FR3098593A1 - Dispositif d’imagerie par rayons x et procede d’imagerie associe - Google Patents
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Abstract
Description
- une source de rayons X,
- un modulateur spatial d’intensité, présentant une épaisseur maximale et une épaisseur minimale, apte à être traversé par un faisceau de rayons X issus de la source de rayons X, et à former un faisceau de rayons X modulé spatialement en intensité,
- un support d’échantillon, apte à supporter un échantillon, ledit échantillon étant destiné à être traversé par au moins une partie dudit faisceau de rayons X modulé spatialement en intensité et transmettant un faisceau de rayons X réfracté modulé spatialement en intensité, l’échantillon, lorsqu’il est sur ledit support, étant situé à une distance d de la source de rayons X,
- un système de détection de rayons X, situé à une distance D de la source de rayons X, et comprenant un capteur bidimensionnel de rayons X muni d’une pluralité d’éléments photo-détecteurs, présentant chacun une même taille donnée, ledit système de détection étant apte, dans une première configuration du dispositif dans laquelle le dispositif ne comprend pas d’échantillon, à détecter un premier faisceau de rayons X issu directement du modulateur spatial d’intensité, ledit premier faisceau de rayons X issu directement du modulateur spatial d’intensité présentant une première modulation d’intensité, et à transformer ledit premier faisceau en un premier signal électrique, et, dans une deuxième configuration du dispositif dans laquelle un échantillon est disposé sur le support d’échantillon, à détecter un deuxième faisceau de rayons X, traversant le modulateur spatial d’intensité puis l’échantillon, ledit deuxième faisceau de rayons X réfracté par l’échantillon présentant une deuxième modulation d’intensité, et à le transformer ledit deuxième faisceau en un deuxième signal électrique,
- une unité de traitement électronique, apte à recevoir le premier signal électrique et à le traiter de manière à générer une première image comprenant une pluralité de pixels, présentant chacun une même taille donnée, et à recevoir le deuxième signal électrique et à le traiter de manière à générer une deuxième image, et apte à générer, à partir de ladite première image et de ladite deuxième image, au moins une image caractéristique dudit échantillon,
ledit dispositif d’imagerie étant caractérisé en ce que la différence entre l’épaisseur maximale et l’épaisseur minimale du modulateur spatial d’intensité, appelée rugosité moyenne, est comprise entre deux et vingt fois la taille des pixels de la première image, ladite taille étant égale au produit de la taille des éléments photo-détecteurs par le rapport d/D.
a/ exposer le modulateur spatial d’intensité à un faisceau de rayons X issus de la source de rayons X,
b/ dans la première configuration du dispositif, détecter et transformer le premier faisceau de rayons X en un premier signal électrique,
c/ recevoir et traiter, par l’unité de traitement électronique, le premier signal électrique, de manière à générer au moins une première image,
d/ dans la deuxième configuration du dispositif, détecter et transformer le deuxième faisceau de rayons X en un deuxième signal électrique,
e/ recevoir et traiter, par l’unité de traitement électronique, le deuxième signal électrique, de manière à générer au moins une deuxième image,
f/ générer, par l’unité de traitement électronique, à partir de ladite au moins une première image et de ladite au moins une deuxième image, au moins une image choisie parmi une image de transmission, une image du gradient de la phase différentielle dans deux directions orthogonales et parallèles à un plan perpendiculaire à la direction principale du faisceau de rayons X issu de la source de rayons X, une image de la phase, et une image de la diffusion de l’échantillon.
a/ exposer le modulateur spatial d’intensité à un faisceau de rayons X issus de la source de rayons X,
b/ dans la première configuration du dispositif, détecter et transformer le premier faisceau de rayons X en un premier signal électrique,
c/ recevoir et traiter, par l’unité électronique, le premier signal électrique, de manière à générer au moins une première image,
d/ dans la deuxième configuration du dispositif, dans le cas où soit le support d’échantillon est monté à rotation selon un axe de rotation orthogonal à la direction principale du faisceau de rayons X issus de la source de rayons X, soit l’ensemble formé par la source de rayons X et le système de détection de rayons X est monté à rotation autour du support d’échantillon, détecter le deuxième faisceau de rayons X et le transformer en un deuxième signal électrique, pour N positions données (1, …,i, …N), les N positions données étant soit des positions de l’échantillon, correspondant chacune à une rotation donnée du support d’échantillon, soit des positions de l’ensemble formé par la source de rayons X et le système de détection de rayons X,
e/ recevoir et traiter, par l’unité de traitement électronique, pour chacune des N positions, le deuxième signal électrique, de manière à générer pour chacune des N positions au moins une deuxième image,
f/ générer, par l’unité de traitement électronique, à partir de ladite au moins une première image et de toutes les deuxièmes images, au moins une image choisie parmi une image de transmission tridimensionnelle, une image tridimensionnelle du gradient de la phase différentielle dans deux directions orthogonales et parallèles à un plan perpendiculaire à la direction principale des rayons X issus de la source de rayons X, une image tridimensionnelle de la phase, et une image tridimensionnelle de la diffusion de l’échantillon.
a/ exposer le modulateur spatial d’intensité à un faisceau de rayons X issu de la source de rayons X,
b/ dans la première configuration du dispositif, détecter et transformer le premier faisceau de rayons X en un premier signal électrique,
c/ recevoir et traiter, par l’unité de traitement électronique, le premier signal électrique, de manière à générer au moins une première image,
d/ détecter, pour une pluralité de N instants ti, i étant un nombre entier compris entre 1 et N, contenus dans l’intervalle de temps T, et transformer le deuxième faisceau de rayons X en une pluralité de N deuxièmes signaux électriques,
e/ recevoir et traiter, par l’unité de traitement électronique, les N deuxièmes signaux électriques, de manière à générer N deuxièmes images,
f/ générer, par l’unité de traitement électronique, à partir de ladite au moins une première image et des N deuxièmes images, une séquence de N images successives, lesdites N images successives étant des images de transmission, des images de gradient de la phase différentielle dans deux directions orthogonales et parallèles à un plan perpendiculaire à la direction principale des rayons X issus de la source de rayons X, des images de la phase, ou des images de la diffusion de l’échantillon.
- La figure 2 montre deux images pouvant être obtenues avec respectivement la première et la deuxième configuration du dispositif selon l’invention.
- La figure 3 montre différentes photographies en vue de dessus d’un premier type de modulateurs spatiaux d’intensité pouvant être utilisé dans le dispositif selon l’invention.
- La figure 4 montre différentes photographies en vue de dessus d’un deuxième type de modulateurs spatiaux d’intensité pouvant être utilisé dans le dispositif selon l’invention.
- La figure 5 montre une série d’images obtenues selon un premier mode de réalisation du procédé d’imagerie selon l’invention, avec un premier type de modulateur spatial d’intensité.
- La figure 6 montre deux images d’un même échantillon obtenues avec deux couples source de rayons X-modulateur spatial d’intensité différents.
- La figure 7 montre différentes images d’un doigt obtenues selon un premier mode de réalisation du procédé d’imagerie selon l’invention, avec un deuxième type de modulateur spatial d’intensité, et une radiographie conventionnel du doigt.
- La figure 8 montre une radiographie conventionnelle obtenue par tomographie assistée par ordinateur d’un échantillon, une image bidimensionnelle du même échantillon obtenue avec un deuxième mode de réalisation du procédé d’imagerie selon l’invention, avec un premier type de modulateur spatial d’intensité, et une image de rendu de volume du même échantillon obtenu selon un deuxième mode de réalisation du procédé d’imagerie selon l’invention.
- La figure 9 montre une série d’images d’un échantillon composé d’un gant en latex, d’un échantillon de polystyrène et d’un fil métallique, obtenues selon un troisième mode de réalisation du procédé d’imagerie selon l’invention, avec une application à l’élastographie.
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Claims (19)
- Dispositif d’imagerie par rayons X (1), notamment en contraste de phase, caractérisé en ce que ledit dispositif d’imagerie comprend :
- une source de rayons X (2),
- un modulateur spatial d’intensité (3), présentant une épaisseur maximale et une épaisseur minimale, apte à être traversé par un faisceau de rayons X issus de la source de rayons X (2), et à former un faisceau de rayons X modulé spatialement en intensité,
- un support (4) d’échantillon (E), apte à supporter un échantillon (E), ledit échantillon (E) étant destiné à être traversé par au moins une partie dudit faisceau de rayons X modulé spatialement en intensité et transmettant un faisceau de rayons X réfracté modulé spatialement en intensité, l’échantillon (E), lorsqu’il est sur ledit support (4), étant situé à une distance d de la source de rayons X (2),
- un système de détection (5) de rayons X, situé à une distance D de la source de rayons X (2), et comprenant un capteur bidimensionnel de rayons X muni d’une pluralité d’éléments photo-détecteurs (5a), présentant chacun une même taille donnée, ledit système de détection (5) étant apte, dans une première configuration du dispositif dans laquelle le dispositif ne comprend pas d’échantillon (E), à détecter un premier faisceau de rayons X F issu directement du modulateur spatial d’intensité (3) ledit premier faisceau de rayons X issu directement du modulateur spatial d’intensité (3) présentant une première modulation d’intensité, et à transformer ledit premier faisceau en un premier signal électrique (Sélec_réf), et, dans une deuxième configuration du dispositif dans laquelle un échantillon (E) est disposé sur le support (4) d’échantillon (E), à détecter un deuxième faisceau de rayons X F’, traversant le modulateur spatial d’intensité (3) puis l’échantillon (E), ledit deuxième faisceau de rayons X réfracté par l’échantillon (E) présentant une deuxième modulation d’intensité, et à le transformer ledit deuxième faisceau en un deuxième signal électrique (Sélec_éch),
- une unité de traitement électronique (6), apte à recevoir le premier signal électrique (Sélec_réf) et à le traiter de manière à générer une première image (Iréf(x,y)) comprenant une pluralité de pixels, présentant chacun une même taille donnée, et à recevoir le deuxième signal électrique (Sélec_éch) et à le traiter de manière à générer une deuxième image (Iéch(x,y)), et apte à générer, à partir de ladite première image (Iréf(x,y)) et de ladite deuxième image (Iéch(x,y)), au moins une image caractéristique dudit échantillon (E),
ledit dispositif d’imagerie (1) étant caractérisé en ce que la différence entre l’épaisseur maximale et l’épaisseur minimale du modulateur spatial d’intensité (3), appelée rugosité moyenne, est comprise entre deux et vingt fois la taille des pixels de la première image Iréf(x,y), ladite taille étant égale au produit de la taille des éléments photo-détecteurs par le rapport d/D. - Dispositif (1) selon la revendication 1, caractérisé en ce que les éléments photo-détecteurs (5a) sont de même forme carrée et présentent chacun une même taille donnée égale à la longueur du côté de la forme carrée.
- Dispositif (1) selon la revendication 1, caractérisé en ce que les éléments photo-détecteurs (5a) sont de même forme rectangulaire et présentent chacun une même taille donnée égale à la longueur de la forme rectangulaire.
- Dispositif (1) selon l’une des revendications 1 à 3, caractérisé en ce que l’unité de traitement électronique est apte à générer, à partir de la différence entre ladite première image (Iréf(x,y)) et ladite deuxième image Iéch(x,y) au moins une image caractéristique dudit échantillon (E).
- Dispositif (1) selon l’une des revendications 1 à 4, caractérisé en ce que l’unité de traitement électronique est apte à générer ladite au moins une image caractéristique dudit échantillon (E) en fonction du gradient de la phase du faisceau de rayons X F’ réfracté reçu par le système de détection (5) dans la deuxième configuration du dispositif (1).
- Dispositif (1) selon l’une des revendications 1 à 5, caractérisé en ce que le modulateur spatial d’intensité (3) comprend un matériau choisi parmi un métal, un métalloïde, un élément léger et leurs mélanges, le numéro atomique dudit élément étant compris entre 13 et 80.
- Dispositif (1) selon la revendication 6, caractérisé en ce que le matériau du modulateur spatial d’intensité (3) est choisi parmi l’aluminium, le silicium, le fer, le cuivre, le titane, le nickel, l’argent, l’étain, l’or, et leurs mélanges.
- Dispositif (1) selon l’une des revendications 1 à 7, caractérisé en ce que le modulateur spatial d’intensité (3) comprend de la poudre et/ou des particules.
- Dispositif (1) selon l’une des revendications 1 à 8, caractérisé en ce que la source de rayons X (2) est apte à émettre des photons d’énergie comprise entre 10 et 300 keV.
- Dispositif (1) selon l’une des revendications 1 à 9, caractérisé en que la source de rayons X (2) est choisie parmi une source pour micro-tomographie assistée par ordinateur, par exemple de type nanoFoyer ou microFoyer, une source pour appareil de type amplificateur de brillance, une source pour appareil de type mammographie, et une source de type radiographie.
- Dispositif (1) selon l’une des revendications 1 à 10, caractérisé en ce que le support (4) d’échantillon (E) est monté à rotation selon un axe de rotation orthogonal à la direction principale du faisceau de rayons X issus de la source de rayons X (2).
- Dispositif (1) selon l’une des revendications 1 à 10, caractérisé en ce que l’ensemble formé par la source de rayons X (2) et le système de détection (5) de rayons X est monté à rotation autour du support (4) d’échantillon (E).
- Procédé d’imagerie par rayons X, caractérisé en ce qu’il met en œuvre un dispositif d’imagerie par rayons X (1) selon l’une des revendications 1 à 12.
- Procédé selon la revendication 13, caractérisé en ce qu’il est un procédé d’imagerie bidimensionnelle, ledit procédé comprenant les étapes suivantes :
a/ exposer le modulateur spatial d’intensité (3) à un faisceau de rayons X issus de la source de rayons X (2),
b/ dans la première configuration du dispositif (1), détecter et transformer le premier faisceau de rayons X F en un premier signal électrique (Sélec_réf),
c/ recevoir et traiter par l’unité électronique (6) le premier signal électrique (Sélec_réf), de manière à générer au moins une première image (Iréf(x,y)),
d/ dans la deuxième configuration du dispositif (1), détecter et transformer le deuxième faisceau de rayons X F’ en un deuxième signal électrique (Sélec_éch),
e/ recevoir et traiter par l’unité de traitement électronique (6) le deuxième signal électrique (Sélec_réf), de manière à générer au moins une deuxième image (Iéch(x,y)),
f/ générer, par l’unité de traitement électronique (6), à partir de ladite au moins une première image (Iréf(x,y)) et de ladite au moins une deuxième image (Iéch(x,y)), au moins une image choisie parmi une image de transmission, une image du gradient de la phase différentielle dans deux directions orthogonales et parallèles à un plan perpendiculaire à la direction principale du faisceau de rayons X issu de la source de rayons X (2), une image de la phase, et une image de la diffusion de l’échantillon (E).
- Procédé selon la revendication 13, dans le cas où le dispositif (1) mis en œuvre est un dispositif selon la revendication 11 ou 12, caractérisé en ce que le procédé est un procédé d’imagerie tridimensionnelle, ledit procédé comprenant les étapes suivantes :
a/ exposer le modulateur spatial d’intensité (3) à un faisceau de rayons X issus de la source de rayons X (2),
b/ dans la première configuration du dispositif (1), détecter et transformer le premier faisceau de rayons X F en un premier signal électrique (Sélec_réf),
c/ recevoir et traiter par l’unité de traitement électronique (6) le premier signal électrique (Sélec_réf), de manière à générer au moins une première image (Iréf(x,y)),
d/ dans la deuxième configuration du dispositif (1), dans le cas où soit le support (4) d’échantillon (E) est monté à rotation selon un axe de rotation orthogonal à la direction principale du faisceau de rayons X issus de la source de rayons X (2), soit l’ensemble formé par la source de rayons X (2) et le système de détection (5) de rayons X est monté à rotation autour du support (4) d’échantillon (E), détecter le deuxième faisceau de rayons X F’ et le transformer en un deuxième signal électrique (Sélec_éch_i), pour N positions données (1, …,i, …N), les N positions données étant soit des positions de l’échantillon (E), correspondant chacune à une rotation donnée du support (4) d’échantillon (E), soit des positions de l’ensemble formé par la source de rayons X (2) et le système de détection (5) de rayons X,
e/ recevoir et traiter par l’unité de traitement électronique (6), pour chacune des N positions, le deuxième signal électrique (Sélec_éch_i), de manière à générer pour chacune des N positions au moins une deuxième image (Iéch_i(x,y)),
f/ générer, par l’unité de traitement électronique (6), à partir de ladite au moins une première image (Iréf(x,y)) et de toutes les deuxièmes images (Iéch_i(x,y)), au moins une image choisie parmi une image de transmission tridimensionnelle, une image tridimensionnelle du gradient de la phase différentielle dans deux directions orthogonales et parallèles à un plan perpendiculaire à la direction principale des rayons X issus de la source de rayons X (2), une image tridimensionnelle de la phase, et une image tridimensionnelle de la diffusion de l’échantillon (E).
- Procédé selon l’une des revendications 14 et 15, caractérisé en ce qu’une pluralité de premières images (Iréf(x,y)) et une pluralité de deuxièmes images (Iéch(x,y)) sont générées et sont combinées pour générer par l’unité de traitement électronique (6) au moins une image bidimensionnelle ou tridimensionnelle choisie parmi une image de transmission, une image du gradient de la phase différentielle dans deux directions orthogonales et parallèles à un plan perpendiculaire à la direction principale du faisceau de rayons X issus de la source de rayons X (2), une image de la phase, et une image de la diffusion de l’échantillon (E).
- Procédé selon la revendication 13, caractérisé en ce qu’il est un procédé de suivi temporel de structures contenues dans un échantillon (E), durant un intervalle de temps T, ledit procédé comprenant les étapes suivantes :
a/ exposer le modulateur spatial d’intensité (3) à un faisceau de rayons X issu de la source de rayons X (2),
b/ dans la première configuration du dispositif (1), détecter et transformer le premier faisceau de rayons X F en un premier signal électrique (Sélec_réf),
c/ recevoir le premier signal électrique (Sélec_réf) et le traiter de manière à générer au moins une première image (Iréf(x,y)),
d/ détecter, pour une pluralité de N instants ti, i étant un nombre entier compris entre 1 et N, contenus dans l’intervalle de temps T, et transformer le deuxième faisceau de rayons X F’ en une pluralité de N deuxièmes signaux électriques (Sélec_éch_i), pour i allant de 1 à N,
e/ recevoir et traiter par l’unité de traitement électronique (6) les N deuxièmes signaux électriques (Sélec_éch_i), pour i allant de 1 à N, de manière à générer N deuxièmes images (Iéch(x,y)),
f/ générer, par l’unité de traitement électronique (6), à partir de ladite au moins une première image (Iréf(x,y)) et des N deuxièmes images (Iéch_i(x,y)), une séquence de N images successives (Idéf_i(x,y)), lesdites N images (Idéf_i(x,y)) successives étant des images de transmission, des images de gradient de la phase différentielle dans deux directions orthogonales et parallèles à un plan perpendiculaire à la direction principale des rayons X issus de la source de rayons X (2), des images de la phase, ou des images de la diffusion de l’échantillon (E).
- Procédé selon la revendication 17, où une pluralité de premières images (Iréf(x,y)) et une pluralité de deuxièmes images (Iéch_i(x,y)) sont générées et sont combinées pour générer par l’unité de traitement électronique (6) au moins une séquence de N images successives (Idéf_i(x,y)), pour i allant de 1 à N, lesdites N images (Idéf_i(x,y)) successives étant des images de transmission, des images de gradient de la phase différentielle dans deux directions orthogonales et parallèles à un plan perpendiculaire à la direction principale des rayons X issus de la source de rayons X (2), des images de la phase, ou des images de la diffusion de l’échantillon (E).
- Procédé selon la revendication 17 ou 18, caractérisé en ce qu’il comprend en outre une étape de traitement de ladite au moins une séquence de N images successives (Idéf_i(x,y)) pour obtenir des données élastographiques des structures de l’échantillon (E).
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