JP2000082211A - Production of substrate for information recording medium and information recording medium - Google Patents

Production of substrate for information recording medium and information recording medium

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JP2000082211A
JP2000082211A JP11186059A JP18605999A JP2000082211A JP 2000082211 A JP2000082211 A JP 2000082211A JP 11186059 A JP11186059 A JP 11186059A JP 18605999 A JP18605999 A JP 18605999A JP 2000082211 A JP2000082211 A JP 2000082211A
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molten salt
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information recording
glass
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隆 渡邊
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To continuously carry out uniform treatment for inhibiting the leaching of glass components from a glass-base substrate for a long time while maintaining the effect of the treatment by bringing the substrate into contact with a molten salt contg. at least a hydrogensulfate and/or a pyrosulfate and inhibiting the crystallization of the molten salt. SOLUTION: The pyrosulfate is a salt of pyrosulfuric acid (H2S2O7) and the hydrogensulfate is that of an alkali metal, an alkaline earth metal, ammonium or the like. A substrate for an information recording medium is immersed in the molten salt or only one face of the substrate is brought into contact with the molten salt. The temp. of the molten salt is preferably the melting temp. or liq. phase temp. to 500 deg.C and below the sublimation temp. of the molten salt. The crystallization of the molten salt is inhibited by feeding water to the molten salt or replenishing the water lost from the molten salt. The degeneration of the glass surface and the occurrence of foreign matter due to the migration of alkali metal ions to the surface are prevented.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、情報記録媒体用基
板の製造方法及び情報記録媒体等に関する。
The present invention relates to a method for manufacturing a substrate for an information recording medium, an information recording medium, and the like.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、情報記録媒体用基板として、他の
材料と比較して各種特性に優れるガラス基板やセラミッ
ク基板が注目されている。詳しくは、磁気ディスク用基
板としては、アルミニウム基板が多く用いられていた
が、磁気ディスクの小型化、薄板化や磁気ヘッドの低浮
上化の要請に伴い、アルミニウム基板に比べ小型化、薄
板化が容易で平坦度が高く磁気ヘッドの低浮上化等が容
易であるため、ガラス基板やセラミック基板を用いる割
合が増えてきている。
2. Description of the Related Art In recent years, as substrates for information recording media, glass substrates and ceramic substrates which are more excellent in various characteristics than other materials have been receiving attention. In detail, aluminum substrates were often used as substrates for magnetic disks.However, with the demand for smaller and thinner magnetic disks and lower flying height of magnetic heads, smaller and thinner aluminum substrates have been used. Since the magnetic head is easy, has high flatness, and is easy to lower the flying height of the magnetic head, the ratio of using a glass substrate or a ceramic substrate is increasing.

【0003】情報記録媒体用基板としてガラス基板を用
いる場合、耐衝撃性や耐振動性を向上させ衝撃や振動に
よって基板が破損するのを防止する目的で、ガラス基板
表面に化学強化処理を施して強度向上を図る場合が多
い。化学強化処理としては、例えば、ガラス中のアルカ
リイオンを、それよりもイオン半径の大きいアルカリイ
オンと置換し、イオン交換部の容積増加によってガラス
表層に強い圧縮応力を発生させてガラス表面を強化する
方法(イオン交換法)等による場合が多い。イオン交換
法を用いて化学強化を行う場合、その原理上アルカリイ
オンを含有したガラス基板を使用する必要がある。な
お、アルカリイオンを含有した情報記録媒体用ガラス基
板の中には、化学強化処理を施さなくても所定の強度を
有する硝種(例えば、高原子価ガラスなど)もある。
When a glass substrate is used as a substrate for an information recording medium, the surface of the glass substrate is subjected to a chemical strengthening treatment for the purpose of improving the shock resistance and vibration resistance and preventing the substrate from being damaged by the shock or vibration. In many cases, the strength is improved. As the chemical strengthening treatment, for example, alkali ions in the glass are replaced with alkali ions having a larger ionic radius, and a strong compressive stress is generated in the glass surface layer by increasing the volume of the ion exchange part, thereby strengthening the glass surface. Method (ion exchange method) or the like in many cases. When chemical strengthening is performed using an ion exchange method, it is necessary to use a glass substrate containing alkali ions in principle. In addition, among glass substrates for information recording media containing alkali ions, there are glass types (for example, high-valent glass and the like) having a predetermined strength even without being subjected to a chemical strengthening treatment.

【0004】情報記録媒体用基板としてセラミック(例
えば、結晶化ガラス)基板を用いる場合は、結晶化によ
って耐衝撃性や耐振動性が向上するので、通常化学強化
処理は必要としない。
When a ceramic (for example, crystallized glass) substrate is used as a substrate for an information recording medium, the crystallization improves the shock resistance and vibration resistance, so that chemical strengthening is not usually required.

【0005】情報記録媒体用基板としてガラスやセラミ
ック基板を用いる場合、ガラスやセラミック基板に含ま
れるアルカリの溶出が問題となることが多く、アルカリ
の溶出を極力抑えることが望ましい。イオン交換処理後
のガラス基板についてもアルカリの溶出が問題となる。
When a glass or ceramic substrate is used as a substrate for an information recording medium, the elution of alkali contained in the glass or ceramic substrate often poses a problem, and it is desirable to minimize the elution of alkali. Elution of alkali also becomes a problem for the glass substrate after the ion exchange treatment.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】上述したように、情報
記録媒体用基板としてガラスやセラミック基板を用いる
場合、アルカリの溶出が問題となるが、アルカリの溶出
を高いレべルで抑制する技術はほとんど開発されていな
い。
As described above, when a glass or ceramic substrate is used as a substrate for an information recording medium, the elution of alkali becomes a problem. However, a technique for suppressing the elution of alkali at a high level is known. Hardly developed.

【0007】本発明は上記背景の下になされたものであ
り、ガラス基板からのアルカリや他の成分の溶出を高い
レべルで抑制できるとともに、処理の効果を持続しつつ
長期間連続して均一に処理できる情報記録媒体用基板の
製造方法等の提供を目的とする。
The present invention has been made under the above-mentioned background, and it is possible to suppress the elution of alkali and other components from a glass substrate at a high level, and to continue the treatment effect for a long period of time. An object of the present invention is to provide a method for manufacturing a substrate for an information recording medium that can be uniformly processed.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本願出願人は、アルカリ
イオンを含有した情報記録媒体用ガラス基板を、硫酸水
素塩等の溶融塩に浸漬して処理することで、アルカリの
溶出を著しく抑えることができることを見出し既に出願
を行っている(特願平9−365326号)。ここで、
ガラス基板を硫酸水素塩等の溶融塩に浸漬して処理する
とガラス基板からのアルカリの溶出を高いレべルで抑制
できる理由(メカニズム)は、ガラスの最表面層にある
Si−O−Naの非架橋状態から、硫酸水素塩中に含ま
れる水分から生じるヒドロニウムイオンとSi−O−N
aのNa+とがイオン交換し、シラノール基(Si−O
−H)となり、その後加熱によってシラノール基が脱水
されてガラス表面でSi−O−Siの架橋化がなされる
ためであると考えられる。本発明者らは、さらに研究を
重ねた結果、硫酸水素塩(例えばKHSO4)等の溶融
塩で処理を続けていくと、水分が蒸発し、ピロ硫酸塩
(例えばK227)の結晶が析出し、処理の効果が低
下することを見出した(例えば、2KHSO 4→K22
7+H2O↑の反応が起こりKHSO4がK227にな
ってしまう)。そして、処理液に水分を補うことで、処
理の効果を持続しつつ長期間連続して均一に処理できる
ことを見出し本発明を完成するに至った。また、これら
の効果は、ガラスやセラミックの種類によらず、例えば
結晶化ガラスについても効果があることも見出した。さ
らに、アルカリだけでなく、アルカリ土類、Si、Pb
など他の溶出成分についても溶出を抑えることができる
ことを見出した。アルカリ土類、Si等の溶出抑制効果
に関する具体的なデータを表1及び表2に示す。表1及
び表2から、ピロ硫酸塩の溶融塩、及び硫酸水素塩の溶
融塩による処理が効果的であることがわかる。なお、溶
出試験は、ガラス基板を80℃に加熱した超純水中に2
4時間浸漬し、溶出成分をイオンクロマトグラフィで定
量し、ガラス基板当たりのアルカリ金属イオンの溶出量
(μmol/Disk)求めた。
Means for Solving the Problems The applicant of the present invention is an alkali
The glass substrate for the information recording medium containing ions is
By immersing in molten salt such as elementary salt and treating,
Already filed for finding that elution can be suppressed significantly
(Japanese Patent Application No. 9-365326). here,
Treatment by immersing glass substrate in molten salt such as hydrogen sulfate
Elution of alkali from glass and glass substrates at a high level
The possible reason (mechanism) lies in the outermost layer of glass
From the non-crosslinked state of Si-O-Na, contained in hydrogen sulfate
Hydronium Ion and Si-ON
Na of a+Undergoes ion exchange with a silanol group (Si-O
-H), after which the silanol groups are dehydrated by heating
And cross-linking of Si-O-Si is performed on the glass surface
It is thought that it is. The present inventors have further studied
As a result of the superposition, hydrogen sulfate (for example, KHSOFour) Etc.
As the treatment continues with salt, water evaporates and pyrosulfate
(Eg KTwoSTwoO7) Crystals are precipitated, and the treatment effect is low.
(For example, 2KHSO Four→ KTwoSTwo
O7+ HTwoO ↑ reaction occurs and KHSOFourIs KTwoSTwoO7Nana
). Then, the processing solution is supplemented with water to provide
Process for a long period of time while maintaining the effect of
This led to the completion of the present invention. Also these
The effect of irrespective of the type of glass or ceramic, for example,
It has also been found that crystallized glass is effective. Sa
Besides, not only alkali but also alkaline earth, Si, Pb
And other elution components can be suppressed.
I found that. Elution suppression effect of alkaline earth, Si etc.
Tables 1 and 2 show specific data regarding the above. Table 1 and
Table 2 shows that the pyrosulfate salt and bisulfate salt
It turns out that the treatment with the molten salt is effective. In addition,
The outflow test was performed by placing the glass substrate in ultrapure water heated to 80 ° C.
Immerse for 4 hours and determine elution components by ion chromatography
Of alkali metal ions per glass substrate
(Μmol / Disk).

【0009】[0009]

【表1】 [Table 1]

【0010】[0010]

【表2】 [Table 2]

【0011】なお、ガラス成分のアルカリは情報記録媒
体用ガラス基板だけでなく、光学ガラスやガラス食器の
ヤケの原因にもなるため、光学レンズ、プリズム、光学
フィルター、光導波路、光モジュール、光学素子や光学
部品、ディスプレイ用ガラス、太陽電池用基板ガラス、
半導体用基板ガラス、イメージセンサ用基板ガラス、電
子部品、転写マスク、ガラス食器等、耐侯性の良いガラ
ス製品を得る上でも本願発明の硫酸水素塩等の溶融塩に
よる処理は有効である。
The alkali of the glass component causes not only the glass substrate for the information recording medium but also the burnt of the optical glass and the glass tableware. Therefore, the optical lens, the prism, the optical filter, the optical waveguide, the optical module, the optical element, etc. And optical components, display glass, solar cell substrate glass,
The treatment with a molten salt such as hydrogen sulfate of the present invention is effective in obtaining a glass product having good weather resistance, such as a substrate glass for a semiconductor, a substrate glass for an image sensor, an electronic component, a transfer mask, and a glass tableware.

【0012】なお、公表特許公報(特表平11−503
403号)には、基板表面の脱アルカリをAlCl3
存在下に湿式で行うか、または(NH42SO4のよう
な硫酸塩の昇華により行う技術が開示されている。しか
しながら、AlCl3を用いた場合は処理温度が100
℃と低いため、実施例にもあるとおり処理時間が24時
間と長くなる。一方、硫酸塩の昇華により脱アルカリを
行う場合は硫酸塩を気体にしなければならないため、実
施例のように450〜580℃と高温を要する。それに
対し本願発明は硫酸塩を、それ自身が熔解する温度で溶
融塩として接触させることにより脱アルカリ処理をする
ため、比較的低い温度(実施例では250〜300℃)
で、かつ5分程度の短時間での処理が可能である。その
ため、Tg温度が低いガラスなど、広いTg範囲のガラ
スを処理することができる、或いは低温処理のためガラ
ス基板の変形を招くこともない、といったメリットを有
する。具体的には本願発明はガラス基板のTgが400
℃付近のものまで適用可能である。情報記録媒体用ガラ
ス基板と磁気ヘッドの間隔は40〜50nmなので、ガ
ラス基板が変形するとクラッシュを起こしてしまうとい
った問題が生じるので、情報記録媒体用ガラス基板にお
けるガラスの変形は大きな問題となる。また、特表平1
1−503403号公報においては、500℃で化学強
化処理したガラスを500℃で(NH42SO4により
脱アルカリ処理しているが、化学強化処理と同じ温度で
脱アルカリ処理すると応力の緩和が起こり、ガラス基板
の強度が低下してしまい、情報記録媒体用ガラス基板の
強度低下を招く。それに対し、本願発明は化学強化処理
よりも80〜130℃低い温度で脱アルカリ処理してお
り、かつ、処理時間も5分と短いので、応力の緩和は殆
ど起こらない。また、硫酸塩の昇華では気体になるた
め、密閉した状態で処理しなければならず、連続操業が
難しいが、本願発明は液体のため密閉する必要がなく、
連続操業が容易であり、かつ、脱アルカリの際に溶融塩
の結晶化を抑制する処理を行うため、連続操業をして
も、持続した脱アルカリの効果を得ることが可能であ
る。
Incidentally, the published patent publication (Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 11-503)
No. 403) discloses a technique for removing alkali from a substrate surface in the presence of AlCl 3 by a wet method or by sublimation of a sulfate such as (NH 4 ) 2 SO 4 . However, when AlCl 3 is used, the processing temperature is 100
Since the temperature is as low as ° C., the processing time becomes as long as 24 hours as in the example. On the other hand, when the alkali is removed by sublimation of the sulfate, the sulfate must be converted into a gas, so that a high temperature of 450 to 580 ° C. is required as in the embodiment. On the other hand, in the present invention, the sulfate is contacted as a molten salt at a temperature at which the sulfate itself melts to carry out the dealkalization treatment.
And processing in a short time of about 5 minutes is possible. Therefore, there is an advantage that glass having a wide Tg range, such as glass having a low Tg temperature, can be processed, or the glass substrate is not deformed due to low-temperature processing. Specifically, in the present invention, the glass substrate has a Tg of 400.
Applicable up to around ° C. Since the distance between the glass substrate for the information recording medium and the magnetic head is 40 to 50 nm, a problem such as a crash occurs when the glass substrate is deformed. Therefore, the deformation of the glass in the glass substrate for the information recording medium is a serious problem. In addition, Tokio Table 1
In Japanese Patent Laid-Open No. 1-503403, glass chemically strengthened at 500 ° C. is subjected to dealkalization treatment at 500 ° C. with (NH 4 ) 2 SO 4. This causes a decrease in the strength of the glass substrate, resulting in a decrease in the strength of the glass substrate for the information recording medium. On the other hand, in the present invention, the dealkalization treatment is performed at a temperature lower by 80 to 130 ° C. than the chemical strengthening treatment, and the treatment time is as short as 5 minutes, so that stress relaxation hardly occurs. In addition, since the sulfate sublimation becomes a gas, it must be treated in a sealed state, and continuous operation is difficult, but the present invention does not need to be sealed for a liquid,
Continuous operation is easy, and a treatment for suppressing crystallization of the molten salt during dealkalization is performed. Therefore, even if continuous operation is performed, it is possible to obtain a sustained effect of dealkalization.

【0013】本発明は以下の構成としてある。The present invention has the following configuration.

【0014】(構成1)情報記録媒体用のガラスを主成
分とした基板を、少なくとも硫酸水素塩及び/又はピロ
硫酸塩を含有する溶融塩に接触させて、ガラス成分の溶
出を抑制する処理を行う際に、溶融塩の結晶化を抑制す
る処理を施すことを特徴とする情報記録媒体用基板の製
造方法。
(Structure 1) A process for suppressing the elution of glass components by bringing a substrate mainly composed of glass for an information recording medium into contact with a molten salt containing at least hydrogen sulfate and / or pyrosulfate. A method for producing a substrate for an information recording medium, which comprises performing a process for suppressing crystallization of a molten salt when performing the process.

【0015】(構成2)前記溶融塩に接触させてガラス
成分の溶出を抑制する処理、及び溶融塩の結晶化を抑制
する処理を、ガラス基板の化学強化処理後に行い、前記
溶融塩による処理を化学強化処理温度より少なくとも5
0℃低い温度で行うことを特徴とする構成1記載の情報
記録媒体用基板の製造方法。
(Structure 2) The treatment for suppressing the elution of the glass component by contacting with the molten salt and the treatment for suppressing the crystallization of the molten salt are performed after the chemical strengthening treatment of the glass substrate, and the treatment with the molten salt is performed. At least 5 above the chemical strengthening temperature
The method for producing a substrate for an information recording medium according to Configuration 1, wherein the method is performed at a temperature lower by 0 ° C.

【0016】(構成3)前記溶融塩に接触させてガラス
成分の溶出を抑制する処理を、該溶融塩の昇華温度未満
で行うことを特徴とする構成1又は2記載の情報記録媒
体用基板の製造方法。
(Structure 3) The information recording medium substrate according to Structure 1 or 2, wherein the treatment of contacting the molten salt to suppress the elution of the glass component is performed at a temperature lower than the sublimation temperature of the molten salt. Production method.

【0017】(構成4)溶出を抑制するガラス成分が、
アルカリイオンであることを特徴とする構成1乃至3の
いずれかに記載の情報記録媒体用基板の製造方法。
(Structure 4) The glass component that suppresses elution is
4. The method for manufacturing a substrate for an information recording medium according to any one of Configurations 1 to 3, wherein the substrate is an alkali ion.

【0018】(構成5)溶融塩の結晶化を抑制する処理
が、溶融塩に水分を供給する処理であることを特徴とす
る構成1乃至4のいずれかに記載の情報記録媒体用基板
の製造方法。
(Structure 5) The method for manufacturing a substrate for an information recording medium according to any one of structures 1 to 4, wherein the treatment for suppressing crystallization of the molten salt is a treatment for supplying water to the molten salt. Method.

【0019】(構成6)溶融塩の結晶化を抑制する処理
が、溶融塩から失われる水分を補う処理であることを特
徴とする構成1乃至5のいずれかに記載の情報記録媒体
用基板の製造方法。
(Structure 6) The information recording medium substrate according to any one of Structures 1 to 5, wherein the treatment for suppressing crystallization of the molten salt is a treatment for compensating for water lost from the molten salt. Production method.

【0020】(構成7)硫酸水素塩及び/又はピロ硫酸
塩を含有する溶融塩が、さらに硫酸を加えてなる溶融塩
であることを特徴とする構成1乃至6のいずれかに記載
の情報記録媒体用基板の製造方法。
(Structure 7) The information recording according to any one of Structures 1 to 6, wherein the molten salt containing hydrogen sulfate and / or pyrosulfate is a molten salt obtained by further adding sulfuric acid. A method for manufacturing a medium substrate.

【0021】(構成8)水分の供給方法又は水分を補う
方法が、溶融塩中に水蒸気を導入する方法であることを
特徴とする構成5又は6記載の情報記録媒体用基板の製
造方法。
(Structure 8) The method for manufacturing a substrate for an information recording medium according to Structure 5 or 6, wherein the method of supplying or supplementing the moisture is a method of introducing steam into the molten salt.

【0022】(構成9)水分の供給方法又は水分を補う
方法が、溶融塩を水蒸気雰囲気下に置く方法であること
を特徴とする構成5又は6記載の情報記録媒体用基板の
製造方法。
(Structure 9) The method for manufacturing a substrate for an information recording medium according to Structure 5 or 6, wherein the method of supplying or supplementing the moisture is a method of placing a molten salt in a steam atmosphere.

【0023】(構成10)水分の供給方法又は水分を補
う方法が、溶融塩に硫酸水素塩を添加する方法であるこ
とを特徴とする構成5又は6記載の情報記録媒体用基板
の製造方法。
(Structure 10) The method for manufacturing a substrate for an information recording medium according to Structure 5 or 6, wherein the method of supplying or supplementing the water is a method of adding hydrogen sulfate to the molten salt.

【0024】(構成11)溶融塩の温度が、溶融温度又
は液相温度〜500℃であって、かつ溶融塩の昇華温度
未満であることを特徴とする構成1乃至10のいずれか
に記載の情報記録媒体用基板の製造方法。
(Structure 11) The structure according to any one of structures 1 to 10, wherein the temperature of the molten salt is from the melting temperature or the liquidus temperature to 500 ° C. and lower than the sublimation temperature of the molten salt. A method for manufacturing a substrate for an information recording medium.

【0025】(構成12)構成1乃至11記載のいずれ
かに記載の情報記録媒体用基板の製造方法によって、ガ
ラス表面が、Si−O−Naの非架橋状態から、Si−
O−NaのNa+がヒドロニウムイオンとイオン交換さ
れて水和状態になり、その後、加熱脱水によってシラノ
ール基が形成され、そのシラノール基が脱水されて、ガ
ラス表面でSi−O−Siの架橋化がなされた状態にす
ることを特徴とする情報記録媒体用基板の製造方法。
(Structure 12) According to the method for manufacturing an information recording medium substrate according to any one of Structures 1 to 11, the glass surface is changed from the non-crosslinked state of Si—O—Na to Si—O—Na.
Na + of O—Na is ion-exchanged with hydronium ions to be in a hydrated state, and thereafter, a silanol group is formed by heating and dehydration, and the silanol group is dehydrated, and cross-linking of Si—O—Si occurs on the glass surface. A method for manufacturing a substrate for an information recording medium, wherein

【0026】(構成13)構成1乃至11記載のいずれ
かに記載の情報記録媒体用基板の製造方法によって、ガ
ラス基板表面を、Si−O−Naの非架橋状態から、S
i−O−Siの架橋化がなされた状態にすることを特徴
とする情報記録媒体用基板の製造方法。
(Structure 13) According to the method for manufacturing an information recording medium substrate according to any one of Structures 1 to 11, the surface of the glass substrate is changed from the non-crosslinked state of Si—O—Na to S
A method for producing a substrate for an information recording medium, wherein i-O-Si is crosslinked.

【0027】(構成14)情報記録媒体用基板が、化学
強化処理を施されたガラス基板であることを特徴とする
構成1乃至13のいずれかに記載の情報記録媒体用基板
の製造方法。
(Structure 14) The method for manufacturing an information recording medium substrate according to any one of Structures 1 to 13, wherein the information recording medium substrate is a glass substrate subjected to a chemical strengthening treatment.

【0028】(構成15)情報記録媒体用基板が、結晶
化ガラス基板であることを特徴とする構成1乃至13の
いずれかに記載の情報記録媒体用基板の製造方法。
(Structure 15) The method for manufacturing an information recording medium substrate according to any one of structures 1 to 13, wherein the information recording medium substrate is a crystallized glass substrate.

【0029】(構成16)情報記録媒体用基板が、磁気
抵抗型ヘッドで再生される磁気ディスクに使用される基
板であることを特徴とする構成1乃至15のいずれかに
記載の情報記録媒体用基板の製造方法。
(Structure 16) The information recording medium substrate according to any one of structures 1 to 15, wherein the information recording medium substrate is a substrate used for a magnetic disk reproduced by a magnetoresistive head. Substrate manufacturing method.

【0030】(構成17)構成1乃至16のいずれかに
記載の情報記録媒体用基板の製造方法を用いて得られた
情報記録媒体用基板上に、少なくとも記録層を形成した
ことを特徴とする情報記録媒体。
(Structure 17) At least a recording layer is formed on an information recording medium substrate obtained by using the method for manufacturing an information recording medium substrate according to any one of Structures 1 to 16. Information recording medium.

【0031】(構成18)ガラスを主成分とした製品
を、少なくとも硫酸水素塩及び/又はピロ硫酸塩を含有
する溶融塩に接触させて、ガラス成分の溶出を抑制する
処理を行う際に、溶融塩の結晶化を抑制する処理を施す
ことを特徴とするガラス製品の製造方法。
(Constitution 18) When a product containing glass as a main component is brought into contact with a molten salt containing at least hydrogen sulfate and / or pyrosulfate to suppress the elution of glass components, A method for producing a glass product, which comprises performing a treatment for suppressing crystallization of a salt.

【0032】(構成19)前記溶融塩に接触させてガラ
ス成分の溶出を抑制する処理を、該溶融塩の昇華温度未
満で行うことを特徴とする構成18に記載のガラス製品
の製造方法。
(Structure 19) The method for manufacturing a glass product according to Structure 18, wherein the treatment of contacting the molten salt to suppress the elution of the glass component is performed at a temperature lower than the sublimation temperature of the molten salt.

【0033】[0033]

【作用】本発明では、情報記録媒体用基板を、硫酸水素
塩等の溶融塩に浸漬して処理することで、アルカリの溶
出を著しく抑えることができる。したがって、アルカリ
金属イオンの表面への移動に起因するガラス表面の変質
(ヤケ等)や異物の発生を著しく抑制できる。特に本発
明では、処理液に水分を補うことで、水分が蒸発しピロ
硫酸塩の結晶が析出して処理の効果が低下することがな
く、処理の効果を持続しつつ長期間連続して均一に処理
できる。また、アルカリ土類、Si、Pbなど他の溶出
成分についても溶出を抑えることができる。この結果、
耐水性や耐酸性等の向上を図ることができる。
According to the present invention, the elution of alkali can be remarkably suppressed by immersing the substrate for an information recording medium in a molten salt such as hydrogen sulfate and treating. Therefore, it is possible to remarkably suppress the deterioration (burn, etc.) and the generation of foreign substances on the glass surface due to the movement of the alkali metal ions to the surface. In particular, in the present invention, by supplementing the processing solution with water, the water does not evaporate and the crystals of pyrosulfate do not precipitate and the effect of the treatment does not decrease. Can be processed. Further, elution of other elution components such as alkaline earth, Si, and Pb can be suppressed. As a result,
Improvements in water resistance, acid resistance, and the like can be achieved.

【0034】また、本発明の情報記録媒体によれば、ア
ルカリやその他の成分の溶出を著しく抑えたガラス基板
を使用しているので、耐候性及び寿命に優れ高い信頼性
を有する情報記録媒体を製造できる。
Further, according to the information recording medium of the present invention, since a glass substrate in which the elution of alkali and other components is remarkably suppressed is used, an information recording medium having excellent weather resistance and life and high reliability is provided. Can be manufactured.

【0035】さらに、本発明のガラス製品及びその製造
方法によれば、アルカリやその他の成分の溶出を著しく
抑えた製品が得られるので、耐候性及び寿命に優れ高い
信頼性を有するガラス製品が得られる。
Furthermore, according to the glass product of the present invention and the method for producing the same, it is possible to obtain a product in which the elution of alkalis and other components is significantly suppressed, so that a glass product excellent in weather resistance and life and having high reliability is obtained. Can be

【0036】[0036]

【発明の実施の形態】以下、本発明を詳細に説明する。BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Hereinafter, the present invention will be described in detail.

【0037】本発明の情報記録媒体用基板の製造方法に
おいては、情報記録媒体用のガラスを主成分とした基板
を、少なくとも硫酸水素塩及び/又はピロ硫酸塩を含有
する溶融塩に接触させて、ガラス成分の溶出を抑制する
処理を行う際に、溶融塩の結晶化を抑制する処理を施す
ことを特徴とする。
In the method of manufacturing a substrate for an information recording medium according to the present invention, a substrate mainly composed of glass for an information recording medium is brought into contact with a molten salt containing at least hydrogen sulfate and / or pyrosulfate. When performing the treatment for suppressing the elution of the glass component, a treatment for suppressing crystallization of the molten salt is performed.

【0038】ここで、溶融塩の結晶化を抑制する処理と
しては、いかなる手段を採用してもよいが、例えば、溶
融塩に水分を供給する方法(溶融塩にもとから含まれる
水分量にかかわらず積極的に水分を供給する場合を含
む)、又は、溶融塩から失われる水分を補う方法などが
挙げられる。溶融塩の結晶化を抑制する処理としては、
水分を供給又は補う方法以外の方法として、水分が蒸発
するのを蒸気圧又は圧力で防止する方法、処理槽を密閉
する方法などがある。なお、処理槽の周囲を密閉空間で
覆い、この密閉空間を加湿して水分を供給するとともに
溶融塩からの蒸発を抑える方法を採用する場合、処理槽
の周囲を密閉するためには多くの費用がかかり、また、
溶融塩から発生するSOxを排気する必要があることか
ら、注意が必要である。
As a treatment for suppressing crystallization of the molten salt, any method may be employed. For example, a method of supplying water to the molten salt (for example, a method of supplying water to the molten salt, Irrespective of the case where water is actively supplied), or a method of compensating for water lost from the molten salt. The treatment for suppressing the crystallization of the molten salt includes:
As a method other than the method of supplying or supplementing moisture, there are a method of preventing evaporation of moisture by vapor pressure or pressure, a method of sealing a treatment tank, and the like. If a method is used in which the periphery of the treatment tank is covered with a closed space, and the enclosed space is humidified to supply water and suppress evaporation from the molten salt, a large amount of cost is required to seal the periphery of the treatment tank. It takes
Care must be taken because it is necessary to exhaust SO x generated from the molten salt.

【0039】溶融塩の結晶化を抑制する処理は、基板と
溶融塩を接触させる前、接触させている最中のどちらで
行ってもよい。また、処理液を処理槽から外部に循環さ
せて、外部で溶融塩の結晶化を抑制する処理を行い、処
理槽には結晶化が阻止された処理液が流入するシステム
を採用することもできる。
The treatment for suppressing the crystallization of the molten salt may be carried out before or during the contact between the substrate and the molten salt. Further, a system in which the processing solution is circulated from the processing tank to the outside to suppress crystallization of the molten salt from the outside and a processing solution into which the crystallization is prevented flows into the processing tank may be employed. .

【0040】溶融塩に水分を供給する方法、又は、溶融
塩から失われる水分を補う方法として、より具体的に
は、以下の方法が挙げられる。
As a method for supplying water to the molten salt or a method for compensating for water lost from the molten salt, more specifically, the following methods can be mentioned.

【0041】第一に、溶融塩中に水蒸気を導入する方法
が挙げられる。この場合、例えば、スチームの吹き出し
ノズルを溶融塩中に挿入し、ノズルから公知の方法で発
生させたスチームをバブリングさせて、水分を供給又は
補えばよい。より具体的には、例えば、図1に示すよう
に、密閉容器1に入れた水2を例えば100℃前後に加
熱し、密閉容器中の水にエアー供給管3から空気を供給
し、湿った空気をスチーム管4を通して加熱して例えば
280℃前後のスチームを発生させ、処理槽5内の溶融
塩6中にスチーム管4の先端のノズルからスチームを供
給し、水分を供給又は補えばよい。水蒸気の温度は、溶
融塩の温度が下がり結晶化してしまうのを防ぐという観
点からは、溶融塩の温度付近が好ましい。
First, there is a method of introducing steam into the molten salt. In this case, for example, a steam blowing nozzle may be inserted into the molten salt, and steam generated from the nozzle by a known method may be bubbled to supply or supplement moisture. More specifically, for example, as shown in FIG. 1, water 2 contained in a closed container 1 is heated to, for example, about 100 ° C., and air is supplied from the air supply pipe 3 to the water in the closed container to make the container 2 wet. The air may be heated through the steam pipe 4 to generate steam at, for example, about 280 ° C., and steam may be supplied into the molten salt 6 in the treatment tank 5 from the nozzle at the tip of the steam pipe 4 to supply or supplement moisture. The temperature of the steam is preferably around the temperature of the molten salt from the viewpoint of preventing the temperature of the molten salt from decreasing and crystallizing.

【0042】第二に、溶融塩を水蒸気雰囲気下に置く方
法が挙げられる。この場合、例えば、図2に示すよう
に、溶融塩6の上部に配置したスチーム管4の先端のノ
ズルから溶融塩6に向かってスチームを噴射し、水分を
供給又は補えばよい。
Second, there is a method of placing the molten salt under a steam atmosphere. In this case, for example, as shown in FIG. 2, steam may be injected toward the molten salt 6 from a nozzle at the tip of the steam pipe 4 disposed above the molten salt 6 to supply or supplement moisture.

【0043】第三に、溶融塩に硫酸水素塩や、硫酸水素
塩の水和物などを添加して溶融塩の結晶化を阻止する方
法が挙げられる。この場合は、溶融塩の容量が増加す
る。
Third, there is a method in which crystallization of the molten salt is prevented by adding a hydrogen sulfate or a hydrate of the hydrogen sulfate to the molten salt. In this case, the capacity of the molten salt increases.

【0044】その他の方法として、溶融塩に直接水を供
給する方法があるが、この場合、高温の溶融塩中に水を
入れると水蒸気爆発を起こすので、溶融塩の温度を一旦
常温付近まで下げ、水を入れてゆっくりと反応させた
後、処理温度まで再度昇温する必要がある。
As another method, there is a method of directly supplying water to the molten salt. In this case, if water is introduced into a high-temperature molten salt, a steam explosion occurs. After adding water, the mixture is allowed to react slowly, and then it is necessary to raise the temperature to the processing temperature again.

【0045】本発明において、ピロ硫酸塩は、ピロ硫酸
(H227)の塩で、二硫酸イオン(S27)とアル
カリ金属、アルカリ土類金属、その他の金属、アンモニ
ウム等との化合物である。2モルの硫酸水素塩から1モ
ルの水が取れるとピロ硫酸塩となる。硫酸水素塩を融解
させて溶融塩とすると、水を失ってピロ硫酸塩となる。
この場合、水は蒸発するが、溶融塩中に僅かに残存する
水がアルカリ溶出防止のメカニズムに関与する。
In the present invention, the pyrosulfate is a salt of pyrosulfuric acid (H 2 S 2 O 7 ), which is disulfuric acid (S 2 O 7 ) and an alkali metal, an alkaline earth metal, other metals, ammonium, etc. And the compound When one mole of water is removed from two moles of hydrogen sulfate, it becomes pyrosulfate. When bisulfate is melted to form a molten salt, it loses water and becomes pyrosulfate.
In this case, water evaporates, but water slightly remaining in the molten salt contributes to the mechanism of preventing alkali elution.

【0046】ピロ硫酸塩としては、アルカリ金属、アル
カリ土類金属、アンモニウム、亜鉛、タリウム(I)、
鉛(II)、鉄(II)、ウラニルなどの塩が挙げられ
る。安全性、環境保護、経済性及び取り扱い性等の観点
からは、ピロ硫酸カリウム、ピロ硫酸ナトリウムなどが
好ましい。硫酸水素塩としては、アルカリ金属(Li、
Na、K、Rb、Cs)、アルカリ土類金属(Mg、C
a、Sr、Ba)、アンモニウム、タリウム、鉛、バナ
ジウム、ビスマス、ロジウムなどの塩が挙げられる。安
全性等の観点からは、硫酸水素カリウム、硫酸水素ナト
リウムなどが好ましい。
Examples of the pyrosulfate include alkali metals, alkaline earth metals, ammonium, zinc, thallium (I),
Salts such as lead (II), iron (II), uranyl and the like can be mentioned. Potassium pyrosulfate, sodium pyrosulfate, and the like are preferable from the viewpoints of safety, environmental protection, economy, and handleability. As the hydrogen sulfate, alkali metals (Li,
Na, K, Rb, Cs), alkaline earth metals (Mg, C
a, Sr, Ba), ammonium, thallium, lead, vanadium, bismuth, rhodium and the like. From the viewpoint of safety and the like, potassium hydrogen sulfate, sodium hydrogen sulfate and the like are preferable.

【0047】硫酸水素塩及び/又はピロ硫酸塩は、それ
ぞれ一種単独を用いることができ、硫酸水素塩とピロ硫
酸塩とを混合して用いることもできる。また、硫酸水素
塩及び/又はピロ硫酸塩は、それぞれ二種以上の異なる
塩を混合して用いることができる。この場合、混合割合
は適宜調整できる。さらに、本発明の効果を損なわない
範囲で他の成分を溶融塩に添加することもできる。
The hydrogen sulfate and / or pyrosulfate can be used alone or in a mixture of hydrogen sulfate and pyrosulfate. The hydrogen sulfate and / or pyrosulfate can be used by mixing two or more different salts. In this case, the mixing ratio can be appropriately adjusted. Further, other components can be added to the molten salt as long as the effects of the present invention are not impaired.

【0048】ピロ硫酸塩は硫酸塩に硫酸を加えることに
よっても得られるので、硫酸塩に硫酸を加えてピロ硫酸
塩を作っても良い。硫酸水素塩等の塩で処理を長期的に
行うと、ガラスから取り除かれたアルカリにより硫酸塩
の結晶が溶融塩中に析出するが、硫酸塩の結晶は硫酸を
加えることにより硫酸水素塩及び/又はピロ硫酸塩に戻
すことができる。硫酸は硫酸水素塩等による溶融塩処理
に支障をきたさないので、硫酸塩の結晶が析出する前
に、溶融塩中に加えて処理を行っても良い。
Since pyrosulfate can be obtained by adding sulfuric acid to sulfate, pyrosulfate may be prepared by adding sulfuric acid to sulfate. When the treatment with a salt such as hydrogen sulfate is carried out for a long period of time, the crystals of the sulfate precipitate in the molten salt due to the alkali removed from the glass, but the crystals of the sulfate are added to the hydrogen sulfate and / or Alternatively, it can be returned to pyrosulfate. Since sulfuric acid does not hinder the treatment of the molten salt with hydrogen sulfate or the like, the treatment may be performed by adding it to the molten salt before the crystals of the sulfate are precipitated.

【0049】溶融塩に「接触」させるとは、情報記録媒
体用基板を溶融塩に浸漬する場合の他、情報記録媒体用
基板の一方の面だけを溶融塩と接触させる場合も含む。
The term "contact" with the molten salt includes not only the case where the information recording medium substrate is immersed in the molten salt but also the case where only one surface of the information recording medium substrate is brought into contact with the molten salt.

【0050】溶融塩の温度は、塩の溶融温度又は液相温
度以上であれば良く、また、塩の昇華温度未満であれば
よい。アルカリの溶出を抑制する効果の点では、温度に
それほど依存しないが、250〜300℃以上とする
と、アルカリの溶出がゼロになるかあるいはゼロに近く
なるので好ましい。一方、ガラス表面の青ヤケによって
表面硬度などが低下し、記録層を形成して情報記録媒体
としたときの長期的な信頼性において問題となるため、
350℃〜500℃以下とすることが好ましい。500
℃を上限としたのは、500℃を超えると溶融塩の分解
が起こり易いからである。なお、イオン交換によって化
学強化されたガラスの化学強化層が消失し強度が低下す
ることを考慮すると、化学強化ガラスの場合は、300
℃〜350℃以下とすることが好ましい。以上のような
観点から、溶融塩の温度は、溶融温度又は液相温度〜5
00℃でかつ溶融塩の昇華温度未満(より好ましくは溶
融温度又は液相温度〜350℃)であることが好まし
く、化学強化していないガラスについては250℃〜3
50℃(さらに好ましくは270℃〜350℃)である
ことがより好ましく、化学強化したガラスについては2
50℃〜300℃(さらに好ましくは270℃〜300
℃)であることがより好ましい。なお、ピロ硫酸カリの
融点は325℃(文献値)であるが一般にはその一部が
水分を吸収して硫酸水素塩となるため210〜300℃
でも溶融状態にある。このように実際の溶融温度は融点
とは異なることがある。硫酸水素カリウムの融点は21
0℃である。硫酸水素ナトリウムの融点は185.7℃
である。
The temperature of the molten salt may be higher than the melting temperature or liquidus temperature of the salt, and may be lower than the sublimation temperature of the salt. In terms of the effect of suppressing the alkali elution, the temperature does not depend so much on the temperature. However, it is preferable to set the temperature to 250 to 300 ° C. or higher because the alkali elution becomes zero or close to zero. On the other hand, the surface hardness and the like are reduced due to blue burn on the glass surface, which causes a problem in long-term reliability when the recording layer is formed and used as an information recording medium.
The temperature is preferably set to 350 ° C. to 500 ° C. or lower. 500
The reason why the upper limit is set to ℃ is that when the temperature exceeds 500 ℃, decomposition of the molten salt is likely to occur. In consideration of the fact that the chemically strengthened layer of glass chemically strengthened by ion exchange disappears and the strength decreases, in the case of chemically strengthened glass, 300
It is preferable that the temperature is set to be lower than or equal to 350C. From the above viewpoint, the temperature of the molten salt is from the melting temperature or the liquidus temperature to 5
The temperature is preferably 00 ° C. and less than the sublimation temperature of the molten salt (more preferably, the melting temperature or the liquidus temperature to 350 ° C.).
The temperature is more preferably 50 ° C. (more preferably 270 ° C. to 350 ° C.).
50 ° C to 300 ° C (more preferably 270 ° C to 300 ° C)
C). Although the melting point of potassium pyrosulfate is 325 ° C. (literature value), it is generally in the range of 210 to 300 ° C. because a part of it absorbs moisture and becomes hydrogen sulfate.
But it is in a molten state. Thus, the actual melting temperature may be different from the melting point. The melting point of potassium hydrogen sulfate is 21
0 ° C. Sodium bisulfate has a melting point of 185.7 ° C
It is.

【0051】溶融塩による処理時間は、アルカリの溶出
を抑制する効果の点では、処理時間にそれほど依存しな
い。例えば、5分程度以上であれば処理時間を長くして
もアルカリの溶出を抑制する効果に大きな差異がない。
このようなことから、溶融塩による処理時間は、1〜3
0分程度が好ましく、処理効率や生産性等を考慮すると
5〜10分程度がより好ましい。
The treatment time with the molten salt does not depend much on the treatment time in terms of the effect of suppressing the elution of alkali. For example, if the treatment time is longer than about 5 minutes, there is no significant difference in the effect of suppressing alkali elution even if the treatment time is increased.
Thus, the treatment time with the molten salt is 1 to 3
It is preferably about 0 minutes, and more preferably about 5 to 10 minutes in consideration of processing efficiency and productivity.

【0052】なお、硫酸水素塩等の溶融塩による処理
は、情報記録媒体用基板に損傷を与えることがない。ま
た、ピロ硫酸塩等の溶融塩による処理によれば、鉄粉等
のコンタミを除去する効果があり、化学強化処理に伴う
析出溶融塩を除去する効果もある。
The treatment with a molten salt such as hydrogen sulfate does not damage the information recording medium substrate. Further, the treatment with a molten salt such as pyrosulfate has an effect of removing contaminants such as iron powder, and also has an effect of removing a deposited molten salt accompanying the chemical strengthening treatment.

【0053】本発明において、ガラスを主成分とする基
板(ガラスを主成分とする製品)とは、ガラス、アモル
ファスガラス、ガラスセラミック、結晶化ガラス、ガラ
スとセラミックとの複合材料等からなるものを指す。ガ
ラス基板としては、SiO2を骨格とするガラスが一般
的であり、アルカリイオンを含有するものと、アルカリ
イオンを含有しないものがある。結晶化ガラスは、情報
記録媒体用基板として用いる場合はアルカリイオンを含
有したものが多いが、結晶化ガラスには、アルカリイオ
ンを含有しないものもある。情報記録媒体用基板のサイ
ズ、厚さ、形状等は特に制限されない。
In the present invention, a substrate mainly composed of glass (a product composed mainly of glass) is made of glass, amorphous glass, glass ceramic, crystallized glass, or a composite material of glass and ceramic. Point. As the glass substrate, glass having SiO 2 as a skeleton is generally used, and there are a glass substrate containing alkali ions and a glass substrate containing no alkali ions. Crystallized glass often contains alkali ions when used as a substrate for an information recording medium. However, some crystallized glass does not contain alkali ions. The size, thickness, shape, and the like of the information recording medium substrate are not particularly limited.

【0054】アルカリイオンを含有したガラス基板とし
ては、例えば、アルミノシリケートガラス、高原子価金
属イオン(例えば、Ti、Yなど)含有シリケートガラ
ス(高ヤング率ガラス)、ソーダライムガラス、ソーダ
アルミノシリケートガラス、アルミノボロシリケートガ
ラス、ボロシリケートガラス、チェーンシリケートガラ
スなどが挙げられる。なお、アルミノシリケートガラス
等は耐衝撃性や耐振動性を向上させるために化学強化す
ることが好ましい。ただし、化学強化を必要としないア
ルカリイオンを含有したガラス基板の場合、化学強化は
不要である。
Examples of the glass substrate containing alkali ions include aluminosilicate glass, silicate glass (high Young's modulus glass) containing high valence metal ions (eg, Ti, Y, etc.), soda lime glass, soda aluminosilicate glass , Aluminoborosilicate glass, borosilicate glass, chain silicate glass and the like. Preferably, the aluminosilicate glass or the like is chemically strengthened in order to improve impact resistance and vibration resistance. However, in the case of a glass substrate containing an alkali ion that does not require chemical strengthening, chemical strengthening is unnecessary.

【0055】アルミノシリケートガラスとしては、Si
2:62〜75重量%、Al23:5〜15重量%、
Li2O:4〜10重量%、Na2O:4〜12重量%、
ZrO2:5.5〜15重量%を主成分として含有する
とともに、Na2O/ZrO2の重量比が0.5〜2.
0、Al23/ZrO2の重量比が0.4〜2.5であ
る化学強化用ガラス、あるいは、SiO2:62〜75
重量%、Al23:5〜15重量%、B23:0.5〜
5重量%、Li2O:4〜10重量%、Na2O:4〜1
2重量%、MgO:0.5〜5重量%、CaO:0.5
〜5重量%、Sb 23:0.01〜1.0重量%を主成
分として含有する化学強化用ガラス等が好ましい。ま
た、ZrO2の未溶解物が原因で生じるガラス基板表面
の突起をなくすためには、モル%表示で、SiO2を5
7〜74%、ZrO2を0〜2.8%、Al23を3〜
15%、LiO2を7〜16%、Na2Oを4〜14%含
有する化学強化用ガラス等を使用することが好ましい。
このような組成のアルミノシリケートガラスは、化学強
化することによって、圧縮応力、引張応力、圧縮応力層
の深さの三者をバランス良く制御できるとともに、抗折
強度や、耐熱性に優れ、高温環境下であってもNa等の
析出が少ないとともに平坦性を維持し、ヌープ硬度にも
優れる。
As the aluminosilicate glass, Si
OTwo: 62 to 75% by weight, AlTwoOThree: 5 to 15% by weight,
LiTwoO: 4 to 10% by weight, NaTwoO: 4 to 12% by weight,
ZrOTwo: Containing 5.5 to 15% by weight as a main component
With NaTwoO / ZrOTwoIs 0.5 to 2.
0, AlTwoOThree/ ZrOTwoWeight ratio of 0.4 to 2.5
Glass for chemical strengthening or SiOTwo: 62-75
Wt%, AlTwoOThree: 5 to 15% by weight, BTwoOThree: 0.5 ~
5% by weight, LiTwoO: 4 to 10% by weight, NaTwoO: 4-1
2% by weight, MgO: 0.5 to 5% by weight, CaO: 0.5
~ 5% by weight, Sb TwoOThree: Mainly 0.01 to 1.0% by weight
Glass for chemical strengthening contained as a component is preferred. Ma
ZrOTwoGlass substrate surface caused by undissolved material
In order to eliminate the protrusion ofTwo5
7-74%, ZrOTwoFrom 0 to 2.8%, AlTwoOThree3 to
15%, LiOTwo7-16%, NaTwoContains 4 to 14% O
It is preferable to use glass or the like for chemical strengthening.
Aluminosilicate glass having such a composition is chemically strong.
Compressive stress, tensile stress, compressive stress layer
The depth of the three can be controlled in a well-balanced manner,
Excellent strength and heat resistance, such as Na even under high temperature environment
Preservation of flatness with little precipitation, and also Knoop hardness
Excellent.

【0056】結晶化ガラス基板としては、主結晶相とし
て二珪酸リチウム(Li2O・2SiO2)及びαクオー
ツ(SiO2)を有する結晶化ガラスや、主結晶相とし
てカリウム・フロロリヒテライト(KNaCaMg5
8222)及びカリウム・カサナイト(K3Na3Ca
5Si12304)を有するガラス等がある。具体的な組
成としては、前者の場合、SiO2:60〜86重量
%、Li2O:8〜18重量%、K2O:0〜10重量
%、MgO:0〜8重量%、ZnO:0〜10重量%、
Sb23:0〜2重量%、P25:0.1〜10重量
%、後者の場合、SiO2:50〜75重量%、Ca
O:4〜15重量%、MgO:5〜30重量%、F:3
〜8重量%、Na2O:2〜9重量%、Li2O:0〜3
重量%、BaO:0〜2重量%、Al23:0〜10重
量%等が挙げられる。
Examples of the crystallized glass substrate include crystallized glass having lithium disilicate (Li 2 O.2SiO 2 ) and α quartz (SiO 2 ) as a main crystal phase, and potassium fluororichterite (KNaCaMg) as a main crystal phase. 5 S
i 8 O 22 F 2 ) and potassium-cassanite (K 3 Na 3 Ca)
5 Si 12 O 30 F 4 ). As a specific composition, in the former case, SiO 2: sixty to eighty-six wt%, Li 2 O: 8~18 wt%, K 2 O: 0~10 wt%, MgO: 0 to 8 wt%, ZnO: 0-10% by weight,
Sb 2 O 3: 0~2 wt%, P 2 O 5: 0.1~10 wt%, in the latter case, SiO 2: 50 to 75 wt%, Ca
O: 4 to 15% by weight, MgO: 5 to 30% by weight, F: 3
8 wt%, Na 2 O: 2~9 wt%, Li 2 O: 0~3
Wt%, BaO: 0 to 2 wt%, Al 2 O 3: 0~10 wt%, and the like.

【0057】本発明では、必要に応じ、加熱した化学強
化処理液にガラス基板を浸漬し、ガラス基板表層のイオ
ンを化学強化処理液中のイオンでイオン交換して化学強
化したガラス基板について、上述した溶融塩による処理
を施すことができる。なお、化学強化処理を施したガラ
ス基板を上記溶融塩で処理する際は、化学強化処理温度
より少なくとも50℃、好ましくは60℃、更に好まし
くは80℃低い温度で処理することが好ましい。
In the present invention, the glass substrate which has been chemically strengthened by immersing the glass substrate in a heated chemical strengthening treatment solution and ion-exchanging the ions of the surface layer of the glass substrate with ions in the chemical strengthening treatment solution, if necessary, The treatment with the molten salt can be performed. When the glass substrate that has been subjected to the chemical strengthening treatment is treated with the molten salt, it is preferable that the glass substrate is treated at a temperature at least 50 ° C., preferably 60 ° C., and more preferably 80 ° C. lower than the temperature of the chemical strengthening treatment.

【0058】ここで、イオン交換法としては、低温型イ
オン交換法、高温型イオン交換法、表面結晶化法などが
知られているが、高強度が得られやすいこと、変形がな
いこと等の観点から、低温型イオン交換法を用いること
が好ましい。低温型イオン交換法は、ガラスの転移温度
(Tg)以下の温度域で、ガラス中のアルカリイオン
を、それよりもイオン半径の大きいアルカリイオンと置
換し、イオン交換部の容積増加によってガラス表層に強
い圧縮応力を発生させてガラス表面を強化する方法であ
る。
As the ion exchange method, a low-temperature ion exchange method, a high-temperature ion exchange method, a surface crystallization method and the like are known. From the viewpoint, it is preferable to use a low-temperature ion exchange method. In the low-temperature ion exchange method, alkali ions in the glass are replaced with alkali ions having a larger ionic radius in a temperature range equal to or lower than the glass transition temperature (Tg), and the volume of the ion exchange portion increases to form a glass surface layer. This is a method in which a strong compressive stress is generated to strengthen the glass surface.

【0059】化学強化処理液としては、硝酸カリウム
(KNO3)、硝酸ナトリウム(NaNO3)、炭酸カリ
ウム(K2CO3)などの溶融塩や、これらの塩を混合し
たもの(例えば、KNO3+NaNO3、KNO3+K2
3など)の溶融塩、あるいは、これらの塩にCu、A
g、Rb、Csなどのイオンの塩を混合したものの溶融
塩等が挙げられる。
As the chemical strengthening treatment liquid, a molten salt such as potassium nitrate (KNO 3 ), sodium nitrate (NaNO 3 ), potassium carbonate (K 2 CO 3 ), or a mixture of these salts (for example, KNO 3 + NaNO 3 , KNO 3 + K 2 C
O 3 ) or these salts, or Cu, A
A molten salt of a mixture of salts of ions such as g, Rb, and Cs is exemplified.

【0060】加熱温度は、ガラス転移点の観点から、3
50℃〜650℃、特に350℃〜500℃、さらには
350℃〜450℃であることが好ましい。浸漬時間
は、抗折強度と圧縮応力層の観点から、1時間〜20時
間程度とすることが好ましい。ガラス基板表層に形成す
る圧縮応力層の厚さは、耐衝撃性や耐振動性を高めると
いう観点から、60〜300μm程度とすることが好ま
しい。
The heating temperature is 3 from the viewpoint of the glass transition point.
The temperature is preferably from 50 ° C to 650 ° C, particularly from 350 ° C to 500 ° C, more preferably from 350 ° C to 450 ° C. The immersion time is preferably about 1 to 20 hours from the viewpoint of the bending strength and the compressive stress layer. The thickness of the compressive stress layer formed on the surface of the glass substrate is preferably about 60 to 300 μm from the viewpoint of improving impact resistance and vibration resistance.

【0061】本発明では、ガラス基板を溶融塩(硫酸水
素塩等の溶融塩、又は化学強化処理液)で処理する前
に、ガラス基板の割れやひびを防止するため、ガラス基
板を200〜350℃に予熱しておくことが好ましい。
In the present invention, before the glass substrate is treated with a molten salt (a molten salt such as hydrogen sulfate, or a chemical strengthening treatment solution), the glass substrate is treated with a glass substrate of 200 to 350 to prevent cracking and cracking of the glass substrate. It is preferred to preheat to ° C.

【0062】硫酸水素塩等の溶融塩又は化学強化処理液
による処理では、ガラス基板を端面で保持して処理を行
うことが好ましい。これは、ガラス基板の表面の一部で
保持するとその部分が処理されなくなるのを回避するた
めである。
In the treatment with a molten salt such as hydrogen sulfate or a chemical strengthening treatment liquid, it is preferable to carry out the treatment while holding the glass substrate at the end face. This is in order to avoid that if the glass substrate is held at a part of the surface, the part is not processed.

【0063】本発明では、硫酸水素塩等の溶融塩及び/
又は化学強化処理液による処理の後、溶融塩からガラス
基板を引き上げ、熱歪みの発生を抑えることができるよ
うに所定温度まで徐冷することが好ましい。このように
徐冷することにより、熱歪みによるダメージを回避でき
る。ガラス基板を徐冷する速度は、2℃/分〜100℃
/分、特に5℃/分〜60℃/分、さらには10℃/分
〜50℃/分であることが好ましい。
In the present invention, molten salts such as hydrogen sulfate and / or
Alternatively, it is preferable that after the treatment with the chemical strengthening treatment liquid, the glass substrate is pulled up from the molten salt and gradually cooled to a predetermined temperature so as to suppress generation of thermal distortion. By slow cooling in this way, damage due to thermal distortion can be avoided. The rate at which the glass substrate is gradually cooled is 2 ° C./min to 100 ° C.
/ Min, particularly preferably 5 ° C / min to 60 ° C / min, more preferably 10 ° C / min to 50 ° C / min.

【0064】本発明では、上記徐冷の後、例えば、ガラ
ス基板表面に析出する溶融塩の結晶化を阻止する速度で
ガラス基板を急冷することが好ましい。このように、ガ
ラス基板を急冷すると、析出する溶融塩が脆弱となり、
硫酸水素塩等の溶融塩による処理工程や洗浄工程におい
て溶融塩の除去が容易となる。
In the present invention, after the above-mentioned slow cooling, it is preferable to rapidly cool the glass substrate, for example, at a rate at which crystallization of the molten salt deposited on the surface of the glass substrate is prevented. Thus, when the glass substrate is rapidly cooled, the molten salt that precipitates becomes fragile,
Removal of the molten salt is facilitated in a treatment step or a washing step using a molten salt such as hydrogen sulfate.

【0065】ガラス基板を急冷する速度は、1600℃
/分〜200℃/分、特に1200℃/分〜300℃/
分、さらには800℃/分〜400℃/分であることが
好ましい。ガラス基板の急冷は、ヒートショックの観点
から、好ましくは100℃〜0℃、さらに好ましくは4
0℃〜10℃の冷媒に接触させて行うことが好ましい。
ガラス基板を冷媒に接触させる時間は、析出溶融塩の洗
浄性の観点から、10分〜60分程度であることが好ま
しい。冷媒としては、水、温水、溶液などの液体冷媒、
窒素ガス、水蒸気、冷却空気などの気体冷媒のほか、エ
アの吹き付けなどが挙げられる。
The speed of rapidly cooling the glass substrate is 1600 ° C.
/ Min to 200 ° C / min, especially 1200 ° C / min to 300 ° C /
Min, more preferably from 800 ° C / min to 400 ° C / min. The rapid cooling of the glass substrate is preferably performed at 100 ° C. to 0 ° C., more preferably 4 ° C., from the viewpoint of heat shock.
It is preferable to carry out the process by contacting with a refrigerant at 0 ° C to 10 ° C.
The time for bringing the glass substrate into contact with the cooling medium is preferably about 10 to 60 minutes from the viewpoint of the cleaning property of the deposited molten salt. As the refrigerant, liquid refrigerant such as water, hot water, solution,
In addition to gaseous refrigerants such as nitrogen gas, water vapor, and cooling air, air blowing and the like can be mentioned.

【0066】本発明では、必要に応じ、化学強化処理を
施したガラス基板、又は化学強化処理を施さないガラス
基板の表面を、硫酸水素塩等の溶融塩で処理することが
できる。なお、化学強化処理を施したガラス基板を上記
溶融塩で処理する際は、化学強化処理温度より少なくと
も50℃、好ましくは60℃、更に好ましくは80℃低
い温度で処理することが好ましい。
In the present invention, the surface of a glass substrate that has been subjected to a chemical strengthening treatment or a surface of a glass substrate that has not been subjected to a chemical strengthening treatment can be treated with a molten salt such as hydrogen sulfate, if necessary. When the glass substrate that has been subjected to the chemical strengthening treatment is treated with the molten salt, it is preferable that the glass substrate is treated at a temperature at least 50 ° C., preferably 60 ° C., and more preferably 80 ° C. lower than the temperature of the chemical strengthening treatment.

【0067】本発明では、製造工程中の任意の工程の後
に、必要に応じ、市販の洗浄剤(中性洗剤、界面活性
剤、アルカリ性洗浄剤など)による洗浄、スクラブ洗
浄、純水洗浄、溶剤洗浄、溶剤蒸気乾燥、遠心分離乾燥
等の公知の洗浄処理を行うことができる。また、各洗浄
では、加熱や超音波印加を行ってもよい。
In the present invention, after any step in the manufacturing process, if necessary, washing with a commercially available detergent (neutral detergent, surfactant, alkaline detergent, etc.), scrub washing, pure water washing, solvent Known washing treatments such as washing, solvent vapor drying, and centrifugal drying can be performed. In each cleaning, heating or ultrasonic wave application may be performed.

【0068】超音波は、ある周波数範囲で発振する多周
波数型のもの、あるいは、一定の周波数で発振する固定
周波数型のもののいずれであってもよい。周波数は低い
ほど洗浄効果は高いが、ガラス基板に与えるダメージも
大きくなるので、これらのことを考慮して決定する。
The ultrasonic wave may be either a multi-frequency type that oscillates in a certain frequency range or a fixed-frequency type that oscillates at a constant frequency. The lower the frequency, the higher the cleaning effect, but the greater the damage to the glass substrate. Therefore, the frequency is determined in consideration of these factors.

【0069】蒸気乾燥は、乾燥速度が速いので乾燥によ
るシミが発生しにくい。蒸気乾燥に用いる溶剤として
は、イソプロピルアルコール、フロン、アセトン、メタ
ノール、エタノールなどが挙げられる。
In steam drying, since the drying speed is high, spots due to drying are hardly generated. Examples of the solvent used for steam drying include isopropyl alcohol, chlorofluorocarbon, acetone, methanol, and ethanol.

【0070】上記本発明の情報記録媒体用基板の製造方
法は、磁気ディスク用のガラス基板、光磁気ディスク用
のガラス基板や、光メモリディスクなどの電子光学用デ
ィスク基板の製造方法としても使用できる。特に、本発
明の情報記録媒体用基板は、磁気抵抗型ヘッドで再生さ
れる磁気ディスクに使用されるガラス基板として好適に
使用できる。詳しくは、従来に比べはるかに表面状態の
良いガラス基板を使用することによって、磁気抵抗型ヘ
ッドや大型磁気抵抗型ヘッド用の磁気ディスクとした場
合にアルカリの溶出やヤケ等による異物に起因するベッ
ドクラッシュを起こすことがなく、また、磁性層等の膜
にアルカリの溶出やヤケ等に起因する欠陥が発生しエラ
ーの原因となるということもない。
The method for manufacturing a substrate for an information recording medium of the present invention can be used as a method for manufacturing a glass substrate for a magnetic disk, a glass substrate for a magneto-optical disk, and a disk substrate for an electro-optical disk such as an optical memory disk. In particular, the information recording medium substrate of the present invention can be suitably used as a glass substrate used for a magnetic disk reproduced by a magnetoresistive head. More specifically, by using a glass substrate with a much better surface condition than in the past, when a magnetic disk for a magnetoresistive head or a large magnetoresistive head is used, the bed caused by foreign substances such as alkali elution and burns There is no occurrence of a crash, and there is no possibility that defects such as elution of alkali or burns are generated in a film such as a magnetic layer and cause an error.

【0071】さらに、本発明の処理方法は、ガラスやセ
ラミックスの構成成分(アルカリ金属、アルカリ土類金
属、珪素、鉛など)の溶出を防ぐ必要がある分野の用途
に広く使用できる。
Furthermore, the treatment method of the present invention can be widely used for applications in fields where it is necessary to prevent elution of constituents of glass and ceramics (alkali metal, alkaline earth metal, silicon, lead, etc.).

【0072】次に、本発明の情報記録媒体について説明
する。本発明の情報記録媒体は、上述した本発明方法を
用いて得られた情報記録媒体用基板上に、少なくとも記
録層を形成したことを特徴とする。ここで、記録層やそ
の他の層としては公知のものを使用できる。
Next, the information recording medium of the present invention will be described. The information recording medium of the present invention is characterized in that at least a recording layer is formed on an information recording medium substrate obtained by using the above-described method of the present invention. Here, known recording layers and other layers can be used.

【0073】本発明の情報記録媒体では、アルカリイオ
ン等の溶出を著しく抑制した情報記録媒体用基板を使用
しているので、耐候性及び寿命に優れ高い信頼性を有す
る情報記録媒体が得られる。
Since the information recording medium of the present invention uses the information recording medium substrate in which elution of alkali ions and the like is remarkably suppressed, an information recording medium having excellent weather resistance and long life and high reliability can be obtained.

【0074】以下、情報記録媒体の一例として磁気記録
媒体について説明する。磁気記録媒体は、通常、磁気デ
ィスク用基板上に、下地層、磁性層、凹凸形成層、保護
層、潤滑層等を必要に応じ順次積層して製造する。
Hereinafter, a magnetic recording medium will be described as an example of the information recording medium. A magnetic recording medium is usually manufactured by sequentially laminating a base layer, a magnetic layer, a concavo-convex forming layer, a protective layer, a lubricating layer, and the like on a magnetic disk substrate as necessary.

【0075】磁気記録媒体における下地層は、磁性層に
応じて適宜選択される。下地層(シード層を含む)とし
ては、例えば、Cr、Mo、Ta、Ti、W、V、B、
Al、Niなどの非磁性金属から選ばれる少なくとも一
種以上の材料からなる下地層等が挙げられる。Coを主
成分とする磁性層の場合には、磁気特性向上等の観点か
ら、Cr単体やCr合金であることが好ましい。また、
下地層は単層とは限らず、同一又は異種の層を積層した
複数層構造とすることもできる。例えば、Cr/Cr、
Cr/CrMo、Cr/CrV、CrV/CrV、Al
/Cr/CrMo、Al/Cr/Cr、NiAl/C
r、NiAl/CrMo、NiAl/CrV等の多層下
地層等が挙げられる。
The underlayer in the magnetic recording medium is appropriately selected according to the magnetic layer. As the underlayer (including the seed layer), for example, Cr, Mo, Ta, Ti, W, V, B,
An underlayer made of at least one or more materials selected from nonmagnetic metals such as Al and Ni may be used. In the case of a magnetic layer containing Co as a main component, it is preferable to use Cr alone or a Cr alloy from the viewpoint of improving magnetic properties. Also,
The underlayer is not limited to a single layer, and may have a multilayer structure in which the same or different layers are stacked. For example, Cr / Cr,
Cr / CrMo, Cr / CrV, CrV / CrV, Al
/ Cr / CrMo, Al / Cr / Cr, NiAl / C
r, a multilayer base layer of NiAl / CrMo, NiAl / CrV, or the like.

【0076】磁性層の材料は特に制限されない。The material of the magnetic layer is not particularly limited.

【0077】磁性層としては、具体的には、例えば、C
oを主成分とするCoPt、CoCr、CoNi、Co
NiCr、CoCrTa、CoPtCr、CoNiP
t、CoNiCrPt、CoNiCrTa、CoCrP
tTa、CoCrPtSiOなどの磁性薄膜が挙げられ
る。また、磁性層を非磁性膜(例えば、Cr、CrM
o、CrVなど)で分割してノイズの低減を図った多層
構成(例えば、CoPtCr/CrMo/CoPtC
r、CoCrTaPt/CrMo/CoCrTaPtな
ど)としもよい。
As the magnetic layer, specifically, for example, C
CoPt, CoCr, CoNi, Co mainly containing o
NiCr, CoCrTa, CoPtCr, CoNiP
t, CoNiCrPt, CoNiCrTa, CoCrP
Magnetic thin films such as tTa and CoCrPtSiO may be used. Further, the magnetic layer is formed of a nonmagnetic film (for example, Cr, CrM).
o, CrV, etc.) to reduce noise (for example, CoPtCr / CrMo / CoPtC)
r, CoCrTaPt / CrMo / CoCrTaPt).

【0078】磁気抵抗型ヘッド(MRヘッド)又は大型
磁気抵抗型ヘッド(GMRヘッド)対応の磁性層として
は、Co系合金に、Y、Si、希土類元素、Hf、G
e、Sn、Znから選択される不純物元素、又はこれら
の不純物元素の酸化物を含有させたものなども含まれ
る。
As a magnetic layer corresponding to a magnetoresistive head (MR head) or a large magnetoresistive head (GMR head), Y, Si, rare earth elements, Hf, G
An impurity element selected from e, Sn, and Zn, or an element containing an oxide of these impurity elements is also included.

【0079】また、磁性層としては、上記の他、フェラ
イト系、鉄−希土類系や、SiO2、BNなどからなる
非磁性膜中にFe、Co、FeCo、CoNiPt等の
磁性粒子が分散された構造のグラニュラーなどであって
もよい。また、磁性層は、内面型、垂直型のいずれの記
録形式であってもよい。
As the magnetic layer, in addition to the above, magnetic particles such as Fe, Co, FeCo, and CoNiPt are dispersed in a nonmagnetic film made of ferrite, iron-rare earth, SiO 2 , BN, or the like. It may be a granular structure or the like. Further, the magnetic layer may have any of an inner surface type and a perpendicular type recording format.

【0080】凹凸形成層は、媒体表面の凹凸を制御する
目的で設けられる。凹凸形成層の形成方法や材料等は特
に制限されない。また、凹凸形成層の形成位置も特に制
限されない。
The unevenness forming layer is provided for the purpose of controlling the unevenness of the medium surface. There is no particular limitation on the method of forming the unevenness forming layer, the material, and the like. Further, the formation position of the unevenness forming layer is not particularly limited.

【0081】この凹凸形成層は、非接触型記録方式磁気
ディスク装置用の磁気記録媒体の場合、媒体表面に凹凸
形成層の凹凸に起因した凹凸を形成し、この媒体表面の
凹凸によって、磁気ヘッドと磁気記録媒体との吸着を防
止し、CSS耐久性を向上させる目的で形成される。
In the case of a magnetic recording medium for a non-contact recording type magnetic disk device, the unevenness forming layer forms unevenness due to the unevenness of the unevenness forming layer on the medium surface. It is formed for the purpose of preventing attraction between the magnetic recording medium and the magnetic recording medium and improving CSS durability.

【0082】なお、接触型記録方式磁気ディスク装置用
の磁気記録媒体の場合には、磁気ヘッドや磁気記録媒体
の損傷を避けるため媒体表面はできるだけ平坦であるこ
とが好ましいので、凹凸形成層を設ける必要はない。
In the case of a magnetic recording medium for a contact recording type magnetic disk drive, the surface of the medium is preferably as flat as possible to avoid damage to the magnetic head and the magnetic recording medium. No need.

【0083】凹凸形成層の表面粗さは、Ra=10〜5
0オングストロームであることが好ましい。より好まし
い範囲は、Ra=10〜30オングストロームである。
The surface roughness of the unevenness forming layer is Ra = 10 to 5
Preferably, it is 0 Å. A more preferred range is Ra = 10 to 30 angstroms.

【0084】Raが10オングストローム未満の場合、
磁気記録媒体表面が平坦に近いため、磁気ヘッドと磁気
記録媒体とが吸着し、磁気ヘッドや磁気記録媒体が傷つ
いてしまったり、吸着によるヘッドクラッシュを起こし
致命的な損傷を受けるので好ましくない。また、Raが
50オングストロームを越える場合、グライドハイトが
大きくなり記録密度の低下を招くので好ましくない。
When Ra is less than 10 angstroms,
Since the surface of the magnetic recording medium is nearly flat, the magnetic head and the magnetic recording medium are attracted to each other, and the magnetic head and the magnetic recording medium are damaged, or the head crashes due to the attracting, resulting in fatal damage. On the other hand, if Ra exceeds 50 angstroms, the glide height becomes large and the recording density is lowered, which is not preferable.

【0085】凹凸形成層の材質及び形成方法は多種知ら
れており、特に制限されない。凹凸形成層の材質として
は、Al、Ti、Cr、Ag、Nb、Ta、Bi、S
i、Zr、Cu、Ce、Au、Sn、Pd、Sb、G
e、Mg、In、W、Pb等の金属やそれらの合金、又
はそれら金属や合金の酸化物、窒化物、炭化物を使用す
ることができる。形成が容易である等の観点からは、A
l単体やAl合金、酸化Al(Al23など)、窒化A
l(AlNなど)といったAlを主成分とする金属であ
ることが望ましい。
There are various known materials and methods for forming the concavo-convex forming layer, and there is no particular limitation. As the material of the unevenness forming layer, Al, Ti, Cr, Ag, Nb, Ta, Bi, S
i, Zr, Cu, Ce, Au, Sn, Pd, Sb, G
Metals such as e, Mg, In, W, and Pb and alloys thereof, or oxides, nitrides, and carbides of these metals and alloys can be used. From the viewpoint of easy formation, etc., A
l Simple substance, Al alloy, Al oxide (Al 2 O 3 etc.), A nitride
It is desirable to use a metal mainly containing Al, such as 1 (AlN or the like).

【0086】凹凸形成層は、連続したテクスチャー膜と
してもよく、離散的に分布した島状突起で構成してもよ
い。この島状突起の高さは、100〜500オングスト
ロームであることが好ましく、100〜300オングス
トロームであることがより好ましい。
The unevenness forming layer may be a continuous texture film, or may be constituted by discretely distributed island-like projections. The height of the island-like projections is preferably 100 to 500 Å, and more preferably 100 to 300 Å.

【0087】上述した凹凸形成層の表面粗さ及び凹凸
(突起)の高さは、凹凸形成層の材質及びその組成、熱
処理条件等によって制御できる。
The surface roughness and the height of the unevenness (projections) of the unevenness forming layer can be controlled by the material and composition of the unevenness forming layer, heat treatment conditions, and the like.

【0088】他の凹凸形成方法としては、機械的研磨に
よるテクスチャー加工、化学的エッチングによるテクス
チャー加工、エネルギービーム照射によるテクスチャー
加工などが挙げられ、それらの方法を組み合わせること
もできる。
Examples of other methods for forming unevenness include texturing by mechanical polishing, texturing by chemical etching, texturing by energy beam irradiation, and the like, and these methods can be combined.

【0089】保護層としては、例えば、Cr膜、Cr合
金膜、カーボン膜、水素化カーボン膜、ジルコニア膜、
シリカ膜等が挙げられる。これらの保護膜は、下地層、
磁性層等とともにインライン型又は静置対向型スパッタ
リング装置で連続して形成できる。また、これらの保護
膜は、単層であってもよく、あるいは、同一又は異種の
膜からなる多層構成としてもよい。
As the protective layer, for example, a Cr film, a Cr alloy film, a carbon film, a hydrogenated carbon film, a zirconia film,
A silica film is exemplified. These protective films are an underlayer,
It can be formed continuously with an in-line type or stationary facing type sputtering device together with a magnetic layer or the like. Further, these protective films may be a single layer, or may be a multilayer structure composed of the same or different films.

【0090】上記保護層上に、あるいは上記保護層に替
えて、他の保護層を形成してもよい。例えば、上記保護
層の代わりに、テトラアルコキシランをアルコール系の
溶媒で希釈した中に、コロイダルシリカ微粒子を分散し
て塗布し、さらに焼成して酸化ケイ素(SiO2)膜を
形成してもよい。この場合、保護層と凹凸形成層の両方
の機能を果たす。
Another protective layer may be formed on the above protective layer or in place of the above protective layer. For example, instead of the above-mentioned protective layer, colloidal silica fine particles may be dispersed and applied while diluting tetraalkoxylan with an alcohol-based solvent, and then baked to form a silicon oxide (SiO 2 ) film. . In this case, it functions as both the protective layer and the unevenness forming layer.

【0091】潤滑層としては多種多様な提案がなされて
いるが、一般的には、パーフルオロポリエーテル(PF
PE)等からなる液体潤滑剤を、媒体表面にディッピン
グ法(浸漬法)、スピンコート法、スプレイ法等によっ
て塗布し、必要に応じ加熱処理を行って形成する。
Although various proposals have been made for the lubricating layer, generally, a perfluoropolyether (PF) is generally used.
A liquid lubricant composed of PE) or the like is applied to the surface of the medium by a dipping method (immersion method), a spin coating method, a spray method, or the like, and is formed by performing a heat treatment as needed.

【0092】[0092]

【実施例】以下、実施例にもとづき本発明をさらに具体
的に説明する。
EXAMPLES The present invention will be described below more specifically based on examples.

【0093】実施例1 Embodiment 1

【0094】(1)ガラス基板の準備 高原子価金属イオン含有シリケートガラス(高ヤング率
ガラス)(Tg:600℃)からなる中央部に円孔を有
する円盤状のガラス基板(外径2.5インチ、内径0.
8インチ、厚さ0.25インチ)を用意した。なお、高
原子価金属イオン含有シリケートガラスとしては、モル
%表示で、SiO2を43%、Al23を5%、Li2
を8%、Na2Oを2%、MgOを6%、CaOを19
%、TiO2を15%、ZrO2を2%含有するガラスを
使用した。
(1) Preparation of Glass Substrate A disc-shaped glass substrate (T.sub.g: 600.degree. C.) made of a silicate glass containing high valence metal ions (high Young's modulus glass) (Tg: 600.degree. Inch, inner diameter 0.
8 inches and a thickness of 0.25 inches). In addition, as a silicate glass containing a high valent metal ion, 43% of SiO 2 , 5% of Al 2 O 3 , and Li 2 O
8%, Na 2 O 2%, MgO 6%, CaO 19
%, TiO 2 15%, and ZrO 2 2%.

【0095】(2)化学強化工程 次に、上記ガラス基板を洗浄後、化学強化を施した。化
学強化は、硝酸カリウム(60%)と硝酸ナトリウム
(40%)を混合した化学強化処理液を用意し、この化
学強化処理液を480℃に加熱し、300℃に予熱され
た洗浄済みのガラス基板を約4時間浸漬して行った。こ
の浸漬の際に、ガラス基板の表面全体が化学強化される
ようにするため、複数のガラス基板が端面で保持される
ようにホルダーに収納した状態で行った。
(2) Chemical Strengthening Step Next, the glass substrate was washed and then chemically strengthened. For the chemical strengthening, a chemically strengthened treatment solution prepared by mixing potassium nitrate (60%) and sodium nitrate (40%) is prepared, and the chemically strengthened treatment solution is heated to 480 ° C., and the cleaned glass substrate preheated to 300 ° C. For about 4 hours. In this immersion, in order to chemically strengthen the entire surface of the glass substrate, the immersion was performed in a state where a plurality of glass substrates were housed in a holder so as to be held at end faces.

【0096】このように、化学強化処理液に浸漬処理す
ることによって、ガラス基板表層のリチウムイオン、ナ
トリウムイオンは、化学強化処理液中のナトリウムイオ
ン、カリウムイオンにそれぞれ置換されガラス基板は強
化される。ガラス基板の表層に形成された圧縮応力層の
厚さは、約100〜200μmであった。
As described above, by performing the immersion treatment in the chemical strengthening treatment liquid, lithium ions and sodium ions in the surface layer of the glass substrate are replaced by sodium ions and potassium ions in the chemical strengthening treatment liquid, respectively, and the glass substrate is strengthened. . The thickness of the compressive stress layer formed on the surface layer of the glass substrate was about 100 to 200 μm.

【0097】(3)冷却、酸処理、洗浄工程 上記化学強化を終えたガラス基板を、第一、第二徐冷室
で順次徐冷する。まず、化学強化処理液からガラス基板
を引き上げ、300℃に加熱されている第一徐冷室に移
送し、この中で約10分間保持して300℃にガラス基
板を徐冷する。ついで、第一徐冷室から200℃に加熱
されている第二徐冷室にガラス基板を移送し、300℃
から200℃までガラス基板を徐冷する。このように二
段階に分けて徐冷することにより、熱歪みによるダメー
ジからガラス基板を開放できる。次に、上記徐冷を終え
たガラス基板を、20℃の水槽に浸漬して急冷し約20
分間維持した。上記冷却工程を終えたガラス基板を、中
性洗剤、中性洗剤、純水、純水、IPA(イソプロピル
アルコール)、IPA(蒸気乾燥)の各洗浄槽に順次浸
漬して洗浄した。なお、各洗浄槽には超音波(周波数4
0kHz)を印加した。
(3) Cooling, acid treatment, and washing steps The glass substrate that has been chemically strengthened is gradually cooled in the first and second slow cooling chambers. First, the glass substrate is pulled up from the chemical strengthening treatment liquid, transferred to a first annealing room heated to 300 ° C., and held therein for about 10 minutes to gradually cool the glass substrate to 300 ° C. Next, the glass substrate was transferred from the first annealing room to the second annealing room heated to 200 ° C.
The glass substrate is gradually cooled to 200 ° C. By thus gradually cooling the glass substrate in two stages, the glass substrate can be released from damage due to thermal strain. Next, the glass substrate that has been slowly cooled is immersed in a 20 ° C.
Maintained for minutes. The glass substrate after the cooling step was sequentially immersed and washed in a washing tank of a neutral detergent, a neutral detergent, pure water, pure water, IPA (isopropyl alcohol), and IPA (steam drying). In addition, ultrasonic waves (frequency 4
0 kHz).

【0098】(4)溶融塩による処理工程 特級試薬のピロ硫酸カリウムの溶融塩を用い、これにガ
ラス基板を浸漬し、処理を行った。この際、表3に示す
ように、溶融塩に水蒸気(空気:2000cm3/min、スチ
ーム:1g/min(水の減少量/時間から算出した)、
水蒸気温度:280℃)を2時間又は4時間供給した
後、処理を行った(試料1、2)。なお、比較のため、
溶融塩に水蒸気を供給しない場合(比較試料2)、及
び、ピロ硫酸カリウムの溶融塩による処理を行わない場
合(比較試料1)についても試料を準備した。溶融塩の
温度は300℃とし、浸漬時間は5分間とした。
(4) Treatment Step with Molten Salt Using a molten salt of potassium pyrosulfate as a special grade reagent, a glass substrate was immersed in the molten salt for treatment. At this time, as shown in Table 3, steam was added to the molten salt (air: 2000 cm 3 / min, steam: 1 g / min (calculated from the reduced amount of water / hour)).
(Steam temperature: 280 ° C.) was supplied for 2 hours or 4 hours, and then the treatment was performed (samples 1 and 2). For comparison,
Samples were also prepared when no steam was supplied to the molten salt (Comparative Sample 2) and when no treatment with potassium pyrosulfate was performed with the molten salt (Comparative Sample 1). The temperature of the molten salt was 300 ° C., and the immersion time was 5 minutes.

【0099】上記処理後のガラス基板を洗浄処理した
後、溶出試験及び環境試験を実施した。その結果を表3
に示す。表3から、ピロ硫酸カリウムの溶融塩による処
理が効果的であることがわかる。
After cleaning the glass substrate after the above treatment, an elution test and an environmental test were performed. Table 3 shows the results.
Shown in Table 3 shows that the treatment with a molten salt of potassium pyrosulfate is effective.

【0100】[0100]

【表3】 [Table 3]

【0101】なお、溶出試験は、ガラス基板を80℃に
加熱した超純水中に24時間浸漬し、溶出成分をイオン
クロマトグラフィで定量し、ガラス基板当たりのアルカ
リ金属イオンの溶出量(μmol/Disk)求めた。環境試験
は、温度80℃、相対湿度80%の高温多湿環境下にガ
ラス基板を1週間放置し、ガラス表面を顕微鏡観察し
て、アルカリの溶出によるアルカリの塩化物等の析出を
観測し、評価した。
In the elution test, the glass substrate was immersed in ultrapure water heated to 80 ° C. for 24 hours, the elution components were quantified by ion chromatography, and the elution amount of alkali metal ions per glass substrate (μmol / Disk) ) Asked. In the environmental test, the glass substrate was left for 1 week in a high-temperature and high-humidity environment at a temperature of 80 ° C. and a relative humidity of 80%, and the glass surface was observed under a microscope to observe the precipitation of alkali chloride and the like due to elution of the alkali. did.

【0102】実施例2 ガラス基板として、主結晶相として二珪酸リチウム(L
2O・2SiO2)及びαクオーツ(SiO2)を有す
る結晶化ガラス(SiO2:76.0重量%、Li2O:
9.7重量%、Na2O:1.0重量%、K2O:3.5
重量%、MgO:1.5重量%、Al23:3.5重量
%、P25:3.0重量%、TiO2:1.5重量%、
As23:0.3重量%を含有するガラス)を、約4.
0℃/分の昇温速度で加熱しこの形成温度で1.5時間
保持した後、約2.0℃/分の昇温速度で加熱して81
5℃で2.5時間保持したものを準備した。このガラス
基板について、洗浄処理を行った後、ピロ硫酸カリウム
の溶融塩で処理して、実施例1と同様にして、溶出試験
及び環境試験を実施した。また、比較のためピロ硫酸カ
リウムによる処理を行わない試料についても同様にテス
トした。それらの結果を表4に示す。
Example 2 As a glass substrate, lithium disilicate (L
Crystallized glass having i 2 O.2SiO 2 ) and α quartz (SiO 2 ) (SiO 2 : 76.0% by weight, Li 2 O:
9.7% by weight, Na 2 O: 1.0% by weight, K 2 O: 3.5
Wt%, MgO: 1.5 wt%, Al 2 O 3: 3.5 wt%, P 2 O 5: 3.0 wt%, TiO 2: 1.5 wt%,
As 2 O 3 : glass containing 0.3% by weight).
After heating at a temperature rising rate of 0 ° C./min and holding at this forming temperature for 1.5 hours, heating at a temperature rising rate of about 2.0 ° C./min.
What was kept at 5 ° C. for 2.5 hours was prepared. This glass substrate was subjected to a washing treatment, then treated with a molten salt of potassium pyrosulfate, and a dissolution test and an environmental test were performed in the same manner as in Example 1. For comparison, a sample not treated with potassium pyrosulfate was similarly tested. Table 4 shows the results.

【0103】[0103]

【表4】 [Table 4]

【0104】表4から、アルカリを含有したセラミック
スについてもピロ硫酸カリウムの溶融塩による処理が効
果的であることがわかる。
Table 4 shows that the treatment with a molten salt of potassium pyrosulfate is also effective for ceramics containing alkali.

【0105】実施例3 ガラス基板として、主結晶相としてカリウム・フロロリ
ヒテライト及びカリウム・カナサイトを有する結晶化ガ
ラス(SiO2:56.5重量%、MgO:11.8重
量%、CaO:14.1重量%、Na2O:5.4重量
%、K2O:8.7重量%、F:5.5重量%を含有す
るガラス)を、約4.0℃/分の昇温速度で加熱しこの
形成温度で1.5時間保持した後、約2.0℃/分の昇
温速度で加熱して840℃で2.5時間保持したものを
準備した。このガラス基板について、洗浄処理を行った
後、ピロ硫酸カリウムの溶融塩で処理して、実施例1と
同様にして、溶出試験及び環境試験を実施した。また、
比較のためピロ硫酸カリウムによる処理を行わない試料
についても同様にテストした。それらの結果を表5に示
す。
Example 3 As a glass substrate, a crystallized glass having potassium fluororichterite and potassium canasite as main crystal phases (SiO 2 : 56.5% by weight, MgO: 11.8% by weight, CaO: 14) 0.1% by weight, glass containing 5.4% by weight of Na 2 O, 8.7% by weight of K 2 O, and 5.5% by weight of F) at a heating rate of about 4.0 ° C./min. And maintained at this forming temperature for 1.5 hours, and then heated at a rate of about 2.0 ° C./min and maintained at 840 ° C. for 2.5 hours to prepare. This glass substrate was subjected to a washing treatment, then treated with a molten salt of potassium pyrosulfate, and a dissolution test and an environmental test were performed in the same manner as in Example 1. Also,
For comparison, a sample not treated with potassium pyrosulfate was similarly tested. Table 5 shows the results.

【0106】[0106]

【表5】 [Table 5]

【0107】実施例4 320℃でK227110kgの溶融塩について、ス
チームの導入時間と結晶析出時間との関係を調べた。そ
の結果を表6に示す。
Example 4 The relationship between the time for introducing steam and the time for crystal precipitation was examined for 110 kg of K 2 S 2 O 7 molten salt at 320 ° C. Table 6 shows the results.

【0108】[0108]

【表6】 [Table 6]

【0109】水蒸気を導入しない場合120時間で結晶
が析出したが、水蒸気を3時間導入した場合220時間
で結晶が析出し、水蒸気を継続して導入した場合結晶は
析出しなかった。
When no steam was introduced, crystals were precipitated in 120 hours. When steam was introduced for 3 hours, crystals were precipitated in 220 hours. When steam was continuously introduced, no crystals were precipitated.

【0110】実施例5 水分を補う方法の違いによる相違を調べた。その結果を
表7に示す。
Example 5 The difference due to the difference in the method of supplementing moisture was examined. Table 7 shows the results.

【0111】[0111]

【表7】 [Table 7]

【0112】結晶が析出した時点で水分を添加し、次に
結晶が析出するまでの時間は、硫酸水素カリウム添加の
場合72時間後であり、水蒸気を3時間導入した場合1
00時間後であった。なお、いずれの場合も水分添加に
より結晶はすぐに消失した。
The time until the addition of water at the time of crystal precipitation and the subsequent precipitation of crystals is 72 hours after the addition of potassium hydrogen sulfate, and 1 hour when water vapor is introduced for 3 hours.
It was after 00 hours. In each case, the crystals immediately disappeared due to the addition of water.

【0113】実施例6 ピロ硫酸カリウムの溶融塩の代わりに特級試薬のピロ硫
酸ナトリウムの溶融塩、硫酸水素カリウムの溶融塩、又
は硫酸水素ナトリウムの溶融塩を用いたこと以外は実施
例1と同様にして、溶出試験及び環境試験を実施した。
その結果を表8に示す。
Example 6 The same procedure as in Example 1 was carried out except that a molten salt of sodium pyrosulfate, a molten salt of potassium hydrogen sulfate, or a molten salt of sodium hydrogen sulfate was used in place of the molten salt of potassium pyrosulfate. Then, a dissolution test and an environmental test were performed.
Table 8 shows the results.

【0114】[0114]

【表8】 [Table 8]

【0115】実施例7 特級試薬のピロ硫酸カリウムと特級試薬のピロ硫酸ナト
リウムとを混合した溶融塩を用いたこと、又は特級試薬
の硫酸水素カリウムと特級試薬の硫酸水素ナトリウムと
を混合した溶融塩を用いたこと以外は実施例1と同様に
して、溶出試験及び環境試験を実施した。その結果を表
9に示す。
Example 7 A molten salt obtained by mixing potassium pyrosulfate as a special grade reagent and sodium pyrosulfate as a special grade reagent was used, or a molten salt obtained by mixing potassium bisulfate as a special grade reagent and sodium bisulfate as a special grade reagent was used. A dissolution test and an environmental test were carried out in the same manner as in Example 1 except for using. Table 9 shows the results.

【0116】[0116]

【表9】 [Table 9]

【0117】実施例8 ピロ硫酸カリウムに硫酸を重量比で1:1になるように
加えてなる溶融塩を用いたこと以外は実施例1と同様に
して、溶出試験及び環境試験を実施した。その結果を表
10に示す。
Example 8 An elution test and an environmental test were carried out in the same manner as in Example 1 except that a molten salt obtained by adding sulfuric acid to potassium pyrosulfate at a weight ratio of 1: 1 was used. Table 10 shows the results.

【0118】[0118]

【表10】 [Table 10]

【0119】実施例9〜11 高原子価金属イオン含有ガラスの代わりに、アルミノシ
リケートガラス(組成:モル%表示で、SiO2を57
〜74%、ZrO2を0〜2.8%、Al23を3〜1
5%、Li2Oを7〜16%、Na2Oを4〜14%主成
分として含有、Tg:500℃、化学強化処理:400
℃、3時間)(実施例9)、ソーダライムガラス(実施
例10)、ソーダアルミノシリケートガラス(実施例1
1)、重金属イオンを含有するボロシリケートガラスを
用いたこと以外は実施例1と同様にして、溶出試験及び
環境試験を実施した。その結果、実施例1と同様の効果
が認められた。なお、実施例9(アルミノシリケートガ
ラス)の結果を表11に示す。
Examples 9 to 11 Instead of high-valent metal ion-containing glass, an aluminosilicate glass (composition: SiO 2
To 74%, a ZrO 2 0 to 2.8%, the Al 2 O 3 3 to 1
5%, 7-16% of Li 2 O, containing Na 2 O as 4-14% main component, Tg: 500 ° C., the chemical strengthening treatment: 400
(C, 3 hours) (Example 9), soda lime glass (Example 10), soda aluminosilicate glass (Example 1)
1) An elution test and an environmental test were performed in the same manner as in Example 1 except that a borosilicate glass containing a heavy metal ion was used. As a result, the same effect as in Example 1 was recognized. Table 11 shows the results of Example 9 (aluminosilicate glass).

【0120】[0120]

【表11】 [Table 11]

【0121】なお、上記実施例1〜11中、化学強化処
理した基板を溶融塩にて処理した実施例1、6、7、
8、9の溶融塩処理後の基板には応力緩和は殆ど認めら
れなかった。
In the above Examples 1 to 11, Examples 1, 6, 7, and 8 in which the chemically strengthened substrate was treated with a molten salt.
Substantially no stress relaxation was observed on the substrates after the molten salt treatments 8 and 9.

【0122】実施例12 実施例1〜11で得られた磁気ディスク用ガラス基板の
両面に、Al(膜厚50オングストローム)/Cr(1
000オングストローム)/CrMo(100オングス
トローム)からなる下地層、CoPtCr(120オン
グストローム)/CrMo(50オングストローム)/
CoPtCr(120オングストローム)からなる磁性
層、Cr(50オングストローム)保護層をインライン
型スパッタ装置で形成した。
Example 12 On both surfaces of the magnetic disk glass substrate obtained in Examples 1 to 11, Al (film thickness 50 Å) / Cr (1
000 angstroms) / CrMo (100 angstroms) underlayer, CoPtCr (120 angstroms) / CrMo (50 angstroms) /
A magnetic layer made of CoPtCr (120 angstroms) and a protective layer of Cr (50 angstroms) were formed by an in-line type sputtering apparatus.

【0123】上記基板を、シリカ微粒子(粒経100オ
ングストローム)を分散した有機ケイ素化合物溶液(水
とIPAとテトラエトキシシランとの混合液)に浸し、
焼成することによってSiO2からなる保護層を形成
し、さらに、この保護層上をパーフロロポリエーテルか
らなる潤滑剤でディップ処理して潤滑層を形成して、M
Rヘッド用磁気ディスクを得た。
The above substrate is immersed in an organic silicon compound solution (a mixed solution of water, IPA and tetraethoxysilane) in which fine silica particles (particle size: 100 Å) are dispersed,
A protective layer made of SiO 2 is formed by firing, and a dip treatment is performed on the protective layer with a lubricant made of perfluoropolyether to form a lubricating layer.
A magnetic disk for an R head was obtained.

【0124】得られた磁気ディスクについてグライドテ
ストを実施したところ、基板の変形、及びアルカリの溶
出やヤケ等による異物に起因するヒットやクラッシュは
認められなかった。また、磁性層等の膜に欠陥が発生し
ていないことも確認できた。
When a glide test was performed on the obtained magnetic disk, no deformation or deformation of the substrate and no hit or crash caused by foreign substances such as alkali elution or burnt were observed. It was also confirmed that no defect occurred in the film such as the magnetic layer.

【0125】また、耐候性及び寿命を調べたところ、ガ
ラス基板表面の変質に起因する磁性膜等の劣化や欠陥は
認められなかった。
Further, when the weather resistance and the life were examined, no deterioration or defect of the magnetic film or the like due to the deterioration of the surface of the glass substrate was found.

【0126】実施例13 実施例1〜11で得られた磁気ディスク用ガラス基板の
両面に、インライン式のスパッタリング装置を用いて、
Cr下地層、CrMo下地層、CoPtCr磁性層、C
保護層を順次成膜して磁気ディスクを得た。上記磁気デ
ィスクについて実施例12と同様のことが確認された。
Example 13 On both surfaces of the magnetic disk glass substrate obtained in Examples 1 to 11, using an in-line type sputtering apparatus,
Cr underlayer, CrMo underlayer, CoPtCr magnetic layer, C
A protective layer was sequentially formed to obtain a magnetic disk. The same as in Example 12 was confirmed for the above magnetic disk.

【0127】実施例14 下地層をAl/Cr/Crとし、磁性層をCoNiCr
Taとしたこと以外は実施例13と同様にして薄膜ヘッ
ド用磁気ディスクを得た。上記磁気ディスクについて実
施例12と同様のことが確認された。
Example 14 The underlayer was made of Al / Cr / Cr, and the magnetic layer was made of CoNiCr.
A magnetic disk for a thin film head was obtained in the same manner as in Example 13 except that Ta was used. The same as in Example 12 was confirmed for the above magnetic disk.

【0128】以上好ましい実施例をあげて本発明を説明
したが、本発明は必ずしも上記実施例に限定されるもの
ではない。
Although the present invention has been described with reference to the preferred embodiments, the present invention is not necessarily limited to the above embodiments.

【0129】例えば、ピロ硫酸塩等の溶融塩の加熱温
度、種類、浸漬時間等は実施例のものに限定されず要求
品質レベル等に応じ適宜変更して実施できる。また、製
造工程中の任意の工程の後に、必要に応じ、洗浄工程を
実施できる。
For example, the heating temperature, type, immersion time and the like of the molten salt such as pyrosulfate are not limited to those in the examples, but can be changed appropriately according to the required quality level and the like. Further, after an arbitrary step in the manufacturing process, a washing step can be performed if necessary.

【0130】[0130]

【発明の効果】以上説明したように本発明方法によれ
ば、情報記録媒体用基板を、硫酸水素塩等の溶融塩に浸
漬して処理することで、アルカリ等の溶出を著しく抑え
ることができるとともに、処理液に水分を供給又は補う
ことで、水分が蒸発しピロ硫酸塩の結晶が析出して処理
の効果が低下することがなく、処理の効果を持続しつつ
長期間連続して均一に処理できる。
As described above, according to the method of the present invention, the elution of alkali and the like can be remarkably suppressed by immersing the information recording medium substrate in a molten salt such as hydrogensulfate and treating it. At the same time, by supplying or supplementing water to the processing liquid, the water does not evaporate and crystals of pyrosulfate precipitate and the effect of the processing does not decrease. Can be processed.

【0131】また、本発明の情報記録媒体によれば、ア
ルカリ等の溶出を著しく抑制できる情報記録媒体用基板
を使用しているので、耐候性及び寿命に優れ高い信頼性
を有する情報記録媒体を製造できる。
Further, according to the information recording medium of the present invention, since the information recording medium substrate which can significantly suppress the elution of alkali and the like is used, an information recording medium having excellent weather resistance and long life and high reliability can be obtained. Can be manufactured.

【0132】さらに、本発明のガラス製品及びその製造
方法によれば、アルカリやその他の成分の溶出を著しく
抑えた製品が得られるので、耐候性及び寿命に優れ高い
信頼性を有するガラス製品が得られる。
Further, according to the glass product of the present invention and the method for producing the same, it is possible to obtain a product in which the elution of alkali and other components is significantly suppressed, so that a highly reliable glass product having excellent weather resistance and life can be obtained. Can be

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】水蒸気の供給方法の一態様を説明するための図
である。
FIG. 1 is a diagram illustrating one embodiment of a method for supplying steam.

【図2】水蒸気の供給方法の他の態様を説明するための
図である。
FIG. 2 is a diagram for explaining another embodiment of a method for supplying steam.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 密閉容器 2 水 3 エアー供給管 4 スチーム管 5 処理槽 6 溶融塩 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Closed container 2 Water 3 Air supply pipe 4 Steam pipe 5 Processing tank 6 Molten salt

Claims (19)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 情報記録媒体用のガラスを主成分とした
基板を、少なくとも硫酸水素塩及び/又はピロ硫酸塩を
含有する溶融塩に接触させて、ガラス成分の溶出を抑制
する処理を行う際に、溶融塩の結晶化を抑制する処理を
施すことを特徴とする情報記録媒体用基板の製造方法。
1. A process for suppressing the elution of glass components by bringing a substrate mainly composed of glass for an information recording medium into contact with a molten salt containing at least hydrogen sulfate and / or pyrosulfate. A process for suppressing crystallization of the molten salt.
【請求項2】 前記溶融塩に接触させてガラス成分の溶
出を抑制する処理、及び溶融塩の結晶化を抑制する処理
を、ガラス基板の化学強化処理後に行い、前記溶融塩に
よる処理を化学強化処理温度より少なくとも50℃低い
温度で行うことを特徴とする請求項1記載の情報記録媒
体用基板の製造方法。
2. A process of contacting the molten salt to suppress the elution of glass components and a process of suppressing crystallization of the molten salt are performed after the chemical strengthening process of the glass substrate, and the process with the molten salt is chemically strengthened. 2. The method for manufacturing a substrate for an information recording medium according to claim 1, wherein the temperature is lower than the processing temperature by at least 50 ° C.
【請求項3】 前記溶融塩に接触させてガラス成分の溶
出を抑制する処理を、該溶融塩の昇華温度未満で行うこ
とを特徴とする請求項1又は2記載の情報記録媒体用基
板の製造方法。
3. The production of a substrate for an information recording medium according to claim 1, wherein the treatment of contacting the molten salt to suppress the elution of glass components is performed at a temperature lower than the sublimation temperature of the molten salt. Method.
【請求項4】 溶出を抑制するガラス成分が、アルカリ
イオンであることを特徴とする請求項1乃至3のいずれ
かに記載の情報記録媒体用基板の製造方法。
4. The method for producing a substrate for an information recording medium according to claim 1, wherein the glass component that suppresses elution is an alkali ion.
【請求項5】 溶融塩の結晶化を抑制する処理が、溶融
塩に水分を供給する処理であることを特徴とする請求項
1乃至4のいずれかに記載の情報記録媒体用基板の製造
方法。
5. The method for manufacturing a substrate for an information recording medium according to claim 1, wherein the process of suppressing crystallization of the molten salt is a process of supplying water to the molten salt. .
【請求項6】 溶融塩の結晶化を抑制する処理が、溶融
塩から失われる水分を補う処理であることを特徴とする
請求項1乃至5のいずれかに記載の情報記録媒体用基板
の製造方法。
6. The method for manufacturing a substrate for an information recording medium according to claim 1, wherein the treatment for suppressing crystallization of the molten salt is a treatment for compensating for water lost from the molten salt. Method.
【請求項7】 硫酸水素塩及び/又はピロ硫酸塩を含有
する溶融塩が、さらに硫酸を加えてなる溶融塩であるこ
とを特徴とする請求項1乃至6のいずれかに記載の情報
記録媒体用基板の製造方法。
7. The information recording medium according to claim 1, wherein the molten salt containing hydrogen sulfate and / or pyrosulfate is a molten salt obtained by further adding sulfuric acid. Of manufacturing substrates for
【請求項8】 水分の供給方法又は水分を補う方法が、
溶融塩中に水蒸気を導入する方法であることを特徴とす
る請求項5又は6記載の情報記録媒体用基板の製造方
法。
8. A method for supplying or supplementing moisture, the method comprising:
The method for producing a substrate for an information recording medium according to claim 5, wherein the method is a method of introducing steam into the molten salt.
【請求項9】 水分の供給方法又は水分を補う方法が、
溶融塩を水蒸気雰囲気下に置く方法であることを特徴と
する請求項5又は6記載の情報記録媒体用基板の製造方
法。
9. A method for supplying or supplementing water,
7. The method according to claim 5, wherein the molten salt is placed in a steam atmosphere.
【請求項10】 水分の供給方法又は水分を補う方法
が、溶融塩に硫酸水素塩を添加する方法であることを特
徴とする請求項5又は6記載の情報記録媒体用基板の製
造方法。
10. The method for manufacturing a substrate for an information recording medium according to claim 5, wherein the method of supplying water or the method of supplementing water is a method of adding hydrogen sulfate to a molten salt.
【請求項11】 溶融塩の温度が、溶融温度又は液相温
度〜500℃であって、かつ溶融塩の昇華温度未満であ
ることを特徴とする請求項1乃至10のいずれかに記載
の情報記録媒体用基板の製造方法。
11. The information according to claim 1, wherein the temperature of the molten salt is from the melting temperature or the liquidus temperature to 500 ° C. and lower than the sublimation temperature of the molten salt. A method for manufacturing a recording medium substrate.
【請求項12】 請求項1乃至11記載のいずれかに記
載の情報記録媒体用基板の製造方法によって、ガラス表
面が、Si−O−Naの非架橋状態から、Si−O−N
aのNa+がヒドロニウムイオンとイオン交換されて水
和状態になり、その後、加熱脱水によってシラノール基
が形成され、そのシラノール基が脱水されて、ガラス表
面でSi−O−Siの架橋化がなされた状態にすること
を特徴とする情報記録媒体用基板の製造方法。
12. The method for manufacturing a substrate for an information recording medium according to claim 1, wherein the glass surface is changed from a non-crosslinked state of Si—O—Na to Si—O—N.
The Na + of a is ion-exchanged with hydronium ions to be in a hydrated state, and thereafter, a silanol group is formed by heating and dehydration, and the silanol group is dehydrated. A method for manufacturing a substrate for an information recording medium, wherein the method is performed.
【請求項13】 請求項1乃至11記載のいずれかに記
載の情報記録媒体用基板の製造方法によって、ガラス基
板表面を、Si−O−Naの非架橋状態から、Si−O
−Siの架橋化がなされた状態にすることを特徴とする
情報記録媒体用基板の製造方法。
13. The method for manufacturing a substrate for an information recording medium according to claim 1, wherein the surface of the glass substrate is changed from a non-crosslinked state of Si—O—Na to Si—O.
-A method for producing a substrate for an information recording medium, wherein the substrate is brought into a state where Si is crosslinked.
【請求項14】 情報記録媒体用基板が、化学強化処理
を施されたガラス基板であることを特徴とする請求項1
乃至13のいずれかに記載の情報記録媒体用基板の製造
方法。
14. The information recording medium substrate according to claim 1, wherein the substrate is a glass substrate subjected to a chemical strengthening treatment.
14. The method for manufacturing a substrate for an information recording medium according to any one of claims 13 to 13.
【請求項15】 情報記録媒体用基板が、結晶化ガラス
基板であることを特徴とする請求項1乃至13のいずれ
かに記載の情報記録媒体用基板の製造方法。
15. The method for manufacturing an information recording medium substrate according to claim 1, wherein the information recording medium substrate is a crystallized glass substrate.
【請求項16】 情報記録媒体用基板が、磁気抵抗型ヘ
ッドで再生される磁気ディスクに使用される基板である
ことを特徴とする請求項1乃至15のいずれかに記載の
情報記録媒体用基板の製造方法。
16. The information recording medium substrate according to claim 1, wherein the information recording medium substrate is a substrate used for a magnetic disk reproduced by a magnetoresistive head. Manufacturing method.
【請求項17】 請求項1乃至16のいずれかに記載の
情報記録媒体用基板の製造方法を用いて得られた情報記
録媒体用基板上に、少なくとも記録層を形成したことを
特徴とする情報記録媒体。
17. An information recording medium comprising at least a recording layer formed on an information recording medium substrate obtained by using the method for manufacturing an information recording medium substrate according to claim 1. Description: recoding media.
【請求項18】 ガラスを主成分とした製品を、少なく
とも硫酸水素塩及び/又はピロ硫酸塩を含有する溶融塩
に接触させて、ガラス成分の溶出を抑制する処理を行う
際に、溶融塩の結晶化を抑制する処理を施すことを特徴
とするガラス製品の製造方法。
18. A process for suppressing the elution of glass components by contacting a glass-based product with a molten salt containing at least hydrogen sulfate and / or pyrosulfate. A method for producing a glass product, comprising performing a treatment for suppressing crystallization.
【請求項19】 前記溶融塩に接触させてガラス成分の
溶出を抑制する処理を、該溶融塩の昇華温度未満で行う
ことを特徴とする請求項18に記載のガラス製品の製造
方法。
19. The method for producing a glass product according to claim 18, wherein the treatment of contacting the molten salt to suppress the elution of the glass component is performed at a temperature lower than the sublimation temperature of the molten salt.
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