FI70484B - ANORDINATION FOR THE CONSTRUCTION OF HJULVARVTALSGIVARE - Google Patents
ANORDINATION FOR THE CONSTRUCTION OF HJULVARVTALSGIVARE Download PDFInfo
- Publication number
- FI70484B FI70484B FI810261A FI810261A FI70484B FI 70484 B FI70484 B FI 70484B FI 810261 A FI810261 A FI 810261A FI 810261 A FI810261 A FI 810261A FI 70484 B FI70484 B FI 70484B
- Authority
- FI
- Finland
- Prior art keywords
- probe
- toisen
- logic
- pulse
- inputs
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01P—MEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
- G01P3/00—Measuring linear or angular speed; Measuring differences of linear or angular speeds
- G01P3/42—Devices characterised by the use of electric or magnetic means
- G01P3/44—Devices characterised by the use of electric or magnetic means for measuring angular speed
- G01P3/48—Devices characterised by the use of electric or magnetic means for measuring angular speed by measuring frequency of generated current or voltage
- G01P3/481—Devices characterised by the use of electric or magnetic means for measuring angular speed by measuring frequency of generated current or voltage of pulse signals
- G01P3/486—Devices characterised by the use of electric or magnetic means for measuring angular speed by measuring frequency of generated current or voltage of pulse signals delivered by photo-electric detectors
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B60—VEHICLES IN GENERAL
- B60T—VEHICLE BRAKE CONTROL SYSTEMS OR PARTS THEREOF; BRAKE CONTROL SYSTEMS OR PARTS THEREOF, IN GENERAL; ARRANGEMENT OF BRAKING ELEMENTS ON VEHICLES IN GENERAL; PORTABLE DEVICES FOR PREVENTING UNWANTED MOVEMENT OF VEHICLES; VEHICLE MODIFICATIONS TO FACILITATE COOLING OF BRAKES
- B60T8/00—Arrangements for adjusting wheel-braking force to meet varying vehicular or ground-surface conditions, e.g. limiting or varying distribution of braking force
- B60T8/32—Arrangements for adjusting wheel-braking force to meet varying vehicular or ground-surface conditions, e.g. limiting or varying distribution of braking force responsive to a speed condition, e.g. acceleration or deceleration
- B60T8/88—Arrangements for adjusting wheel-braking force to meet varying vehicular or ground-surface conditions, e.g. limiting or varying distribution of braking force responsive to a speed condition, e.g. acceleration or deceleration with failure responsive means, i.e. means for detecting and indicating faulty operation of the speed responsive control means
- B60T8/885—Arrangements for adjusting wheel-braking force to meet varying vehicular or ground-surface conditions, e.g. limiting or varying distribution of braking force responsive to a speed condition, e.g. acceleration or deceleration with failure responsive means, i.e. means for detecting and indicating faulty operation of the speed responsive control means using electrical circuitry
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01P—MEASURING LINEAR OR ANGULAR SPEED, ACCELERATION, DECELERATION, OR SHOCK; INDICATING PRESENCE, ABSENCE, OR DIRECTION, OF MOVEMENT
- G01P21/00—Testing or calibrating of apparatus or devices covered by the preceding groups
- G01P21/02—Testing or calibrating of apparatus or devices covered by the preceding groups of speedometers
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B9/00—Safety arrangements
- G05B9/02—Safety arrangements electric
- G05B9/03—Safety arrangements electric with multiple-channel loop, i.e. redundant control systems
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B60—VEHICLES IN GENERAL
- B60T—VEHICLE BRAKE CONTROL SYSTEMS OR PARTS THEREOF; BRAKE CONTROL SYSTEMS OR PARTS THEREOF, IN GENERAL; ARRANGEMENT OF BRAKING ELEMENTS ON VEHICLES IN GENERAL; PORTABLE DEVICES FOR PREVENTING UNWANTED MOVEMENT OF VEHICLES; VEHICLE MODIFICATIONS TO FACILITATE COOLING OF BRAKES
- B60T2270/00—Further aspects of brake control systems not otherwise provided for
- B60T2270/40—Failsafe aspects of brake control systems
- B60T2270/416—Wheel speed sensor failure
Landscapes
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Transportation (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
- Lubricants (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
- Testing Of Balance (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Spinning Or Twisting Of Yarns (AREA)
- Fats And Perfumes (AREA)
Abstract
Description
7048470484
Laite pyörän kierroslukuanturin valvomiseksiDevice for monitoring the wheel speed sensor
Keksinnön kohteena on laite pyörän kierroslukuanturin valvomiseksi ajoneuvossa, etenkin kiskoajoneuvossa, joka laite käsittää ensimmäisen pulssianturin ensimmäisen, pyörän kierroslukuun verrannollisen pulssijonon synnyttämiseksi, sekä toisen pulssianturin toisen, pyörän kierroslukuun verrannollinen pulssijonon synnyttämiseksi, joka on vaihesiir-retty ensimmäiseen pulssijonoon nähden.The invention relates to a device for monitoring a wheel speed sensor in a vehicle, in particular a rail vehicle, which device comprises a first pulse sensor for generating a first pulse train proportional to the wheel speed and a second pulse sensor for generating a second pulse train proportional to the first pulse.
Eräässä tunnetussa tämäntyyppisessä valvontalaitteessa (ks.In a known monitoring device of this type (see
IBM Technical Disclosure Bulletin Voi. 18, n:o 9, helmikuu 1976) on kaksivaihetakometri. Tässä tunnetussa laitteessa on ensinnäkin se haitta, että siinä ei tapahdu mitään jatkuvaa automaattista takometrin valvontaa ja että vain toista faaseista valvotaan valinnaisesti.IBM Technical Disclosure Bulletin Vol. 18, No. 9, February 1976) is a two-phase tachometer. Firstly, this known device has the disadvantage that no continuous automatic tachometer monitoring takes place and that only one of the phases is optionally monitored.
Eräässä toisessa tämäntyyppisessä valvontakytkennässä (ks. DE-hakemusjulkaisu n:o 25 46 481) on vähintään kaksi erilaista ajoneuvon pyörille järjestettyä, kiertonopeuden selvittävää ja vastaavan sähkösignaalin tuottavaa mittausarvon anturia sekä vähintään yksi vertailukytkentä, joka vertaa molempien mittausarvon antureiden signaaleja keskenään.Another monitoring circuit of this type (see DE application publication No. 25 46 481) has at least two different measured value sensors arranged on the wheels of the vehicle, which determine the rotational speed and produce a corresponding electrical signal, and at least one reference circuit comparing the signals of the two measured value sensors.
Tässä tunnetussa valvontakytkennässä on se haitta, että ei voida tarkistaa yhtäkään pyörän kierroslukumittaria sen toimintakyvyn suhteen, vaan että toimintakyky tarkistetaan vain verrattuna toiseen pyörän kierroslukumittariin, jolloin molemmat pyörän kierroslukumittarit on järjestetty ajoneuvon eri pyöränakseleille.This known control circuit has the disadvantage that no wheel tachometer can be checked for its performance, but that the performance is only checked in comparison with another wheel tachometer, in which case both wheel tachometers are arranged on different wheel axles of the vehicle.
Mainituissa tunnetuissa valvontalaitteissa on lisäksi se haitta, että havaittaessa virhe ei voida välttää käytön keskeytystä.In addition, said known monitoring devices have the disadvantage that an interruption of operation cannot be avoided when an error is detected.
Keksinnön tehtävänä on saada aikaan laite, jonka avulla vältetään käytön keskeytys osan laitteesta lakatessa toimimasta.The object of the invention is to provide a device by means of which interruption of use is avoided when a part of the device stops working.
7048470484
Keksinnön mukainen laite on tunnettu siitä, että on järjestetty kaksi ensimmäistä ja kaksi toista tahdistettua kiikkumuistia, että ensimmäinen pulssianturi on yhdistetty kahden ensimmäisen tahdistetun kiikkumuistin tahdistussisäänmenoihin ja kahden toisen tahdistetun kiikkumuistin tietosisäänmenoihin, että toinen pulssianturi on yhdistetty kahden toisen tahdistetun kiikkumuistin tahdistussisäänmenoihin ja kahden ensimmäisen tahdistetun kiikkumuistin tietosisäänmenoihin, jolloin ensimmäisten ja toisten tahdistettujen kiikkumuistien molemmista tahdis-tussisäänmenoista kulloinkin toisen eteen on järjestetty in-vertteri, ja että molemmista ensimmäisistä ja molemmista toisista tahdistetuista kiikkumuisteista toisen muistin yksi ulostulo sekä molemmista ensimmäisistä ja toisista kiikkumuisteista kulloinkin toisen muistin negatiivinen ulostulo ovat liitetyt komparaattoriin. Tässä laitteessa on se etu, että yhden sondin lakatessa toimimasta voidaan pyörän kierrosluku mitata vielä toisella sondilla, ja molemmat sondit voivat valvoa toisiaan.The device according to the invention is characterized in that two first and two second synchronized flip-flops are provided, that the first pulse sensor is connected to the synchronization inputs of the first two synchronized flip-flops and the data inputs of the two second synchronized flip-flops are connected to the first two synchronized flicker data inputs, wherein an inverter is provided in front of each of the two synchronization inputs of the first and second synchronized flip-flop memories, and that one output of the second memory of the two first and two second synchronized flip-flop memories and the negativity of the second and second flip-flops are each This device has the advantage that when one probe stops working, the wheel speed can be measured with another probe, and both probes can monitor each other.
Keksinnön mukaisen valvontalaitteen erästä toteutusta selitetään seuraavassa lähemmin oheisen piirustuksen avulla, jossa kuvio 1 esittää koko laitteen kytkentäkaaviota, kuvio 2 esittää kuvion 1 erään osan kytkentäkaaviota.An embodiment of the monitoring device according to the invention will now be described in more detail with the aid of the accompanying drawing, in which Figure 1 shows a circuit diagram of the whole device, Figure 2 shows a circuit diagram of a part of Figure 1.
Kuvion 1 mukaisesti keksinnön mukaisessa laitteessa on hampailla varustettu pulssigeneraattori Z, jota käytetään ei-esitetyllä tavalla ajoneuvon pyörällä tai joka on kiinnitetty jäykästi siihen kiinni ja jonka kierrosluku on siten verrannollinen ajoneuvon pyörän kierroslukuun tai vast, yhtä suuri kuin tämä. Puls-sigeneraattorin Z hampaiden alueella on kaksi sondia S1 ja S2, jotka yhdessä muodostavat pulssianturin I. Scndit S1, S2 voivat induktiivisesti tai kapasi- 3 70484 tiivisesti tai valosähköisesti yhdessä valonsäteen kanssa selata pulssianturin Z yksittäiset hampaat.According to Figure 1, the device according to the invention has a toothed pulse generator Z, which is operated in a manner not shown on the vehicle wheel or which is rigidly attached thereto and whose speed is thus proportional to or equal to the speed of the vehicle wheel. In the region of the teeth of the pulse generator Z there are two probes S1 and S2, which together form the pulse sensor I. The scnds S1, S2 can inductively or capacitively or photoelectrically together with the light beam scan the individual teeth of the pulse sensor Z.
Esillä olevassa suoritusesimerkissä sondit SI, S2 on varustettu valokennoilla, joihin osuu valonsäde, kun pulssigenrraattorin Z kahden hampaan välinen aukko tulee sondien SI, S2 alueelle. Heti kun pulssigeneraat-torin Z hammas saapuu sondien SI, S2 alueelle, peittyy valonsäde ja sondit ovat pimeässä. Esitetyssä asennossa sondi SI on pimeässä ja sondi S2 on hammasreunan alueella, so. tapahtuu kytkentä, jolloin pulssigene-raattorin Z kiertosuunnasta riippuen sondi S2 saapuu pimeään tai siihen osuu valonsäde. Kahden vierekkäisen hampaan kahden vastaavan hammasreunan välinen etäisyys on merkitty merkillä "t". Tämä etäisyys t vastaa 360°:n vaihetta ja molempien sondien SI ja S2 välinen etäisyys vastaa vaihe-eroa, joka on 270° tai yleisesti 90° + n · 180°.In the present embodiment, the probes S1, S2 are provided with photocells which are struck by a light beam when the opening between the two teeth of the pulse generator Z enters the region of the probes S1, S2. As soon as the tooth of the pulse generator Z enters the region of the probes S1, S2, the light beam is covered and the probes are in the dark. In the position shown, the probe S1 is in the dark and the probe S2 is in the region of the tooth edge, i.e. switching takes place, whereby, depending on the direction of rotation of the pulse generator Z, the probe S2 enters the dark or is hit by a light beam. The distance between two corresponding tooth edges of two adjacent teeth is marked with a "t". This distance t corresponds to a phase of 360 ° and the distance between the two probes S1 and S2 corresponds to a phase difference of 270 ° or generally 90 ° + n · 180 °.
Sondi SI on liitetty seuraaviin osiin: a) vahvistimen VI ja haaroituspisteen A kautta ensimmäisen muistin Spl tahtisisäänmenoon 2, b) vahvistimen VI, haaroituspisteen A kautta ja invert-terin II kautta toisen muistin Sp2 tahtisisäänmenoon, c) vahvistimen VI, molempien haaroituspisteiden A ja A' kautta kolmannen muistin Sp3 tietosisäänmenoon 1 ja neljännen muistin Sp4 tietosisäänmenoon 1, ja d) vahvistimen VI, molempien haaroituspisteiden A ja A ' kautta vaihtologiikkaan UL.The probe S1 is connected to the following parts: a) via amplifier VI and branch point A to the synchronous input 2 of the first memory Spl, b) via amplifier VI, branch point A and via inverter II to the synchronous input of the second memory Sp2, c) amplifier VI, both branch points A and A 'through the third memory Sp3 to the data input 1 and the fourth memory Sp4 to the data input 1, and d) via the amplifier VI, both branch points A and A' to the switching logic UL.
Sondi S2 on liitetty seuraaviin osiin: a) vahvistimen V2 ja kahden haaroituspisteen B ja B' kautta kolmannen muistin Sp3 tahtisisäänmenoon 2, b) vahvistimen V2, molempien haaroituspisteiden B ja B' kautta ja invertterin 12 kautta neljännen muistin Sp4 tahtisisäänmenoon 2, c) vahvistimen V2, haaroituspisteen B kautta ensim- 4 70484 mäisen muistin Spl tietosisäänmenoon 1 ja toisen muistin Sp2 tietosisäänmenoon 1, ja d) vahvistimen V2, molempien haaroituspisteiden B ja B' kautta vaihtologiikkaan UL.Probe S2 is connected to the following parts: a) via amplifier V2 and two branch points B and B 'to the synchronous input 2 of the third memory Sp3, b) via amplifier V2, through both branch points B and B' and inverter 12 to the synchronous input 2 of the fourth memory Sp4, c) V2, via the branch point B to the data input 1 of the first memory Spl 70 and to the data input 1 of the second memory Sp2, and d) via the amplifier V2, both the branch points B and B 'to the switching logic UL.
Näitä sondien SI ja S2 liitäntöjä mainittuihin osiin pidetään keksinnölle olennaisena.These connections of the probes S1 and S2 to said parts are considered essential to the invention.
Ensimmäinen muisti Spl on liitetty käänteisestä ulostulostaan 4 ja toinen muisti Sp2 on liitetty ulostulostaan 3 ensimmäiseen EHDOTON-TAI-portiksi muodostettuun vertailulaitteeseen Gl.Samoin on kolmas muisti Sp3 liitetty käänteisestä ulostulostaan 4 ja neljäs muisti ulostulostaan 3 toiseen EHDOTON-TAI-portiksi muodostettuun vertailulaitteeseen G2.The first memory S11 is connected from its inverse output 4 and the second memory Sp2 is connected from its output 3 to a first comparator G1 formed as an ABSOLUTE-OR gate.
Molemmat vertailulaitteet Gl ja G2 on liitetty vaihto-logiikkaan UL.Both reference devices G1 and G2 are connected to the switching logic UL.
Molempien vertailulaitteiden Gl ja G2 ulostulossa olevat signaalit antavat informaatioita sondien SI ja S2 oikeasta toiminnasta.The signals at the outputs of both comparators G1 and G2 provide information on the correct operation of probes S1 and S2.
Vaihtologiikkaan on toisaalta liitetty ohjauskytkentä St, esim. liukumisenestolaite, ja toisaalta vilailmai-sin FM, joka osoittaa ajoneuvon kuljettajalle esim. optisesti tai akustisesti, että toinen sondeista SI tai S2 on lakannut toimimasta.A control circuit St, e.g. an anti-slip device, is connected to the switching logic on the one hand, and an FM indicator on the other hand, which indicates to the driver of the vehicle, e.g. optically or acoustically, that one of the probes S1 or S2 has stopped working.
Esitetyn laitteen toimintatapa on seuraava.The operation of the device shown is as follows.
A. Kun ajoneuvo ajaa eteenpäin, kiertää pulssigene-rc.attori siten, että pulssigeneraattorin Z hampaat liikkuvat nuolen D suunnassa alaspäin.A. When the vehicle is running forward, to rotate pulssigene-rc.attori so that the pulse generator Z teeth move in the direction of arrow D down to the feet.
1) Sondi S2 saapuu pimeästä valonsäteen alueelle, sondin S2 tuottama signaali hyppää tällöin arvosta "looginen 0" arvoon "looginen 1".1) Probe S2 arrives in the dark light beam area, the signal produced by probe S2 then jumps from "logic 0" to "logic 1".
la) Sondi SI on hampaan alueella, so. pimeässä, ja sondin SI tuottama signaali pysyy arvossa "looginen 0".la) The probe SI is in the tooth area, i.e. in the dark, and the signal produced by the probe SI remains at "logic 0".
2) Sondi S2 saapuu valonsäteen alueelta pimeään, sondin S2 tuottama signaali hyppää tällöin arvosta "loo- 5 70484 ginen 1" arvoon "looginen 0".2) The probe S2 arrives from the area of the light beam in the dark, the signal produced by the probe S2 then jumps from the value "logic 1" to the value "logic 0".
2a) Sondi SI on hammasaukon alueella, so. valonsäteessä ja sondin SI tuottama signaali pysyy arvossa "looginen 1".2a) The probe SI is in the region of the tooth opening, i.e. in the light beam and the signal produced by the probe SI remains at "logic 1".
3. Sondi SI saapuu pimeästä valonsäteen alueelle, sondin SI tuottama signaali hyppää tällöin arvosta "looginen 0" arvoon "looginen 1".3. The probe SI enters the area of the light beam from the dark, the signal produced by the probe SI then jumps from the value "logic 0" to the value "logic 1".
3a. Sondi S2 on hammasaukon alueella, so. valonsäteessä ja sondin S2 tuottama signaali pysyy arvossa "looginen 1".3a. Probe S2 is in the region of the tooth opening, i.e. in the light beam and the signal produced by the probe S2 remains at "logic 1".
4. Sondi SI saapuu valonsäteen alueelta pimeään, sondin SI tuottama signaali hyppää tällöin arvosta "looginen 1" arvoon "looginen 0".4. The probe SI arrives from the light beam area in the dark, the signal produced by the probe SI then jumps from "logic 1" to "logic 0".
4a. Sondi S2 on hampaan alueella, so. pimeässä ja sondin S2 tuottama signaali pysyy arvossa "looginen 0".4a. Probe S2 is in the tooth area, i.e. in the dark and the signal produced by probe S2 remains at "logic 0".
B. Kun ajoneuvo ajaa taaksepäin, kiertää hammaspyörä siten, että pulssigeneraattorin Z hampaat liikkuvat vastakkaisesti nuolen D suuntaan nähden.B. When the vehicle is running in reverse, rotates the gear wheel so that the pulse generator Z teeth move opposite to the direction of arrow D.
1. Sondi S2 saapuu valonsäteen alueelta pimeään, sondin S2 tuottama signaali hyppää tällöin arvosta "looginen 1" arvoon "looginen 0".1. Probe S2 arrives from the light beam area in the dark, the signal produced by probe S2 then jumps from "logic 1" to "logic 0".
la. Sondi SI on hampaan alueella, so. pimeässä ja sondin SI tuottama signaali pysyy arvossa "looginen 0".la. The probe SI is in the tooth area, i.e. in the dark and the signal produced by the probe SI remains at "logic 0".
2. Sondi S2 saapuu pimeästä valonsäteen alueelle, sondin S2 tuottama signaali hyppää tällöin arvosta "looginen 0" arvoon "looginen 1".2. Probe S2 arrives from the dark in the region of the light beam, the signal produced by probe S2 then jumps from "logic 0" to "logic 1".
2a. Sondi SI on hammasaukon alueella, so. valonsäteessä, ja sondin SI tuottama signaali pysyy arvossa "looginen 1".2a. The probe SI is in the region of the tooth opening, i.e. in the light beam, and the signal produced by the probe SI remains at "logic 1".
3. Sondi SI saapuu valonsäteen alueelta pimäeään, sondin SI tuottama signaali hyppää tällöin arvosta "looginen 1" arvoon "looginen 0".3. The probe SI arrives from the area of the light beam in its dark, the signal produced by the probe SI then jumps from the value "logic 1" to the value "logic 0".
3a. Sondi S2 on hammasaukon alueella, so. valonsäteessä ja sondin S2 tuottama signaali pysyy arvossa "looginen 1".3a. Probe S2 is in the region of the tooth opening, i.e. in the light beam and the signal produced by the probe S2 remains at "logic 1".
, 70484 b 4. Sondi SI saapuu pimeästä valonsäteen alueelle, sondin SI tuottama signaali hyppää tällöin arvosta "looginen 0" arvoon "looginen 1"., 70484 b 4. The probe SI arrives from the dark in the region of the light beam, the signal produced by the probe SI then jumps from the value "logic 0" to the value "logic 1".
4a. Sondi S2 on hampaan alueella, so. pimeässä ja sondin S2 tuottama signaali pysyy arvossa "looginen 0".4a. Probe S2 is in the tooth area, i.e. in the dark and the signal produced by probe S2 remains at "logic 0".
Yllä esitetyt tapahtumat on esitetty seuraavasti taulukossa: ! Ajosuunta A eteenpäin B taaksepäin "hyppää" "pysyy" "hyppää" "pysyy" 1. "0-1" la. "0" 1. "1-0" la. "0" S2 S1 S2 S1 2. "1-0" 2a. "1" 2. "0-1" 2a. "1" 3. "0-1" 3a. "1" 3. "1-0" 3a. "1" S1 S 2 sx S2 4. "1-0" 4a. "0" 4. "0-1" 4a. "0" Nämä signaalit johdetaan nyt sondeilta SI ja S2 muisteihin Spl, Sp2, Sp3 ja Sp4 seuraavasti: A. Ajettaessa eteenpäin kiertää pulssigeneraattori Z nuolen D suuntaan ja sondia S2 valvotaan seuraavasti: 1. Sondi SI johtaa haaroituspisteen A kautta signaali-hypyn arvosta "looginen 0" arvoon "looginen 1" ensimmäisen muistin Spl tahtisisäänmenoon 2 ja invertterin Il kautta signaalihypyn arvosta "looginen l" arvoon "looginen 0" toisen.muistin Sp2 tahtisisäänmenoon 2.The above events are shown in the table below:! Travel direction A forward B backward "jumps" "stays" "jumps" "stays" 1. "0-1" Sat. "0" 1. "1-0" la. "0" S2 S1 S2 S1 2. "1-0" 2a. "1" 2. "0-1" 2a. "1" 3. "0-1" 3a. "1" 3. "1-0" 3a. "1" S1 S 2 sx S2 4. "1-0" 4a. "0" 4. "0-1" 4a. "0" These signals are now passed sondeilta SI and S2 memories Spl, SP2, SP3 and SP4 as follows: A. When driving side to rotate the pulse generator Z direction of arrow D, and the probe S2 is controlled as follows: 1. The probe SI lead to junction point A, the signal-to-hop value of " logic 0 "to" logic 1 "to synchronous input 2 of the first memory Spl and via inverter II from" logic 1 "to" logic 0 "to synchronous input 2 of the second memory Sp2.
70484 7 2. Samanaikaisesti johtaa sondi S2 haaroituspisteen B kautta signaalin "looginen 1" ensimmäisen muistin Spl tietosisäänmenoon 1 ja toisen muistin Sp2 tietosi-säänmenoon 1.70484 7 2. Simultaneously, the probe S2 leads the signal "logic 1" to the data input 1 of the first memory Spl and to the data weather input 1 of the second memory Sp2 via the branch point B.
3. Siten muistin Spl käänteisessä ulostulossa 4 esiintyy signaali "looginen 0" ja muistin Sp2 ulostulossa 3 pysyy signaali "looginen 0".3. Thus, the signal "logical 0" appears in the inverse output 4 of the memory Spl and the signal "logic 0" remains in the output 3 of the memory Sp2.
4. Sondi SI johtaa haaroituspisteen A kautta signaali-hypyn arvosta "looginen 1" arvoon "looginen 0" ensimmäisen muistin Spl tahtisisäänmenoon 2 ja invertterin Il kautta signaalihypyn arvosta "looginen 0" arvoon "looginen 1" toisen muistin Sp2 tahtisisäänmenoon 2.4. The probe S1 leads the signal hop from the value "logic 1" to the value "logic 0" to the synchronous input 2 of the first memory Spl and through the inverter II from the value "logical 0" to the value "logic 1" to the synchronous input 2 of the second memory Sp2.
5. Samanaikaisesti johtaa sondi S2 haaroituspisteen B kautta signaali "looginen 0" ensimmäisen muistin Spl tietosisäänmenoon 1 ja toisen muistin Sp2 tietosisäänmenoon 1.5. Simultaneously, the signal "logic 0" leads to the data input 1 of the first memory Spl and to the data input 1 of the second memory Sp2 via the branch point B of the probe S2.
6. Siten pysyy muistin Spl käänteisessä ulostulossa 4 edelleen signaali "looginen 0" ja muistin Sp2 ulostulossa 3 esiintyy puolestaan signaali "looginen 0".6. Thus, the inverse output 4 of the memory Spl still retains the signal "logic 0" and the output "logic 0" appears in the output 3 of the memory Sp2.
Näitä molempia signaaleja verrataan keskenään vertailu-laitteessa G1 ja koska molemmat signaalit ovat samanlaisia ja siten valvottava sondi S2 toimii oikein, saapuu signaali "looginen 0" vaihtologiikkaan UL.Both of these signals are compared with each other in the comparator G1, and since both signals are similar and thus the probe S2 to be monitored is working properly, the signal "logic 0" arrives at the switching logic UL.
Edelleen valvotaan eteenpäinajossa sondia SI seuraavasti: 1. Sondi S2 johtaa haaroituspisteiden B ja B' kautta signaalihypyn arvosta "looginen 1" arvoon "looginen 0" kolmannen muistin Sp3 tahtisisäänmenoon 2 ja invertterin 12 kautta signaalihypyn arvosta "looginen 0" ar- „ 70484Further, the probe S1 is further monitored as follows: 1. The probe S2 conducts a signal jump from "logic 1" to "logic 0" to the synchronous input 2 of the third memory Sp3 via branch points B and B 'and from the "logic 0" signal jump via inverter 12 to "70484
OO
voon "looginen 1" neljännen muistin Sp4 tahtisisäänme-noon 2.flow "logic 1" to the synchronous input 2 of the fourth memory Sp4.
2. Samanaikaisesti johtaa sondi SI haaroituspisteiden A ja A' kautta signaalin "looginen 1" kolmannen muistin Sp3 tietosisäänmenoon 1 ja neljännen muistin Sp4 tietosisäänmenoon 1.2. Simultaneously, the probe S1 leads via the branch points A and A 'to the data input 1 of the third memory Sp3 and to the data input 1 of the fourth memory Sp4 via the signal "logic 1".
3. Siten pysyy kolmannen muistin Sp3 käänteisessä ulostulossa 4 signaali "looginen 1" ja neljännen muistin Sp4 ulostulossa 3 esiintyy signaali "looginen 1".3. Thus, the signal "logic 1" remains in the inverse output 4 of the third memory Sp3 and the signal "logic 1" appears in the output 3 of the fourth memory Sp4.
4. Sondi S2 johtaa haaroituspisteiden B ja B1 kautta signaalihypyn arvosta "looginen 0" arvoon "looginen 1" kolmannen muistin Sp3 tahtisisäänmenoon 2 ja invertte-rin 12 kautta signaalihypyn arvosta "looginen 1" arvoon "looginen 0" neljännen muistin Sp4 tahtisisäänmenoon 2.4. Probe S2 leads the signal hop from "logic 0" to "logic 1" to the synchronous input 2 of the third memory Sp3 via branch points B and B1 and through the inverter 12 from the "logic 1" to the "logic 0" to the synchronous input 2 of the fourth memory Sp4.
5. Samanaikaisesti johtaa sondi SI haaroituspisteiden A ja A' kautta signaalin "looginen 0" kolmannen muistin Sp3 tietosisäänmenoon 1 ja neljännen muistin Sp4 tietosisäänmenoon 1.5. Simultaneously, the probe S1 leads via the branch points A and A 'to the data input 1 of the third memory Sp3 and to the data input 1 of the fourth memory Sp4 via the signal "logic 0".
6. Siten esiintyy kolmannen muistin Sp3 käänteisessä ulostulossa 4 puolestaan signaali "looginen 1" ja neljännen muistin Sp4 ulostulossa 3 pysyy signaali "looginen 1" .6. Thus, in the inverse output 4 of the third memory Sp3, in turn, the signal "logical 1" appears and in the output 3 of the fourth memory Sp4, the signal "logical 1" remains.
Näitä molempia signaaleja verrataan keskenään vertailu-laitteessa G2 ja koska molemmat signaalit ovat samanlaisia ja siten valvottava sondi S2 toimii oikein, saapuu signaali "looginen 0" vaihtologiikkaan UL.These two signals are compared with each other in the comparison device G2, and since both signals are similar and thus the probe S2 to be monitored is working properly, the signal "logic 0" arrives at the switching logic UL.
B. Taaksepäin ajossa tapahtuvat edellä esitetyt tapahtumat päinvastaisessa järjestyksessä. Tästä syystä ei ole tarpeen esittää näitä tapahtumia uudestaan.B. In reverse, the above events occur in reverse order. It is therefore not necessary to re-present these events.
9 704849 70484
Yllä esitetyistä tapahtumista nähdään, että molemmat muistit Spl ja Sp2 toimivat sondin S2 tarkastusta varten, koska sondin SI määräämänä ajankohtana valvotaan sondin S2 tuottamaa signaalia, ja että molemmat muistit Sp3 ja Sp4 toimivat sondin SI tarkastusta varten, koska sondin S2 määräämänä ajankohtana valvotaan sondin S2 tuottamaa signaalia.It can be seen from the above that both memories Spl1 and Sp2 operate for checking the probe S2 because the signal produced by the probe S2 is monitored at a time determined by the probe S2, and that both memories Sp3 and Sp4 operate for checking the probe S2 because the time produced by the probe S2 is monitored. signal.
Jos toinen sondeista SI ja S2 lakkaa toimimasta, niin vaihtologiikka UL pystyy edelleen luovuttamaan signaalin ohjauskytkennälle St.If one of the probes S1 and S2 stops working, then the switching logic UL is still able to pass the signal to the control circuit St.
Vaihtologiikan UL rakenne on kuvion 2 mukaisesti seu-raava: 1. Sondi SI on liitetty toisaalta JA-portin G3 ja TAI-portin G6 kautta ja toisaalta EHDOTON-TAI-portin G7, JA-portin G4 ja TAI-portin G6 kautta ohjauskyt-kentään St.The structure of the switching logic UL is as follows according to Fig. 2: 1. The probe S1 is connected to the control circuit via the AND gate G3 and the OR gate G6 on the one hand and the ABSOLUTE OR gate G7, the AND gate G4 and the OR gate G6 on the other hand St.
2. Sondi S2 on yksinomaan EHDOTON-TAI-portin G7, JA-portin G4 ja TAI-portin G6 kautta liitetty ohjauskyt-kentään St.2. Probe S2 is connected exclusively to the control switch field via the ABSOLUTE OR gate G7, the AND gate G4 and the OR gate G6.
3. Vertailulaite G2 on liitetty toisaalta suoraan JA-porttiin G4 ja invertterin G5 kautta JA-porttiin G3, toisaalta vertailulaite G2 on liitetty TAI-portin G8 kautta vikailmaisimeen FM.3. The comparator G2 is connected on the one hand directly to the AND gate G4 and via the inverter G5 to the AND gate G3, on the other hand the comparator G2 is connected via the OR gate G8 to the fault detector FM.
4. Vertailulaite G1 on liitetty yksinomaan TAI-portin G8 kautta vikailmaisimeen FM.4. The reference device G1 is connected exclusively to the fault indicator FM via the OR port G8.
Tämän vaihtologiikan toimintatapa on seuraava:The operation of this exchange logic is as follows:
Oletetaan kolme tapausta: 1. tapaus: Sondi SI ja S2 toimivat.Assume three cases: Case 1: Probe S1 and S2 work.
10 70484 2. tapaus: vain sondi S2 on viallinen.10 70484 Case 2: Only probe S2 is defective.
3. tapaus: vain sondi SI on viallinen.Case 3: only the probe SI is defective.
1. tapaus: Sondilta SI saapuvat säännöllisesti, vuorotellen signaali "0" ja "1" JA-porteille G3 ja G4. Sondilta S2 saapuvat säännöllisesti vuorotellen signaalit "0" ja "1" JA-portille G4. Koska mitään vikaa ei ilmoiteta, saapuu vertailulaitteelta G2 signaali "0" JA-portille G4 ja invertterin G5 kautta signaali "1" JA-portille G3. Siten saapuvat signaalit "0" ja ”1" yksinomaan JA-portilta G3 TAI-portin G6 kautta oh-jauskytkentään St.Case 1: From the probe SI arrive regularly, alternately the signal "0" and "1" to the AND gates G3 and G4. Signals "0" and "1" regularly arrive alternately from probe S2 to AND gate G4. Since no fault is reported, a signal "0" arrives from the comparator G2 to the AND gate G4 and a signal "1" to the AND gate G3 via the inverter G5. Thus, the signals "0" and "1" arrive exclusively from the AND gate G3 OR via the gate G6 to the control circuit St.
2. tapaus: Sondilta S2 saapuu vain signaali "0" JA- portille G4. Sondilta SI saapuvat säännöllisesti vuorotellen signaalit "0" ja "1" JA-portille G3. Koska sondi SI ei ilmaise vikaa, saapuu vertailulaitteelta G2 signaalit "0" JA-portille G4 ja invertterin G5 kautta signaali "1" JA-portille G3. Siten saapuvat signaalit "0" ja "1" yksinomaan JA-portilta G3 TAI-portin G6 kautta ohjauslaitteeseen St.Case 2: Only signal "0" arrives at probe S2 AND gate G4. Signals "0" and "1" regularly arrive alternately from probe SI to AND gate G3. Since the probe S1 does not detect a fault, signals "0" arrive from the comparator G2 to the AND gate G4 and a signal "1" to the AND gate G3 via the inverter G5. Thus, the signals "0" and "1" arrive exclusively from the AND gate G3 OR via the gate G6 to the control device St.
Tämän lisäksi saapuu signaali "1" vertailulaitteelta G1 TAI-portin G8 kautta vikailmaisimeen FM ja ilmoittaa, että sondi S2 on viallinen.In addition, a signal "1" arrives from the reference device G1 OR via the gate G8 to the fault detector FM and indicates that the probe S2 is defective.
3. tapaus: Sondilta SI saapuu vain signaali "0" JA- portille G3. Sondilta S2 saapuvat säännöllisesti vuorotellen signaalit "0" ja "1" JA-portille G4. Koska sondi SI ei ilmoita vikaa, saapuu vertailulaitteelta G2 signaali "1" JA-portille G4 ja invertterin G5 kautta signaali "0" JA-portille G3.Case 3: Only the signal "0" arrives at the Gate G3 from the probe SI. Signals "0" and "1" regularly arrive alternately from probe S2 to AND gate G4. Since the probe S1 does not indicate a fault, a signal "1" arrives from the reference device G2 to the AND gate G4 and a signal "0" to the AND gate G3 via the inverter G5.
Siten saapuvat signaalit "0" ja "1" yksinomaan JA-portilta G4 TAI-portin G6 kautta ohjauslaitteeseen St.Thus, the signals "0" and "1" arrive exclusively from the AND gate G4 OR via the gate G6 to the control device St.
Tämän lisäksi saapuu signaali "1" vertailulaitteelta Gl TAI-portin G8 kautta vikailmaisimeen FM ja ilmoittaa, että sondi SI on viallinen.In addition, a signal "1" arrives from the reference device G1 via OR gate G8 to the fault detector FM and indicates that the probe S1 is defective.
Claims (2)
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CH116580 | 1980-02-13 | ||
CH116580 | 1980-02-13 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
FI810261L FI810261L (en) | 1981-08-14 |
FI70484B true FI70484B (en) | 1986-03-27 |
FI70484C FI70484C (en) | 1986-09-19 |
Family
ID=4203991
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
FI810261A FI70484C (en) | 1980-02-13 | 1981-01-29 | ANORDINATION FOR THE CONSTRUCTION OF HJULVARVTALSGIVARE |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
EP (1) | EP0034839B1 (en) |
AT (1) | ATE10035T1 (en) |
DE (1) | DE3166742D1 (en) |
FI (1) | FI70484C (en) |
NO (1) | NO154325C (en) |
PL (1) | PL136605B1 (en) |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58205211A (en) * | 1982-05-26 | 1983-11-30 | Fanuc Ltd | Pulse encoder with fault self-diagnosing function |
GB2131163B (en) * | 1982-11-29 | 1986-02-26 | Gardner R F | Monitoring rotational movement |
EP0343373B1 (en) * | 1988-05-03 | 1991-09-18 | Siemens Aktiengesellschaft | Monitoring method for the wire pulse sensors in a rotational transducer for a sensor wire short circuit, and circuit arrangement for carrying out the same |
DE3925829A1 (en) * | 1989-08-04 | 1991-02-07 | Bosch Gmbh Robert | Regulation and control device e.g. for anti-lock braking system - detects slow sensor deterioration by periodic comparison of actual and stored signal amplitudes |
US5050940A (en) * | 1990-02-05 | 1991-09-24 | Allied-Signal Inc. | Brake control and anti-skid system |
DE59103707D1 (en) * | 1991-07-22 | 1995-01-12 | Siemens Ag | Procedure for error detection and localization of redundant signal generators in an automation system. |
DE4314449A1 (en) * | 1993-05-03 | 1994-11-10 | Teves Gmbh Alfred | Circuit arrangement for processing and evaluating wheel sensor signals |
DE19538163C1 (en) * | 1995-10-13 | 1997-03-27 | Wehrle E Gmbh | Rotation rate and rotation direction detection method e.g. for water meter |
DE10011410A1 (en) * | 2000-03-09 | 2001-09-20 | Bosch Gmbh Robert | Fail-safe signal generation device for safety critical signal has back-up device for generation of load driver signal in emergency operating mode |
DE102006007871A1 (en) | 2005-03-03 | 2006-09-21 | Continental Teves Ag & Co. Ohg | Sensor for detection of movement of encoders, has test circuit directly monitoring output signals of sensor units and making ineffective or correcting sensor output signal if faults of output signals of sensor units are detected |
DE102010045438B4 (en) * | 2010-09-15 | 2013-10-31 | Phoenix Contact Gmbh & Co. Kg | Apparatus and method for speed detection |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4016432A (en) * | 1975-10-01 | 1977-04-05 | Hewlett-Packard Company | Variable rate rotary pulse generator |
DE2546481C2 (en) * | 1975-10-17 | 1986-03-06 | Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart | Monitoring circuit for at least two transducers |
US4154395A (en) * | 1977-11-25 | 1979-05-15 | General Electric Company | Redundant signal circuit |
-
1981
- 1981-01-12 EP EP81200024A patent/EP0034839B1/en not_active Expired
- 1981-01-12 AT AT81200024T patent/ATE10035T1/en not_active IP Right Cessation
- 1981-01-12 DE DE8181200024T patent/DE3166742D1/en not_active Expired
- 1981-01-29 FI FI810261A patent/FI70484C/en not_active IP Right Cessation
- 1981-02-06 NO NO810417A patent/NO154325C/en unknown
- 1981-02-11 PL PL1981229621A patent/PL136605B1/en unknown
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
PL136605B1 (en) | 1986-03-31 |
NO154325B (en) | 1986-05-20 |
DE3166742D1 (en) | 1984-11-29 |
NO810417L (en) | 1981-08-14 |
FI70484C (en) | 1986-09-19 |
EP0034839B1 (en) | 1984-10-24 |
EP0034839A1 (en) | 1981-09-02 |
ATE10035T1 (en) | 1984-11-15 |
FI810261L (en) | 1981-08-14 |
PL229621A1 (en) | 1981-11-27 |
NO154325C (en) | 1986-09-03 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
FI70484B (en) | ANORDINATION FOR THE CONSTRUCTION OF HJULVARVTALSGIVARE | |
US8825439B2 (en) | Multiturn rotary encoder | |
CN102519496B (en) | Linear motion detection device | |
JPS63281015A (en) | Reference signal generating device for position detector | |
CN101300463B (en) | Scale and readhead system | |
JP2002139351A (en) | Apparatus and method for measuring steering, angle of steering wheel | |
JPS59100864A (en) | Method of detecting motion of body through noncontacting manner | |
US6285023B1 (en) | Apparatus for generating origin signal of optical linear scale | |
US4678910A (en) | Reference position-detecting device for photoelectric encoder | |
CN103017688A (en) | Method for using photoelectric device to determine complete rotation arrival and rotating angle of turntable in north seeker | |
JPS5822914A (en) | Zero point detecting device of photoelectric encoder | |
JPH08261795A (en) | Method for detecting reference position of encoder | |
JPH102715A (en) | Position detector | |
JP4138118B2 (en) | Encoder and rotational position detection device | |
RU2091708C1 (en) | Gear measuring linear and angular movements | |
KR20000055856A (en) | Method for detecting a position of a rotor in a motor controller | |
JPH0441284B2 (en) | ||
JP2920415B2 (en) | Evaluation method of runout of rotary shaft of rotary encoder | |
JPS618618A (en) | Optical encoder | |
JPH0755458Y2 (en) | Length measuring device | |
JPS6147569A (en) | Rotation direction detector | |
SU879301A1 (en) | Device for measuring angles | |
RU48627U1 (en) | REVERSE DISCRETE MOVEMENT SENSOR | |
SU1216644A1 (en) | Protractor | |
KR940003382Y1 (en) | Position detection circuit of encoder pulse |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM | Patent lapsed |
Owner name: WERKZEUGMASCHINENFABRIK OERLIKON-BUEHRLE |