JP2000055831A

JP2000055831A - 瓶検査システム

Info

Publication number: JP2000055831A
Application number: JP10228007A
Authority: JP
Inventors: Hiroyuki Nagai; 裕之永井
Original assignee: Nihon Yamamura Glass Co Ltd
Current assignee: Nihon Yamamura Glass Co Ltd
Priority date: 1998-08-12
Filing date: 1998-08-12
Publication date: 2000-02-25

Abstract

(57)【要約】【課題】人手を煩わせることなく、迅速かつ確実に瓶
の欠陥原因を究明し得る瓶検査システムを提供する。【解決手段】製瓶機の複数のセクションで次々に製造
された瓶は複数の瓶検査装置で検査される。各瓶検査装
置では、複数の欠陥種目についての検査結果データと符
号読取機で瓶底より読み取られた符号読取データとから
成る瓶毎の検査データを集計し、その集計データをデー
タ処理装置１へ送る。データ処理装置１は、送られてき
た集計データを収集し、これをネットワーク４の伝送路
を介してサーバ２へ伝送する。サーバ２は、伝送されて
きた集計データを収集して保存する。サーバ２に記憶さ
れた集計データは端末装置３Ａ，３Ｂ，３Ｃによりアク
セスされる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、製瓶機で製造される
ガラス瓶などの瓶に欠陥を有するかどうかを、複数種の
欠陥について検査する瓶検査システムに関する。特に、
この発明は、製瓶ラインの検査工程で得られた検査デー
タの集計を行って、欠陥原因を究明するための瓶検査シ
ステムに関する。

【０００２】

【従来の技術】従来の製瓶機は、複数のセクションに分
かれており、各セクションでは、個々の成形型を用いて
同じ瓶を一斉に製造する。各瓶の瓶底には、瓶を製造し
た各成形型に固有の型番を表す符号が付される。従っ
て、瓶底を見れば、その符号からどのセクションの成形
型で瓶が製造されたかが分かる。製造された瓶の中に
は、成形型の不良や成形機の運転状態に起因した欠陥が
発生する場合があり、同じセクションで製造された瓶
は、同じ欠陥を有することになる。

【０００３】製瓶機の各セクションで次々に製造された
瓶は、搬送系により最終の包装工程まで搬送される。搬
送途中の検査工程では、各瓶の欠陥の有無が複数の欠陥
種目について検査される。

【０００４】検査工程に設置される瓶検査装置として、
周面の複数箇所に凹部を備えたスターホイールと、この
スターホイールを間欠的に回転させる順送り機構と、前
記スターホイールの各凹部が停止する位置（以下、「検
査ステーション」という。）毎に配置される瓶検査機と
を備えたものがある。各瓶検査機では、少なくとも１種
類の欠陥種目について、欠陥の有無がそれぞれ検査され
る。所定の欠陥をもつ瓶は、不良瓶として回収される。

【０００５】不良瓶が発生すると、各瓶検査機による検
査結果がデータ収集される。この検査結果の収集は、各
欠陥種目についての欠陥の発生回数を計数する、という
ものである。検査員は、計数結果から、どのような欠陥
が、どの程度の頻度で発生しているかを究明した後、問
題となる欠陥種目の欠陥がある瓶を抜き取り、その瓶底
を見て符号を読み取り、製瓶機のどのセクションが欠陥
を発生させているかを究明する。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記し
た従来の方法では、製瓶機のどのセクションが欠陥を発
生させているのかを究明するのに、欠陥をもつ瓶の抜取
りや瓶底の目視確認など、人手を必要とし、欠陥原因の
究明に時間と手数を要する、という問題がある。

【０００７】この発明は、上記問題に着目してなされた
もので、複数の欠陥種目についての検査結果と瓶が製造
された製瓶機のセクションを特定することが可能な符号
とを対応させたデータを収集することにより、人手を煩
わせることなく、迅速かつ確実に瓶の欠陥原因を究明し
得る瓶検査システムを提供することを目的とする。

【０００８】

【課題を解決するための手段】この発明の瓶検査システ
ムは、瓶を複数のセクションで並列的に製造する製瓶機
と、製瓶機の各セクションで次々に製造された瓶を検査
する瓶検査装置と、瓶検査装置で得られた検査に関わる
データを収集して記憶するデータ記憶装置と、前記デー
タ記憶装置に記憶されたデータをアクセスする端末装置
とから成る。前記瓶検査装置は、製瓶機より送られてく
る瓶の欠陥の有無を複数の欠陥種目について検査する複
数の瓶検査機と、瓶が製造された製瓶機のセクションを
特定することが可能な符号を瓶より読み取る符号読取機
と、各瓶検査機で得られた複数の欠陥種目についての検
査結果と前記符号読取機で読み取られた符号とを対応さ
せたデータを生成して送り出す制御装置とを備えて成
る。

【０００９】請求項２の発明では、前記制御装置は、符
号毎に各欠陥種目についての欠陥の発生回数を集計した
データを生成するようにした。

【００１０】

【作用】製瓶機で製造された瓶は、瓶検査装置に送られ
て検査される。瓶検査装置の各瓶検査機は、瓶の欠陥の
有無を複数の欠陥種目について検査する。符号読取機
は、その瓶が製造された製瓶機のセクションを特定でき
る符号を瓶より読み取る。制御装置は、各瓶検査機で得
られた複数の欠陥種目についての検査結果と符号読取機
で読み取られた符号とを対応させたデータを生成して送
り出す。送り出されたデータは、最終的にデータ記憶装
置で収集されて記憶される。検査員は、製瓶機のどのセ
クションが瓶にどのような欠陥を生じさせているかを究
明したいとき、端末装置を操作してデータ記憶装置で収
集されたデータをアクセスする。

【００１１】請求項２の瓶検査システムでは、制御装置
は、符号毎に各欠陥種目についての欠陥の発生回数を集
計したデータを生成するようにしたので、前記データに
より製瓶機のどのセクションが、どのような欠陥を、ど
の程度の頻度で生じさせているかが分かる。

【００１２】

【実施例】図１は、この発明の一実施例である瓶検査シ
ステムの構成を示すもので、後述する各瓶検査装置７よ
り送られてくる検査データの集計データを収集するデー
タ処理装置１と、このデータ処理装置１で収集されたデ
ータを保存するデータ記憶装置としてのサーバ２と、サ
ーバ２に保存されたデータをアクセスするための複数台
（図示例では３台）の端末装置３Ａ，３Ｂ，３Ｃとを含
む。

【００１３】前記データ処理装置１、サーバ２、および
複数台の端末装置３は、それぞれパーソナルコンピュー
タで構成されており、データ処理装置１は製瓶ライン毎
に１台、サーバ２は製瓶工場毎に１台、それぞれ設けら
れる。３台の端末装置３Ａ，３Ｂ，３Ｃは、例えば、１
台が本社に、他の１台が製瓶工場に、他の１台が他の製
瓶工場に、それぞれ設置される。データ処理装置１とサ
ーバ２と各端末装置３との間には、ＬＡＮのようなネッ
トワーク４が構築されている。

【００１４】図２は、製瓶工場内の製瓶ラインの概略構
成を示す。図示例の製瓶ラインは、製瓶機５と、この製
瓶機５で次々に製造される瓶Ｇを搬送する搬送系６と、
搬送系６の搬送途中に設けられる瓶検査装置７とを備え
る。前記製瓶機５は、複数個のセクションＳ１〜ＳＮに
分かれ、各セクションＳ１〜ＳＮには、同じ瓶を成形す
るための成形型が個々に設けられる。なお、成形型は粗
型と仕上型とを含むが、ここでは両方の型を単に「成形
型」と総称する。

【００１５】各セクションＳ１〜ＳＮには、「ゴブ」と
称される溶融ガラスの塊が適当なタイミングで順次供給
される。各セクションＳ１〜ＳＮの成形型で成形された
瓶は、搬送系６の第１の搬送コンベヤ６ａへ送り出され
る。成形時、瓶の瓶底には、製造したセクションを表す
符号として、各成形型に固有の型番が付される。この型
番は、瓶底に複数の突起を円陣に配置して表されたもの
である。

【００１６】第１の搬送コンベヤ６ａは、製瓶機５の各
セクションＳ１〜ＳＮで製造された瓶を、一列に整列し
た状態で第２の搬送コンベヤ６ｂまで搬送する。第２の
搬送コンベヤ６ｂは、縦列の瓶を横列に編成して、第３
の搬送コンベヤ６ｃまで搬送する。なお、第２の搬送コ
ンベヤ６ｂの途中に瓶の冷却装置（図示せず）が設けて
ある。第３の搬送コンベヤ６ｃは、横列の瓶を縦列に編
成して、最終の箱詰装置８まで搬送する。この第３の搬
送コンベヤ６ｃの途中には、瓶を次々に導入して検査す
るための少なくとも１台（この実施例では２台）の瓶検
査装置７が設けられる。なお、この実施例では、２台の
瓶検査装置７を直列に設けて、各瓶検査装置７で個別の
検査を行うようにしているが、これに限らず、複数台の
瓶検査装置７を並列に設けて、各瓶検査装置７で同じ検
査を行うようにすることもできる。

【００１７】図３は、前記瓶検査装置７の具体例を示
す。図示例の瓶検査装置７は、周面の複数箇所に凹部１
０を備えたスターホイール１１と、このスターホイール
１１を間欠的に回転させる順送り機構１２と、前記スタ
ーホイール１１の各凹部１０が停止する５個の検査ステ
ーションＡ〜Ｅのうち、４個の検査ステーションＡ〜Ｄ
に配置される瓶検査機１３ａ〜１３ｄと、最後の検査ス
テーションＥに配置される符号読取機１４とから成る。
前記順送り機構１２の上流側には、各凹部１０へ瓶を送
り込む送込み機構１５が設けられる。また、順送り機構
１２の下流側には、所定の欠陥を有する不良品の瓶を回
収するためのリジェクトテーブル１６が配備されてい
る。なお、図中、９ａは第３の搬送コンベヤ６ｃより瓶
検査装置７へ瓶Ｇを導入する瓶導入路、９ｂは検査済の
良品の瓶Ｇを第３の搬送コンベヤ６ｃへ導出する瓶導出
路である。

【００１８】瓶検査機１３ａ〜１３ｄが配置される４個
のステーションＡ〜Ｄでは、瓶Ｇを自転させる機構１７
が配備されている。各瓶検査機１３ａ〜１３ｄは、瓶を
回転させた状態、または瓶を回転させない状態で、少な
くとも１種類の欠陥種目について、欠陥が存在するかど
うかを検査する。なお、図中、１８は瓶を次の検査ステ
ーションへ導くためのガイド板である。

【００１９】前記符号読取機１４は、図４に示すよう
に、瓶Ｇの底面を支持する支持板２０の下方位置に配設
されるもので、支持板２０に形成された透過孔２１から
瓶底へ投光する２個のリング状光源２２，２２と、瓶底
に向けて配置されたテレビカメラ２３と、このテレビカ
メラ２３で撮像された瓶底の突起列の画像を取り込んで
前記符号を読み取る符号判別回路２４とから成る。

【００２０】図５は、上記瓶検査装置７における制御装
置３０の回路構成を示す。この制御装置３０は、制御・
演算の主体であるＣＰＵ３１と、プログラムや固定デー
タが記憶されるＲＯＭ３２と、データの読み書きに用い
られるＲＡＭ３３とを含む。前記ＣＰＵ３１には、４個
の検査ステーションＡ〜Ｄに設置された瓶検査機１３ａ
〜１３ｄと、最終の検査ステーションＥに設置された符
号読取機１４と、伝送部３４とが接続される。

【００２１】ＣＰＵ３１は、図７に示す制御の流れに従
って、各瓶検査機１３ａ〜１３ｄからは瓶を検査した結
果を表すデータ（以下、「検査結果データ」という。）
を、また、符号読取機１４からは瓶底より読み取った符
号を表すデータ（以下、「符号読取データ」という。）
を、それぞれ取り込んで瓶毎の検査データを生成すると
共に、複数の検査データを収集して集計データを生成す
る。また、ＣＰＵ３１は、前記集計データを伝送部３４
より前記データ処理装置１へ送り出す。この集計データ
は、データ処理装置１より前記サーバ２へ伝送されて記
憶される。

【００２２】この実施例では、第１、第２、および第４
の各瓶検査機１３ａ，１３ｂ，１３ｄは、それぞれ２種
類の欠陥を検査し、第３の瓶検査機１３ｃは、１種類の
欠陥を検査している。第１〜第４の各瓶検査機１３ａ〜
１３ｄによる検査結果データと符号読取機１４の符号読
取データとが合成され、瓶毎の検査データが生成され
る。

【００２３】図６は、前記検査データのデータ構造を示
す。この検査データは、第１〜第４の瓶検査機１３ａ〜
１３ｄによる検査結果データを表す７ビットの検査デー
タ部と、符号読取機１４による符号読取データを表す５
ビットの符号データ部とで構成される。検査データ部の
各ビットには、前記した合計７種類の欠陥種目について
の検査結果データとして、それぞれ「０」（欠陥なし）
または「１」（欠陥あり）の各データがセットされる。
図示例の検査データは、欠陥種目４については「欠陥あ
り」を表す「１」のビットデータが、その他の欠陥種目
１〜３，５〜７については「欠陥なし」を表す「０」の
ビットデータが、それぞれセットされている。

【００２４】図７は、前記ＣＰＵ３１による制御の流れ
を示す。同図中、「ＳＴ」は、制御の流れにおける各ス
テップを示す。同図のＳＴ１では、ＣＰＵ３１は、瓶計
数値ｎをゼロにクリヤした後、ＳＴ２で瓶検査装置７に
瓶が導入されるのに待機する。前記瓶計数値ｎは、ライ
ン始動後に瓶検査装置７に導入された瓶の個数を示す。
最初の瓶が瓶検査装置７に導入されて第１の検査ステー
ションＡに送られると、ＳＴ２の判定が「ＹＥＳ」とな
り、前記瓶計数値ｎを１加算する（ＳＴ３）。第１の検
査ステーションＡに送られた瓶は、第１の瓶検査機１３
ａにより２種類の欠陥種目１，２について、欠陥の有無
が検査される。

【００２５】つぎのＳＴ４では、ＣＰＵ３１は、瓶計数
値ｎが「５」に達したかどうかを判定する。この場合、
瓶計数値ｎは「１」であるから、ＳＴ４の判定は「Ｎ
Ｏ」であり、ＳＴ５へ進む。ＳＴ５では、ＣＰＵ３１
は、第１の瓶検査機１３ａより最初の瓶についての検査
結果データ、この実施例では、欠陥種目１，２について
の検査結果データを取り込み、ＲＡＭ３２の所定の記憶
領域へ記憶させる。

【００２６】図８（１）は、第１の瓶検査機１３ａで得
られた検査結果データを記憶させるＲＡＭ３３の第１の
記憶領域Ｍ１を示すもので、図中、一点鎖線で示すビッ
トに検査結果データとしての「０」「０」が記憶されて
いる。

【００２７】つぎのＳＴ７では、ＣＰＵ３１は、順送り
機構１２が順送り動作を行ったかどうか、続くＳＴ８で
は、ラインが停止したかどうかをそれぞれ判定してお
り、ＳＴ７の判定が「ＹＥＳ」になると、つぎのＳＴ９
の「ｎ≧５か？」の判定は「ＮＯ」であるから、前記第
１の記憶領域Ｍ１の検査結果データが、第２の瓶検査機
１３ｂによる検査結果データを記憶させる第２の記憶領
域Ｍ２（図８（２）に示す。）へシフトされる（ＳＴ１
０）。前記順送り機構１２の順送り動作により、第１の
検査ステーションＡで検査された瓶は第２の検査ステー
ションＢへ送られ、第１の検査ステーションＡには未検
査の新たな瓶が導入される。なお、なんらかの原因で瓶
の導入がなかった場合でも、前記検査結果データのシフ
トは行われる。

【００２８】前記のＳＴ８で、ラインの停止が判定され
ると、一連の手順は完了する。つぎにＳＴ１１では、集
計データをデータ処理装置１へ伝送するかどうかが判定
される。この実施例では、所定の時間毎（例えば１５分
毎）に集計データの伝送を行うようにしているが、これ
に限らず、例えば、前記瓶計数値ｎが所定の値に達した
とき、集計データの伝送を行うようにしてもよい。この
場合は、ＳＴ１２の判定は「ＮＯ」であるから、ＳＴ３
へ戻り、前記瓶計数値ｎを１加算する。この瓶計数値ｎ
が「５」になるまで、同様の手順が繰り返し実行され
る。

【００２９】かくして、瓶計数値ｎが「５」に達した段
階では、最初の瓶は第５の検査ステーションＥに至って
おり、この瓶については、すでに第１〜第４の瓶検査機
１３ａ〜１３ｄによる検査結果データと符号読取機１４
による符号読取データとが得られている（ＳＴ６）。つ
ぎに、順送り機構１２が順送り動作を行うと、ＳＴ７の
判定が「ＹＥＳ」であり、つぎのＳＴ９の「ｎ≧５か
？」の判定も「ＹＥＳ」であるから、ＳＴ１１へ進み、
データシフトとデータ集計の各処理が行われる。

【００３０】図８（１）〜（５）は、ＳＴ１０の処理方
法を具体的に示している。図８（１）に示す第１の記憶
領域Ｍ１には、第１の検査ステーションＡに位置する瓶
についての第１の瓶検査機１３ａによる検査結果データ
が記憶されている。図８（２）に示す第２の記憶領域Ｍ
２には、第２の検査ステーションＢに位置する瓶につい
ての第１、第２の各瓶検査機１３ａ，１３ｂによる検査
結果データが記憶されている。図８（３）に示す第３の
記憶領域Ｍ３には、第３の検査ステーションＣに位置す
る瓶についての第１〜第３の各瓶検査機１３ａ〜１３ｃ
による検査結果データが、図８（４）に示す第４の記憶
領域Ｍ４には、第４の検査ステーションＤに位置する瓶
についての第１〜第４の各瓶検査機１３ａ〜１３ｄによ
る検査結果データが、それぞれ記憶されている。図８
（５）に示す第５の記憶領域Ｍ５には、第５の検査ステ
ーションＥに位置する瓶についての第１〜第４の各瓶検
査機１３ａによる検査結果データおよび符号読取機１４
による符号読取データが記憶されている。

【００３１】図８（１）〜（５）において、一点鎖線で
示すビットは、現在の検査ステーションで得られた検査
結果データや符号読取データを示す。また、斜線で示す
ビットは、それまでの検査ステーションで得られた検査
結果データを示す。第５の検査ステーションＥに位置す
る瓶については、全ての検査結果データと符号読取デー
タとから成る検査データが生成されている。

【００３２】図７のＳＴ１１において、ＣＰＵ３１は、
第５の記憶領域Ｍ５の検査データを、図９に示すＲＡＭ
３３の集計データ記憶領域ＭＭに集計して書き込む。ま
た、ＣＰＵ３１は、第４の記憶領域Ｍ４のデータ内容を
第５の記憶領域Ｍ５に、第３の記憶領域Ｍ３のデータ内
容を第４の記憶領域Ｍ４に、第２の記憶領域Ｍ２のデー
タ内容を第３の記憶領域Ｍ３に、第１の記憶領域Ｍ１の
データ内容を第２の記憶領域Ｍ２に、それぞれ順次上書
きする。

【００３３】前記集計データ記憶領域ＭＭには、型番を
表す符号毎に、各欠陥種目１〜７について、欠陥が何回
発生したかを示す集計データが記憶される。例えば図６
に示す検査データを集計する場合、欠陥種目４について
の欠陥があり、また、その型番は「５」であるから、集
計データ記憶領域ＭＭにおいて、欠陥種目が「４」、型
番が「５」の領域の集計データに１加算して集計データ
を書き換えることになる。

【００３４】図７に戻って、上記した検査データの生成
およびデータ集計の手順が繰り返し実行されて所定の時
間が経過すると、ＳＴ１２の「データ伝送か？」の判定
が「ＹＥＳ」となり、ＣＰＵ３１は、集計データ記憶領
域ＭＭに記憶された集計データを伝送部３４からデータ
処理装置１へ送り出した後、集計データ記憶領域ＭＭの
記憶内容をクリヤする（ＳＴ１３，１４）。

【００３５】データ処理装置１は、複数の瓶検査装置７
から送られてきた集計データを収集し、これを一定時間
毎（例えば１５分毎）にネットワーク４の伝送路を通じ
てサーバ２へ伝送する。サーバ２では、集計データが送
信されてくると、その集計データを前記集計データ記憶
領域ＭＭと同様の構成の集計データ記憶領域（図示せ
ず。）に集計して、データベースとして記憶すると共
に、図１０に示すように、欠陥種目毎に、各型番１〜Ｎ
について、欠陥が何回発生したかを時刻ｔ１，ｔ２，・
・・と共に別の集計データ記憶領域Ｍ′に記憶させる。

【００３６】かくして、各端末機３Ａ〜３Ｃからは、前
記サーバ２のデータベースをアクセスして、集計データ
を表またはグラフの形でディスプレイに表示させること
により、製瓶機５のどのセクションが、どのような欠陥
を、どの程度の頻度で発生させたかを究明することがで
きる。

【００３７】なお、上記実施例では、各瓶検査装置７に
おいて検査データの集計を行い、その集計データをデー
タ処理装置１へ送るようにしているが、各瓶検査装置７
では、各瓶の検査データを単にストックし、そのストッ
クデータを一定時間毎にデータ処理装置１へ送るように
してもよい。この場合、データ処理装置１では、各瓶検
査装置７より送られてくるストックデータについて集計
処理を行い、その集計データを一定時間毎にサーバ２へ
伝送するようにする。また、上記実施例では、複数の瓶
検査装置７とサーバ２との間にデータ処理装置１を介在
させているが、例えば瓶検査装置７が１台の場合、その
瓶検査装置７で得られた集計データを直接サーバ２へ送
って記憶させるようにすることもできる。

【００３８】

【発明の効果】この発明は上記の如く、複数の欠陥種目
についての検査結果と瓶が製造された製瓶機のセクショ
ンを特定することが可能な符号とを対応させたデータを
データ記憶装置で収集して記憶すると共に、前記データ
記憶装置に記憶されたデータを端末装置によりアクセス
できるようにしたから、人手を煩わせることなく、迅速
かつ確実に瓶の欠陥原因を究明できる、という効果があ
る。

【００３９】請求項２の発明によれば、符号毎に各欠陥
種目についての発生回数を集計したデータを生成するよ
うにしたから、前記データにより製瓶機のどのセクショ
ンが、どのような欠陥を、どの程度の頻度で生じさせて
いるかが即座に分かる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の一実施例である瓶検査システムの構
成を示す説明図である。

【図２】製瓶ラインの全体構成を示す説明図である。

【図３】瓶検査装置の具体例を示す平面図である。

【図４】符号読取機の概略構成を示す断面図である。

【図５】データ処理装置の電気的な構成を示すブロック
図である。

【図６】検査データのデータ構造を示す説明図である。

【図７】ＣＰＵによる制御の流れを示すフローチャート
である。

【図８】検査データの生成過程を示す説明図である。

【図９】集計データ記憶領域の構成を示す説明図であ
る。

【図１０】他の集計データ記憶領域の構成を示す説明図
である。

【符号の説明】

１データ処理装置２サーバ３Ａ，３ＡＢ，３Ｃ端末装置４ネットワーク５製瓶機７瓶検査装置１３ａ〜１３ｄ瓶検査機１４符号読取機３０制御装置

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】瓶を複数のセクションで並列的に製造す
る製瓶機と、製瓶機の各セクションで次々に製造された
瓶を検査する少なくともひとつの瓶検査装置と、瓶検査
装置で得られた検査に関わるデータを収集して記憶する
データ記憶装置と、前記データ記憶装置に記憶されたデ
ータをアクセスする端末装置とから成り、前記瓶検査装置は、製瓶機より送られてくる瓶の欠陥の
有無を複数の欠陥種目について検査する複数の瓶検査機
と、瓶が製造された製瓶機のセクションを特定すること
が可能な符号を瓶より読み取る符号読取機と、各瓶検査
機で得られた複数の欠陥種目についての検査結果と前記
符号読取機で読み取られた符号とを対応させたデータを
生成して送り出す制御装置とを備えて成る瓶検査システ
ム。
【請求項２】前記制御装置は、符号毎に各欠陥種目に
ついての欠陥の発生回数を集計したデータを生成するよ
うにした請求項１に記載された瓶検査システム。