層は、粗化面上における
酸化膜や腐食膜の形成を防止し、粗化面の形状を保持し
た状態で被覆されており、ソルダーレジスト樹脂やバン
プ下金属と粗化面との密着性を損なわない。
The metal layer is coated while maintaining the shape of the roughened surface while preventing the formation of an oxide film or a corrosive film on the roughened surface. Does not impair the adhesion to the surface.

【0051】かかる金属層は、酸化膜や腐食の剥がれに
起因する、粗化面とソルダーレジスト層との間の密着強
度の低下や、粗化面とバンプ下金属との間の密着強度の
低下を防止することができる。
Such a metal layer causes a decrease in the adhesion strength between the roughened surface and the solder resist layer and a decrease in the adhesion strength between the roughened surface and the metal under the bump due to peeling of the oxide film or corrosion. Can be prevented.

【0052】また、かかる金属層は、粗化面を構成する
金属の硬度も高くすることができるため、粗化面におけ
る金属破壊が起きず、粗化面とソルダーレジスト層、粗
化面とバンプ下金属との間の剥離がより一層防止され
る。
The metal layer can also increase the hardness of the metal constituting the roughened surface, so that the metal is not destroyed on the roughened surface, and the roughened surface and the solder resist layer, and the roughened surface and the bump Separation from the lower metal is further prevented.

【0053】本発明のプリント配線板は、粗化面がかか
る金属層を有し、粗化面上に酸化層や腐食層が形成され
難く、酸化層や腐食層が形成されても、ソルダーレジス
ト樹脂やバンプ下金属との密着性が保たれ、加熱によっ
ても、粗化面とソルダーレジスト層との間や粗化面とバ
ンプ下金属との間が剥離することはない。
The printed wiring board of the present invention has a metal layer having a roughened surface, an oxide layer or a corroded layer is hardly formed on the roughened surface. Adhesion between the resin and the metal under the bump is maintained, and even when heated, there is no separation between the roughened surface and the solder resist layer or between the roughened surface and the metal under the bump.

【0054】かかる金属層は、チタン、亜鉛、鉄、イン
ジウム、タリウム、コバルト、ニッケル、スズ、鉛、ビ
スマス及び貴金属からなる群より選ばれた少なくとも1
種の金属からなる。
The metal layer comprises at least one selected from the group consisting of titanium, zinc, iron, indium, thallium, cobalt, nickel, tin, lead, bismuth and a noble metal.
It consists of a kind of metal.

【0055】かかる金属は、比較的酸化や腐食し難く、
あるいはかかる金属自身が酸化や腐食しても、ソルダー
レジスト樹脂やバンプ下金属との間の密着性を低下させ
ない。
Such metals are relatively hard to oxidize and corrode,
Alternatively, even if the metal itself is oxidized or corroded, the adhesion between the solder resist resin and the metal under the bump is not reduced.

【0056】また、かかる金属は、イオン化傾向が銅よ
り大きくかつチタン以下である金属又は貴金属であり、
これらの金属又は貴金属の層で、粗化面を被覆すれば、
ソルダーレジスト層を粗化する際の局部電極反応による
導体回路の溶解を防止することができる。
Further, such a metal is a metal or a noble metal having an ionization tendency greater than copper and equal to or less than titanium,
If you cover the roughened surface with a layer of these metals or precious metals,
Dissolution of the conductor circuit due to a local electrode reaction when roughening the solder resist layer can be prevented.

【0057】比較的酸化又は腐食し難い金属としては、
ニッケル、スズ、コバルト、貴金属等の非酸化性金属等
が挙げられる。貴金属としては、金、銀、白金、パラジ
ウムから選ばれる少なくとも1種が望ましい。
Metals which are relatively hard to oxidize or corrode include
Non-oxidizing metals such as nickel, tin, cobalt, and noble metals are exemplified. As the noble metal, at least one selected from gold, silver, platinum, and palladium is desirable.

【0058】金属自身が酸化又は腐食しても、この金属
層とソルダーレジスト樹脂との密着性を低下させないよ
うな金属としては、チタン、亜鉛、鉄、インジウム、タ
リウム、鉛、ビスマス等の金属を挙げることができる。
Metals such as titanium, zinc, iron, indium, thallium, lead, bismuth and the like which do not decrease the adhesion between the metal layer and the solder resist resin even if the metal itself oxidizes or corrodes. Can be mentioned.

【0059】このように、本発明では、粗化面上に、チ
タン、亜鉛、鉄、インジウム、タリウム、コバルト、ニ
ッケル、スズ、鉛、ビスマス及び貴金属からなる群より
選ばれる少なくとも1種の金属の金属層を被覆すること
によって、現像処理後の樹脂残りを防止するのに最適な
形状を有しつつ、はんだバンプ用導体回路とソルダーレ
ジスト層との密着性や、はんだバンプ用導体回路とバン
プ下金属との密着性、はんだバンプの強度を向上させる
ことができる。
As described above, according to the present invention, on the roughened surface, at least one metal selected from the group consisting of titanium, zinc, iron, indium, thallium, cobalt, nickel, tin, lead, bismuth and noble metals is used. By coating the metal layer, it has the optimal shape to prevent resin residue after development processing, while maintaining the adhesion between the solder bump conductor circuit and the solder resist layer, and the solder bump conductor circuit and the under bump. Adhesion with metal and strength of solder bumps can be improved.

【0060】粗化面上に金属層を被覆するには、めっき
(電解めっき、無電解めっき、置換めっきのいずれかの
中選ばれる方法)、蒸着、電着、スパッタ等の方法を用
いることができる。
In order to coat the metal layer on the roughened surface, a method such as plating (a method selected from electrolytic plating, electroless plating and displacement plating), vapor deposition, electrodeposition, and sputtering may be used. it can.

【0061】かかる金属層の厚みは、0.01〜1μm
がよい。特に、0.03〜0.5μmの厚みがよい。か
かる厚みの金属層は、粗化面の凹凸の形状を維持しなが
ら、銅導体の酸化や腐食を防止できるからである。0.
01μm未満の厚みでは、かかる粗化面を完全に被覆す
ることができないし、1μmを超えると、粗化面間に被
覆する金属が入り込み、粗化面の凹凸を相殺することが
あり、粗化面とソルダーレジスト層との密着性や、粗化
面とバンプ下金属との密着性を低下させることがある。
The thickness of the metal layer is 0.01 to 1 μm
Is good. In particular, a thickness of 0.03 to 0.5 μm is preferable. This is because the metal layer having such a thickness can prevent oxidation and corrosion of the copper conductor while maintaining the shape of the irregularities on the roughened surface. 0.
When the thickness is less than 01 μm, the roughened surface cannot be completely covered. When the thickness is more than 1 μm, the metal to be coated enters between the roughened surfaces, and the roughness of the roughened surface may be offset. The adhesiveness between the surface and the solder resist layer and the adhesiveness between the roughened surface and the metal under the bump may be reduced.

【0062】本発明にかかる粗化面の形成方法について
説明する。かかる粗化面は、はんだパッドとなる導体回
路を、第二銅錯体と有機酸とを含有するエッチング液で
処理することによって、形成することができる。かかる
エッチング液は、スプレイやバブリング等の酸素共存条
件下で、銅導体回路を溶解させることができる。反応
は、次のように進行すると推定される。
A method for forming a roughened surface according to the present invention will be described. Such a roughened surface can be formed by treating a conductor circuit serving as a solder pad with an etchant containing a cupric complex and an organic acid. Such an etchant can dissolve the copper conductor circuit under oxygen-existing conditions such as spraying and bubbling. The reaction is presumed to proceed as follows.

【0063】[0063]

【化1】 〔式中、Aは錯化剤(キレート剤として作用)、nは配
位数を示す。〕
Embedded image [In the formula, A represents a complexing agent (acting as a chelating agent), and n represents a coordination number. ]

【0064】〔化1〕に示すように、発生した第一銅錯
体は、酸の作用で溶解し、酸素と結合して第二銅錯体と
なって、再び銅の酸化に寄与する。
As shown in the chemical formula 1, the generated cuprous complex dissolves under the action of an acid and combines with oxygen to form a cupric complex, which again contributes to copper oxidation.

【0065】本発明で用いる第二銅錯体は、アゾール類
の第二銅錯体がよい。この種の第二銅錯体は、金属銅等
を酸化する酸化剤として作用する。アゾール類として
は、ジアゾール、トリアゾール、テトラゾールがよい。
中でも、イミダゾール、2−メチルイミダゾール、2−
エチルイミダゾール、2−エチル−4−メチルイミダゾ
ール、2−フェニルイミダゾール、2−ウンデシルイミ
ダゾール等がよい。アゾール類の第二銅錯体の添加量
は、1〜15重量%がよい。溶解性及び安定性に優れるか
らである。
The cupric complex used in the present invention is preferably an azole cupric complex. This type of cupric complex acts as an oxidizing agent for oxidizing metallic copper and the like. As the azoles, diazole, triazole and tetrazole are preferable.
Among them, imidazole, 2-methylimidazole, 2-
Ethylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 2-phenylimidazole, 2-undecylimidazole and the like are preferred. The addition amount of the cupric complex of azoles is preferably 1 to 15% by weight. This is because they are excellent in solubility and stability.

【0066】有機酸は、酸化銅を溶解させるために、第
二銅錯体と配合する。アゾール類の第二銅錯体を用いる
場合には、有機酸は、ギ酸、酢酸、プロピオン酸、酪
酸、吉草酸、カプロン酸、アクリル酸、クロトン酸、シ
ュウ酸、マロン酸、コハク酸、グルタル酸、マレイン
酸、安息香酸、グリコール酸、乳酸、リンゴ酸、スルフ
ァミン酸からなる群より選ばれる少なくとも1種がよ
い。有機酸の含有量は、0.1〜30重量%がよい。酸化さ
れた銅の溶解性を維持し、かつ溶解安定性を確保するた
めである。
The organic acid is blended with the cupric complex to dissolve the copper oxide. When using a cupric complex of azoles, the organic acid is formic acid, acetic acid, propionic acid, butyric acid, valeric acid, caproic acid, acrylic acid, crotonic acid, oxalic acid, malonic acid, succinic acid, glutaric acid, At least one selected from the group consisting of maleic acid, benzoic acid, glycolic acid, lactic acid, malic acid, and sulfamic acid is preferred. The content of the organic acid is preferably 0.1 to 30% by weight. This is for maintaining the solubility of the oxidized copper and ensuring the solubility stability.

【0067】本発明にかかるエッチング液には、銅の溶
解やアゾール類の酸化作用を補助するために、フッ素イ
オン、塩素イオン、臭素イオン等のハロゲンイオンを加
えてもよい。かかるハロゲンイオンは、塩酸、塩化ナト
リウム等として供給することができる。ハロゲンイオン
の添加量は、0.01〜20重量%がよい。形成された粗化面
とソルダーレジスト層との密着性に優れるからである。
To the etching solution according to the present invention, halogen ions such as fluorine ions, chlorine ions and bromine ions may be added to assist in dissolving copper and oxidizing azoles. Such halogen ions can be supplied as hydrochloric acid, sodium chloride and the like. The addition amount of halogen ions is preferably 0.01 to 20% by weight. This is because the adhesiveness between the formed roughened surface and the solder resist layer is excellent.

【0068】本発明にかかるエッチング液は、アゾール
類の第二銅錯体と有機酸(必要に応じてハロゲンイオ
ン)とを、水に溶解して調製することができる。また、
市販のエッチング液、例えば、メック社製、商品名「メ
ック エッチボンド」を用いることができる。
The etching solution according to the present invention can be prepared by dissolving a cupric complex of azoles and an organic acid (optionally a halogen ion) in water. Also,
A commercially available etchant, for example, a trade name “Mech Etch Bond” manufactured by Mec Corporation can be used.

【0069】かかるエッチング液による平均エッチング
量は、0.1 〜10μmがよい。0.1 μm未満では、粗化面
とソルダーレジスト層との密着性が低下し、10μmを超
えると、樹脂残りが発生し易く、また、50μm以下の
微細配線では、断線等が起こり易くなる。
The average amount of etching with such an etching solution is preferably 0.1 to 10 μm. When the thickness is less than 0.1 μm, the adhesion between the roughened surface and the solder resist layer is reduced. When the thickness exceeds 10 μm, resin residue is apt to be generated.

【0070】本発明では、このようにして形成される粗
化面上に、金属層を被覆することができる。かかる金属
層は、チタン、亜鉛、鉄、インジウム、タリウム、コバ
ルト、ニッケル、スズ、鉛、ビスマス及び貴金属からな
る群より選ばれる少なくとも1種の金属からなる。かか
る金属層の被覆は、めっき、蒸着、電着、スパッタのい
ずれかの方法で行うことができる。形成される膜の均一
性という点では、めっきで行うのがよい。
In the present invention, a metal layer can be coated on the roughened surface thus formed. The metal layer is made of at least one metal selected from the group consisting of titanium, zinc, iron, indium, thallium, cobalt, nickel, tin, lead, bismuth, and noble metals. The coating of the metal layer can be performed by any of plating, vapor deposition, electrodeposition, and sputtering. In terms of the uniformity of the formed film, it is preferable to perform plating.

【0071】また、本発明では、かかる金属層が均一に
形成されるようにするために、粗化面を形成した後、そ
の粗化面を熱処理してから、金属層を形成させることが
できる。熱処理により、エッチング液及びその残留成分
が蒸発し、粗化面の表面状態が均一になるために、金属
層が形成し易くなる。
Further, in the present invention, in order to form such a metal layer uniformly, after forming a roughened surface, the roughened surface can be heat-treated before forming the metal layer. . The heat treatment evaporates the etching solution and its residual components, and the surface state of the roughened surface becomes uniform, so that the metal layer is easily formed.

【0072】熱処理の温度は、粗化面の形状や厚み、は
んだパッド用導体回路の金属成分や厚み等により、種々
の範囲に設定することができる。特に、50〜250℃
の範囲内がよい。50℃未満の場合は、熱処理の効果が
見られないし、250℃を超えると、粗化面が酸化さ
れ、形成された金属層が不均一になる。
The temperature of the heat treatment can be set in various ranges depending on the shape and thickness of the roughened surface, the metal component and the thickness of the conductor circuit for solder pads, and the like. In particular, 50-250 ° C
It is better within the range. When the temperature is lower than 50 ° C., the effect of the heat treatment is not observed. When the temperature is higher than 250 ° C., the roughened surface is oxidized, and the formed metal layer becomes non-uniform.

【0073】本発明では、このようにして形成される所
定形状の粗化面上に、ソルダーレジスト層を形成する。
かかるソルダーレジスト層の厚さは、5〜40μmがよ
い。薄過ぎると、ソルダーレジスト層がソルダーダムと
して機能せず、また、厚過ぎると、はんだバンプ用の開
口部を形成し難くなる上、はんだ体と接触して、はんだ
体にクラックが生じる原因となるからである。
In the present invention, a solder resist layer is formed on a roughened surface having a predetermined shape formed as described above.
The thickness of the solder resist layer is preferably 5 to 40 μm. If it is too thin, the solder resist layer will not function as a solder dam, and if it is too thick, it will be difficult to form openings for solder bumps, and it will come into contact with the solder body and cause cracks in the solder body It is.

【0074】ソルダーレジスト層は、種々の樹脂から形
成することができる。例えば、ビスフェノールA型エポ
キシ樹脂やそのアクリレートか、ノボラック型エポキシ
樹脂やそのアクリレートを、アミン系硬化剤やイミダゾ
ール硬化剤等で硬化させて形成することができる。
The solder resist layer can be formed from various resins. For example, it can be formed by curing a bisphenol A-type epoxy resin or its acrylate, or a novolak-type epoxy resin or its acrylate with an amine-based curing agent or an imidazole curing agent.

【0075】特に、ソルダーレジスト層に開口を設け
て、はんだバンプを形成する場合、ノボラック型エポキ
シ樹脂かそのアクリレートを、イミダゾール硬化剤で硬
化させるのが好ましい。かかる樹脂からなるソルダーレ
ジスト層は、鉛のマイグレーション(鉛イオンがソルダ
ーレジスト層内を拡散する現象)が少ないという利点を
持つ。
In particular, when an opening is provided in the solder resist layer to form a solder bump, it is preferable to cure a novolak epoxy resin or its acrylate with an imidazole curing agent. The solder resist layer made of such a resin has an advantage that migration of lead (a phenomenon in which lead ions diffuse in the solder resist layer) is small.

【0076】また、ノボラック型エポキシ樹脂のアクリ
レートをイミダゾール硬化剤で硬化させた樹脂の場合、
耐熱性、耐アルカリ性に優れ、はんだが溶融する温度
(200℃前後)でも劣化せず、ニッケルめっきや金めっ
きのような強塩基性のめっき液で分解しない。ノボラッ
ク型エポキシ樹脂のアクリレートとしては、フェノール
ノボラックやクレゾールノボラックのグリシジルエーテ
ルを、アクリル酸やメタクリル酸等と反応させたエポキ
シ樹脂等を挙げることができる。
In the case of a resin obtained by curing an acrylate of a novolak type epoxy resin with an imidazole curing agent,
It has excellent heat resistance and alkali resistance, does not deteriorate even at the temperature at which the solder melts (around 200 ° C), and does not decompose in strongly basic plating solutions such as nickel plating and gold plating. Examples of the acrylate of the novolak epoxy resin include an epoxy resin obtained by reacting glycidyl ether of phenol novolak or cresol novolak with acrylic acid, methacrylic acid, or the like.

【0077】しかし、ノボラック型エポキシ樹脂のアク
リレートから形成されるソルダーレジスト層は、剛直骨
格を持つ樹脂で構成されるので、導体回路との間で剥離
が生じ易い。本発明にかかる粗化面は、かかる剥離を防
止でき、有利である。
However, since the solder resist layer formed of the acrylate of the novolak type epoxy resin is formed of a resin having a rigid skeleton, the solder resist layer is easily peeled off from the conductor circuit. The roughened surface according to the present invention is advantageous because such peeling can be prevented.

【0078】イミダゾール硬化剤は、25℃で液状である
のが望ましい。液状であれば、均一混合し易いからであ
る。かかる硬化剤としては、1-ベンジル−2-メチルイミ
ダゾール(品名:1B2MZ )、1-シアノエチル−2-エチル
−4-メチルイミダゾール(品名:2E4MZ-CN)、4-メチル
−2-エチルイミダゾール(品名:2E4MZ )を挙げること
ができる。
The imidazole curing agent is desirably liquid at 25 ° C. This is because if it is liquid, it is easy to mix uniformly. Examples of such curing agents include 1-benzyl-2-methylimidazole (product name: 1B2MZ), 1-cyanoethyl-2-ethyl-4-methylimidazole (product name: 2E4MZ-CN), and 4-methyl-2-ethylimidazole (product name) : 2E4MZ).

【0079】かかる樹脂及び硬化剤は、グリコールエー
テル系の溶剤に溶解し、ソルダーレジスト用組成物とす
るのが望ましい。かかる組成物からソルダーレジスト層
を形成すると、遊離酸素が発生せず、銅パッド表面を酸
化させない。また、人体に対する有害性も少ない。
The resin and the curing agent are preferably dissolved in a glycol ether-based solvent to form a solder resist composition. When a solder resist layer is formed from such a composition, free oxygen is not generated and the copper pad surface is not oxidized. It is also less harmful to the human body.

【0080】グリコールエーテル系の溶剤としては、次
の一般式: CH3 O−(CH2 CH2 O) n −CH3 (n=1〜
5) で表される溶媒を用いることができる。
As the glycol ether solvent, the following general formula: CH 3 O— (CH 2 CH 2 O) n —CH 3 (n = 1 to 1)
5) A solvent represented by the following formula can be used.

【0081】特に望ましくは、ジエチレングリコールジ
メチルエーテル(DMDG)及びトリエチレングリコー
ルジメチルエーテル(DMTG)からなる群より選ばれ
る少なくとも1種を用いる。これらの溶剤は、30〜50℃
程度の加温により、ベンゾフェノンやミヒラーケトン等
の反応開始剤を完全に溶解させることができる。かかる
溶剤の量は、ソルダーレジスト用組成物の10〜40重量%
がよい。
Particularly preferably, at least one selected from the group consisting of diethylene glycol dimethyl ether (DMDG) and triethylene glycol dimethyl ether (DMTG) is used. These solvents are 30-50 ° C
With a certain degree of heating, a reaction initiator such as benzophenone or Michler's ketone can be completely dissolved. The amount of the solvent is 10 to 40% by weight of the solder resist composition.
Is good.

【0082】イミダゾール硬化剤の添加量は、ソルダー
レジスト用組成物の総固形分に対して、1〜10重量%と
することが望ましい。添加量がこの範囲内にあれば、均
一混合し易いからである。
The addition amount of the imidazole curing agent is preferably 1 to 10% by weight based on the total solid content of the solder resist composition. If the amount is within this range, uniform mixing is easy.

【0083】上述したようなソルダーレジスト用組成物
には、この他に、各種消泡剤やレベリング剤、耐熱性や
耐塩基性の改善と可撓性付与のための熱硬化性樹脂、解
像度改善のための感光性モノマー等を添加することがで
きる。
In addition to the above-mentioned solder resist composition, various antifoaming agents and leveling agents, thermosetting resins for improving heat resistance and base resistance and imparting flexibility, and improving resolution can be used. For example, a photosensitive monomer or the like can be added.

【0084】レベリング剤としては、アクリル酸エステ
ルの重合体からなるものがよい。また、開始剤として
は、チバガイギー製のイルガキュアI907、光増感剤
としては日本化薬製のDETX−Sがよい。
As the leveling agent, one composed of an acrylic ester polymer is preferred. The initiator is preferably Irgacure I907 manufactured by Ciba-Geigy, and the photosensitizer is DETX-S manufactured by Nippon Kayaku.

【0085】熱硬化性樹脂には、ビスフェノール型エポ
キシ樹脂を用いることができる。このビスフェノール型
エポキシ樹脂には、ビスフェノールA型エポキシ樹脂と
ビスフェノールF型エポキシ樹脂があり、耐塩基性を重
視する場合には前者が、低粘度化が要求される場合(塗
布性を重視する場合)には後者がよい。
As the thermosetting resin, a bisphenol type epoxy resin can be used. This bisphenol type epoxy resin includes a bisphenol A type epoxy resin and a bisphenol F type epoxy resin, and when importance is attached to base resistance, the former is required to reduce viscosity (when importance is attached to coating properties). The latter is better.

【0086】感光性モノマーには、多価アクリル系モノ
マーを用いることができる。多価アクリル系モノマー
は、解像度を向上させることができるからである。例え
ば、日本化薬製のDPE−6Aや共栄社化学製のR−6
04等の多価アクリル系モノマーを用いることができ
る。
As the photosensitive monomer, a polyacrylic monomer can be used. This is because the polyvalent acrylic monomer can improve the resolution. For example, Nippon Kayaku's DPE-6A and Kyoeisha Chemical's R-6
A polyvalent acrylic monomer such as 04 can be used.

【0087】かかるソルダーレジスト用組成物には、色
素や顔料等を添加してもよい。配線パターンを隠蔽でき
るからである。かかる色素としては、フタロシアニング
リーンを用いることが望ましい。
Dyes and pigments may be added to the solder resist composition. This is because the wiring pattern can be hidden. It is desirable to use phthalocyanine green as such a dye.

【0088】また、かかるソルダーレジスト用組成物
は、25℃で0.5〜10Pa・s、より望ましくは、
1〜10Pa・sの粘度を有するのがよい。ロールコー
タで塗布し易いからである。かかる組成物は、ソルダー
レジスト層を形成した後、開口部を、露光、現像処理に
より形成することができる。
Further, the composition for a solder resist is preferably 0.5 to 10 Pa · s at 25 ° C., more preferably,
It preferably has a viscosity of 1 to 10 Pa · s. This is because application with a roll coater is easy. Such a composition can form an opening by exposure and development after forming a solder resist layer.

【0089】次に、本発明のプリント配線板を製造する
方法について説明する。以下の方法は、主として、セミ
アディティブ法によるものであるが、フルアディティブ
法を採用してもよい。
Next, a method for manufacturing the printed wiring board of the present invention will be described. The following method is mainly based on the semi-additive method, but may use the full-additive method.

【0090】本発明では、はんだパッドとなる導体回路
を基板の表面に形成した配線基板を作製する。基板とし
ては、ガラスエポキシ基板、ポリイミド基板、ビスマレ
イミド−トリアジン樹脂基板等の樹脂絶縁基板、セラミ
ック基板、金属基板等を用いることができる。
In the present invention, a wiring board having a conductor circuit to be a solder pad formed on the surface of the board is manufactured. As the substrate, a resin insulating substrate such as a glass epoxy substrate, a polyimide substrate, a bismaleimide-triazine resin substrate, a ceramic substrate, a metal substrate, or the like can be used.

【0091】かかる配線基板は、内部に複数層の導体回
路が形成された多層プリント配線板であってもよい。か
かる複数層の導体回路を形成するには、基板上に設けら
れた下層導体回路上に、層間絶縁樹脂層として、無電解
めっき用接着剤からなる接着剤層を形成し、この接着剤
層表面を粗化して粗化面とし、この粗化面全体に薄付け
の無電解めっきを施し、めっきレジストを形成し、めっ
きレジスト非形成部分に厚付けの電解めっきを施した
後、めっきレジストを除去し、エッチング処理して、電
解めっき膜と無電解めっき膜とからなる2層の導体回路
を形成することができる。導体回路は、いずれも銅パタ
ーンがよい。
The wiring board may be a multilayer printed wiring board having a plurality of conductor circuits formed therein. To form such a multi-layer conductive circuit, an adhesive layer made of an electroless plating adhesive is formed as an interlayer insulating resin layer on a lower conductive circuit provided on a substrate, and the surface of the adhesive layer is formed. After roughening the surface to a roughened surface, applying a thin electroless plating to the entire roughened surface, forming a plating resist, applying a thick electrolytic plating to a portion where no plating resist is formed, and then removing the plating resist Then, an etching process is performed to form a two-layer conductor circuit including an electrolytic plating film and an electroless plating film. The conductor circuit preferably has a copper pattern.

【0092】無電解めっき用接着剤は、酸や酸化剤に可
溶性の硬化処理された耐熱性樹脂粒子が、酸や酸化剤に
難溶性の未硬化の耐熱性樹脂中に分散されてなるものが
最適である。かかる耐熱性樹脂粒子は、酸や酸化剤で処
理することによって溶解除去され、表面に蛸つぼ状のア
ンカーからなる粗化面を形成するからである。なお、か
かる無電解めっき用接着剤は、組成の異なる2層により
構成してもよい。
The adhesive for electroless plating is obtained by dispersing cured heat-resistant resin particles soluble in an acid or an oxidizing agent in an uncured heat-resistant resin hardly soluble in an acid or an oxidizing agent. Optimal. This is because such heat-resistant resin particles are dissolved and removed by treatment with an acid or an oxidizing agent to form a roughened surface composed of an octopus pot-shaped anchor on the surface. The adhesive for electroless plating may be composed of two layers having different compositions.

【0093】酸や酸化剤に可溶性の硬化処理された耐熱
性樹脂粒子としては、(1) 平均粒径が10μm以下の耐熱
性樹脂粉末、(2) 平均粒径が2μm以下の耐熱性樹脂粉
末を凝集させた凝集粒子、(3) 平均粒径が2〜10μmの
耐熱性樹脂粉末と平均粒径が2μm未満の耐熱性樹脂粉
末との混合物、(4) 平均粒径が2〜10μmの耐熱性樹脂
粉末の表面に、平均粒径が2μm以下の耐熱性樹脂粉末
及び無機粉末の少なくとも1種を付着させた疑似粒子、
(5) 平均粒径が0.1〜0.8μmの耐熱性樹脂粉末と
平均粒径が0.8μmを超え2μm未満の耐熱性樹脂粉
末との混合物、(6) 平均粒径が0.1〜1.0μmの耐
熱性樹脂粉末からなる群より選ばれる少なくとも1種の
粒子を用いることが望ましい。これらは、より複雑なア
ンカーを形成するからである。これらの粒子により得ら
れる粗化面は、0.1〜20μmの最大粗度(Rma
x)を有することができる。
The cured heat-resistant resin particles soluble in acids and oxidizing agents include (1) heat-resistant resin powder having an average particle diameter of 10 μm or less, and (2) heat-resistant resin powder having an average particle diameter of 2 μm or less. (3) a mixture of a heat-resistant resin powder having an average particle size of 2 to 10 μm and a heat-resistant resin powder having an average particle size of less than 2 μm, and (4) a heat-resistant resin having an average particle size of 2 to 10 μm. Particles having at least one of a heat-resistant resin powder having an average particle diameter of 2 μm or less and an inorganic powder adhered to the surface of the conductive resin powder,
(5) a mixture of a heat-resistant resin powder having an average particle size of 0.1 to 0.8 μm and a heat-resistant resin powder having an average particle size of more than 0.8 μm and less than 2 μm, (6) an average particle size of 0.1 It is desirable to use at least one kind of particles selected from the group consisting of heat-resistant resin powders having a size of from 1.0 μm to 1.0 μm. This is because they form a more complex anchor. The roughened surface obtained by these particles has a maximum roughness (Rma) of 0.1 to 20 μm.
x).

【0094】かかる耐熱性樹脂粒子の混合比は、耐熱性
樹脂からなるマトリックスの固形分の5〜50重量%、
望ましくは10〜40重量%がよい。また、かかる耐熱
性樹脂粒子は、アミノ樹脂(メラミン樹脂、尿素樹脂、
グアナミン樹脂等)、エポキシ樹脂等からなるのがよ
い。
The mixing ratio of the heat-resistant resin particles is 5 to 50% by weight based on the solid content of the matrix made of the heat-resistant resin.
Desirably, the content is 10 to 40% by weight. In addition, such heat-resistant resin particles include amino resins (melamine resins, urea resins,
Guanamine resin), epoxy resin and the like.

【0095】酸や酸化剤に難溶性の未硬化の耐熱性樹脂
としては、熱硬化性樹脂と熱可塑性樹脂との樹脂複合
体、又は感光性樹脂と熱可塑性樹脂との樹脂複合体から
なるのが望ましい。前者については耐熱性が高く、後者
についてはバイアホール用の開口をフォトリソグラフィ
ーにより形成できるからである。
The uncured heat-resistant resin hardly soluble in an acid or an oxidizing agent is a resin composite of a thermosetting resin and a thermoplastic resin or a resin composite of a photosensitive resin and a thermoplastic resin. Is desirable. This is because the former has high heat resistance, and the latter can form an opening for a via hole by photolithography.

【0096】かかる熱硬化性樹脂としては、エポキシ樹
脂、フェノール樹脂、ポリイミド樹脂等を用いることが
できる。また、感光化する場合は、熱硬化基をメタクリ
ル酸やアクリル酸等とアクリル化反応させる。特に、エ
ポキシ樹脂のアクリレートが最適である。エポキシ樹脂
としては、フェノールノボラック型、クレゾールノボラ
ック型等のノボラック型エポキシ樹脂、ジシクロペンタ
ジエン変性させた脂環式エポキシ樹脂等を用いることが
できる。
As the thermosetting resin, an epoxy resin, a phenol resin, a polyimide resin or the like can be used. In the case of photosensitization, a thermosetting group is subjected to an acrylate reaction with methacrylic acid, acrylic acid, or the like. In particular, an acrylate of an epoxy resin is most suitable. As the epoxy resin, a novolak type epoxy resin such as a phenol novolak type or a cresol novolak type, an alicyclic epoxy resin modified with dicyclopentadiene, or the like can be used.

【0097】熱可塑性樹脂としては、ポリエーテルスル
フォン(PES)、ポリスルフォン(PSF)、ポリフ
ェニレンスルフォン(PPS)、ポリフェニレンサルフ
ァイド(PPES)、ポリフェニルエーテル(PP
E)、ポリエーテルイミド(PI)等を用いることがで
きる。
As the thermoplastic resin, polyether sulfone (PES), polysulfone (PSF), polyphenylene sulfone (PPS), polyphenylene sulfide (PPES), polyphenyl ether (PP
E), polyetherimide (PI) and the like can be used.

【0098】熱硬化性樹脂(感光性樹脂)と熱可塑性樹
脂の混合割合は、熱硬化性樹脂(感光性樹脂)/熱可塑
性樹脂=95/5〜50/50がよい。耐熱性を損なう
ことなく、高い物性値が得られるからである。
The mixing ratio between the thermosetting resin (photosensitive resin) and the thermoplastic resin is preferably such that thermosetting resin (photosensitive resin) / thermoplastic resin = 95/5 to 50/50. This is because high physical properties can be obtained without impairing heat resistance.

【0099】次に、かかる無電解めっき用接着剤を硬化
させて、層間絶縁樹脂層を形成する一方、この層間樹脂
樹脂層には、バイアホール形成用の開口を設けることが
できる。
Next, the adhesive for electroless plating is cured to form an interlayer insulating resin layer, and the interlayer resin resin layer can be provided with an opening for forming a via hole.

【0100】バイアホール形成用の開口は、無電解めっ
き用接着剤の樹脂マトリックスが熱硬化樹脂である場合
は、レーザー光や酸素プラズマ等を用いて穿孔し、感光
性樹脂である場合は、露光現像処理にて穿孔する。な
お、露光現像処理は、バイアホール形成用に円パターン
が描画されたフォトマスク(ガラス基板がよい)を、円
パターン側が感光性の層間樹脂絶縁層の上に密着するよ
うに載置した後、露光、現像処理する。
The opening for forming the via hole is formed by using laser light or oxygen plasma when the resin matrix of the adhesive for electroless plating is a thermosetting resin, and is exposed when the resin matrix is a photosensitive resin. Perforate in development processing. In the exposure and development processing, a photomask (preferably a glass substrate) on which a circular pattern is drawn for forming a via hole is placed so that the circular pattern side is in close contact with the photosensitive interlayer resin insulating layer. Exposure and development processing.

【0101】次に、バイアホール形成用開口を設けた層
間樹脂絶縁層(無電解めっき用接着剤層)の表面を粗化
する。特に、無電解めっき用接着剤層の表面に存在する
耐熱性樹脂粒子を、酸や酸化剤で溶解除去することによ
り、接着剤層表面を粗化処理する。このとき、層間樹脂
絶縁層に粗化面が形成される。この時、粗化面に形成さ
れる窪みの深さは1〜5μm 程度が好ましい。
Next, the surface of the interlayer resin insulating layer (adhesive layer for electroless plating) provided with openings for forming via holes is roughened. In particular, the surface of the adhesive layer is roughened by dissolving and removing the heat-resistant resin particles present on the surface of the adhesive layer for electroless plating with an acid or an oxidizing agent. At this time, a roughened surface is formed on the interlayer resin insulating layer. At this time, the depth of the depression formed on the roughened surface is preferably about 1 to 5 μm.

【0102】酸による処理としては、リン酸、塩酸、硫
酸等の無機酸、又は蟻酸や酢酸等の有機酸を用いること
ができる。特に、有機酸を用いるのが望ましい。粗化処
理した場合に、バイアホールから露出する金属導体層を
腐食させ難いからである。酸化剤による処理は、クロム
酸、過マンガン酸塩(過マンガン酸カリウム等)を用い
るのが望ましい。
For the treatment with an acid, an inorganic acid such as phosphoric acid, hydrochloric acid or sulfuric acid, or an organic acid such as formic acid or acetic acid can be used. In particular, it is desirable to use an organic acid. This is because it is difficult to corrode the metal conductor layer exposed from the via hole when the roughening treatment is performed. For the treatment with the oxidizing agent, it is desirable to use chromic acid or permanganate (such as potassium permanganate).

【0103】かかる粗化面は、0.1〜20μmの最大
粗度(Rmax)を有するのが好ましい。厚過ぎると層
自体が損傷、剥離し易く、薄過ぎると密着性が低下する
からである。特に、セミアディティブ法では、0.1〜
5μmがよい。密着性が確保されつつ、無電解めっき膜
が除去されるからである。
The roughened surface preferably has a maximum roughness (Rmax) of 0.1 to 20 μm. If the thickness is too large, the layer itself is likely to be damaged and peeled off, and if it is too thin, the adhesion is reduced. In particular, in the semi-additive method, 0.1 to
5 μm is preferred. This is because the electroless plating film is removed while maintaining the adhesion.

【0104】次に、粗化した層間樹脂絶縁層上に触媒核
を付与し、全面に薄付けの無電解めっき膜を形成する。
この無電解めっき膜は、無電解銅めっきがよく、厚み
は、1〜5μm、より望ましくは、2〜3μmとする。
なお、無電解銅めっき液としては、常法で採用される液
組成のものを使用することができる。例えば、硫酸銅:
10g/L、EDTA:50g/L、水酸化ナトリウム:8
g/L、37%ホルムアルデヒド:10mL、からなる液組
成のものがよい。
Next, a catalyst nucleus is provided on the roughened interlayer resin insulating layer, and a thin electroless plating film is formed on the entire surface.
This electroless plating film is preferably formed by electroless copper plating, and has a thickness of 1 to 5 μm, more preferably 2 to 3 μm.
In addition, as the electroless copper plating solution, a solution having a liquid composition adopted by a usual method can be used. For example, copper sulfate:
10 g / L, EDTA: 50 g / L, sodium hydroxide: 8
A liquid composition consisting of g / L and 37% formaldehyde: 10 mL is preferred.

【0105】次に、このように形成した無電解めっき膜
上に、感光性樹脂フィルム(ドライフィルム)をラミネ
ートし、この感光性樹脂フィルム上に、めっきレジスト
パターンが描画されたフォトマスク(ガラス基板がよ
い)を密着させて載置し、露光し、現像処理することに
より、めっきレジストパターンを配設した非導体部分を
形成する。
Next, a photosensitive resin film (dry film) is laminated on the electroless plating film thus formed, and a photomask (glass substrate) on which a plating resist pattern is drawn on the photosensitive resin film. Are placed in close contact with each other, exposed, and developed to form a non-conductive portion on which a plating resist pattern is provided.

【0106】次に、無電解銅めっき膜上の非導体部分以
外に電解めっき膜を形成し、導体回路とバイアホールと
なる導体部を設ける。電解めっきとしては、電解銅めっ
きを用いることが望ましく、その厚みは、5〜20μmが
よい。
Next, an electrolytic plating film is formed on a portion other than the non-conductor portion on the electroless copper plating film to provide a conductor circuit and a conductor portion serving as a via hole. As the electrolytic plating, it is desirable to use electrolytic copper plating, and its thickness is preferably 5 to 20 μm.

【0107】次に、非導体回路部分のめっきレジストを
除去した後、更に、硫酸と過酸化水素の混合液や過硫酸
ナトリウム、過硫酸アンモニウム、塩化第二鉄、塩化第
二銅等のエッチング液にて無電解めっき膜を除去し、無
電解めっき膜と電解めっき膜の2層からなる独立した導
体回路とバイアホールを得る。なお、非導体部分に露出
した粗化面上のパラジウム触媒核は、クロム酸、硫酸と
過酸化水素との混合液等により溶解除去する。
Next, after removing the plating resist in the non-conductive circuit portion, the substrate is further treated with a mixed solution of sulfuric acid and hydrogen peroxide or an etching solution such as sodium persulfate, ammonium persulfate, ferric chloride, cupric chloride and the like. Then, the electroless plating film is removed to obtain independent conductor circuits and via holes each having two layers of the electroless plating film and the electrolytic plating film. The palladium catalyst nuclei on the roughened surface exposed to the non-conductive portion are dissolved and removed with a mixed solution of chromic acid, sulfuric acid and hydrogen peroxide or the like.

【0108】次いで、表層のはんだパッドとなる導体回
路に、本発明にかかる粗化面を形成する。かかる粗化面
は、前述したアゾール類の第二銅錯体と有機酸の水溶液
からなるエッチング液を導体回路表面にスプレイする
か、かかるエッチング液に導体回路を浸漬し、バブリン
グする方法により形成することができる。なお、導体回
路は、無電解めっき膜又は電解めっき膜が望ましい。厚
延銅箔をエッチングした導体回路では、粗化面が形成さ
れ難いからである。
Next, the roughened surface according to the present invention is formed on the conductor circuit serving as the surface solder pad. Such a roughened surface is formed by spraying an etching solution comprising an aqueous solution of the above-mentioned cupric complex of an azole and an organic acid on the surface of the conductor circuit, or immersing the conductor circuit in the etching solution and bubbling. Can be. Note that the conductor circuit is preferably an electroless plating film or an electrolytic plating film. This is because a roughened surface is hardly formed in a conductor circuit obtained by etching a thick copper foil.

【0109】このようにして形成された粗化面は、更
に、その後、エッチング処理、研磨処理、酸化処理、酸
化還元処理等によって処理することができ、めっき被膜
で被覆することもできる。
The roughened surface thus formed can be further processed by an etching process, a polishing process, an oxidation process, an oxidation-reduction process, or the like, and can be covered with a plating film.

【0110】また、かかる粗化面は、チタン、亜鉛、
鉄、インジウム、タリウム、コバルト、ニッケル、ス
ズ、鉛、ビスマス及び貴金属からなる群より選ばれる少
なくとも1種の金属からなる金属層によって被覆するこ
とができる。被覆方法は、めっき(電解めっき、無電解
めっき、置換めっきのいずれかの中選ばれる方法)、蒸
着、電着、スパッタ等で行うことができる。
The roughened surface is made of titanium, zinc,
It can be covered with a metal layer made of at least one metal selected from the group consisting of iron, indium, thallium, cobalt, nickel, tin, lead, bismuth and noble metals. The coating method can be performed by plating (a method selected from electrolytic plating, electroless plating, and displacement plating), vapor deposition, electrodeposition, sputtering, and the like.

【0111】かかる処理を施された粗化面を有する導体
回路上には、前述したようなソルダーレジスト層を形成
することができる。
The solder resist layer as described above can be formed on the conductor circuit having the roughened surface subjected to the above processing.

【0112】[0112]

【実施例】図面を参照して、本発明を実施例及び比較例
に基づいて説明する。実施例1 無電解めっき用接着剤調製用の原料組成物(上層用接着
剤) 〔樹脂組成物A〕クレゾールノボラック型エポキシ樹脂
(日本化薬製、分子量2500)の25%アクリル化物を80wt
%の濃度でDMDGに溶解させた樹脂液を35重量部、感
光性モノマー(東亜合成製、アロニックスM315 )3.15
重量部、消泡剤(サンノプコ製、S−65)0.5 重量部、
NMP 3.6重量部を攪拌混合して得た。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Referring to the drawings, the present invention will be described based on embodiments and comparative examples. Example 1 Raw material composition for preparing an adhesive for electroless plating (adhesion for upper layer)
Agent) [Resin Composition A] 80 wt% of 25% acrylate of cresol novolak type epoxy resin (Nippon Kayaku, molecular weight 2500)
35% by weight of a resin solution dissolved in DMDG at a concentration of 3.15% and a photosensitive monomer (Toa Gosei Co., Aronix M315) 3.15
Parts by weight, 0.5 parts by weight of an antifoaming agent (manufactured by San Nopco, S-65)
3.6 parts by weight of NMP were obtained by stirring and mixing.

【0113】〔樹脂組成物B〕ポリエーテルスルフォン
(PES)12重量部、エポキシ樹脂粒子(三洋化成製、
ポリマーポール)の平均粒径 1.0μmのものの 7.2重量
部と、平均粒径 0.5μmのものの3.09重量部とを混合し
た後、更にNMP30重量部を添加し、ビーズミルで攪拌
混合して得た。
[Resin Composition B] 12 parts by weight of polyether sulfone (PES), epoxy resin particles (manufactured by Sanyo Chemical Co., Ltd.)
After mixing 7.2 parts by weight of a polymer pole having an average particle size of 1.0 μm and 3.09 parts by weight of an average particle size of 0.5 μm, 30 parts by weight of NMP was further added, and the mixture was stirred and mixed with a bead mill.

【0114】〔硬化剤組成物C〕イミダゾール硬化剤
(四国化成製、2E4MZ-CN)2重量部、光開始剤(チバガ
イギー製、イルガキュア I−907 )2重量部、光増感
剤(日本化薬製、DETX-S)0.2 重量部、NMP 1.5重量
部を攪拌混合して得た。
[Curing Agent Composition C] 2 parts by weight of an imidazole curing agent (2E4MZ-CN, manufactured by Shikoku Chemicals), 2 parts by weight of a photoinitiator (Irgacure I-907, manufactured by Ciba Geigy), and a photosensitizer (Nippon Kayaku) 0.2 parts by weight of DETX-S) and 1.5 parts by weight of NMP.

【0115】層間樹脂絶縁剤調製用の原料組成物(下層
用接着剤) 〔樹脂組成物D〕クレゾールノボラック型エポキシ樹脂
(日本化薬製、分子量2500)の25%アクリル化物を80wt
%の濃度でDMDGに溶解させた樹脂液を35重量部、感
光性モノマー(東亜合成製、アロニックスM315 )4重
量部、消泡剤(サンノプコ製、S−65)0.5 重量部、N
MP 3.6重量部を攪拌混合して得た。
Raw material composition for preparing interlayer resin insulating agent (lower layer
Adhesive for Resin ) [Resin Composition D] 80% of 25% acrylate of cresol novolac type epoxy resin (Nippon Kayaku, molecular weight 2500)
% Of a resin solution dissolved in DMDG at a concentration of 35%, 4 parts by weight of a photosensitive monomer (Alonix M315, manufactured by Toagosei Co., Ltd.), 0.5 parts by weight of an antifoaming agent (S-65, manufactured by San Nopco), N
3.6 parts by weight of MP were obtained by stirring and mixing.

【0116】〔樹脂組成物E〕ポリエーテルスルフォン
(PES)12重量部とエポキシ樹脂粒子(三洋化成製、
ポリマーポール)の平均粒径 0.5μmのものの 14.49重
量部とを混合した後、更にNMP30重量部を添加し、ビ
ーズミルで攪拌混合して得た。
[Resin Composition E] 12 parts by weight of polyether sulfone (PES) and epoxy resin particles (manufactured by Sanyo Chemical Industries, Ltd.)
After mixing with 14.49 parts by weight of a polymer pole having an average particle size of 0.5 μm, 30 parts by weight of NMP was further added, and the mixture was stirred and mixed with a bead mill.

【0117】〔硬化剤組成物F〕イミダゾール硬化剤
(四国化成製、2E4MZ-CN)2重量部、光開始剤(チバガ
イギー製、イルガキュア I−907 )2重量部、光増感
剤(日本化薬製、DETX-S)0.2 重量部、NMP1.5 重量
部を攪拌混合して得た。
[Curing Agent Composition F] 2 parts by weight of imidazole curing agent (2E4MZ-CN, manufactured by Shikoku Chemicals), 2 parts by weight of photoinitiator (Irgacure I-907, manufactured by Ciba Geigy), photosensitizer (Nippon Kayaku) 0.2 parts by weight of DETX-S) and 1.5 parts by weight of NMP.

【0118】樹脂充填剤調製用の原料組成物 〔樹脂組成物G〕ビスフェノールF型エポキシモノマー
(油化シェル製、分子量310 、YL983U)100重量部、表
面にシランカップリング剤がコーティングされた平均粒
径 1.6μmのSiO2 球状粒子(アドマテック製、CRS 11
01−CE、ここで、最大粒子の大きさは後述する内層銅パ
ターンの厚み(15μm)以下とする) 170重量部、レベ
リング剤(サンノプコ製、ペレノールS4)1.5 重量部
を攪拌混合することにより、その混合物の粘度を23±1
℃で45,000〜49,000cps に調整して得た。
Raw material composition for preparing resin filler [Resin composition G] 100 parts by weight of bisphenol F type epoxy monomer (manufactured by Yuka Shell, molecular weight 310, YL983U), average particle having a surface coated with a silane coupling agent 1.6 μm diameter SiO 2 spherical particles (manufactured by Admatech, CRS 11
01-CE, where the maximum particle size is 170 parts by weight of the inner layer copper pattern described below (15 μm or less) and 1.5 parts by weight of a leveling agent (manufactured by San Nopco, Perenol S4) by stirring and mixing. The viscosity of the mixture is 23 ± 1
The temperature was adjusted to 45,000-49,000 cps at ℃.

【0119】〔硬化剤組成物H〕イミダゾール硬化剤
(四国化成製、2E4MZ-CN)6.5 重量部。
[Curing Agent Composition H] 6.5 parts by weight of an imidazole curing agent (2E4MZ-CN, manufactured by Shikoku Chemicals).

【0120】プリント配線板の製造 図13〜30は、一例の製造工程に従って示す、本発明
にかかるプリント配線板の縦断面図である。 (1) 図13に示すような、厚さ1mmのガラスエポキシ樹
脂又はBT(ビスマレイミドトリアジン)樹脂からなる
基板4の両面に18μmの銅箔5がラミネートされている
銅張積層板6を出発材料とした。
Manufacturing of Printed Wiring Board FIGS. 13 to 30 are longitudinal sectional views of a printed wiring board according to the present invention, which are shown according to an example manufacturing process. (1) As shown in FIG. 13, a starting material is a copper clad laminate 6 in which 18 μm copper foil 5 is laminated on both sides of a substrate 4 made of glass epoxy resin or BT (bismaleimide triazine) resin having a thickness of 1 mm. And

【0121】まず、この銅張積層板6には、図14に示
すように、ドリル孔7を削孔し、無電解めっき処理を施
し、パターン状にエッチングすることにより、基板6の
両面に内層銅パターン(下層導体回路)8とスルーホー
ル9を形成した。
First, as shown in FIG. 14, the copper-clad laminate 6 is formed by drilling a drill hole 7, performing electroless plating, and etching it in a pattern to form inner layer on both surfaces of the substrate 6. A copper pattern (lower conductor circuit) 8 and a through hole 9 were formed.

【0122】(2) 内層銅パターン8とスルーホール9を
形成した基板を水洗いし、乾燥した後、酸化浴(黒化
浴)として、NaOH(10g/L)、NaClO2 (40g/
L)、Na3PO4(6g/L)、還元浴として、NaOH(10g
/L)、NaBH4 (6g/L)を用いた酸化−還元処理に
より、内層銅パターン8とスルーホール9の表面に粗化
面10,11を設け、図14に示すような配線基板12
を製造した。
(2) The substrate having the inner layer copper pattern 8 and the through holes 9 formed thereon was washed with water and dried, and then used as an oxidation bath (blackening bath) as NaOH (10 g / L) and NaClO 2 (40 g / L).
L), Na 3 PO 4 (6 g / L), NaOH (10 g
/ L), roughened surfaces 10 and 11 are provided on the surface of the inner layer copper pattern 8 and the through hole 9 by oxidation-reduction treatment using NaBH 4 (6 g / L), and the wiring board 12 shown in FIG.
Was manufactured.

【0123】(3) 樹脂充填剤調製用の原料組成物を混合
混練して樹脂充填剤を得、この樹脂充填剤を、調製後24
時間以内に、基板12の両面にロールコータを用いて塗
布することにより、導体回路8間あるいはスルーホール
9内に充填し、70℃、20分間で乾燥させ、他方の面につ
いても同様にして樹脂充填剤を導体回路8間あるいはス
ルーホール9内に充填し、70℃、20分間で加熱乾燥さ
せ、樹脂層13,14を形成した。
(3) The raw material composition for preparing a resin filler is mixed and kneaded to obtain a resin filler.
Within a period of time, the two surfaces of the substrate 12 are coated with a roll coater to fill the space between the conductor circuits 8 or the through holes 9 and dried at 70 ° C. for 20 minutes. The filler was filled between the conductor circuits 8 or in the through holes 9 and dried by heating at 70 ° C. for 20 minutes to form resin layers 13 and 14.

【0124】(4) 前記(3) の処理を終えた基板の片面
を、#600 のベルト研磨紙(三共理化学製)を用いたベ
ルトサンダー研磨により、内層銅パターン8の表面やス
ルーホール9のランド11の表面に樹脂充填剤が残らな
いように研磨し、次いで、前記ベルトサンダー研磨によ
る傷を取り除くためのバフ研磨を行った。このような一
連の研磨を基板の他方の面についても同様に行った。
(4) One surface of the substrate after the treatment of the above (3) is subjected to belt sander polishing using # 600 belt abrasive paper (manufactured by Sankyo Rikagaku) to form the surface of the inner layer copper pattern 8 and the through holes 9. Polishing was performed so that the resin filler did not remain on the surface of the land 11, and then buffing was performed to remove scratches due to the belt sander polishing. Such a series of polishing was similarly performed on the other surface of the substrate.

【0125】(5) 次いで、100 ℃で1時間、120 ℃で3
時間、 150℃で1時間、 180℃で7時間の加熱処理を行
って樹脂充填剤を硬化し、図15に示すような配線基板
15を作製した。この配線基板15では、スルーホール
9等に充填された樹脂充填剤の表層部及び内層導体回路
8の上面の粗化面10,11が除去されており、基板の
両面が平滑化され、樹脂層13と内層導体回路8の側面
とスルーホール9のランド表面とが粗化面10a,11
aを介して強固に密着し、また、スルーホール9の内壁
面と樹脂層14とが粗化面11aを介して強固に密着し
ている。即ち、この工程により、樹脂層13,14の表
面と内層銅パターン8の表面が同一平面となる。
(5) Then, at 100 ° C. for 1 hour and at 120 ° C. for 3 hours.
Heat treatment was performed at 150 ° C. for 1 hour and at 180 ° C. for 7 hours to cure the resin filler, thereby producing a wiring board 15 as shown in FIG. In this wiring board 15, the surface layer portion of the resin filler filled in the through holes 9 and the like and the roughened surfaces 10, 11 on the upper surface of the inner conductor circuit 8 are removed, and both surfaces of the board are smoothed and the resin layer is removed. 13 and the side surfaces of the inner conductor circuit 8 and the land surfaces of the through holes 9 are roughened surfaces 10a, 11
a, and the inner wall surface of the through hole 9 and the resin layer 14 are firmly adhered through the roughened surface 11a. That is, by this step, the surfaces of the resin layers 13 and 14 and the surface of the inner layer copper pattern 8 become flush with each other.

【0126】(6) 導体回路を形成したプリント配線板1
5に、アルカリ脱脂してソフトエッチングして、次い
で、塩化パラジウウムと有機酸からなる触媒溶液で処理
して、Pd触媒を付与し、この触媒を活性化した後、硫
酸銅3.2×10-2モル/L、硫酸ニッケル3.9×1
-3モル/L、クエン酸ナトリウム5.4×10-2モル
/L、次亜リン酸ナトリウム3.3×10-1モル/L、
界面活性剤(日信化学工業製、サーフィール465)
1.1×10-4モル/L、PH=9からなる無電解めっ
き液に浸積し、浸漬1分後に、4秒当たり1回に割合で
振動、揺動させて、図16に示すように、銅導体回路8
とスルーホール9のランドの表面にCu−Ni−Pから
なる針状合金の粗化層16,17を設けた。
(6) Printed wiring board 1 on which a conductor circuit is formed
5 was subjected to alkali degreasing and soft etching, followed by treatment with a catalyst solution comprising palladium chloride and an organic acid to give a Pd catalyst, and after activating this catalyst, copper sulfate 3.2 × 10 −10 − 2 mol / L, nickel sulfate 3.9 × 1
0 -3 mol / L, sodium citrate 5.4 × 10 -2 mol / L, sodium hypophosphite 3.3 × 10 -1 mol / L,
Surfactant (Nissin Chemical Industries, Surfel 465)
As shown in FIG. 16, the substrate was immersed in an electroless plating solution consisting of 1.1 × 10 −4 mol / L and PH = 9, and was vibrated and rocked at a rate of once per 4 seconds after immersion for 1 minute. And copper conductor circuit 8
And roughened layers 16 and 17 of a needle-like alloy made of Cu-Ni-P were provided on the surface of the land of the through hole 9.

【0127】更に、ホウフッ化スズ0.1モル/L、チ
オ尿素1.0モル/L、温度35℃、PH=1.2の条
件でCu−Sn置換反応させ、粗化層16,17の表面
に厚さ0.3μmSn層を設けた。Sn層は特に図示し
ていない。
Further, Cu-Sn substitution reaction was carried out under the conditions of tin borofluoride 0.1 mol / L, thiourea 1.0 mol / L, temperature 35 ° C., PH = 1.2, and the roughened layers 16 and 17 A 0.3 μm thick Sn layer was provided on the surface. The Sn layer is not particularly shown.

【0128】(7) 層間樹脂絶縁剤調製用の原料組成物を
攪拌混合し、粘度1.5 Pa・sに調整して層間樹脂絶縁剤
(下層用)を得た。次いで、Aの無電解めっき用接着剤
調製用の原料組成物を攪拌混合し、粘度7Pa・sに調整
して無電解めっき用接着剤溶液(上層用)を得た。
(7) The raw material composition for preparing the interlayer resin insulating agent was stirred and mixed, and the viscosity was adjusted to 1.5 Pa · s to obtain an interlayer resin insulating agent (for lower layer). Next, the raw material composition for preparing the adhesive for electroless plating of A was stirred and mixed, and the viscosity was adjusted to 7 Pa · s to obtain an adhesive solution for electroless plating (for the upper layer).

【0129】(8) 前記(6) の基板18の両面に、前記
(7) で得られた粘度 1.5Pa・sの層間樹脂絶縁剤(下層
用)を、調製後24時間以内にロールコータで塗布し、水
平状態で20分間放置してから、60℃で30分の乾燥(プリ
ベーク)を行い、次に、前記(7) で得られた粘度7Pa・
sの感光性の接着剤溶液(上層用)を、調製後24時間以
内に塗布し、水平状態で20分間放置してから、60℃で30
分の乾燥(プリベーク)を行い、図17に示すような厚
さ35μmの接着剤層19を形成した。
(8) On both surfaces of the substrate 18 of (6),
Apply the interlayer resin insulating material (for lower layer) having a viscosity of 1.5 Pa · s obtained in (7) by a roll coater within 24 hours after preparation, leave it in a horizontal state for 20 minutes, and then at 60 ° C for 30 minutes Is dried (prebaked), and then the viscosity of 7 Pa · obtained in the above (7) is obtained.
s photosensitive adhesive solution (for upper layer) is applied within 24 hours after preparation, left in a horizontal state for 20 minutes, and then
Then, an adhesive layer 19 having a thickness of 35 μm as shown in FIG. 17 was formed.

【0130】(9) 前記(8) で接着剤層19を形成した基
板の両面に、図18に示すように、85μmφの黒円20
が印刷されたフォトマスクフィルム21を密着させ、超
高圧水銀灯により 500mJ/cm2 で露光した。この基板を
DMTG溶液でスプレー現像し、更に、超高圧水銀灯に
より3000mJ/cm2 で露光し、100 ℃で1時間、120 ℃で
1時間、その後 150℃で3時間の加熱処理(ポストベー
ク)することにより、図19に示すような、フォトマス
クフィルム21に相当する寸法精度に優れた85μmφの
開口(バイアホール形成用開口)22を有する厚さ35μ
mの層間樹脂絶縁層(2層構造)19とした。なお、バ
イアホールとなる開口22には、スズめっき層を部分的
に露出させた。
(9) As shown in FIG. 18, a black circle 20 of 85 μmφ is formed on both sides of the substrate on which the adhesive layer 19 has been formed in the above (8).
The printed photomask film 21 was adhered and exposed at 500 mJ / cm 2 using an ultra-high pressure mercury lamp. The substrate is spray-developed with a DMTG solution, and further exposed to 3000 mJ / cm 2 by an ultra-high pressure mercury lamp, and heated (post-baked) at 100 ° C. for 1 hour, 120 ° C. for 1 hour, and then at 150 ° C. for 3 hours. As a result, as shown in FIG. 19, a thickness of 35 μm having an opening (opening for forming a via hole) 22 of 85 μmφ with excellent dimensional accuracy corresponding to the photomask film 21 is formed.
m interlayer resin insulation layer (two-layer structure) 19. Note that the tin plating layer was partially exposed in the opening 22 serving as a via hole.

【0131】(10)開口22が形成された基板を、クロム
酸に19分間浸漬し、層間樹脂絶縁層19の表面に存在す
るエポキシ樹脂粒子を溶解除去することにより、この層
間樹脂絶縁層19の表面を粗化し、図20に示すような
粗化面23,24を形成し、その後、中和溶液(シプレ
イ社製)に浸漬してから水洗いした。
(10) The substrate in which the openings 22 are formed is immersed in chromic acid for 19 minutes to dissolve and remove the epoxy resin particles present on the surface of the interlayer resin insulating layer 19, whereby the interlayer resin insulating layer 19 The surface was roughened to form roughened surfaces 23 and 24 as shown in FIG. 20, and then immersed in a neutralizing solution (manufactured by Shipley) and then washed with water.

【0132】更に、粗面化処理(粗化深さ6μm)した
基板の表面に、パラジウム触媒(アトテック製)を付与
することにより、層間樹脂絶縁層19の表面23とバイ
アホール用開口の内壁面24とに触媒核を付けた。
Further, by applying a palladium catalyst (manufactured by Atotech) to the surface of the substrate subjected to the surface roughening treatment (roughening depth: 6 μm), the surface 23 of the interlayer resin insulation layer 19 and the inner wall surface of the via hole opening 24 and the catalyst core were attached.

【0133】(11)このようにして形成した配線基板を、
以下に示す組成の無電解銅めっき水溶液中に基板を浸漬
して、図21に示すように、粗面全体に厚さ0.6 μmの
無電解銅めっき膜25を形成した。 〔無電解めっき水溶液〕 EDTA 50 g/L 硫酸銅 10 g/L HCHO 8 mL/L NaOH 9 g/L α、α’−ビピリジル 80 mg/L PEG 0.1 g/L 〔無電解めっき条件〕 70℃の液温度で30分
(11) The wiring board thus formed is
The substrate was immersed in an electroless copper plating aqueous solution having the following composition to form an electroless copper plating film 25 having a thickness of 0.6 μm on the entire rough surface as shown in FIG. [Electroless plating aqueous solution] EDTA 50 g / L Copper sulfate 10 g / L HCHO 8 mL / L NaOH 9 g / L α, α'-bipyridyl 80 mg / L PEG 0.1 g / L [Electroless plating conditions] 70 ° C. 30 minutes at liquid temperature

【0134】(12)前記(11)で形成した無電解銅めっき膜
25上に、図22に示すように、黒円26が印刷された
市販の感光性ドライフィルム27を張り付け、マスクを
載置して、100 mJ/cm2 で露光、0.8 %炭酸ナトリウム
で現像処理し、図23に示すような、厚さ15μmのめっ
きレジスト28を設けた。
(12) As shown in FIG. 22, a commercially available photosensitive dry film 27 on which a black circle 26 is printed is stuck on the electroless copper plating film 25 formed in the above (11), and a mask is placed. Then, exposure was performed at 100 mJ / cm 2 and development processing was performed using 0.8% sodium carbonate, thereby providing a plating resist 28 having a thickness of 15 μm as shown in FIG.

【0135】(13)次いで、レジスト非形成部分に以下の
条件で電解銅めっきを施し、図24に示すような厚さ15
μmの電解銅めっき膜29を形成した。 〔電解めっき水溶液〕 硫酸 180 g/L 硫酸銅 80 g/L 添加剤(アトテックジャパン製、カパラシドGL) 1 mL/L 〔電解めっき条件〕 電流密度 1A/dm2 時間 30分 温度 室温
(13) Next, electrolytic copper plating is applied to the non-resist-formed portion under the following conditions, and a thickness
A μm electrolytic copper plating film 29 was formed. [Electroplating aqueous solution] Sulfuric acid 180 g / L Copper sulfate 80 g / L Additive (captoside GL, manufactured by Atotech Japan) 1 mL / L [Electroplating conditions] Current density 1 A / dm 2 hours 30 minutes Temperature Room temperature

【0136】(14)めっきレジスト28を5%KOHで剥
離除去した後、そのめっきレジスト28の下の無電解め
っき膜25を、硫酸と過酸化水素の混合液でエッチング
処理して溶解除去し、図25に示すような、無電解銅め
っき膜25と電解銅めっき膜29とからなる厚さ18μm
の導体回路30(バイアホール31を含む)を形成し
た。
(14) After removing and removing the plating resist 28 with 5% KOH, the electroless plating film 25 under the plating resist 28 is dissolved and removed by etching with a mixed solution of sulfuric acid and hydrogen peroxide. As shown in FIG. 25, a thickness of 18 μm including the electroless copper plating film 25 and the electrolytic copper plating film 29
Of the conductor circuit 30 (including the via hole 31) was formed.

【0137】(15)(6) と同様の処理を行い、Cu-Ni-P か
らなる粗化面を形成し、更に、その表面にSn置換を行っ
た。(16)前記(7) 〜(15)の工程を繰り返すことにより、
更に上層の導体回路を形成し、多層配線基板を得た。
(15) The same treatment as in (6) was performed to form a roughened surface made of Cu-Ni-P, and the surface was further substituted with Sn. (16) By repeating the steps (7) to (15),
Further, an upper layer conductive circuit was formed to obtain a multilayer wiring board.

【0138】(17)表層の導体回路を、イミダゾール銅
(II)錯体10重量部、グリコール酸7重量部、塩化カ
リウム5重量部からなるエッチング液、メック社商品名
「メックエッチボンド」にて、スプレイを施して、搬送
ロールにて送ることでエッチング処理して、図26に示
すような厚さ3μmの粗化面32を形成した。この粗化
面には、スズ置換は行わなかった。
(17) The conductor circuit on the surface layer was treated with an etching solution comprising 10 parts by weight of an imidazole copper (II) complex, 7 parts by weight of glycolic acid, and 5 parts by weight of potassium chloride, using a trade name of “Mech etch bond” manufactured by Mec Corporation. Spraying was performed, and etching treatment was performed by feeding with a transport roll, thereby forming a roughened surface 32 having a thickness of 3 μm as shown in FIG. No tin substitution was performed on the roughened surface.

【0139】この粗化面を電子走査顕微鏡(×500
0)にて真上から測定すると、25μm2 の範囲に、図
4〜8に示すような錨状部1が平均11個、窪み部が平
均11個、稜線が平均22本確認された。
This roughened surface was taken with an electron scanning microscope (× 500
When measured from directly above at 0), in the range of 25 μm 2, an average of 11 anchor-like portions 1, 11 hollow portions and 22 ridge lines as shown in FIGS.

【0140】(18)一方、DMDGに溶解させた60重量%
のクレゾールノボラック型エポキシ樹脂(日本化薬製)
のエポキシ基50%をアクリル化した感光性付与のオリゴ
マー(分子量4000)を 46.67g、メチルエチルケトンに
溶解させた80重量%のビスフェノールA型エポキシ樹脂
(油化シェル製、エピコート1001)15.0g、イミダゾー
ル硬化剤(四国化成製、2E4MZ-CN)1.6 g、感光性モノ
マーである多価アクリルモノマー(日本化薬製、R604
)3g、同じく多価アクリルモノマー(共栄社化学
製、DPE6A ) 1.5g、分散系消泡剤(サンノプコ社製、
S−65)0.71gを混合し、更に、この混合物に対して光
開始剤としてのベンゾフェノン(関東化学製)を2g、
光増感剤としてのミヒラーケトン(関東化学製)を 0.2
g加えて、粘度を25℃で 2.0Pa・sに調整したソルダー
レジスト用組成物を得た。なお、粘度測定は、B型粘度
計(東京計器、 DVL-B型)で 60rpmの場合はローターN
o.4、6rpm の場合はローターNo.3によった。
(18) On the other hand, 60% by weight dissolved in DMDG
Cresol novolak epoxy resin (Nippon Kayaku)
46.67 g of a sensitizing oligomer (molecular weight 4000) obtained by acrylizing 50% of the epoxy groups of the above, 15.0 g of a 80% by weight bisphenol A type epoxy resin (Epicoat 1001 manufactured by Yuka Shell) dissolved in methyl ethyl ketone, and imidazole curing 1.6 g of an agent (2E4MZ-CN, manufactured by Shikoku Chemicals Co., Ltd.), a polyacrylic monomer (R604, manufactured by Nippon Kayaku, a photosensitive monomer)
3 g), 1.5 g of polyacrylic monomer (Kyoeisha Chemical, DPE6A), dispersion antifoaming agent (Sannopco,
S-65) 0.71 g, and 2 g of benzophenone (Kanto Chemical) as a photoinitiator was added to the mixture.
0.2 of Michler's ketone (Kanto Chemical) as photosensitizer
In addition, a composition for solder resist whose viscosity was adjusted to 2.0 Pa · s at 25 ° C. was obtained. The viscosity was measured using a B-type viscometer (Tokyo Keiki, DVL-B type) at 60 rpm with rotor N.
In the case of o.4 and 6 rpm, rotor No.3 was used.

【0141】(19)前記(16)で得られた多層配線基板の両
面に、図27に示すようにして、このソルダーレジスト
用組成物33を20μmの厚さで塗布した。次いで、70℃
で20分間、70℃で30分間の乾燥処理を行った後、図28
に示すように、円パターン(マスクパターン)34が描
画された厚さ5mmのフォトマスクフィルム35を密着さ
せて載置し、1000mJ/cm2 の紫外線で露光し、DMTG現像
処理した。そして、更に、80℃で1時間、 100℃で1時
間、 120℃で1時間、 150℃で3時間の条件で加熱処理
し、図29に示すように、はんだパッド部分36(バイ
アホールとそのランド部分37を含む)を開口した(開
口径 200μm)ソルダーレジスト層(厚み20μm)38
を形成し、プリント配線板39を製造した。
(19) The solder resist composition 33 was applied to both sides of the multilayer wiring board obtained in the above (16) in a thickness of 20 μm as shown in FIG. Then 70 ° C
28 for 30 minutes at 70 ° C.
As shown in FIG. 7, a 5 mm-thick photomask film 35 on which a circular pattern (mask pattern) 34 was drawn was placed in close contact, exposed to ultraviolet rays of 1000 mJ / cm 2 , and subjected to DMTG development processing. Then, heat treatment was further performed at 80 ° C. for 1 hour, at 100 ° C. for 1 hour, at 120 ° C. for 1 hour, and at 150 ° C. for 3 hours. As shown in FIG. A solder resist layer (thickness: 20 μm) having openings (including a land portion 37) (opening diameter: 200 μm)
Was formed, and the printed wiring board 39 was manufactured.

【0142】(20)次に、ソルダーレジスト層38を形成
した基板39を、塩化ニッケル30g/L、次亜リン酸ナ
トリウム10g/L、クエン酸ナトリウム10g/Lからな
るpH=5の無電解ニッケルめっき液に20分間浸漬し
て、図30に示すように、開口部36,37に厚さ5μ
mのニッケルめっき層40を形成した。更に、その基板
を、シアン化金カリウム2g/L、塩化アンモニウム75
g/L、クエン酸ナトリウム50g/L、次亜リン酸ナト
リウム10g/Lからなる無電解金めっき液に93℃の条件
で23秒間浸漬して、ニッケルめっき層40上に厚さ0.03
μmの金めっき層41を形成した。
(20) Next, the substrate 39 on which the solder resist layer 38 was formed was electroless nickel (pH = 5) consisting of 30 g / L of nickel chloride, 10 g / L of sodium hypophosphite, and 10 g / L of sodium citrate. Immersion in the plating solution for 20 minutes, as shown in FIG.
m of the nickel plating layer 40 was formed. Further, the substrate was washed with 2 g / L of potassium gold cyanide and 75 g of ammonium chloride.
g / L, sodium citrate 50 g / L, and sodium hypophosphite 10 g / L in an electroless gold plating solution at 93 ° C. for 23 seconds to form a 0.03 mm thick layer on the nickel plating layer 40.
A gold plating layer 41 of μm was formed.

【0143】(21)そして、ソルダーレジスト層38の開
口部に、はんだペーストを印刷して200℃でリフローす
ることによりはんだバンプ(はんだ体)42を形成し、
はんだバンプ42を有するプリント配線板43を製造し
た。なお、このプリント配線板では、通常配線(75μ
m線幅)と微細配線(50μm線幅)の部分を設け、微
細配線の部分では、更に、配線密度が疎(400μm間
隔)の部分と配線密度が密(50μm間隔)の部分を設
けた。
(21) Solder paste is printed on the opening of the solder resist layer 38 and reflowed at 200 ° C. to form a solder bump (solder body) 42.
A printed wiring board 43 having the solder bumps 42 was manufactured. In this printed wiring board, normal wiring (75 μm) was used.
(m line width) and fine wiring (50 μm line width) were provided. In the fine wiring part, a part having a low wiring density (interval of 400 μm) and a part having a high wiring density (interval of 50 μm) were provided.

【0144】実施例2 図31は、この例のプリント配線板の断面図である。こ
の例では、基本的には実施例1と同様であるが、工程(1
7)において、表層の導体回路(はんだパッド用導体回
路)の粗化面を、図9〜図12に示すような金属層51
で被覆した。金属としてはニッケルを用い、被覆には、
無電解めっきを用いた。得られたニッケル層の厚さは、
0.04μmであった。
Embodiment 2 FIG. 31 is a sectional view of a printed wiring board of this embodiment. This example is basically the same as Example 1, except that the process (1)
7), the roughened surface of the surface conductor circuit (solder pad conductor circuit) is replaced with a metal layer 51 shown in FIGS.
Covered. Nickel is used as the metal, and the coating is
Electroless plating was used. The thickness of the obtained nickel layer is
It was 0.04 μm.

【0145】また、この例では、工程(18)〜(21)によっ
て、ソルダーレジスト層38の開口部に、図31に示す
ような、ニッケル層51上のニッケルめっき層52と、
その上の金めっき層53とを介して、はんだバンプ(は
んだ体)54を形成した。
In this example, the steps (18) to (21) allow the nickel plating layer 52 on the nickel layer 51 to be formed in the opening of the solder resist layer 38 as shown in FIG.
A solder bump (solder body) 54 was formed via the gold plating layer 53 thereon.

【0146】実施例3 基本的に実施例2と同様であるが、はんだパッド用導体
回路の粗化面を被覆する金属層として、無電解めっきに
よるニッケル層の代わりに、置換めっきによるスズ層を
用いた。このスズ層の厚さは、0.03μmであった。
Example 3 Basically the same as Example 2, except that instead of a nickel layer formed by electroless plating, a tin layer formed by displacement plating was used as a metal layer covering the roughened surface of the conductor circuit for solder pads. Using. The thickness of this tin layer was 0.03 μm.

【0147】実施例4 基本的に実施例2と同様であるが、はんだパッド用導体
回路の粗化面を被覆する金属層として、無電解めっきに
よるニッケル層の代わりに、無電解めっきによる亜鉛層
を用いた。この亜鉛層の厚さは、0.05μmであっ
た。
Example 4 Basically the same as Example 2, except that a zinc layer formed by electroless plating was used instead of a nickel layer formed by electroless plating instead of a nickel layer formed by electroless plating. Was used. The thickness of the zinc layer was 0.05 μm.

【0148】実施例5 基本的に実施例2と同様であるが、はんだパッド用導体
回路の粗化面を被覆する金属層として、無電解めっきに
よるニッケル層の代わりに、蒸着による金属層を用い
た。この金属層は、鉄及びコバルトからなり、0.05
μmの厚さを有していた。
Example 5 Basically the same as Example 2, except that instead of a nickel layer formed by electroless plating, a metal layer formed by vapor deposition was used instead of a nickel layer formed by electroless plating. Was. This metal layer is composed of iron and cobalt,
It had a thickness of μm.

【0149】比較例1及び2 基本的に実施例1と同様であるが、比較例1では、表層
の導体回路に、酸化浴(黒化浴)として、NaOH(10g/
L)、NaClO2 (40g/L)、Na3PO4(6g/L)を用
い、還元浴として、NaOH(10g/L)、NaBH4 (6g/
L)を用いた黒化−還元処理にて粗化面を形成させた。
また、比較例2は、表層の導体回路に、硫酸銅3.2×
10-2モル/L、硫酸ニッケル3.9×10-3モル/
L、錯化剤5.4×10-2モル/L、次亜リン酸ナトリ
ウム3.3×10-1モル/L、界面活性剤(日信化学工
業製、サーフィール465)1.1×10-4モル/L、
PH=9からなる無電解めっき液より銅−ニッケル−リ
ンからなる針状合金によって粗化層を形成させた。比較
例1及び2のプリント配線板においても、実施例1と同
様の通常配線と微細配線の部分、配線密度が疎の部分と
配線密度が密の部分を設けた。
Comparative Examples 1 and 2 Basically the same as in Example 1, but in Comparative Example 1, NaOH (10 g /
L), NaClO 2 (40 g / L), Na 3 PO 4 (6 g / L), and NaOH (10 g / L), NaBH 4 (6 g / L)
A roughened surface was formed by a blackening-reduction treatment using L).
Further, in Comparative Example 2, a copper sulfate 3.2 ×
10 -2 mol / L, nickel sulfate 3.9 × 10 -3 mol / L
L, complexing agent 5.4 × 10 −2 mol / L, sodium hypophosphite 3.3 × 10 −1 mol / L, surfactant (Sufiru 465, manufactured by Nissin Chemical Industry) 1.1 × 10 -4 mol / L,
A roughened layer was formed from an electroless plating solution having a pH of 9 with an acicular alloy made of copper-nickel-phosphorus. Also in the printed wiring boards of Comparative Examples 1 and 2, the same portions of the normal wiring and the fine wiring as those of the first embodiment, the portion having the low wiring density and the portion having the high wiring density were provided.

【0150】比較例3 基本的に実施例2と同様であるが、表層の導体回路に、
酸化浴(黒化浴)として、NaOH(10g/L)、NaClO2
(40g/L)、Na3PO4(6g/L)を用い、還元浴とし
て、NaOH(10g/L)、NaBH4 (6g/L)を用いた黒
化−還元処理にて粗化面を形成させた。この例のプリン
ト配線板においても、実施例1と同様の通常配線と微細
配線の部分、配線密度が疎の部分と配線密度が密の部分
とを設けた。
Comparative Example 3 Basically the same as Example 2 except that the conductor circuit on the surface layer
As an oxidation bath (blackening bath), NaOH (10 g / L), NaClO 2
(40 g / L), Na 3 PO 4 (6 g / L), and a roughening surface by blackening-reduction treatment using NaOH (10 g / L) and NaBH 4 (6 g / L) as a reducing bath. Formed. Also in the printed wiring board of this example, the same portions as those of the first embodiment, that is, the portion of the normal wiring and the fine wiring, the portion having the low wiring density, and the portion having the high wiring density were provided.

【0151】比較例4 基本的に実施例2と同様であるが、表層の導体回路に、
硫酸銅3.2×10-2モル/L、硫酸ニッケル3.9×
10-3モル/L、錯化剤5.4×10-2モル/L、次亜
リン酸ナトリウム3.3×10-1モル/L、界面活性剤
(日信化学工業製、サーフィール465)1.1×10
-4モル/L、PH=9からなる無電解めっき液より銅−
ニッケル−リンからなる針状合金によって粗化層を形成
させた。この例のプリント配線板においても、実施例1
と同様の通常配線と微細配線の部分、配線密度が疎の部
分と配線密度が密の部分とを設けた。
Comparative Example 4 Basically the same as Example 2, except that the conductor circuit on the surface layer
3.2 × 10 -2 mol / L copper sulfate, 3.9 × nickel sulfate
10 −3 mol / L, complexing agent 5.4 × 10 −2 mol / L, sodium hypophosphite 3.3 × 10 −1 mol / L, surfactant (Surfir 465, manufactured by Nissin Chemical Industry Co., Ltd.) ) 1.1 × 10
-4 mol / L, PH = 9
The roughened layer was formed by a needle-like alloy made of nickel-phosphorus. Also in the printed wiring board of this example, the first embodiment
The same normal wiring and fine wiring, a low wiring density part, and a high wiring density part were provided.

【0152】ソルダーレジスト層の剥がれ試験 実施例1、比較例1及び2で製造したプリント基板につ
いて、ソルダーレジスト層形成後と信頼性試験(ヒート
サイクル条件)後に、ソルダーレジスト層の剥がれを試
験した。なお、導体回路間の接続不良の有無を、配線密
度が疎と密の部分で比較し、開口部底部の有機残さの残
りを確認した。結果を表1に示す。
Solder Resist Layer Peeling Test The printed circuit boards produced in Example 1 and Comparative Examples 1 and 2 were tested for solder resist layer peeling after forming the solder resist layer and after a reliability test (heat cycle conditions). In addition, the presence or absence of the connection failure between the conductor circuits was compared in a portion where the wiring density was low and in a portion where the wiring density was low, and the remaining organic residue at the bottom of the opening was confirmed. Table 1 shows the results.

【0153】[0153]

【表1】 [Table 1]

【0154】表1に示すように、実施例1のプリント配
線板では、レジスト層の剥がれや、導体回路の接続不良
の発生がなく、有機残さの残りも発見されなかった。比
較例1のプリント配線板では、ヒートサイクル後に配線
密度が疎の部分で剥がれが発生し、比較例2のプリント
配線板では、導体回路の接続不良が発生し、開口部底部
に有機残さ残りが確認された。
As shown in Table 1, in the printed wiring board of Example 1, no peeling of the resist layer and no connection failure of the conductor circuit occurred, and no organic residue was found. In the printed wiring board of Comparative Example 1, peeling occurred in a portion where the wiring density was low after the heat cycle, and in the printed wiring board of Comparative Example 2, connection failure of the conductor circuit occurred, and the organic residue remained at the bottom of the opening. confirmed.

【0155】ソルダーレジスト層の剥がれ試験及びはん
だバンプの剥がれ試験 実施例2〜5、比較例3及び4で製造したプリント基板
について、はんだバンプ形成後と信頼性試験(ヒートサ
イクル条件)後に、ソルダーレジスト層及びはんだバン
プの剥がれ、クラックなどを検査し、はんだバンプのピ
ール強度を測定し、また、チェッカーにて導通試験を行
い、断線、短絡の有無を判定した。結果を表2に示す。
Test for peeling solder resist layer and soldering
Peeling test Examples 2-5 bump it, the printed circuit board produced in Comparative Example 3 and 4, after the reliability test and after the solder bump formation (heat cycle condition), peeling of the solder resist layer and solder bumps, cracks, etc. Inspection, the peel strength of the solder bump was measured, and a continuity test was performed with a checker to determine the presence or absence of disconnection or short circuit. Table 2 shows the results.

【0156】[0156]

【表2】 [Table 2]

【0157】表2に示すように、実施例2〜5のプリン
ト配線板は、比較例3及び5の配線板と比べ、いずれ
も、ソルダーレジスト層及びはんだバンプの剥がれ、ク
ラックがなく、導通試験及びはんだボールのシェアー強
度に優れていた。また、信頼性試験後も、ソルダーレジ
スト層及びはんだバンプの強度が十分に保て、断線、短
絡等が無かった。
As shown in Table 2, the printed wiring boards of Examples 2 to 5 had no peeling of the solder resist layer and the solder bumps, no cracks, and the continuity test as compared with the wiring boards of Comparative Examples 3 and 5. And the shear strength of the solder ball was excellent. Further, even after the reliability test, the strength of the solder resist layer and the solder bump was sufficiently maintained, and there was no disconnection or short circuit.

【0158】[0158]

【発明の効果】上述したように、本発明のプリント配線
板では、所定形状の粗化面がはんだパッド用導体回路の
表面に形成されており、この粗化面を介してソルダーレ
ジスト層が強固に密着しており、はんだバンプ形成部で
ソルダーレジスト層が除去されて、導体回路とソルダー
レジスト層との接触面積が少なくなった場合や、導体回
路が微細配線からなり、配線密度が疎の状態でも、導体
回路とソルダーレジスト層との十分な密着性を確保する
ことができる。
As described above, in the printed wiring board of the present invention, the roughened surface of the predetermined shape is formed on the surface of the conductor circuit for the solder pad, and the solder resist layer is firmly formed through the roughened surface. When the solder resist layer is removed at the solder bump formation part and the contact area between the conductor circuit and the solder resist layer is reduced, or when the conductor circuit is made of fine wiring and the wiring density is low However, sufficient adhesion between the conductor circuit and the solder resist layer can be ensured.

【0159】また、本発明のプリント配線板では、はん
だバンプ形成用の開口部に露出する粗化面上に、ソルダ
ーレジスト樹脂の残さが残らず、バンプ下金属との密着
性に優れ、はんだバンプ形成部に導通不良を引き起こさ
ない。
Further, in the printed wiring board of the present invention, no residue of the solder resist resin remains on the roughened surface exposed at the opening for forming the solder bump, the adhesiveness to the metal under the bump is excellent, and the solder bump It does not cause conduction failure in the formed part.

【0160】さらに、本発明のプリント配線板は、はん
だパッド用導体回路の粗化面が金属層で被覆されること
によって、ソルダーレジスト層との密着性やバンプ下金
属との密着性に優れた形状及び強度が保持されているの
で、はんだバンプの強度が著しく高まり、はんだバンプ
の脱落を防止することができる。
Furthermore, the printed wiring board of the present invention has excellent adhesion to the solder resist layer and adhesion to the metal under the bumps by coating the roughened surface of the conductor circuit for solder pads with a metal layer. Since the shape and the strength are maintained, the strength of the solder bump is remarkably increased, and the falling off of the solder bump can be prevented.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明にかかる一例の粗化面の図面代用写真
である。
FIG. 1 is a drawing substitute photograph of a roughened surface according to an example of the present invention.

【図2】 本発明にかかる他の例の粗化面の図面代用写
真である。
FIG. 2 is a drawing substitute photograph of a roughened surface of another example according to the present invention.

【図3】 本発明にかかる更に他の例の粗化面の図面代
用写真である。
FIG. 3 is a drawing substitute photograph of a roughened surface of still another example according to the present invention.

【図4】 本発明にかかる粗化面の摸式図である。FIG. 4 is a schematic view of a roughened surface according to the present invention.

【図5】 本発明にかかる粗化面の摸式図である。FIG. 5 is a schematic view of a roughened surface according to the present invention.

【図6】 本発明にかかる粗化面の摸式図である。FIG. 6 is a schematic view of a roughened surface according to the present invention.

【図7】 本発明にかかる粗化面の摸式図である。FIG. 7 is a schematic diagram of a roughened surface according to the present invention.

【図8】 本発明にかかる粗化面の摸式図である。FIG. 8 is a schematic view of a roughened surface according to the present invention.

【図9】 本発明にかかる他の粗化面の断面図である。FIG. 9 is a cross-sectional view of another roughened surface according to the present invention.

【図10】 本発明にかかる他の粗化面の断面図であ
る。
FIG. 10 is a sectional view of another roughened surface according to the present invention.

【図11】 本発明にかかる他の粗化面の断面図であ
る。
FIG. 11 is a cross-sectional view of another roughened surface according to the present invention.

【図12】 本発明にかかる他の粗化面の断面図であ
る。
FIG. 12 is a cross-sectional view of another roughened surface according to the present invention.

【図13】 本発明にかかる一例の多層プリント配線板
の製造工程図である。
FIG. 13 is a manufacturing process diagram of an example of a multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図14】 本発明にかかる一例の多層プリント配線板
の製造工程図である。
FIG. 14 is a manufacturing process diagram of an example of a multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図15】 本発明にかかる一例の多層プリント配線板
の製造工程図である。
FIG. 15 is a manufacturing process diagram of an example of a multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図16】 本発明にかかる一例の多層プリント配線板
の製造工程図である。
FIG. 16 is a manufacturing process diagram of an example of a multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図17】 本発明にかかる一例の多層プリント配線板
の製造工程図である。
FIG. 17 is a manufacturing process diagram of an example of a multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図18】 本発明にかかる一例の多層プリント配線板
の製造工程図である。
FIG. 18 is a manufacturing process diagram of an example of a multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図19】 本発明にかかる一例の多層プリント配線板
の製造工程図である。
FIG. 19 is a manufacturing process diagram of an example of a multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図20】 本発明にかかる一例の多層プリント配線板
の製造工程図である。
FIG. 20 is a manufacturing process diagram of an example of a multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図21】 本発明にかかる一例の多層プリント配線板
の製造工程図である。
FIG. 21 is a manufacturing process diagram of an example of a multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図22】 本発明にかかる一例の多層プリント配線板
の製造工程図である。
FIG. 22 is a manufacturing process diagram of an example of a multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図23】 本発明にかかる一例の多層プリント配線板
の製造工程図である。
FIG. 23 is a manufacturing process diagram of an example of a multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図24】 本発明にかかる一例の多層プリント配線板
の製造工程図である。
FIG. 24 is a manufacturing process diagram of an example of a multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図25】 本発明にかかる一例の多層プリント配線板
の製造工程図である。
FIG. 25 is a manufacturing process diagram of an example of a multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図26】 本発明にかかる一例の多層プリント配線板
の製造工程図である。
FIG. 26 is a manufacturing process diagram of an example of a multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図27】 本発明にかかる一例の多層プリント配線板
の製造工程図である。
FIG. 27 is a manufacturing process diagram of an example of a multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図28】 本発明にかかる一例の多層プリント配線板
の製造工程図である。
FIG. 28 is a manufacturing process diagram of an example of a multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図29】 本発明にかかる一例の多層プリント配線板
の製造工程図である。
FIG. 29 is a manufacturing process diagram of the multilayer printed wiring board as an example according to the present invention.

【図30】 本発明にかかる一例の多層プリント配線板
の製造工程図である。
FIG. 30 is a manufacturing process diagram of an example of a multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図31】 本発明にかかる他の例の多層プリント配線
板の断面図である。
FIG. 31 is a sectional view of another example of a multilayer printed wiring board according to the present invention.

【図32】 針状合金からなる粗化層の図面代用写真で
ある。
FIG. 32 is a drawing substitute photograph of a roughened layer made of a needle-shaped alloy.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 錨状部 2 窪み部 3 稜線 4 基板 5 銅箔 6 銅張積層板 7 ドリル孔 8 内層銅パターン(下層導体回路) 9 スルーホール 10,10a,11,11a,23,24,32 粗化
面 12,15,18 配線基板 13,14 樹脂層 16,17 粗化層 19 接着剤層 20,26 黒円 21,35 フォトマスクフィルム 22 開口(バイアホール形成用開口) 25 無電解銅めっき膜 27 感光性ドライフィルム 28 めっきレジスト 29 電解銅めっき膜 30 導体回路 31 バイアホール 33 ソルダーレジスト用組成物 34 円パターン(マスクパターン) 36 はんだパッド部分 37 バイアホールとそのランド部分 38 ソルダーレジスト層 39,43 プリント配線板 40,52 ニッケルめっき層 41,53 金めっき層 42,54 はんだバンプ(はんだ体) 51 金属層
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Anchor part 2 Depression part 3 Ridge line 4 Substrate 5 Copper foil 6 Copper clad laminated board 7 Drill hole 8 Inner layer copper pattern (lower conductor circuit) 9 Through hole 10, 10a, 11, 11a, 23, 24, 32 Roughened surface 12, 15, 18 Wiring board 13, 14 Resin layer 16, 17 Roughened layer 19 Adhesive layer 20, 26 Black circle 21, 35 Photomask film 22 Opening (opening for forming via hole) 25 Electroless copper plating film 27 Photosensitive Conductive dry film 28 Plating resist 29 Electrolytic copper plating film 30 Conductor circuit 31 Via hole 33 Composition for solder resist 34 Circular pattern (mask pattern) 36 Solder pad part 37 Via hole and land part thereof 38 Solder resist layer 39, 43 Printed wiring Plates 40,52 Nickel plating layer 41,53 Gold plating layer 42,54 Bumps (solder body) 51 metal layer

Claims (17)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 はんだパッド用導体回路と前記はんだパ
ッド用導体回路上のソルダーレジスト層とを備えてお
り、はんだ体を設けるための開口部が前記ソルダーレジ
スト層に形成されているプリント配線板において、 前記はんだパッド用導体回路が、第二銅錯体と有機酸と
を含有するエッチング液によって処理された粗化面を有
しており、前記ソルダーレジスト層が前記粗化面上に設
けられていることを特徴とする、プリント配線板。
1. A printed wiring board comprising: a conductor circuit for solder pads; and a solder resist layer on the conductor circuit for solder pads, wherein an opening for providing a solder body is formed in the solder resist layer. The solder pad conductor circuit has a roughened surface that is treated with an etchant containing a cupric complex and an organic acid, and the solder resist layer is provided on the roughened surface. A printed wiring board, characterized in that:
【請求項2】 はんだパッド用導体回路と前記はんだパ
ッド用導体回路上のソルダーレジスト層とを備えてお
り、はんだ体を設けるための開口部が前記ソルダーレジ
スト層に形成されているプリント配線板において、 前記はんだパッド用導体回路が粗化面を有しており、前
記粗化面が複数の錨状部と窪み部と稜線とを有し、前記
錨状部と前記窪み部と前記稜線とが分散形成されてな
り、隣り合う前記錨状部が前記稜線によって繋がってな
るとともに、前記窪み部が、前記錨状部と前記稜線とに
よって囲まれてなり、前記ソルダーレジスト層が前記粗
化面上に設けられていることを特徴とする、プリント配
線板。
2. A printed wiring board comprising: a solder pad conductor circuit; and a solder resist layer on the solder pad conductor circuit, wherein an opening for providing a solder body is formed in the solder resist layer. The conductor circuit for a solder pad has a roughened surface, the roughened surface has a plurality of anchors, dents, and ridges, and the anchors, the dents, and the ridges are It is formed in a dispersed manner, and the adjacent anchor-shaped portions are connected by the ridge line, and the dent portion is surrounded by the anchor-shaped portion and the ridge line, and the solder resist layer is formed on the roughened surface. A printed wiring board characterized by being provided in a printed circuit board.
【請求項3】 はんだパッド用導体回路と前記はんだパ
ッド用導体回路上のソルダーレジスト層とを備えてお
り、はんだ体を設けるための開口部が前記ソルダーレジ
スト層に形成されているプリント配線板において、 前記はんだパッド用導体回路が、第二銅錯体と有機酸と
を含有するエッチング液によって処理された粗化面を有
しており、前記粗化面が、チタン、亜鉛、鉄、インジウ
ム、タリウム、コバルト、ニッケル、スズ、鉛、ビスマ
ス及び貴金属からなる群より選ばれる少なくとも1種の
金属の金属層によって被覆されており、前記ソルダーレ
ジスト層が前記粗化面上に設けられていることを特徴と
する、プリント配線板。
3. A printed wiring board comprising: a conductor circuit for a solder pad; and a solder resist layer on the conductor circuit for a solder pad, wherein an opening for providing a solder body is formed in the solder resist layer. The solder pad conductor circuit has a roughened surface treated with an etching solution containing a cupric complex and an organic acid, and the roughened surface is formed of titanium, zinc, iron, indium, and thallium. , A metal layer of at least one metal selected from the group consisting of cobalt, nickel, tin, lead, bismuth and a noble metal, and the solder resist layer is provided on the roughened surface. The printed wiring board.
【請求項4】 はんだパッド用導体回路と前記はんだパ
ッド用導体回路上のソルダーレジスト層とを備えてお
り、はんだ体を設けるための開口部が前記ソルダーレジ
スト層に形成されているプリント配線板において、 前記はんだパッド用導体回路が粗化面を有しており、前
記粗化面が複数の錨状部と窪み部と稜線とを有し、前記
錨状部と前記窪み部と前記稜線とが分散形成されてな
り、隣り合う前記錨状部が前記稜線によって繋がってな
るとともに、前記窪み部が、前記錨状部と前記稜線とに
よって囲まれてなり、前記粗化面が、チタン、亜鉛、
鉄、インジウム、タリウム、コバルト、ニッケル、ス
ズ、鉛、ビスマス及び貴金属からなる群より選ばれる少
なくとも1種の金属の金属層によって被覆されており、
前記ソルダーレジスト層が前記粗化面上に設けられてい
ることを特徴とする、プリント配線板。
4. A printed wiring board comprising: a conductor circuit for solder pads; and a solder resist layer on the conductor circuit for solder pads, wherein an opening for providing a solder body is formed in the solder resist layer. The conductor circuit for a solder pad has a roughened surface, the roughened surface has a plurality of anchors, dents, and ridges, and the anchors, the dents, and the ridges are Being formed in a dispersed manner, the adjacent anchor-shaped portions are connected by the ridge line, and the dent portion is surrounded by the anchor-shaped portion and the ridge line, and the roughened surface is titanium, zinc,
Iron, indium, thallium, cobalt, nickel, tin, lead, bismuth and coated with a metal layer of at least one metal selected from the group consisting of noble metals,
The printed wiring board, wherein the solder resist layer is provided on the roughened surface.
【請求項5】 前記はんだパッド用導体回路の線幅が、
50μm以下であることを特徴とする、請求項1〜4の
いずれか一項記載のプリント配線板。
5. The conductor circuit for a solder pad according to claim 5, wherein
The printed wiring board according to claim 1, wherein the thickness is 50 μm or less.
【請求項6】 前記金属層が、0.01〜1μmの厚み
を有することを特徴とする、請求項3〜5のいずれか一
項記載のプリント配線板。
6. The printed wiring board according to claim 3, wherein the metal layer has a thickness of 0.01 to 1 μm.
【請求項7】 前記窪み部が、金属結晶粒子のエッチン
グによって形成されていることを特徴とする、請求項2
又は4記載のプリント配線板。
7. The method according to claim 2, wherein the depression is formed by etching metal crystal particles.
Or the printed wiring board according to 4.
【請求項8】 前記窪み部が、略多面体形状に抉られて
いることを特徴とする、請求項2又は4記載のプリント
配線板。
8. The printed wiring board according to claim 2, wherein the recess is hollowed out in a substantially polyhedral shape.
【請求項9】 前記稜線が、隣り合う金属結晶粒子の脱
落によって形成されていることを特徴とする、請求項2
又は4記載のプリント配線板。
9. The method according to claim 2, wherein the ridge line is formed by dropping of adjacent metal crystal particles.
Or the printed wiring board according to 4.
【請求項10】 前記稜線が枝分かれしていることを特
徴とする、請求項2又は4記載のプリント配線板。
10. The printed wiring board according to claim 2, wherein the ridge line is branched.
【請求項11】 前記稜線が尖っていることを特徴とす
る、請求項2又は4記載のプリント配線板。
11. The printed wiring board according to claim 2, wherein the ridge is sharp.
【請求項12】 前記錨状部が、前記錨状部の周囲の金
属結晶粒子のエッチングによって形成されていることを
特徴とする、請求項2又は4記載のプリント配線板。
12. The printed wiring board according to claim 2, wherein the anchor-shaped portion is formed by etching metal crystal particles around the anchor-shaped portion.
【請求項13】 前記各錨状部が各々分散しており、前
記錨状部が、前記窪み部と前記稜線とによって囲まれて
いることを特徴とする、請求項2又は4記載のプリント
配線板。
13. The printed wiring according to claim 2, wherein each of the anchor-shaped portions is dispersed, and the anchor-shaped portion is surrounded by the recessed portion and the ridge line. Board.
【請求項14】 前記粗化面が、0.5〜10μmの最
大粗度(Rmax)を有することを特徴とする、請求項
1〜4のいずれか一項記載のプリント配線板。
14. The printed wiring board according to claim 1, wherein the roughened surface has a maximum roughness (Rmax) of 0.5 to 10 μm.
【請求項15】 前記粗化面が、25μm2 当り、平均
2〜100個の前記錨状部と、平均2〜100個の前記
窪み部とを有していることを特徴とする、請求項2又は
4記載のプリント配線板。
15. The roughened surface has an average of 2 to 100 anchor portions and an average of 2 to 100 recesses per 25 μm 2. 5. The printed wiring board according to 2 or 4.
【請求項16】 はんだパッド用導体回路と前記はんだ
パッド用導体回路上のソルダーレジスト層とを備えてお
り、はんだ体を設けるための開口部が前記ソルダーレジ
スト層に形成されているプリント配線板を得るにあた
り、 前記はんだパッド用導体回路を、第二銅錯体と有機酸と
を含有するエッチング液によって処理し、前記はんだパ
ッド用導体回路上に粗化面を形成し、前記粗化面を、チ
タン、亜鉛、鉄、インジウム、タリウム、コバルト、ニ
ッケル、スズ、鉛、ビスマス及び貴金属からなる群より
選ばれる少なくとも1種の金属の金属層により被覆し、
前記金属層上に前記ソルダーレジスト層を設けることを
特徴とする、プリント配線板の製造方法。
16. A printed wiring board comprising a solder pad conductor circuit and a solder resist layer on the solder pad conductor circuit, wherein an opening for providing a solder body is formed in the solder resist layer. In obtaining, the conductor circuit for a solder pad is treated with an etchant containing a cupric complex and an organic acid to form a roughened surface on the conductor circuit for a solder pad, and the roughened surface is formed of titanium. , Coated with a metal layer of at least one metal selected from the group consisting of zinc, iron, indium, thallium, cobalt, nickel, tin, lead, bismuth and noble metals,
A method for manufacturing a printed wiring board, comprising: providing the solder resist layer on the metal layer.
【請求項17】 前記粗化面に、50〜250℃の範囲
内で熱処理を行い、前記金属層を被覆することを特徴と
する、請求項16記載のプリント配線板の製造方法。
17. The method for manufacturing a printed wiring board according to claim 16, wherein the roughened surface is heat-treated at a temperature in the range of 50 to 250 ° C. to cover the metal layer.
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