FR2527360A1 - Dispositif de recalage dans le temps de signaux pour systemes de test automatiques - Google Patents

Abstract

CE DISPOSITIF PERMET DE PRODUIRE DES SIGNAUX RECALES DANS LE TEMPS ET COMPREND UN GENERATEUR DE CADENCEMENT 20 POUR ELABORER UNE IMPULSION DE DUREE DESIREE, UNE UNITE DE SYNCHRONISATION 17 ADAPTEE A RECEVOIR L'IMPULSION ET REGLER SA DUREE DE FACON A COMPENSER LES ERREURS PRECEDENTES, UN CIRCUIT DE DIFFERENTIATION 15 POUR DIVISER L'IMPULSION EN FRONT AVANT ET FRONT ARRIERE, DES PORTES 80 A 85 POUR AIGUILLER LES FRONTS AVANT ET ARRIERE VERS UNE VOIE D'ACTIVATION OU UNE VOIE DE DESACTIVATION, DES UNITES 86 ET 89 POUR RETARDER LES SIGNAUX SUR CES VOIES ET UNE BASCULE 53 POUR RECONSTRUIRE L'IMPULSION INITIALE.

Description

DISPOSITIF DE RECALAGE DANS LE TEMPS DE SIGNAUX

POUR SYSTEMES DE TEST AUTOMATIQUES

L'invention se rapporte aux systèmes de test auto-

matiques utilisés pour tester les circuits intégrés pris isolément ou en combinaison avec d'autres circuits, et notamment à une technique pour recaler dans le temps les signaux appliqués à un appareil testé.

On connaît de nombreux équipements de test automa-

tiques Par exemple, la société Fairchild Camera & Instrument Corporation commercialise de tels systèmes sous la marque USENTRY" Dans ce système, on place le circuit intégré sur un support convenable qui permet l'application de signaux de stimulation sur différents connecteurs et la réception de signaux de sortie provenant de l'appareil testé En comparant ces signaux de sortie et ceux qui proviennent d'un dispositif satisfaisant, ou ceux prévus par l'analyse des circuits, par des calculs, ou par d'autres méthodes analytiques, on peut déterminer les fonctions et/ou les performances du dispositif testé Généralement, dans de tels systèmes, on utilise un ordinateur numérique pour commander un module de cadencement qui fournit différents

signaux de cadencement à un circuit de commande de format.

Cette commande de format élabore, en réponse au module de cadencement, des signaux de forme appropriée et les applique à des électroniques de connecteurs, chacune d'elle étant associée à un connecteur de l'appareil testé Les signaux provenant de l'appareil testé reviennent aux électroniques de connecteurs et à une unité de détection de défauts qui détecte les fonctions et/ou les performances du dispositif testé. -2- 1 Comme des fonctions en nombre de plus en plus élevé sont incorporées dans un circuit intégré unique, ou un groupe de circuits intégrés, et comme les performances de

ces circuits s'améliorent, il faut aussi améliorer les per-

formances des systèmes de test afin de pouvoir détecter les variations de telles performances un problème bien connu des systèmes de test est le décalage temporel des signaux d'entrée appliqués à l'appareil testé et des signaux de

sortie reçus de ce dispositif Si les signaux de stimula-

tion ne sont pas recalés dans le temps, le fonctionnement et les performances correctes de l'appareil testé ne peuvent pas être déterminés Dans les systèmes connus, ce recalage est accompli par le réglage de nombreux potentiomètres associés à chacun des connecteurs du système de test Dans un système à 120 connecteurs de l'art antérieur, chacun de ces connecteurs était assoc Aié à huit potertiomètres afin de

recaler les signaux appliqués eu reçue sur ce connecteur.

Ainsi, il fallait régler à la:sain presque mille potentio-

mètres pour pouvoir effectuer les tests Comme le réglage d'un potentiomètre influence surd-ent les autres, il est souvent nécessaire de régler cbaque potentiomètre plusieurs fois pour obtenir la synclr,-nie Sation Evidemment, cette

opération est très longue et dïlicate.

Un autre problème des systèmes de test connus se situe dans l'élaboration et le racal age de signaux inversés Dans certains modes de Fonctionnement de ces systèmes, il faut fournir à l'appareil testé un signal donné et son complément Il faut que ces signaux soient recalés

dans le temps avec précision.

De plus, avec des vitesses de fonctionnement des

systèmes de test qui approchent 20 M Hz, on exige des tolé-

rances de synchronisation ne dépassant pas 1 nanoseconde et parfois même + 500 picosecondes Avec les techniques connues, on est parvenu à des tolérances d'une nanoseconde, mais seulement si les tests sont effectués immédiatement après l'alignement temporel du système et à condition de -31 n'utiliser que de petits sous-ensembles des possibilités de

cadencement et de format Au cours de l'utilisation du sys-

tème, la fiabilité de cet alignement diminue Par consé-

quent, si l'on trouve que les rendements des dispositifs testés diminuent, on n'est pas sûr que cette diminution corresponde effectivement à une variation de rendement ou à

une variation des performances du système de test.

L'invention permet d'éliminer les réglages manuels de potentiomètres qui étaient nécessaires dans les systèmes précédents L'invention permet des réglages de décalages

temporels pour tous les générateurs de format et de cadence-

ment avec des tolérances encore jamais atteintes De plus, en supprimant les réglages manuels, l'invention réduit à 15

utinutes le temps de réglage du décalage qui durait précédem-

ment environ une demi-journée On peut ainsi réaligner le système plus fréquemment et obtenir ainsi une meilleure

fiabilité des résultats de test.

Selon l'invention, un dispositif pour fournir des signaux recalés dans le temps comprend: un générateur de signaux pour élaborer un signal électrique de durée désirée, le signal comprenant un front avant et un front arrière; des moyens de différenciation reliés au générateur pour diviser le signal en une paire de signaux; des circuits logiques de portes adaptés à recevoir ladite paire de signaux et à appliquer l'un des signaux de la paire à une voie d'activation et l'autre des signaux de la paire à une voie de désactivation; des moyens de retard reliés à chacune desdites voies pour retarder chacun des signaux apparaissant sur ces voies d'un temps désiré; des moyens

basculeurs connectés auxdits moyens de retard afin de rece-

voir les signaux retardés et reconstruire le signal électri-

que de durée désirée; et des moyens de commande reliés aux circuits logiques pour commander l'application de chacun des

signaux de la paire à l'une ou l'autre desdites voies.

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-4 - 1 Dans un mode de réalisation, les moyens à retard comprennent des premiers moyens de multiplexage pour relier l'une de N bornes d'entrée à une borne de sortie, une pluralité de lignes à retard de longueur réglable, chacune d'elle étant connectée entre un groupe différent de bornes d'entrée de façon qu'un signal appliqué à la première de ces bornes d'entrée soit transmis à chacune des autres bornes d'entrée en passant par au moins une ligne à retard, et des moyens pour appliquer le signal à retarder à ladite première

borne d'entrée.

L'invention sera d'ailleurs mieux comprise de la

description qui va suivre, donnée à titre d'exemple non

limitatif en référence aux dessins annexés dans lesquels: La figure 1 est un diagramme synoptique d'un système de test représentant les interrelations des divers

modules et circuits; -

La figure 2 est un schéma plus détaillé de la commande de format associée à chaque connecteur du système; La figure 3 est un schéma détaillé du circuit de recalage grossier de la figure 2; La figure 4 est un schéma détaillé du circuit de recalage fin de la figure 2; La figure 5 est un schéma plus détaillé de la commande de format et de l'unité de recalage; La figure 6 est un diagramme de formes de signaux dans le temps pour montrer le fonctionnement du dispositif

de la figure 5.

En référence à la figure 1, un système de test selon l'invention comprend un ordinateur 10 qui envoie des

informations de commande et reçoit des rapports des sous-

systèmes, des demandes d'interruption et des données de test provenant de l'appareil testé 90 En général, différents registres de l'ordinateur 10 permettent l'envoi de commande sur chaque connecteur de l'appareil testé 90, tandis que d'autres parties de l'ordinateur 10 comparent les sorties de l'appareil testé à une combinaison de sorties attendues -5- 1 gardées en mémoire Le fonctionnement global du système de

test est déterminé par un programme en mémoire dans l'ordi-

nateur 10.

L'ordinateur 10 commande un module de cadenceinent 20 qui permet à l'utilisateur de placer relativement préci-

sément les front des différents signaux de cadencement four-

nis à l'appareil testé Dans un mode de réalisation classi-

que, le module 20 contient seize générateurs de signaux qui fournissent 32 fronts de cadencement indépendants Ainsi, l'appareil 90 peut être testé pour différentes combinaisons de signaux de façon à simuler les signaux d'entrée qui lui seront appliqués dans son utilisation prévue La commande de séquence et de combinaison 30 permet la création de différentes séquences et combinaisons de signaux d'entrée

destinées à être appliquées à l'appareil testé 90 pour mesu-

rer ou détecter ses performances en réponse a ces signaux d'entrée Une unité de mesure de précision 40 permet de mesurer quantitativement les tensions et les courants sur certains connecteurs de l'appareil testé 90 et permet aussi d'appliquer des tensions ou des courants déterminés sur certains connecteurs de cet appareil Des alimentations 50

sont nécessaires pour le fonctionnement de l'appareil 90.

Les signaux de cadencement et les séquences et combinaisons sont combinés et recalés dans le temps dans le circuit 60 de

commande de format et de recalage, puis envoyés aux électro-

niques de connecteurs et à l'appareil testé Les signaux de sortie provenant de l'appareil testé sont comparés à des tensions connues dans les électroniques de connecteurs et les signaux de sortie de ces électroniques sont recalés et vérifiés dans le temps Les données sont fournies à une unité de détection de défaut 70 et comparées aux données prévues En cas de signaux de sortie incorrects provenant de l'appareil testé, l'unité de détection de défaut 70 interrompt la procédure de test commandée par l'ordinateur

10.

-6- 1 Dans une suite classique de tests, une impulsion provenant d'un des générateurs de cadencement du module 20 passe par l'unité 60 de commande de format et parvient à l'appareil testé 90 Une réponse de cet appareil 90 revient par les électroniques de connecteurs 80 à l'unité de détec- tion de défaut 70 qui indique si l'appareil testé 90 a ou

n'a pas passé le test avec succor Dans le mode de réalisa-

tion préféré, il existe une unité 60 de commande de format et de recalage, une unité 70 de détection de défaut et une électronique de connecteur 80 pour chaque connecteur de

l'appareil testé.

Dans de nombreux circuits intégrés, les connecteurs

de l'appareil testé doivent r-trc stimulés simultanément.

Si, par exemple, une impulsion est envoyée depuis le module de cadencement 20 à tous les connecteurs d'adresse d'un circuit, il est souhaitable que tous les signaux arrivent simultanément sur i'appareil testé Comme il y a de nombreux générateurs de cadencement et de nombreux modes de signaux fournis aux différents connecteurs, les signaux qui

arrivent à l'appareil testé peu ent y parvenir par de nom-

breuses voies différentes, ce qui a pour résultat des varia-

tions sensibles de temps de propagation de ces impulsions.

Le circuit 60 de commande do format et de recalage permet aux signaux d'y parvenir simultanément avec la tolérance demandée De plus, ce circuit permat un réglage automatique du délai appliqué par le circuit de recalage En outre, d'autres circuits 35 et 36 permettent de recaler dans le temps les données de sortie de i'appareil testé 90 de façon que ces données de sorties et les données prévues provenant de l'unité 60 arrivent à L'unité de détection de défaut 70 au même moment avec la tolérance demandée De plus, comme les générateurs de cadencement et les éléments de recalage sont indépendamment réglables, ces derniers peuvent aussi être utilisés pour maintenir un décalage de temps précis entre des signaux appliqués à différents connecteurs de l'appareil testé De cette façon, si différents connecteurs -7 - 1 d'entrée reçoivent des signaux provenant de générateurs de cadencement différents, ces générateurs peuvent être réglés pour fournir la même valeur et les circuits de recalage

réglés pour que les signaux arrivent simultanément aux dif-

férents connecteurs Par la suite, si l'on règle de façon différente les générateurs, la différence de temps d'arrivée

aux connecteurs sera déterminée par le décalage des généra-

teurs plut 8 t que par des différences entre les circuits de connexion reliant ces générateurs aux connecteurs La même utilisation est possible si les connecteurs de l'appareil testé sont des connecteurs de sortie, ou alternativement

d'entrée et de sortie.

La figure 2 est un schéma plus détaillé du circuit de commande de format et de recalage Un groupe de signaux de cadencement provenant des générateurs du module de cadencement 20 sont appliqués par l'intermédiaire de plusieurs lignes à un multiplexeur 12 de type connu Des signaux de commande provenant de l'ordinateur 10 sont aussi appliqués au multiplexeur 12 pour sélectionner l'un de ces signaux de cadencement Le signal sélectionné dépend du test à effectuer Ce signal sélectionné est appliqué au circuit de différentiation-15 par deux lignes 13 et 14 Une

unité de décalage fin 17 commandée par un registre 18, lui-

même commandé par l'ordinateur du système, maintient la durée d'impulsion désirée du signal de cadencement appliqué au circuit 15 Le fonctionnement de l'unité de décalage fin 17 et du registre 18 est le même que celui d'autres unités

semblables de la figure 2 et est expliqué ci-dessous.

Par des procédés connus, le circuit de différentia-

tion 15 extrait le front avant et le front arrière du signal de cadencement Ces fronts avant et arrière sont appliqués par les lignes 19 et 21 à la logique de commande de format 23 Un signal de cadencement classique est représenté en haut et à droite de la figure 2 avec les signaux de front

avant et de front arrière obtenus par le circuit de diffé-

rentiation 15.

-8- 1 En général, un signal de test de type classique fourni par la logique de commande de format 23 comprend un

train d'impulsions de caractéristiques et de durées diffé-

rentes pour le test d'un aspect particulier d'un circuit intégré Ce signal de test dépend du test à effectuer. Généralement, la logique 23 est commandée par un programme stocké dans l'ordinateur 10 La logique de commande de format 23 transforme les fronts avant et arrière des lignes

19 et 21 en signaux d'activation et de désactivation appli-

qués sur les lignes 24 et 25 Ces signaux d'activation et de désactivation sont choisis de façon à mettre une bascule 53 dans un état qui applique les signaux aux électroniques de connecteurs 80 En général, les signaux de fronts avant et arrière peuvent être utilisés pour activer ou désactiver

la bascule 53 suivant le programme de test désiré.

Les signaux d'activation et de désactivation des lignes 24 et 25 sont appliqués respectivement à des unités de recalage grossier 31 et 32, puis à des unités de recalage fin 33 et 34 Ces unités ont pour fonction d'appliquer un retard choisi aux signaux d'activation et de désactivation

avant qu'ils soient appliqués aux électroniques de connec-

teurs 80 Comme discuté précédemment, il est souhaitable d'appliquer simultanément les signaux de test sur les différents connecteurs du circuit intégré Du fait des retards différents dans les voies empruntées par les signaux pour atteindre le circuit intégré, certains signaux doivent être retardés plus que d'autres Les unités de recalage de la figure 2 retardent les signaux qui les traversent d'une quantité spécifiée par l'ordinateur du système au moyen des registres associés à ces unités Par exemple, en réponse aux données de l'ordinateur, le registre 41 commande le fonctionnement de l'unité de décalage grossier 31 pour introduire un retard choisi sur le signal d'activation de la ligne 24 Le fonctionnement particulier des unités de recalage grossier et fin est expliqué plus en détail en

référence aux figures 3 et 4.

-9-

1 Après un recalage approprié, les signaux d'activa-

tion et de désactivation sont appliqués à la bascule 53 La bascule 53 a pour fonction de recombiner ces signaux en une impulsion unique ayant les caractéristiques spécifiées par l'ordinateur du système La bascule 53 fournit cette impul-

sion à un émetteur d'une électronique de connecteur 80.

Comme mentionné précédemment, ce signal est appliqué à un

connecteur du circuit intégré testé.

Si ce connecteur est une sortie, les signaux qui en proviennent sont reçus par un comparateur de l'électronique de connecteur 80 Ces signaux sont appliqués à des unités

de recalage grossier et fin 35 et 36 Ces unités fonction-

nent de la même façon que les unités de recalage 31 à 34

mais sous la commande de registres 45 et 46 Après reca-

lage, les signaux de sortie sont appliqués à une unité de détection de défaut 70 o ils sont comparés aux réponses prévues. En référence à la figure 3, n'importe laquelle des unités de recalage grossier précédemment décrites comprend un multiplexeur 61 et une pluralité de portes logiques 62 à 67 Ces portes sont connectées en série de façon à recevoir séquentiellement le signal d'entrée appliqué sur une ligne d'entrée 68 L'autre entrée de la porte 62 est reliée à une alimentation VBB bien qu'elle puisse aussi recevoir le complément du signal d'entrée Un réseau bien connu de résistances et de condensateurs de retard et de filtrage est aussi prévu Ce réseau de portes logiques est disponible

dans le commence et peut être formé de deux circuits inté-

grés ECL 10116 Le multiplexeur est aussi disponible dans

le commerce sous l'appellation ECL 10164 En fonctionne-

ment, le multiplexeur 61 relie l'une des entrées I O à 16 à la ligne de sortie 69 L'entrée I à a 6 qui est connectée à la ligne 69 dépend des trois bits d'adresse So, S, et 52 appliqués au multiplexeur 61 Ces trois bits d'adresse sont fournis par un registre 73 représenté sur la figure 4 Evide ment, on peut utiliser un registre séparé En conséquence, le signal appliqué sur la ligne 68 -10- 1 peut être retardé de O à 6 fois le retard d'une porte avant d'être appliqué à la ligne de sortie 69 Par exemple, si l'on désire introduire un retard de durée égale à trois fois celui d'une porte, on relie -'entrée 13 a la ligne de sortie 69 Par conséquent, le signal de la ligne 68 traver- se les trois portes 62, 63 et 64 avant d'être applique à la iigne 69 o Dans l'exemp Je décrú, chaque porte retarde le signal d'environ deux nanosecondes, le dispositif de la figure 3 ayant ainsi une plage possible de retard de 12

nanosecondes avec une résolution de deux nanosecondes.

La figure 4 est un sche ma d'une unité de recalage fin utilisée dans la figure 2, Une telle unité comprend un multiplexeur et une pluralité de lignas à retard 72 Chaque boucle de ligne à retard 72 est connectée entre une paire d'entrées 10 à I 7 d'un multiplexeur 71 Un signal d'entrée est appliqué à la ligne 74 Suivant la valeur de trois bits d'adresse S, 51 et 52, le multiplexeur 71 relie l'une des entrées 10 a TI à la ligne de sortie Du choix de l'une de ces entrées 10 à 17 dépend évidemment la valeur du retard introduit entre l'entrée 74

et la sortie 75 Si, par exemple, l'entrée 14 est sélec-

tionnée, en réponse aux bits d'adresset S à 52, le signal appliqué à l'entrée 74 t J:averse toutes les lignes comprises entre -i et 14 avant d'attindre la sortie 75 Dans un mode de réalisation 1 le multiplexeur 71 était un circuit ECL 10164 et les iignes à retard 72 étaient formées de traces conductrices rea 1 saées sur le support de céramique du muitiplexeur Chaque ligne à retard comprend de préférence une pluralité de cour:s-circuits tels que 77 à 79 permettant de modifier sa lengçeur Ces courts-circuits

permettent de compenser 1-s variations des temps de propaga-

tion internes du multiplexeur 71 Sur la figure 4, le signal appliqué à la ligne 74 passe par la ligne à retard 76 et le court-circuit 77 jusqu'à l'entrée Il Pour des retards plus importants, on peut détruire un ou plusieurs courts-circuits Par exemple, si le retard désiré entre -11-X I O et Il correspond au temps de propagation par la ligne

76 et le court-circuit 79, on peut détruire les courts-

circuits 77 et 78 Dans le mode de réalisation préféré, les

courts-circuits sont, eux aussi, formés de traces conduc-

trices réalisées sur le support de céramique, ces traces pouvant être détruites par exemple au moyen d'un laser qui vaporise le matériau conducteur Les lignes à retard

peuvent aussi être réalisées sous forme de régions conduc-

trices sur un circuit imprimé Ces deux réalisations per-

mettent de réparer des courts-circuits détruits par erreur

au moyen de résine époxy conductrice.

Comme représenté sur les figures 2, 3 et 4, chacun des multiplexeurs est commandé par un registre associé Un registre classique 73 reçoit des signaux de données, des signaux d'horloge et un signal de remise à zéro, et fournit

trois bits d'adresse à chacun des multiplexeurs 61 et 71.

De préférence, ce registre 73 est un circuit ECL 10186, mais

d'autres registres peuvent être utilisés.

Dans le mode de réalisation décrit, le support de céramique du multiplexeur 71 est relié à un équipement de mesure approprié et le temps de propagation entre les

entrées I O et Il est réglé à 312 picosecondes par des-

truction des courts-circuits, ce temps incluant tout retard à l'intérieur même du multiplexeur 71 La longueur des lignes à retard entre chacune des paires d'entrées suivantes est réglé de même à 312 picosecondes On obtient ainsi une plage totale de 2184 picosecondes avec une résolution de 312

picosecondes Au total, les deux unités de recalage gros-

sier et fin autorisent un retard réglable maximal de 14,18

nanosecondes par étapes de 312 picosecondes.

Pour étalonner le système de la figure 2, on choisit un signal de cadencement particulier et l'on donne des réglages arbitraires aux circuits de recalage grossier

et fin Le signal de cadencement est transmis par la logi-

que de commande de format 60 à l'électronique de connecteur et retour Au moyen du système de test lui-même, on -12- 1 mesure le retard du signal Les unités de recalage grossier et fin sont alors réglées de façon à fournir le retard désiré pour ce signal de cadencement particulier, de façon que tous les signaux arrivent simultanément aux sorties des électroniques de connecteurs Les informations d'adresse pour tous les registres sont ensuite mises en mémoire par

exemple sur bande magnétique, disque ou autres On sélec-

tionne ensuite le signal de cadencement suivant et l'on répète les mêmes opérations L'étalonnage est effectué pour chaque signal de cadencement et pour chaque format de la logique de commande de format 23, les informations obtenues étant mises en mémoire Au moment du test, on peut ainsi

-lire les informations mémorisées et les appliquer aux regis-

tres appropriés pour obtenir les retards convenables sur les

différentes voies.

La figure 5 représente une façon de recaler dans le temps les signaux Ce dispositif permet un tel recalage

pendant les opérations de test Il n'est alors pas néces-

saire d'arrêter l'opération de test pour fournir un signal inversé même pendant la courte période de temps nécessaire

pour charger de nouvelles données dans les registres asso-

ciés aux unités de recalage On réduit ainsi sensiblement

la durée de l'opération de test.

En référenceaux figures 5 et 6, le signal de cadencement provenant du générateur 20 est appliqué par les lignes 13 et 14 Ce signal, représenté en haut de la figure 6, et appelé "signal de cadencement" a une durée "XI Après son passage au travers du multiplexeur 12, ce signal a une durée de X + E du fait d'une erreur t introduite par ce multiplexeur (voir 2 ème ligne de la figure 6 "signal au

multiplexeur 12 n).

Un premier réglage a pour but de corriger cette

durée Cette correction est réalisée par l'unité de reca-

lage fin 17 sous la commande du registre 18, lui-même commandé par l'ordinateur du système Si l'erreur de durée F est grande, une unité de recalage grossier peut être connectée en série avec l'unité 17 Après correction -13-

1 de la durée, il peut rester une erreur sur le temps d'appa-

rition du signal comme indiqué à la ligne "durée corrigée"

de la figure 6 Le signal corrigé en durée est alors appli-

qué au circuit de différentiation 15 o il est divisé en front avant et front arrière sur les lignes 19 et 21 Ces signaux de front avant et front arrière sont représentés sur

les lignes 'séparation des fronts" dé la figure 6.

Sur la figure 5, la logique de commande de format 23, représentée plus en détail comprend un sélecteur de format 90 ' et un réseau de portes 80 ' à 85 destinées à choisir les trajets des signaux de fronts Le front avant apparaissant sur la ligne 19 est appliqué aux portes 80 ' et 82, et le front arrière apparaissant sur la ligne 21 est appliqué aux portes 81 et 83 Les portes 80 ' et 81 sont connectées par l'intermédiaire d'une porte OU 84 aux unités

de recalage 86, tandis que les portes 82 et 83 sont connec-

tées par l'intermédiaire d'une porte OU 85 aux unités de recalage 89 L'unité 86 est reliée à la borne d'activation de la bascule 53, tandis que l'unité 89 est reliée à sa

borne de désactivation.

Le front avant ou le front arrière peut ainsi être appliqué à n'importe quelle borne de commande de la bascule 53 par des commandes appropriées des portes 80 ' à 83 Pour appliquer le front avant à la borne de désactivation de la bascule 53, il faut que la porte 82 soit rendue passante et la porte 80 bloquée par le sélecteur de format 90 ' De

même, pour appliquer le front arrière-à la borne d'activa-

tion, il faut rendre passante la porte 81 et bloquer la

porte 83.

Les unités de recalage 86 correspondent aux unités 31 et 33 de la figure 2, et les unités de recalage 89 correspondent aux unités 32 et 34 de la figure 2 Les registres 87 correspondent aux registres 41 et 43 et les

registres 88 aux registres 42 et 44.

-14- 1 Pour fournir des signaux inversés recalés dans le temps sans arrêter le fonctionnement du système de test, cet arrêt ayant pour but de recharger les registres 87 et 88, le

sélecteur de format 90 ', généralement formé par un multi-

plexeur ou bascule de type D 100151, fait passer le front avant et le front arrivre par des trajets différents, puis pour fournir le signal inversé, fait passer ces signaux par des trajets de longueurs différentes De ce fait, chaque

signal a un retard différent Cette erreur peut être élimi-

née en modifiant les contenus des registres 87 et 88 comme indiqué précédemment Cette procédure qui n'occupe pourtant que quelques millisecondes, est trop longue lorsqu'il s'agit de tester un grand nombre de c rcuits, Une technique plus

efficace est décrite ci-dessous.

Les retards introduits par les unités 86 et 89 sont

réglés à des valeurs moyennes, de mnême que l'unité de reca-

lage 17 Une impulsion est envoyée à l'appareil testé et l'on mesure le retard de ce signal Au moyen de l'unité de recalage fin 17, on règle la durée de l'impulsion comme indiqué sur la figure 6 jusqu'à obtenir la valeur désirée pour cette durée On règle ensuite le programme des unitésde recalage 86 et 89 de façon à fournir un même retard qui

compense pour l'erreur de ternp d'apparition des signaux.

Ainsi, les retards de chacun des trajets d'activation et de désactivation sont égaux et le signal direct et le signal inversé ont les mêmes retards lorsqu'on les applique à

l'appareil testé.

Le mode de réalisation précédemment décrit peut évidemment faire l'objet de nombreuses variantes sans sortir du cadre de l'invention Par exemple, en plus des systèmes de test, l'invention peut être utilisée pour d'autres applications dans lesquelles des signaux doivent être

retardés ou synchronisés.

-15

Claims (6)

1 REVENDICAT IONS

1 Dispositif pour fournir des signaux recalés dans le temps notamment pour les systèmes de test automatiques, caractérisé en ce qu'il comprend un générateur de signaux ( 20) pour élaborer un signal électrique de durée désirée, ce signal présentant un front avant et un front arrière; des moyens de différentiation ( 15) reliés au générateur pour séparer le signal en une paire de signaux correspondant au front avant et au front arrière;

des circuits logiques de portes ( 80 ' à 85) adap-

tés à recevoir ladite paire de signaux et à appliquer l'un des signauxde la paire à une voie d'activation et l'autre des signaux de la paire à une voie de désactivation; des premiers ( 86) et deuxièmes ( 89) moyens de retard connectés respectivement aux voies d'activation et de désactivation pour retarder d'un temps désiré les signaux apparaissant sur ces voies; des moyens basculeurs ( 53) reliés aux premiers et

deuxièmes moyens de retard pour recevoir les signaux retar-

dés et reconstruire le signal de durée désirée; et

des moyens de commande ( 9 d), reliés auxdits cir-

cuits logiques de portes, pour commander l'application de

chacun desdits signaux de la paire à l'une ou l'autre des-

dites voies.

2 Dispositif selon la revendication 1, caracté-

risé en ce que lesdits circuits logiques de portes ( 80 ' à ) comprennent -16- 1 une première paire de portes ( 80 ', 82) adaptées à recevoir le signal de front avant; et une deuxième paire de portes ( 81, 83) adaptées à recevoir le signal de front arrière, une porte ( 80 ', 81) de chaque paire étant connectée aux premiers moyens de retard ( 86), et l'autre porte ( 82, 83) de chaque paire étant

connectée aux deuxièmes moyens de retard ( 89).

3 Dispositif selon la revendication 2, caracté-

risé en ce que toutes lesdites portes ( 80 ' à 83) sont

connectées auxdits moyens de commande ( 90 ').

4 Dispositif selon l'une des revendications 2 ou

3, caractérisé en ce que chacune desdites portes est une

porte NON OU.

Dispositif selon l'une des revendications 1 à

4, caractérisé en ce que lesdits premiers ( 86) et deuxièmes ( 89) moyens de retard retardent individuellement les signaux

d'un temps qui compense les différences de temps de propaga-

tion des voies correspondantes.

6 Dispositif selon la revendication 1, caracté-

risé en ce que lesdits premiers et deuxièmes moyens de retard ( 86, 89) comprennent individuellement: des premiers moyens de multiplexage ( 71) pour connecter à une borne de sortie ( 75) l'une quelconque d'une pluralité de bornes d'entrée (Io à I 7); une pluralité de lignes à retard ( 72) de longueur réglable, chaque ligne étant connectée entre une paire de bornes d'entrée de façon qu'un signal appliqué à la première de ces bornes d'entrée ( 74) soit transmis à chacune des autres bornes d'entrée en passant par au moins une desdites lignes à retard; et des moyens pour appliquer le signal à retarder à

ladite première borne d'entrée ( 74).

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l 7 Dispositif selon la revendication 6, caracté-

risé en ce que lesdits moyens pour appliquer le signal à retarder comprennent: des deuxièmes moyens de multiplexage ( 61) pour connecter à ladite première borne d'entrée ( 74), l'une quel- conque d'une pluralité de lignes d'entrée (Io à I 6); une pluralité d'éléments de retard à portes ( 62 à 67), chaque élément de retard étant connecté entre une paire de lignes d'entrée de façon qu'un signal appliqué à la première de ces lignes d'entrée ( 68) soit transmis à chacune des autres lignes d'entrée en étant retardé par au moins un desdits éléments de retard; et des moyens pour appliquer le signal à retarder à

ladite première ligne d'entrée ( 68).