JP2000075256A - Production of liquid crystal display device - Google Patents

Production of liquid crystal display device

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JP2000075256A
JP2000075256A JP10240357A JP24035798A JP2000075256A JP 2000075256 A JP2000075256 A JP 2000075256A JP 10240357 A JP10240357 A JP 10240357A JP 24035798 A JP24035798 A JP 24035798A JP 2000075256 A JP2000075256 A JP 2000075256A
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JP
Japan
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insulating substrate
contact
temperature stage
stage
substrate
Prior art date
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Pending
Application number
JP10240357A
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Japanese (ja)
Inventor
Hiroyoshi Kitabayashi
宏佳 北林
Haruhisa Fujii
治久 藤井
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide the method for producing a liq. crystal display device by which the generation of a static electricity and damage of a substrate can be prevented or suppressed in a heat treatment step where an insulated substrate is made in contact with a high temp. stage. SOLUTION: An insulated substrate 1 is held above a high temp. stage 2 by a supporter 3 before making the substrate 1 in contact with the high temp. stage 2, and in a state of generating a space between the high temp. stage 2 and the insulated substrate 1, the insulated substrate 1 is held for a specified time in a heated atmosphere being formed by the high temp. stage 2 and moisture is removed or reduced. After then, the insulated substrate 1 is taken heat- treatment by contacting with the high temp. stage 2. As preventing or inhibiting a contact/peel continuous vibration is enabled by carrying out heat treatment of the insulated substrate 1 in a stage removed or reduced the water content, generation of the static electricity and damage of the insulated substrate 1 can be prevented or suppressed.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、絶縁性基板を高温
ステージに接触させる熱処理工程において、静電気の発
生及び絶縁性基板の破損を防止もしくは抑制することが
できる液晶表示装置の製造方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for manufacturing a liquid crystal display device capable of preventing or suppressing generation of static electricity and damage to an insulating substrate in a heat treatment step of bringing the insulating substrate into contact with a high-temperature stage. is there.

【0002】[0002]

【従来の技術】液晶表示装置の製造方法は、一般的に透
明電極付きガラス基板を作製するパターン基板作製工
程、配向膜作製、セル組み立て及び液晶注入等から成る
セル作製工程ならびに、TAB取り付け及びバックライ
ト取り付け等から成るモジュール作製工程から成る。液
晶表示装置は、液晶材料、液晶材料を狭持する2つの電
極、電極の各々に電圧を印加する配線及びRGBの3原
色から成るカラーフィルター等を含んで成り、静電気を
生じやすい構造となっている。
2. Description of the Related Art In general, a liquid crystal display device is manufactured by a pattern substrate manufacturing process for manufacturing a glass substrate with a transparent electrode, an alignment film, a cell manufacturing process including cell assembly and liquid crystal injection, and TAB mounting and backing. It consists of a module manufacturing process including light mounting and the like. The liquid crystal display device includes a liquid crystal material, two electrodes sandwiching the liquid crystal material, wiring for applying a voltage to each of the electrodes, a color filter including three primary colors of RGB, and the like. I have.

【0003】液晶表示装置の製造工程には、通常、液晶
表示装置を構成する部品の絶縁性基板を高温ステージに
接触させて熱処理して、例えば、絶縁性基板上に配向膜
を作製もしくは透明電極を形成された絶縁性基板を乾燥
する工程がある。当該工程において、絶縁性基板と高温
ステージは、接触、摩擦もしくは剥離等を生じ、静電気
を帯びる。この静電気は、周囲の塵埃を絶縁性基板に引
き寄せ、絶縁性基板に塵埃を付着させ、液晶表示装置の
不良発生の原因となる。また、絶縁性基板に帯電した静
電気の量が増加すると、絶縁性基板と他の部品との間で
放電を生じ、絶縁性基板表面に形成された電子デバイス
が損傷し、液晶表示装置に不良を生ずる。したがって、
静電気の発生を防止するとともに、発生した静電気を速
やかに除去することは、液晶表示装置の製造の歩留向上
に極めて有用である。
In the process of manufacturing a liquid crystal display device, usually, an insulating substrate of a component constituting the liquid crystal display device is brought into contact with a high-temperature stage and heat-treated, for example, to form an alignment film on the insulating substrate or to form a transparent electrode. There is a step of drying the insulating substrate on which is formed. In this step, the insulating substrate and the high-temperature stage generate contact, friction, peeling, or the like, and are charged with static electricity. This static electricity attracts surrounding dust to the insulating substrate and causes the dust to adhere to the insulating substrate, causing a failure of the liquid crystal display device. In addition, when the amount of static electricity charged on the insulating substrate increases, discharge occurs between the insulating substrate and other components, and the electronic devices formed on the surface of the insulating substrate are damaged, which causes a defect in the liquid crystal display device. Occurs. Therefore,
Preventing the generation of static electricity and quickly removing the generated static electricity are extremely useful for improving the production yield of the liquid crystal display device.

【0004】実開平5−45641号公報は、液晶表示
装置を製造する熱処理工程において発生した静電気を速
やかに除去するための製造装置として、静電除去装置を
有する基板処理装置を開示している。図16は、当該基
板処理装置を示す斜視図である。図において、101は
処理すべき絶縁性基板107を加熱するためのステー
ジ、102は絶縁性基板107の四隅に該当する部分に
配置されたガイド孔、103は絶縁性基板107を真空
吸着用の格子状に配置された貫通孔、104はステージ
101の直下に配置されガイド孔内を通過することので
きる複数組の長さが異なるピン105が植設されている
テーブル、106はテーブル104を上下に駆動できる
駆動装置、108は絶縁性基板107をその両端から支
持してステージ101上に搬入し、またそこから搬出す
る搬送部、109はピン105の長い方の側に付加され
た公知のイオン発生タイプの静電除去装置である。本装
置においては、絶縁性基板107をステージ101に吸
着固定または吸着解除するときに、静電除去装置109
を動作させて、絶縁性基板107の側方からプラスおよ
びマイナスのイオンを絶縁性基板107とステージ10
1に吹き付けて、絶縁性基板107とステージ101の
間に発生する静電気を除去することができる。
Japanese Utility Model Laid-Open No. 5-45641 discloses a substrate processing apparatus having an electrostatic removing device as a manufacturing device for quickly removing static electricity generated in a heat treatment process for manufacturing a liquid crystal display device. FIG. 16 is a perspective view showing the substrate processing apparatus. In the figure, 101 is a stage for heating an insulating substrate 107 to be processed, 102 is a guide hole arranged at a portion corresponding to four corners of the insulating substrate 107, and 103 is a lattice for holding the insulating substrate 107 by vacuum suction. A through-hole 104 is disposed immediately below the stage 101, and a table is provided with a plurality of sets of pins 105 of different lengths that can pass through the guide holes and is disposed on the table 101. A driving device 108 is capable of supporting the insulating substrate 107 from both ends thereof and carrying it into and out of the stage 101 on the stage 101. A known ion generating device 109 is attached to the longer side of the pin 105. It is a type of static eliminator. In the present apparatus, when the insulating substrate 107 is fixed to the stage 101 by suction or released, the electrostatic removal device 109 is used.
Is operated to add positive and negative ions from the sides of the insulating substrate 107 to the insulating substrate 107 and the stage 10.
1 to remove static electricity generated between the insulating substrate 107 and the stage 101.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】従来の熱処理工程を有
する液晶表示装置の製造方法においては、加熱処理を行
うステージと絶縁性基板の間に発生する静電気を、静電
除去装置を使用して除去しているから、高温で基板を処
理する熱処理工程の装置の狭い空間に、静電除去装置の
導入が必要であり、その導入が困難な場合があるという
問題があった。さらに、高温ステージに絶縁性基板を接
触させることで、絶縁性基板に振動が発生し、絶縁性基
板の破損も生じ得るが、この破損防止に関する有効な解
決手段は、未だ提供されていないという問題点もあっ
た。
In a conventional method of manufacturing a liquid crystal display device having a heat treatment step, static electricity generated between a stage for performing heat treatment and an insulating substrate is removed by using a static electricity removing device. Therefore, there is a problem that it is necessary to introduce a static eliminator into a narrow space of the apparatus in the heat treatment step of treating the substrate at a high temperature, and it is difficult to introduce the static eliminator in some cases. Further, by bringing the insulating substrate into contact with the high-temperature stage, the insulating substrate may be vibrated and the insulating substrate may be damaged, but an effective solution for preventing the damage has not been provided yet. There were also points.

【0006】本発明は上述のような課題を解決するため
になされたもので、第1の目的は、、熱処理工程を有す
る液晶表示装置の製造方法において熱処理工程におけ
る、絶縁性基板に関する静電気の発生を防止もしくは抑
制する方法を提供することである。また、第2の目的
は、熱処理工程を有する液晶表示装置の製造方法におい
て熱処理工程における絶縁性基板の破損を防止もしくは
抑制する方法を提供することである。さらに、第3の目
的は、たとえ静電気が発生したとしても、その発生量を
最小にすることによって静電気の除去を実質的に容易に
行うことができる方法を提供することである。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-described problems. A first object of the present invention is to generate static electricity on an insulating substrate in a heat treatment step in a method of manufacturing a liquid crystal display device having a heat treatment step. Is to provide a method for preventing or suppressing this. A second object is to provide a method for preventing or suppressing breakage of an insulating substrate in a heat treatment step in a method for manufacturing a liquid crystal display device having a heat treatment step. Still another object of the present invention is to provide a method for eliminating static electricity even if the static electricity is generated by minimizing the amount of the generated static electricity.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】熱処理工程において、絶
縁性基板の静電気の発生を防止するためには、絶縁性基
板が高温ステージに接触するときに生ずる現象に着目す
る必要がある。
In order to prevent the generation of static electricity on the insulating substrate in the heat treatment step, it is necessary to pay attention to the phenomenon that occurs when the insulating substrate comes into contact with the high-temperature stage.

【0008】接触により発生する絶縁性基板の電位が、
発生する静電気に対応すると考えられるから、絶縁性基
板を高温ステージに接触させた後で、その電位を測定
し、静電気発生の機構を検討した。
The potential of the insulating substrate generated by the contact is
Since it is considered to correspond to the generated static electricity, after the insulating substrate was brought into contact with the high-temperature stage, the potential was measured, and the mechanism of the static electricity generation was examined.

【0009】絶縁性基板の1例として、ガラス基板を使
用し、種々の温度に加熱したステージと接触させて、そ
の電位を測定した。実験手順を図12(図12は、13
0℃の高温ステージ上にピンで支持されているガラス基
板を、高温ステージに接触させる様子を示す側面図であ
る。)を参照して説明する。 (A)所定の温度にステージ101を加熱した後、ガラ
ス基板110をピン105の上に設置する。ピン105
は、ステージに設けられたガイド孔(図示せず)を通し
てステージ101の内部から昇降することができる。 (B)ピン105をステージ101内部へ下げて、ガラ
ス基板110をステージ101と接触させる。 (C)ステージ101には、真空吸着用の貫通孔(図示
せず)が設けられており、その貫通孔から減圧すること
により真空吸着を開始する。 (D)10秒以内にステージ101とガラス基板110
は完全に吸着する。 (E)ピン105をステージ101内部に下げて、ガラ
ス基板110とステージ101との間の接触を開始して
から10秒後に、真空吸着を停止し、ピン105をステ
ージ101内部から上げて、ガラス基板110とステー
ジ101の接触を解除する。 (F)ピン105上のガラス基板110の電位を、表面
電位計を使用して測定する。 以後、(B)から(F)を所定の回数繰り返す。
A glass substrate was used as an example of an insulating substrate, and the potential was measured by bringing the substrate into contact with a stage heated to various temperatures. The experimental procedure is shown in FIG. 12 (FIG.
It is a side view which shows a mode that the glass substrate supported by the pin on the high temperature stage of 0 degreeC is contacted with a high temperature stage. ). (A) After heating the stage 101 to a predetermined temperature, the glass substrate 110 is placed on the pins 105. Pin 105
Can be moved up and down from inside the stage 101 through a guide hole (not shown) provided in the stage. (B) The pins 105 are lowered into the inside of the stage 101, and the glass substrate 110 is brought into contact with the stage 101. (C) The stage 101 is provided with a through-hole (not shown) for vacuum suction, and starts vacuum suction by reducing the pressure through the through-hole. (D) Stage 101 and glass substrate 110 within 10 seconds
Completely adsorbs. (E) Ten seconds after the pin 105 is lowered into the inside of the stage 101 and the contact between the glass substrate 110 and the stage 101 is started, the vacuum suction is stopped, and the pin 105 is raised from the inside of the stage 101, The contact between the substrate 110 and the stage 101 is released. (F) The potential of the glass substrate 110 on the pin 105 is measured using a surface voltmeter. Thereafter, (B) to (F) are repeated a predetermined number of times.

【0010】絶縁性基板をステージに接触させている時
間(以下、「接触時間」という。)は、ピン105を下
げて、ガラス基板110とステージ101の間の接触を
開始した時から、ピン105を上げて、ガラス基板11
0とステージ101の間の接触を解除するまでの10秒
間である。ピン105を上げてガラス基板110とステ
ージ101の接触を解除した後、ガラス基板101の電
位を測定する。この接触操作を10回(以下、「接触回
数」という。)繰り返す。
The time during which the insulating substrate is kept in contact with the stage (hereinafter referred to as “contact time”) is from the time when the pin 105 is lowered to start the contact between the glass substrate 110 and the stage 101, To raise the glass substrate 11
This is 10 seconds until the contact between 0 and the stage 101 is released. After the pin 105 is lifted to release the contact between the glass substrate 110 and the stage 101, the potential of the glass substrate 101 is measured. This contact operation is repeated 10 times (hereinafter, referred to as “the number of contacts”).

【0011】図11は、種々の温度のステージにガラス
基板を接触させたときの接触回数に対するガラス基板の
電位である。ここで電位とは、ガラス基板の平均電位を
いい、ガラス基板の中心部1点と周辺部2点の計3点の
測定結果の平均値である(以下、特に記載しない限り
「電位」という)。電位は、ステージの温度が高くなる
につれて、上昇する。また、電位は、接触回数が増加す
るにつれて上昇するが、接触回数1回目において他の接
触回数の場合と比較して顕著に上昇し、このことは、ス
テージの温度が、130℃及び150℃において特に顕
著である。
FIG. 11 shows the potential of the glass substrate with respect to the number of times of contact when the glass substrate is brought into contact with stages at various temperatures. Here, the potential refers to the average potential of the glass substrate, and is the average value of the measurement results of a total of three points, one point at the center and two points at the periphery of the glass substrate (hereinafter referred to as “potential” unless otherwise specified) . The potential increases as the stage temperature increases. In addition, the potential increases as the number of contacts increases, but increases remarkably at the first contact number as compared with other contact numbers. This indicates that the stage temperature is 130 ° C and 150 ° C. This is particularly noticeable.

【0012】ガラス基板の電位が著しく上昇する接触回
数1回目において観察される現象を、図12を使用して
説明する。ここでは、ステージ温度が130℃の場合で
説明するが、通常100℃以上の温度であれば同様の現
象が観察される。従って、例えば150℃においても同
様の現象が観察される。 (A)ステージ101の温度を130℃に設定し、ガラ
ス基板110をピン105の上に設置する。 (B)ピン105をステージ101内部に下げると、ガ
ラス基板110の中心部は下に凸であるから、ガラス基
板110全体は均一にステージ101と接触できず、ガ
ラス基板110の中心部付近の実質的に一点でステージ
101と接触し、ガラス基板110の周辺部はステージ
101から浮いている。 (C)真空吸着を開始すると、ガラス基板110全体が
ステージ101に接触し、離れる微少な振動を繰り返
す。その振動の周期は約2回/秒である。以後、この振
動を「接触・剥離連続振動」という。 (D)数秒(10秒以内)で、接触・剥離連続振動は実
質的に観察されなくなり、ガラス基板110とステージ
101は均一に接触する。
The phenomenon observed at the first contact count when the potential of the glass substrate rises significantly will be described with reference to FIG. Here, the case where the stage temperature is 130 ° C. will be described, but the same phenomenon is usually observed when the temperature is 100 ° C. or higher. Therefore, a similar phenomenon is observed at, for example, 150 ° C. (A) The temperature of the stage 101 is set to 130 ° C., and the glass substrate 110 is set on the pins 105. (B) When the pins 105 are lowered into the stage 101, the central portion of the glass substrate 110 is convex downward, so that the entire glass substrate 110 cannot uniformly contact the stage 101, and substantially the vicinity of the central portion of the glass substrate 110 Specifically, the glass substrate 110 is in contact with the stage 101 at one point, and the periphery of the glass substrate 110 is floating from the stage 101. (C) When vacuum suction is started, the entire glass substrate 110 comes into contact with the stage 101 and repeats minute vibrations to separate. The cycle of the vibration is about twice per second. Hereinafter, this vibration is referred to as “contact / peeling continuous vibration”. (D) Within several seconds (within 10 seconds), continuous vibration of contact / peeling is substantially not observed, and the glass substrate 110 and the stage 101 come into uniform contact.

【0013】なお、(B)のガラス基板110がその中
心部付近の実質的に一点でステージ101と接触する状
態及び(C)の接触・剥離連続振動は、接触回数1回目
においてのみ明らかに観察され、2回目からは実質的に
は観察されなかった。従って、この(B)及び(C)の
挙動、特に接触・剥離連続振動が、ガラス基板の電位の
顕著な上昇に関連していると考えられる。
The state (B) in which the glass substrate 110 is in contact with the stage 101 at substantially one point near the center thereof and the continuous vibration of contact and peeling in (C) are clearly observed only at the first contact. And was not substantially observed from the second time. Therefore, it is considered that the behaviors (B) and (C), particularly the continuous vibration of contact and peeling, are related to a remarkable rise in the potential of the glass substrate.

【0014】そこで、この接触・剥離連続振動が、ガラ
ス基板の電位に与える影響を調べるために、ステージ温
度150℃において、接触回数1回目の10秒間に発生
するガラス基板の接触・剥離連続振動によって、ガラス
基板がステージに接触し、離れる回数(以下、「振動回
数」という。)を測定した。3枚のガラス基板を使用し
て図11と同様の実験を行い、振動回数を観測後、ガラ
ス基板の電位を測定した。そして、測定は接触回数10
回目まで行った。なお、接触・剥離連続振動は、図11
において記載したのと同様に、接触回数1回目のみにお
いて明らかに観察された。
In order to investigate the effect of the continuous vibration of contact and peeling on the potential of the glass substrate, the continuous vibration of contact and peeling of the glass substrate generated during the first 10 seconds at a stage temperature of 150 ° C. The number of times the glass substrate came into contact with the stage and separated therefrom (hereinafter, referred to as the “number of vibrations”) was measured. An experiment similar to that in FIG. 11 was performed using three glass substrates. After observing the number of vibrations, the potential of the glass substrates was measured. And the measurement is 10 times of contact.
I went to the first time. The contact / peeling continuous vibration is shown in FIG.
In the same manner as described above, it was clearly observed only at the first contact.

【0015】図13は、接触・剥離回数に対するガラス
基板の電位を示す。3枚のガラス基板の接触・剥離回数
は、各々5、9、及び11回である。縦軸のガラス基板
の電位は、接触回数1回目のガラス基板の電位(1回目
の電位)と、接触回数10回目のガラス基板の電位(1
0回目の電位)を各々示す。接触・剥離回数が増加する
とともにガラス基板の電位は上昇する。
FIG. 13 shows the potential of the glass substrate with respect to the number of times of contact / peeling. The number of times of contact and peeling of the three glass substrates is 5, 9, and 11, respectively. The potential of the glass substrate on the vertical axis represents the potential of the glass substrate after the first contact (the first potential) and the potential of the glass substrate after the tenth contact (1).
(0th potential). As the number of times of contact / peeling increases, the potential of the glass substrate increases.

【0016】接触・剥離回数が増加するとともにガラス
基板の電位は上昇することから、接触・剥離連続振動が
ガラス基板の静電気発生に関与していることが明確にな
った。したがって、ガラス基板の静電気発生を防止又は
抑制するためには、ガラス基板の接触・剥離連続振動を
防止又は抑制することが重要である。
Since the potential of the glass substrate increases as the number of times of contact / peeling increases, it has been clarified that the continuous vibration of contact / peeling is involved in the generation of static electricity on the glass substrate. Therefore, in order to prevent or suppress the generation of static electricity on the glass substrate, it is important to prevent or suppress continuous contact / peeling vibration of the glass substrate.

【0017】接触・剥離連続振動の影響を、さらに詳細
に検討するために、図13で示した各ガラス基板の接触
回数1回目の電位として、平均電位ではなく、各ガラス
基板の中心部1点の電位及び周辺部2点の電位を振動回
数に対してプロットして図14に示す。なお、平均電位
も参考までに示した。電位は、いずれのガラス基板にお
いても、ガラス基板の中心部で高く、周辺部で低い。従
って、ガラス基板の面内の電位は、決して一様でないこ
とが明らかとなった。
In order to examine the influence of the continuous vibration of contact and peeling in more detail, the potential at the first contact of each glass substrate shown in FIG. FIG. 14 is a plot of the potential of the sample and the potential at two peripheral points with respect to the number of vibrations. The average potential is also shown for reference. The potential is high at the center of the glass substrate and low at the periphery of any of the glass substrates. Therefore, it became clear that the in-plane potential of the glass substrate was never uniform.

【0018】この面内の電位が種々異なる現象は次のよ
うに理解される。図14においても図12に示したガラ
ス基板と同様に、ピンで支持したガラス基板を、ステー
ジに接触させたときは、ガラス基板の中心部は下に凸の
形状をしているからガラス基板の中心部の実質的に一点
で、ガラス基板はステージと接触している。従って、ガ
ラス基板の中央部は、ガラス基板の接触・剥離連続振動
の間に、何回もステージと接触し、離れることを繰り返
すのに対し、ガラス基板の周辺部は、中心部が接触する
回数ほどステージとの接触を繰り返さない。従って、ガ
ラス基板の中心部は電位が高く、周辺部は電位が低いの
であろう。以上の結果から、ガラス基板に接触・剥離連
続振動が発生することによってガラス基板がステージと
接触し、離れることが、静電気発生の原因であると考え
られ、図13における振動回数が増加するにつれて、電
位が上昇する結果も矛盾なく説明することができる。さ
らに、この結果は、ステージと接触するガラス基板の形
状を変えることによって、ガラスの基板に発生する静電
気の分布を制御し得ることを意味する。
The phenomenon in which the potentials in the plane are different from each other can be understood as follows. In FIG. 14, as in the case of the glass substrate shown in FIG. 12, when the glass substrate supported by the pins is brought into contact with the stage, the center of the glass substrate has a downward convex shape. At substantially one point in the center, the glass substrate is in contact with the stage. Therefore, the central portion of the glass substrate repeatedly contacts and separates from the stage many times during the continuous vibration of contact and peeling of the glass substrate, while the peripheral portion of the glass substrate repeatedly contacts the stage. Does not repeat contact with the stage as much. Therefore, the central portion of the glass substrate has a high potential, and the peripheral portion has a low potential. From the above results, it is considered that the contact and separation of the glass substrate with the stage due to the occurrence of the contact / peeling continuous vibration on the glass substrate is the cause of the generation of static electricity, and as the number of vibrations in FIG. 13 increases, The result of the potential increase can be explained without contradiction. Furthermore, this result means that the distribution of static electricity generated on the glass substrate can be controlled by changing the shape of the glass substrate in contact with the stage.

【0019】では、ガラス基板に接触・剥離連続振動を
生じさせる原因は、何であろうか。本発明者は、その原
因として、水分量に着目した。ガラスは水分を吸着しや
すく、水分の吸着量によってガラスの性質が異なり得る
からである。そこで、ガラス基板に吸着している水分量
を定性的に変えてガラス基板の電位を測定した。
Then, what causes the continuous vibration of contact and peeling on the glass substrate? The inventor paid attention to the amount of water as the cause. This is because glass easily absorbs moisture, and the properties of the glass may vary depending on the amount of moisture absorbed. Therefore, the potential of the glass substrate was measured by qualitatively changing the amount of water adsorbed on the glass substrate.

【0020】吸着している水分量を変えるために次の4
種類のガラスを使用した。 (イ)150℃熱処理:150℃オーブンで熱処理した
直後、熱い状態のままで、150℃のステージ上に保持
したガラス。 (ロ)デシケーター:デシケーター中で1週間以上、保
存していたガラス。 (ハ)一日保持:デシケーターから取り出して、夜間の
湿度は60〜70%の室内で一日保持したガラス。 (ニ)水滴:ベンコット(うすい布)に水分を含ませ、
拭いて水滴をつけたガラス。 これらのガラス基板の水分量は、定性的に、(イ)15
0℃熱処理、(ロ)デシケーター、(ハ)一日保持、
(ニ)水滴の順に増加すると考えられる。
In order to change the amount of water adsorbed, the following 4
Different types of glass were used. (A) 150 ° C. heat treatment: immediately after heat treatment in a 150 ° C. oven, a glass kept hot on a 150 ° C. stage. (B) Desiccator: Glass that has been stored in the desiccator for more than one week. (C) One-day holding: Glass taken out of the desiccator and held for one day in a room having a humidity of 60 to 70% at night. (D) Water drop: Wet Bencott (light cloth),
Glass wiped with water. The water content of these glass substrates is qualitatively determined as (a) 15
0 ° C heat treatment, (b) desiccator, (c) holding for one day,
(D) It is thought that water droplets increase in order.

【0021】高温ステージの温度を150℃一定とし、
接触時間10秒間で、接触回数を10回として、図11
と同様な実験を行い、各々のガラス基板の電位を測定し
た。その結果を、図11のステージ温度が150℃及び
23℃の結果とともに、接触回数に対してガラス基板の
電位をプロットして図15に示した。
The temperature of the high-temperature stage is kept constant at 150 ° C.
Assuming that the contact time is 10 seconds and the number of contacts is 10 times, FIG.
An experiment similar to the above was performed, and the potential of each glass substrate was measured. The results are shown in FIG. 15 by plotting the potential of the glass substrate with respect to the number of contacts, together with the results of the stage temperatures of 150 ° C. and 23 ° C. in FIG.

【0022】ガラス基板の電位は、(イ)150℃熱処
理、(ロ)デシケーター、(ハ)一日保持、(ニ)水滴
の順に上昇し、定性的なガラス基板の水分量の増加順序
に対応する。ガラス基板(イ)150℃熱処理及び
(ロ)デシケーターは、極めて低い電位を示している。
すなわち、水分量を低下させることによって、静電気発
生を防止又は抑制し得ることが明らかになった。
The potential of the glass substrate rises in the order of (a) a heat treatment at 150 ° C., (b) a desiccator, (c) holding for one day, and (d) a water drop, which corresponds to a qualitative increase in the water content of the glass substrate. I do. The glass substrate (a) heat treatment at 150 ° C. and the (b) desiccator show an extremely low potential.
That is, it has been clarified that the generation of static electricity can be prevented or suppressed by reducing the water content.

【0023】また、図示しないが、接触回数1回目の振
動回数は、水分量が多いガラス基板ほど多いことが確認
できた。また、ガラス基板(ハ)一日保持及び(ニ)水
滴については共に、ガラスの接触・剥離連続振動が明ら
かに観察されたのに対し、ガラス基板(イ)150℃熱
処理及び(ロ)デシケーターについては共に、接触・剥
離連続振動はほとんど観察されなかった。従って、ガラ
ス基板の水分量が接触・剥離振動の発生及び振動回数に
影響していることが明らかになった。
Although not shown, it was confirmed that the number of vibrations at the first contact frequency was larger for a glass substrate having a higher moisture content. In addition, for both the glass substrate (c) holding for one day and (d) water drops, continuous vibration of contact and peeling of the glass was clearly observed, while the glass substrate (a) heat treatment at 150 ° C and the (b) desiccator In both cases, contact / peeling continuous vibration was hardly observed. Therefore, it became clear that the water content of the glass substrate affected the occurrence of contact / peeling vibration and the number of vibrations.

【0024】なお、ガラス基板(ロ)デシケーター、
(ハ)一日保持及び(ニ)水滴についてはいずれについ
ても、ガラスのそりが観察されたのに対し、ガラス基板
(イ)150℃熱処理については、ガラスのそりは観察
されなかった。ガラス基板(イ)150℃熱処理におい
て、そりが観察されなかったのは、水分量の問題ではな
く、ステージとガラス基板の温度差がなくなり、温度分
布が一様になっていることによると考えられる。
Incidentally, a glass substrate (b) desiccator,
Regarding (c) holding for one day and (d) water droplets, the warpage of the glass was observed in each case, but no warping of the glass was observed in the glass substrate (a) heat treatment at 150 ° C. Glass substrate (a) In the heat treatment at 150 ° C., no warpage was observed, not because of the problem of water content, but because the temperature difference between the stage and the glass substrate disappeared and the temperature distribution became uniform. .

【0025】以上の検討から、ガラス基板の水分が接触
・剥離連続振動を発生させ、静電気を生ずる原因である
ことが明らかとなった。水分が接触・剥離連続振動を発
生させる機構は、次のように考えられる:水分を含むガ
ラス基板を高温ステージに真空吸着すると、ステージと
接触しているガラス基板に吸着されている水分が加熱さ
れる;水分は、加熱によって水蒸気となり、ガラス基板
から離れてガラス基板とステージの間で急激に膨張す
る;水蒸気は、ガラス基板を持ち上げてステージとの間
に隙間を生じさせ、その隙間もしくは真空吸着用の貫通
孔から拡散及び排出する;水蒸気が拡散及び排出すると
再びガラス基板はステージに吸着される;この一連の過
程をガラス基板の水分が無くなるまで繰り返す。すなわ
ち、ガラス基板に含まれる水分が加熱されて水蒸気とな
り、その水蒸気の膨張、拡散及び排出がガラス基板の接
触・剥離連続振動として観察され、この振動がステージ
とガラス基板に接触及び摩擦を生じさせ、静電気を発生
させているのであろう。さらに、この接触・剥離連続振
動がガラス基板に大きな応力を与え、熱処理工程におけ
るガラス基板の破損の原因となっていると考えられる。
From the above examination, it has been clarified that the moisture in the glass substrate causes continuous vibration of contact and peeling, causing static electricity. The mechanism by which moisture causes continuous vibration of contact and separation can be considered as follows: When a glass substrate containing moisture is vacuum-adsorbed to a high-temperature stage, the moisture adsorbed on the glass substrate in contact with the stage is heated. The moisture becomes steam by heating and separates from the glass substrate and expands rapidly between the glass substrate and the stage; the steam lifts the glass substrate to form a gap between the stage and the stage, and the gap or vacuum adsorption The glass substrate is again adsorbed to the stage when the water vapor is diffused and discharged; this series of steps is repeated until the glass substrate is free of moisture. That is, the moisture contained in the glass substrate is heated to become water vapor, and the expansion, diffusion and discharge of the water vapor are observed as continuous vibration of contact and separation of the glass substrate, and this vibration causes contact and friction between the stage and the glass substrate. Probably, it is generating static electricity. Further, it is considered that the continuous vibration of contact / peeling gives a large stress to the glass substrate and causes the glass substrate to be damaged in the heat treatment step.

【0026】本発明は、以上の知見を基に完成されたも
のであって、本発明に係る液晶表示装置の製造方法にお
いては、絶縁性基板を高温ステージに接触させる熱処理
工程において、絶縁性基板を高温ステージに接触させる
前に、支持手段を使用して高温ステージの上に絶縁性基
板を支持し、高温ステージと絶縁性基板の間に空間を生
じせしめた状態で、絶縁性基板を高温ステージによる加
熱雰囲気において一定時間保持する製造方法である。
The present invention has been completed on the basis of the above findings. In the method of manufacturing a liquid crystal display device according to the present invention, the heat treatment step of bringing the insulating substrate into contact with the high-temperature stage includes the steps of: Before bringing the insulating substrate into contact with the high-temperature stage, support the insulating substrate on the high-temperature stage using supporting means, and leave a space between the high-temperature stage and the insulating substrate. In the heating atmosphere for a certain time.

【0027】ここで、絶縁性基板とは、いわゆる絶縁性
を有する基板であり、絶縁性の程度は特に限定されな
い。一般的には、その電気抵抗率が1018Ω・cm以
上、好ましくは1021Ω・cm以上であってよい。ま
た、絶縁性基板の形状は特に限定されないが、一般的に
矩形であってよく、通常、プレート状であってよい。そ
の表面に他の要素、例えば、電極パターンもしくは配向
膜が形成されていてもよい。例えば、絶縁性基板は、ガ
ラス基板、プラスチック基板等であってよく、具体的に
は寸法500mm×400mmのガラス基板であってよ
い。
Here, the insulating substrate is a substrate having a so-called insulating property, and the degree of the insulating property is not particularly limited. Generally, the electric resistivity may be 10 18 Ω · cm or more, preferably 10 21 Ω · cm or more. The shape of the insulating substrate is not particularly limited, but may be generally rectangular, and may be generally plate-shaped. Other elements, for example, an electrode pattern or an alignment film may be formed on the surface. For example, the insulating substrate may be a glass substrate, a plastic substrate, or the like, and specifically, may be a glass substrate having a size of 500 mm × 400 mm.

【0028】また、高温ステージとは、熱処理する基板
に熱を与えるものであれば特に限定されない。例えば、
表面が平滑面で、内部に加熱手段(例えば、ヒーター
等)が内蔵されており、その表面温度を室温〜800
℃、好ましくは100〜300℃に加熱することがで
き、少なくとも絶縁性基板より大きく、通常、その内部
に真空吸着用の貫通孔及び支持手段、例えば、ピン用の
ガイド孔を備えている。例えば、アルミニウム部材であ
る。なお、通常、高温ステージは水平である。
The high-temperature stage is not particularly limited as long as it applies heat to the substrate to be heat-treated. For example,
The surface is smooth, and a heating means (for example, a heater or the like) is built therein.
° C, preferably 100 to 300 ° C, which is at least larger than the insulating substrate, and usually has a through hole for vacuum suction and a support means, for example, a guide hole for a pin, inside the substrate. For example, it is an aluminum member. Note that the high-temperature stage is usually horizontal.

【0029】また、熱処理工程とは、高温ステージに絶
縁性基板を接触させて加熱することによって基板の少な
くとも1つの性質を変える工程であって、通常、熱処理
温度は少なくとも100℃以上、好ましくは130℃以
上であってよく、この温度は使用する絶縁性基板の耐熱
温度に依存して適宜選択し得、通常、圧力は常圧で行う
が、減圧して行ってもよい。例えば、絶縁性基板上に高
分子の配向膜(例えば、ポリイミドの配向膜)を形成す
る工程を熱処理により実施する。
The heat treatment step is a step of changing at least one property of the substrate by bringing the insulating substrate into contact with a high-temperature stage and heating the same. The heat treatment temperature is usually at least 100 ° C. or higher, preferably 130 ° C. or higher. ° C or higher, and this temperature can be appropriately selected depending on the heat-resistant temperature of the insulating substrate to be used. Usually, the pressure is normal pressure, but the pressure may be reduced. For example, a step of forming a polymer alignment film (for example, a polyimide alignment film) on an insulating substrate is performed by heat treatment.

【0030】また、支持手段とは、高温ステージ上方で
絶縁性基板を支持して高温ステージと絶縁性基板の面接
触を妨げるものあって、絶縁性基板を点もしくは線で支
持し、絶縁性基板を支持する部分において傷つけない形
態及び硬度を有するものであれば特に限定されないが、
通常、その電気伝導性が良好なものが好ましい。例え
ば、先端を丸い形状とした柱状物、ピンもしくは長尺物
である。これらの支持手段は、通常、ステージを貫通し
て設置するが、ステージの側方から設置してもよい。
The supporting means supports the insulating substrate above the high-temperature stage and prevents surface contact between the high-temperature stage and the insulating substrate, and supports the insulating substrate with dots or lines. It is not particularly limited as long as it has a form and hardness that does not damage the part supporting the
Usually, those having good electric conductivity are preferable. For example, it is a column, a pin, or a long object having a rounded tip. These support means are usually installed through the stage, but may be installed from the side of the stage.

【0031】また、空間を生じせしめるとは、絶縁性基
板と高温ステージが少なくとも面接触をしないように絶
縁性基板と高温ステージの間に隙間を設けることであっ
て、絶縁性基板と高温ステージは点接触もしくは線接触
をしてもよい。
In order to create a space, a gap is provided between the insulating substrate and the high-temperature stage so that the insulating substrate and the high-temperature stage do not make at least surface contact. Point contact or line contact may be made.

【0032】さらに、一定時間とは、その時間保持した
後、絶縁性基板を高温ステージと接触させたときに生じ
る静電気量が許容できる程度になっている時間を意味す
る。その許容度は、目的とする熱処理に依存する。従っ
て、熱処理に応じて静電気量の許容度が決まれば、一定
時間は当業者であれば容易に決めることができる。例え
ば、実験を繰り返し行いデータを蓄積することによるい
わゆるトライアンドエラーによって決定することができ
る。
Further, the certain time means a time during which the amount of static electricity generated when the insulating substrate is brought into contact with the high-temperature stage after the holding is at an acceptable level. The tolerance depends on the intended heat treatment. Therefore, if the tolerance of the amount of static electricity is determined according to the heat treatment, those skilled in the art can easily determine the certain time. For example, it can be determined by a so-called trial and error by repeating an experiment and accumulating data.

【0033】さらに、本発明は、絶縁性基板を支持する
手段として、一又は二以上のピンを使用する製造方法で
ある。
Further, the present invention is a manufacturing method using one or more pins as a means for supporting an insulating substrate.

【0034】また、絶縁性基板の中心部を支持して、絶
縁性基板が高温ステージと接触しない状態で、絶縁性基
板を一定時間支持する製造方法である。
[0034] Further, there is provided a manufacturing method in which a central portion of the insulating substrate is supported, and the insulating substrate is supported for a predetermined time in a state where the insulating substrate is not in contact with the high temperature stage.

【0035】さらに、絶縁性基板の一の縁が高温ステー
ジと接するように支持して、絶縁性基板を一定時間支持
する製造方法である。
Further, there is provided a manufacturing method in which one edge of the insulating substrate is supported so as to be in contact with the high-temperature stage, and the insulating substrate is supported for a predetermined time.

【0036】さらに、絶縁性基板を三以上の箇所で支持
して、絶縁性基板が高温ステージと接触しない状態で、
絶縁性基板を一定時間支持する製造方法である。
Further, the insulating substrate is supported at three or more places, and in a state where the insulating substrate is not in contact with the high-temperature stage,
This is a manufacturing method for supporting an insulating substrate for a certain time.

【0037】さらに、高温ステージが傾斜している製造
方法である。
Further, there is provided a manufacturing method in which the high-temperature stage is inclined.

【0038】また、絶縁性基板にマイクロ波又は赤外線
を照射する製造方法である。
[0038] The present invention also relates to a manufacturing method of irradiating the insulating substrate with microwaves or infrared rays.

【0039】さらに、絶縁性基板に対して乾燥気体を吹
き付ける製造方法である。
Further, there is provided a manufacturing method in which a dry gas is blown onto an insulating substrate.

【0040】さらに、高温ステージに設けられた真空吸
着用の貫通孔および/または絶縁性基板の側方から、絶
縁性基板の下面に乾燥気体を吹き付ける製造方法であ
る。
Further, there is provided a manufacturing method in which a dry gas is blown to the lower surface of the insulating substrate from a through hole for vacuum suction provided on the high-temperature stage and / or a side of the insulating substrate.

【0041】また、絶縁性基板を高温ステージ上方に保
持した後、支持手段を除去して高温ステージに接触させ
るときに、押圧手段により絶縁性基板の少なくとも一部
分を高温ステージに対して押さえ付ける製造方法であ
る。
Further, after the insulating substrate is held above the high-temperature stage, when the supporting means is removed and brought into contact with the high-temperature stage, at least a part of the insulating substrate is pressed against the high-temperature stage by the pressing means. It is.

【0042】さらにまた、絶縁性基板を高温ステージ上
方に保持した後、又は支持手段を除去して押さえ付けた
後、基板全体をステージと接触させて熱処理を行った
後、高温ステージに接触させた絶縁性基板を高温ステー
ジから剥離するときに、絶縁性基板面の下から、あらか
じめ高温ステージ内に埋め込まれたイオナイザーからイ
オンを照射する製造方法である。
Further, after the insulating substrate was held above the high-temperature stage, or after the supporting means was removed and pressed down, the entire substrate was brought into contact with the stage and heat-treated, and then brought into contact with the high-temperature stage. This is a manufacturing method in which, when the insulating substrate is peeled off from the high-temperature stage, ions are irradiated from below the surface of the insulating substrate from an ionizer previously embedded in the high-temperature stage.

【0043】[0043]

【発明の実施の形態】つぎに図面を参照しながら本発明
の液晶表示装置の製造方法の実施の形態について説明す
る。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Next, an embodiment of a method for manufacturing a liquid crystal display device of the present invention will be described with reference to the drawings.

【0044】実施の形態1.図1は、この発明の実施の
形態1である液晶表示装置の製造方法を示すもので、図
において、1は絶縁性基板で、例えば、ガラス基板、2
は高温ステージ、例えば、アルミニウム部材、3は絶縁
性基板1を支持して、絶縁性基板1と高温ステージ2の
間に空間を設けるための支持手段である。
Embodiment 1 FIG. 1 shows a method for manufacturing a liquid crystal display device according to Embodiment 1 of the present invention. In the drawing, reference numeral 1 denotes an insulating substrate, for example, a glass substrate,
Reference numeral denotes a high-temperature stage, for example, an aluminum member, and reference numeral 3 denotes support means for supporting the insulating substrate 1 and providing a space between the insulating substrate 1 and the high-temperature stage 2.

【0045】実施の形態1においては、絶縁性基板1を
高温ステージ2に接触させる前に、支持手段3を使用し
て絶縁性基板1を高温ステージ2の上方に支持し、高温
ステージ2の周囲に生ずる加熱雰囲気において、絶縁性
基板1を一定時間保持して加熱して水分を除去もしくは
減少させる。その後、絶縁性基板1を高温ステージ2に
接触させて熱処理を行う。絶縁性基板1の水分を除去も
しくは減少された状態で熱処理を行うから、接触・剥離
連続振動の発生を防止もしくは抑制することができる。
従って、静電気の発生及び絶縁性基板1の破損を防止も
しくは抑制することができる。
In the first embodiment, before the insulating substrate 1 is brought into contact with the high temperature stage 2, the insulating substrate 1 is supported above the high temperature stage 2 by using In the heating atmosphere generated in the above, the insulating substrate 1 is held for a certain period of time and heated to remove or reduce moisture. Thereafter, heat treatment is performed by bringing the insulating substrate 1 into contact with the high-temperature stage 2. Since the heat treatment is performed in a state where the moisture of the insulating substrate 1 is removed or reduced, it is possible to prevent or suppress the occurrence of the continuous vibration of contact and separation.
Therefore, generation of static electricity and breakage of the insulating substrate 1 can be prevented or suppressed.

【0046】図1においては、支持手段3を、絶縁性基
板1の中心部に一のみ設けている態様が示されている。
別の態様では、絶縁性基板1の周辺部をも含めて一以上
設けてよい。また、支持手段3は、いずれの方法によっ
て高温ステージ2の内部から貫通孔を通って突出しても
よい。あるいは、高温ステージ2の側方もしくは上方か
ら配置してもよい。絶縁性基板1と高温ステージ2の間
に空間を設けることができれば、支持手段3の個数、支
持手段3が絶縁性基板1を支持する部分、支持手段3を
配置する方法等は特に限定されない。
FIG. 1 shows an embodiment in which only one support means 3 is provided at the center of the insulating substrate 1.
In another embodiment, one or more of the insulating substrate 1 and the peripheral portion may be provided. Further, the support means 3 may protrude from the inside of the high-temperature stage 2 through the through-hole by any method. Alternatively, they may be arranged from the side or above the high temperature stage 2. As long as a space can be provided between the insulating substrate 1 and the high-temperature stage 2, the number of the support means 3, the portion where the support means 3 supports the insulating substrate 1, the method of arranging the support means 3, and the like are not particularly limited.

【0047】実施の形態2.図2は、この発明の実施の
形態2である液晶表示装置の製造方法を示すもので、絶
縁性基板1を高温ステージ2に接触させる前に、一のピ
ン4を使用して絶縁性基板1の中心部を支持し、高温ス
テージ2の上方に絶縁性基板1を一定時間加熱雰囲気で
保持して、絶縁性基板1の水分量を除去もしくは減少さ
せるものである。絶縁性基板の中心部を一のピン4を使
用して支持しているから絶縁性基板1は上に凸の形状と
なる。絶縁性基板1の乾燥後、ピン4を高温ステージ2
の内部に下げることで絶縁性基板1を高温ステージ2に
接触させる。絶縁性基板1は、上に凸の形状となるか
ら、高温ステージ2に主に接触するのは絶縁性基板1の
周辺部となる。絶縁性基板1を高温ステージ2に接触さ
せたとき、上に凸の形状の方が下に凸の形状(参照:図
12)よりも安定だから、絶縁性基板1を高温ステージ
2に吸着するとき、接触・剥離連続振動がより発生し難
く、従って、下に凸の形状よりも、本形態の上に凸の形
状がより好ましい。
Embodiment 2 FIG. 2 shows a method of manufacturing a liquid crystal display device according to a second embodiment of the present invention. Before the insulating substrate 1 is brought into contact with the high-temperature stage 2, the insulating substrate 1 Is supported, and the insulating substrate 1 is held above the high temperature stage 2 in a heating atmosphere for a certain period of time to remove or reduce the water content of the insulating substrate 1. Since the center portion of the insulating substrate is supported by using one pin 4, the insulating substrate 1 has an upwardly convex shape. After the insulating substrate 1 is dried, the pins 4 are moved to the high-temperature stage 2.
To bring the insulating substrate 1 into contact with the high-temperature stage 2. Since the insulating substrate 1 has an upwardly convex shape, the peripheral portion of the insulating substrate 1 mainly comes into contact with the high-temperature stage 2. When the insulating substrate 1 is brought into contact with the high-temperature stage 2, the upwardly convex shape is more stable than the downwardly convex shape (see FIG. 12). In addition, continuous vibration of contact and peeling is less likely to occur, and therefore, the upward convex shape is more preferable than the downward convex shape.

【0048】実施の形態3.図3は、この発明の実施の
形態3である液晶表示装置の製造方法を示すもので、絶
縁性基板1の一の縁に沿って一又は二以上のピン4を使
用して絶縁性基板1を高温ステージ2の上方に支持し、
絶縁性基板1が一の縁で高温ステージ2と接する状態
で、絶縁性基板1を一定時間保持して、絶縁性基板1の
水分量を除去もしくは減少させるものである。絶縁性基
板1を乾燥するときに、絶縁性基板1と高温ステージ2
は接触しているが、その接触面積は、一の縁で接触して
いるから極めて小さい。従って、接触面積は、絶縁性基
板1が高温ステージ2と接触する面から水分を除去もし
くは減少させることに関して実質的に影響せず、静電気
の発生にもほとんど影響しない。
Embodiment 3 FIG. 3 shows a method of manufacturing a liquid crystal display device according to a third embodiment of the present invention, in which one or two or more pins 4 are used along one edge of the insulating substrate 1. Is supported above the high temperature stage 2,
In a state where the insulating substrate 1 is in contact with the high-temperature stage 2 at one edge, the insulating substrate 1 is held for a certain period of time to remove or reduce the water content of the insulating substrate 1. When the insulating substrate 1 is dried, the insulating substrate 1 and the high-temperature stage 2
Are in contact with each other, but the contact area is extremely small because they are in contact at one edge. Therefore, the contact area has substantially no effect on removing or reducing moisture from the surface of the insulating substrate 1 in contact with the high-temperature stage 2, and has little effect on the generation of static electricity.

【0049】実施の形態4.図4は、この発明の実施の
形態4である液晶表示装置の製造方法を示すもので、絶
縁性基板1を高温ステージ2に接触させる前に、三以上
のピン4を使用して絶縁性基板1を高温ステージ2の上
方に支持し、絶縁性基板1が高温ステージ2と接触しな
い状態で一定時間絶縁性基板を保持して、絶縁性基板1
の水分を除去もしくは減少させるものである。
Embodiment 4 FIG. 4 shows a method of manufacturing a liquid crystal display device according to a fourth embodiment of the present invention. Before the insulating substrate 1 is brought into contact with the high-temperature stage 2, the insulating substrate is used by using three or more pins 4. 1 is supported above the high-temperature stage 2, and the insulating substrate 1 is held for a certain period of time in a state where the insulating substrate 1 is not in contact with the high-temperature stage 2.
Is to remove or reduce the water content.

【0050】図においては、絶縁性基板1の形状が実質
的に平坦である態様が示されているが、本形態4におい
ては、ピン4が絶縁性基板1を支持する配置を変えるこ
とによって絶縁性基板1の形状を変化させることができ
る。すなわち、ピン4が、絶縁性基板1の周辺部に配置
されると、絶縁性基板1の形状は下に凸になる(参照:
図12)。一方、ピン4が、絶縁性基板1の中心部に配
置されると、絶縁性基板1の形状は上に凸になる(参
照:図1及び図2)。
In the drawing, an embodiment is shown in which the shape of the insulating substrate 1 is substantially flat, but in the fourth embodiment, the pins 4 are insulated by changing the arrangement for supporting the insulating substrate 1. The shape of the conductive substrate 1 can be changed. That is, when the pins 4 are arranged in the peripheral portion of the insulating substrate 1, the shape of the insulating substrate 1 becomes convex downward (see:
(FIG. 12). On the other hand, when the pins 4 are arranged at the center of the insulating substrate 1, the shape of the insulating substrate 1 becomes upwardly convex (see FIGS. 1 and 2).

【0051】絶縁性基板1の形状が上に凸の場合、高温
ステージ2に接触させて熱処理を行なったときに、もし
少量の静電気が発生すると、絶縁性基板1の中心部より
周辺部により多くの静電気が発生し得る。一方、絶縁性
基板1の形状が下に凸の場合は、絶縁性基板1の周辺部
より中心部により多く静電気が発生し得る(参照:図1
4)。従って、本形態においては、絶縁性基板1を支持
するピン4の配置を適宜選択することによって、絶縁性
基板1に発生する静電気の分布を制御することが可能で
ある。
In the case where the shape of the insulating substrate 1 is upwardly convex, if a small amount of static electricity is generated when the heat treatment is performed while being brought into contact with the high-temperature stage 2, the insulating substrate 1 is more in the peripheral part than in the central part. Can generate static electricity. On the other hand, when the shape of the insulating substrate 1 is convex downward, more static electricity can be generated in the central portion than in the peripheral portion of the insulating substrate 1 (see FIG. 1).
4). Therefore, in this embodiment, the distribution of static electricity generated on the insulating substrate 1 can be controlled by appropriately selecting the arrangement of the pins 4 supporting the insulating substrate 1.

【0052】実施の形態5.図5は、この発明の実施の
形態5である液晶表示装置の製造方法を示すもので、絶
縁性基板1を高温ステージ2に接触させる前に、絶縁性
基板1の一の縁に沿って一又は二以上のピン4を使用し
て絶縁性基板1を傾斜した高温ステージ2の上方に支持
し、絶縁性基板2の縁以外の部分で絶縁性基板1が高温
ステージ2と線接触する状態で、一定時間絶縁性基板1
を保持して、絶縁性基板1の水分を除去もしくは減少さ
せるものである。
Embodiment 5 FIG. FIG. 5 shows a method of manufacturing a liquid crystal display device according to Embodiment 5 of the present invention. Before the insulating substrate 1 is brought into contact with the high-temperature stage 2, one line is formed along one edge of the insulating substrate 1. Alternatively, the insulating substrate 1 is supported above the inclined high-temperature stage 2 using two or more pins 4, and the insulating substrate 1 is in line contact with the high-temperature stage 2 at a portion other than the edge of the insulating substrate 2. Insulating substrate 1 for a certain time
To remove or reduce the water content of the insulating substrate 1.

【0053】本形態5と実施の形態3の相違は、高温ス
テージ2が傾斜していることである。形態3及び形態5
において、絶縁性基板1はともに中央部が下に凸の形状
となり得る。形態5においては、高温ステージ2が傾斜
しているから、絶縁性基板1がその縁以外の部分で高温
ステージ2と線接触することができ、さらに、形態5に
おいては、高温ステージ2が傾斜しているから、絶縁性
基板1と高温ステージ2の間の隙間を、絶縁性基板1の
縁においても比較的広くすることができる。従って、絶
縁性基板1から発生する水蒸気を、この広くなった隙間
を通して効率的に除去することができる。
The difference between the fifth embodiment and the third embodiment is that the high-temperature stage 2 is inclined. Form 3 and form 5
In each of the above, the insulating substrate 1 may have a shape in which the central portion is convex downward. In the fifth embodiment, since the high-temperature stage 2 is inclined, the insulating substrate 1 can make line contact with the high-temperature stage 2 at a portion other than its edge. In the fifth embodiment, the high-temperature stage 2 is inclined. Therefore, the gap between the insulating substrate 1 and the high-temperature stage 2 can be relatively widened even at the edge of the insulating substrate 1. Therefore, water vapor generated from the insulating substrate 1 can be efficiently removed through the widened gap.

【0054】実施の形態6.図6は、この発明の実施の
形態6である液晶表示装置の製造方法を示すもので、実
施の形態4において、さらに、マイクロ波もしくは赤外
線等を絶縁性基板1に照射することを示すものである。
図において、5はマイクロ波もしくは赤外線等の照射を
示す。マイクロ波もしくは赤外線等を、絶縁性基板1
に、特には絶縁性基板1が高温ステージ2と接触する面
に照射することで、更に短時間で効率的に絶縁性基板1
の水分を除去もしくは減少することができる。図6に示
す絶縁性基板1の支持手段及びその配置は、図4に示し
たものであるが、本形態6は、これに限定されるもので
はない。形態1〜形態5のいずれの支持手段もしくは支
持手段の配置を使用してもよく、マイクロ波、赤外線等
を照射することによって、効率良く絶縁性基板1の水分
を除去もしくは減少することができる。
Embodiment 6 FIG. FIG. 6 shows a method of manufacturing a liquid crystal display device according to a sixth embodiment of the present invention. In the fourth embodiment, the method further includes irradiating the insulating substrate 1 with microwaves or infrared rays. is there.
In the figure, reference numeral 5 denotes irradiation with microwaves or infrared rays. Microwave or infrared light is applied to the insulating substrate 1
In particular, by irradiating the surface of the insulating substrate 1 in contact with the high-temperature stage 2, the insulating substrate 1
Of water can be removed or reduced. The support means and the arrangement of the insulating substrate 1 shown in FIG. 6 are as shown in FIG. 4, but Embodiment 6 is not limited to this. Any of the supporting means or the arrangement of the supporting means of the first to fifth embodiments may be used. By irradiating microwaves, infrared rays, or the like, moisture in the insulating substrate 1 can be efficiently removed or reduced.

【0055】実施の形態7.図7は、この発明の実施の
形態7である液晶表示装置の製造方法を示すもので、実
施の形態4において、高温ステージ2の内部に設けられ
た真空吸着用の貫通孔(通常、水分を除去あるいは減少
させた絶縁性基板を高温ステージに接触させるときに、
絶縁性基板と高温ステージの間の空気を減圧して除去す
るために使用する。)から、常温もしくは加熱された乾
燥気体を絶縁性基板1の下面に吹き付けることを示すも
のである。図において、6は貫通孔、7は常温もしくは
加熱され、熱処理に悪影響を及ぼさない乾燥気体、例え
ば、水分の少ない空気、窒素もしくはアルゴン等の不活
性ガス(以下、「気体」という。)を示す。貫通孔6か
ら気体7を、絶縁性基板1の下面に吹き付けることで、
更に短時間で効率的に絶縁性基板1の水分を除去あるい
は減少させることができる。
Embodiment 7 FIG. FIG. 7 shows a method of manufacturing a liquid crystal display device according to a seventh embodiment of the present invention. In the fourth embodiment, a through-hole for vacuum suction (usually moisture When the removed or reduced insulating substrate is brought into contact with the high-temperature stage,
It is used to remove the air between the insulating substrate and the high-temperature stage under reduced pressure. ) Indicates that a dry gas heated at room temperature or heated is blown to the lower surface of the insulating substrate 1. In the figure, reference numeral 6 denotes a through hole, and 7 denotes a dry gas which is heated at normal temperature or heated and does not adversely affect the heat treatment, for example, an inert gas such as air with low moisture, nitrogen or argon (hereinafter referred to as "gas"). . By blowing gas 7 from the through hole 6 to the lower surface of the insulating substrate 1,
Further, the moisture in the insulating substrate 1 can be efficiently removed or reduced in a short time.

【0056】また、絶縁性基板1と高温ステージ2の間
には、絶縁性基板1を加熱することによって絶縁性基板
1から発生した水蒸気が滞留することもある。水蒸気の
滞留は、絶縁性基板1の乾燥を妨げる。そこで、絶縁性
基板1と高温ステージ2の間に気体7を送風し、滞留し
た水蒸気を除去することで、絶縁性基板1の乾燥を促進
することができる。図7に示す絶縁性基板1の支持手段
及びその配置は、図4に示したものであるが、本形態7
は、これに限定されるものではない。形態1〜形態5の
いずれの支持手段もしくは支持手段の配置を使用しても
よく、気体7を絶縁性基板1の下面に吹き付けること
で、効率的に絶縁性基板1の水分除去、減少あるいは乾
燥促進を図ることができる。
Further, steam generated from the insulating substrate 1 by heating the insulating substrate 1 may stay between the insulating substrate 1 and the high-temperature stage 2. The retention of the water vapor hinders the drying of the insulating substrate 1. Therefore, drying of the insulating substrate 1 can be promoted by blowing the gas 7 between the insulating substrate 1 and the high-temperature stage 2 to remove the retained water vapor. The support means for the insulating substrate 1 shown in FIG. 7 and the arrangement thereof are the same as those shown in FIG.
Is not limited to this. Any of the supporting means or the arrangement of the supporting means of the first to fifth embodiments may be used. By blowing the gas 7 on the lower surface of the insulating substrate 1, moisture removal, reduction or drying of the insulating substrate 1 can be efficiently performed. Promotion can be aimed at.

【0057】実施の形態8.図8は、この発明の実施の
形態8である液晶表示装置の製造方法を示すもので、実
施の形態4において、絶縁性基板1の側方から、気体7
を絶縁性基板1の下面に吹き付けることを示すものであ
る。実施の形態8と形態7は、気体7を吹き出す場所
が、形態7では高温ステージ2の内部の貫通孔6、形態
8では絶縁性基板1の側方である点で相違する。本形態
8においても、気体7を絶縁性基板1の下面に吹き付け
ることで、更に短時間で効率的に絶縁性基板1の水分を
除去あるいは減少することができ、又は絶縁性基板1と
高温ステージ2の間に滞留した水蒸気を除去あるいは減
少することで絶縁性基板1の乾燥を促進することができ
る。図8に示す絶縁性基板1の支持手段及びその配置
は、図4に示したものであるが、本形態8は、これに限
定されるものではない。形態1〜形態5のいずれの支持
手段もしくは支持手段の配置を使用してもよく、気体7
を絶縁性基板1の下面に吹き付けることで、効率的に絶
縁性基板1の水分除去、減少あるいは乾燥促進を図るこ
とができる。
Embodiment 8 FIG. FIG. 8 shows a method for manufacturing a liquid crystal display device according to an eighth embodiment of the present invention. In the fourth embodiment, a gas 7 is introduced from the side of the insulating substrate 1.
Is sprayed on the lower surface of the insulating substrate 1. The eighth embodiment and the seventh embodiment are different in that the place where the gas 7 is blown out is the through hole 6 inside the high-temperature stage 2 in the seventh embodiment, and the side of the insulating substrate 1 in the eighth embodiment. Also in the eighth embodiment, by blowing the gas 7 to the lower surface of the insulating substrate 1, moisture in the insulating substrate 1 can be efficiently removed or reduced in a shorter time, or the insulating substrate 1 and the high-temperature stage can be removed. The drying of the insulating substrate 1 can be promoted by removing or reducing the water vapor that has accumulated between the two. The supporting means for the insulating substrate 1 shown in FIG. 8 and the arrangement thereof are as shown in FIG. 4, but Embodiment 8 is not limited to this. Any of the support means or the arrangement of the support means of the embodiments 1 to 5 may be used.
Is sprayed on the lower surface of the insulating substrate 1 to efficiently remove, reduce, or promote the drying of the insulating substrate 1.

【0058】実施の形態9.図9は、この発明の実施の
形態9である液晶表示装置の製造方法を示すもので、絶
縁性基板を高温ステージ上方に保持した後、支持手段を
除去して高温ステージに接触させるときに、押圧手段に
より絶縁性基板の少なくとも一部分を高温ステージに対
して押さえ付けることを示すものである。図において、
8は押圧手段を示す。押圧手段8は、絶縁性基板1に静
電気もしくは破損を生じない材料及び形状であればどの
ようなものであってもよい。押圧手段8を使用して絶縁
性基板1を機械的にステージ2に押さえつけることによ
って、絶縁性基板1に発生する接触・剥離連続振動を防
止もしくは抑制し、静電気の発生及び絶縁性基板1の破
損を防止もしくは抑制することができる。
Embodiment 9 FIG. FIG. 9 shows a method for manufacturing a liquid crystal display device according to Embodiment 9 of the present invention. After the insulating substrate is held above the high-temperature stage, when the supporting means is removed and brought into contact with the high-temperature stage, This shows that at least a part of the insulating substrate is pressed against the high-temperature stage by the pressing means. In the figure,
Reference numeral 8 denotes a pressing means. The pressing means 8 may be of any material and shape that does not cause static electricity or damage to the insulating substrate 1. Mechanically pressing the insulating substrate 1 against the stage 2 using the pressing means 8 prevents or suppresses continuous vibration of contact / peeling generated on the insulating substrate 1, and generates static electricity and damages the insulating substrate 1. Can be prevented or suppressed.

【0059】実施の形態10.図10は、この発明の実
施の形態10である液晶表示装置の製造方法を示すもの
で、絶縁性基板を高温ステージ上方に保持した後、又は
支持手段を除去して押さえ付けた後、絶縁性基板全体を
ステージと接触させて熱処理を行った後、高温ステージ
に接触させた絶縁性基板を高温ステージから剥離すると
きに、絶縁性基板面の下から、あらかじめ高温ステージ
内に埋め込まれたイオナイザーからイオンを照射するこ
とを示す。図において、10はイオナイザーを示す。本
発明の実施の形態1〜形態10によって、静電気の発生
を防止又は抑制することができるが、少量の静電気が発
生することもあり得、また、静電気の除去に万全を期す
るために、必要に応じて、さらに、高温ステージ2の下
面からイオナイザー10により発生したイオンを照射す
ることができる。本発明においては、高温ステージ2の
貫通孔6から、イオナイザー10により発生したイオン
を照射するので、確実に無駄なく照射することができ
る。
Embodiment 10 FIG. FIG. 10 shows a method of manufacturing a liquid crystal display device according to Embodiment 10 of the present invention. After the insulating substrate is held above the high-temperature stage or the supporting means is removed and pressed, After performing heat treatment by bringing the entire substrate into contact with the stage, when the insulating substrate that has been in contact with the high-temperature stage is peeled off from the high-temperature stage, an ionizer embedded in the high-temperature stage in advance is placed under the insulating substrate surface. Indicates that ions are irradiated. In the figure, reference numeral 10 denotes an ionizer. According to the first to tenth embodiments of the present invention, generation of static electricity can be prevented or suppressed, but a small amount of static electricity can be generated. Also, it is necessary to completely remove static electricity. Accordingly, ions generated by the ionizer 10 can be irradiated from the lower surface of the high-temperature stage 2. In the present invention, since the ions generated by the ionizer 10 are irradiated from the through hole 6 of the high-temperature stage 2, the irradiation can be performed without waste.

【0060】[0060]

【発明の効果】この発明は、以上説明したように構成さ
れているので、以下に示すような効果を奏する。
Since the present invention is configured as described above, it has the following effects.

【0061】絶縁性基板を高温ステージに接触させる前
に、支持手段により絶縁性基板を高温ステージの上方に
支持し、高温ステージと絶縁性基板の間に空間を生じせ
しめた状態で、高温ステージにより形成される加熱雰囲
気において、一定時間絶縁性基板を保持することで水分
を除去もしくは減少させた後に、絶縁性基板を高温ステ
ージと接触させるので、接触・剥離連続振動を防止もし
くは抑制することが可能となり、静電気の発生及び絶縁
性基板の破損を防止もしくは抑制することができる。
Before the insulating substrate is brought into contact with the high-temperature stage, the insulating substrate is supported by the supporting means above the high-temperature stage, and a space is created between the high-temperature stage and the insulating substrate. After removing or reducing moisture by holding the insulating substrate for a certain period of time in the formed heating atmosphere, the insulating substrate is brought into contact with the high-temperature stage, so it is possible to prevent or suppress continuous vibration of contact and separation. Thus, generation of static electricity and damage to the insulating substrate can be prevented or suppressed.

【0062】絶縁性基板を高温ステージに接触させる前
に、一又は二以上のピンにより絶縁性基板を高温ステー
ジの上方に支持し、高温ステージと絶縁性基板の間に空
間を生じせしめた状態で、高温ステージにより形成され
る加熱雰囲気において、一定時間絶縁性基板を保持する
ことで水分を除去もしくは減少させた後に、絶縁性基板
を高温ステージと接触させるので、接触・剥離連続振動
を防止もしくは抑制することが可能となり、静電気の発
生及び絶縁性基板の破損を防止もしくは抑制することが
できる。
Before the insulating substrate is brought into contact with the high-temperature stage, the insulating substrate is supported above the high-temperature stage by one or more pins, and a space is created between the high-temperature stage and the insulating substrate. After the moisture is removed or reduced by holding the insulating substrate for a certain period of time in the heating atmosphere formed by the high-temperature stage, the insulating substrate is brought into contact with the high-temperature stage, thereby preventing or suppressing continuous vibration of contact and separation. It is possible to prevent or suppress generation of static electricity and damage to the insulating substrate.

【0063】絶縁性基板を高温ステージに接触させる前
に、絶縁性基板の中心部を高温ステージの上方に支持し
て、絶縁性基板を高温ステージと接触しない状態で、高
温ステージにより形成される加熱雰囲気において、一定
時間絶縁性基板を保持することで水分を除去もしくは減
少させた後に、絶縁性基板を高温ステージと接触させる
ので、接触・剥離連続振動を防止もしくは抑制すること
が可能となり、静電気の発生及び絶縁性基板の破損を防
止もしくは抑制することができる。
Before the insulating substrate is brought into contact with the high-temperature stage, the center of the insulating substrate is supported above the high-temperature stage, and the insulating substrate is not contacted with the high-temperature stage. After removing or reducing moisture by holding the insulating substrate for a certain period of time in the atmosphere, the insulating substrate is brought into contact with the high-temperature stage, so that continuous vibration of contact and peeling can be prevented or suppressed, and static electricity can be prevented. Generation and breakage of the insulating substrate can be prevented or suppressed.

【0064】絶縁性基板を高温ステージに接触させる前
に、絶縁性基板の一の縁が高温ステージと接する状態
で、絶縁性基板を高温ステージの上方に支持して、高温
ステージにより形成される加熱雰囲気によって、一定時
間絶縁性基板を保持することで水分を除去もしくは減少
させた後に、絶縁性基板を高温ステージと接触させるこ
とにより、接触・剥離連続振動を防止もしくは抑制する
ことが可能となり、静電気の発生及び絶縁性基板の破損
を防止もしくは抑制することができる。
Before the insulating substrate is brought into contact with the high-temperature stage, the insulating substrate is supported above the high-temperature stage with one edge of the insulating substrate in contact with the high-temperature stage, and the heating formed by the high-temperature stage is performed. Depending on the atmosphere, after removing or reducing moisture by holding the insulating substrate for a certain period of time, contacting the insulating substrate with the high-temperature stage makes it possible to prevent or suppress continuous contact / peeling vibration, Generation and breakage of the insulating substrate can be prevented or suppressed.

【0065】絶縁性基板を高温ステージに接触させる前
に、絶縁性基板を少なくとも3本箇所で高温ステージの
上方に支持して、絶縁性基板が高温ステージと接触しな
い状態で、高温ステージにより形成される加熱雰囲気に
よって、一定時間絶縁性基板を保持することで水分を除
去もしくは減少させた後に、絶縁性基板を高温ステージ
と接触させることにより、接触・剥離連続振動を防止も
しくは抑制することが可能となり、静電気の発生及び絶
縁性基板の破損を防止もしくは抑制することができる。
Before the insulating substrate is brought into contact with the high-temperature stage, the insulating substrate is supported above the high-temperature stage at at least three points, and is formed by the high-temperature stage in a state where the insulating substrate is not in contact with the high-temperature stage. After the moisture is removed or reduced by holding the insulating substrate for a certain period of time in a heating atmosphere, the insulating substrate is brought into contact with the high-temperature stage to prevent or suppress continuous contact / peeling vibration. In addition, generation of static electricity and damage to the insulating substrate can be prevented or suppressed.

【0066】絶縁性基板を高温ステージに接触させる前
に、絶縁性基板の縁以外の部分で絶縁性基板が高温ステ
ージと線接触する状態で、絶縁性基板を傾斜した高温ス
テージの上方に支持して、高温ステージにより形成され
る加熱雰囲気によって、一定時間絶縁性基板を保持する
ことで水分を除去もしくは減少させた後に、絶縁性基板
を高温ステージと接触させることにより、接触・剥離連
続振動を防止もしくは抑制することが可能となり、静電
気の発生及び絶縁性基板の破損を防止もしくは抑制する
ことができる。
Before the insulating substrate is brought into contact with the high-temperature stage, the insulating substrate is supported above the inclined high-temperature stage with the insulating substrate in line contact with the high-temperature stage at a portion other than the edge of the insulating substrate. After the moisture is removed or reduced by holding the insulating substrate for a certain period of time in the heating atmosphere formed by the high-temperature stage, the insulating substrate is brought into contact with the high-temperature stage to prevent continuous vibration of contact and separation. Alternatively, it is possible to suppress or suppress generation of static electricity and damage to the insulating substrate.

【0067】さらに、絶縁性基板を高温ステージに接触
させる前に、マイクロ波もしくは赤外線等を絶縁性基板
に照射することで、絶縁性基板の水分を除去もしくは減
少させた後に、絶縁性基板を高温ステージと接触させる
ことにより、接触・剥離連続振動を防止もしくは抑制す
ることが可能となり、静電気の発生及び絶縁性基板の破
損を防止もしくは抑制することができる。
Further, before the insulating substrate is brought into contact with the high-temperature stage, the insulating substrate is irradiated with microwaves or infrared rays to remove or reduce the moisture of the insulating substrate. The contact with the stage makes it possible to prevent or suppress continuous vibration of contact / peeling, thereby preventing or suppressing the generation of static electricity and damage to the insulating substrate.

【0068】さらに、絶縁性基板を高温ステージに接触
させる前に、絶縁性基板に対して乾燥気体を吹き付ける
ことによって、絶縁性基板の水分除去もしくは乾燥促進
を行った後に、絶縁性基板を高温ステージと接触させる
ことにより、接触・剥離連続振動を防止もしくは抑制す
ることが可能となり、静電気の発生及び絶縁性基板の破
損を防止もしくは抑制することができる。
Furthermore, before the insulating substrate is brought into contact with the high-temperature stage, a dry gas is blown against the insulating substrate to remove water from the insulating substrate or to promote drying. By contacting with, continuous vibration of contact and peeling can be prevented or suppressed, and generation of static electricity and damage to the insulating substrate can be prevented or suppressed.

【0069】また、絶縁性基板を高温ステージに接触さ
せる前に、高温ステージに設けられた真空吸着用の貫通
孔および/または絶縁性基板の側方から、絶縁性基板の
下面に乾燥気体を吹き付けることによって、絶縁性基板
の水分除去もしくは乾燥促進を行った後に、絶縁性基板
を高温ステージと接触させることにより、接触・剥離連
続振動を防止もしくは抑制することが可能となり、静電
気の発生及び絶縁性基板の破損を防止もしくは抑制する
ことができる。
Before the insulating substrate is brought into contact with the high-temperature stage, a dry gas is blown to the lower surface of the insulating substrate from the through-hole for vacuum suction provided on the high-temperature stage and / or the side of the insulating substrate. This makes it possible to prevent or suppress continuous vibration of contact / peeling by bringing the insulating substrate into contact with the high-temperature stage after removing water or promoting drying of the insulating substrate. Breakage of the substrate can be prevented or suppressed.

【0070】さらに、 絶縁性基板を高温ステージ上方
に保持した後、支持手段を除去して高温ステージに接触
させるときに、押圧手段により絶縁性基板の少なくとも
一部分を高温ステージに対して押さえ付けることで、絶
縁性基板に発生する接触・剥離連続振動を防止もしくは
抑制することが可能となり、静電気の発生及び絶縁性基
板の破損を防止もしくは抑制することができる。
Further, after holding the insulating substrate above the high-temperature stage, when the supporting means is removed and brought into contact with the high-temperature stage, at least a portion of the insulating substrate is pressed against the high-temperature stage by the pressing means. In addition, it is possible to prevent or suppress continuous vibration of contact and peeling generated on the insulating substrate, and it is possible to prevent or suppress generation of static electricity and damage to the insulating substrate.

【0071】さらにまた、絶縁性基板を高温ステージ上
方に保持した後、又は支持手段を除去して押さえ付けた
後、絶縁性基板全体をステージと接触させて熱処理を行
った後、高温ステージに接触させた絶縁性基板を高温ス
テージから剥離するときに、絶縁性基板面の下から、あ
らかじめ高温ステージ内に埋め込まれたイオナイザーか
らイオンを照射することで、わずかに発生しえる静電気
の除去を行うことが可能となり、静電気の発生の防止に
万全を期することができる。
Further, after the insulating substrate is held above the high-temperature stage, or after the supporting means is removed and pressed down, the entire insulating substrate is brought into contact with the stage and heat-treated, and then contacted with the high-temperature stage. When exfoliating the insulating substrate from the high-temperature stage, irradiating ions from below the surface of the insulating substrate with an ionizer embedded in the high-temperature stage in advance to remove the slightly generated static electricity It is possible to prevent the generation of static electricity.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 この発明の実施の形態1を示す液晶表示装置
の製造方法の側面図である。
FIG. 1 is a side view of a method for manufacturing a liquid crystal display device according to Embodiment 1 of the present invention.

【図2】 この発明の実施の形態3を示す液晶表示装置
の製造方法の側面図である。
FIG. 2 is a side view of a liquid crystal display device manufacturing method according to a third embodiment of the present invention.

【図3】 この発明の実施の形態4を示す液晶表示装置
の製造方法の側面図である。
FIG. 3 is a side view of a method for manufacturing a liquid crystal display device according to Embodiment 4 of the present invention.

【図4】 この発明の実施の形態5を示す液晶表示装置
の製造方法の側面図である。
FIG. 4 is a side view of a method for manufacturing a liquid crystal display device according to Embodiment 5 of the present invention.

【図5】 この発明の実施の形態6を示す液晶表示装置
の製造方法の側面図である。
FIG. 5 is a side view of a method for manufacturing a liquid crystal display device according to Embodiment 6 of the present invention.

【図6】 この発明の実施の形態7を示す液晶表示装置
の製造方法の側面図である。
FIG. 6 is a side view of a method for manufacturing a liquid crystal display device according to Embodiment 7 of the present invention.

【図7】 この発明の実施の形態8を示す液晶表示装置
の製造方法の側面図である。
FIG. 7 is a side view of a method for manufacturing a liquid crystal display device according to Embodiment 8 of the present invention.

【図8】 この発明の実施の形態9を示す液晶表示装置
の製造方法の側面図である。
FIG. 8 is a side view of a method for manufacturing a liquid crystal display device according to Embodiment 9 of the present invention.

【図9】 この発明の実施の形態10を示す液晶表示装
置の製造方法の側面図である。
FIG. 9 is a side view of a method for manufacturing a liquid crystal display device according to Embodiment 10 of the present invention.

【図10】 この発明の実施の形態11を示す液晶表示
装置の製造方法の側面図である。
FIG. 10 is a side view of a method for manufacturing a liquid crystal display device according to Embodiment 11 of the present invention.

【図11】 種々のステージ温度における接触回数に対
するガラス基板の電位である。
FIG. 11 shows the potential of the glass substrate with respect to the number of times of contact at various stage temperatures.

【図12】 ステージ温度が130℃におけるガラス基
板の接触・剥離連続振動の側面図である。
FIG. 12 is a side view of continuous contact / peeling vibration of a glass substrate at a stage temperature of 130 ° C.

【図13】 ステージ温度が150℃における振動回数
に対するガラス基板の電位である。
FIG. 13 shows the potential of the glass substrate with respect to the number of vibrations at a stage temperature of 150 ° C.

【図14】 ステージ温度が150℃における振動回数
に対するガラス基板の電位である。
FIG. 14 shows the potential of the glass substrate with respect to the number of vibrations at a stage temperature of 150 ° C.

【図15】 ステージ温度が150℃における水分量の
異なるガラス基板の電位である。
FIG. 15 shows potentials of glass substrates having different moisture contents at a stage temperature of 150 ° C.

【図16】 従来の液晶表示装置の製造方法における装
置を示す斜視図である。
FIG. 16 is a perspective view showing an apparatus in a conventional method for manufacturing a liquid crystal display device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 絶縁性基板、 2 ステージ、 3 支持手段、
4 ピン、 5 マイクロ波もしくは赤外線、 6 貫
通穴、 7 気体、 8 押圧手段、 9 イオナイザ
ー。
1 insulating substrate, 2 stage, 3 support means,
4 pin, 5 microwave or infrared, 6 through hole, 7 gas, 8 pressing means, 9 ionizer.

Claims (11)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 絶縁性基板を高温ステージに接触させる
熱処理工程を含む液晶表示装置の製造方法において、絶
縁性基板を高温ステージに接触させる前に、支持手段を
使用して絶縁性基板を高温ステージの上方に支持し、高
温ステージと絶縁性基板の間に空間を生じせしめた状態
で、高温ステージにより形成される加熱雰囲気におい
て、絶縁性基板を一定時間保持することを特徴とする液
晶表示装置の製造方法。
1. A method for manufacturing a liquid crystal display device comprising a heat treatment step of bringing an insulating substrate into contact with a high-temperature stage, wherein the insulating substrate is brought into contact with the high-temperature stage by using a supporting means before the insulating substrate is brought into contact with the high-temperature stage. A liquid crystal display device characterized in that the insulating substrate is held for a certain period of time in a heating atmosphere formed by the high-temperature stage in a state where a space is created between the high-temperature stage and the insulating substrate. Production method.
【請求項2】 支持手段が、一又は二以上のピンである
ことを特徴とする請求項1記載の製造方法。
2. The method according to claim 1, wherein the support means is one or more pins.
【請求項3】 絶縁性基板の中心部を支持して、絶縁性
基板が高温ステージと接触しない状態で、絶縁性基板を
一定時間保持することを特徴とする請求項1または2記
載の製造方法。
3. The manufacturing method according to claim 1, wherein the insulating substrate is held for a predetermined time while supporting the central portion of the insulating substrate and the insulating substrate is not in contact with the high-temperature stage. .
【請求項4】 絶縁性基板の一の縁が高温ステージと接
するように支持して、絶縁性基板を一定時間保持するこ
とを特徴とする請求項1または2記載の製造方法。
4. The method according to claim 1, wherein one edge of the insulating substrate is supported so as to be in contact with the high-temperature stage, and the insulating substrate is held for a predetermined time.
【請求項5】 絶縁性基板を三以上の箇所で支持して、
絶縁性基板が高温ステージと接触しない状態で、絶縁性
基板を一定時間保持することを特徴とする請求項1また
は2記載の製造方法。
5. An insulating substrate is supported at three or more points,
The method according to claim 1, wherein the insulating substrate is held for a predetermined time while the insulating substrate is not in contact with the high-temperature stage.
【請求項6】 高温ステージが傾斜していることを特徴
とする請求項1記載の製造方法。
6. The method according to claim 1, wherein the high-temperature stage is inclined.
【請求項7】 絶縁性基板にマイクロ波又は赤外線を照
射することを特徴とする請求項1〜請求項6のいずれか
に記載の製造方法。
7. The method according to claim 1, wherein the insulating substrate is irradiated with microwaves or infrared rays.
【請求項8】 絶縁性基板に対して乾燥気体を吹き付け
ることを特徴とする請求項1〜請求項7のいずれかに記
載の製造方法。
8. The method according to claim 1, wherein a dry gas is blown onto the insulating substrate.
【請求項9】 高温ステージに設けられた真空吸着用の
貫通孔および/または絶縁性基板の側方から、絶縁性基
板の下面に乾燥気体を吹き付けることを特徴とする請求
項8記載の製造方法。
9. The manufacturing method according to claim 8, wherein a dry gas is blown onto a lower surface of the insulating substrate from a through hole for vacuum suction provided on the high temperature stage and / or a side of the insulating substrate. .
【請求項10】 絶縁性基板を高温ステージ上方に保持
した後、支持手段を除去して高温ステージに接触させる
ときに、押圧手段により絶縁性基板の少なくとも一部分
を高温ステージに対して押さえ付けることを特徴とする
請求項1〜請求項9のいずれかに記載の製造方法。
10. After the insulating substrate is held above the high-temperature stage, when the supporting means is removed and brought into contact with the high-temperature stage, the pressing means presses at least a part of the insulating substrate against the high-temperature stage. The method according to any one of claims 1 to 9, wherein:
【請求項11】 絶縁性基板を高温ステージ上方に保持
した後、又は支持手段を除去して押さえ付けた後、絶縁
性基板全体をステージと接触させて熱処理を行った後、
高温ステージに接触させた絶縁性基板を高温ステージか
ら剥離するときに、絶縁性基板面の下から、あらかじめ
高温ステージ内に埋め込まれたイオナイザーからイオン
を照射することを特徴とする請求項1〜請求項10のい
ずれかに記載の製造方法。
11. After the insulating substrate is held above the high-temperature stage, or after the supporting means is removed and pressed down, the entire insulating substrate is brought into contact with the stage and heat-treated.
When the insulating substrate brought into contact with the high-temperature stage is peeled off from the high-temperature stage, ions are irradiated from below the surface of the insulating substrate from an ionizer previously embedded in the high-temperature stage. Item 11. The production method according to any one of Items 10.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109068467A (en) * 2018-09-18 2018-12-21 张家港康得新光电材料有限公司 A kind of Destaticizing device and neutralizing method

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