FR2721418A1 - Procédé et dispositif pour le comptage et la caractérisation de défauts sur un support photographique. - Google Patents
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
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- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
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Abstract
La présente invention concerne un procédé et un dispositif pour le comptage et la caractérisation de défauts sur un support photographique. Selon le procédé objet de la présente invention, on fait défiler le support (1) devant un dispositif de mesure de densité optique (2), les valeurs de densité issues dudit dispositif étant analysées en vue de la détection, du comptage et de la caractérisation des défauts, ledit procédé étant caractérisé en ce que la détection des défauts s'effectue pour une première vitesse V1 de défilement du support (1) et en ce que la saisie et le stockage des donnée nécessaires au comptage et à la caractérisation des défauts ainsi détectés s'effectuent pour une seconde vitesse V2 de défilement du support, inférieure à V1. Application au traitement de films photographiques.
Description
PROCEDE ET DISPOSITIF POUR LE COMPTAGE ET LA
CARACTERISATION DE DEFAUTS SUR UN SUPPORT PHOTOGRAPHIQUE
La présente invention concerne un procédé et un dispositif pour le comptage et la caractérisation de défauts sur un support photographique. Le procédé concerne de préférence un support sous forme d'un film photographique en bande.
CARACTERISATION DE DEFAUTS SUR UN SUPPORT PHOTOGRAPHIQUE
La présente invention concerne un procédé et un dispositif pour le comptage et la caractérisation de défauts sur un support photographique. Le procédé concerne de préférence un support sous forme d'un film photographique en bande.
Dans le domaine de l'industrie photographique, un des paramètres affectant la qualité du film est lié à la présence de défauts physiques sur le film qui peuvent affecter de manière substantielle la qualité de l'utilisation du film qui pourra en être faite par l'utilisateur.
Au sens de la présente invention, le terme défaut désigne d'une part les objets ou particules pouvant être présents sur la surface du film photographique. A titre d'exemple, on peut citer les poussières telles que celles pouvant résulter de la découpe du film, les poussières atmosphériques pouvant se déposer sur le film par attraction électrostatique, ou lors du passage du film sur des rouleaux ou dispositifs de transport appropriés. I1 peut s'agir également de particules ou morceaux de film (ou de composants du film) arrachés à la surface du film et restant sur la surface du film, ou encore résultant de la découpe du film. D'autre part le terme défaut désigne également des défauts de structure de la surface dus, par exemple, à l'abrasion, ou à ce qui est généralement connu sous le terme "arrêt d'exposition".En fait, il s'agit des défauts de densité optique après développement dus à une in homogénéité locale du film ou à un obstacle interposé lors de l'exposition du film, entre la source de lumière de grisage uniforme et le film.
Le nombre et la nature de tels défauts étant représentatifs de la qualité du processus de fabrication du film, il est apparu souhaitable de développer un procédé et un appareil permettant de compter de façon simple et fiable les défauts présents sur un tel support photographique. I1 est également important de caractériser les défauts détectés afin d'identifier les faiblesses du processus utilisé pour la fabrication du support photographique en question.
Traditionnellement, le comptage et la caractérisation des défauts sur un support photographique étaient réalisés manuellement par un opérateur après grisage et développement du film examiné. une telle approche présente l'inconvénient d'être fastidieuse, peu reproductible et peu précise.
Selon une autre approche connue, on utilise un dispositif du type scanner utilisant un faisceau lumineux balayant la surface du film défilant à vitesse constante devant ledit scanner. Cette méthode, outre le fait de travailler en analogique, présente l'inconvénient de ne pas permettre une résolution suffisante en raison de la taille du spot lumineux. Typiquement, la taille d'un tel spot est d'environ 1 mm2. De plus, ceci ne permet pas une utilisation correcte pour des échantillons de film de faible dimension.
Aussi, est-ce un des objets de la présente invention que de fournir un procédé et un dispositif ne présentant pas les inconvénients discutés ci-dessus.
D'autres objets de la présente invention apparaîtront de manière détaillée au cours de la description qui suit.
Ces objets sont réalisés en fournissant un procédé pour le comptage et la caractérisation de défauts sur un support photographique dans lequel on fait défiler le support devant un dispositif de mesure de densité optique et dans lequel les valeurs de densité issues dudit dispositif sont analysées en vue de la détection, du comptage et de la caractérisation des défauts, ledit procédé étant caractérisé en ce que la détection des défauts s'effectue pour une première vitesse V1 de défilement du support et en ce que la saisie et le stockage des données nécessaires au comptage et à la caractérisation des défauts ainsi détectés s'effectuent pour une seconde vitesse V2 de défilement du support, inférieure à V1.
Selon un premier mode de réalisation, le procédé selon l'invention comprend les étapes suivantes:
a) faire défiler le support à une première vitesse V1 devant un dispositif de mesure de la densité optique dudit support;
b) numériser l'information relative à la densité optique du support générée par ledit dispositif;
c) détecter tout changement de densité dont l'amplitude est représentative de la présence d'au moins un défaut;
d) lors de la détection d'un tel changement, arrêter le défilement du support;
e) déplacer le support par rapport aux moyens de mesure de sorte que lesdits moyens de mesure soient en regard d'une zone du support située en amont du premier défaut détecté;;
f) faire défiler le support devant lesdits moyens de mesure à une seconde vitesse V2, inférieure à la première vitesse V1 jusqu'à ce que lesdits moyens de mesure soient en regard d'une zone du support située en aval du dernier défaut détecté;
g) mémoriser l'information relative à la densité optique dudit support pendant le défilement du support à ladite seconde vitesse V2;
h) réitérer les étapes a) à g) pour le reste du support;
i) traiter l'information ainsi mémorisée pendant les périodes de défilement à vitesse V2, de manière à compter et à caractériser les défauts détectés.
a) faire défiler le support à une première vitesse V1 devant un dispositif de mesure de la densité optique dudit support;
b) numériser l'information relative à la densité optique du support générée par ledit dispositif;
c) détecter tout changement de densité dont l'amplitude est représentative de la présence d'au moins un défaut;
d) lors de la détection d'un tel changement, arrêter le défilement du support;
e) déplacer le support par rapport aux moyens de mesure de sorte que lesdits moyens de mesure soient en regard d'une zone du support située en amont du premier défaut détecté;;
f) faire défiler le support devant lesdits moyens de mesure à une seconde vitesse V2, inférieure à la première vitesse V1 jusqu'à ce que lesdits moyens de mesure soient en regard d'une zone du support située en aval du dernier défaut détecté;
g) mémoriser l'information relative à la densité optique dudit support pendant le défilement du support à ladite seconde vitesse V2;
h) réitérer les étapes a) à g) pour le reste du support;
i) traiter l'information ainsi mémorisée pendant les périodes de défilement à vitesse V2, de manière à compter et à caractériser les défauts détectés.
Selon la présente invention, on réalise également un appareil pour le comptage et la caractérisation de défauts sur un support photographique comprenant:
a) un dispositif de mesure de densité optique devant lequel on fait défiler le support;
b) des moyens pour analyser les valeurs de densité issues dudit dispositif, en vue de la détection, du comptage et de la caractérisation des défauts;
ledit appareil étant caractérisé en ce qu'il comprend des moyens pour sélectivement, faire défiler le support à une première vitesse V1 pour la détection des défauts et, à une seconde vitesse V2, inférieure à V1, pour la saisie et le stockage des valeurs de densité nécessaires au comptage et à la caractérisation des défauts ainsi détectés.
a) un dispositif de mesure de densité optique devant lequel on fait défiler le support;
b) des moyens pour analyser les valeurs de densité issues dudit dispositif, en vue de la détection, du comptage et de la caractérisation des défauts;
ledit appareil étant caractérisé en ce qu'il comprend des moyens pour sélectivement, faire défiler le support à une première vitesse V1 pour la détection des défauts et, à une seconde vitesse V2, inférieure à V1, pour la saisie et le stockage des valeurs de densité nécessaires au comptage et à la caractérisation des défauts ainsi détectés.
Avantageusement, le dispositif comprend:
a) des moyens pour faire défiler le support à une première vitesse Vl devant un dispositif de mesure de la densité optique dudit support;
b) des moyens pour numériser l'information relative à la densité optique du support générée par ledit dispositif;
c) des moyens pour détecter tout changement de densité dont l'amplitude est représentative de la présence d'au moins un défaut;
d) des moyens pour, lors de la détection d'un tel changement, arrêter le défilement du support et le déplacer par rapport aux moyens de mesure de sorte que lesdits moyens de mesure soient en regard d'une zone du support située en amont du premier défaut détecté; ;
e) des moyens pour faire défiler le support devant lesdits moyens de mesure à une seconde vitesse V2, inférieure à la première vitesse V1 jusqu'à ce que lesdits moyens de mesure soient en regard d'une zone du support située en aval du dernier défaut détecté;
f) des moyens pour mémoriser l'information relative à la densité optique dudit support pendant le défilement du support à ladite seconde vitesse V2;
g) des moyens pour traiter l'information ainsi mémorisée de manière à compter et à caractériser les défauts détectés.
a) des moyens pour faire défiler le support à une première vitesse Vl devant un dispositif de mesure de la densité optique dudit support;
b) des moyens pour numériser l'information relative à la densité optique du support générée par ledit dispositif;
c) des moyens pour détecter tout changement de densité dont l'amplitude est représentative de la présence d'au moins un défaut;
d) des moyens pour, lors de la détection d'un tel changement, arrêter le défilement du support et le déplacer par rapport aux moyens de mesure de sorte que lesdits moyens de mesure soient en regard d'une zone du support située en amont du premier défaut détecté; ;
e) des moyens pour faire défiler le support devant lesdits moyens de mesure à une seconde vitesse V2, inférieure à la première vitesse V1 jusqu'à ce que lesdits moyens de mesure soient en regard d'une zone du support située en aval du dernier défaut détecté;
f) des moyens pour mémoriser l'information relative à la densité optique dudit support pendant le défilement du support à ladite seconde vitesse V2;
g) des moyens pour traiter l'information ainsi mémorisée de manière à compter et à caractériser les défauts détectés.
La description détaillée qui suit sera faite en référence au dessin dans lequel:
la Fig. 1 représente de manière schématique un mode de réalisation du dispositif pour la mise en oeuvre du procédé selon la présente invention.
la Fig. 1 représente de manière schématique un mode de réalisation du dispositif pour la mise en oeuvre du procédé selon la présente invention.
Selon le mode de réalisation représenté à la Fig. 1, le film 1 défile devant un dispositif de mesure de densité optique. A titre d'exemple il s'agit d'une caméra CCD linéaire. De préférence, afin d'être en mesure de détecter des défauts d'une taille pouvant descendre jusqu'à 10ssm, on utilise une caméra offrant une résolution de 11,23ssm. Des tailles de défauts encore plus petites peuvent être détectées en utilisant des dispositifs optiques appropriés entre la caméra et le film. De tels dispositifs modifient l'agrandissement de l'image observée par la caméra. De tels arrangements optiques sont bien connus de l'homme du métier et, par conséquent, ne nécessitent pas de description supplémentaire.
La caméra observe l'image du film 1 éclairé par une source lumineuse 3. A titre d'exemple, on utilise une lampe halogène couplée à un dispositif optique approprié (non représenté) permettant de produire une densité lumineuse homogène dans la zone observée par la caméra.
Dans le mode de réalisation représenté, la caméra observe l'image lumineuse transmise au travers du film 1. Cette solution est particulièrement avantageuse dans le cas on l'on souhaite détecter des arrêts d'exposition ou des objets à la surface du film et de densité importante. Pour des objets de densité sensiblement égale à celle du support photographique, on utilisera de préférence une détection par réflexion.
Les valeurs de densité mesurées par la caméra sont numérisées et transmises à des moyens de traitement 4 utilisant un microprocesseur, dans lequel les valeurs de densité sont comparées à un profil de référence. Le résultat de cette comparaison indique la présence ou non de défauts sur le support examiné. Lors de cette phase dont le but est de détecter des défauts, le film 1 défile à une première vitesse V1. Typiquement cette vitesse V1 est d'environ 2 à 4 mm/s. Cette vitesse dépend bien évidemment de ce que l'on souhaite détecter. Les moyens de traitement 4 commandent le dispositif 5 utilisé pour l'entraînement du film afin d'en modifier la vitesse. Ceci fera l'objet d'une description plus détaillée par la suite.
Selon le mode de réalisation représenté, le dispositif d'entraînement 5 comprend un galet 6 d'entraînement du film sur lequel est couplé un réducteur de vitesse 7 permettant de réduire la vitesse angulaire du moteur pas à pas 8. Le moteur pas à pas 8 est commandé par une électronique de commande 9 qui, elle-même, reçoit ses consignes de fonctionnement du p-processeur 4. Le film provient d'un dispositif de déroulement 10 comprenant une bobine de dévidage 11 sur lequel est enroulé le film 1. L'axe de cette bobine est entraîné par un moteur 12 via un réducteur 13. Le moteur 12 est commandé par un variateur 14, lui même relié au dispositif de traitement 4 ainsi qu'à un tensiomètre 15 dont la fonction est de mesurer en permanence la tension du film. Cette tension est comparée par le variateur 14 à une consigne fournie par le dispositif 4.En réponse à cette comparaison, la position du tensiomètre 15 est modifiée de manière à maintenir la valeur de tension du film dans une plage de valeurs donnée.
Le film 1, après être passé devant la caméra 2 est enroulé sur un dispositif d'envidage 16, de préférence identique au dispositif de dévidage 10. Cette solution présente l'avantage de permettre le fonctionnement du dispositif dans les deux sens et en facilite la maintenance.
Lorsque la valeur de densité mesurée par la caméra 2 indique en un point du support la présence d'un défaut (c'est à dire une différence positive ou négative par rapport à une valeur de référence, le dispositif de commande 4 arrête le défilement du film et commande le moteur pas à pas de manière à reculer le film par rapport à la caméra 2. Le film est reculé d'une distance suffisante de manière à placer la zone observée par la caméra en amont du défaut détecté. De préférence, on positionne la caméra 30 à 40pm en amont du premier défaut détecté de façon à rattraper les jeux mécaniques du système de défilement. Le dispositif 4 commande le moteur pas à pas de manière à entraîner le film (dans la direction initiale) à une vitesse V2 inférieure à la vitesse V1. Cette vitesse est à titre d'exemple, de l'ordre de 1 mm/s.Pendant cette période de défilement à vitesse V2, les valeurs de densité mesurées par la caméra 2 et numérisées sont mémorisées ligne par ligne au moyen d'une mémoire de masse (par exemple, un disque dur). Ce processus à vitesse de défilement V2 se poursuit jusqu'à ce que la zone observée par la caméra 2 soit située en aval du dernier défaut détecté. A cet instant, le dispositif de traitement 4 commande l'électronique 9 de manière à entraîner le film 1 à la vitesse V1 jusqu'à ce que soit détecté le défaut suivant. On répète ces opérations jusqu'à ce que l'on ait atteint la fin du support à examiner ou de la zone du support à examiner.
Après cela, par exemple, pendant les périodes de chargement/déchargement du film on procède au traitement des informations mémorisées pendant les périodes de défilement du film à vitesse V2. Ce traitement a pour but de caractériser les défauts détectés. Au sens de la présente invention, le terme "caractériser" signifie par exemple une détermination de la taille des défauts détectés, de la forme des défauts, du contraste ou de la position des défauts. A titre d'exemple, on réalise un traitement d'image conventionnel. Selon un premier mode de réalisation, on réalise des extractions de contour en utilisant des algorithmes de gradient, ceci pour, a l'intérieur du fichier, détecter où sont localisés les défauts. On peut aussi utiliser des méthodes de filtrage pour supprimer le bruit de fond.Ces techniques de traitement sont connues de l'homme du métier et, par conséquent ne nécessitent aucune description supplémentaire. A titre d'exemple, on utilise le logiciel
COLOR PC-SCOPE commercialisé par I2S.
COLOR PC-SCOPE commercialisé par I2S.
Avantageusement, dans le cas d'une analyse ligne par ligne du support, et afin d'améliorer la vitesse du procédé, l'analyse des données qui est faite en vue de détecter la présence d'un défaut est réalisée de telle sorte que la comparaison des valeurs de densité relatives à la ligne n avec le profil de référence évoqué ci-avant, soit effectuée pendant l'acquisition des valeurs de densité de la ligne n+l. Cette analyse en temps masqué réduit d'environ un tiers le temps nécessaire à l'analyse d'un support.
Selon une première alternative, le profil de référence utilisé pour la détection d'un défaut est variable d'un bout à l'autre de la bande de manière à compenser les variations de densité du film sur toute sa longueur. Par exemple on réalise une moyenne glissante, c'est à dire que l'on pondère les valeurs obtenues de manière à donner un poids plus important aux dernières valeurs. Le profil de référence n'est réactualisé que si la ligne analysée ne comporte pas de défaut.
Selon une seconde alternative, au lieu de déplacer le film par rapport à la caméra, on déplace la caméra par rapport au support, l'important étant d'obtenir un mouvement relatif de l'un par rapport à l'autre de manière à positionner correctement la caméra par rapport au défaut.
Cette seconde approche présente l'avantage de simplifier les mécanismes d'entraînement du film.
Selon une troisième alternative, chaque défaut détecté ne déclenche pas systématiquement le passage à vitesse réduite V2 du film. Selon cette approche, au lieu de détecter seulement le début d'un défaut on en détecte également la fin, ceci à vitesse V1. Ainsi, ce premier passage à vitesse élevé donne une idée approximative des dimensions et de la forme du défaut détecté. En fonction de ces informations approximatives, il est possible de décider si une analyse complète du défaut est nécessaire, auquel cas on déclenche la procédure normale de passage a vitesse réduite. Dans le cas inverse, on passe directement au défaut suivant. Ceci permet d'améliorer l'efficacité du procédé en fonctions des besoins de l'utilisateur.
Selon une quatrième alternative, on utilise un dispositif de traitement supplémentaire, connecté au premier dispositif 4 ,et dont la fonction est de recevoir le fichier mémorisé à la vitesse V2 par le premier dispositif 4 afin d'y être traité pendant que le premier dispositif gère le processus de détection de défauts sur le film à vitesse V1.
Selon encore une autre alternative, on utilise deux caméras CCD disposées successivement, de sorte que le film circule d'abord devant une première caméra qui détecte le début et la fin du défaut à vitesse V1 élevée. Après détection de la fin du défaut et préalablement à l'arrivée du défaut dans le champ de la seconde caméra, les moyens de traitement 4 déclenchent le ralentissement de la vitesse de défilement de la bande de sorte que le support passe à vitesse V2 réduite devant le second dispositif de mesure, et ce, jusqu'à ce que le défaut examiné ne soit plus dans le champ d'observation du second dispositif de mesure, après quoi la vitesse V1 de défilement du film est rétablie. Cette solution présente l'avantage d'améliorer la performance du procédé quant à sa vitesse d'exécution.
Evidemment, l'homme du métier appréciera que d'autres variations par rapport aux modes de réalisation exposés cidessus, peuvent être apportées sans pour autant s'écarter du concept de la présente invention. A titre d'exemple, on notera, qu'il est possible d'utiliser plusieurs caméras réparties sur la largeur du support à examiner, et ceci iorsqu'il est souhaitable d'augmenter la largeur inspectée tout en conservant une résolution identique, ou bien, lorsque pour une même largeur du support à examiner, il est souhaitable d'augmenter la résolution.
Claims (8)
1 - Procédé pour le comptage et la caractérisation de
défauts sur un support photographique dans lequel on
fait défiler le support (1) devant un dispositif de
mesure de densité optique (2) et dans lequel les
valeurs de densité issues dudit dispositif sont
analysées en vue de la détection, du comptage et de la
caractérisation des défauts, ledit procédé étant
caractérisé en ce que la détection des défauts
s'effectue pour une première vitesse V1 de défilement
du support (1) et en ce que la saisie et le stockage
des donnée nécessaires au comptage et à la
caractérisation des défauts ainsi détectés s'effectuent
pour une seconde vitesse V2 de défilement du support,
inférieure à V1.
2 - Procédé selon la revendication 1 caractérisé en ce
qu'il comprend les étapes suivantes:
a) faire défiler le support (1) à une première
vitesse V1 devant un dispositif de mesure (2) de la
densité optique dudit support;
b) numériser l'information relative à la densité
optique du support générée par ledit dispositif;
c) détecter tout changement de densité dont
l'amplitude est représentative de la présence d'au
moins un défaut;
d) lors de la détection d'un tel changement,
arrêter le défilement du support;
e) déplacer le support par rapport aux moyens de
mesure de sorte que lesdits moyens de mesure soient en
regard d'une zone du support située en amont du premier
défaut détecté;;
f) faire défiler le support devant lesdits moyens
de mesure à une seconde vitesse V2, inférieure à la
première vitesse V1 jusqu'à ce que lesdits moyens de
mesure soient en regard d'une zone du support située en
aval du dernier défaut détecté;
g) mémoriser l'information relative à la densité
optique dudit support pendant le défilement du support
à ladite seconde vitesse V2;
h) réitérer les étapes a) à g) pour le reste du
support;
i) traiter l'information ainsi mémorisée pendant
les périodes de défilement à vitesse V2, de manière à
compter et à caractériser les défauts détectés.
3 - Procédé selon la revendication 2 dans lequel l'étape c)
consiste à détecter le début et la fin du défaut,
l'information relative à la densité optique du support
générée par ledit dispositif à vitesse V1 entre le
début et la fin du défaut étant utilisée pour décider
de l'arrêt ou non du défilement du support de l'étape
d).
4 - Procédé selon la revendication 1 caractérisé en ce
qu'il comprend les étapes suivantes:
a) faire défiler le support à une première
vitesse V1 successivement devant un premier et un
second dispositifs de mesure de la densité optique
dudit support;
b) numériser l'information relative à la densité
optique du support (1) générée par le premier
dispositif;
c) détecter tout changement de densité dont
l'amplitude est représentative de la présence d'un
défaut;
d) préalablement à l'arrivée dudit défaut devant
le second dispositif de mesure, modifier la vitesse de
défilement du film à une vitesse V2, inférieure à V1,
et ce jusqu'à ce que le défaut détecté par le premier
dispositif de mesure ne soit plus dans le champ
d'observation du second dispositif de mesure.
compter et à caractériser les défauts détectés.
les périodes de défilement à vitesse V2, de manière à
g) traiter l'information ainsi mémorisée pendant
support;
f) réitérer les étapes a) à e) pour le reste du
seconde vitesse V2;
support pendant le défilement du support à ladite
second dispositif et relative à la densité optique du
e) mémoriser l'information générée par ledit
5 - Procédé selon la revendication 2, dans lequel lesdits
moyens de mesure sont mis en regard de la zone du
support en amont du premier défaut détecté, par un
mouvement desdits moyens de mesure (2) par rapport au
support (1).
6 - Appareil pour le comptage et la caractérisation de
défauts sur un support photographique (1) comprenant:
a) un dispositif de mesure de densité optique (2)
devant lequel on fait défiler le support (1);
b) des moyens (4) pour analyser les valeurs de
densité issues dudit dispositif (2) , en vue de la
détection, du comptage et de la caractérisation des
défauts;
ledit appareil étant caractérisé en ce qu'il
comprend des moyens (4, 6, 7, 8, 9) pour sélectivement,
faire défiler le support à une première vitesse V1 pour
la détection des défauts et, à une seconde vitesse V2,
inférieure à V1, pour la saisie et le stockage des
valeurs de densité nécessaires au comptage et à la
caractérisation des défauts ainsi détectés.
7 - Appareil selon la revendication 6 caractérisé en ce
qu'il comprend en plus un second dispositif de mesure
de densité optique, ledit support défilant
successivement devant les deux dispositifs, la vitesse
de défilement du support étant changée de V1 à V2,
préalablement à l'arrivée d'un défaut, détecté par le
premier dispositif de mesure, devant le second
dispositif, et ce jusqu'à ce que ledit défaut ne soit
plus dans le champ d'observation du second dispositif
de mesure.
8 - Dispositif selon la revendication 6 caractérisé en ce
qu'il comprend:
a) des moyens (6, 7, 8, 9) pour faire défiler le
support (1) à une première vitesse V1 devant un
dispositif de mesure de densité optique (2);
b) des moyens (2) pour numériser l'information
relative à la densité optique du support générée par
ledit dispositif;
c) des moyens (4) pour détecter tout changement
de densité dont l'amplitude est représentative de la
présence d'au moins un défaut;
d) des moyens (4, 6, 7, 8, 9) pour, lors de la
détection d'un tel changement, arrêter le défilement du
support et le déplacer par rapport aux moyens de mesure
(2) de sorte que lesdits moyens de mesure soient en
regard d'une zone du support située en amont du premier
défaut détecté; ;
e) des moyens (4, 6, 7, 8, 9) pour faire défiler
le support devant lesdits moyens de mesure à une
seconde vitesse V2, inférieure à la première vitesse V1
jusqu'à ce que lesdits moyens de mesure soient en
regard d'une zone du support située en aval du dernier
défaut détecté;
f) des moyens (4)pour mémoriser l'information
relative à la densité optique dudit support pendant le
défilement du support à ladite seconde vitesse V2;
g) des moyens (4) pour traiter l'information
ainsi mémorisée de manière à compter et à caractériser
les défauts détectés.
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FR9407601A FR2721418B1 (fr) | 1994-06-15 | 1994-06-15 | Procédé et dispositif pour le comptage et la caractérisation de défauts sur un support photographique. |
| US08/488,995 US5641971A (en) | 1994-06-15 | 1995-06-08 | Method and device for counting and characterizing defects on a photographic support |
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| EP95420150A EP0687902A1 (fr) | 1994-06-15 | 1995-06-12 | Méthode et dispositif pour le comptage et la caractérisation de défauts sur un support photographique |
Applications Claiming Priority (1)
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|---|---|---|---|
| FR9407601A FR2721418B1 (fr) | 1994-06-15 | 1994-06-15 | Procédé et dispositif pour le comptage et la caractérisation de défauts sur un support photographique. |
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|---|---|
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Family Applications (1)
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- 1995-06-12 EP EP95420150A patent/EP0687902A1/fr not_active Withdrawn
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| PATENT ABSTRACTS OF JAPAN vol. 11, no. 93 (P - 559) 24 March 1987 (1987-03-24) * |
| PATENT ABSTRACTS OF JAPAN vol. 14, no. 199 (P - 1040)<4142> 23 April 1990 (1990-04-23) * |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0687902A1 (fr) | 1995-12-20 |
| FR2721418B1 (fr) | 1996-08-14 |
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| JPH085576A (ja) | 1996-01-12 |
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