JP2000059014A - Manufacture of printed board and polishing device - Google Patents

Manufacture of printed board and polishing device

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JP2000059014A
JP2000059014A JP10221646A JP22164698A JP2000059014A JP 2000059014 A JP2000059014 A JP 2000059014A JP 10221646 A JP10221646 A JP 10221646A JP 22164698 A JP22164698 A JP 22164698A JP 2000059014 A JP2000059014 A JP 2000059014A
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JP
Japan
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polishing
insulating resin
resin layer
polished
substrate
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JP10221646A
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Japanese (ja)
Inventor
Nobuhiko Fukuoka
信彦 福岡
Takao Terabayashi
隆夫 寺林
Masashi Miyazaki
政志 宮崎
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method of manufacturing a printed board, which continues to laminate respectively and alternately insulating resin layers and signal wiring conductor layers on both surfaces of a base material and includes a polishing process, which can polish the surface of the insulating resin layer on one side of the insulating resin layers and the surface on one side of both surfaces of the base material into a roughly parallel surface. SOLUTION: Signal wiring conductor layers 23a and 23e of a desired pattern are respectively formed on the surfaces of a base material 21. The parts of the edges of the surfaces of the material 21 are left, and insulating resin layers 24a and 24b, which respectively cover the layers 23a and 23b, are formed. The layer 24b is polished in a state in that a polishing stopper member 14 of a polishing rate lower than those of the layers 24a and 24b is brought into contact with the part of the edge 61 on one side of the edges of the surfaces of the material 21. Thereby, the layer 24b is polished down to the thickness of the member 14, with the surfaces of the material 21 as a reference.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、プリント基板の製
造方法に係わり、特に、表面実装方式のプリント基板の
層間絶縁樹脂の平坦化研磨方法に関する。
The present invention relates to a method of manufacturing a printed circuit board, and more particularly to a method of flattening and polishing an interlayer insulating resin of a surface-mounted printed circuit board.

【0002】[0002]

【従来の技術】表面実装方式のプリント基板は、通常、
基材にガラスエポキシ銅張積層板を使用し、絶縁層には
感光性エポキシ樹脂、導体層には銅メッキ層等を用い、
これらを順次積層した構造からなる。一般的な表面実装
方式のプリント基板の製造方法は、例えば特開平8−1
53951号公報に開示されている。ここで、図7
(a)〜(f)を用いて一般的な表面実装方式のプリン
ト基板の製造方法を簡単に説明する。まず、ガラスエポ
キシからなる基材21の表裏に銅層22a、22bを張
り付けたものを用意し(図7(a))、銅層22a、2
2bを選択的にエッチングすることによりパターニング
し、信号配線導体層23a、23bを形成する(図7
(b))。次に、基材21の両面に、感光性熱硬化性樹
脂を溶剤に溶解して塗布し、その後、プリキュアーによ
り溶剤を蒸発させ、絶縁樹脂層24a、24bを形成す
る。この感光性熱硬化性樹脂を塗布するのに、通常、印
刷やコーターが用いられる。次に、絶縁樹脂層24a,
24bに対して、露光および現像を行い、フォトビアホ
ール25を形成する(図7(d))。次に、絶縁樹脂層
24a、24bの表面を研磨し、表面の凹凸を除去して
平坦化する(図7(e))。これにより、信号配線導体
層23a、23bにより絶縁樹脂層24a,24bの表
面に生じる凹凸、絶縁樹脂層24a、24bの厚さむら
により絶縁樹脂層24a,24bの表面に生じていた凹
凸を除去する。次に平坦化した絶縁樹脂層24a,24
bの表面に銅メッキにより銅層を形成し、この銅層に対
してフォトリソグラフィおよびエッチングを行ってパタ
ーニングし、第2の信号配線導体層26a、26bを形
成する(図7(f))。この後、図7(c)から(f)
の工程を繰り返し、順次、絶縁樹脂層と信号配線導体層
とを積層していくことにより、所望の層数のプリント基
板を形成する。
2. Description of the Related Art A surface mount type printed circuit board is usually
Using a glass epoxy copper clad laminate for the base material, a photosensitive epoxy resin for the insulating layer, a copper plating layer etc. for the conductor layer,
It has a structure in which these are sequentially laminated. A general method of manufacturing a printed circuit board of a surface mounting method is described in, for example,
No. 53951. Here, FIG.
With reference to (a) to (f), a method for manufacturing a general surface mount type printed circuit board will be briefly described. First, a substrate in which copper layers 22a and 22b are adhered to the front and back of a substrate 21 made of glass epoxy is prepared (FIG. 7A).
2b is selectively patterned by etching to form signal wiring conductor layers 23a and 23b (FIG. 7).
(B)). Next, a photosensitive thermosetting resin is dissolved in a solvent and applied to both sides of the base material 21, and then the solvent is evaporated by a pre-curing to form insulating resin layers 24a and 24b. Usually, printing or a coater is used to apply the photosensitive thermosetting resin. Next, the insulating resin layer 24a,
Exposure and development are performed on 24b to form a photo via hole 25 (FIG. 7D). Next, the surfaces of the insulating resin layers 24a and 24b are polished to remove irregularities on the surface and flatten the surface (FIG. 7E). This removes irregularities generated on the surfaces of the insulating resin layers 24a and 24b due to the signal wiring conductor layers 23a and 23b, and irregularities generated on the surfaces of the insulating resin layers 24a and 24b due to uneven thickness of the insulating resin layers 24a and 24b. . Next, the flattened insulating resin layers 24a, 24
A copper layer is formed on the surface of b by copper plating, and this copper layer is patterned by photolithography and etching to form second signal wiring conductor layers 26a and 26b (FIG. 7 (f)). Thereafter, FIGS. 7 (c) to 7 (f)
By repeating the above steps and sequentially laminating the insulating resin layer and the signal wiring conductor layer, a printed board having a desired number of layers is formed.

【0003】このような製造方法において、図7(e)
の研磨工程後の絶縁樹脂層24a、24bの表面に凹凸
が残っていると、図7(f)の第2の信号配線導体層2
6a、26bに断線が生じることがある。一方、図7
(e)の研磨工程で、研磨量が多すぎると、絶縁樹脂層
24a、24bの厚さが薄くなりすぎ、層間絶縁の信頼
性に支障をきたす。そのため、図7(e)の研磨工程で
は、研磨量の制御が重要である。
In such a manufacturing method, FIG.
If irregularities remain on the surfaces of the insulating resin layers 24a and 24b after the polishing step, the second signal wiring conductor layer 2 shown in FIG.
Disconnection may occur in 6a and 26b. On the other hand, FIG.
In the polishing step (e), if the polishing amount is too large, the thickness of the insulating resin layers 24a and 24b becomes too thin, which impairs the reliability of interlayer insulation. Therefore, in the polishing step of FIG. 7E, it is important to control the amount of polishing.

【0004】図7(e)の研磨工程の研磨方法として
は、例えばセラミックロールを用いる研磨法や、平面揺
動研磨法を用いることができる。セラミックロール研磨
法は、硬い研磨材砥粒をバインダーで結合して筒状にし
た研磨材を、被研磨材である絶縁樹脂層24a、24b
の表面で転がして研磨する方法である。一方、平面揺動
研磨法は、研磨材砥粒を直径数mmの金属円板上に電着
結合したペレットを板状に敷き詰めたもの、あるいは、
研磨材砥粒を樹脂により結合した数mm角のブロックを
板状に敷き詰めたものを研磨材として用い、それを揺動
させながら絶縁樹脂層24a,24bの表面に押しつけ
ることにより研磨する方法である。なお、セラミックロ
ールは、例えば、株式会社石井表記製のものが知られて
いる。また、平面揺動研磨法を行う装置としては、例え
ば、アミテック株式会社製の製品名オーバリーサンダー
がある。
As a polishing method in the polishing step of FIG. 7E, for example, a polishing method using a ceramic roll or a plane swing polishing method can be used. The ceramic roll polishing method is a method in which hard abrasive particles are combined with a binder to form a cylindrical abrasive, and the insulating resin layers 24a and 24b as the objects to be polished are formed.
It is a method of rolling and polishing on the surface of the substrate. On the other hand, the plane swing polishing method is a method in which pellets obtained by electrodepositing abrasive grains on a metal disk having a diameter of several mm are spread in a plate shape, or
This is a method in which a block of several mm square in which abrasive grains are bonded with a resin is spread in a plate shape and used as an abrasive, which is polished by being pressed against the surfaces of the insulating resin layers 24a and 24b while swinging. . For example, a ceramic roll manufactured by Ishii Co., Ltd. is known. As an apparatus for performing the plane swing polishing method, there is, for example, an overly sander (trade name, manufactured by Amitec Co., Ltd.).

【0005】また、図7(e)の研磨工程の研磨方法と
して用いることができるポリシング方法が、多数開示さ
れている。例えば特開平8−229808号公報に開示
されるように、回転する定盤の表面に貼り付けられた研
磨パッド上で、研磨すべき被加工物の一面を相対回転さ
せながら、研磨パッドと被加工物との間に研磨砥粒を含
む研磨液を供給することにより研磨を行う方法がある。
この公報では、被加工物を保持するキャリアの背面部に
ダイヤフラム等を水平に張ることで中空部を設け、ここ
に加圧空気を供給して、研磨パッドに対する被加工物の
当接圧力を均一化する。さらにキャリアからの被加工物
のはずれ防止用のリテーナリングを、研磨パッドに適切
な圧力で押圧することにより、リテーナリングによる研
磨パッドの変形を防ぎ、被加工物外周部での研磨量が、
被加工物中心部より大きくなる現象を抑制し、被加工物
の面内の研磨量をさらに均一化することも示されてい
る。
[0005] Many polishing methods have been disclosed which can be used as a polishing method in the polishing step of FIG. For example, as disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 8-229808, while a surface of a workpiece to be polished is relatively rotated on a polishing pad attached to a surface of a rotating platen, There is a method in which polishing is performed by supplying a polishing liquid containing polishing abrasive grains between the polishing liquid and an object.
In this publication, a hollow portion is provided by stretching a diaphragm or the like horizontally on the back surface of a carrier holding a workpiece, and pressurized air is supplied to the hollow portion to make the contact pressure of the workpiece against the polishing pad uniform. Become Further, by pressing the retainer ring for preventing the workpiece from being detached from the carrier against the polishing pad with an appropriate pressure, deformation of the polishing pad due to the retainer ring is prevented, and the polishing amount at the outer peripheral portion of the workpiece is reduced.
It is also disclosed that the phenomenon of becoming larger than the central portion of the workpiece is suppressed, and the amount of polishing in the surface of the workpiece is made more uniform.

【0006】また、特開平6−15562号公報および
特開平6−39705号公報には、被研磨板を保持した
保持具の外周部分にストッパを配置し、ストッパを所定
の量だけ保持具から突出させておくことにより、ストッ
パが研磨定盤に接した時点で被研磨板の研磨を停止させ
る研磨方法が開示されている。
In Japanese Patent Application Laid-Open Nos. 6-15562 and 6-39705, a stopper is arranged on an outer peripheral portion of a holder holding a plate to be polished, and the stopper is projected from the holder by a predetermined amount. A polishing method is disclosed in which the polishing of the plate to be polished is stopped when the stopper comes in contact with the polishing platen.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】上述した絶縁樹脂層2
4a,24bの研磨工程は、研磨後の絶縁樹脂層24
a,24bの表面が、図7(e)のように基材21の表
面に平行な平面になることが理想的である。しかしなが
ら、従来のセラミックロール研磨法や、平面揺動研磨法
や、特開平8−229808号公報に開示されている研
磨方法は、絶縁樹脂層24a,24bの表面全体がほぼ
一様の厚さで除去されるため、絶縁樹脂層の表面の凹凸
を除去することはできても、絶縁樹脂層24a,24b
の厚さのむらを除去することはできない。そのため、絶
縁樹脂層24a,24bの表面を図7(e)のように基
材21の表面に対して平行な平面にすることはできな
い。
The above-mentioned insulating resin layer 2
The polishing steps 4a and 24b are performed by polishing the insulating resin layer 24 after polishing.
Ideally, the surfaces of a and 24b are planes parallel to the surface of the base member 21 as shown in FIG. However, in the conventional ceramic roll polishing method, the plane swing polishing method, and the polishing method disclosed in JP-A-8-229808, the entire surface of the insulating resin layers 24a and 24b has a substantially uniform thickness. As a result, even if the irregularities on the surface of the insulating resin layer can be removed, the insulating resin layers 24a, 24b
The thickness unevenness cannot be removed. For this reason, the surfaces of the insulating resin layers 24a and 24b cannot be made a plane parallel to the surface of the base 21 as shown in FIG.

【0008】また、特開平6−15562号公報および
特開平6−39705号公報記載の研磨方法は、保持具
の表面と接する被研磨板の裏面を基準面とし、この基準
面から所定量だけストッパを突出させ、この所定量の厚
さまで被研磨板を研磨する。この方法を基材21の両面
に絶縁樹脂層24a、24bが形成されるプリント基板
(図7(c))にこの研磨方法を用いると、研磨されて
いない裏面側の絶縁樹脂層の表面の傾斜やうねりのある
面が基準面となるため、研磨面は基材の主平面に対して
傾斜してしまうおそれがある。したがって、もしもこの
研磨方法をプリント基板の製造に使用するとすれば、図
7(d)の工程で、片面にのみ絶縁樹脂層を形成して、
絶縁樹脂層を形成していない裏面を基準面として研磨し
た後、裏面側に絶縁樹脂層を形成して、また研磨すると
いうように、絶縁樹脂層の形成工程と研磨工程とを2回
に分けて行うようにする必要がある。このようにする
と、工程が約2倍必要になるため、製造効率が大きく低
下する。
In the polishing method described in JP-A-6-15562 and JP-A-6-39705, the back surface of the plate to be polished in contact with the surface of the holder is used as a reference surface, and a stopper is moved from the reference surface by a predetermined amount. Is projected, and the plate to be polished is polished to the predetermined thickness. When this method is applied to a printed circuit board (FIG. 7C) in which the insulating resin layers 24a and 24b are formed on both surfaces of the substrate 21, the surface of the insulating resin layer on the back side that is not polished is inclined. Since the undulating surface is the reference surface, the polished surface may be inclined with respect to the main plane of the substrate. Therefore, if this polishing method is used for manufacturing a printed circuit board, an insulating resin layer is formed only on one side in the step of FIG.
After polishing using the back surface on which the insulating resin layer is not formed as a reference surface, forming the insulating resin layer on the back surface side and polishing again, the forming process of the insulating resin layer and the polishing process are divided into two steps. Need to be done. In this case, the number of steps is about twice, so that the manufacturing efficiency is greatly reduced.

【0009】本発明は、絶縁樹脂層と信号配線導体層と
を基材の両面にそれぞれ積層していくプリント基板の製
造方法であって、絶縁樹脂層の表面を基材の表面とほぼ
平行な面に研磨することのできる研磨工程を含む製造方
法を提供することを目的とする。
The present invention relates to a method for manufacturing a printed circuit board in which an insulating resin layer and a signal wiring conductor layer are laminated on both surfaces of a substrate, wherein the surface of the insulating resin layer is substantially parallel to the surface of the substrate. It is an object of the present invention to provide a manufacturing method including a polishing step capable of polishing a surface.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明によれば、以下のような製造方法が提供され
る。
In order to achieve the above object, according to the present invention, the following manufacturing method is provided.

【0011】すなわち、基材上に、所望のパターンの信
号配線導体層を形成する第1の工程と、前記基材の表面
の縁の部分を残して、前記信号配線導体層を覆う絶縁樹
脂層を形成する第2の工程と、前記基材の表面のうち前
記縁の部分に、前記絶縁樹脂層よりも研磨レートが低い
研磨ストッパ部材を接触させた状態で、前記絶縁樹脂層
を研磨することにより、前記絶縁樹脂層を前記ストッパ
部材の厚さまで研磨する第3の工程と、を含むことを特
徴とするプリント基板の製造方法である。
That is, a first step of forming a signal wiring conductor layer having a desired pattern on a base material, and an insulating resin layer covering the signal wiring conductor layer while leaving an edge portion of the surface of the base material And polishing the insulating resin layer in a state where a polishing stopper member having a lower polishing rate than the insulating resin layer is brought into contact with the edge portion of the surface of the base material. And a third step of polishing the insulating resin layer to a thickness of the stopper member.

【0012】[0012]

【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施の形態を図
面を用いて説明する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS One embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0013】本実施の形態の表面実装方式のプリント基
板の製造方法を図6(a)〜(f)を用いて説明する。
A method of manufacturing a surface-mounted printed circuit board according to this embodiment will be described with reference to FIGS.

【0014】まず、ガラスエポキシからなる基材21の
表裏に銅層22a、22bを張り付けたものを用意する
(図6(a))。この銅層22a、22bを選択的にエ
ッチングすることにより所望の配線形状にパターニング
し、信号配線導体層23a、23bを形成する(図6
(b))。次に、基材21の両面に、感光性熱硬化性樹
脂を溶剤に溶解して塗布し、その後、プリキュアーによ
り溶剤を蒸発させ、絶縁樹脂層24a、24bを形成す
る。ここでは感光性熱硬化性樹脂として、シプレイ社製
XP−9500CCを用いる。感光性熱硬化性樹脂を塗
布する際には、印刷やコーターを用いる。このとき、感
光性熱硬化性樹脂を塗布する面積を、基材21の面積よ
り若干小さくし、基材21の縁61には絶縁樹脂層24
a,24bを形成しないようにする。これは、印刷装置
やコーターのステージを汚さないためであるのと同時
に、後の研磨工程で基準面となる縁61を形成するため
である。ここでは、基材21として400mm角の正方
形のものを用い、絶縁樹脂層24a,24bを380m
m角で形成した。よって、基材21の周囲には、幅10
mmで帯状に絶縁樹脂層24a,24bが形成されない
縁61が残される。
First, a substrate in which copper layers 22a and 22b are attached to the front and back of a substrate 21 made of glass epoxy is prepared (FIG. 6A). The copper layers 22a and 22b are selectively etched to be patterned into a desired wiring shape to form signal wiring conductor layers 23a and 23b (FIG. 6).
(B)). Next, a photosensitive thermosetting resin is dissolved in a solvent and applied to both sides of the base material 21, and then the solvent is evaporated by a pre-curing to form insulating resin layers 24a and 24b. Here, XP-9500CC manufactured by Shipley is used as the photosensitive thermosetting resin. When applying the photosensitive thermosetting resin, printing or a coater is used. At this time, the area for applying the photosensitive thermosetting resin is made slightly smaller than the area of the base material 21, and the insulating resin layer 24
a, 24b are not formed. This is because the stage of the printing apparatus or the coater is not soiled, and at the same time, the edge 61 serving as a reference surface is formed in a subsequent polishing process. Here, a 400 mm square substrate is used as the substrate 21, and the insulating resin layers 24 a and 24 b are 380 m long.
It was formed with m square. Therefore, around the base material 21, the width 10
The edge 61 where the insulating resin layers 24a and 24b are not formed in a strip shape in mm is left.

【0015】次に、絶縁樹脂層24a,24bに対し
て、露光および現像を行い、所望の配置にフォトビアホ
ール25を形成する(図6(d))。さらに、絶縁樹脂
層24a、24bの表面を研磨し、表面の凹凸を除去
し、絶縁樹脂層24a,24bの表面を、基材21にほ
ぼ平行な平面にする(図6(e))。ここでは、研磨後
の絶縁樹脂層24a,24bの厚さが、信号配線導体層
23a,23bのない部分で50μmとなるように研磨
する。
Next, the insulating resin layers 24a and 24b are exposed and developed to form photo via holes 25 in a desired arrangement (FIG. 6D). Further, the surfaces of the insulating resin layers 24a and 24b are polished to remove irregularities on the surface, and the surfaces of the insulating resin layers 24a and 24b are made substantially flat with the substrate 21 (FIG. 6E). Here, the polishing is performed so that the thickness of the polished insulating resin layers 24a and 24b is 50 μm in a portion where the signal wiring conductor layers 23a and 23b are not provided.

【0016】本実施の形態では、この研磨工程を、独自
の研磨装置を用いて行う(図6(e))。研磨装置の構
成を図2、図5等を用いて説明する。この研磨装置にお
いて、被研磨対象1(図6(d)の絶縁樹脂層24a,
24b付き基材21)は、チャック2により保持され
る。チャック2は、上プレート17とテンプレート15
とにより構成される。上プレート17は、中央部が、基
材1の形状に厚く突出した板状部材である。テンプレー
ト15は、基材21の形状に開口部301を有する枠で
あり、上プレート17の中央部の厚い部分と嵌合するよ
うに形成されている(図3)。ここでは、基材21は、
400mm角で厚さ0.5mmの正方形であるため、開
口部301もほぼ400mm角の正方形である。テンプ
レート15の下面には、研磨を停止させるために、絶縁
樹脂層24a、24bよりも研磨レートの低い材質から
なる研磨ストッパ14が固定されている。研磨ストッバ
14は、開口部301よりも小さい開口部302を有し
ている。このため、被研磨対象1をテンプレート15の
開口301に挿入すると、研磨ストッパ14の上面が、
被研磨対象1の縁61の面と接する構成となる。なお、
開口部302の大きさは、絶縁樹脂層24a,24bが
形成されている領域よりも大きく設定されているため、
研磨ストッパ14は、絶縁樹脂層24bには接触せず、
基材21の縁61の面のみと接する。
In this embodiment, this polishing step is performed by using a unique polishing apparatus (FIG. 6E). The configuration of the polishing apparatus will be described with reference to FIGS. In this polishing apparatus, the object to be polished 1 (the insulating resin layer 24a of FIG.
The substrate 21 with 24b is held by the chuck 2. The chuck 2 includes an upper plate 17 and a template 15.
It is composed of The upper plate 17 is a plate-like member whose central portion protrudes thickly in the shape of the base material 1. The template 15 is a frame having an opening 301 in the shape of the base material 21 and is formed so as to fit with a thick portion at the center of the upper plate 17 (FIG. 3). Here, the substrate 21 is
Since it is a square of 400 mm square and 0.5 mm in thickness, the opening 301 is also a square of approximately 400 mm square. A polishing stopper 14 made of a material having a lower polishing rate than the insulating resin layers 24a and 24b is fixed to the lower surface of the template 15 to stop polishing. The polishing stopper 14 has an opening 302 smaller than the opening 301. Therefore, when the polishing target 1 is inserted into the opening 301 of the template 15, the upper surface of the polishing stopper 14
It is configured to be in contact with the surface of the edge 61 of the object 1 to be polished. In addition,
Since the size of the opening 302 is set to be larger than the region where the insulating resin layers 24a and 24b are formed,
The polishing stopper 14 does not contact the insulating resin layer 24b,
It contacts only the surface of the edge 61 of the substrate 21.

【0017】研磨ストッパ14の材質としては、例えば
ステンレス鋼やモリブデン等の金属材料や、アルミナ等
のセラミックスを用いることができる。本実施の形態で
はステンレス鋼(SUS304)により研磨ストッパ1
4を形成している。また、研磨ストッパ14の開口部3
02は、ここでは384mm角にしている。
As the material of the polishing stopper 14, for example, a metal material such as stainless steel or molybdenum, or a ceramic such as alumina can be used. In this embodiment, the polishing stopper 1 is made of stainless steel (SUS304).
4 are formed. The opening 3 of the polishing stopper 14
02 is 384 mm square here.

【0018】一方、上プレート17の中央部には、弾性
体からなるバッキング材18が取り付けられている。よ
って、上プレート17にテンプレート15を嵌合させる
と、バッキング材18は、被研磨対象1の研磨しない側
の絶縁樹脂層24aの凹凸を吸収するとともに、基材2
1の縁61を研磨ストッパ14に押しつけて基材21を
固定する作用をする。バッキング材18の材質は、被研
磨対象1の研磨しない側の絶縁樹脂層24aの凹凸を十
分に吸収できる弾性を有するものを用いる必要がある。
本実施の形態では厚さ1mmのウレタンゴムによりバッ
キング材18を形成している。
On the other hand, a backing member 18 made of an elastic material is attached to the center of the upper plate 17. Therefore, when the template 15 is fitted to the upper plate 17, the backing material 18 absorbs the unevenness of the insulating resin layer 24 a on the non-polished side of the object 1 to be polished, and
One edge 61 is pressed against the polishing stopper 14 to fix the substrate 21. As the material of the backing material 18, it is necessary to use an elastic material capable of sufficiently absorbing irregularities of the insulating resin layer 24a on the non-polished side of the object 1 to be polished.
In this embodiment, the backing material 18 is formed of urethane rubber having a thickness of 1 mm.

【0019】また、上プレート17の周辺部のテンプレ
ート15と接する部分には、板厚調整弾性体16が取り
付けられている。板厚調整弾性体16が配置されている
ことにより、広範囲の厚さの被研磨対象1をチャック2
で保持することが可能である。ここでは板厚調整弾性体
16は厚さ3mmのウレタンゴムにより形成している。
A plate thickness adjusting elastic body 16 is attached to a portion of the upper plate 17 which is in contact with the template 15 at the periphery. Since the plate thickness adjusting elastic body 16 is arranged, the object 1 to be polished having a wide range of thicknesses can be chucked by the chuck 2.
It is possible to hold with. Here, the plate thickness adjusting elastic body 16 is formed of urethane rubber having a thickness of 3 mm.

【0020】また、チャック2の上プレート17には、
軸201が取り付けられている。軸201には、可動継
ぎ手19が取り付けられており、チャック2は傾き自由
に軸201により支持される。また、軸201には、図
5のようにチャック2を回転させるためのモータ3が接
続され、さらに、ロータリージョイント6を介してシリ
ンダー7が接続されている。モーター3およびシリンダ
ー7は、それぞれ信号線9aおよび信号線9bにより制
御装置8と接続されている。また、チャック2は、上面
に研磨パッド5が取り付けられた研磨定盤4の上に搭載
される。研磨パッド5の上には、研磨液10が供給され
る構成である。
The upper plate 17 of the chuck 2 has
A shaft 201 is attached. The movable joint 19 is attached to the shaft 201, and the chuck 2 is supported by the shaft 201 so as to be free to tilt. A motor 3 for rotating the chuck 2 is connected to the shaft 201 as shown in FIG. 5, and a cylinder 7 is connected via a rotary joint 6. The motor 3 and the cylinder 7 are connected to the control device 8 by signal lines 9a and 9b, respectively. The chuck 2 is mounted on a polishing platen 4 on which a polishing pad 5 is attached on the upper surface. The polishing liquid 5 is supplied onto the polishing pad 5.

【0021】このような研磨装置を用いる本実施の形態
では、図6(e)のように研磨を行う。すなわち、チャ
ック2の上プレート17とテンプレート15との間に被
研磨対象1を挟み、チャック2を研磨定盤4の上に載せ
る。これにより、研磨ストッバ14の開口部302から
は、図1のように研磨すべき絶縁樹脂層24bが露出さ
れ、絶縁樹脂層24bのうちの凸部が研磨パッド5に接
する。この状態で、制御装置8の制御のもとでシリンダ
ー7から所定の圧力をかけて絶縁樹脂層24bを研磨パ
ッド5に押しつけ、モーター3によりチャック2を回転
させる。また、定盤4も回転させ、研磨パッド5上に研
磨液10を供給する(図5)と、研磨ストッパ14から
露出されている絶縁樹脂層24bが研磨される。
In the present embodiment using such a polishing apparatus, polishing is performed as shown in FIG. That is, the object to be polished 1 is sandwiched between the upper plate 17 of the chuck 2 and the template 15, and the chuck 2 is placed on the polishing platen 4. As a result, the insulating resin layer 24b to be polished is exposed from the opening 302 of the polishing stocker 14 as shown in FIG. 1, and the convex portion of the insulating resin layer 24b contacts the polishing pad 5. In this state, the insulating resin layer 24b is pressed against the polishing pad 5 by applying a predetermined pressure from the cylinder 7 under the control of the controller 8, and the chuck 2 is rotated by the motor 3. In addition, when the platen 4 is rotated to supply the polishing liquid 10 onto the polishing pad 5 (FIG. 5), the insulating resin layer 24b exposed from the polishing stopper 14 is polished.

【0022】絶縁樹脂層24bの研磨は、絶縁樹脂層2
4aの凸部から始まる。そして、絶縁樹脂層24bの一
部の厚さが研磨ストッパ14の厚さと等しくなると、そ
の周辺の研磨ストッパ14が研磨パッド5に接する。す
ると、この部分は、研磨ストッパ14により研磨の進行
が極端に抑制され、研磨ストッパ14の厚さで研磨を停
止させることができるとともに、絶縁樹脂層24aの研
磨されやすい別の部分に研磨部が移る。したがって、研
磨ストッパ14の厚さを、所望の絶縁樹脂層24bの厚
さに設定しておき、研磨ストッパ14の下面のすべてが
研磨パッド5に接するまで研磨を続けることにより、絶
縁樹脂層24bの厚さ(信号配線導体層23b厚さを含
めた厚さ)を、図6(e)のように研磨ストッパ14の
厚さに揃えることができる。研磨後の絶縁樹脂層24b
の表面は、基材21の表面にほぼ平行な平面となる。
The polishing of the insulating resin layer 24b is performed by using the insulating resin layer 2b.
It starts from the convex part of 4a. Then, when the thickness of a part of the insulating resin layer 24 b becomes equal to the thickness of the polishing stopper 14, the polishing stopper 14 at the periphery thereof comes into contact with the polishing pad 5. Then, in this portion, the progress of polishing is extremely suppressed by the polishing stopper 14, the polishing can be stopped by the thickness of the polishing stopper 14, and the polishing portion is formed in another portion of the insulating resin layer 24 a where polishing is easy. Move on. Therefore, the thickness of the polishing stopper 14 is set to a desired thickness of the insulating resin layer 24b, and the polishing is continued until all of the lower surface of the polishing stopper 14 comes into contact with the polishing pad 5. The thickness (thickness including the thickness of the signal wiring conductor layer 23b) can be made equal to the thickness of the polishing stopper 14 as shown in FIG. Polished insulating resin layer 24b
Is a plane substantially parallel to the surface of the substrate 21.

【0023】本実施の形態では、研磨ストッパ14の厚
さを50μmにした。研磨圧力は、5.0kPaとなる
ようにシリンダー7を制御し、研磨液10は、緑色炭化
ケイ素#3000の砥粒を溶媒に分散したものを用い
た。また、研磨パッド5は、硬質ポリウレタンを用い
た。
In this embodiment, the thickness of the polishing stopper 14 is set to 50 μm. The cylinder 7 was controlled so that the polishing pressure was 5.0 kPa, and the polishing liquid 10 used was one in which abrasive grains of green silicon carbide # 3000 were dispersed in a solvent. The polishing pad 5 was made of hard polyurethane.

【0024】この条件で研磨を行いながら、途中で絶縁
樹脂層24bの厚さ(信号配線導体層23b厚さを含め
た厚さ)の面内分布を測定し、面内で最も厚い部分と最
も薄い部分との厚さの差(最大差)の変化を求め、研磨
の進行を状況を確認した。その結果を図8に示す。図8
からわかるように、絶縁樹脂層24bの厚さの面内最大
差は、研磨前には約18μmもあったが、研磨の進行に
伴い減少し、最終的には約6μm程度までに減少した。
そしてこの時の最終的な絶縁樹脂層の厚さは平均52μ
mであった。また、研磨後の絶縁樹脂層24bの表面の
形状を測定したところ、研磨前には信号配線導体層23
b上部において絶縁樹脂層24bの表面に存在した15
μmの段差は、研磨後に0.5μm以下なっていること
もわかった。これらのことから、本実施の形態の研磨装
置を用いることにより、絶縁樹脂層24bの厚さのばら
つきを、最大でも約10%程度にまで抑制でき、しか
も、段差が0.5μm以下という、ほぼ平面にできるこ
とが確認できた。よって、次工程で、この上に信号配線
導体層26bを形成した場合、絶縁樹脂層24bの段差
や厚さ分布によって断線する恐れはない。また、絶縁樹
脂層24bに、所望厚さ50μmを下回る部分はなく、
層間絶縁信頼性を高く維持できる。
While polishing is performed under these conditions, the in-plane distribution of the thickness of the insulating resin layer 24b (thickness including the thickness of the signal wiring conductor layer 23b) is measured on the way. The change in thickness difference (maximum difference) from the thin portion was determined, and the progress of polishing was checked. FIG. 8 shows the result. FIG.
As can be seen from the figure, the maximum in-plane difference in the thickness of the insulating resin layer 24b was about 18 μm before polishing, but decreased with the progress of polishing, and finally decreased to about 6 μm.
At this time, the final thickness of the insulating resin layer is 52 μm on average.
m. Further, the shape of the surface of the insulating resin layer 24b after polishing was measured.
b on the surface of the insulating resin layer 24b
It was also found that the step of μm became 0.5 μm or less after polishing. From these facts, by using the polishing apparatus of the present embodiment, the variation in the thickness of the insulating resin layer 24b can be suppressed to about 10% at the maximum, and the step is about 0.5 μm or less. It was confirmed that it could be made flat. Therefore, when the signal wiring conductor layer 26b is formed thereon in the next step, there is no possibility of disconnection due to a step or thickness distribution of the insulating resin layer 24b. In addition, there is no portion in the insulating resin layer 24b below the desired thickness of 50 μm,
High interlayer insulation reliability can be maintained.

【0025】このようにして絶縁樹脂層24bの研磨が
終了したならば、被研磨対象1を裏返してチャック2に
保持することにより、絶縁樹脂層24aを研磨ストッパ
14の開口部302から露出させ、絶縁樹脂層24aに
ついて同様に研磨を行い、絶縁樹脂層24aの表面を平
坦にする。
After the polishing of the insulating resin layer 24b is completed, the object 1 to be polished is turned upside down and held on the chuck 2, thereby exposing the insulating resin layer 24a from the opening 302 of the polishing stopper 14, The insulating resin layer 24a is similarly polished to flatten the surface of the insulating resin layer 24a.

【0026】次に平坦化した絶縁樹脂層24a,24b
の表面に銅メッキにより銅層を形成し、この銅層に対し
てフォトリソグラフィおよびエッチングを行ってパター
ニングし、第2の信号配線導体層26a、26bを形成
する(図6(f))。この後、図6(c)から(f)の
工程を繰り返し、順次、絶縁樹脂層と信号配線導体層と
を積層していくことにより、所望の層数の信号配線導体
層と絶縁樹脂層とが積層されたプリント基板を形成す
る。
Next, the flattened insulating resin layers 24a, 24b
A copper layer is formed on the surface of the substrate by copper plating, and this copper layer is patterned by photolithography and etching to form second signal wiring conductor layers 26a and 26b (FIG. 6F). Thereafter, the steps of FIG. 6C to FIG. 6F are repeated, and the insulating resin layer and the signal wiring conductor layer are sequentially laminated, so that a desired number of signal wiring conductor layers and insulating resin layers are formed. Are formed to form a printed circuit board.

【0027】上述してきたように、本実施の形態の製造
方法によれば、図1の研磨装置を用いることにより、絶
縁樹脂層24a,24bの表面の段差をなくし、しか
も、絶縁樹脂層24bの厚さ(信号配線導体層23b厚
さを含めた厚さ)を一様にすることができる。このた
め、信号配線導体層の断線のおそれがなく、かつ、層間
絶縁信頼性を高いプリント基板を製造することができ
る。このように研磨できるのは、上述したように図1の
研磨装置を用いるためである。図1の研磨装置は、基材
21の縁61に研磨ストッパ14を接触させる構成にす
ることにより、基材の上面を研磨量の基準とする。ま
た、バッキング材18により研磨しない側の絶縁樹脂層
24aの凹凸を吸収する。したがって、図1の研磨装置
では、従来のように被研磨対象1の裏面を基準としてス
トッパにより研磨量を制御するのではなく、基板21の
上面を基準として研磨ストッパ14により研磨量を制御
することができる。これにより、研磨しない側の絶縁樹
脂層24aの凹凸の影響を受けることがなく、精度よく
所望の厚さに絶縁樹脂層24bを研磨することができ
る。
As described above, according to the manufacturing method of the present embodiment, the steps on the surfaces of the insulating resin layers 24a and 24b are eliminated by using the polishing apparatus shown in FIG. The thickness (thickness including the thickness of the signal wiring conductor layer 23b) can be made uniform. Therefore, it is possible to manufacture a printed circuit board having no risk of disconnection of the signal wiring conductor layer and having high interlayer insulation reliability. Polishing can be performed in this manner because the polishing apparatus shown in FIG. 1 is used as described above. The polishing apparatus shown in FIG. 1 has a configuration in which the polishing stopper 14 is brought into contact with the edge 61 of the substrate 21 so that the upper surface of the substrate is used as a reference for the polishing amount. In addition, the backing material 18 absorbs unevenness of the non-polished insulating resin layer 24a. Therefore, in the polishing apparatus of FIG. 1, the polishing amount is controlled by the polishing stopper 14 based on the upper surface of the substrate 21 instead of controlling the polishing amount using the stopper based on the back surface of the object 1 to be polished as in the related art. Can be. Thus, the insulating resin layer 24b can be accurately polished to a desired thickness without being affected by the unevenness of the insulating resin layer 24a on the non-polished side.

【0028】一方、比較例として、上述の図6(e)の
工程で、従来の方式のセラミックロール研磨、平面揺動
研磨、ポリシング研磨等を用い、研磨を行ったところ、
それぞれの研磨方法により絶縁樹脂層表面の凹凸を除去
し平坦な面を得ることが出来た。しかし、これら研磨方
法の特徴は、面内で均一な研磨レートを得て研磨量むら
を生じさせないことであるため、絶縁樹脂層の厚さの最
大値と最小値の差は、研磨前後であまり変化がなかっ
た。そのため、本実施の形態と異なり、基本的に研磨に
より絶縁樹脂層厚の均一化を図ることは出来ず、層間絶
縁性の信頼性は本実施の形態より低かった。
On the other hand, as a comparative example, in the above-described step of FIG. 6E, polishing was performed using a conventional method such as ceramic roll polishing, plane swing polishing, polishing polishing, and the like.
By the respective polishing methods, the unevenness on the surface of the insulating resin layer was removed to obtain a flat surface. However, since the feature of these polishing methods is to obtain a uniform polishing rate in the plane and not to cause unevenness in the polishing amount, the difference between the maximum value and the minimum value of the thickness of the insulating resin layer is very small before and after polishing. There was no change. Therefore, unlike this embodiment, the thickness of the insulating resin layer could not be basically made uniform by polishing, and the reliability of interlayer insulation was lower than that of this embodiment.

【0029】なお、図6(a)〜(d)の工程で、基材
21の片面にのみ絶縁樹脂層を積層した場合には、セラ
ミックロールや平面揺動研磨方法であっても、研磨材と
被研磨物の支持材の平行度が高ければ、ある程度平面で
ある基材裏面が基準となるため、研磨により絶縁樹脂層
の厚さの均一化を図られると考えられる。しかし、これ
らの研磨方法は、本発明のようなストッパがないため、
研磨の行き過ぎはパス回数あるいは時間で制御する必要
があり、また基材裏面に対して絶縁樹脂層表面を平行に
研磨するため、基材の厚い箇所の絶縁樹脂層の厚さ薄く
なることになり、結果的に基材の厚さばらつきよりも絶
縁樹脂層の厚さばらつきを抑えることは出来ない。よっ
て、基材21の表面を基準とし樹脂厚の制御をする本発
明の方が絶縁樹脂層の厚さの均一化を図ることが可能で
ある。また、基材21の片面のみに絶縁樹脂層および信
号配線導体層を積層した場合は、本実施の形態のように
両面に同時に積層していく場合と比較して、同じ積層数
のプリント配線基板を製造するのに約2倍の工程が必要
となり製造効率が低く、製造効率の点からみても本実施
の形態の製造方法は優れている。
In the process shown in FIGS. 6A to 6D, when the insulating resin layer is laminated only on one side of the base material 21, the polishing material can be used even with a ceramic roll or a plane swing polishing method. If the parallelism of the support material of the object to be polished is high, it is considered that the thickness of the insulating resin layer can be made uniform by polishing because the back surface of the base material, which is somewhat flat, is used as a reference. However, since these polishing methods do not have a stopper as in the present invention,
Excessive polishing must be controlled by the number of passes or the time.In addition, since the surface of the insulating resin layer is polished in parallel to the back surface of the base material, the thickness of the insulating resin layer at the thicker portion of the base material becomes thinner. As a result, the thickness variation of the insulating resin layer cannot be suppressed more than the thickness variation of the base material. Therefore, the present invention in which the thickness of the resin is controlled based on the surface of the base material 21 can make the thickness of the insulating resin layer more uniform. Further, when the insulating resin layer and the signal wiring conductor layer are laminated only on one surface of the base material 21, the printed wiring board having the same number of laminations is compared with the case where the insulating resin layer and the signal wiring conductor layer are laminated simultaneously on both surfaces as in this embodiment. Approximately twice the number of steps are required to manufacture, and the manufacturing efficiency is low, and the manufacturing method of the present embodiment is excellent from the viewpoint of manufacturing efficiency.

【0030】[0030]

【発明の効果】上述してきたように、絶縁樹脂層と信号
配線導体層とを基材の両面にそれぞれ交互に積層してい
くプリント基板の製造方法であって、絶縁樹脂層の表面
を基材の表面にほぼ平行な面に研磨することのできる研
磨工程を含む製造方法を提供することができる。
As described above, a method of manufacturing a printed circuit board in which an insulating resin layer and a signal wiring conductor layer are alternately laminated on both surfaces of a substrate, wherein the surface of the insulating resin layer is A polishing method capable of polishing to a surface substantially parallel to the surface of the substrate.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施の形態のプリント基板の製造方
法の研磨工程に用いる研磨装置の被加工物の支持部の示
す断面図。
FIG. 1 is a cross-sectional view illustrating a support portion of a workpiece of a polishing apparatus used in a polishing step of a method of manufacturing a printed circuit board according to an embodiment of the present invention.

【図2】図1の研磨装置の被加工物の支持部の構成を示
す説明図。
FIG. 2 is an explanatory view showing a configuration of a support portion of a workpiece of the polishing apparatus of FIG. 1;

【図3】図1の研磨装置のテンプレート15および研磨
ストッパ14の構成を示す上面図。
FIG. 3 is a top view showing the configuration of a template 15 and a polishing stopper 14 of the polishing apparatus of FIG.

【図4】図1の研磨装置のテンプレート15および研磨
ストッパ14の構成を示す断面図。
FIG. 4 is a sectional view showing a configuration of a template 15 and a polishing stopper 14 of the polishing apparatus of FIG. 1;

【図5】図1の研磨装置の全体の構成を示すブロック
図。
FIG. 5 is a block diagram showing the overall configuration of the polishing apparatus of FIG. 1;

【図6】(a)〜(f)本発明の一実施の形態のプリン
ト基板の製造工程を示す断面図。
FIGS. 6A to 6F are cross-sectional views illustrating steps of manufacturing a printed circuit board according to an embodiment of the present invention.

【図7】(a)〜(f)従来のプリント基板の製造工程
を示す断面図。
FIGS. 7A to 7F are cross-sectional views showing steps of manufacturing a conventional printed circuit board.

【図8】図6(f)の研磨工程において、研磨の進行に
伴う絶縁樹脂層の厚さの面内分布の最大差の変化を示す
グラフ。
FIG. 8 is a graph showing a change in the maximum difference in the in-plane distribution of the thickness of the insulating resin layer as polishing proceeds in the polishing step of FIG. 6 (f).

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…被研磨対象、2…チャック、3…モータ、4…回転
定盤、5…研磨パッド、6…ロータリージョイント、7
…シリンダー、8…制御装置、9a、9b…信号線、1
0…研磨液、14…研磨ストッパ、15…テンプレー
ト、16…板厚調整弾性体、17…上プレート、18…
バッキング材、19…可動継ぎ手、21…基材、22
a、22b…銅層、23a、23b…信号配線導体層、
24a、24b…絶縁樹脂層、25…フォトビアホー
ル、26a、26b…第2の信号配線導体層、61…
縁、201…軸。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... polishing object, 2 ... chuck, 3 ... motor, 4 ... rotating platen, 5 ... polishing pad, 6 ... rotary joint, 7
... Cylinder, 8 ... Control device, 9a, 9b ... Signal line, 1
0: Polishing liquid, 14: Polishing stopper, 15: Template, 16: Plate thickness adjusting elastic body, 17: Upper plate, 18 ...
Backing material, 19: movable joint, 21: base material, 22
a, 22b: copper layer, 23a, 23b: signal wiring conductor layer,
24a, 24b: insulating resin layer, 25: photo via hole, 26a, 26b: second signal wiring conductor layer, 61 ...
Edge, 201 ... axis.

フロントページの続き (72)発明者 宮崎 政志 神奈川県秦野市堀山下1番地 株式会社日 立製作所汎用コンピュータ事業部内 Fターム(参考) 5E314 AA27 BB12 CC01 DD01 DD05 FF01 Continuation of the front page (72) Inventor Masashi Miyazaki 1 Horiyamashita, Hadano-shi, Kanagawa F-term in the General-purpose Computer Division, Hitachi, Ltd. 5E314 AA27 BB12 CC01 DD01 DD05 FF01

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】基材上に、所望のパターンの信号配線導体
層を形成する第1の工程と、 前記基材の表面の縁の部分を残して、前記信号配線導体
層を覆う絶縁樹脂層を形成する第2の工程と、 前記基材の表面のうち前記縁の部分に、前記絶縁樹脂層
よりも研磨レートが低い研磨ストッパ部材を接触させた
状態で、前記絶縁樹脂層を研磨することにより、前記絶
縁樹脂層を前記研磨ストッパ部材の厚さまで研磨する第
3の工程と、 を含むことを特徴とするプリント基板の製造方法。
1. A first step of forming a signal wiring conductor layer having a desired pattern on a base material, and an insulating resin layer covering the signal wiring conductor layer except for an edge portion of a surface of the base material. And polishing the insulating resin layer in a state where a polishing stopper member having a lower polishing rate than the insulating resin layer is brought into contact with the edge portion of the surface of the base material. A third step of polishing the insulating resin layer to a thickness of the polishing stopper member.
【請求項2】請求項1に記載のプリント基板の製造方法
において、前記研磨ストッパ部材は、その厚さが、前記
第3の工程で前記絶縁樹脂層を研磨すべき厚さに設定さ
れていることを特徴とするプリント基板の製造方法。
2. The method of manufacturing a printed circuit board according to claim 1, wherein said polishing stopper member has a thickness set to a thickness at which said insulating resin layer is to be polished in said third step. A method for manufacturing a printed circuit board, comprising:
【請求項3】請求項1または2に記載のプリント基板の
製造方法において、前記第3の工程では、前記研磨スト
ッパ部材を前記基材を取り囲むように配置することを特
徴とするプリント基板の製造方法。
3. The method of manufacturing a printed circuit board according to claim 1, wherein in the third step, the polishing stopper member is arranged so as to surround the base material. Method.
【請求項4】請求項1に記載のプリント基板の製造方法
において、前記第1および第2の工程は、前記基材の両
面にそれぞれ信号配線導体層および絶縁樹脂層を形成す
る工程であり、前記第3の工程は、前記基材の両面の絶
縁樹脂層を片面ずつ順に研磨し、かつ、研磨しない側の
絶縁樹脂層の凹凸を吸収するために、研磨しない側の絶
縁樹脂層に弾性部材を押し当てた状態で研磨を行うこと
を特徴とするプリント基板の製造方法。
4. The method of manufacturing a printed circuit board according to claim 1, wherein the first and second steps are steps of forming a signal wiring conductor layer and an insulating resin layer on both surfaces of the base material, respectively. In the third step, the insulating resin layers on both sides of the base material are polished one by one in order, and in order to absorb irregularities of the non-polished insulating resin layer, an elastic member is formed on the non-polished insulating resin layer. A method for manufacturing a printed circuit board, wherein polishing is performed in a state where the substrate is pressed.
【請求項5】基材上の樹脂層を研磨する方法であって、 前記基材の表面のうち前記樹脂層が形成されていない部
分に、前記樹脂層よりも研磨レートが低い研磨ストッパ
部材を接触させ、その状態で前記絶縁樹脂層を研磨する
ことにより、前記絶縁樹脂層を前記研磨ストッパ部材の
厚さまで研磨することを特徴とするプリント基板の製造
方法。
5. A method for polishing a resin layer on a substrate, comprising: a polishing stopper member having a lower polishing rate than the resin layer on a portion of the surface of the substrate where the resin layer is not formed. A method for manufacturing a printed circuit board, wherein the insulating resin layer is polished to a thickness of the polishing stopper member by contacting and polishing the insulating resin layer in that state.
【請求項6】研磨定盤と、前記研磨定盤上で被研磨対象
である基板を保持する保持手段を有し、 前記保持手段は、前記基板の研磨すべき側の面の表面の
縁の部分に接触する位置に配置された研磨ストッパ部材
を備え、 前記研磨ストッパ部材は、前記基板の研磨すべき面を構
成する材料よりも研磨レートが低い材料からなることを
特徴とする研磨装置。
6. A polishing platen, and holding means for holding a substrate to be polished on the polishing platen, wherein the holding means is provided on an edge of a surface of a surface of the substrate to be polished. A polishing apparatus, comprising: a polishing stopper member disposed at a position in contact with a portion, wherein the polishing stopper member is made of a material having a lower polishing rate than a material constituting a surface to be polished of the substrate.
【請求項7】請求項6に記載の研磨装置において、前記
保持手段は、前記研磨ストッパ部材との間で前記基板を
挟んで保持する板状部材を有し、 前記板状部材には、前記基板の研磨すべき面の裏面が接
触する部分に、前記裏面の凹凸を吸収するための弾性部
材が取り付けられていることを特徴とする研磨装置。
7. A polishing apparatus according to claim 6, wherein said holding means has a plate-like member for holding said substrate between said polishing stopper member and said plate-like member. A polishing apparatus, wherein an elastic member for absorbing irregularities on the back surface is attached to a portion of the substrate to be polished, where the back surface of the substrate contacts the back surface.
【請求項8】請求項6に記載の研磨装置において、前記
研磨ストッパは、前記基板を取り囲む枠状の部材である
ことを特徴とする研磨装置。
8. A polishing apparatus according to claim 6, wherein said polishing stopper is a frame-shaped member surrounding said substrate.
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US6797626B2 (en) 2001-12-28 2004-09-28 Fujikoshi Machinery Corp. Method of polishing copper layer of substrate

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CN1303655C (en) * 2001-12-28 2007-03-07 不二越机械工业株式会社 Polishing method for base copper-layer

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