ITPI20130029A1 - Un metodo e relativo assieme per reperire informazioni tecniche, in particolare il ciclo vita, di un dispositivo elettronico da test - Google Patents

Description

Descrizione a corredo della domanda di brevetto per invenzione industriale dal titolo:

UN METODO E RELATIVO ASSIEME PER REPERIRE INFORMAZIONI

TECNICHE, IN PARTICOLARE IL CICLO DI VITA, DI UN

DISPOSITIVO ELETTRONICO DA TEST

Ambito dell’invenzione

La presente invenzione riguarda il settore tecnico inerente i componenti elettronici in genere ed in particolare quei dispositivi elettronici, quali ad esempio il Socket e il Pogotower, i quali vengono impiegati al fine di poter testare altri componenti elettronici.

L’invenzione si riferisce dunque al singolo dispositivo elettronico da test, all’assieme e relativo metodo che consente in maniera agevole di reperire e contestualmente caricare ciclicamente informazioni relative allo stesso dispositivo elettronico da Test, in particolare la vita operativa.

Brevi cenni alla tecnica nota

E’ noto l’uso di dispositivi elettronici quali ad esempio i “Socket” e i “Pogotower”.

Nel primo caso (il Socket) trattasi di un dispositivo di test per testare altri componenti elettronici (i così detti DUT “Device Under Test”). In particolare il “Socket” prevede delle piazzole di posizionamento su cui predisporre il componente da testare. Tali piazzole sono formate da una pluralità di aghi su cui il componente da testare viene poggiato per creare un contatto elettrico senza saldature permanenti. Il dispositivo da testare (DUT) è infatti un componente che andrà poi rimosso e immesso sul mercato e dunque non può essere fissato in maniera permanente. Il Socket, a sua volta, viene fissato sul DIB (Device Interface Board) in modo tale da essere in contatto elettrico con quest’ultimo (ad esempio attraverso ulteriori aghi metallici di fissaggio). In tal maniera il DIB genera i segnali del Test i quali, attraverso la comunicazione con il Socket, vengono trasmessi al componente (DUT) che in questa maniera viene testato. I segnali possono simulare un qualsiasi genere di stato operativo.

Nel secondo caso (Pogotowar) si tratta sempre di un dispositivo di supporto che funge da interfaccia per il test specifico su componenti elettronici. Attraverso il Pogotowar vengono trasmessi i segnali specifici di controllo per testare il componente. Esso è di forma generalmente circolare e anche esso prevede degli aghi di contatto. Esso è normalmente interposto tra un ATE (Automatic Test Equipment) ed un DIB (Device Interface Board).

Generalmente una configurazione da test molto utilizzata può ad esempio prevedere un ATE su cui si predispone il Pogotower che risulta appunto in comunicazione elettrica con l’ATE sottostante. Sul Pogotower è poi predisposto il DIB, sempre in comunicazione elettrica con il Pogotower e sul quale, a sua volta, è predisposto il Socket su cui vi sono i componenti da testare. Il Pogotower fa dunque da interfaccia di trasmissione tra l’ATE e il DIB.

In entrambi i casi il componente “Socket” e/o “Pogotower” è soggetto ad un predeterminato ciclo vita che può richiedere una sostituzione del componente stesso o di alcune sue parti (ad esempio il numero complessivo di componenti che ha testato). Altre informazioni aggiuntive relative sempre allo stesso componente potrebbero essere necessarie, quali ad esempio se parti sostitutive sono presenti o meno in magazzino e in che numero.

Allo stato attuale della tecnica non è previsto un sistema che conteggia o consente di rilevare in maniera agevole ed automatica un ciclo vita di un tal componente. Risulta dunque molto difficoltoso, se non addirittura impossibile, capire la potenziale durata residua del dispositivo da test in questione, con il rischio di un suo guasto durante un ciclo operativo.

Alla stessa maniera altre informazioni utili sono spesso frammentarie o difficilmente reperibili (ad esempio numero di pezzi di ricambio).

Sintesi dell’invenzione

È quindi scopo della presente invenzione fornire un metodo ed un assieme che consenta in maniera agevole di poter memorizzare elettronicamente ed in automatico informazioni inerenti il dispositivo elettronico da test in questione.

In particolare è scopo della presente invenzione fornire un innovativo metodo ed un assieme il quale consente di memorizzare e leggere elettronicamente, per ogni dispositivo elettronico di interesse, il ciclo vita dello stesso e/o ulteriori informazioni eventualmente necessarie.

Infine è scopo della presente invenzione fornire un metodo ed un assieme che consenta di aggiornare rapidamente ed in maniera agevole tutte le informazioni richieste sullo specifico dispositivo elettronico in questione.

Questi e altri scopi sono dunque ottenuti con il presente dispositivo elettronico (1, 20) da test per testare il funzionamento di ulteriori uno o più componenti elettronici.

In accordo all’invenzione il dispositivo elettronico da test in questione è corredato di un dispositivo TAG-RFID (10).

In questa maniera sono agevolmente risolti tutti i suddetti inconvenienti tecnici.

In particolare sul TAG-RFID è adesso possibile memorizzare e leggere qualsiasi tipo di dato si desideri, in particolare quelli inerenti la vita del dispositivo elettronico da test stesso su cui installato. Tali dati saranno facilmente fruibili e aggiornabili di volta in volta.

Vantaggiosamente il dispositivo elettronico (1, 20), può essere a scelta uno solo o una combinazione dei seguenti:

− Un Socket (1);

− Un Pogotower (20).

Vantaggiosamente il dispositivo TAG-RFID può essere installato all’interno o esternamente.

Vantaggiosamente, in caso di installazione all’interno, può allora essere previsto uno sportello (4; 40) di chiusura.

In questo modo, aperto lo sportellino, si ha facile accesso al TAG-RFID e contestualmente il TAG è protetto.

E’ anche qui descritto un assieme comprendente:

− Un dispositivo elettronico (1, 20) da test, come precedentemente descritto, comprendente un dispositivo TAG-RFID (10);

− Un dispositivo lettore (15) in comunicazione con il dispositivo TAG-RFID (10);

− Un elaboratore elettronico (100) in comunicazione con il dispositivo lettore (15).

Tale assieme consente agevolmente di leggere dati precedentemente memorizzati e di aggiungerne o aggiornarne di nuovi.

E’ anche qui descritto un metodo per memorizzare e/o leggere uno o più dati relativi ad un dispositivo elettronico (1, 20) da test, preferibilmente un Socket o un Pogotower, atto a testare il funzionamento di ulteriori uno o più componenti elettronici, il metodo prevedendo le fasi di:

− Predisposizione nel dispositivo elettronico (1, 20) da test di un dispositivo TAG-RFID (10);

− Predisposizione di un dispositivo lettore (15) comunicante con il dispositivo TAG-RFID (10);

− Predisposizione di un elaboratore elettronico (100) comunicante con il dispositivo lettore (15);

− l’operazione di memorizzazione di un dato sul TAG-RFID prevedendo l’invio del dato da memorizzare, attraverso l’elaboratore elettronico (100), al dispositivo lettore (15) e l’ulteriore l’invio di detto dato dal dispositivo lettore (15) al TAG-RFID (10) su cui viene memorizzato.

Vantaggiosamente l’operazione di lettura di un dato precedentemente memorizzato sul TAG RFID prevede le operazioni di:

− Invio di un comando di lettura del dato dall’elaboratore elettronico (100) al dispositivo lettore (15);

− Comunicazione tra il dispositivo lettore (15) e il TAG-RFID (10);

− Ricezione del dato richiesto in ritorno dal TAG-RFID al dispositivo lettore (15);

− Invio di detto dato dal dispositivo lettore (15) all’elaboratore (100).

Vantaggiosamente l’operazione di memorizzazione di un nuovo dato aggiornato è preceduta da una operazione preliminare di lettura dello stesso dato precedentemente memorizzato.

Vantaggiosamente i dati che vengono memorizzati e/o aggiornati sono a scelta uno o più dei seguenti dati:

− Il numero N di pezzi testati dal dispositivo elettronico da test (1, 20);

− Le ore complessive di test;

− Numero matricola;

− Produttore.

E’ anche qui descritto un metodo per operare un test di funzionamento su di un componente elettronico attraverso un dispositivo elettronico da test (1, 20), quale ad esempio un Socket e/o un Pogotower, e comprendente le operazioni di:

− Predisposizione del componente elettronico da testare nel dispositivo elettronico da test (1, 20), il dispositivo elettronico da test prevedendo un TAG-RFID (10);

− Lettura del/dei dati, precedentemente memorizzati sul TAG-RFID (10), attraverso un dispositivo lettore (15);

− Prima dell’avvio del test o al termine del test, memorizzazione sul TAG-RFID del/dei nuovi dati aggiornati funzione del/dei dati precedentemente letti.

E’ infine qui descritto anche l’uso di un TAG-RFID per memorizzare, su di un dispositivo elettronico da test (1, 20) quale ad esempio il Socket e/o il Pogotower, uno o più dati inerenti il dispositivo elettronico da test (1, 20) quali ad esempio il numero di pezzi testati.

Breve descrizione dei disegni

Ulteriori caratteristiche e i vantaggi, secondo l’invenzione, risulteranno più chiaramente con la descrizione che segue di alcune sue forme realizzative, fatte a titolo esemplificativo e non limitativo, con riferimento ai disegni annessi, in cui:

− La figura 1 mostra un Socket su cui è predisposto un TAG RFID in accordo all’invenzione;

− La figura 2 mostra un Pogotower su cui è predisposto il TAG RFID in accordo all’invenzione ed in comunicazione con un dispositivo lettore 15;

− La figura 3 mostra alcuni esempi di TAG RFID;

− La figura 4 è un esempio schematico di funzionamento in cui si evidenzia la comunicazione tra un dispositivo lettore 15 (antenna) è il TAG RFID applicato al Socket o al Pogotower;

− La figura 5 ritrae il solo dispositivo lettore 15 installato su apposito supporto;

− La figura 6 mostra l’assieme oggetto dell’invenzione e il modo di funzionamento dello stesso;

− La figura 7 mostra un semplice diagramma di flusso che evidenzia come, in accordo al presente metodo, sia possibile memorizzare un predeterminato dato relativo al funzionamento del componente su cui è installato il TAG ed aggiornare tale dato prima dell’inizio di ogni nuovo ciclo di test;

Descrizione di alcune forme realizzative preferite La figura 1 mostra un Socket 1 in accordo all’invenzione.

La figura mostra dunque una parte superiore 2’ atta ad accogliere il componente elettronico da testare. La parte superiore forma a tal scopo una sede ricevente provvista di aghi metallici per il contatto elettrico (non visualizzati in figura per semplicità). La parte sottostante 2 prevede anche essa aghi metallici 3 per la connessione elettrica con il DIB.

In accordo all’invenzione il Socket è corredato di un componente TAG RFID (10).

Come mostrato in figura il TAG RFID è applicato in una posizione predeterminata del Socket e richiuso da uno sportellino 4 di sicurezza del tipo preferibilmente apribile o amovibile (ad esempio tramite semplici viti di fissaggio). In questa maniera il Tag risulta protetto dal contatto esterno e dalla rimozione accidentale, ad esempio quando il Socket viene prelevato e manipolato dall’operatore.

Tuttavia è ovvio che qualsiasi posizione è idonea per l’applicazione del TAG RFID, anche a vista, e dunque in corrispondenza della sua superficie esterna.

Alla stessa maniera in figura 2 viene mostrato un Pogotower 20 il quale, similmente al Socket, prevede una posizione, eventualmente richiusa anche essa da uno sportellino 40 apribile o amovibile, su cui si applica il TAG RFID 10. In questa maniera il TAG, similmente al caso del Socket, è protetto da contatti esterni accidentali anche se qualsiasi posizione potrebbe indifferentemente essere utilizzabile per l’applicazione del TAG RFID, dunque anche sulla superficie esterna.

La stessa figura 2 mostra la comunicazione con un dispositivo lettore 15 (ovvero l’antenna).

La figura 3 mostra alcuni esempi di TAG RFID 10 utilizzabili per la presente invenzione.

Il TAG RFID 10 è un dispositivo elettronico composto da un chip 11 ed un'antenna RF 12 montati su un "substrato" che ha anche il compito di sostenerli. Il chip (grande pochi millimetri o persino meno del millimetro) è la parte "intelligente" costituita da una memoria, generalmente non volatile. Il TAG RFID è poi comunicante, attraverso l'antenna RF 12 (la spira risonante o circuito di trasmissione del segnale wireless) con un apparato lettore esterno 15 (antenna 15) che leggerà i dati ricevuti e/o li aggiornerà (vedi ad esempio la figura 4).

Nei Tag passivi, il dispositivo lettore 15 emette un campo elettromagnetico o elettrico (a seconda delle frequenze) che tramite il processo della induzione genera nell'avvolgimento elicoidale del Tag una tensione che alimenta il chip. Il chip 11 così alimentato comunica tutte le sue informazioni irradiandole tramite l'avvolgimento verso l’apparato lettore 15.

I Tag attivi invece sono alimentati da una piccola batteria interna (RFID attivi).

I TAG, sia attivi che passivi, possono essere del tipo “read” oppure del tipo “read/write”.

Nel primo caso i dati memorizzati nel Tag vengono trasmessi dal Tag RFID verso il dispositivo lettore 15 il quale è in grado di leggerli (vedi verso di freccia in figura 4 dal Tag verso il dispositivo lettore 15).

Nel secondo caso (read/write) i dati non solo vengono “letti”, ovvero trasmessi dal TAG al dispositivo lettore (in modo tale da essere fruibili per un utente), ma possono essere “caricati” sul TAG stesso ed aggiornati, dunque trasmessi dal dispositivo lettore 15 verso il Tag RFID (vedi verso di freccia sempre in figura 4).

Nel seguito della presente descrizione verrà dettagliata questa soluzione.

I Tag RFID preferibilmente utilizzabili per i presenti scopi possono essere ad esempio del tipo Tag INSKI-L3, UH331 o ALN9640.

Sia il Tag UH331 che il Tag ALN9640 hanno entrambi il vantaggio di risultare facilmente identificabili, indipendentemente dall’orientamento del piano del Tag rispetto al piano del dispositivo lettore 15.

Il vantaggio offerto da questo tipo di tecnologia rispetto ai sistemi di identificazione attualmente più utilizzati (codici a barre e lettori a banda magnetica), è che il lettore non ha bisogno di avere la visibilità ottica rispetto all'etichetta e funziona in tempi estremamente ridotti (circa 1 decimo di secondo).

Le distanze a cui il TAG RFID può comunicare con il dispositivo lettore 15 sono variabili in funzione dell’antenna 12 e possono superare le decine di metri con una lunghezza di antenna di pochi centimetri. Come detto la trasmissione non è ostacolata da elementi coprenti anche se, preferibilmente, sarebbe meglio avere superfici coprenti in materiale inerte e dunque non di tipo metallico. In ogni caso, con particolari tipi di TAG (ad esempio del tipo “on metal TAG”) questi possono funzionare anche con coperture metalliche.

La figura 4 schematizza dunque il dispositivo lettore 15 il quale comunica con un generico TAG RFID 10.

Sebbene in figura 3 siano stati riportati alcuni esempi di Tag, è ovvio che qualsiasi tipologia di Tag può essere utilizzata.

La successiva figura 5 mostra un dispositivo lettore 15 predisposto in posizione in modo tale da poter inviare segnali per interrogare il Tag e dunque poter ricevere informazioni in esso contenute o scrivere sulla sua memoria.

La figura 6 mostra un’architettura di funzionamento dell’assieme il quale consente la lettura e la memorizzazione di specifici dati nel seguito descritti.

L’assieme comprende un elaboratore elettronico 100, un dispositivo lettore 15 e il dispositivo elettronico da test fornito di TAG RFID (ad esempio il Socket o il Pogotower di figura 1 e 2).

L’elaboratore elettronico 100, ad esempio un normale PC, è in comunicazione con il dispositivo lettore 15.

La connessione tra il PC 100 e il dispositivo lettore 15 può essere via cavo o del tipo Wireless.

Ad esempio la comunicazione può avvenire tramite cavo di tipo seriale (RS232), cavo USB, cavo Ethernet su protocollo TCP/IP. Alternativamente il dispositivo lettore 15 può essere abbinato ad un dispositivo WiFi esterno per una comunicazione senza fili, sempre tramite TCP/IP.

Il dispositivo lettore 15 è a sua volta in comunicazione con il TAG RFID 10 posto nel Socket e/o nel Pogotower predisposto a sua volta sull’ATE per i normali test.

In una prima modalità di uso, i dati contenuti sul TAG RFID possono essere letti.

Questo avviene attraverso un comando che parte dal PC 100 e che interroga il dispositivo lettore 15. Il dispositivo lettore 15, a sua volta, invia un segnale al TAG e ne riceve uno in ritorno contenente il dato richiesto. Il dato richiesto viene inviato in ritorno al PC in modo tale che l’operatore ne possa usufruire.

Secondo una seconda modalità di uso è possibile inoltre caricare dati sul TAG RFID.

In tal senso è necessario innanzitutto leggere i dati presenti nei TAG che sono posti entro l’area di monitoraggio dell’antenna 15. Come sopra descritto, al lettore 15 viene inviato il comando di lettura attraverso il PC 100. In tal maniera il lettore 15 si mette in ascolto e si collega ai TAG RFID presenti nella sua area di azione (anche uno solo). A questo punto rileva e legge dunque le eventuali informazioni presenti sui/sul TAG RFID e le inoltra al PC.

Ovviamente questa procedura preliminare di lettura è necessaria se l’aggiornamento del dato richiede la conoscenza del dato precedente (ad esempio nel caso di ciclo di vita o componenti testati come nel seguito chiarito).

Quindi, rilevati i dati precedenti ed elaborati, è adesso possibile aggiornarli con i nuovi dati.

Questo avviene sempre attraverso il PC 100 che invia il nuovo dato elaborato da caricare al dispositivo lettore 15 il quale, a sua volta, invia il segnale contenente il dato specifico al TAG RFID 10 che lo memorizza sulla sua memoria.

I dati possono essere di varia natura.

Un primo dato molto importante riguarda il ciclo di vita del Socket o del Pogotower in modo tale da capire quanti componenti hanno testato e dunque l’eventuale necessità di una loro sostituzione (il così detto “Numero Run”).

In tal senso, prima di iniziare ogni nuovo ciclo di test di un componente predisposto nel Socket e/o nel Pogotower, i dati precedenti relativi alla vita del Socket o del Pogotower stesso su cui appunto è installato il TAG vengono aggiornati sul TAG stesso. Il dato può dunque riferirsi al numero di test complessivi che lo specifico Socket o Pogotower ha già effettuato oppure le ore di ciclo lavoro o il numero complessivo di pezzi che ha testato.

Tramite il PC 100, prima di iniziare il nuovo test, è necessario conoscere il dato precedente contenuto nel TAG in modo tale da poterlo poi aggiornare.

A tal scopo si procede con la prima operazione preliminare di lettura del dato, esattamente secondo la procedura sopra descritta (procedura di lettura del TAG).

Una volta letto il dato, ad esempio il numero N di pezzi testati ad oggi, è possibile procedere all’aggiornamento incrementando il valore a N=N+1. Parte dunque la procedura di scrittura (come sopra descritta) in cui il dato N+1 viene inviato dal PC al lettore dispositivo lettore 15 il quale lo manda sulla memoria del Tag. A questo punto può partire il normale ciclo di test.

La figura 7 mostra un diagramma di flusso di funzionamento.

Come detto, prima di iniziare ogni ciclo, viene letto sul TAG il dato relativo al ciclo precedente (dato indicato con N) in modo tale da aggiornare il dato con quello nuovo (N=N+1) per poi procedere al test. Il dato indicato genericamente con N può essere relativo al numero di componenti sino a quel momento testato sul Socket o Pogotower, come il numero di ore di ciclo vita o altri parametri indicativi della vita del componente.

E’ ovvio che, per quel che riguarda il ciclo vita in genere, è necessario reperire il vecchio dato per poi aggiornarlo. Se dunque la lettura del vecchio dato deve essere effettuata prima del nuovo test, l’aggiornamento con il nuovo dato potrebbe essere effettuata anche successivamente alla conclusione del nuovo test.

E’ inoltre evidente che tale procedura può essere totalmente automatizzata, senza richiedere l’intervento dell’operatore il quale adesso può occuparsi solo della gestione dell’ATE. Ad attivazione dell’ATE (o in corrispondenza dell’avvio del test su di un nuovo pezzo) in automatico il PC invia il segnale di lettura del dato precedente memorizzato sul TAG per poi aggiornarlo in automatico e memorizzare il nuovo dato nuovamente sul TAG.

In ogni momento, oltre ai dati di vita del socket, altri dati potrebbero essere memorizzati “una tantum” (ad esempio prima della consegna dell’ATE), quali ad esempio: − Numero seriale (del socket o del Pogotower);

− Altri dati utili alla tracciabilità quali produttore, anno di costruzione, modello, materiale, numero di pezzi di ricambio in magazzino ecc.

Claims (10)

1. RIVENDICAZIONI 1. Un dispositivo elettronico (1, 20) da test per testare il funzionamento di ulteriori uno o più componenti elettronici caratterizzato da fatto di comprendere un dispositivo TAG-RFID (10).
2. 2. Un dispositivo elettronico (1, 20), secondo la rivendicazione 1, il quale è a scelta uno solo o una combinazione dei seguenti: − Un Socket (1); − Un Pogotower (20).
3. 3. Un dispositivo elettronico (1, 20), secondo la rivendicazione 1 o 2, in cui il dispositivo TAG-RFID è installato all’interno o esternamente ed in cui, preferibilmente, in caso di installazione all’interno, è previsto uno sportello (4; 40) di chiusura.
4. 4. Un assieme comprendente: − Un dispositivo elettronico (1, 20) da test, come da una o più rivendicazioni precedenti dalla 1 alla 3, comprendente un dispositivo TAG-RFID (10); − Un dispositivo lettore (15) in comunicazione con il dispositivo TAG-RFID (10); − Un elaboratore elettronico (100) in comunicazione con il dispositivo lettore (15).
5. 5. Un metodo per memorizzare e/o leggere uno o più dati relativi ad un dispositivo elettronico (1, 20) da test, preferibilmente un Socket o un Pogotower, atto a testare il funzionamento di ulteriori uno o più componenti elettronici, il metodo prevedendo le fasi di: − Predisposizione nel dispositivo elettronico (1, 20) da test di un dispositivo TAG-RFID (10); − Predisposizione di un dispositivo lettore (15) comunicante con il dispositivo TAG-RFID (10); − Predisposizione di un elaboratore elettronico (100) comunicante con il dispositivo lettore (15); − l’operazione di memorizzazione di un dato sul TAG-RFID prevedendo l’invio del dato da memorizzare, attraverso l’elaboratore elettronico (100), al dispositivo lettore (15) e l’ulteriore l’invio di detto dato dal dispositivo lettore (15) al TAG-RFID (10) su cui viene memorizzato.
6. 6. Un metodo, secondo la rivendicazione 5, in cui l’operazione di lettura di un dato precedentemente memorizzato sul TAG RFID prevede le operazioni di: − Invio di un comando di lettura del dato dall’elaboratore elettronico (100) al dispositivo lettore (15); − Comunicazione tra il dispositivo lettore (15) e il TAG-RFID (10); − Ricezione del dato richiesto in ritorno dal TAG-RFID al dispositivo lettore (15); − Invio di detto dato dal dispositivo lettore (15) all’elaboratore (100).
7. 7. Un metodo, secondo la rivendicazione 5 o 6, in cui l’operazione di memorizzazione di un nuovo dato aggiornato è preceduta da una operazione preliminare di lettura dello stesso dato precedentemente memorizzato.
8. 8. Un metodo, secondo una o più rivendicazioni dalla 5 alla 7, in cui i dati che vengono memorizzati e/o aggiornati sono a scelta uno o più dei seguenti dati: − Il numero N di pezzi testati dal dispositivo elettronico da test (1, 20); − Le ore complessive di test; − Numero matricola; − Produttore.
9. 9. Un metodo per operare un test di funzionamento su di un componente elettronico attraverso un dispositivo elettronico da test (1, 20), quale ad esempio un Socket e/o un Pogotower, e comprendente le operazioni di: − Predisposizione del componente elettronico da testare nel dispositivo elettronico da test (1, 20), il dispositivo elettronico da test prevedendo un TAG-RFID (10); − Lettura del/dei dati, precedentemente memorizzati sul TAG-RFID (10), attraverso un dispositivo lettore (15); − Precedentemente all’avvio del test o al termine del test, memorizzazione sul TAG-RFID del/dei nuovi dati aggiornati funzione del/dei dati precedentemente letti.
10. 10. L’uso di un TAG-RFID per memorizzare, su di un dispositivo elettronico da test (1, 20) quale ad esempio il Socket e/o il Pogotower, uno o più dati inerenti il dispositivo elettronico da test (1, 20) quali ad esempio il numero di pezzi testati.