FR3054312B1 - Procede et dispositif de mesure de l'epaisseur d'un revetement metallique - Google Patents

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Abstract

L'invention concerne un procédé et un dispositif de mesure de l'épaisseur d'un revêtement métallique d'un substrat, ledit procédé étant du type comprenant les étapes suivantes: on fournit un substrat (10) revêtu d'un revêtement métallique (12), ledit revêtement métallique présentant une surface de revêtement ; et, on émet des ondes ultrasonores à ladite surface de revêtement selon une composante normale à ladite surface de revêtement et on enregistre un signal réfléchi pour pouvoir calculer l'épaisseur dudit revêtement. On transforme ledit signal réfléchi en signal fréquentiel pour pouvoir déterminer une différence de fréquences représentative de ladite épaisseur dudit revêtement (12) de façon à calculer l'épaisseur dudit revêtement.
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