JP2000049056A - Solid-state electrolytic capacitor - Google Patents
Solid-state electrolytic capacitorInfo
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は各種電子機器に用い
られ、特に表面実装時に優れた特性を示す固体電解コン
デンサに関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a solid electrolytic capacitor used for various electronic devices, and particularly to a solid electrolytic capacitor exhibiting excellent characteristics when mounted on a surface.
【0002】[0002]
【従来の技術】近年、電子機器の進歩とともに電子部品
のチップ化が進み、電子回路の組立ては表面実装により
行われることが主流となってきた。このため、チップ部
品のリード端子の半田付け性が要求されることは勿論、
二百数十度の温度に長時間耐えることができる耐熱性も
要求されるようになってきた。従って、従来、耐熱性に
乏しいと言われた電解コンデンサの分野でも、材料と技
術の進歩により表面実装のできるチップ部品が現れ始め
ており、これは例えば、図8(a)、(b)に示すよう
に、コンデンサ素子を陽極端子21および陰極端子22
を兼ねるリードフレームとともに外装樹脂23でモール
ドした固体電解コンデンサが知られている。2. Description of the Related Art In recent years, with the progress of electronic equipment, electronic components have been formed into chips, and electronic circuits have been mainly assembled by surface mounting. Therefore, of course, the solderability of the lead terminals of the chip component is required,
Heat resistance that can withstand a temperature of more than two hundred and several tens of degrees for a long time has been required. Accordingly, in the field of electrolytic capacitors, which are conventionally said to be poor in heat resistance, chip components that can be surface-mounted have begun to appear due to advances in materials and technologies, as shown in FIGS. 8A and 8B, for example. As described above, the capacitor element is connected to the anode terminal 21 and the cathode terminal 22.
There has been known a solid electrolytic capacitor molded with an exterior resin 23 together with a lead frame that also functions as a lead frame.
【0003】[0003]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の外装樹脂23を施した固体電解コンデンサにおいて
は、表面実装時に封口性が低下し、外部から空気中の酸
素や水蒸気が内部へ浸入するために内部のコンデンサ素
子の劣化をきたすという恐れがあり、この原因としては
下記のような理由によるものである。However, in the conventional solid electrolytic capacitor provided with the exterior resin 23, the sealing property is reduced at the time of surface mounting, and oxygen or water vapor in the air enters from the outside to the inside. There is a fear that the internal capacitor element is deteriorated, and this is due to the following reasons.
【0004】(1)半田付け性を向上させるためにリー
ドフレームの表面に錫または半田めっきを施している
が、表面実装時の加熱によりこの低融点の金属が溶融
し、このため外装樹脂23と金属よりなるリードフレー
ム間に隙間が生じる。(1) To improve the solderability, the surface of the lead frame is plated with tin or solder. However, this low-melting metal is melted by heating during surface mounting. A gap is generated between lead frames made of metal.
【0005】(2)リードフレームに用いられている基
材金属(一般的には鉄系)と外装樹脂23の線膨張係数
が異なるため、膨張収縮により外装樹脂23と金属より
なるリードフレーム間に隙間が生じる。(2) Since the base metal (generally iron) used for the lead frame has a different linear expansion coefficient from that of the exterior resin 23, expansion and shrinkage cause a difference between the exterior resin 23 and the lead frame made of metal. Gaps occur.
【0006】本発明は上記従来の問題点を解決するもの
で、表面実装時の熱衝撃に耐えることができる信頼性の
高い固体電解コンデンサを提供することを目的とするも
のである。An object of the present invention is to solve the above-mentioned conventional problems and to provide a highly reliable solid electrolytic capacitor capable of withstanding thermal shock during surface mounting.
【0007】[0007]
【課題を解決するための手段】この課題を解決するため
に本発明の固体電解コンデンサは、コンデンサ素子の弁
作用金属部と導電体層部に導出端子となるリードフレー
ムをそれぞれ接続し、上記コンデンサ素子とリードフレ
ームの一部をモールド樹脂で外装してなる固定電解コン
デンサにおいて、上記リードフレームの表面に銅金属層
を設け、かつリードフレームとモールド樹脂の線膨張係
数を近似させた構成にしたものである。In order to solve this problem, a solid electrolytic capacitor according to the present invention comprises connecting a lead frame serving as a lead terminal to a valve metal portion and a conductor layer portion of a capacitor element, respectively. A fixed electrolytic capacitor in which a part of an element and a lead frame is covered with a mold resin, wherein a copper metal layer is provided on the surface of the lead frame and the linear expansion coefficients of the lead frame and the mold resin are approximated. It is.
【0008】この本発明により、表面実装時の加熱によ
ってリードフレームの表面の低融点の金属が溶融した
り、外装樹脂がリードフレームに比べて大きく膨張収縮
したりしないので、外装樹脂とリードフレーム間に隙間
が発生するのを防止できる。According to the present invention, since the low-melting metal on the surface of the lead frame is not melted by the heating at the time of surface mounting, and the exterior resin does not expand and shrink significantly as compared with the lead frame, the distance between the exterior resin and the lead frame is reduced. A gap can be prevented from being generated.
【0009】[0009]
【発明の実施の形態】本発明の請求項1に記載の発明
は、弁作用金属の表面に酸化皮膜層、導電性高分子層、
導電体層を順次形成することにより構成されたコンデン
サ素子の弁作用金属部と導電体層部に導出端子となるリ
ードフレームをそれぞれ接続し、上記コンデンサ素子と
リードフレームの一部をモールド樹脂で外装してなる固
体電解コンデンサにおいて、上記リードフレームの少な
くともモールド樹脂と接する面に銅金属層を設け、かつ
リードフレームとモールド樹脂の線膨張係数を近似させ
た構成としたものであり、これにより、表面実装時の加
熱によってリードフレームの表面の低融点の金属が溶融
したり、外装樹脂がリードフレームに比べて大きく膨張
収縮したりしないため、外装樹脂と金属よりなるリード
フレーム間に隙間が生じることを防止することができる
という作用を有する。BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The invention according to claim 1 of the present invention is characterized in that an oxide film layer, a conductive polymer layer,
A lead frame serving as a lead terminal is connected to the valve metal part of the capacitor element formed by sequentially forming the conductor layer and the conductor layer part, and a part of the capacitor element and the lead frame is covered with a mold resin. In the solid electrolytic capacitor, a copper metal layer is provided on at least a surface of the lead frame in contact with the mold resin, and the linear expansion coefficient of the lead frame and the mold resin is approximated. Since the low-melting metal on the surface of the lead frame does not melt due to heating during mounting, and the exterior resin does not expand and shrink more greatly than the lead frame, there is no gap between the exterior resin and the metal lead frame. It has the effect that it can be prevented.
【0010】請求項2に記載の発明は、請求項1に記載
の発明において、リードフレームの少なくともモールド
樹脂と接する表面粗さがRa値で0.9μm以上となる
粗面化処理を施した構成にしたものであり、外装樹脂と
の密着性を高めると共に、膨張収縮により発生する外装
樹脂と金属よりなるリードフレーム間の隙間をさらに高
レベルで防止することができるという作用を有する。According to a second aspect of the present invention, in the first aspect, a surface roughening treatment is performed such that the surface roughness of at least the lead frame in contact with the mold resin is 0.9 μm or more in Ra value. This has the effect of increasing the adhesion to the exterior resin and preventing the gap between the exterior resin and the lead frame made of metal caused by expansion and contraction at a higher level.
【0011】請求項3に記載の発明は、請求項1または
2に記載の発明において、モールド樹脂から露出したリ
ードフレームの外表面に金金属層を形成した構成のもの
で、インピーダンス特性の優れた固体電解コンデンサが
得られるという作用を有する。According to a third aspect of the present invention, in the first or second aspect of the present invention, a gold metal layer is formed on an outer surface of a lead frame exposed from a mold resin. It has the effect that a solid electrolytic capacitor can be obtained.
【0012】以下、本発明の実施の形態について添付図
面を用いて説明する。Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.
【0013】(実施の形態1)まず図1に示すように、
厚さ100μmの弁作用金属であるアルミニウム箔1の
所定の位置に片面に接着剤を塗布したポリイミド製の絶
縁テープ2を貼り付け、それを打ち抜いて図1に示すよ
うな櫛形電極6を得た。なお、この櫛形電極6における
上記絶縁テープ2は、櫛形電極6の突起部3を陰極部4
と陽極部5に区分するために貼り付けしているものであ
る。次に、この櫛形電極6を重合性物質としてピロール
を、かつ支持電解質としてトリイソプロピルナフタレン
スルホン酸を水に溶かした重合液中で重合を行い、導電
性高分子膜8(図2参照)を形成した。さらに、その上
にグラファイト層9および銀ペイント層10からなる導
電体層を公知の方法で順次形成した後、図1に示すA−
A線で突起部3を切断し、図2(a)、(b)に示すコ
ンデンサ素子11を得た。(Embodiment 1) First, as shown in FIG.
A polyimide insulating tape 2 coated with an adhesive on one side is attached to a predetermined position of an aluminum foil 1 which is a valve metal having a thickness of 100 μm and punched out to obtain a comb-shaped electrode 6 as shown in FIG. . The insulating tape 2 of the comb-shaped electrode 6 is formed such that the protrusion 3 of the comb-shaped electrode 6 is
And the anode part 5. Next, polymerization is performed in a polymerization solution in which pyrrole is used as the comb-shaped electrode 6 as a polymerizable substance and triisopropylnaphthalenesulfonic acid is used as a supporting electrolyte in water to form a conductive polymer film 8 (see FIG. 2). did. Further, a conductive layer composed of a graphite layer 9 and a silver paint layer 10 is sequentially formed thereon by a known method.
The projection 3 was cut along the line A to obtain the capacitor element 11 shown in FIGS. 2 (a) and 2 (b).
【0014】次に、図3に示すように、厚さ0.1mm
の鉄基材(SPCC)を打ち抜いてリードフレーム12
を作製し、このリードフレーム12の表面に厚さ1μm
の銅めっきよりなる銅金属層を形成した後、サンドブラ
スト法によってその表面を粗面化した。続いて、図4
(a)、(b)に示すリードフレーム12上のコンデン
サ素子11の陰極部側と対応する位置に銀ペイントを少
量塗布してコンデンサ素子11を積層することにより載
置した。この際、コンデンサ素子11の陰極部側は、図
4(a)、(b)に示すように陰極底部止め13と陰極
側部止め14を直角に曲げることにより固定した。一
方、コンデンサ素子11の陽極部側は2段に折り曲げ、
陽極側部止め15と陽極押さえ部16で密着させた。さ
らに、陽極部側は陽極押さえ部16の上からレーザ溶接
を行って接合し、かつ陰極部側は高温処理によって銀ペ
イントよりなる接着剤を硬化させることにより接続し
た。Next, as shown in FIG.
Punched iron base material (SPCC)
And a thickness of 1 μm is formed on the surface of the lead frame 12.
After forming a copper metal layer made of copper plating, the surface was roughened by sandblasting. Subsequently, FIG.
A small amount of silver paint was applied to a position corresponding to the cathode side of the capacitor element 11 on the lead frame 12 shown in (a) and (b), and the capacitor element 11 was placed by lamination. At this time, the cathode side of the capacitor element 11 was fixed by bending the cathode bottom stopper 13 and the cathode side stopper 14 at right angles as shown in FIGS. 4 (a) and 4 (b). On the other hand, the anode side of the capacitor element 11 is bent in two steps,
The anode side stopper 15 and the anode pressing part 16 were brought into close contact with each other. Further, the anode portion was joined by performing laser welding from above the anode pressing portion 16, and the cathode portion was connected by hardening an adhesive made of silver paint by high-temperature treatment.
【0015】このようにしてコンデンサ素子11が載置
されて接続されたリードフレーム12を図示しない金型
に配置し、図5に示すようにエポキシ樹脂17でモール
ド成形した後、リードフレーム12を切り離して個片と
した固体電解コンデンサを得た。The lead frame 12 on which the capacitor element 11 is mounted and connected as described above is arranged in a mold (not shown), and is molded with an epoxy resin 17 as shown in FIG. Thus, a solid electrolytic capacitor was obtained.
【0016】このようにして得られた固体電解コンデン
サの封口性を評価するため、250±5℃の高温槽中に
5分間放置した後、室温中に取り出す作業を3回繰り返
す熱処理を行ったものを次のような封口性試験を行うこ
とにより評価した。固体電解コンデンサの試験用サンプ
ルを7kg/cm2の放射線Kr85の雰囲気に30分
間保持した後、写真乾板上で感光させることにより、封
口性が悪くKrが圧入されているものを検出した。この
結果を(表1)に示す。In order to evaluate the sealing performance of the solid electrolytic capacitor obtained in this way, a heat treatment was performed in which the solid electrolytic capacitor was left in a high-temperature bath at 250 ± 5 ° C. for 5 minutes and then taken out to room temperature three times. Was evaluated by performing the following sealing test. After holding the test sample of the solid electrolytic capacitor in an atmosphere of radiation Kr85 of 7 kg / cm 2 for 30 minutes, it was exposed on a photographic dry plate to detect that the sealing property was poor and Kr was press-fitted. The results are shown in (Table 1).
【0017】[0017]
【表1】 [Table 1]
【0018】この(表1)からわかるように、鉄材を使
用したリードフレーム12において、鉄の線膨張係数
1.17に近い線膨張係数を有したモールド樹脂(ジシ
クロ)を用いることで封口性に大きな効果があることが
分かる。As can be seen from Table 1, in the lead frame 12 using an iron material, the sealing property is improved by using a mold resin (dicyclo) having a linear expansion coefficient close to the linear expansion coefficient of iron of 1.17. It turns out that there is a great effect.
【0019】(実施の形態2)厚さ0.1mmの鉄基材
(SPCC)の表面に銅めっきよりなる銅金属層を形成
した後、サンドブラスト法によってその表面の粗面化処
理を行い、その表面粗さRa値を変えたりリードフレー
ム12を用いて上記実施の形態1で得られた固体電解コ
ンデンサを作製したものについて、封口性の評価を実施
の形態1で用いた方法により行った。この結果を図6に
示す。(Embodiment 2) After a copper metal layer made of copper plating is formed on the surface of an iron base material (SPCC) having a thickness of 0.1 mm, the surface is roughened by sandblasting. With respect to the solid electrolytic capacitor obtained in the above-described first embodiment manufactured by changing the surface roughness Ra value or using the lead frame 12, the sealing performance was evaluated by the method used in the first embodiment. The result is shown in FIG.
【0020】図6からわかるように、上記実施の形態1
で得られた固体電解コンデンサを、表面粗さがRa値で
0.9以上になるように粗面化処理されたリードフレー
ム11上に接合することで封口性の低下を抑えることが
できるものである。As can be seen from FIG. 6, the first embodiment is described.
By joining the solid electrolytic capacitor obtained in the above to the lead frame 11 which has been subjected to a surface roughening treatment so that the surface roughness becomes 0.9 or more in Ra value, it is possible to suppress a decrease in sealing property. is there.
【0021】(実施の形態3)実施の形態2で作製した
固体電解コンデンサのエポキシ樹脂17より露出した陽
極端子と陰極端子に図7に示すように保護金属層として
の金めっき層18を形成した。このようにして作製した
固体電解コンデンサならびに金めっき層18に代えて銀
めっき、錫−鉛めっき、錫めっき層を形成したサンプル
についてインピーダンス特性を測定した結果を(表2)
に示す。(Embodiment 3) A gold plating layer 18 as a protective metal layer is formed on the anode terminal and the cathode terminal exposed from the epoxy resin 17 of the solid electrolytic capacitor manufactured in Embodiment 2 as shown in FIG. . The results of measuring the impedance characteristics of the solid electrolytic capacitor manufactured in this way and the sample in which silver plating, tin-lead plating, and tin plating layer were formed instead of the gold plating layer 18 were obtained (Table 2).
Shown in
【0022】[0022]
【表2】 [Table 2]
【0023】(表2)から明らかなように、金めっき層
18を形成することによって電気伝導率が向上するため
にインピーダンス特性に優れた固体電解コンデンサを得
ることができるものである。As is apparent from Table 2, the formation of the gold plating layer 18 improves the electric conductivity, so that a solid electrolytic capacitor having excellent impedance characteristics can be obtained.
【0024】なお、本実施の形態においては、保護金属
層の材料として金めっき層18を用いた例を示したが、
本発明はこれに限定されるものでなく、電気伝導率の優
れた材料を使用することでインピーダンス特性の優れた
固体電解コンデンサが得られることは言うまでもない。In this embodiment, an example in which the gold plating layer 18 is used as the material of the protective metal layer has been described.
The present invention is not limited to this, and it goes without saying that a solid electrolytic capacitor having excellent impedance characteristics can be obtained by using a material having excellent electric conductivity.
【0025】[0025]
【発明の効果】以上のように本発明による固体電解コン
デンサは、コンデンサ素子の弁作用金属部と導電体層部
にそれぞれ接続される導出端子となるリードフレームの
表面に銅金属層を形成するとともにその表面を粗面化
し、かつリードフレームとモールド樹脂の線膨張係数を
近似させているため、リードフレームをプリント基板に
半田付けにより表面実装する場合、半田付け性が優れた
ものが得られるばかりでなく、表面実装時における膨張
収縮の熱衝撃にも耐えることができ、封口性に優れた信
頼性の高い固体電解コンデンサを得ることができるもの
である。As described above, in the solid electrolytic capacitor according to the present invention, the copper metal layer is formed on the surface of the lead frame serving as the lead terminal connected to the valve metal portion and the conductor layer portion of the capacitor element. Since the surface is roughened and the linear expansion coefficient of the lead frame and the mold resin is approximated, when the lead frame is surface-mounted on a printed circuit board by soldering, it is only possible to obtain an excellent solderability. In addition, it can withstand the thermal shock of expansion and contraction during surface mounting, and can obtain a highly reliable solid electrolytic capacitor having excellent sealing performance.
【図1】本発明の実施の形態1に使用したアルミニウム
箔を打ち抜いた櫛形電極の平面図FIG. 1 is a plan view of a comb-shaped electrode punched out of aluminum foil used in Embodiment 1 of the present invention.
【図2】(a)実施の形態1のコンデンサ素子の平面図 (b)同(a)におけるB−B線断面図FIG. 2A is a plan view of the capacitor element according to the first embodiment; FIG.
【図3】実施の形態1で使用したリードフレームを示す
平面図FIG. 3 is a plan view showing a lead frame used in the first embodiment.
【図4】(a)図3のリードフレームの部分拡大図 (b)同(a)のリードフレームにコンデンサ素子を搭
載した状態を示す部分拡大図4A is a partially enlarged view of the lead frame of FIG. 3; FIG. 4B is a partially enlarged view of a state where a capacitor element is mounted on the lead frame of FIG. 3A;
【図5】実施の形態1でコンデンサ素子をリードフレー
ムとともに樹脂成形した状態を示す平面図FIG. 5 is a plan view showing a state in which the capacitor element is resin-molded together with the lead frame in the first embodiment.
【図6】実施の形態2による気密性不良と表面粗さの関
係を示す特性図FIG. 6 is a characteristic diagram showing a relationship between poor airtightness and surface roughness according to the second embodiment.
【図7】本発明の第3の実施の形態による固体電解コン
デンサの構成を示す断面図FIG. 7 is a sectional view showing a configuration of a solid electrolytic capacitor according to a third embodiment of the present invention.
【図8】(a)従来の固体電解コンデンサを示す上面図 (b)同固体電解コンデンサの正面図FIG. 8A is a top view showing a conventional solid electrolytic capacitor. FIG. 8B is a front view of the solid electrolytic capacitor.
1 アルミニウム箔 2 絶縁テープ 3 突起部 4 陰極部 5 陽極部 6 櫛形電極 7 酸化皮膜層 8 導電性高分子膜 9 グラファイト層 10 銀ペイント層 11 コンデンサ素子 12 リードフレーム 13 陰極底部止め 14 陰極側部止め 15 陽極側部止め 16 陽極押さえ部 17 エポキシ樹脂 18 金めっき層 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Aluminum foil 2 Insulating tape 3 Protrusion part 4 Cathode part 5 Anode part 6 Comb electrode 7 Oxide film layer 8 Conductive polymer film 9 Graphite layer 10 Silver paint layer 11 Capacitor element 12 Lead frame 13 Cathode bottom stop 14 Cathode side stop 15 Anode side stop 16 Anode holding part 17 Epoxy resin 18 Gold plating layer
Claims (3)
高分子層、導電体層を順次形成することにより構成され
たコンデンサ素子の弁作用金属部と導電体層部に導出端
子となるリードフレームをそれぞれ接続し、上記コンデ
ンサ素子とリードフレームの一部をモールド樹脂で外装
してなる固体電解コンデンサにおいて、上記リードフレ
ームの少なくともモールド樹脂と接する面に銅金属層を
設け、かつリードフレームとモールド樹脂の線膨張係数
を近似させた固体電解コンデンサ。1. A capacitor element formed by sequentially forming an oxide film layer, a conductive polymer layer, and a conductor layer on the surface of a valve metal, and serving as a lead terminal on the valve metal part and the conductor layer part of the capacitor element. In a solid electrolytic capacitor in which a lead frame is connected and a part of the capacitor element and the lead frame is covered with a mold resin, a copper metal layer is provided on at least a surface of the lead frame in contact with the mold resin, and the lead frame A solid electrolytic capacitor that approximates the linear expansion coefficient of the mold resin.
脂と接する面に表面粗さがRa値で0.9μm以上とな
る粗面化処理を施した請求項1に記載の固体電解コンデ
ンサ。2. The solid electrolytic capacitor according to claim 1, wherein at least a surface of the lead frame in contact with the mold resin has been subjected to a surface roughening treatment so that the surface roughness has an Ra value of 0.9 μm or more.
ムの外表面に金金属層を形成した請求項1または2に記
載の固体電解コンデンサ。3. The solid electrolytic capacitor according to claim 1, wherein a gold metal layer is formed on an outer surface of the lead frame exposed from the mold resin.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11138192A JP2000049056A (en) | 1998-05-27 | 1999-05-19 | Solid-state electrolytic capacitor |
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---|---|---|---|
JP14534198 | 1998-05-27 | ||
JP10-145341 | 1998-05-27 | ||
JP11138192A JP2000049056A (en) | 1998-05-27 | 1999-05-19 | Solid-state electrolytic capacitor |
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- 1999-05-19 JP JP11138192A patent/JP2000049056A/en active Pending
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