FI79616C - Foerfarande och anordning foer korrelationsmaetning i realtid av foerdroejningarna mellan tvao varandra motsvarande signaler. - Google Patents
Foerfarande och anordning foer korrelationsmaetning i realtid av foerdroejningarna mellan tvao varandra motsvarande signaler. Download PDFInfo
- Publication number
- FI79616C FI79616C FI851237A FI851237A FI79616C FI 79616 C FI79616 C FI 79616C FI 851237 A FI851237 A FI 851237A FI 851237 A FI851237 A FI 851237A FI 79616 C FI79616 C FI 79616C
- Authority
- FI
- Finland
- Prior art keywords
- delay
- bus
- samples
- frequencies
- peak
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01P—MEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
- G01P3/00—Measuring linear or angular speed; Measuring differences of linear or angular speeds
- G01P3/64—Devices characterised by the determination of the time taken to traverse a fixed distance
- G01P3/80—Devices characterised by the determination of the time taken to traverse a fixed distance using auto-correlation or cross-correlation detection means
- G01P3/806—Devices characterised by the determination of the time taken to traverse a fixed distance using auto-correlation or cross-correlation detection means in devices of the type to be classified in G01P3/68
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F17/00—Digital computing or data processing equipment or methods, specially adapted for specific functions
- G06F17/10—Complex mathematical operations
- G06F17/15—Correlation function computation including computation of convolution operations
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Computational Mathematics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Mathematical Analysis (AREA)
- Mathematical Optimization (AREA)
- Pure & Applied Mathematics (AREA)
- Data Mining & Analysis (AREA)
- Software Systems (AREA)
- Databases & Information Systems (AREA)
- Algebra (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Computing Systems (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Radar Systems Or Details Thereof (AREA)
- Medicines Containing Antibodies Or Antigens For Use As Internal Diagnostic Agents (AREA)
- Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
- Measurement Of Unknown Time Intervals (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
- Paper (AREA)
Description
1 79616
Menetelmä ja laite kahden toisiaan vastaavan signaalin välisten viiveiden korrelaatiomittaamiseksi reaaliajassa Tämä keksintö koskee korrelaatiomittaustekniikkaa 5 kahden toisiaan vastaavan signaalin välisten viiveiden mittaamiseksi.
Tällainen mittaustekniikka on varsin tunnettua. Siinä otetaan kaksi sähkösignaalia kahdesta pisteestä, jotka sijaitsevat vastaavasti määrätyllä kiinteällä etäi-10 syydellä liikkuvasta kohteesta, jonka pinta ei ole homogeeninen .
Toinen signaaleista otetaan ensimmäisestä pisteestä ja tallennetaan viiveväylälle, kun taas toinen signaali otetaan toisesta pisteestä ja ohjataan viiveettömälle kä-15 sittelyväylälle. Menetelmässä tutkitaan sitten viiveväylälle kootuista signaaleista ensimmäistä signaalia, joka muistuttaa toista signaalia, jolloin voidaan mitata viive korrelaatiomenetelmällä. Tällaisella mittauksella voidaan kahden signaalinottokohdan välisen etäisyyden funktiona 20 määrittää jonkin liikkuvan kohteen nopeus ja/tai kahden pisteen välistä siirtynyt pituus aikayksikössä.
Mittausmenetelmässä lasketaan näytesignaalien välinen korrelaatiofunktio näytteenottotaajuuden ollessa sama sekä viiveväylällä että viiveettömällä väylällä ja määri-25 tetään tämän funktiona maksimia eli huippua vastaava viive.
Tätä periaatetta voidaan pitää tunnettuna ja alan asiantuntijat löytävät sen lukuisista julkaisuista ilman että tässä tarvitsisi palauttaa sitä tarkemmin mieleen 30 keksinnön kohteen ymmärtämiseksi kunnolla.
Tällaisen toiminnan suorittamiseksi tunnetaan aikaisemmin tieteellisiä korrelaatiolaitteita, joilla voidaan saada ristikorrelaatiofunktioita. Näiden laitteiden käyttö on kuitenkin usein monimutkaista eikä niistä voida 35 suoraan lukea kahden toisiaan vastaavan signaalin väliseen 2 79616 aikaeroon liittyvää viivettä.
FR-patenttijulkaisun nro 2 206 872 mukaan korrelaatiofunktio voidaan laskea pelkästään näytteitettyjen signaalien polariteeteista. Tämän FR-patentin mukaan näyt-5 tää, että ristikorrelaatiohuipun paikka, joka on merkitsevä kahden toisiaan vastaavan signaalin viiveen kohdalla, antaa viiveestä vääristymättömän arvion pelkästään silloin, kun kysymyksessä ovat stationaariset signaalit.
Lisäksi tunnetaan eräs toinenkin laji korrelaatio-10 laitteita, joissa on ns. ohjattu viive tai ohjattu näytteenottotaajuus. Nämä laitteet laskevat ristikorrelaatio-funktion ainoastaan sen maksimipisteestä ja niiden haittana on, että ne seuraavat häiriöpiikkejä, jotka eivät ole merkitseviä ristikorrelaatiofunktion kohdalla.
15 EP-patenttihakemuksessa nro 26 877 selitetään teol lisuuskäyttöön tarkoitettu korrelaatiolaite, jossa käytetään polaarisuuskoinsidenssitekniikkaa. Sellaiseen laitteeseen kuuluu mikroprosessi, joka laskee vain osan likimääräisestä korrelaatiofunktiosta ja ilmaisee huipun si-20 jainnin mitattavan viiveen arvon laskemiseksi ja ilmoittamiseksi. Tässä laitteessa käytetään analyysinvalvonta-ikkunaa ja esiohjelmoitua näytteenottotaajuutta. Tällaisessa laitteessa mittausaika on kuitenkin suhteellisen pitkä, noin sekunnin luokkaa, eikä sitä sen vuoksi voida 25 käyttää sellaisten viiveiden mittaamiseen, joille on tunnusomaista nopea vaihtelu ja joiden asteikko on laaja.
Kun mittava viiveasteikko on kapea, riittää tunnetusti, että lasketaan vain osa ristikorrelaatiofunktiosta. Tällöin voidaan näytteenottojakson aikana laskettavien 30 pisteiden määrää supistaa ja siten pienentää keräysmuis-tia. Seurauksena on reaaliaikatyöskentelyyn tarvittavan laskentatehon pienentyminen samoin kuin huippujen ilmaisussa esiintyvien virheiden mahdollisuuden supistuminen.
Jos tällaisilla laitteilla halutaan tutkia huomat-35 tavan laajaa viiveasteikkoa, voidaan siirtää ikkunaa, jon- 3 79616 ka sisällä ristikorrelaatiofunktio lasketaan, kuten EP-patenttihakemuksessa nro 26 877 esitetään.
Viiveväylän muistin koon pienentämiseksi voidaan toisella väylistä käyttää apunäytteenottoa, kuten EP-pa-5 tenttihakemuksessa 26 877 selitetään. Tämän menetelmän haittana on sen hitaus.
GB-patenttijulkaisusta nro 1 566 181 on tunnettua käyttää samaan tarkoitukseen useita näytteenottotaajuuksia, joista yksi on kullakin kertaa käytössä mitattavasta 10 viiveestä riippuen. Tämän menetelmän haittana on, että siinä syntyy siirtymätila, jota ei voida käyttää jokaisessa taajuudenmuutoksessa, sillä tässä menetelmässä joudutaan ennen ristikorrelaatiofunktion laskemista odottamaan uudella taajuudella otettujen näytteiden lataamista 15 viiveväylän rekisteriin.
Edellä selitettyjä menetelmiä käyttäen voidaan säästää sekä materiaalissa että laskentanopeudessa. Nämä menetelmät eivät kuitenkaan ole riittäviä, kun joudutaan mittaamaan nopeasti ja laajalla asteikolla muuttuvia vii-20 veitä eli kun suoritettavat mittaukset koskevat signaaleja, jotka on otettu liikkuvasta kohteesta, jossa tapahtuu nopeuden jyrkkiä kiihdytyksiä ja hidastuksia.
Edellä selitetyn tyyppisiä laitteita ei voida siis kätevästi käyttää jatkuvatoimisesti valmistettujen teol-25 lisuustuotteiden, kuten paperirainan, metallilangan ym. nopeuksien ja/tai purkauspituuden mittaamiseen eikä myöskään siirtymien arviointiin kisko- tai kaapelikuljetuksen alalla. Kaikissa näissä tapauksissa nopeuden kiihtymisiä ja hidastumisia voidaan pitää huomattavina ja sen vuoksi 30 vastaanotetut signaalit eivät ole riittävän stationaari-sia, jotta niitä voitaisiin käsitellä tunnetuin menetelmin.
Tämän keksinnön tarkoituksena on tuoda parannusta tähän puutteeseen ehdottamalla uutta menetelmää ja uutta 35 laitetta, jotka on erityisesti suunniteltu pintaominai- 4 79616 suuksiltaan epähomogeenisen tuotteen, joka pannaan siirtymään mittauspään ohitse, siirtymisvaihtelujen mittaamiseen, suoraan lukien, mutta ilman fyysistä kosketusta.
Keksinnön tavoitteena on mahdollistaa kahden toi-5 siaan vastaavan signaalin välisten viiveiden mittaaminen käyttämällä korrelaatiofunktiolaskentatekniikkaa ottamalla huomioon aikavaihtelut, joita saattaa esiintyä laajalla alueella.
Tähän tavoitteeseen pääsemiseksi keksinnön mukainen 10 korrelaatiomittausmenetelmä on tunnettu siitä, että järjestetään n itsenäistä, rinnankytkettyä viive-väylää ensimmäisen signaalin vastaanottamiseksi mainitusta ensimmäisestä pisteestä, n:n ollessa yhtä suuri tai suurempi kuin kaksi, 15 tallennetaan näihin väyliin signaalinäytteitä, joi ta on otettu ntllä erilaisella näytteenottotaajuudella, otetaan näytteitä toisesta signaalista suoraväy-lällä jollakin mainituista n:stä taajuudesta, lasketaan suoraväylän näytteiden ja yhden viive-20 väylän näytteiden välinen korrelaatiofunktio mitatun vii-vearvon mukaan.
Keksinnön kohteena on myös uutena teollisuustuotteena korrelaatiomittauslaite, jolle on pääasiallisesti tunnusomaista patenttivaatimuksessa 8 esitetyt tunnus-25 merkit.
Erilaisia muita tunnusmerkkejä selviää seuraavasta selityksestä, jossa viitataan liitteenä oleviin piirustuksiin, jotka esittävät keksintöä rajoittamattomana esimerkkinä keksinnön kohteen suoritusmuotoja.
30 Kuvio 1 on kaaviokuva keksinnön mukaisesta lait teesta .
Kuvio 2 on diagrammi keksinnön kohteen eräästä tunnusmerkistä .
Kuvio 3 on kuvion 1 kaltainen kaaviokuva, mutta se 35 esittää keksinnön kohteen eräiden rakenneosien erästä suo- 5 79616 ritusmuunnelmaa.
Kuvio 4 on diagrammi, joka tuo esiin erään keksinnön toimintaan liittyvän tunnusmerkin.
Kuvio 5 on kaaviokuva, joka esittää osan keksinnön 5 kohteen eräästä suoritusmuunnelmasta.
Kuvio 6 on kuvion 4 kaltainen kaaviokuva, josta käy selville keksinnön eräs etu.
Keksinnön tavoitteena on pystyä arvioimaan olennaisesti reaaliajassa nopeasti muuttuvia viiveitä toisiaan 10 vastaavien signaalien välillä, jotka otetaan näytteinä kahdesta suihkusta, jotka siroavat takaisin liikkuvasta kohteesta, joka liikkuu kahden tulevat suihkut lähettävän lähteen edestä, jotka lähteet ovat samassa tasossa ja kiinteän välimatkan D päässä toisistaan.
15 Jotta viiveen jyrkät vaihtelut saataisiin mitatuksi tarkasti ja reaaliajassa, on siis tärkeätä valita sellainen näytteenottotaajuus, että takaisinsiroavien signaalien näytteenottojakso olisi pienempi kuin pienimmän mitattavan viiveen toivottu resoluutioaika, ja laskea erittäin no-20 peasti korrelaatiofunktio. Jos viive kuitenkin vaihtelee hyvin laajalla alueella, edellyttää tällaisen näytteenottotaajuuden valinta erittäin suuren viivepistemäärän laskemista, mikä taas ei vastaa tavoitetta.
Tämän ongelman ratkaisemiseksi keksinnön tavoit-25 teenä on aikaansaada laite, johon kuuluu tunnetuntyyppinen mittapää 1, jossa on ensimmäinen mitta-anturi 2 ja toinen mitta-anturi 3, jotka ovat esimerkiksi optisia ja suunnatut kohtisuoraan liikkuvaa kohdetta 4 vastaan, joka siirtyy nuolen f2 suuntaan. Anturit 2 ja 3 muodostavat mielel-30 lään myös tulevien suihkujen lähettimet ja ne sijaitsevat samassa tasossa kohtisuorassa liikkuvaa kohdetta 4 vastaan ja kiinteän etäisyyden D päässä toisistaan.
Keksinnön mukaan ensimmäisen anturin 2 sieppaamat takaisinheijastuneet signaalit ohjataan väylälle 5, joka 35 on ns. viiveväylä ja joka käsittää ainakin kaksi linjaa 6 79616 5a ja 5b, jotka johtavat siirtorekistereihin 6a ja 6b, joiden tehtävänä on varastoida peräkkäin takaisinsiron-neesta signaalista otetut näytteet.
Toisesta takaisinsironneesta signaalista otetut, 5 toisesta anturista 3 tulevat näytteet ohjataan mittausväy-lälle 7, ns. suoraväylälle, joka päättyy kertojamoduliin 8, johon menee myös kytkimen 9, jonka tehtävänä on liittää kertojamoduuli jompaankumpaan rekistereistä 6a ja 6b osoittimen 10 välityksellä, anto.
10 Keksinnön mukaan laite käsittää generaattorin 11, joka emittoi kahden annon 12a ja 12b kautta kahta näytteenottotaajuutta, jotka syötetään väyliin 5a ja 5b kuuluviin näytteenottimiin 13a ja 13b. Mainittuihin kahteen antoon 12a ja 12b kuuluu kaksi sivuhaaraa 14a ja 14b, jot-15 ka voidaan liittää toisistaan riippumatta synkronointi-elinten 15 avulla suoraväylällä 7 sijaitsevaan näytteen-ottimeen 16.
Laite käsittää myös ohjelmoidun tietojen vertailu-laitteen 17, johon kuuluu kolme antoa, jotka ohjaavat vas-20 taavasti kytkintä 9, osoittimella 10 tutkittavaa aluetta ja synkronointielimiä 15. Vertailuelimissä 17 on otto, joka on liitetty huipunilmaisimeen 18, joka on kytketty muistin 19, joka varastoi väliaikaisesti korrelaatiofunktion, antoon, jota muistia syöttää summainmoduulin 20 25 anto, jonka moduulin yksi otto on liitetty moduulin 8 antoon. Summaimen 20 toinen otto muodostaa muistin 19 kautta silmukan, jolloin se ottaa kunkin tiedon osalta huomioon aikaisemmin tehdyn mittauksen summan lisättynä kertoja-moduulin 8 antamalla tiedolla.
30 Generaattorin 11 emittoimat taajuudet valitaan sel laisiksi, että saadaan viivealueita, jotka seuraavat toisiaan. Esimerkiksi, jos mitattava viivealue ulottuu 3,2 millisekunnista 12,8 millisekuntiin ja jos haluttu resoluutio on yksi tuhannesta, pienin näytteenottojakso on 3,2 35 mikrosekuntia. Jos korrelaatiofunktion huipun poikkeaminen 7 79616 keskiakselilta rajataan suunnilleen pisteen K, joka on yhtä kuin tuhat, ja pisteen L, joka on yhtä kuin kaksi tuhatta (kuvio 2), välille, on toiseksi näytteenottojak-soksi valittava 6,4 mikrosekuntia.
5 Siirtorekisterit 6a ja 6b ladataan rinnakkain sa masta takaisinheijastuneesta signaalista eri taajuuksilla otetuilla näytteillä.
Tietojen vertallulaitteen 17 tehtävänä on arvioida ketjun 6, 21, 9, 8, 20 ja 19 laskeman korrelaatiofunktion 10 huipun sijainti. Jos oletetaan, että huipun arvioidaan edellisen mittauksen perusteella sijoittuvan viivealueel-le, jonka pienin näytteenottotaajuus saattaa kattaa, ver-tailija 17 ohjaa synkronointielimiä 15 siten, että ne syöttävät näytteenottoelimeen 16 pienimmän taajuuden, esi-15 merkiksi sen, jossa käytetään 6,4 mikrosekunnin näytteenotto jaksoa ja joka tulee annosta 12a.
Suoraväylä 7 vastaanottaa siis anturista 3 tulevat näytteet samalla taajuudella kuin väylän 5 linja 5a, joka varastoi peräkkäiset näytteet muistiin 6a.
20 Samanaikaisesti tietojen vertailuelin 17 ohjaa kyt kimen 9 aikaansaamaan kytkennän kertojamoduulin 8 ja muistiin 6a liittyvän osoittimen 10 välille.
Käytössä olevan linjan 5a näytteet ja väylän 7 kautta siirtyvät näytteet käsitellään tunnettuun tapaan 25 ketjulla 6, 9,8, 20 ja 19 korrelaatiofunktion laskemiseksi. Ilmaisin 18 etsii maksimiamplitudin eli korrelaatio-funktion huipun ja siirtää sen tietojen vertailuelimeen 17. Sisältämänsä ohjelman avulla vertailija arvioi, si-joittuuko tällä tavoin ilmaistu korrelaatiohuippu edelleen 30 sopivasti valitun näytteenottotaajuuden määrittämälle käyttöalueelle.
Jos oletetaan, että viive pyrkii supistumaan, käytetyn näytteenottojakson ollessa 6,4 mikrosekuntia, tämä vastaa liikkuvan kohteen 4 kiihdytystä ja korrelaatiofunk-35 tion huipun P siirtymistä nuolen f2 suuntaan (kuvio 2).
8 79616
Hetkestä, jolloin huippu P uhkaa siirtyä pisteen K yli, tietojenvertailuelin 17 ohjaa synkronointielimet 15 syöttämään näytteenottiineen 16 toisen annosta 12a tulevan taajuuden, jota jo syötetään viivelinjalle 5b, joka toimii 5 odotuslinjana. Samanaikaisesti tietojen vertailuelin 17 ohjaa kytkimen 9 aikaansaamaan kytkennän kertojamoduulin 8 ja osoittimen 10 välille, joka liittyy linjan 5b, josta tällöin tulee käytössä oleva linja, rekisteriin 6b.
Koska rekisteri 6b on ladattu rinnakkaismuotoisesti 10 samasta takaisinheijastuneesta informaatiosta, mutta toisella näytteenottotaajuudella otettuja näytteitä, korrelaatiofunktion laskenta voi tapahtua tarvitsematta odottaa käytössä olevan siirtorekisterin sisällön uudistumista. Tällä tavoin voidaan siis mitata reaaliajassa nopeasti 15 muuttuvia viiveitä, sillä vertailuelin ohjaa aktiiviseen toimintaan jommankumman viivelinjoista 5a ja 5b, edellä mitatusta viiveen arvosta riippuen.
Jotta mittausaika saataisiin lyhyemmäksi ja muuttuvat viiveet saataisiin arvioiduiksi vielä nopeammin, 20 lasketaan korrelaatiofunktio ainoastaan huipun P läheltä.
Tietojen vertailuelin 17 on ohjelmoitu rajaamaan osoittimen 10, joka syöttää laskentaketjua, poikkeaman keskiviivalta ikkunaan F (kuvio 2). Tämä ikkuna F sijoitetaan siten, että huippu P on keskiöitynä siihen nähden. 25 Tätä varten tietojen vertailuelin 17 säätää kutakin suoritettavaa mittausta varten ikkunan F aseman ennakoimalla laskentaketjuun tietojen vertailuelimen 17 ja ilmaisimen 18 väliin kytketyn ennakointisuodattimen 29, kuten esimerkiksi KALMAN-suodattimen, avulla, joka on merkitty katko-30 viivoin kuvioon 1. Tällöin suodatin 29 vastaanottaa ilmaisimesta 18 viiveen arviotiedon ja siirtää vertailuelimeen 17 tiedot nopeudesta, kiihdytyksestä ja pituudesta.
Tämä merkitsee sitä, että käytettävissä on nopea ja tarkka laite, jolla voidaan mitata reaaliajassa viiveen 35 äkkinäisiä muutoksia, jotka saattavat tapahtua laajalla 9 79616 asteikolla.
Tietojen vertailuelimessä 17 on neljäs anto 22, jonka tehtävänä on syöttää mitattuun viiveeseen liittyvien tietojen tai parametrien laskenta- ja ilmaisinmoduulia.
5 Tällainen ilmaisinmoduuli voi esimerkiksi ilmoittaa liikkuvan kohteen 4 siirtymisnopeuden ja/tai sen liikkeen lineaarisen mitan ja/tai sen kiihdytyksen.
Eräissä sovellutuksissa viiveasteikot voivat olla erittäin laajoja. Kahdella eri näytteenottotaajuudella 10 otettujen näytteiden varastoiminen saattaa eräissä tapauksissa osoittautua riittämättömäksi. Kuvio 3 esittää erästä suoritusmuunnelmaa, jossa generaattorissa 1 on kolme antoa 231, 232, 223, jotka syöttävät kolmea erilaista näytteenotto jaksoa 1 , Δ 2 ja 3 , kuten kuviossa 4 on kaava-15 maisesti esitetty. Edellä selitettyyn esimerkkiin liittyen kolmas taajuus voidaan valita esimerkiksi sellaiseksi, että näytteenottojakso on 12,8 mikrosekuntia, jotta saadaan katetuksi koko 3,2 millisekunnista 25,6 millisekuntiin ulottuva viiveasteikko. Tällöin tietojen vertailuelin 20 17 on ohjelmoitu syöttämään, valintaelimen 24 avulla (ku vio 3), aina kahta peräkkäistä taajuutta näytteenottimiin 13a ja 13b. Valintaelin 24 muodostuu esimerkiksi kahdesta kytkimestä 26, jotka tietojen vertailuelin 17 ohjaa kytkemään kaksi kolmesta annosta kahteen näytteenottimeen 25 13a ja 13b.
Vertailuelin 17 ohjaa kytkimiä 26 arvioimalla huipun P aseman vertailupisteeseen M nähden, joka on esimerkiksi keskipiste eli Δ 2 :a vastaavan viiveasteikon (K+L)/2. Näin siis, kuvioon 4 viitaten, jos huippu P siir-30 tyy nuolen f2 suuntaan vasemmalle pisteestä M, vertailu-elin ohjaa kytkimet 26 syöttämään viiveväylän näytteenottimeen 13 jaksoa Δ, vastaavan taajuuden. Kun huippu P saavuttaa pisteen K, vertailija muuttaa molempien viive-väylien roolin.
35 Todettakoon, että keksinnön mukaan ensimmäisestä 10 79616 anturista 2 tulevat näytteet ohjataan viiveväylälle, joka voi käsittää enemmän kuin kaksi rinnan syötettävää linjaa, joissa käytetään yhtä montaa omaa näytteenottotaajuutta.
Eräissä sovellutuksissa viiveasteikon rajat saat-5 tavat olla varsin kaukana toisistaan ja näytteenottotaajuuksien lukumäärän lisääminen saattaa tällöin johtaa monimutkaisempaan ja hankalammin käytettävään tai suorituskyvyltään heikompaan laitteeseen.
Tämän haitan poistamiseksi on mittapää 1 keksinnön 10 mukaan tehty sellaiseksi, että toinen anturi 3 voidaan sijoittaa eri etäisyyksille ensimmäisestä anturista 2.
Kuvion 5 mukaan voidaan päähän 1 liittää kaksi anturia 3X ja 32, joissa kummassakin on antolinja 27x ja 272, jotka voidaan liittää kytkimen 28 avulla väylään 7. 15 Tietojen vertailuelin 17 ohjaa kytkintä 28 siten, että toinen tai toinen antureista 3j, 32 toimii, riippuen viiveen arvosta, joka määritellään huipun P aseman ja käytössä olevan näytteenottotaajuuden perusteella. Niinpä, kun kysymyksessä ovat viiveet, joiden voidaan katsoa sopivan 20 esimerkiksi kolmeen edellä määriteltyyn näytteenottotaajuuteen, tietojen vertailuelin 17 pitää toiminnassa anturin 32, joka sijaitsee etäisyydellä D ensimmäisestä anturista 2. Viiveiden suurentuessa, mikä vastaa siirtymis-nopeuden hidastumista nuolen f1 suunnassa, tietojen ver-25 tailuelin 17 käynnistää anturin 32, joka sijaitsee etäisyydellä d ensimmäisestä anturista 2.
Kuvio 6 valaisee tapausta, jossa on kolme näytteenotto jaksoa, joiden suhde on 2, ja kaksi etäisyyttä d, d, joiden suhde on 23. Tässä kuviossa abskissojen akseli vas-30 taa mitattavan nopeuden kääntöarvoa päinvastoin kuin kuvion 4 mukaisissa viiveissä. Tätä kuviota tutkimalla voidaan todeta, että yhdistämällä kolme taajuutta ja kaksi etäisyyttä voidaan suurentaa huomattavasti mitattavien viiveiden kokonaisasteikkoa.
35 Keksintö ei rajoitu selitettyihin ja piirustuksissa li 7961 6 esitettyihin esimerkkeihin, sillä siihen voidaan tehdä erilaisia muutoksia sen alasta poikkeamatta.
Claims (12)
1. Korrelaatioin!ttausmenetelinä toisiaan vastaavien sähkösignaalien välisten viiveiden mittaamiseksi reaali- 5 ajassa, jossa menetelmässä näytteitetään annetulla näytteenottotaajuudella ensimmäisen jonkin liikkuvan kohteen antaman signaalin vaihtelu ensimmäisessä kiinteässä pisteessä, tallennetaan näin otetut näytteet viiveväylälle, näytteitetään suoraväylälle samalla näytteenottotaajuudelle la saman liikkuvan kohteen antaman signaalin vaihtelu toisessa kiinteässä pisteessä, joka sijaitsee määrätyllä etäisyydellä ensimmäisestä pisteestä, lasketaan korrelaatiofunktio viiveväylän ja suoraväylän sisältämistä näytteistä, määritellään tämän funktion huipun sijainti ja 15 mitataan vastaava viive, tunnettu siitä, että järjestetään n itsenäistä, rinnankytkettyä viive-väylää ensimmäisen signaalin vastaanottamiseksi mainitusta ensimmäisestä pisteestä, n:n ollessa yhtä suuri tai suurempi kuin kaksi, 20 tallennetaan näihin väyliin signaalinäytteitä, joi ta on otettu ntllä erilaisella näytteenottotaajuudella, otetaan näytteitä toisesta signaalista suoraväy-lällä jollakin mainituista n:stä taajuudesta, lasketaan suoraväylän näytteiden ja yhden viive-25 väylän näytteiden välinen korrelaatiofunktio mitatun vii-vearvon mukaan.
2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että viivearvo otetaan huomioon ohjelmoidulla vertailulaskimella, tällä laitteella synkro- 30 noidaan suoraväylän näytteenottotaajuus yhden viiveväylän taajuuden kanssa ja tämä synkronoitu viiveväylä kytketään korrelaatiofunktion laskentaelimiin.
3. Patenttivaatimuksen 1 ja/tai 2 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että ensimmäisestä sig- 35 naalista otetaan näytteitä kahdella näytteenottotaajudel- 13 7961 6 la, jotka ovat kahdella viiveväylällä ja jotka lasklnlaite on valinnut vähintään kolmesta näytteenottotaajuudesta.
4. Patenttivaatimuksen 2 tai 3 mukainen menetelmä, tunnettu siltä, että korrelaatiofunktion laskenta 5 rajoittuu johonkin viiveikkunaan ja että tämä ikkuna on keskitetty laskettavan funktion huipun sijaintipaikkaan.
5. Patenttivaatimuksen 4 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että ikkunan keskittäminen suoritetaan laskinlaitteen avulla edellisestä mittauksesta saa- 10 dun huipun sijaintipaikan mukaan.
6. Patenttivaatimuksen 4 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että ikkunan keskittäminen suoritetaan jonkin ennakkosuodattimen avulla.
7. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, 15 tunnettu siitä, että toisen signaalin vaihtelu otetaan anturista, jonka lasklnlaite valitsee mitatun vii-vearvon mukaan useiden antureiden joukosta.
8. Laite toisiaan vastaavien sähkösignaalien välisten viiveiden mittaamiseksi korrelaation avulla reaali- 20 ajassa, joka laite käsittää mittapään (1), jossa on ensimmäinen anturi (2) ja toinen anturi (3), jotka ovat määrätyn kiinteän välimatkan päässä toisistaan ja asetetut vastapäätä jotakin lineaarisesti siirtyvää liikkuvaa kohdetta (4), väylän (5) ensimmäisestä anturista tulevien peräk-25 käisten näytteiden tallentamiseksi, väylän (7) toisesta anturista tulevien näytteiden ottamiseksi suoraan huomioon, generaattorin (11) näihin kahteen väylään syötettävän ainakin yhden näytteenottotaajuuden kehittämiseksi, näytteiden kertojan (8), summaimen (20), joka syöttää vä-30 nälkäiseen tallentamiseen käytettävää muistia (19), sekä kertojan ja summaimen laskeman korrelaatiofunktion huipun ilmaisimen (18), tunnettu siitä, että se käsittää n ensimmäiseen anturiin (2) liittyvää viiveväylää 35 (5a - 5b), n:n ollessa yhtä suuri tai suurempi kuin kaksi, 14 79616 generaattorin (11) n eri näytteenottotaajuuden, joka syötetään samanaikaisesti kukin yhdelle viiveväyläl-le, kehittämiseksi, synkronointielimet (15) jonkin viiveväylän näyt-5 teenottotaajuuden syöttämiseksi suoraväylään (7), kytkinelimet (9) tallennettujen näytteiden syöttämiseksi yhdeltä viiveväylältä kertojan (8) yhteen sisääntuloon, ja ohjelmoidun tietojen vertailuelimen (17), jossa 10 on sisääntulo, joka on liitetty huipun ilmaisimen (18) ulostuloon, ja ulostuloja, jotka ohjaavat synkronointieli-miä (15), kytkinelimiä (9) sekä korrelaatiofunktion laskentaa .
9. Patenttivaatimuksen 8 mukainen laite, t u n -15 nettu siitä, että se käsittää generaattorin (11) ainakin kolmen taajuuden kehittämiseksi, valintaelimet (24) näistä kolmesta taajuudesta kahden peräkkäisen syöttämiseksi samanaikaisesti, kumpikin omalle hidastusväylälleen (5a-5b), ja ohjelmoidun vertailuelimen (17), joka analysoi 20 korrelaatiofunktion huipun sijainnin ja ohjaa kahden peräkkäisen näytteenottotaajuuden valintaelimiä (24).
10. Patenttivaatimuksen 8 tai 9 mukainen laite, tunnettu siitä, että se käsittää ohjelmoidun vertailuelimen (17), joka analysoi korrelaatiofunktion huipun 25 sijainnin ja ohjaa yhden ainakin kahdesta toisesta anturista (31 - 32), jotka sijaitsevat erilaisilla kiinteillä etäisyyksillä (D - d) ensimmäisestä anturista (2) ja ovat liitetyt suoraväylään (7), käynnistämistä.
11. Jonkin patenttivaatimuksista 8-10 mukainen 30 laite, tunnettu siitä, että se käsittää ohjelmoidun vertailuelimen (17), joka rajaa korrelaatiofunktion laskennan viiveikkunaan (F), jonka vertailuelin keskittää mainitun funktion huippuun (P) nähden.
12. Jonkin patenttivaatimuksista 8-10 mukainen 35 laite, tunnettu siitä, että ohjelmoitu vertailu- is 7961 6 elin (17) on liitetty suodattimeen (29), joka ennakoi ikkunan keskittämisen korrelaatiofunktion huippuun nähden. ie 7961 6
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR8405122A FR2562259B1 (fr) | 1984-03-28 | 1984-03-28 | Procede et dispositif de mesure par correlation, en temps reel, de retards entre des signaux electriques se correspondant |
FR8405122 | 1984-03-28 |
Publications (4)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
FI851237A0 FI851237A0 (fi) | 1985-03-27 |
FI851237L FI851237L (fi) | 1985-09-29 |
FI79616B FI79616B (fi) | 1989-09-29 |
FI79616C true FI79616C (fi) | 1990-01-10 |
Family
ID=9302700
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
FI851237A FI79616C (fi) | 1984-03-28 | 1985-03-27 | Foerfarande och anordning foer korrelationsmaetning i realtid av foerdroejningarna mellan tvao varandra motsvarande signaler. |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4779215A (fi) |
EP (1) | EP0161996B1 (fi) |
AT (1) | ATE37239T1 (fi) |
CA (1) | CA1223071A (fi) |
DE (1) | DE3565008D1 (fi) |
FI (1) | FI79616C (fi) |
FR (1) | FR2562259B1 (fi) |
NO (1) | NO851238L (fi) |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61207973A (ja) * | 1985-03-13 | 1986-09-16 | Mitsubishi Electric Corp | 相関式時間差計 |
WO1987004524A1 (en) * | 1986-01-24 | 1987-07-30 | Beloit Corporation | Jet velocity measuring apparatus |
US4912519A (en) * | 1987-06-19 | 1990-03-27 | Omron Tateisi Electronics Co. | Laser speckle velocity-measuring apparatus |
GB8816348D0 (en) * | 1988-07-08 | 1988-08-10 | Kyriakis J | Non-contact measurement |
US5142651A (en) * | 1991-10-09 | 1992-08-25 | United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Uninterrupted, enhanced-rate, event-time recorder with mixed-speed counter modules |
US5301219A (en) * | 1991-12-18 | 1994-04-05 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Uninterrupted, enhanced-rate event sequencer with mixed-speed counter modules |
FR2749086B1 (fr) * | 1996-05-23 | 1998-08-07 | Technicatome | Dispositif de mesure optique de la vitesse d'un objet |
US6925399B2 (en) * | 2001-03-30 | 2005-08-02 | Verizon Laboratories Inc. | Methods and systems for the estimation of the injection point of foreign signals in a network |
WO2010099029A1 (en) | 2009-02-27 | 2010-09-02 | Cytec Technology Corp. | Epoxy compositions with improved mechanical performance |
US10281609B2 (en) * | 2017-01-31 | 2019-05-07 | L&P Property Management Company | Multi-frequency landscape analysis system, method, and apparatus for furniture sensing |
US11290708B2 (en) | 2019-02-19 | 2022-03-29 | Edgy Bees Ltd. | Estimating real-time delay of a video data stream |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4019038A (en) * | 1971-06-10 | 1977-04-19 | Kent Instruments Limited | Correlators |
FR2206872A5 (fi) * | 1972-10-17 | 1974-06-07 | Commissariat Energie Atomique | |
FR2223704B1 (fi) * | 1973-03-27 | 1977-09-02 | Thomson Csf | |
DE2544821C2 (de) * | 1975-10-03 | 1985-07-25 | Ernst Leitz Wetzlar Gmbh, 6330 Wetzlar | Korrelator zur berührungslosen Messung der Geschwindigkeit mit mehreren Meßfühlern |
FR2327553A1 (fr) * | 1975-10-10 | 1977-05-06 | Thomson Csf | Dispositif de mesure par correlation electronique du retard entre deux signaux temporels et systemes comportant un tel dispositif |
DE2633565A1 (de) * | 1976-07-27 | 1978-02-02 | Bosch Gmbh Robert | Verfahren und einrichtung zur beruehrungslosen geschwindigkeitsmessung |
US4100599A (en) * | 1976-12-22 | 1978-07-11 | Ncr Canada Ltd. - Ncr Canada Ltee | Method and apparatus for determining velocity of a moving member |
DE2856032A1 (de) * | 1978-01-03 | 1979-07-12 | Coulthard John | Vorrichtung und verfahren zum messen der geschwindigkeit einer relativbewegung zwischen einem ersten koerper und einem zweiten koerper bzw. einem stroemungsmittel |
US4285046A (en) * | 1978-06-16 | 1981-08-18 | National Research Development Corporation | Correlation method |
SU822037A1 (ru) * | 1979-06-19 | 1981-04-15 | Ленинградский Ордена Ленина Электро-Технический Институт Им.B.И.Ульянова(Ленина) | Коррел ционный измеритель скорости |
EP0026877B1 (de) * | 1979-10-03 | 1983-10-05 | Endress u. Hauser GmbH u.Co. | Verfahren und Anordnung zur Korrelation von zwei Signalen |
FR2506024A1 (fr) * | 1981-05-18 | 1982-11-19 | Siderurgie Fse Inst Rech | Dispositif pour la determination de la vitesse d'un produit en defilement par la methode de correlation |
US4604717A (en) * | 1983-02-18 | 1986-08-05 | Rca Corporation | Method and apparatus for measuring the time delay between signals |
-
1984
- 1984-03-28 FR FR8405122A patent/FR2562259B1/fr not_active Expired
-
1985
- 1985-03-27 AT AT85420060T patent/ATE37239T1/de not_active IP Right Cessation
- 1985-03-27 EP EP85420060A patent/EP0161996B1/fr not_active Expired
- 1985-03-27 FI FI851237A patent/FI79616C/fi not_active IP Right Cessation
- 1985-03-27 US US06/716,476 patent/US4779215A/en not_active Expired - Fee Related
- 1985-03-27 NO NO851238A patent/NO851238L/no unknown
- 1985-03-27 DE DE8585420060T patent/DE3565008D1/de not_active Expired
- 1985-03-28 CA CA000477849A patent/CA1223071A/en not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
NO851238L (no) | 1985-09-30 |
ATE37239T1 (de) | 1988-09-15 |
CA1223071A (en) | 1987-06-16 |
FR2562259B1 (fr) | 1987-04-10 |
FR2562259A1 (fr) | 1985-10-04 |
DE3565008D1 (en) | 1988-10-20 |
EP0161996A1 (fr) | 1985-11-21 |
FI79616B (fi) | 1989-09-29 |
US4779215A (en) | 1988-10-18 |
FI851237L (fi) | 1985-09-29 |
FI851237A0 (fi) | 1985-03-27 |
EP0161996B1 (fr) | 1988-09-14 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
FI79616C (fi) | Foerfarande och anordning foer korrelationsmaetning i realtid av foerdroejningarna mellan tvao varandra motsvarande signaler. | |
US6587809B2 (en) | Position and orientation detection system | |
CN101044371B (zh) | 时间差测定装置、测定方法、测距装置和测距方法 | |
US4735508A (en) | Method and apparatus for measuring a curvature of a reflective surface | |
CN102331236A (zh) | 大直径回转体的直径在线测量装置 | |
CA1046152A (en) | Apparatus for determining the position of a surface | |
FI66495C (fi) | Foerfarande foer analys av en av och an gaoende roerelse | |
Yamaguchi et al. | Stabilized and accelerated speckle strain gauge | |
EP1067756B1 (en) | Device for determining the position of an object relative to a surface | |
WO1981003708A1 (en) | Measurement of speed and/or length | |
FI82141B (fi) | Foerfarande och anordning foer maetning av straolhastigheten hos en pappersmaskins inloppslaoda. | |
JPH06167327A (ja) | キャンバ測定方法 | |
JP2707665B2 (ja) | 紙片検出装置 | |
RU2153647C2 (ru) | Устройство для контроля линейных размеров по принципу триангуляции | |
JP2822010B2 (ja) | レーザドップラ法を利用した搬送中における直方体の物品の進入角度と側辺の実長の測定法とその装置 | |
Miao et al. | Active trigonometry and its application to thickness measurement on reflective surface | |
JPS57124561A (en) | Measuring device for roll alignment | |
CN116699718A (zh) | 基于多芯光纤的物体边缘探测装置及物体边缘测量方法 | |
SU1133479A1 (ru) | Способ вихретокового контрол | |
US20020021137A1 (en) | Method for calibrating a semiconductor testing device, a semiconductor testing apparatus, and a method for testing a semiconductor device | |
JPH02161307A (ja) | 平板の波打検査方法 | |
GB2345147A (en) | Electric current sensors | |
Zhang et al. | Online inspection system for steel-plate thickness | |
JPS5827874B2 (ja) | ソ−ナ−装置の測的処理方法 | |
SU1289820A1 (ru) | Способ неразрушающего контрол провод щих изделий |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM | Patent lapsed |
Owner name: CENTRE TECHNIQUE DE L INDUSTRIE DES PAPIERS, CARTO Owner name: CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE |