JP2000039926A - Current outputting circuit - Google Patents

Current outputting circuit

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JP2000039926A
JP2000039926A JP10209595A JP20959598A JP2000039926A JP 2000039926 A JP2000039926 A JP 2000039926A JP 10209595 A JP10209595 A JP 10209595A JP 20959598 A JP20959598 A JP 20959598A JP 2000039926 A JP2000039926 A JP 2000039926A
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Eiji Shirai
英二 白井
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To reduce current variation, power consumption, and mounting area by connecting plural current sample/hold circuits with a constant current circuit, operating the sample/hold of the currents of the constant current circuit, and outputting currents which are almost the same as the currents of the constant current circuit. SOLUTION: Plural current sample/hold circuits 2-1-2-n are connected with a constant current circuit 1, and each switch element of those current sample/ hold circuits 2-1-2-n is controlled so as to be successively turned on in each prescribed time, and reference currents Iref of the constant current circuit 1 are successively sampled. Then, when the reference currents Iref are sampled, the reference currents Iref are held by a current transforming operation, and output currents Iout1, Iout2-IoutN are supplied from each current sample/hold circuit 2-1-2-n to circuits C1-CN of a load.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、入力された電流と
同一の複数の電流を出力する電流出力回路に関するもの
である。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a current output circuit for outputting a plurality of currents identical to an input current.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、このような電流出力回路として
は、例えば、基準電圧回路と電圧電流変換回路を用いる
方法、基準電流回路とカレントミラー回路を用いる方法
が知られている。図5は基準電圧回路と電圧電流変換回
路を用いた電流出力回路の例を示す回路図である。図中
19は、基準電圧Vref を出力する基準電圧回路、20
−1、20−2、…20−nは基準電圧回路19に接続
された電圧電流変換回路である。基準電圧回路19の基
準電圧Vref は電圧電流変換回路20−1〜20−nで
それそれ一定電流に変換され、出力電流Iout1〜IoutN
として各々負荷の回路C1〜回路CNに供給される。
2. Description of the Related Art Conventionally, as such a current output circuit, for example, a method using a reference voltage circuit and a voltage-current conversion circuit, and a method using a reference current circuit and a current mirror circuit are known. FIG. 5 is a circuit diagram showing an example of a current output circuit using a reference voltage circuit and a voltage-current conversion circuit. In the figure, reference numeral 19 denotes a reference voltage circuit for outputting a reference voltage Vref;
20-n are voltage-current conversion circuits connected to the reference voltage circuit 19. The reference voltage Vref of the reference voltage circuit 19 is converted into constant currents by voltage-current conversion circuits 20-1 to 20-n, respectively, and output currents Iout1 to IoutN
Are supplied to the load circuits C1 to CN, respectively.

【0003】電圧電流変換回路は、例えば、図6に示す
ように演算増幅器21、NPNトランジスタ22、抵抗
器23から成っていて、演算増幅器21の正入力端子に
基準電圧Vref が入力され、負入力端子にはトランジタ
22のエミッタ端子と抵抗器23との接続点の電圧が入
力されている。このような回路では、演算増幅器21の
負入力端子の電圧は正入力端子の基準電圧Vref とほぼ
等しくなるように制御が働くため、抵抗器23の両端電
圧は基準電圧Vref に保持され、抵抗器23に一定の出
力電流が流れる。例えば、抵抗器23の抵抗値をR1と
すると、抵抗器23にはIout =(Vref /R1)の電
流が流れ(但し、トランジスタ22のβは無限大とす
る)、この電流が基準電圧Vref を電流に変換した一定
の出力電流として得られる。
The voltage-current conversion circuit comprises, for example, an operational amplifier 21, an NPN transistor 22, and a resistor 23 as shown in FIG. 6, and a reference voltage Vref is inputted to a positive input terminal of the operational amplifier 21, and a negative input is provided. The voltage at the connection point between the emitter terminal of the transistor 22 and the resistor 23 is input to the terminal. In such a circuit, control is performed so that the voltage at the negative input terminal of the operational amplifier 21 is substantially equal to the reference voltage Vref at the positive input terminal. Therefore, the voltage across the resistor 23 is held at the reference voltage Vref. 23, a constant output current flows. For example, assuming that the resistance value of the resistor 23 is R1, a current of Iout = (Vref / R1) flows through the resistor 23 (provided that β of the transistor 22 is infinite), and this current reduces the reference voltage Vref. It is obtained as a constant output current converted to a current.

【0004】また、図7は基準電流回路とカレントミラ
ー回路を用いた電流出力回路の例を示す回路図である。
図7の回路では、基準電流回路3の電流Iref がカレン
トミラー回路24の複数のトランジスタのうち1つのト
ランジスタに流れるように構成され、カレントミラー回
路24の他のトランジスタの電流が負荷の回路C1〜回
路CNに供給されている。カレントミラー回路24はど
のトランジスタにも同じ電流Iref が流れるため、複数
の同一の電流が得られ、回路1〜回路Nに出力電流Iou
t1〜IoutNとして供給される。
FIG. 7 is a circuit diagram showing an example of a current output circuit using a reference current circuit and a current mirror circuit.
In the circuit of FIG. 7, the current Iref of the reference current circuit 3 is configured to flow through one of the plurality of transistors of the current mirror circuit 24, and the currents of the other transistors of the current mirror circuit 24 are controlled by the load circuits C1 to C1. It is supplied to the circuit CN. In the current mirror circuit 24, since the same current Iref flows in every transistor, a plurality of identical currents are obtained, and the output current Iou is supplied to the circuits 1 to N.
It is supplied as t1 to IoutN.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図5の
従来の電流出力回路では、以下の問題点があった。 図6の電圧電流変換回路の抵抗器23の抵抗値が均一
でなければ、出力電流値がバラツキを生じるため、出力
電流に均一性を要求すると相応の抵抗精度が必要であ
る。特に、半導体基板上に集積化する場合、抵抗精度を
レーザトリミング等を用いて上げようとすると製造コス
トが高くなってしまう。また、外付け抵抗を用いると、
複数の抵抗器を接続するためのピンが必要となるため、
やはりICのコストが高くなる。 基準電圧回路19と各電圧電流変換回路との間の配線
抵抗による電圧降下により各電圧電流変換回路に入力さ
れる基準電圧に差を生じ、この電圧差によって出力電流
にバラツキを生じる。 出力電流の数に応じた電圧電流変換回路を必要とする
ため、回路規模が大きくなってしまい、それに伴って消
費電力も大きくなってしまう。 各電圧電流変換回路の配置場所で温度差がある場合、
抵抗器23の固有の温度係数に依存して抵抗値が変化す
るため、各出力電流値にバラツキを生じる。
However, the conventional current output circuit of FIG. 5 has the following problems. If the resistance value of the resistor 23 of the voltage-current conversion circuit in FIG. 6 is not uniform, the output current value varies, and accordingly, if uniformity is required for the output current, appropriate resistance accuracy is required. In particular, in the case where integration is performed on a semiconductor substrate, an attempt to increase the resistance accuracy by using laser trimming or the like increases the manufacturing cost. Also, if an external resistor is used,
Since pins for connecting multiple resistors are required,
Again, the cost of the IC increases. The voltage drop due to the wiring resistance between the reference voltage circuit 19 and each voltage-to-current conversion circuit causes a difference in the reference voltage input to each voltage-to-current conversion circuit, and this voltage difference causes the output current to vary. Since a voltage-current conversion circuit is required in accordance with the number of output currents, the circuit scale is increased, and the power consumption is accordingly increased. If there is a temperature difference at the location of each voltage-current conversion circuit,
Since the resistance value changes depending on the inherent temperature coefficient of the resistor 23, the output current values vary.

【0006】また、図7の電流出力回路では電流を基準
としているため、電圧から電流への変換が不要となり、
前述のような配線抵抗による電圧降下や温度による影響
は少なくなるものの、以下のような問題点があった。 複数の出力電流を精度良く得るためには、カレントミ
ラー回路24を1つの箇所にまとめて配置する必要があ
るが、そのためには出力電流の次段の回路までの配線の
引き回しに要する領域が必要となり、回路を搭載する基
板上に広い配線領域を必要とする。 多数の出力電流を得ようとすると、それに応じてカレ
ントミラー回路の規模が大きくなるため、カレントミラ
ー回路を構成するトランジスタの間隔が広がってしま
う。例えば、カレントミラー回路のトランジスタの数が
100個程度と多くなると、図7の回路の左端に位置す
る基準トランジスタから右端に位置する100個目のト
ランジスタまでの間隔が広がってしまう。そのため、カ
レントミラー回路を構成する各トランジスタの電流増幅
率等に不均一性を生じ、これに起因して出力電流にバラ
ツキを生じる。
Further, in the current output circuit of FIG. 7, since the current is used as a reference, it is not necessary to convert the voltage into the current.
Although the effects of voltage drop and temperature due to the wiring resistance as described above are reduced, there are the following problems. In order to obtain a plurality of output currents with high accuracy, it is necessary to arrange the current mirror circuit 24 in one place. For this purpose, an area required for routing the wiring of the output current to the circuit at the next stage is required. Therefore, a large wiring area is required on the substrate on which the circuit is mounted. If an attempt is made to obtain a large number of output currents, the size of the current mirror circuit is correspondingly increased, so that the distance between the transistors constituting the current mirror circuit is increased. For example, when the number of transistors in the current mirror circuit is increased to about 100, the distance from the reference transistor located at the left end to the 100th transistor located at the right end of the circuit in FIG. 7 is increased. Therefore, non-uniformity occurs in the current amplification factor and the like of each transistor constituting the current mirror circuit, and this causes variations in the output current.

【0007】本発明は、上記従来の問題点に鑑みなされ
たもので、簡単な回路規模で、電流バラツキが小さく、
消費電力が小さく、実装面積も小さい電流出力回路を提
供することを目的とする。
The present invention has been made in view of the above-mentioned conventional problems, and has a simple circuit scale, small current variation,
It is an object of the present invention to provide a current output circuit with low power consumption and small mounting area.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本発明の目的は、所定の
電流を出力する定電流回路と、前記定電流回路に接続さ
れ、前記定電流回路の電流をサンプル/ホールドするこ
とにより前記定電流回路の電流と略同一の電流を出力す
る複数の電流サンプル/ホールド回路とを備えたことを
特徴とする電流出力回路によって達成される。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a constant current circuit for outputting a predetermined current, and a constant current circuit connected to the constant current circuit and sampling / holding the current of the constant current circuit. This is achieved by a current output circuit including a plurality of current sample / hold circuits that output substantially the same current as the circuit current.

【0009】[0009]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して詳細に説明する。図1は本発明の電流
出力回路の第1の実施形態の構成を示すブロック図であ
る。図1において、まず、1は一定の基準電流Iref を
出力する定電流回路、2−1、2−2、…、2−nは定
電流回路1に接続された複数の電流サンプル/ホールド
回路である。各々の電流サンプル/ホールド回路は定電
流回路1の基準電流Iref をサンプルし、ホールドする
ことによってそれぞれの負荷の回路C1〜回路CNに電
流Iout1〜IoutNを供給する。なお、Vddは電源電圧で
ある。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of the first embodiment of the current output circuit of the present invention. In FIG. 1, reference numeral 1 denotes a constant current circuit for outputting a constant reference current Iref, and 2-1 to 2-2,..., 2-n denote a plurality of current sample / hold circuits connected to the constant current circuit 1. is there. Each current sample / hold circuit samples and holds the reference current Iref of the constant current circuit 1 to supply currents Iout1 to IoutN to the circuits C1 to CN of the respective loads. Vdd is a power supply voltage.

【0010】図2(a)は電流サンプル/ホールド回路
の一例を示す回路図である。図2(a)の回路では、電
流サンプル/ホールド回路としてカレント・トランス回
路が用いられ、一対のNMOSトランジスタ4、5、容
量6、スイッチ素子SW1、SW2から構成されてい
る。Vssは基準電圧である。
FIG. 2A is a circuit diagram showing an example of a current sample / hold circuit. In the circuit shown in FIG. 2A, a current transformer circuit is used as a current sample / hold circuit, and is composed of a pair of NMOS transistors 4, 5, a capacitor 6, and switch elements SW1, SW2. Vss is a reference voltage.

【0011】図2(b)は図2(a)の回路のスイッチ
素子SW1、SW2の動作タイミングを示している。ス
イッチ素子SW1、SW2は図示しないタイミング制御
部からのパルス信号により図2(b)に示すように同時
にオンするように駆動され、この2つのスイッチ素子S
W1、SW2がオンしている期間に電流のサンプルを行
う。即ち、スイッチ素子SW1、SW2がオンすると、
定電流回路1の基準電流Iref がNMOSトランジスタ
4に流れ、この時、他方のNMOSトランジスタ5にミ
ラー動作によって同一の電流が流れるため、基準電流I
ref をサンプルすることができる。
FIG. 2B shows the operation timing of the switch elements SW1 and SW2 in the circuit of FIG. 2A. The switch elements SW1 and SW2 are driven by pulse signals from a timing control unit (not shown) so as to be simultaneously turned on as shown in FIG.
The current is sampled while W1 and SW2 are on. That is, when the switch elements SW1 and SW2 are turned on,
The reference current Iref of the constant current circuit 1 flows through the NMOS transistor 4, and at this time, the same current flows through the other NMOS transistor 5 due to the mirror operation.
ref can be sampled.

【0012】次いで、スイッチ素子SW1、SW2がオ
フすると、NMOSトランジスタ4はオフするが、他方
のNMOSトランジスタ5のゲート電位は容量6によっ
て保持されるため、NMOSトランジスタ5はオンしつ
づけ、基準電流Iref がホールドされる。ここで、図1
の電流出力回路では、複数の電流サンプル/ホールド回
路2−1、2−2、…、2−nのスイッチ素子SW1、
SW2は図2(b)に示すように所定時間づつ順次オン
するように制御され、定電流回路1の基準電流Iref を
順次サンプルしていく。電流をサンプルすると、カレン
ト・トランス動作によって基準電流Iref がホールドさ
れ、電流サンプル/ホールド回路2−1、2−2、…2
−nから負荷の回路C1、C2、…、CNにそれぞれ出
力電流Iout1、Iout2、…、IoutNが供給される。
Next, when the switch elements SW1 and SW2 are turned off, the NMOS transistor 4 is turned off. However, since the gate potential of the other NMOS transistor 5 is held by the capacitor 6, the NMOS transistor 5 keeps on and the reference current Iref Is held. Here, FIG.
, A plurality of current sample / hold circuits 2-1, 2-2,..., 2-n switch elements SW1,
SW2 is controlled so as to be sequentially turned on for a predetermined time as shown in FIG. 2B, and sequentially samples the reference current Iref of the constant current circuit 1. When the current is sampled, the reference current Iref is held by the current transformer operation, and the current sample / hold circuits 2-1, 2-2,.
The output currents Iout1, Iout2,..., IoutN are supplied to the load circuits C1, C2,.

【0013】また、電流サンプル/ホールド回路2−
1、2−2、…2−nは、前述のように順に基準電流I
ref をサンプルし、最後の電流サンプル/ホールド回路
2−nの電流のサンプルを終了すると、最初の電流サン
プル/ホールド回路2−1から順に基準電流Iref をサ
ンプルしていく。このように電流サンプル/ホールド回
路2−1、2−2、…2−nは一定の周期で基準電流I
ref をサンプルし、ホールドすることにより負荷の回路
C1〜CNに一定の電流を供給する。なお、容量6の容
量値は必要なホールド時間に応じて設定すれば良く、ホ
ールド時間によっては容量6としてNMOSトランジス
タのゲート容量等の寄生容量を用いることができる。ま
た、スイッチ素子SW1、2のON/OFFは必ずしも
同一ではない。クロックフィードスルー低減のためずら
すこともあり得る。
The current sample / hold circuit 2-
1, 2-2,..., 2-n are the reference currents I in order as described above.
When ref is sampled and the sampling of the current of the last current sample / hold circuit 2-n is completed, the reference current Iref is sampled sequentially from the first current sample / hold circuit 2-1. As described above, the current sample / hold circuits 2-1, 2-2,.
A constant current is supplied to the load circuits C1 to CN by sampling and holding ref. Note that the capacitance value of the capacitor 6 may be set according to a required hold time, and a parasitic capacitance such as a gate capacitance of an NMOS transistor can be used as the capacitor 6 depending on the hold time. Further, ON / OFF of the switch elements SW1, 2 is not necessarily the same. It may be shifted to reduce clock feedthrough.

【0014】図3(a)は電流サンプル/ホールド回路
の他の例を示す回路図である。図3(a)の回路では、
他の種類のカレント・トランス回路が用いられ、バイア
ス電流Ibiasを出力するバイアス電流回路7、NMOS
トランジスタ8、容量9、スイッチ素子SW3〜SW5
から構成されている。スイッチ素子SW3〜SW5の動
作は図2(b)と同様に図示しないタイミング制御回路
からのパルス信号によって制御される。Vssは基準電圧
である。
FIG. 3A is a circuit diagram showing another example of the current sample / hold circuit. In the circuit of FIG.
A bias current circuit 7 for outputting a bias current Ibias using another type of current transformer circuit, an NMOS
Transistor 8, capacitor 9, switch elements SW3 to SW5
It is composed of The operation of the switch elements SW3 to SW5 is controlled by a pulse signal from a timing control circuit (not shown) as in FIG. Vss is a reference voltage.

【0015】図3(b)は図3(a)の回路のスイッチ
素子SW3〜SW5の動作タイミングを示している。ま
ず、スイッチ素子SW3とスイッチ素子SW5は図3
(b)に示すようにタイミング制御回路からのパルス信
号により同時にオンし、NMOSトランジスタ4はオフ
するように駆動される。このスイッチ素子SW3、SW
5が一定期間オンし、スイッチ素子SW4がオフする期
間が電流をサンプルするサンプル期間となる。このサン
プル期間においては、スイッチ素子SW3、SW5がオ
ンするため、NMOSトランジスタ8がオンし、このN
MOSトランジスタ8には定電流回路1の基準電流Ire
f とバイアス電流回路7からのバイアス電流Ibiasの和
の電流(Iref +Ibias)が流れ、NMOSトランジス
タ8のゲート電位が固定される。
FIG. 3B shows the operation timing of the switch elements SW3 to SW5 in the circuit of FIG. First, the switching elements SW3 and SW5 are shown in FIG.
As shown in (b), the NMOS transistor 4 is driven to be turned on simultaneously and the NMOS transistor 4 to be turned off by a pulse signal from the timing control circuit. This switch element SW3, SW
The period during which the switch 5 is turned on for a certain period and the switch element SW4 is turned off is a sampling period for sampling current. In this sample period, since the switch elements SW3 and SW5 are turned on, the NMOS transistor 8 is turned on, and this N
The reference current Ire of the constant current circuit 1 is
A current (Iref + Ibias) of the sum of f and the bias current Ibias from the bias current circuit 7 flows, and the gate potential of the NMOS transistor 8 is fixed.

【0016】次いで、図3(b)に示すようにスイッチ
素子SW3、SW5がオフし、スイッチ素子SW4がオ
ンすると、NMOSトランジスタ8のゲート電位が基準
電圧Vssとの間に設けられた容量9によって保持される
ため、電流(Iref +Ibias)がホールドされる。この
ホールド状態においては、バイアス電流回路7からバイ
アス電流Ibiasが供給されていて、カレント・トランス
動作により基準電流Iref がホールドされ、スイッチS
W4を介して負荷の回路に基準電流Iref と等しい電流
が供給される。図3(a)の回路の場合も図2(a)の
回路と同様に電流サンプル/ホールド回路2−1、2−
2、…、2−nは一定の周期で電流をサンプルし、ホー
ルドすることによって負荷の回路に電流を供給する。な
お、容量9としては図2(a)の場合と同様にNMOS
トランジスタのゲート容量等の寄生容量を用いることが
できる。また、スイッチ素子3、4、5のON/OFF
は必ずしも同一ではない。クロックフィードスルー低減
のため、ずらすこともあり得る。
Next, as shown in FIG. 3B, when the switch elements SW3 and SW5 are turned off and the switch element SW4 is turned on, the gate potential of the NMOS transistor 8 is changed by the capacitor 9 provided between the NMOS transistor 8 and the reference voltage Vss. Therefore, the current (Iref + Ibias) is held. In this hold state, the bias current Ibias is supplied from the bias current circuit 7, the reference current Iref is held by the current transformer operation, and the switch S
A current equal to the reference current Iref is supplied to the load circuit via W4. In the case of the circuit of FIG. 3A, similarly to the circuit of FIG. 2A, the current sample / hold circuits 2-1 and 2-
2,..., 2-n supply a current to a load circuit by sampling and holding the current at a constant cycle. The capacitor 9 is an NMOS as in the case of FIG.
A parasitic capacitance such as a gate capacitance of a transistor can be used. Also, ON / OFF of the switch elements 3, 4, 5
Are not necessarily the same. It may be shifted to reduce clock feedthrough.

【0017】ここで、図3(a)の回路を用いた場合、
常時、バイアス電流回路7からバイアス電流IbiasがN
MOSトランジスタ8に流れており、容量9が予めチャ
ージされており、基準電流Iref が流れ込んだ時のゲー
ト電圧変化量が少なくてすむため、図2(a)の回路に
比べてサンプル時間を短くすることができる。また、図
2(a)の回路の場合は、一対のNMOSトランジスタ
4、5の相対精度によっては電流ミラー動作が必ずしも
正確とはなり得なく出力電流の精度が劣化する可能性が
あるが、図3(a)の回路ではNMOSトランジスタを
1つしか使用していないので、NMOSトランジスタの
相対精度は問題とはならず、出力電流の精度に影響を与
えることはない。
Here, when the circuit of FIG. 3A is used,
At all times, the bias current Ibias is N
Since the current flows through the MOS transistor 8, the capacitor 9 is charged in advance, and the amount of change in the gate voltage when the reference current Iref flows in can be small, the sampling time is shortened as compared with the circuit of FIG. be able to. In the case of the circuit of FIG. 2A, the current mirror operation cannot always be accurate depending on the relative accuracy of the pair of NMOS transistors 4 and 5, and the accuracy of the output current may be degraded. Since only one NMOS transistor is used in the circuit of FIG. 3A, the relative accuracy of the NMOS transistor does not matter, and the accuracy of the output current is not affected.

【0018】本実施形態では、複数の電流サンプル/ホ
ールド回路を用いて基準電流に等しい複数の電流を出力
する構成であるため、従来の問題点であった配線の電圧
降下による出力電流の不均一性、抵抗の精度による出力
電流の不均一性、抵抗の温度特性による出力電流の不均
一性を解消できるばかりでなく、広い配線の引き回し領
域を必要とせず、コンパクトに実装することができる。
また、演算増幅器を使用しないので、回路規模を小さく
抑えられ、消費電力も低減することができる。更に、電
流サンプル/ホールド回路としてカレント・トランス回
路を用いているので、周囲温度が各カレント・トランス
回路で異なったとしても出力電流値はサンプルされた基
準電流と等しくなるため、温度に依存性しない均一な出
力電流を得ることができる。
In this embodiment, since a plurality of currents equal to the reference current are output using a plurality of current sample / hold circuits, the output current is non-uniform due to the voltage drop of the wiring, which is a conventional problem. In addition to eliminating output current non-uniformity due to performance and resistance accuracy, and output current non-uniformity due to temperature characteristics of the resistor, it can be mounted compactly without requiring a wide wiring routing area.
Further, since no operational amplifier is used, the circuit scale can be reduced, and power consumption can be reduced. Further, since the current transformer circuit is used as the current sample / hold circuit, the output current value is equal to the sampled reference current even if the ambient temperature is different in each current transformer circuit, so that it does not depend on the temperature. A uniform output current can be obtained.

【0019】図4は本発明による電流出力回路の第2の
実施形態の構成を示すブロック図である。図4におい
て、まず、定電流回路1、電流サンプル/ホールド回路
2−1、2−2、…、2−nはいずれも図1のものと同
じである。定電流回路1は一定の基準電流Iref を出力
し、電流サンプル/ホールド回路2−1、2−2、…、
2−nは基準電流Iref をサンプル/ホールドし、基準
電流Iref と等しい電流を出力する。電流サンプル/ホ
ールド回路としては図2(a)、図3(a)の回路等が
用いられる。
FIG. 4 is a block diagram showing the configuration of a second embodiment of the current output circuit according to the present invention. 4, first, the constant current circuit 1, the current sample / hold circuits 2-1, 2-2,..., 2-n are all the same as those in FIG. The constant current circuit 1 outputs a constant reference current Iref, and the current sample / hold circuits 2-1, 2-2,.
2-n samples / holds the reference current Iref and outputs a current equal to the reference current Iref. 2A and 3A are used as the current sample / hold circuit.

【0020】また、本実施形態では、電流サンプル/ホ
ールド回路2−1、2−2、…、2−nの出力にそれぞ
れD/AコンバータB1、B2、…BNが接続され、更
に、D/AコンバータB1、B2、…BNの出力にそれ
ぞれ負荷L(Load)1、L2、…、LNが接続されてい
る。D/AコンバータB1、B2、…、BNにはデジタ
ル信号1、2、…Nが供給されていて、各D/Aコンバ
ータにおいて電流サンプル/ホールド回路から供給され
た基準電流Iref をデジタル信号に応じて変化させて負
荷に供給するように構成されている。
In this embodiment, the D / A converters B1, B2,... BN are connected to the outputs of the current sample / hold circuits 2-1, 2-2,. Loads L (Load) 1, L2,..., LN are connected to the outputs of the A converters B1, B2,. Digital signals 1, 2,... N are supplied to the D / A converters B1, B2,..., BN, and each D / A converter converts the reference current Iref supplied from the current sample / hold circuit according to the digital signal. The load is changed and supplied to the load.

【0021】ここで、本実施形態では、例えば、SCE
(Surface Conduction Emitter)素子を負荷として接続
することによりSCE素子の駆動回路として好適に用い
ることができる。即ち、電流サンプル/ホールド回路か
ら供給された基準電流IrefをD/Aコンバータにより
デジタル信号に応じて所望の電流値に変化させてSCE
素子を駆動することにより、出力電流が均一で、回路規
模が小さく、消費電力も少ない電流駆動回路を実現する
ことができる。
In this embodiment, for example, the SCE
(Surface Conduction Emitter) By connecting the element as a load, it can be suitably used as a drive circuit of the SCE element. That is, the reference current Iref supplied from the current sample / hold circuit is changed to a desired current value by the D / A converter in accordance with the digital signal, and the SCE is changed.
By driving the elements, a current driver circuit with uniform output current, small circuit scale, and low power consumption can be realized.

【0022】[0022]

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、基
準電流をサンプル/ホールドすることにより基準電流と
略同一の複数の出力電流を得ているので、回路規模を小
さく、消費電力を少なく、実装面積を小さく、更に、出
力電流の温度依存性も小さくでき、小型で出力電流のバ
ラツキの少ない高性能の電流出力回路を実現することが
できる。
As described above, according to the present invention, since a plurality of output currents substantially the same as the reference current are obtained by sampling / holding the reference current, the circuit scale is reduced and the power consumption is reduced. In addition, the mounting area can be reduced, the temperature dependency of the output current can be reduced, and a compact, high-performance current output circuit with less variation in output current can be realized.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の電流出力回路の第1の実施形態の構成
を示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a first embodiment of a current output circuit of the present invention.

【図2】図1の実施形態の電流サンプル/ホールド回路
の一例を示す回路及びその動作タイミングを示す図であ
る。
FIG. 2 is a diagram illustrating an example of a current sample / hold circuit according to the embodiment of FIG. 1 and an operation timing thereof;

【図3】図1の実施形態の電流サンプル/ホールド回路
の他の例を示す回路及びその動作タイミングを示す図で
ある。
3 is a diagram showing another example of the current sample / hold circuit of the embodiment of FIG. 1 and its operation timing.

【図4】本発明の第2の実施形態を示すブロック図であ
る。
FIG. 4 is a block diagram showing a second embodiment of the present invention.

【図5】従来例の電流出力回路を示す図である。FIG. 5 is a diagram showing a conventional current output circuit.

【図6】図5の電流出力回路の電圧電流変換回路を示す
回路図である。
6 is a circuit diagram showing a voltage-current conversion circuit of the current output circuit of FIG.

【図7】他の従来例の電流出力回路を示す図である。FIG. 7 is a diagram showing another conventional current output circuit.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 定電流回路 2−1、2−2、…、2−n 電流サンプル/ホール
ド回路 4、5、8 NMOSトランジスタ 6、9 容量 7 バイアス電流回路 C1、C2、…、CN 負荷の回路 B1、B2、…、BN D/Aコンバータ L1、L2、…、LN 負荷 SW1〜SW5 スイッチ素子
1 constant current circuit 2-1, 2-2, ..., 2-n current sample / hold circuit 4, 5, 8 NMOS transistor 6, 9 capacity 7 bias current circuit C1, C2, ..., CN load circuit B1, B2 , ..., BN D / A converter L1, L2, ..., LN load SW1-SW5 switch element

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 所定の電流を出力する定電流回路と、前
記定電流回路に接続され、前記定電流回路の電流をサン
プル/ホールドすることにより前記定電流回路の電流と
略同一の電流を出力する複数の電流サンプル/ホールド
回路とを備えたことを特徴とする電流出力回路。
A constant current circuit that outputs a predetermined current; and a current that is connected to the constant current circuit and that outputs a current substantially the same as the current of the constant current circuit by sampling / holding the current of the constant current circuit. And a plurality of current sample / hold circuits.
【請求項2】 前記電流サンプル/ホールド回路は、カ
レント・トランス回路から成ることを特徴とする請求項
1に記載の電流出力回路。
2. The current output circuit according to claim 1, wherein said current sample / hold circuit comprises a current transformer circuit.
【請求項3】 D/Aコンバータの基準電流として前記
電流サンプル/ホールド回路の出力を入力し、入力され
るデジタル信号に応じてD/Aコンバータの出力電流を
変化させることを特徴とする請求項1に記載の電流出力
回路。
3. An output of the current sample / hold circuit is input as a reference current of a D / A converter, and an output current of the D / A converter is changed according to an input digital signal. 2. The current output circuit according to 1.
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Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003195812A (en) * 2001-08-29 2003-07-09 Nec Corp Semiconductor device for driving current load device and current load device equipped with the same
JP2004523830A (en) * 2001-01-31 2004-08-05 クゥアルコム・インコーポレイテッド Bias circuit for maintaining a constant value of transconductance divided by load capacitance
JP2004318144A (en) * 2003-04-10 2004-11-11 Toppoly Optoelectronics Corp Data line transmission circuit device of electroluminescence display
JP2005017977A (en) * 2003-06-30 2005-01-20 Casio Comput Co Ltd Current generating and supplying circuit and display device equipped with same current generating and supplying circuit
JPWO2003038797A1 (en) * 2001-10-31 2005-02-24 株式会社半導体エネルギー研究所 Signal line driving circuit and light emitting device
JPWO2003038796A1 (en) * 2001-10-31 2005-02-24 株式会社半導体エネルギー研究所 Signal line driving circuit and light emitting device
JP2005221659A (en) * 2004-02-04 2005-08-18 Nec Corp Current source circuit and display device using the same
CN100377192C (en) * 2003-10-07 2008-03-26 三星Sdi株式会社 Current sample and hold circuit and method and demultiplexer and display device
CN100423067C (en) * 2003-11-10 2008-10-01 三星Sdi株式会社 Demultiplexer and display device using the same
JP2008276267A (en) * 2001-08-29 2008-11-13 Nec Corp Semiconductor device for driving current load device and current load device equipped with the same
JP2009301087A (en) * 2008-06-10 2009-12-24 Micron Technology Inc Voltage regulator system
US7742064B2 (en) 2001-10-30 2010-06-22 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd Signal line driver circuit, light emitting device and driving method thereof
US8325165B2 (en) 2001-10-30 2012-12-04 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Signal line driving circuit, light emitting device, and method for driving the same

Cited By (34)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004523830A (en) * 2001-01-31 2004-08-05 クゥアルコム・インコーポレイテッド Bias circuit for maintaining a constant value of transconductance divided by load capacitance
JP2008276267A (en) * 2001-08-29 2008-11-13 Nec Corp Semiconductor device for driving current load device and current load device equipped with the same
JP2003195812A (en) * 2001-08-29 2003-07-09 Nec Corp Semiconductor device for driving current load device and current load device equipped with the same
US7796110B2 (en) 2001-08-29 2010-09-14 Nec Corporation Semiconductor device for driving a current load device and a current load device provided therewith
US8325165B2 (en) 2001-10-30 2012-12-04 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Signal line driving circuit, light emitting device, and method for driving the same
US8314754B2 (en) 2001-10-30 2012-11-20 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Signal line driver circuit, light emitting device and driving method thereof
US7961159B2 (en) 2001-10-30 2011-06-14 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Signal line driver circuit, light emitting device and driving method thereof
US7742064B2 (en) 2001-10-30 2010-06-22 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd Signal line driver circuit, light emitting device and driving method thereof
JP4811845B2 (en) * 2001-10-31 2011-11-09 株式会社半導体エネルギー研究所 Semiconductor device
US8294640B2 (en) 2001-10-31 2012-10-23 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Signal line driving circuit and light emitting device
US9076385B2 (en) 2001-10-31 2015-07-07 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Signal line driving circuit and light emitting device
JP2009181143A (en) * 2001-10-31 2009-08-13 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Semiconductor device
US7583257B2 (en) 2001-10-31 2009-09-01 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Signal line driving circuit and light emitting device
JP2015108844A (en) * 2001-10-31 2015-06-11 株式会社半導体エネルギー研究所 Semiconductor device
JP2013238872A (en) * 2001-10-31 2013-11-28 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Semiconductor device
US8593377B2 (en) 2001-10-31 2013-11-26 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Signal line driving circuit and light emitting device
US7791566B2 (en) 2001-10-31 2010-09-07 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Signal line driving circuit and light emitting device
JP2012150485A (en) * 2001-10-31 2012-08-09 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Semiconductor device
JPWO2003038797A1 (en) * 2001-10-31 2005-02-24 株式会社半導体エネルギー研究所 Signal line driving circuit and light emitting device
US7940235B2 (en) 2001-10-31 2011-05-10 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Signal line driving circuit and light emitting device
US7948453B2 (en) 2001-10-31 2011-05-24 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Signal line driving circuit and light emitting device
JPWO2003038796A1 (en) * 2001-10-31 2005-02-24 株式会社半導体エネルギー研究所 Signal line driving circuit and light emitting device
JP2004318144A (en) * 2003-04-10 2004-11-11 Toppoly Optoelectronics Corp Data line transmission circuit device of electroluminescence display
JP2005017977A (en) * 2003-06-30 2005-01-20 Casio Comput Co Ltd Current generating and supplying circuit and display device equipped with same current generating and supplying circuit
CN100377192C (en) * 2003-10-07 2008-03-26 三星Sdi株式会社 Current sample and hold circuit and method and demultiplexer and display device
US7636075B2 (en) 2003-10-07 2009-12-22 Samsung Mobile Display Co., Ltd. Current sample and hold circuit and method and demultiplexer and display device using the same
US8040300B2 (en) 2003-11-10 2011-10-18 Samsung Mobile Display Co., Ltd. Demultiplexer and display device using the same
CN100423067C (en) * 2003-11-10 2008-10-01 三星Sdi株式会社 Demultiplexer and display device using the same
US7518578B2 (en) 2003-11-10 2009-04-14 Samsung Sdi Co., Ltd. Demultiplexer and display device using the same
JP2005221659A (en) * 2004-02-04 2005-08-18 Nec Corp Current source circuit and display device using the same
US8026702B2 (en) 2008-06-10 2011-09-27 Micron Technology, Inc. Voltage regulator system
JP4565283B2 (en) * 2008-06-10 2010-10-20 マイクロン テクノロジー, インク. Voltage adjustment system
US8253396B2 (en) 2008-06-10 2012-08-28 Micron Technology, Inc. Voltage regulator system
JP2009301087A (en) * 2008-06-10 2009-12-24 Micron Technology Inc Voltage regulator system

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