JP2000080466A - Vacuum arc deposition device - Google Patents

Vacuum arc deposition device

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JP2000080466A
JP2000080466A JP10247330A JP24733098A JP2000080466A JP 2000080466 A JP2000080466 A JP 2000080466A JP 10247330 A JP10247330 A JP 10247330A JP 24733098 A JP24733098 A JP 24733098A JP 2000080466 A JP2000080466 A JP 2000080466A
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JP
Japan
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evaporation
deposited
arc
cathode
vacuum
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JP10247330A
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Japanese (ja)
Inventor
Takeshi Suzuki
毅 鈴木
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Kobe Steel Ltd
Original Assignee
Kobe Steel Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a vacuum arc deposition device capable of obtaining a desired film thickness distribution and moreover small in the restriction of the shape of the material to be vapor-deposited. SOLUTION: This vacuum arc deposition device is provided with a cathode as an evaporating source and an anode executing arc discharge with the cathode in a vacuum vessel placed with the material to be vapor-deposited and provided with an arc power source capable of controlling the value of the electric current to be charged to the cathode or anode, and the evaporating source has a long- length body long in the height direction of the material to be vapor-deposited and is arranged around the material to be vapor-deposited.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、工具、機械部品の
耐磨耗、耐摺動用のコーティング等に使用される真空ア
ーク蒸着装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a vacuum arc evaporation apparatus used for abrasion-resistant and sliding-resistant coating of tools and mechanical parts.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、真空アーク蒸着装置としては、特
開平7−173617号公報に記載のもの(従来技術
1)や、特公平5−37232号公報に記載のもの(従
来技術2)がある。従来技術1の装置は、真空容器の中
央に円筒状の蒸発源を配置したものであって、被蒸着物
は蒸発源を取り囲むように配置される。
2. Description of the Related Art Conventionally, as a vacuum arc vapor deposition apparatus, there is an apparatus described in JP-A-7-173617 (prior art 1) and an apparatus described in Japanese Patent Publication No. 5-37232 (prior art 2). . In the apparatus of the prior art 1, a cylindrical evaporation source is disposed at the center of a vacuum vessel, and an object to be deposited is disposed so as to surround the evaporation source.

【0003】また、この装置では、蒸発源の両端部近傍
には陽極が配置され、各陽極への投入電流を独立に制御
可能にされており、各陽極への投入電流バランスを制御
することによって蒸発源に発生するアークスポットを任
意に走査し、被蒸着物に均一若しくは所望の厚さ分布の
薄膜を形成することができる。また、従来技術2の装置
は、真空容器の側壁に複数の蒸発源を鉛直方向に並べて
配置したものである。
Further, in this apparatus, anodes are arranged near both ends of the evaporation source, and the input current to each anode can be controlled independently. By controlling the input current balance to each anode, By arbitrarily scanning the arc spot generated in the evaporation source, a thin film having a uniform or desired thickness distribution can be formed on the deposition target. Further, the device of prior art 2 has a plurality of evaporation sources arranged side by side in the vertical direction on the side wall of the vacuum vessel.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】従来技術1では、蒸発
源が真空容器の中央にあるため、処理空間が蒸発源と真
空容器の間の中空円筒状空間である。したがって、円筒
状の被蒸着物を処理するには適しているが、中実の大径
物などを入れることができず、被蒸着物の形状に制約を
受ける。
In the prior art 1, since the evaporation source is located at the center of the vacuum vessel, the processing space is a hollow cylindrical space between the evaporation source and the vacuum vessel. Therefore, although it is suitable for processing a cylindrical object to be deposited, it cannot accommodate a solid large-diameter object or the like, and the shape of the object to be deposited is restricted.

【0005】一方、従来技術2では、蒸発源が真空容器
の側壁に設けられ、処理空間が従来技術1のように中空
円筒状ではないので、従来技術1より被蒸着物の形状の
制約が少ない。ところが、従来技術2では、複数の蒸発
源が被蒸着物の長手方向に並べて配置されており、しか
も各蒸発源間の間隔は固定されているため、被蒸着物の
形成される膜厚分布は蒸発源の配置によって一義的に決
まり、所望の膜厚分布を得るのが困難である。
On the other hand, in the prior art 2, since the evaporation source is provided on the side wall of the vacuum vessel and the processing space is not a hollow cylindrical shape as in the prior art 1, the shape of the object to be deposited is less restricted than in the prior art 1. . However, in the prior art 2, a plurality of evaporation sources are arranged side by side in the longitudinal direction of the deposition target, and the interval between the evaporation sources is fixed. It is uniquely determined by the arrangement of the evaporation source, and it is difficult to obtain a desired film thickness distribution.

【0006】また、蒸発源の間隔を詰めるにも限界があ
り、所望する膜厚分布によっては、この従来技術2のよ
うに複数の蒸発源を鉛直方向に並べて配置するのでは、
達成できないことがある。本発明は、このような問題に
鑑みてなされたものであって、所望の膜厚分布を得るこ
とができると共に、被蒸着物の形状の制約が少ない真空
アーク蒸着装置を提供することを目的とする。
Further, there is a limit in reducing the interval between the evaporation sources. Depending on a desired film thickness distribution, it is difficult to arrange a plurality of evaporation sources in the vertical direction as in the prior art 2.
There are things that cannot be achieved. The present invention has been made in view of such a problem, and it is an object of the present invention to provide a vacuum arc vapor deposition apparatus that can obtain a desired film thickness distribution and has less restrictions on the shape of an object to be deposited. I do.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成すべく、以下の技術的手段を講じた。すなわち、本発
明の真空アーク蒸着装置は、被蒸着物が配置される真空
容器内に、蒸発源としての陰極と、当該陰極との間でア
ーク放電を行う陽極とを備え、前記陰極又は陽極への投
入電流値を制御可能なアーク電源を備えた真空アーク蒸
着装置であって、前記蒸発源は、前記被蒸着物の高さ方
向に長い長尺体とされ、前記被蒸着物の周囲に配置され
ていることを特徴とするものである。
The present invention takes the following technical means to achieve the above object. That is, the vacuum arc vapor deposition apparatus of the present invention includes, in a vacuum vessel in which an object to be deposited is arranged, a cathode as an evaporation source, and an anode for performing arc discharge between the cathode and the cathode or the anode. A vacuum arc vapor deposition apparatus provided with an arc power supply capable of controlling the input current value of the vapor deposition source, wherein the evaporation source is a long body that is long in the height direction of the deposition target, and is disposed around the deposition target. It is characterized by having been done.

【0008】このような構成の採用により、所望の膜厚
分布を得ることがき、しかも被蒸着物の形状の制約が少
なく、中実大径物を処理することができる。また、前記
蒸発源は、前記被蒸着物の周方向に複数配置するのが好
ましく、さらに、複数の蒸発源はそれぞれ異なる種類の
蒸発物質からなり、前記被蒸着物をその高さ方向の軸心
廻りに回動させる回動手段を備えているのが好適であ
る。
By adopting such a configuration, a desired film thickness distribution can be obtained, and the shape of the object to be deposited is less restricted, and a solid large-diameter object can be processed. In addition, it is preferable that a plurality of the evaporation sources are arranged in a circumferential direction of the object to be deposited, and further that the plurality of evaporation sources are made of different types of evaporation materials, respectively, and the object to be deposited is axially centered in a height direction. It is preferable to provide a turning means for turning around.

【0009】この場合、所望の膜厚分布で、多金属系多
層膜を形成することができる。また、前記蒸発源は、前
記被蒸発物の周囲に1つ配置され、前記被蒸着物をその
高さ方向の軸心廻りに回動させる回動手段を備えている
ものとしてもよい。この場合、所望の膜厚分布が得られ
ることに加えて、被蒸着物の数を減らせるので、装置を
安価に構成することができる。
In this case, a polymetal-based multilayer film can be formed with a desired film thickness distribution. Further, the evaporation source may be provided around the object to be evaporated, and may include a rotating means for rotating the object to be deposited around an axis in a height direction. In this case, a desired film thickness distribution can be obtained, and the number of objects to be deposited can be reduced, so that the apparatus can be configured at low cost.

【0010】さらに、本発明では、前記真空容器の外側
であって前記蒸発源の背面位置に当該蒸発源に生じるア
ークスポットの位置を磁力により制御するための磁場形
成手段が配置されているものとすることができる。この
場合、投入電流制御に加え、磁力による制御で一層アー
クスポットの制御性が良くなる。また磁場形成手段が真
空容器の外側に配置されているので、装置の構造が簡易
になる。
Further, in the present invention, a magnetic field forming means for controlling the position of an arc spot generated in the evaporation source by a magnetic force is disposed outside the vacuum vessel and at a position behind the evaporation source. can do. In this case, the control of the arc spot is further improved by the control by the magnetic force in addition to the control of the applied current. Further, since the magnetic field forming means is disposed outside the vacuum vessel, the structure of the apparatus is simplified.

【0011】[0011]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に基づいて説明する。図1〜図3は、本発明の第1の実
施の形態に係る真空アーク蒸着装置1を示している。こ
の真空アーク蒸着装置1は、真空容器3の側壁に対向す
る2つの蒸発源5を備え、真空容器3の底部に被蒸着物
7を載置するテーブル8を備えて主構成されている。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. 1 to 3 show a vacuum arc evaporation apparatus 1 according to a first embodiment of the present invention. This vacuum arc vapor deposition apparatus 1 is mainly configured to include two evaporation sources 5 facing the side wall of the vacuum vessel 3 and a table 8 on which a deposition target 7 is placed at the bottom of the vacuum vessel 3.

【0012】前記2つの蒸発源5は、真空容器3の側壁
に互いに対向するように配置されている。このように、
蒸発源5は、被蒸着物7が載置されるテーブル8の周囲
に配置されており、被蒸着物7は、蒸発源5に囲まれた
空間内に収納可能であれば、形状の制約がない。特に、
大径の中実長尺物の被蒸着物7に適している。各蒸発源
5は、被蒸着物7の高さ方向に長い長尺体とされ、さら
に具体的には真空容器3の高さ方向に長い矩形状に形成
されている。具体的には、幅150mm、長さ1000
mm程度が好ましい。
The two evaporation sources 5 are arranged on the side wall of the vacuum vessel 3 so as to face each other. in this way,
The evaporation source 5 is arranged around a table 8 on which the object 7 is placed. If the object 7 can be stored in a space surrounded by the evaporation source 5, the shape is restricted. Absent. In particular,
It is suitable for a large-diameter solid long object 7 to be deposited. Each of the evaporation sources 5 is a long body that is long in the height direction of the deposition target 7, and more specifically, is formed in a rectangular shape that is long in the height direction of the vacuum vessel 3. Specifically, width 150mm, length 1000
mm is preferable.

【0013】これらの蒸発源5の長手(上下)方向両端
部近傍には、上部陽極9a,9b及び下部陽極9c,9
dが配置されている。上部陽極9a,9bは、蒸発源5
の長手方向の各端部近傍において、蒸発源5の幅方向両
側方に対をなして配置されている。また、下部陽極9
c,9dも同様に対をなしている。さらに、対をなす陽
極は互いに接続されている。
The upper anodes 9a and 9b and the lower anodes 9c and 9 are located near both ends of the evaporation source 5 in the longitudinal (vertical) direction.
d is arranged. The upper anodes 9a and 9b are
In the vicinity of each end in the longitudinal direction, a pair is disposed on both sides in the width direction of the evaporation source 5. Also, the lower anode 9
Similarly, c and 9d are paired. Further, the paired anodes are connected to each other.

【0014】なお、陽極9は、これに限定されるもので
はなく、陰極である蒸発源5との間でアーク放電を行え
る位置であれば良い。前記各蒸発源5の上下方向両端部
には、上部陰極電極10a及び下部陰極電極10bが接
続され、これらの陰極電極10a,10bにはアーク電
源の陰極が接続されている。アーク電源は、図3に示す
ように、4つの第1〜第4アーク電源11a,11b,
11c,11dからなる。第1及び第2アーク電源11
a,11bの陰極は、前記蒸発源5の上部陰極電極10
aに接続され、第3及び第4アーク電源11c,11d
の陰極は、前記蒸発源5の下部陰極電極10bに接続さ
れている。なお、これらの陰極と真空容器3とは絶縁さ
れている。
The anode 9 is not limited to this, but may be any position where arc discharge can be performed between the anode 9 and the evaporation source 5 as a cathode. An upper cathode electrode 10a and a lower cathode electrode 10b are connected to both ends in the vertical direction of each of the evaporation sources 5, and a cathode of an arc power supply is connected to these cathode electrodes 10a and 10b. The arc power supplies include four first to fourth arc power supplies 11a and 11b, as shown in FIG.
11c and 11d. First and second arc power supplies 11
The cathodes a and 11b are connected to the upper cathode electrode 10 of the evaporation source 5.
a and the third and fourth arc power supplies 11c and 11d
Is connected to the lower cathode electrode 10b of the evaporation source 5. In addition, these cathodes and the vacuum container 3 are insulated.

【0015】前記上部陽極9a,9bは、前記第1及び
第3アーク電源11a,11cの陽極に接続され、前記
下部陽極9c,9dは、前記第2及び第4アーク電源1
1b,11dの陽極に接続されている。また、各アーク
電源11a,11b,11c,11dは、図示しない制
御装置により、出力電流をそれぞれ独立して制御可能と
されている。
The upper anodes 9a, 9b are connected to the anodes of the first and third arc power supplies 11a, 11c, and the lower anodes 9c, 9d are connected to the second and fourth arc power supplies 1
It is connected to the anodes 1b and 11d. Each of the arc power supplies 11a, 11b, 11c, and 11d can independently control the output current by a control device (not shown).

【0016】前記テーブル8は、真空容器1外の回転ア
クチュエータ13に駆動軸15を介して接続されてお
り、当該テーブル8に載置された被蒸着物7を上下方向
(高さ方向)の軸心廻りに回動させることができる。す
なわち、テーブル8、回転アクチュエータ13及び駆動
軸15が被蒸着物7を回動させる回動手段を構成してい
る。
The table 8 is connected to a rotary actuator 13 outside the vacuum vessel 1 via a drive shaft 15 so that the object 7 placed on the table 8 can be moved vertically (in a height direction). It can be turned around the heart. That is, the table 8, the rotary actuator 13 and the drive shaft 15 constitute a rotating unit for rotating the object 7 to be deposited.

【0017】このように構成された真空アーク蒸着装置
により被蒸着物7に薄膜を形成するには、まず、図示省
略の真空ポンプにより真空容器1内を排気して所定圧の
真空状態を保つ。また、図示省略の反応性ガスの導入ラ
インから真空容器1内に窒素等の反応性ガスが導入され
る。なお反応性ガスとしては酸素、メタン、アセチレン
等も採用することができる。そして図示省略の点火装置
により前記蒸発源5から真空アーク放電を発生させる
と、該蒸発源5の表面にアーク電流が集中したアークス
ポットが現れ、蒸発源材料(ターゲット材料)が蒸発す
る。
In order to form a thin film on the object to be deposited 7 by the vacuum arc evaporation apparatus having the above-described structure, first, the inside of the vacuum vessel 1 is evacuated by a vacuum pump (not shown) to maintain a vacuum state at a predetermined pressure. A reactive gas such as nitrogen is introduced into the vacuum vessel 1 from a reactive gas introduction line (not shown). Oxygen, methane, acetylene, and the like can be used as the reactive gas. When a vacuum arc discharge is generated from the evaporation source 5 by an igniter (not shown), an arc spot where an arc current is concentrated appears on the surface of the evaporation source 5, and the evaporation source material (target material) evaporates.

【0018】蒸発したターゲット材料の蒸気は、真空容
器3内のテーブル8上に設置された被蒸着物7に向かっ
て移動し、該被蒸着物7上に薄膜を形成する。このと
き、被蒸着物7は、テーブル8によって蒸発源5で囲ま
れた空間内で回転しており、被蒸着物7の円周方向に均
一な膜厚さの薄膜が形成される。ここで、図1及び図2
では、蒸発源5を2つ備えたものを例示しているが、そ
れより多くの蒸発源5を備えたものでも良い。また、1
つの蒸発源5でも良い。1つであっても、テーブル8の
回転によって、被蒸着物7の円周方向には均等に蒸発物
質が照射される。
The vapor of the evaporated target material moves toward the object 7 placed on the table 8 in the vacuum vessel 3 to form a thin film on the object 7. At this time, the deposition target 7 is rotating in the space surrounded by the evaporation source 5 by the table 8, and a thin film having a uniform thickness is formed in the circumferential direction of the deposition target 7. Here, FIGS. 1 and 2
In the above, an example in which two evaporation sources 5 are provided is illustrated, but an example in which more evaporation sources 5 are provided may be used. Also, 1
One evaporation source 5 may be used. Even if it is one, the evaporation substance is uniformly irradiated in the circumferential direction of the deposition target 7 by the rotation of the table 8.

【0019】なお、被蒸着物7には、必要に応じて図示
しない電源によって負の電圧(バイアス電圧)が印加さ
れ、前記蒸気の中のイオンを加速しながら薄膜形成が行
われる。また、必要に応じて真空容器内には窒素等の反
応性のガスが導入され、ターゲット材料との化合物の薄
膜を形成することもある。この実施の形態においては、
図示しない制御装置により、例えば、各アーク電源11
a,11b,11c,11dを次の如く設定する。 第1アーク電源11aの電流IA=240A 第2アーク電源11bの電流IB=260A 第3アーク電源11cの電流IC=240A 第4アーク電源11dの電流ID=260A 前記の如く各アーク電源の電流を設定した場合、図3に
示す如く、陰極電流の蒸発源5の上下両端に、 IA+IB=IC+ID=500A ずつ均等に流れるが、陽極電流は上部陽極電極9a,9
bに、 IA+IC=480A 下部陽極電極9c,9dに、 IB+ID=520A 流れ、陰極電流バランスを均等に保ちながら陽極電流バ
ランスを変えることができる。
A negative voltage (bias voltage) is applied to the object 7 by a power source (not shown) as needed, and a thin film is formed while accelerating ions in the vapor. In addition, a reactive gas such as nitrogen may be introduced into the vacuum vessel as needed to form a thin film of a compound with the target material. In this embodiment,
For example, each arc power supply 11 is controlled by a control device (not shown).
a, 11b, 11c, and 11d are set as follows. Current IA of first arc power supply 11a = 240A Current IB of second arc power supply 11b = 260A Current IC of third arc power supply 11c = 240A Current ID of fourth arc power supply 11d = 260A The current of each arc power supply is set as described above. In this case, as shown in FIG. 3, IA + IB = IC + ID = 500 A flows uniformly at the upper and lower ends of the evaporation source 5 for the cathode current.
b, IA + IC = 480A IB + ID = 520A flows through the lower anode electrodes 9c and 9d, and the anode current balance can be changed while keeping the cathode current balance uniform.

【0020】また、同様にIA〜IDを適当に設定する
ことで、陰極電流のみのバランスを変えたり、陰極、陽
極の両方のバランスを制御することもできる。このよう
に陰極電流と陽極電流を独立に制御することによって、
被蒸着物7上のアークスポットの動き(位置)を任意に
制御することができる。また、前記蒸発源5は、長尺状
の被蒸着物7であってもその全高にわたって均一な厚さ
の薄膜を形成するに十分な高さが確保されている。した
がって、アークスポットの位置を蒸発面全面にわたって
むらなく走査することにより、被蒸着物7の表面上に均
一な厚さの薄膜を形成することができる。このように、
本実施の形態によれば、円周方向の均一性に加え、鉛直
方向についても薄膜の均一性を確保することができる。
Similarly, by appropriately setting IA to ID, the balance of only the cathode current can be changed, or the balance of both the cathode and the anode can be controlled. By independently controlling the cathode current and the anode current in this way,
The movement (position) of the arc spot on the object 7 can be arbitrarily controlled. Also, the evaporation source 5 has a sufficient height to form a thin film having a uniform thickness over the entire height of the long evaporation target 7. Therefore, by scanning the position of the arc spot evenly over the entire evaporation surface, a thin film having a uniform thickness can be formed on the surface of the deposition target 7. in this way,
According to the present embodiment, in addition to the uniformity in the circumferential direction, the uniformity of the thin film in the vertical direction can be ensured.

【0021】一方、意図的にアークスポットの位置を偏
在させることにより、所望の膜厚さ分布(例えば、ある
特定部のみを厚くする)を得ることができる。また、一
方の蒸発源5と他方の蒸発源5とを異なる蒸発物質から
なるものとすることもできる。このように複数の蒸発源
5に異なる種類の蒸発物質からなる蒸発源5を含める
と、テーブル8上の被蒸着物7の回転により、均一な膜
厚さの多金属系多層膜を形成することができる。
On the other hand, by intentionally distributing the positions of the arc spots, it is possible to obtain a desired film thickness distribution (for example, increase the thickness of only a specific portion). Further, one evaporation source 5 and the other evaporation source 5 can be made of different evaporation materials. When the plurality of evaporation sources 5 include the evaporation sources 5 made of different types of evaporation substances, a multi-metal-based multilayer film having a uniform film thickness can be formed by rotating the object 7 on the table 8. Can be.

【0022】この場合の蒸発物質としては、例えば、チ
タン、チタンアルミ、クロム、モリブデン等を採用する
ことができる。そして被蒸着物7に形成される多層膜
は、窒化チタン、窒化チタンアルミ、酸窒化チタンアル
ミ、炭窒化チタン、窒化クロム、酸窒化クロム、窒化モ
リブデン、酸窒化モリブデン等の単層膜の積層膜とな
る。
In this case, as the evaporating substance, for example, titanium, titanium aluminum, chromium, molybdenum or the like can be used. The multilayer film formed on the deposition target 7 is a single-layer film of titanium nitride, titanium aluminum nitride, titanium aluminum oxynitride, titanium carbonitride, chromium nitride, chromium oxynitride, molybdenum nitride, molybdenum oxynitride, or the like. Becomes

【0023】図4は、本発明の第2の実施の形態に係る
真空アーク蒸着装置1を示している。この第2の実施の
形態が、第1の実施の形態と異なる点は、蒸発源5の真
空容器3外側(蒸発源5の背面側)に磁場形成手段17
をそれぞれ設けて、陰極又は陽極への投入電流制御に加
えて、磁力によるアークスポットの制御を行っている点
にある。当該磁場形成手段17は、電磁石若しくは永久
磁石からなる磁石から構成されている。
FIG. 4 shows a vacuum arc vapor deposition apparatus 1 according to a second embodiment of the present invention. This second embodiment differs from the first embodiment in that the magnetic field forming means 17 is provided outside the vacuum vessel 3 of the evaporation source 5 (on the back side of the evaporation source 5).
Are provided to control the arc spot by magnetic force in addition to controlling the input current to the cathode or the anode. The magnetic field forming means 17 is composed of a magnet made of an electromagnet or a permanent magnet.

【0024】この磁場形成手段17は、ワイヤ19によ
ってポテンショメータ21を介してモータ23に連結さ
れており、真空容器3の高さ方向(すなわち、蒸発源5
の長手方向)に移動自在とされている。前記磁場形成手
段17は、図4のような磁力線を発生し、磁力線が発生
すると、蒸発源5を流れるアーク電流との作用による力
でアークスポットの位置に影響を与えることができる。
そして、磁場形成手段17の高さを調整することによ
り、アークスポットの位置を任意に制御でき、アークス
ポットの制御性が向上し、膜厚さの均一性が向上する。
The magnetic field forming means 17 is connected to a motor 23 via a potentiometer 21 by a wire 19, and is connected to the motor 23 in the height direction of the vacuum vessel 3 (that is, the evaporation source 5).
(Longitudinal direction). The magnetic field forming means 17 generates the magnetic field lines as shown in FIG. 4, and when the magnetic field lines are generated, the position of the arc spot can be affected by the force generated by the action of the arc current flowing through the evaporation source 5.
By adjusting the height of the magnetic field forming means 17, the position of the arc spot can be arbitrarily controlled, the controllability of the arc spot is improved, and the uniformity of the film thickness is improved.

【0025】また、この第2の実施の形態によれば、磁
場形成手段とモータ23等からなる移動手段のいずれも
が真空容器3の外部に配置されているので、装置全体の
構造が簡易になる。なお、本発明は、上記実施の形態に
限定されるものではない。すなわち、例えば、蒸発源5
は、真空容器3の側壁に対して直接的に設ける必要はな
く、他の部材を介して間接的に側壁に設けても良い。ま
た、真空容器3の側壁に対して設けられていなくとも、
被蒸着物7を囲むようにその周囲に配置されていれば良
い。
According to the second embodiment, since both the magnetic field forming means and the moving means including the motor 23 are arranged outside the vacuum vessel 3, the structure of the entire apparatus can be simplified. Become. Note that the present invention is not limited to the above embodiment. That is, for example, the evaporation source 5
Need not be provided directly on the side wall of the vacuum vessel 3, but may be provided indirectly on the side wall via another member. Also, even if it is not provided for the side wall of the vacuum vessel 3,
What is necessary is just to arrange around the to-be-deposited object 7 so that it may surround.

【0026】[0026]

【発明の効果】以上、本発明によれば、所望の膜厚分布
を得ることができると共に、被蒸着物の形状の制約を少
なくすることができる。
As described above, according to the present invention, a desired film thickness distribution can be obtained, and restrictions on the shape of an object to be deposited can be reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1の実施の形態に係る真空アーク蒸
着装置の側断面図である。
FIG. 1 is a side sectional view of a vacuum arc evaporation apparatus according to a first embodiment of the present invention.

【図2】図1のA−A線断面図である。FIG. 2 is a sectional view taken along line AA of FIG.

【図3】本発明の第1の実施の形態におけるアーク電源
回路図である。
FIG. 3 is an arc power supply circuit diagram according to the first embodiment of the present invention.

【図4】本発明の第2の実施の形態に係る真空アーク蒸
着装置の側断面図である。
FIG. 4 is a side sectional view of a vacuum arc evaporation apparatus according to a second embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 真空アーク蒸着装置 3 真空容器 5 蒸発源 7 被蒸着物 8 テーブル 9a,9b 上部陽極 9c,9d 下部陽極 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Vacuum arc evaporation apparatus 3 Vacuum container 5 Evaporation source 7 Object to be deposited 8 Table 9a, 9b Upper anode 9c, 9d Lower anode

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 被蒸着物が配置される真空容器内に、蒸
発源としての陰極と、当該陰極との間でアーク放電を行
う陽極とを備え、前記陰極又は陽極への投入電流値を制
御可能なアーク電源を備えた真空アーク蒸着装置であっ
て、 前記蒸発源は、前記被蒸着物の高さ方向に長い長尺体と
され、前記被蒸着物の周囲に配置されていることを特徴
とする真空アーク蒸着装置。
1. A vacuum vessel in which an object to be deposited is arranged, a cathode as an evaporation source, and an anode for performing arc discharge between the cathode and the cathode, and a value of a current supplied to the cathode or the anode is controlled. A vacuum arc evaporation apparatus equipped with a possible arc power supply, wherein the evaporation source is a long body that is long in a height direction of the object to be deposited, and is disposed around the object to be deposited. Vacuum arc evaporation apparatus.
【請求項2】 前記蒸発源は、前記被蒸着物の周方向に
複数配置されていることを特徴とする請求項1記載の真
空アーク蒸着装置。
2. The vacuum arc evaporation apparatus according to claim 1, wherein a plurality of the evaporation sources are arranged in a circumferential direction of the object.
【請求項3】 前記複数の蒸発源は、それぞれ異なる種
類の蒸発物質からなり、 前記被蒸着物をその高さ方向の軸心廻りに回動させる回
動手段を備えていることを特徴とする請求項2記載の真
空アーク蒸着装置。
3. The method according to claim 1, wherein the plurality of evaporation sources are made of different types of evaporation materials, and are provided with rotating means for rotating the object to be deposited around an axis in a height direction thereof. The vacuum arc evaporation apparatus according to claim 2.
【請求項4】 前記蒸発源は、前記被蒸発物の周囲に1
つ配置され、 前記被蒸着物をその高さ方向の軸心廻りに回動させる回
動手段を備えていることを特徴とする請求項1記載の真
空アーク蒸着装置。
4. An evaporation source is provided around the object to be evaporated.
2. The vacuum arc vapor deposition apparatus according to claim 1, further comprising: a rotation unit configured to rotate the object to be deposited around an axis in a height direction thereof.
【請求項5】 前記真空容器の外側には、前記蒸発源の
背面位置に当該蒸発源に生じるアークスポットの位置を
磁力により制御するための磁場形成手段が配置されてい
ることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載の真
空アーク蒸着装置。
5. A magnetic field forming means for controlling a position of an arc spot generated in the evaporation source by a magnetic force at a position behind the evaporation source outside the vacuum vessel. Item 5. The vacuum arc evaporation apparatus according to any one of Items 1 to 4.
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