HUP0301509A2 - Ionoptikai rendszer és eljárás - Google Patents
Ionoptikai rendszer és eljárásInfo
- Publication number
- HUP0301509A2 HUP0301509A2 HU0301509A HUP0301509A HUP0301509A2 HU P0301509 A2 HUP0301509 A2 HU P0301509A2 HU 0301509 A HU0301509 A HU 0301509A HU P0301509 A HUP0301509 A HU P0301509A HU P0301509 A2 HUP0301509 A2 HU P0301509A2
- Authority
- HU
- Hungary
- Prior art keywords
- opening
- electrode
- ion
- ion beam
- quadrupole element
- Prior art date
Links
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 abstract 3
- 238000002955 isolation Methods 0.000 abstract 1
Landscapes
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Abstract
A találmány ionoptikai rendszer; amely tartalmaz ionnyaláb (11)keresztmetszeti alakját formáló elektrosztatikus quadrupol elemet,ahol az ionnyaláb (11) a quadrupol elemen keresztül van vezetve. Azionoptikai rendszer tartalmaz cső alakú lencsetubusból (20) és abbanszigetelten elhelyezett, a lencsetubus (20) tengelye irányában átmenő,első nyílással ellátott elektródából (21, 21') álló lencseegységet,ahol az ionnyaláb (11) az első nyíláson halad át és a lencsetubus (20)és az elektróda (21, 21') egymástól eltérő potenciálra van helyezve,amely lencseegység tartalmaz a quadrupol elemet megvalósító szakaszt(22, 22'), amely szakaszban (22, 22') az elektróda (21, 21') az elsőnyílást lényegében derékszögben keresztező, átmenő, második nyílássalrendelkezik. Ó
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
HU0301509A HU225354B1 (en) | 2003-05-29 | 2003-05-29 | Ionoptical system and method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
HU0301509A HU225354B1 (en) | 2003-05-29 | 2003-05-29 | Ionoptical system and method |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
HU0301509D0 HU0301509D0 (en) | 2003-08-28 |
HUP0301509A2 true HUP0301509A2 (hu) | 2005-01-28 |
HU225354B1 HU225354B1 (en) | 2006-10-28 |
Family
ID=89981387
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
HU0301509A HU225354B1 (en) | 2003-05-29 | 2003-05-29 | Ionoptical system and method |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
HU (1) | HU225354B1 (hu) |
-
2003
- 2003-05-29 HU HU0301509A patent/HU225354B1/hu not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
HU0301509D0 (en) | 2003-08-28 |
HU225354B1 (en) | 2006-10-28 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
WO2005001878A3 (en) | Multi reflecting time-of-flight mass spectrometer and a method of use | |
CA2413287A1 (en) | Ion separation instrument | |
EP1014196A3 (en) | Method and system of illumination for a projection optical apparatus | |
ATE355609T1 (de) | Monolitisches miniaturisiertes massenspektrometer | |
TW200518187A (en) | Exposure apparatus, exposure method, and device manufacturing method | |
ATE553597T1 (de) | Selbstregelendes stereoskopisches kamerasystem | |
WO2003102537A3 (en) | A high speed combination multi-mode ionization source for mass spectrometers | |
EP1329938A3 (en) | Ion irradiation system | |
WO2003028521A3 (en) | Electrode system for neural applications | |
DE60202753D1 (de) | Corona ionenquelle | |
WO2008071921A3 (en) | A co-axial time-of-flight mass spectrometer | |
WO2007127086A3 (en) | Methods and systems for trapping ion beam particles and focusing an ion beam | |
HUP0103821A2 (hu) | Fény irányvezető szerkezet és eljárás | |
EP1128218A3 (en) | Projection exposure apparatus | |
ITRM20000636A0 (it) | Procedimento di abbattimento del flusso di ioni e di piccoli detriti in sorgenti di raggi-x molli da plasma, tramite l'uso di kripton. | |
CN109273338A (zh) | 电子束成像装置 | |
EP1492151A3 (en) | Multipole lens, charged-particle beam instrument fitted with multipole lenses, and method of fabricating multipole lens | |
HUP0301509A2 (hu) | Ionoptikai rendszer és eljárás | |
JP2004071470A5 (hu) | ||
US7138642B2 (en) | Ion source with controlled superposition of electrostatic and gas flow fields | |
WO2002031484A3 (en) | Methods for characterizing molecular interactions using affinity capture tandem mass spectrometry | |
WO2004010164A3 (en) | Catadioptric projection objective | |
WO2002078036A3 (fr) | Dispositif de generation d'un faisceau d'ions | |
WO2004036261A3 (en) | Environment viewing enabling system and method | |
JP2008123999A (ja) | 収差補正装置及び収差補正方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM4A | Lapse of definitive patent protection due to non-payment of fees |