FI72609C - Anordning och foerfarande foer maetning av uppvaermbara vaetskeprov. - Google Patents

Description

1 72609

Laitteisto ja menetelmä lämmitettävien nestenäytteiden ominaisuuksien mittaamiseksi

Keksintö koskee laitteistoa, kuten fotometriä, jolla mitataan kyvetistöön sijoitettujen nestenäytteiden optisia 5 ominaisuuksia ja jossa näytteitä voidaan lämmittää mittauksen aikana.

Kun mitataan nestenäytteitä optisissa analysaattoreissa on usein tarpeellista lämmittää näytteitä ennen mittausta tai mittauksen aikana.

10 Yleensä lämmitys on järjestetty siten, että kyvetistö on upotettu lämmitettävään alumiinikappaleeseen. Tässä järjestelyssä on eräänä haittana se, että näytteistä tiivistyy kosteutta kannellisen kyvetistön kannen alapintaan.

Voidaan myös kierrättää lämmitettyä ilmaa kyvetistön 15 ympäri. Tässä järjestelyssä tarvitaan kuitenkin puhallin tehokkaan toiminnan varmistamiseksi.

On myös tunnettua käyttää järjestelyä, jossa itse kyvetistön seinämiä lämmitetään.

Virtauskyvettejä on tunnettua lämmittää myös sekä ky-20 vetin ylä- että alapuolelle sijoitetulla samanlämpöisellä lämmityslevyllä (DE 3237 406 Ai).

Nyt on keksitty patenttivaatimuksen 1 mukainen laitteisto ja patenttivaatimuksen 4 mukainen menetelmä. Keksinnön mukaisesti kyvetistön lämmitys voidaan järjestää paremmin kun ky-25 vetistön sekä ylä- että alapuolelle sijoitetaan vähintään kyvetistön kokoinen lämmityslevy ja kun levyjen lämpötiloja säädetään siten, että yläpuolisen levyn lämpötila on korkeampi. Lämmityslevyinä voidaan käyttää metallilevyjä tai painokytken-tälevyjä, joiden johdinpalstat toimivat lämmitysvastuksina.

30 Keksinnön mukaisen laitteiston etuja ovat ennen kaik kea lämmityksen tasaisuus ja säädettävyys. Laitteistossa estyy lisäksi kosteuden tiivistyminen kyvetistön kanteen, koska ylemmän lämmityslevyn lämpötila on korkeampi kuin alemman. Painokytkentälevyjä käytettäessä on lämmityksen 35 säätö erityisen yksinkertaista.

Järjestely ei mitenkään haittaa kyvetistön ja lämmi-tyslevyjen liikuttelua toisiinsa nähden, joka voi olla tarpeellista eri näytteiden saattamiseksi mittauksen alaiseksi.

*· - * ·· ·» ·· ·*«« ΛΛ ** · · ..... « » '* * ··*» ···· ·· · , . .! C- 72609

Keksinnön eräitä edullisia novell ij * 1) v -- ^ 'i v ci 1 cii r ΐ;. % n i riV) o r'r1 i n oheisten piirustusten 1 ja 2 avulla. ’

Kuvan 1 mukaisessa laitteessa on kaks:' lämpölevyä 1 ja 5 ja näiden välissä kannellinen pystymittauskyvetistö 2. Alemman 5 lämpölevyn 1 ja kyvetistön pohjan 3 väliin jää ilmatila, jonka korkeus voi olla esim. välillä 0,1 ... 10 mm. Samoin kyvetistön kannen 4 ja ylemmän lämpölevyn 3 väliin jää samaa suuruusluokkaa oleva ilmatila. Kyvetistössä on nestemäinen näyte 6.

Lämpö siirtyy lämpölevyistä kyvetistöön pääasiassa säteile- 10 mällä. Haluttu lämpötila voi olla esim. 37°C. Tässä lämpötilassa lämpösäteilyn maksimi-intensiteetti on n. 10 mm aallonpituudella, jolla kaikki ne muovit, joista kyvetistöjä yleensä valmistetaan, ovat läpinäkymättömiä. Niin ruodoin alemmasta läm-pölevystä säteilevä lämpösäteily absorboituu kyvetistön pöh- Ί c o aan ja ylemmästä lämpölevystä säteilevä kanteen. Käytteeseen lämpö johtuu pääasiassa kyvetistön pohjan läpi, koska terminen kontakti kannen ja kyvetistön välillä on huono.

Kun tasapainotila on saavutettu, vallitsee systeemissä kuvassa 2 kaavamaisesti esitetty lämpötilajakauma. Koska lämpö O rx i.

^ siirtyy näytteeseen pääasiassa altapäin, syntyy kussakin kyvenissä konvektiovirtaus, joka pitää näytteen tasalämpöisenä. Kyvetistön kannen alapinnan lämpötila pysyy aina korkear.oana kuin näytteen yläpinta. Tästä syystä Kosteus- ei tiivisty kannen alapintaan, vaikka sen ja näytteen pinnan välinen iima- pc tila tulisiKin höyryllä kyllästetyksi.

Mittausasema, jossa esim. fotometrinen mittaus suoritetaan pystysuoraan kyvetistön kannen ollessa paikallaan, voi olla sijoitettu lämpölevyjen ulkopuoliseen laitteen osaan tai kiinteästi lämpölevyihin siten, että valon lähetin on sijoitettu 30· 1,1 ' ^ toiseen lämpölevyyn ja ilmaisin toiseen. Myös voidaan kvvetis- tön liikesuuntaa vastaan koht 1 suorasi-i liikkuva m it. terää sijoittaa liikkumaan lämpö!evyihin tehtyinin kyvetistön liikesuuntaa vastaan kohtisuoriin rakoihin.

Keksintö voidaan haluttaessa toteuttaa myös vaakasuoraan 33...

^ mittaavissa laitteissa.

Claims (4)

72609

1. Laitteisto lämmitettävien nestenäytteiden optisten ominaisuuksien mittaamiseksi, johon kuuluu näytekyvetistö (2) ja sen lämmityslaite, tunnettu siitä, että 5 lämmityslaitteena on kyvetistön sekä ylä- että alapuolelle sijoitettu vähintään kyvetistön kokoinen lämmityslevy (1, 5) niin, että yläpuolisen lämmityslevyn (5) lämpötila on korkeampi kuin alapuolisen (1).

2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen laitteisto, t u n -10 n e t t u siitä, että lämmityslevy on lämmitysvastuksilla varustettu yhtenäinen metallilevy.

3. Patenttivaatimuksen 1 mukainen laitteisto, tunnettu siitä, että lämmityslevy on painokytkentälevy, jonka johdinpalstat toimivat lämmitysvastuksina.

4. Menetelmä nestenäytteiden optisten ominaisuuksien mittaamiseksi, jossa kyvetistössä (2) olevia näytteitä lämmitetään ennen mittausta tai sen aikana, tunnettu siitä, että kyvetistöä lämmitetään sekä kyvetistön ylä-että alapuolelta vähintään kyvetistön kokoisella lämmitys-20 levyllä (1, 5) ja että yläpuolelta lämmitetään levyllä, jonka lämpötila on korkeampi kuin alapuolen lämmityslevyn.