FI76435C - Maetanordning foer maetning av ett arkmaterial. - Google Patents
Maetanordning foer maetning av ett arkmaterial. Download PDFInfo
- Publication number
- FI76435C FI76435C FI831714A FI831714A FI76435C FI 76435 C FI76435 C FI 76435C FI 831714 A FI831714 A FI 831714A FI 831714 A FI831714 A FI 831714A FI 76435 C FI76435 C FI 76435C
- Authority
- FI
- Finland
- Prior art keywords
- distance
- main
- sheet
- measuring
- parameter
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/06—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
- G01N23/16—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption the material being a moving sheet or film
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
- G01D5/48—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using wave or particle radiation means
- G01D5/50—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using wave or particle radiation means derived from a radioactive source
- G01D5/52—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using wave or particle radiation means derived from a radioactive source detected by a counter tube
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/86—Investigating moving sheets
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B2210/00—Aspects not specifically covered by any group under G01B, e.g. of wheel alignment, caliper-like sensors
- G01B2210/40—Caliper-like sensors
- G01B2210/42—Caliper-like sensors with one or more detectors on a single side of the object to be measured and with a backing surface of support or reference on the other side
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B2210/00—Aspects not specifically covered by any group under G01B, e.g. of wheel alignment, caliper-like sensors
- G01B2210/40—Caliper-like sensors
- G01B2210/46—Caliper-like sensors with one or more detectors on a single side of the object to be measured and with a transmitter on the other side
Description
1 76435
Mittauslaite arkkiaineen mittaamiseksi
Esillä oleva keksintö kohdistuu laitteeseen ja menetelmään arkkiaineen tiettyjen parametrien mittaamiseksi.
Erilaisten arkkiaineiden tiettyjä parametrejä mittaavat järjestelmät ovat hyvin tunnettuja. Esim. US-patentti 3 757 122 esittää järjestelmän, jolla mitataan liikkuvan paperiarkin neliömassa. Patentin mukaisesti mittauspää on sijoitettu siten, että pään yksi osa sijaitsee liikkuvan paperiarkin kummallakin puolella ja pää on asennettu kehykseen ja sovitettu liikkumaan kehyksen kanssa paperiarkin poikkisuunnassa. Säteilylähde sijaitsee alemmassa päässä ja säteilyilmaisin sijaitsee ylemmässä päässä säteilyn vastaanottamiseksi lähteestä. Anturin vastaanottama säteilymäärä suhteutetaan paperin neliömassaan, ja niin ollen mittausjärjestelmä valvoo paperin neliömassaa paperin kulkiessa kahden pään välistä.
Muita parametrejä kuin paperin neliömassaa voidaan mitata järjestelmillä, jotka ovat samanlaisia kuin US-patentissa 3 757 122 selitetty. Esim. US-patentti 3 793 524 kuvaa järjestelmää, joka mittaa arkkiaineen kuten paperin kosteuspitoisuutta. Järjestelmään kuuluu infrapunasäteilyn lähde, joka sijaitsee mittauspääelimessä, joka on sijoitettu arkki-aineen toiselle puolelle, ja säteilyn vastaanottava ilmaisin, joka sijaitsee aineen toiselle puolelle sijoitetussa pääelimessä. Arkkiaineen muita parametrejä kuten opasiteettia ja paksuutta tai kaliiperia voidaan myös mitata samanlaisilla mittausjärjestelmillä.
Yllä käsiteltyä tyyppiä olevissa mittausjärjestelmissä on havaittu, että kahden mittauspääosan välinen etäisyys voi joskus olla tärkeä määritettäessä mitattavan parametrin arvoa. Esim. yllä kuvatuntyyppisessä, paperin neliömassaa mittaavassa järjestelmässä on havaittu, että neliömassan 2 76435 mittaukseen voi vaikuttaa säteilylähteen ja säteilyilmaisimen välinen etäisyys silloinkin, kun paperin todellinen neliömas-sa pysyy vakiona. On myös havaittu, että käytännössä kahden pääelimen välinen etäisyys voi joskus vaihdella odottamattomalla tavalla pääelimien kulkiessa paperiarkin poikki. Neliö-massan mitattu arvo voi niin ollen joskus poiketa todellisesta arvosta.
Esillä olevan keksinnön tarkoituksena on saada aikaan järjestelmä ja menetelmä arkkiaineen parametrien mittausta varten, jolloin mitattua arvoa korjataan pääosien välisen etäisyyden mukaan. Keksinnön toisena tarkoituksena on saada aikaan etäisyyden tunnustelu järjestelmä mittausjärjestelmässä, jolloin mittausjärjestelmän pään kahden osan välistä etäisyyttä voidaan jatkuvasti mitata, ja välineet etäisyyden tunnustelujärjestelmästä kehitetyn informaation käyttämiseksi parametrin mitatun arvon korjaukseen.
Mainittu tarkoitus toteutetaan menetelmällä, jolle on ominaista se, mitä tarkemmin esitetään patenttivaatimuksen 1 tunnusmerkkiosassa. Keksinnön mukaisen järjestelmän tunnusmerkit on esitetty patenttivaatimuksessa 7.
Oheisissa piirustuksissa kuvio 1 esitää esillä olevan keksinnön mukaista pyyhkäisyjärjestelmää , kuvio 2 esittää kaaviollisesti esillä olevan suoritusmuodon yhtä osaa, kuvio 3 esittää kaaviollisesti esillä olevan keksinnön erään suoritusmuodon osan yksityiskohtaa, kuvio 4 esittää kaaviollisesti keksinnön toisen suoritusmuodon osan yksityiskohtaa, kuvio 5 esittää kaaviollisesti keksinnön erään suoritusmuodon yksityiskohtaa, kuvio 6 on diagrammi, joka esittää erästä ongelmaa, jonka esillä oleva järjestelmä on tarkoitettu ratkaisemaan, ja kuviot 7-9 ovat diagrammeja, jotka esittävät keksinnön erään suoritusmuodon toimintaa.
Il 3 76435
Kuviossa 1 on esitetty skanneri 10, joka olisi käytössä sovitettu liikkuvan paperiarkin yhden osan poikki. Skanneriin kuuluu kaksi palkkia 12, jotka on sovitettu toinen paperiarkin alapuolelle ja toinen yläpuolelle. Mittauspääjärjestelmään kuuluu yläosa 20 ja alaosa 22, jotka on asennettu palkeille 12, niin että ne voivat liikkua palkkeja pitkin yleisesti vasemmalta oikealle ja oikealta vasemmalle. Ylä- ja alaosien 20 ja 22 väliin muodostuu rako 23, johon paperi 27 voidaan sijoittaa. Paperilla esitetään koordinaattajärjestelmä, joka osoittaa kone- eli "X"-suuntaa, poikki- eli "Y"-suuntaa ja "Z"-suuntaa, joka on kohtisuora "X"- ja "Y”-suun-tia vastaan.
Kuten kuviosta 2 näkyy, osiin 20 ja 22 kuuluu anturijärjestelmä, joka käsittää säteilylähteen 24 ja säteilyilmaisimen 26. Säteilylähde sijaitsee alaosassa 22 ja lähettää beta-säteilyä, joka menee paperin 27 läpi. Lähteestä 24 tuleva betasäteily on radioaktiivisesta hajaantumisesta johtuvan tapahtumasarjan kehittämien hiukkasten muodossa. Joissakin käytöissä myös alfa-, gamma- ja röntgensäteilyt ovat ajateltavissa. Säteilyilmaisin 26 sijaitsee yläosassa 20 ja pystyy tunnustelemaan lähteestä 24 tulevaa säteilyä. Säteilyilmaisin ottaa vastaan säteilyä lähteestä 24 ja kehittää sähkö-signaalin vastaanotetun säteilymäärän mukaan. Esivahvistin 28 on kytketty ottamaan vastaan sähkösignaaleja ilmaisimesta 26 ja vahvistamaan signaalit siten, että ne voidaan lähettää tietokoneeseen 30.
Tähän asti kuvatut pyyhkäisin- ja ilmaisinjärjestelmät voivat olla US-patentissa 3 757 122 kuvattua tyyppiä. Patentti esittää, että ilmaisimen vastaanottaman säteilyn voimakkuus
”"UX
suhteutetaan paperin neliömassaan kaavalla I = Ie . Kaavassa I on ilmaisimeen saapuvan säteilyn voimakkuus, kun raossa ei ole arkkiainetta, u on massa-absorptiokerroin, x on mitattavan arkkiaineen paino pinta-alayksikköä kohti, ja I on vastaanotetun säteilyn voimakkuus, kun raossa on arkkiainetta. On havaittu, että tätä kaavaa voidaan käyttää, jos säteily- 4 76435 lähde ja ilmaisin on sovitettu muuttumattoman välimatkan päähän toisistaan ja järjestelmä on kalibroitu siten, että lähde ja ilmaisin ovat ennalta määrätyn välimatkan päässä toisistaan. Käytännössä on kuitenkin todettu, ettei skannerin 10 palkkien välinen etäisyys ole täsmälleen sama palkkien koko pituudelta. Kun siis päät liikkuvat palkkeja pitkin, päiden välinen etäisyys muuttuu. On myös todettu, että palkkien ja pääjärjestelmän lämpötila voi muuttua käytössä. Esimerkiksi paperinvalmistusprosessissa paperi on usein varsin kuumaa, minkä vuoksi skanneri kuumenee. Jos paperi kuitenkin murtuu ja prosessi on keskeytettävä joksikin aikaa, skanneri-järjestelmä voi muuttua verraten viileäksi. Kun prosessi käynnistyy uudelleen, skanneri alkaa kuumeta paperin lämmön vaikutuksesta. Skanneripalkkien 12 muoto voi niin ollen hieman muuttua, niin että palkin 12 lämmetessä pääjärjestelmän osien 20 ja 22 välinen etäisyys muuttuu. Niin ollen on todettu, että joissakin käytöissä on tärkeää korjata säteily-ilmaisimien mittaamat neliömassan arvot pääosien välisen etäisyyden muuttumisen huomioon ottamiseksi.
Osat 20 ja 22 sisältävät etäisyyden tunnustelulaitteen, joka käsittää yläosaan 20 kiinnitetyn anturin 32 ja alaosaan kiinnitetyn vertailuvälineen. Anturi 32 sijaitsee erillään alaosasta 22 ja liikkuu pääjärjestelmän mukana. Anturi sijaitsee yläpääosan pinnan 33 lähellä, niin että etäisyys alaosaan 22 on mahdollisimman pieni. Anturi 32 kehittää sähkösignaalin anturin 32 ja alaosaan 22 kiinnitetyn vertailuvälineen välisen etäisyyden mukaan. Anturi 32 on kytketty esivahvistimeen 36, joka on vuorostaan kytketty tietokoneeseen 30.
On todettu, että sopiva etäisyyden tunnustelulaite voi olla tyyppiä, joka on kuvattu US-patentissa 4 160 204. Viitaten kuvioon 3 etäisyyden tunnustelulaitteeseen kuuluu yläpääosas-sa sijaitseva käämi 42 ja alapääosan 22 pinta 33. Käämi 42 on kytketty esittämättä jätettyyn sähkövirtapiiriin käämin virran mittausta varten. Käämin impedanssi on suhteessa käämin 42 ja pinnan 33 väliseen etäisyyteen.
Il 5 76435
Vaihtoehtoisesti etäisyyden mittausjärjestelmä voi olla kuviossa 4 esitetyn kaltainen. Kuvion 4 mukaisesti järjestelmässä on lähetin 50 ja vastaanotin 52. Lähettimeen 50 kuuluu ensimmäinen, muodoltaan oleellisen lieriömäinen elin 54, joka on magneettisesti herkkää ainetta kuten rautaa. Ensimmäisen elimen 54 ympärille on käämitty ensimmäinen johdin 56. Lähetin 50 on sijoitettu siten, että ensimmäisen elimen 54 akseli on oleellisesti kohtisuora paperiarkkia vastaan. Vastaanotin 52 käsittää toisen, muodoltaan oleellisen lieriömäisen elimen, joka on myös magneettisesti herkkää ainetta. Toisen elimen 58 ympärille on käämitty toinen johdin 60.
Elin 58 on sijoitettu siten, että toisen elimen 58 akseli sijaitsee oleellisesti linjassa ensimmäisen elimen 54 akselin kanssa. Esittämättä jätetty vaihtovirtalähde on kytketty ensimmäiseen johtimeen 56, niin että kun virta kulkee johtimen läpi, lähetin 50 kehittää magneettikentän, jolla on vaihte-leva amplitudi. Magneettikenttä indusoi toisen magneettikentän toisessa elimessä 58, ja mangeettikentän voimakkuus on lähettimen 50 ja vastaanottimen 52 välisen etäisyyden funktio. Lähettimen ja vastaanottimen välisen etäisyyden suuretessa vastaanottimen tunnustelema magneettikentän amplitudi pienenee.
Kuvion 4 etäisyyden mittausjärjestelmään kuuluu kaksi joh-dinkäämiä 62 ja 64, jotka sijaitsevat vastaanottimen 52 lähellä. Lähetin 50 indusoi magneettikentän käämeissä 62 ja 64, ja indusoidun kentän suuruus riippuu lähettimen 50 ja kulloisenkin käämin välisestä etäisyydestä. Niin ollen voidaan päätellä, milloin lähetin 50 ja vastaanotin 52 eivät ole keskenään linjassa. Joissakin olosuhteissa väärä suuntaus voisi johtaa "D":n epätarkkaan mittaukseen. Käämejä 62 ja 64 voidaan kuitenkin käyttää tällaisten epätarkkuuksien korjaukseen. Käämit 62 ja 64 voivat sijaita siten, että ne ovat "X"- tai "Y"-suunnassa vastaanottimen 52 suhteen mielenkiinnon kohteena olevan väärän suuntauksen suunnan mukaan. Kaksi käämiä voi myös sijaita "X"-suunnassa ja kaksi "Y"-suunnassa virheellisen suuntauksen mittauksen mahdollistamiseksi kummassakin suunnassa.
____ .. Tn 6 76435
Voidaan nähdä, ettei kuviossa 3 esitettyyn järjestelmään kuulu kuviossa 4 esitettyjä pieniä käämejä 62 ja 64. Tällaisia käämejä ei käytetä kuvion 3 järjestelmässä, koska tässä järjestelmässä anturin ulostulo pysyy vakiona, jos anturi 42 liikkuu vasemmalle tai oikealle, mutta etäisyys D pysyy muuttumattomana. Järjestelmä mittaa niin ollen tarkkaan siirron "Z"-suunnassa, vaikka "X"- ja "Y"-suunnassa voi esiintyä virheellistä suuntausta.
Yllä selitettyä järjestelmää käytetään paperin neliömassan mittaukseen. On kuitenkin selvää, että esillä olevaa keksintöä voidaan myös käyttää arkkiaineen muiden parametrien mittauksessa. Esimerkiksi kuviossa 5 esitetään paperiarkin kosteuspitoisuuden mittaukseen käytetyn järjestelmän osa. Tällainen järjestelmä esitetään US-patentissa 3 793 524. Järjestelmää ei selitetä tässä yksityiskohtaisesti, ja järjestelmän tarkempaa selitystä varten viitataan mainittuun patenttiin. Järjestelmään kuuluu paperin ylä- ja alaohjaimet 70 ja vastaavasti 72, jotka voidaan asentaa ylä- ja alapääosien 20 ja 22 pinnoille 33, tai ohjaimet voivat olla yhtä kappaletta osien 20 ja 22 kanssa. Ohjaimissa 70 ja 72 on heijastavat pinnat, jotka voidaan muodostaa kiillottamalla tai muilla tavoin kuten em. patentissa esitetään. Infrapunasäteilylähde 74 sij aitsee yläohjaimessa 70, ja säteilyn ilmaiseva ilmaisin on myös asennettu yläohjaimeen 70 ottamaan vastaan säteilyä lähteestä 74. Lähteestä 74 tuleva säteily heijastuu ohjaimien 70 ja 72 pinnoilta ja siirtyy osaksi paperin läpi osan heijastuessa paperilta, kuten katkoviivat esittävät. Ilmaisimen vastaanottaman säteilyn mittausta käytetään paperin kosteuspitoisuuden määritykseen.
Käytössä pääjärjestelmä pyyhkäisee edestakaisin paperia, joka liikkuu poikittain pyyhkäisysuuntaa vastaan. Sillä välin kun paperin parametriä kuten neliömassaa tai kosteuspitoisuutta mitataan, etäisyyden mittauslaite mittaa päiden välisen etäisyyden, ja parametrin ja etäisyyden mitatut arvot lähete- 7 76435 tään tietokoneeseen 30. Päiden välinen etäisyys voi vaihdella järjestelmän käytön aikana, ja järjestelmä korjaa automaattisesti mitatun parametrin päiden välisen etäisyyden vaihtelun huomioon ottamiseksi. Joissakin käytöissä neliömassa ja anturien välinen etäisyys voidaan mitata jaksottain ennalta määrätyin aikavälein. Molemmat mittaukset ovat niin ollen itse asiassa sarja arvoja, jotka edustavat neliömassaa ja päiden välistä etäisyyttä tietyissä pisteissä ajassa ja tietyissä pisteissä paperilla. Käytännössä nämä pisteet voidaan sovittaa lähekkäin, niin että saadaan jokseenkin jatkuva mittaus.
Kuten yllä mainittiin, on havaittu, että pääjärjestelmän pyyhkäistessä paperiarkin poikki on olemassa pääosien välisen etäisyyden muuttuvuuden kaksi päälähdettä. Erityisesti etäisyys voi vaihdella, koska skannerin palkit 12 eivät sijaitse saman välimatkan päässä toisistaan koko pituudeltaan. Järjestelmän käytön aikana pääjärjestelmä ja palkit voivat myös kuumentua, minkä takia pääosien välinen etäisyys ajan mukana muuttuu. Kuviossa 6 on esitetty joitakin koetuloksia, jotka osoittavat kuumennusvaikutusta.
Kuvio 6 käsittää useita diagrammoja, jotka kukin esittävät pääjärjestelmän osien välistä etäisyyttä tiettynä aikana skannerin pituutta pitkin.(On huomattava, että diagrammit eivät ole mittasuhteiltaan oikeat ja että "Asema"-akseli ei edusta nollaväliä). Näiden diagrammojen saamiseksi skanneria käytettiin kylmäkäynnistyksestä ja pääosien välinen etäisyys mitattiin esillä olevalla järjestelmällä järjestelmän kuumetessa. Käyrä A esittää pääosien välistä etäisyyttä skannerin koko pituutta pitkin ajon alussa, kun järjestelmä on suhteellisen kylmä. Kuten käyrästä A voidaan nähdä, pääosien välinen etäisyys oli suurempi, kun pääjärjestelmä oli lähempänä skannerin päitä kuin silloin, kun järjestelmä oli lähempänä skannerin keskustaa. On myös huomattava, että käyrä ei ole tasainen, vaan siinä on tiettyjä paikallisia epäsäännöllisyyksiä pääosien välisessä etäisyydessä. Käyrä B esittää 8 76435 pääosien välistä etäisyyttä viisi minuuttia sen jälkeen, kun käyrä A oli kehitetty. Voidaan nähdä, että käyrässä B pääosien välinen etäisyys skannerin koko pituutta pitkin on hieman pienempi kuin käyrässä A esitetty pääosien välinen etäisyys. Tämä havainnollistaa kuumennuksen vaikutusta järjestelmään. Yleensä käyrästä B löytyvät myös koko käyrän läpi samat paikalliset epäsäännöllisyydet, jotka löytyivät käyrästä A.
Käyrät C-F tehtiin asteittain myöhempinä ajankohtina (käyrien väli 5-30 minuuttia), ja käyrien eteneminen osoittaa, että pääosien välinen etäisyys yleensä pienenee sitä mukaa kuin järjestelmä kuumenee. On myös huomattava, että paikalliset epäsäännöllisyydet käyrissä eivät ole muuttumattomat ajassa, vaan muuttuvat jonkin verran järjestelmän kuumetessa. Lisäksi paikalliset epäsäännöllisyydet voivat muuttua nopeasti. Havaitaan siis, että on tärkeää, että esillä oleva järjestelmä voi jatkuvasti mitata pääosien välistä etäisyyttä ja kompensoida etäisyyden vaihtelun.
Kuviot 7-9 esittävät esimerkkiä kokeesta, joka on tehty esillä olevan järjestelmän tehokkuuden osoittamiseksi pääosien välisen vaihtelun korjauksessa. Kuvio 7 on graafinen esitys asemasta skannerin poikki pääosien etäisyyttä vastaan. Tässä kokeessa skanneria muutettiin osien välisen etäisyyden, ts. raon pienentämiseksi pääasiassa skannerin keskiosan lähellä, ja tämä raon pienennys on esitetty suurena "kuhmuna" diagrammin keskellä. Kuvio 8 esittää asemaa skannerin poikki paperin mitattua neliömassaa vastaan esillä olevaa keksintöä käyttämättä. Kuten voidaan nähdä, paperin mitattu neliömassa suurenee jyrkästi "kuhmun" kohdalla. Muista kokeista tiedetään kuitenkin, että paperin neliömassa ei ole suurentunut skannerin keskustaa kohti.
Kuvio 9 esittää esillä olevan järjestelmän toimintaa. Diagrammi esittää mitattua neliömassaa skannerin poikki ja havainnollistaa, että käytettäessä korjausta kompensoimaan skannerin keskellä olevaa "kuhmua" paperin neliömassassa ei esiinny suurta lisäystä paperiarkin keskellä.
Il 9 76435
Yllä selitettyyn ja kuviossa 1 esitettyyn järjestelmään kuuluu skanneri, jossa pääosat 20 ja 22 voivat liikkua palkkien 12 suhteen. On selvää, että esillä oleva järjestelmä on sovellettavissa myös muuntyyppisiin pyyhkäisyjärjestelmiin, kuten ns. C-kehysjärjestelmiin, joissa pääosat on kiinnitetty jäykästi kehykseen.
Edelleen yllä käsiteltyihin suoritusmuotoihin kuuluu kaksi pääosaa 20 ja 22. Esillä oleva keksintö on kuitenkin myös sovellettavissa järjestelmään, johon kuuluu yksi ainoa, paperin toiselle puolelle sijoitettu pääelin. Tällaiseen suoritusmuotoon kuuluu kiinteä elin, kuten tela tai pienikitkainen muoviohjain, joka on sijoitettu paperin vastakkaiselle puolelle ja ulottuu paperin koko leveyden yli. Tämä suoritusmuoto olisi sopiva käytettäväksi esim. takaisinsirontatyyppi-sessä röntgensädeilmaisimessa. Tällaisessa suoritusmuodossa kiinteä elin tukisi paperia sen koko leveydeltä ja muodostaisi vertailupisteen etäisyyden mittausta varten anturista 32.
Claims (13)
1. Menetelmä ainearkin parametrin arvojen mittaamiseksi eri pisteissä anturijärjestelmällä, johon sisältyy ensimmäinen pääelin (20) ja toinen pääelin (22), ja parametrin mitattujen arvojen korjaamiseksi, niin että otetaan huomioon pääelimien välisen etäisyyden vaihtelu määrittelemättä kummankaan pääelimen etäisyyttä arkista (27), tunnettu siitä, että a) parametrin arvot mitataan anturi järjestelmällä ilman pääelimien (20, 22) välisen etäisyyden vaihtelun korjausta niin, että saadaan korjaamattomia mitattuja arvoja; b) määritetään pääelimien välinen etäisyys lähettämällä signaali arkin (27) läpi mutta määrittelemättä kummankaan pääelimen etäisyyttä arkista (27); ja c) korjataan korjaamattomat mitatut arvot ottamalla huomioon pääelimien (20, 22) välinen etäisyys, mutta ottamatta huomioon pääelimien etäisyyttä arkista (27).
2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että kun ainearkki (27) kulkee ensimmäiseen suuntaan (X) ja ensimmäinen ja toinen pääelin kulkevat toiseen, ensimmäiseen suuntaan nähden kohtisuoraan suuntaan (Y), korjaus tehdään perustuen pääelimien (20, 22) väliseen etäisyyteen ainoastaan "Z"-suunnassa, joka on suorassa kulmassa sekä ensimmäiseen (X) että toiseen (Y) suuntaan nähden.
3. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että kun ainearkki (27) kulkee ensimmäiseen suuntaan (X) ja ensimmäinen ja toinen pääelin kulkevat toiseen, ensimmäiseen suuntaan nähden kohtisuoraan suuntaan (Y), korjaus tehdään perustuen etäisyyteen jossakin muussa suunnassa kuin "Z"-suunnassa, joka on suorassa kulmassa sekä ensimmäiseen (X) että toiseen (Y) suuntaan nähden.
4. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että pääelimien välinen etäisyys määritetään sähkömagneettisella induktiolla. Il li 7 6 4 3 5
5. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että pääelimien välinen etäisyys määritetään arvoja mitattaessa.
6. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että pääelimien välinen etäisyys määritetään pääelimien ollessa useissa asemissa, joista jokainen vastaa asemaa, jossa parametrin arvo mitataan.
7. Järjestelmä arkkiaineen parametrin arvojen mittaamiseksi eri pisteissä anturi järjestelmällä, johon sisältyy pääelimet (20, 22), ja parametrin mitattujen arvojen korjaamiseksi niin, että otetaan huomioon pääelimien osien välisen etäisyyden vaihtelu mittaamatta etäisyyttä anturijärjestelmästä arkkiin (27), tunnettu siitä, että se käsittää a) pääelimet, joiden ensimmäinen osa (20) on sijoitettu arkin ensimmäiselle puolelle ja toinen osa (22) arkin toiselle puolelle ; b) etäisyyttä tunnustelevan välineen (32), joka on kytketty pääelimeen pääelimien kahden osan välisen etäisyyden mittausta varten lähettämällä signaali arkin (27) läpi; c) anturivälineen (26), joka on kytketty pääelimeen arkin (27) parametrin arvojen mittausta varten, mutta ei mainitun anturivälineen (26) ja arkin (27) välisen etäisyyden mittausta varten, korjaamattomien mitattujen arvojen aikaansaamiseksi? ja d) parametrin määritysvälineen (30), joka on kytketty ottamaan vastaan signaaleja anturivälineestä (26) ja etäisyyden tunnusteluvälineestä (32) korjaamattomien mitattujen arvojen korjaamiseksi ottamalla huomioon pääelimien osien (20, 22) välinen etäisyys mutta ottamatta huomioon pääelimien (20, 22) etäisyyttä arkista (27).
8. Patenttivaatimuksen 7 mukainen järjestelmä, tunnettu siitä, että anturivälineeseen kuuluu päävälineen ensimmäisessä osassa sijaitseva lähde (24) ja pääelimen toisessa osassa sijaitseva ilmaisin (26). 7 6435
9. Patenttivaatimuksen 7 mukainen järjestelmä, tunnettu siitä, että anturivälineeseen kuuluu lähde (74) ja ilmaisin (76), jotka molemmat sijaitsevat pääelimen yhdessä osassa.
10. Patenttivaatimuksen 7 mukainen järjestelmä, tunnettu siitä, että etäisyyden tunnusteluvälineeseen kuuluu anturi (32), joka on asennettu pääelimen yhteen osaan.
10 7 64 35
11. Patenttivaatimuksen 7 mukainen järjestelmä, tunnettu siitä, että etäisyyden tunnusteluvälineeseen kuuluu pääelimen yhteen osaan asennettu lähetin (50) ja pääelimen toiseen osaan asennettu vastaanotin (52).
12. Patenttivaatimuksen 10 mukainen järjestelmä, tunnettu siitä, että lähetin kehittää magneettikentän.
13. Patenttivaatimuksen 10 mukainen järjestelmä, tunnettu siitä, että arkkiaine ei oleellisesti vaikuta lähettimes-tä tulevaan signaaliin. il 13 7 64 35
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US37937782A | 1982-05-17 | 1982-05-17 | |
| US37937782 | 1982-05-17 |
Publications (4)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| FI831714A0 FI831714A0 (fi) | 1983-05-16 |
| FI831714L FI831714L (fi) | 1983-11-18 |
| FI76435B FI76435B (fi) | 1988-06-30 |
| FI76435C true FI76435C (fi) | 1988-10-10 |
Family
ID=23496984
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| FI831714A FI76435C (fi) | 1982-05-17 | 1983-05-16 | Maetanordning foer maetning av ett arkmaterial. |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4678915B1 (fi) |
| EP (1) | EP0094669B1 (fi) |
| JP (1) | JPS5920806A (fi) |
| CA (1) | CA1205925A (fi) |
| DE (1) | DE3370181D1 (fi) |
| FI (1) | FI76435C (fi) |
| IE (1) | IE54249B1 (fi) |
Families Citing this family (25)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4970895A (en) * | 1985-05-02 | 1990-11-20 | Measurex Corporation | System and method for the determination of certain physical characteristics of sheet materials. |
| US4866984A (en) * | 1985-10-04 | 1989-09-19 | Measurex Corporation | Sensor and system for continuous determination of paper strength |
| US5010766A (en) * | 1989-11-30 | 1991-04-30 | Impact Systems, Inc. | Error compensation for measuring gauges |
| US5164048A (en) * | 1990-08-29 | 1992-11-17 | Measurex Corporation | Cooling structure for stabilizing the temperature of beams in a sheet-making apparatus |
| US5103471A (en) * | 1991-01-17 | 1992-04-07 | Spongr Jerry J | Apparatus for measuring the thickness of a coating |
| US5099125A (en) * | 1991-02-15 | 1992-03-24 | Abb Process Automation Inc. | Sheet material sensor compensation |
| US5117686A (en) * | 1991-04-18 | 1992-06-02 | Abb Process Automation Inc. | Scanning head position sensing for web characteristic measuring system |
| US5233195A (en) * | 1992-02-25 | 1993-08-03 | Abb Process Automation, Inc. | Methods and apparatus for measuring characteristics of moving webs |
| US5457539A (en) * | 1993-06-18 | 1995-10-10 | Abb Industrial Systems, Inc. | On-line compensation for deflection in instruments using focused beams |
| EP0732569B1 (de) * | 1995-03-17 | 2000-04-26 | Honeywell Ag | Vorrichtung zur Flächengewichtsmessung |
| US5714763A (en) * | 1996-03-25 | 1998-02-03 | Measurex Corporation | Method and apparatus for optical alignment of a measuring head in an X-Y plane |
| US5773714A (en) * | 1997-02-19 | 1998-06-30 | Honeywell-Measurex Corporation | Scanner beam dynamic deflection measurement system and method |
| US5915277A (en) * | 1997-06-23 | 1999-06-22 | General Electric Co. | Probe and method for inspecting an object |
| US6281679B1 (en) | 1998-12-21 | 2001-08-28 | Honeywell - Measurex | Web thickness measurement system |
| US6995372B2 (en) * | 2003-02-12 | 2006-02-07 | Voith Paper Patent Gmbh | Nuclear gauge for measuring a characteristic of a sheet material with sheet position and alignment compensation |
| US7071480B2 (en) * | 2003-06-13 | 2006-07-04 | Voith Paper Patent Gmbh | Sensor with alignment self compensation |
| US6967726B2 (en) * | 2003-10-03 | 2005-11-22 | Honeywell International Inc. | Means for in-place automated calibration of optically-based thickness sensor |
| US8088255B2 (en) * | 2008-04-18 | 2012-01-03 | Honeywell Asca Inc | Sheet stabilizer with dual inline machine direction air clamps and backsteps |
| US8083895B2 (en) * | 2008-04-18 | 2011-12-27 | Honeywell Asca Inc. | Sheet stabilization with dual opposing cross direction air clamps |
| US7892399B2 (en) * | 2008-05-29 | 2011-02-22 | Honeywell Asca Inc. | Local tension generating air stabilization system for web products |
| US8083896B2 (en) * | 2008-09-26 | 2011-12-27 | Honeywell Asca Inc. | Pressure equalizing baffle and coanda air clamp |
| DE102010063232A1 (de) * | 2010-12-16 | 2012-06-21 | Voith Patent Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur Flächengewichtsbestimmung |
| US8742385B2 (en) * | 2011-01-26 | 2014-06-03 | Honeywell Asca Inc. | Beam distortion control system using fluid channels |
| EP2909573B1 (en) * | 2012-10-19 | 2017-09-06 | Picometrix, LLC | System for calculation of material properties using reflection terahertz radiation and an external reference structure |
| US11519710B2 (en) * | 2020-02-26 | 2022-12-06 | Honeywell Limited | High accuracy and high stability magnetic displacement sensor in the presence of electromagnetic interferences |
Family Cites Families (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3243992A (en) * | 1963-09-12 | 1966-04-05 | Boeing Co | Gauging device |
| US3479511A (en) * | 1965-06-01 | 1969-11-18 | Industrial Nucleonics Corp | Nuclear radiation gauge system |
| US3552203A (en) * | 1967-11-13 | 1971-01-05 | Industrial Nucleonics Corp | System for and method of measuring sheet properties |
| IT992864B (it) * | 1972-08-22 | 1975-09-30 | Maschf Augsburg Nuernberg Ag | Apparato per determinare senza contatto esattamente e continua mente la temperatura di superfici |
| US3757126A (en) * | 1972-08-28 | 1973-09-04 | Bendix Corp | Input stage amplifier gain and balance method of setting moire fringe transducer reading head skew angle and |
| US3793524A (en) * | 1972-09-05 | 1974-02-19 | Measurex Corp | Apparatus for measuring a characteristic of sheet materials |
| JPS4965252A (fi) * | 1972-10-23 | 1974-06-25 | ||
| US3757122A (en) * | 1972-10-30 | 1973-09-04 | D Bossen | Basis weight gauging apparatus system and method |
| DE2306550A1 (de) * | 1973-02-10 | 1974-08-15 | Frieseke & Hoepfner Gmbh | Geraet zum messen des flaechengewichtes von textilbahnen oder aehnlichem bahnfoermigem messgut |
| DE2309278C2 (de) * | 1973-02-24 | 1975-03-13 | Frieseke & Hoepfner Gmbh, 8520 Erlangen | Vorrichtung zur Messung der Konzentration von bestimmten Eigenschaften, zum Beispiel der Feuchtigkeit, bewegter Meßgutbahnen mittels Mikrowellenenergie |
| JPS5342762A (en) * | 1976-09-29 | 1978-04-18 | Seiko Instr & Electronics Ltd | Radiation measuring apparatus |
| JPS5466167A (en) * | 1977-11-04 | 1979-05-28 | Hitachi Ltd | Thickness measuring method of plate object |
| US4276480A (en) * | 1979-09-28 | 1981-06-30 | Accuray Corporation | Sensor position independent material property determination using radiant energy |
-
1983
- 1983-05-16 EP EP83104818A patent/EP0094669B1/en not_active Expired
- 1983-05-16 IE IE1136/83A patent/IE54249B1/en not_active IP Right Cessation
- 1983-05-16 CA CA000428210A patent/CA1205925A/en not_active Expired
- 1983-05-16 DE DE8383104818T patent/DE3370181D1/de not_active Expired
- 1983-05-16 FI FI831714A patent/FI76435C/fi not_active IP Right Cessation
- 1983-05-17 JP JP58086516A patent/JPS5920806A/ja active Pending
-
1985
- 1985-03-14 US US06711880 patent/US4678915B1/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4678915A (en) | 1987-07-07 |
| EP0094669B1 (en) | 1987-03-11 |
| FI831714L (fi) | 1983-11-18 |
| IE54249B1 (en) | 1989-08-02 |
| FI76435B (fi) | 1988-06-30 |
| US4678915B1 (en) | 1996-07-16 |
| EP0094669A1 (en) | 1983-11-23 |
| JPS5920806A (ja) | 1984-02-02 |
| DE3370181D1 (en) | 1987-04-16 |
| IE831136L (en) | 1983-11-17 |
| CA1205925A (en) | 1986-06-10 |
| FI831714A0 (fi) | 1983-05-16 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| FI76435C (fi) | Maetanordning foer maetning av ett arkmaterial. | |
| US4538108A (en) | Testing arrangement for ferromagnetic bodies including magnetic field detectors extending between two pairs of poles of magnetic field generators spaced longitudinally along the body | |
| FI83911C (fi) | Foerfarande och anordning foer maetning av ett hinnartat eller skivlikt bands tjocklek. | |
| JP3953520B2 (ja) | Ｘ―ｙ平面における測定ヘッドの光学的アライメントのための方法および装置 | |
| EP0442693B1 (en) | An electromagnetic conductivity meter and a conductivity measuring method | |
| US5010766A (en) | Error compensation for measuring gauges | |
| EP0347331A3 (en) | Sheet tension sensor | |
| CN108136463A (zh) | 用于在轧制期间热测量金属型材的尺寸的方法 | |
| JPS63288292A (ja) | 回転断続器の位置合わせ装置 | |
| US3619770A (en) | Eddy current test system for indicating the oval shape of a cylindrical workpiece | |
| Dahlquist et al. | Gauge for measuring a sheet of material | |
| JPS56145305A (en) | Detecting device for uneven thickness of covered wire material | |
| US5099125A (en) | Sheet material sensor compensation | |
| US3479511A (en) | Nuclear radiation gauge system | |
| JPS5648501A (en) | Length measuring device | |
| EP0428903B1 (en) | Method and equipment to check and regulate the positioning of metallic backing strands into rubber sheets specifically for the construction of tires | |
| JPH02184706A (ja) | 寸法測定装置 | |
| EP0317879A1 (en) | Device for detecting a magnetic medium | |
| FR2665263B1 (fi) | ||
| JPH07229955A (ja) | 磁性鋼板の増分透磁率計測装置 | |
| JPH11216551A (ja) | 連続鋳造の溶湯レベル測定方法および装置 | |
| JPH0830647B2 (ja) | シート厚みのオンライン計測装置 | |
| RU2025725C1 (ru) | Способ вихретокового контроля линейно протяженных изделий и вихретоковый преобразователь для его осуществления | |
| SU130191A1 (ru) | Электромагнитный прибор дл контрол толщины металлических изделий | |
| JPH09126746A (ja) | 厚さ計 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| MM | Patent lapsed |
Owner name: MEASUREX CORPORATION |