JP2000065944A - 簡易型ｘ線エネルギー測定装置 - Google Patents
簡易型ｘ線エネルギー測定装置Info
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- JP2000065944A JP2000065944A JP23275898A JP23275898A JP2000065944A JP 2000065944 A JP2000065944 A JP 2000065944A JP 23275898 A JP23275898 A JP 23275898A JP 23275898 A JP23275898 A JP 23275898A JP 2000065944 A JP2000065944 A JP 2000065944A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 パルスもしくは連続のＸ線、γ線または放射
線等を用いた、産業診断もしくは医療診断の技術分野、
またはＸ線、放射線を扱う研究開発の技術分野において
利用できるＸ線エネルギー測定装置。 【手段】 Ｘ線リニアイメージセンサーの長手方向に沿
って厚みが変化（直線状、または階段状等）し、且つＸ
線を減弱させる金属等の物質をリニアイメージセンサー
前面に設置し、それに対応した各場所のＸ線検出素子に
入るＸ線の量がその位置にある物質の厚みによって変化
することを利用したＸ線エネルギー測定装置。
線等を用いた、産業診断もしくは医療診断の技術分野、
またはＸ線、放射線を扱う研究開発の技術分野において
利用できるＸ線エネルギー測定装置。 【手段】 Ｘ線リニアイメージセンサーの長手方向に沿
って厚みが変化（直線状、または階段状等）し、且つＸ
線を減弱させる金属等の物質をリニアイメージセンサー
前面に設置し、それに対応した各場所のＸ線検出素子に
入るＸ線の量がその位置にある物質の厚みによって変化
することを利用したＸ線エネルギー測定装置。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、パルスもしくは連
続のＸ線、γ線または放射線等を用いた、非破壊検査、
ラジオグラフィー、医療診断、蛍光分析、透過画像計測
等を行う放射線を応用する産業診断の技術分野、または
医療診断の技術分野、またＸ線レーザー等のパルスで高
強度のＸ線、放射線を扱う研究開発の技術分野において
利用できるＸ線エネルギー測定装置に関するものであ
る。なお、本発明のＸ線エネルギー測定装置は、即時的
にその場でＸ線のエネルギーの計測を行う必要がある技
術分野において特に利用できるものである。
続のＸ線、γ線または放射線等を用いた、非破壊検査、
ラジオグラフィー、医療診断、蛍光分析、透過画像計測
等を行う放射線を応用する産業診断の技術分野、または
医療診断の技術分野、またＸ線レーザー等のパルスで高
強度のＸ線、放射線を扱う研究開発の技術分野において
利用できるＸ線エネルギー測定装置に関するものであ
る。なお、本発明のＸ線エネルギー測定装置は、即時的
にその場でＸ線のエネルギーの計測を行う必要がある技
術分野において特に利用できるものである。
【０００２】
【従来の技術】従来の技術でＸ線のエネルギー計測を行
うには、約３種類ある。まず第１に半導体素子、シンチ
レータ等を用いてパルス計数によるサンプリング計測を
行うものがある。半導体の場合、半導体中にＸ線まは放
射線によって発生した電荷による電流パルスを外部回路
によって検出し、時間をかけてこの電流パルスの波高値
から入射したＸ線のエネルギーを計数し、それら放射線
のエネルギーを求める。シンチレータでも同様に、シン
チレータ内にＸ線または放射線によって発生した蛍光パ
ルスを光電子増倍管等によって検出し、そのパルスの波
高値からエネルギーを求めるものである。
うには、約３種類ある。まず第１に半導体素子、シンチ
レータ等を用いてパルス計数によるサンプリング計測を
行うものがある。半導体の場合、半導体中にＸ線まは放
射線によって発生した電荷による電流パルスを外部回路
によって検出し、時間をかけてこの電流パルスの波高値
から入射したＸ線のエネルギーを計数し、それら放射線
のエネルギーを求める。シンチレータでも同様に、シン
チレータ内にＸ線または放射線によって発生した蛍光パ
ルスを光電子増倍管等によって検出し、そのパルスの波
高値からエネルギーを求めるものである。
【０００３】しかし、これらの技術では、パルス時間幅
が最低で数ｎｓ（ｎｓ：１０-9秒）程度の電流パルス或
いは蛍光パルスを長時間で計測するため、これらのパル
ス幅と同程度で強度の高い（Ｘ線光子数の多い）Ｘ線パ
ルスのエネルギーを計測することはできない。なぜな
ら、このような時間幅の短いＸ線パルスはその時間幅内
にＸ線の光子が集中して数多くあるため検出するパルス
が重なり合い正確なパルスの波高値計測が不可能になる
からである。これを克服するには、線源との距離を離す
か、線源と計測器の間に蔽遮物を入れるかしてＸ線の強
度をパルス計測できる範囲まで減衰させ、時間をかけて
パルス計数を行わなければならない。
が最低で数ｎｓ（ｎｓ：１０-9秒）程度の電流パルス或
いは蛍光パルスを長時間で計測するため、これらのパル
ス幅と同程度で強度の高い（Ｘ線光子数の多い）Ｘ線パ
ルスのエネルギーを計測することはできない。なぜな
ら、このような時間幅の短いＸ線パルスはその時間幅内
にＸ線の光子が集中して数多くあるため検出するパルス
が重なり合い正確なパルスの波高値計測が不可能になる
からである。これを克服するには、線源との距離を離す
か、線源と計測器の間に蔽遮物を入れるかしてＸ線の強
度をパルス計測できる範囲まで減衰させ、時間をかけて
パルス計数を行わなければならない。
【０００４】また、第２の方法としてＸ線検出器（シン
チレータ等）の前に或る物質の遮蔽物を設置してその厚
みを増やして、減衰したＸ線の量から物質の厚みに対す
るＸ線の減弱曲線を求め、この傾きによりＸ線のエネル
ギーを求めることができる。けれどもこの減弱曲線を求
めるために非常に多くのＸ線パルスを必要とする欠点が
あり、一つのＸ線パルスからはそのエネルギーを求める
ことができない。このため、これら従来の方法ではパル
スＸ線のエネルギーを計測するために非常に多くのＸ線
パルスを計測しなければならないという欠点がある。
チレータ等）の前に或る物質の遮蔽物を設置してその厚
みを増やして、減衰したＸ線の量から物質の厚みに対す
るＸ線の減弱曲線を求め、この傾きによりＸ線のエネル
ギーを求めることができる。けれどもこの減弱曲線を求
めるために非常に多くのＸ線パルスを必要とする欠点が
あり、一つのＸ線パルスからはそのエネルギーを求める
ことができない。このため、これら従来の方法ではパル
スＸ線のエネルギーを計測するために非常に多くのＸ線
パルスを計測しなければならないという欠点がある。
【０００５】また、第３の方法として、このようなＸ線
パルスのエネルギーを瞬時にしてその場で計測するに
は、回析格子または結晶等の素子にＸ線や放射線を入射
し、それらの素子から反射し空間的にスペクトル分解さ
れたＸ線を空間的に広い領域にわたって検出するものが
ある。この方法は、正確にエネルギーを求められるもの
の、その装置の規模が大きくなり、持ち運びが困難でか
つ調整及び操作が煩雑になる。さらにその装置を整備す
るには費用がかかりすぎるという欠点がある（参照：木
村、阪井訳、放射線計測ハンドブック、日刊工業新聞
社）。
パルスのエネルギーを瞬時にしてその場で計測するに
は、回析格子または結晶等の素子にＸ線や放射線を入射
し、それらの素子から反射し空間的にスペクトル分解さ
れたＸ線を空間的に広い領域にわたって検出するものが
ある。この方法は、正確にエネルギーを求められるもの
の、その装置の規模が大きくなり、持ち運びが困難でか
つ調整及び操作が煩雑になる。さらにその装置を整備す
るには費用がかかりすぎるという欠点がある（参照：木
村、阪井訳、放射線計測ハンドブック、日刊工業新聞
社）。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】従来の技術でＸ線パル
スのエネルギーを計測するには、非常に高額の装置が必
要になるか、または計測に多大の時間と何発ものＸ線パ
ルスを発生させなければならない問題がある。また、即
時的にその場で計測を行うには、大規模な装置をそろえ
るための高額な費用と操作上の煩雑さを必要とする問題
がある。
スのエネルギーを計測するには、非常に高額の装置が必
要になるか、または計測に多大の時間と何発ものＸ線パ
ルスを発生させなければならない問題がある。また、即
時的にその場で計測を行うには、大規模な装置をそろえ
るための高額な費用と操作上の煩雑さを必要とする問題
がある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】単一のＸ線パルスからそ
のエネルギーを瞬時にその場で計測するためには、Ｘ線
リニアイメージセンサー前に金属等のＸ線や放射線に対
して遮蔽となる物質をセンサーの長手方向に厚みを変え
て設置しておき、各位置の厚みとそのセンサーの信号量
を求めることで対処できる。その厚みとその位置で得ら
れたセンサーの信号量からその材質を用いたときのＸ
線，放射線の減弱曲線が簡単に求められ、この減弱曲線
の傾きよりＸ線、放射線のエネルギーをその場で単一の
Ｘ線パルスの計測から求める。
のエネルギーを瞬時にその場で計測するためには、Ｘ線
リニアイメージセンサー前に金属等のＸ線や放射線に対
して遮蔽となる物質をセンサーの長手方向に厚みを変え
て設置しておき、各位置の厚みとそのセンサーの信号量
を求めることで対処できる。その厚みとその位置で得ら
れたセンサーの信号量からその材質を用いたときのＸ
線，放射線の減弱曲線が簡単に求められ、この減弱曲線
の傾きよりＸ線、放射線のエネルギーをその場で単一の
Ｘ線パルスの計測から求める。
【０００８】
【発明の実施の形態】本発明より、シンチレータ（蛍光
体）付き、またはそうでないＸ線リニアイメージセンサ
ーのＸ線入射面の手前に金属等のＸ線に対して遮蔽とな
る材質の物質をセンサーの長手方向に厚みを変えて設置
する。リニアイメージセンサーのゲート時間内にＸ線パ
ルスが入射すると、リニアセンサーの各位置のセルから
は、その位置で遮蔽される物質の厚みによって減衰した
Ｘ線パルスに対応する信号値を求めることができる。そ
の厚みとその厚みの位置でのセンサーのＸ線量からその
材質を用いたときのＸ，放射線の減弱曲線（物質の厚み
と減衰するＸ線量との関係）が簡単に求められる。この
減衰曲線は、各物質、各Ｘ線エネルギーに対して既知の
ことであり、かつこの減衰曲線の傾きからＸ線のエネル
ギーを求めることができる。この曲線の傾きが本発明で
は簡単に求められＸ線、放射線のエネルギーをその場で
瞬時に原理的に単一のＸ線パルス、１回の計測で算出す
ることができる。
体）付き、またはそうでないＸ線リニアイメージセンサ
ーのＸ線入射面の手前に金属等のＸ線に対して遮蔽とな
る材質の物質をセンサーの長手方向に厚みを変えて設置
する。リニアイメージセンサーのゲート時間内にＸ線パ
ルスが入射すると、リニアセンサーの各位置のセルから
は、その位置で遮蔽される物質の厚みによって減衰した
Ｘ線パルスに対応する信号値を求めることができる。そ
の厚みとその厚みの位置でのセンサーのＸ線量からその
材質を用いたときのＸ，放射線の減弱曲線（物質の厚み
と減衰するＸ線量との関係）が簡単に求められる。この
減衰曲線は、各物質、各Ｘ線エネルギーに対して既知の
ことであり、かつこの減衰曲線の傾きからＸ線のエネル
ギーを求めることができる。この曲線の傾きが本発明で
は簡単に求められＸ線、放射線のエネルギーをその場で
瞬時に原理的に単一のＸ線パルス、１回の計測で算出す
ることができる。
【０００９】リニアイメージセンサーは、単一の小さな
ＣＣＤ素子またはフォトダイオードが数多く直線状に並
べられたものである。各場所のＸ線検出素子とは、この
リニアイメージセンサー内の各場所にあるセンサーを校
正する小さなＸ線検出素子である。
ＣＣＤ素子またはフォトダイオードが数多く直線状に並
べられたものである。各場所のＸ線検出素子とは、この
リニアイメージセンサー内の各場所にあるセンサーを校
正する小さなＸ線検出素子である。
【００１０】
【実施例】図１に示す放電型Ｘ線源から発生したＸ線パ
ルスのエネルギー測定を従来の方法（図２）と本発明に
よる方法（図４）を用いて行った。その結果を図３と図
５に示す。比較の結果、従来の方法と本発明による方法
で計測されたＸ線パルスのエネルギーはほぼ同じ値（約
８０ｋｅＶ）が得られた。
ルスのエネルギー測定を従来の方法（図２）と本発明に
よる方法（図４）を用いて行った。その結果を図３と図
５に示す。比較の結果、従来の方法と本発明による方法
で計測されたＸ線パルスのエネルギーはほぼ同じ値（約
８０ｋｅＶ）が得られた。
【００１１】即ち、図１には、パルス放電型Ｘ線源から
発生した非常に短い時間幅をもつＸ線パルスの波形が示
されている。これによると、真空中の電極間で非常に短
い時間内にパルス放電を行うと、電極間に図１に示すよ
うなパルス電圧（放電電圧）、電流（放電電流）が生
じ、短い時間幅（〜１０ｎｓ）のＸ線パルス（Ｘ線信
号）が発生する。このようなＸ線パルスのエネルギーを
上述した従来の装置と本発明による方法で測定して比較
した。
発生した非常に短い時間幅をもつＸ線パルスの波形が示
されている。これによると、真空中の電極間で非常に短
い時間内にパルス放電を行うと、電極間に図１に示すよ
うなパルス電圧（放電電圧）、電流（放電電流）が生
じ、短い時間幅（〜１０ｎｓ）のＸ線パルス（Ｘ線信
号）が発生する。このようなＸ線パルスのエネルギーを
上述した従来の装置と本発明による方法で測定して比較
した。
【００１２】従来の方法では、図３の点の数が示すよう
にＸ線パルスのエネルギーをある程度精度良く計測する
ためには２０発以上のＸ線パルスを発生させなければな
らなかった。これに対して、本発明による方法では１発
のＸ線パルスで精度良くそのエネルギーを計測すること
ができた。
にＸ線パルスのエネルギーをある程度精度良く計測する
ためには２０発以上のＸ線パルスを発生させなければな
らなかった。これに対して、本発明による方法では１発
のＸ線パルスで精度良くそのエネルギーを計測すること
ができた。
【００１３】従来の装置を図２に示す。その装置は、基
本的にＸ線パルス束１、Ｘ線減弱物質（板状等）２、Ｘ
線検出器（半導体、シンチレーター等）３、Ｘ線検出器
用電源４、及びパルス信号測定器５から構成される。そ
の装置の動作は、Ｘ線パルス１が物質２に入射して減衰
され、Ｘ線検出器３で透過したＸ線量が求められるもの
である。この方法でＸ線パルスのエネルギーを求めるに
は、物質２の厚みを段階的に変えてその時のＸ線量を何
度（図２中の４参照）も計測しなければならない。この
厚みとＸ線量の関係を表したものが図３である。
本的にＸ線パルス束１、Ｘ線減弱物質（板状等）２、Ｘ
線検出器（半導体、シンチレーター等）３、Ｘ線検出器
用電源４、及びパルス信号測定器５から構成される。そ
の装置の動作は、Ｘ線パルス１が物質２に入射して減衰
され、Ｘ線検出器３で透過したＸ線量が求められるもの
である。この方法でＸ線パルスのエネルギーを求めるに
は、物質２の厚みを段階的に変えてその時のＸ線量を何
度（図２中の４参照）も計測しなければならない。この
厚みとＸ線量の関係を表したものが図３である。
【００１４】本発明による装置を図４に示す。図４に示
すように装置は、基本的にＸ線パルス６、センサー長手
方向に沿って厚みを直線状または階段状に変化させたＸ
線減弱物質７、Ｘ線リニアイメージセンサー８、イメー
ジセンサーのコントローラー９、及びリニアイメージセ
ンサー信号読みだし装置１０から構成される。Ｘ線パル
ス６が減弱物質７で減衰し、センサーに入射したＸ線は
入射した位置の減弱物質の厚みに応じて減衰され（図中
８部分参照）その量がリニアイメージセンサーの素子か
らの信号に現れる。これを読みだすと厚みに従ってＸ線
が減衰する信号が（図５または図４中の１０参照）得ら
れる。
すように装置は、基本的にＸ線パルス６、センサー長手
方向に沿って厚みを直線状または階段状に変化させたＸ
線減弱物質７、Ｘ線リニアイメージセンサー８、イメー
ジセンサーのコントローラー９、及びリニアイメージセ
ンサー信号読みだし装置１０から構成される。Ｘ線パル
ス６が減弱物質７で減衰し、センサーに入射したＸ線は
入射した位置の減弱物質の厚みに応じて減衰され（図中
８部分参照）その量がリニアイメージセンサーの素子か
らの信号に現れる。これを読みだすと厚みに従ってＸ線
が減衰する信号が（図５または図４中の１０参照）得ら
れる。
【００１５】これにより、本発明の方法を用いると従来
方法の約２０分の１の時間でＸ線パルスのエネルギーを
一回の計測で求めることができた。精度の良いエネルギ
ー値を必要とする場合、従来の方法ではさらに何回もの
Ｘ線パルス時間計測が必要になるが、本発明では１回の
Ｘ線パルスの計測できる。
方法の約２０分の１の時間でＸ線パルスのエネルギーを
一回の計測で求めることができた。精度の良いエネルギ
ー値を必要とする場合、従来の方法ではさらに何回もの
Ｘ線パルス時間計測が必要になるが、本発明では１回の
Ｘ線パルスの計測できる。
【００１６】これは図３と図５のデータを比較すること
によってわかる。本発明による方法では線状にきれいに
データが取得でき、実際に従来の方法よりも簡単に精度
良くＸ線のエネルギーを求めることができた。
によってわかる。本発明による方法では線状にきれいに
データが取得でき、実際に従来の方法よりも簡単に精度
良くＸ線のエネルギーを求めることができた。
【００１７】即ち、図３の測定データより図に示す減弱
曲線の傾きがもとまり、これより計測したＸ線のエネル
ギーを求めることができる。しかし、この手法、計測の
精度はこの曲線の傾きの精度によって決定されるため、
正確にこれを求めるには図３にある測定データの数を増
やさなければならない。このため、計測の精度を上げる
には相当数のＸ線パルスを発生させ、かつ遮蔽する物質
の厚みを細かく変えて計測を何度も繰り返さなければな
らない。
曲線の傾きがもとまり、これより計測したＸ線のエネル
ギーを求めることができる。しかし、この手法、計測の
精度はこの曲線の傾きの精度によって決定されるため、
正確にこれを求めるには図３にある測定データの数を増
やさなければならない。このため、計測の精度を上げる
には相当数のＸ線パルスを発生させ、かつ遮蔽する物質
の厚みを細かく変えて計測を何度も繰り返さなければな
らない。
【００１８】これに対し、図５では、リニアイメージセ
ンサーの長手方向に段階的（図４参照、２ｍｍおきに１
ｍｍの段差）に物質厚みを変化させたときの信号である
ため、その信号が段階的に現れたものである。この信号
から図５のように従来の方法とは対照的に一つのパルス
線束の測定から減衰曲線を測定することができた。従来
の装置がＸ線パルスの一回の測定により一つのデータだ
ったのに対して本発明ではリニアイメージセンサーによ
り減弱物質の厚みを変えたデータがイメージセンサーの
素子数だけ（普通２５６〜１０２４程度）得ることがで
きる。これによって図３で得られたと同様の単一のＸ線
パルスのエネルギーを瞬時に一つのＸ線パルスから簡単
に求めることができる。
ンサーの長手方向に段階的（図４参照、２ｍｍおきに１
ｍｍの段差）に物質厚みを変化させたときの信号である
ため、その信号が段階的に現れたものである。この信号
から図５のように従来の方法とは対照的に一つのパルス
線束の測定から減衰曲線を測定することができた。従来
の装置がＸ線パルスの一回の測定により一つのデータだ
ったのに対して本発明ではリニアイメージセンサーによ
り減弱物質の厚みを変えたデータがイメージセンサーの
素子数だけ（普通２５６〜１０２４程度）得ることがで
きる。これによって図３で得られたと同様の単一のＸ線
パルスのエネルギーを瞬時に一つのＸ線パルスから簡単
に求めることができる。
【００１９】
【発明の効果】本発明により、従来の装置に比して簡易
的かつ安価に単一のパルスＸ線からそのエネルギーを瞬
時にその場で計測することができる。これにより従来の
装置で必要とする装置及び作業コスト及び作業時間等を
大幅に省略することができ、この計測作業を行う必要が
ある産業分野にコスト、作業の迅速化、効率化の面で効
果を発揮する。
的かつ安価に単一のパルスＸ線からそのエネルギーを瞬
時にその場で計測することができる。これにより従来の
装置で必要とする装置及び作業コスト及び作業時間等を
大幅に省略することができ、この計測作業を行う必要が
ある産業分野にコスト、作業の迅速化、効率化の面で効
果を発揮する。
【図１】 放電型パルスＸ線源から発生したＸ線パルス
の時間波形を示す図である。
の時間波形を示す図である。
【図２】 放電型パルスＸ線源から発生したＸ線パルス
のエネルーを測定するための従来の装置を示す図であ
る。
のエネルーを測定するための従来の装置を示す図であ
る。
【図３】 従来の測定装置で計測されたＸ線パルスのエ
ネルギーの測定結果を示す図である。
ネルギーの測定結果を示す図である。
【図４】 放電型パルスＸ線源から発生したＸ線パルス
のエネルーを測定するための本発明の装置を示す図であ
る。
のエネルーを測定するための本発明の装置を示す図であ
る。
【図５】 本発明の測定装置で計測されたＸ線パルスの
エネルギー測定結果を示す図である。
エネルギー測定結果を示す図である。
１：Ｘ線パルス束、２：Ｘ線減弱物質（板状等）、３：
Ｘ線検出器（半導体、シンチレーター等）、４：Ｘ線検
出器用電源、５：パルス信号測定器、６：Ｘ線パルス、
７：センサーの長手方向に沿って厚みを直線状または階
段状に変化させたＸ線減弱物質、８：Ｘ線リニアイメー
ジセンサー、９：イメージセンサーのコントローラー、
１０：リニアイメージセンサー信号読みだし装置
Ｘ線検出器（半導体、シンチレーター等）、４：Ｘ線検
出器用電源、５：パルス信号測定器、６：Ｘ線パルス、
７：センサーの長手方向に沿って厚みを直線状または階
段状に変化させたＸ線減弱物質、８：Ｘ線リニアイメー
ジセンサー、９：イメージセンサーのコントローラー、
１０：リニアイメージセンサー信号読みだし装置
Claims (11)
- 【請求項１】 Ｘ線リニアイメージセンサーにＸ線を減
弱させる金属等の物質を付加することによってＸ線パル
スのエネルギーを一つのＸ線パルスのみの計測で検出す
ることを特徴とするＸ線エネルギー測定装置。 - 【請求項２】 付加される物質がリニアセンサー前面に
置かれ、リニアセンサーの長手方向に沿って厚みが変化
（直線状、または階段状等）し、リニアイメージセンサ
ー内の各場所にあるＸ線検出素子に入るＸ線の量がその
位置にある物質の厚みによって変化することを特徴とす
る請求項１に記載のＸ線エネルギー測定装置。 - 【請求項３】 リニアイメージセンサーの長手方向の各
Ｘ線検出素子で検出した信号は、その素子の前面にある
物質の厚みを透過したＸ線の量に相当する請求項１に記
載のＸ線エネルギー測定装置。 - 【請求項４】 リニアイメージセンサーの各Ｘ線検出素
子で物質を透過して検出されたＸ線量とその物質の厚み
の関係を計算機または電子回路等で処理してそのＸ線パ
ルスの減衰または減弱曲線を計測し、その場でＸ線パル
スのエネルギーを導き出すことを特徴とする請求項１に
記載のＸ線エネルギー測定装置。 - 【請求項５】 Ｘ線パルスがリニアイメージセンサー面
に対してほぼ垂直に入射することを特徴とする請求項１
に記載のＸ線エネルギー測定装置。 - 【請求項６】 測定器等を用いたＸ線エネルギーアナラ
イザーで測定できない時間幅よりも短いパルス時間幅で
も測定できることを特徴とする請求項１に記載のＸ線エ
ネルギー測定装置。 - 【請求項７】 半導体またはその他のサンプリング測定
器等を用いたＸ線エネルギーアナライザーで測定できな
いＸ線レーザー等のような強度の高いＸ線パルスでも設
置する物質の厚み及び材質を変化させることにより測定
することができることを特徴とする請求項１に記載のＸ
線エネルギー測定装置。 - 【請求項８】 線源がγ線、放射線であってもＸ線の場
合と同様の手法でそのエネルギーを一つのパルスで検出
することができることを特徴とする請求項１に記載のＸ
線エネルギー測定装置。 - 【請求項９】 Ｘ線源からのＸ線がパルス状でない連続
的に発生させられるＸ線でも、その場でそのＸ線のエネ
ルギーを測定することができることを特徴とする請求項
１に記載のＸ線エネルギー測定装置。 - 【請求項１０】 Ｘ線を計測するセンサー部は、リニア
イメージセンサーのように一次元的に素子が並んだもの
だけではなく、二次元的に並んでいるセンサーでも測定
可能であることを特徴とする請求項１に記載のＸ線エネ
ルギー測定装置。 - 【請求項１１】 一つのＸ線パルスから一回の測定でＸ
線のエネルギーに関するデータが一つ程度しか得られな
い従来の装置に対して、リニアセンサーの素子数のデー
タが一回の測定で得られることを特徴とする請求項１に
記載のＸ線エネルギー測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23275898A JP2000065944A (ja) | 1998-08-19 | 1998-08-19 | 簡易型ｘ線エネルギー測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23275898A JP2000065944A (ja) | 1998-08-19 | 1998-08-19 | 簡易型ｘ線エネルギー測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000065944A true JP2000065944A (ja) | 2000-03-03 |
Family
ID=16944300
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23275898A Pending JP2000065944A (ja) | 1998-08-19 | 1998-08-19 | 簡易型ｘ線エネルギー測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000065944A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102798883A (zh) * | 2012-09-11 | 2012-11-28 | 西北核技术研究所 | 一种基于光纤阵列的脉冲X/γ射线能谱的测量装置 |
| RU2572065C1 (ru) * | 2014-10-20 | 2015-12-27 | Российская Федерация, от имени которой выступает Государственная корпорация по атомной энергии "Росатом" | Устройство для измерения энергии мягкого рентгеновского излучения в нескольких спектральных диапазонах |
| KR20190092103A (ko) * | 2018-01-30 | 2019-08-07 | 한국원자력연구원 | 영상의 겹침 보정을 위한 계단식 구조물 |
-
1998
- 1998-08-19 JP JP23275898A patent/JP2000065944A/ja active Pending
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