JP2000065814A - ダイオキシン類分析装置及びその方法 - Google Patents

ダイオキシン類分析装置及びその方法

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JP2000065814A JP10235098A JP23509898A JP2000065814A JP 2000065814 A JP2000065814 A JP 2000065814A JP 10235098 A JP10235098 A JP 10235098A JP 23509898 A JP23509898 A JP 23509898A JP 2000065814 A JP2000065814 A JP 2000065814A
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Katsuo Seki
勝男 関
Hiroyoshi Shizukuishi
広悦 雫石
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 排ガス,排水,灰,土壌中等のダイオキシン
類の濃度を簡易・迅速に測定することができるダイオキ
シン類の簡易分析装置及び分析方法を提供する。 【解決手段】 分析対象物質からダイオキシン類を含む
試料11を高圧で抽出する高圧抽出器12と、高圧抽出
物から共存物質を分離させる多層カラムクロマトグラフ
ィー13と、ダイオキシン類の同族体濃度を分析する低
分解能ガスクロマトグラフィー質量分析装置14とを具
備してなるものである。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、排ガス,排水,
灰,土壌中等のダイオキシン類の濃度を簡易・迅速に測
定することができるダイオキシン類の簡易分析装置及び
分析方法に関する。
【0002】
【従来の技術】例えば都市ゴミ焼却炉,産業廃棄物焼却
炉,汚泥焼却炉等の各種焼却炉から排出される排ガス中
には、焼却対象物の種類や焼却条件によって、窒素酸化
物の他、ダイオキシン類やPCB類に代表される有害な
塩素化芳香族化合物、高縮合度芳香族炭化水素等の有害
物質が含有されることがあり、環境ホルモンとして人体
や動植物に被害をもたらし、自然環境を破壊するものと
して、深刻な社会問題化している。ここで、上記ダイオ
キシン類とは、ポリ塩化ジベンゾ−p−ダイオキシン類
(PCDDs)及びポリ塩化ジベンゾフラン類(PCD
Fs)の総称であり、塩素系化合物とある種の有機塩素
化合物の燃焼時に微量発生するといわれ、化学的に無色
の結晶である。塩素の数によって一塩化物から八塩化物
まであり、異性体にはPCDDsで75種類、PCDF
sで135種類におよび、これらのうち、特に四塩化ジ
ベンゾ−p−ダイオキシン(T4 CDD)は、最も強い
毒性を有するものとして知られている。
【0003】ダイオキシン類は上記排ガスのみならず、
工場排水,焼却灰,埋め立て土壌中に含まれている場合
があり、これらのダイオキシン類の含有濃度を分析する
方法として、公定分析法である「廃棄物処理におけるダ
イオキシン類標準測定分析マニュアル」(財団法人廃棄
物研究財団、平成9年3月発行)が制定されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記公
定分析法である「廃棄物処理におけるダイオキシン類標
準測定分析マニュアル」では、図 に示すように、分析
試料01を先ず酸処理(塩酸処理)02した後、ソック
スレー抽出器による溶媒抽出(特に灰試料)03を行
い、共存物質分離工程として硫酸処理04及びカラクク
ロマトグラフィー処理05によるクリーンアップを行っ
た後、高分解能ガスクロマトグラフィー質量分析装置
(以下、「高分解能GC/MS装置」という)06によ
る異性体分析を行って定量分析が実施されているので、
分析値が判明するまで、約1ヵ月から1.5カ月必要とな
っている。
【0005】一方、ダイオキシン類の分析の要請は近年
増大しており、分析の迅速性が要求されている。また、
分析対象にダイオキシン類が存在しているか否かの評価
を判断する際、高分解能GC/MS装置を用いてダイオ
キシン類の毒性等量(Toxic Equivalents,TEQ) までのデ
ータを求める必要がないような場合に、簡易で且つ分析
結果が迅速に判明する分析方法の確立が望まれている。
【0006】以上の問題に鑑み、本発明は、排ガス,排
水,灰,土壌中等のダイオキシン類の濃度を簡易・迅速
に測定することができるダイオキシン類の簡易分析装置
及び分析方法を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】前述した課題を解決する
[請求項1]の発明は、分析対象物からダイオキシン類
を含む試料を高圧で抽出する高圧抽出器と、高圧抽出物
から共存物質を分離させる多層カラムクロマトグラフィ
ーと、ダイオキシン類の同族体濃度を分析する低分解能
ガスクロマトグラフィー質量分析装置とを具備してなる
ことを特徴とする。
【0008】[請求項2]の発明は、請求項1におい
て、上記高圧抽出器の抽出温度が100℃から200℃
であることを特徴とする。
【0009】[請求項3]の発明は、請求項1におい
て、上記抽出圧力が100kgf/m 2 から200kg
f/m2 であることを特徴とする。
【0010】[請求項4]の発明は、請求項1におい
て、上記抽出溶媒がトルエン,ベンゼン,アセトンのい
ずれか一種又は混合物であることを特徴とする。
【0011】[請求項5]の発明は、請求項1におい
て、上記抽出回数が6回以上であることを特徴とする。
【0012】[請求項6]の発明は、請求項1におい
て、上記多層カラムクロマトグラフィーが、無水硫酸ナ
トリウム層、5〜10%硝酸銀/シリカゲル層、30〜
50%硫酸層/シリカゲル層、1〜2%水酸化カリウム
層/シリカゲル層からなることを特徴とする。
【0013】[請求項7]の発明は、高圧抽出器により
ダイオキシン類を含む試料を抽出し、多層カラムクロマ
トグラフィーにより共存物質を分離させ、低分解能ガス
クロマトグラフィー質量分析装置により、ダイオキシン
類の同族体濃度を分析することを特徴とする。
【0014】
【発明の実施の形態】本発明によるダイオキシン類分析
装置及びその方法の実施の形態を以下に説明するが、本
発明はこれらの実施の形態に限定されるものではない。
【0015】図1にダイオキシン類分析装置の概略図を
示す。図1に示すように、本実施の形態にかかる簡易分
析装置は、分析対象物質からダイオキシン類を含む試料
11を高圧で抽出する高圧抽出器12と、高圧抽出物か
ら共存物質を分離させる多層カラムクロマトグラフィー
13と、ダイオキシン類の同族体濃度を分析する低分解
能ガスクロマトグラフィー質量分析装置14とを具備し
てなるものである。
【0016】ここで、上記高圧抽出器は、分析対象であ
る排ガス,排水,灰,土壌中からダイオキシン類を簡易
・迅速に抽出するものであり、抽出条件は、以下の通り
である。 抽出温度は、100℃から200℃とするのが好ま
しい。これは、抽出温度が100℃未満では抽出効率が
悪く、一方200℃を超える場合には、ダイオキシン類
の再合成のおそれがあるので、共に好ましくないからで
ある。 抽出圧力は、100kgf/m2 から200kgf
/m2 とするのが好ましい。これは、抽出圧力が100
kgf/m2 未満では抽出効率が悪く、一方200kg
f/m2 を超える場合には、抽出器の耐圧性の点で、共
に好ましくないからである。 抽出溶媒は、ダイオキシン類は脂溶性であるので、
例えばトルエン,ベンゼン,アセトン等を用いるのが好
ましく、抽出回数は6回から9回とするのが好ましい。
抽出回数を6回から9回とするのは、図2に示すよう
に、6回程度でダイオキシン類の回収率が90%程度と
良好な回収率を示し、9回程度では公定法とほぼ同等な
回収率を示すことができるからである。
【0017】このように、本発明では高圧抽出により試
料を抽出することとしたので、公定方法のソックスレー
抽出法のような抽出に長時間かかることがなくなる。す
なわち、公定法のソックスレー抽出法では16時間以上
を必要としていたが、本発明では、約2時間程度で抽出
が可能となり、抽出時間を大幅に短縮(約1/8程度短
縮)することができる。
【0018】上記多層カラムクロマトグラフィー13で
は、高圧抽出物から共存物質を分離させるものである。
上記多層カラムクロマトグラフィー13で用いる多層カ
ラムは、シリカゲル(例えば「ワコーゲルS−1」(商
品名:和光純薬株式会社))にそれぞれの後述する試薬
を含浸させた後、乾燥させて調整した。多層カラムの構
成は、図3に示すように、脱水を目的とした無水硫酸
ナトリウム(1〜2g)層21、5〜10%硝酸銀/
シリカゲル層22、30〜50%硫酸/シリカゲル層
23、1〜2%水酸化カリウム/シリカゲル層24を
組み合わせている。シリカゲル層25は各試薬の間に設
けており、上記試薬が混合しないようにしている。な
お、符号26はシリカウールを図示する。
【0019】上記5〜10%硝酸銀22とは、シリカゲ
ルに硝酸銀水溶液を加えた後、水分を除去し、硝酸銀が
シリカゲルに対して5〜10%(W/V)になるように
したものをいう。上記30〜50%硫酸23とは、シリ
カゲルに硫酸を30〜50%(W/W)となるように添
加し、十分振とうして粉末状にしたものをいう。上記1
〜2%水酸化カリウム24とは、シリカゲルに1mol
/L水酸化カリウム水溶液を加えた後、減圧脱水して粉
末状とし、シリカゲルに対して水酸化カリウムを1〜2
%(W/W)となるように調製したものをいう。本発明
では、上記多層カラムの割合は特に限定されるものでは
ないが、硝酸銀/シリカゲル層22は10%硝酸銀、硫
酸/シリカゲル層23は30%硫酸、水酸化カリウム/
シリカゲル層24は2%水酸化カリウムとするのが好ま
しい。
【0020】ダイオキシン類抽出液を用いて、上記組成
によるカラム分析と、正規法による分析(硫酸処理を行
った後、カラムクロマトを行う)との比較を下記「表
1」に示す。
【0021】
【表1】
【0022】「表1」に示すように、本発明による簡易
分析であっても公定法とほぼ同様な結果を得ることがで
きた。
【0023】このように、本発明では多層カラムクロマ
トグラフィーで高圧抽出の試料を1回の操作で高圧抽出
物から共存物質を分離させることとしたので、公定方法
のような2工程(硫酸による有機物の分解、シリカゲル
カラムクロマト法による不純物との分離)を行うことが
なくなり、一本化することで処理時間も大幅に短縮化さ
れた。
【0024】低分解能GC/MS装置は、同族体濃度測
定分析を行うものであり、例えば島津製作所株式会社製
の「QP−5000(商品名)」(分解能:1,000
程度)を挙げることができる。また、ダイオキシン類の
分析用の分離カラムとして、例えばDB−5(商品名:
J&W社製、60m×0.25mmφ)を用いることがで
きる。ダイオキシン類の同定基準としては、質量イオン
(M)とモニターイオン(M+2,M+4)のピーク強
度を天然存在比の±15%とした。また、定量はSIM
法(選択イオンモニタリング法)とし、4〜8塩素のダ
イオキシン類及びフラン類の、総計10の同族体別濃度
を測定した。また、これらの総濃度についても定量し
た。ダイオキシン類の分析試験においては、ダイオキシ
ン類の抽出液を用いてダイオキシン同族体分析を行っ
た。その結果を図4及び図5に示す。これらの図面に示
すように、灰試料及び排ガス試料とも公定法(高分解能
GC/MS装置、分解能:10,000段以上)とほぼ
同様な結果が得られた。それぞれの相関係数は0.99
8,0.999と極めて良好であった。また、低分解能G
C/MS装置での分析時間は、従来法に比べて大幅に短
縮された。
【0025】図6に公定法の高分解能GC/MS装置を
用いた場合と、本発明の低分解能GC/MS装置を用い
たダイオキシン類同族体分布図を示す。図6に示すよう
に、公定法の従来の高分解GC/MS装置での同族体濃
度と低分解GC/MS装置での同族体濃度とは、ほぼ同
様な結果が得られた。
【0026】図7乃至図9に排ガス,灰,排水中の各ダ
イオキシン(DXN)類濃度と毒性等価濃度との関係図
を示す。これらの図面に示すように、本発明により求め
た同族体濃度から毒性等価濃度を推定することができる
こととなった。すなわち、本発明では公定法のようにダ
イオキシン類の異性体の分析をすることはできないもの
の、ダイオキシン類の同族体の濃度を測定することがで
きるので、この同族体濃度から毒性等価濃度を推定で
き、従来の公定法に比べて迅速なダイオキシン類の分析
が可能となった。
【0027】以上の高圧抽出法、多層カラム抽出法、低
分解GC/MS装置による同族体濃度分析法を組み合わ
せたダイオキシン類簡易分析装置は、図10に示すよう
に、多くの工程を有する公定分析法に比べ、抽出工程を
高圧抽出12のみとし、共存物質の分離工程も多層カラ
ムクロマトグラフィー13のみとすると共に、低分解能
の低分解GC/MS装置14としたので、同族体の定量
分析が可能となり、この定量分析の結果より毒性等価濃
度を推定できるので、公定法に比べて分析時間が約1/
3程度に短縮され、簡易迅速な分析に対応することがで
きる。
【0028】
【発明の効果】以上述べたように、[請求項1]の発明
によれば、分析対象物からダイオキシン類を含む試料を
高圧で抽出する高圧抽出器と、高圧抽出物から共存物質
を分離させる多層カラムクロマトグラフィーと、ダイオ
キシン類の同族体濃度を分析する低分解能ガスクロマト
グラフィー質量分析装置とを具備してなるので、公定法
に比べて簡易迅速な分析に対応することができる。
【0029】[請求項2]〜[請求項5]の発明によれ
ば、請求項1において、上記高圧抽出器の抽出温度が1
00℃から200℃であり、抽出圧力が100kgf/
2から200kgf/m2 であり、抽出溶媒がトルエ
ン,ベンゼン,アセトンのいずれか一種又は混合物であ
り、抽出回数が6回以上であることとしたので、試料か
ら分析対象のダイオキシン類を良好に抽出することがで
きる。
【0030】[請求項6]の発明によれば、請求項1に
おいて、上記多層カラムクロマトグラフィーが、無水硫
酸ナトリウム層、5〜10%硝酸銀/シリカゲル層、3
0〜50%硫酸層/シリカゲル層、1〜2%水酸化カリ
ウム層/シリカゲル層からなるので、抽出試料から共存
物質を良好に分離することができる。
【0031】[請求項7]の発明によれば、高圧抽出器
によりダイオキシン類を含む試料を抽出し、多層カラム
クロマトグラフィーにより共存物質を分離させ、低分解
能ガスクロマトグラフィー質量分析装置により、ダイオ
キシン類の同族体濃度を分析する公定法に比べて簡易迅
速に分析することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による本実施の形態にかかる簡易分析装
置の概略構成図である。
【図2】本発明による抽出回数とダイオキシン類の回収
率がとの関係を示す図である。
【図3】本発明の多層カラムの構成図である。
【図4】灰試料による高分解能GC/MS装置と低分解
能GC/MSとの対比を示すダイオキシン同族体分析結
果を示す図である。
【図5】排ガス試料による高分解能GC/MS装置と低
分解能GC/MSとの対比を示すダイオキシン同族体分
析結果を示す図である。
【図6】公定法の高分解能GC/MS装置を用いた場合
と、本発明の低分解能GC/MS装置を用いたダイオキ
シン類同族体分布図である。
【図7】排ガス中の各ダイオキシン(DXN)類濃度と
毒性等価濃度との関係図である。
【図8】灰中の各ダイオキシン(DXN)類濃度と毒性
等価濃度との関係図である。
【図9】排水中の各ダイオキシン(DXN)類濃度と毒
性等価濃度との関係図である。
【図10】本発明の分析法と、公定分析法とのフローチ
ャートである。
【符号の説明】
11 試料 12 高圧抽出器 13 多層カラムクロマトグラフィー 14 低分解能ガスクロマトグラフィー質量分析装置

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 分析対象物からダイオキシン類を含む試
    料を高圧で抽出する高圧抽出器と、 高圧抽出物から共存物質を分離させる多層カラムクロマ
    トグラフィーと、 ダイオキシン類の同族体濃度を分析する低分解能ガスク
    ロマトグラフィー質量分析装置とを具備してなることを
    特徴とするダイオキシン類分析装置。
  2. 【請求項2】 請求項1において、 上記高圧抽出器の抽出温度が100℃から200℃であ
    ることを特徴とするダイオキシン類分析装置。
  3. 【請求項3】 請求項1において、 上記抽出圧力が100kgf/m2 から200kgf/
    2 であることを特徴とするダイオキシン類分析装置。
  4. 【請求項4】 請求項1において、 上記抽出溶媒がトルエン,ベンゼン,アセトンのいずれ
    か一種又は混合物であることを特徴とするダイオキシン
    類分析装置。
  5. 【請求項5】 請求項1において、 上記抽出回数が6回以上であることを特徴とするダイオ
    キシン類分析装置。
  6. 【請求項6】 請求項1において、 上記多層カラムクロマトグラフィーが、無水硫酸ナトリ
    ウム層、5〜10%硝酸銀/シリカゲル層、30〜50
    %硫酸層/シリカゲル層、1〜2%水酸化カリウム層/
    シリカゲル層からなることを特徴とするダイオキシン類
    分析装置。
  7. 【請求項7】 高圧抽出器によりダイオキシン類を含む
    試料を抽出し、 多層カラムクロマトグラフィーにより共存物質を分離さ
    せ、 低分解能ガスクロマトグラフィー質量分析装置により、
    ダイオキシン類の同族体濃度を分析することを特徴とす
    るダイオキシン類分析方法。
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