JP2000019414A - Xyステージ - Google Patents
XyステージInfo
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- JP2000019414A JP2000019414A JP10182613A JP18261398A JP2000019414A JP 2000019414 A JP2000019414 A JP 2000019414A JP 10182613 A JP10182613 A JP 10182613A JP 18261398 A JP18261398 A JP 18261398A JP 2000019414 A JP2000019414 A JP 2000019414A
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- liquid crystal
- crystal glass
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- Liquid Crystal (AREA)
Abstract
に、機能的にも使い易いXYステージを提供する。 【解決手段】上下方向に重ねて配置されるとともに、互
いに直交する方向に移動可能にしたXステージ32とY
ステージ31を有し、このうちのXステージ32上に、
該Yステージ31の移動方向に沿って直線移動可能なス
ライドステージ4を設け、このスライドステージ4上に
検査対象である液晶ガラス基板5を載置している。
Description
外観検査に用いられる顕微鏡などのXYステージに関す
るものである。
品質を安定して保つため、基板表面に付着したごみや傷
などの外観検査が極めて重要になっている。このような
外観検査では、検査対象の液晶ガラス基板をXYステー
ジに載置するとともに、ステージをXY方向に移動しな
がら、液晶ガラス基板を所定の観察位置まで移動させる
ようにしている。
ます大型化の傾向があり、これに伴い、これら基板を載
置するXYステージも大型化の傾向にある。このこと
は、観察光学系が固定されたXYステージを有する顕微
鏡では、ステージスの移動範囲が基板の面積に対して4
倍必要になるため、装置外形が著しく大きくなってしま
う。つまり、このような顕微鏡では、ステージの移動範
囲の大きさにより装置外形が決定されることになる。
動範囲を最小限に抑えることが装置外形を縮小する上で
重要なことであるが、このステージの移動範囲は、検査
対象である液晶ガラス基板の大きさにより決定される。
例えば、670×550のガラス基板全面を検査しよう
とすると、ステージの移動範囲は、X軸方向に670×
2、Y方向に550×2以上必要にもなることである。
を有するステージを使用した場合、装置全体が非常に大
型となるとともに、ステージに追随して移動する操作ハ
ンドルの移動量も大きくなる。特に、ステージを左右
(X方向)に移動する場合は、操作ハンドルの操作性に
それほど問題を生じないが、Yステージを観察者から離
れる前方に最大ストロークまで移動させると、操作ハン
ドルに手が届かないという機能上の問題や観察者がガラ
ス基板上に身を乗り出して操作することになるため、観
察者から落ちる塵などによりガラス基板が汚染される問
題もあった。このように、単に検査対象のガラス基板の
大きさに合せてステージストロークを設定する従来の方
法では、装置の大型化を防止できないばかりか、機能的
にも使用しずらいという問題があった。本発明は、上記
事情に鑑みてなされたもので、小型化を図ることができ
るとともに、機能的にも使い易いXYステージを提供す
ることを目的とする。
上下方向に重ねて配置されるとともに、互いに直交する
方向に移動可能にした上ステージと下ステージを有する
XYステージにおいて、検査対象が載置されるととも
に、前記上ステージ上にY方向に沿って直線移動可能に
設けられた補助ステージを具備している。
明において、前記補助ステージは、Y方向に移動する上
ステージまたは下ステージの最大前進移動位置から、さ
らに所定距離だけ前進方向に移動可能にしている。
明において、前記補助ステージは、Y方向に移動する上
ステージまたは下ステージの最大後退移動位置から、さ
らに所定距離だけ後退方向に移動可能にしている。
検査対象である例えば液晶ガラス基板の縦(Y方向)の
長さに比してYステージの最大ストロークを小さく設定
でき、ガラス基板の大きさより小さいステージストロー
クによりガラス基板全面の検査を行なうことができ、か
つY操作ハンドルの移動量を小さくできる。
ジは、Yステージの最大前進位置から手前側で操作でき
るので、補助ステージの操作ハンドルまでの距離を小さ
くできる。
ジは、Yステージの最大後退位置から操作できるので、
補助ステージの操作ハンドルまでの距離をさらに小さく
できる。
面に従い説明する。図1(a)(b)は、本発明のXY
ステージが適用される基板検査装置の概略構成を示して
いる。
体1には、水平方向に固定ステージ(ベース)2が設け
られ、この固定ステージ2上にXYステージ3が設けら
れている。
固定ステージ2上に、図示しないガイドを介して前後方
向(Y方向)に直線移動可能に下ステージ(以後、Yス
テージと呼ぶ)31が設けられ、また、Yステージ31
上に、図示しないガイドを介してYステージ31の移動
方向と直交する左右方向(X方向)に直線移動可能に上
ステージ(以後、Xステージと呼ぶ。)32が設けられ
ている。
ージであるスライドステージ4が設けられている。この
スライドステージ4は、基板観察座標基準Oに位置合わ
せされた検査対象の液晶ガラス基板5を載置するもの
で、Xステージ32上の相対向する2つの側縁部に沿っ
て設けられたガイド61、61に沿って、さらにY方向
に直線移動可能になっている。また、スライドステージ
4には、操作ハンドル41が設けられ、この操作ハンド
ル41によりXステージ32上でのY方向への移動を可
能にしている。
テージ4上に載置される検査対象の液晶ガラス基板5
(図中斜線で示す)として、例えば、670mm×55
0mmの大きさのものを想定すると、Xステージ32
は、液晶ガラス基板5の長辺側の2倍、つまり670m
m×2の範囲でX方向に直線移動可能に設定され、Yス
テージ31は、液晶ガラス基板5の短辺側の2倍、つま
り550mm×2より狭い、例えば、450mm×2の
範囲でY方向に直線移動可能に設定され、スライドステ
ージ4は、Yステージ31上を、さらに100mmの範
囲で直線移動可能に設定されている。
方には、顕微鏡7が設けられている。この顕微鏡7は、
顕微鏡本体71、延長光学系72および接眼部73から
なるもので、顕微鏡本体71は、装置本体1に設けた門
型支柱11によりXYステージ3に対向する位置に固定
して設けられ、この顕微鏡本体71の接眼部73を延長
光学系72を介して装置前方に導出している。この場
合、XYステージ3に対向する顕微鏡本体71は、Xス
テージ32のX方向の移動範囲の中央で、且つYステー
ジ31のY方向の移動範囲の中央に位置している。
作を説明する。まず、スライドステージ4上に検査対象
の670mm×550mmの液晶ガラス基板5を載置す
る。
ドステージ4上の基板観察座標基準Oに液晶ガラス基板
5の下角部を一致させて位置合わせする。また、この状
態で、スライドステージ4を、図2(a)に示すように
Xステージ32上の手前端まで移動させた状態で、図4
(a)に示すように液晶ガラス基板5の観察監視位置と
なる上左角部を顕微鏡本体71の観察光軸(対物レン
ズ)に一致させる。
つまり左右方向に移動させつつ、Yステージ31をY方
向に前進(観察者から離れる方向)させる。これによ
り、図4(b)に示すように斜線部で示す下側100m
mを除いた液晶ガラス基板5面の上方部から下方部に向
けて順に、顕微鏡本体71より観察像が取り込まれ、延
長光学系72を介して接眼部73により欠陥検査が行な
われる。
Y方向に最大の450mmまで前進移動させると、Yス
テージ31は、これ以上移動しないので、液晶ガラス基
板5面の斜線部で示す下側100mmについては、Yス
テージ31のY方向の移動では観察できないことにな
る。
テージ4を、図2(b)に示すように前進させ方向に操
作する。これにより、図4(c)に示すように液晶ガラ
ス基板5面の斜線部で示す下側100mmについても、
顕微鏡本体71より延長光学系72を介して接眼部73
により欠陥検査を行なうことができる。
ら下方部に向けて欠陥検査を行なう場合をのべたが、液
晶ガラス基板5面の下方部から上方部に向けて欠陥検査
を行なうこともできる。この場合、スライドステージ4
を、図2(b)に示すようにXステージ32の前方端ま
で移動させた状態で、液晶ガラス基板5の観察開始位置
となる下左角部を顕微鏡本体71の観察光軸(対物レン
ズ)に一致させる。
つまり左右方向に移動させ、Yステージ31をY方向に
後退(観察者に近付く方向)させる。これにより、図5
(b)に示すように傾斜部で示す上側100mmを除い
た液晶ガラス基板5面の下方部から上方部に向けて、顕
微鏡本体71より観察像が取り込まれ、延長光学系72
を介して接眼部73により欠陥検査が行なわれる。
Y方向に最大の450mmまで後退移動させると、Yス
テージ31は、これ以上移動しないので、液晶ガラス基
板5面の斜線部で示す上側100mmについては、Yス
テージ31のY方向の移動では観察できないことにな
る。
イドステージ4を、図2(a)に示すように後退移動さ
せるように操作する。これにより、図5(c)に示すよ
うに液晶ガラス基板5面の斜線部で示す上側100mm
についても、顕微鏡本体71より延長光学系72を介し
て接眼部73により欠陥検査を行なうことができる。
ねて配置されるとともに、互いに直交する方向に移動可
能にしたXステージ32とYステージ31を有し、この
うちのXステージ32上に、Yステージ31の移動方向
に沿って直線移動可能なスライドステージ4を設け、こ
のスライドステージ4に検査対象である液晶ガラス基板
5を載置するようにしたので、液晶ガラス基板5の大き
さより小さいステージストロークにより基板全面の検査
を行なうことができるようになり、このようなステージ
を適用した装置全体の小型化を図ることができる。
31の最大前進移動位置から、さらに所定距離だけ前進
方向に移動できるようにし、スライドステージ4をYス
テージ31の最大前進位置よりも手前側で操作でき、ス
ライドステージ4の操作ハンドル41までの距離を液晶
ガラス基板5の大きさより小さくできるので、操作ハン
ドル41に手が届かないという問題を解消でき、機能的
な使い易さを向上させることができる。
ジ31の最大後退位置から、さらに所定距離だけ後退方
向に移動できるので、スライドステージ4の操作ハンド
ル41までの距離をさらに小さくでき、機能的な使い易
さをさらに向上させることができる。
査対象である例えば液晶ガラス基板の大きさより小さい
ステージストロークによりガラス基板全面の検査を行な
うことができるので、このようなステージを適用した装
置全体の小型化を図ることができる。
前進位置の手前から操作でき、補助ステージの操作ハン
ドルまでの距離を検査対象である液晶ガラス基板の大き
さより小さくできるので、操作ハンドルに手が届かない
という問題を解消でき、機能的な使い易さを向上させる
ことができる。
大後退位置から操作できるので、補助ステージの操作ハ
ンドルまでの距離をさらに小さくでき、機能的な使い易
さをさらに向上させることができる。
れる基板検査装置の概略構成を示す図。
図。
イドステージを説明する図。
Claims (3)
- 【請求項1】 上下方向に重ねて配置されるとともに、
互いに直交する方向に移動可能にした上ステージと下ス
テージを有するXYステージにおいて、 検査対象が載置されるとともに、前記上ステージ上にY
方向に沿って直線移動可能に設けられた補助ステージを
具備したことを特徴とするXYステージ。 - 【請求項2】 前記補助ステージは、Y方向に移動する
上ステージまたは下ステージの最大前進移動位置から、
さらに所定距離だけ前進方向に移動可能にしたことを特
徴とする請求項1記載のXYステージ。 - 【請求項3】 前記補助ステージは、Y方向に移動する
上ステージまたは下ステージの最大後退移動位置から、
さらに所定距離だけ後退方向に移動可能にしたことを特
徴とする請求項1記載のXYステージ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18261398A JP4217300B2 (ja) | 1998-06-29 | 1998-06-29 | Xyステージ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18261398A JP4217300B2 (ja) | 1998-06-29 | 1998-06-29 | Xyステージ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000019414A true JP2000019414A (ja) | 2000-01-21 |
JP4217300B2 JP4217300B2 (ja) | 2009-01-28 |
Family
ID=16121360
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP18261398A Expired - Fee Related JP4217300B2 (ja) | 1998-06-29 | 1998-06-29 | Xyステージ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4217300B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105765440A (zh) * | 2013-06-26 | 2016-07-13 | 阿兰蒂克微科学股份有限公司 | 用于显微的样品处理改进 |
-
1998
- 1998-06-29 JP JP18261398A patent/JP4217300B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105765440A (zh) * | 2013-06-26 | 2016-07-13 | 阿兰蒂克微科学股份有限公司 | 用于显微的样品处理改进 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4217300B2 (ja) | 2009-01-28 |
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