JP2000049274A - Semiconductor device and lead frame - Google Patents

Semiconductor device and lead frame

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JP2000049274A JP4601799A JP4601799A JP2000049274A JP 2000049274 A JP2000049274 A JP 2000049274A JP 4601799 A JP4601799 A JP 4601799A JP 4601799 A JP4601799 A JP 4601799A JP 2000049274 A JP2000049274 A JP 2000049274A
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a semiconductor device and a lead frame in which adverse effect of stored static electricity can be removed surely without causing any trouble in the high integration of semiconductor element. SOLUTION: The semiconductor device comprises a semiconductor element 40 having an inner circuit 41 operating as a semiconductor integrated circuit is arranged in the center and electrode terminals 42 arranged on the periphery, and leads 30 connected electrically with the electrode terminals and being led out to the outside of a package. Leads of NC pins 5, 7, 18 not connected electrically with the inner circuit 41 are removed.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は半導体装置およびリ
ードレームに係わり、特に集積回路の本来の動作をする
内部回路と電気的に接続していないノンコネクトピン
(以下、NCピン、と称す)による静電破壊に対する改
良を行った半導体装置およびリードレームに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor device and a read frame, and more particularly to a non-connect pin (hereinafter, referred to as an NC pin) which is not electrically connected to an internal circuit which performs an original operation of an integrated circuit. The present invention relates to a semiconductor device and a lead frame improved with respect to electrostatic breakdown.

【0002】[0002]

【従来の技術】図7は、リードフレームに半導体素子を
固着し、ワイヤーボンディングした状態を示す従来技術
の平面図である。
2. Description of the Related Art FIG. 7 is a plan view of a prior art showing a state where a semiconductor element is fixed to a lead frame and wire-bonded.

【0003】中央に半導体集積回路として動作する内部
回路41を形成し、周辺に電極端子(ボンディングパッ
ド)42を配列形成した半導体素子40がリードフレー
ムのアイランド35に固着されている。
An internal circuit 41 which operates as a semiconductor integrated circuit is formed in the center, and a semiconductor element 40 having an array of electrode terminals (bonding pads) 42 formed in the periphery is fixed to an island 35 of a lead frame.

【0004】リードフレームは、外枠34からアイラン
ド35に向かって、ピン1〜ピン20の20本のピンの
それぞれのリード30が形成されているが、このうちピ
ン5,7,18は内部回路に接続していないNCピンで
あり、ピン6は内部回路に信号を送るまたは内部回路か
ら信号を取り出す入出力ピンである。
In the lead frame, the leads 30 of the 20 pins from pin 1 to pin 20 are formed from the outer frame 34 to the island 35, of which the pins 5, 7, and 18 are the internal circuit. The pin 6 is an input / output pin for sending a signal to an internal circuit or extracting a signal from the internal circuit.

【0005】それぞれのピンのリード30はパッケージ
内部に存在する内部リード31とパッケージより導出す
る外部リード32から構成され、内部リード31の先端
部と半導体素子40の電極端子42とがボンディングワ
イヤー43で接続され、またリードどうしがタイバー3
3により連結されている。
The lead 30 of each pin is composed of an internal lead 31 existing inside the package and an external lead 32 led out of the package. The tip of the internal lead 31 and the electrode terminal 42 of the semiconductor element 40 are connected by a bonding wire 43. Connected and leads are tie bar 3
3 are connected.

【0006】そして図7の状態からタイバー33の内側
を樹脂モールドしてそれぞれのタイバー33を切断し、
樹脂パッケージ50から導出する各ピンのリードの外部
リード32を折り曲げて得られたDIP型の半導体装置
を図8に示している。
Then, the inside of the tie bar 33 is resin-molded from the state shown in FIG.
FIG. 8 shows a DIP type semiconductor device obtained by bending the external leads 32 of the leads of each pin derived from the resin package 50.

【0007】従来技術ではこのように内部回路に接続す
るピンのリードとともにNCピンのリードも配列してあ
るから、NCピンのリードに蓄積された静電気(静電
荷)が隣接ピンのリードに乗り移りこの隣接リードに接
続する内部回路を静電破壊する可能性を有する。
In the prior art, since the leads of the NC pins are arranged in addition to the leads of the pins connected to the internal circuit, the static electricity (static charge) accumulated in the leads of the NC pins is transferred to the leads of the adjacent pins. There is a possibility that an internal circuit connected to an adjacent lead is electrostatically damaged.

【0008】このために特開平2−119171号公報
には、図9に示すように、NCピンのリードを半導体素
子の周辺部に設けた保護回路に接続して、NCピンのリ
ードの静電気を放電することにより、同リードに多くの
静電気が蓄積されないようにする技術が開示されてい
る。
For this purpose, Japanese Unexamined Patent Publication No. 2-119171 discloses that, as shown in FIG. 9, the lead of the NC pin is connected to a protection circuit provided at the periphery of the semiconductor element to discharge the static electricity of the lead of the NC pin. A technique for preventing a large amount of static electricity from accumulating in the lead by discharging is disclosed.

【0009】すなわち図7の一部を拡大して回路的に示
した図9において、隣接ピン6,8のリードは半導体素
子40の内部回路41の入力部等に接続されている。そ
して、隣接ピンに外部から印加されるサージあるいは静
電気等から内部回路を保護するために、隣接ピンのリー
ドが接続される電極端子と内部回路との間の半導体素子
40の周辺部分45には、VccとVss間のダイオー
ド対による保護回路46,46がそれぞれ設けられてい
る。
That is, in FIG. 9, which is an enlarged circuit diagram of a part of FIG. 7, the leads of the adjacent pins 6 and 8 are connected to the input section of the internal circuit 41 of the semiconductor element 40. In order to protect the internal circuit from a surge or static electricity applied to the adjacent pin from the outside, the peripheral portion 45 of the semiconductor element 40 between the electrode terminal to which the lead of the adjacent pin is connected and the internal circuit includes: Protection circuits 46, 46 each provided by a diode pair between Vcc and Vss are provided.

【0010】しかしながらこのような保護回路46,4
6を設けても、回路基板に実装されるまでに蓄積される
NCピン7のリードの静電気による破壊の防止には有効
ではないので、半導体素子40の周辺部分45にNCピ
ン7用の保護回路47を別途設けて、NCピン7のリー
ドの先端部をこのVccとVss間のダイオード対によ
る保護回路47に接続している。
However, such protection circuits 46, 4
6 is not effective in preventing the lead of the NC pin 7 accumulated until mounted on the circuit board from being destroyed by static electricity, so that the protection circuit for the NC pin 7 is provided on the peripheral portion 45 of the semiconductor element 40. 47 is separately provided, and the tip of the lead of the NC pin 7 is connected to the protection circuit 47 by a diode pair between Vcc and Vss.

【0011】このようにすることによりNCピンのリー
ドの静電気がある程度に蓄積されると、Vccもしくは
Vssに放電し、NCピンのリードの静電気の蓄積電荷
をある程度抑制することがでる。
In this way, when the static electricity of the lead of the NC pin is accumulated to a certain extent, it is discharged to Vcc or Vss, and the accumulated electric charge of the static electricity of the lead of the NC pin can be suppressed to some extent.

【0012】[0012]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記した
従来技術では、製品機能として不要なNCピンに対して
も保護回路47を必要にするから、余分なマスクレイア
ウト領域が必要になりそれだけ半導体素子の高集積化に
支障を生じる。
However, in the above-mentioned prior art, since a protection circuit 47 is required even for an NC pin which is not required as a product function, an extra mask layout area is required, and the height of the semiconductor element is accordingly increased. This will hinder integration.

【0013】また、保護回路47は製造工程のボンディ
ング以降から回路基板に実装するまでにフローティング
状態のNCピンのリードに蓄積される静電気を放電させ
るという特殊の用途のものであり、半導体装置の使用中
に外部からくるサージ等から内部回路を保護する保護回
路46とは異なる。
The protection circuit 47 has a special purpose of discharging static electricity accumulated in the lead of the NC pin in a floating state after bonding in a manufacturing process and before mounting on a circuit board. The protection circuit 46 is different from the protection circuit 46 for protecting the internal circuit from an external surge or the like.

【0014】したがって本発明の目的は、半導体素子の
高集積化に支障を生じさせることなく、蓄積静電気の悪
影響を確実に排除することが可能な半導体装置およびリ
ードフレームを提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a semiconductor device and a lead frame capable of reliably eliminating the adverse effect of accumulated static electricity without hindering the high integration of semiconductor elements.

【0015】[0015]

【課題を解決するための手段】本発明の特徴は、中央に
半導体集積回路として動作する内部回路を形成し、周辺
に電極端子を配列形成した半導体素子と、パッケージ
と、前記電極端子と電気的に接続して前記パッケージの
外に導出するリードの配列とを具備した半導体装置にお
いて、前記内部回路に電気的に接続していないNCピン
のリードを除去した半導体装置にある。
A feature of the present invention is that a semiconductor element in which an internal circuit which operates as a semiconductor integrated circuit is formed in the center and electrode terminals are arranged in the periphery, a package, and an electric circuit which is electrically connected to the electrode terminals. And an arrangement of leads leading out of the package and connected to the internal circuit, wherein leads of NC pins that are not electrically connected to the internal circuit are removed.

【0016】ここで、前記NCピンのリードを全て除去
することにより存在するリードの全ては前記内部回路に
電気的に接続していることができる。
Here, by removing all the leads of the NC pin, all of the existing leads can be electrically connected to the internal circuit.

【0017】あるいは、複数のNCピンのリードのうち
入出力ピンに隣接するNCピンのリードを選択的に除去
していることができる。
Alternatively, the lead of the NC pin adjacent to the input / output pin among the leads of the plurality of NC pins can be selectively removed.

【0018】さらに、前記NCピンのリードはパッケー
ジ内部の内部リードからパッケージから導出する外部リ
ードまで全体にわたって除去されていることができる。
Furthermore, the leads of the NC pins may be entirely removed from internal leads inside the package to external leads derived from the package.

【0019】あるいは、前記NCピンのリードはパッケ
ージ内部の内部リードおよびパッケージから導出する外
部リードのうち該外部リードのみが除去されていること
ができる。
Alternatively, the NC pin lead may be formed by removing only the external lead out of the internal lead inside the package and the external lead derived from the package.

【0020】この場合、前記NCピンのリードのパッケ
ージ内部に残余するの内部リードが前記半導体素子を搭
載するアイランドにボンディングワイヤーにより接続さ
れていることができる。
In this case, the remaining internal lead of the NC pin lead inside the package can be connected to the island on which the semiconductor element is mounted by a bonding wire.

【0021】また、パッケージ内の内部リードの先端部
分の配列は、前記除去された箇所のピッチが他の箇所の
ピッチの整数倍になっていることができる。
In the arrangement of the tips of the internal leads in the package, the pitch of the removed portion may be an integral multiple of the pitch of the other portion.

【0022】また、パッケージから導出する外部リード
の配列は、前記除去された箇所のピッチが他の箇所のピ
ッチの整数倍になっていることができる。
In the arrangement of the external leads derived from the package, the pitch of the removed portion may be an integral multiple of the pitch of another portion.

【0023】本発明の他の特徴は、上記した半導体装置
の製造に用いるリードフレームにある。
Another feature of the present invention resides in a lead frame used for manufacturing the above-described semiconductor device.

【0024】[0024]

【発明の実施の形態】図1は、本発明の第1の実施の形
態において、リードフレームに半導体素子を固着し、ワ
イヤーボンディングした状態を示す平面図である。この
実施の形態では、リードフレームの設計段階でNCピン
に対応するリードを削除しているから組立工程以降がN
Cピンの存在を問題にしない他の半導体装置の製造と同
様に行うことができる。
FIG. 1 is a plan view showing a state in which a semiconductor element is fixed to a lead frame and wire-bonded in a first embodiment of the present invention. In this embodiment, the lead corresponding to the NC pin is deleted at the design stage of the lead frame.
It can be carried out similarly to the manufacture of other semiconductor devices that do not make the existence of the C pin a problem.

【0025】図1において、中央に半導体集積回路とし
て動作する内部回路41を形成し、周辺部分に電極端子
(ボンディングパッド)42を配列形成した半導体素子
40がリードフレームのアイランド35に固着されてい
る。
In FIG. 1, a semiconductor element 40 in which an internal circuit 41 operating as a semiconductor integrated circuit is formed at the center and an electrode terminal (bonding pad) 42 is arranged and formed in a peripheral portion is fixed to an island 35 of a lead frame. .

【0026】例えば42合金(ニッケル42%、鉄58
%の合金)に銀メッキして形成されたリードフレーム
は、外枠34からアイランド35に向かって、ピン1〜
ピン20のそれぞれのリード30が形成されているが、
このうち内部回路に信号を送るまたは内部回路から信号
を取り出す入出力ピン6の両側のピン5及びピン7はN
Cピンである。また反対側のピン18もNCピンであ
る。
For example, a 42 alloy (42% nickel, 58 iron)
% Alloy) and the lead frame formed by silver plating from the outer frame 34 toward the island 35.
Each lead 30 of the pin 20 is formed,
The pins 5 and 7 on both sides of the input / output pin 6 for sending a signal to or extracting a signal from the internal circuit are N
C pin. The pin 18 on the opposite side is also an NC pin.

【0027】したがってこれらのNCピン5,7,18
のリード30はその内部リード31も外部リード32も
除去されている。
Therefore, these NC pins 5, 7, 18
In the lead 30, both the internal lead 31 and the external lead 32 are removed.

【0028】すなわちこの実施の形態では、全てのNC
ピンのリードが内部リードから外部リードまで除去され
ており、そこには樹脂封止後に切断されるタイバー33
が存在しているだけである。
That is, in this embodiment, all the NCs
The lead of the pin is removed from the internal lead to the external lead, and the tie bar 33 cut after resin sealing is provided there.
Only exists.

【0029】このように全てのNCピンのリードが除去
されており、ピン1〜4,6,8〜17,19,20の
それぞれの内部リード31の先端部分はボンデングワイ
ヤー43により電極端子42に接続され、それぞれの電
極端子から素子内部配線(図示省略)により内部回路4
1の所定の箇所にそれぞれ接続されている。すなわち存
在するリードの全ては内部回路に電気的に接続している
そしてNCピンのリードを除去する前の内部リード31
の先端部分は全てピッチTで配列しているから、除去後
の配列は除去された箇所のピッチ2Tが他の箇所のピッ
チTの整数倍、ここでは2倍になっている。
As described above, the leads of all the NC pins are removed, and the tips of the internal leads 31 of the pins 1 to 4, 6, 8 to 17, 19, and 20 are connected to the electrode terminals 42 by the bonding wires 43. The internal circuit 4 is connected to each of the electrode terminals by element internal wiring (not shown).
1 at predetermined positions. That is, all of the leads present are electrically connected to the internal circuitry and internal leads 31 prior to removal of the NC pin leads.
Are arranged at the pitch T, the pitch after the removal is such that the pitch 2T of the removed portion is an integral multiple of the pitch T of the other portion, here, twice.

【0030】同様に、NCピンのリードを除去する前の
外部リード32は全てピッチPで配列しているから、除
去後の配列は除去された箇所のピッチ2Pが他の箇所の
ピッチPの整数倍すなわち2倍になっている。内部リー
ド31のピッチTは外部リード32のピッチP以下であ
り、特に外部リード32のピッチPが1.78mmある
いはそれ以下の場合に本発明が有効となる。
Similarly, since the external leads 32 before removing the lead of the NC pin are all arranged at the pitch P, the arrangement after the removal is such that the pitch 2P of the removed portion is an integer of the pitch P of the other portion. That is, it is doubled. The pitch T of the internal leads 31 is equal to or less than the pitch P of the external leads 32. In particular, the present invention is effective when the pitch P of the external leads 32 is 1.78 mm or less.

【0031】図2は図1の状態からタイバー33の内側
を樹脂モールドしてそれぞれのタイバー33を切断し、
樹脂パッケージ50から導出する各ピンのリードの外部
リード32を折り曲げたDIP型の半導体装置を示して
いる。図1で説明したようにNCピンのリードは全て除
去されている。
FIG. 2 shows a state in which the inside of the tie bar 33 is resin-molded from the state of FIG.
4 shows a DIP type semiconductor device in which external leads 32 of leads of respective pins led out of a resin package 50 are bent. As described with reference to FIG. 1, all the leads of the NC pins have been removed.

【0032】尚、図1の状態でNCピンのリードの内部
リードのみを除去しておいて、樹脂モールド後のタイバ
ー切断時にNCピンのリードの外部リードを除去する方
法を用いることもできる。
It is also possible to use a method in which only the internal lead of the NC pin lead is removed in the state of FIG. 1 and the external lead of the NC pin lead is removed when cutting the tie bar after resin molding.

【0033】図1の一部を拡大して回路的に示した図3
を参照して、隣接ピン6,8はそれぞれの保護回路4
6,46を通して、半導体素子40の本来の集積回路動
作を行う内部回路に接続している。半導体素子40の周
辺部分45に設けられた保護回路46は半導体装置の動
作中に入り込むサージ等のノイズから内部回路を保護す
るもので、VccとVss間のダイオード対により構成
されている。
FIG. 3 is an enlarged circuit diagram of a part of FIG.
, Adjacent pins 6 and 8 are connected to respective protection circuits 4
Through the circuits 6 and 46, the semiconductor device 40 is connected to an internal circuit that performs an original integrated circuit operation. The protection circuit 46 provided in the peripheral portion 45 of the semiconductor element 40 protects the internal circuit from noise such as surges that enter during operation of the semiconductor device, and is constituted by a diode pair between Vcc and Vss.

【0034】しかし隣接ピン6と隣接ピン8との間のN
Cピン7のリードは除去されており、したがって図8に
示す保護回路47は必要がない。
However, N between the adjacent pin 6 and the adjacent pin 8
Since the lead of the C pin 7 has been removed, the protection circuit 47 shown in FIG. 8 is unnecessary.

【0035】図4は本発明の第2の実施の形態を示す平
面図である。尚、図1と同一もしくは類似の箇所は同じ
符号を付けてあるから重複する説明は省略する。
FIG. 4 is a plan view showing a second embodiment of the present invention. Note that the same or similar portions as those in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals, and thus redundant description will be omitted.

【0036】図4においては、NCピン5,7,18の
うち入出力ピン6に隣接するNCピン5,7のリードは
除去するが、他のピン例えば電源ピンに隣接するNCピ
ン18のリードは残存させている。この第2の実施の形
態も、第1の実施の形態と同様に、リードフレームの設
計段階でNCピンに対応するリードのうちで除去が必要
なリードを削除している。
In FIG. 4, among the NC pins 5, 7, 18, the leads of the NC pins 5, 7 adjacent to the input / output pin 6 are removed, but the leads of other pins, for example, the NC pins 18 adjacent to the power supply pin, are removed. Is left. In the second embodiment, similarly to the first embodiment, at the design stage of the lead frame, among the leads corresponding to the NC pins, the leads that need to be removed are deleted.

【0037】これは、入出力ピン6のリードは静電破壊
が特に発生しやすい入力回路(内部回路の入力部)ある
いは出力回路(内部回路の出力部)に接続しているから
NCピン5,7のリードからの静電気の乗り移りを阻止
する必要があるが、内部回路の電源部は静電破壊に対し
て耐性があるから電源ピンに隣接するNCピン18のリ
ードは残存させかつそこに保護回路を設けなくても実質
的に支障がない場合である。このようにNCピン18を
残存させることにより樹脂封止の際の樹脂の流れのバラ
ンスが良くなる場合がある。
This is because the leads of the input / output pins 6 are connected to an input circuit (an input section of an internal circuit) or an output circuit (an output section of an internal circuit) in which electrostatic breakdown is particularly likely to occur. Although it is necessary to prevent the transfer of static electricity from the lead 7, the power supply section of the internal circuit is resistant to electrostatic destruction, so that the lead of the NC pin 18 adjacent to the power supply pin remains and a protection circuit is provided there. This is a case in which there is substantially no problem even if it is not provided. By leaving the NC pins 18 in this manner, the flow of the resin during the resin sealing may be well balanced.

【0038】図5は本発明の第3の実施の形態を示す平
面図である。尚、図1と同一もしくは類似の箇所は同じ
符号を付けてあるから重複する説明は省略する。
FIG. 5 is a plan view showing a third embodiment of the present invention. Note that the same or similar portions as those in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals, and thus redundant description will be omitted.

【0039】この実施の形態では、樹脂モールドにより
パッケージ50を形成した後、パッケージ50より導出
するNCピン5,7,18あるいはNCピン5,7のリ
ードの外部リード32をタイバーの切断時に同時に除去
する。
In this embodiment, after the package 50 is formed by resin molding, the external leads 32 of the NC pins 5, 7, 18 or the leads of the NC pins 5, 7 derived from the package 50 are simultaneously removed when the tie bar is cut. I do.

【0040】NCピンのリードの静電荷の蓄積が樹脂モ
ールド後の外部リードによることが大部分であり、内部
リードが残存していても支障がない場合は、このような
実施の形態を用いることができる。
In most cases, the accumulation of static charges in the leads of the NC pins is due to the external leads after resin molding. If there is no problem even if the internal leads remain, use such an embodiment. Can be.

【0041】すなわち、半導体素子40には接続されて
いないでフローティング状態のNCピンのリードの内部
リード31が残存しているがその外部リードが除去され
ているから静電荷の蓄積が抑制され、かつ他のリードの
内部リードとともに一様なピッチの配列体を形成してい
るから、モールド時の均一な樹脂流動を期待することが
できる。
That is, the internal lead 31 of the lead of the NC pin which is not connected to the semiconductor element 40 and is in a floating state remains but the external lead is removed, so that the accumulation of static charge is suppressed, and Since an array having a uniform pitch is formed together with the internal leads of other leads, uniform resin flow during molding can be expected.

【0042】そして存在する外部リードを折り曲げ加工
することにより、図2と同様の外観となる。
By bending existing external leads, the external appearance becomes the same as that shown in FIG.

【0043】この第3の実施の形態では、NCピンに対
応するリードをタイバー切断時に切断するので、リード
フレームの設計段階でNCピンを特定する必用がなく、
同一のリードフレームを使用しつつ製品によってNCピ
ンを自由に設計できるという利点があり、製造コスト面
から有利である。
In the third embodiment, since the lead corresponding to the NC pin is cut at the time of cutting the tie bar, it is not necessary to specify the NC pin at the stage of designing the lead frame.
There is an advantage that the NC pin can be freely designed depending on the product while using the same lead frame, which is advantageous in terms of manufacturing cost.

【0044】図6は本発明の第4の実施の形態を示す平
面図であり、図5に示す第3の実施例を変型したもので
ある。尚、図1や図5と同一もしくは類似の箇所は同じ
符号を付けてあるから重複する説明は省略する。
FIG. 6 is a plan view showing a fourth embodiment of the present invention, which is a modification of the third embodiment shown in FIG. Note that the same or similar portions as those in FIG. 1 and FIG. 5 are denoted by the same reference numerals, and duplicate description will be omitted.

【0045】この第4の実施の形態では図6に示すよう
に、、パッケージ50内に残存する内部リード31の先
端と半導体素子40を搭載するアイランド35にボンデ
ィングワイヤー53により接続されているから、残存す
る内部リード31に多少の静電気が発生してもだだちに
発散して静電気の蓄積は起こらない。尚、このNCピン
の外部リードは除去されおり外部から電位を供給するも
のではないから、この実施の形態において、アイランド
に接続する半導体素子の裏面は半導体集積回路として動
作する内部回路の一部にはなっていない。
In the fourth embodiment, as shown in FIG. 6, since the tip of the internal lead 31 remaining in the package 50 and the island 35 on which the semiconductor element 40 is mounted are connected by the bonding wire 53, Even if a small amount of static electricity is generated in the remaining internal leads 31, the static electricity is immediately diverged and no accumulation of static electricity occurs. Since the external lead of the NC pin is removed and does not supply an external potential, in this embodiment, the back surface of the semiconductor element connected to the island is part of an internal circuit operating as a semiconductor integrated circuit. Not.

【0046】また、図5および図6ではNCピン5,
7,18の全てを対象にして示しているが、これらの第
3及び第4の実施の形態においても第2の実施の形態の
ように、複数のNCピン5,7,18のうち入出力ピン
6に隣接するNCピン5,7のみを対象としてもよい。
5 and 6, the NC pins 5 and
7 and 18, all of the NC pins 5, 7, and 18 in the third and fourth embodiments are different from the NC pins 5, 7, and 18, as in the second embodiment. Only the NC pins 5 and 7 adjacent to the pin 6 may be targeted.

【0047】以上の実施の形態では樹脂モールドのパッ
ケージの例で説明したが、本発明はセラミック封止、ガ
ラス封止、金属封止等の他のパッケージの半導体装置に
も同様に適用することができる。
Although the above embodiment has been described with reference to an example of a resin-molded package, the present invention can be similarly applied to a semiconductor device of another package such as ceramic sealing, glass sealing, or metal sealing. it can.

【0048】また、実施の形態ではDIPの半導体装置
について説明したが、DIP以外のSIP、ZIP等の
挿入形、あるいはSOP、SOJ、QFP、PLCC等
の面実装形の半導体装置にも同様に適用することができ
る。
Although the embodiment has been described with respect to a DIP semiconductor device, the present invention is similarly applied to an insertion type such as SIP and ZIP other than DIP, or a surface mount type semiconductor device such as SOP, SOJ, QFP and PLCC. can do.

【0049】また、実施の形態ではボンデングワイヤー
により内部リードと電極端子を接続するタイプを例示し
たが、バンプ電極を用いて内部リードを直接接続するタ
イプ、さらにリード・オン・チップやチップ・オン・リ
ードの半導体装置にも同様に適用することができる。
In the embodiment, the type in which the internal lead and the electrode terminal are connected by a bonding wire is exemplified. However, the type in which the internal lead is directly connected by using a bump electrode, and the type in which a lead-on-chip or a chip-on-chip is used. -The present invention can be similarly applied to a lead semiconductor device.

【0050】[0050]

【発明の効果】以上説明したように本発明では、製品機
能として不要なNCピンのリードのうち、蓄積静電気に
よる静電破壊が問題になるリードを除去したから、この
蓄積静電気を放電させる保護回路(放電回路)のマスク
レイアウト領域が不必要になり、したがってそれだけ半
導体素子の高集積化が実現できる。
As described above, according to the present invention, among the leads of the NC pins which are not required as a product function, the lead which causes a problem of electrostatic destruction due to the accumulated static electricity is removed, and the protection circuit for discharging the accumulated static electricity is removed. The mask layout area of the (discharge circuit) becomes unnecessary, and accordingly, high integration of the semiconductor element can be realized.

【0051】さらに、上記した除去されたリードの箇所
には上記した蓄積静電気が全然発生しないから、これに
よる不都合を完全に排除することができる。
Further, since the above-mentioned accumulated static electricity is not generated at the removed lead portion at all, the inconvenience caused by this can be completely eliminated.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1の実施の形態において、リードフ
レームに半導体素子を固着し、ワイヤーボンディングし
た状態を示す平面図である。
FIG. 1 is a plan view showing a state in which a semiconductor element is fixed to a lead frame and wire-bonded in a first embodiment of the present invention.

【図2】本発明の第1の実施の形態の半導体装置を示す
斜視図である。
FIG. 2 is a perspective view showing a semiconductor device according to the first embodiment of the present invention.

【図3】本発明の実施の形態の一部を示す図である。FIG. 3 is a diagram showing a part of an embodiment of the present invention.

【図4】本発明の第2の実施の形態において、リードフ
レームに半導体素子を固着し、ワイヤーボンディングし
た状態を示す平面図である。
FIG. 4 is a plan view showing a state where a semiconductor element is fixed to a lead frame and wire-bonded in a second embodiment of the present invention.

【図5】本発明の第3の実施の形態において、樹脂モー
ルドした後、タイバーを切断した状態を示す平面図であ
る。
FIG. 5 is a plan view showing a state where a tie bar is cut after resin molding in a third embodiment of the present invention.

【図6】本発明の第4の実施の形態において、樹脂モー
ルドした後、タイバーを切断した状態を示す平面図であ
る。
FIG. 6 is a plan view showing a state in which a tie bar is cut after resin molding in a fourth embodiment of the present invention.

【図7】従来技術において、リードフレームに半導体素
子を固着し、ワイヤーボンディングした状態を示す平面
図である。
FIG. 7 is a plan view showing a state in which a semiconductor element is fixed to a lead frame and wire-bonded in a conventional technique.

【図8】従来技術の半導体装置を示す斜視図である。FIG. 8 is a perspective view showing a conventional semiconductor device.

【図9】従来技術の一部を示す図である。FIG. 9 is a diagram showing a part of the prior art.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1〜4,6,8〜17,19,20 内部回路に接続
するピン 5,7,18 NCピン 30 リード 31 内部リード 32 外部リード 33 タイバー 34 外枠 35 アイランド 40 半導体素子 41 内部回路 42 電極端子 43,53 ボンディングワイヤー 45 周辺部分 46 内部回路に対する保護回路 47 NCピンのリードに蓄積された静電気を放電す
る保護回路 50 パッケージ
1-4,6,8-17,19,20 Pins connected to internal circuit 5,7,18 NC pin 30 Lead 31 Internal lead 32 External lead 33 Tie bar 34 Outer frame 35 Island 40 Semiconductor element 41 Internal circuit 42 Electrode terminal 43, 53 Bonding wire 45 Peripheral part 46 Protective circuit for internal circuit 47 Protective circuit for discharging static electricity accumulated in lead of NC pin 50 Package

Claims (9)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 中央に半導体集積回路として動作する内
部回路を形成し、周辺に電極端子を配列形成した半導体
素子と、パッケージと、前記電極端子と電気的に接続し
て前記パッケージの外に導出するリードの配列とを具備
した半導体装置において、前記内部回路に電気的に接続
していないノンコネクトピンのリードを除去したことを
特徴とする半導体装置。
A semiconductor device having an internal circuit which operates as a semiconductor integrated circuit formed in the center and having electrode terminals arranged in the periphery, a package, and electrically connected to the electrode terminals and led out of the package. A lead of a non-connect pin which is not electrically connected to the internal circuit, is removed from the semiconductor device.
【請求項2】 前記ノンコネクトピンのリードを全て除
去することにより存在するリードの全ては前記内部回路
に電気的に接続していることを特徴とする請求項1記載
の半導体装置。
2. The semiconductor device according to claim 1, wherein all leads existing by removing all leads of said non-connect pin are electrically connected to said internal circuit.
【請求項3】 複数のノンコネクトピンのリードのうち
入出力ピンに隣接するノンコネクトピンのリードを選択
的に除去したことを特徴とする請求項1記載の半導体装
置。
3. The semiconductor device according to claim 1, wherein a lead of a non-connect pin adjacent to the input / output pin is selectively removed from a plurality of leads of the non-connect pin.
【請求項4】 前記ノンコネクトピンのリードはパッケ
ージ内部の内部リードからパッケージから導出する外部
リードまで全体にわたって除去されていることを特徴と
する請求項1記載の半導体装置。
4. The semiconductor device according to claim 1, wherein the leads of the non-connect pins are entirely removed from internal leads inside the package to external leads derived from the package.
【請求項5】 前記ノンコネクトピンのリードはパッケ
ージ内部の内部リードおよびパッケージから導出する外
部リードのうち該外部リードのみが除去されていること
を特徴とする請求項1記載の半導体装置。
5. The semiconductor device according to claim 1, wherein only the external leads of the non-connect pins are removed from the internal leads inside the package and the external leads derived from the package.
【請求項6】 前記ノンコネクトピンのリードのパッケ
ージ内部に残余するの内部リードを前記半導体素子を搭
載するアイランドにボンディングワイヤーにより接続さ
れていることを特徴とする請求項5記載の半導体装置。
6. The semiconductor device according to claim 5, wherein the remaining internal lead of the non-connect pin lead inside the package is connected to an island on which the semiconductor element is mounted by a bonding wire.
【請求項7】 パッケージ内の内部リードの先端部分の
配列は、前記除去された箇所のピッチが他の箇所のピッ
チの整数倍になっていることを特徴とする請求項1記載
の半導体装置。
7. The semiconductor device according to claim 1, wherein the arrangement of the tips of the internal leads in the package is such that the pitch of the removed portion is an integral multiple of the pitch of the other portion.
【請求項8】 パッケージから導出する外部リードの配
列は、前記除去された箇所のピッチが他の箇所のピッチ
の整数倍になっていることを特徴とする請求項1記載の
半導体装置。
8. The semiconductor device according to claim 1, wherein the arrangement of the external leads derived from the package is such that the pitch of the removed portion is an integral multiple of the pitch of the other portion.
【請求項9】 請求項1乃至請求項8のいずれかの半導
体装置の製造に用いるリードフレーム。
9. A lead frame used for manufacturing the semiconductor device according to claim 1.
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