JP2000046801A - 永久磁石の検査方法および検査装置 - Google Patents
永久磁石の検査方法および検査装置Info
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- JP2000046801A JP2000046801A JP10228709A JP22870998A JP2000046801A JP 2000046801 A JP2000046801 A JP 2000046801A JP 10228709 A JP10228709 A JP 10228709A JP 22870998 A JP22870998 A JP 22870998A JP 2000046801 A JP2000046801 A JP 2000046801A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 粉末図形法を利用しつつも、目視に依存する
ことなく、多数の永久磁石について、表面のきずや偏析
等の欠陥を、定量的に、かつ正確に層別する方法と、そ
の装置を提供すること。 【解決手段】 粉末図形法によって写し出される永久磁
石１の表面における磁界分布の像を、２値化方式画像解
析するとともに、予め設定された基準と照合し、永久磁
石１を層別することによって永久磁石１の検査を行な
う。マグネットビュア３、２値化方式画像解析装置２を
基本構成とし、搬送機構４をはじめとする各機構を備
え、制御器８によってシーケンス動作させる永久磁石の
検査装置を構築し、検査の自動化を実現する。
ことなく、多数の永久磁石について、表面のきずや偏析
等の欠陥を、定量的に、かつ正確に層別する方法と、そ
の装置を提供すること。 【解決手段】 粉末図形法によって写し出される永久磁
石１の表面における磁界分布の像を、２値化方式画像解
析するとともに、予め設定された基準と照合し、永久磁
石１を層別することによって永久磁石１の検査を行な
う。マグネットビュア３、２値化方式画像解析装置２を
基本構成とし、搬送機構４をはじめとする各機構を備
え、制御器８によってシーケンス動作させる永久磁石の
検査装置を構築し、検査の自動化を実現する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、永久磁石の検査手
段に関し、とくに永久磁石表面のきず、偏析等の有無に
ついての検査方法と検査装置に関する。
段に関し、とくに永久磁石表面のきず、偏析等の有無に
ついての検査方法と検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】永久磁石は、回転機器、磁性物質の吸脱
着、さらにはセンサーなど、様々な分野に使用されてい
る。特に、近年は、例えば、ＭＲＩ装置に代表される大
型機器、又マイクロマシンに代表される超小型機器等、
広範な分野に使用されており、永久磁石に対する要求条
件も多岐にわたっている。
着、さらにはセンサーなど、様々な分野に使用されてい
る。特に、近年は、例えば、ＭＲＩ装置に代表される大
型機器、又マイクロマシンに代表される超小型機器等、
広範な分野に使用されており、永久磁石に対する要求条
件も多岐にわたっている。
【０００３】このような背景の中、永久磁石の品質に対
する要求条件は厳しさを増している。例えば、不可避的
に発生する微細な表面クラックや、組織上の微視的な偏
析の、許容範囲が大幅に狭くなってきた。品質検査方法
の主流をなしてきた、目視並びに拡大鏡による従来の外
観検査では、層別を行うことが困難になっている。
する要求条件は厳しさを増している。例えば、不可避的
に発生する微細な表面クラックや、組織上の微視的な偏
析の、許容範囲が大幅に狭くなってきた。品質検査方法
の主流をなしてきた、目視並びに拡大鏡による従来の外
観検査では、層別を行うことが困難になっている。
【０００４】強磁性材料の磁区観察のために開発された
粉末図形法を、永久磁石にも適用し、永久磁石の微細な
磁気の乱れをもって表面欠陥の有無を目視で検査する方
法が、従来、採られてきた。
粉末図形法を、永久磁石にも適用し、永久磁石の微細な
磁気の乱れをもって表面欠陥の有無を目視で検査する方
法が、従来、採られてきた。
【０００５】粉末図形法は、検査対象物の表面に、カバ
ーグラスを隔てて、滴下した磁性流体といわれる磁性コ
ロイドが、磁壁に凝集し、磁区模様を呈し、磁区図形の
観察に古くから利用されてきた手法である。磁壁のみな
らず、磁性体表面にきずや偏析等による組織の不均一が
ある場合には、一様性を欠いた磁性コロイドのパターン
として表される。粉末図形法は、高価な設備を必要とせ
ず、手軽に実施できる上、１０μｍ程度の表面欠陥をも
見ることができるなどの特徴がある。
ーグラスを隔てて、滴下した磁性流体といわれる磁性コ
ロイドが、磁壁に凝集し、磁区模様を呈し、磁区図形の
観察に古くから利用されてきた手法である。磁壁のみな
らず、磁性体表面にきずや偏析等による組織の不均一が
ある場合には、一様性を欠いた磁性コロイドのパターン
として表される。粉末図形法は、高価な設備を必要とせ
ず、手軽に実施できる上、１０μｍ程度の表面欠陥をも
見ることができるなどの特徴がある。
【０００６】磁性コロイドを収容したセルを検査対象物
の表面に載せるだけで、粉末図形法による磁区図形や表
面欠陥の影響による微細な磁気の乱れ等を観察できるマ
グネットビュアが市販されている。
の表面に載せるだけで、粉末図形法による磁区図形や表
面欠陥の影響による微細な磁気の乱れ等を観察できるマ
グネットビュアが市販されている。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】しかし、粉末図形法に
より、多数の永久磁石について、表面欠陥を定量的に目
視で層別することは困難である。
より、多数の永久磁石について、表面欠陥を定量的に目
視で層別することは困難である。
【０００８】本発明は、粉末図形法を利用しつつも、目
視に依存することなく、多数の永久磁石について、表面
のきずや偏析等の欠陥を、定量的に、かつ正確に層別す
る方法と、その装置を提供することを目的とする。
視に依存することなく、多数の永久磁石について、表面
のきずや偏析等の欠陥を、定量的に、かつ正確に層別す
る方法と、その装置を提供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明による永久磁石の
検査は、粉末図形法によって写し出される永久磁石の表
面における磁界分布の像を、画像解析するとともに、予
め設定された基準と照合し、永久磁石を層別することに
よって行われる。
検査は、粉末図形法によって写し出される永久磁石の表
面における磁界分布の像を、画像解析するとともに、予
め設定された基準と照合し、永久磁石を層別することに
よって行われる。
【００１０】本発明による永久磁石の検査装置は、永久
磁石の表面に搭載することによって永久磁石の表面にお
ける磁界分布の像を粉末図形法によって写し出すマグネ
ットビュア、写し出された磁界分布の像を画像解析し、
予め設定された基準と照合し、永久磁石を層別する画像
解析装置から構成される。
磁石の表面に搭載することによって永久磁石の表面にお
ける磁界分布の像を粉末図形法によって写し出すマグネ
ットビュア、写し出された磁界分布の像を画像解析し、
予め設定された基準と照合し、永久磁石を層別する画像
解析装置から構成される。
【００１１】前記の構成を含み、画像解析装置のもとに
永久磁石を搬送する搬送機構、搬送機構に永久磁石を搭
載する搭載機構、永久磁石を検査する前後に、永久磁石
にマグネットビュアをセッティングし、除去するリフト
機構、２値化方式画像解析装置による検査を終えた永久
磁石を回収し、層別する仕分け機構、および、各機構を
シーケンス動作させる制御器から構成される永久磁石の
検査装置によって、検査の自動化を実現することができ
る。
永久磁石を搬送する搬送機構、搬送機構に永久磁石を搭
載する搭載機構、永久磁石を検査する前後に、永久磁石
にマグネットビュアをセッティングし、除去するリフト
機構、２値化方式画像解析装置による検査を終えた永久
磁石を回収し、層別する仕分け機構、および、各機構を
シーケンス動作させる制御器から構成される永久磁石の
検査装置によって、検査の自動化を実現することができ
る。
【００１２】
【発明の実施の形態】以下に、本発明の実施の形態につ
いて、図面を参照して説明する。
いて、図面を参照して説明する。
【００１３】図１は、本発明による永久磁石の検査装置
の構成を示す説明図である。図２は、図１に示す永久磁
石の検査装置のシーケンスダイヤグラムである。
の構成を示す説明図である。図２は、図１に示す永久磁
石の検査装置のシーケンスダイヤグラムである。
【００１４】図１に示すように、本発明による永久磁石
の検査装置は、２値化方式画像解析装置２、マグネット
ビュア３、リフト機構６、搬送機構４、搭載機構５、仕
分け機構７、および、これらの各機構をシーケンス動作
させる制御器８から構成されている。
の検査装置は、２値化方式画像解析装置２、マグネット
ビュア３、リフト機構６、搬送機構４、搭載機構５、仕
分け機構７、および、これらの各機構をシーケンス動作
させる制御器８から構成されている。
【００１５】図１において、まず、搭載機構５によって
搬送機構４に搭載された被検査物である永久磁石１は、
搬送機構４によって２値化方式画像解析装置２のもとに
移送される。２値化方式画像解析装置２のもとで、リフ
ト機構６を動作させて永久磁石１の表面にマグネットビ
ュア３をセッティングする。マグネットビュア３には、
永久磁石１の表面の表面における磁界分布が粉末図形法
によって描き出される。この表面における磁界分布を２
値化方式画像解析装置２によって、画像として取り込
み、画像の乱れを解析し、予め設定された基準と照合
し、永久磁石１を層別する。
搬送機構４に搭載された被検査物である永久磁石１は、
搬送機構４によって２値化方式画像解析装置２のもとに
移送される。２値化方式画像解析装置２のもとで、リフ
ト機構６を動作させて永久磁石１の表面にマグネットビ
ュア３をセッティングする。マグネットビュア３には、
永久磁石１の表面の表面における磁界分布が粉末図形法
によって描き出される。この表面における磁界分布を２
値化方式画像解析装置２によって、画像として取り込
み、画像の乱れを解析し、予め設定された基準と照合
し、永久磁石１を層別する。
【００１６】層別の完了とともに、リフト機構６によっ
てその地点でマグネットビュア３を持ち上げ、その上で
搬送機構４を駆動して新たな永久磁石１を２値化方式画
像解析装置２のもとに移動させる。リフト機構６によっ
て、新たな永久磁石１の表面にマグネットビュア３をセ
ッティングし、当該永久磁石１を層別する。
てその地点でマグネットビュア３を持ち上げ、その上で
搬送機構４を駆動して新たな永久磁石１を２値化方式画
像解析装置２のもとに移動させる。リフト機構６によっ
て、新たな永久磁石１の表面にマグネットビュア３をセ
ッティングし、当該永久磁石１を層別する。
【００１７】他方、層別された永久磁石１は、その結果
にもとづいて、仕分け機構７によって仕分け回収され
る。
にもとづいて、仕分け機構７によって仕分け回収され
る。
【００１８】これらの一連のシーケンス動作は制御器８
によって制御され、その結果として、多数の永久磁石の
検査を自動的に実行することが可能となる。
によって制御され、その結果として、多数の永久磁石の
検査を自動的に実行することが可能となる。
【００１９】本永久磁石の検査装置を、ストロンチウム
・フェライト永久磁石の連続検査に適用し、１時間あた
り、１８３５個の処理能力が得られた。その結果は、従
来の目視法の検査に比べて、５倍以上の処理能力に相当
するものであった。
・フェライト永久磁石の連続検査に適用し、１時間あた
り、１８３５個の処理能力が得られた。その結果は、従
来の目視法の検査に比べて、５倍以上の処理能力に相当
するものであった。
【００２０】なお、前記の連続した多数の永久磁石の検
査に先立ち、２値化方式画像解析装置、およびマグネッ
トビュアの基本要素から構成される単純な永久磁石の検
査装置を用い、Ｓｍ−Ｃｏ系永久磁石を検査した。本検
査方法の結果、画像に乱れがあると判定されたＳｍ−Ｃ
ｏ系永久磁石を、別途、走査型電子顕微鏡にて拡大観察
したところ、明らかに微細な表面欠陥が生じていること
が確認された。他方、画像乱れを発生しなかった永久磁
石も、同様に、走査型電子顕微鏡観察では、表面欠陥は
認められないことから、本発明による永久磁石の検査装
置が十分に信頼できることを確認した。
査に先立ち、２値化方式画像解析装置、およびマグネッ
トビュアの基本要素から構成される単純な永久磁石の検
査装置を用い、Ｓｍ−Ｃｏ系永久磁石を検査した。本検
査方法の結果、画像に乱れがあると判定されたＳｍ−Ｃ
ｏ系永久磁石を、別途、走査型電子顕微鏡にて拡大観察
したところ、明らかに微細な表面欠陥が生じていること
が確認された。他方、画像乱れを発生しなかった永久磁
石も、同様に、走査型電子顕微鏡観察では、表面欠陥は
認められないことから、本発明による永久磁石の検査装
置が十分に信頼できることを確認した。
【００２１】
【発明の効果】以上、説明したように、本発明によっ
て、粉末図形法を利用しつつも、目視に依存することな
く、多数の永久磁石について、表面のきずや偏析等の欠
陥を、定量的に、かつ正確に層別することが自動化でき
るようになった。
て、粉末図形法を利用しつつも、目視に依存することな
く、多数の永久磁石について、表面のきずや偏析等の欠
陥を、定量的に、かつ正確に層別することが自動化でき
るようになった。
【図１】本発明による永久磁石の検査装置の構成を示す
説明図。
説明図。
【図２】図１に示す永久磁石の検査装置のシーケンスダ
イヤグラム。
イヤグラム。
１ 永久磁石 ２ ２値化方式画像解析装置 ３ マグネットビュア ４ 搬送機構 ５ 搭載機構 ６ リフト機構 ７ 仕分け機構 ８ 制御器
Claims (3)
- 【請求項１】 粉末図形法によって写し出される永久磁
石の表面における磁界分布の像を、画像解析するととも
に、予め設定された基準と照合し、前記永久磁石を層別
することを特徴とする永久磁石の検査方法。 - 【請求項２】 永久磁石の表面の状態を検査する永久磁
石の検査装置において、前記永久磁石の表面に搭載する
ことによって該永久磁石の表面における磁界分布の像を
粉末図形法によって写し出すマグネットビュア、前記写
し出された磁界分布の像を画像解析し、予め設定された
基準と照合し、前記永久磁石を層別する画像解析装置か
ら構成されることを特徴とする永久磁石の検査装置。 - 【請求項３】 請求項２記載の構成を含み、 前記画像解
析装置のもとに前記永久磁石を搬送する搬送機構、該搬
送機構に前記永久磁石を搭載する搭載機構、該永久磁石
を検査する前後に、該永久磁石に前記マグネットビュア
をセッティングし、除去するリフト機構、前記画像解析
装置による層別を終えた前記永久磁石を、仕分け、回収
する仕分け機構、および、前記各機構をシーケンス動作
させる制御器から構成されることを特徴とする永久磁石
の検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10228709A JP2000046801A (ja) | 1998-07-28 | 1998-07-28 | 永久磁石の検査方法および検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10228709A JP2000046801A (ja) | 1998-07-28 | 1998-07-28 | 永久磁石の検査方法および検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000046801A true JP2000046801A (ja) | 2000-02-18 |
Family
ID=16880588
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10228709A Withdrawn JP2000046801A (ja) | 1998-07-28 | 1998-07-28 | 永久磁石の検査方法および検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000046801A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007071659A (ja) * | 2005-09-06 | 2007-03-22 | Internatl Superconductivity Technology Center | 連続型磁束観察装置および方法 |
| JP2008058054A (ja) * | 2006-08-30 | 2008-03-13 | Tdk Corp | 永久磁石の着磁状態判定方法及び着磁状態判定装置 |
| JP2012185155A (ja) * | 2011-02-14 | 2012-09-27 | Magcam Nv | 磁性システムを特徴付けるための装置および方法 |
| JP5943140B2 (ja) * | 2013-02-25 | 2016-06-29 | 日産自動車株式会社 | 磁石評価装置およびその方法 |
| US10464132B2 (en) | 2013-05-24 | 2019-11-05 | Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha | Permanent magnet source powder fabrication method, permanent magnet fabrication method, and permanent magnet raw material powder inspection method |
-
1998
- 1998-07-28 JP JP10228709A patent/JP2000046801A/ja not_active Withdrawn
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007071659A (ja) * | 2005-09-06 | 2007-03-22 | Internatl Superconductivity Technology Center | 連続型磁束観察装置および方法 |
| JP4579107B2 (ja) * | 2005-09-06 | 2010-11-10 | 財団法人国際超電導産業技術研究センター | 連続型磁束観察装置および方法 |
| JP2008058054A (ja) * | 2006-08-30 | 2008-03-13 | Tdk Corp | 永久磁石の着磁状態判定方法及び着磁状態判定装置 |
| JP2012185155A (ja) * | 2011-02-14 | 2012-09-27 | Magcam Nv | 磁性システムを特徴付けるための装置および方法 |
| US9739843B2 (en) | 2011-02-14 | 2017-08-22 | Magcam Nv | Arrangement and method for characterizing magnetic systems |
| JP5943140B2 (ja) * | 2013-02-25 | 2016-06-29 | 日産自動車株式会社 | 磁石評価装置およびその方法 |
| US10464132B2 (en) | 2013-05-24 | 2019-11-05 | Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha | Permanent magnet source powder fabrication method, permanent magnet fabrication method, and permanent magnet raw material powder inspection method |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20041220 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20051219 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20051227 |
|
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