JP2000056232A - Microscope - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、倍率可変顕微鏡に
関し、特に倍率を変更しても観察位置がすれにくい倍率
可変顕微鏡に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a variable magnification microscope, and more particularly to a variable magnification microscope in which an observation position is not easily shifted even when the magnification is changed.
【0002】[0002]
【従来の技術】顕微鏡装置における変倍機構は、図4に
示したように焦点距離の異なる対物レンズ102、10
2aをレボルバー113にとりつけ、レボルバー113
を回転させることによって対物レンズの焦点距離を変え
結像倍率を切り替えていた。対物レンズ102、102
aの取り付け位置や射出瞳の位置を規格化し、レボルバ
ー113に取り付ける対物レンズを交換できるように構
成することにより、変更可能な倍率をさらに多くするこ
とも可能である。2. Description of the Related Art As shown in FIG. 4, a variable magnification mechanism in a microscope apparatus has objective lenses 102 and 10 having different focal lengths.
2a is attached to the revolver 113, and the revolver 113
By rotating the lens, the focal length of the objective lens was changed to switch the imaging magnification. Objective lenses 102, 102
By standardizing the mounting position of “a” and the position of the exit pupil so that the objective lens mounted on the revolver 113 can be replaced, the changeable magnification can be further increased.
【0003】[0003]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら以上のよ
うな従来の顕微鏡によれば、レボルバー113の回転停
止位置に誤差があると、試料1の観察位置がずれてしま
うという問題点があった。特に、有限系の対物レンズを
使った顕微鏡では、レボルバー113の回転停止位置に
誤差があると、対物レンズ102あるいは102aの光
軸と接眼レンズ108の光軸がずれてしまい、さらに倍
率がかけられて試料1の像位置が動いて結像されてしま
う。無限遠系の対物レンズを使った顕微鏡では、図5に
示すように対物レンズ102と接眼レンズ108の間に
像を形成するための結像レンズ106が配置されてい
て、対物レンズ102と結像レンズ106の間では試料
面1の上の一点から発した光束は平行になって進むた
め、対物レンズ102と結像光学系であうる結像レンズ
106の光軸のずれによる像のずれはない。However, according to the above-described conventional microscope, there is a problem that the observation position of the sample 1 is shifted if there is an error in the rotation stop position of the revolver 113. In particular, in a microscope using a finite objective lens, if there is an error in the rotation stop position of the revolver 113, the optical axis of the objective lens 102 or 102a and the optical axis of the eyepiece 108 deviate, and further magnification is applied. As a result, the image position of the sample 1 moves and an image is formed. In a microscope using an infinity objective lens, an imaging lens 106 for forming an image is disposed between the objective lens 102 and an eyepiece 108 as shown in FIG. Since the light beam emitted from one point on the sample surface 1 travels in parallel between the lenses 106, there is no image shift due to a shift in the optical axis of the objective lens 102 and the imaging lens 106 which may be an imaging optical system.
【0004】ここで、レボルバー113を回転して対物
レンズを102から倍率の異なる対物レンズ102aに
交換する際には、接眼レンズ108を含む顕微鏡本体及
び試料1は動かさない。対物レンズ102aの光軸と試
料面1の交わる位置すなわち観察位置が、本来ならば結
像レンズ106の光軸と試料面の交点101Aとならな
ければならないのに対し、レボルバー113による回転
停止位置に誤差があると対物レンズ102aの光軸と試
料面の交点101Bにずれてしまうことになり、やはり
像がずれてしまうことになる。Here, when the revolver 113 is rotated to change the objective lens from the objective lens 102 to the objective lens 102a having a different magnification, the microscope main body including the eyepiece 108 and the sample 1 are not moved. The position where the optical axis of the objective lens 102a intersects the sample surface 1, that is, the observation position, should originally be the intersection 101A between the optical axis of the imaging lens 106 and the sample surface. If there is an error, the image is shifted to the intersection 101B between the optical axis of the objective lens 102a and the sample surface, and the image is also shifted.
【0005】このため、従来の顕微鏡では有限系にしろ
無限系にしろ、レボルバー113の回転停止位置精度を
非常に厳密に抑えておく必要があった。ところが、頻繁
に倍率を変えるのにも拘わらず、複数の対物レンズの取
り付けられるレボルバー113は構造上大きさに制約が
あり、片軸でその重さを支えなくてはならないため回転
停止位置精度を厳密に抑えるのは難しく、加工コストを
増やす原因となっていた。そこで本発明は、倍率を変更
しても観察位置がずれにくい倍率可変顕微鏡を提供する
ことを目的とする。For this reason, in the conventional microscope, whether it is a finite system or an infinite system, the rotation stop position accuracy of the revolver 113 must be extremely strictly suppressed. However, despite the fact that the magnification is frequently changed, the revolver 113 to which a plurality of objective lenses are attached is structurally limited in size. It was difficult to control it strictly, and this caused an increase in processing costs. Therefore, an object of the present invention is to provide a variable magnification microscope in which the observation position is not easily shifted even when the magnification is changed.
【0006】[0006]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項1に係る発明による顕微鏡は、図1に示すよ
うに、試料面1からの光を集光する対物レンズ系2と;
対物レンズ系2で集光された光束を結像させる、対物レ
ンズ系2に対して相対的に固定された結像レンズ系6
と;対物レンズ系2で集光された光束を結像レンズ系6
にリレーする、互いに倍率の異なる複数のリレー光学系
41、41aと;複数のリレー光学系41、41aを相
互に切替える切替機構11、12とを備え;複数のリレ
ー光学系41、41aは、それぞれ第1のレンズ群3、
3aと第2のレンズ群5、5aとを含んで構成され、第
1のレンズ群3、3aの前側焦点は対物レンズ系2の瞳
共役面にほぼ一致し、第2のレンズ群5、5aの前側焦
点は第1のレンズ群3、3aの後側焦点にほぼ一致する
ように配置されることを特徴とする。ここで、対物レン
ズ系2の瞳共役面は、勿論対物レンズ系2の射出瞳その
ものであってもよい。In order to achieve the above object, a microscope according to the first aspect of the present invention comprises an objective lens system 2 for condensing light from a sample surface 1 as shown in FIG.
An imaging lens system 6 fixed to the objective lens system 2 for imaging a light beam condensed by the objective lens system 2
And; the light beam condensed by the objective lens system 2 is converted into an imaging lens system 6
A plurality of relay optical systems 41 and 41a having different magnifications from each other; switching mechanisms 11 and 12 for mutually switching the plurality of relay optical systems 41 and 41a; and a plurality of relay optical systems 41 and 41a, respectively. First lens group 3,
3a and the second lens group 5, 5a, the front focal point of the first lens group 3, 3a substantially coincides with the pupil conjugate plane of the objective lens system 2, and the second lens group 5, 5a Is arranged such that the front focal point of the first lens group substantially coincides with the rear focal point of the first lens units 3 and 3a. Here, the pupil conjugate plane of the objective lens system 2 may of course be the exit pupil of the objective lens system 2 itself.
【0007】このように構成すると、対物レンズ系2に
対して結像レンズ系6が相対的に固定されているので、
顕微鏡の観察位置がずれにくく、また、互いに倍率の異
なる複数のリレー光学系を備え、それらを切り替える切
替機構を備えるので、顕微鏡の倍率を変更することがで
きる。With this configuration, since the imaging lens system 6 is fixed relative to the objective lens system 2,
Since the observation position of the microscope is unlikely to shift and a plurality of relay optical systems having different magnifications are provided and a switching mechanism for switching between them is provided, the magnification of the microscope can be changed.
【0008】以上の顕微鏡では、請求項2に記載のよう
に、第1のレンズ群3、3aよりも試料面側にある瞳共
役面に開口制限絞りを配置してもよい。ここでいう瞳共
役面は、瞳そのものであってもよいし、第1のレンズ群
の前側焦点の一致する瞳共役面に限らず、どの瞳共役面
であってもよい。このように構成すると、複数のリレー
光学系41、41aを入れ換えたときに、入れ換えられ
たリレー光学系の光軸の位置が入れ換える前のリレー光
学系の光軸の位置からたとえずれたとしても、試料面の
観察位置からの光束が開口制限絞りを通過する位置がず
れることがない。In the microscope described above, an aperture limiting stop may be arranged on the pupil conjugate plane closer to the sample surface than the first lens groups 3 and 3a. The pupil conjugate plane referred to here may be the pupil itself, not limited to the pupil conjugate plane where the front focal point of the first lens group coincides, but may be any pupil conjugate plane. With this configuration, when the plurality of relay optical systems 41 and 41a are exchanged, even if the position of the optical axis of the exchanged relay optical system is shifted from the position of the optical axis of the relay optical system before the exchange, The position where the light beam from the observation position on the sample surface passes through the aperture limiting diaphragm does not shift.
【0009】さらに以上の顕微鏡では、請求項3に記載
のように、また図3に示すように、試料面1とリレー光
学系41、41aとの間の光路中に、試料面1からの光
を分岐する分岐系15と、分岐系15を介して試料面1
と対物レンズ系2の物体面1との整合状態を検出するオ
ートフォーカス光学系18とを有するようにしてもよ
い。ここで、分岐系15は例えばダイクロイックミラー
やハーフミラー等のビームスプリッターである。このよ
うに構成すると、分岐系をリレー光学系と試料面との間
に取り付けることにより、観察倍率によらずオートフォ
ーカス機能を働かせることができるため、常に高精度な
フォーカスをかけながら観察することができる。したが
って、変倍しても焦点位置調整をやり直すことがないの
で、効率的に観察をすることができる。In the above-mentioned microscope, as described in claim 3, and as shown in FIG. 3, light from the sample surface 1 is placed in an optical path between the sample surface 1 and the relay optical systems 41 and 41a. And a sample surface 1 via the branching system 15
And an autofocus optical system 18 for detecting a state of alignment between the objective lens system 2 and the object plane 1. Here, the branch system 15 is a beam splitter such as a dichroic mirror or a half mirror. With this configuration, by attaching the branch system between the relay optical system and the sample surface, the autofocus function can be operated regardless of the observation magnification, so that observation can be performed while always applying high-precision focus. it can. Therefore, even if the magnification is changed, the focus position is not adjusted again, so that the observation can be performed efficiently.
【0010】[0010]
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て、図面を参照して説明する。なお、各図において互い
に同一あるいは相当する部材には同一符号を付し、重複
した説明は省略する。Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. In the drawings, the same or corresponding members are denoted by the same reference numerals, and redundant description will be omitted.
【0011】図1は、本発明による第1の実施の形態で
ある顕微鏡の模式的断面図である。図中、試料1を載置
する基台40には、試料1を透過または落射により照明
する不図示の照明光学系が備えられている。基台40の
図中で上方には、試料面1からの光を集光して平行な光
束とする対物光学系である対物レンズ2が備えられてお
り、さらに上方には後述の変倍リレー光学系41aを挟
んで、結像光学系である結像レンズ6が、その光軸を対
物レンズ2の光軸とほぼ一致させて備えられ、さらに上
方には結像レンズ6の結像面7を挟んで、接眼光学系で
ある接眼レンズ8が備えられている。接眼レンズ8のさ
らに上方から人間の目9で、試料1の拡大像を観察でき
るように構成されている。FIG. 1 is a schematic sectional view of a microscope according to a first embodiment of the present invention. In the figure, a base 40 on which the sample 1 is placed is provided with an illumination optical system (not shown) for illuminating the sample 1 by transmission or epi-illumination. Above the base 40 in the figure, there is provided an objective lens 2 which is an objective optical system that collects light from the sample surface 1 and converts the light into a parallel light beam. An image forming lens 6 as an image forming optical system is provided with the optical axis thereof substantially coincident with the optical axis of the objective lens 2 with the optical system 41a interposed therebetween, and further above the image forming surface 7 of the image forming lens 6. An eyepiece lens 8 serving as an eyepiece optical system is provided on both sides. It is configured such that an enlarged image of the sample 1 can be observed by the human eyes 9 from above the eyepiece 8.
【0012】対物レンズ2と結像レンズ6との間には、
複数の変倍リレー光学系であるリレーレンズ系41、4
1aが備えられている。図1には、2つのリレーレンズ
系41、41aしか図示されていないが、実際には2つ
以上いくつ用意してもよい。例えば3〜5が典型的な数
である。[0012] Between the objective lens 2 and the imaging lens 6,
Relay lens systems 41 and 4 as a plurality of variable magnification relay optical systems
1a is provided. Although only two relay lens systems 41 and 41a are shown in FIG. 1, actually two or more relay lens systems may be prepared. For example, 3 to 5 are typical numbers.
【0013】図中、リレー光学系41は、第1群のレン
ズ群3と第2のレンズ群5とを含んで構成されている。
第1のレンズ群3の前側焦点は、対物レンズ系2の瞳面
P1にほぼ一致し、第2のレンズ群5の前側焦点は第1
のレンズ群3の後側焦点にほぼ一致するように配置され
ている。ここで、第1のレンズ群3の前側焦点は、対物
レンズ系2の瞳面P1に限らず、その瞳共役面にほぼ一
致していればよい。また、第2のレンズ群5の後ろ側焦
点は結像レンズ6の前側焦点に一致するように配置され
ている。図中、リレー光学系41aについても、リレー
光学系41と同様に構成されている。ここで、リレー光
学系41aのそれぞれ第1のレンズ群3aが第1のレン
ズ群3に、第2のレンズ群5aが第2のレンズ群5に、
対応する。In FIG. 1, a relay optical system 41 includes a first lens group 3 and a second lens group 5.
The front focus of the first lens group 3 substantially coincides with the pupil plane P1 of the objective lens system 2, and the front focus of the second lens group 5 is the first focus.
The lens group 3 is arranged so as to substantially coincide with the rear focal point. Here, the front focal point of the first lens group 3 is not limited to the pupil plane P1 of the objective lens system 2, but may be substantially coincident with the pupil conjugate plane. The rear focal point of the second lens group 5 is arranged so as to coincide with the front focal point of the imaging lens 6. In the figure, the relay optical system 41a has the same configuration as the relay optical system 41. Here, the first lens group 3a of the relay optical system 41a corresponds to the first lens group 3, the second lens group 5a corresponds to the second lens group 5,
Corresponding.
【0014】変倍リレー光学系41、41aの第1のレ
ンズ群3、3aと第2のレンズ群5、5aとは、観察す
る倍率に応じて、また変倍リレー光学系41、41aの
全長が一定になるように、それぞれ組み合わされる焦点
距離が決められている。また、変倍リレー光学系41、
41aは、それぞれ変倍リレーレンズ鏡筒10、10a
に固定的に収納されている。そして複数の例えば3〜5
群の変倍リレーレンズ系を収納した鏡筒10、10aに
代表される複数の鏡筒は、互いにターレット11に固定
的に取り付けられている。ターレット11は、対物レン
ズ2と結像レンズ6の共通光軸に平行な回転軸線回り
に、駆動装置であるモータ12などにより回転して、変
倍リレー光学系を切り換えることにより観察倍率を変え
ることができるように構成されている。ここで、ターレ
ット11とモータ12とを含んで、本発明の切替機構が
構成されている。The first lens groups 3 and 3a and the second lens groups 5 and 5a of the variable power relay optical systems 41 and 41a have different lengths depending on the magnification to be observed and the total length of the variable power relay optical systems 41 and 41a. Are fixed so that the focal length is constant. Also, the variable magnification relay optical system 41,
41a is a variable power relay lens barrel 10, 10a, respectively.
Is fixedly housed. And a plurality of, for example, 3-5
A plurality of lens barrels typified by lens barrels 10 and 10a accommodating the variable power relay lens system of the group are fixedly attached to a turret 11. The turret 11 is rotated around a rotation axis parallel to the common optical axis of the objective lens 2 and the imaging lens 6 by a motor 12 or the like as a driving device, and the observation magnification is changed by switching a variable magnification relay optical system. It is configured to be able to. Here, the switching mechanism of the present invention includes the turret 11 and the motor 12.
【0015】図1を参照して、第1の実施の形態である
顕微鏡の作用を説明する。不図示の照明装置により照明
された試料面1からの光束は、対物レンズ2で集光され
平行な光束となって、対物レンズ2の射出瞳P1に前側
焦点位置を一致させて配置された第1のレンズ群3によ
り、鏡筒10内に位置する第1のレンズ群3の後側焦点
位置にある中間結像面4で結像する。中間結像面4を通
過した光束は再び広がり、中間結像面4に前側焦点位置
を一致させた第2のレンズ群5により平行な光束とな
る。第2レンズ群5を出射した平行光束は、結像レンズ
6により結像面7に集光され、試料1の像を形成する。
結像面7に形成された試料像は、接眼レンズ8で拡大し
て観察してもよいし、結像面7にCCD等の撮像素子を
配置し像を光電変換して電気信号に変えてモニターで観
察してもよい。The operation of the microscope according to the first embodiment will be described with reference to FIG. The light beam from the sample surface 1 illuminated by the illumination device (not shown) is condensed by the objective lens 2 and becomes a parallel light beam. The first lens group 3 forms an image on the intermediate imaging plane 4 at the rear focal position of the first lens group 3 located in the lens barrel 10. The light beam that has passed through the intermediate image forming surface 4 spreads again, and becomes a light beam that is parallel to the intermediate image forming surface 4 by the second lens group 5 whose front focal position is matched. The parallel luminous flux emitted from the second lens group 5 is condensed on an imaging surface 7 by an imaging lens 6 to form an image of the sample 1.
The sample image formed on the imaging surface 7 may be observed by enlarging it with an eyepiece 8, or an image sensor such as a CCD may be arranged on the imaging surface 7 to convert the image into an electric signal by photoelectric conversion. You may observe on a monitor.
【0016】異なる倍率で試料1を観察したいときは、
モータ12を回転させてターレット11を回転させ、変
倍リレーレンズ系41の代わりに変倍リレーレンズ系4
1aを、対物レンズ2と結像レンズ6との間にセットし
て、観察すればよい。To observe the sample 1 at different magnifications,
The turret 11 is rotated by rotating the motor 12, and the variable power relay lens system 4 is used instead of the variable power relay lens system 41.
What is necessary is just to set 1a between the objective lens 2 and the imaging lens 6, and to observe.
【0017】図2を参照して、ターレット11による停
止位置誤差が生じた時の結像状態を説明する。仮にター
レット11を回転して、変倍リレー系41aから変倍リ
レー光学系41に入れ換えたとする。本来ならば光学系
の光軸、特に対物レンズ2と結像レンズ6の共通の光軸
AXの位置に変倍リレー光学系41(3〜5)の光軸が
停止しなくてはならないのに対し、ずれてしまい光軸A
Xから僅かに平行移動した、図中BXで示す位置に変倍
リレー光学系3〜5の光軸が停止した場合を考える。Referring to FIG. 2, an image forming state when a stop position error occurs due to the turret 11 will be described. It is assumed that the turret 11 is rotated and the variable magnification relay system 41a is replaced with the variable magnification relay optical system 41. Originally, the optical axis of the optical system, particularly the optical axis of the variable magnification relay optical system 41 (3 to 5) must stop at the position of the common optical axis AX of the objective lens 2 and the imaging lens 6. On the other hand, it is shifted and optical axis A
Consider a case in which the optical axes of the variable magnification relay optical systems 3 to 5 are stopped at the positions indicated by BX in the figure, which are slightly translated from X.
【0018】試料面1と対物レンズ2の光軸AXの交点
から発した光束は、第1のレンズ群3による中間結像面
4での結像位置は光軸AXに対して平行な光束なので変
倍リレー光学系3〜5の光軸BXとの交点を通過するこ
とになる。変倍リレー光学系3〜5の光軸が図中BXで
示す位置にずれていると中間結像面4での通過位置は対
物レンズ2の光軸AXとの交点とは異なるが、第2のレ
ンズ群5の前側焦点位置である中間結像面4では第2の
レンズ群5の光軸BX上を通過するため、前記光束が第
2のレンズ群5を通過すると再び対物レンズ2の光軸A
Xに平行な光束となる。このため、結像レンズ6は焦点
面である結像面7では光軸AXとの交点に像を形成する
ので、像のずれは観察されない。The light beam emitted from the intersection of the sample surface 1 and the optical axis AX of the objective lens 2 is a light beam parallel to the optical axis AX at the image forming position on the intermediate image forming surface 4 by the first lens group 3. The light passes through the intersection of the variable magnification relay optical systems 3 to 5 with the optical axis BX. If the optical axes of the variable magnification relay optical systems 3 to 5 are shifted to positions indicated by BX in the figure, the passing position on the intermediate image plane 4 is different from the intersection with the optical axis AX of the objective lens 2, On the intermediate image plane 4 which is the front focal position of the lens group 5 of the second lens group 5, the light beam passes through the optical axis BX of the second lens group 5, so that when the light beam passes through the second lens group 5, the light of the objective lens 2 again Axis A
It becomes a light beam parallel to X. For this reason, since the imaging lens 6 forms an image at the intersection with the optical axis AX on the imaging plane 7 which is the focal plane, no image shift is observed.
【0019】必要に応じて、対物レンズ2の瞳面P1ま
たは瞳共役面P2に開口絞りを設けて観察する開口数を
制限するようにしてもよい。しかし図2からわかるよう
に、瞳共役面P2では変倍リレー光学系41の光軸のず
れがあると光束の通過する位置がずれるので、変倍リレ
ー光学系41より、具体的には第1のレンズ群3より物
体側の瞳面P1に開口絞りを設けることが望ましい。If necessary, an aperture stop may be provided on the pupil plane P1 or the pupil conjugate plane P2 of the objective lens 2 to limit the numerical aperture for observation. However, as can be seen from FIG. 2, if the optical axis of the variable magnification relay optical system 41 is shifted on the pupil conjugate plane P2, the position through which the light beam passes will be shifted. It is desirable to provide an aperture stop on the pupil plane P1 on the object side of the lens group 3 of.
【0020】図3を参照して、本発明の第2の実施の形
態を説明する。以上説明した顕微鏡では、特に、観察だ
けでなく線幅計測などをするための測定機用の光学系で
は、結像に寄与する光束の中心が試料1の面に対して垂
直になっているいわばテレセントリックである必要があ
るために、変倍リレー光学系41の光軸のずれの影響を
受けないようにしなくてはならない。ところが、対物レ
ンズ2の瞳は多くの場合対物レンズ2の内側に存在する
ように作られているので、瞳面に直接開口絞りを設ける
ことはできない。そこで図3のように、対物レンズ2と
変倍リレー光学系3〜5の間にテレセントリックなリレ
ー光学系16、17を挿入し、変倍リレー光学系3〜5
の物体側の瞳共役面に、変倍リレー光学系3〜5と独立
に、開口絞り14を設けるようにするのが望ましい。ま
た開口絞り14の開口数を必要に応じて変えることがで
きるように、偏心のおきにくい虹彩絞りなどの絞り機構
や高精度の位置再現性のあるターレット式の絞り機構を
配置してもよい。A second embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. In the microscope described above, in particular, in an optical system for a measuring instrument for performing not only observation but also line width measurement, the center of a light beam contributing to image formation is perpendicular to the surface of the sample 1. Since it is necessary to be telecentric, it is necessary not to be affected by the displacement of the optical axis of the variable magnification relay optical system 41. However, since the pupil of the objective lens 2 is often formed so as to be inside the objective lens 2, an aperture stop cannot be provided directly on the pupil plane. Therefore, as shown in FIG. 3, telecentric relay optical systems 16 and 17 are inserted between the objective lens 2 and the variable power relay optical systems 3 to 5, and the variable power relay optical systems 3 to 5 are inserted.
It is desirable to provide an aperture stop 14 on the object-side pupil conjugate plane independently of the variable magnification relay optical systems 3-5. In order to change the numerical aperture of the aperture stop 14 as necessary, a stop mechanism such as an iris stop which hardly causes eccentricity or a turret type stop mechanism having high-accuracy position reproducibility may be arranged.
【0021】さらに図3ではオートフォーカス機能を加
えるため、対物レンズ2の出射側に分岐系であるダイク
ロイックミラー15を設け、オートフォーカス光学系1
8に光束を分岐する。オートフォーカス光学系18で
は、観察に影響のない赤外光などを使って試料1の被検
面のフォーカスずれを検知するので、可視光を透過し赤
外光を反射するようなダイクロイックミラー15を用い
て分岐する。一般的にオートフォーカス光学系18は対
物レンズ2の開口数が大きいほど試料面のデフォーカス
に対して感度が高い。図3のように、対物レンズ2とテ
レセントリックなリレー光学系16、17との間に分岐
系15を配置すると、観察倍率に関係なく常に対物レン
ズ2の最大の開口数を使った状態で試料面のデフォーカ
スを検出することができるので、常に高精度にフォーカ
スを合わせながら観察することができる。In FIG. 3, a dichroic mirror 15 as a branch system is provided on the exit side of the objective lens 2 to add an autofocus function.
The light beam is branched to 8. The autofocus optical system 18 detects a focus shift on the surface to be measured of the sample 1 using infrared light or the like that does not affect observation, so that the dichroic mirror 15 that transmits visible light and reflects infrared light is used. Branch using In general, the autofocus optical system 18 has higher sensitivity to defocus on the sample surface as the numerical aperture of the objective lens 2 is larger. As shown in FIG. 3, when the branching system 15 is disposed between the objective lens 2 and the telecentric relay optical systems 16 and 17, the sample surface is always used with the maximum numerical aperture of the objective lens 2 regardless of the observation magnification. Can be detected, so that observation can be performed while always focusing with high accuracy.
【0022】図6を参照して、オートフォーカス光学系
18の一例を説明する。ダイクロイックミラー15は、
光軸AXに対してほぼ45度の角度をもって配置されて
おり、その偏向方向にはハーフミラー51が、偏向した
光軸に対してほぼ45度の角度をもって配置されてい
る。ハーフミラー51の偏向方向には、コンデンサレン
ズ52が配置されており、その先には点光源53が配置
されている。点光源53は、ピンホールの明けられた遮
光板54と、遮光板54に対してコンデンサレンズ52
の反対側に置かれた赤外線ランプ等の光源55とを含ん
で構成されている。そしてコンデンサレンズ52とハー
フミラー51との間には、光軸に対して半分を遮光する
ナイフエッジ56が設けられている。点光源(ピンホー
ル)53の位置は、試料面1が顕微鏡に対して合焦して
いるときに、試料面と共役になるような位置に設定され
ている。An example of the autofocus optical system 18 will be described with reference to FIG. The dichroic mirror 15
The half mirror 51 is arranged at an angle of about 45 degrees with respect to the optical axis AX, and the deflection direction of the half mirror 51 is arranged at an angle of about 45 degrees with respect to the deflected optical axis. A condenser lens 52 is arranged in the deflection direction of the half mirror 51, and a point light source 53 is arranged ahead of the condenser lens 52. A point light source 53 includes a light shielding plate 54 having a pinhole formed therein, and a condenser lens 52 with respect to the light shielding plate 54.
And a light source 55 such as an infrared lamp placed on the opposite side of the light source. A knife edge 56 is provided between the condenser lens 52 and the half mirror 51 to shield half of the optical axis. The position of the point light source (pinhole) 53 is set to a position conjugate with the sample surface when the sample surface 1 is focused on the microscope.
【0023】ダイクロイックミラー15からハーフミラ
ー51を透過して直進する方向には、結像レンズ57が
設けられており、その先の結像レンズ57の結像面に
は、スクリーン58が設けられている。An image forming lens 57 is provided in the direction in which the light passes through the half mirror 51 from the dichroic mirror 15 and travels straight, and a screen 58 is provided on the image forming surface of the image forming lens 57 ahead. I have.
【0024】さらに図6を参照して、オートフォーカス
光学系18の作用を説明する。ランプ55からの光はピ
ンホール53により点光源として発せられ、その点光源
からの合焦用の光は、コンデンサレンズ52を介して平
行光線となる。このとき、ナイフエッジ56で平行光束
の円形断面の半円分が遮光される。透光した半円分の光
束は、ハーフミラー51で反射され、ダイクロイックミ
ラー15に向かう。ダイクロイックミラー15で反射さ
れた光は、対物レンズ2を介して試料面1上に入射し点
光源53の像を結像し、反射される。反射された半円分
の光束は、入射の際に通過したのと反対の半円領域を通
って、対物レンズ2を通過し、ダイクロイックミラー1
5に到り、ダイクロイックミラー15で反射され、ハー
フミラー51、結像レンズ57をこの順番に通過して、
スクリーン58上に結像する。The operation of the autofocus optical system 18 will be described with reference to FIG. The light from the lamp 55 is emitted as a point light source by the pinhole 53, and the light for focusing from the point light source becomes a parallel light beam via the condenser lens 52. At this time, the knife edge 56 blocks a semicircle of the circular cross section of the parallel light beam. The light beam of the transmitted semicircle is reflected by the half mirror 51 and travels to the dichroic mirror 15. The light reflected by the dichroic mirror 15 is incident on the sample surface 1 via the objective lens 2, forms an image of the point light source 53, and is reflected. The reflected light beam of the semicircle passes through the semicircular region opposite to the light beam that has passed at the time of incidence, passes through the objective lens 2, and passes through the dichroic mirror 1
5 and is reflected by the dichroic mirror 15 and passes through the half mirror 51 and the imaging lens 57 in this order.
An image is formed on the screen 58.
【0025】以上において、試料1が合焦位置にあると
きは、スクリーン58上で、スクリーンと結像レンズ5
7を含む光学系の光軸との交点上に、試料1からの反射
光は結像するので、スクリーン58上の受光の強度分布
は、強度分布58−aとして示すように、光軸交点を中
心にしてほぼ対称に分布する。しかしながら試料1が、
例えば合焦位置よりも対物レンズ2から離れた位置1−
aにあるとすると、試料1からの反射光のスクリーン5
8上の像は、強度分布58−bとして示すように、光軸
交点から図中下半分に偏心した分布となる。この偏心量
を測定することにより、合焦位置からのずれを検出する
ことができ、このずれを最小にするように制御すること
により、試料1の面を合焦位置に設定することができ
る。この操作は、スクリーン58上の受光の強度分布を
検出して、その検出信号を受信して制御する不図示の制
御器により、基台40を図中上下方向に駆動する駆動装
置(不図示)を駆動して、自動的に行うようにしてもよ
い。即ちオートフォーカスである。このようにオートフ
ォーカス光学系18を備えると、切り換えた変倍リレー
光学系の製造公差により焦点位置が僅かずつ異ったとし
ても、自動的に調整できるので、倍率を変えるたびに手
動で焦点位置を調整する必要がない。In the above, when the sample 1 is at the in-focus position, the screen and the imaging lens 5 are placed on the screen 58.
Since the reflected light from the sample 1 forms an image on the intersection with the optical axis of the optical system including the light path 7, the intensity distribution of the received light on the screen 58 has the optical axis intersection as shown as the intensity distribution 58-a. It is distributed almost symmetrically around the center. However, sample 1
For example, a position 1-farther from the objective lens 2 than the in-focus position
a, the screen 5 of the reflected light from the sample 1
The image on 8 has a distribution eccentric to the lower half in the figure from the optical axis intersection, as shown as the intensity distribution 58-b. By measuring this amount of eccentricity, it is possible to detect a deviation from the in-focus position, and by controlling such deviation to minimize it, the surface of the sample 1 can be set to the in-focus position. In this operation, a controller (not shown) that drives the base 40 in the vertical direction in the figure by a controller (not shown) that detects the intensity distribution of the received light on the screen 58 and receives and controls the detection signal. May be driven to perform the processing automatically. That is, auto focus. When the autofocus optical system 18 is provided in this way, even if the focal position slightly changes due to the manufacturing tolerance of the switched variable magnification relay optical system, the focal position can be automatically adjusted. There is no need to adjust.
【0026】以上説明したように、本発明の実施の形態
によれば、対物レンズを共通化して対物レンズの次にリ
レー光学系を設けて、このリレー光学系で変倍するよう
にした。リレー光学系では、像に対しては倍率がかかっ
た状態でありリレー光学系での光軸の偏心の影響はほと
んど倍率のかからない状態で観察されるので、レボルバ
ーに比べて製造は容易になる。As described above, according to the embodiment of the present invention, the objective lens is shared, and the relay optical system is provided next to the objective lens, and the magnification is changed by the relay optical system. In the relay optical system, the magnification is applied to the image, and the influence of the eccentricity of the optical axis in the relay optical system is observed in a state where the magnification is hardly applied. Therefore, the manufacturing becomes easier as compared with the revolver.
【0027】さらに、リレー光学系は第1と第2の2つ
のレンズ群からなっており、第1のレンズ群の前側焦点
は前記対物レンズの射出瞳に一致するように配置され、
第2のレンズ群の前側焦点は前記第1のリレーレンズ群
の後側焦点に一致するようにしたリレー光学系を用い
て、対物レンズの瞳から瞳共役面までのリレー光学系の
間で変倍するようにすると、このリレー光学系での偏心
は瞳面上だけで発生するため、像の位置ずれを生じるこ
とがない。即ち、試料面上の一点からでた光束は対物レ
ンズで集光され平行な光束となって、リレー光学系の第
1のレンズ群に入り、中間結像面で結像する。中間結像
面で結像した光束は再び広がり、リレー光学系の第2の
レンズ群で集光され平行な光束となり、結像レンズを介
して像面に像を形成する。変倍させるリレー光学系は平
行な光束が入射する面と平行な光束が出射する面との間
に入れられており、結像レンズにより像を形成するため
平行な光束を一点に集める場合には平行な光束が横にず
れても集光する位置に変化はない。Further, the relay optical system comprises two lens groups, a first lens group and a second lens group. The front focal point of the first lens group is arranged so as to coincide with the exit pupil of the objective lens.
The front focal point of the second lens group is changed between the relay optical system from the pupil of the objective lens to the pupil conjugate plane by using a relay optical system that matches the rear focal point of the first relay lens group. If the magnification is multiplied, the eccentricity in the relay optical system occurs only on the pupil plane, so that the image does not shift. That is, a light beam emitted from one point on the sample surface is condensed by the objective lens to become a parallel light beam, enters the first lens group of the relay optical system, and forms an image on an intermediate image forming surface. The light beam formed on the intermediate image forming surface spreads again, is condensed by the second lens group of the relay optical system, becomes a parallel light beam, and forms an image on the image surface via the image forming lens. The relay optical system for changing the magnification is placed between the plane where the parallel light flux enters and the plane where the parallel light flux exits, and if the parallel light flux is collected at one point to form an image with the imaging lens Even if the parallel light beams are shifted laterally, there is no change in the focused position.
【0028】以上のように、本発明の実施の形態によれ
ば、倍率を変えた場合でも像のずれが生じないため、倍
率を変えて観察する際、観察したい対象を視野の中心に
移動させる必要がなく、効率的に観察を行うことができ
る。また、対物レンズを切り換えないのでフォーカスも
ずれることがない。特に、オートフォーカス機構を取り
付ける場合にも、変倍リレー光学系より試料側に取り付
けることにより観察倍率によらずオートフォーカス機能
を働かせることができるため、常に高精度なフォーカス
をかけながら観察することができる。このため、変倍し
ても焦点位置調整をやり直すことがないので、効率的に
観察をすることができる。As described above, according to the embodiment of the present invention, since the image does not shift even when the magnification is changed, the object to be observed is moved to the center of the visual field when the observation is performed with the magnification changed. Observation can be performed efficiently without the need. Further, since the objective lens is not switched, the focus does not shift. In particular, even when the autofocus mechanism is attached, the autofocus function can be activated regardless of the observation magnification by attaching it to the sample side from the variable power relay optical system, so that observation can always be performed with high precision focusing. it can. For this reason, even if the magnification is changed, the focus position adjustment is not performed again, so that the observation can be performed efficiently.
【0029】[0029]
【発明の効果】以上のように本発明によれば、対物レン
ズ系に対して結像レンズ系が相対的に固定されているの
で、顕微鏡の観察位置がずれにくく、また、互いに倍率
の異なる複数のリレー光学系を備え、それらを切り替え
る切替機構を備えるので、顕微鏡の倍率を変更すること
ができ、倍率を変更しても観察位置がずれにくい倍率可
変顕微鏡を提供することが可能となる。As described above, according to the present invention, since the imaging lens system is fixed relative to the objective lens system, the observation position of the microscope is not easily shifted, and a plurality of microscopes having different magnifications are provided. And a switching mechanism for switching between them, it is possible to change the magnification of the microscope, and it is possible to provide a variable magnification microscope in which the observation position does not easily shift even when the magnification is changed.
【図1】本発明の第1の実施の形態による顕微鏡を示す
模式的断面図である。FIG. 1 is a schematic sectional view showing a microscope according to a first embodiment of the present invention.
【図2】図1の実施の形態における像のずれの補償機構
を示す説明図である。FIG. 2 is an explanatory diagram showing a mechanism for compensating an image shift in the embodiment of FIG. 1;
【図3】本発明の第2の実施の形態による顕微鏡を示す
模式的断面図である。FIG. 3 is a schematic sectional view showing a microscope according to a second embodiment of the present invention.
【図4】従来の有限系の顕微鏡の変倍機構を示した模式
的側面図である。FIG. 4 is a schematic side view showing a zoom mechanism of a conventional finite microscope.
【図5】従来の無限遠系の顕微鏡の変倍による像のずれ
を説明する模式的説明図である。FIG. 5 is a schematic explanatory diagram for explaining image shift due to zooming of a conventional infinity microscope.
【図6】オートフォーカス光学系の例を示す模式的説明
図である。FIG. 6 is a schematic explanatory view showing an example of an autofocus optical system.
1 試料 2 対物レンズ 3 第1のレンズ群 4 中間像面 5 第2のレンズ群 6 結像レンズ 7 結像面 8 接眼レンズ 9 観察者の肉眼 10、10a 鏡筒 11 ターレット 12 モータ 14 開口絞り 15 ダイクロイックミラー 16、17 テレセントリックなリレー光学系 18 オートフォーカス光学系 23、23a 第1のレンズ群 24、24a 中間像面 25、25a 第2のレンズ群 41、41a 変倍リレー光学系 42、42a 変倍リレー光学系 REFERENCE SIGNS LIST 1 sample 2 objective lens 3 first lens group 4 intermediate image plane 5 second lens group 6 imaging lens 7 imaging plane 8 eyepiece 9 observer's naked eye 10, 10a lens barrel 11 turret 12 motor 14 aperture stop 15 Dichroic mirror 16, 17 Telecentric relay optical system 18 Autofocus optical system 23, 23a First lens group 24, 24a Intermediate image plane 25, 25a Second lens group 41, 41a Variable power relay optical system 42, 42a Variable power Relay optics
Claims (3)
と;前記対物レンズ系で集光された光束を結像させる、
前記対物レンズ系に対して相対的に固定された結像レン
ズ系と;前記対物レンズ系で集光された光束を前記結像
レンズ系にリレーする、互いに倍率の異なる複数のリレ
ー光学系と;前記複数のリレー光学系を相互に切替える
切替機構とを備え;前記複数のリレー光学系は、それぞ
れ第1のレンズ群と第2のレンズ群とを含んで構成さ
れ、前記第1のレンズ群の前側焦点は前記対物レンズ系
の瞳共役面にほぼ一致し、前記第2のレンズ群の前側焦
点は前記第1のレンズ群の後側焦点にほぼ一致するよう
に配置されることを特徴とする;顕微鏡。An objective lens system for condensing light from a sample surface; and forming an image of a light beam condensed by the objective lens system.
An imaging lens system fixed relative to the objective lens system; a plurality of relay optical systems having different magnifications for relaying a light beam condensed by the objective lens system to the imaging lens system; A switching mechanism for switching the plurality of relay optical systems to each other; the plurality of relay optical systems each including a first lens group and a second lens group; A front focus is substantially coincident with a pupil conjugate plane of the objective lens system, and a front focus of the second lens group is substantially coincident with a rear focus of the first lens group. ;microscope.
る瞳共役面に開口制限絞りを配置することを特徴とす
る、請求項1に記載の顕微鏡。2. The microscope according to claim 1, wherein an aperture limiting stop is arranged on a pupil conjugate plane closer to the sample surface than the first lens group.
光路中に、前記試料面からの光を分岐する分岐系と、前
記分岐系を介して前記試料面と前記対物レンズ系の物体
面との整合状態を検出するオートフォーカス光学系とを
有する請求項1または請求項2に記載の顕微鏡。3. A branch system for branching light from the sample surface into an optical path between the sample surface and the relay optical system, and an object of the sample surface and the objective lens system via the branch system. The microscope according to claim 1, further comprising an autofocus optical system that detects a state of alignment with the surface.
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Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001281532A (en) * | 2000-04-03 | 2001-10-10 | Nikon Corp | Focus detector |
WO2006038266A1 (en) * | 2004-09-30 | 2006-04-13 | Kunio Shimada | Microscope zoom objective lens |
JP2008039918A (en) * | 2006-08-02 | 2008-02-21 | Olympus Corp | Microscopic optical system and microscopic observation method |
US7542202B2 (en) * | 2005-04-08 | 2009-06-02 | Olympus Corporation | Microscope and a controlling method thereof |
JP2009300348A (en) * | 2008-06-17 | 2009-12-24 | Opcell Co Ltd | Laser scanner |
JP2012203047A (en) * | 2011-03-23 | 2012-10-22 | Olympus Corp | Observation optical system |
CN114303086A (en) * | 2019-08-27 | 2022-04-08 | 莱卡微系统Cms有限责任公司 | Apparatus and method for imaging an object |
-
1998
- 1998-08-12 JP JP24102698A patent/JP4228125B2/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001281532A (en) * | 2000-04-03 | 2001-10-10 | Nikon Corp | Focus detector |
WO2006038266A1 (en) * | 2004-09-30 | 2006-04-13 | Kunio Shimada | Microscope zoom objective lens |
JPWO2006038266A1 (en) * | 2004-09-30 | 2008-05-15 | 邦夫 島田 | Microscope zoom objective lens |
US7542202B2 (en) * | 2005-04-08 | 2009-06-02 | Olympus Corporation | Microscope and a controlling method thereof |
JP2008039918A (en) * | 2006-08-02 | 2008-02-21 | Olympus Corp | Microscopic optical system and microscopic observation method |
JP2009300348A (en) * | 2008-06-17 | 2009-12-24 | Opcell Co Ltd | Laser scanner |
JP2012203047A (en) * | 2011-03-23 | 2012-10-22 | Olympus Corp | Observation optical system |
CN114303086A (en) * | 2019-08-27 | 2022-04-08 | 莱卡微系统Cms有限责任公司 | Apparatus and method for imaging an object |
EP4022378A1 (en) * | 2019-08-27 | 2022-07-06 | Leica Microsystems CMS GmbH | Device and method for imaging an object |
JP2022547665A (en) * | 2019-08-27 | 2022-11-15 | ライカ マイクロシステムズ シーエムエス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | Object imaging device and imaging method |
JP7362904B2 (en) | 2019-08-27 | 2023-10-17 | ライカ マイクロシステムズ シーエムエス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | Object imaging device and imaging method |
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