JP3168584B2 - Solid electrolytic capacitors - Google Patents

Solid electrolytic capacitors

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JP3168584B2
JP3168584B2 JP00892591A JP892591A JP3168584B2 JP 3168584 B2 JP3168584 B2 JP 3168584B2 JP 00892591 A JP00892591 A JP 00892591A JP 892591 A JP892591 A JP 892591A JP 3168584 B2 JP3168584 B2 JP 3168584B2
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【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は電子機器に用いられ、特
に表面実装時に優れた特性を示す固体電解コンデンサに
関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a solid electrolytic capacitor for use in electronic equipment, and particularly to a solid electrolytic capacitor exhibiting excellent characteristics when mounted on a surface.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、電子機器の進歩とともに電子部品
のチップ化が進み、電子回路の組立が表面実装により行
われることが主流となってきた。このため、チップ部品
のリード端子の半田付け性が要求されることは勿論、二
百数十度の温度に長時間耐える耐熱性も要求されるよう
になってきた。従来、耐熱性に乏しいといわれた電解コ
ンデンサの分野でも材料と技術の進歩により、表面実装
のできるチップ部品が現れ始めた。例えば、図10
(a),(b)に示すように、コンデンサ素子を陽極端
子1および陰極端子2を兼ねるリードフレームとともに
樹脂でモールドして樹脂外装3を施した固体電解コンデ
ンサが知られている。
2. Description of the Related Art In recent years, with the progress of electronic equipment, electronic components have been formed into chips, and it has become mainstream that electronic circuits are assembled by surface mounting. Therefore, not only the solderability of the lead terminals of the chip component is required, but also the heat resistance that can withstand a temperature of more than two hundred and several tens of degrees has been required. Conventionally, in the field of electrolytic capacitors, which are said to have poor heat resistance, chip components that can be surface-mounted have begun to appear due to advances in materials and technology. For example, FIG.
As shown in (a) and (b), there is known a solid electrolytic capacitor in which a capacitor element is molded with a resin together with a lead frame which also serves as an anode terminal 1 and a cathode terminal 2 to form a resin exterior 3.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな樹脂外装3を施した固体電解コンデンサにおいて
は、表面実装時に封口性が低下し、外部から空気中の酸
素や水蒸気が内部に浸入するため、内部のコンデンサ素
子の劣化をきたすことがしばしばあった。この原因は下
記のような理由によるものである。
However, in a solid electrolytic capacitor provided with such a resin sheath 3, the sealing property is reduced at the time of surface mounting, and oxygen or water vapor in the air enters from the outside. Often, the internal capacitor elements deteriorated. This is due to the following reasons.

【0004】(1)半田付け性を向上させるためにリー
ドフレームの表面に錫または半田メッキを施しているた
め、表面実装時にこの低融点の金属が溶融し、外装樹脂
3と金属よりなるリードフレーム間に空隙が生じる。
(1) Since the surface of the lead frame is tin-plated or solder-plated in order to improve the solderability, the low-melting metal is melted at the time of surface mounting, and the lead frame formed of the exterior resin 3 and the metal. Voids are created between them.

【0005】(2)リードフレームに用いられている基
材金属(一般的には鉄系)に比べ、外装樹脂3の膨張係
数が異なるため、膨張収縮により、外装樹脂と金属より
なるリードフレーム間に空隙が生じる。
(2) Since the expansion coefficient of the exterior resin 3 is different from that of the base metal (generally iron-based) used for the lead frame, the expansion and contraction causes the expansion of the lead frame between the exterior resin and the metal. A void is generated in

【0006】本発明は上記従来の問題点を解決するもの
で、表面実装時の熱衝撃に耐える信頼性の高い固体電解
コンデンサを提供することを目的とする。
An object of the present invention is to solve the above-mentioned conventional problems, and an object of the present invention is to provide a highly reliable solid electrolytic capacitor that can withstand thermal shock during surface mounting.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明の固体電解コンデンサは、弁金属の表面に酸化
皮膜,導電物質層,導電性高分子膜,導体層を順次形成
してコンデンサ素子を構成するとともに、このコンデン
サ素子の弁金属部と導体層部に導出端子となるリードフ
レームを接続し、さらに前記コンデンサ素子とリードフ
レームの一部をモールド樹脂で外装する固体電解コンデ
ンサにおいて、前記リードフレームは表面に銅金属層を
有し、かつその表面が粗面化された構成にしたものであ
る。
In order to achieve the above object, a solid electrolytic capacitor according to the present invention comprises a capacitor formed by sequentially forming an oxide film, a conductive material layer, a conductive polymer film, and a conductive layer on the surface of a valve metal. A solid electrolytic capacitor comprising a component, connecting a lead frame serving as a lead terminal to a valve metal part and a conductor layer part of the capacitor element, and further covering a part of the capacitor element and the lead frame with a mold resin. The lead frame has a copper metal layer on the surface and has a roughened surface.

【0008】[0008]

【作用】上記構成によれば、コンデンサ素子の弁金属部
と導体層部に接続される導出端子となるリードフレーム
の表面に銅金属層を形成するとともに、その表面を粗面
化しているため、リードフレームをプリント基板に半田
付けにより表面実装する場合、半田付け性が優れたもの
が得られるとともに、樹脂外装との密着性も他の金属に
比べてはるかに優れているため、表面実装時における膨
張収縮の熱衝撃にも耐えることができ、しかもその表面
を粗面化しているため、封口性も優れたものが得られ、
その結果、信頼性の高い固体電解コンデンサを得ること
ができるものである。
According to the above arrangement, the copper metal layer is formed on the surface of the lead frame serving as the lead terminal connected to the valve metal portion and the conductor layer portion of the capacitor element, and the surface is roughened. When a lead frame is surface-mounted on a printed circuit board by soldering, not only is it possible to obtain excellent solderability, but also the adhesion to the resin exterior is much better than other metals. It can withstand the thermal shock of expansion and contraction, and because its surface is roughened, it also has excellent sealing performance,
As a result, a highly reliable solid electrolytic capacitor can be obtained.

【0009】[0009]

【実施例】以下、本発明の各実施例を添付図面にもとづ
いて説明する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings.

【0010】(実施例1)まず、厚さ100μmの弁金
属であるアルミニウム箔の所定の位置に、片面に装着剤
を塗布したポリイミドの絶縁フィルムを貼付け、それを
打ち抜いて図1に示す櫛形電極11を得た。この櫛形電
極11における絶縁フィルム12は櫛形電極11の突起
部13を陰極部14と陽極部15に区分している。そし
て図2(a),(b)に示すように、陰極部14の酸化
皮膜16の上に硝酸マンガンの水溶液を含浸させた後、
約300℃で熱処理することにより、二酸化マンガンよ
りなる導電物質層17を形成した。次に、重合性物質と
してピロールを、かつ支持電解質としてトリイソプロピ
ールナフタレンスルフォン酸を水に溶解した重合液中で
電解重合を行い、導電物質層17の上に導電性高分子膜
18を形成した。さらに、その上にグラファイト層19
および銀ペイント層20からなる導体層を公知の方法で
順次形成した後、図1に示すA−A線で突起部13を切
断し、図2(a),(b)に示すコンデンサ素子21を
得た。
(Embodiment 1) First, a polyimide insulating film coated with a mounting agent on one side is attached to a predetermined position of an aluminum foil which is a valve metal having a thickness of 100 μm, and is punched out to form a comb-shaped electrode shown in FIG. 11 was obtained. The insulating film 12 of the comb electrode 11 divides the projection 13 of the comb electrode 11 into a cathode portion 14 and an anode portion 15. Then, as shown in FIGS. 2A and 2B, after impregnating an aqueous solution of manganese nitrate on the oxide film 16 of the cathode portion 14,
By conducting a heat treatment at about 300 ° C., a conductive material layer 17 made of manganese dioxide was formed. Next, electrolytic polymerization was performed in a polymerization solution in which pyrrole was used as the polymerizable substance and triisopropyl naphthalene sulfonic acid was dissolved in water as the supporting electrolyte, and the conductive polymer film 18 was formed on the conductive material layer 17. . Further, a graphite layer 19 is formed thereon.
After sequentially forming a conductor layer made of a silver paint layer 20 by a known method, the protrusion 13 is cut along the line AA shown in FIG. 1 to form a capacitor element 21 shown in FIGS. 2 (a) and 2 (b). Obtained.

【0011】次に、厚さ0.1mmの鉄基材SPCCを打
ち抜き、その表面に厚さ1μmの銅メッキよりなる銅金
属層を形成した後、サンドブラスト法によってその表面
を粗面化した図3および図4(a),(b)に示すリー
ドフレーム22上の陰極部間と対応する位置に銀ペイン
トを少量塗布してコンデンサ素子21を積層することに
より載置した。この場合、コンデンサ素子21の陰極部
側は、図4(a),(b)に示すように陰極底部止め2
3と陰極側部止め24を直角に折曲げることにより固定
した。一方、コンデンサ素子21の陽極部側は2段に折
曲げ、陽極側部止め25と陽極押さえ部26で密着させ
た。さらに、陽極部側は陽極押さえ部26の上からレー
ザ溶接を行って接合し、かつ陰極部側は高温処理によっ
て銀ペイントよりなる接着剤を硬化させることにより接
続した。
Next, an iron base material SPCC having a thickness of 0.1 mm was punched out, a copper metal layer made of copper plating having a thickness of 1 μm was formed on the surface, and the surface was roughened by sandblasting. 4 (a) and 4 (b), a small amount of silver paint was applied to a position corresponding to the space between the cathode portions on the lead frame 22, and the capacitor element 21 was stacked. In this case, the cathode side of the capacitor element 21 is connected to the cathode bottom stopper 2 as shown in FIGS. 4 (a) and 4 (b).
3 and the cathode side stopper 24 were fixed by bending at right angles. On the other hand, the anode part side of the capacitor element 21 was bent in two steps, and was brought into close contact with the anode side stopper 25 and the anode pressing part 26. Further, the anode portion side was joined by performing laser welding from above the anode pressing portion 26, and the cathode portion side was connected by curing an adhesive made of silver paint by high-temperature treatment.

【0012】このようにコンデンサ素子21を設置した
リードフレーム22を金型に設置し、かつ図5に示すよ
うにエポキシ樹脂27でモールド成形した後、リードフ
レーム22を切り離して固体電解コンデンサを得た。
The lead frame 22 on which the capacitor element 21 is installed is set in a mold and molded with an epoxy resin 27 as shown in FIG. 5, and then the lead frame 22 is cut off to obtain a solid electrolytic capacitor. .

【0013】こうして得られたコンデンサの封口性の評
価は250±5℃の高温槽中に5分間放置した後、室温
中に取り出すことを3回繰り返す熱処理を行ったものを
次のような封口性試験によりテストした。すなわち、コ
ンデンササンプルを7kg/cm 2の放射性Kr85の雰囲
気中に30分間保持した後、写真乾板上で感光させるこ
とにより、封口性の悪いKrが圧入されているものを検
出した。
Evaluation of the sealing performance of the capacitor thus obtained
After leaving the product in a high temperature bath at 250 ± 5 ° C for 5 minutes,
The thing which performed the heat treatment which repeats taking out inside 3 times
It was tested by the following sealing test. That is,
7 kg / cm TwoAtmosphere of radioactive Kr85
After holding in the air for 30 minutes, expose on a photographic plate.
As a result, it is detected that Kr with poor sealing property is press-fitted.
Issued.

【0014】この結果を(表1)に示す。 (実施例2)厚さ0.1mmの鉄基材SPCCの表面に厚
さを変えて銅メッキよりなる銅金属層を形成し、かつそ
の表面に粗面化処理を行ったリードフレームと粗面化処
理を行っていないリードフレームを使用して実施例1と
同じようにコンデンサを製作したものについて、封口性
の評価を行った。この結果を同じく(表1)に示す。
The results are shown in (Table 1). (Example 2) A lead frame and a roughened surface in which a copper metal layer made of copper plating was formed by changing the thickness on a surface of an iron base material SPCC having a thickness of 0.1 mm, and the surface was subjected to a surface roughening treatment. The sealing performance was evaluated for a capacitor manufactured in the same manner as in Example 1 using a lead frame that had not been subjected to a surface treatment. The results are also shown in (Table 1).

【0015】[0015]

【表1】 [Table 1]

【0016】(比較例1)厚さ0.1mmの鉄基材SPC
Cの表面に厚さ3μmの銅メッキよりなる銅金属層を形
成するとともに、その上に厚さを変えて錫メッキを施
し、かつその表面に粗面化処理を行ったリードフレーム
と粗面化処理を行っていないリードフレームを使用して
実施例1と同じようにコンデンサを製作したものについ
て、封口性の評価を行った。この結果を(表2)に示
す。
(Comparative Example 1) Iron-based SPC having a thickness of 0.1 mm
Form a copper metal layer made of copper plating with a thickness of 3 μm on the surface of C, change the thickness of the copper metal layer, apply tin plating, and roughen the surface with a lead frame. The sealing performance was evaluated for a capacitor manufactured using the untreated lead frame in the same manner as in Example 1. The results are shown in (Table 2).

【0017】[0017]

【表2】 [Table 2]

【0018】(比較例2)厚さ0.1mmのニッケル板を
打ち抜き、その表面に厚さを変えて銅メッキよりなる銅
金属層を形成した後、その表面を粗面化したリードフレ
ームを使用して実施例1と同じようにコンデンサを製作
したものについて、封口性の評価を行った。この結果を
(表2)に示す。
(Comparative Example 2) A nickel plate having a thickness of 0.1 mm was punched out, a copper metal layer made of copper plating was formed on the surface by changing the thickness, and a lead frame whose surface was roughened was used. Then, a capacitor manufactured in the same manner as in Example 1 was evaluated for sealing performance. The results are shown in (Table 2).

【0019】(実施例3)厚さ0.1mmの鉄基材SPC
Cに、塩酸10%,硫酸0.5%の水溶液中で電流密度
100A/cm2の条件で電解エッチングを行った後、厚
さを変えて銅メッキよりなる銅金属層を形成したリード
フレームを使用して実施例1と同じようにコンデンサを
製作したものについて、封口性の評価を行った。この結
果を(表1)に示す。
Example 3 Iron-based SPC having a thickness of 0.1 mm
C, electrolytically etching in an aqueous solution of 10% hydrochloric acid and 0.5% sulfuric acid at a current density of 100 A / cm 2 , changing the thickness, and forming a copper metal layer made of copper plating. The sealing performance of a capacitor manufactured using the same method as in Example 1 was evaluated. The results are shown in (Table 1).

【0020】上述したような結果からわかったことは、
錫のような低融点の金属を表面にメッキしたものは、封
口性が非常に悪く、また鉄やニッケルのような金属では
表面を粗面化してもあまり大きな効果は得られないが、
本発明の実施例のように、リードフレームの表面に銅メ
ッキよりなる銅金属層を形成し、かつその表面を粗面化
することにより、初めて完全な封口性を得ることができ
るものである。なお、表面の粗面化は機械的なサンドブ
ラストなどの方法に限らず、電解エッチングのような化
学的な方法でも効果のあることがわかった。
What we have learned from the above results is that
Those with a low melting point metal such as tin plated on the surface have very poor sealing properties, and with metals such as iron and nickel, roughening the surface does not provide much effect,
As in the embodiment of the present invention, a complete sealing property can be obtained only by forming a copper metal layer made of copper plating on the surface of the lead frame and roughening the surface. In addition, it turned out that the surface roughening is effective not only by a method such as mechanical sandblasting but also by a chemical method such as electrolytic etching.

【0021】以上の効果を再確認するために、実施例1
の固体電解コンデンサと、比較例1の厚さ10μmの錫
メッキを施した後、粗面化処理をしていないコンデンサ
を各10個用意し、そしてこれらに250℃の高温槽中
で熱処理を行った後、105℃で10Vを印加する高温
負荷寿命試験を行った結果を図6に示した。なお、ここ
で使用したコンデンサ素子は突起部13の寸法が3×7
mmのものを5枚積層し、定格10V,22μFのコンデ
ンサを構成した。この図6から明らかなように、100
0時間経過後において、実施例1のコンデンサはほとん
ど容量劣化が認められないのに対し、比較例1のコンデ
ンサは10%以上の容量低下が現われている。
In order to reconfirm the above effects, the first embodiment
After subjecting the solid electrolytic capacitor of Comparative Example 1 to tin plating with a thickness of 10 μm of Comparative Example 1, ten capacitors each having not been subjected to surface roughening treatment were prepared, and these were subjected to a heat treatment in a high-temperature bath at 250 ° C. After that, a result of a high-temperature load life test in which 10 V was applied at 105 ° C. was performed, and the results are shown in FIG. The size of the projection 13 of the capacitor element used here was 3 × 7.
Five capacitors having a thickness of 10 mm and a rating of 22 μF were laminated. As is apparent from FIG.
After the elapse of 0 hours, the capacitor of Example 1 shows almost no capacity deterioration, whereas the capacitor of Comparative Example 1 shows a capacity reduction of 10% or more.

【0022】(実施例4)次に、タンタル固体電解コン
デンサへの適用を行った。すなわち、図7に示すよう
に、タンタル粉末約100mgをバインダーと混合し、直
径0.3mmのタンタル線31とともにプレス成形した
後、焼結することにより、成形体32を得た。この成形
体32の寸法は3×3×1mmであった。次いで、この成
形体32に燐酸水溶液中で30V化成を行い、その後、
この成形体32に硝酸マンガン水溶液を含浸させ、かつ
約250℃で熱分解する操作を数回繰り返し、二酸化マ
ンガン層を形成した。さらに、公知の方法でグラファイ
ト層,銀ペイント層からなる導体層を順次形成し、コン
デンサ素子を構成した。そしてこのコンデンサ素子は、
図8(a)に示すような形状で、厚さ0.1mmの鉄基材
SPCCの表面に厚さ1μmの銅メッキよりなる銅金属
層を形成した後、サンドブラスト法によりその表面を粗
面化したリードフレーム33に接続するが、この場合、
陰極は銀ペイントを接着剤として陰極搭載部34に、陽
極部のタンタル線31は陽極搭載部35にそれぞれ抵抗
溶接により接続した。そしてこのリードフレームを金型
に設置し、エポキシ樹脂でモールド成形を行うことによ
り、図8(b)に示すような成形体36を構成し、かつ
リードフレーム33の不要部分を切断して所定のタンタ
ル固体電解コンデンサを得た。このコンデンサの定格は
10V,22μFである。
Embodiment 4 Next, application to a tantalum solid electrolytic capacitor was performed. That is, as shown in FIG. 7, about 100 mg of tantalum powder was mixed with a binder, pressed with a tantalum wire 31 having a diameter of 0.3 mm, and then sintered to obtain a molded body 32. The dimensions of the molded body 32 were 3 × 3 × 1 mm. Next, the molded body 32 is subjected to 30V chemical conversion in a phosphoric acid aqueous solution, and thereafter,
The operation of impregnating the molded body 32 with an aqueous solution of manganese nitrate and thermally decomposing at about 250 ° C. was repeated several times to form a manganese dioxide layer. Further, a conductor layer composed of a graphite layer and a silver paint layer was sequentially formed by a known method to form a capacitor element. And this capacitor element,
After forming a copper metal layer made of copper plating with a thickness of 1 μm on the surface of an iron base material SPCC having a thickness of 0.1 mm and having a shape as shown in FIG. 8A, the surface is roughened by sandblasting. Connected to the lead frame 33,
The cathode was connected to the cathode mounting portion 34 using silver paint as an adhesive, and the tantalum wire 31 of the anode portion was connected to the anode mounting portion 35 by resistance welding. Then, the lead frame is placed in a mold and molded with an epoxy resin to form a molded body 36 as shown in FIG. 8B, and unnecessary portions of the lead frame 33 are cut to a predetermined shape. A tantalum solid electrolytic capacitor was obtained. The rating of this capacitor is 10 V, 22 μF.

【0023】(比較例3)リードフレームの材料とし
て、鉄基材SPCCの表面に厚さ3μmの銅メッキより
なる銅金属層を形成し、その上に厚さ3μmの共晶半田
メッキを施した以外は実施例4と同様にしてタンタル固
体電解コンデンサを得た。
(Comparative Example 3) As a material for a lead frame, a copper metal layer made of copper plating with a thickness of 3 μm was formed on the surface of an iron base material SPCC, and eutectic solder plating with a thickness of 3 μm was applied thereon. Except for the above, a tantalum solid electrolytic capacitor was obtained in the same manner as in Example 4.

【0024】上記実施例4と比較例3で製作したタンタ
ル固体電解コンデンサについて、前述した封口性の評価
を行った結果を(表3)に示す。この(表3)からも、
導電性高分子固体電解コンデンサと同様に表面に銅金属
層を形成し、かつその表面に粗面化処理を行えばよいこ
との効果が確認された。
With respect to the tantalum solid electrolytic capacitors manufactured in Example 4 and Comparative Example 3, the results of the above-described evaluation of the sealing property are shown in Table 3 below. From this (Table 3),
The effect of forming a copper metal layer on the surface similarly to the conductive polymer solid electrolytic capacitor and performing the surface roughening treatment was confirmed.

【0025】[0025]

【表3】 [Table 3]

【0026】また、85℃90%RHの高温多湿中で10
Vを印加する負荷寿命試験を行った結果を図9に示し
た。ここでも、同様な結果が得られたが、タンタル固体
電解コンデンサは中味のコンデンサ素子が強いため、容
量変化は小さいが、漏れ電流は湿度により1桁以上の変
化を示している。
In a high temperature and high humidity of 85 ° C. and 90% RH,
FIG. 9 shows the results of a load life test in which V was applied. Here, similar results were obtained, but the tantalum solid electrolytic capacitor has a small capacity change due to the strong content of the capacitor element, but the leakage current shows a change of one digit or more depending on the humidity.

【0027】なお、上記実施例においては、リードフレ
ームの粗面化を行う場合、リードフレームの全面に粗面
化を行っているが、本発明の主旨から外装樹脂との接触
面だけの部分的な粗面化のみでも実施例と同様な効果が
期待できるものである。
In the above embodiment, when the lead frame is roughened, the entire surface of the lead frame is roughened. However, from the gist of the present invention, only the contact surface with the exterior resin is partially formed. An effect similar to that of the embodiment can be expected only by rough surface roughening.

【0028】[0028]

【発明の効果】以上のように本発明の固体電解コンデン
サによれば、コンデンサ素子の弁金属部と導体層部に接
続される導出端子となるリードフレームの表面に銅金属
層を形成するとともに、その表面を粗面化しているた
め、リードフレームをプリント基板に半田付けにより表
面実装する場合、半田付け性が優れたものが得られると
ともに、樹脂外装との密着性も他の金属に比べてはるか
に優れているため、表面実装時における膨張収縮の熱衝
撃にも耐えることができ、しかもその表面を粗面化して
いるため、封口性も優れたものが得られ、その結果、信
頼性の高い固体電解コンデンサを得ることができるもの
である。
As described above, according to the solid electrolytic capacitor of the present invention, a copper metal layer is formed on the surface of a lead frame serving as a lead terminal connected to a valve metal portion and a conductor layer portion of a capacitor element. Because the surface is roughened, when soldering a lead frame to a printed circuit board by surface mounting, it is possible to obtain an excellent solderability, and the adhesion to the resin exterior is far more than that of other metals. It can withstand the thermal shock of expansion and shrinkage during surface mounting, and because its surface is roughened, it also has excellent sealing performance, resulting in high reliability A solid electrolytic capacitor can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施例1に使用したアルミニウム箔を
打ち抜いた櫛形電極の概要図
FIG. 1 is a schematic diagram of a comb-shaped electrode punched out of aluminum foil used in Example 1 of the present invention.

【図2】(a)実施例1のコンデンサ素子の平面図 (b)(a)におけるB−B線断面図FIG. 2A is a plan view of the capacitor element of the first embodiment. FIG. 2B is a cross-sectional view taken along line BB in FIG.

【図3】実施例1で使用したリードフレームの形状を示
す横断面図
FIG. 3 is a cross-sectional view showing the shape of the lead frame used in Example 1.

【図4】(a)図3のリードフレームの概要を示す部分
拡大図 (b)(a)のリードフレームにコンデンサ素子を搭載
した状態を示す部分拡大図
4A is a partially enlarged view showing an outline of the lead frame shown in FIG. 3; FIG. 4B is a partially enlarged view showing a state where a capacitor element is mounted on the lead frame shown in FIG. 3A;

【図5】実施例1でコンデンサ素子をリードフレームと
ともに樹脂成形した形状を示す概要図
FIG. 5 is a schematic view showing a shape in which a capacitor element is resin-molded together with a lead frame in Example 1.

【図6】本発明の実施例と比較例での高温寿命試験の特
性変化の比較を示すグラフ
FIG. 6 is a graph showing a comparison of a change in characteristics of a high-temperature life test between an example of the present invention and a comparative example.

【図7】実施例4に使用したタンタルコンデンサの素子
焼結体の形状を示す斜視図
FIG. 7 is a perspective view showing the shape of an element sintered body of a tantalum capacitor used in Example 4.

【図8】(a)実施例4に使用したタンタルコンデンサ
用リードフレームの形状を示す部分横断面図(b)同リ
ードフレームにコンデンサ素子を搭載して樹脂成形した
形状を示す部分横断面図
8A is a partial cross-sectional view showing the shape of a tantalum capacitor lead frame used in Example 4; FIG. 8B is a partial cross-sectional view showing a shape obtained by mounting a capacitor element on the lead frame and molding the resin;

【図9】実施例4と比較例3の湿中寿命試験での特性変
化を示すグラフ
FIG. 9 is a graph showing a change in characteristics of the example 4 and the comparative example 3 in a wet life test.

【図10】(a)従来の固体電解コンデンサを示す上面
図(b)同固体電解コンデンサの側面図
10A is a top view showing a conventional solid electrolytic capacitor, and FIG. 10B is a side view of the solid electrolytic capacitor.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11 櫛形電極 16 酸化皮膜 17 導電物質層 18 導電性高分子膜 19 グラファイト層 20 銀ペイント層 21 コンデンサ素子 22 リードフレーム DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 Comb electrode 16 Oxide film 17 Conductive material layer 18 Conductive polymer film 19 Graphite layer 20 Silver paint layer 21 Capacitor element 22 Lead frame

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 川村 賢二 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電 器産業株式会社内 (72)発明者 山下 洋司 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電 器産業株式会社内 (72)発明者 青島 洋一 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電 器産業株式会社内 (72)発明者 山下 実 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電 器産業株式会社内 (56)参考文献 特開 平2−267917(JP,A) (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) H01G 9/004 H01G 9/15 ──────────────────────────────────────────────────の Continuing on the front page (72) Kenji Kawamura 1006 Kazuma Kadoma, Osaka Prefecture Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. (72) Yoji Yamashita 1006 Kazama Kadoma Kadoma City, Osaka Matsushita Electric Industrial Co. (72) Inventor Yoichi Aoshima 1006 Kadoma Kadoma, Osaka Prefecture Inside Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. (72) Inventor Minoru Yamashita 1006 Odaka Kadoma Kadoma City, Osaka Prefecture Matsushita Electric Industrial Co. JP-A-2-267917 (JP, A) (58) Fields investigated (Int. Cl. 7 , DB name) H01G 9/004 H01G 9/15

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】弁金属の表面に酸化皮膜,導電物質層,導
電性高分子膜,導体層を順次形成してコンデンサ素子を
構成するとともに、このコンデンサ素子の弁金属部と導
体層部に導出端子となるリードフレームを接続し、さら
に前記コンデンサ素子とリードフレームの一部をモール
ド樹脂で外装する固体電解コンデンサにおいて、前記リ
ードフレームは表面に銅金属層を有し、かつその表面が
粗面化されていることを特徴とする固体電解コンデン
サ。
1. A capacitor element is formed by sequentially forming an oxide film, a conductive material layer, a conductive polymer film, and a conductor layer on the surface of a valve metal, and is led to a valve metal portion and a conductor layer portion of the capacitor element. In a solid electrolytic capacitor to which a lead frame serving as a terminal is connected and a part of the capacitor element and the lead frame is covered with a mold resin, the lead frame has a copper metal layer on a surface, and the surface is roughened. A solid electrolytic capacitor characterized by being made.
【請求項2】リードフレームの表面の粗面化をサンドブ
ラスト法により行った請求項1記載の固体電解コンデン
サ。
2. The solid electrolytic capacitor according to claim 1, wherein the surface of the lead frame is roughened by a sand blast method.
【請求項3】リードフレームの表面の粗面化をエッチン
グ法により行った請求項1記載の固体電解コンデンサ。
3. The solid electrolytic capacitor according to claim 1, wherein the surface of the lead frame is roughened by an etching method.
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