JP2000046695A - 偏波依存性精密測定機器 - Google Patents
偏波依存性精密測定機器Info
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- JP2000046695A JP2000046695A JP10208340A JP20834098A JP2000046695A JP 2000046695 A JP2000046695 A JP 2000046695A JP 10208340 A JP10208340 A JP 10208340A JP 20834098 A JP20834098 A JP 20834098A JP 2000046695 A JP2000046695 A JP 2000046695A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 被測定素子のゲインのリップの影響をなく
す。 【解決手段】 光ファイバアンプ１０１から光スペクト
ルアナライザ１２２に至る測定系において、ファイバ１
０４を任意の角度だけ回転させて、ファイバアンプ１０
１から出射させる光の特定の直線偏波面と、その直線偏
波面と垂直の直線偏波面とをＴＥ．ＴＭ方向に一致させ
る。
す。 【解決手段】 光ファイバアンプ１０１から光スペクト
ルアナライザ１２２に至る測定系において、ファイバ１
０４を任意の角度だけ回転させて、ファイバアンプ１０
１から出射させる光の特定の直線偏波面と、その直線偏
波面と垂直の直線偏波面とをＴＥ．ＴＭ方向に一致させ
る。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光ファイバを使用
する光通信機器、光交換機、光情報処理機器等に適用可
能な、光デバイスの偏波依存性を測定する偏波依存性精
密測定機器に関する。
する光通信機器、光交換機、光情報処理機器等に適用可
能な、光デバイスの偏波依存性を測定する偏波依存性精
密測定機器に関する。
【０００２】
【従来の技術】光通信、光交換、光情報処理といった光
を利用した光伝送処理システムの構築を考えると、各々
のデバイスの偏波依存性が大きな問題となる。そこで光
ファイバや光スイッチでの光損失を補償するために、半
導体レーザ型の光増幅素子を用いる。これは図３に示す
ような半導体レーザの両端面に無反射コーティングを施
したものであるが、入力信号光の偏波状態によってゲイ
ン特性が変動してしまうと、受光側の受光レベルが時間
と共に変動し、受信感度が大きく低下してしまう。その
ため各デバイスに対して、例えば偏波依存性０．５ｄＢ
以下といった性能が要求され、偏波依存性の測定を行う
必要がある。
を利用した光伝送処理システムの構築を考えると、各々
のデバイスの偏波依存性が大きな問題となる。そこで光
ファイバや光スイッチでの光損失を補償するために、半
導体レーザ型の光増幅素子を用いる。これは図３に示す
ような半導体レーザの両端面に無反射コーティングを施
したものであるが、入力信号光の偏波状態によってゲイ
ン特性が変動してしまうと、受光側の受光レベルが時間
と共に変動し、受信感度が大きく低下してしまう。その
ため各デバイスに対して、例えば偏波依存性０．５ｄＢ
以下といった性能が要求され、偏波依存性の測定を行う
必要がある。
【０００３】この際、半導体レーザ型の光増幅素子等の
デバイスにフアイバを実装してモジュールにする前の段
階、すなわちチップ状態での測定を行わなければならな
い。通常、偏波依存性の測定を行うにはある特定の波長
をもつ入力光の偏波を回転させ、そのときのゲインを測
定する。
デバイスにフアイバを実装してモジュールにする前の段
階、すなわちチップ状態での測定を行わなければならな
い。通常、偏波依存性の測定を行うにはある特定の波長
をもつ入力光の偏波を回転させ、そのときのゲインを測
定する。
【０００４】このため、従来は１／２波長板と１／４波
長板を組み合わせた偏波コントローラを利用して偏波依
存性の測定を行っていた。図４は従来の偏波コントロー
ラを用いた偏波依存性を測定する装置の構成を示す。図
４において、１１００は光源、１１０１は偏波ローテー
タ、１１０２は１／４波長板である。１１０３は１／２
波長板、１１０４、１１０５は先球ファイバ、１１０６
は測定対象の半導体レーザ型の光増幅素子、１１０７は
受光素子である。
長板を組み合わせた偏波コントローラを利用して偏波依
存性の測定を行っていた。図４は従来の偏波コントロー
ラを用いた偏波依存性を測定する装置の構成を示す。図
４において、１１００は光源、１１０１は偏波ローテー
タ、１１０２は１／４波長板である。１１０３は１／２
波長板、１１０４、１１０５は先球ファイバ、１１０６
は測定対象の半導体レーザ型の光増幅素子、１１０７は
受光素子である。
【０００５】ここで偏波面を回すのには波長板１１０
２、１１０３を機械的に回転することで実現する。この
とき、最大のゲインを持つのが素子のＴＥ（もしくはＴ
Ｍ）方向であり、逆に最小の値を示すのがＴＭ（もしく
はＴＥ）方向である。従って、両者の差を出すことで偏
波依存性を求める（測定する）ことができる。
２、１１０３を機械的に回転することで実現する。この
とき、最大のゲインを持つのが素子のＴＥ（もしくはＴ
Ｍ）方向であり、逆に最小の値を示すのがＴＭ（もしく
はＴＥ）方向である。従って、両者の差を出すことで偏
波依存性を求める（測定する）ことができる。
【０００６】ちなみにＴＥモードはＴｒａｎｓｖｅｒｓ
ｅ ｅｌｅｃｔｒｉｃ モード、ＴＭモードはＴｒａｎ
ｓｖｅｒｓｅ ｍａｇｎｅｔｉｃ モードのことであ
る。
ｅ ｅｌｅｃｔｒｉｃ モード、ＴＭモードはＴｒａｎ
ｓｖｅｒｓｅ ｍａｇｎｅｔｉｃ モードのことであ
る。
【０００７】ところが、上述の無反射コーティングが完
全ではなく、例えば０，５％の反射が残留する場合、光
増幅素子のゲインは波長によって山谷（いわゆるリップ
ル）が生じる。このリップルの状態はＴＥ方向とＴＭ方
向で異なる。リップルのある場合、とない場合のゲイン
の状態を図２（Ａ），（Ｂ）に示す。図２（Ａ）に示す
ようにリップルがある場合には、波長によつてＴＥとＴ
Ｍのゲインが変わってしまうことがある。従って、ある
特定の波長で測定するだけでは、全体の偏波依存性（Ｔ
Ｅのゲイン−ＴＭのゲイン）の傾向を求めることができ
ない。
全ではなく、例えば０，５％の反射が残留する場合、光
増幅素子のゲインは波長によって山谷（いわゆるリップ
ル）が生じる。このリップルの状態はＴＥ方向とＴＭ方
向で異なる。リップルのある場合、とない場合のゲイン
の状態を図２（Ａ），（Ｂ）に示す。図２（Ａ）に示す
ようにリップルがある場合には、波長によつてＴＥとＴ
Ｍのゲインが変わってしまうことがある。従って、ある
特定の波長で測定するだけでは、全体の偏波依存性（Ｔ
Ｅのゲイン−ＴＭのゲイン）の傾向を求めることができ
ない。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】以上、述べたように、
従来はある特定の波長の入力光を１／２波長板と１／４
波長板を組み合わせた偏波コントローラを利用して偏波
面を回転させることで偏波依存性の測定を行っていた
が、光増幅素子に残留反射がある場合、波長によってＴ
ＥとＴＭのゲインが変わってしまい、ある特定の波長で
測定した場合、全体の偏波依存性（ＴＥのゲイン−ＴＭ
のゲイン）が得られない問題があった。
従来はある特定の波長の入力光を１／２波長板と１／４
波長板を組み合わせた偏波コントローラを利用して偏波
面を回転させることで偏波依存性の測定を行っていた
が、光増幅素子に残留反射がある場合、波長によってＴ
ＥとＴＭのゲインが変わってしまい、ある特定の波長で
測定した場合、全体の偏波依存性（ＴＥのゲイン−ＴＭ
のゲイン）が得られない問題があった。
【０００９】そこで、本発明の目的は、上述の点に鑑み
て、リップルがある場合にも偏波依存性の測定ができる
偏波依存性精密測定機器を提供することにある。
て、リップルがある場合にも偏波依存性の測定ができる
偏波依存性精密測定機器を提供することにある。
【００１０】
【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るために、請求項１の発明は、広い波長帯域の自然放出
光を放出する手段と、当該放出された自然放出光のう
ち、第１の直線偏波面を持つ光と該第１の直線偏波面と
垂直の第２の直線偏波面を持つ光とを切り替える偏光切
り替え手段と、前記第１の直線偏波面または前記第２の
直線偏波面を持つ光信号を被測定素子に入射する手段
と、該被測定素子からの出力光を光ファイバを介して受
光する手段と、当該受光した出力光の一部を固定または
可変の光バンドフィルタで切り出すとともに、その切り
出した出力光の強度を観察する手段とを有し、前記第１
の直線偏波面および第２の直線偏波面を前記被測定素子
のＴＥ方向、ＴＭ方向にそれぞれ一致させるように調整
することを特徴とする。
るために、請求項１の発明は、広い波長帯域の自然放出
光を放出する手段と、当該放出された自然放出光のう
ち、第１の直線偏波面を持つ光と該第１の直線偏波面と
垂直の第２の直線偏波面を持つ光とを切り替える偏光切
り替え手段と、前記第１の直線偏波面または前記第２の
直線偏波面を持つ光信号を被測定素子に入射する手段
と、該被測定素子からの出力光を光ファイバを介して受
光する手段と、当該受光した出力光の一部を固定または
可変の光バンドフィルタで切り出すとともに、その切り
出した出力光の強度を観察する手段とを有し、前記第１
の直線偏波面および第２の直線偏波面を前記被測定素子
のＴＥ方向、ＴＭ方向にそれぞれ一致させるように調整
することを特徴とする。
【００１１】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施形態を詳細に設営する。
施形態を詳細に設営する。
【００１２】以下図面を参照して本発明の実施例につい
て説明する。図１は本発明の偏波依存性精密測定機器を
使った測定系の構成を示す。図１において、１０１は波
長帯域１５３０〜１５６０ｎｍのような広帯域自然放出
光を出力する光ファイバアンプである。１０２はある特
定の直線偏波面Ｂ（被測定素子のＴＥ方向）しか透過し
ない偏向子である。１０３、１０４は直線偏波面を保存
する偏波面保持ファイバである。
て説明する。図１は本発明の偏波依存性精密測定機器を
使った測定系の構成を示す。図１において、１０１は波
長帯域１５３０〜１５６０ｎｍのような広帯域自然放出
光を出力する光ファイバアンプである。１０２はある特
定の直線偏波面Ｂ（被測定素子のＴＥ方向）しか透過し
ない偏向子である。１０３、１０４は直線偏波面を保存
する偏波面保持ファイバである。
【００１３】また１０５は１／２波長板であり、これを
抜き差しすることで直線偏波面Ｂと、直線偏波面Ｂに垂
直な直線偏波面Ｃ（ＴＭ方向）を持つ光を切り替えるこ
とができる。１／２波長版１０５を通過した光が先球フ
ァイバ１１９によって被測定素子１２０、すなわち、偏
波依存性の測定の対象となる被測定素子に入力される。
被測定素子１２０からの出力光は先球ファイバ１２１を
通じて取り出された後、光スペクトルアナライザ１２２
に入射される。光スペクトルアナライザ１２２は入射さ
れた光の波長スペクトルをモニタ（観察）する。
抜き差しすることで直線偏波面Ｂと、直線偏波面Ｂに垂
直な直線偏波面Ｃ（ＴＭ方向）を持つ光を切り替えるこ
とができる。１／２波長版１０５を通過した光が先球フ
ァイバ１１９によって被測定素子１２０、すなわち、偏
波依存性の測定の対象となる被測定素子に入力される。
被測定素子１２０からの出力光は先球ファイバ１２１を
通じて取り出された後、光スペクトルアナライザ１２２
に入射される。光スペクトルアナライザ１２２は入射さ
れた光の波長スペクトルをモニタ（観察）する。
【００１４】このような構成において、光スペクトルア
ナライザ１２２において、入射光をモニタしながらファ
イバ１０４を手動／自動により回転させることにより、
上記被測定素子の直線偏波面ＢをＴＥ方向に一致させ、
上記被測定素子の直線偏波面ＣをＴＭ方向に一致させる
ように調整する。より具体的には被測定素子１２０にリ
ップルがある場合は図２（Ａ）に示すような波形が光ス
ペクトルアナライザ１２２で観察されるが、ファイバ１
０４を試行錯誤的に回転させて図２（Ａ）のＴＥ光とＴ
Ｍ光の差が最大となったときに直線偏波面Ｂ，ＣがＴ
Ｅ．ＴＭ方向に一致したことになる。このときに得られ
たスペクトルが測定結果となる。このとき、図２（Ａ）
に見られるように山谷が大きく、偏波依存性の数値が確
定できない場合には、光スペクトルアナライザの分解能
（レゾリューション）を落とすことで、平均化し、図２
（Ｂ）に見られるような結果を得ることができる。
ナライザ１２２において、入射光をモニタしながらファ
イバ１０４を手動／自動により回転させることにより、
上記被測定素子の直線偏波面ＢをＴＥ方向に一致させ、
上記被測定素子の直線偏波面ＣをＴＭ方向に一致させる
ように調整する。より具体的には被測定素子１２０にリ
ップルがある場合は図２（Ａ）に示すような波形が光ス
ペクトルアナライザ１２２で観察されるが、ファイバ１
０４を試行錯誤的に回転させて図２（Ａ）のＴＥ光とＴ
Ｍ光の差が最大となったときに直線偏波面Ｂ，ＣがＴ
Ｅ．ＴＭ方向に一致したことになる。このときに得られ
たスペクトルが測定結果となる。このとき、図２（Ａ）
に見られるように山谷が大きく、偏波依存性の数値が確
定できない場合には、光スペクトルアナライザの分解能
（レゾリューション）を落とすことで、平均化し、図２
（Ｂ）に見られるような結果を得ることができる。
【００１５】以上の実施形態の調整を行うと、図２
（Ｂ）のような直線的な広帯域性を持つ波形となり、依
存性測定を行った場合には．依存性の測定結果はＴＥと
ＴＭの光ゲインの差となって現れる。したがって、リッ
プルがある素子の場合にも全体の偏波依存性を求めるこ
とができる。
（Ｂ）のような直線的な広帯域性を持つ波形となり、依
存性測定を行った場合には．依存性の測定結果はＴＥと
ＴＭの光ゲインの差となって現れる。したがって、リッ
プルがある素子の場合にも全体の偏波依存性を求めるこ
とができる。
【００１６】なお、上記の光ファイバアンプと偏光子と
を組み合わせる代わりに、偏波面保存ファイバアンプ、
ＬＥＤ、半導体レーザを広い波長帯域の自然光を放出す
る手段として使用することでも同様な効果を得ることが
できる。また、光スペクトルアナライザの代わりに、固
定または可変の光バンドパスフィルタと、ＰＤ、ＡＰ
Ｄ、光パワーメータといった光の強度を測定する手段を
用いることでも同様の効果を持たせることができる。こ
のときは、バンドパスフィルタの帯域が小さい場合（例
えば１ｎｍ）ではリップルの影響が大きく見えてしまう
が、例えば５ｎｍ以上の帯域をもつバンドパスフィルタ
を用いて、切り出した信号光を平均化することでリップ
ルの影響を排除することができる。
を組み合わせる代わりに、偏波面保存ファイバアンプ、
ＬＥＤ、半導体レーザを広い波長帯域の自然光を放出す
る手段として使用することでも同様な効果を得ることが
できる。また、光スペクトルアナライザの代わりに、固
定または可変の光バンドパスフィルタと、ＰＤ、ＡＰ
Ｄ、光パワーメータといった光の強度を測定する手段を
用いることでも同様の効果を持たせることができる。こ
のときは、バンドパスフィルタの帯域が小さい場合（例
えば１ｎｍ）ではリップルの影響が大きく見えてしまう
が、例えば５ｎｍ以上の帯域をもつバンドパスフィルタ
を用いて、切り出した信号光を平均化することでリップ
ルの影響を排除することができる。
【００１７】
【発明の効果】以上、説明したように、本発明によれ
ば、広い波長帯域を持った自然放出光が被測定素子に入
力される。この自然放出光に対して、広帯域の波長に対
して直線波形で最大もしくは最小の値をとるＴＥ方向お
よびＴＭ方向の偏波面を持つように調整されているの
で、広い帯域の偏波依存性を測定することが可能にな
る。
ば、広い波長帯域を持った自然放出光が被測定素子に入
力される。この自然放出光に対して、広帯域の波長に対
して直線波形で最大もしくは最小の値をとるＴＥ方向お
よびＴＭ方向の偏波面を持つように調整されているの
で、広い帯域の偏波依存性を測定することが可能にな
る。
【図１】本発明実施形態の構成を示す構成図である。
【図２】依存性の測定結果を示す波形図である。
【図３】光増幅素子の構造を示す斜視図である。
【図４】従来例の構成を示す構成図である。
１０１ （光）ファイバアンプ １０２ 偏光子 １０３，１０４ （偏波面保持）ファイバ １０５ １／２は波長板 １１９，１２１ 先球ファイバ １２０ 被測定素子 １２２ 光スペクトルアナライザ
Claims (1)
- 【請求項１】 広い波長帯域の自然放出光を放出する手
段と、 当該放出された自然放出光のうち、第１の直線偏波面を
持つ光と該第１の直線偏波面と垂直の第２の直線偏波面
を持つ光とを切り替える偏光切り替え手段と、 前記第１の直線偏波面または前記第２の直線偏波面を持
つ光信号を被測定素子に入射する手段と、 該被測定素子からの出力光を光ファイバを介して受光す
る手段と、 当該受光した出力光の一部を固定または可変の光バンド
フィルタで切り出すとともに、その切り出した出力光の
強度を観察する手段とを有し、 前記第１の直線偏波面および第２の直線偏波面を前記被
測定素子のＴＥ方向、ＴＭ方向にそれぞれ一致させるよ
うに調整することを特徴とする偏波依存性精密測定機
器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20834098A JP3403643B2 (ja) | 1998-07-23 | 1998-07-23 | 偏波依存性精密測定機器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20834098A JP3403643B2 (ja) | 1998-07-23 | 1998-07-23 | 偏波依存性精密測定機器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000046695A true JP2000046695A (ja) | 2000-02-18 |
| JP3403643B2 JP3403643B2 (ja) | 2003-05-06 |
Family
ID=16554661
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20834098A Expired - Lifetime JP3403643B2 (ja) | 1998-07-23 | 1998-07-23 | 偏波依存性精密測定機器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3403643B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011007655A (ja) * | 2009-06-26 | 2011-01-13 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光デバイスの特性測定装置および特性測定方法 |
-
1998
- 1998-07-23 JP JP20834098A patent/JP3403643B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011007655A (ja) * | 2009-06-26 | 2011-01-13 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光デバイスの特性測定装置および特性測定方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3403643B2 (ja) | 2003-05-06 |
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| Date | Code | Title | Description |
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