ITBO20010037A1 - Metodo per la classficazione della qualita' estetica di materiali planari e apparecchiatura per la selezione automatica di materiali planari - Google Patents

Description

D E S C R I Z IO N E

La presente invenzione è relativa ad un metodo per la classificazione della qualità estetica di materiali planari e ad un'apparecchiatura per la selezione automatica di materiali planari, utilizzante tale metodo.

La presente invenzione trova vantaggiosa, ma non esclusiva, applicazione nella selezione automatica e nella classificazione della qualità estetica di materiali planari definiti da legno, da piastrelle di rocce ornamentali, da piastrelle di ceramica o similari a cui la trattazione che segue farà esplicito riferimento senza per questo perdere in generalità.

Come è noto, la selezione di materiali planari, come ad esempio piastrelle (in funzione della qualità estetica) , viene attualmente effettuata manualmente da un operatore, il quale è atto a raccogliere da un nastro trasportatore le piastrelle stesse per disporle in rispettive pile contenenti piastrelle presentanti una medesima qualità estetica.

In particolare durante la sopracitata selezione manuale, l'operatore effettua una prima operazione in cui esamina visivamente le caratteristiche estetiche superficiali di ciascuna piastrella (come ad esempio la presenza di venature o di macchie), e le confronta con le caratteristiche estetiche superficiali di piastrelle di riferimento appartenenti a rispettive classi di qualità estetiche prefissate, ad esempio una classe di prima scelta, una classe di seconda scelta o una classe di scarto.

L'operatore effettua successivamente una seconda operazione in cui decide, in funzione del confronto sopra descritto, la qualità estetica di appartenenza della piastrella e dispone quest'ultima in una rispettiva pila di piastrelle appartenenti tutte alla medesima classe merceologica (prima, seconda o terza scelta etc...).

È evidente che la selezione dei materiali planari in funzione della loro qualità estetica presenta l'inconveniente di richiedere l'impiego di manodopera che determina elevati tempi nella fase finale della produzione delle piastrelle, causando in tal modo un aumento dei costi di produzione delle piastrelle stesse.

Inoltre, la classificazione e quindi la suddivisione delle piastrelle in classi di qualità estetica cambia a seconda dell'operatore, ovvero dipende fortemente dalla soggettività delle decisioni dell'operatore stesso.

In altre parole, tale classificazione e selezione risultano non univoche in quanto presentano un'incertezza di attribuzione dovuta alla soggettività di decisione dell'operatore, i cui effetti sono ovviamente dannosi dal punto di vista commerciale, in quanto non viene garantita al cliente una uniformità della qualità estetica delle piastrelle.

Scopo della presente invenzione è quindi quello di fornire un metodo per la classificazione della qualità estetica di materiali planari, esente dagli inconvenienti sopra descritti.

Secondo la presente invenzione viene fornito un metodo per la classificazione della qualità estetica di materiali planari, come descritto nella rivendicazione 1 .

Scopo della presente invenzione è inoltre quello di realizzare un'apparecchiatura per la selezione automatica di materiali planari utilizzante tale metodo, ed esente dagli inconvenienti sopra descritti.

Secondo la presente invenzione viene realizzata un'apparecchiatura per la selezione automatica di materiali planari, come descritto nella rivendicazione 7.

La presente invenzione verrà ora descritta con riferimento ai disegni annessi, che ne illustrano un esempio di attuazione non limitativo, in cui:

la figura 1 illustra schematicamente un'apparecchiatura per la selezione automatica di materiali planari realizzata secondo i dettami della presente invenzione;

la figura 2 illustra un diagramma di flusso relativo ad un metodo per la classificazione della qualità estetica di materiali planari implementato dall'apparecchiatura illustrata nella figura 1;

la figura 3 illustra un esempio di un primo campo di variabilità di un parametro utilizzabile nel metodo per la classificazione della qualità estetica di materiali planari illustrato nella figura 2;

la figura 4 illustra un esempio di secondo campo di variabilità di un parametro utilizzabile nel metodo per la classificazione della qualità estetica di materiali planari fornito secondo i dettami della presente invenzione; e

la figura 5 illustra un diagramma di flusso relativo ad una parte del metodo per la classificazione della qualità estetica di materiali planari implementato dall'apparecchiatura illustrata nella figura 1.

Con riferimento alla figura 1, con il numero 1 è indicata nel suo complesso un'apparecchiatura per la selezione automatica di materiali planari.

L'apparecchiatura 1 trova vantaggiosa, ma non esclusiva, applicazione nella selezione automatica di materiali planari definiti da legno, da piastrelle 2 di rocce ornamentali, da piastrelle 2 di ceramica o similari, a cui la trattazione che segue farà esplicito riferimento senza per questo perdere in generalità.

In particolare, l'apparecchiatura 1 è atta a selezionare ciascuna piastrella 2 in funzione della classe CL di qualità estetica del materiale superficiale della piastrella 2 stessa.

L'apparecchiatura 1 comprende un nastro trasportatore 3 atto a convogliare ciascuna piastrella 2 lungo una prefissata direzione ed un dispositivo caricatore 4 disposto a monte del nastro trasportatore 3 ed atto a prelevare ciascuna piastrella 2 da una pila 16 di piastrelle 2 per disporla (con superficie a vista) sul nastro trasportatore 3 stesso.

L'apparecchiatura 1 comprende inoltre un dispositivo di illuminazione 6 posizionato al disopra del nastro trasportatore 3 per illuminare la superficie delle piastrelle 2 posizionate sul nastro trasportatore 3 stesso, ed un dispositivo di acquisizione 7 immagini, il quale è posizionato in corrispondenza del dispositivo di illuminazione 6 per riprendere l'immagine della superficie di ciascuna piastrella 2 ed è atto a fornire in uscita un segnale d'informazione INF codificante l'immagine superficiale della piastrella 2 in un formato matriciale .

L'apparecchiatura 1 comprende inoltre un dispositivo di controllo centrale 8 atto a coordinare e controllare le operazioni svolte dall'apparecchiatura 1 stessa.

In particolare, il dispositivo di controllo centrale 8 è atto a ricevere ed elaborare il segnale d'informazione INF alimentato dal dispositivo di acquisizione 7 immagini in modo tale da fornire in uscita un segnale di comando COM che codifica una specifica classe CL di qualità estetica di appartenenza della piastrella 2 ripresa.

L'apparecchiatura 1 comprende inoltre un dispositivo selettore 9, il quale è disposto a valle del nastro trasportatore 3 ed è atto ad indirizzare selettivamente ciascuna piastrella 2 verso una prefissata direzione associata ad una specifica classe CL di appartenenza della piastrella 2 stessa, in funzione del segnale di comando COM alimentato dal dispositivo di controllo centrale 8.

L'apparecchiatura 1 comprende inoltre un macchina impilatrice 10 atta a disporre ciascuna piastrella 2 in una rispettiva pila 11 comprendente una pluralità di piastrelle 2 appartenenti ad una stessa classe CL, ed una pluralità di linee di trasporto 12, le quali sono interposte tra il dispositivo selettore 9 e la macchina impilatrice 10, e sono atte a raccogliere rispettivamente ciascuna piastrella 2 preindirizzata dal dispositivo selettore 9, per convogliarla verso la rispettiva pila 11 comprendente le piastrelle 2 appartenenti alla medesima classe CL della piastrella 2 stessa .

Il dispositivo di controllo centrale 8 è di tipo noto e può essere vantaggiosamente definito da un elaboratore comprendente una memoria 13 ed un microcontrollore 14 atto a coordinare le operazioni di disposizione, di classificazione e di suddivisione delle piastrelle 2.

In dettaglio, il dispositivo di controllo centrale 8 è atto ad alimentare al dispositivo caricatore 4 un segnale CON che determina il controllo della disposizione delle piastrelle 2 sul nastro trasportatore 3.

Più in dettaglio, il dispositivo caricatore 4 può essere vantaggiosamente definito da un braccio robotizzato, il quale viene pilotato dal dispositivo di controllo centrale 8 per disporre in modo opportuno le piastrelle 2 sul nastro trasportatore 3, il quale provvede a trasportare le piastrelle 2 stesse verso il dispositivo selettore 9 ad una velocità controllata dal dispositivo di controllo centrale 8 stesso.

Il dispositivo selettore 9 è interposto tra l'uscita del nastro trasportatore 3 e gli ingressi delle linee di trasporto 12 e può essere definito da un deviatore, il quale viene pilotato dal dispositivo di controllo centrale 8 per indirizzare selettivamente ciascuna piastrella 2 in una linea di trasporto 12 atta a trasportare la piastrella 2 stessa verso la pila 11 associata ad una determinata classe CL di qualità estetica.

Il dispositivo di controllo centrale 8 è inoltre atto a pilotare la macchina impilatrice 10, la quale è disposta a valle delle linee di trasporto 12 e può essere vantaggiosamente definita da un braccio robotizzato attraverso il quale il dispositivo di controllo centrale 8 coordina la disposizione di ciascuna piastrella 2 presente in una delle linee di trasporto 12 su una rispettiva pila 11.

Il dispositivo di acquisizione 7 immagini può essere vantaggiosamente definito da una telecamera digitale atta a lavorare nello spettro del visibile per acquisire l'immagine superficiale di ciascuna piastrella 2 in un formato matriciale, in modo tale da fornire al dispositivo di controllo centrale 8, il segnale di informazione INF contenente le informazioni associate a ciascun punto (pixel) appartenente all'immagine superficiale della piastrella 2.

In dettaglio, il dispositivo di acquisizione 7 immagini è atto a fornire per ciascun punto (pixel) dell'immagine ripresa, un vettore VET contenente una pluralità di valori indicanti ciascuno una componente del colore (ad esempio rosso, verde, blu) presentato dal punto stesso.

Più in dettaglio, nel segnale di informazione INF viene codificata l'immagine acquisita della superficie della piastrella 2 in un formato matriciale tridimensionale presentante una prima ed una seconda dimensione definite dal numero di punti che rappresentano un primo e rispettivamente un secondo lato dell'immagine, ed una terza dimensione definita dal numero di valori del vettore VET.

In altre parole, la matrice tridimensionale comprende oltre alle informazioni del colore di ciascun punto dell'immagine, anche la posizione spaziale di ciascun punto stesso.

Il dispositivo di controllo centrale 8 è atto a cooperare con il dispositivo di acquisizione 7 immagini ed è in grado di effettuare attraverso una prima elaborazione numerica dell'immagine matriciale tridimensionale, il calcolo di un numero prefissato di parametri Pjc e funzioni Fj (Pjc) che rappresentano le caratteristiche estetiche del materiale superficiale della piastrella 2.

Il dispositivo di controllo centrale 8 è inoltre atto ad effettuare una seconda elaborazione nella quale verifica se i parametri Pjc e/o le funzioni Fj (Pjc) soddisfano a delle prefissate relazioni rispetto ad una pluralità di parametri PjR e funzioni Fj (PjR) di riferimento di ciascuna classe CL memorizzati nella memoria 13.

Il dispositivo di controllo centrale 8 è infine atto a codificare la classe CL di appartenenza della piastrella 2 in funzione della verifica del segnale COM sopra descritta, ed a pilotare attraverso il dispositivo selettore 9 1'indirizzamento della piastrella 2 stessa verso una determinata linea di trasporto 12, ovvero verso la pila 11 associata alla classe CL di qualità estetica di appartenenza della piastrella 2 stessa.

Il dispositivo di controllo centrale 8 effettua la selezione automatica delle piastrelle 2 utilizzando un metodo di classificazione riportato in figura 2 e descritto qui di seguito.

Inizialmente si perviene al blocco 100, nel quale ha inizio il metodo di classificazione della qualità estetica delle piastrelle 2.

Il blocco 100 è seguito dal blocco 110 (descritto in dettaglio in seguito), nel quale viene effettuata una precaratterizzazione delle classi CL di qualità estetica di appartenenza.

In particolare, nel blocco 110 viene decisa una metodologia di analisi (della superficie della piastrella 2) attraverso la quale vengono stabiliti una pluralità di parametri Pj e di funzioni Fj(Pj), i quali sono associati alle proprietà superficiali della piastrella 2 e insieme sono atti a caratterizzare la classe CL di qualità estetica della piastrella 2 stessa.

Nel blocco 110 vengono inoltre elaborate le immagini matriciali tridimensionali relative ad un numero NMAX prefissato di piastrelle di riferimento associate ad una rispettiva classe CL prestabilita, in modo tale da ricavare e memorizzare nella memoria 13 per ciascuna classe CL, un campo di variabilità dei parametri Pj e delle funzioni Fj(Pj) che caratterizzano ciascuna classe CL.

Tali parametri Pj e funzioni Fj(Pj) saranno indicati in seguito come parametri PjR e funzioni di riferimento FjR(PjR).

Ad esempio, il campo di variabilità dei parametri PjR di riferimento che caratterizzano ciascuna classe CL è compreso tra un valore minimo PjRmin ed un valore massimo PjRmax, che delimitano un intervallo nello spazio monodimensionale (illustrato nella figura 3), mentre il campo di variabilità delle funzioni FjR(PjR) è all'interno di uno spazio bidimensionale AR (illustrato nella figura 4) il quale viene definito ad esempio dall'inviluppo delle funzioni di riferimento FjR(PjR) stesse .

Da quanto sopra descritto è opportuno sottolineare che la metodologia di analisi scelta nel blocco 110 può comprendere, ad esempio, un'elaborazione di tipo statistico nella quale vengono utilizzati come parametri PjR e/o funzioni Fj (PjR) di riferimento, la distribuzione statistica (media e covarianza) dei valori delle componenti (vettore VET) del colore presente nei punti appartenenti all'immagine, oppure può comprendere un'analisi di tipo geostatistico stazionario, nel quale vengono utilizzati parametri PjR e/o funzioni Fj (PjR) di riferimento come il variogramma, la covarianza spaziale, la covarianza generalizzata, oppure un'elaborazione di tipo morfologico nella quale vengono usati parametri PjR e/o funzioni Fj (PjR) di riferimento indicanti la dilatazione, le aperture e chiusure morfologiche o la granulometria delle fasi ottiche.

Da quanto sopra descritto è inoltre opportuno precisare che la caratterizzazione viene effettuata tramite una numero di parametri PjR e funzioni Fj(PjR) di riferimento (ad esempio un numero di parametri pari a 10-15) sufficiente per caratterizzare la piastrella 2.

Tali parametri PjR e funzioni Fj (PjR) di riferimento vengono quindi utilizzati o meno a seconda della tipologia del materiale superficiale della piastrella 2.

Il blocco 110 è seguito dal blocco 120, nel quale viene acquisita l'immagine matriciale tridimensionale della superficie di una piastrella 2.

In particolare nel blocco 120, il dispositivo di controllo centrale 8 riceve dal dispositivo di acquisizione 7 tramite il segnale INF, l'immagine matriciale tridimensionale della superficie della piastrella 2 presente sul nastro trasportatore 3.

Il blocco 120 è seguito dal blocco 130, nel quale il dispositivo di controllo centrale 8 elabora il segnale INF codificante la matrice tridimensionale relativa alla superficie della piastrella 2, ovvero elabora la posizione ed il vettore VET associato a ciascun punto e calcola i parametri Pjc e/o le funzioni Fc(Pjc) che caratterizzano la piastrella 2 da classificare .

I parametri Pjc e/o le funzioni Fc(Pjc) calcolate sono ovviamente quelle stabilite secondo la metodologia di analisi decisa nel blocco 110, ovvero corrispondono ai parametri PjR e/o alle funzioni Fj (PjR) di riferimento .

II blocco 130 è seguito dal blocco 140, nel quale inizia un ciclo di confronto tra i parametri Pjc, e/o funzioni Fc(Pjc) calcolati ed i parametri PjR e/o funzioni Fj (PjR) di riferimento memorizzati nella memoria 13.

In particolare nel blocco 140 viene inizializzato un indicatore di classe Ic=1 atto ad identificare univocamente ciascuna delle classi CL(Ic) di appartenenza .

Più in dettaglio nel blocco 140, il dispositivo di controllo centrale 8 effettua la lettura dei parametri PjR e/o funzioni Fj (PjR) di riferimento associate ad una prima classe CL; ad esempio con Ic=1 la classe CL potrebbe essere quella indicante la classe di prima scelta CL (1).

Il blocco 140 è seguito dal blocco 150, nel quale il dispositivo di controllo centrale 8 effettua il confronto tra i parametri Pjc e Fjc(Pjc) calcolati ed i parametri PjR e/o funzioni Fj (PjR) di riferimento associate alla classe CL(Ic).

In dettaglio, nel blocco 150 viene verificato se i parametri Pjc e Fjc(Pjc) calcolati presentano dei valori compresi all'interno dei campi di variabilità definiti dai rispettivi parametri PjR e/o funzioni Fj (PjR) di riferimento associate alla classe CL(Ic).

Ad esempio (figura 3) viene controllato per ciascun parametro calcolato Pjc se è soddisfatta la seguente relazione PjRmin<Pjc<PjRmax, mentre per ciascuna funzione Fj (Pjc) calcolata viene verificata (figura 4) la seguente relazione ovvero viene verificato se la funzione Fj (Pjc) calcolata è compresa all'interno dello spazio multidimensionale AR.

Se il valore di almeno uno dei parametri Pjc e Fjc (Pjc) calcolati risulta esterno ai campi di variabilità definiti dai rispettivi parametri PjR e/o funzioni Fj (PjR) di riferimento associate alla classe CL(Ic), il blocco 150 è seguito dal blocco 160, nel quale viene verificato se l'indicatore di classe Ic ha raggiunto un valore massimo ICMAX indicante l'ultima classe CL (ICMAX) di appartenenza (ad esempio la classe di scarto) memorizzata nella memoria 13.

Se invece i parametri Pjc e Fjc(Pjc) calcolati presentano tutti i valori compresi all'interno dei campi di variabilità definiti dai rispettivi parametri PjR e/o funzioni Fj (PjR) di riferimento associate alla classe CL(Ic), il blocco 150 è seguito dal blocco 170, nel quale viene associata alla piastrella 2 la classe CL(Ic) ·

È opportuno precisare che nel blocco 170 il dispositivo di controllo centrale 8 è in grado di fornire in uscita il segnale di comando COM codificante la deviazione che il dispositivo selettore 9 deve impartire alla piastrella 2 per indirizzarla nella linea di trasporto 12 associata alla classe CL(Ic) determinata durante la classificazione.

Se il blocco 160 è seguito dal blocco 180, nel quale il valore dell'indicatore le viene incrementato secondo la relazione IC=IC+1 e il dispositivo di controllo centrale 8 effettua la lettura dei parametri PjR e/o funzioni Fj (PjR) di riferimento associate ad una nuova classe CL; ad esempio con Ic=2 la classe CL potrebbe essere quella indicante la classe di seconda scelta CL(2).

Se IC>ICMAX, il blocco 160 è seguito dal blocco 190, nel quale viene effettuata una "analisi discriminante" dei parametri Pjc e/o delle funzioni Fj (Pjc) calcolati. Il blocco 180 è seguito dal blocco 150, nel quale viene reiterata l'operazione di confronto sopra descritta tra i parametri Pjc e/o le funzioni Fjc(Pjc) calcolate ed i campi di variabilità definiti dai parametri PjR e/o funzioni Fj (PjR) di riferimento associate alla classe CL(Ic+l) successiva alla classe CL(Ic) .

Nel blocco 190, il dispositivo di controllo centrale 8 effettua l'analisi discriminante della piastrella 2, ovvero effettua una classificazione della piastrella 2 stessa attraverso una elaborazione statistica ottimizzata.

In dettaglio, i parametri Pjc e/o funzioni Fjc(Pjc) calcolate vengono elaborate congiuntamente in modo tale da ottenere una funzione multivariata di tipo noto che applicata ai valori dei parametri Pjc e Fjc(Pjc) calcolati stessi fornisce una indicazione della "distanza di appartenenza" della piastrella 2 da ciascuna classe CL(Ic).

A questo punto, il dispositivo di controllo centrale 8 assegna alla piastrella 2 la classe CL(Ic) maggiormente affine, ovvero la classe CL(Ic) presentante la "distanza di appartenenza" minima dalla piastrella 2 stessa .

Nel blocco 190, analogamente al blocco 170, il dispositivo di controllo centrale 8 è in grado di fornire in uscita il segnale di comando COM codificante la deviazione che il dispositivo selettore 9 deve impartire alla piastrella 2 per indirizzarla nella linea di trasporto 12 associata alla rispettiva classe CL di appartenenza determinata dalla classificazione.

Il blocco 190 è seguito dal blocco 200, nel quale viene aggiornata la caratterizzazione della classe CL affine all'ultima piastrella 2 classificata tramite l'analisi discriminante.

In particolare, nel blocco 200 viene effettuato un aggiornamento dei parametri PjR e/o funzioni FJ(PjR) di riferimento della classe CL(Ic) risultata affine nel blocco 190.

Più in dettaglio, nel blocco 200 vengono "allargati" i campi di variabilità dei parametri PjR e/o funzioni Fj(PjR) di riferimento della classe CL affine, in modo tale che questi ultimi comprendano i valori dei parametri Pjc e/o funzioni Fjc(Pjc) calcolati, che precedentemente risultavano esterni ai campi di variabilità stessi.

I blocchi 170 e 200 sono seguiti dal blocco 210, nel quale viene verificata la presenza di una nuova piastrella 2 da classificare.

In particolare, se il dispositivo di controllo centrale 8 non riceve attraverso il segnale di informazione INF una nuova immagine, il blocco 210 è seguito dal blocco 220, nel quale viene terminata la classificazione, mentre nel caso contrario il blocco 210 è seguito dal blocco 130, nel quale viene ripetuto un ciclo di classificazione di una nuova piastrella 2.

Con riferimento alla figura 5 viene illustrata in dettaglio la fase di caratterizzazione effettuata nel blocco 110 illustrato in figura 2.

Inizialmente si perviene al blocco 200 in cui ha inizio la fase di caratterizzazione delle classi CL. Si ipotizza che le piastrelle 2 da caratterizzare appartengano ad una medesima classe CL, ovvero siano ad esempio tutte appartenenti alla classe CL di prima scelta.

Il blocco 200 è seguito dal blocco 210, nel quale vengono impostate una pluralità di informazioni riguardanti ad esempio la tipologia del materiale presente nella superficie delle piastrelle 2, la classe CL di appartenenza delle piastrelle 2 di riferimento, ed il numero NMAX di piastrelle di riferimento che verranno fornite all'apparecchiatura 1 per la caratterizzazione della classe CL di appartenenza.

Il blocco 210 è seguito dal blocco 220, nel quale viene stabilito il metodo ottimale di elaborazione in funzione della tipologia di materiale impostato.

In particolare, nel blocco 220 vengono stabiliti i parametri PjR e/o le funzioni Fj(PjR) di riferimento da utilizzare per caratterizzare il materiale e la rispettiva classe CL di qualità estetica preimpostati nel blocco 210.

Il blocco 220 è seguito dal blocco 230, nel quale viene inizializzato un contatore N=1 indicante il numero di piastrelle 2 di riferimento fornite in ingresso all'apparecchiatura 1.

Il blocco 230 è seguito dal blocco 240, nel quale il dispositivo di acquisizione 7 acquisisce l'immagine della superficie della piastrella di riferimento e la invia in formato matriciale, tramite il segnale di informazione INF, al dispositivo di controllo centrale 8.

Il blocco 240 è seguito dal blocco 250, nel quale il dispositivo di controllo centrale 8 effettua l'elaborazione dell'immagine matriciale tridimensionale per ricavare i valori dei parametri PjR e/o le funzioni Fj (PjR) di riferimento.

Il blocco 250 è seguito dal blocco 260, nel quale il dispositivo di controllo centrale 8 effettua la memorizzazione nella memoria 13 dei valori dei parametri PjR e/o delle funzioni FJ(PjR) di riferimento, aggiornando e definendo in tal modo i campi di variabilità di questi ultimi.

Il blocco 260 è seguito dal blocco 270, nel quale viene verificato se il contatore N di piastrelle di riferimento fornite è inferiore o uguale N<=NMAX al numero massimo NMAX preimpostato nel blocco 210.

Se il contatore N di piastrelle di riferimento è inferiore o uguale N<=NMAX al numero massimo NMAX, il blocco 270 è seguito dal blocco 280, nel quale il contatore N viene incrementato.

Il blocco 280 né seguito dal blocco 240, nel quale viene effettuata una nuova acquisizione dell'immagine superficiale di una nuova piastrella 2 di riferimento.

Se il contatore N delle piastrelle di riferimento è superiore N>NMAX al numero massimo NMAX, il blocco 270 è seguito dal blocco 300, nel quale viene terminata la caratterizzazione della classe CL.

Da quanto sopra descritto è opportuno sottolineare che la fase di caratterizzazione viene ripetuta per più classi CL di appartenenza, ad esempio per la una classe di prima scelta, per una classe di seconda scelta e per una classe di scarto.

In particolare per ogni classe CL vengono elaborate le immagini superficiali di un numero prestabilito di piastrelle affini a tale classe CL e di volta in volta vengono determinati e memorizzati nella memoria 13 i campi di variabilità dei parametri PjR e/o delle funzioni Fj(PjR) di riferimento che caratterizzano la classe CL stessa.

Il funzionamento dell'apparecchiatura 1 è evidente da quanto sopra descritto e non necessita perciò di ulteriori spiegazioni.

L'apparecchiatura per la selezione automatica delle piastrelle e dei materiali planari presenta il vantaggio di non richiedere l'impiego di manodopera determinando in tal modo un riduzione dei costi di produzione delle piastrelle e dei materiali planari stessi.

L'apparecchiatura per la selezione automatica delle piastrelle e dei materiali planari presenta inoltre il vantaggio di ottenere, attraverso le informazioni relative alla qualità estetica delle piastrelle, informazioni sul corretto/scorretto svolgimento del processo produttivo.

L'apparecchiatura per la selezione automatica delle piastrelle e dei materiali planari presenta infine il vantaggio di rendere la classificazione univoca e ripetibile garantendo in tal modo l'uniformità della qualità delle piastrelle fornite ai clienti.

Claims (1)

1. R IV E N D I CA Z IO N I 1.-Metodo per la classificazione della qualità estetica di materiali planari caratterizzato dal fatto di comprendere le fasi di: • Stabilire (110) una pluralità di classi di qualità estetica dei materiali planari attraverso una pluralità di parametri associati alle caratteristiche superficiali dei detti materiali planari; • Assegnare (250) a ciascuno dei detti parametri di ciascuna classe di qualità estetica un rispettivo campo di variabilità di riferimento; • Acquisire (120) l'immagine superficiale di detto materiale planare da classificare; • Elaborare (130) la detta immagine superficiale per ricavare i valori dei parametri che insieme caratterizzano ciascuna delle dette classi di qualità estetica; • Assegnare (170)(190) a ciascuno dei detti materiali planari una delle dette classi estetiche quando i valori dei parametri ricavati nella detta fase di elaborazione della detta immagine presentano una relazione prefissata con i campi di variabilità di riferimento della classe di qualità estetica stessa. 2.-Metodo per la classificazione della qualità estetica di materiali planari secondo la rivendicazione 1 caratterizzato dal fatto di comprendere la fase di assegnare (170) al detto materiale planare una delle dette classi, quando i valori dei parametri ricavati dall'elaborazione della detta immagine sono compresi all'interno dei campi di variabilità dei rispettivi parametri che caratterizzano la detta classe. 3.-Metodo per la classificazione della qualità estetica di materiali planari secondo una qualsiasi delle rivendicazioni precedenti caratterizzato dal fatto che la detta fase di stabilire (110) una pluralità di classi di qualità estetica comprende la fase di elaborare (250) un numero prestabilito di immagini superficiali di una pluralità di materiali planari appartenenti alla medesima classe per ricavare il campo di variabilità di riferimento di ciascuno dei parametri che caratterizzano la detta classe. 4.-Metodo per la classificazione della qualità estetica di materiali planari secondo una qualsiasi delle rivendicazioni precedenti caratterizzato dal fatto che la detta fase di stabilire (110) una pluralità di classi di qualità estetica comprende la fase di individuare (220) una prefissata metodologia di analisi del materiale planare atta ad determinare una pluralità di parametri che caratterizzano la superficie del materiale planare stesso. 5.-Metodo per la classificazione della qualità estetica di materiali planari secondo una qualsiasi delle rivendicazioni da 2 a 4, caratterizzato dal fatto di comprendere la fase di aggiornare (190) i detti parametri di riferimento quando almeno uno dei detti valori dei parametri ricavati dall'elaborazione della detta immagine presenta un valore esterno ai detti campi di variabilità dei rispettivi parametri di riferimento. 6.-Metodo per la classificazione della qualità estetica dei materiali planari secondo una qualsiasi delle rivendicazioni precedenti, caratterizzato dal fatto che la detta fase di elaborare (130)(240) la detta immagine superficiale per ricavare i valori dei parametri che caratterizzano la detta classe comprende la fase di elaborare (130)(250) l'immagine superficiale del detto materiale planare in un formato matriciale tridimensionale presentante una prima ed una seconda dimensione definite dal numero di punti che rappresentano un primo e rispettivamente un secondo lato dell'immagine, ed una terza dimensione contenente una pluralità di valori indicanti ciascuno una componente del colore presentato dal punto stesso. 7.- Apparecchiatura (1) per la selezione automatica di materiali planari caratterizzata dal fatto di comprendere: • mezzi selezionatori (9) atti a selezionare una pluralità di materiali planari (2) in funzione di un segnale di comando (COM); • mezzi di acquisizione (7) immagine atti ad acquisire l'immagine superficiale di detti materiali planari (2) ed a fornire in uscita un segnale d'informazione (INF) codificante la detta immagine superficiale; • mezzi di controllo (8), i quali sono atti a ricevere ed elaborare il detto segnale d'informazione (INF),attraverso 1'implementazione del metodo di classificazione della qualità estetica di materiali planari secondo le rivendicazioni da 1 a 6 in modo tale da alimentare ai detti mezzi selezionatori (9) il detto segnale di comando (COM). 8.- Apparecchiatura (1) per la selezione automatica di materiali planari secondo la rivendicazione 7 caratterizzata dal fatto di comprendere mezzi di trasporto (3) atti a spostare i materiali planari (2) in una prefissata direzione. 9.- Apparecchiatura (1) per la selezione automatica di materiali planari secondo una qualsiasi delle rivendicazioni 7 o 8, caratterizzata dal fatto di comprendere mezzi caricatori (4) atti a disporre i detti materiali planari (2) su detti mezzi di trasporto (3). 10.- Apparecchiatura (1) secondo una qualsiasi delle rivendicazioni da 7 a 9, caratterizzata dal fatto di comprendere mezzi di impilamento (10) atti a prelevare i detti materiali planari (2) suddivisi dai detti mezzi di selezione (9) per disporli in rispettive pile (11) comprendenti ciascuna una pluralità di materiali planari (2) presentanti una medesima qualità di classe estetica.